JPH1172517A - タイミング波形検出装置 - Google Patents
タイミング波形検出装置Info
- Publication number
- JPH1172517A JPH1172517A JP9232853A JP23285397A JPH1172517A JP H1172517 A JPH1172517 A JP H1172517A JP 9232853 A JP9232853 A JP 9232853A JP 23285397 A JP23285397 A JP 23285397A JP H1172517 A JPH1172517 A JP H1172517A
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- Japan
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- detection circuit
- signal
- circuit
- timing
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Abstract
(57)【要約】
【課題】２つの信号間のタイミング関係を直接観測、測
定可能にする。 【解決手段】第１の入力信号１と第１の参照電圧発生回
路３の参照電圧を比較する第１の比較器５と、第１の比
較器の出力信号のエッジを検出する第１のエッジ検出回
路７と、第２の入力信号２と第２の参照電圧発生回路４
の参照電圧を比較する第２の比較器６と、第２の比較器
の出力信号のエッジを検出する第２のエッジ検出回路８
と、前記第１のエッジ検出回路の出力でセットされ、第
２のエッジ検出回路の出力でリセットされるＲＳフリッ
プフロップ９とを備えて、前記ＲＳフリップフロップの
出力をタイミング差信号として直接に観測、測定する。
定可能にする。 【解決手段】第１の入力信号１と第１の参照電圧発生回
路３の参照電圧を比較する第１の比較器５と、第１の比
較器の出力信号のエッジを検出する第１のエッジ検出回
路７と、第２の入力信号２と第２の参照電圧発生回路４
の参照電圧を比較する第２の比較器６と、第２の比較器
の出力信号のエッジを検出する第２のエッジ検出回路８
と、前記第１のエッジ検出回路の出力でセットされ、第
２のエッジ検出回路の出力でリセットされるＲＳフリッ
プフロップ９とを備えて、前記ＲＳフリップフロップの
出力をタイミング差信号として直接に観測、測定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は集積回路などの信号
波形のタイミングを検出する装置に関し、特に２つの信
号の間のエッジ間のタイミング波形を検出する装置に関
する。
波形のタイミングを検出する装置に関し、特に２つの信
号の間のエッジ間のタイミング波形を検出する装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】集積回路などの信号波形を検出するもの
として、半導体試験装置などの測定部のピンエレクトロ
ニクス回路がある。これは、入力信号と参照電圧とを比
較する比較部と、任意の電圧レベルの信号を発生するド
ライバ回路部からなっている。前述のピンエレクトロニ
クス回路の比較部では、入力信号に対してハイレベルの
参照電圧と比較する立ち上がりエッジ検出回路と、ロー
レベルの参照電圧と比較する立ち下がりエッジ検出回路
とにより、入力信号を所定の閾値電圧で検出し測定する
ようにして、この検出測定した各信号のタイミング測定
値から、各入力信号間のタイミング関係を算出するよう
にしていた。
として、半導体試験装置などの測定部のピンエレクトロ
ニクス回路がある。これは、入力信号と参照電圧とを比
較する比較部と、任意の電圧レベルの信号を発生するド
ライバ回路部からなっている。前述のピンエレクトロニ
クス回路の比較部では、入力信号に対してハイレベルの
参照電圧と比較する立ち上がりエッジ検出回路と、ロー
レベルの参照電圧と比較する立ち下がりエッジ検出回路
とにより、入力信号を所定の閾値電圧で検出し測定する
ようにして、この検出測定した各信号のタイミング測定
値から、各入力信号間のタイミング関係を算出するよう
にしていた。
【０００３】また、特開平４−１２３６０７号公報にあ
るように、任意の比較電圧と信号レベルを比較して信号
波形の立ち上がりタイミング、立ち下がりタイミングの
各々を規定するようにして、所定のパルス幅を有するパ
ルス信号を発生する波形整形回路があった。
るように、任意の比較電圧と信号レベルを比較して信号
波形の立ち上がりタイミング、立ち下がりタイミングの
各々を規定するようにして、所定のパルス幅を有するパ
ルス信号を発生する波形整形回路があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記のように、従来の
半導体試験装置では、２つの信号間のタイミング関係を
測定するのに、各々の信号を別個に測定して、各々の測
定結果を比較していたので、目的の２つの信号間のタイ
ミング関係を直接測定することができなかった。
半導体試験装置では、２つの信号間のタイミング関係を
測定するのに、各々の信号を別個に測定して、各々の測
定結果を比較していたので、目的の２つの信号間のタイ
ミング関係を直接測定することができなかった。
【０００５】また、従来の波形整形回路は１つの信号の
波形を整形するようにしていたので、２つの信号間のタ
イミング関係を測定するには、２つの信号の各々に前記
の波形整形回路を用意する必要があった。
波形を整形するようにしていたので、２つの信号間のタ
イミング関係を測定するには、２つの信号の各々に前記
の波形整形回路を用意する必要があった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明のタイミング波形検出装置は、任意の参照電
圧を発生する第１及び第２の参照電圧発生回路と、前記
第１の参照電圧発生回路の参照電圧と第１の入力信号の
電圧とを比較する第１の比較器と、前記第１の比較器の
出力信号のエッジを検出する第１のエッジ検出回路と、
前記第２の参照電圧発生回路の参照電圧と第２の入力信
号の電圧とを比較する第２の比較器と、前記第２の比較
器の出力信号のエッジを検出する第２のエッジ検出回路
と、前記第１のエッジ検出回路の出力信号でセットさ
れ、前記第２のエッジ検出回路の出力信号でリセットさ
れるＲＳフリップフロップとを備え、前記ＲＳフリップ
フロップの出力を観測することにより、前記第１の入力
信号と前記第２の入力信号とのエッジ間のタイミング差
を検出するようにした。
め、本発明のタイミング波形検出装置は、任意の参照電
圧を発生する第１及び第２の参照電圧発生回路と、前記
第１の参照電圧発生回路の参照電圧と第１の入力信号の
電圧とを比較する第１の比較器と、前記第１の比較器の
出力信号のエッジを検出する第１のエッジ検出回路と、
前記第２の参照電圧発生回路の参照電圧と第２の入力信
号の電圧とを比較する第２の比較器と、前記第２の比較
器の出力信号のエッジを検出する第２のエッジ検出回路
と、前記第１のエッジ検出回路の出力信号でセットさ
れ、前記第２のエッジ検出回路の出力信号でリセットさ
れるＲＳフリップフロップとを備え、前記ＲＳフリップ
フロップの出力を観測することにより、前記第１の入力
信号と前記第２の入力信号とのエッジ間のタイミング差
を検出するようにした。
【０００７】また、前記第１及び第２のエッジ検出回路
を、立ち上がりエッジ検出回路として、２つの信号間の
タイミング差形を検出するようにした。
を、立ち上がりエッジ検出回路として、２つの信号間の
タイミング差形を検出するようにした。
【０００８】また、前記第１及び第２のエッジ検出回路
を、立ち下がりエッジ検出回路として、２つの信号間の
タイミング差を検出するようにした。
を、立ち下がりエッジ検出回路として、２つの信号間の
タイミング差を検出するようにした。
【０００９】また、前記第１のエッジ検出回路を立ち上
がりエッジ検出回路とし、前記第２のエッジ検出回路を
立ち下がりエッジ検出回路として、２つの信号間のタイ
ミング差を検出するようにした。
がりエッジ検出回路とし、前記第２のエッジ検出回路を
立ち下がりエッジ検出回路として、２つの信号間のタイ
ミング差を検出するようにした。
【００１０】また、前記第１のエッジ検出回路を立ち下
がりエッジ検出回路とし、前記第２のエッジ検出回路を
立ち上がりエッジ検出回路として、２つの信号間のタイ
ミング差を検出するようにした。
がりエッジ検出回路とし、前記第２のエッジ検出回路を
立ち上がりエッジ検出回路として、２つの信号間のタイ
ミング差を検出するようにした。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について、以
下に図面を参照して説明する。
下に図面を参照して説明する。
【００１２】図１は、本発明のタイミング波形検出装置
の構成を説明するブロック図である。図１で、第１の入
力信号１及び第２の入力信号２は、第１の比較器５及び
第２の比較器６により、それぞれ第１の参照電圧発生回
路３及び第２の参照電圧発生回路４で生成される参照電
圧と比較される。例えば、第１及び第２の参照電圧発生
回路でハイレベルの閾値電圧レベルの参照電圧を発生す
るようにし、各々第１及び第２の入力信号と比較して、
入力信号が前記の参照電圧レベルより大きいときには、
比較器５あるいは比較器６の出力信号は能動レベルとな
る。第１のエッジ検出回路７及び第２のエッジ検出回路
８では、前記第１の比較器５あるいは前記第２の比較器
６の出力信号のエッジを検出する。例えば、第１のエッ
ジ検出回路及び第２のエッジ検出回路８が各々立ち上が
りエッジ検出回路であるときには、前記第１及び第２の
比較器５、６の出力信号のリーデイングエッジを検出し
てエッジ検出パルス信号を出力する。ＲＳフリップフロ
ップ９のセット入力には、前記第１のエッジ検出回路の
エッジ検出パルス信号を入力し、リセット入力には、前
記第２のエッジ検出回路のエッジ検出パルス信号をそれ
ぞれ入力することにより、前記第１の入力信号のエッジ
と前記第２の入力信号のエッジ間のタイミング差信号１
０を得ることができる。
の構成を説明するブロック図である。図１で、第１の入
力信号１及び第２の入力信号２は、第１の比較器５及び
第２の比較器６により、それぞれ第１の参照電圧発生回
路３及び第２の参照電圧発生回路４で生成される参照電
圧と比較される。例えば、第１及び第２の参照電圧発生
回路でハイレベルの閾値電圧レベルの参照電圧を発生す
るようにし、各々第１及び第２の入力信号と比較して、
入力信号が前記の参照電圧レベルより大きいときには、
比較器５あるいは比較器６の出力信号は能動レベルとな
る。第１のエッジ検出回路７及び第２のエッジ検出回路
８では、前記第１の比較器５あるいは前記第２の比較器
６の出力信号のエッジを検出する。例えば、第１のエッ
ジ検出回路及び第２のエッジ検出回路８が各々立ち上が
りエッジ検出回路であるときには、前記第１及び第２の
比較器５、６の出力信号のリーデイングエッジを検出し
てエッジ検出パルス信号を出力する。ＲＳフリップフロ
ップ９のセット入力には、前記第１のエッジ検出回路の
エッジ検出パルス信号を入力し、リセット入力には、前
記第２のエッジ検出回路のエッジ検出パルス信号をそれ
ぞれ入力することにより、前記第１の入力信号のエッジ
と前記第２の入力信号のエッジ間のタイミング差信号１
０を得ることができる。
【実施例】次に本発明の実施例について説明する。図２
は、本発明のタイミング波形検出装置の第１の実施例を
説明するブロック図で、第１及び第２のエッジ検出回路
がともに立ち上がりエッジ検出回路である場合の一例で
ある。図３は、図２の各部の信号波形を示したものであ
る。
は、本発明のタイミング波形検出装置の第１の実施例を
説明するブロック図で、第１及び第２のエッジ検出回路
がともに立ち上がりエッジ検出回路である場合の一例で
ある。図３は、図２の各部の信号波形を示したものであ
る。
【００１３】図２で、第１及び第２の参照電圧発生回路
２３及び２４は、それぞれ第１の入力信号２１及び第２
の入力信号２２のハイレベルの閾値電圧Ｖｏｈを発生す
るようにする。第１の比較器２５及び第２の比較器２６
では、入力信号と前記閾値電圧Ｖｏｈとが比較され、入
力信号が前記閾値電圧Ｖｏｈより大きいとき、出力信号
が能動となり、ハイレベルの信号が出力される。第１の
エッジ検出回路２７は第１の入力信号２１の立ち上がり
のタイミングでエッジ検出パルス信号を出力し、ＲＳフ
リプフロップ２９のセット入力に入力されて、タイミン
グ差信号出力２０を能動にしてハイレベルとする。第２
のエッジ検出回路２８は第２の入力信号２２の立ち上が
りのタイミングでエッジ検出パルス信号を出力し、ＲＳ
フリップフロップ２９のリセット入力に入力されて、タ
イミング差信号出力２０を非能動にしてローレベルとす
る。従って、このタイミング差信号出力２０を観測、測
定することにより、第１の入力信号の立ち上がりタイミ
ングから第２の入力信号の立ち上がりタイミングまでの
タイミング差を直接に観測、測定することができる。
２３及び２４は、それぞれ第１の入力信号２１及び第２
の入力信号２２のハイレベルの閾値電圧Ｖｏｈを発生す
るようにする。第１の比較器２５及び第２の比較器２６
では、入力信号と前記閾値電圧Ｖｏｈとが比較され、入
力信号が前記閾値電圧Ｖｏｈより大きいとき、出力信号
が能動となり、ハイレベルの信号が出力される。第１の
エッジ検出回路２７は第１の入力信号２１の立ち上がり
のタイミングでエッジ検出パルス信号を出力し、ＲＳフ
リプフロップ２９のセット入力に入力されて、タイミン
グ差信号出力２０を能動にしてハイレベルとする。第２
のエッジ検出回路２８は第２の入力信号２２の立ち上が
りのタイミングでエッジ検出パルス信号を出力し、ＲＳ
フリップフロップ２９のリセット入力に入力されて、タ
イミング差信号出力２０を非能動にしてローレベルとす
る。従って、このタイミング差信号出力２０を観測、測
定することにより、第１の入力信号の立ち上がりタイミ
ングから第２の入力信号の立ち上がりタイミングまでの
タイミング差を直接に観測、測定することができる。
【００１４】次に本発明のタイミング波形検出装置の第
２の実施例について説明する。図４は、本発明のタイミ
ング波形検出装置の第２の実施例を説明するブロック図
で、第１のエッジ検出回路が立ち上がりエッジ検出回
路、第２のエッジ検出回路が立ち下がりエッジ検出回路
である場合の一例である。図５は、図４の各部の信号波
形を示したものである。
２の実施例について説明する。図４は、本発明のタイミ
ング波形検出装置の第２の実施例を説明するブロック図
で、第１のエッジ検出回路が立ち上がりエッジ検出回
路、第２のエッジ検出回路が立ち下がりエッジ検出回路
である場合の一例である。図５は、図４の各部の信号波
形を示したものである。
【００１５】図４で、第１の参照電圧発生回路４３は第
１の入力信号４１のハイレベルの閾値電圧Ｖｏｈを、第
２の参照電圧発生回路４４は、第２の入力信号４２のロ
ーレベルの閾値電圧ＶｏＬを発生するようにする。第１
の比較器４５では第１の入力信号４１と前記閾値電圧Ｖ
ｏｈが比較され、第１の入力信号４１が前記閾値電圧Ｖ
ｏｈより大きいとき、出力信号が能動となり、ハイレベ
ルの信号が出力される。第２の比較器４６では、第２の
入力信号と前記閾値電圧ＶｏＬとが比較され、第２の入
力信号４２が前記閾値電圧ＶｏＬより小さいとき、出力
信号が能動となり、ハイレベルの信号が出力される。第
１のエッジ検出回路４７は第１の入力信号４１の立ち上
がりのタイミングでエッジ検出パルス信号を出力し、Ｒ
Ｓフリプフロップ４９のセット入力に入力されて、タイ
ミング差信号出力４０を能動にしてハイレベルとする。
第２のエッジ検出回路４８は第２の入力信号４２の立ち
下がりのタイミングでエッジ検出パルス信号を出力し、
ＲＳフリップフロップ４９のリセット入力に入力され
て、タイミング差信号出力４０を非能動にしてローレベ
ルとする。従って、このタイミング差信号出力４０を観
測、測定することにより、第１の入力信号の立ち上がり
タイミングから第２の入力信号の立ち下がりタイミング
までのタイミング差を直接に観測、測定することができ
る。
１の入力信号４１のハイレベルの閾値電圧Ｖｏｈを、第
２の参照電圧発生回路４４は、第２の入力信号４２のロ
ーレベルの閾値電圧ＶｏＬを発生するようにする。第１
の比較器４５では第１の入力信号４１と前記閾値電圧Ｖ
ｏｈが比較され、第１の入力信号４１が前記閾値電圧Ｖ
ｏｈより大きいとき、出力信号が能動となり、ハイレベ
ルの信号が出力される。第２の比較器４６では、第２の
入力信号と前記閾値電圧ＶｏＬとが比較され、第２の入
力信号４２が前記閾値電圧ＶｏＬより小さいとき、出力
信号が能動となり、ハイレベルの信号が出力される。第
１のエッジ検出回路４７は第１の入力信号４１の立ち上
がりのタイミングでエッジ検出パルス信号を出力し、Ｒ
Ｓフリプフロップ４９のセット入力に入力されて、タイ
ミング差信号出力４０を能動にしてハイレベルとする。
第２のエッジ検出回路４８は第２の入力信号４２の立ち
下がりのタイミングでエッジ検出パルス信号を出力し、
ＲＳフリップフロップ４９のリセット入力に入力され
て、タイミング差信号出力４０を非能動にしてローレベ
ルとする。従って、このタイミング差信号出力４０を観
測、測定することにより、第１の入力信号の立ち上がり
タイミングから第２の入力信号の立ち下がりタイミング
までのタイミング差を直接に観測、測定することができ
る。
【００１６】
【発明の効果】以上のように、本発明のタイミング波形
検出装置は、２つの信号間のタイミング差を直接タイミ
ング差信号として観測、測定できるので、従来のよう
に、一つ一つの信号について別個に波形整形したり、測
定する必要がなくなり、２つの信号間のタイミング関係
を直接に観測、測定できるようになった。
検出装置は、２つの信号間のタイミング差を直接タイミ
ング差信号として観測、測定できるので、従来のよう
に、一つ一つの信号について別個に波形整形したり、測
定する必要がなくなり、２つの信号間のタイミング関係
を直接に観測、測定できるようになった。
【図１】本発明のタイミング波形検出装置の実施の形態
を説明するブロック図である。
を説明するブロック図である。
【図２】本発明のタイミング波形検出装置の第１の実施
例を説明するブロック図である。
例を説明するブロック図である。
【図３】本発明のタイミング波形検出装置の第１の実施
例の各部の波形を説明するタイムチャートである。
例の各部の波形を説明するタイムチャートである。
【図４】本発明のタイミング波形検出装置の第２の実施
例を説明するブロック図である。
例を説明するブロック図である。
【図５】本発明のタイミング波形検出装置の第２の実施
例の各部の波形を説明するタイムチャートである。
例の各部の波形を説明するタイムチャートである。
１、２１、４１ 第１の入力信号 ２、２２，４２ 第２の入力信号 ３、２３，４３ 第１の参照電圧発生回路 ４、２４，４４ 第２の参照電圧発生回路 ５、２５，４５ 第１の比較器 ６、２６，４６ 第２の比較器 ７、２７，４７ 第１のエッジ検出回路 ８、２８，４８ 第２のエッジ検出回路 ９、２９，４９ ＲＳフリップフロップ １０、２０，４０ タイミング差信号
Claims (5)
- 【請求項１】 任意の参照電圧を発生する第１及び第２
の参照電圧発生回路と、前記第１の参照電圧発生回路の
参照電圧と第１の入力信号の電圧とを比較する第１の比
較器と、前記第１の比較器の出力信号のエッジを検出す
る第１のエッジ検出回路と、前記第２の参照電圧発生回
路の参照電圧と第２の入力信号の電圧とを比較する第２
の比較器と、前記第２の比較器の出力信号のエッジを検
出する第２のエッジ検出回路と、前記第１のエッジ検出
回路の出力信号でセットされ、前記第２のエッジ検出回
路の出力信号でリセットされるＲＳフリップフロップと
を備え、前記ＲＳフリップフロップの出力を観測するこ
とにより、前記第１の入力信号と前記第２の入力信号と
のエッジ間のタイミング差を検出するようにしたことを
特徴とするタイミング波形検出装置。 - 【請求項２】 前記第１及び第２のエッジ検出回路が、
立ち上がりエッジ検出回路であることを特徴とする請求
項１記載のタイミング波形検出装置。 - 【請求項３】 前記第１及び第２のエッジ検出回路が、
立ち下がりエッジ検出回路であることを特徴とする請求
項１記載のタイミング波形検出装置。 - 【請求項４】 前記第１のエッジ検出回路が立ち上がり
エッジ検出回路であり、前記第２のエッジ検出回路が立
ち下がりエッジ検出回路であることを特徴とする請求項
１記載のタイミング波形検出装置。 - 【請求項５】 前記第１のエッジ検出回路が立ち下がり
エッジ検出回路であり、前記第２のエッジ検出回路が立
ち上がりエッジ検出回路であることを特徴とする請求項
１記載のタイミング波形検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9232853A JPH1172517A (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | タイミング波形検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9232853A JPH1172517A (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | タイミング波形検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1172517A true JPH1172517A (ja) | 1999-03-16 |
Family
ID=16945849
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9232853A Pending JPH1172517A (ja) | 1997-08-28 | 1997-08-28 | タイミング波形検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1172517A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011061405A (ja) * | 2009-09-09 | 2011-03-24 | Fuji Electric Systems Co Ltd | パルス生成回路及びレベルシフト回路 |
| US10557924B1 (en) | 2018-05-14 | 2020-02-11 | SOS Lab co., Ltd | Lidar device |
| US10591598B2 (en) | 2018-01-08 | 2020-03-17 | SOS Lab co., Ltd | Lidar device |
| EP4187763A1 (en) * | 2021-11-24 | 2023-05-31 | Hamilton Sundstrand Corporation | Automatic power factor correction |
| US11953626B2 (en) | 2018-01-08 | 2024-04-09 | SOS Lab co., Ltd | LiDAR device |
-
1997
- 1997-08-28 JP JP9232853A patent/JPH1172517A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US10613224B2 (en) | 2018-01-08 | 2020-04-07 | SOS Lab co., Ltd | LiDAR device |
| US11493630B2 (en) | 2018-01-08 | 2022-11-08 | SOS Lab co., Ltd | LiDAR device |
| US11953626B2 (en) | 2018-01-08 | 2024-04-09 | SOS Lab co., Ltd | LiDAR device |
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| US10705190B2 (en) | 2018-05-14 | 2020-07-07 | SOS Lab co., Ltd | LiDAR device |
| EP4187763A1 (en) * | 2021-11-24 | 2023-05-31 | Hamilton Sundstrand Corporation | Automatic power factor correction |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000411 |