JPH11344735A - Temperature correction device - Google Patents
Temperature correction deviceInfo
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- JPH11344735A JPH11344735A JP10152831A JP15283198A JPH11344735A JP H11344735 A JPH11344735 A JP H11344735A JP 10152831 A JP10152831 A JP 10152831A JP 15283198 A JP15283198 A JP 15283198A JP H11344735 A JPH11344735 A JP H11344735A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、カメラの測距装置
等の急激な温度変化による影響を抑えるための温度補正
装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature compensator for suppressing the influence of a rapid temperature change of a camera distance measuring device or the like.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来より、各種装置において温度変化に
よる影響を抑えるための温度補正装置が利用されてい
る。例えば、カメラの測距装置では、半導体光センサア
レイでなるＡＦセンサを使用しているが、このＡＦセン
サが温度特性を持つため温度によって出力が変化し、ま
た、それらと一定の位置関係を保つべき測距用レンズや
それを保持する鏡枠も温度によって膨張収縮して上記一
定の位置関係も変化してしまい、正確な測距を行えなく
なる。2. Description of the Related Art Conventionally, various devices have used a temperature compensating device for suppressing the influence of a temperature change. For example, in a camera distance measuring device, an AF sensor composed of a semiconductor optical sensor array is used. Since the AF sensor has a temperature characteristic, the output changes depending on the temperature, and a fixed positional relationship with the AF sensor is maintained. The distance measuring lens and the lens frame holding the lens should expand and contract due to the temperature, and the above-mentioned fixed positional relationship also changes, so that accurate distance measuring cannot be performed.
【０００３】そこで、米国特許第４，６５０，３０９号
明細書に開示されるように、測温センサによって測温し
た結果に応じて測距装置の出力データを補正する温度補
正装置が利用されることになる。Therefore, as disclosed in US Pat. No. 4,650,309, there is used a temperature compensating device for compensating output data of a distance measuring device in accordance with the result of temperature measurement by a temperature measuring sensor. Will be.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】このような温度補正装
置に用いられる測温センサは、実際の制御対象の温度を
測定することができれば良いが、その取り付けスペース
の関係から実際の制御対象から離間した位置に設けられ
たり、また制御対象の近くに測温センサを設置できたと
しても、両者の温度に対する過渡特性に差異があるた
め、制御対象の周囲温度を測定することしかできない場
合がある。The temperature measuring sensor used in such a temperature compensating device only needs to be able to measure the temperature of the actual controlled object, but it is distant from the actual controlled object due to its mounting space. Even if the temperature measurement sensor can be installed near the controlled object, or the temperature measurement sensor can be installed near the controlled object, there is a difference in the transient characteristics with respect to both temperatures, so that only the ambient temperature of the controlled object can be measured.
【０００５】このような場合では、図７の（Ｃ）に示す
ように、制御対象（例えばＡＦセンサ）の温度ＴAFは、
測温センサで求められる制御対象の周囲温度ＴSEN の変
化に遅れをもって追随するので、例えば冬に暖房された
室内から戸外に出たときのように、温度が急激に変化し
たようなときには、補正誤差が生じてしまう。即ち、測
温センサの測温値自体が変化したとしても制御対象（Ａ
Ｆセンサ）の温度ＴAFはそれよりも遅延して、つまり過
渡特性をもって変化するため、測温センサの測温値に基
づいて補正を行ってしまうと、ＡＦセンサの温度と異な
る温度値に基づいた補正であるため、正確な温度補正と
はならない。本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
で、環境によらないで正確な温度補正ができる温度補正
装置を提供することを目的とする。In such a case, as shown in FIG. 7C, the temperature T AF of the control target (for example, the AF sensor) is
Since it follows with a delay the change in the ambient temperature T SEN of the controlled object determined by the temperature measurement sensor, the correction is performed when the temperature changes suddenly, for example, when the temperature goes out of a heated room in the outdoors. An error occurs. That is, even if the temperature measurement value itself of the temperature sensor changes, the control target (A
Since the temperature T AF of the F sensor is delayed later, that is, changes with a transient characteristic, if the correction is performed based on the temperature measurement value of the temperature measurement sensor, the temperature T AF will be based on a temperature value different from the temperature of the AF sensor. The temperature correction is not accurate. The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a temperature correction device capable of performing accurate temperature correction regardless of the environment.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明による温度補正装置は、制御対象の周囲温
度を測定する測温センサと、上記制御対象の周囲温度の
変化に過渡特性をもって温度が追随変化する制御対象の
温度を、上記測温センサの出力データを基に算出する演
算手段と、上記演算手段の出力に基いて、上記制御対象
の出力データ又は上記制御対象を駆動する制御データを
温度補正する温度補正手段と、を備えることを特徴とす
る。In order to achieve the above object, a temperature compensating device according to the present invention comprises a temperature measuring sensor for measuring an ambient temperature of a controlled object, and a transient characteristic for a change in the ambient temperature of the controlled object. Calculating means for calculating the temperature of the controlled object whose temperature changes in accordance with the output data of the temperature measuring sensor; and driving the output data of the controlled object or the controlled object based on the output of the calculating means. Temperature correction means for correcting the temperature of the control data.
【０００７】即ち、本発明の温度補正装置によれば、演
算手段によって、制御対象の周囲温度の変化に過渡特性
をもって温度が追随変化する制御対象の温度を、制御対
象の周囲温度を測定する測温センサの出力データを基に
算出し、温度補正手段は、この演算手段の出力に基い
て、上記制御対象の出力データ又は上記制御対象を駆動
する制御データを温度補正する。That is, according to the temperature correction apparatus of the present invention, the arithmetic means measures the temperature of the controlled object whose temperature follows the change of the ambient temperature of the controlled object with a transient characteristic by measuring the ambient temperature of the controlled object. The temperature is calculated based on the output data of the temperature sensor, and the temperature correction unit corrects the temperature of the output data of the control target or the control data for driving the control target based on the output of the calculation unit.
【０００８】また、本発明による温度補正装置は、所定
時間毎に測温を行う測温センサと、上記測温センサのデ
ータを複数回分記憶する記憶手段と、上記記憶手段に記
憶された上記複数回分の測温センサのデータを用いて、
制御対象の温度データを求める演算手段と、上記演算手
段の出力に基いて、上記制御対象の出力データ又は上記
制御対象を駆動する制御データを温度補正する温度補正
手段と、を備えることを特徴とする。The temperature correction device according to the present invention includes a temperature sensor for measuring a temperature at predetermined time intervals, a storage means for storing data of the temperature sensor for a plurality of times, and a plurality of data stored in the storage means. Using the data of the temperature measurement sensor for the
A calculating means for obtaining temperature data of the control target; and a temperature correcting means for correcting the output data of the control target or control data for driving the control target based on an output of the calculating means. I do.
【０００９】即ち、本発明の温度補正装置によれば、所
定時間毎に測温を行う測温センサのデータを記憶手段に
複数回分記憶しておき、演算手段によって、この記憶手
段に記憶された複数回分の測温センサのデータを用いて
制御対象の温度データを求める。そして、温度補正手段
は、この演算手段の出力に基いて、上記制御対象の出力
データ又は上記制御対象を駆動する制御データを温度補
正する。That is, according to the temperature correction apparatus of the present invention, the data of the temperature sensor for measuring the temperature at predetermined time intervals is stored in the storage means a plurality of times, and the data is stored in the storage means by the arithmetic means. The temperature data of the control target is obtained using the data of the temperature measurement sensors for a plurality of times. The temperature correction means corrects the temperature of the output data of the control target or the control data for driving the control target based on the output of the calculation means.
【００１０】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。 ［第１の実施の形態］本発明の第１の実施の形態は、温
度補正装置を、オートフォーカスカメラの測距装置にお
けるＡＦセンサに対して適用した場合の例である。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. [First Embodiment] A first embodiment of the present invention is an example in which a temperature correction device is applied to an AF sensor in a distance measuring device of an autofocus camera.
【００１１】即ち、図１の（Ａ）は、本発明の第１の実
施の形態にかかる温度補正装置の適用されたカメラのブ
ロック構成図である。同図において、制御部１０は、当
該カメラ全体を制御すると共に、温度補正装置における
演算手段及び温度補正手段として機能するＣＰＵであ
る。That is, FIG. 1A is a block diagram of a camera to which the temperature correction device according to the first embodiment of the present invention is applied. In FIG. 1, a control unit 10 is a CPU that controls the entire camera and functions as an arithmetic unit and a temperature correction unit in the temperature correction device.
【００１２】操作部１２は、レリーズ釦やパワースイッ
チ、巻戻し釦等を含む各種スイッチである。測距装置１
４は、被写体までの距離を測定するものであり、測光装
置１６は、被写体輝度を測定するものである。The operation unit 12 is various switches including a release button, a power switch, a rewind button, and the like. Distance measuring device 1
Numeral 4 is for measuring the distance to the subject, and the photometric device 16 is for measuring the brightness of the subject.
【００１３】レンズ駆動装置１８は、撮影用レンズを駆
動して被写体にピントを合わせるものであり、その駆動
量は、測距装置１４で測定された被写体距離に基づいて
制御部１０によって設定される。フィルム給送装置２０
は、銀塩フィルムを収納したフィルムパトローネがパト
ローネ室にセットされた際のフィルムのオートローディ
ングや、露光後の一駒巻上げ、全駒撮影後の巻戻し等の
フィルムの駆動を行うものである。The lens driving device 18 drives a photographing lens to focus on a subject, and the amount of driving is set by the control unit 10 based on the subject distance measured by the distance measuring device 14. . Film feeder 20
Is used to drive the film such as automatic loading of a film when a film cartridge containing a silver halide film is set in the cartridge chamber, winding one frame after exposure, and rewinding after photographing all the frames.
【００１４】ストロボ装置２２は、上記測光装置１６に
よる測光結果に基づいて必要に応じて発光するものであ
る。表示装置２４は、当該カメラの各種状態や撮影枚数
を表示するための液晶ディスプレィ等である。The strobe device 22 emits light as required based on the photometric result of the photometric device 16. The display device 24 is a liquid crystal display or the like for displaying various states of the camera and the number of shots.
【００１５】また、測温装置２６は、図示しない測温セ
ンサを含み、カメラ内部の環境温度を測定するものであ
り、記憶装置２８は、上記測温装置２６によって測定さ
れた複数回分の測温値を記憶する記憶手段として機能す
るＲＡＭやＥＥＰＲＯＭ等のメモリである。また、ＥＥ
ＰＲＯＭには、様々な調整値等も記憶されている。そし
て、計時装置３０は、計時手段としてのタイマである。The temperature measuring device 26 includes a temperature measuring sensor (not shown) and measures the environmental temperature inside the camera. The storage device 28 stores a plurality of temperature measurements measured by the temperature measuring device 26. It is a memory such as a RAM or an EEPROM that functions as a storage unit for storing a value. Also, EE
Various adjustment values and the like are also stored in the PROM. The clock device 30 is a timer as clock means.
【００１６】このような構成のカメラにおいては、制御
部１０は、図２のジェネラルフローチャートに示すよう
に動作する。なお、この制御部１０の動作プログラム
は、当該制御部１０内に設けた図示しないＲＯＭに記憶
したおいても良いし、上記記憶装置２８に記憶しておく
ものであっても良い。In the camera having such a configuration, the control section 10 operates as shown in the general flowchart of FIG. The operation program of the control unit 10 may be stored in a ROM (not shown) provided in the control unit 10 or may be stored in the storage device 28.
【００１７】操作部１２の図示しないパーワースイッチ
のオンに応じて図２のフローチャートに従った動作がス
タートし、まず、記憶装置２８から必要な値を読み出し
たり、各部の初期設定を行う（ステップＳ１０）。その
後、測温装置２６によって制御対象の周囲温度としての
カメラ内部の環境温度を測定し（ステップＳ１２）、そ
の測温値ＴSEN を、制御部１０内又は記憶装置２８に設
けたＴ0 レジスタ及びＴ1 レジスタにセットして（ステ
ップＳ１４）、計時装置３０に設けた測温間隔計時用の
タイマ１をスタートする（ステップＳ１６）。なおここ
で、Ｔ0 レジスタは前回の測温値を保持するためのもの
であり、Ｔ1 レジスタは今回の測温値を保持するための
ものである。When the power switch (not shown) of the operation unit 12 is turned on, the operation according to the flowchart of FIG. 2 is started. First, necessary values are read from the storage device 28, and initial setting of each unit is performed (step S10). ). Then, to measure the camera internal environmental temperature as the ambient temperature of the controlled object by temperature measuring device 26 (step S12), the the temperature measuring values T SEN, T 0 registers and provided to the control unit 10 or in the storage device 28 It is set to T 1 register (step S14), and starts a timer 1 for measuring the temperature interval timing provided to a timing device 30 (step S16). Note here, T 0 registers are used to hold the previous temperature measurement values, T 1 register is used to hold the current temperature measurement value.
【００１８】次に、測温データの更新処理を行う（ステ
ップＳ１８）。これは、図３に示すようにして行われる
ものであり、その詳細は後述する。その後、操作部１２
の図示しないパーワースイッチがオンしているかどうか
判別し（ステップＳ２０）、それがオフされた場合に
は、処理を終了する。Next, the temperature measurement data is updated (step S18). This is performed as shown in FIG. 3, and details thereof will be described later. Then, the operation unit 12
It is determined whether or not the power switch (not shown) is turned on (step S20), and if it is turned off, the process ends.
【００１９】これに対して、パーワースイッチがオンし
ている場合には、操作部１２の図示しないレリーズ釦が
押下されたかどうか判別し（ステップＳ２２）、レリー
ズ釦が押下された場合には、露出処理を行う（ステップ
Ｓ２４）。この露出処理は、図４の（Ａ）に示すように
して行われるものであり、その詳細は後述する。On the other hand, when the power switch is on, it is determined whether or not a release button (not shown) of the operation unit 12 has been pressed (step S22). Processing is performed (step S24). This exposure processing is performed as shown in FIG. 4A, and the details will be described later.
【００２０】この露出処理の終了後、あるいは上記ステ
ップＳ２２においてレリーズ釦が押下されなかったと判
断した場合には、次に、カメラの本体の裏蓋（ＩＸ２４
０カートリッジフィルムを使用するカメラの場合はカー
トリッジ収納室のカートリッジカバー）が開状態から閉
状態に変化したかどうか判別する（ステップＳ２６）。
そして、裏蓋が開状態から閉状態に変化した場合には、
フィルム給送装置２０によりフィルムを一駒目の位置ま
で空送りする（ステップＳ２８）。After the end of the exposure process or when it is determined in step S22 that the release button has not been pressed, the camera body back cover (IX24)
In the case of a camera using a 0 cartridge film, it is determined whether or not the cartridge cover of the cartridge storage chamber has changed from the open state to the closed state (step S26).
And when the back lid changes from the open state to the closed state,
The film is fed by the film feeder 20 to the position of the first frame (step S28).
【００２１】このフィルム空送りの後、あるいは上記ス
テップＳ２６で裏蓋が開状態から閉状態に変化していな
いと判別された場合には、次に、操作部１２の図示しな
い巻戻し釦が操作されたかどうか判別する（ステップＳ
３０）。巻戻し釦が操作された場合には、フィルムの巻
戻しを行う（ステップＳ３２）。After this empty film feed, or if it is determined in step S26 that the back cover has not changed from the open state to the closed state, then the rewind button (not shown) of the operation unit 12 is operated. (Step S)
30). If the rewind button has been operated, the film is rewound (step S32).
【００２２】このフィルムの巻戻しの後、あるいは上記
ステップＳ３０で巻戻し釦が操作されていないと判別さ
れた場合には、次に、操作部１２のそれ以外の図示しな
い各種スイッチの何れかが操作されたかどうか判別する
（ステップＳ３４）。そして、何れかのスイッチが操作
された場合には、その操作に応じた設定処理を行った後
（ステップＳ３６）、上記ステップＳ１８に戻り、ま
た、何れのスイッチの操作もなされなかった場合にも、
上記ステップＳ１８に戻る。After rewinding the film or when it is determined in step S30 that the rewind button has not been operated, one of the various switches (not shown) of the operation unit 12 is then operated. It is determined whether the operation has been performed (step S34). When any switch is operated, the setting process is performed in accordance with the operation (step S36), and the process returns to step S18. Also, when any switch is not operated, ,
The process returns to step S18.
【００２３】上記ステップＳ１８における測温データ更
新処理は、図３に示すように、まず、上記ステップＳ１
６でスタートしたタイマ１の計時時間が第１の所定時間
ｔ1以上となったかどうか判別する（ステップＳ４
０）。そして、まだ第１の所定時間ｔ1 に達していなと
判断されたときには、該測温データ更新処理を終了し
て、上位のルーチンに戻る。つまり、第１の所定時間ｔ
1 毎に、以下のような実際の測温データの更新のための
処理が行われる。なお、上記第１の所定時間ｔ1 として
は、あまり短い時間だと温度変化が検出しにくくなるの
で、例えば数秒乃至数十秒の時間に設定される。As shown in FIG. 3, the temperature measurement data updating process in step S18 is performed first in step S1.
It is determined whether the time counted by the timer 1 started in Step 6 is equal to or longer than a first predetermined time t1 (Step S4).
0). Then, when it is determined that the first predetermined time t 1 has not yet been reached, the temperature measurement data update processing ends, and the routine returns to the higher-level routine. That is, the first predetermined time t
For each processing for updating the actual temperature measurement data as follows is performed. It should be noted that the first predetermined time t 1 is set to, for example, several seconds to several tens of seconds, since it is difficult to detect a temperature change if the time is too short.
【００２４】上記タイマ１の計時時間が第１の所定時間
ｔ1 以上となったならば、まず、Ｔ1 レジスタに保持さ
れている測温値をＴ0 レジスタにセットして（ステップ
Ｓ４２）、その後、測温装置２６によってカメラ内部の
環境温度を測定し（ステップＳ４４）、その測温値Ｔ
SEN を、Ｔ1 レジスタにセットする（ステップＳ４
６）。そして、温度の変化率｜ｄＴ／ｄｔ｜を算出し
（ステップＳ４８）、それが所定の変化率Ａ以上である
かどうか、つまり予め決められた範囲以上に温度が変化
したかどうか判別する（ステップＳ５０）。If the time measured by the timer 1 is equal to or longer than the first predetermined time t 1 , first, the temperature measurement value held in the T 1 register is set in the T 0 register (step S 42). Thereafter, the temperature inside the camera is measured by the temperature measuring device 26 (step S44), and the measured temperature T
The SEN, is set to T 1 register (step S4
6). Then, the temperature change rate | dT / dt | is calculated (step S48), and it is determined whether the temperature change rate is equal to or greater than a predetermined change rate A, that is, whether the temperature has changed beyond a predetermined range (step S48). S50).
【００２５】温度の変化率｜ｄＴ／ｄｔ｜が所定の変化
率Ａ以上でない場合には、次に、｜ｄＴ／ｄｔ｜がＡ以
上となってからの時間を計時するための計時装置３０に
設けた図示しないタイマ２による計時時間が第２の所定
時間ｔ2 以上となったかどうか判断する（ステップＳ５
２）。この第２の所定時間ｔ2 は、補正しようとする制
御対象（本実施の形態ではＡＦセンサ）の環境温度に対
する温度追随性に基づいて設定される。即ち、制御対象
が変化後の環境温度に等しくなるまで、つまり平衡状態
となるまでの時間に相当する値が設定される。If the rate of change of temperature | dT / dt | is not equal to or greater than the predetermined rate of change A, then the timer 30 for measuring the time since | dT / dt | It is determined whether the time measured by the provided timer 2 (not shown) is equal to or longer than a second predetermined time t2 (step S5).
2). The second predetermined time t 2 (in the present embodiment AF sensor) controlled object to be corrected is set on the basis of the temperature followability of the environment temperature. That is, a value corresponding to the time until the controlled object becomes equal to the environmental temperature after the change, that is, the time until the state of equilibrium is set, is set.
【００２６】ここで、上記タイマ２は上記ステップＳ１
０での所期設定時にリセットされており、且つ、パワー
オン後に一度も上記温度変化率｜ｄＴ／ｄｔ｜が所定の
変化率Ａ以上となっていない場合には計時を開始してい
ないので、このタイマ２による計時時間は上記第２の所
定時間ｔ2 以上とはならない。従って、この場合には、
次に、制御部１０内部又は記憶装置２８に設けた変化率
大フラグＦをクリアし（ステップＳ５４）、上記タイマ
１をリスタートさせて（ステップＳ５６）、上位のルー
チンに戻る。Here, the timer 2 is set in the step S1.
If the temperature change rate | dT / dt | has not become equal to or greater than the predetermined change rate A even after power-on, the timer has not been started. time measured by the timer 2 is not a said second predetermined time t 2 or more. Therefore, in this case,
Next, the large change rate flag F provided inside the control unit 10 or in the storage device 28 is cleared (step S54), the timer 1 is restarted (step S56), and the process returns to the upper routine.
【００２７】そして、例えば冬に暖房された室内から戸
外に出たときのように、温度が急激に変化した場合に
は、上記ステップＳ５０において、温度の変化率｜ｄＴ
／ｄｔ｜が所定の変化率Ａ以上となったと判断され、こ
の場合には、次に、上記変化率大フラグＦの状態を判別
する（ステップＳ５８）。If the temperature changes abruptly, for example, when the vehicle goes out of the room heated in winter, the temperature change rate | dT is determined in step S50.
/ Dt | is equal to or greater than the predetermined change rate A. In this case, next, the state of the large change rate flag F is determined (step S58).
【００２８】パワーオン後にはじめて上記所定の変化率
Ａ以上となった場合には、この変化率大フラグＦはまだ
クリアされている。よって、この場合には、次に、上記
タイマ２の計時をスタートさせ（ステップＳ６０）、Ｔ
0 レジスタにセットされている前回の測温値を制御部１
０内又は記憶装置２８に設けたＴR レジスタにセットす
る（ステップＳ６２）。そして、上記変化率大フラグＦ
をセット（「１」をセット）して（ステップＳ６４）、
上記ステップＳ５６に進んでタイマ１をリスタートさせ
た後、上位のルーチンに戻る。When the rate of change becomes equal to or higher than the predetermined rate of change A for the first time after power-on, the large rate of change flag F is still cleared. Therefore, in this case, the timer 2 starts counting time (step S60).
0 The previous temperature measurement value set in the register
Is set to T R register provided in 0 or in the storage device 28 (step S62). Then, the large change rate flag F
Is set ("1" is set) (step S64),
After proceeding to step S56 to restart the timer 1, the process returns to the upper routine.
【００２９】その後のタイマ１による第１の所定時間ｔ
1 計時後、再び上記ステップＳ５０で温度の変化率｜ｄ
Ｔ／ｄｔ｜が所定の変化率Ａ以上となったと判断された
場合には、ステップＳ５８で変化率大フラグＦがセット
されていると判断されるので、この場合には、ステップ
Ｓ５６へ進んでタイマ１をリスタートさせた後、上位の
ルーチンに戻る。つまり、タイマ２の計時を継続すると
共に、所定の変化率Ａ以上となる直前の測温値をＴR レ
ジスタに保持しておく。The first predetermined time t by the timer 1 thereafter
After one time measurement, the temperature change rate | d is again determined in step S50.
If it is determined that T / dt | is equal to or greater than the predetermined change rate A, it is determined in step S58 that the large change rate flag F has been set. In this case, the process proceeds to step S56. After restarting the timer 1, the process returns to the upper routine. In other words, with continuing counting of the timer 2, holds the temperature measurement value immediately before the predetermined change rate A above T R register.
【００３０】そして、測温装置２６の測温値ＴSEN が変
化後の環境温度の値に徐々に近づき、ほぼ平衡状態にな
ると、その変化率｜ｄＴ／ｄｔ｜が上記ステップＳ５０
で所定の変化率Ａよりも小さくなったと判断されること
になる。この場合には、上記ステップＳ５２において、
タイマ２の計時時間が上記第２の所定時間ｔ2 以上とな
ったかどうか判断され、上記第２の所定時間ｔ2 以上と
ならない場合には、前述したように、変化率大フラグＦ
をリセットし（ステップＳ５４）、上記タイマ１をリス
タートさせて（ステップＳ５６）、上位のルーチンに戻
る。When the temperature value T SEN of the temperature measuring device 26 gradually approaches the value of the environmental temperature after the change and becomes substantially equilibrium, the rate of change | dT / dt |
Is determined to be smaller than the predetermined change rate A. In this case, in step S52,
Clocking time of the timer 2 is determined whether or not a said second predetermined time t 2 or more, the when the second does not become the predetermined time t 2 or more, as described above, the change rate larger flag F
Is reset (step S54), the timer 1 is restarted (step S56), and the process returns to the upper routine.
【００３１】これに対して、タイマ２の計時時間が上記
第２の所定時間ｔ2 以上となっている場合には、そのタ
イマ２の計時時間を上記第２の所定時間ｔ2 に設定した
後（ステップＳ６６）、上記ステップＳ５４に進むよう
にしている。[0031] On the contrary, when the time measured by the timer 2 becomes the second predetermined time t 2 or more, after setting the count time of the timer 2 to a predetermined time t 2 of the second (Step S66), the process proceeds to step S54.
【００３２】次に、上記ステップＳ２４における露出処
理について、図４の（Ａ）を参照して説明する。即ち、
この露出処理においては、まず、測距装置１４による測
定値から周知の測距演算を行って測距データを得（ステ
ップＳ７０）、この測距データに対して温度補正を行っ
て補正測距データを得る（ステップＳ７２）。この温度
補正処理の詳細については、後述する。Next, the exposure process in step S24 will be described with reference to FIG. That is,
In this exposure processing, first, a well-known distance measurement operation is performed from the measured value of the distance measuring device 14 to obtain distance measurement data (step S70), and temperature correction is performed on the distance measurement data to correct the distance measurement data. Is obtained (step S72). The details of the temperature correction process will be described later.
【００３３】次に、測光装置１６により測光を行い（ス
テップＳ７４）、上記ステップＳ７２で得た補正測距デ
ータに基づいてレンズ駆動装置１８によりレンズの繰り
出しを行って（ステップＳ７６）、露光を行う（ステッ
プＳ７８）。この露光処理においては、絞り込み段数や
シャッタ開閉時間は、上記ステップＳ７４の測光処理で
得た被写体輝度データに基づいて行うものであり、必要
に応じてストロボ装置２２を発光させて行う。Next, photometry is performed by the photometry device 16 (step S74), and the lens is driven out by the lens driving device 18 based on the corrected distance measurement data obtained in step S72 (step S76), and exposure is performed. (Step S78). In this exposure processing, the number of stops and the shutter opening / closing time are performed based on the subject luminance data obtained in the photometry processing in step S74, and the flash device 22 emits light as necessary.
【００３４】そして、レンズ駆動装置１８によりレンズ
の繰り込みを行って（ステップＳ８０）、フィルム給送
装置２０によりフィルムを一駒分巻上げた後（ステップ
Ｓ８２）、上位のルーチンに戻る。Then, the lens is moved in by the lens driving device 18 (step S80), and the film is wound up by one frame by the film feeding device 20 (step S82), and the process returns to the upper routine.
【００３５】上記ステップＳ７２における温度補正処理
は、図４の（Ｂ）に示すようにして行われる。即ち、ま
ず、ＡＦセンサの温度推定値ＴAFを、次の式（１）によ
り算出する（ステップＳ９０）。 ＴAF＝ＴSEN ＋（ＴR −ＴSEN ）ａ …（１） ここで、係数ａは、図１の（Ｂ）に示すような記憶装置
２８に記憶された係数テーブル２８Ａより得る。The temperature correction process in step S72 is performed as shown in FIG. That is, first, the estimated temperature value T AF of the AF sensor is calculated by the following equation (1) (step S90). T AF = T SEN + (T R −T SEN ) a (1) Here, the coefficient a is obtained from the coefficient table 28A stored in the storage device 28 as shown in FIG.
【００３６】次に、この温度推定値ＴAFを使用して、次
の式（２）により補正値を算出する（ステップＳ９
２）。 補正値＝Ｋ（ＴAF−ＴREF ） …（２） ここで、Ｋは温度補正係数であり、ＴREF は例えば２５
度等の基準温度である。Next, a correction value is calculated by the following equation (2) using the estimated temperature value T AF (step S9).
2). Correction value = K (T AF −T REF ) (2) where K is a temperature correction coefficient, and T REF is, for example, 25.
It is a reference temperature such as degrees.
【００３７】そして、この補正値を使用して測距値の補
正を行って補正測距データを得た後（ステップＳ９
４）、上位のルーチンに戻る。ここで、補正測距データ
は、 補正測距データ＝補正前測距データ＋補正値 …（３） により得る。Then, the distance measurement value is corrected using this correction value to obtain corrected distance measurement data (step S9).
4) Return to the upper routine. Here, the corrected distance measurement data is obtained as follows: corrected distance measurement data = distance measurement data before correction + correction value (3).
【００３８】よって、タイマ２の値が「０」のとき、あ
るいは上記第２の所定時間ｔ2 以上を示すときに、レリ
ーズ釦が操作されて露出処理を行う場合には、係数ａは
「０」となり、測温装置２６の測温値ＴSEN に基づいた
通常の温度補正が行われることになる。そして、タイマ
２計時中にレリーズ釦が操作されて露出処理を行う場合
には、そのタイマ２の計時値つまり温度が急激に変化し
てからどれだけの時間が経過したかに応じて推測される
制御対象の測距装置１４のＡＦセンサの温度に従って温
度補正が行われる。 ［第２の実施の形態］次に、本発明の第２の実施の形態
を説明する。本実施の形態は、より細かい温度補正を行
うために、測温装置２６の測温センサの測温値自体が変
化しているような温度の変化し始めのときと、測温セン
サの測温値自体は平衡状態に達しているが制御対象（こ
の場合は測距装置１４のＡＦセンサ）の温度はまだ変化
しているような温度の変化開始時からある程度時間が経
過してからのときとで、ＡＦセンサの温度推定値ＴAFを
得るために使用する補正式を変更したものである。[0038] Therefore, when the value of the timer 2 is "0", or when indicating the second predetermined time t 2 above, when performing the exposure process release button is operated, the coefficient a is "0 , And normal temperature correction based on the temperature measurement value T SEN of the temperature measurement device 26 is performed. When the release button is operated during timer 2 measurement to perform an exposure process, it is estimated based on how much time has elapsed since the time value of the timer 2, that is, the temperature suddenly changed. Temperature correction is performed according to the temperature of the AF sensor of the distance measuring device 14 to be controlled. [Second Embodiment] Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, in order to perform finer temperature correction, when the temperature starts to change such that the temperature measurement value itself of the temperature measurement sensor of the temperature measurement device 26 changes, the temperature measurement of the temperature measurement sensor is performed. The value itself has reached an equilibrium state, but the temperature of the control object (the AF sensor of the distance measuring device 14 in this case) is still changing. This is a modification of the correction formula used to obtain the estimated temperature value T AF of the AF sensor.
【００３９】構成においては、上記第１の実施の形態と
同様であるが、本実施の形態においては、計時装置３０
が、上記第１の実施の形態と同様の測温の時間間隔を計
時するためのタイマ１と、変化率｜ｄＴ／ｄｔ｜が所定
の変化率Ａよりも小から大となってからの時間を計時す
るタイマ２に加えて、さらに、変化率｜ｄＴ／ｄｔ｜が
所定の変化率Ａよりも大から小となってからの時間を計
時するタイマ３を含んでいる。The configuration is the same as that of the first embodiment, but in this embodiment,
Is a timer 1 for measuring a time interval of temperature measurement similar to that of the first embodiment, and a time from when the rate of change | dT / dt | becomes smaller than a predetermined rate A of change. In addition to the timer 2 for measuring the time, the timer 3 for measuring the time from when the change rate | dT / dt | becomes larger than a predetermined change rate A is included.
【００４０】そして、動作においては、上記第１の実施
の形態におけるステップＳ１８の測温データ更新処理
と、ステップＳ２４の露出処理中の温度補正サブルーチ
ンが上記第１の実施の形態とは異なっている。In operation, the temperature measurement data updating process in step S18 and the temperature correction subroutine during the exposure process in step S24 in the first embodiment are different from those in the first embodiment. .
【００４１】即ち、測温データ更新処理においては、上
記ステップＳ４０乃至ステップＳ５０は同様であるが、
本実施の形態においては、ステップＳ５０で温度の変化
率｜ｄＴ／ｄｔ｜が所定の変化率Ａ以上でないと判断さ
れた場合、図５に示すように、前回の変化率が大きかっ
たかどうかを示す上記変化率大フラグＦの状態を判別す
る（ステップＳ１００）。パワーオン後にはじめて上記
所定の変化率Ａ以上となった場合には、この変化率大フ
ラグＦはまだクリアされている。よって、この場合に
は、次に、計時装置３０に設けた図示しないタイマ３に
よる計時時間が第３の所定時間ｔ3 以上となったかどう
か判断する（ステップＳ１０２）。このタイマ３は、パ
ワーオン後にはじめて上記所定の変化率Ａ以上となった
場合には、まだ計時を開始していないので、上記第３の
所定時間ｔ3 以上とはなっておらず、この場合には、上
記ステップＳ５６に進んでタイマ１をリスタートさせた
後、上位のルーチンに戻る。That is, in the temperature measurement data updating process, the above steps S40 to S50 are the same,
In the present embodiment, if it is determined in step S50 that the temperature change rate | dT / dt | is not equal to or greater than the predetermined change rate A, as shown in FIG. 5, it indicates whether the previous change rate was large. The state of the large change rate flag F is determined (step S100). When the rate of change becomes equal to or higher than the predetermined rate of change A for the first time after power-on, the large rate of change flag F is still cleared. Therefore, in this case, then, time measured by the timer 3 (not shown) provided on the timing device 30 determines whether a third predetermined time t 3 or more (step S102). When the timer 3 has become equal to or higher than the predetermined change rate A for the first time after power-on, the timer has not yet started counting, and thus the timer 3 has not become equal to or longer than the third predetermined time t 3. In step S56, the process proceeds to step S56, restarts the timer 1, and then returns to the higher-level routine.
【００４２】そして、例えば冬に暖房された室内から戸
外に出たときのように、温度が急激に変化した場合に
は、上記ステップＳ５０において、温度の変化率｜ｄＴ
／ｄｔ｜が所定の変化率Ａ以上となったと判断され、こ
の場合には、上記第１の実施の形態と同様のステップＳ
５８乃至ステップＳ６４が実行されて、上記変化率大フ
ラグＦがリセットされているので、上記タイマ２の計時
をスタートさせ、Ｔ0 レジスタにセットされている前回
の測温値を上記ＴR レジスタにセットし、さらに上記変
化率大フラグＦをセットする。その後、上記ステップＳ
１０２に進み、上記同様に上記タイマ３は上記第３の所
定時間ｔ3 以上とはなっていないので、上記ステップＳ
５６に進んでタイマ１をリスタートさせた後、上位のル
ーチンに戻る。If the temperature changes abruptly, for example, when the person goes outside from a room heated in winter, the temperature change rate | dT is determined in step S50.
/ Dt | is equal to or greater than the predetermined change rate A, and in this case, step S is performed in the same manner as in the first embodiment.
58 to step S64 is executed, since the change rate larger flag F is reset, to start the counting of the timer 2, the previous temperature measurement value set in the T 0 register to the T R register Is set, and the large change rate flag F is set. Then, step S
In step 102, similarly to the above, the timer 3 has not reached the third predetermined time t3 or more.
After proceeding to 56 and restarting the timer 1, the process returns to the upper routine.
【００４３】その後のタイマ１による第１の所定時間ｔ
1 計時後、再び上記ステップＳ５０で温度の変化率｜ｄ
Ｔ／ｄｔ｜が所定の変化率Ａ以上となったと判断された
場合には、ステップＳ５８で変化率大フラグＦがセット
されていると判断されるので、この場合には、ステップ
Ｓ５６へ進んで上記タイマ１をリスタートさせた後、上
位のルーチンに戻る。つまり、上記タイマ２の計時を継
続すると共に、所定の変化率Ａ以上となる直前の測温値
をＴR レジスタに保持しておく。A first predetermined time t by the timer 1 thereafter
After one time measurement, the temperature change rate | d is again determined in step S50.
If it is determined that T / dt | is equal to or greater than the predetermined change rate A, it is determined in step S58 that the large change rate flag F has been set. In this case, the process proceeds to step S56. After restarting the timer 1, the process returns to the upper routine. That, together with the continued clocking of the timer 2, holds the temperature measurement value immediately before the predetermined change rate A above T R register.
【００４４】そして、測温装置２６の測温値ＴSEN が変
化後の環境温度の値に徐々に近づき、ほぼ平衡状態にな
ると、その変化率｜ｄＴ／ｄｔ｜が上記ステップＳ５０
で所定の変化率Ａよりも小さくなったと判断され、上記
ステップＳ１００に進むことになる。そして、上記ステ
ップＳ１００において、変化率大フラグＦがセットされ
ていると判断されるので、この場合には次に、上記タイ
マ３の計時をスタートさせ（ステップＳ１０４）、ま
た、上記タイマ２の計時を停止させると共にその計時時
間を「０」にリセットする（ステップＳ１０６）。そし
て、上記変化率大フラグＦをリセットして（ステップＳ
１０８）、上記ステップＳ１０２に進む。この場合もま
だ上記タイマ３は上記第３の所定時間ｔ3 以上とはなっ
ていないので、上記ステップＳ５６に進んで上記タイマ
１をリスタートさせた後、上位のルーチンに戻ることに
なる。When the temperature value T SEN of the temperature measuring device 26 gradually approaches the value of the environmental temperature after the change and becomes substantially equilibrium, the rate of change | dT / dt |
Is determined to be smaller than the predetermined change rate A, and the process proceeds to step S100. Then, in step S100, it is determined that the large change rate flag F is set. In this case, the timer 3 starts counting time (step S104), and the timer 2 counts time. Is stopped, and the counted time is reset to "0" (step S106). Then, the large change rate flag F is reset (step S
108), and the process proceeds to step S102. In this case yet the timer 3 also has not been the above third predetermined time t 3 or more, after restarting the timer 1 proceeds to step S56, thereby returning to the main routine.
【００４５】そして、測温装置２６の測温値ＴSEN の平
衡状態が続くと、上記ステップＳ５０からステップＳ１
００に進むが、上記変化大フラグＦがリセットされてい
るので、そのままステップＳ１０２へと進み、上記タイ
マ３は上記第３の所定時間ｔ3 以上となるまでの間は、
そのまま上記ステップＳ５６に進んで上記タイマ１をリ
スタートさせた後、上位のルーチンに戻ることになる。
即ち、上記タイマ３の計時を継続すると共に、Ｔ0 レジ
スタ及びＴ1 レジスタに保持される前回及び今回の測温
値が更新されていく。When the equilibrium state of the temperature measurement value T SEN of the temperature measurement device 26 continues, the above-described steps S50 to S1 are performed.
The process proceeds to 00, since the change large flag F is reset, it proceeds to step S102, Until the timer 3 becomes the third predetermined time t 3 or more,
The process directly proceeds to step S56, restarts the timer 1, and then returns to the upper routine.
That is, the continued clocking of the timer 3, the previous and temperature measurement value of the current is held in the T 0 registers and T 1 register is updated.
【００４６】而して、上記タイマ３の計時時間が上記第
３の所定時間ｔ3 以上となったならば、そのタイマ３の
計時を停止させると共にその計時時間を「０」にリセッ
トし（ステップＳ１１０）、その後、上記ステップＳ５
６に進んで上記タイマ１をリスタートさせた後、上位の
ルーチンに戻る。つまり、温度が変化してからある程度
の時間が経てば、制御対象の温度も環境温度と同じにな
るので、補正の必要がないとして、タイマ３はリセット
される。When the time counted by the timer 3 is equal to or longer than the third predetermined time t 3 , the timer 3 stops counting the time and resets the counted time to “0” (step S3). S110) Then, the above step S5
After proceeding to step 6, the timer 1 is restarted, and then the process returns to the upper routine. In other words, after a certain period of time has elapsed since the temperature change, the temperature of the control target becomes the same as the environmental temperature, and the timer 3 is reset assuming that there is no need for correction.
【００４７】また、ステップＳ２４の露出処理中の温度
補正サブルーチンは、図６の（Ａ）に示すようになって
いる。即ち、この温度補正サブルーチンでは、まず、上
記タイマ２の計時値が「０」でないかどうか判断する
（ステップＳ１２０）。このタイマ２が「０」でないと
きとは、図６の（Ｂ）に示すように、測温装置２６によ
って測定された温度の変化率｜ｄＴ／ｄｔ｜が所定の変
化率Ａよりも小から大に変化したときから、その変化率
｜ｄＴ／ｄｔ｜が所定の変化率Ａよりも大から小に変化
するまでの間である。そして、このようなときには、上
記第１の実施の形態と同様に、式（１）によりＡＦセン
サの温度推定値ＴAFを算出し（ステップＳ９０）、上記
式（２）によって補正値を算出して（ステップＳ９
２）、上記（３）式により補正測距データを得た後（ス
テップＳ９４）、上位のルーチンに戻る。The temperature correction subroutine during the exposure process in step S24 is as shown in FIG. That is, in the temperature correction subroutine, first, it is determined whether or not the counted value of the timer 2 is "0" (step S120). When the timer 2 is not “0”, as shown in FIG. 6B, the rate of change | dT / dt | of the temperature measured by the temperature measuring device 26 is smaller than the predetermined rate of change A. This is from the time when the change rate becomes large to the time when the change rate | dT / dt | changes from a larger value to a smaller value than a predetermined change rate A. In such a case, similarly to the first embodiment, the estimated temperature value T AF of the AF sensor is calculated by equation (1) (step S90), and the correction value is calculated by equation (2). (Step S9
2) After obtaining the corrected distance measurement data by the above equation (3) (step S94), the process returns to the upper routine.
【００４８】これに対して、上記ステップＳ１２０で上
記タイマ２の計時値が「０」であると判断された場合に
は、次に、上記タイマ３の計時値が「０」でないかどう
か判断する（ステップＳ１２２）。ここで、タイマ３が
「０」でないときとは、図６の（Ｂ）に示すように、測
温装置２６によって測定された温度の変化率｜ｄＴ／ｄ
ｔ｜が所定の変化率Ａよりも大から小に変化してから、
第３の所定時間ｔ3 を計時するまでの間である。On the other hand, if it is determined in step S120 that the count value of the timer 2 is "0", then it is determined whether the count value of the timer 3 is not "0". (Step S122). Here, the case where the timer 3 is not “0” means that the rate of change | dT / d of the temperature measured by the temperature measuring device 26 as shown in FIG.
After t | changes from larger to smaller than the predetermined change rate A,
This is until the third predetermined time t 3 is measured.
【００４９】そして、このときには、次の式（４）によ
りＡＦセンサの温度推定値ＴAFを算出する（ステップＳ
１２４）。 ＴAF＝ＴSEN ＋（ＴR −ＴSEN ）（１−ｂ（ｔ＋ｔ3 ）） …（４） 但しここで、ｔはタイマ３の計時値であり、ｂは例えば
「０．３」等の「０＜ｂ＜１」の値である。Then, at this time, the estimated temperature value T AF of the AF sensor is calculated by the following equation (4) (step S:
124). T AF = T SEN + (T R −T SEN ) (1−b (t + t 3 )) (4) where t is the time measured by the timer 3, and b is, for example, “0.3”. This is a value of “0 <b <1”.
【００５０】その後は、上記ステップＳ９２に進み、上
記ステップＳ１２４で求めた温度推定値ＴAFを使用し
て、上記式（２）によって補正値を算出し、上記ステッ
プＳ９４で上記（３）式により補正測距データを得た
後、上位のルーチンに戻る。Thereafter, the process proceeds to step S92, where a correction value is calculated by the above equation (2) using the temperature estimated value T AF obtained in the above step S124, and in step S94, the correction value is calculated by the above equation (3). After obtaining the corrected distance measurement data, the process returns to the higher-level routine.
【００５１】また、上記ステップＳ１２０で上記タイマ
３の計時値が「０」であると判断された場合は、測温装
置２６によって測定された温度の変化率｜ｄＴ／ｄｔ｜
が所定の変化率Ａよりも小さいままのとき、あるいは、
｜ｄＴ／ｄｔ｜がＡよりも小から大に変化した後また小
に変化してから第３の所定時間ｔ3 を経過したときであ
る。つまり、測温装置２６での測温値ＴSEN がそのまま
測距装置１４におけるＡＦセンサの温度に等しいと想定
されるときであるので、この場合には、測温装置２６で
の測温値ＴSEN をＡＦセンサの温度推定値ＴAFに設定す
る（ステップＳ１２６）。そして、上記ステップＳ９２
に進んで、この温度推定値ＴAFを使用して、上記式
（２）によって補正値を算出し、上記ステップＳ９４で
上記（３）式により補正測距データを得た後、上位のル
ーチンに戻る。 ［第３の実施の形態］次に、本発明の第３の実施の形態
を説明する。本実施の形態は、測温装置２６の測温セン
サと制御対象（この場合は測距装置１４のＡＦセンサ）
の温度特性がほぼ同じであるがその変化時間がシフトし
ているような場合に、測温センサによる複数回分の測温
値を加重平均することで制御対象の温度推定値を得るよ
うにしたものである。この場合には、係数テーブル２８
Ａを用いずに簡単な式で制御対象の温度が推測できる。If it is determined in step S120 that the time value of the timer 3 is "0", the rate of change of the temperature measured by the temperature measuring device 26 | dT / dt |
Is smaller than a predetermined rate of change A, or
This is the time when the third predetermined time t 3 has elapsed since | dT / dt | changed from A to a value larger than A and then changed to a smaller value. In other words, since it is assumed that the temperature measurement value T SEN at the temperature measurement device 26 is equal to the temperature of the AF sensor in the distance measurement device 14 as it is, in this case, the temperature measurement value T SEN at the temperature measurement device 26 is used. SEN is set to the estimated temperature value T AF of the AF sensor (step S126). Then, the above step S92
Using this temperature estimated value T AF , a correction value is calculated by the above equation (2), and in step S94, corrected distance measurement data is obtained by the above equation (3). Return. [Third Embodiment] Next, a third embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, the temperature measurement sensor of the temperature measurement device 26 and the control target (in this case, the AF sensor of the distance measurement device 14)
In the case where the temperature characteristics are almost the same but the change time is shifted, the temperature estimation value of the controlled object is obtained by weighted averaging the temperature measurement values of multiple times by the temperature measurement sensor. It is. In this case, the coefficient table 28
The temperature of the controlled object can be estimated by a simple equation without using A.
【００５２】構成においては、前述の第１の実施の形態
と同様であるが、本実施の形態においては、制御部１０
又は記憶装置にさらに２つのレジスタ（Ｔ2 レジスタ，
Ｔ3レジスタ）を設けている。即ち、Ｔ0 レジスタは３
つ前の測温値、Ｔ1 レジスタは２つ前の測温値、Ｔ2 レ
ジスタは１つ前の測温値、Ｔ3 レジスタは最新の測温
値、をそれぞれ保持するために用いられる。The configuration is the same as that of the first embodiment, but in the present embodiment, the control unit 10
Alternatively, two more registers (T 2 register,
T 3 registers) the is provided. That is, the T 0 register is 3
The previous temperature measurement value, the T 1 register is used to hold the immediately preceding temperature measurement value, the T 2 register is used to hold the immediately preceding temperature measurement value, and the T 3 register is used to hold the latest temperature measurement value.
【００５３】そして、動作においては、前述の第１の実
施の形態におけるステップＳ１４の代わりに、図７の
（Ａ）に示すように、ステップＳ１２で得られた測温値
ＴSENを、これら４つのレジスタそれぞれにセットする
（ステップＳ１３０）。その後は、前述の第１の実施の
形態と同様に動作する。In the operation, as shown in FIG. 7A, the temperature measurement value T SEN obtained in step S12 is replaced by these four steps instead of step S14 in the first embodiment. It is set in each of the two registers (step S130). After that, the operation is the same as that of the first embodiment.
【００５４】但し、ステップＳ１８の測温データ更新処
理は、図７の（Ｂ）に示すように行われる。即ち、ステ
ップＳ１６でスタートしたタイマ１の計時時間が第１の
所定時間ｔ1 以上となったかどうか判別し（ステップＳ
４０）、まだのときは上位のルーチンに戻る。そして、
タイマ１の計時時間が第１の所定時間ｔ1 以上となった
ならば、測温装置２６によってカメラ内部の環境温度を
測定する（ステップＳ４４）。その後、Ｔ1 レジスタに
保持されている測温値をＴ0 レジスタにセットし、Ｔ2
レジスタに保持されている測温値をＴ1 レジスタにセッ
トし、Ｔ3 レジスタに保持されている測温値をＴ2 レジ
スタにセットしてから、上記ステップＳ４４で得られた
測温値ＴSEN をＴ3 レジスタにセットする（ステップＳ
１４０）。そして、上記タイマ１をリスタートさせて
（ステップＳ５６）、上位のルーチンに戻る。However, the temperature measurement data updating process in step S18 is performed as shown in FIG. That is, time measured by the timer 1 started in step S16 whether to determine whether a first predetermined time t 1 or more (step S
40) If not, return to the upper routine. And
If clocking time of the timer 1 reaches the first predetermined time t 1 or more, measuring the environmental temperature of the camera by temperature measuring device 26 (step S44). Then, set the temperature measuring values held in the T 1 register T 0 register, T 2
The temperature measuring values held in the register is set to T 1 register, the temperature measuring values held in the T 3 register after setting the T 2 register, the temperature measurement value obtained in step S44 T SEN the set to T 3 register (step S
140). Then, the timer 1 is restarted (step S56), and the process returns to the upper routine.
【００５５】こうして、各レジスタの値が更新されてい
き、ステップＳ２２でレリーズ釦の押下が検出される
と、ステップＳ２４で、前述の第１の実施の形態と同様
の露出処理が行われる。As described above, the values of the respective registers are updated, and if the press of the release button is detected in step S22, the same exposure processing as in the first embodiment is performed in step S24.
【００５６】但し、本実施の形態においては、該露出処
理のステップＳ７２の温度補正サブルーチンにおけるス
テップＳ９０のＡＦセンサの温度推定値ＴAF算出処理
は、上記式（１）ではなく、次の（５）式を使用する。However, in the present embodiment, the processing for calculating the estimated temperature T AF of the AF sensor in step S90 in the temperature correction subroutine in step S72 of the exposure processing is not the above equation (1) but the following (5) ) Use the formula.
【００５７】[0057]
【数１】 ここで、ａi は「０」以上の値を取る加重係数であり、
ａi 及びｉは測距装置１４のＡＦセンサと測温装置２６
の温度センサの特性により設定する。(Equation 1) Here, a i is a weighting coefficient taking a value of “0” or more,
a i and i are the AF sensor of the distance measuring device 14 and the temperature measuring device 26
Is set according to the characteristics of the temperature sensor.
【００５８】例えば、ａ0 ＝４，ａ1 ＝３，ａ2 ＝２，
ａ3 ＝１のときは、 ＴAF＝（４Ｔ0 ＋３Ｔ1 ＋２Ｔ2 ＋Ｔ3 ）／１０ となる。この例では、ＡＦセンサと温度センサの特性の
一致度が高ければＴ3 側の係数ａ3 の値を大きくすれば
良く、逆に、ＡＦセンサの温度追随の遅れが大きい場合
にはａ0 側の値を大きくすれば良い（係数を変えるだけ
で、同じプログラムで様々な部位の温度を算出できる。
なお、ａ0 ＝１，ａ1 〜ａ3 ＝０とすれば、単なる遅延
グラフになる。）。For example, a 0 = 4, a 1 = 3, a 2 = 2
When a 3 = 1, T AF = (4T 0 + 3T 1 + 2T 2 + T 3 ) / 10. In this example, it is sufficient to increase the value of the coefficient a 3 of T 3 side the higher the degree of coincidence characteristics of the AF sensor and the temperature sensor, on the contrary, a 0 side when the temperature tracking of the delay of the AF sensor is large (The temperature of various parts can be calculated by the same program only by changing the coefficient.)
If a 0 = 1 and a 1 to a 3 = 0, a simple delay graph is obtained. ).
【００５９】以上実施の形態に基づいて本発明を説明し
たが、本発明は上述した実施の形態に限定されるもので
はなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形や応用が可
能である。Although the present invention has been described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and applications are possible within the scope of the present invention. .
【００６０】なお、上記第１乃至第３の実施の形態で
は、ステップＳ２０においてパワースイッチがオフされ
たとき、処理を終了するようにしているが、そのような
パワーオフ時にも上記ステップＳ１８の測温データ更新
処理だけは繰り返し行うようにしても良い。そのように
すれば、パワースイッチをオンした直後であっても、補
正を正確に行うことができるようになる。In the first to third embodiments, the process is terminated when the power switch is turned off in step S20. However, even when the power is turned off, the measurement in step S18 is performed. Only the temperature data updating process may be repeatedly performed. By doing so, the correction can be performed accurately even immediately after the power switch is turned on.
【００６１】また、制御対象を測距装置１４のＡＦセン
サとしたが、これに限定されるものではなく、レンズ鏡
枠等、温度センサから見て温度について過渡特性を生じ
るような他のカメラ部位であっても良い。但し、鏡枠の
場合は、温度補正されるのは、その鏡枠自体、つまりレ
ンズ駆動装置１８による駆動量を制御する制御データと
なる。即ち、制御対象がＡＦセンサのようなデータを出
力するものの場合は、その出力データに対して温度補正
が行われ、制御対象が鏡枠のように制御データに基づい
て駆動されるものである場合には、その制御データに対
して温度補正が行われる。The control target is the AF sensor of the distance measuring device 14. However, the present invention is not limited to this. Other camera parts such as a lens barrel that may generate a transient characteristic with respect to temperature as viewed from the temperature sensor. It may be. However, in the case of a lens frame, what is temperature-corrected is the lens frame itself, that is, control data for controlling the driving amount by the lens driving device 18. That is, when the control target outputs data such as an AF sensor, the output data is subjected to temperature correction, and the control target is driven based on the control data like a lens frame. , A temperature correction is performed on the control data.
【００６２】また、本発明は、カメラに限らず、その他
の各種機器にも同様に適用可能なことは勿論である。こ
こで、本発明の要旨をまとめると以下のようになる。The present invention is naturally applicable not only to cameras but also to various other devices. Here, the summary of the present invention is as follows.
【００６３】（１） 測温センサと、上記測温センサの
出力データの変化量が所定値以上になったことを判定す
る判定手段と、上記判定手段の出力に応じて計時を行う
計時手段と、上記計時手段の計時データに対応した制御
対象の温度変化データを記憶する記憶手段と、上記測温
センサの出力データと、上記計時データと、上記計時デ
ータに対応した温度変化データより、上記制御対象の温
度データを求める演算手段と、上記演算手段の出力に基
いて上記制御対象の出力データ又は上記制御対象を駆動
する制御データを温度補正する温度補正手段と、を具備
することを特徴とする温度補正装置。(1) Temperature measuring sensor, judging means for judging that the amount of change in the output data of the temperature measuring sensor has become equal to or greater than a predetermined value, and time measuring means for timing according to the output of the judging means Memory means for storing temperature change data of a control object corresponding to the time measurement data of the time measurement means, output data of the temperature measurement sensor, the time measurement data, and the temperature change data corresponding to the time measurement data. A calculating means for obtaining target temperature data; and a temperature correcting means for correcting the output data of the control target or the control data for driving the control target based on the output of the calculating means. Temperature correction device.
【００６４】（２） 測温センサと、上記測温センサの
出力データの変化量が所定値以上か否かを判定する判定
手段と、上記出力データの変化量が上記所定値以内の状
態から上記所定値以上に変化した際の制御対象の温度デ
ータを求める第１の演算手段と、上記測温センサの出力
データの変化量が上記所定値以上の状態から上記所定値
以内に変化した際の上制御対象の温度データを求める第
２の演算手段と、上記第１及び第２の演算手段の出力に
基いて、上記制御対象の出力データ又は上記制御対象を
駆動する制御データの温度補正を行う温度補正手段と、
を具備したことを特徴とする温度補正装置。(2) A temperature sensor, determining means for determining whether or not a change in output data of the temperature sensor is equal to or more than a predetermined value; A first calculating means for obtaining temperature data of a control target when the temperature data changes to a predetermined value or more; A second calculating means for obtaining temperature data of the control target; and a temperature for performing temperature correction of the output data of the control target or the control data for driving the control target based on outputs of the first and second calculating means. Correction means;
A temperature compensating device comprising:
【００６５】（３） 環境温度を測定する測温センサ
と、環境温度の変化に過渡特性をもって温度が追随変化
する制御対象の温度を、上記測温センサの出力データを
基に算出する演算手段と、上記演算手段の出力に基いて
上記制御対象の出力データ又は上記制御対象を駆動する
制御データを温度補正する温度補正手段と、を具備する
温度補正装置であって、上記温度補正手段は、上記測温
センサの出力データの変化率が所定値以上となった場合
に上記演算手段の出力に基いて温度補正を行い、その後
も所定時間の間は上記演算手段の出力に基いて温度補正
を行うことを特徴とする温度補正装置。(3) A temperature measuring sensor for measuring an environmental temperature, and a calculating means for calculating a temperature of a control object whose temperature changes with a transient characteristic to a change in the environmental temperature based on output data of the temperature measuring sensor. Temperature correction means for correcting the output data of the control target or the control data for driving the control target based on the output of the calculation means, the temperature correction means comprising: When the rate of change of the output data of the temperature measuring sensor becomes equal to or more than a predetermined value, the temperature is corrected based on the output of the calculating means, and thereafter, for a predetermined time, the temperature is corrected based on the output of the calculating means. A temperature compensator characterized by the above-mentioned.
【００６６】（４） 上記所定時間は、制御対象の種類
に応じた値に設定されることを特徴とする（３）に記載
の温度補正装置。 （５） 所定時間毎に測温を行う測温センサと、上記測
温センサのデータを複数回分記憶する記憶手段と、上記
複数回分の測温センサのデータを加重平均することによ
り制御対象の温度データを求める演算手段と、上記演算
手段の出力に基いて、上記制御対象の出力データ又は上
記制御対象を駆動する制御データを温度補正する温度補
正手段と、を具備することを特徴とする温度補正装置。(4) The temperature correction device according to (3), wherein the predetermined time is set to a value corresponding to the type of the control target. (5) A temperature sensor for measuring temperature at predetermined time intervals, a storage means for storing data of the temperature sensor for a plurality of times, and a temperature of a control object by performing a weighted average of the data of the temperature sensors for the plurality of times. Temperature correction means for calculating data, and temperature correction means for correcting the output data of the control object or the control data for driving the control object based on the output of the calculation means. apparatus.
【００６７】（６） 所定時間毎に環境温度の測温を行
う測温センサと、環境温度の変化に過渡特性をもって温
度が追随変化する制御対象の温度を、上記測温センサに
よって測温を行う毎に、上記測温センサの出力データを
基に算出する演算手段と、上記演算手段の出力に基い
て、上記制御対象の出力データ又は上記制御対象を駆動
する制御データを温度補正する温度補正手段と、を具備
することを特徴とする温度補正装置。(6) The temperature sensor measures the temperature of the environmental temperature at predetermined time intervals, and measures the temperature of the controlled object whose temperature changes with a transient characteristic to the change of the environmental temperature using the temperature sensor. Calculating means for calculating the output data of the temperature sensor for each time, and temperature correcting means for correcting the output data of the control object or the control data for driving the control object based on the output of the calculating means. And a temperature compensating device comprising:
【００６８】[0068]
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
環境によらないで正確な温度補正ができる温度補正装置
を提供することができる。As described in detail above, according to the present invention,
It is possible to provide a temperature correction device capable of performing accurate temperature correction regardless of the environment.
【図１】（Ａ）は本発明の第１の実施の形態にかかる温
度補正装置の適用されたカメラのブロック構成図であ
り、（Ｂ）は係数テーブルの例を示す図である。FIG. 1A is a block diagram of a camera to which a temperature correction device according to a first embodiment of the present invention is applied, and FIG. 1B is a diagram illustrating an example of a coefficient table.
【図２】図１の（Ａ）中の制御部のジェネラルフローチ
ャートである。FIG. 2 is a general flowchart of a control unit in FIG.
【図３】図２中の測温データ更新処理のフローチャート
である。FIG. 3 is a flowchart of a temperature measurement data update process in FIG. 2;
【図４】（Ａ）は図２中の露出処理のフローチャートで
あり、（Ｂ）は（Ａ）中の温度補正処理フローチャート
である。4A is a flowchart of an exposure process in FIG. 2, and FIG. 4B is a flowchart of a temperature correction process in FIG.
【図５】本発明の第２の実施の形態における測温データ
更新処理のフローチャートである。FIG. 5 is a flowchart of a temperature measurement data update process according to the second embodiment of the present invention.
【図６】（Ａ）は第２の実施の形態における温度補正処
理のフローチャートであり、（Ｂ）は第２の実施の形態
の動作を説明するための測温値とＡＦセンサの温度推定
値との時間変化を示す図である。FIG. 6A is a flowchart of a temperature correction process according to the second embodiment, and FIG. 6B is a temperature measurement value and an estimated temperature of an AF sensor for explaining the operation of the second embodiment; FIG. 9 is a diagram showing a time change with respect to FIG.
【図７】（Ａ）は本発明の第３の実施の形態におけるジ
ェネラルフローチャートの特徴部を示す図、（Ｂ）は第
３の実施の形態における測温データ更新処理のフローチ
ャートであり、（Ｃ）は温度センサの測温値と制御対象
としてのＡＦセンサの温度との時間変化の関係を示す図
である。FIG. 7A is a diagram showing a characteristic part of a general flowchart according to a third embodiment of the present invention, and FIG. 7B is a flowchart of a temperature measurement data update process according to the third embodiment; 4) is a diagram showing the relationship between the temperature change of the temperature sensor and the temperature of the AF sensor to be controlled over time.
１０ 制御部 １２ 操作部 １４ 測距装置 １６ 測光装置 １８ レンズ駆動装置 ２０ フィルム給送装置 ２２ ストロボ装置 ２４ 表示装置 ２６ 測温装置 ２８ 記憶装置 ２８Ａ 係数テーブル ３０ 計時装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Control part 12 Operation part 14 Distance measuring device 16 Photometry device 18 Lens drive device 20 Film feeding device 22 Strobe device 24 Display device 26 Temperature measuring device 28 Storage device 28A Coefficient table 30 Clock device
Claims (3)
サと、 上記制御対象の周囲温度の変化に過渡特性をもって温度
が追随変化する制御対象の温度を、上記測温センサの出
力データを基に算出する演算手段と、 上記演算手段の出力に基いて、上記制御対象の出力デー
タ又は上記制御対象を駆動する制御データを温度補正す
る温度補正手段と、 を具備することを特徴とする温度補正装置。A temperature measuring sensor for measuring an ambient temperature of the controlled object; and a temperature of the controlled object whose temperature changes with a transient characteristic to a change of the ambient temperature of the controlled object, based on output data of the temperature measuring sensor. Temperature correction means for temperature-correcting the output data of the control target or the control data for driving the control target based on the output of the calculation means. apparatus.
出力データの変化率が所定値以上となった場合に、上記
演算手段の出力に基いて温度補正を行うことを特徴とす
る請求項１に記載の温度補正装置。2. The temperature correction device according to claim 1, wherein when the rate of change of the output data of the temperature sensor becomes equal to or greater than a predetermined value, the temperature correction device corrects the temperature based on the output of the calculation device. 2. The temperature correction device according to 1.
と、 上記記憶手段に記憶された上記複数回分の測温センサの
データを用いて、制御対象の温度データを求める演算手
段と、 上記演算手段の出力に基いて、上記制御対象の出力デー
タ又は上記制御対象を駆動する制御データを温度補正す
る温度補正手段と、 を具備することを特徴とする温度補正装置。3. A temperature sensor for measuring a temperature at predetermined time intervals, a storage means for storing data of the temperature sensor for a plurality of times, and data of the temperature sensors for the plurality of times stored in the storage means. And temperature calculating means for calculating the temperature data of the controlled object by using the output data of the calculating means and the control data for driving the controlled object based on the output of the calculating means. A temperature compensator characterized by the above-mentioned.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10152831A JPH11344735A (en) | 1998-06-02 | 1998-06-02 | Temperature correction device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10152831A JPH11344735A (en) | 1998-06-02 | 1998-06-02 | Temperature correction device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11344735A true JPH11344735A (en) | 1999-12-14 |
Family
ID=15549097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10152831A Withdrawn JPH11344735A (en) | 1998-06-02 | 1998-06-02 | Temperature correction device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11344735A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007241260A (en) * | 2006-02-09 | 2007-09-20 | Canon Inc | Projection display apparatus |
| JP2013083717A (en) * | 2011-10-06 | 2013-05-09 | Canon Inc | Focus detector |
| JP2018165808A (en) * | 2017-03-28 | 2018-10-25 | キヤノン株式会社 | Imaging device and focus control method |
| US11262265B2 (en) | 2019-03-22 | 2022-03-01 | Seiko Epson Corporation | Temperature correction device, sensor module, and temperature correction method |
-
1998
- 1998-06-02 JP JP10152831A patent/JPH11344735A/en not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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