JPH1175195A - 動きベクトル検出方法および装置 - Google Patents
動きベクトル検出方法および装置Info
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- H04N19/51—Motion estimation or motion compensation
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- H04N5/14—Picture signal circuitry for video frequency region
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- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Compression Or Coding Systems Of Tv Signals (AREA)
- Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】１次探索で得られるフレーム動きベクトル候補
の検出精度を動きの小さな部分では１画素精度とするこ
とで、１／２画素精度のフレーム動きベクトルの２次探
索で必要な探索点数を削減できる動きベクトル検出方法
を提供する。 【解決手段】２つのフィールドで構成される参照画面を
両フィールドで同一位相で水平方向にサブサンプルして
１次探索用参照画面を生成し、２つのフィールドで構成
される動きベクトル検出対象画面を両フィールドで異な
る位相で水平方向にサブサンプルして１次探索用動きベ
クトル検出対象画面を生成し、１次探索用参照画面から
１次探索用動きベクトル検出対象ブロックに類似する１
次探索用参照ブロックを抽出してフィールド動きベクト
ルの動きベクトル候補を探索し、この動きベクトル候補
を探索中心として２次探索を行うことにより最終的なフ
ィールド動きベクトルおよびフレーム動きベクトルを検
出する。
の検出精度を動きの小さな部分では１画素精度とするこ
とで、１／２画素精度のフレーム動きベクトルの２次探
索で必要な探索点数を削減できる動きベクトル検出方法
を提供する。 【解決手段】２つのフィールドで構成される参照画面を
両フィールドで同一位相で水平方向にサブサンプルして
１次探索用参照画面を生成し、２つのフィールドで構成
される動きベクトル検出対象画面を両フィールドで異な
る位相で水平方向にサブサンプルして１次探索用動きベ
クトル検出対象画面を生成し、１次探索用参照画面から
１次探索用動きベクトル検出対象ブロックに類似する１
次探索用参照ブロックを抽出してフィールド動きベクト
ルの動きベクトル候補を探索し、この動きベクトル候補
を探索中心として２次探索を行うことにより最終的なフ
ィールド動きベクトルおよびフレーム動きベクトルを検
出する。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、動画像信号の記録
・通信・伝送および放送等のために用いられる動き補償
予測符号化方式の動画像符号化装置に係り、特に符号化
対象画面である動きベクトル検出対象画面の部分領域が
符号化済みの参照画面のどの部分領域から動いてきたも
のかを表す動きベクトルを検出する動きベクトル検出方
法および装置に関する。
・通信・伝送および放送等のために用いられる動き補償
予測符号化方式の動画像符号化装置に係り、特に符号化
対象画面である動きベクトル検出対象画面の部分領域が
符号化済みの参照画面のどの部分領域から動いてきたも
のかを表す動きベクトルを検出する動きベクトル検出方
法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】動画像信号は情報量が膨大であるため、
単にディジタル化して伝送や記録を行おうとすると、極
めて広帯域の伝送路や、大容量の記録媒体を必要とす
る。そこで、テレビ電話、テレビ会議、ＣＡＴＶおよび
画像ファイル装置等では、動画像信号を少ないデータ量
に圧縮符号化する技術が用いられる。
単にディジタル化して伝送や記録を行おうとすると、極
めて広帯域の伝送路や、大容量の記録媒体を必要とす
る。そこで、テレビ電話、テレビ会議、ＣＡＴＶおよび
画像ファイル装置等では、動画像信号を少ないデータ量
に圧縮符号化する技術が用いられる。
【０００３】動画像信号の圧縮符号化技術の一つとし
て、動き補償予測符号化方式が知られている。この動き
補償予測符号化では、符号化済みの画面を参照画面と
し、符号化対象画面の部分領域に対して参照画面の最も
相関の高い部分領域を検出することにより、符号化対象
画面の部分領域（これを動きベクトル検出対象ブロック
という）が参照画面の部分領域（これを参照ブロックと
いう）のうちのどの参照ブロックから動いたものかを表
す動きベクトルを求め、動きベクトル検出対象ブロック
と動きベクトルにより示される参照ブロックとの差分で
ある予測誤差信号を符号化する。
て、動き補償予測符号化方式が知られている。この動き
補償予測符号化では、符号化済みの画面を参照画面と
し、符号化対象画面の部分領域に対して参照画面の最も
相関の高い部分領域を検出することにより、符号化対象
画面の部分領域（これを動きベクトル検出対象ブロック
という）が参照画面の部分領域（これを参照ブロックと
いう）のうちのどの参照ブロックから動いたものかを表
す動きベクトルを求め、動きベクトル検出対象ブロック
と動きベクトルにより示される参照ブロックとの差分で
ある予測誤差信号を符号化する。
【０００４】一般に、動画像信号を得るための画面の走
査方法としては、１ラインずつ順々に走査する順次走査
（ノンインタレーススキャンニング）と、１ラインずつ
間を空けて走査する飛び越し走査（インタレーススキャ
ンニング）がある。１回の飛び越し走査によって得られ
る１ラインずつ間引かれた画面をフィールドと呼び、１
回の順次走査または２回の飛び越し走査によって得られ
る完全な画面をフレームと呼ぶ。
査方法としては、１ラインずつ順々に走査する順次走査
（ノンインタレーススキャンニング）と、１ラインずつ
間を空けて走査する飛び越し走査（インタレーススキャ
ンニング）がある。１回の飛び越し走査によって得られ
る１ラインずつ間引かれた画面をフィールドと呼び、１
回の順次走査または２回の飛び越し走査によって得られ
る完全な画面をフレームと呼ぶ。
【０００５】順次走査によって得られるノンインタレー
ス画像のように、同一フレーム内のフィールド間では動
きが存在しない場合には、フレーム構成によって検出し
た動きベクトル（フレーム動きベクトル）を用いる動き
補償予測方法が有効となることが多い。これに対して、
飛び越し走査によって得られるインタレース画像におい
ては、通常、同一フレーム内であってもフィールド間に
動きが存在するので、フィールド構成によって検出した
動きベクトル（フィールド動きベクトル）を用いる動き
補償予測方法が有効となる場合が多い。このフィールド
動きベクトルを検出するには、一般に膨大な演算量を必
要とする。
ス画像のように、同一フレーム内のフィールド間では動
きが存在しない場合には、フレーム構成によって検出し
た動きベクトル（フレーム動きベクトル）を用いる動き
補償予測方法が有効となることが多い。これに対して、
飛び越し走査によって得られるインタレース画像におい
ては、通常、同一フレーム内であってもフィールド間に
動きが存在するので、フィールド構成によって検出した
動きベクトル（フィールド動きベクトル）を用いる動き
補償予測方法が有効となる場合が多い。このフィールド
動きベクトルを検出するには、一般に膨大な演算量を必
要とする。
【０００６】“A Real-Time Motion Estimation and Co
mpensation LSI with Wide SearchRange for MPEG2 Vid
eo Encoding” IEEE J.Solid-State Circuits. vol.31,
no.11, pp.1733 〜1741,NOV.1996)（文献１）や、A1.5W
Single-Chip MPEG2 MP＠MLEncoder with Low-Power Mo
tion Estimation and Clocking(ISSCC’97/SESSION16/V
IDEO AND MULTIMEDIA SIGNAL PROCESSING/PAPER FP 16.
2)（文献２）には、フィールド動きベクトル検出のため
に動きベクトルを探索する際の演算量（探索演算量）を
削減するために、動きベクトルの検出を１次探索、２次
探索に分けて行う技術が開示されている。
mpensation LSI with Wide SearchRange for MPEG2 Vid
eo Encoding” IEEE J.Solid-State Circuits. vol.31,
no.11, pp.1733 〜1741,NOV.1996)（文献１）や、A1.5W
Single-Chip MPEG2 MP＠MLEncoder with Low-Power Mo
tion Estimation and Clocking(ISSCC’97/SESSION16/V
IDEO AND MULTIMEDIA SIGNAL PROCESSING/PAPER FP 16.
2)（文献２）には、フィールド動きベクトル検出のため
に動きベクトルを探索する際の演算量（探索演算量）を
削減するために、動きベクトルの検出を１次探索、２次
探索に分けて行う技術が開示されている。
【０００７】この従来のフィールド動きベクトル検出方
法では、まず図１４（ａ）（ｂ）に示すように１次探索
用参照画面と１次探索用ＭＶ（動きベクトル）検出対象
画面の双方について、原サンプル点（原画像信号の画素
サンプル点）を水平方向に平均内挿により内挿補間した
後、内挿点を水平方向に間引くことにより、水平方向に
２画素間隔のサブサンプル点からなる１次探索用参照ブ
ロックと１次探索用ＭＶ検出対象ブロックを生成する。
そして、１次探索用参照画面の広い範囲にわたり、水平
方向に２画素精度の動きベクトル候補の探索を図１５中
に示す１次探索点について行う。
法では、まず図１４（ａ）（ｂ）に示すように１次探索
用参照画面と１次探索用ＭＶ（動きベクトル）検出対象
画面の双方について、原サンプル点（原画像信号の画素
サンプル点）を水平方向に平均内挿により内挿補間した
後、内挿点を水平方向に間引くことにより、水平方向に
２画素間隔のサブサンプル点からなる１次探索用参照ブ
ロックと１次探索用ＭＶ検出対象ブロックを生成する。
そして、１次探索用参照画面の広い範囲にわたり、水平
方向に２画素精度の動きベクトル候補の探索を図１５中
に示す１次探索点について行う。
【０００８】次に、図１５（ａ）（ｂ）に示すようにサ
ブサンプルしない原サンプルからなる２次探索用参照画
面を用い、１次探索で得られた動きベクトル候補を２次
探索の中心点として、この中心点の近傍の狭い探索範囲
について１／２画素精度の動きベクトルの２次探索を行
うことで、動きベクトル検出のための探索演算量を削減
する。
ブサンプルしない原サンプルからなる２次探索用参照画
面を用い、１次探索で得られた動きベクトル候補を２次
探索の中心点として、この中心点の近傍の狭い探索範囲
について１／２画素精度の動きベクトルの２次探索を行
うことで、動きベクトル検出のための探索演算量を削減
する。
【０００９】図１５（ａ）は、フィールド構成のＭＶ検
出対象ブロック（第１または第２フィールドのサブサン
プル点のみで構成されるＭＶ検出対象ブロック）に対す
る動きベクトル（フィールド動きベクトル）の２次探索
パターンであり、また図１５（ｂ）は、フレーム構成の
ＭＶ検出対象ブロック（第１、第２両フィールドのサブ
サンプル点で構成されるＭＶ検出対象ブロック）に対す
る動きベクトル（フレーム動きベクトル）の２次探索パ
ターンである。このようにすると、１次探索でマッチン
グするブロックの構成サンプル数および探索点数がそれ
ぞれ１／２になるため、探索演算量は約１／４に削減さ
れることになる。
出対象ブロック（第１または第２フィールドのサブサン
プル点のみで構成されるＭＶ検出対象ブロック）に対す
る動きベクトル（フィールド動きベクトル）の２次探索
パターンであり、また図１５（ｂ）は、フレーム構成の
ＭＶ検出対象ブロック（第１、第２両フィールドのサブ
サンプル点で構成されるＭＶ検出対象ブロック）に対す
る動きベクトル（フレーム動きベクトル）の２次探索パ
ターンである。このようにすると、１次探索でマッチン
グするブロックの構成サンプル数および探索点数がそれ
ぞれ１／２になるため、探索演算量は約１／４に削減さ
れることになる。
【００１０】この従来の動きベクトル検出方法では、図
１４に示したように１次探索用参照ブロック（図１４
（ａ））と１次探索用動きベクトル検出対象ブロック
（図１４（ｂ））のサブサンプル点は、いずれも水平方
向の位相が同じとなっている。このため、図１５（ｂ）
に示すフレーム動きベクトルの２次探索においても、図
１５（ａ）に示すフィールド動きベクトルの２次探索と
同様な探索点数（２次探索の中心点を基準として、水平
方向に−１．０画素〜＋１．０画素、垂直方向に−０．
５画素〜＋０．５画素の計１５点）を必要とする。
１４に示したように１次探索用参照ブロック（図１４
（ａ））と１次探索用動きベクトル検出対象ブロック
（図１４（ｂ））のサブサンプル点は、いずれも水平方
向の位相が同じとなっている。このため、図１５（ｂ）
に示すフレーム動きベクトルの２次探索においても、図
１５（ａ）に示すフィールド動きベクトルの２次探索と
同様な探索点数（２次探索の中心点を基準として、水平
方向に−１．０画素〜＋１．０画素、垂直方向に−０．
５画素〜＋０．５画素の計１５点）を必要とする。
【００１１】また、ＭＰＥＧ２(moving picture expart
group phase 2) のように、符号化対象画面の種類（ピ
クチャタイプ）により参照画面数が１の場合と２の場合
の二通り存在する方式においては、参照画面数が１のと
きは動きベクトルの１次探索演算量に余裕を生じるが、
従来ではこの余裕の演算量を動きベクトル探索範囲の拡
大に利用するしかなく、探索範囲が狭くて済む動きの小
さな通常の画像では符号化効率の向上に有効利用できな
かった。
group phase 2) のように、符号化対象画面の種類（ピ
クチャタイプ）により参照画面数が１の場合と２の場合
の二通り存在する方式においては、参照画面数が１のと
きは動きベクトルの１次探索演算量に余裕を生じるが、
従来ではこの余裕の演算量を動きベクトル探索範囲の拡
大に利用するしかなく、探索範囲が狭くて済む動きの小
さな通常の画像では符号化効率の向上に有効利用できな
かった。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の探索演算量を削減した動きベクトル検出方法では、１
次探索におけるフレーム動きベクトル候補の水平方向の
検出精度が２画素精度となることから、１／２画素精度
の２次探索を行う場合、フレーム動きベクトルについて
もフィールド動きベクトルと同数の多くの探索点数を必
要とするという問題点と、参照画面が１で１次探索演算
量に余裕を生じる場合でも、その探索演算量の余裕分を
符号化効率の向上に有効利用できないという問題点があ
った。
の探索演算量を削減した動きベクトル検出方法では、１
次探索におけるフレーム動きベクトル候補の水平方向の
検出精度が２画素精度となることから、１／２画素精度
の２次探索を行う場合、フレーム動きベクトルについて
もフィールド動きベクトルと同数の多くの探索点数を必
要とするという問題点と、参照画面が１で１次探索演算
量に余裕を生じる場合でも、その探索演算量の余裕分を
符号化効率の向上に有効利用できないという問題点があ
った。
【００１３】本発明は、上述した従来の問題点を解消す
るためになされたもので、その主な目的は、１次探索結
果として得られるフレーム動きベクトル候補の検出精度
を動きの小さな部分では１画素精度とすることにより、
１／２画素精度のフレーム動きベクトルの２次探索で必
要な探索点数を削減できる動きベクトル検出方法および
装置を提供することにある。
るためになされたもので、その主な目的は、１次探索結
果として得られるフレーム動きベクトル候補の検出精度
を動きの小さな部分では１画素精度とすることにより、
１／２画素精度のフレーム動きベクトルの２次探索で必
要な探索点数を削減できる動きベクトル検出方法および
装置を提供することにある。
【００１４】また、本発明の他の目的は、１次探索演算
量に余裕を生じる場合にその探索演算量の余裕分を符号
化効率の向上に有効利用できる動きベクトル検出方法お
よび装置を提供することにある。
量に余裕を生じる場合にその探索演算量の余裕分を符号
化効率の向上に有効利用できる動きベクトル検出方法お
よび装置を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め、本発明は１次探索用の参照画面および動きベクトル
検出対象画面のいずれか一方について水平方向のサブサ
ンプル点の位相を２つのフィールドで異ならせて動きベ
クトルの１次探索を行うことを骨子とする。
め、本発明は１次探索用の参照画面および動きベクトル
検出対象画面のいずれか一方について水平方向のサブサ
ンプル点の位相を２つのフィールドで異ならせて動きベ
クトルの１次探索を行うことを骨子とする。
【００１６】すなわち、本発明に係る第１の動きベクト
ル検出方法では、第１および第２フィールドで構成され
る参照画面を第１フィールドと第２フィールドとで同一
位相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索
用参照画面を生成し、第１および第２フィールドで構成
される動きベクトル検出対象画面を第１フィールドと第
２フィールドとで異なる位相で水平方向にサブサンプル
することにより１次探索用動きベクトル検出対象画面を
生成する。
ル検出方法では、第１および第２フィールドで構成され
る参照画面を第１フィールドと第２フィールドとで同一
位相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索
用参照画面を生成し、第１および第２フィールドで構成
される動きベクトル検出対象画面を第１フィールドと第
２フィールドとで異なる位相で水平方向にサブサンプル
することにより１次探索用動きベクトル検出対象画面を
生成する。
【００１７】また、本発明に係る第２の動きベクトル検
出方法では、第１の動きベクトル検出方法とは１次探索
用参照画面と１次探索用動きベクトル検出対象画面の関
係を逆にし、第１および第２フィールドで構成される参
照画面を第１フィールドと第２フィールドとで異なる位
相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索用
参照画面を生成し、第１および第２フィールドで構成さ
れる動きベクトル検出対象画面を第１フィールドと第２
フィールドとで同一位相で水平方向にサブサンプルする
ことにより１次探索用動きベクトル検出対象画面を生成
する。
出方法では、第１の動きベクトル検出方法とは１次探索
用参照画面と１次探索用動きベクトル検出対象画面の関
係を逆にし、第１および第２フィールドで構成される参
照画面を第１フィールドと第２フィールドとで異なる位
相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索用
参照画面を生成し、第１および第２フィールドで構成さ
れる動きベクトル検出対象画面を第１フィールドと第２
フィールドとで同一位相で水平方向にサブサンプルする
ことにより１次探索用動きベクトル検出対象画面を生成
する。
【００１８】そして、第１および第２の動きベクトル検
出方法ともに１次探索において１次探索用参照画面の中
から１次探索用動きベクトル検出対象画面の部分領域で
ある１次探索用動きベクトル検出対象ブロックに類似す
る部分領域である１次探索用参照ブロックを抽出して、
該１次探索用動きベクトル検出対象ブロックの第１およ
び第２フィールドの各々に対する該１次探索用参照ブロ
ックの相対位置を示すフィールド動きベクトルの動きベ
クトル候補を探索し、次いで２次探索において該動きベ
クトル候補を探索中心として２次探索を行うことにより
最終的なフィールド動きベクトルおよびフレーム動きベ
クトルの検出を行う。
出方法ともに１次探索において１次探索用参照画面の中
から１次探索用動きベクトル検出対象画面の部分領域で
ある１次探索用動きベクトル検出対象ブロックに類似す
る部分領域である１次探索用参照ブロックを抽出して、
該１次探索用動きベクトル検出対象ブロックの第１およ
び第２フィールドの各々に対する該１次探索用参照ブロ
ックの相対位置を示すフィールド動きベクトルの動きベ
クトル候補を探索し、次いで２次探索において該動きベ
クトル候補を探索中心として２次探索を行うことにより
最終的なフィールド動きベクトルおよびフレーム動きベ
クトルの検出を行う。
【００１９】このようにすると、１次探索において１次
探索用動きベクトル検出対象ブロックの第１、第２フィ
ールドに対するそれぞれのフィールド動きベクトルの１
次探索範囲は、動きの小さな領域で重複するので、この
領域では第１、第２フィールドからなるフレーム構成の
動きベクトル検出対象画面に対しては、１画素精度で１
次探索が行われることになる。
探索用動きベクトル検出対象ブロックの第１、第２フィ
ールドに対するそれぞれのフィールド動きベクトルの１
次探索範囲は、動きの小さな領域で重複するので、この
領域では第１、第２フィールドからなるフレーム構成の
動きベクトル検出対象画面に対しては、１画素精度で１
次探索が行われることになる。
【００２０】すなわち、２次探索においてフレーム構成
の検出対象ブロックに対する最適な動きベクトル候補
は、動きが小さく解像度の高い画像では１次探索用動き
ベクトル検出対象ブロックの第１、第２フィールドに対
する動きベクトル探索範囲の重複する領域（探索する動
きベクトル候補点を互いに補完する領域）から検出され
るため、１画素精度の動きベクトルとなる。
の検出対象ブロックに対する最適な動きベクトル候補
は、動きが小さく解像度の高い画像では１次探索用動き
ベクトル検出対象ブロックの第１、第２フィールドに対
する動きベクトル探索範囲の重複する領域（探索する動
きベクトル候補点を互いに補完する領域）から検出され
るため、１画素精度の動きベクトルとなる。
【００２１】従って、フレーム構成の動きベクトル検出
対象ブロックに対する動きベクトルの２次探索において
は、この１次探索結果により得られた動きベクトル候補
の近傍の狭い範囲内の少ない探索点（水平・垂直方向共
に−０．５〜＋０．５画素までの９点）を探索すること
で十分となる。
対象ブロックに対する動きベクトルの２次探索において
は、この１次探索結果により得られた動きベクトル候補
の近傍の狭い範囲内の少ない探索点（水平・垂直方向共
に−０．５〜＋０．５画素までの９点）を探索すること
で十分となる。
【００２２】また、本発明は１次探索において探索演算
量に余裕を生じる符号化画面（動きベクトル検出対象画
面）に対しては、すなわち１画面にわたり後方予測の動
きベクトル検出が不要な場合は、第１および第２フィー
ルドで構成される動きベクトル検出対象画面を水平方向
に異なる位相でサブサンプルすることにより生成した２
種類の１次探索用動きベクトル検出対象画面を用いて、
フィールド動きベクトルの動きベクトル候補を検出する
ことを特徴とする。
量に余裕を生じる符号化画面（動きベクトル検出対象画
面）に対しては、すなわち１画面にわたり後方予測の動
きベクトル検出が不要な場合は、第１および第２フィー
ルドで構成される動きベクトル検出対象画面を水平方向
に異なる位相でサブサンプルすることにより生成した２
種類の１次探索用動きベクトル検出対象画面を用いて、
フィールド動きベクトルの動きベクトル候補を検出する
ことを特徴とする。
【００２３】このようにすると、一つの１次探索用動き
ベクトル検出対象ブロックに対して２種類の１次探索用
動きベクトル検出対象ブロックにより探索する動きベク
トル候補点が互いに補完されるので、動きベクトル検出
対象ブロックの各フィールドに対して検出される動きベ
クトル候補が１画素精度となり、動きの小さな画像でも
所有する探索演算量を符号化効率の向上に有効利用でき
る。さらに、１次探索用のサブサンプルされた参照画面
の画素数が従来と同様で良いことから、参照画面のため
の記憶容量の増加も不要となる。
ベクトル検出対象ブロックに対して２種類の１次探索用
動きベクトル検出対象ブロックにより探索する動きベク
トル候補点が互いに補完されるので、動きベクトル検出
対象ブロックの各フィールドに対して検出される動きベ
クトル候補が１画素精度となり、動きの小さな画像でも
所有する探索演算量を符号化効率の向上に有効利用でき
る。さらに、１次探索用のサブサンプルされた参照画面
の画素数が従来と同様で良いことから、参照画面のため
の記憶容量の増加も不要となる。
【００２４】
（第１の実施形態）以下、本発明の第１の実施形態に係
る動きベクトル検出方法を１次探索、２次探索の順に説
明する。
る動きベクトル検出方法を１次探索、２次探索の順に説
明する。
【００２５】［１次探索］まず、本実施形態に係る動き
ベクトル検出方法における動きベクトル（フィールド動
きベクトル）の１次探索について説明する。１次探索に
おいては、まず第１フィールド（例えば奇フィールド）
と第２フィールド（例えば偶フィールド）で構成される
１次探索用参照画面と１次探索用ＭＶ（動きベクトル）
検出対象画面を生成する。図１（ａ）および（ｂ）は、
本実施形態における１次探索用参照画面および１次探索
用ＭＶ検出対象画面の同一画面位置の部分領域（以下、
１次探索用参照ブロックおよび１次探索用ＭＶ検出対象
ブロックという）上の原サンプル点とサブサンプル点を
示す図である。
ベクトル検出方法における動きベクトル（フィールド動
きベクトル）の１次探索について説明する。１次探索に
おいては、まず第１フィールド（例えば奇フィールド）
と第２フィールド（例えば偶フィールド）で構成される
１次探索用参照画面と１次探索用ＭＶ（動きベクトル）
検出対象画面を生成する。図１（ａ）および（ｂ）は、
本実施形態における１次探索用参照画面および１次探索
用ＭＶ検出対象画面の同一画面位置の部分領域（以下、
１次探索用参照ブロックおよび１次探索用ＭＶ検出対象
ブロックという）上の原サンプル点とサブサンプル点を
示す図である。
【００２６】１次探索用参照画面のサブサンプル点は、
図１（ａ）に示されるように一つの参照画面を構成する
第１フィールドと第２フィールドの原サンプル点の間を
水平方向に内挿補間した後、内挿点を第１フィールドと
第２フィールドとで水平方向に同一位相で一つおきに間
引くことによって得られる。これに対し、１次探索用Ｍ
Ｖ検出対象画面のサブサンプル点は、図１（ｂ）に示さ
れるように一つの１次探索用ＭＶ検出対象画面を構成す
る第１フィールドと第２フィールドの原サンプル点の間
を水平方向に内挿補間した後、内挿点を第１フィールド
と第２フィールドとで水平方向に異なる位相で一つおき
に間引くことによって得られることが本実施形態の特徴
である。
図１（ａ）に示されるように一つの参照画面を構成する
第１フィールドと第２フィールドの原サンプル点の間を
水平方向に内挿補間した後、内挿点を第１フィールドと
第２フィールドとで水平方向に同一位相で一つおきに間
引くことによって得られる。これに対し、１次探索用Ｍ
Ｖ検出対象画面のサブサンプル点は、図１（ｂ）に示さ
れるように一つの１次探索用ＭＶ検出対象画面を構成す
る第１フィールドと第２フィールドの原サンプル点の間
を水平方向に内挿補間した後、内挿点を第１フィールド
と第２フィールドとで水平方向に異なる位相で一つおき
に間引くことによって得られることが本実施形態の特徴
である。
【００２７】そして、１次探索用参照画面の中から１次
探索用ＭＶ検出対象ブロックに類似する１次探索用参照
ブロックを抽出して、該１次探索用動きベクトル検出対
象ブロックの第１および第２フィールドの各々に対する
該１次探索用参照ブロックの相対位置を示すフィールド
動きベクトルの動きベクトル候補を探索する（１次探
索）。以下、この１次探索動作を図２により説明する。
探索用ＭＶ検出対象ブロックに類似する１次探索用参照
ブロックを抽出して、該１次探索用動きベクトル検出対
象ブロックの第１および第２フィールドの各々に対する
該１次探索用参照ブロックの相対位置を示すフィールド
動きベクトルの動きベクトル候補を探索する（１次探
索）。以下、この１次探索動作を図２により説明する。
【００２８】図２は、図１（ｂ）に示した１次探索用Ｍ
Ｖ検出対象ブロックの第１、第２フィールドの左上のサ
ブサンプル点Ｃａ１，Ｃｂ１に対する１次探索用参照画
面上の１次探索範囲の設定例である。
Ｖ検出対象ブロックの第１、第２フィールドの左上のサ
ブサンプル点Ｃａ１，Ｃｂ１に対する１次探索用参照画
面上の１次探索範囲の設定例である。
【００２９】動きベクトルの１次探索に際しては、まず
図１（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対象ブロックの第１フ
ィールドの４つのサブサンプル点について、図１（ｂ）
の第１フィールド上のＣａ１が図２の点Ａｃを探索中心
とする探索範囲Ａ内の第１、第２フィールドの各サブサ
ンプル点のいずれかに位置する場合毎にマッチング誤
差、つまり図１（ｂ）の第１フィールドの４つのサブサ
ンプル点の画素値とそれらに最も近い図２の探索範囲Ａ
内のサブサンプル点の画素値との差分の絶対値和を算出
する。この場合、図２の探索範囲Ａ内のサブサンプル点
は２８個であるので、合計２８点のマッチング誤差が得
られる。
図１（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対象ブロックの第１フ
ィールドの４つのサブサンプル点について、図１（ｂ）
の第１フィールド上のＣａ１が図２の点Ａｃを探索中心
とする探索範囲Ａ内の第１、第２フィールドの各サブサ
ンプル点のいずれかに位置する場合毎にマッチング誤
差、つまり図１（ｂ）の第１フィールドの４つのサブサ
ンプル点の画素値とそれらに最も近い図２の探索範囲Ａ
内のサブサンプル点の画素値との差分の絶対値和を算出
する。この場合、図２の探索範囲Ａ内のサブサンプル点
は２８個であるので、合計２８点のマッチング誤差が得
られる。
【００３０】そして、これら２８点のマッチング誤差の
中でマッチング誤差が最小となる図２上のＣａ１に対応
する位置Ａｓを検出し、この位置ＡｓとＣａ１の相対位
置を図１（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対象ブロックの第
１フィールドについてのフィールド動きベクトル候補と
する。
中でマッチング誤差が最小となる図２上のＣａ１に対応
する位置Ａｓを検出し、この位置ＡｓとＣａ１の相対位
置を図１（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対象ブロックの第
１フィールドについてのフィールド動きベクトル候補と
する。
【００３１】次に、図１（ｂ）の第２フィールド上のＣ
ｂ１に対する探索範囲を第１フィールド上のＣａ１に対
するＣｂ１の位置の差を考慮して、図２に示すように点
Ｂｃを探索中心とするＢのように設定する。すなわち、
探索中心Ｂｃは図２上のＣａ１に対応する位置Ａｓに対
して、図１（ｂ）におけるＣａ１に対するＣｂ１の相対
位置と同じ相対位置に設定する。
ｂ１に対する探索範囲を第１フィールド上のＣａ１に対
するＣｂ１の位置の差を考慮して、図２に示すように点
Ｂｃを探索中心とするＢのように設定する。すなわち、
探索中心Ｂｃは図２上のＣａ１に対応する位置Ａｓに対
して、図１（ｂ）におけるＣａ１に対するＣｂ１の相対
位置と同じ相対位置に設定する。
【００３２】次に、図１（ｂ）の第２フィールドの４つ
のサブサンプル点で構成される第２フィールドの１次探
索用ＭＶ検出対象ブロックについて、図１（ｂ）の第２
フィールド上のＣｂ１が図２の探索範囲Ｂ内の第１、第
２フィールドの各サブサンプル点に位置する場合毎にマ
ッチング誤差、つまり図１（ｂ）の第２フィールドの４
つのサブサンプル点の画素値と、それらに最も近い図２
の探索範囲Ｂ内のサブサンプル点の画素値との差分の絶
対値和を算出する。この場合においても、図２の探索範
囲Ｂ内のサブサンプル点は２８個であるので、合計２８
点のマッチング誤差が得られる。
のサブサンプル点で構成される第２フィールドの１次探
索用ＭＶ検出対象ブロックについて、図１（ｂ）の第２
フィールド上のＣｂ１が図２の探索範囲Ｂ内の第１、第
２フィールドの各サブサンプル点に位置する場合毎にマ
ッチング誤差、つまり図１（ｂ）の第２フィールドの４
つのサブサンプル点の画素値と、それらに最も近い図２
の探索範囲Ｂ内のサブサンプル点の画素値との差分の絶
対値和を算出する。この場合においても、図２の探索範
囲Ｂ内のサブサンプル点は２８個であるので、合計２８
点のマッチング誤差が得られる。
【００３３】そして、これらの２８点のマッチング誤差
の中でマッチング誤差が最小となる図２上のＣｂ１に対
応する位置Ｂｓ（図示せず）を検出し、この位置Ｂｓと
Ｃｂ１の相対位置を図１（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対
象ブロックの第２フィールドについてのフィールド動き
ベクトル候補とする。
の中でマッチング誤差が最小となる図２上のＣｂ１に対
応する位置Ｂｓ（図示せず）を検出し、この位置Ｂｓと
Ｃｂ１の相対位置を図１（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対
象ブロックの第２フィールドについてのフィールド動き
ベクトル候補とする。
【００３４】以上のようにして動きベクトルの１次探
索、すなわち第１および第２フィールドについてのフィ
ールド動きベクトルの動きベクトル候補の探索が行われ
る。 ［２次探索］次に、本実施形態に係る動きベクトル検出
方法における動きベクトルの２次探索について説明す
る。図３（ａ１）（ａ２）および（ｂ）は、本実施形態
における２次探索用参照画面および２次探索用ＭＶ検出
対象画面の同一画面位置の部分領域（２次探索用参照ブ
ロックおよび２次探索用ＭＶ検出対象ブロック）の原サ
ンプル点を示す図である。図３（ａ１）は、フィールド
動きベクトルの２次探索用参照画面の参照ブロックであ
り、第１フィールド（または第２フィールド）のみで構
成される参照画面の原サンプル点の間を内挿補間するこ
とによって、水平方向および垂直方向に１画素間隔のサ
ンプルを配置して構成される。図３（ａ２）は、フレー
ム動きベクトルの２次探索用参照画面の参照ブロックで
あり、第１、第２フィールドで構成される一つの参照画
面の原サンプル点の間を内挿補間することによって、水
平方向および垂直方向に１／２画素間隔のサンプルを配
置して構成される。
索、すなわち第１および第２フィールドについてのフィ
ールド動きベクトルの動きベクトル候補の探索が行われ
る。 ［２次探索］次に、本実施形態に係る動きベクトル検出
方法における動きベクトルの２次探索について説明す
る。図３（ａ１）（ａ２）および（ｂ）は、本実施形態
における２次探索用参照画面および２次探索用ＭＶ検出
対象画面の同一画面位置の部分領域（２次探索用参照ブ
ロックおよび２次探索用ＭＶ検出対象ブロック）の原サ
ンプル点を示す図である。図３（ａ１）は、フィールド
動きベクトルの２次探索用参照画面の参照ブロックであ
り、第１フィールド（または第２フィールド）のみで構
成される参照画面の原サンプル点の間を内挿補間するこ
とによって、水平方向および垂直方向に１画素間隔のサ
ンプルを配置して構成される。図３（ａ２）は、フレー
ム動きベクトルの２次探索用参照画面の参照ブロックで
あり、第１、第２フィールドで構成される一つの参照画
面の原サンプル点の間を内挿補間することによって、水
平方向および垂直方向に１／２画素間隔のサンプルを配
置して構成される。
【００３５】＜フィールド動きベクトルの２次探索＞ま
ず、図３（ｂ）の第１、第２フィールドの各々の原サン
プル点からなるフィールド構成の２次探索用ＭＶ検出対
象ブロックに対する動きベクトル（フィールド動きベク
トル）の２次探索においては、図３（ａ１）に示したフ
ィールド動きベクトルの２次探索用参照画面を用い、図
１（ｂ）の第１、第２フィールド上の１次探索対象点Ｃ
ａ１，Ｃｂ１に対して１次探索で得られたフィールド動
きベクトル候補Ａｓ，Ｂｓを図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ
３に対するフレーム動きベクトル候補に換算して指定さ
れる位置を２次探索の中心点として、前述した従来の動
きベクトル検出方法と同様に、図１５（ａ）に示すよう
に２次探索点を設定し、これらの２次探索点から第１、
第２フィールドでそれぞれ構成されるフィールド構成の
２次探索用ＭＶ検出対象ブロックとのマッチング誤差が
最小となる位置を第１、第２フィールドのフィールド動
きベクトルとして検出する。
ず、図３（ｂ）の第１、第２フィールドの各々の原サン
プル点からなるフィールド構成の２次探索用ＭＶ検出対
象ブロックに対する動きベクトル（フィールド動きベク
トル）の２次探索においては、図３（ａ１）に示したフ
ィールド動きベクトルの２次探索用参照画面を用い、図
１（ｂ）の第１、第２フィールド上の１次探索対象点Ｃ
ａ１，Ｃｂ１に対して１次探索で得られたフィールド動
きベクトル候補Ａｓ，Ｂｓを図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ
３に対するフレーム動きベクトル候補に換算して指定さ
れる位置を２次探索の中心点として、前述した従来の動
きベクトル検出方法と同様に、図１５（ａ）に示すよう
に２次探索点を設定し、これらの２次探索点から第１、
第２フィールドでそれぞれ構成されるフィールド構成の
２次探索用ＭＶ検出対象ブロックとのマッチング誤差が
最小となる位置を第１、第２フィールドのフィールド動
きベクトルとして検出する。
【００３６】＜フレーム動きベクトルの２次探索＞一
方、図３（ｂ）の第１、第２両フィールドの全ての原サ
ンプル点からなるフレーム構成の２次探索用ＭＶ検出対
象ブロックに対する動きベクトル（フレーム動きベクト
ル）の２次探索においては、図３（ａ２）に示した２次
探索用参照画面を用いて、図１（ｂ）のＣａ１に対して
１次探索で得られたフィールド動きベクトル候補Ａｓ，
Ｂｓの一方または両方を図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ３の
一方または両方に対するフレーム動きベクトル候補に換
算して指定される位置を２次探索の中心点として設定し
た２次探索点から、フレーム構成の２次探索用ＭＶ検出
対象ブロックとのマッチング誤差が最小となる位置をフ
レーム動きベクトルとして検出する。
方、図３（ｂ）の第１、第２両フィールドの全ての原サ
ンプル点からなるフレーム構成の２次探索用ＭＶ検出対
象ブロックに対する動きベクトル（フレーム動きベクト
ル）の２次探索においては、図３（ａ２）に示した２次
探索用参照画面を用いて、図１（ｂ）のＣａ１に対して
１次探索で得られたフィールド動きベクトル候補Ａｓ，
Ｂｓの一方または両方を図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ３の
一方または両方に対するフレーム動きベクトル候補に換
算して指定される位置を２次探索の中心点として設定し
た２次探索点から、フレーム構成の２次探索用ＭＶ検出
対象ブロックとのマッチング誤差が最小となる位置をフ
レーム動きベクトルとして検出する。
【００３７】次に、本実施形態による効果について述べ
る。図４は、図１（ｂ）の第１、第２フィールド上の探
索対象点Ｃａ１，Ｃｂ１に対する１次探索で得られたフ
ィールド動きベクトル候補Ａｓ，Ｂｓを図３（ｂ）のＣ
ａ３，Ｃｂ３に対するフレーム動きベクトル候補に換算
した１次探索点と１次探索範囲を示している。同図に示
されるように、第１フィールドについてのフィールド動
きベクトルの１次探索範囲と、第２フィールドについて
のフィールド動きベクトルの１次探索範囲は、Ｃａ２，
Ｃｂ２に対する１次探索の探索中心点の近傍の領域（動
きの小さな領域）Ｅで重複する。従って、重複した領域
Ｅでは第１、第２フィールドからなるフレーム構成のＭ
Ｖ検出対象画面については１画素精度で１次探索が行わ
れ、これらの探索中心点から離れた領域（動きの大きな
領域）Ｄ，Ｆでは、水平・垂直方向ともに２画素精度で
１次探索が行われることになる。
る。図４は、図１（ｂ）の第１、第２フィールド上の探
索対象点Ｃａ１，Ｃｂ１に対する１次探索で得られたフ
ィールド動きベクトル候補Ａｓ，Ｂｓを図３（ｂ）のＣ
ａ３，Ｃｂ３に対するフレーム動きベクトル候補に換算
した１次探索点と１次探索範囲を示している。同図に示
されるように、第１フィールドについてのフィールド動
きベクトルの１次探索範囲と、第２フィールドについて
のフィールド動きベクトルの１次探索範囲は、Ｃａ２，
Ｃｂ２に対する１次探索の探索中心点の近傍の領域（動
きの小さな領域）Ｅで重複する。従って、重複した領域
Ｅでは第１、第２フィールドからなるフレーム構成のＭ
Ｖ検出対象画面については１画素精度で１次探索が行わ
れ、これらの探索中心点から離れた領域（動きの大きな
領域）Ｄ，Ｆでは、水平・垂直方向ともに２画素精度で
１次探索が行われることになる。
【００３８】従来の動きベクトル検出方法では、動きの
大きさに関係なく常に２画素精度で１次探索が行われて
いたが、本実施形態では上述のように動きの小さな領域
については１画素精度の１次探索が行われる。すなわ
ち、本実施形態によると１次探索において、小さな動き
に対して従来よりも高精度に動きベクトル候補を検出す
ることができる。
大きさに関係なく常に２画素精度で１次探索が行われて
いたが、本実施形態では上述のように動きの小さな領域
については１画素精度の１次探索が行われる。すなわ
ち、本実施形態によると１次探索において、小さな動き
に対して従来よりも高精度に動きベクトル候補を検出す
ることができる。
【００３９】また、図３（ｂ）の１６個の原サンプルか
らなる２次探索用ＭＶ検出対象ブロックに対するフレー
ム動きベクトルの２次探索では、高精度な探索が有効な
動きの小さな場合に対応させ、図５（ａ）に示すように
狭い範囲（水平・垂直方向とも２次探索の中心点から±
０．５画素の９点）に設定した２次探索点から、２次探
索用ＭＶ検出対象ブロックとの誤差が最小になる位置を
検出することで十分である。
らなる２次探索用ＭＶ検出対象ブロックに対するフレー
ム動きベクトルの２次探索では、高精度な探索が有効な
動きの小さな場合に対応させ、図５（ａ）に示すように
狭い範囲（水平・垂直方向とも２次探索の中心点から±
０．５画素の９点）に設定した２次探索点から、２次探
索用ＭＶ検出対象ブロックとの誤差が最小になる位置を
検出することで十分である。
【００４０】このようにすると、動きの大きな場合にお
いても図５（ｂ）に示すように狭い範囲に設定した２次
探索点からの探索で左右に３点ずつ探索点が不足する程
度であり、視覚的にも符号化効率の点でも探索精度があ
まり影響しないことから問題を生じない。
いても図５（ｂ）に示すように狭い範囲に設定した２次
探索点からの探索で左右に３点ずつ探索点が不足する程
度であり、視覚的にも符号化効率の点でも探索精度があ
まり影響しないことから問題を生じない。
【００４１】このように本実施形態によると、従来の動
きベクトル検出方法よりも２次探索での探索演算量を減
少させることができる。 （第２の実施形態）本発明の第２の実施形態に係る動き
ベクトル検出方法を１次探索、２次探索の順に説明す
る。
きベクトル検出方法よりも２次探索での探索演算量を減
少させることができる。 （第２の実施形態）本発明の第２の実施形態に係る動き
ベクトル検出方法を１次探索、２次探索の順に説明す
る。
【００４２】［１次探索］本実施形態に係る動きベクト
ル検出方法における動きベクトルの１次探索について説
明する。
ル検出方法における動きベクトルの１次探索について説
明する。
【００４３】図６（ａ）および（ｂ）は、本実施形態に
おける１次探索用参照画面および１次探索用ＭＶ検出対
象画面の同一画面位置の部分領域である１次探索用参照
ブロックおよび１次探索用ＭＶ検出対象ブロック上の原
サンプル点とサブサンプル点を示す図である。同図に示
されるように、本実施形態では１次探索用参照画面のサ
ブサンプル点と１次探索用ＭＶ検出対象画面のサブサン
プル点の関係が逆になっている。
おける１次探索用参照画面および１次探索用ＭＶ検出対
象画面の同一画面位置の部分領域である１次探索用参照
ブロックおよび１次探索用ＭＶ検出対象ブロック上の原
サンプル点とサブサンプル点を示す図である。同図に示
されるように、本実施形態では１次探索用参照画面のサ
ブサンプル点と１次探索用ＭＶ検出対象画面のサブサン
プル点の関係が逆になっている。
【００４４】すなわち、本実施形態においては、１次探
索用参照画面のサブサンプル点は図６（ａ）に示される
ように、一つの１次探索用参照画面を構成する第１、第
２フィールドの原サンプル点の間を水平方向に内挿補間
した後、水平方向に異なる位相で一つおきに水平方向に
間引くことによって得られる。一方、１次探索用ＭＶ検
出対象画面のサブサンプル点は図６（ｂ）に示されるよ
うに、一つのＭＶ検出対象画面を構成する第１フィール
ドおよび第２フィールドの原サンプル点の間を水平方向
に内挿補間した後、内挿点を水平方向に同一位相で一つ
おきに間引くことによって得られる。
索用参照画面のサブサンプル点は図６（ａ）に示される
ように、一つの１次探索用参照画面を構成する第１、第
２フィールドの原サンプル点の間を水平方向に内挿補間
した後、水平方向に異なる位相で一つおきに水平方向に
間引くことによって得られる。一方、１次探索用ＭＶ検
出対象画面のサブサンプル点は図６（ｂ）に示されるよ
うに、一つのＭＶ検出対象画面を構成する第１フィール
ドおよび第２フィールドの原サンプル点の間を水平方向
に内挿補間した後、内挿点を水平方向に同一位相で一つ
おきに間引くことによって得られる。
【００４５】図７に、図１（ｂ）に示した１次探索用Ｍ
Ｖ検出対象ブロックの第１、第２フィールドの左上のサ
ブサンプル点Ｃａ２，Ｃｂ２（１次探索対象点）に対す
る動きベクトルの１次探索範囲の設定例を示す。
Ｖ検出対象ブロックの第１、第２フィールドの左上のサ
ブサンプル点Ｃａ２，Ｃｂ２（１次探索対象点）に対す
る動きベクトルの１次探索範囲の設定例を示す。
【００４６】動きベクトルの１次探索に際しては、まず
図６（ｂ）の第１フィールドの４つのサブサンプル点で
構成される第１フィールドの１次探索用ＭＶ検出対象ブ
ロックについて、図６（ｂ）の第１フィールド上の１次
探索対象点Ｃａ２が図７の点Ａｃを探索中心とする探索
範囲Ａ内の第１、第２フィールドの各サブサンプル点の
いずれかに位置する場合毎にマッチング誤差、つまり図
６（ｂ）の第１フィールドの４つのサブサンプル点の画
素値とそれらに最も近い図２の探索範囲Ａ内のサブサン
プル点の画素値との差分の絶対値和を算出する。この場
合、図２の探索範囲Ａ内のサブサンプル点は２８個であ
るので、合計２８点のマッチング誤差が得られる。
図６（ｂ）の第１フィールドの４つのサブサンプル点で
構成される第１フィールドの１次探索用ＭＶ検出対象ブ
ロックについて、図６（ｂ）の第１フィールド上の１次
探索対象点Ｃａ２が図７の点Ａｃを探索中心とする探索
範囲Ａ内の第１、第２フィールドの各サブサンプル点の
いずれかに位置する場合毎にマッチング誤差、つまり図
６（ｂ）の第１フィールドの４つのサブサンプル点の画
素値とそれらに最も近い図２の探索範囲Ａ内のサブサン
プル点の画素値との差分の絶対値和を算出する。この場
合、図２の探索範囲Ａ内のサブサンプル点は２８個であ
るので、合計２８点のマッチング誤差が得られる。
【００４７】そして、これら２８点のマッチング誤差の
中でマッチング誤差が最小となる図７上のＣａ２に対応
する位置Ａｓを検出し、この位置ＡｓとＣａ２の相対位
置を図６（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対象ブロックの第
１フィールドについてのフィールド動きベクトル候補と
する。
中でマッチング誤差が最小となる図７上のＣａ２に対応
する位置Ａｓを検出し、この位置ＡｓとＣａ２の相対位
置を図６（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対象ブロックの第
１フィールドについてのフィールド動きベクトル候補と
する。
【００４８】次に、図６（ｂ）の第２フィールド上のＣ
ｂ２に対する探索範囲を第１フィールド上のＣａ２に対
するＣｂ２の位置の差を考慮して、図７に示すように点
Ｂｃを探索中心とするＢのように設定する。すなわち、
探索中心Ｂｃは図７上のＣａ２に対応する位置Ａｓに対
して、図６（ｂ）におけるＣａ１に対するＣｂ１の相対
位置と同じ相対位置に設定する。
ｂ２に対する探索範囲を第１フィールド上のＣａ２に対
するＣｂ２の位置の差を考慮して、図７に示すように点
Ｂｃを探索中心とするＢのように設定する。すなわち、
探索中心Ｂｃは図７上のＣａ２に対応する位置Ａｓに対
して、図６（ｂ）におけるＣａ１に対するＣｂ１の相対
位置と同じ相対位置に設定する。
【００４９】次に、図６（ｂ）の第２フィールドの４つ
のサブサンプル点で構成される第２フィールドの１次探
索用ＭＶ検出対象ブロックについて、図６（ｂ）の第２
フィールド上のＣｂ２が図７の探索範囲Ｂ内の第１、第
２フィールドの各サブサンプル点に位置する場合毎にマ
ッチング誤差、つまり図６（ｂ）の第２フィールドの４
つのサブサンプル点の画素値と、それらに最も近い図７
の探索範囲Ｂ内のサブサンプル点の画素値との差分の絶
対値和を算出する。この場合においても、図２の探索範
囲Ｂ内のサブサンプル点は２８個であるので、合計２８
点のマッチング誤差が得られる。
のサブサンプル点で構成される第２フィールドの１次探
索用ＭＶ検出対象ブロックについて、図６（ｂ）の第２
フィールド上のＣｂ２が図７の探索範囲Ｂ内の第１、第
２フィールドの各サブサンプル点に位置する場合毎にマ
ッチング誤差、つまり図６（ｂ）の第２フィールドの４
つのサブサンプル点の画素値と、それらに最も近い図７
の探索範囲Ｂ内のサブサンプル点の画素値との差分の絶
対値和を算出する。この場合においても、図２の探索範
囲Ｂ内のサブサンプル点は２８個であるので、合計２８
点のマッチング誤差が得られる。
【００５０】そして、これらの２８点のマッチング誤差
の中でマッチング誤差が最小となる図７上のＣｂ２に対
応する位置Ｂｓ（図示せず）を検出し、この位置Ｂｓと
Ｃｂ２の相対位置を図６（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対
象ブロックの第２フィールドについてのフィールド動き
ベクトル候補とする。位置がＢｓ（図示せず）なるサブ
サンプル点であったし、これを第２フィールドについて
のフィールド動きベクトル候補とする。
の中でマッチング誤差が最小となる図７上のＣｂ２に対
応する位置Ｂｓ（図示せず）を検出し、この位置Ｂｓと
Ｃｂ２の相対位置を図６（ｂ）の１次探索用ＭＶ検出対
象ブロックの第２フィールドについてのフィールド動き
ベクトル候補とする。位置がＢｓ（図示せず）なるサブ
サンプル点であったし、これを第２フィールドについて
のフィールド動きベクトル候補とする。
【００５１】以上のようにして動きベクトルの１次探
索、すなわち第１および第２フィールドについてのフィ
ールド動きベクトルの動きベクトル候補の探索が行われ
る。 ［２次探索］次に、本実施形態に係る動きベクトル検出
方法における動きベクトルの２次探索について図３を用
いて説明する。 ＜フィールド動きベクトルの２次探索＞まず、図３
（ｂ）の第１、第２フィールドの各々の原サンプル点か
らなるフィールド構成の２次探索用ＭＶ検出対象ブロッ
クに対する動きベクトル（フィールド動きベクトル）の
２次探索においては、図３（ａ１）に示したフィールド
動きベクトルの２次探索用参照画面を用い、図６（ｂ）
の第１、第２フィールド上の１次探索対象点Ｃａ２，Ｃ
ｂ２に対して１次探索で得られたフィールド動きベクト
ル候補Ａｓ，Ｂｓを図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ３に対す
るフレーム動きベクトル候補に換算して指定される位置
を２次探索の中心点として、前述した従来の動きベクト
ル検出方法と同様に、図１５（ａ）に示すように２次探
索点を設定し、これらの２次探索点から第１、第２フィ
ールドでそれぞれ構成されるフィールド構成の２次探索
用ＭＶ検出対象ブロックとのマッチング誤差が最小とな
る位置を第１、第２フィールドのフィールド動きベクト
ルとして検出する。
索、すなわち第１および第２フィールドについてのフィ
ールド動きベクトルの動きベクトル候補の探索が行われ
る。 ［２次探索］次に、本実施形態に係る動きベクトル検出
方法における動きベクトルの２次探索について図３を用
いて説明する。 ＜フィールド動きベクトルの２次探索＞まず、図３
（ｂ）の第１、第２フィールドの各々の原サンプル点か
らなるフィールド構成の２次探索用ＭＶ検出対象ブロッ
クに対する動きベクトル（フィールド動きベクトル）の
２次探索においては、図３（ａ１）に示したフィールド
動きベクトルの２次探索用参照画面を用い、図６（ｂ）
の第１、第２フィールド上の１次探索対象点Ｃａ２，Ｃ
ｂ２に対して１次探索で得られたフィールド動きベクト
ル候補Ａｓ，Ｂｓを図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ３に対す
るフレーム動きベクトル候補に換算して指定される位置
を２次探索の中心点として、前述した従来の動きベクト
ル検出方法と同様に、図１５（ａ）に示すように２次探
索点を設定し、これらの２次探索点から第１、第２フィ
ールドでそれぞれ構成されるフィールド構成の２次探索
用ＭＶ検出対象ブロックとのマッチング誤差が最小とな
る位置を第１、第２フィールドのフィールド動きベクト
ルとして検出する。
【００５２】＜フレーム動きベクトルの２次探索＞一
方、図３（ｂ）の第１、第２両フィールドの全ての原サ
ンプル点からなるフレーム構成の２次探索用ＭＶ検出対
象ブロックに対する動きベクトル（フレーム動きベクト
ル）の２次探索においては、図３（ａ２）に示した２次
探索用参照画面を用いて、図６（ｂ）のＣａ２に対して
１次探索で得られたフィールド動きベクトル候補Ａｓ，
Ｂｓの一方または両方を図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ３の
一方または両方に対するフレーム動きベクトル候補に換
算して指定される位置を２次探索の中心点として設定し
た２次探索点から、フレーム構成の２次探索用ＭＶ検出
対象ブロックとのマッチング誤差が最小となる位置をフ
レーム動きベクトルとして検出する。する。
方、図３（ｂ）の第１、第２両フィールドの全ての原サ
ンプル点からなるフレーム構成の２次探索用ＭＶ検出対
象ブロックに対する動きベクトル（フレーム動きベクト
ル）の２次探索においては、図３（ａ２）に示した２次
探索用参照画面を用いて、図６（ｂ）のＣａ２に対して
１次探索で得られたフィールド動きベクトル候補Ａｓ，
Ｂｓの一方または両方を図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ３の
一方または両方に対するフレーム動きベクトル候補に換
算して指定される位置を２次探索の中心点として設定し
た２次探索点から、フレーム構成の２次探索用ＭＶ検出
対象ブロックとのマッチング誤差が最小となる位置をフ
レーム動きベクトルとして検出する。する。
【００５３】本実施形態によっても、以下のように第１
の実施形態と同様の効果を得ることができる。図８は、
図６（ｂ）の第１、第２フィールド上の探索対象点Ｃａ
２，Ｃｂ２に対する１次探索で得られたフィールド動き
ベクトル候補Ａｓ，Ｂｓを図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ３
に対するフレーム動きベクトル候補に換算した１次探索
点と１次探索範囲を示している。同図に示されるよう
に、第１フィールドについてのフィールド動きベクトル
の１次探索範囲と、第２フィールドについてのフィール
ド動きベクトルの１次探索範囲は、Ｃａ２，Ｃｂ２に対
する１次探索の探索中心点の近傍の領域（動きの小さな
領域）Ｅで重複している。従って、この領域Ｅでは１画
素精度の１次探索が行われ、これらの探索中心点から離
れた領域（動きの大きな領域）Ｄ，Ｆでは、水平・垂直
方向ともに２画素精度の１次探索が行われることにな
る。
の実施形態と同様の効果を得ることができる。図８は、
図６（ｂ）の第１、第２フィールド上の探索対象点Ｃａ
２，Ｃｂ２に対する１次探索で得られたフィールド動き
ベクトル候補Ａｓ，Ｂｓを図３（ｂ）のＣａ３，Ｃｂ３
に対するフレーム動きベクトル候補に換算した１次探索
点と１次探索範囲を示している。同図に示されるよう
に、第１フィールドについてのフィールド動きベクトル
の１次探索範囲と、第２フィールドについてのフィール
ド動きベクトルの１次探索範囲は、Ｃａ２，Ｃｂ２に対
する１次探索の探索中心点の近傍の領域（動きの小さな
領域）Ｅで重複している。従って、この領域Ｅでは１画
素精度の１次探索が行われ、これらの探索中心点から離
れた領域（動きの大きな領域）Ｄ，Ｆでは、水平・垂直
方向ともに２画素精度の１次探索が行われることにな
る。
【００５４】従来の動きベクトル検出方法では、動きの
大きさに関係なく常に２画素精度で１次探索が行われて
いたが、本実施形態では上述のように動きの小さな領域
については２画素精度の１次探索が行われる。すなわ
ち、本実施形態によると１次探索において小さな動きに
対して、従来よりも高精度に動きベクトル候補を検出す
ることができる。
大きさに関係なく常に２画素精度で１次探索が行われて
いたが、本実施形態では上述のように動きの小さな領域
については２画素精度の１次探索が行われる。すなわ
ち、本実施形態によると１次探索において小さな動きに
対して、従来よりも高精度に動きベクトル候補を検出す
ることができる。
【００５５】また、図６（ｂ）の１６個の原サンプルか
らなる２次探索用ＭＶ検出対象ブロックに対するフレー
ム動きベクトルの２次探索では、高精度な探索が有効な
動きの小さな場合に対応させ、図９（ａ）に示すように
狭い範囲（水平・垂直方向とも２次探索の中心点から±
０．５画素の９点）に設定した２次探索点から、２次探
索用ＭＶ検出対象ブロックとの誤差が最小になる位置を
検出することで十分である。
らなる２次探索用ＭＶ検出対象ブロックに対するフレー
ム動きベクトルの２次探索では、高精度な探索が有効な
動きの小さな場合に対応させ、図９（ａ）に示すように
狭い範囲（水平・垂直方向とも２次探索の中心点から±
０．５画素の９点）に設定した２次探索点から、２次探
索用ＭＶ検出対象ブロックとの誤差が最小になる位置を
検出することで十分である。
【００５６】このようにすると、動きの大きな場合にお
いても図９（ｂ）に示すように狭い範囲に設定した２次
探索点からの探索で左右に１点ずつ探索点が不足する程
度であり、視覚的にも符号化効率の点でも探索精度があ
まり影響しないことから、第１の実施形態よりもさら問
題を生じない。
いても図９（ｂ）に示すように狭い範囲に設定した２次
探索点からの探索で左右に１点ずつ探索点が不足する程
度であり、視覚的にも符号化効率の点でも探索精度があ
まり影響しないことから、第１の実施形態よりもさら問
題を生じない。
【００５７】このように本実施形態によると、従来の動
きベクトル検出方法よりも２次探索の演算量を減少させ
ることができ、さらに動きの大きな場合もより高精度で
動きベクトルを検出することが可能となる。
きベクトル検出方法よりも２次探索の演算量を減少させ
ることができ、さらに動きの大きな場合もより高精度で
動きベクトルを検出することが可能となる。
【００５８】（第３の実施形態）図１０（ａ）（ｂ）
は、本発明の第３の実施形態に係る動きベクトル検出方
法における１次探索用参照ブロックおよび１次探索用Ｍ
Ｖ検出対象ブロック上の原サンプル点とサブサンプル点
を示す図である。
は、本発明の第３の実施形態に係る動きベクトル検出方
法における１次探索用参照ブロックおよび１次探索用Ｍ
Ｖ検出対象ブロック上の原サンプル点とサブサンプル点
を示す図である。
【００５９】本実施形態においては、１次探索用参照画
面のサブサンプル点は図１０（ａ）に示されるように、
一つの１次探索用参照画面を構成する第１、第２フィー
ルドの原サンプル点を異なる位相で水平方向に一つおき
に間引くことによって得られる。一方、１次探索用ＭＶ
検出対象画面のサブサンプル点は図１０（ｂ）に示され
るように、一つのＭＶ検出対象画面を構成する第１、第
２フィールドの原サンプル点を水平方向に内挿補間した
後、水平方向に同一位相で一つおきに間引くことによっ
て得られる。
面のサブサンプル点は図１０（ａ）に示されるように、
一つの１次探索用参照画面を構成する第１、第２フィー
ルドの原サンプル点を異なる位相で水平方向に一つおき
に間引くことによって得られる。一方、１次探索用ＭＶ
検出対象画面のサブサンプル点は図１０（ｂ）に示され
るように、一つのＭＶ検出対象画面を構成する第１、第
２フィールドの原サンプル点を水平方向に内挿補間した
後、水平方向に同一位相で一つおきに間引くことによっ
て得られる。
【００６０】すなわち、第２の実施形態では図６（ａ）
に示したように、１次探索用参照画面のサブサンプル点
が第１、第２フィールドの原サンプル点を水平方向に内
挿補間した後、水平方向に異なる位相で間引いたもので
あるのに対し、本実施形態は図１０（ａ）に示されるよ
うに、第１、第２フィールドの原サンプル点間の内挿補
間を行わず、原サンプル点そのものを異なる位相で水平
方向に一つおきに間引いたものを１次探索用参照画面の
サブサンプル点とした点が第２の実施形態と異なるだけ
である。
に示したように、１次探索用参照画面のサブサンプル点
が第１、第２フィールドの原サンプル点を水平方向に内
挿補間した後、水平方向に異なる位相で間引いたもので
あるのに対し、本実施形態は図１０（ａ）に示されるよ
うに、第１、第２フィールドの原サンプル点間の内挿補
間を行わず、原サンプル点そのものを異なる位相で水平
方向に一つおきに間引いたものを１次探索用参照画面の
サブサンプル点とした点が第２の実施形態と異なるだけ
である。
【００６１】従って、本実施形態においても第２の実施
形態と同様の方法で動きベクトル検出を行うことによ
り、第２の実施形態と同様な効果を得ることができる。 （第４の実施形態）次に、図１１を用いて本発明の第４
の実施形態に係る動きベクトル検出方法について説明す
る。本実施形態においては、図１１（ａ）（ｂ）に示す
ように原サンプル点とサブサンプル点を配置した２種類
の１次探索用ＭＶ検出対象画面を用いる。図１１（ａ）
（ｂ）では、一つのＭＶ検出対象画面を構成する第１、
第２フィールドの原サンプル点を水平方向に同一位相で
間引いてサブサンプル点を得ている点は共通であるが、
サブサンプル点の位相を水平方向に１画素分互いにずら
せている。このように、一つのＭＶ検出対象画面を異な
る位相で水平方向にサブサンプルした２種類の１次探索
用ＭＶ検出対象画面を用いる。
形態と同様の方法で動きベクトル検出を行うことによ
り、第２の実施形態と同様な効果を得ることができる。 （第４の実施形態）次に、図１１を用いて本発明の第４
の実施形態に係る動きベクトル検出方法について説明す
る。本実施形態においては、図１１（ａ）（ｂ）に示す
ように原サンプル点とサブサンプル点を配置した２種類
の１次探索用ＭＶ検出対象画面を用いる。図１１（ａ）
（ｂ）では、一つのＭＶ検出対象画面を構成する第１、
第２フィールドの原サンプル点を水平方向に同一位相で
間引いてサブサンプル点を得ている点は共通であるが、
サブサンプル点の位相を水平方向に１画素分互いにずら
せている。このように、一つのＭＶ検出対象画面を異な
る位相で水平方向にサブサンプルした２種類の１次探索
用ＭＶ検出対象画面を用いる。
【００６２】本実施形態では、動きベクトルの１次探索
において、探索演算量に余裕の少ないＭＶ検出対象画面
（符号化対象画面）、つまり参照画面数が複数のＭＶ検
出対象画面に対しては、第１〜第３の実施形態のいずれ
かで説明した動きベクトル検出方法により動きベクトル
候補を検出する。
において、探索演算量に余裕の少ないＭＶ検出対象画面
（符号化対象画面）、つまり参照画面数が複数のＭＶ検
出対象画面に対しては、第１〜第３の実施形態のいずれ
かで説明した動きベクトル検出方法により動きベクトル
候補を検出する。
【００６３】一方、探索演算量に大きな余裕を生じるよ
うな、つまり参照画面数が１のＭＶ検出対象画面に対し
ては、１次探索用ＭＶ検出対象画面を図１１（ａ）
（ｂ）に示すように２種類の位相で水平方向にサブサン
プルし、図１（ａ）、図６（ａ）および図１０（ａ）の
いずれかに示した１次探索用参照画面から２種類の１次
探索用ＭＶ検出対象ブロックの第１、第２各フィールド
に対するフィールド動きベクトル候補をそれぞれ検出
し、それらの動きベクトル候補からＭＶ検出対象ブロッ
クの第１、第２フィールドに対するそれぞれのフィール
ド動きベクトル候補を決定する。
うな、つまり参照画面数が１のＭＶ検出対象画面に対し
ては、１次探索用ＭＶ検出対象画面を図１１（ａ）
（ｂ）に示すように２種類の位相で水平方向にサブサン
プルし、図１（ａ）、図６（ａ）および図１０（ａ）の
いずれかに示した１次探索用参照画面から２種類の１次
探索用ＭＶ検出対象ブロックの第１、第２各フィールド
に対するフィールド動きベクトル候補をそれぞれ検出
し、それらの動きベクトル候補からＭＶ検出対象ブロッ
クの第１、第２フィールドに対するそれぞれのフィール
ド動きベクトル候補を決定する。
【００６４】この場合、図１１（ａ）（ｂ）のサブサン
プル点の位相が１画素分異なっているため、上記のよう
に第１、第２フィールドに対するフィールド動きベクト
ルを決定することによって、１次探索用参照画面の画像
を記憶しておく画素数は従来と同じでありながら、１次
探索で水平方向に１画素精度のフィールド動きベクトル
候補を検出でき、動きベクトル検出誤りが従来よりも低
減する。特に、参照画面として図１（ａ）または図６
（ａ）のように水平方向に内挿補間した後、内挿点を水
平方向に間引いて生成した参照画面を用いる場合に、動
きベクトル検出誤りが低減する。
プル点の位相が１画素分異なっているため、上記のよう
に第１、第２フィールドに対するフィールド動きベクト
ルを決定することによって、１次探索用参照画面の画像
を記憶しておく画素数は従来と同じでありながら、１次
探索で水平方向に１画素精度のフィールド動きベクトル
候補を検出でき、動きベクトル検出誤りが従来よりも低
減する。特に、参照画面として図１（ａ）または図６
（ａ）のように水平方向に内挿補間した後、内挿点を水
平方向に間引いて生成した参照画面を用いる場合に、動
きベクトル検出誤りが低減する。
【００６５】（第５の実施形態）次に、図１２を用いて
本発明に係る動きベクトル検出方法を動画像符号化装置
に適用した実施形態を説明する。なお、ここでは第４の
実施形態の動きベクトル検出方法を用いた例について説
明するが、第１〜第３の実施形態の動きベクトル検出方
法を適用することもできる。
本発明に係る動きベクトル検出方法を動画像符号化装置
に適用した実施形態を説明する。なお、ここでは第４の
実施形態の動きベクトル検出方法を用いた例について説
明するが、第１〜第３の実施形態の動きベクトル検出方
法を適用することもできる。
【００６６】図１２において、入力端子１０１には符号
化対象の動画像信号が図１３に示すように符号化対象ブ
ロックは水平方向に並び、符号化対象ブロック内画素は
垂直方向に並ぶように順次入力される。第１の内挿間引
き部１１は、この入力動画像信号が参照画面（前方予測
の動き補償で符号化される画面＝Ｐピクチャ）となる場
合には、入力動画像信号の輝度信号を図６（ａ）に示し
たように水平方向に内挿補間した後、水平方向に異なる
位相で１サンプルおきに間引くことにより、第１、第２
のフィールドを異なる位相でサブサンプルして１次探索
用参照画面を生成する。この１次探索用参照画面の画像
信号は、内部画像メモリ１３に記憶される。
化対象の動画像信号が図１３に示すように符号化対象ブ
ロックは水平方向に並び、符号化対象ブロック内画素は
垂直方向に並ぶように順次入力される。第１の内挿間引
き部１１は、この入力動画像信号が参照画面（前方予測
の動き補償で符号化される画面＝Ｐピクチャ）となる場
合には、入力動画像信号の輝度信号を図６（ａ）に示し
たように水平方向に内挿補間した後、水平方向に異なる
位相で１サンプルおきに間引くことにより、第１、第２
のフィールドを異なる位相でサブサンプルして１次探索
用参照画面を生成する。この１次探索用参照画面の画像
信号は、内部画像メモリ１３に記憶される。
【００６７】また、第１の内挿間引き部１１は、入力動
画像信号が参照画面とならない画像（両方向予測の動き
補償で符号化される画像＝Ｂピクチャ）の場合には、図
６（ｂ）に示したように水平方向に内挿補間した後、水
平方向に同一位相で１サンプルおきに間引くことによ
り、第１、第２フィールドを同一位相でサブサンプルし
て１次探索用ＭＶ検出対象画面を生成する。この１次探
索用ＭＶ検出対象画面の画像信号は、内部画像メモリ１
３に記憶されることなく、１次探索用の前方予測のＭＶ
検出対象ブロックの画像信号として切換器１４に供給さ
れる。
画像信号が参照画面とならない画像（両方向予測の動き
補償で符号化される画像＝Ｂピクチャ）の場合には、図
６（ｂ）に示したように水平方向に内挿補間した後、水
平方向に同一位相で１サンプルおきに間引くことによ
り、第１、第２フィールドを同一位相でサブサンプルし
て１次探索用ＭＶ検出対象画面を生成する。この１次探
索用ＭＶ検出対象画面の画像信号は、内部画像メモリ１
３に記憶されることなく、１次探索用の前方予測のＭＶ
検出対象ブロックの画像信号として切換器１４に供給さ
れる。
【００６８】さらに、入力動画像信号が参照画面となら
ない画像（両方向予測の動き補償で符号化される画像＝
Ｂピクチャ）の場合には、内部画像メモリ１３に記憶さ
れた参照画面よりも以前に入力端子１０１から入力さ
れ、かつバッファメモリ１５を介して外部メモリ１６に
記憶された後方予測のＭＶ検出対象ブロックの画像信号
がアドレス発生部１８により読み出され、バッファメモ
リ１９を介して第２の内挿間引き部１２に供給される。
ない画像（両方向予測の動き補償で符号化される画像＝
Ｂピクチャ）の場合には、内部画像メモリ１３に記憶さ
れた参照画面よりも以前に入力端子１０１から入力さ
れ、かつバッファメモリ１５を介して外部メモリ１６に
記憶された後方予測のＭＶ検出対象ブロックの画像信号
がアドレス発生部１８により読み出され、バッファメモ
リ１９を介して第２の内挿間引き部１２に供給される。
【００６９】第２の内挿間引き部１２は、バッファメモ
リ１９を介して入力される後方予測のＭＶ検出対象ブロ
ックの画像信号を図６（ｂ）に示したように水平方向に
内挿補間した後、水平方向に第１、第２のフィールドを
同一位相でサブサンプルして１次探索用ＭＶ検出対象ブ
ロックを生成する。この１次探索用ＭＶ検出対象ブロッ
クの画像信号は、１次探索用の後方予測のＭＶ検出対象
ブロックの画像信号として切換器１４に供給される。
リ１９を介して入力される後方予測のＭＶ検出対象ブロ
ックの画像信号を図６（ｂ）に示したように水平方向に
内挿補間した後、水平方向に第１、第２のフィールドを
同一位相でサブサンプルして１次探索用ＭＶ検出対象ブ
ロックを生成する。この１次探索用ＭＶ検出対象ブロッ
クの画像信号は、１次探索用の後方予測のＭＶ検出対象
ブロックの画像信号として切換器１４に供給される。
【００７０】切換器１４は、入力端子１０１からの入力
動画像信号が参照画面となる画像の場合は、入力動画像
信号を図１１（ａ）（ｂ）に示したように２種類に分け
た１次探索用ＭＶ検出対象ブロックの画像信号を動きベ
クトル候補検出部１７に供給し、入力動画像信号が参照
画面とならない画像の場合は、第１、第２の内挿間引き
部１１，１２から供給される１次探索用ＭＶ検出対象ブ
ロックの画像信号を動きベクトル候補検出部１７に供給
する。
動画像信号が参照画面となる画像の場合は、入力動画像
信号を図１１（ａ）（ｂ）に示したように２種類に分け
た１次探索用ＭＶ検出対象ブロックの画像信号を動きベ
クトル候補検出部１７に供給し、入力動画像信号が参照
画面とならない画像の場合は、第１、第２の内挿間引き
部１１，１２から供給される１次探索用ＭＶ検出対象ブ
ロックの画像信号を動きベクトル候補検出部１７に供給
する。
【００７１】また、アドレス生成部１８は１画面前の同
一画面位置に対して検出された動きベクトル候補を外部
メモリ１６から読み出してバッファメモリ１９を介して
取り込み、その動きベクトル候補に基づいて内部画像メ
モリ１３に記憶された参照画面から参照領域を読み出し
て、動きベクトル候補検出部１７に供給する。
一画面位置に対して検出された動きベクトル候補を外部
メモリ１６から読み出してバッファメモリ１９を介して
取り込み、その動きベクトル候補に基づいて内部画像メ
モリ１３に記憶された参照画面から参照領域を読み出し
て、動きベクトル候補検出部１７に供給する。
【００７２】動きベクトル候補検出部１７は、内部画像
メモリ１３から供給される１次探索用参照ブロックの画
像信号から、それぞれの１次探索用ＭＶ検出対象ブロッ
クの一方のフィールドに対する動きベクトル候補を検出
する。さらに、動きベクトル候補検出部１７は、一方の
フィールド動きベクトル候補の検出結果をアドレス発生
部１８に供給する。これに基づいて、アドレス発生部１
８は図７に示したようにこの一方のフィールド動きベク
トル候補の検出結果に基づいて、動きベクトル検出対象
ブロックの他方のフィールドに対する参照ブロックの画
像信号を内部画像メモリ１３から読み出し、動きベクト
ル候補検出部１７に供給する。
メモリ１３から供給される１次探索用参照ブロックの画
像信号から、それぞれの１次探索用ＭＶ検出対象ブロッ
クの一方のフィールドに対する動きベクトル候補を検出
する。さらに、動きベクトル候補検出部１７は、一方の
フィールド動きベクトル候補の検出結果をアドレス発生
部１８に供給する。これに基づいて、アドレス発生部１
８は図７に示したようにこの一方のフィールド動きベク
トル候補の検出結果に基づいて、動きベクトル検出対象
ブロックの他方のフィールドに対する参照ブロックの画
像信号を内部画像メモリ１３から読み出し、動きベクト
ル候補検出部１７に供給する。
【００７３】アドレス発生部１８は、このようにして１
次探索部（動きベクトル候補検出部）１７で検出された
それぞれのＭＶ検出対象ブロックの第１、第２各フィー
ルドに対するフィールド動きベクトルの動きベクトル候
補をフレーム動きベクトル候補として適切なフィールド
動きベクトル候補を示す情報と共に、バッファメモリ１
５を介して外部メモリ１６に１次記憶する。
次探索部（動きベクトル候補検出部）１７で検出された
それぞれのＭＶ検出対象ブロックの第１、第２各フィー
ルドに対するフィールド動きベクトルの動きベクトル候
補をフレーム動きベクトル候補として適切なフィールド
動きベクトル候補を示す情報と共に、バッファメモリ１
５を介して外部メモリ１６に１次記憶する。
【００７４】さらに、アドレス発生部１８は１次探索部
１７で検出された符号化対象ブロックに対するフィール
ド動きベクトルの動きベクトル候補を外部メモリ１６か
ら読み出してバッファメモリ１９を介して取り込み、各
動きベクトル候補に基づいて図１６（ａ）や図９に示す
ような探索範囲に対応する参照ブロックの画像信号と符
号化対象ブロックの画像信号を外部メモリ１６から読み
出し、バッファメモリ１９を介して２次探索部（動き補
償器）２０に供給する。
１７で検出された符号化対象ブロックに対するフィール
ド動きベクトルの動きベクトル候補を外部メモリ１６か
ら読み出してバッファメモリ１９を介して取り込み、各
動きベクトル候補に基づいて図１６（ａ）や図９に示す
ような探索範囲に対応する参照ブロックの画像信号と符
号化対象ブロックの画像信号を外部メモリ１６から読み
出し、バッファメモリ１９を介して２次探索部（動き補
償器）２０に供給する。
【００７５】２次探索部（動き補償器）２０は、バッフ
ァメモリ１９を介して供給される符号化対象ブロックの
画像信号に対して、同じくバッファメモリ１９を介して
供給される参照ブロックの画像信号から最適動きベクト
ルの基準動きベクトルとの差分（差分動きベクトル）と
動き補償モードを検出し、アドレス発生部１８に供給す
る。さらに、２次探索部（動き補償器）２０は検出され
た動き補償モードに対応する予測信号を生成して局部再
生部２５に供給し、さらにその予測信号と符号化対象ブ
ロックの各画素信号との差分（予測誤差データ）を生成
し、離散コサイン変換器２１に出力する。
ァメモリ１９を介して供給される符号化対象ブロックの
画像信号に対して、同じくバッファメモリ１９を介して
供給される参照ブロックの画像信号から最適動きベクト
ルの基準動きベクトルとの差分（差分動きベクトル）と
動き補償モードを検出し、アドレス発生部１８に供給す
る。さらに、２次探索部（動き補償器）２０は検出され
た動き補償モードに対応する予測信号を生成して局部再
生部２５に供給し、さらにその予測信号と符号化対象ブ
ロックの各画素信号との差分（予測誤差データ）を生成
し、離散コサイン変換器２１に出力する。
【００７６】アドレス発生部１８は、２次探索部２０か
ら供給される差分動きベクトルから最終的な最適動きベ
クトルを算出し、動き補償モード信号と共に可変長符号
化器２６に供給する。離散コサイン変換器２１は、２次
探索部２０から供給される予測誤差データに対し２次元
の離散コサイン変換処理を施してＤＣＴ係数データを生
成し、量子化器２２に供給する。量子化器２２は、離散
コサイン変換器２１から供給されるＤＣＴ係数データに
対して、各周波数成分に応じた量子化幅で除算処理して
量子化処理を行い、逆量子化器２３および可変長符号化
器２６に供給する。
ら供給される差分動きベクトルから最終的な最適動きベ
クトルを算出し、動き補償モード信号と共に可変長符号
化器２６に供給する。離散コサイン変換器２１は、２次
探索部２０から供給される予測誤差データに対し２次元
の離散コサイン変換処理を施してＤＣＴ係数データを生
成し、量子化器２２に供給する。量子化器２２は、離散
コサイン変換器２１から供給されるＤＣＴ係数データに
対して、各周波数成分に応じた量子化幅で除算処理して
量子化処理を行い、逆量子化器２３および可変長符号化
器２６に供給する。
【００７７】可変長符号化器２６は、アドレス発生部１
８から供給される動き補償モードの情報や動きベクトル
の情報と量子化器２２から供給されるＤＣＴ係数データ
を可変長符号化して多重し、出力端子１０２から出力す
る。逆量子化器２３は、量子化器２２から供給されるＤ
ＣＴ係数データに各周波数成分に応じた量子化幅を乗じ
て、元のダイナミックレンジのＤＣＴ係数に戻し、元の
ダイナミックレンジに戻されたＤＣＴ係数データを逆離
散コサイン変換器２４に供給する。逆離散コサイン変換
器２４は、逆量子化器２３から供給されるＤＣＴ係数デ
ータに対して逆離散コサイン変換処理を施し、局部再生
予測誤差データを生成する。
８から供給される動き補償モードの情報や動きベクトル
の情報と量子化器２２から供給されるＤＣＴ係数データ
を可変長符号化して多重し、出力端子１０２から出力す
る。逆量子化器２３は、量子化器２２から供給されるＤ
ＣＴ係数データに各周波数成分に応じた量子化幅を乗じ
て、元のダイナミックレンジのＤＣＴ係数に戻し、元の
ダイナミックレンジに戻されたＤＣＴ係数データを逆離
散コサイン変換器２４に供給する。逆離散コサイン変換
器２４は、逆量子化器２３から供給されるＤＣＴ係数デ
ータに対して逆離散コサイン変換処理を施し、局部再生
予測誤差データを生成する。
【００７８】局部再生部２５は、符号化されている画面
が後で符号化される画面の動き補償の参照画面となる場
合に、逆離散コサイン変換器２４から供給される局部再
生予測誤差データと２次探索部２０から供給される予測
画素データとを加算して、局部再生画像信号を生成し、
バッファメモリ１５を介して外部メモリ１６に一時記憶
する。このとき、外部メモリ１６上では参照されなくな
った過去の参照画面の画像信号が記憶されていたアドレ
スに上書きされる。ここでは、１次探索用参照画面の画
像信号を動画像符号化用ＬＳＩ３０の内部メモリ１３に
記憶しているため、動画像符号化用ＬＳＩ３０の外部メ
モリ１６のデータアクセス速度を大幅に低減することが
できる。
が後で符号化される画面の動き補償の参照画面となる場
合に、逆離散コサイン変換器２４から供給される局部再
生予測誤差データと２次探索部２０から供給される予測
画素データとを加算して、局部再生画像信号を生成し、
バッファメモリ１５を介して外部メモリ１６に一時記憶
する。このとき、外部メモリ１６上では参照されなくな
った過去の参照画面の画像信号が記憶されていたアドレ
スに上書きされる。ここでは、１次探索用参照画面の画
像信号を動画像符号化用ＬＳＩ３０の内部メモリ１３に
記憶しているため、動画像符号化用ＬＳＩ３０の外部メ
モリ１６のデータアクセス速度を大幅に低減することが
できる。
【００７９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば１
次探索における参照画面または動きベクトル検出対象画
面のいずれか一方について水平方向のサブサンプル点の
位相を２つのフィールドで異ならせることで、１次探索
における動きベクトル検出対象ブロックの第１および第
２フィールドに対する動きベクトルの探索範囲を小さな
動きに相当する探索部分で重複させ、動きベクトル検出
対象ブロックの第１および第２フィールドに対して検出
される動きベクトル候補の中からフレーム動きベクトル
候補を選択することで、１次探索でフレーム構成の動き
ベクトル検出対象ブロックに対する最適な動きベクトル
候補は、動きが小さく解像度の高い画像では１画素精度
となり、１次探索での誤検出が低減する。
次探索における参照画面または動きベクトル検出対象画
面のいずれか一方について水平方向のサブサンプル点の
位相を２つのフィールドで異ならせることで、１次探索
における動きベクトル検出対象ブロックの第１および第
２フィールドに対する動きベクトルの探索範囲を小さな
動きに相当する探索部分で重複させ、動きベクトル検出
対象ブロックの第１および第２フィールドに対して検出
される動きベクトル候補の中からフレーム動きベクトル
候補を選択することで、１次探索でフレーム構成の動き
ベクトル検出対象ブロックに対する最適な動きベクトル
候補は、動きが小さく解像度の高い画像では１画素精度
となり、１次探索での誤検出が低減する。
【００８０】また、このようにすると２次探索で必要な
探索点数が減少し、２次探索の動きベクトル検出演算量
が低減する。さらに、本発明では１次探索において探索
演算量に余裕を生じる符号化対象画面、つまり１画面の
符号化期間にわたり後方予測の動きベクトル検出が不要
な符号化対象画面に対しては、動きベクトル検出対象画
面を２種類の位相で水平方向にサブサンプルして、一つ
の動きベクトル検出対象ブロックに対して生成した２種
類の１次探索用動きベクトル検出対象ブロックに対して
ほぼ同一の探索範囲から動きベクトル候補を検出し、こ
の２種類の１次探索用動きベクトル検出対象ブロックに
対する動きベクトル候補から、一つの動きベクトル検出
対象ブロックの各フィールドに対する最適な動きベクト
ル候補を選択することにより、動きベクトル検出対象ブ
ロックの各フィールドに対して検出される動きベクトル
候補が１画素精度となり、動きの小さな画像でも所有す
る探索演算量を符号化効率の向上に有効利用できる。し
かも、１次探索用のサブサンプルされた参照画面の画素
数が従来と同様であることから、参照画面の記憶容量の
増加も不要となる。
探索点数が減少し、２次探索の動きベクトル検出演算量
が低減する。さらに、本発明では１次探索において探索
演算量に余裕を生じる符号化対象画面、つまり１画面の
符号化期間にわたり後方予測の動きベクトル検出が不要
な符号化対象画面に対しては、動きベクトル検出対象画
面を２種類の位相で水平方向にサブサンプルして、一つ
の動きベクトル検出対象ブロックに対して生成した２種
類の１次探索用動きベクトル検出対象ブロックに対して
ほぼ同一の探索範囲から動きベクトル候補を検出し、こ
の２種類の１次探索用動きベクトル検出対象ブロックに
対する動きベクトル候補から、一つの動きベクトル検出
対象ブロックの各フィールドに対する最適な動きベクト
ル候補を選択することにより、動きベクトル検出対象ブ
ロックの各フィールドに対して検出される動きベクトル
候補が１画素精度となり、動きの小さな画像でも所有す
る探索演算量を符号化効率の向上に有効利用できる。し
かも、１次探索用のサブサンプルされた参照画面の画素
数が従来と同様であることから、参照画面の記憶容量の
増加も不要となる。
【図１】本発明の第１の実施形態に係る動きベクトル検
出方法における１次探索用参照ブロックおよび１次探索
用動きベクトル検出対象ブロック上の原サンプル点とサ
ブサンプル点を示す図
出方法における１次探索用参照ブロックおよび１次探索
用動きベクトル検出対象ブロック上の原サンプル点とサ
ブサンプル点を示す図
【図２】同実施形態における動きベクトルの１次探索範
囲の設定例を示す図
囲の設定例を示す図
【図３】同実施形態における２次探索用参照ブロックお
よび２次探索用動きベクトル検出対象ブロック上の原サ
ンプル点を示す図
よび２次探索用動きベクトル検出対象ブロック上の原サ
ンプル点を示す図
【図４】同実施形態におけるフレーム動きベクトルに換
算した１次探索点と１次探索範囲を示す図
算した１次探索点と１次探索範囲を示す図
【図５】同実施形態における２次探索でのフレーム動き
ベクトルの探索点の設定例を示す図
ベクトルの探索点の設定例を示す図
【図６】本発明の第２の実施形態に係る動きベクトル検
出方法における１次探索用参照ブロックおよび１次探索
用動きベクトル検出対象ブロック上の原サンプル点とサ
ブサンプル点を示す図
出方法における１次探索用参照ブロックおよび１次探索
用動きベクトル検出対象ブロック上の原サンプル点とサ
ブサンプル点を示す図
【図７】同実施形態における動きベクトルの１次探索範
囲の設定例を示す図
囲の設定例を示す図
【図８】同実施形態におけるフレーム動きベクトルに換
算した１次探索点と１次探索範囲を示す図
算した１次探索点と１次探索範囲を示す図
【図９】同実施形態における２次探索でのフレーム動き
ベクトルの探索点の設定例を示す図
ベクトルの探索点の設定例を示す図
【図１０】本発明の第３の実施形態に係る動きベクトル
検出方法における１次探索用参照ブロックおよび１次探
索用動きベクトル検出対象ブロック上の原サンプル点と
サブサンプル点を示す図
検出方法における１次探索用参照ブロックおよび１次探
索用動きベクトル検出対象ブロック上の原サンプル点と
サブサンプル点を示す図
【図１１】本発明の第４の実施形態に係る動きベクトル
検出方法における１次探索用参照ブロックおよび１次探
索用動きベクトル検出対象ブロック上の原サンプル点と
サブサンプル点を示す図
検出方法における１次探索用参照ブロックおよび１次探
索用動きベクトル検出対象ブロック上の原サンプル点と
サブサンプル点を示す図
【図１２】本発明の実施形態に係る動きベクトル検出方
法を適用した動画像符号化装置の構成例を示すブロック
図
法を適用した動画像符号化装置の構成例を示すブロック
図
【図１３】図１２の動画像符号化装置に入力される画像
の画素入力形式の例を示す図
の画素入力形式の例を示す図
【図１４】従来の動きベクトル検出方法における１次探
索用参照ブロックおよび１次探索用動きベクトル検出対
象ブロック上の原サンプル点とサブサンプル点を示す図
索用参照ブロックおよび１次探索用動きベクトル検出対
象ブロック上の原サンプル点とサブサンプル点を示す図
【図１５】従来の動きベクトル検出方法における２次探
索でのフィールド動きベクトルおよびフレーム動きベク
トルの探索点の設定例を示す図
索でのフィールド動きベクトルおよびフレーム動きベク
トルの探索点の設定例を示す図
１１…参照画面および前方予測ＭＶ検出対象ブロック用
の内挿間引き部 １２…後方予測ＭＶ検出対象ブロック用の内挿間引き部 １３…１次探索用参照画面記憶用の内部画像メモリ １４…１次探索用ＭＶ検出対象ブロック切換器 １７…１次探索部（動きベクトル候補探索部） ２０…２次探索部（１／２画素精度動きベクトル検出お
よび動き補償器）
の内挿間引き部 １２…後方予測ＭＶ検出対象ブロック用の内挿間引き部 １３…１次探索用参照画面記憶用の内部画像メモリ １４…１次探索用ＭＶ検出対象ブロック切換器 １７…１次探索部（動きベクトル候補探索部） ２０…２次探索部（１／２画素精度動きベクトル検出お
よび動き補償器）
Claims (6)
- 【請求項１】第１および第２フィールドで構成される参
照画面を第１フィールドと第２フィールドとで同一位相
で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索用参
照画面を生成し、 第１および第２フィールドで構成される動きベクトル検
出対象画面を第１フィールドと第２フィールドとで異な
る位相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探
索用動きベクトル検出対象画面を生成し、 前記１次探索用参照画面の中から、前記１次探索用動き
ベクトル検出対象画面の部分領域である１次探索用動き
ベクトル検出対象ブロックに類似する部分領域である１
次探索用参照ブロックを探索して、該１次探索用動きベ
クトル検出対象ブロックの第１および第２フィールドの
各々に対する該１次探索用参照ブロックの相対位置を示
すフィールド動きベクトルの動きベクトル候補を検出
し、 この動きベクトル候補を探索中心として２次探索を行う
ことにより最終的なフィールド動きベクトルおよびフレ
ーム動きベクトルの検出を行うことを特徴とする動きベ
クトル検出方法。 - 【請求項２】第１および第２フィールドで構成される参
照画面を第１フィールドと第２フィールドとで異なる位
相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索用
参照画面を生成し、 第１および第２フィールドで構成される動きベクトル検
出対象画面を第１フィールドと第２フィールドとで同一
位相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索
用動きベクトル検出対象画面を生成し、 前記１次探索用参照画面の中から、前記１次探索用動き
ベクトル検出対象画面の部分領域である１次探索用動き
ベクトル検出対象ブロックに類似する部分領域である１
次探索用参照ブロックを探索して、該１次探索用動きベ
クトル検出対象ブロックの第１および第２フィールドの
各々に対する該１次探索用参照ブロックの相対位置を示
すフィールド動きベクトルの動きベクトル候補を検出
し、 この動きベクトル候補を探索中心として２次探索を行う
ことにより最終的なフィールド動きベクトルおよびフレ
ーム動きベクトルの検出を行うことを特徴とする動きベ
クトル検出方法。 - 【請求項３】１画面の符号化期間にわたり後方予測の動
きベクトル検出が不要の場合は、第１および第２フィー
ルドで構成される動きベクトル検出対象画面を水平方向
に異なる位相でサブサンプルすることにより生成した２
種類の１次探索用動きベクトル検出対象画面を用いて、
前記フィールド動きベクトルの動きベクトル候補を検出
することを特徴とする請求項１または２記載の動きベク
トル検出方法。 - 【請求項４】第１および第２フィールドで構成される参
照画面を第１フィールドと第２フィールドとで同一位相
で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索用参
照画面を生成する手段と、 第１および第２フィールドで構成される動きベクトル検
出対象画面を第１フィールドと第２フィールドとで異な
る位相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探
索用動きベクトル検出対象画面を生成する手段と、 前記１次探索用参照画面の中から、前記１次探索用動き
ベクトル検出対象画面の部分領域である１次探索用動き
ベクトル検出対象ブロックに類似する部分領域である１
次探索用参照ブロックを探索して、該１次探索用動きベ
クトル検出対象ブロックの第１および第２フィールドの
各々に対する該１次探索用参照ブロックの相対位置を示
すフィールド動きベクトルの動きベクトル候補を検出す
る１次探索手段と、 この１次探索手段により探索された動きベクトル候補を
探索中心として２次探索を行うことにより最終的なフィ
ールド動きベクトルおよびフレーム動きベクトルの検出
を行う２次探索手段とを有することを特徴とする動きベ
クトル検出装置。 - 【請求項５】第１および第２フィールドで構成される参
照画面を第１フィールドと第２フィールドとで異なる位
相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索用
参照画面を生成する手段と、 第１および第２フィールドで構成される動きベクトル検
出対象画面を第１フィールドと第２フィールドとで同一
位相で水平方向にサブサンプルすることにより１次探索
用動きベクトル検出対象画面を生成する手段と、 前記１次探索用参照画面の中から、前記１次探索用動き
ベクトル検出対象画面の部分領域である１次探索用動き
ベクトル検出対象ブロックに類似する部分領域である１
次探索用参照ブロックを探索して、該１次探索用動きベ
クトル検出対象ブロックの第１および第２フィールドの
各々に対する該１次探索用参照ブロックの相対位置を示
すフィールド動きベクトルの動きベクトル候補を検出す
る１次探索手段と、 この１次探索手段により探索された動きベクトル候補を
探索中心として２次探索を行うことにより最終的なフィ
ールド動きベクトルおよびフレーム動きベクトルの検出
を行う２次探索手段とを有することを特徴とする動きベ
クトル検出装置。 - 【請求項６】前記１次探索手段は、１画面の符号化期間
にわたり後方予測の動きベクトル検出が不要の場合は、
第１および第２フィールドで構成される動きベクトル検
出対象画面を水平方向に異なる位相でサブサンプルする
ことにより生成した２種類の１次探索用動きベクトル検
出対象画面を用いて、前記フィールド動きベクトルの動
きベクトル候補を検出することを特徴とする請求項４ま
たは５記載の動きベクトル検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23105197A JP3813320B2 (ja) | 1997-08-27 | 1997-08-27 | 動きベクトル検出方法および装置 |
| US09/140,542 US6154491A (en) | 1997-08-27 | 1998-08-26 | Motion vector detecting method and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23105197A JP3813320B2 (ja) | 1997-08-27 | 1997-08-27 | 動きベクトル検出方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1175195A true JPH1175195A (ja) | 1999-03-16 |
| JP3813320B2 JP3813320B2 (ja) | 2006-08-23 |
Family
ID=16917525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23105197A Expired - Fee Related JP3813320B2 (ja) | 1997-08-27 | 1997-08-27 | 動きベクトル検出方法および装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6154491A (ja) |
| JP (1) | JP3813320B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100644629B1 (ko) | 2004-09-18 | 2006-11-10 | 삼성전자주식회사 | 하이브리드 블록 매칭 기반의 움직임 추정 방법 및 그를적용한 프레임 레이트 변환 장치 |
| KR100747544B1 (ko) | 2006-03-31 | 2007-08-08 | 엘지전자 주식회사 | 움직임 추정 방법 및 장치 |
| KR100926440B1 (ko) * | 2002-06-26 | 2009-11-13 | 이문기 | 영상부호화를 위한 블록 매칭 움직임 추정 장치 |
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| KR100374717B1 (ko) * | 1998-03-05 | 2003-03-04 | 주식회사 팬택앤큐리텔 | 비월주사방식 영상을 위한 색차신호 모양정보 추출방법 및 장치 |
| IL160386A (en) * | 1999-04-06 | 2005-11-20 | Broadcom Corp | Video encoding and video/audio/data multiplexing device |
| JP2003501902A (ja) * | 1999-05-27 | 2003-01-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | ビデオ信号の符号化 |
| US6351545B1 (en) * | 1999-12-14 | 2002-02-26 | Dynapel Systems, Inc. | Motion picture enhancing system |
| US6560286B1 (en) * | 1999-12-29 | 2003-05-06 | Intel Corporation | Field frame motion design for digital video decoder |
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| US20030099294A1 (en) * | 2001-11-27 | 2003-05-29 | Limin Wang | Picture level adaptive frame/field coding for digital video content |
| US20040184711A1 (en) * | 2002-06-20 | 2004-09-23 | Kenneth Bradley | Optical switches and routers and optical filters |
| US7324596B2 (en) * | 2003-07-15 | 2008-01-29 | Lsi Logic Corporation | Low complexity block size decision for variable block size motion estimation |
| KR20050119285A (ko) * | 2004-06-16 | 2005-12-21 | 삼성전자주식회사 | 하이브리드 블록기반 움직임 추정장치 및 그 방법 |
| US8462850B2 (en) * | 2004-07-02 | 2013-06-11 | Qualcomm Incorporated | Motion estimation in video compression systems |
| KR101671460B1 (ko) * | 2009-09-10 | 2016-11-02 | 에스케이 텔레콤주식회사 | 움직임 벡터 부호화/복호화 방법 및 장치와 그를 이용한 영상 부호화/복호화 방법 및 장치 |
| KR101634141B1 (ko) * | 2009-11-18 | 2016-06-28 | 삼성전자주식회사 | 방향에 따른 참조블록을 이용한 영상 보간 방법 및 장치 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US5317397A (en) * | 1991-05-31 | 1994-05-31 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Predictive coding using spatial-temporal filtering and plural motion vectors |
| US5398078A (en) * | 1991-10-31 | 1995-03-14 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method of detecting a motion vector in an image coding apparatus |
| EP0631444B1 (en) * | 1992-03-03 | 1998-12-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Time-varying image encoder |
| JP2636622B2 (ja) * | 1992-03-13 | 1997-07-30 | 松下電器産業株式会社 | ビデオ信号の符号化方法及び復号化方法ならびにビデオ信号の符号化装置及び復号化装置 |
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| JP2778412B2 (ja) * | 1993-05-20 | 1998-07-23 | 国際電信電話株式会社 | 動き補償フレーム間コンポジットｔｖ信号直接符号化装置 |
| JP2934146B2 (ja) * | 1994-02-07 | 1999-08-16 | 株式会社グラフィックス・コミュニケーション・ラボラトリーズ | 動画像圧縮におけるブロック・マッチング方法と装置 |
| US5682209A (en) * | 1995-11-13 | 1997-10-28 | Tektronix, Inc. | Motion estimation using limited-time early exit with prequalification matrices and a predicted search center |
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-
1997
- 1997-08-27 JP JP23105197A patent/JP3813320B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-08-26 US US09/140,542 patent/US6154491A/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| KR100747544B1 (ko) | 2006-03-31 | 2007-08-08 | 엘지전자 주식회사 | 움직임 추정 방법 및 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3813320B2 (ja) | 2006-08-23 |
| US6154491A (en) | 2000-11-28 |
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