JPH1144834A - 光学要素移動装置 - Google Patents

光学要素移動装置

Info

Publication number
JPH1144834A
JPH1144834A JP9213875A JP21387597A JPH1144834A JP H1144834 A JPH1144834 A JP H1144834A JP 9213875 A JP9213875 A JP 9213875A JP 21387597 A JP21387597 A JP 21387597A JP H1144834 A JPH1144834 A JP H1144834A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical element
moving device
element moving
fixed
damper means
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9213875A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3445105B2 (ja
Inventor
Makoto Mizuno
誠 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP21387597A priority Critical patent/JP3445105B2/ja
Publication of JPH1144834A publication Critical patent/JPH1144834A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3445105B2 publication Critical patent/JP3445105B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
    • G03F7/70825Mounting of individual elements, e.g. mounts, holders or supports

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 投影光学系の倍率、収差、歪み等の光学特性
を調整するための光学要素を高精度で光軸上を駆動する
光学要素移動装置を、省スペース、高クリーン度で実現
する。 【解決手段】 可動部に取り付けられた光学要素を固定
部に対して光軸方向へ移動させる駆動手段および案内手
段を有する光学要素移動装置において、可動部と固定部
との間にダンパ手段を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、露光装置などの投
影光学系の倍率、収差、歪み等の光学特性を調整するた
めの光学要素移動装置に関し、さらに詳細には、半導体
焼付け装置(マスクアライナ)などで使用される投影光
学系において、原版(例えばマスクおよびレチクル)の
像を対象物(例えばウエハ)に投影露光する際、より正
確な結像関係を得るための付加光学系に用いられる光学
要素移動装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体露光装置は、数多くの異なる種類
のパターンを有する原版(レチクル)をシリコンウエハ
(基板)に転写する装置である。高集積度の回路を作成
するためには、解像性能だけでなく重ね合せ精度の向上
が不可欠である。
【0003】半導体露光装置における重ね合せ誤差はア
ライメント誤差、像歪み、および倍率誤差に分類され
る。アライメント誤差は、原版(レチクル)と基板(ウ
エハ)との相対位置調整によって軽減される。一方、倍
率誤差は、投影光学系の一部を光軸方向に移動させるこ
とによって調整可能である。光軸方向に移動させる際に
は、移動方向以外の他成分、とりわけ平行偏心、および
傾き誤差が大きくならないようにしなければならない。
【0004】従来、半導体露光装置用の投影倍率調整装
置としては、特開平9−106944号公報に開示され
ているような平行板ばねを用いた機構による光学要素移
動装置が考案されている。図1はこの種の光学要素移動
装置が搭載される露光装置の全体図、図2は、上記公報
に開示された機構を示す一部破断平面図および断面図で
ある。図2に示すように、この光学要素移動装置は、倍
率、収差等の調整レンズ7、およびそれを支持するセル
8を積載する可動台1および図1の投影光学系104の
固定部分の一部をなす固定台2を有する。駆動要素4
は、ベローズなどによって構成され、その一端を固定台
2に固定されるとともに、他端は可動台1に連結される
クランプ天板5に固定されている。可動台1と固定台2
は、2枚以上で一組の板ばね片3を有する板ばね材を一
対とそれを支持する板ばね押さえ6を有するばね機構に
より連結されている。板ばね材は、可動台1および固定
台2の両端面にそれぞれ一個ずつ配置されている。駆動
要素4は、板ばね片3の隙間であって、可動台1の中心
から等距離、かつ光軸20に対称な位置に配置されてい
る。
【0005】図22に上記公報に記載された駆動要素4
の概要を示す。同図の駆動要素4は、ベローズ9と、2
個のフランジ10aおよび10bによって構成されてい
る。また、一方のフランジ10aは、図2に示すよう
に、板ばね片3の隙間からクランプ天板5に連結され、
他方のフランジ10bは、固定台2内に配置されてお
り、ベローズ9内部に与えられる空気圧力を可動台1に
伝達する。
【0006】このような従来例は、レンズの位置を高精
度で制御できる上に、より軽量に、またより小さな空間
で実現することができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
平行板ばねを用いた機構による光学要素移動装置では、
光学要素を高精度で光軸上を駆動することができない場
合があるという問題がある。例えば重量の大きい、かつ
大口径のレンズを可動部とし、板ばねを案内に用いた機
構の場合、固有振動数が比較的低いため、外乱などによ
りレンズを含む可動部が大きく振動するという問題があ
る。その結果、露光装置の転写性能が低下する傾向とな
るため、光学要素移動装置に減衰特性を持たせることが
望ましいことが判明した。
【0008】本発明の目的は、このような従来技術の問
題点に鑑み、投影光学系の倍率、収差、歪み等の光学特
性を調整するための光学要素を高精度で光軸上を駆動す
る光学要素移動装置を、省スペース、高クリーン度で実
現することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明では、可動部に取り付けられた光学要素を固
定部に対して光軸方向へ移動させる駆動手段および案内
手段を有する光学要素移動装置において、可動部と固定
部との間にダンパ手段を設けたことを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の好ましい実施の形態にお
いて、ダンパ手段としては、粘性体を具備するもの、防
振ゴムを具備するもの、およびショックアブソーバなど
を用いることができる。このようなダンパ手段は、光軸
対称に配置することが好ましい。また、前記駆動手段内
部に設けることも可能であるが、特にダンパ手段を前記
駆動手段とは別個に設ける場合、該ダンパ手段からの発
塵を防止するためベローズ内に配置することが好まし
い。
【0011】前記ダンパ手段が粘性体を具備するもので
ある場合、この粘性体としては、オイル、またはグリー
ス、またはゲル等を用いることができる。また、粘性手
段は、平面の間に挟んでもよく、シリンダとピストンと
の間に配置してもよい。また、ダンパ手段を駆動手段内
部に設ける場合、駆動手段のフランジ部にダンパ手段を
取り付けるための開口を設け、ダンパ手段をこの開口に
取り付けた後、フランジ部に設けた溝にはめ込んだOリ
ングにより、ダンパ手段と開口との隙間をシールする。
【0012】前記ダンパ手段が、防振ゴムを具備するも
のである場合、この防振ゴムとしては、円筒形状または
中空の立方体形状のものを用いることができる。この防
振ゴムには1個以上の穴を設けることが好ましい。この
防振ゴムは駆動手段のフランジ部または固定部および可
動部に溝または段を設けてはめ込むか、接着するか、ま
たはこれらを組み合わせて、前記フランジ部または固定
部および可動部に固定することが好ましい。さらに、防
振ゴムは駆動手段の一部であるベローズと同一寸法とす
ることが好ましい。
【0013】前記ダンパ手段がショックアブソーバを具
備するものであり、これを駆動手段内部に設ける場合、
駆動手段のフランジ部にショックアブソーバを取り付け
るための開口を設け、ショックアブソーバをこの開口に
取り付けた後、フランジ部に設けた溝にはめ込んだOリ
ングにより、ショックアブソーバと開口との隙間をシー
ルする。
【0014】
【作用】固定部と可動部との間にダンパ手段を設けるこ
とにより、光学要素駆動時の振動を抑えることができ、
省スペースでありながら、高精度な光学要素駆動を実現
することができる。また、ダンパ手段を駆動手段内部に
設けたり、またはベローズなどで覆うことにより、高ク
リーン度を実現することができる。
【0015】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。 [実施例1]図1は、本発明が適用される露光装置の概
略構成を示す図である。同図において、101は感光剤
が塗布された半導体ウエハであり、精密な位置決め性能
を有するウエハステージ102上に保持されている。露
光装置の基準に対するウエハステージの位置はレーザ干
渉計113によって計測されている。103は原版とな
るパターンが描かれたレチクルである。投影光学系10
4は本発明による光学要素移動手段110を有してお
り、レチクル上のパターンをウエハ上に結像させる。1
05はレチクルを照明するための照明光学系である。1
06は前行程で作成されたウエハ上のパターンとレチク
ル上のパターンとの位置ずれを検出するアライメント光
学系である。アライメント光学系106とウエハステー
ジ102とによって、レチクル上のパターンとウエハ上
のパターンとを重ね合わせた上で露光する。107はこ
のような露光装置の動作を管理する制御装置である。ア
ライメント光学系と、ウエハステージおよびウエハステ
ージの位置を計測するレーザ干渉計とが協働することに
よって、ウエハ上のパターンの寸法を計測することがで
きる。制御装置はこの寸法から最適な光学特性が得られ
る光学要素の位置を設定する。一方、投影光学系の光学
特性の一つである投影倍率の変動要因として、気圧など
の雰囲気の変化がある。制御装置107は、気圧センサ
108によって得られる気圧の情報や最適な露光倍率の
値から、前記光学要素の一つである投影倍率調整用のレ
ンズの最適な位置を決定し、その位置の指令を光学要素
移動手段の制御部111に与える。図1において、10
9は投影光学系104を支持する定盤(下)、112は
定盤(下)109に支持され照明光学系105やアライ
メント光学系106を支持する定盤(上)である。
【0016】図2は、本発明の一実施例に係る平行ばね
式光学要素移動機構の平面図および断面図を示す。同図
の機構は、倍率、収差等の調整レンズ7およびそれを支
持するセル8を積載する可動台1および図1の投影光学
系104の固定部の一部をなす固定台2を有する。駆動
要素4は、ベローズなどによって構成され、その一端を
固定台2に固定されるとともに、他端は可動台1に連結
されるクランプ天板5に固定されている。可動台1と固
定台2は、2枚以上で一組の板ばね片3を有する板ばね
材を一対とそれを支持する板ばね押さえ6を有するばね
機構により連結されている。板ばね材は、可動台1およ
び固定台2の両端面にそれぞれ一個ずつ配置されてい
る。駆動要素4は、板ばね片3の隙間であって、可動台
1の中心から等距離、かつ光軸20に対称な位置に配置
されている。図2において、16は継手、21はロック
用ねじ、22はターゲット板、23はバランス板、24
は位置センサ、25はセンサホルダである。
【0017】図3は、本発明の第1の実施例に係る駆動
要素の断面を示す。同図の駆動要素4は、ベローズ9
と、2個のフランジ10aおよび10bと、支柱11a
および11bと、支柱11aと11bの隙間に挟持され
た粘性体12とによって構成されている。また、一方の
フランジ10aは、図2に示すように、板ばね片3の隙
間からクランプ天板5に連結され、他方のフランジ10
bは、固定台2内に配置されており、ベローズ9内部に
与えられる空気圧力を可動台1に伝達する。
【0018】本実施例のようなベローズ9内部にグリー
ス、オイルまたはゲルなどの粘性体12を配置した駆動
要素4の場合、機構の動作に減衰特性を加えることがで
き、かつ粘性体12から発生する塵などを圧縮空気部か
ら出さないという点で高クリーン度を実現することがで
きる。
【0019】ベローズ9の自由長さは、駆動時の動作安
定のために、セット長より長くとるが、ベローズ9の内
部に配置する粘性体12の厚さも、ベローズ9の有効ス
トローク長と同一寸法になるように調整することが望ま
しい。
【0020】粘性体12の配置方法は、図3に示すよう
に、両側のフランジ10aと10bから設けた支柱11
aと11bの隙間に配置することができる他、図4
(a)に示すように、片側のフランジ10aから設けた
支柱11と他方のフランジ10bとの隙間に配置するこ
とができる。図4(a)は、上側のフランジ10aから
支柱11を設けた例である。この支柱11は、図のよう
にフランジ10aと一体で形成するか、あるいは別部品
として形成してもよい。
【0021】図4(b)は、粘性体12をシリンダの配
置に設けた場合である。すなわち、一方のフランジ10
aに設けられた支柱であるピストン13と、他方のフラ
ンジ10bから設けられたシリンダ14との間に粘性体
12を配置した例である。
【0022】図4(c)は、粘性体12を駆動要素4に
後から注入できるように、フランジl0bに穴が設けて
ある例である。この穴は、粘性体12注入後にOリング
15とふた17を用いて栓をする。この例は、ベローズ
9が溶接式の場合など、成形時に高温になる場合に有効
である。
【0023】図5(a)は、シリンダ14をフランジl
0bに後から取り付けることのできる構成例である。シ
リンダ14は、粘性体12を入れた後、ねじとΟリング
15を利用してフランジ10bに固定される。この例
も、ベローズ9が溶接式の場合など、成形時に高温にな
る場合に有効である。この例の場合、ピストンはフラン
ジ10aにねじ止めしても一体で形成してもよい。
【0024】図5(b)は、シリンダ14内に粘性体1
2を後から注入することができるように、穴があけられ
ている。この穴は、粘性体12を注入した後にOリング
15とふた17で栓をする。この例も、ベローズ9が溶
接式の場合など、成形時に高温になる場合に有効であ
る。この例の場合、ピストンはフランジ10aにねじ止
めしても一体で形成してもよい。
【0025】図5(c)は、ピストン13内に穴をあ
け、後から粘性体12を注入できるようにした構成例で
ある。この穴は、粘性体12を注入した後にOリング1
5とふた17で栓をする。この例も、ベローズ9が溶接
式の場合など、成形時に高温になる場合に有効である。
この例の場合、ピストンはフランジ10aにねじ止めし
ても一体で形成してもよい。
【0026】このように、粘性体12を用いたダンパの
場合、粘性体12の厚さを少なくした方が、あるいは粘
性体12との接触面積を大きくした方が制振効果が大き
い。しかしながら、本実施例のようにダンパを配置する
スペースが狭い場合、特にシリンダ型のダンパの場合、
図6(a)に示すようなピストンの先端形状よりも、図
6(b)に示すような複数の切り欠きを設けた方が粘性
体12との接触面積が増し、大きな制振効果を得ること
ができる。
【0027】[実施例2]図7は、本発明の第2の実施
例に係る光学要素移動機構の平面図および断面図を示
す。本実施例は、粘性体12から発生する塵などが周囲
の環境に影響を及ぼさないために、金属のベローズ(不
図示)などで覆った制振機構を、クランプ天板5に取り
付けたターゲット板22または固定金具23と固定台2
に取り付けたセンサホルダ25または固定金具26の間
に配置する構成となっている。図7の例では、3個の制
振機構を取り付けた場合を示している。
【0028】制振機構は、図8に示すように、平面間に
オイル、グリースまたはゲルなどの粘性体12を挟む
か、あるいはシリンダ状にしてシリンダ14とピストン
13との間に粘性体12を入れるのが望ましい。また、
シリンダ14およびピストン13は、ターゲット板22
または固定金具23と、あるいはセンサホルダ25また
は固定金具26と一体で形成しても別体で形成してもよ
い。27a。27bは中継ブロックである。
【0029】図7に示す光学要素移動機構ではクランプ
天板5に光軸周りに8カ所の面取りを設け、そのうち1
カ所に可動台1の位置を計測するセンサ24のターゲッ
ト板22を取り付け、2カ所に可動部1を固定する固定
金具23を配置する構成となっている。このため、制振
機構の取り付け位置は、これらセンサのターゲット板2
2とセンサホルダ25の間、および2カ所の固定金具2
3と固定台2との間のいずれかの位置に配置するか、も
しくはクランプ天板5の残る面取り箇所の5カ所のうち
の、いずれかに配置することが望ましい。ここでは、前
者の例として、固定金具23と制振機構を取り付ける中
継ブロック27aとを統合した構成をとっており、スペ
ース効率がよい。図9は、後者のうちの1例として、3
個の制振機構を取り付けた例を示す。
【0030】[実施例3]図10は、本発明の第3の実
施例に係る駆動要素の断面を示す。同図の駆動要素4
は、ベローズ9と2個のフランジ10aおよび10bと
防振ゴム31によって構成されている。一方のフランジ
10aは、図2に示すように、板ばね片3の隙間からク
ランプ天板5に連結され、他方のフランジ10bは、固
定台2内に配置されており、ベローズ9内部に与えられ
る空気圧力を可動台1に伝達する。
【0031】本実施例のようなベローズ9内部に防振ゴ
ム31を配置した駆動要素4の場合、機構の動作に減衰
特性を加えることができ、かつ防振ゴム31から発生す
る塵などを圧縮空気部から出さないという点で高クリー
ン度を実現することができる。
【0032】ベローズ9の自由長さは、駆動時の動作安
定のために、セット長より長くとるが、ベローズ9の内
部に配置する防振ゴム31も、ベローズ9の有効長さと
同一寸法にすることが望ましい。
【0033】防振ゴム31の両端は、図11(a)に示
すようにフランジ10a、10bに設けた溝にはめ込む
か、図11(b)に示すようにフランジ10a、10b
に設けた段差にはめ込むか、あるいは図11(c)に示
すように接着剤32で接着することが、駆動以外の方向
のずれを軽減し、またベローズ9のフランジ10a、1
0bとの溶接時の熱変形を妨げる上で望ましい。また、
防振ゴム31の両端に接着剤32を塗布した上で溝には
め込むなど複数の方法を併用してもよい。
【0034】防振ゴム31は、図12に示すように、側
面に1個以上の穴が開けてあることが望ましい。この場
合には、ベローズ9の有効面積を大きく使え、駆動力を
増すことができる。
【0035】[実施例4]図13は、本発明の第4の実
施例に係る駆動要素の断面を示す。同図の駆動要素4
は、ベローズ9と2個のフランジ10a、10b、およ
びショックアブソーバ(緩衝器)51によって構成され
ている。一方のフランジ10aは、図2に示すように、
板ばね片3の隙間からクランプ天板5に連結され、他方
のフランジ10bは、固定台2内に配置されており、ベ
ローズ9内部に与えられる空気圧力を可動台1に伝達す
る。
【0036】本実施例のようなベローズ9内部にショッ
クアブソーバ51を配置した駆動要素4の場合、機構の
動作に減衰特性を加えることができ、かつ摺動部から発
生する塵などを圧縮空気部から出さないという点で高ク
リーン度を実現することができる。
【0037】両フランジ10a、10bとショックアブ
ソーバ51との締結部には圧縮空気が漏れないように、
例えば図13のようにOリング53でシールし、他端は
フランジ部を貫通しないようなねじ孔で締結することに
より漏れを防ぐのもよい。
【0038】ショックアブソーバ51は、図13に示す
ような単孔オリフィス52とオイルを用いた構造以外の
構造のものを用いてもよい。
【0039】[実施例5]図14は、本発明の第5の実
施例に係る光学要素移動機構の平面図および断面図を示
す。本実施例は、摺動部から発生する塵などが周囲の環
境に影響を及ぼさないために、図15に示すように金属
のベローズ54などで覆ったショックアブソーバ51な
ど緩衝器を、クランプ天板5に取り付けた中継ブロック
27aと固定台2に取り付けた中継ブロック27bの間
に配置する構成となっている。図14の例では、3個の
緩衝装置を取り付けた場合を示している。この配置によ
って、ショックアブソーバ51を交換することも容易に
できる。ショックアブソーバ51は、図13に示すよう
な単孔オリフィス52とオイルを用いた構造以外の構造
のものを用いてもよい。
【0040】図14に示す光学要素移動機構ではクラン
プ天板5に光軸周りに8カ所の面取りを設け、そのうち
1カ所に可動台1の位置を計測するセンサターゲットを
取り付け、2カ所に可動部1を固定する固定金具23を
配置する構成となっている。このため、ショックアブソ
ーバ51の取り付け位置は、これらセンサターゲット2
2とセンサホルダ25の間、および2カ所の固定金具2
3と固定台2との間のいずれかの位置に配置するか、も
しくはクランプ天板5の残る面取り箇所の5カ所のうち
の、いずれかに配置することが望ましい。ここでは、前
者の例として、固定金具23とショックアブソーバ51
を取り付ける中継ブロック27aとを統合した構成をと
っており、スペース効率がよい。
【0041】図16は、後者のうちの1例として、3個
のショックアブソーバ51を取り付けた例を示す。
【0042】[実施例6]図17は、本発明の第6の実
施例に係る光学要素移動機構の平面図および断面図を示
す。本実施例は、摺動部から発生する塵などが周囲の環
境に影響を及ぼさないために、図18に示すように金属
のベローズ61などで覆った防振ゴム21を、クランプ
天板5に取り付けた中継ブロック27aと固定台2に取
り付けた中継ブロック27bの間に配置する構成となっ
ている。図17の例では、3個の防振ゴム21を取り付
けた場合を示している。この配置によって、防振ゴム2
1を交換することも容易にできる。
【0043】図17に示す光学要素移動機構ではクラン
プ天板5に光軸周りに8カ所の面取りを設け、そのうち
1カ所に可動台1の位置を計測するセンサターゲットを
取り付け、2カ所に可動部1を固定する固定金具23を
配置する構成となっている。このため、防振ゴム21の
取り付け位置は、これらセンサターゲット22とセンサ
ホルダ25の間、および2カ所の固定金具23と固定台
2との間のいずれかの位置に配置するか(この場合、2
個の中継ブロック27a、27bはそれぞれセンサター
ゲットとセンサホルダ、固定金具23で代用することが
できる)、もしくはクランプ天板5の残る面取り箇所の
5カ所のうちのいずれかに配置することが望ましい。図
17は、前者の例として、固定金具23とショックアブ
ソーバ51を取り付ける中継ブロック27aとを統合し
た構成をとっており、スペース効率がよい。
【0044】図19は、後者のうちの1例として、3個
の防振ゴム21を取り付けた例を示す。
【0045】
【デバイス生産方法の実施例】次に上記説明した露光装
置または露光方法を利用したデバイスの生産方法の実施
例を説明する。図20は微小デバイス(ICやLSI等
の半導体チップ、液晶パネル、CCD、薄膜磁気ヘッ
ド、マイクロマシン等)の製造のフローを示す。ステッ
プ1(回路設計)ではデバイスのパターン設計を行な
う。ステップ2(マスク製作)では設計したパターンを
形成したマスクを製作する。一方、ステップ3(ウエハ
製造)ではシリコンやガラス等の材料を用いてウエハを
製造する。ステップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼
ばれ、上記用意したマスクとウエハを用いて、リソグラ
フィ技術によってウエハ上に実際の回路を形成する。次
のステップ5(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステップ
4によって作製されたウエハを用いて半導体チップ化す
る工程であり、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンデ
ィング)、パッケージング工程(チップ封入)等の工程
を含む。ステップ6(検査)ではステップ5で作製され
た半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の
検査を行なう。こうした工程を経て半導体デバイスが完
成し、これが出荷(ステップ7)される。
【0046】図21は上記ウエハプロセスの詳細なフロ
ーを示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸
化させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶
縁膜を形成する。ステップ13(電極形成)ではウエハ
上に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオ
ン打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ1
5(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ス
テップ16(露光)では上述の光学要素移動装置を有す
る露光装置によってマスクの回路パターンをウエハに焼
付露光する。ステップ17(現像)では露光したウエハ
を現像する。ステップ18(エッチング)では現像した
レジスト像以外の部分を削り取る。ステップ19(レジ
スト剥離)ではエッチングが済んで不要となったレジス
トを取り除く。これらのステップを繰り返し行なうこと
によって、ウエハ上に多重に回路パターンが形成され
る。
【0047】本実施例の生産方法を用いれば、従来は製
造が難しかった高集積度のデバイスを低コストに製造す
ることができる。
【0048】
【発明の効果】本発明によれば、投影光学系の倍率、収
差、歪み等の光学特性を調整するための光学要素を高精
度で光軸上を駆動する光学要素移動装置を、省スペー
ス、高クリーン度で実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明が適用される露光装置の構成を示す図
である。
【図2】 本発明が適用される平行板ばね機構を用いた
光学要素移動装置の平面図および断面図である。
【図3】 駆動要素のベローズ内に粘性体を配置した本
発明の第1の実施例に係るダンパ手段の構成を示す図で
ある。
【図4】 第1の実施例の変形例を示す図である。
【図5】 第1の実施例のさらなる変形例を示す図であ
る。
【図6】 第1の実施例におけるピストンの変形例を示
す図である。
【図7】 粘性体を有するダンパ手段を機構外部に配置
した本発明の第2の実施例に係る光学要素移動装置の平
面図および断面図である。
【図8】 図7におけるダンパ手段の詳細構成を示す図
である。
【図9】 第2の実施例の変形例を示す光学要素移動装
置の平面図および断面図である。
【図10】 駆動要素のベローズ内に防振ゴムを配置し
た本発明の第3の実施例に係るダンパ手段の構成を示す
図である。
【図11】 第3の実施例の変形例を示す図である。
【図12】 第3の実施例における防振ゴムの詳細を示
す図である。
【図13】 駆動要素のベローズ内にショックアブソー
バを配置した本発明の第4の実施例に係るダンパ手段の
構成を示す図である。
【図14】 ショックアブソーバを有するダンパ手段を
機構外部に配置した本発明の第5の実施例に係る光学要
素移動装置の平面図および断面図である。
【図15】 第5の実施例におけるダンパ手段の詳細を
示す図である。
【図16】 第5の実施例の変形例を示す光学要素移動
装置の平面図および断面図である。
【図17】 防振ゴムを有するダンパ手段を機構外部に
配置した本発明の第6の実施例に係る光学要素移動装置
の平面図および断面図である。
【図18】 図17におけるダンパ手段の詳細構成を示
す図である。
【図19】 第6の実施例の変形例を示す光学要素移動
装置の平面図および断面図である。
【図20】 微小デバイスの製造の流れを示す図であ
る。
【図21】 図20におけるウエハプロセスの詳細な流
れを示す図である。
【図22】 従来の駆動要素の構成を示す図である。
【符号の説明】
1:可動台、2:固定台、3:板ばね、4:駆動要素、
5:クランプ天板、6:板ばね押さえ、7:レンズ、
8:セル、9:ベローズ、10a,10b:フランジ、
11:支柱、12:粘性体、13:ピストン、14:シ
リンダ、15,53:Oリング、16:継手、17:ふ
た、22:ターゲット板、23:バランス板、25:セ
ンサホルダ、26:固定金具、27a,27b:中継ブ
ロック、31:防振ゴム、32:接着剤、51:ショッ
クアブソーバ、54,61:ベローズ。

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 固定部と、光学要素を固定された可動部
    と、前記固定部に対して前記可動部を光軸方向へ移動さ
    せる駆動手段および案内手段と、前記固定部と可動部と
    の間に配置されたダンパ手段とを有する光学要素移動装
    置。
  2. 【請求項2】 前記ダンパ手段が、光軸対称に配置され
    ていることを特徴とする請求項1記載の光学要素移動装
    置。
  3. 【請求項3】 前記ダンパ手段が、防塵用ベローズ内に
    配置されていることを特徴とする請求項1または2記載
    の光学要素移動装置。
  4. 【請求項4】 前記ダンパ手段が、前記駆動手段内部に
    設けられていることを特徴とする請求項1または2記載
    の光学要素移動装置。
  5. 【請求項5】 前記ダンパ手段が、粘性体を具備するこ
    とを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の光
    学要素移動装置。
  6. 【請求項6】 前記ダンパ手段が、粘性体を具備するこ
    とを特徴とする請求項4記載の光学要素移動装置。
  7. 【請求項7】 前記粘性体が、平面の間に挟まれている
    ことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の
    光学要素移動装置。
  8. 【請求項8】 前記ダンパ手段が、シリンダおよびピス
    トンとこれらのシリンダとピストンの間に配置された粘
    性体からなることを特徴とする請求項7記載の光学要素
    移動装置。
  9. 【請求項9】 前記粘性体が、オイル、グリースまたは
    ゲルであることを特徴とする請求項5〜8のいずれか1
    つに記載の光学要素移動装置。
  10. 【請求項10】 前記駆動手段が、前記固定部および可
    動部にそれぞれ固定される一対のフランジ部とこれらの
    フランジ部間に配置されたアクチュエータからなり、該
    フランジ部の少なくとも一方に前記ダンパ手段を取り付
    けるための開口と、該ダンパ手段を取り付けた後該開口
    との隙間をシールするための溝およびOリングを持つこ
    とを特徴とする請求項6記載の光学要素移動装置。
  11. 【請求項11】 前記ダンパ手段が、筒形または中空の
    防振ゴムを具備することを特徴とする請求項1〜3のい
    ずれか1つに記載の光学要素移動装置。
  12. 【請求項12】 前記防振ゴムが、前記固定部および可
    動部の防振ゴム取り付け部に溝または段を設けてはめ込
    むか、または接着により、前記固定部および可動部に固
    定されていることを特徴とする請求項11記載の光学要
    素移動装置。
  13. 【請求項13】 前記ダンパ手段が、筒形または中空の
    防振ゴムを具備することを特徴とする請求項4記載の光
    学要素移動装置。
  14. 【請求項14】 前記駆動手段が、前記固定部および可
    動部にそれぞれ固定される一対のフランジ部とこれらの
    フランジ部間に配置されたアクチュエータからなり、前
    記防振ゴムが、前記フランジ部に設けられた溝または段
    にはめ込まれるか、または前記フランジ部に接着される
    ことにより、前記フランジ部に固定されていることを特
    徴とする請求項13記載の光学要素移動装置。
  15. 【請求項15】 前記駆動手段が、内部の流体の作用に
    より、前記可動部を駆動する駆動用ベローズを有し、前
    記防振ゴムの前記光軸方向の長さが、該駆動用ベローズ
    と同一であることを特徴とする請求項13または14記
    載の光学要素移動装置。
  16. 【請求項16】 前記防振ゴムが、1個以上の穴を有す
    ることを特徴とする請求項11〜15のいずれか1つに
    記載の光学要素移動装置。
  17. 【請求項17】 前記ダンパ手段が、ショックアブソー
    バを具備することを特徴とする請求項1〜3のいずれか
    1つに記載の光学要素移動装置。
  18. 【請求項18】 前記ダンパ手段が、ショックアブソー
    バを具備することを特徴とする請求項4記載の光学要素
    移動装置。
  19. 【請求項19】 前記駆動手段が、前記固定部および可
    動部にそれぞれ固定される一対のフランジ部とこれらの
    フランジ部間に配置されたアクチュエータからなり、該
    フランジ部の少なくとも一方に前記ショックアブソーバ
    を取り付けるための開口と、該ショックアブソーバを取
    り付けた後該開口との隙間をシールするための溝および
    Oリングを持つことを特徴とする請求項18記載の光学
    要素移動装置。
  20. 【請求項20】 内部にダンパ手段を備えたことを特徴
    とするベローズ。
  21. 【請求項21】 請求項1ないし19のいずれかに記載
    の光学要素移動装置を具備する光学装置を投影光学系と
    して備え、レチクルのパターンをウエハに投影露光する
    手段を有することを特徴とする露光装置。
  22. 【請求項22】 請求項21に記載の露光装置を用いて
    製造したことを特徴とする半導体デバイス。
JP21387597A 1997-07-25 1997-07-25 光学要素移動装置 Expired - Lifetime JP3445105B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21387597A JP3445105B2 (ja) 1997-07-25 1997-07-25 光学要素移動装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21387597A JP3445105B2 (ja) 1997-07-25 1997-07-25 光学要素移動装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1144834A true JPH1144834A (ja) 1999-02-16
JP3445105B2 JP3445105B2 (ja) 2003-09-08

Family

ID=16646468

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21387597A Expired - Lifetime JP3445105B2 (ja) 1997-07-25 1997-07-25 光学要素移動装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3445105B2 (ja)

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999067683A3 (de) * 1998-06-20 2000-04-20 Zeiss Carl Optisches system, insbesondere projektions-belichtungsanlage der mikrolithographie
JP2000195788A (ja) * 1998-12-23 2000-07-14 Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss 光学システム、特にマイクロリソグラフィ―に用いられる投影照明ユニット
EP1035426A2 (de) * 1999-03-12 2000-09-13 Carl Zeiss Vorrichtung zum Verschieben eines optischen Elementes entlang der optischen Achse
WO2002016993A1 (fr) * 2000-08-18 2002-02-28 Nikon Corporation Dispositif de maintien d'element optique
JP2002198310A (ja) * 2000-12-15 2002-07-12 Nikon Corp ステージ装置及び露光装置
JP2005064474A (ja) * 2003-07-31 2005-03-10 Canon Inc 位置決め機構、露光装置及びデバイスの製造方法
US6867848B2 (en) 2000-03-30 2005-03-15 Canon Kabushiki Kaisha Supporting structure of optical element, exposure apparatus having the same, and manufacturing method of semiconductor device
US6912094B2 (en) 2001-03-27 2005-06-28 Nikon Corporation Projection optical system, a projection exposure apparatus, and a projection exposure method
WO2005064382A1 (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Nikon Corporation 光学素子の保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法
US6937394B2 (en) 2001-04-10 2005-08-30 Carl Zeiss Semiconductor Manufacturing Technologies Ag Device and method for changing the stress-induced birefringence and/or the thickness of an optical component
JP2006013393A (ja) * 2004-06-29 2006-01-12 Nikon Corp 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法
WO2006120927A1 (ja) * 2005-05-02 2006-11-16 Nikon Corporation 光学要素駆動装置、投影光学系、露光装置、及びデバイスの製造方法
US7145270B2 (en) 2003-04-25 2006-12-05 Canon Kabushiki Kaisha Driving unit, exposure apparatus using the same, and device fabrication method
JP2007227891A (ja) * 2005-12-30 2007-09-06 Asml Holding Nv 光学素子ダンピングシステム
JP2008529076A (ja) * 2005-01-26 2008-07-31 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー 光学アセンブリ
JP2009501350A (ja) * 2005-07-14 2009-01-15 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー 光学素子
EP2210012A1 (en) * 2007-11-15 2010-07-28 ASML Holding N.V. Lithographic apparatus
WO2021239277A1 (de) * 2020-05-27 2021-12-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Dämpfungsanordnung zur schwingungsdämpfung eines elements in einem optischen system

Cited By (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999067683A3 (de) * 1998-06-20 2000-04-20 Zeiss Carl Optisches system, insbesondere projektions-belichtungsanlage der mikrolithographie
JP2002519843A (ja) * 1998-06-20 2002-07-02 カール・ツアイス・スティフツング・トレーディング・アズ・カール・ツアイス 光学系、特にマイクロリソグラフィの投影露光装置
JP2000195788A (ja) * 1998-12-23 2000-07-14 Carl Zeiss Stiftung Trading As Carl Zeiss 光学システム、特にマイクロリソグラフィ―に用いられる投影照明ユニット
EP1035426A2 (de) * 1999-03-12 2000-09-13 Carl Zeiss Vorrichtung zum Verschieben eines optischen Elementes entlang der optischen Achse
EP1035426A3 (de) * 1999-03-12 2004-06-30 Carl Zeiss Vorrichtung zum Verschieben eines optischen Elementes entlang der optischen Achse
US6867848B2 (en) 2000-03-30 2005-03-15 Canon Kabushiki Kaisha Supporting structure of optical element, exposure apparatus having the same, and manufacturing method of semiconductor device
US7113263B2 (en) 2000-03-30 2006-09-26 Canon Kabushiki Kaisha Supporting structure of optical element, exposure apparatus having the same, and manufacturing method of semiconductor device
US7154684B2 (en) 2000-08-18 2006-12-26 Nikon Corporation Optical element holding apparatus
US7420752B2 (en) 2000-08-18 2008-09-02 Nikon Corporation Holding apparatus
WO2002016993A1 (fr) * 2000-08-18 2002-02-28 Nikon Corporation Dispositif de maintien d'element optique
JP2002198310A (ja) * 2000-12-15 2002-07-12 Nikon Corp ステージ装置及び露光装置
US6912094B2 (en) 2001-03-27 2005-06-28 Nikon Corporation Projection optical system, a projection exposure apparatus, and a projection exposure method
US6937394B2 (en) 2001-04-10 2005-08-30 Carl Zeiss Semiconductor Manufacturing Technologies Ag Device and method for changing the stress-induced birefringence and/or the thickness of an optical component
US7145270B2 (en) 2003-04-25 2006-12-05 Canon Kabushiki Kaisha Driving unit, exposure apparatus using the same, and device fabrication method
JP2005064474A (ja) * 2003-07-31 2005-03-10 Canon Inc 位置決め機構、露光装置及びデバイスの製造方法
US7187106B2 (en) 2003-07-31 2007-03-06 Canon Kabushiki Kaisha Positioning mechanism, exposure apparatus and device manufacturing method
EP1503246A3 (en) * 2003-07-31 2008-12-31 Canon Kabushiki Kaisha Positioning mechanism, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP4649136B2 (ja) * 2003-07-31 2011-03-09 キヤノン株式会社 アクチュエータ、露光装置及びデバイス製造方法
US7697222B2 (en) 2003-12-25 2010-04-13 Nikon Corporation Apparatus for holding optical element, barrel, exposure apparatus, and device producing method
WO2005064382A1 (ja) * 2003-12-25 2005-07-14 Nikon Corporation 光学素子の保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法
JPWO2005064382A1 (ja) * 2003-12-25 2007-12-20 株式会社ニコン 光学素子の保持装置、鏡筒、露光装置、及びデバイスの製造方法
JP2006013393A (ja) * 2004-06-29 2006-01-12 Nikon Corp 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにデバイスの製造方法
JP2008529076A (ja) * 2005-01-26 2008-07-31 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー 光学アセンブリ
JP2012124520A (ja) * 2005-01-26 2012-06-28 Carl Zeiss Smt Gmbh 光学アセンブリ
WO2006120927A1 (ja) * 2005-05-02 2006-11-16 Nikon Corporation 光学要素駆動装置、投影光学系、露光装置、及びデバイスの製造方法
JPWO2006120927A1 (ja) * 2005-05-02 2008-12-18 株式会社ニコン 光学要素駆動装置、投影光学系、露光装置、及びデバイスの製造方法
JP5125508B2 (ja) * 2005-05-02 2013-01-23 株式会社ニコン 光学要素駆動装置、投影光学系、露光装置、及びデバイスの製造方法
US8400613B2 (en) 2005-05-02 2013-03-19 Nikon Corporation Optical element driving apparatus, projection optical system, exposure apparatus and device manufacturing method
JP2009501350A (ja) * 2005-07-14 2009-01-15 カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー 光学素子
US8705185B2 (en) 2005-07-14 2014-04-22 Carl Zeiss Smt Gmbh Optical element
KR101428817B1 (ko) * 2005-07-14 2014-08-08 칼 짜이스 에스엠테 게엠베하 광학 요소 진동 감쇄 장치, 대물렌즈, 투사 노출 기계 및 이들을 사용하는 방법
JP2007227891A (ja) * 2005-12-30 2007-09-06 Asml Holding Nv 光学素子ダンピングシステム
EP2210012A1 (en) * 2007-11-15 2010-07-28 ASML Holding N.V. Lithographic apparatus
WO2021239277A1 (de) * 2020-05-27 2021-12-02 Carl Zeiss Smt Gmbh Dämpfungsanordnung zur schwingungsdämpfung eines elements in einem optischen system

Also Published As

Publication number Publication date
JP3445105B2 (ja) 2003-09-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1144834A (ja) 光学要素移動装置
US7187106B2 (en) Positioning mechanism, exposure apparatus and device manufacturing method
JP3576176B2 (ja) ガス軸受を有する支持装置
JP4945845B2 (ja) 光学素子保持装置、鏡筒及び露光装置並びにマイクロデバイスの製造方法。
US7154684B2 (en) Optical element holding apparatus
KR100232903B1 (ko) 광학구조체 및 이를 이용한 디바이스제조방법
US8400613B2 (en) Optical element driving apparatus, projection optical system, exposure apparatus and device manufacturing method
US7113263B2 (en) Supporting structure of optical element, exposure apparatus having the same, and manufacturing method of semiconductor device
JP2005064474A5 (ja)
JP3337906B2 (ja) 空圧式振動絶縁除去装置、投影露光装置及びこれを用いたデバイス製造方法
US5854819A (en) Mask supporting device and correction method therefor, and exposure apparatus and device producing method utilizing the same
KR20040010134A (ko) 방진장치, 스테이지 장치 및 노광장치
KR20070039926A (ko) 지지 장치, 스테이지 장치, 노광 장치, 및 디바이스의 제조방법
KR20070085764A (ko) 미동 스테이지 z 지지 장치
KR20040007448A (ko) 유지장치, 유지방법, 노광장치 및 디바이스 제조방법
JP2009188053A (ja) 露光装置およびデバイス製造方法
JP2006113414A (ja) 光学素子保持装置、鏡筒、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2001148341A (ja) 露光装置
JP3631045B2 (ja) 駆動装置、光学素子駆動装置、露光装置およびデバイス製造方法
WO2017198286A1 (en) Mounting arrangement for an optical imaging arrangement
US20050140961A1 (en) Anti-vibration system, method of controlling the same, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP6105906B2 (ja) 露光装置及びデバイス製造方法
JP2001143984A (ja) 位置決め装置
JPH06123787A (ja) 可動装置及びその製造方法並びに位置決め装置と、これらを用いたテーブル装置
JP2005308145A (ja) 防振装置及び露光装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080627

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090627

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090627

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100627

Year of fee payment: 7