JPH116780A - 静電容量型圧力センサ - Google Patents

静電容量型圧力センサ

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JPH116780A
JPH116780A JP17644397A JP17644397A JPH116780A JP H116780 A JPH116780 A JP H116780A JP 17644397 A JP17644397 A JP 17644397A JP 17644397 A JP17644397 A JP 17644397A JP H116780 A JPH116780 A JP H116780A
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JP
Japan
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pressure sensor
type pressure
heater
capacitance type
lead
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Application number
JP17644397A
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English (en)
Inventor
Masahiro Sato
正博 佐藤
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Tokin Corp
Original Assignee
Tokin Corp
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Publication date
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Publication of JPH116780A publication Critical patent/JPH116780A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定誤差が無く、信頼性の高い静電容量型圧
力センサを提供する。 【解決手段】 絶縁基板であるガラス基板20上の固定
電極21周辺部にヒータ(薄膜導体膜)24を設け、ヒ
ータ24に微小電力を常時供給し、固定電極21周辺部
の温度を室温より高く保持して静電容量型圧力センサ内
の大気の結露を防止することにより測定誤差と短絡の無
い静電容量型圧力センサを得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、住宅関連機器およ
び産業用機器に用いられる流体の圧力検出に用いられる
静電容量型圧力センサに関する。
【0002】
【従来の技術】この種の静電容量型圧力センサとして、
一般に、図2に例示する圧力センサが知られている。図
2(a)は、キャップをはずした従来の静電容量型圧力
センサの内部を示す外観斜視図であり、図2(b)は、
静電容量型圧力センサのA−A[図2(d)]断面図、
図2(c)は、静電容量型圧力センサのセンサチップ3
0の構造を示す分解図、図2(d)は、静電容量型圧力
センサの外観斜視図である。
【0003】図2に例示する従来の静電容量型圧力セン
サでは、シリコン基板10に、差圧に応じて変形する可
動電極として機能するダイアフラム部11が形成され、
絶縁基板であるガラス基板20上に固定電極21が形成
されている。
【0004】図2に示すように、シリコン基板10とガ
ラス基板20とは、シリコン基板10の外周部において
接合されており、これによって、ダイアフラム部11の
下側には、キャビティ部12が形成される。
【0005】前記シリコン基板10と前記ガラス基板2
0よりなるセンサチップ30には、固定電極引き出し用
横穴13が設けられ、横穴を通して、前記固定電極21
が固定電極引き出し用導体パターン22を経てキャビテ
ィ部12の外に電気的に引き出される。
【0006】ダイアフラム部11を有するシリコン基板
10は、ガラス基板20上に設けられた可動電極パット
23に圧接され、可動電極であるダイアフラム部部11
は、キャビティ部12の外に電気的に取り出される。
【0007】そして、センサチップ30は、ベース部材
としての台座40上に接着される。台座40には、リー
ド端子44、45が設けられており、リード端子44と
ガラス基板20上の固定電極21とは、固定電極引き出
し用パターン22を経てリードワイヤ33によって、リ
ード端子45と可動電極パット23とは、リードワイヤ
34によって、電気的に接続されている。
【0008】ガラス基板20および台座40のそれぞれ
に、大気導入用貫通孔31および43が形成されてお
り、これら二つの大気導入用貫通孔31、43は連通さ
れている。キャビティ部12とセンサチップ外部のキャ
ップ内領域47とを隔離するため、横穴13は封止材3
2によって封止される。そして、台座40と被測定流体
導入用貫通孔42を設けたカバー部材としてのキャップ
41とは、ハーメチックシールによって接着およびシー
ルされる。
【0009】静電容量形圧力センサの動作原理は、前記
可動電極を兼ねたダイアフラム部11に差圧が加わる
と、前記可動電極であるダイアフラム部11が変形し、
前記ダイアフラム部11と対向する固定電極21間のギ
ャップの変化が起こり、ギャップの変化により静電容量
も変化する。前記ギャップと、ダイアフラム部11と固
定電極21間の静電容量Csの関係式は(1)式で表さ
れる。
【0010】 Cs=ε(A/d) ・・・・・・・・・ (1) ε:空気の誘電率 A:電極面積 d:電極間ギャップ
【0011】また、差圧とギャップとの間には一定の相
関関係があり、ダイアフラム部11の片側の流体の圧力
は既知なので、静電容量の変化から被測定流体の圧力を
検出することができる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】従来の静電容量型圧力
センサでは、大気導入用貫通孔31、43より導入した
大気中に含まれる水分が温度の変化等で結露することに
より、可動電極であるダイアフラム部11と固定電極2
1間にある空気の誘電率が変化することにより、測定誤
差が生ずる他、ダイアフラム部11と固定電極21が短
絡する恐れもあるといった欠点を有していた。
【0013】そこで、本発明の課題は、かかる欠点を除
去するため、測定誤差が無く、信頼性の高い静電容量型
圧力センサを提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、絶縁基板であるガラス基板上の固定電極
周辺部にヒータを設け、前記ヒータに微小電力を常時供
給し、固定電極周辺部の温度を室温より高く保持して静
電容量型圧力センサ内の大気の結露を防止することによ
り測定誤差と短絡の無い静電容量型圧力センサを得よう
とするものである。
【0015】即ち、本発明は、絶縁基板上の固定電極周
辺部にヒータを設けた静電容量型圧力センサである。
【0016】さらに、本発明は、前記ヒータは薄膜の導
体膜よりなる上記の静電容量型圧力センサである。
【0017】また、本発明は、前記ヒータは薄膜の窒化
シリコン膜より上記の静電容量型圧力センサである。
【0018】また、本発明は、前記ヒータは炭化シリコ
ンよりなる上記の静電容量型圧力センサである。
【0019】また、本発明は、前記ヒータはサーミスタ
よりなる上記の静電容量型圧力センサである。
【0020】さらに、本発明は、前記サーミスタは正特
性を有する上記の静電容量型圧力センサである。
【0021】さらに、本発明は、前記ガラス基板上の少
なくとも2箇所に、前記ヒータと前記センサチップの外
部との電気的接続をする引き出し用導体パターンを設け
た上記の静電容量型圧力センサである。
【0022】さらに、本発明は、前記引き出し用導体パ
ターンと電気的に接続されたリード端子を設けた上記の
静電容量型圧力センサである。
【0023】
【発明の実施の形態】センサチップの絶縁基板上のキャ
ビティ部内にヒータを設け、前記ヒータに引き出し用導
体パターンおよびリード端子を介して、微小電力を常時
供給し、キャビティ部内を常に一定温度に保つように
し、周囲の湿度及び温度の変化が発生した場合において
も、キャビティ部内での結露の発生を防止する。
【0024】
【実施例】以下に、本発明の静電容量型圧力センサの実
施例について、図を用いて説明する。
【0025】本発明の静電容量型圧力センサの構成等
は、図2を用いて説明した従来の技術とほぼ同様のた
め、詳細の説明を省略し、相違点のみ説明する。
【0026】図1(a)は、本発明の静電容量型圧力セ
ンサのキャップをはずして内部を示す斜視図であり、図
1(b)は、本発明のセンサチップの構造を示す分解斜
視図である。
【0027】図1に示すように、ガラス基板20には、
キャビティ部内の固定電極21の周辺部に蒸着、スパッ
タ等により形成した薄膜導体膜24が設けられている。
シリコン基板10には、横穴14、15が設けられ、横
穴14、15を通して薄膜導体膜24が薄膜導体膜引き
出し用導体パターン25、26を経てキャビティ部の外
部に電気的に接続される。
【0028】上記センサチップ30は、リード端子4
4、45、46、47が設けられた台座40上に接着さ
れる。そして、リード端子46、47と薄膜導体膜24
とは薄膜導体膜引き出し用パターン25、26およびリ
ードワイヤ35、36を介して、リード端子44と固定
電極21とは固定電極引き出し用パターン22およびリ
ドワイヤ33を介して、リード端子45と可動電極パッ
ト23とはリードワイヤ34を介して、それぞれ電気的
に接続されている。
【0029】薄膜導体膜24の幅は10μm、厚さは
0.4μm、長さは延長で5mmにした。
【0030】上記センサの使用時には、リード端子4
6、47間に、電源50を用いて、通電することによ
り、20mWの微小電力を投入し、前記薄膜導体膜24
を加熱し、キャビティ部12内が常時室温プラス3℃の
一定温度に保った。従って、周囲の湿度、温度の変化に
よる、可動電極であるダイアフラム部11と固定電極2
1間の誘電率の変化がなく、測定誤差がすくない、キャ
ビティ部12内の結露の発生もない静電容量型圧力セン
サが得られた。
【0031】本実施例において、ヒータとして薄膜導体
膜を用いたが、ヒータとして窒化シリコン膜を用いて
も、また炭化シリコンを用いても、その効果に変わりは
なかった。また、ヒータとして正特性サーミスタを用
い、微小電力の供給に定電圧電源を用いたときは、さら
に良好な結果が得られた。
【0032】
【発明の効果】本発明によれば、測定誤差が無く、信頼
性の高い静電容量型圧力センサが得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の静電容量型圧力センサを示す図。図1
(a)は本発明の静電容量型圧力センサのキャップをは
ずして内部を示す斜視図、図1(b)は、本発明のセン
サチップの構造を示す分解斜視図。
【図2】従来の静電容量型圧力センサを説明する図。図
2(a)はキャップをはずして静電容量型圧力センサの
内部を示す斜視図、図2(b)はA−A[図2(d)]
断面図、図2(c)は、静電容量型圧力センサのセンサ
チップ30部の構造を示す図、図2(d)は静電容量型
圧力センサの外観斜視図。
【符号の説明】 2 (本発明に係わる)ガラス基板 3 (本発明に係わる)センサチップ 10 シリコン基板 11 ダイアフラム部 12 キャビティ部 13 (固定電極引き出し用)横穴 14,15 (薄膜導体膜引き出し用)横穴 20 ガラス基板 21 固定電極 22 (固定電極引き出し用)導体パターン 23 可動電極パット 24 薄膜導体膜 25,26 (薄膜導体膜引き出し用)導体パターン 30 センサチップ 31 (ガラス基板に設けた大気導入用)貫通孔 32 封止材 33,34,35,36 リードワイヤ 40 台座 41 キャップ 42 (被測定流体導入用)貫通孔 43 (台座に設けた大気導入用)貫通孔 44,45 リード端子 46,47 (本発明の)リード端子 50 電源

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 固定電極が形成された絶縁基板と、差圧
    に応じて変形するダイアフラム部が形成されたシリコン
    基板とを有し、前記ダイアフラム部と前記固定電極とが
    ギャップをおいて互いに対抗するように前記絶縁基板と
    前記シリコン基板とが接合されてキャビティ部を形成す
    る圧力センサチップを備え、前記ダイアフラム部の両側
    にある流体の差圧に応じて前記ギャップ長を変化させて
    該ギャップ長の変化による前記ダイアフラム部と前記固
    定電極間の静電容量の変化によって圧力を検出する静電
    容量型圧力センサにおいて、前記絶縁基板上の前記固定
    電極周辺部にヒータを設けたことを特徴とする静電容量
    型圧力センサ。
  2. 【請求項2】 前記ヒータは薄膜の導体膜よりなること
    を特徴とする請求項1記載の静電容量型圧力センサ。
  3. 【請求項3】 前記ヒータは薄膜の窒化シリコン膜より
    なることを特徴とする請求項1または2記載の静電容量
    型圧力センサ。
  4. 【請求項4】 前記ヒータは炭化シリコンよりなること
    を特徴とする請求項1または2記載の静電容量型圧力セ
    ンサ。
  5. 【請求項5】 前記ヒータはサーミスタよりなることを
    特徴とする請求項1または2記載の静電容量型圧力セン
    サ。
  6. 【請求項6】 前記サーミスタは正特性を有することを
    特徴とする請求項5記載の静電容量型圧力センサ。
  7. 【請求項7】 前記ガラス基板上の少なくとも2箇所
    に、前記ヒータと前記センサチップの外部との電気的接
    続をする引き出し用導体パターンを設けたことを特徴と
    する請求項1ないし7のいずれかに記載の静電容量型圧
    力センサ。
  8. 【請求項8】 前記引き出し用導体パターンと電気的に
    接続されたリード端子を設けたことを特徴とする請求項
    1ないし7のいずれかに記載の静電容量型圧力センサ。
JP17644397A 1997-06-16 1997-06-16 静電容量型圧力センサ Pending JPH116780A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2362716A (en) * 2000-01-06 2001-11-28 Rosemount Inc Capacitive pressure sensing with moving dielectric
JPWO2008105144A1 (ja) * 2007-02-28 2010-06-03 株式会社山武 センサ、センサの温度制御方法及び異常回復方法

Cited By (3)

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