JPH1131569A - コネクタの検査治具 - Google Patents

コネクタの検査治具

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JPH1131569A
JPH1131569A JP9186846A JP18684697A JPH1131569A JP H1131569 A JPH1131569 A JP H1131569A JP 9186846 A JP9186846 A JP 9186846A JP 18684697 A JP18684697 A JP 18684697A JP H1131569 A JPH1131569 A JP H1131569A
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JP
Japan
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terminal fitting
jig
connector
piece
main body
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JP9186846A
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English (en)
Inventor
Masaharu Suzuki
正治 鈴木
Yukimasa Motomatsu
幸正 本松
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Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
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  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 端子金具の挿入状態の検査を長期間にわたり
正確に行う。 【解決手段】 検査治具50は、金属製のブロック状を
なす治具本体51を備えており、その正面に、厚肉の補
強部52を介して、弾性係止片の撓み空間に進入可能な
検知片53が形成されている。治具本体51から検知片
53にわたる表面には、合成樹脂等からなる絶縁被覆6
5が形成されている。治具本体51のピン孔54には、
キャビティに進入して端子金具と導通接触可能なプロー
ブ55が取り付けられる。検知片53は金属製であるの
で強度並びに耐摩耗性に優れ、しかも表面には絶縁被覆
65が施されているので、誤って端子金具に接触したと
しても導通が取られることはない。端子金具の挿入状態
の検査を長期間にわたり正確に行うことができる。また
検知片53は削り出しにより製造できるから、撓み空間
の形状変更等に基づいた形状変更にも簡単に対応でき
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタにおける
端子金具の挿入状態を検査するために用いる検査治具に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来コネクタの検査装置として、特開平
7−113836号公報に記載されたものが知られてい
る。このものは図7に示すように、所定位置に取り付け
られたコネクタ1と対向して、検査治具2を装着した検
査器本体3が進退可能に設けられている。この検査治具
2は、導電体からなるピン4の先端面の一部から検知片
5が一体的に突出して形成された構造であり、バネ2A
により前方へ移動付勢されている。そして、端子金具6
を挿入したコネクタ1をセットしたのち検査器本体3を
前進させると、同図の上段に示すように、端子金具6が
キャビティ7内で半挿入の状態では、弾性係止片8が撓
み空間9内に撓み変形しているため、検知片5が弾性係
止片8に突き当たることでピン4の進出が規制されて端
子金具6と接触せず、一方同図の下段に示すように、端
子金具6が正規に挿入されていると、弾性係止片8が撓
み空間9から退避しつつ弾性復帰して端子金具6に係止
しているため、検知片5が撓み空間9の奥深くに進入し
つつピン4の先端面が端子金具6に接触する。このよう
に、ピン4の先端面が端子金具6に接触して導通が取ら
れるか否かで、端子金具6がキャビティ7内に正規に挿
入されているか否かが検査できるようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで従来の検査治
具2は、上記のように導電性のピン4の先端面から検知
片5を一体に突設した構造である。この検知片5につい
ては、進出時に端子金具6には接触しないような大きさ
や位置に形成されてはいるものの、例えば端子金具6が
キャビティ7内に傾いて挿入された場合等、接触するお
それが無いとは言えない。そうすると、端子金具6が正
規に挿入されていないにも拘らず検知片5が接触して、
ピン4に対して導通状態となり、誤った検査結果がもた
らされるおそれがあった。本発明は上記のような事情に
基づいて完成されたものであって、その目的は、端子金
具が正規に挿入されているか否かを正確に検査し得るよ
うにした検査治具を提供するところにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの手段として、請求項1の発明は、端子金具が挿入さ
れるキャビティと、弾性撓みしつつ前記端子金具に対し
て係脱される弾性係止片と、この弾性係止片の弾性撓み
を許容する撓み空間とを有するコネクタに対し、前記端
子金具の挿入状態を検査するために用いる治具であっ
て、前記キャビティ内に進入して前記端子金具と導通接
触可能な接触体と、前記撓み空間内に進入する検知片と
を一体的に設けたものにおいて、前記検知片は金属製で
かつその表面に絶縁被覆が施されている構成としたとこ
ろに特徴を有する。
【0005】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、前記検知片は金属製の治具本体から一体に突設され
て少なくともこの検知片の表面に絶縁被覆が施されると
ともに、前記治具本体に別体に形成された前記接触体が
取着されている構成としたところに特徴を有する。
【0006】
【発明の作用及び効果】
<請求項1の発明>端子金具がキャビティ内で半挿入の
状態では、弾性係止片が撓み空間内に撓み変形している
ため、検知片が弾性係止片に突き当たることで接触体の
キャビティ内への進入が規制されて端子金具と接触しな
い。一方、端子金具が正規に挿入されていると、弾性係
止片が撓み空間から退避しつつ弾性復帰して端子金具に
係止しているため、検知片が撓み空間へ進入することが
許容されて接触体が端子金具に接触する。接触体が端子
金具に接触するか否かで、端子金具がキャビティ内に正
規に挿入されているか否かが検査される。ここで、検知
片が金属で形成されているため、耐久性に優れる。しか
もその表面には絶縁被覆が施されているから、誤って端
子金具に接触したとしても導通が取られることはない。
もって、端子金具の挿入状態の検査を長期間にわたり正
確に行うことができる。また、検知片は削り出しにより
製造できるから、撓み空間の形状変更等に基づいた検知
片の形状変更にも簡単に対応することができる。
【0007】<請求項2の発明>堅牢な検査治具が得ら
れるとともに、形状を異にする接触体を取り付けること
によって、キャビティの形状が違う等、異なった仕様の
コネクタにも幅広く適用することができる。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図1
ないし図6を参照して説明する。まず、コネクタ10に
ついて図1及び図5により説明する。コネクタ10は、
端子金具13を収容可能な複数のキャビティ12を有す
るコネクタハウジング11を備え、このコネクタハウジ
ング11には、各キャビティ12ごとに弾性撓みしつつ
端子金具13に対して係脱される弾性係止片14と、各
弾性係止片14の弾性撓みを許容するための撓み空間1
5とが形成されている。キャビティ12には、その背面
側(図5の左側)から端子金具13が挿入されるように
なっており、半挿入の状態では、弾性係止片14が端子
金具13の外面に当接することにより撓み空間15内に
弾性変位し、正規位置まで挿入されると、弾性係止片1
4が撓み空間15から退避するように弾性復帰して端子
金具13に係止し、端子金具13が抜け止め状態に保持
されるようになっている。上記したキャビティ12と撓
み空間15とは、いずれもコネクタハウジング11の正
面側に開口しており、キャビティ12の開口には、後記
する検査治具50のプローブ55が、また撓み空間15
の開口には検知片53がそれぞれ挿入されるようになっ
ている。
【0009】続いてコネクタ検査装置20について説明
する。この検査装置20は、図1に示すように、基台2
1に、上記のコネクタ10を保持するためのコネクタ保
持部材22と、後記するホルダ40を支持するためのホ
ルダ支持部材23と、このホルダ支持部材23をコネク
タ保持部材22に対して接離方向に移動させるための移
動機構とを備えて構成されている。基台21の上面には
前後方向のガイド溝25が形成され、このガイド溝25
の前端寄りの所定位置には、コネクタ保持部材22がそ
の下端部を嵌合させて図示しないボルト等により固定さ
れている。このコネクタ保持部材22には上面に開放さ
れたコネクタ収容室26が形成され、その中に上記のコ
ネクタ10が上方から挿入されて、所定の姿勢で保持さ
れるようになっている。コネクタ保持部材22の背面
(図1の手前側の面)は、コネクタ10から引き出され
た電線Wを逃がすために開放され、一方コネクタ保持部
材22の正面(ホルダ支持部材23と対向する面)は、
コネクタ10の正面側の端部を外部へ突出させてホルダ
40と対向させるために開放されている。
【0010】上記したガイド溝25の後端寄りの位置に
は、ホルダ支持部材23がその下端部を嵌合させること
によってコネクタ保持部材22に対する接離方向(前後
方向)への移動可能に、かつバネ部材(図示せず)によ
ってコネクタ保持部材22から離間する方向へ付勢され
て取り付けられている。基台21の後端には、レバー2
7が軸27Aを中心とした回動可能に設けられている。
そしてレバー27をストッパ(図示せず)によって規制
されるまで正方向(図1の手前側から見て反時計回り方
向)へ回動操作すると、ホルダ支持部材23がバネ部材
の付勢力に抗して押動されて、コネクタ保持部材22に
対して所定の位置まで接近する。一方、レバー27を逆
方向に回動操作すると、ホルダ支持部材23がバネ部材
の付勢力によりコネクタ保持部材22から離間する方向
へ戻るようになっている。
【0011】ホルダ支持部材23は、合成樹脂材により
形成されている。このホルダ支持部材23には、図2に
示すように、上面に開放されたホルダ収容室28が形成
され、その中にホルダ40が上方から挿入されて、前後
方向の移動可能に収容されるようになっている。ホルダ
支持部材23の上面には蓋29がビス30によって取り
付けられ、ホルダ収容室28内への異物の侵入が防止さ
れている。
【0012】ホルダ支持部材23の正面(コネクタ保持
部材22と対向する面)には、ホルダ収容室28に連通
するコネクタ受入部31が形成されており、このコネク
タ受入部31に、コネクタ保持部材22から突出してい
るコネクタ10の正面端部が嵌入されるようになってい
る。ホルダ支持部材23の背面には、ホルダ収容室28
に連通する逃がし部32が形成されている。逃がし部3
2の幅寸法はホルダ収容室28の幅寸法よりも小さく、
かつ逃がし部32はホルダ収容室28の幅方向中央位置
に配されていて、ホルダ収容室28の両側部はホルダ4
0をガイドするためのガイド凹部33となっている。
【0013】両ガイド凹部33,33内には、図5に示
すように、一対の平行な金属製のガイドピン34が前後
方向に差し渡されるように配されており、このガイドピ
ン34によってホルダ40が前後方向の移動可能に案内
される。このガイドピン34の支持構造として、ホルダ
支持部材23には、その前後両面に開口し、かつ両ガイ
ド凹部33を貫通するように左右一対の受け孔35,3
5が形成されている。この受け孔35にガイドピン34
の両端部が圧入され、もって両ガイドピン34,34が
抜け止めされた状態で支持されている。
【0014】次に、ホルダ40について説明する。ホル
ダ40は合成樹脂材により形成され、図2に示すよう
に、本体部41とカバー42とを組み付けて構成され
る。本体部41には、図3に示すように、その正面に開
口して後記する検査治具50を収容するための治具収容
部43が形成されている。カバー42は、治具収容部4
3の開口を塞ぐように本体部41にビス44で固定され
る。
【0015】ホルダ40の両側へ突出する部分は上記し
たガイド凹部33に収容される被ガイド部45となって
いる。カバー42の厚さを含む被ガイド部45の前後方
向の寸法はガイド凹部33の前後方向の内寸法よりも小
さく設定されており、ガイド凹部33内では被ガイド部
45が前後方向に移動可能となっている。被ガイド部4
5には、本体部41とカバー42の双方を前後方向に貫
通する左右一対の貫通孔46,46が形成されている。
この貫通孔46には上記のガイドピン34が摺動自由に
挿通されている。これにより、ホルダ40がホルダ支持
部材23に対して前後方向の移動を可能に支持されてい
る。
【0016】また被ガイド部45には、貫通孔46と同
心に本体部41を背面側から穿孔することによってバネ
受け孔47が形成されている。このバネ受け孔47には
圧縮コイルバネ48の前側部分が収容されており、後端
はガイド凹部33の背面側の内壁面に当接されている。
この圧縮コイルバネ48は、ガイドピン34を囲むよう
に設けられ、常にホルダ40を正面側、すなわちコネク
タ10に接近する方向へ付勢している。
【0017】また、本体部41から後方へ突出した部分
は被嵌合部49となっており、この被嵌合部49は上記
の逃がし部32内においてその内壁面と接触することな
く前後方向の移動可能に収容されている。この被嵌合部
49の後端面からは後記するプローブ55が突出してお
り、このプローブ55から延出する電線(図示せず)が
逃がし部32内を通ってホルダ支持部材23の外部へ引
き出されている。
【0018】ホルダ40には、複数の検査治具50が設
けられている。検査治具50は、金属製のブロック状を
なす治具本体51を備えている。治具本体51は、ホル
ダ40の治具収容部43内に収容可能な幅寸法を有し、
その治具本体51の正面には、厚肉の補強部52が突出
して形成されているとともに、この補強部52からさら
に突出する細長い検知片53が形成されている。そし
て、治具本体51から検知片53にわたる表面には、図
4に示すように、合成樹脂等からなる絶縁被覆65が形
成されている。
【0019】また、治具本体51にはプローブ55が取
り付けられている。プローブ55は、細長い円形断面の
筒体56とこの筒体56から進退可能に突出させた突き
当てピン57とからなり、突き当てピン57は筒体56
内に設けた圧縮コイルバネ(図示せず)によって突出方
向に付勢されている。一方、治具本体51における検知
片53の側方には、治具本体51の正面から背面に貫通
する円形断面のピン孔54が形成されている。そして、
上記のプローブ55がピン孔54内に圧入され、これに
よりプローブ55と検知片53とが互いに平行をなして
一体に組み付けられている。
【0020】このような検査治具50が取り付けられる
ホルダ40においては、治具収容部43の奥面からホル
ダ40の後端面に貫通する複数の取付孔58が形成され
ている。この取付孔58は検査治具50のプローブ55
の後端部を嵌入させるためのものであって、コネクタ保
持部材22に保持されたコネクタ10に対して検査治具
50が適正な位置で対応するように位置決めして形成さ
れている。取付孔58の配列の仕方については、上下方
向に所定ピッチで設定した高さにおいて、1つ設ける
か、若しくは横に2つ並べて設けられている。
【0021】検査治具50は、プローブ55の後端部を
取付孔58に挿入するとともに、治具本体51を治具収
容部43内に収容することによって取り付けられてい
る。この状態で、治具本体51は、その一方の側面に形
成した半円形の位置決め突部59を治具収容部43の内
壁に形成した位置決め凹部60に嵌合させることによ
り、プローブ55及び取付孔58の軸心を中心とする回
転が規制されている。このように治具収容部43内に収
容された検査治具50は、カバー42によって遊動を規
制された状態で取り付けられ、もって検査治具50とホ
ルダ40とが一体に組み付けられる。
【0022】この状態では、プローブ55及び検知片5
3がカバー42に形成した窓孔62を貫通して前方へ突
出しており、この突出したプローブ55と検知片53
が、それぞれコネクタ10のキャビティ12と撓み空間
15内への挿入が可能となっている。
【0023】また検査治具50は、治具本体51の外形
は同じであるが検知片53とプローブ55の配列及び数
が異なる複数種のものが用意されている。その例として
は、プローブ55と検知片53を1つずつ設けるタイプ
や、プローブ55と検知片53を2つずつ設けるタイプ
があり、さらにプローブ55と検知片53を1つずつ設
けるタイプでは、これらを右側に寄せて配置するタイプ
と逆に左側に寄せて配置するタイプがある。かかる複数
種の検査治具50は、コネクタ10のキャビティ12の
配列に合わせて選択して所定の取付孔58に取り付ける
ことが可能である。
【0024】本実施形態は上記のような構造であって、
続いてその作用を説明する。コネクタ10の端子金具1
3の挿入状態を検査する際には、コネクタ10をコネク
タ保持部材22に取付けておき、レバー27を操作する
ことによってホルダ支持部材23をコネクタ10に対し
て所定位置まで接近させる。そうすると、コネクタ10
の正面端部がホルダ支持部材23のコネクタ受入部31
内に嵌入され、プローブ55と検知片53がそれぞれキ
ャビティ12と撓み空間15に向かって進んでいく。
【0025】このとき、すべての端子金具13が正規挿
入されている場合には、弾性係止片14が撓み空間15
の外へ退避して端子金具13と係合しているためその撓
み空間15内は空いている。このため、図5に示すよう
に、すべての検知片53がそれぞれ対応する撓み空間1
5内に奥深くまで進入し、この検知片53と一体のプロ
ーブ55もキャビティ12内に進入して端子金具13の
先端面に当接する。このときプローブ55の突き当てピ
ン57は筒体56内の圧縮コイルバネを弾縮しつつ後退
するため、プローブ55や端子金具13の破損が防止さ
れている。このようにプローブ55が端子金具13に当
接することにより、このプローブ55と端子金具13と
の間が電気的導通可能となって導通検査回路(図示せ
ず)が閉成され、これによって端子金具13が正規挿入
されていると判断される。
【0026】また、いずれかの端子金具13が半挿入状
態である場合には、図6の下段に示すように、その端子
金具13と対応する弾性係止片14が撓み空間15内に
進出している。このため、ホルダ支持部材23が所定の
接近位置に達する前に検知片53が弾性係止片14に突
き当たり、検査治具50及びこれと一体のホルダ40は
それ以上コネクタ10に接近することができなくなる。
そして、これ以降のホルダ支持部材23の接近動作の間
は、ホルダ40が圧縮コイルバネ48を弾縮しつつホル
ダ支持部材23に対して相対的に後退方向(図6の右方
向)へ移動することになる。そして、ホルダ支持部材2
3がコネクタ10に対して所定位置まで接近しても、プ
ローブ55はキャビティ12内に進入せず、プローブ5
5と端子金具13とは接触しない。このため導通検査回
路は開放状態のままとなり、これによって半挿入状態の
端子金具13が存在すると判断される。
【0027】本実施形態によれば以下のような利点が得
られる。検査治具50の検知片53は、狭い撓み空間1
5に進入すべく細長い形状に形成せざるを得ないが、検
知片53は金属製の治具本体51から一体に突設されて
いるので、強度並びに耐摩耗性に優れたものとなる。し
かも、治具本体51から検知片53にわたっては絶縁被
覆65が施されているので、誤って端子金具13に接触
したとしても導通が取られることはない。したがって、
端子金具13の挿入状態の検査を長期間にわたり正確に
行うことができる。
【0028】また、検知片53は削り出しにより製造で
きるから、撓み空間15の形状変更等に基づいた検知片
53の形状変更にも簡単に対応することができる。一方
のプローブ55も、治具本体51に後から取り付けられ
るようになっているので、キャビティ12の形状に合っ
た適宜の形状のものが取り付けられる。したがって、キ
ャビティ12や撓み空間15の形状が違う異なった仕様
のコネクタにも幅広く適用することができる。
【0029】<他の実施形態>本発明は上記記述及び図
面によって説明した実施形態に限定されるものではな
く、例えば次のような実施態様も本発明の技術的範囲に
含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内
で種々変更して実施することができる。 (1)上記実施形態の検査治具では、治具本体から検知
片にわたる全表面に絶縁被覆が施されているが、検知片
にのみ絶縁被覆を施すようにしてもよい。 (2)また本発明は、接触体と検知片とが同一の金属素
材により一体的に形成されている検査治具にも同様に適
用でき、その場合は、検知片の表面にのみ絶縁被覆を施
すようにすればよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る検査装置の全体構造
を示す斜視図である。
【図2】ホルダ支持部材の構造を示す分解斜視図であ
る。
【図3】検査治具の取付構造を示す分解斜視図である。
【図4】検査治具の拡大断面図である。
【図5】端子金具が正規挿入されているコネクタに対し
て検査している状態を示すコネクタ保持部材を省略した
断面図である。
【図6】半挿入状態の端子金具が存在するコネクタに対
して検査している状態を示すコネクタ保持部材を省略し
た断面図である。
【図7】従来例の断面図である。
【符号の説明】
10…コネクタ 11…コネクタハウジング 12…キャビティ 13…端子金具 14…弾性係止片 15…撓み空間 50…検査治具 51…治具本体 52…補強部 53…検知片 54…ピン孔 55…プローブ(接触体) 65…絶縁被覆

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 端子金具が挿入されるキャビティと、弾
    性撓みしつつ前記端子金具に対して係脱される弾性係止
    片と、この弾性係止片の弾性撓みを許容する撓み空間と
    を有するコネクタに対し、前記端子金具の挿入状態を検
    査するために用いる治具であって、前記キャビティ内に
    進入して前記端子金具と導通接触可能な接触体と、前記
    撓み空間内に進入する検知片とを一体的に設けたものに
    おいて、 前記検知片は金属製でかつその表面に絶縁被覆が施され
    ていることを特徴とするコネクタの検査治具。
  2. 【請求項2】 前記検知片は金属製の治具本体から一体
    に突設されて少なくともこの検知片の表面に絶縁被覆が
    施されるとともに、前記治具本体に別体に形成された前
    記接触体が取着されていることを特徴とする請求項1記
    載のコネクタの検査治具。
JP9186846A 1997-07-11 1997-07-11 コネクタの検査治具 Pending JPH1131569A (ja)

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JP9186846A JPH1131569A (ja) 1997-07-11 1997-07-11 コネクタの検査治具

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6445190B1 (en) 1999-12-03 2002-09-03 Yazaki Corporation Connector continuity checking device

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US6445190B1 (en) 1999-12-03 2002-09-03 Yazaki Corporation Connector continuity checking device

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