JPH1144761A - 光学式距離測定装置 - Google Patents
光学式距離測定装置Info
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- JPH1144761A JPH1144761A JP9215870A JP21587097A JPH1144761A JP H1144761 A JPH1144761 A JP H1144761A JP 9215870 A JP9215870 A JP 9215870A JP 21587097 A JP21587097 A JP 21587097A JP H1144761 A JPH1144761 A JP H1144761A
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- Japan
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- phase difference
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 受光信号を波形整形するＰＬＬ回路の動作特
性を改善して遠距離ゾーンまで高精度に測定できるよう
にする。 【解決手段】 送光部２と、基準発振器４と、受光部３
の受光信号を波形整形するためのＰＬＬ回路６と、ＰＬ
Ｌ回路６で波形整形された受光信号と基準発振器の出力
信号との位相差を検出する位相差検出回路７と、距離計
算手段と、受光部３に対して内部参照光を導入するため
の内部光学系８と、内部光学系を基準発振器４により適
時に駆動する切替手段９と、内部参照モードで距離計算
手段を校正する距離校正手段と、内部参照モードにて内
部光学系から受光部に対して強弱２レベルの内部参照光
を選択的に導入するための参照光レベル切替手段９と、
その２レベルでの内部参照モード時のそれぞれの位相差
に基づいてＰＬＬ回路６におけるＶＣＯ６３の電圧／周
波数特性を補正するＰＬＬ特性補正手段とを備える。
性を改善して遠距離ゾーンまで高精度に測定できるよう
にする。 【解決手段】 送光部２と、基準発振器４と、受光部３
の受光信号を波形整形するためのＰＬＬ回路６と、ＰＬ
Ｌ回路６で波形整形された受光信号と基準発振器の出力
信号との位相差を検出する位相差検出回路７と、距離計
算手段と、受光部３に対して内部参照光を導入するため
の内部光学系８と、内部光学系を基準発振器４により適
時に駆動する切替手段９と、内部参照モードで距離計算
手段を校正する距離校正手段と、内部参照モードにて内
部光学系から受光部に対して強弱２レベルの内部参照光
を選択的に導入するための参照光レベル切替手段９と、
その２レベルでの内部参照モード時のそれぞれの位相差
に基づいてＰＬＬ回路６におけるＶＣＯ６３の電圧／周
波数特性を補正するＰＬＬ特性補正手段とを備える。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえば車両の衝
突防止用の距離センサとして応用される光学式距離測定
装置に関し、特に、回路の簡素化と高精度化を両立させ
る技術改良に関する。
突防止用の距離センサとして応用される光学式距離測定
装置に関し、特に、回路の簡素化と高精度化を両立させ
る技術改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】次のような基本構成の光学式距離測定装
置がある。対象物に向けて測距光を投射する送光部と、
対象物からの測距反射光を受光する受光部の光学系セッ
トを備える。送光部は基準発振器の出力により変調駆動
されて、既定通りに変調された測距光を発生する。受光
部の受光信号はＰＬＬ（位相ロックループ）回路により
波形整形され、整形された受光信号と前記基準発振器の
出力信号との位相差が位相差検出回路で検出される。距
離計算手段は、検出された位相差から前記対象物までの
距離を計算する。
置がある。対象物に向けて測距光を投射する送光部と、
対象物からの測距反射光を受光する受光部の光学系セッ
トを備える。送光部は基準発振器の出力により変調駆動
されて、既定通りに変調された測距光を発生する。受光
部の受光信号はＰＬＬ（位相ロックループ）回路により
波形整形され、整形された受光信号と前記基準発振器の
出力信号との位相差が位相差検出回路で検出される。距
離計算手段は、検出された位相差から前記対象物までの
距離を計算する。
【０００３】また高精度で安定な距離測定を実現するた
めに、前記受光部に対して内部参照光を導入するための
内部光学系と、前記送光部に替えて前記内部光学系を前
記基準発振器により適時に駆動する切替手段と、前記内
部光学系を駆動している内部参照モードでの前記位相差
検出回路の出力に基づいて前記距離計算手段を校正する
距離校正手段とを備えている。
めに、前記受光部に対して内部参照光を導入するための
内部光学系と、前記送光部に替えて前記内部光学系を前
記基準発振器により適時に駆動する切替手段と、前記内
部光学系を駆動している内部参照モードでの前記位相差
検出回路の出力に基づいて前記距離計算手段を校正する
距離校正手段とを備えている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前述した構成の従来の
光学式距離測定装置においては、受光部の受光信号を波
形整形する手段としてＰＬＬ回路を用いているが、この
回路方式は小型で安価な装置を実現するのに適してい
る。この回路方式では、受光部の受光信号レベルがある
程度大きいと、ＰＬＬ回路のフィードバックループが設
計通りに機能して、受光信号の位相情報をまったく損な
うことなく正しく波形整形できることを確認できた。
光学式距離測定装置においては、受光部の受光信号を波
形整形する手段としてＰＬＬ回路を用いているが、この
回路方式は小型で安価な装置を実現するのに適してい
る。この回路方式では、受光部の受光信号レベルがある
程度大きいと、ＰＬＬ回路のフィードバックループが設
計通りに機能して、受光信号の位相情報をまったく損な
うことなく正しく波形整形できることを確認できた。
【０００５】しかし受光信号レベルが小さいと、すなわ
ちＰＬＬ回路の入力信号レベルが小さいと、ＰＬＬのフ
ィードバックループが意図通りには機能せず、位相情報
を正しく反映したまま波形整形することができなかっ
た。そのため、受光信号レベルが小さくなる遠距離ゾー
ンの測定が行えず、距離測定範囲が近距離ゾーンに限定
されるという問題があった。
ちＰＬＬ回路の入力信号レベルが小さいと、ＰＬＬのフ
ィードバックループが意図通りには機能せず、位相情報
を正しく反映したまま波形整形することができなかっ
た。そのため、受光信号レベルが小さくなる遠距離ゾー
ンの測定が行えず、距離測定範囲が近距離ゾーンに限定
されるという問題があった。
【０００６】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題を解決
し、受光信号を波形整形するＰＬＬ回路の動作特性を改
善して遠距離ゾーンまで高精度に測定できるようにした
光学式距離測定装置を提供することにある。
もので、その目的とするところは、上記した問題を解決
し、受光信号を波形整形するＰＬＬ回路の動作特性を改
善して遠距離ゾーンまで高精度に測定できるようにした
光学式距離測定装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明に係る光学式距離測定装置は、基本構成と
して、対象物に向けて測距光を投射する送光部と、この
送光部から前記測距光を発生するための変調信号を与え
る基準発振器と、対象物からの測距反射光を受光する受
光部と、この受光部の受光信号を波形整形するためのＰ
ＬＬ回路と、このＰＬＬ回路で波形整形された受光信号
と前記基準発振器の出力信号との位相差を検出する位相
差検出回路と、検出された位相差から前記対象物までの
距離を計算する距離計算手段と、前記受光部に対して内
部参照光を導入するための内部光学系と、前記送光部に
替えて前記内部光学系を前記基準発振器により適時に駆
動する切替手段と、前記内部光学系を駆動している内部
参照モードでの前記位相差検出回路の出力に基づいて前
記距離計算手段を校正する距離校正手段とを備える。
ため、本発明に係る光学式距離測定装置は、基本構成と
して、対象物に向けて測距光を投射する送光部と、この
送光部から前記測距光を発生するための変調信号を与え
る基準発振器と、対象物からの測距反射光を受光する受
光部と、この受光部の受光信号を波形整形するためのＰ
ＬＬ回路と、このＰＬＬ回路で波形整形された受光信号
と前記基準発振器の出力信号との位相差を検出する位相
差検出回路と、検出された位相差から前記対象物までの
距離を計算する距離計算手段と、前記受光部に対して内
部参照光を導入するための内部光学系と、前記送光部に
替えて前記内部光学系を前記基準発振器により適時に駆
動する切替手段と、前記内部光学系を駆動している内部
参照モードでの前記位相差検出回路の出力に基づいて前
記距離計算手段を校正する距離校正手段とを備える。
【０００８】さらに、本発明の特徴的な構成として、前
記内部参照モードにて前記内部光学系から前記受光部に
対して強弱２レベルの内部参照光を選択的に導入するた
めの参照光レベル切替手段と、その２レベルで前記内部
参照モードを実行して前記位相差検出手段のそれぞれの
検出出力に基づいて前記ＰＬＬ回路におけるＶＣＯの電
圧／周波数特性を補正するＰＬＬ特性補正手段とを備え
る。
記内部参照モードにて前記内部光学系から前記受光部に
対して強弱２レベルの内部参照光を選択的に導入するた
めの参照光レベル切替手段と、その２レベルで前記内部
参照モードを実行して前記位相差検出手段のそれぞれの
検出出力に基づいて前記ＰＬＬ回路におけるＶＣＯの電
圧／周波数特性を補正するＰＬＬ特性補正手段とを備え
る。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態による光学
式距離測定装置の概略構成を図１に示している。対象物
１に向けて測距光ａを投射する送光部２と、対象物１か
らの測距反射光ｂを受光する受光部３の光学系セットを
備える。送光部２は基準発振器４の出力により変調駆動
されて、既定通りに変調された測距光ａを発生する。受
光部３の受光信号はアンプ５で増幅され、さらにＰＬＬ
（位相ロックループ）回路６により波形整形される。そ
して、波形整形された受光信号と基準発振器４の出力信
号との位相差が位相差検出回路７で検出される。なおＰ
ＬＬ回路６は、位相比較器６１とローパスフィルタ６２
とＶＣＯ（電圧制御型可変周波数発振器）６３とからな
る周知のフィードバック回路である。
式距離測定装置の概略構成を図１に示している。対象物
１に向けて測距光ａを投射する送光部２と、対象物１か
らの測距反射光ｂを受光する受光部３の光学系セットを
備える。送光部２は基準発振器４の出力により変調駆動
されて、既定通りに変調された測距光ａを発生する。受
光部３の受光信号はアンプ５で増幅され、さらにＰＬＬ
（位相ロックループ）回路６により波形整形される。そ
して、波形整形された受光信号と基準発振器４の出力信
号との位相差が位相差検出回路７で検出される。なおＰ
ＬＬ回路６は、位相比較器６１とローパスフィルタ６２
とＶＣＯ（電圧制御型可変周波数発振器）６３とからな
る周知のフィードバック回路である。
【００１０】また高精度で安定な距離測定を実現するた
めに、受光部３に対して内部参照光を導入するための内
部光学系８と、送光部２に替えて前記内部光学系を前記
基準発振器により適時に駆動する切替回路９を備える。
めに、受光部３に対して内部参照光を導入するための内
部光学系８と、送光部２に替えて前記内部光学系を前記
基準発振器により適時に駆動する切替回路９を備える。
【００１１】この装置の全体を統轄するシーケンス制御
や主要なデータ処理はマイコン１０によって行われる。
マイコン１０は切替回路９を適時に切替制御し、送光部
２から測距光を発生する測距モードと、内部光学系８か
らの内部参照光を受光部３に導入する内部参照モードと
を適時に実行する。測距モードでは前記距離計算手段と
しての処理を実行し、位相差検出回路７の出力信号を読
み込んで対象物１までの距離を計算して、求めた距離を
表示器１１に表示する。また内部参照モードでは前記距
離校正手段としての処理を実行し、位相差検出回路７の
出力に基づいて前記距離計算手段を校正する。
や主要なデータ処理はマイコン１０によって行われる。
マイコン１０は切替回路９を適時に切替制御し、送光部
２から測距光を発生する測距モードと、内部光学系８か
らの内部参照光を受光部３に導入する内部参照モードと
を適時に実行する。測距モードでは前記距離計算手段と
しての処理を実行し、位相差検出回路７の出力信号を読
み込んで対象物１までの距離を計算して、求めた距離を
表示器１１に表示する。また内部参照モードでは前記距
離校正手段としての処理を実行し、位相差検出回路７の
出力に基づいて前記距離計算手段を校正する。
【００１２】本発明では次のような特徴的な構成と機能
を備えている。前記内部参照モードにて前記内部光学系
８から前記受光部３に対して強弱２レベルの内部参照光
を選択的に導入するための参照光レベル切替手段と、そ
の２レベルで前記内部参照モードを実行して位相差検出
回路７のそれぞれの検出出力に基づいてＰＬＬ回路６に
おけるＶＣＯ６３の電圧／周波数特性を補正するＰＬＬ
特性補正手段とを備える。参照光レベル切替手段の機能
はマイコン１０が切替回路９を切り替えることで具現化
する。ＰＬＬ特性補正手段の機能はマイコン１０が適宜
なＶＣＯ補正信号Ｖｃを生成することで具現化する。マ
イコン１０が生成したＶＣＯ補正信号Ｖｃは不揮発性メ
モリ１２に保存される。
を備えている。前記内部参照モードにて前記内部光学系
８から前記受光部３に対して強弱２レベルの内部参照光
を選択的に導入するための参照光レベル切替手段と、そ
の２レベルで前記内部参照モードを実行して位相差検出
回路７のそれぞれの検出出力に基づいてＰＬＬ回路６に
おけるＶＣＯ６３の電圧／周波数特性を補正するＰＬＬ
特性補正手段とを備える。参照光レベル切替手段の機能
はマイコン１０が切替回路９を切り替えることで具現化
する。ＰＬＬ特性補正手段の機能はマイコン１０が適宜
なＶＣＯ補正信号Ｖｃを生成することで具現化する。マ
イコン１０が生成したＶＣＯ補正信号Ｖｃは不揮発性メ
モリ１２に保存される。
【００１３】マイコン１０による前述の参照光レベル切
替手段・ＰＬＬ特性補正手段・距離計算手段などの実行
手順を図２のフローチャートに示している。
替手段・ＰＬＬ特性補正手段・距離計算手段などの実行
手順を図２のフローチャートに示している。
【００１４】電源投入時のイニシャル処理の１つとし
て、不揮発性メモリ１２に保存してあるＶＣＯ補正値Ｖ
ｃを読み取ってＰＬＬ回路６のＶＣＯ６３に与える（ス
テップ１００）。次に切替回路９を制御して内部光学系
８から受光部３に向けて強い内部参照光を出力させる
（ステップ１０１）。その状態にて、位相差検出回路７
から位相差φ１を読み取る（ステップ１０２）。次に切
替回路９を制御して内部光学系８から受光部３に向けて
弱い内部参照光を出力させ、その状態にて位相差検出回
路７から位相差φ２を読み取る（ステップ１０３→１０
４）。
て、不揮発性メモリ１２に保存してあるＶＣＯ補正値Ｖ
ｃを読み取ってＰＬＬ回路６のＶＣＯ６３に与える（ス
テップ１００）。次に切替回路９を制御して内部光学系
８から受光部３に向けて強い内部参照光を出力させる
（ステップ１０１）。その状態にて、位相差検出回路７
から位相差φ１を読み取る（ステップ１０２）。次に切
替回路９を制御して内部光学系８から受光部３に向けて
弱い内部参照光を出力させ、その状態にて位相差検出回
路７から位相差φ２を読み取る（ステップ１０３→１０
４）。
【００１５】次のステップ１０５では、強レベル参照光
時の位相差φ１と弱レベル参照光時の位相差φ２との差
を計算し、その差（φ２−φ１）の絶対値が基準値φｅ
を超えているか否かを判定する。差の絶対値が基準値φ
ｅに収まっていれば現在のＶＣＯ補正値Ｖｃが適正であ
ると判断し、ステップ２００以降の距離測定モードに進
む。つまり、切替回路９を切り替えて送光部２から測距
光ａを出力させ（ステップ２００）、その状態で位相差
検出回路７から位相差φ３を読み取り（ステップ２０
１）、位相差φ３に基づいて距離を計算して表示する
（ステップ２０２）。内部参照モードの実行タイミング
になるまではステップ２０１→２０２→２０３を繰り返
して距離を測定し、所定のタイミングになったならばス
テップ２０３から１０１に戻る。
時の位相差φ１と弱レベル参照光時の位相差φ２との差
を計算し、その差（φ２−φ１）の絶対値が基準値φｅ
を超えているか否かを判定する。差の絶対値が基準値φ
ｅに収まっていれば現在のＶＣＯ補正値Ｖｃが適正であ
ると判断し、ステップ２００以降の距離測定モードに進
む。つまり、切替回路９を切り替えて送光部２から測距
光ａを出力させ（ステップ２００）、その状態で位相差
検出回路７から位相差φ３を読み取り（ステップ２０
１）、位相差φ３に基づいて距離を計算して表示する
（ステップ２０２）。内部参照モードの実行タイミング
になるまではステップ２０１→２０２→２０３を繰り返
して距離を測定し、所定のタイミングになったならばス
テップ２０３から１０１に戻る。
【００１６】強レベル参照光時の位相差φ１と弱レベル
参照光時の位相差φ２との差が基準値φｅを超えていた
ならば、ステップ１０５から３００に進み、φ１とφ２
に基づいて新たなＶＣＯ補正値Ｖｃを計算する｛Ｖｃ←
Ｖｃ＋β（φ２−φ１）｝。次のステップ３０１では、
更新したＶＣＯ補正値ＶｃをＰＬＬ回路６のＶＣＯ６３
に与える。これでＶＣＯ６３の電圧／周波数特性が変化
する。またステップ３０２では、更新したＶＣＯ補正値
Ｖｃを不揮発性メモリ１２に更新記憶する。この後はス
テップ２００以降の前述した距離測定モードに進む。
参照光時の位相差φ２との差が基準値φｅを超えていた
ならば、ステップ１０５から３００に進み、φ１とφ２
に基づいて新たなＶＣＯ補正値Ｖｃを計算する｛Ｖｃ←
Ｖｃ＋β（φ２−φ１）｝。次のステップ３０１では、
更新したＶＣＯ補正値ＶｃをＰＬＬ回路６のＶＣＯ６３
に与える。これでＶＣＯ６３の電圧／周波数特性が変化
する。またステップ３０２では、更新したＶＣＯ補正値
Ｖｃを不揮発性メモリ１２に更新記憶する。この後はス
テップ２００以降の前述した距離測定モードに進む。
【００１７】上記した補正値更新を実行することによ
り、例えば図３（Ａ）に示すような特性が同図（Ｂ）に
示すような特性に改善される。すなわち、何等かの原因
によりＶＣＯ補正値Ｖｃがずれてしまうと、強レベルの
位相差φ１はさほど問題がないが弱レベルの位相差φ２
が大きくずれてしまい、両位相差の差が大きくなる。こ
のようになると、受光レベルが強の付近になる近距離ゾ
ーンしか測定が行えなくなる。係る場合に、ステップ３
００以降の補正値更新処理を行うと、両位相差φ１，φ
２の差が小さくなり、同図（Ｂ）に示すように、受光レ
ベルの弱い領域から強い領域にわたって位相差が一定の
範囲内に収まる。よって、検出限界が遠距離ゾーンまで
延びる。
り、例えば図３（Ａ）に示すような特性が同図（Ｂ）に
示すような特性に改善される。すなわち、何等かの原因
によりＶＣＯ補正値Ｖｃがずれてしまうと、強レベルの
位相差φ１はさほど問題がないが弱レベルの位相差φ２
が大きくずれてしまい、両位相差の差が大きくなる。こ
のようになると、受光レベルが強の付近になる近距離ゾ
ーンしか測定が行えなくなる。係る場合に、ステップ３
００以降の補正値更新処理を行うと、両位相差φ１，φ
２の差が小さくなり、同図（Ｂ）に示すように、受光レ
ベルの弱い領域から強い領域にわたって位相差が一定の
範囲内に収まる。よって、検出限界が遠距離ゾーンまで
延びる。
【００１８】なお、上記したフローチャートでは、ステ
ップ３００〜３０２の処理を実行後、ステップ２００に
飛ぶようにしたが、本発明はこれに限ることはなく、例
えばステップ１０１に戻り再度位相差の検査を行うよう
にしてもよい。
ップ３００〜３０２の処理を実行後、ステップ２００に
飛ぶようにしたが、本発明はこれに限ることはなく、例
えばステップ１０１に戻り再度位相差の検査を行うよう
にしてもよい。
【００１９】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、受光信号をＰＬＬ回路によって波形整形する回路
方式の光学式距離測定装置において、内部光学系から受
光部に対して強レベル参照光を与えた時の位相差と、弱
レベル参照光を与えた時の位相差とを求めてその差を計
算し、その差に基づいて新たなＶＣＯ補正値を求めて、
その補正値に従ってＰＬＬ回路におけるＶＣＯの電圧／
周波数特性を可変制御する構成としたので、受光信号レ
ベルが小さい領域でもその位相情報を損なうことなくＰ
ＬＬ回路によって良好に波形整形できる。したがって、
大きなレベルの受光信号が得られる近距離ゾーンだけで
はなく、受光レベルが低下する遠距離ゾーンまで高精度
に測定できる。
れば、受光信号をＰＬＬ回路によって波形整形する回路
方式の光学式距離測定装置において、内部光学系から受
光部に対して強レベル参照光を与えた時の位相差と、弱
レベル参照光を与えた時の位相差とを求めてその差を計
算し、その差に基づいて新たなＶＣＯ補正値を求めて、
その補正値に従ってＰＬＬ回路におけるＶＣＯの電圧／
周波数特性を可変制御する構成としたので、受光信号レ
ベルが小さい領域でもその位相情報を損なうことなくＰ
ＬＬ回路によって良好に波形整形できる。したがって、
大きなレベルの受光信号が得られる近距離ゾーンだけで
はなく、受光レベルが低下する遠距離ゾーンまで高精度
に測定できる。
【図１】本発明の一実施の形態による光学式距離測定装
置の概略構成ブロック図である。
置の概略構成ブロック図である。
【図２】同上装置の主要動作の実行手順を示すフローチ
ャートである。
ャートである。
【図３】作用を説明する図である。
１ 対象物 ２ 送光部 ３ 受光部 ４ 基準発振器 ５ アンプ ６ ＰＬＬ回路 ６１ 位相比較器 ６２ ローパスフィルタ ６３ ＶＣＯ ７ 位相差検出回路 ８ 内部光学系 ９ 切替回路 １０ マイコン（距離計算手段，ＰＬＬ特性補正手段） １１ 距離表示器 １２ 不揮発性メモリ
Claims (1)
- 【請求項１】 対象物に向けて測距光を投射する送光部
と、この送光部から前記測距光を発生するための変調信
号を与える基準発振器と、対象物からの測距反射光を受
光する受光部と、この受光部の受光信号を波形整形する
ためのＰＬＬ回路と、このＰＬＬ回路で波形整形された
受光信号と前記基準発振器の出力信号との位相差を検出
する位相差検出回路と、検出された位相差から前記対象
物までの距離を計算する距離計算手段と、前記受光部に
対して内部参照光を導入するための内部光学系と、前記
送光部に替えて前記内部光学系を前記基準発振器により
適時に駆動する切替手段と、前記内部光学系を駆動して
いる内部参照モードでの前記位相差検出回路の出力に基
づいて前記距離計算手段を校正する距離校正手段とを備
えた光学式距離測定装置において、 前記内部参照モードにて前記内部光学系から前記受光部
に対して強弱２レベルの内部参照光を選択的に導入する
ための参照光レベル切替手段と、 その２レベルで前記内部参照モードを実行して前記位相
差検出手段のそれぞれの検出出力に基づいて前記ＰＬＬ
回路におけるＶＣＯの電圧／周波数特性を補正するＰＬ
Ｌ特性補正手段とを備えたことを特徴とする光学式距離
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9215870A JPH1144761A (ja) | 1997-07-25 | 1997-07-25 | 光学式距離測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9215870A JPH1144761A (ja) | 1997-07-25 | 1997-07-25 | 光学式距離測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1144761A true JPH1144761A (ja) | 1999-02-16 |
Family
ID=16679636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9215870A Pending JPH1144761A (ja) | 1997-07-25 | 1997-07-25 | 光学式距離測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1144761A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006105605A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | Sunx Ltd | 距離センサ |
| CN100419456C (zh) * | 2003-01-16 | 2008-09-17 | 株式会社拓普康 | 光波距离计 |
| JP2009085939A (ja) * | 2007-08-03 | 2009-04-23 | Valeo Vision | 車両による視界影響現象の検出方法及び装置、並びにそのコンピュータプログラム |
| JP2012108016A (ja) * | 2010-11-18 | 2012-06-07 | Seiko Epson Corp | 光学式位置検出装置および位置検出機能付き機器 |
| JP2012202944A (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-22 | Topcon Corp | 光波距離計 |
-
1997
- 1997-07-25 JP JP9215870A patent/JPH1144761A/ja active Pending
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