JPH1194895A - Pci bus short circuit checker and method for checking - Google Patents
Pci bus short circuit checker and method for checkingInfo
- Publication number
- JPH1194895A JPH1194895A JP9250743A JP25074397A JPH1194895A JP H1194895 A JPH1194895 A JP H1194895A JP 9250743 A JP9250743 A JP 9250743A JP 25074397 A JP25074397 A JP 25074397A JP H1194895 A JPH1194895 A JP H1194895A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pci bus
- board
- signal
- short circuit
- connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、ＰＣＩバスのピ
ン間ショートを検査するチェッカーに関し、特に小型コ
ンピュータ（パーソナル・コンピュータ,ワークステー
ション）のＰＣＩバスの簡易なショートチェッカーに関
する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a checker for checking a short between pins of a PCI bus, and more particularly to a simple short checker for a PCI bus of a small computer (personal computer, workstation).
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、ショートチェッカーは、完成され
たコンピュータのボードに対して、ＬＳＩ・コネクタな
どのピン間ショートを検出する目的で用いられている。
特開昭６１−２０２１７１号公報には、被検査回路パタ
ーンの間の短絡の有無を検出する方法として、回路パタ
ーンに接触させる接触子でもって、信号を回路パターン
から取り出すことが開示されている。2. Description of the Related Art Conventionally, a short checker is used for detecting a short circuit between pins of an LSI, a connector or the like on a completed computer board.
Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-202171 discloses a method for detecting the presence / absence of a short circuit between circuit patterns to be inspected by extracting a signal from the circuit pattern by using a contact that makes contact with the circuit pattern.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】この従来技術における
第１の問題点は、検査装置が大規模となることである。
その理由は、被検査回路パターンに複数の端子を接触さ
せるためにバキューム等の吸引装置が必要となるからで
ある。The first problem with the prior art is that the inspection apparatus becomes large-scale.
The reason is that a suction device such as a vacuum is required to bring a plurality of terminals into contact with the circuit pattern to be inspected.
【０００４】第２の問題点は、上記検査装置に対応した
被検査基板の冶具に汎用性がないことである。その理由
は、バキュームなどの吸引装置を使用するとその被検査
基板に対応する冶具を専用に用意する必要があるからで
ある。A second problem is that a jig for a substrate to be inspected corresponding to the above inspection apparatus is not versatile. The reason is that when a suction device such as a vacuum is used, a jig corresponding to the substrate to be inspected needs to be prepared exclusively.
【０００５】この発明の目的は、装置規模が小さく、汎
用性のある簡易なＩＣクリップや回路基板のコネクター
でもって信号を引き出して使用する、ＰＣＩバス回路パ
ターンのピン間ショートをチェックするチェッカーを提
供することである。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a checker for checking a short between pins of a PCI bus circuit pattern for extracting and using a signal with a simple IC clip or a connector of a circuit board which is small in size and versatile. It is to be.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】この発明のＰＣＩバスシ
ョートチェッカーは、回路基板上のＰＣＩバスのピン間
ショートを検出する。より具体的には、被検査の回路基
板（図１の１）上に実装されているＰＣＩバス制御ＬＳ
Ｉ端子を挟みつけて接触させるＩＣクリップ（図１の
３）、ＰＣＩバスコネクタ４に挿入されるテスト基板
（図１の５）、さらに、ショートチェック部（図１の
８）を接続するケーブル（図１の６，７）と、でなる。A PCI bus short checker according to the present invention detects a short between pins of a PCI bus on a circuit board. More specifically, the PCI bus control LS mounted on the circuit board to be inspected (1 in FIG. 1)
An IC clip (3 in FIG. 1) for pinching and contacting the I terminal, a test board (5 in FIG. 1) to be inserted into the PCI bus connector 4, and a cable (8 in FIG. 1) for connecting a short check unit (8 in FIG. 1) 1, 6 and 7) in FIG.
【０００７】被検査回路基板の回路パターンに接触させ
る接触子を使用せずに、被検査回路基板に実装されてい
るコネクタからパターンに接続されるので、接続が容易
かつ確実であり、大がかりな装置（バキューム装置等）
を必要としない。また、接触不十分による類似不良も少
なくなる。構成が単純であるため、大きなスペース・電
力を必要とせず、簡易な装置である。[0007] Since the connector is connected to the pattern from the connector mounted on the circuit board to be inspected without using a contact for contacting the circuit pattern on the circuit board to be inspected, the connection is easy and reliable, and the apparatus is large-scale. (Vacuum equipment, etc.)
Do not need. Further, similar defects due to insufficient contact are reduced. Since the configuration is simple, it does not require a large space and power, and is a simple device.
【０００８】[0008]
【発明の実施の形態】次にこの発明について、図面を参
照して説明する。この発明の一実施例の構成を示す図１
を参照すると、被検査の回路基板（図１の１）上に実装
されたＰＣＩバス制御ＬＳＩ（図１の２）にＩＣクリッ
プ（図１の３）を接続する。一方、同じ被検査回路基板
１に実装されたＰＣＩバスコネクタ（図１の４）にはテ
スト基板（図１の５）を接続する。ＩＣクリップ３、テ
スト基板５からケーブル（図１の６，７）がショートチ
ェック部（図１の８）に接続される。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of an embodiment of the present invention.
Referring to FIG. 1, an IC clip (3 in FIG. 1) is connected to a PCI bus control LSI (2 in FIG. 1) mounted on a circuit board to be inspected (1 in FIG. 1). On the other hand, a test board (5 in FIG. 1) is connected to the PCI bus connector (4 in FIG. 1) mounted on the same circuit board 1 to be inspected. Cables (6, 7 in FIG. 1) from the IC clip 3 and the test board 5 are connected to the short check section (8 in FIG. 1).
【０００９】次に、この実施例の動作について、図２を
参照して詳細に説明する。被検査回路基板１において、
ＰＣＩバスの信号はＰＣＩバス制御ＬＳＩ２、ＰＣＩバ
スコネクタ４の間で直接パターンで接続されている。Ｉ
Ｃクリップ３からは、ＰＣＩバス制御ＬＳＩ２のピンよ
り端子信号を取り出し、ＰＣＩコネクタ４からはテスト
基板５およびケーブル６，７を介してパターン信号を引
き出す。このパターン信号をケーブル６，７でショート
チェック部８に送り、ショートチェック部８でピン間の
ショートをチェックする。Next, the operation of this embodiment will be described in detail with reference to FIG. In the circuit board 1 to be inspected,
PCI bus signals are directly connected between the PCI bus control LSI 2 and the PCI bus connector 4 in a pattern. I
A terminal signal is extracted from a pin of the PCI bus control LSI 2 from the C clip 3, and a pattern signal is extracted from the PCI connector 4 via the test board 5 and the cables 6 and 7. This pattern signal is sent to the short check section 8 via the cables 6 and 7, and the short check section 8 checks for a short between pins.
【００１０】[0010]
【発明の効果】以上の説明によれば、この発明の第１の
効果は、大規模のチェック用装置が不要であるというこ
とである。これにより装置の移動・装置を容易に行うこ
とが可能となる。その理由は、被検査回路基板のパター
ンへの接触がＩＣクリップとコネクタ接続の単純なもの
であり、バキューム、専用冶具などの大がかりな設備が
必要ないからである。According to the above description, the first effect of the present invention is that a large-scale checking device is not required. This makes it possible to easily move the device and the device. The reason is that contact with the pattern of the circuit board to be inspected is a simple connection between the IC clip and the connector, and large-scale equipment such as a vacuum and a dedicated jig is not required.
【００１１】第２の効果は、汎用性がありＰＣＩバスを
有する被検査回路基板であれば共通して使用できること
である。その理由は、接触の対象箇所が被検査回路基板
のＬＳＩの端子およびバス間のコネクタであり、ＰＣＩ
バスを有するものであれば共通的に基板に実装されてい
るものだからである。A second effect is that any circuit board to be inspected which is versatile and has a PCI bus can be used in common. The reason for this is that the contact points are the terminals of the LSI on the circuit board to be inspected and the connectors between the buses.
This is because those having a bus are commonly mounted on a board.
【図１】この発明の一実施例の構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.
【図２】図１の構成間の接続を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing connections between the configurations of FIG. 1;
１ 回路基板 ２ ＰＣＩバス制御ＬＳＩ ３ ＩＣクリップ ４ ＰＣＩバスコネクタ ５ テスト基板 ６ ケーブル ７ ケーブル ８ ショートチェック部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board 2 PCI bus control LSI 3 IC clip 4 PCI bus connector 5 Test board 6 Cable 7 Cable 8 Short check section
Claims (2)
Ｉの端子を挟みつけて端子信号を取り出すＩＣクリップ
と、 前記ＰＣＩバスボードのＰＣＩコネクタに挿入してバス
信号を取り出すテスト基板と、 前記ＩＣクリップの端子信号と前記テスト基板のバス信
号とを、それぞれケーブルで引き出して、前記ＰＣＩバ
スボードにピン間ショートがあるか否かを検査するショ
ートチェック部と、 を備えてなることを特徴とするＰＣＩバスショートチェ
ッカー。1. A PCI bus control LS of a PCI bus board
An IC clip for holding a terminal of I to take out a terminal signal, a test board for taking out a bus signal by inserting into a PCI connector of the PCI bus board, and a terminal signal of the IC clip and a bus signal of the test board, A short-circuit check unit that pulls out each of the cables with a cable and checks whether the PCI bus board has a short circuit between pins.
Ｉの端子信号をＩＣクリップで取り出し、前記ＰＣＩバ
スボードのＰＣＩコネクタにテスト基板を挿入してバス
信号を取り出し、前記端子信号と前記バス信号とをそれ
ぞれケーブルで引き出して前記ＰＣＩバスボードにピン
間ショートがあるか否かをショートチェック部で検査し
て、 実行することを特徴とするＰＣＩバスショートチェッカ
ーのチェック方法。2. A PCI bus control LS of a PCI bus board.
I terminal signal is taken out by an IC clip, a test board is inserted into a PCI connector of the PCI bus board, a bus signal is taken out, and the terminal signal and the bus signal are respectively drawn out by a cable, and a pin is connected to the PCI bus board. A method for checking a PCI bus short checker, wherein a short check unit checks whether or not there is a short circuit and executes the check.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9250743A JPH1194895A (en) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | Pci bus short circuit checker and method for checking |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9250743A JPH1194895A (en) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | Pci bus short circuit checker and method for checking |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1194895A true JPH1194895A (en) | 1999-04-09 |
Family
ID=17212387
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9250743A Pending JPH1194895A (en) | 1997-09-16 | 1997-09-16 | Pci bus short circuit checker and method for checking |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1194895A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009121947A (en) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Hitachi Ltd | Short-circuit check system, information processor, and short-circuit check method |
-
1997
- 1997-09-16 JP JP9250743A patent/JPH1194895A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009121947A (en) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Hitachi Ltd | Short-circuit check system, information processor, and short-circuit check method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2182711C2 (en) | Test of jtag paths for transmission of discrete data with use of separable printed circuit boards carrying jtag logic circuits | |
| TWI274351B (en) | Memory mounting tester having perpendicularly installed motherboard | |
| KR930020167A (en) | Input / output connection inspection method and apparatus | |
| CN1223053C (en) | Plate card position inspecting method | |
| US6323666B1 (en) | Apparatus and method for testing test burn-in board and device under test, and test burn-in board handler | |
| JPH1194895A (en) | Pci bus short circuit checker and method for checking | |
| JPH10150082A (en) | Semiconductor testing device | |
| TWI783549B (en) | Improving test coverage rate system for pin of tested circuit board and method thereof | |
| JPH11260869A (en) | Inspection device of multi-pin device by probe card | |
| JPS62177460A (en) | Connector connecting device | |
| JPH03293572A (en) | Board part inspecting circuit | |
| JPS58109945A (en) | Test method for microprocessor | |
| CN115480153A (en) | System and method for improving pin test coverage rate in circuit board to be tested | |
| JP2724055B2 (en) | System development support equipment | |
| JP2721060B2 (en) | Testing equipment for semiconductor devices | |
| JPH01291176A (en) | Segmenting method for faulty electronic circuit | |
| JPH0334705Y2 (en) | ||
| TW202300945A (en) | Improving pin test coverage rate system for boundary scan test and method thereof | |
| JPS6329273A (en) | Burn-in substrate | |
| JP3247974B2 (en) | CPU device operation confirmation method | |
| JPH0729784U (en) | Contact confirmation type socket | |
| JPH09166637A (en) | Inspection apparatus for connection of device interface part | |
| JP2002022807A (en) | Inspection apparatus for circuit board | |
| JPH09159728A (en) | Method for testing printed board | |
| JPS59180468A (en) | Jig for testing circuit |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000627 |