JPH11511375A - コンピュータ断層撮影用リング抑圧フィルタ - Google Patents

コンピュータ断層撮影用リング抑圧フィルタ

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JPH11511375A JP9532630A JP53263097A JPH11511375A JP H11511375 A JPH11511375 A JP H11511375A JP 9532630 A JP9532630 A JP 9532630A JP 53263097 A JP53263097 A JP 53263097A JP H11511375 A JPH11511375 A JP H11511375A
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ゴードン,バーナード,エム.
チン―ミン,ライ
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Abstract

(57)【要約】 コンピュータ断層撮影システムに用いられるリング抑圧フィルタ(74)は、高域通過フィルタ(312)、ヒストグラム生成器(318)、および結合器(322)を含む。高域通過フィルタ(312)は、高周波成分を表す各投影データ信号(PDS)に関するエラー信号(ES)を生成する。ヒストグラム生成器(318)は、エラー信号(ES)と投影データ信号(PDS)とを対応させるヒストグラム(HIST)を生成する。結合器(322)は、エラー信号(ES)とヒストグラム(HIST)とを結合し、リングを修正された信号(RCS)を生成する。

Description

【発明の詳細な説明】 コンピュータ断層撮影用リング抑圧フィルタ 関連する特許出願 本発明は、1996年1月17日付で出願された本発明の譲受人に譲渡された 米国特許出願第08/587,468号“STREAK SUPPRESSION FILTER FOR USE IN COMPUTED TOMOGRAPHY SYSTEMS(コンピュータ断層撮影システムに用いるしま抑 圧フィルタ)”、1996年3月13日付で本発明の譲受人に譲渡された米国特 許出願第08/614,623号“MOTION ARTIFACT SUPPRESSION FILTER FOR USE IN COMPUTED TOMOGRAPHY SYSTEMS(コンピュータ断層撮影システムに用いる移 動ファーティファクト抑圧フィルタ)”、および1996年3月13日付で出願 された本発明の譲受人に譲渡された米国特許出願第08/614,660号“SELF -CALIBRATING RING SUPPRESSION FILTER FOR USE IN COMPUTED TOMOGRAPHY SYST EMS(コンピュータ断層撮影システムに用いる自己校正リング抑圧フィルタ)” と関連するために、これらについても参照されたい。 発明の分野 本発明は、一般的には、人の患者のなどのCT画像を生成するための医療技術 において用いられるコンピュータ断層撮影(CT)システムに関する。より詳細 には、本発明は、CT画像内のリングを低減するための改良されたリング抑圧フ ィルタに関する。 発明の背景 第三世代のタイプのCTシステムは、X−線源、およびX−線検出器システム を含み、これからがおのおの環状のディスクの直径的に反対側に固定される。デ ィスクは、橋形サポート内に回転できるように搭載され、走査の際、ディスクは 、回転軸のまわりを連続的に回転し、このとき、X−線が線源からディスクの開 口部内に配置された対象を貫通して検出器システムに至る。 検出器システムは、典型的には、単一の行として円弧状に配列された検出器ア レイを含む。この円は、曲率中心を“焦点スポット(focal spot)”と呼ばれる 点に持ち、X−線源からの放射線は、ここを通過する。X−線源と、検出器アレ イとは、線源と各検出器との間のX−線の経路がディスクの回転軸に垂直な共通 平面(以降、“スライス平面”あるいは“走査平面”と呼ばれる)内にくるよう に配置される。X−線の経路は実質的に点源であるX−線源から出発し、異なる 角度を通って、検出器に到達するために、X−線の経路は扇に類似し、このため に、しばしば、任意の時間における全てのX−線の経路を記述するために“扇形 光線(fan beam)”という用語が用いられる。ある走査のある測定瞬間において 単一の検出器上に当たるX−線は、通常、“光線(ray)”と呼ばれ、各検出器 は、対応する光線の強度を表す出力信号を生成する。各光線は、その経路内の全 ての物質によって部分的に減衰される。各検出器によって生成される出力信号は 、実際には、検出器とX−線源との間に位置する全ての物質の密度(つまり、検 出器の対応する光線路内に位置する物質の密度)を表すとともに、この関数であ る。 X−線検出器によって生成された出力信号は、通常は、CTシステムの信号処 理部によって処理される。この信号処理部は、通常は、データ取得システム(D AS)を含み、これは、X−線検出器によって生成された出力信号をフィルタリ ングすることで、これらの信号対雑音比を改善する。DASによって生成された フィルタリングされた出力信号は、通常は、“生のデータ信号(raw data signa l)”と呼ばれる。信号処理部は、通常、投影フィルタを含む。これは、この生 のデータ信号を対数的に処理することで、セットの投影データ信号を生成するが 、各投影データ信号は、対応する光線路内に位置する物質の密度を表す。ある測 定瞬間における全ての投影データ信号の集合は通常“投影(projection)” あるいは“ビュー(view)”と呼ばれる。単一の走査において、ディスクが回転 するにことに伴い複数の投影が生成されるが、各投影はディスクの異なる角度位 置において生成される。ディスク上の線源と検出器の特定の投影に対応する角度 方位は、“投影角度(projection angle)”と呼ばれる。 周知のアルゴリズム、例えば、Rodon アルゴリズムを用いることで、CT画像 が各投影角度にて収集された全ての投影データ信号から生成される。CT画像は 、走査された対象の走査平面に沿っての二次元“スライス(slice)”の密度を表 す。投影データ信号からCT画像を生成するプロセスは、CT画像は投影データ から再生されるために、通常、“フィルタ後の逆投影(filtered back projecti on)”あるいは“再生(reconstruction)”と呼ばれる。CTシステムの信号処 理部は、通常、投影データ信号から再生されたCT画像を生成するための逆投影 器を含む。 CTシステムと関連する一つの問題は、様々なノイズおよびエラー源が潜在的 に再生されたCT画像へのノイズあるいはファーティファクトとして寄与するこ とである。CTシステムは、従って、典型的には、信号対雑音比を改善し、再生 されたCT画像内に存在するファーティファクトを低減するための様々な信号処 理技術を用いる。 再生されたCT画像内に望ましくないファーティファクトが出現する原因とな る一つの重要な要因は、X−線検出器の一様性と安定性に関係する。ある単一の 検出器の調節が、検出器アレイ内の他の検出器に対してずれている場合は、その 単一の検出器が原因で再生されたCT画像内にファーティファクトが出現する。 このファーティファクトは、再生されたCT画像の“中心(center)”を中心と する円形リングとして、あるいは、一つあるいはそれ以上の円弧として出現する (ここで、再生されたCT画像の“中心”は、ディスクの回転軸の位置に対応す る)。さらに、一つ以上の検出器の調節がずれている場合は、これらが集合的に 働いて、再生されたCT画像内に、一群の同心円状のリングあるいは円弧が出現 する。これらファーティファクトは、典型的には、“リング(rings)”と呼ば れ、“リング除去(deringing)”あるいは“リング抑圧(ring suppressing) ”という用語は、再生されたCT画像内に出現するこれらリングを低減あるいは 除去するための方法および装置との関連で用いられる。 理想的には、X−線検出器は、それらの伝達関数、より簡単には、それらの“ 応答(responses)”が全て等しくなるように構成される。ただし、実際には、 これを達成することは困難である。このため、多くのCTシステムにおいては、 投影フィルタは、“応答校正テーブル(response calibration table)”を含み 、これが投影データ信号を調節するために用いられ、こうして検出器の応答の差 が補償される。この応答校正テーブルは、典型的には、通常、“幻影(phantoms )”と呼ばれる既知の密度の対象を走査することによって生成され、この応答校 正テーブルは定期的に更新される。この応答校正テーブルは、通常は、テーブル が更新された直後は、リングを抑圧するのに有効である。ただし、検出器の応答 は、温度の変動、放射線の損傷、その他の要因により、時間と共にドリフトする 傾向があり、通常は、任意の単一の検出器の応答が他の検出器のある与えられた 公差内に留まることを保証することは困難であり、しばしば、一つあるいは複数 の検出器の応答が応答校正テーブルが更新される前に大きくドリフトし、再生さ れたCT画像内にリングを出現させる。 図1は、人の頭部の再生されたCT画像であり、リングと関連する問題を示す 。当業者においては理解できるように、図1に示すCT画像は画像の解釈を妨げ るリングを含む。 リングを抑圧するための従来の技術による方法は、典型的には、投影データ信 号を高域通過フィルタリングすることによりセットの高周波信号を生成し、次に 、この高周波信号を複数の隣接する投影角度に渡って平均化することで各検出器 に対するオフセットを決定する。各高周波信号は、データ成分上に重なったエラ ー成分を含む(ここで、データ成分は、患者の密度プロフィルの高周波成分を表 し、エラー成分はある検出器の他の検出器に対する応答のオフセットを表す)。 デー タ成分は、どちらかというと投影角度に渡って見た場合ある程度ランダムであり 、エラー成分はどちらかというと一定にとどまる傾向があるために、高周波成分 を平均化した場合、データ成分は相殺され、エラー成分のみが残る傾向がある。 こうして平均化された信号が、次に、投影データ信号を調節するためのオフセッ ト値として用いられ、これによって検出器の応答の偏差(ずれ)が補償される。 このような従来の技術による方法は、幾つかの短所を持つ。第一に、殆どのC Tスキャナにおいて、リングエラーは、投影角度には関係なく、従って、高周波 信号を複数の隣接する投影角度に渡って平均化しても満足できるオフセット値は 生成されない。第二に、走査対象内の高いコントラストを持つ形状は、しばしば 、大きな振幅を持つ高周波信号を生成し、このような大きな振幅の高周波信号が 平均化プロセスに含まれると不正確なオフセット値が生成される原因となる。 従って、CT画像内のリングを低減するための改善された方法および装置に対 する必要性が存在する。 発明の目的 本発明の一つの目的は、従来の技術の上述の問題を大きく低減あるいは克服す ることにある。 本発明のもう一つの目的は、各チャネル内のエラーを、投影の振幅の関数とし て、記述する各チャネルに対するヒストグラム信号を生成するリング抑圧フィル タを提供することにある。 本発明のさらにもう一つの目的は、リングを表す高品質のデータが得られない 局所領域においてさえも、大局的なデータを用いることで、リングを抑圧するこ とができるリング抑圧フィルタを提供することにある。 本発明のさらにもう一つの目的は、現在の走査におけるリングを抑圧するため に、一つあるいは複数の過去の走査からのデータを用いることができるコンピュ ータ断層撮影システムを提供することにある。 発明の要約 これらおよびその他の目的がCTシステムにおいて用いるための改善されたリ ング抑圧フィルタによって達成される。本発明によるシステムは、複数の投影角 度に対する投影を生成するが、各投影は、複数の投影データ信号の一つの測定値 を含む。リング抑圧フィルタは、高域通過フィルタ、ヒストグラム生成器、およ び結合器(減算器)を含む。高域通過フィルタは、複数の投影データ信号の一つ の測定値に対応するエラー信号の測定値を生成するが、各エラー信号の測定値は 、複数の投影の一つのある部分の高周波成分を表す。ヒストグラム生成器は、エ ラー信号の測定値と、一つの投影データ信号の測定値との間の関係を表すヒスト グラム信号を生成する。結合器は、一つの投影データ信号の測定値と、こうして 生成されたヒストグラム信号とを結合することにより、リングを修正された信号 の複数の測定値を生成する。 リング抑圧フィルタは、複数のリングを修正された信号の測定値を生成するが 、各リングを修正された信号は、投影データ信号の一つと対応する。投影データ 信号ではなく、リングを修正された信号を用いることで、CTシステムは、リン グの低減されたCT画像を生成することができる。 当業者においては以下の詳細な説明から本発明のその他の目的および長所が明 きからになると思われる。以下では、複数の実施例について説明されるが、これ らは単に本発明の最良の実施形態を説明するためのものである。理解できるよう に本発明は他の異なる実施形態を持つことも可能であり、後に説明される本発明 の実施例の細部は、本発明から逸脱することなく、様々な点で修正することが可 能である。従って、図面および説明は単に解説を目的とするもので、制約あるい は限定を意図するものではない。本発明の範囲は請求の範囲によって規定される 。 図面の簡単な説明 本発明の特徴および目的は以下の詳細な説明を、付録の図面を参照しながら読 むことによって一層理解できるものである。図面中、同一の参照符号は同一ある いは類似する要素を示す。 図1は、CT画像であり、リングと関連する問題を示し; 図2は、本発明に従って構成された一つの好ましいCTシステムを軸方向に示 す図面であり; 図3は、図2に示すリング抑圧フィルタをより詳細に示すブロック図であり; 図4Aは、本発明に従って構成されたリング抑圧フィルタによって生成される 一例としてのヒストグラム信号を示すグラフであり; 図4B〜4Cは、本発明に従って構成されたリング抑圧フィルタによってヒス トグラム信号を生成するために用いられる中間変数のグラフであり; 図5は、本発明に従って構成されたリング抑圧フィルタによってヒストグラム 信号を生成するために用いられるプロセスを示す流れ図であり; 図6は、図1に示す画像を生成するのに用いたのと同一のデータを用いて本発 明に従って構成されたリング抑圧フィルタを用いるCTシステムによって生成さ れたCT画像の一例を示し; 図7は、本発明に従って構成された以前の走査からのデータを現在の走査にお けるリングを抑圧するために用いるCTシステムを示すブロック図であり; 図8は、本発明に従って構成された一つの好ましいCTシステムの信号処理部 のブロック図であり; 図9A〜9Bは、それぞれ、扇形の光線の投影と、平行な光線の投影の生成を 示し; 図10A〜10Bは、本発明に従って構成されたCTシステムに用いることが できる平行な光線の投影を生成するための一つの方法を示し; 図11A〜11Bは、それぞれ、0度と180度の投影角度に対するX−線源 と検出器との間の空間的な関係を示し; 図12は、0度と180度の投影角度における検出器アレイの間の空間的な関 係を示し; 図13は、本発明に従って構成されたもう一つの好ましいCTシステムの信号 処理部をブロック図にて示す。 図面の詳細な説明 図2は、本発明の原理を組み込む一例としてのCTシステム、すなわち、スキ ャナ40を示す。スキャナ40は、ディスク46に搭載されたX−線源42と、 検出器アセンブリ44を含み、検出器アセンブリは、検出器のアレイから構成さ れる。X−線源42と検出器アセンブリ44は、回転軸48(図2に示す面に対 して垂直に延びる)のまわりを回転し、CT走査の際に、ディスク46の中央開 口部を貫通して延びる対象50のまわりを回転する。対象50は、生きた患者の 一部分、例えば、頭あるいは胴であり得る。X−線源42は、走査平面(回転軸 48に対して垂直)内で、X−線の連続的な扇形の光線52を放出し、これら光 線が対象50を貫通して通過した後に、検出器アセンブリ44によって検出され る。好ましくは、散乱防止プレートのアレイ54が、散乱した光線が検出器によ って検出されることを防止するために、対象50と検出器アセンブリ44との間 に配置される。一つの好ましい実施例においては、検出器の数は、384とされ 、48°の弧をカバーする。ただし、検出器の数および弧の角度はこれとは異な ってもかまわない。ディスク46は、好ましくは、軽量の材料、例えば、アルミ ニウムとされ、軸48のまわりを高速に滑らかに回転するようにされる。ディス ク46は、対象50をディスクの開口部を貫通して配置できるように開放型のフ レーム構造とされる。対象50は、例えば、好ましくは、X−線に対して可能な 限り透明なテーブル56てに支持される。 検出器アセンブリ44によって生成される出力信号は、DAS70(ブロック 図の形式にて示す)に加えられ、DAS70は、この出力信号からセットの生の データ信号を生成する。この生のデータ信号は投影フィルタ72に加えられ、投 影フィルタ72は、セットの投影データ信号を生成する。ディスク46が回転す ることで、多数の投影角度からの投影データ信号が得られる。次に、これら投影 データ信号は、リング抑圧フィルタ74に加えられ、リング抑圧フィルタ74は 、再生されたCT画像内のリングを低減させるために、本発明による方法で、投 影データ信号をフィルタリングする。リング抑圧フィルタ74によって生成され た出力信号は、“リングを修正された投影データ信号(ring corrected project ion data signal)”、あるいは、単に、“リングを修正された信号(ring corr ected signal)”と呼ばれる。この信号は、次に、逆投影器76に加えられ、逆 投影器76は、リングを修正された信号からCT画像を生成する。逆投影器76 は逆投影のためにデータの畳み込を遂行する畳み込みフィルタを含む入力段を持 つ。 スキャナ40は、マルチチャネルデバイスであり、チャネル毎に、データとし て、一つの生のデータ信号、一つの投影データ信号、および一つのリングを修正 された信号を送信する。各チャネルにおいて、これら信号のおのおのが、好まし くは、複数の投影角度の各角度に対して生成される。 後に詳しく説明するように、投影フィルタ72によって生成された投影データ 信号を用いるのではなく、リング抑圧フィルタ74によって生成されたリングを 修正された信号を用いることで、逆投影器76によって生成されるCT画像は、 目立つリングがより少ない、より鮮明となる。 上述のように、再生されたCT画像のリングは、一つの原因としては、ある検 出器の調節が検出器アレイ内の隣接する検出器に対してずれている場合に発生す る。同様に、あるチャネル内の任意の要素が原因で、そのチャネル調節が、スキ ャナ内の他のチャネルに対してずれる場合にもリングが発生する。さらに、リン グは、勿論、単一のチャネルでなく、複数のチャネルの調節が他のチャネルに対 してずれている場合にも発生する。加えて、一つあるいは複数の共通の要素が検 出器アセンブリを構成する複数のサブセットの検出器からの出力を処理するため に用いられる場合、例えば、あるマルチプレクサを用いて、これら一つあるいは 複数の共通の要素を通じて処理された検出器出力が処理される場合、これら共通 の要素の一つの調節が他の要素に対してずれている場合にも、最終的な画像内に 複数のリングが発生する。このように、ここでは“チャネル(channel)”とい う用語は、ある検出器から出発し、その後、説明の様々な要素を通じて処理され るある信号の経路を指すために用いられ、ここでは、必ずしも必須ではないが、 複数のチャネルが一つの共通の信号経路の少なくとも一部分を、例えば、複数の チャネルが一つの共通の要素を共有するものと理解される。上述の事象のいずれ かが存在する場合、チャネルの応答には上述のように偏差(ずれ)が発生し、こ のために、各チャネル内の投影データ信号は、患者のある部分の密度を表すデー タ成分に加えて、この上に重なった“リングエラー(ring error)”と呼ばれる エラー成分を含むこととなる。リング抑止フィルタ74の動作は、リングを修正 された信号がデーダ成分のみを含むように各チャネル内のリングを除去すること にある。こうして、リングを修正された信号から再生されたCT画像は、より少 数のリングを含み、品質が改善される。 図3は、本発明に従って構成されたリング抑圧フィルタ74の一つの実施例を ブロック図にて示す。リング抑圧フィルタ74は、投影フィルタ72によって生 成された投影データ信号を受信し、これから、リングを修正された信号を生成し 、これを逆投影器76に加える。リング抑圧フィルタ74は、低域通過フィルタ 310、高域通過フィルタ312、ヒストグラム生成器318、リミッタ320 、および、減算器(結合器)322を含む。投影データ信号は、低域通過フィル タ310と、減算器322の正の入力端子とに加えられる。低域通過フィルタ3 10は、投影データ信号をフィルタリングすることで、セットの低周波投影信号 を生成し、これが、高域通過フィルタ312と、ヒストグラム生成器318の2 つの入力の一つとに加えられる。高域通過フィルタ312は、低周波投影信号を フィルタリングすることで、セットのエラー信号を生成し、これらエラー信号が ヒ ストグラム生成器318の他の入力に加えられる。ヒストグラム生成器318は 、低周波投影信号とエラー信号からセットのヒストグラム信号を生成する。これ らヒストグラム信号は、リミッタ320に加えられ、リミッタ320は、これか らセットのオフセット信号を生成し、このオフセット信号が、減算器322の負 の入力端子に加えられる。減算器322は、投影データ信号からオフセット信号 を減ずることで、リングを修正された信号を生成する。 単一の走査(つまり、ディスクの一回転)の際に収集される投影データ信号の 測定値は、以下の式(1)によって示されるようにマトリックスPDSに編成さ れる: このPDSマトリックス内の各要素PDS(i、θ) は、i番目のチャネルにおけ るθに等しい投影角度に対する投影データ信号の測定値を表す。式(1)におい て、Nは、スキャナ40内のチャネルの数を表す。上述のように、この好ましい 実施例においては、検出器アレイ44内には、384個の検出器が存在し、この ため、この好ましい実施例においては、スキャナ40内には384個のチャネル が存在し、このため、Nは、384となる。上述のように、チャネルの0からN −1への通し番号は、検出器の配列順に対応し、検出器アセンブリ44の検出器 の一端から他端に番号が与えられたとき、チャネル0は、端の検出器1に対応し 、 チャネル1は、検出器1と検出器3との間に位置する検出器2に対応し、以下同 様となる。Δθは、一連の投影の間のディスク46の回転の量(つまり、一連の 投影の間の投影角度の角度増分)を表す。この好ましい実施例においては、ディ スク46は、各投影間で、1°の八分の一だけ回転し、スキャナ40は、単一の 走査の際に、2880個(つまり、1°当たり8個の投影×360°=2880 個)を生成し、このため、この好ましい実施例においては、Δθは、0.125 °(1°÷8=0.125°)に等しい。PDSマトリックスの行は、単一の投 影角度において収集される投影データ信号の全ての測定値を表す。従って、この 好ましい実施例においては、DPSマトリックスは、2880個の行を含む。D PSマトリックスの列は、単一の走査の際に収集される一つのチャネルを通じて の全ての測定値(投影データ信号の値)を表し、この好ましい実施例においては 、DPSマトリックスは、384個の列を含む。空間的には、PDSマトリック スは、巡回的な性質を持ち、第一の行は、最後の行に続く。つまり、PDS(i、 0)=PDS(i、360)となる。これは、これら2個の値が同一の投影角度にて 取られるためである。ただし、これらの値はこれらが異なる時間において測定さ れるために異なることもある。 低域通過フィルタ310は、低周波投影信号を、好ましくは、投影データ信号 を複数の投影角度に渡って(つまり、PDSマトリックスの複数の行に渡って) 低域通過フィルタリングすることによって生成する。低域通過フィルタ310は 、好ましくは、低周波投影信号の測定値のマトリックスPLFを生成するが、P LFマトリックスの各要素PLF(i、θ)は、i番目のチャネルのθに等しい投 影角度に対する低周波投影信号の測定値を表す。当業者においては理解できるよ うに、リング抑止フィルタ74内に用いられる低域通過フィルタ310は、この 特定の形式に限定されるものではない。例えば、低域通過フィルタ310は、有 限インパルス応答(FIR)フィルタ、無限インパルス応答(IIR)フィルタ 、反復あるいは非反復フィルタ、さらには、例えば、フーリエ変換技術を用いる 周 波数領域フィルタを用いて実現することもできる。一つの実施例においては、低 域通過フィルタ310は、PLFマトリックスの各要素PLF(i、θ)を、これ がPDSマトリックスの要素の加重平均となるように以下の式(2)に従って生 成する: ここで、Mは、好ましくは、50(Δθが0.125度の場合)とされ、重み係 数Ak は、好ましくは、全て1とされる。こうして、この好ましい実施例におい ては、チャネルi、特定の投影角度θに対して、PLF(i、θ)が、投影角度θ と、前の50および次の50の投影角度、すなわち、全体で約12.5度の角度 に対するPDS値から決定される。ただし、勿論、重み係数Akに対して、他の 値(の配分)を用いることも、Mに対して他の値を用いることもできる。式(2 )においては、好ましくは、PDSマトリックスの巡回的な性質が利用され、変 数θはモジュロ360として解釈される(例えば、θ=(360+Δθ)は、θ =Δθとして解釈される)。こうして、0度の投影角度に対して収集されたデー タは、360度に対して収集されたデータに“ラップアラウンド(wraps around )”される。 高域通過フィルタ312は、エラー信号を、好ましくは、低周波投影信号を複 数のチャネルに渡って(つまり、PLFマトリックスの複数の列に渡って)高域 通過フィルタリングすることによって生成する。各エラー信号は、従って、ある 一つのチャネルの投影データ信号が、そのチャネルと隣接するチャネルの投影デ ータ信号とどの程度異なるかの測定値となる。高域通過フィルタ312を実現す るために用いられるフィルタは、各エラー信号が、そのチャネルのリングエラー の良好な測定値を与えるように選択される(これらエラー信号は、そのチャネル のデータ成分の測定値上に重なり、データ成分は患者の密度プロフィルの高周波 成分を表す)。 高域通過フィルタ312は、好ましくは、エラー信号の測定値のマトリックス ESを生成し、マトリックスESの各要素ES(i、θ)は、i番目のチャネルの θに等しい投影角度に対するエラー信号の測定値を表す。一つの好ましい実施例 においては、高域通過フィルタ312は、2パスフィルタとして実現され、式( 3)に従ってマトリックスESの各要素ES(i、θ)を生成する。第一のパスの 結果PHF(i、θ)が、さらに、高域通過フィルタリングされ、第二のパスの結 果がES(i、θ)として得られる。当業者においては理解できるように、フィル タリングのこれら2つのパスは、単一のパスに結合することもでき、あるいは、 他の形式の高域通過フィルタを用いることもできる。例えば、2つより多数のパ スを含むフィルタ、各パス内により少数あるいは多数の隣接する検出器を含むフ ィルタ、あるいは、隣接する検出器の出力に異なる重みを与えるフィルタ、その 他を用いることも考えられる。 PHF(i,θ)=PLF(i,θ)− 1/6[PLF(i-2,θ)+2PLF(i-1,θ)+2PLF(i+1,θ)+PLF(i+2,θ)] (3) ES(i,θ)=PHF(i,θ)− 1/5[PHF(i-2,θ)+PHF(i-1,θ)+PHF(i,θ)+PHF(i+1,θ)+PHF(i+2,θ)] 式(3)から分かるように、各高域通過フィルタリングされた信号PHF(i、 θ)は、そのチャネルに対する低域通過フィルタリングされた信号PLF(i、θ) から、チャネル(i)の両側の次の2個の隣接するチャネル(検出器)の低域通 過フィルタリングされた信号(ここで、この2個の隣接するチャネル(i−1) および(i+1)の低域通過フィルタリングされた信号にはおのおの2の係数が 掛けられる)と、これら2つのチャネル(検出器)の外側に隣接するチャネル( i−2)および(i+2)の低域通過フィルタリングされた信号(ここで、こ の2つの低域通過フィルタリングされた信号にはおのおの係数1が掛けられる) との加重総和を6で割った値を引くことによって得られる。容易に理解できるよ うに、5個の低域通過フィルタリングされた信号のおのおのの値が同一の場合は 、PHF(i、θ)の値は、零となり、差は存在しないことを示す。 ES(i、θ)の値は、各チャネルに対するPHF(i、θ)の値から、PHF(i- 2、θ)、PHF(i-1、θ)、PHF(i、θ)、PHF(i+1、θ)、およびPHF(i+ 2、θ)の値(ここで、これらには等しい重みが与えられる)の総和を5で割った 値を引くことによって決定される。 これらエラー信号と低周波投影信号が、ヒストグラム生成器318に加えられ 、ヒストグラム生成器318は、これからヒストグラム信号を生成する。この好 ましい実施例においては、ヒストグラム生成器318は、量子化/蓄積デバイス 330、2つの低域通過フィルタ332、334、およびディバイダ336を含 む。量子化/蓄積デバイス330は、各チャネルに対して、2つの中間信号HIST1 および HIST2を生成する。HIST1信号は、低域通過フィルタ332に加えられ、 低域通過フィルタ332は、これから、セットの低域通過フィルタリングされた 信号 HISTLF1を生成する。HIST2信号は、低域通過フィルタ334に加えられ、 低域通過フィルタ334は、これから、セットの低域通過フィルタリングされた 信号 HISTLF2を生成する。ディバイダ336は、これらのフィルタリングされた 信号を受信し、各チャネルのこうしてフィルタリングされた信号 HISTLF1をこう してフィルタリングされた信号 HISTLF2によって割ることによってヒストグラム 信号を生成する。 図4A、4B、4Cは、それぞれ、ヒストグラム生成器318によって生成さ れるヒストグラム信号 HIST、中間信号 HIST1、および HIST2の例を示すグラフ である。より具体的には、図4A、図4B、および図4Cは、それぞれ、全て第 一のチャネルに対するヒストグラム信号 HIST(1、j)、中間信号 HIST1(1、j) 、および HIST2(1、j)の例を示すグラフである。このグラフは、第一のチャネ ル に対して生成された信号を示すが、当業者においては理解できるように、他のチ ャネルのおのおのに対して生成される信号も、同様に、これらグラフのように表 すことができる。 図4A〜4Cにおいて、各グラフの横軸は、第一のチャネルの投影振幅(つま り、第一のチャネルの低周波投影信号の振幅)を表すが、これらは、好ましくは 、幾つかのビンに量子化される。変数jは、量子化された投影振幅を表し、変数 jの各値は、投影振幅の量子化間隔、すなわち、レンジを表す。jの最大値は、 任意の投影振幅の期待される最大の値を含むレンジに対応し、jの最小値は、任 意の投影振幅の期待される最小の値を含むレンジに対応し、この2つの間の差に よって動的レンジが定義される。ヒストグラム生成器318は、ヒストグラム信 号を、量子化変数jの関数となるように生成する。図4A〜4Cにおいては、投 影振幅は、100個の間隔に対応する100個のビンに量子化されるように示さ れるが、ただし、他の任意の個数のビンを用いることもできる。図4Aにおいて 、縦軸は、第一のチャネルのリングエラーを表す。こうして、図4Aに示される 信号 HIST(1、j)は第一のチャネルのリングエラーを投影振幅の関数として記述 する。 図5は、量子化/蓄積デバイス330内で、全てのチャネルに対して中間ヒス トグラム信号HIST1、HIST2を生成するために、用いられる一つの好ましいプロセ ス500をブロック図にて示す。以下では、簡単のために、プロセス500は、 第一のチャネルに対する中間ヒストグラム信号 HIST1(1、j)、HIST2(1、j)の 生成との関連で説明されるが、当業者においては理解できるように、他のチャネ ルに対する中間ヒストグラムも類似の方法にて計算される。プロセス500の第 一のステップは、初期化ステップ510であり、ここで、このプロセスにおいて 用いられる変数が0にセットされる。より詳細には、投影角度を表す変数が0度 にセットされ、HIST1(1、j)と HIST2(1、j)の値がjの全ての値に対して0に セットされる。 ステップ510に続いて、比較ステップ、あるいは、閾値ステップ512が実 行される。ステップ512において、エラー信号マトリックスESの要素ES(1 、θ)が、所定の閾値の値THRと比較される。要素ES(1、θ)の絶対値がTH Rの値より小さな場合は、要素ES(1、θ)は、“閾値以下(under-threshold) ”であると呼ばれ、要素ES(1、θ)の絶対値がTHRの値より小さくない場合 は、要素ES(1、θ)は、“閾値以上(over-threshold)”であると呼ばれる。 要素ES(1、θ)が閾値以下である場合は、その後、量子化ステップ514、更 新ステップ516、および増分ステップ518が順次に実行され、プロセス50 0は、要素ES(1、θ)とPLFマトリックスの対応する要素PLF(1、θ)を用 いて、中間ヒストグラム信号を生成する。反対に、要素ES(1、θ)が閾値以上 である場合は、量子化ステップ514および更新ステップ516はスキップされ 、プロセス500は、要素ES(1、θ)と対応する要素PLF(1、θ)を用いるこ となく、中間ヒストグラムを生成する。 閾値ステップ512は、隣接する検出器間で画像データ(例えば、骨と隣接す る柔らかな組織とのエッジ)に起因して生成されるコントラスト(この場合は、 ES(i、θ)の絶対値は閾値以上となる)と、リングアーティフクトに起因する コントラスト(この場合は、ES(i、θ)の絶対値は閾値以となる)とを区別す るために遂行される。ES(i、θ)の絶対値は経験的に決定される。量子化ステ ップ514において、ビン番号jは、好ましくは、要素PLF(1、θ)を以下の 式(4)に示す量子化関数QUANTを用いて量子化することによって計算され る: j=QUANT[PLF(1,θ)] (4) 当業者においては理解できるように、この量子化関数QUANTは、多くの異なる方 法にて実現することができるが、一つの好ましい量子化関数は、以下の式(5) によって与えられる: 式(5)において、maxと、jmaxの値は、定数であり、maxは、低周波投 影信号に対して期待される最大値に等しく、jmaxは、jの最大値に等しい(こ うして、図4A〜4Cに示すようなヒストグラム信号を生成する実施例において はjは100となる)。式(5)において、INTは、周知の整数関数であり、 一般的には、INT(x)は、引数xの整数部分に等しい(例えば、INT(3.6 )は3に等しい)。 量子化ステップ514においてビンの番号を決定した後に、更新ステップ51 6が実行される。更新ステップ516において、HIST1(1、j)および HIST2(1、 j)の値が更新される。HIST1(1、j)の新たな値は HIST1(1、j)の古い値に要素 ES(1、θ)の値を加えた値にセットされ、HIST2(1、j)の新たな値は HIST2( 1、j)の古い値に1を加えた値にセットされる。 更新ステップ516に続いて、増分ステップ518が実行される。増分ステッ プ518において、変数θの現在の値が量Δθだけ増分される。増分ステップ5 18に続いて、テストステップ520が実行される。テストステップ520にお いて、変数θが360度と比較される。θが360より小さな場合は、ステップ 512およびその後のステップが再び実行され、θが360より小さくない場合 は、プロセス500は完了し、1回の走査の全体に対する HIST1(1、j)およびH IST2(1、j)の値の計算が完結する。 図4Bおよび4Cは、それぞれ、プロセス500によって計算される HIST1( 1、j)および HIST2(1、j)を示すグラフである。jの各値に対して、HIST1(1、j )の値は、ES(1、θ)が閾値以下で、かつ、QUANT[PLF(1、θ)]がjに等し いときのθの全ての値に対する要素ES(1、θ)の総和に等しく、HIST2(1、j) の値は、HIST1(1、j)を形成するために加算された要素ES(1、θ)の数に 等しい。中間ヒストグラム信号 HIST1(1、j)およびHIST2(1、j)は、それぞれ 、図3に示す低域通過フィルタ332および334に加えられ、これらフィルタ は、これら中間信号を複数の投影振幅に渡って平滑化する。一つの実施例におい ては、低域通過フィルタ332、334は、それぞれ、フィルタリングされたヒ ストグラム信号 HISTLF1(1、j)、HISTLF2(1、j)を、それぞれ、以下の式(6 )、式(7)に従って生成する: ここでは、フィルタリングの幅Mは、8とされ、重み係数Bkは、全て1とされ る。ただし、重み係数Bkとフィルタリングの幅Mに対して他の値を用いること もでき、さらに、別の実施例として、別の低域通過フィルタリング関数を用いる こともできる。 フィルタリングされたヒストグラム信号 HISTLF1(1、j)、HISTLF2(1、j)は 、次に、図3に示すディバイダ336に加えられる。ディバイダ336は、全て のiおよびjに対して、最終的なヒストグラム信号HIST(i、j)を、以下の式( 8)に従って生成する: jの各値に対して、HIST(i、j)は、閾値以下で、かつ、ビンj内に入る対応す る投影振幅を持つ全ての要素ES(1、θ)の平均となる。各要素ES(1、θ)は、 データ成分上に重なったリングエラーを表し、また、データ成分は、要素ES( 1、θ)が複数の投影角度θに渡って、かつ、jに隣接する複数の振幅ビンに渡っ て平均化されたとき互いに相殺される傾向を持つため、HIST(i、j)はi番目の チャネルの投影振幅の関数としてのリングエラーの測定値となる。 ディバイダ336は、好ましくは、HISTLF2(i、j)が0となったときを検出し 、HIST(i、j)の対応する値を0に設定するようにされ、これによって、0によ る割算を試みることによってエラーあるいはオーバーフロー状態が発生すること が回避される。さらに好ましくは、ディバイダ336は、式(8)の割算を遂行 する前に、HISTLF2(i、j)を1あるいは他の小さな値だけ増分するようにされ、 これによって、HIST(i、j)に対して誤った大きな値が生成されるのが回避され る。 ヒストグラム信号は、データが得られない投影振幅に対応するギャップを含む ことがある。フィルタ332、334によって用いられる式(6)、(7)によ って定義されるフィルタリングの幅Mが比較的小さな場合は、特にこれが顕著と なる。例えば、図4A〜4Cに示す中間ヒストグラム信号HIST1(1、j)およびHI ST2(1、j)は、ビン番号4(つまり、j=4)の所にギャップを含む。このよう なギャップは、ある特定のビンに量子化された要素PLF(i、θ)が存在しない 場合、あるいは、ある特定のビンに量子化された要素PLF(i、θ)の全てが閾 値以上である要素ES(i、θ)に対応する場合に、i番目のチャネルに対する中 間ヒストグラム信号内に発生する。ギャップは、図4B、4Cに示すように、単 一の振幅ビンに相当する狭いものも、複数の振幅ビンに相当する広いものもある 。低域通過フィルタ332、334は、このギャップを満たす傾向がある。例え ば、図4B〜4Cに示すギャップは満たされ、このため、図4Aに示すヒストグ ラム信号 HIST(i、j)にはギャップは存在しない。フィルタ332、334はギ ャップが比較的小さな場合はこれを満たす傾向があるが、ギャップの幅が比較 的大きな場合はこれを完全に満たすことはない。ただし、ヒストグラム信号内の ギャップは、リング抑止フィルタ74の性能の妨害となることはない。これは、 ヒストグラム信号内のギャップは特定の振幅における投影データの不在に対応し 、従って、ギャップは、単に存在しないデータの修正に寄与するためである。 好ましくは、低域通過フィルタ332、334は、投影振幅の両端の付近(例 えば、jが1に等しいビンの付近)においては、フィルタリングされたヒストグ ラム信号の計算に異なる方法を用いる。式(6)、(7)において、パラメータ Mは、フィルタリングされたヒストグラム信号を生成するのに用いる平均化ウイ ンドウのサイズを定義する。好ましくは、投影信号の両端の付近のフィルタリン グされたヒストグラム信号を計算するときには、平均化ウインドウが両端を超え ないように、平均化ウインドウのサイズが(例えば、Mの値を小さくすることに よって)小さくされる。こうして、例えば、HISTLF1(i、3)、HISTLF2(i、3)を 計算するこきは、好ましくは、Mは2にセットされる。ただし、別の方法として 、平均化ウインドウのサイズは一定に維持し、重みBkを調節することで、両端 に来るヒストグラム信号の値を無視することもできる(例えば、式(6)、(7 )において、Bkを、j+kが1より小さな場合、0にセットすることもできる )。 さらに、好ましくは、低域通過フィルタ332、334は、最小の投影振幅( つまり、j=1)に対応するビンを他のビンとは異なる方法にて扱う。一般的に は、このビンは、低域通過フィルタ332、334によって遂行される平均化に は含まない方が好ましい。このために、HISTLF1(i、1)、HISTLF2(i、1)は、全 てのチャネルiに対して、それぞれ、HIST1(i、1)、HIST2(i、1)と等しくなる ようにセットされる。さらに、このビン内の値は、他のビンに対して遂行される 平均化にも含まないことが望ましい。一般的に、リングエラーは、投影振幅が0 に接近すると著しく異なる振る舞いを示し、このため、このビンに対して測定さ れたリングエラーは、他のビンに対して測定されたリングエラーと平均化すべき ではなく、このビンは、異なる方法で扱うことが望ましい。このビンは、X− 線光子の吸収が最小であった光線、つまり、(患者の部分ではなく)空気のみを 通過した光線に対応する。殆どの走査において、検出器アレイの端付近の検出器 に対応するチャネルの投影データ信号は、殆ど常に、最小振幅のビンに量子化さ れ(つまり、患者は、殆どの場合、X−線源と検出器アレイの端付近の検出器と の間には位置せず、このため検出器アレイの端付近の検出器は患者を殆ど“見る (see)”ことはななく)、反対に、検出器アレイの中央付近のチャネルの投影 データ信号は、殆ど決して、最小の振幅ビンに量子化されることはない(つまり 、検出器アレイの中央付近の検出器は殆ど常に患者を“見る(see)”)。この ため、典型的には、あるチャネル内に、最小の振幅ビンに対する多数のエラー信 号の測定値が存在する場合と、それらが全く存在しない場合とがあるが、最小の 振幅ビンに対する多数のエラー信号の測定値を持つチャネルについては、これら 測定値を他のビンからのエラー信号と平均化する必要はなく;単に最小の振幅ビ ン内のの多数のエラー信号の測定値を平均化することで、エラー信号の高品質な 測定値が得られる。最小の振幅ビンに対するエラー信号の測定値を持たないチャ ネルについては、最小の振幅ビンに対するリングエラーを推定する必要はない。 上述のように、従来の技術によるシステムは、リングエラーは、投影データ信 号の高周波フィルタリングされたバージョン(つまり、高周波信号)を複数の隣 接する投影角度に渡って平均化することによって測定される。例えば、従来の技 術によるシステムにおいては、一つのチャネルの22.5度の投影角度に対する リングエラーは、そのチャネルの高周波信号を0から45度の間の全ての投影角 度に対して平均化することによって測定された。このような従来の技術によるシ ステムは、リングエラーの測定値を生成するために、“局所的なデータ(local data)”を用いるために制約がある。このような従来の技術によるシステムとは 対照的に、図3に示すリング抑圧フィルタ74は、リングエラーの測定値を生成 するために、“大域的なデータ(global data)”を用いる。つまり、各投影振 幅に対して、ヒストグラム信号が全ての投影角度からの閾値以下のエラー信号を 平均化することによって生成される。このために、リング抑圧フィルタ74は、 良好なリング修正データを得ることができない画像の部分のリングを、画像の他 の部分からのデータを用いて修正することが可能となる。このことは、従来の技 術によるシステムでは不可能であった。 さらに、従来の技術によるシステムでは、単一のオフセット測定値が、各チャ ネルに対して高周波信号を隣接する投影角度に渡って平均化することによって生 成されるが、これとは対照的に、本発明によるリング抑圧フィルタフィルタ74 では、この平均化プロセスが投影振幅の異なる複数のビンに分離され、こうして 、リングエラーの測定値が各ビンに対して得られる。これは検出器の応答がその 検出器に当たるX−線の強度の関数として変動するために有益である。 図3に示すリミッタ320は、ディバイダ336からヒストグラム信号を受信 し、これからオフセット信号を生成する。リミッタ320は、ヒストグラム信号 の規模が閾値より小さな場合は、オフセット信号を対応するヒストグラム信号と 等しくし、規模が閾値を超える場合は、オフセット信号を閾値に制限する。これ は図2に示すような走査対象50がリング状の構造を含み、このため、これに対 応する検出器および振幅に対して、偽のHIST(i、j)値が生成される場合がある ために有益である。リミッタ320は、好ましくは、ヒストグラム信号をMAX _ERRのオフセット限界に飽和させ、以下の式(9)に従ってオフセット信号 OFFSET(i、J)を生成する: =MAX_ERR, ifHIST(i,j)>MAX_ERR OFFSET(i,j)=−MAX_ERR,ifHIST(i,j)<−MAX_ERR (9) =HIST(i,j), otherwise 当業者においては理解できるように、オフセット信号 OFFSET(i、j)は、HIST( i、j)に類似するヒストグラム信号の形式を持つ。また、用いられるMAX_E RRの実際の値は経験的に決定される。 次に、オフセット信号と投影データ信号は、減算器322に加えられ、減算器 は、投影データ信号から適当なオフセット信号を引くことにより、リングを修正 された信号を生成する。減算器322は、リングを修正された信号のマトリック スRCSを生成するが、個々の要素RCS(i、θ)は、以下の式(10)に従っ て生成される: RCS(i,θ)=PDS(i,θ)−OFFSET(i,QUANT[PDS(i,θ)]) (10) 次に、リングを修正された信号は、逆投影器76に加えられ、逆投影器は、こ れから再生されたCT画像を生成する。各投影データ信号は、データ成分とリン グエラーを含み、オフセット信号はリングエラーの測定値であるために、リング 修正された信号は、データ成分のみを含む。従って、投影データ信号ではなく、 リング修正された信号を用いることで、逆投影器76は、改善された再生CT画 像を生成する。 当業者においては理解できるように、リング抑止フィルタ74は、多数の異な る方法を用いて実現することができる。リング抑止フィルタ74の各要素は、離 散要素を用いて実現することも、あるいは、リング抑止フィルタ74の一つある いは複数の要素を、デジタルコンピュータ、例えば、アレイプロセッサ上に実現 することもできる。例えば、減算器322のある一つの実現においては、メモリ 、例えば、検索テーブル(LUT)が含まれ、このメモリにオフセット信号のテ ーブルが格納される。そして、減算器は、投影データ信号が受信されたときに、 この検索テーブル(LUT)を用いて、リングを修正された信号を生成する。さ らに、リング抑止フィルタ74は、デジタルシステムであり、各信号がサンプリ ングされる(例えば、投影データ信号がマトリックスPDSを形成するためにサ ンプリングされる)ものとして説明されたが、当業者においては理解できるよう に、リング抑止フィルタ74は、別の方法とて、信号をサンプリングするのでは なく、これらを連続した信号として扱うアナログフィルタとして実現することも できる。 図6は、図1に示すCT画像を再生するのに用いたのと同一のデータを用いて 再生されたCT画像を示す。ただし、図6においては、投影データ信号は、最初 に、リング抑止フィルタ74を用いて処理された。この画像の生成においては、 リング抑止フィルタ74は、0.004の閾値THR、および0.002のオフ セット限界MAX_ERRを用いたが、患者の最大投影振幅は、典型的には、5 〜10のレンジであった。図6に示す画像は、図1に示す画像と比較して、目立 つリングは遙かに少なく、鮮明度が大幅に改善されている。 上では、リング抑止フィルタ74は、一回の走査において収集される投影デー タ信号からセットのオフセット信号を生成し、これらオフセット信号を、その同 一走査における投影データ信号を修正するために(つまり、セットのリングを修 正された信号を生成するために)用いるものと説明されたが、リング抑止フィル タ74は、他のモードにて用いることもできる。例えば、一つあるいは複数の前 の走査において生成されたセットのオフセット信号を、現在の走査における投影 データ信号を修正するために用いることの方が望ましい場合がある。このモード では、オフセット信号をCTシステムがアイドルのときに“フオライン”にて生 成することができ、この場合は、リング抑止フィルタ74の速度は、それほど重 要でなくなる。さらに別のモードとして、リング抑止フィルタ74は、オフセッ ト信号を生成するために、一つあるいは複数の前の走査からの投影データ信号を 用いることもできる。これは、ある走査においてオフセット信号を計算するため の良好なデータが不足するような場合(例えば、エラー信号の異常に大きな割合 が閾値以上となるような場合)に、他の走査の結果をこの不足を補うために用い ることができ有益である。さらに、複数の走査の結果を平均化することもできる が、この場合は、遷移現象などに対して強いより正確なオフセット信号を生成す ることが可能となる。 一つの好ましい実施例においては、ヒストグラム生成器318は、前の走査か らの前に生成されたヒストグラム信号の加重平均である信号を生成し、リング抑 止フィルタ74は、オフセット信号を生成するためにこの加重平均を用いる。こ のような実施例においては、図3のヒストグラム生成器318は、ディバイダ3 36と、低域通過フィルタ334の出力の所に、それぞれ、信号 H_AVE1(i、j) と、H_AVE2(i、j)を提供するが、これら2つの信号は、それぞれ、ヒストグラ ム信号 HIST(i、j)と、低域通過フィルタリングされた信号 HISTLF2(i、j)の 加重平均である。最初、信号 H_AVE1(i、j)と、H_AVE2(i、j)は、iとjの全 ての値に対して、0にセットされ、各走査の後に、ヒストグラム生成器318は 、セットの重みWold(i、j)と、Wnew(i、j)を以下のセットの式(11)、( 12)、(13)に従って更新する: SUM(i,j)=H_AVE2(i,j)+HISTLF2(i,j) (13) 重みWold(i、j)と、Wnew(i、j)がいったん計算されると、信号 H_AVE1(i、 j)と、H_AVE2(i、j)が以下の式(14)、(15)に従って更新される: H_AVE1(i,j)=H_AVE1(i,j)*Wold(i,j)+HIST(i,j)*Wnew(i,j)(14) ここで、Tは、一定の閾値を表す。式(14)、(15)は、信号 H_AVE2(i、j) がTより大きくなるのを阻止する。当業者においては理解できるように、これは 、前の走査からの古いヒストグラム信号の信号 H_AVE1(i、j)への寄与を制限す る効果を持つ。ただし、古いヒストグラム信号の信号 H_AVE1(i、j)への寄与を 制限するための他の機能を用いることも可能である。 各走査の後に、信号 HIST(i、j)が、式(8)と同一の以下の式(16)に従 って生成され、その後、H_AVE1(i、j)信号が、その走査の際に生成された信号 を用いて生成される: 当業者においては理解できるように、信号 H_AVE1(i、j)は、過去のヒストグラ ムの加重平均を含む。ヒストグラム生成器318によって、いったん信号H_AVE1 (i、j)が生成されると、次に、オフセット信号が、H_AVE1(i、j)信号をリミッ タ320に加えることによって生成され、次に、リングを修正された信号が式( 10)に従って生成される。 リング抑止フィルタ74が、複数の走査からの過去の投影データ信号を用いて 、リングを修正された信号を生成する場合も、リング抑止フィルタ74は、複数 の動作モードにて用いることができる。一つの動作モードにおいては、リング抑 止フィルタ74は、過去のリングエラー情報を保持し、オフセット信号を、この 過去のエラー情報を用いて生成する。このモードの一例においては、リング抑止 フィルタ74は、H_AVE1(i、j)信号を生成し、この信号を用いてオフセット信 号を生成する。 図7は、リング抑圧フィルタ74に対するもう一つの動作モードを示す。図7 は、本発明に従って構成されたCTシステム700の信号処理部のブロック図で ある。システム700においては、投影フィルタ72は、応答校正テーブル71 0とリングオフセットテーブル712を含む。上述のように、応答校正テーブル は、検出器の応答、より厳密には検出器の伝達関数の変動を補償するために用い られ、通常は、稀にしか更新されず、周知の方法にて“幻像(phantoms)”を走 査することによって生成される。システム700においては、応答校正テーブル 710によって生成された出力信号は、リングオフセットテーブル712に加え られ、リングオフセットテーブル712は、これから投影データ信号を生成し、 投影データ信号はリング抑圧フィルタ74に加えられる。リング抑圧フィルタ7 4は、リングを修正された信号を生成し、リングを修正された信号は逆投影器7 6に加えられる。リング抑圧フィルタ74は、また、リングオフセットテーブル 712をフィードバック経路を介して更新する。リングオフセットテーブル71 2と応答校正テーブル710は、両方とも、メモリ、例えば、検索テーブル(L UT)を含むように実現することも、あるいは、当業者においては理解できるよ うに、リングオフセットテーブル712と応答校正テーブル710は互いに結合 して単一のLUTとして実現することもできる。 最初は、応答校正テーブル710の更新の後に、リングオフセットテーブル7 12は、好ましくは、投影データ信号を、応答校正テーブル710によって生成 された出力信号と等しくなるように生成する。ただし、各走査の後には、リング 抑圧フィルタ74は、リングオフセットテーブル712の内容を更新し、投影デ ータ信号は、前の走査から得られた古いリングエラー情報を用いて生成される。 リングオフセットテーブル712は、リングエラーのセットの推定値を格納する が、各推定値は、対応するチャネルの応答の応答校正テーブル710が最後の更 新された後の校正値からの偏差(ずれ)の測定値を表す。 こうして、システム700においては、投影フィルタ72は、前の走査の際に リング抑圧フィルタ74によって観測された検出器応答のエラーを補償し、リン グ抑圧フィルタ74は、現在の走査に際に観測された検出器応答のエラーを補償 する。システム700を実現する一つの方法においては、リング抑圧フィルタ7 4は、低域通過フィルタリングされたヒストグラム信号 HISTLF1、HISTLF2を投 影フィルタ72に加え、投影フィルタフィルタ72は、これから H_AVE1(i、j) 信号を生成し、これら信号をリングオフセットテーブル712内に格納する。リ ングオフセットテーブル712も、H_AVE1(i、j)信号の値をある閾値、例えば 、MAX_ERRに制限する図3に示すリミッタ320に類似するリミッタを含 む。投影フィルタ72は、次に、投影データ信号を以下の式(17)に従って生 成する: PDS(i,θ)=PDSpre(i,θ)−H_AVE1(i,QUANT[PDS(i,θ)]) (17) ここで、PDSpre(i、θ)は、リングオフセットテーブル712によって修正 される前の投影データ信号の測定値を表す(つまり、PDSpre(i、θ)は応答 校正テーブル710によって生成される測定値を表す)。 こうして、システム700においては、投影フィルタ72によって生成される 投影データ信号は、リング抑圧フィルタ74によって前の走査の際に観測された リングエラーを補償すように修正される(つまり、リングオフセットテーブル7 12は、応答校正テーブル710の最後の更新と、最も最近の走査との間に観測 されたチャネル応答の偏差を補償する)。リング抑圧フィルタ74は、次に、投 影データ信号を、式(10)に従ってリングを修正された信号を生成することで 、現在の走査の際に観測されたリングエラーについて補償する。リング抑圧フィ ルタ74は、リングエラーの新たなセットの推定値も生成するが、これらの各推 定値は、1つのチャネルの応答の現在の走査と最も最近の前の走査との間で発生 した偏差の測定値を表す。投影フィルタ72は、次に、リング抑圧フィルタ74 からのこの新たな推定値を用いて、リングオフセットテーブル712内に格納さ れている推定値を更新する。 複数の走査の際に収集された投影データ信号の過去の情報をリングを修正され た信号を生成するために用いる任意の動作モードにおいては、CTシステムは、 リング抑圧フィルタの入力に接続された信号処理チャネルを形成する検出器アセ ンブリ44を含む複数の要素の伝達関数を自動的に校正するデバイスであるとみ なすこともできる。CTシステムは、勿論、この場合でも、CT画像の生成を行 なうが、ただし、これに加えて、CTシステムは、患者の走査の際に収集された データを用いて、これら検出器アセンブリの校正を維持する。 上では、リング抑圧フィルタ74が、CTシステムと共に、投影フィルタ72 によって供給される投影データ信号からリングを修正された信号を生成するため に用いられるものとしての説明された。ただし、本発明に従って構成されるCT システムは、投影データ信号に、CT画像の再生の前に、他の多くの異なるタイ プのフィルタリングを適用することもできる。図8は、本発明に従って構成され た一つの好ましいCTシステム900の信号処理部をブロック図にて示す。シス テム900は、リング抑圧フィルタ74に加えて、平行光線コンバータ910、 モーション補償(抑止)フィルタ912、しま抑圧(補償)フィルタ914、お よび挿間フィルタ920を含む。平行光線コンバータ910、モーション補償フ ィルタ912、およびしま抑圧フィルタ914に関しては、上述の米国特許出願 第08/587,468号“STREAK SUPPRESSION FILTER FOR USE IN COMPUTED TO MOGRAPHY SYSTEM”および米国特許出願第08/614,623号“MOTION ARTIFA CT SUPPRESSION FILTER FOR USE IN COMPUTED TOMOGRAPHY SYSTEM”において詳 細に説明されているため、これらを参照されたい。これらは、CT画像から、他 のタイプのアーティファクトを抑圧するために用いられる。システム900の一 つの好ましい実施例においては、投影フィルタ72によって生成された投影デー タ信号は、平行光線コンバータ910に加えられ、平行光線コンバータ910は 、これから、セットの平行な光線信号を生成する。この平行な光線信号は、リン グ抑圧フィルタ74に加えられ、リング抑圧フィルタ74はリングを修正された 信号を生成する。このリングを修正された信号は、モーション補償フィルタ91 2に加えられ、モーション補償フィルタ912は、セットのモーションを補償さ れた信号を生成する。このモーションを補償された信号は、次に、しま 抑圧フィルタ914に加えられ、しま抑圧フィルタ914は、これからセットの しまを抑圧された信号を生成する。このしまを抑圧された信号は、次に、挿間フ ィルタ920に加えられ、挿間フィルタ920の出力は、逆投影器76に加えら れ、逆投影器76は、この出力信号から、CT画像を再生する。 システム900の他の幾つかの実施例においては、並列光線コンバータ、リン グ抑圧フィルタ、モーション補償フィルタ、しま抑圧フィルタのどれか1つ、2 つ、あるいは3つが除去される。ただし、システム900の好ましい実施例は、 これら4つのフィルタ910、74、912、914の全てを含む。他の幾つか の実施例においては、リング抑圧フィルタ74は、図7との関連で上で説明した ように、フィードバック経路を介して、投影フィルタ72に結合される。さらに 別の幾つかの実施例においては、リング抑圧フィルタ74および/あるいはしま 抑圧フィルタ914は、平行光線コンバータ910と逆投影器76との間ではな く、投影フィルタ72と平行光線コンバータ910との間に結合される。 平行光線コンバータ910は、リオーダコンバータ916とインターリーブコ ンバータ918を含む。リオーダコンバータ916は、投影フィルタ72から投 影データ信号を受信し、これからセットのリオーダされた(再編成された)信号 を生成する。こうしてリオーダされた信号は、インターリーブコンバータ918 に加えられ、インターリーブコンバータ918は、これから並列な光線信号を生 成する。投影フィルタ72によって生成された投影は、全ての投影が図2に示す ような扇形の光線52を用いて生成されるために、“扇形の光線(fan beam)” である。平行光線コンバータ910は、これら扇形の投影を再編成して、平行な 光線の投影を形成する。 図9Aは、患者50の断面の単一の投影ビューの一部分を形成するセットの光 線1010を示す。各光線は、X−線源42から放射されるが、これは、本質的 にて点源であるために、光線1010のどれも平行ではなく、こうして得られた 投影は、扇形光線の投影となり、PDSマトリックスの各行は、単一の扇形光線 の投影に対応する。リオーダコンバータ916は、この扇形の投影データ信号を 再編成するが、こうして、再編成された投影は、セットの平行な光線、例えば、 図9Bに示す光線1020から形成される。 図10A〜10Bは、リオーダコンバータ916によって再編成された投影を 生成するために用いるための一つの好ましい方法を示す。図10A〜10は、2 つの連続する投影ビューを生成する際のX−線源42と検出器アレイ44の位置を示 す。ある一つの走査の際に、X−線源42と検出器アレイ44は、円1120の 中心1110のまわりを反時計まわりに回転する。図10Aに示す第一の投影の 際は、光線1130は、検出器44:4(つまり、アレイ44の第四のチャネル の部分を形成する検出器)に当たる。そして、図10Bに示す次の投影の際は、 光線1132は、検出器44:3(つまり、アレイ44の第三のチャネルの部分 を形成する検出器)に当たる。この好ましい実施例においては、検出器間の間隔 は、一連の投影を生成する間の回転の量と一致し、光線1130は、光線113 2と平行であるが、少しオフセットする。この好ましい実施例においては、この 基本的な関係は、全ての検出器に対して適用する。こうして、一連の投影の際に 隣接する検出器に当たる任意の2つの光線は、平行で、互いに少しオフセットす る。上述のように、この好ましい実施例においては、Δθは、0.125度とさ れ、このため、この好ましい実施例においては、アレイ44内の各検出器は、隣 接する検出器と、0.125度だけ離れる。リオーダコンバータ916は、この 基本的な関係を用いてデータを再編成し、再編成された投影を生成する。 リオーダコンバータ916は、好ましくは、PDSマトリックスを再編成する ことで、REマトリックスの各行が平行な光線によって形成される投影と等価と なるようなリオーダされた信号のマトリックスREを形成する。リオーダコンバ ータ916は、好ましくは、REマトリックスを、REマトリックスの各要素R E(i、θ)が、以下の式(18)に従って選択されるように生成する: RE(i,θ)=PDS(i,[i-k][Δθ]+θ) (18) ここで、k番目のチャネルは、検出器アレイの幾何中心に最も近いチャネルを表 し、REマトリックスの各要素RE(i、θ)は、i番目のチャネルの平行な光線 の投影角度θに対するリオーダされた信号の測定値を表す。 リオーダコンバータ916は、さらに、各チャネルに対して、隣接する投影角 度の投影を平均化するための低域通過フィルタを含む。平均化された、すなわち デシメートされた平行な光線のマトリックスRE(i、θ)は、より大きな角度間 隔Δθだけ離された、より少数の行を含む。このようにREマトリックスをデシ メートすることは、これによってその後の動作に対する計算が低減されるために 有益である。 (図8に示す)インターリーブコンバータ918は、こうしてリオーダされた 信号を受信し、これから平行な光線の信号を生成する。インターリーブコンバー タ918は、好ましくは、180度の間隔だけ離れたペアの平行な光線の投影を 結合し、より高密度の投影を形成する。図11Aと図11Bは、X−線源42、 患者の断面50、および検出器アレイ44の間の関係を、それぞれ、0度と18 0度の投影角度に対して示す。図11A〜11Bにおいては、検出器アレイ44 は7個の検出器を含み、第四のチャネルの部分を形成する検出器44:4がアレ イ44の中央の検出器であるように示される。上述のように、この好ましい実施 例においては、実際には、検出器アレイ44は、384個の検出器を含むが、以 下では、説明を簡単にするために、7個の検出器を含む実施例について説明する 。この好ましい実施例においては、検出器アレイ44は、ディスク46の中央1 210から少しオフセットされ、X−線源42の焦点とディスクの中央1210 とを交差する線1234は、中央の検出器44:4の中央を交差しない。このよ うな検出器システムの構成が1994年2月3日付けで出願され(弁理士ドケッ ト番号ANA-044)、本発明の譲受人に譲渡された米国特許出願第08/191,42 8 号“X-RAY TOMOGRAPHY SYSTEM FOR AND METHOD OF IMPROVING THE QUALITY OF A SCANNED IMAGE”において開示されているために、これを参照されたい。 図12は、0度および180度の投影角度における、検出器アレイ44と3つ の検出器に当たる光線1310、1312、1314との間の空間的な関係を示 す。検出器アレイ44とディスク46の中央1210との間のオフセットのため に、0度の投影角度における検出器アレイ44は、180度における検出器アレ イ44から少しオフセットする。このため、180度の投影角度において6番目 のチャネルの検出器44:6に当たる光線1310は、それぞれ、0度の投影角 度において検出器44:2と44:3に当たる光線1312と1314の間に来 る。この例では、検出器44:6は、“中央(central)”検出器であると呼ば れ、検出器44:2および44:3は、“反対の隣接する(opposite-adjacent )”検出器であると呼ばれる。各投影角度において、各検出器は、患者の一部分 の密度を測定するが、一般的には、反対の隣接する検出器によって測定される部 分は、任意の他の検出器によって測定される部分より、中央検出器によって測定 される部分に近い(例えば、0度の投影角度において検出器44:2、44:3 によって測定される部分は、180度の投影角度において検出器44:5、44 :7によって測定される部分より、180度の投影角度において検出器44:6 によって測定される部分に近い)。180度だけ離れた任意の投影が中央検出器 と反対の隣接する検出器との間のこの関係を用いてインターリーブされ、これに よって単一のより高密度の投影が形成される。例えば、図12に示される構成で は、一つのこのようなインターリーブされた投影は、量[RE(1、0)、RE(7、18 0)、RE(2、0)、RE(6、180)、RE(3、0)、RE(5、180)、RE(4、0)、RE(4、18 0)、RE(5、0)、RE(3、180)、RE(6、0)、RE(2、180)、RE(7、0)、RE(1、18 0)]から構成され、ここで、RE(i、θ)は、i番目のチャネルの検出器によっ て、投影角度θに対して、生成されるリオーダされた信号を表す。インターリー ブコンバータ918は、リオーダされた信号をこのようにインターリーブするこ とで、 より高密度の投影を形成する。 インターリーブコンバータ918は、好ましくは、平行な光線の信号の測定値 のマトリックスPARを生成するが、ここで、PARマトリックスの各要素PA R(i、θ)は、i番目のチャネルのθに等しい平行な光線の投影角度に対する測 定値を表す。PARマトリックスの構造は、以下の式(19)によって表される : 式(19)に示されるように、PARマトリックスは、PDSマトリックスの二 倍の列と、半分の行を持つ。このため、PARマトリックスの各行は、PDSマ トリックスの行の二倍のデータを含む平行な光線の投影を表す。このため、各平 行な光線の投影は、扇形の光線の投影のチャネルの二倍の数のチャネルからの画 像データを持つ。PARマトリックスは、DPSマトリックスとは少し異なる巡 回的な特性を持ち、ここでは、最後の行は、逆の順番にて最初に行に続き、 PAR(0、180)=PAR(2n-1、0);PAR(1、180)=PAR(2n-2、0)、 となる。この好ましい実施例においては、インターリーブコンバータ918は、 PARマトリックスの要素を以下の式(20)に従って生成する: PAR(2i,θ)=RE(i,θ) PAR(2i+1,θ)=RE(N-1-i,θ+180) (20) for0≦i<N 周知のように、扇形の光線のデータを平行な光線のデータに変換するための平 行光線コンバータ、例えば、図8のコンバータ910は、通常は、挿間フィルタ 、例えば、(図8の)フィルタ920を含む。ただし、挿間フィルタは、通常は 、インターリーブコンバータ918の直後に配置される。検出器は、通常は、隣 接する検出器間のX−線源に対する角度オフセットが全ての検出器に対して同一 となるような間隔に配置されるが、これら検出器は線形的な意味では等距離の配 置ではない。従って、PARマトリックスの各行(つまり、各平行な光線の投影 )は等間隔ではないデータ点を含み、むしろ、各投影の中央付近、つまり、等角 点を通る中央光線付近の要素は各投影の両端付近の要素より広い間隔を持つ。挿 間フィルタはデータを挿間することで、各投影の全ての要素が等間隔のとなるよ うな平行光線データの新たなマトリックスを生成する。この好ましい実施例にお いては、挿間フィルタ920は、データを挿間することで等間隔の要素を含む投 影を生成するために周知の技術を用いる。好ましくは、挿間フィルタ920は、 インターリーブコンバータ918の直後に配置するのではなく、図8に示すよう に、しま補償フィルタ914の後に配置される。ただし、本発明は、従来の方法 において通常行なわれるように、挿間フィルタ920をインターリーブコンバー タ918の直後に配置しても問題なく機能する。 さらに、周知のように、扇形の光線のデータを、平行な光線のデータに変換し た場合、通常は、少しの回転が導入され、このため、0度の平行な光線の投影角 度は、0度の扇形の光線の投影角度とは完全には一致しなくなり、修正しない場 合は、この回転のために、水平から少し回転した再生画像が生成される。この回 転は、一般的には、式(8)において用いられる中央の検出器“k”が光源から 等角点を経て中央の検出器k’へと通る線の中央に完全にはこないために導入さ れる。ただし、回転の量は、一般的には、Δθ/2より小さく、挿間フィルタ9 20あるいは逆投影器76によって周知の技術を用いて修正することも、あるい は、単に無視することもできる。 こうして、図8に示す好ましい実施例においては、リング抑圧フィルタ74は 、平行光線コンバータ910によって生成される平行な光線のデータに関して動 作する。ただし、このデータには、モーションによるアーティファクトが存在す る可能性があり、リング抑圧フィルタ74は、実際には、インターリーブされて ない信号の関数として(つまり、リオーダコンバータ916によって生成される リオーダされた信号を用いて)平行な光線のヒストグラムおよびオフセット信号 を生成する方が好ましい場合がある。図13は本発明に従って構成されたもう一 つの好ましいCTシステム1300の信号処理部をブロック図にて示す。システ ム1300は、(図8に示す)システム900と類似するが、システム1300 では、リング抑圧フィルタ74が、インターリーブコンバータ918とモーショ ン抑圧フィルタ912との間ではなく、リオーダコンバータ916とインターリ ーブコンバータ918との間に結合される点が異なる。この実施例においてもリ ング抑圧フィルタ74は、実質的に上述と同様に動作する。ただし、この実施例 では、リング抑圧フィルタ74は投影フィルタ72によって生成された投影デー タ信号ではなく、リオーダフィルタ916によって生成されたリオーダされた信 号に関して動作する点が異なる。 上述の装置に対して幾らかの変更を本発明の範囲から逸脱することなく加える ことが可能ある。このため上述の説明あるいは付録の図面に含まれる全ての事項 は解説を意図し、制限を意図するものではないと解釈されるべきである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.患者のコンピュータ断層画像を生成するためのコンピュータ断層撮影シス テムであって、このシステムが、(a)X−線源、および(b)対応する伝達関 数を持つ複数の信号処理チャネルを形成(定義)するチャネル形成(定義)手段 を含み、この複数の信号処理チャネルが、前記X−線源から放出されるX−線を 検出するための検出器アレイの対応する複数の検出器を含み、これら複数の検出 器が、断層走査の複数の各投影角度において対応する検出器によって検出される X−線の関数として、複数の画像データ信号を生成し、これら複数の画像データ 信号が、患者の断層画像を表し、このシステムがさらに: 患者の一つの完全な走査の際に生成される画像データ信号に応答してエラー修 正データを生成する手段;および 前記チャネルの伝達関数を、前記画像データ信号から生成されるコンピュータ 断層画像内のリングファーティファクトを最小に押さえるために、前記エラー修 正データの関数として自動的に校正するための手段を含むことを特徴とするコン ピュータ断層撮影システム。 2.患者のコンピュータ断層画像を生成するためのコンピュータ断層撮影シス テムであって、このシステムが、(a)X−線源、および(b)対応する伝達関 数を持つ複数の信号処理チャネルを形成するチャネル形成手段を含み、この複数 の信号処理チャネルが、前記X−線源から放出されるX−線を検出するための検 出器アレイの対応する複数の検出器を含み、これら複数の検出器が、断層走査の 複数の各投影角度において対応する検出器によって検出されるX−線の関数とし て、複数の画像データ信号を生成し、これら複数の画像データ信号が、患者の断 層画像を表し、このシステムがさらに: 前記チャネルの伝達関数を、前記画像データ信号から生成されるコンピュータ 断層画像内のリングファーティファクトを最小に押さえるために、患者の走査の 際に生成される画像データ信号から得られるエラー修正データの関数として、自 動的に校正する手段を含み、 前記チャネルの伝達関数を自動的に校正する手段が、前記エラー修正データを 、各チャネルを通じて処理される各画像データ信号から、そのチャネルを通じて 処理されるデータ信号の振幅の関数として、決定するための手段を含むことを特 徴とする請求の範囲1に記載のコンピュータ断層撮影システム。 3.前記エラー修正データを各チャネルを通じて処理される各画像データ信号 からそのチャネルを通じて処理されるデータ信号の振幅の関数として決定する手 段が、前記各チャネルの前記各投影角度における伝達関数の推定エラーを表す推 定信号を生成するための手段、前記各推定信号の振幅の値を所定の閾値の値と比 較するための手段、および前記推定信号の値が閾値以下である場合に限って、前 記各推定信号に対して、エラー修正データを生成するための手段を含むことを特 徴とする請求の範囲2に記載のコンピュータ断層撮影システム。 4.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正する手段が、エラー修正データを 、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、対応する検出器に よって提供され、そのチャネルを通じて処理されたデータ信号の振幅と、前記対 応する検出器に隣接する前記検出器アレイの検出器と関連するチャネルを通じて 処理されたデータ信号の振幅との関数として決定するための手段を含むことを特 徴とする請求の範囲1に記載のコンピュータ断層撮影システム。 5.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正する手段が、エラー修正データを 、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、対応する検出器に よって提供され、そのチャネルを通じて処理されたデータ信号の振幅と、前記対 応する検出器に隣接する前記検出器アレイの検出器と関連するチャネルを通じて 処理されたデータ信号の振幅の関数として、前記投影角度の選択された一つに対 して、決定するための手段を含むことを特徴とする請求の範囲1に記載のコンピ ュータ断層撮影システム。 6.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正する手段が、エラー修正データを 、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、対応する検出器に よって提供され、そのチャネルを通じて処理されたデータ信号の振幅の関数とし て、所定の数の各投影角度に対して、決定するための手段を含むことを特徴とす る請求の範囲1に記載のコンピュータ断層撮影システム。 7.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正する手段が、エラー修正データを 、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、(a)前記各投影 角度において対応する検出器によって提供され、そのチャネルを通じて処理され るデータ信号の振幅と、(b)所定の選択された数の隣接する投影角度における その検出器のデータ信号の振幅の関数として決定するための手段を含むことを特 徴とする請求の範囲1に記載のコンピュータ断層撮影システム。 8.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正する手段が、エラー修正データを 、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、対応する検出器に よって提供され、そのチャネルを通じて処理されたデータ信号の振幅と、前記対 応する検出器に隣接する前記検出器アレイの検出器と関連するチャネルを通じて 処理されたデータ信号の振幅との関数として決定するための手段を含むことを特 徴とする請求の範囲7に記載のコンピュータ断層撮影システム。 9.対象を走査するためのコンピュータ断層撮影システムであって、このシス テムが: (a)複数の信号処理手段を含み、これら信号処理手段が、複数の各投影デー タ信号を生成するための対応する複数の検出器を含み、各信号処理手段が、複数 の伝達関数の対応する一つによって特性化され、各投影データが、データ成分と エラー成分を含み、エラー成分は、信号処理手段の伝達関数間の相対的な差を表 し、データ成分は対象の部分の密度を表し;このシステムがさらに (b)フィルタを含み、このフィルタがエラー成分の推定値を生成するための 手段を含み、これら各推定値が、投影データ信号の対応する一つの振幅の関数と して生成されることを特徴とするコンピュータ断層撮影システム。 10.対象のコンピュータ断層画像を生成するコンピュータ断層撮影システム であって、このシステムが、複数の投影を生成するための手段を含み、各投影が 対応する投影角度にて生成され、各投影が、複数の各投影データ信号の測定値を 含み、投影データ信号の各測定値が、対象の部分の密度を表し、このシステムが さらに、断層画像内のリングファーティファクトを抑圧するためのリング抑圧フ ィルタを含み、このフィルタが: (A)複数の測定エラー信号を、投影データ信号の対応する測定値の関数とし て、各投影に対して、生成するための高域通過フィルタ手段を含み、各測定エラ ー信号が、投影の一つの少なくとも一部分と関連する高周波成分を表し;このシ ステムがさらに (B)投影データ信号の各測定値をある閾値と比較し、閾値より小さな投影デ ータ信号の各測定値を、閾値以下として指定する閾値手段;および (C)閾値以下の測定値を持つ投影データ信号に対応する測定エラー信号の全 ての測定値を平均化するためのヒストグラム手段を含むことを特徴とするコンピ ュータ断層撮影システム。 11.対象の画像を生成するコンピュータ断層撮影システム内で用いるための リング抑圧フィルタであって、このシステムが、複数の投影(データ信号)を生 成するための手段を含み、各投影が、対応する投影角度にて生成され、各投影が 、複数の各投影データ信号の一つの測定値を含み、投影データ信号の各測定値が 、対象の部分の密度を表し、このリング抑圧フィルタが: (A)複数のエラー信号の測定値を生成するための高域通過フィルタ手段を含 み、このエラー信号の各測定値が、投影の一つの一部分と関連する高周波成分を 表し;このシステムがさらに (B)投影データ信号の一つの測定値と、エラー信号の測定値とに応答して、 ヒストグラム信号を生成するヒストグラム手段を含み、このヒストグラム信号が 、 エラー信号の選択された測定値と、各対応する投影データ信号との間の関係を表 し;このシステムがさらに: (C)対応する投影データ信号の測定値と、ヒストグラム信号とに応答して、 これから、リングを修正された信号の複数の測定値を生成するための結合手段を 含むことを特徴とするコンピュータ断層撮影システム。 12.前記ヒストグラム手段が、一つの投影データ信号の各測定値とそのエラ ー信号の対応する測定値とに同一のビン番号が割り当てられるように、複数のビ ン番号の一つを、一つの投影データ信号の各測定値とそのエラー信号とに割り当 てるための量子化手段を含むことを特徴とする請求の範囲11に記載のリング抑 圧フィルタ。 13.前記量子化手段が、同一の振幅を持つ一つの投影データ信号の測定値に 、同一のビン番号を割り当てることを特徴とする請求の範囲12に記載のリング 抑圧フィルタ。 14.前記ヒストグラム手段が、ヒストグラム信号を、ヒストグラム信号が、 ビン番号の各値を持つように、生成することを特徴とする請求の範囲13に記載 のリング抑圧フィルタ。 15.前記ヒストグラム手段が、1つのビン番号に割り当てられたエラー信号 の全ての測定値を平均化することで、その1つのビン番号に対するヒストグラム 信号の値を生成することを特徴とする請求の範囲14に記載のリング抑圧フィル タ。 16.前記ヒストグラム手段が、1つのビン番号に割り当てられ、かつ、ある 閾値より小さな規模を持つエラー信号の全ての測定値を平均化することで、その 1つのビン番号に対するヒストグラム信号の値を生成することを特徴とする請求 の範囲14に記載のリング抑圧フィルタ。 17.前記ヒストグラム手段が、エラー信号の各測定値をある閾値と比較する ための手段、および、閾値より小さな規模を持つエラー信号の各測定値を閾値以 下の測定値として指定するための手段を含むことを特徴とする請求の範囲14に 記載のリング抑圧フィルタ。 18.前記ヒストグラム手段が、1つのビン番号に割り当てられた全ての閾値 以下の測定値を平均化することで、その1つのビン番号に対するヒストグラム信 号の値を生成することを特徴とする請求の範囲17に記載のリング抑圧フィルタ 。 19.前記結合手段が、リングを修正された信号の各測定値を、どのビン番号 が一つの投影データ信号の一つの測定値に割り当てられているかを決定し、次に 、その一つの投影データ信号のその1つの測定値からそのビン番号に対するヒス トグラム信号の値を減ずることによって生成することを特徴とする請求の範囲1 8に記載のリング抑圧フィルタ。 20.前記ヒストグラム手段が、第一の中間信号と第二の中間信号を生成する ための手段を含み、前記第一の中間信号が、各ビン番号に対して、そのビン番号 に割り当てられたエラー信号の全ての閾値以下の測定値の総和と実質的に等しい 値を持ち、前記第二の中間信号が、各ビン番号に対して、実質的にそのビン番号 に割り当てられたエラー信号の全ての閾値以下の測定値の総数に等しい値を持つ ことを特徴とする請求の範囲17に記載のリング抑圧フィルタ。 21.前記ヒストグラム手段が、前記第一の中間信号を受信し、これを低域通 過フィルタリングすることで、これから第一のフィルタリングされた信号を生成 するための第一の低域通過フィルタ手段、および前記第二の中間信号を受信し、 これを低域通過フィルタリングすることで、これから第二のフィルタリングされ た信号を生成するための第二の低域通過フィルタ手段を含むことを特徴とする請 求の範囲17に記載のリング抑圧フィルタ。 22.前記ヒストグラム手段が、前記第一の中間信号を前記第二の中間信号に て割ることで、これからヒストグラム信号を生成するためのディバイダ手段を含 むことを特徴とする請求の範囲21に記載のリング抑圧フィルタ。 23.さらに、ヒストグラム信号を受信し、これからオフセット信号を生成す るためのオフセット手段を含み、このオフセット信号が、ヒストグラム信号の以 下の規模を持つことを特徴とする請求の範囲22に記載のリング抑圧フィルタ。 24.さらに、各投影を低域通過フィルタリングし、低域通過フィルタリング された投影を高域通過フィルタ手段に加える低域通過フィルタ手段を含むことを 特徴とする請求の範囲11に記載のリング抑圧フィルタ。 25.前記各投影が扇形の光線の投影であることを特徴とする請求の範囲11 に記載のリング抑圧フィルタ。 26.前記各投影が平行な光線の投影であることを特徴とする請求の範囲11 に記載のリング抑圧フィルタ。 27.前記ヒストグラム手段が、投影データ信号の測定値および2回あるいは それ以上の走査の際に生成されたエラー信号に応答することを特徴とする請求の 範囲11に記載のリング抑圧フィルタ。 28.走査対象の断層画像を生成するためのコンピュータ断層撮影システムで あって、このシステムが、X−線源と、対応する複数の伝達関数にて特性化され る複数の信号処理チャネルを形成するチャネル形成手段を含み、前記複数の信号 処理チャネルが、前記X−線源から放出されるX−線を検出するための検出器ア レイの対応する複数の検出器を含む手段を含み、これら複数の検出器が、複数の データ信号を、対応する検出器によって、断層走査の複数の各投影角度に対して 、対応する信号処理チャネルを通じて、検出されるX−線の関数として生成し、 このシステムがさらに: 前記チャネルの伝達関数を、患者の少なくとも一回の前の走査の際に生成され たデータ信号から得られたエラー修正データの関数として、自動的に校正するた めの手段を含み、これによって前記データ信号から生成される断層画像内のリン グファーティファクトが最小に押えられることを特徴とするコンピュータ断層撮 影システム。 29.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正するための手段が、前記エラー 修正データを、患者の少なくとも一回の前の走査の際に生成されたデータ信号と 、患者の現在の走査の際に生成されたデータ信号の両方から、決定するための手 段を含み、これによって、前記データ信号から生成される断層画像内のリングフ ァーティファクトが最小に押さえられることを特徴とする請求の範囲28に記載 のコンピュータ断層撮影システム。 30.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正するための手段が、前記エラー 修正データを、一人あるいは複数の患者の複数の前の走査の際に生成されたデー タ信号から、決定するための手段を含み、これによって、前記データ信号から生 成される断層画像内のリングファーティファクトが最小に押さえられることを特 徴とする請求の範囲28に記載のコンピュータ断層撮影システム。 31.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正するための手段が、前記エラー 修正データを、各チャネルを通じて処理された各画像データ信号から、そのチャ ネルを通じて処理されたデータ信号の振幅の関数として、決定するための手段を 含むことを特徴とする請求の範囲28に記載のコンピュータ断層撮影システム。 32.前記エラー修正データを各チャネルを通じて処理された各画像データ信 号からそのチャネルを通じて処理されたデータ信号の振幅の関数として決定する ための手段が、各チャネルの各投影角度における伝達関数の推定エラーを表す推 定信号を生成するための手段、各推定信号の振幅の値を所定の閾値の値と比較す るための手段、および各推定信号に対して、推定信号の値が閾値以下である場合 に限って、エラー修正データを生成するための手段を含むことを特徴とする請求 の範囲28に記載のコンピュータ断層撮影システム。 33.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正するための手段が、エラー修正 データを、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、対応する 検出器によって提供され、そのチャネルを通じて処理されたデータ信号の振幅と 、前記対応する検出器に隣接する前記検出器アレイの検出器と関連するチャネル を通じて処理されたデータ信号の振幅との関数として、決定するための手段を含 む ことを特徴とする請求の範囲28に記載のコンピュータ断層撮影システム。 34.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正するための手段が、エラー修正 データを、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、対応する 検出器によって提供され、そのチャネルを通じて処理されたデータ信号の振幅と 、前記対応する検出器に隣接する検出器アレイの検出器と関連するチャネルを通 じて処理されたデータ信号の振幅との関数として、前記投影角度の選択された一 つに対して、決定するための手段を含むことを特徴とする請求の範囲28に記載 のコンピュータ断層撮影システム。 35.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正するための手段が、エラー修正 データを、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、対応する 検出器によって提供され、そのチャネルを通じて処理されたデータ信号の振幅の 関数として、所定の個数の投影角度に対して、決定するための手段を含むことを 特徴とする請求の範囲28に記載のコンピュータ断層撮影システム。 36.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正するための手段が、エラー修正 データを、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、(a)前 記各投影角度に対して、対応する検出器によって提供され、そのチャネルを通じ て処理されたデータ信号の振幅と、(b)所定の数の隣接する投影角度における その検出器のデータ信号の振幅との関数として決定するための手段を含むことを 特徴とする請求の範囲28に記載のコンピュータ断層撮影システム。 37.前記チャネルの伝達関数を自動的に校正するための手段が、エラー修正 データを、各チャネルを通じて処理された前記各画像データ信号から、対応する 検出器によって提供され、そのチャネルを通じて処理されたデータ信号の振幅と 、対応する検出器に隣接する前記検出器アレイの検出器と関連するチャネルを通 じて処理されたデータ信号の振幅との関数として、決定するための手段を含むこ とを特徴とする請求の範囲37に記載のコンピュータ断層撮影システム。 38.複数の投影角度を通じて対象を走査するためのコンピュータ断層撮影シ ステムであって、このシステムが複数の信号処理手段を含み、これら各信号処理 手段が検出器アレイの複数の検出器を含み、前記各処理手段が複数の投影データ 信号の対応する一つを生成し、前記各処理手段が複数の信号伝達関数の対応する 一つによって特性化され、前記各投影データ信号がデータ成分とエラー成分を含 み、エラー成分は、前記処理手段の信号伝達関数間の相対的な差を表し、前記複 数の処理手段が、各走査に対して、おのおのの投影データ信号を生成し、これら データ成分が、走査される対象の部分の密度を表わし、このシステムがさらに: (A)少なくとも一回の前の走査において、前記各検出器によって、前記各投 影角度に対して収集されたエラー成分の前のセットの推定値を格納するための手 段を含み、この格納手段が、現在の走査からのエラー成分の新たなセットの推定 値を受信して、前のセットの推定値と新たなセットの推定値の関数として、更新 されたセットの推定値を生成するための手段を含み、このシステムがさらに (B)投影データ信号を受信し、これから、エラー成分の新たなセットの推定 値を生成し、この新たなセットの推定値を、前記格納手段に供給するリング抑圧 フィルタ手段を含むことを特徴とするコンピュータ断層撮影システム。 39.対象を走査するためのコンピュータ断層撮影システムであって、このシ ステムが、複数の信号処理手段を含み、これら信号処理手段が複数の投影データ 信号の対応する一つを生成し、前記各処理手段が複数の信号伝達関数の対応する 一つによって特性化され、前記各投影データ信号がデータ成分とエラー成分を含 み、エラー成分は、前記複数の処理手段の信号伝達関数間の相対的な差を表し、 前記複数の処理手段が、各走査に対して、おのおのの投影データ信号を生成し、 データ成分は、走査される対象の部分の密度を表し、このシステムがさらに: (A)少なくとも一回の前の走査の際に得られたエラー成分の前のセットの推 定値を格納するための手段を含み、この格納手段が、現在の走査からのエラー成 分の新たなセットの推定値を受信し、古いセットの推定値と新たなセットの推定 値の関数として、セットの推定値を更新するための手段を含み、このシステムが さらに (B)ある走査の投影データ信号と古いセットのエラー推定値とを受信し、前 記投影データ信号と古いセットのエラー推定値との関数として、複数の修正され た投影データ信号を生成するための結合手段;および (C)前記修正された投影データ信号を受信し、これから、エラー成分の新た なセットの推定値を生成し、この新たなセットの推定値を、前記格納手段に供給 するリング抑圧フィルタ手段を含むことを特徴とするコンピュータ断層撮影シス テム。
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