JPH11306039A - 試験プログラム実行制御装置,試験プログラム実行制御方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents
試験プログラム実行制御装置,試験プログラム実行制御方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体Info
- Publication number
- JPH11306039A JPH11306039A JP10113767A JP11376798A JPH11306039A JP H11306039 A JPH11306039 A JP H11306039A JP 10113767 A JP10113767 A JP 10113767A JP 11376798 A JP11376798 A JP 11376798A JP H11306039 A JPH11306039 A JP H11306039A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- error occurrence
- test item
- item
- execution
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/263—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
- G01R31/318307—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences computer-aided, e.g. automatic test program generator [ATPG], program translations, test program debugging
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 最近のエラー状況を見て試験対象とする情報
処理システムの現状に合った効率的な試験を実現できる
ようにすることを課題とする。 【解決手段】 試験プログラム制御部1の制御に従って
試験動作が開始され、編集期間入力部2により試験編集
部3に対して試験結果デ−タを編集する期間が指定さ
れ、試験結果編集部3により編集期間内の試験結果デ−
タが編集され、試験項目スケジューリング部4によって
その編集結果から試験プログラムとして実行する試験項
目の実行順序と実行の有無が決定され、その決定された
試験項目の実行順序と実行の有無により試験項目実行テ
ーブルが作成され、その試験項目実行テーブルの内容に
従って試験プログラムが試験項目毎に独立して実行され
る。
処理システムの現状に合った効率的な試験を実現できる
ようにすることを課題とする。 【解決手段】 試験プログラム制御部1の制御に従って
試験動作が開始され、編集期間入力部2により試験編集
部3に対して試験結果デ−タを編集する期間が指定さ
れ、試験結果編集部3により編集期間内の試験結果デ−
タが編集され、試験項目スケジューリング部4によって
その編集結果から試験プログラムとして実行する試験項
目の実行順序と実行の有無が決定され、その決定された
試験項目の実行順序と実行の有無により試験項目実行テ
ーブルが作成され、その試験項目実行テーブルの内容に
従って試験プログラムが試験項目毎に独立して実行され
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、情報処理システ
ムの試験を行う試験プログラム実行制御装置,試験プロ
グラム実行制御方法およびその方法をコンピュータに実
行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可
能な記録媒体に関する。
ムの試験を行う試験プログラム実行制御装置,試験プロ
グラム実行制御方法およびその方法をコンピュータに実
行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可
能な記録媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、情報処理システムにおけるプログ
ラム試験の精度を高めるものとして、例えば特開平3−
257538号に示される「情報処理システムの試験制
御方法」がある。これは、試験を実行する度に、試験結
果から試験項目毎のエラー要因を累積記憶しておき、こ
れら累積記憶された試験項目毎のエラーの要因に基づい
て、エラー要因毎のエラー率を求め、求められたエラー
率に基づいて、エラー率の高いエラー要因が実行される
試験項目を参照し、この試験項目から優先して試験を行
うようにしたものである。
ラム試験の精度を高めるものとして、例えば特開平3−
257538号に示される「情報処理システムの試験制
御方法」がある。これは、試験を実行する度に、試験結
果から試験項目毎のエラー要因を累積記憶しておき、こ
れら累積記憶された試験項目毎のエラーの要因に基づい
て、エラー要因毎のエラー率を求め、求められたエラー
率に基づいて、エラー率の高いエラー要因が実行される
試験項目を参照し、この試験項目から優先して試験を行
うようにしたものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記公報の
ように従来の試験プログラム実行制御装置は、過去の試
験項目の実行回数およびエラー回数を集計した試験結果
からエラー率を求め、そのエラー率の高い試験項目を優
先して実行するか、あるいはエラー率の高い試験項目の
実行回数を増加させるようにしたので、時間の経過に伴
い変化するエラ−の傾向が現時点での試験の実行制御に
反映されず、現状に合った効率的な試験を行うことがで
きないという問題があった。
ように従来の試験プログラム実行制御装置は、過去の試
験項目の実行回数およびエラー回数を集計した試験結果
からエラー率を求め、そのエラー率の高い試験項目を優
先して実行するか、あるいはエラー率の高い試験項目の
実行回数を増加させるようにしたので、時間の経過に伴
い変化するエラ−の傾向が現時点での試験の実行制御に
反映されず、現状に合った効率的な試験を行うことがで
きないという問題があった。
【0004】すなわち、情報処埋システムで発生するエ
ラーは、その運用時間の経過とともに変化するものであ
る。たとえば、ファームウェアやドライバ等のソフトウ
ェアに着目すると、運用開始時においては、各種のエラ
ーが発生するものであるが、時間の経過とともに品質が
安定し、エラーの発生は減少する。これに対し、ハード
ウェアに着目すると、例えばl/O等においては、時間
とともに磨耗や粉塵の影響によりエラーが増加するもの
と予測される。さらに、エラーの多発していた装置をエ
ラーの対策を実施した新設計のものに入れ替えた場合等
は、その時点から全くエラーが発生しなくなるケースも
予測される。
ラーは、その運用時間の経過とともに変化するものであ
る。たとえば、ファームウェアやドライバ等のソフトウ
ェアに着目すると、運用開始時においては、各種のエラ
ーが発生するものであるが、時間の経過とともに品質が
安定し、エラーの発生は減少する。これに対し、ハード
ウェアに着目すると、例えばl/O等においては、時間
とともに磨耗や粉塵の影響によりエラーが増加するもの
と予測される。さらに、エラーの多発していた装置をエ
ラーの対策を実施した新設計のものに入れ替えた場合等
は、その時点から全くエラーが発生しなくなるケースも
予測される。
【0005】このようなことから、前記公報のように、
単に過去の試験結果からエラー率の高い試験項目を優先
して実行する方法をとると、現状ではエラー率の低くな
った試験項目に対しても優先的な実行、あるいは回数を
増加させての実行が行われるため、試験効率を低下させ
てしまうことになった。
単に過去の試験結果からエラー率の高い試験項目を優先
して実行する方法をとると、現状ではエラー率の低くな
った試験項目に対しても優先的な実行、あるいは回数を
増加させての実行が行われるため、試験効率を低下させ
てしまうことになった。
【0006】また、単に過去の試験結果からエラー率の
低い試験項目を実行しないという試験制御方法をとる場
合には、全体としてはエラー率が低くなるが、最近では
頻繁にエラーを発生する試験項目を実行しないことにな
るため、検出すべきエラーが検出されないケースも生じ
るという危惧があった。
低い試験項目を実行しないという試験制御方法をとる場
合には、全体としてはエラー率が低くなるが、最近では
頻繁にエラーを発生する試験項目を実行しないことにな
るため、検出すべきエラーが検出されないケースも生じ
るという危惧があった。
【0007】この発明は、上述した従来例による問題を
解消するため、過去の試験で発生したエラーから、試験
対象とする情報処理システムの現状に合った効率的な試
験を行うことが可能な試験プログラム実行制御装置,試
験プログラム実行制御方法およびその方法をコンピュー
タに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み
取り可能な記録媒体を提供することを目的とする。
解消するため、過去の試験で発生したエラーから、試験
対象とする情報処理システムの現状に合った効率的な試
験を行うことが可能な試験プログラム実行制御装置,試
験プログラム実行制御方法およびその方法をコンピュー
タに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み
取り可能な記録媒体を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決し、
目的を達成するため、請求項1の発明に係る試験プログ
ラム実行制御装置は、所定の情報処理システムに対する
試験プログラムの実行を制御する試験プログラム実行制
御装置において、前記所定の情報処理システムに対して
実行した試験プログラムの試験項目毎の試験結果をその
試験日程とともに蓄積する蓄積手段と、前記蓄積手段に
蓄積された試験結果のうち、任意の試験期間での試験結
果に基づいて前記所定の情報処理システムの動作状況を
判断する動作状況判断手段と、を備えたことを特徴とす
る。
目的を達成するため、請求項1の発明に係る試験プログ
ラム実行制御装置は、所定の情報処理システムに対する
試験プログラムの実行を制御する試験プログラム実行制
御装置において、前記所定の情報処理システムに対して
実行した試験プログラムの試験項目毎の試験結果をその
試験日程とともに蓄積する蓄積手段と、前記蓄積手段に
蓄積された試験結果のうち、任意の試験期間での試験結
果に基づいて前記所定の情報処理システムの動作状況を
判断する動作状況判断手段と、を備えたことを特徴とす
る。
【0009】この請求項1の発明によれば、所定の情報
処理システムに対して実行した試験プログラムの試験項
目毎の試験結果をその試験日程とともに蓄積して、その
試験結果のうち、任意の試験期間での試験結果に基づい
て所定の情報処理システムの動作状況を判断するように
したので、所定の情報処理システムでその運用の経過と
ともに変化する動作状況について任意の試験期間すなわ
ち任意の経過時点の動作状況を取得することができ、こ
れにより、試験対象とする情報処理システムの現状に合
った効率的な試験を実現することが可能である。
処理システムに対して実行した試験プログラムの試験項
目毎の試験結果をその試験日程とともに蓄積して、その
試験結果のうち、任意の試験期間での試験結果に基づい
て所定の情報処理システムの動作状況を判断するように
したので、所定の情報処理システムでその運用の経過と
ともに変化する動作状況について任意の試験期間すなわ
ち任意の経過時点の動作状況を取得することができ、こ
れにより、試験対象とする情報処理システムの現状に合
った効率的な試験を実現することが可能である。
【0010】また、請求項2の発明に係る試験プログラ
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記各試
験項目をエラーの発生頻度に応じた回数だけ実行するこ
とを特徴とする。
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記各試
験項目をエラーの発生頻度に応じた回数だけ実行するこ
とを特徴とする。
【0011】この請求項2の発明によれば、各試験項目
をエラーの発生頻度に応じた回数だけ実行するようにし
たので、限られた時間内にクリティカルな機能に的を絞
った効果的な試験を実現することが可能である。
をエラーの発生頻度に応じた回数だけ実行するようにし
たので、限られた時間内にクリティカルな機能に的を絞
った効果的な試験を実現することが可能である。
【0012】また、請求項3の発明に係る試験プログラ
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験
項目から昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験
項目から昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
【0013】この請求項3の発明によれば、動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試
験項目から昇順に実行順序を決定するようにしたので、
現状の情報処理システムにおいてエラーを検出する確立
の高い試験項目から効率的に実行することが可能であ
る。
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試
験項目から昇順に実行順序を決定するようにしたので、
現状の情報処理システムにおいてエラーを検出する確立
の高い試験項目から効率的に実行することが可能であ
る。
【0014】また、請求項4の発明に係る試験プログラ
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラーの発生間隔の短い試験
項目から昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラーの発生間隔の短い試験
項目から昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
【0015】この請求項4の発明によれば、動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラーの発生間隔の短い試
験項目から昇順に実行順序を決定するようにしたので、
エラーの発生しやすい試験項目から効率的に実行するこ
とが可能である。
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラーの発生間隔の短い試
験項目から昇順に実行順序を決定するようにしたので、
エラーの発生しやすい試験項目から効率的に実行するこ
とが可能である。
【0016】また、請求項5の発明に係る試験プログラ
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラーの発生日付の新しい試
験項目から昇順に実行順序を決定することを特徴とす
る。
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラーの発生日付の新しい試
験項目から昇順に実行順序を決定することを特徴とす
る。
【0017】この請求項5の発明によれば、動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラーの発生日付の新しい
試験項目から昇順に実行順序を決定するようにしたの
で、発生したエラーへの対処が確実に実施されているこ
とを最初に確認することが可能である。
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラーの発生日付の新しい
試験項目から昇順に実行順序を決定するようにしたの
で、発生したエラーへの対処が確実に実施されているこ
とを最初に確認することが可能である。
【0018】また、請求項6の発明に係る試験プログラ
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があらかじ
め設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行対象
から外すことを特徴とする。
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があらかじ
め設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行対象
から外すことを特徴とする。
【0019】この請求項6の発明によれば、動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があらか
じめ設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行対
象から外すようにしたので、実質的に試験の効果を低下
させずに通常よりも短時間で試験を効率的に行うことが
可能である。
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があらか
じめ設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行対
象から外すようにしたので、実質的に試験の効果を低下
させずに通常よりも短時間で試験を効率的に行うことが
可能である。
【0020】また、請求項7の発明に係る試験プログラ
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験
項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、エラ
ーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験項
目から昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、前記決定手段は、前記試験項目毎の
エラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験
項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、エラ
ーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験項
目から昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
【0021】この請求項7の発明によれば、動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試
験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、エ
ラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験
項目から昇順に実行順序を決定するようにしたので、エ
ラ−の発生頻度の高い試験項目に着目した場合、現状の
情報処理システムにおいてエラーを検出する確立の高い
試験項目から効率的に実行することが可能であり、エラ
ーの発生間隔の短い試験項目に着目した場合、エラーの
発生しやすい試験項目から効率的に実行することが可能
であり、エラーの発生日付の新しい試験項目に着目した
場合、発生したエラーへの対処が確実に実施されている
ことを最初に確認することが可能である。
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試
験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、エ
ラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験
項目から昇順に実行順序を決定するようにしたので、エ
ラ−の発生頻度の高い試験項目に着目した場合、現状の
情報処理システムにおいてエラーを検出する確立の高い
試験項目から効率的に実行することが可能であり、エラ
ーの発生間隔の短い試験項目に着目した場合、エラーの
発生しやすい試験項目から効率的に実行することが可能
であり、エラーの発生日付の新しい試験項目に着目した
場合、発生したエラーへの対処が確実に実施されている
ことを最初に確認することが可能である。
【0022】また、請求項8の発明に係る試験プログラ
ム実行制御方法は、所定の情報処理システムに対する試
験プログラムの実行を制御する試験プログラム実行制御
方法において、メモリが用意され、前記メモリに、前記
所定の情報処理システムに対して実行した試験プログラ
ムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに蓄積
する第1工程と、前記第1工程で前記メモリに蓄積され
た試験結果の試験日程から、その試験日程の範囲内で任
意の試験期間を指定する第2工程と、前記第1工程で蓄
積された試験結果のうち、前記第2工程で指定された任
意の試験期間での試験結果に基づいて前記所定の情報処
理システムの動作状況を判断する第3工程と、前記第3
工程で判断された動作状況に応じて前記試験プログラム
の試験項目の実行手順を決定する第4工程と、を含んだ
ことを特徴とする。
ム実行制御方法は、所定の情報処理システムに対する試
験プログラムの実行を制御する試験プログラム実行制御
方法において、メモリが用意され、前記メモリに、前記
所定の情報処理システムに対して実行した試験プログラ
ムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに蓄積
する第1工程と、前記第1工程で前記メモリに蓄積され
た試験結果の試験日程から、その試験日程の範囲内で任
意の試験期間を指定する第2工程と、前記第1工程で蓄
積された試験結果のうち、前記第2工程で指定された任
意の試験期間での試験結果に基づいて前記所定の情報処
理システムの動作状況を判断する第3工程と、前記第3
工程で判断された動作状況に応じて前記試験プログラム
の試験項目の実行手順を決定する第4工程と、を含んだ
ことを特徴とする。
【0023】この請求項8の発明によれば、メモリに、
所定の情報処理システムに対して実行した試験プログラ
ムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに蓄積
し、そのメモリに蓄積された試験結果の試験日程から、
その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指定し、その
指定された任意の試験期間での試験結果に基づいて所定
の情報処理システムの動作状況を判断して、その判断さ
れた動作状況に応じて試験プログラムの試験項目の実行
手順を決定する工程にしたので、所定の情報処理システ
ムでその運用の経過とともに変化する動作状況について
任意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を取
得することができ、これにより、試験対象とする情報処
理システムの現状に合った効率的な試験を実現すること
が可能である。
所定の情報処理システムに対して実行した試験プログラ
ムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに蓄積
し、そのメモリに蓄積された試験結果の試験日程から、
その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指定し、その
指定された任意の試験期間での試験結果に基づいて所定
の情報処理システムの動作状況を判断して、その判断さ
れた動作状況に応じて試験プログラムの試験項目の実行
手順を決定する工程にしたので、所定の情報処理システ
ムでその運用の経過とともに変化する動作状況について
任意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を取
得することができ、これにより、試験対象とする情報処
理システムの現状に合った効率的な試験を実現すること
が可能である。
【0024】また、請求項9の発明に係る試験プログラ
ム実行制御方法は、請求項8の発明において、前記第3
工程は前記動作状況として試験項目毎のエラー発生状況
を判断し、前記第4工程は、前記試験項目毎のエラー発
生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エ
ラーの発生間隔の短い試験項目、および、エラーの発生
日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験項目から昇
順に実行順序を決定することを特徴とする。
ム実行制御方法は、請求項8の発明において、前記第3
工程は前記動作状況として試験項目毎のエラー発生状況
を判断し、前記第4工程は、前記試験項目毎のエラー発
生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エ
ラーの発生間隔の短い試験項目、および、エラーの発生
日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験項目から昇
順に実行順序を決定することを特徴とする。
【0025】この請求項9の発明によれば、動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試
験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、エ
ラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験
項目から昇順に実行順序を決定する工程にしたので、エ
ラ−の発生頻度の高い試験項目に着目した場合、現状の
情報処理システムにおいてエラーを検出する確立の高い
試験項目から効率的に実行することが可能であり、エラ
ーの発生間隔の短い試験項目に着目した場合、エラーの
発生しやすい試験項目から効率的に実行することが可能
であり、エラーの発生日付の新しい試験項目に着目した
場合、発生したエラーへの対処が確実に実施されている
ことを最初に確認することが可能である。
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目毎
のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試
験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、エ
ラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験
項目から昇順に実行順序を決定する工程にしたので、エ
ラ−の発生頻度の高い試験項目に着目した場合、現状の
情報処理システムにおいてエラーを検出する確立の高い
試験項目から効率的に実行することが可能であり、エラ
ーの発生間隔の短い試験項目に着目した場合、エラーの
発生しやすい試験項目から効率的に実行することが可能
であり、エラーの発生日付の新しい試験項目に着目した
場合、発生したエラーへの対処が確実に実施されている
ことを最初に確認することが可能である。
【0026】また、請求項10の発明に係る試験プログ
ラム実行制御方法は、請求項8の発明において、前記第
3工程は前記動作状況として試験項目毎のエラー発生状
況を判断し、前記第4工程は、前記試験項目毎のエラー
発生状況に基づき、エラーの発生頻度があらかじめ設定
された値よりも低い値をもつ試験項目を実行対象から外
すことを特徴とする。
ラム実行制御方法は、請求項8の発明において、前記第
3工程は前記動作状況として試験項目毎のエラー発生状
況を判断し、前記第4工程は、前記試験項目毎のエラー
発生状況に基づき、エラーの発生頻度があらかじめ設定
された値よりも低い値をもつ試験項目を実行対象から外
すことを特徴とする。
【0027】この請求項10の発明によれば、動作状況
として試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があら
かじめ設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行
対象から外す工程にしたので、実質的に試験の効果を低
下させずに通常よりも短時間で試験を効率的に行うこと
が可能である。
として試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があら
かじめ設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行
対象から外す工程にしたので、実質的に試験の効果を低
下させずに通常よりも短時間で試験を効率的に行うこと
が可能である。
【0028】また、請求項11の発明に係る試験プログ
ラム実行制御方法は、請求項9の発明において、前記第
2工程は前記動作状況として試験項目毎のエラー発生状
況を判断し、前記第3工程は、前記試験項目毎のエラー
発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験項目、
エラーの発生間隔の短い試験項目、および、エラーの発
生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験項目から
昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
ラム実行制御方法は、請求項9の発明において、前記第
2工程は前記動作状況として試験項目毎のエラー発生状
況を判断し、前記第3工程は、前記試験項目毎のエラー
発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験項目、
エラーの発生間隔の短い試験項目、および、エラーの発
生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試験項目から
昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
【0029】この請求項11の発明によれば、動作状況
として試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い
試験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、
エラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試
験項目から昇順に実行順序を決定する工程にしたので、
エラ−の発生頻度の高い試験項目に着目した場合、現状
の情報処理システムにおいてエラーを検出する確立の高
い試験項目から効率的に実行することが可能であり、エ
ラーの発生間隔の短い試験項目に着目した場合、エラー
の発生しやすい試験項目から効率的に実行することが可
能であり、エラーの発生日付の新しい試験項目に着目し
た場合、発生したエラーへの対処が確実に実施されてい
ることを最初に確認することが可能である。
として試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い
試験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、
エラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試
験項目から昇順に実行順序を決定する工程にしたので、
エラ−の発生頻度の高い試験項目に着目した場合、現状
の情報処理システムにおいてエラーを検出する確立の高
い試験項目から効率的に実行することが可能であり、エ
ラーの発生間隔の短い試験項目に着目した場合、エラー
の発生しやすい試験項目から効率的に実行することが可
能であり、エラーの発生日付の新しい試験項目に着目し
た場合、発生したエラーへの対処が確実に実施されてい
ることを最初に確認することが可能である。
【0030】また、請求項12の発明に係る試験プログ
ラム実行制御方法は、請求項8または9の発明におい
て、エラーの発生頻度に応じて各試験項目の実行回数が
設定されることを特徴とする。
ラム実行制御方法は、請求項8または9の発明におい
て、エラーの発生頻度に応じて各試験項目の実行回数が
設定されることを特徴とする。
【0031】この請求項12の発明によれば、エラーの
発生頻度に応じて各試験項目の実行回数が設定されるの
で、限られた時間内にクリティカルな機能に的を絞った
効果的な試験を実現することが可能である。
発生頻度に応じて各試験項目の実行回数が設定されるの
で、限られた時間内にクリティカルな機能に的を絞った
効果的な試験を実現することが可能である。
【0032】また、請求項13の発明に係るコンピュー
タ読み取り可能な記録媒体は、所定の情報処理システム
に対する試験プログラムの実行を制御する試験プログラ
ム実行制御装置に適用される試験プログラム実行制御方
法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコ
ンピュータ読み取り可能な記録媒体において、前記試験
プログラム実行制御装置にはメモリが用意され、前記メ
モリに、前記所定の情報処理システムに対して実行した
試験プログラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程
とともに蓄積させる第1手順と、前記第1手順で前記メ
モリに蓄積させた試験結果の試験日程から、その試験日
程の範囲内で任意の試験期間を指定する第2手順と、前
記第1手順で蓄積された試験結果のうち、前記第2手順
で指定された任意の試験期間での試験結果に基づいて前
記所定の情報処理システムの動作状況を判断する第3手
順と、前記第3手順で判断された動作状況に応じて前記
試験プログラムの試験項目の実行手順を決定する第4手
順と、を実行させるためのプログラムを記録したことを
特徴とする。
タ読み取り可能な記録媒体は、所定の情報処理システム
に対する試験プログラムの実行を制御する試験プログラ
ム実行制御装置に適用される試験プログラム実行制御方
法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコ
ンピュータ読み取り可能な記録媒体において、前記試験
プログラム実行制御装置にはメモリが用意され、前記メ
モリに、前記所定の情報処理システムに対して実行した
試験プログラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程
とともに蓄積させる第1手順と、前記第1手順で前記メ
モリに蓄積させた試験結果の試験日程から、その試験日
程の範囲内で任意の試験期間を指定する第2手順と、前
記第1手順で蓄積された試験結果のうち、前記第2手順
で指定された任意の試験期間での試験結果に基づいて前
記所定の情報処理システムの動作状況を判断する第3手
順と、前記第3手順で判断された動作状況に応じて前記
試験プログラムの試験項目の実行手順を決定する第4手
順と、を実行させるためのプログラムを記録したことを
特徴とする。
【0033】この請求項13の発明によれば、メモリ
に、所定の情報処理システムに対して実行した試験プロ
グラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに
蓄積させ、そのメモリに蓄積させた試験結果の試験日程
から、その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指定
し、その指定された任意の試験期間での試験結果に基づ
いて前記所定の情報処理システムの動作状況を判断し
て、その判断された動作状況に応じて試験プログラムの
試験項目の実行手順を決定する手順にしたので、試験プ
ログラム実行制御装置に対して所定の情報処理システム
でその運用の経過とともに変化する動作状況について任
意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を取得
する機能を実現させることができ、これにより、試験対
象とする情報処理システムの現状に合った効率的な試験
を実現することが可能である。
に、所定の情報処理システムに対して実行した試験プロ
グラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに
蓄積させ、そのメモリに蓄積させた試験結果の試験日程
から、その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指定
し、その指定された任意の試験期間での試験結果に基づ
いて前記所定の情報処理システムの動作状況を判断し
て、その判断された動作状況に応じて試験プログラムの
試験項目の実行手順を決定する手順にしたので、試験プ
ログラム実行制御装置に対して所定の情報処理システム
でその運用の経過とともに変化する動作状況について任
意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を取得
する機能を実現させることができ、これにより、試験対
象とする情報処理システムの現状に合った効率的な試験
を実現することが可能である。
【0034】また、請求項14の発明に係るコンピュー
タ読み取り可能な記録媒体は、請求項13の発明におい
て、前記第3手順は前記動作状況として試験項目毎のエ
ラー発生状況を判断し、前記第4手順は、前記試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い
試験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、
エラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試
験項目から昇順に実行順序を決定することを特徴とす
る。
タ読み取り可能な記録媒体は、請求項13の発明におい
て、前記第3手順は前記動作状況として試験項目毎のエ
ラー発生状況を判断し、前記第4手順は、前記試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い
試験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、
エラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試
験項目から昇順に実行順序を決定することを特徴とす
る。
【0035】この請求項14の発明によれば、動作状況
として試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い
試験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、
エラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試
験項目から昇順に実行順序を決定する手順にしたので、
試験プログラム実行制御装置上で、エラ−の発生頻度の
高い試験項目に着目した場合、現状の情報処理システム
においてエラーを検出する確立の高い試験項目から効率
的に実行することが可能であり、エラーの発生間隔の短
い試験項目に着目した場合、エラーの発生しやすい試験
項目から効率的に実行することが可能であり、エラーの
発生日付の新しい試験項目に着目した場合、発生したエ
ラーへの対処が確実に実施されていることを最初に確認
することが可能である。
として試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い
試験項目、エラーの発生間隔の短い試験項目、および、
エラーの発生日付の新しい試験項目のいずれか1種の試
験項目から昇順に実行順序を決定する手順にしたので、
試験プログラム実行制御装置上で、エラ−の発生頻度の
高い試験項目に着目した場合、現状の情報処理システム
においてエラーを検出する確立の高い試験項目から効率
的に実行することが可能であり、エラーの発生間隔の短
い試験項目に着目した場合、エラーの発生しやすい試験
項目から効率的に実行することが可能であり、エラーの
発生日付の新しい試験項目に着目した場合、発生したエ
ラーへの対処が確実に実施されていることを最初に確認
することが可能である。
【0036】また、請求項15の発明に係るコンピュー
タ読み取り可能な記録媒体は、請求項13の発明におい
て、前記第3手順は前記動作状況として試験項目毎のエ
ラー発生状況を判断し、前記第4手順は、前記試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があら
かじめ設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行
対象から外すことを特徴とする。
タ読み取り可能な記録媒体は、請求項13の発明におい
て、前記第3手順は前記動作状況として試験項目毎のエ
ラー発生状況を判断し、前記第4手順は、前記試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があら
かじめ設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行
対象から外すことを特徴とする。
【0037】この請求項15の発明によれば、動作状況
として試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があら
かじめ設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行
対象から外す手順にしたので、試験プログラム実行制御
装置上で、実質的に試験の効果を低下させずに通常より
も短時間で試験を効率的に行うことが可能である。
として試験項目毎のエラー発生状況を判断し、試験項目
毎のエラー発生状況に基づき、エラーの発生頻度があら
かじめ設定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行
対象から外す手順にしたので、試験プログラム実行制御
装置上で、実質的に試験の効果を低下させずに通常より
も短時間で試験を効率的に行うことが可能である。
【0038】
【発明の実施の形態】以下に添付図面を参照して、試験
プログラム実行制御装置,試験プログラム実行制御方法
およびその方法をコンピュータに実行させるプログラム
を記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に係る
好適な実施の形態を詳細に説明する。
プログラム実行制御装置,試験プログラム実行制御方法
およびその方法をコンピュータに実行させるプログラム
を記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に係る
好適な実施の形態を詳細に説明する。
【0039】まず、この発明の一実施の形態による原理
について説明する。図1はこの発明の一実施の形態によ
る試験プログラム実行制御装置を機能的に示すブロック
図である。同図に示した試験プログラム実行制御装置
は、全体の制御の中枢となり、試験項目毎の試験実行を
制御する試験プログラム制御部1、オペレータの操作に
より試験項目毎の試験結果データについて編集期間およ
び実行制御条件を指定する編集期間入力部2、現在まで
蓄積された試験結果デ一夕のうち、編集期間入力部2で
入力された編集期間の試験結果データをエラー発生状況
について解析する試験結果編集部3、試験結果編集部3
で解析された編集結果データを基に試験項目の実行順序
および実行の有無を決定する試験項目スケジューリング
部4、試験項目スケジューリング部4で作成される試験
項目実行テーブル5、および、独立した複数の試験項目
#1〜#N(Nは自然数)よりなる試験プログラム6よ
り構成される。この試験プログラム実行制御装置は、試
験の実行対象となる試験対象装置7に接続される。
について説明する。図1はこの発明の一実施の形態によ
る試験プログラム実行制御装置を機能的に示すブロック
図である。同図に示した試験プログラム実行制御装置
は、全体の制御の中枢となり、試験項目毎の試験実行を
制御する試験プログラム制御部1、オペレータの操作に
より試験項目毎の試験結果データについて編集期間およ
び実行制御条件を指定する編集期間入力部2、現在まで
蓄積された試験結果デ一夕のうち、編集期間入力部2で
入力された編集期間の試験結果データをエラー発生状況
について解析する試験結果編集部3、試験結果編集部3
で解析された編集結果データを基に試験項目の実行順序
および実行の有無を決定する試験項目スケジューリング
部4、試験項目スケジューリング部4で作成される試験
項目実行テーブル5、および、独立した複数の試験項目
#1〜#N(Nは自然数)よりなる試験プログラム6よ
り構成される。この試験プログラム実行制御装置は、試
験の実行対象となる試験対象装置7に接続される。
【0040】ここで、編集期間入力部2について詳述す
る。試験を実行する日が例えば1997年9月15日で
あった場合、「過去3ヶ月間」、「過去6ヶ月間」、
「過去100日間」、「l997年l月l日〜1997
年9月l4日」等の編集期間の入力が受け付けられる。
編集期間の受け付けを行う場合には、例えば、CRT等
のディスプレイに上記の編集期間の選択項目を表示して
選択を促す等の方法で編集期間の入力を受け付けること
ができる。
る。試験を実行する日が例えば1997年9月15日で
あった場合、「過去3ヶ月間」、「過去6ヶ月間」、
「過去100日間」、「l997年l月l日〜1997
年9月l4日」等の編集期間の入力が受け付けられる。
編集期間の受け付けを行う場合には、例えば、CRT等
のディスプレイに上記の編集期間の選択項目を表示して
選択を促す等の方法で編集期間の入力を受け付けること
ができる。
【0041】また、「エラーの発生頻度の高い試験項目
から実行する」、「エラーの発生間隔の短い試験項目か
ら実行する」、「エラーの発生日付の新しい試験項目か
ら実行する」、「エラーの発生頻度の高い試験項目から
実行し、発生頻度が5%以下の試験項目は実行しない」
等の実行制御条件が受け付けられる。これらの受け付け
に際しても、上記同様に、CRT等のディスプレイに上
記の実行制御条件を表示して選択を促す等の方法で実行
制御条件の入力を受け付けることができる。
から実行する」、「エラーの発生間隔の短い試験項目か
ら実行する」、「エラーの発生日付の新しい試験項目か
ら実行する」、「エラーの発生頻度の高い試験項目から
実行し、発生頻度が5%以下の試験項目は実行しない」
等の実行制御条件が受け付けられる。これらの受け付け
に際しても、上記同様に、CRT等のディスプレイに上
記の実行制御条件を表示して選択を促す等の方法で実行
制御条件の入力を受け付けることができる。
【0042】つぎに、以上の原理構成に基づく動作につ
いて説明する。図1に示した試験プログラム実行制御装
置では、まず、試験プログラム制御部1の制御に従って
試験対象装置7に対する試験プログラム6が実行され、
その試験結果と日付は対応付けて試験結果データとして
試験結果編集部3に格納される(図1中、矢印fで示
す)。一方、編集のためには、試験プログラム制御部1
の制御(図1中、矢印aで示す)に従って編集期間入力
部2によりオペレー夕から過去の試験期間のうち編集対
象期間として希望する編集期間および実行制御条件が入
力される。
いて説明する。図1に示した試験プログラム実行制御装
置では、まず、試験プログラム制御部1の制御に従って
試験対象装置7に対する試験プログラム6が実行され、
その試験結果と日付は対応付けて試験結果データとして
試験結果編集部3に格納される(図1中、矢印fで示
す)。一方、編集のためには、試験プログラム制御部1
の制御(図1中、矢印aで示す)に従って編集期間入力
部2によりオペレー夕から過去の試験期間のうち編集対
象期間として希望する編集期間および実行制御条件が入
力される。
【0043】この編集期間は、編集期間の選択項目を表
示する等の方法でその入力を受け付けることができる。
また、実行制御条件とは、エラ−の発生頻度の高い試験
項目から昇順に実行順序を決定する条件、エラーの発生
間隔の短い試験項目から昇順に実行順序を決定する条
件、エラーの発生日付の新しい試験項目から昇順に実行
順序を決定する条件、エラーの発生頻度があらかじめ設
定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行対象から
外す条件などを示している。
示する等の方法でその入力を受け付けることができる。
また、実行制御条件とは、エラ−の発生頻度の高い試験
項目から昇順に実行順序を決定する条件、エラーの発生
間隔の短い試験項目から昇順に実行順序を決定する条
件、エラーの発生日付の新しい試験項目から昇順に実行
順序を決定する条件、エラーの発生頻度があらかじめ設
定された値よりも低い値をもつ試験項目を実行対象から
外す条件などを示している。
【0044】オペレータにより入力された編集期間は編
集期間入力部2から試験結果編集部3に通知される(図
1中、矢印bで示す)。試験結果編集部3では、編集期
間入力部2から通知された編集期間に該当する試験期間
をもつ試験結果デ一夕が抽出され、その試験結果データ
が編集される。ここでの編集とは、エラー発生状況を解
析するものを指している。この編集により得られたデー
タすなわち編集結果データは試験項目スケジユーリング
部4に通知される(図1中、矢印cで示す)。試験項目
スケジユーリング部4では、その通知された編集結果デ
ータから試験項目の実行順序や実行の有無が決定され、
その決定された情報に基づいて試験項目実行テーブル5
が作成される(図1中、矢印dで示す)。
集期間入力部2から試験結果編集部3に通知される(図
1中、矢印bで示す)。試験結果編集部3では、編集期
間入力部2から通知された編集期間に該当する試験期間
をもつ試験結果デ一夕が抽出され、その試験結果データ
が編集される。ここでの編集とは、エラー発生状況を解
析するものを指している。この編集により得られたデー
タすなわち編集結果データは試験項目スケジユーリング
部4に通知される(図1中、矢印cで示す)。試験項目
スケジユーリング部4では、その通知された編集結果デ
ータから試験項目の実行順序や実行の有無が決定され、
その決定された情報に基づいて試験項目実行テーブル5
が作成される(図1中、矢印dで示す)。
【0045】ここで、試験プログラム制御部1は、試験
項目実行テーブル5に示される試験プログラム6の各試
験項目の実行順序および実行の有無に従って試験対象装
置7に対して実行制御が行われる(図1中、矢印eで示
す)。そして、実行した結果は、試験結果データとして
試験結果編集部3に追加して蓄積される(図1中、矢印
fで示す)。
項目実行テーブル5に示される試験プログラム6の各試
験項目の実行順序および実行の有無に従って試験対象装
置7に対して実行制御が行われる(図1中、矢印eで示
す)。そして、実行した結果は、試験結果データとして
試験結果編集部3に追加して蓄積される(図1中、矢印
fで示す)。
【0046】このように、過去に発生したエラーのデー
タに対し、そのデータを解析し評価する期間を任意に設
定することにより、試験対象とする試験対象装置7の現
状に合った効率的な試験が行われる。
タに対し、そのデータを解析し評価する期間を任意に設
定することにより、試験対象とする試験対象装置7の現
状に合った効率的な試験が行われる。
【0047】つぎに、上述した機能的な構成をハードウ
ェア的に実現した場合について説明する。図2はこの発
明の一実施の形態による試験プログラム実行制御装置を
ハードウェア的に示すブロック図である。同図に示した
試験プログラム実行制御装置は、例えば、前述した図1
の機能のすべてに相当する制御装置本体10、前述した
図1の機能のうちで編集期間入力部2の一部に相当し、
オペレータに対して試験状況を表示支援したり編集期間
の入力支援を行うディスプレイ/キーボード20、外部
記憶装置であるとともに同機能を有する他の情報処理シ
ステム(試験対象装置)で取得された試験結果データを
メモリ12へ供給するする場合などで使用されるハード
ディスク装置30、外部記憶装置であるとともに同機能
を有する他の情報処理システム(試験対象装置)で取得
された試験結果データをメモリ12へ供給するする場合
などで使用されるフロッピーディスクや光磁気ディスク
等の記憶媒体31、同機能を有する他の情報処理システ
ム(試験対象装置)で取得された試験結果データを受信
する場合などで使用される電話回線,LAN(Loca
l Area Network)等の回線40により構
成される。
ェア的に実現した場合について説明する。図2はこの発
明の一実施の形態による試験プログラム実行制御装置を
ハードウェア的に示すブロック図である。同図に示した
試験プログラム実行制御装置は、例えば、前述した図1
の機能のすべてに相当する制御装置本体10、前述した
図1の機能のうちで編集期間入力部2の一部に相当し、
オペレータに対して試験状況を表示支援したり編集期間
の入力支援を行うディスプレイ/キーボード20、外部
記憶装置であるとともに同機能を有する他の情報処理シ
ステム(試験対象装置)で取得された試験結果データを
メモリ12へ供給するする場合などで使用されるハード
ディスク装置30、外部記憶装置であるとともに同機能
を有する他の情報処理システム(試験対象装置)で取得
された試験結果データをメモリ12へ供給するする場合
などで使用されるフロッピーディスクや光磁気ディスク
等の記憶媒体31、同機能を有する他の情報処理システ
ム(試験対象装置)で取得された試験結果データを受信
する場合などで使用される電話回線,LAN(Loca
l Area Network)等の回線40により構
成される。
【0048】制御装置本体10とディスプレイ/キーボ
ード20とはオペレータインタフェース14を介して接
続され、制御装置本体10とダイレクトアクセスが可能
なハードディスク装置30,光磁気ディスク31等の記
録媒体とは入出力装置インタフェース16を介して接続
される。制御装置本体10と回線40とはネットワーク
インタフェース18を介して接続される。
ード20とはオペレータインタフェース14を介して接
続され、制御装置本体10とダイレクトアクセスが可能
なハードディスク装置30,光磁気ディスク31等の記
録媒体とは入出力装置インタフェース16を介して接続
される。制御装置本体10と回線40とはネットワーク
インタフェース18を介して接続される。
【0049】制御装置本体10は、例えば図1に示した
ように、本装置の制御の中枢をなすMPU11、このM
PU11と各インタフェース13,15,17との間で
データの受渡しを行うオペレータインタフェース制御部
12,入出力装置インタフェース制御部15、ネットワ
ークインタフェース制御部17、および、前述した図1
のすべての機能を実現するための試験プログラム実行制
御プログラムを格納するとともに内部的にデータを保持
するメモリ12を備えている。
ように、本装置の制御の中枢をなすMPU11、このM
PU11と各インタフェース13,15,17との間で
データの受渡しを行うオペレータインタフェース制御部
12,入出力装置インタフェース制御部15、ネットワ
ークインタフェース制御部17、および、前述した図1
のすべての機能を実現するための試験プログラム実行制
御プログラムを格納するとともに内部的にデータを保持
するメモリ12を備えている。
【0050】上記試験プログラム実行制御プログラム
は、試験プログラム制御部1、編集期間入力部2、試験
結果編集部3、試験項目スケジューリング部4、試験項
目実行テーブル5、および、試験プログラム6(一例と
して試験項目を10個とする)を実現するためのデータ
を格納している。
は、試験プログラム制御部1、編集期間入力部2、試験
結果編集部3、試験項目スケジューリング部4、試験項
目実行テーブル5、および、試験プログラム6(一例と
して試験項目を10個とする)を実現するためのデータ
を格納している。
【0051】つぎに、動作について説明する。図3はこ
の発明の一実施の形態による動作を説明するフローチャ
ート、図4は編集期間の入力画面の一例を示す図、図
5,図11および図13は編集期間の入力例を説明する
図、図6は試験結果の一例を説明する図、図7は編集結
果の一例を説明する図、図8,図9,図12および図1
4は編集期間および実行制御条件に応じた試験項目実行
テーブルの内容例を説明する図、そして、図10は試験
結果の更新例を説明する図である。
の発明の一実施の形態による動作を説明するフローチャ
ート、図4は編集期間の入力画面の一例を示す図、図
5,図11および図13は編集期間の入力例を説明する
図、図6は試験結果の一例を説明する図、図7は編集結
果の一例を説明する図、図8,図9,図12および図1
4は編集期間および実行制御条件に応じた試験項目実行
テーブルの内容例を説明する図、そして、図10は試験
結果の更新例を説明する図である。
【0052】まず、図3〜図10を参照して、実行制御
条件が「エラーの発生頻度の高い試験項目から実行す
る」とした場合について説明する。なお、図3の動作は
MPU11により全体の動作が制御され、個々の動作に
ついては図1の各構成により実施される。まず、ディス
プレイ(ディスプレイ/キーボード20)には、編集期
間および実行制御条件を入力するために所定のフォーマ
ットで形成されたオペレータ入力画面が表示され、オペ
レータからの入力が受け付けられる(ステップS1)。
条件が「エラーの発生頻度の高い試験項目から実行す
る」とした場合について説明する。なお、図3の動作は
MPU11により全体の動作が制御され、個々の動作に
ついては図1の各構成により実施される。まず、ディス
プレイ(ディスプレイ/キーボード20)には、編集期
間および実行制御条件を入力するために所定のフォーマ
ットで形成されたオペレータ入力画面が表示され、オペ
レータからの入力が受け付けられる(ステップS1)。
【0053】上記オペレータ入力画面は、例えば図4に
示すように、試験プログラムを実行する日付(例えば1
997年9月15日)、データの編集期間指定欄201
(過去何年間、過去何月間、過去何日間、何年何月日〜
何年何月日)、テストの実行条件指定欄202(エラー
発生頻度の高い項目順、エラー発生間隔の短い項目順、
エラー発生日付の新しい項目順)、および、詳細条件指
定欄203(頻度がXX%以下は実行しない、間隔がX
X日以上は実行しない、日付がXX日以上は実行しな
い)が表示されている。なお、これらの表示内容は一例
であり、各指定欄の表示位置あるいは表示項目等は任意
に設定変更可能であることはいうまでもない。
示すように、試験プログラムを実行する日付(例えば1
997年9月15日)、データの編集期間指定欄201
(過去何年間、過去何月間、過去何日間、何年何月日〜
何年何月日)、テストの実行条件指定欄202(エラー
発生頻度の高い項目順、エラー発生間隔の短い項目順、
エラー発生日付の新しい項目順)、および、詳細条件指
定欄203(頻度がXX%以下は実行しない、間隔がX
X日以上は実行しない、日付がXX日以上は実行しな
い)が表示されている。なお、これらの表示内容は一例
であり、各指定欄の表示位置あるいは表示項目等は任意
に設定変更可能であることはいうまでもない。
【0054】この表示内容により、オペレータに対して
選択を促すものであり、その選択は、例えば図5に示す
ようにして行われる。すなわち、データの編集期間指定
欄201で「過去6ヶ月間」を指定する場合には、過去
XX月間のブロックの選択および“6”の入力がキーボ
ード(ディスプレイ/キーボード20)操作により実施
され、その操作による入力が受け付けられる。また、実
行制御条件が「エラーの発生頻度の高い試験項目から実
行する」の場合を例に挙げていることから、テストの実
行条件指定欄202では、「エラーの発生頻度の高い項
目順」のブロックが指定される。さらに、任意である
が、具体的な詳細条件を入力する場合には、詳細条件指
定欄203において、例えば10%以下は実行しないの
であれば、その「XX%以下は実行しない」のブロック
の選択および“10”の入力がキーボード(ディスプレ
イ/キーボード20)操作により実施され、その操作に
よる入力が受け付けられる。
選択を促すものであり、その選択は、例えば図5に示す
ようにして行われる。すなわち、データの編集期間指定
欄201で「過去6ヶ月間」を指定する場合には、過去
XX月間のブロックの選択および“6”の入力がキーボ
ード(ディスプレイ/キーボード20)操作により実施
され、その操作による入力が受け付けられる。また、実
行制御条件が「エラーの発生頻度の高い試験項目から実
行する」の場合を例に挙げていることから、テストの実
行条件指定欄202では、「エラーの発生頻度の高い項
目順」のブロックが指定される。さらに、任意である
が、具体的な詳細条件を入力する場合には、詳細条件指
定欄203において、例えば10%以下は実行しないの
であれば、その「XX%以下は実行しない」のブロック
の選択および“10”の入力がキーボード(ディスプレ
イ/キーボード20)操作により実施され、その操作に
よる入力が受け付けられる。
【0055】ステップS1により以上のようなオペレー
タ入力が終了すると、編集期間指定欄201、テストの
実行条件指定欄202および詳細条件指定欄203で指
定された内容から、まずテストの実行条件が判断される
(ステップS2)。その結果、実行制御条件が「エラー
の発生頻度の高い項目順」であった場合には、処理はス
テップS3へ移行し、「エラー発生間隔の短い項目順」
であった場合には処理はステップS5へ移行し、「エラ
ー発生日付の新しい項目順」であった場合には処理はス
テップS7へ移行する。
タ入力が終了すると、編集期間指定欄201、テストの
実行条件指定欄202および詳細条件指定欄203で指
定された内容から、まずテストの実行条件が判断される
(ステップS2)。その結果、実行制御条件が「エラー
の発生頻度の高い項目順」であった場合には、処理はス
テップS3へ移行し、「エラー発生間隔の短い項目順」
であった場合には処理はステップS5へ移行し、「エラ
ー発生日付の新しい項目順」であった場合には処理はス
テップS7へ移行する。
【0056】ここでは、実行制御条件「エラーの発生頻
度の高い試験項目順」が選択されていることから、処理
はステップS3へ移行する。そして、ステップS3にお
いて、メモリ12内の試験結果データから過去6ヶ月間
のデータに対して編集が行われ、編集結果データが作成
される。図6には、本試験プログラム実行制御装置を稼
動させてから今まで蓄積されたプログラム実行結果は、
試験項目別に、日付に対応させてエラーの有無(NG/
OK)のデータ形式でメモリ12に蓄積される。例え
ば、試験項目1では、1995年1月12日の実行結果
はエラー無し(OK)を示しているが、同年同月26日
の実行結果はエラー有り(NG)を示している。この図
6のプログラム実行結果から、各試験項目について過去
6ヶ月間の実行結果が抽出され、図7(a)に示したよ
うに、編集内容として試験項目別の発生頻度が求められ
る。例えば、試験項目1については、発生頻度が16.
0%となっている。この発生頻度の16.0%が編集結
果データとなる。
度の高い試験項目順」が選択されていることから、処理
はステップS3へ移行する。そして、ステップS3にお
いて、メモリ12内の試験結果データから過去6ヶ月間
のデータに対して編集が行われ、編集結果データが作成
される。図6には、本試験プログラム実行制御装置を稼
動させてから今まで蓄積されたプログラム実行結果は、
試験項目別に、日付に対応させてエラーの有無(NG/
OK)のデータ形式でメモリ12に蓄積される。例え
ば、試験項目1では、1995年1月12日の実行結果
はエラー無し(OK)を示しているが、同年同月26日
の実行結果はエラー有り(NG)を示している。この図
6のプログラム実行結果から、各試験項目について過去
6ヶ月間の実行結果が抽出され、図7(a)に示したよ
うに、編集内容として試験項目別の発生頻度が求められ
る。例えば、試験項目1については、発生頻度が16.
0%となっている。この発生頻度の16.0%が編集結
果データとなる。
【0057】このようにして編集結果データが作成され
ると、続くステップS4においてその編集結果データに
基づいてエラーの発生頻度の高い試験項目順となる試験
項目実行データ(試験項目実行テーブル)が作成され
る。その際、詳細条件指定欄203での指定がなけれ
ば、そのまま図8に示した如くすべての試験項目を実行
対象として試験項目実行データが作成されるが、詳細条
件指定欄203において頻度が10%以下を外す指示が
なされていることから(図5参照)、10%以下に相当
する試験項目3,7,9および10の試験項目は実行対
象から外される。その結果、例えば図9に示したよう
に、試験項目は6つに厳選される。これら6つの試験項
目はすべて10%を超える頻度をもっている。
ると、続くステップS4においてその編集結果データに
基づいてエラーの発生頻度の高い試験項目順となる試験
項目実行データ(試験項目実行テーブル)が作成され
る。その際、詳細条件指定欄203での指定がなけれ
ば、そのまま図8に示した如くすべての試験項目を実行
対象として試験項目実行データが作成されるが、詳細条
件指定欄203において頻度が10%以下を外す指示が
なされていることから(図5参照)、10%以下に相当
する試験項目3,7,9および10の試験項目は実行対
象から外される。その結果、例えば図9に示したよう
に、試験項目は6つに厳選される。これら6つの試験項
目はすべて10%を超える頻度をもっている。
【0058】そして、試験項目実行データが作成される
と、その試験項目実行データに従う試験項目の実行順序
実行可否により、試験項目が先頭から順に実行され、そ
の際の実行結果から図10に示した結果更新データが作
成される(ステップS9)。この結果更新データに基づ
いて前回までの試験結果データは更新(追加)される
(ステップS10)。例えば試験項目2の場合には、前
回(1997年9月8)がエラー無し(OK)であった
にもかかわらず、今回(同年同月15日)はエラー有り
(NG)となっている。
と、その試験項目実行データに従う試験項目の実行順序
実行可否により、試験項目が先頭から順に実行され、そ
の際の実行結果から図10に示した結果更新データが作
成される(ステップS9)。この結果更新データに基づ
いて前回までの試験結果データは更新(追加)される
(ステップS10)。例えば試験項目2の場合には、前
回(1997年9月8)がエラー無し(OK)であった
にもかかわらず、今回(同年同月15日)はエラー有り
(NG)となっている。
【0059】つぎに、図3、図7、図11および図12
を参照して、実行制御条件が「エラーの発生間隔の短い
試験項目から実行する」とした場合について説明する。
テストの実行条件指定欄202において、例えば図11
に示すように、実行制御条件「エラーの発生間隔の短い
項目順」が選択された場合には、図3において処理はス
テップS5へ移行する。なお、その他の条件は前述した
エラー発生頻度の場合と同様とする。ステップS5にお
いて、メモリ12内の試験結果データから過去6ヶ月間
のデータに対して編集が行われ、編集結果データが作成
される。この場合、図6のプログラム実行結果から、各
試験項目について過去6ヶ月間の実行結果が抽出され、
図7(b)に示したように、編集内容として試験項目別
の最短発生間隔(ここでは2日以上の間隔を最短発生間
隔の対象とする)が求められる。例えば、試験項目1に
ついては、最短発生間隔が21日となっている。この最
短発生間隔の21日が編集結果データとなる。
を参照して、実行制御条件が「エラーの発生間隔の短い
試験項目から実行する」とした場合について説明する。
テストの実行条件指定欄202において、例えば図11
に示すように、実行制御条件「エラーの発生間隔の短い
項目順」が選択された場合には、図3において処理はス
テップS5へ移行する。なお、その他の条件は前述した
エラー発生頻度の場合と同様とする。ステップS5にお
いて、メモリ12内の試験結果データから過去6ヶ月間
のデータに対して編集が行われ、編集結果データが作成
される。この場合、図6のプログラム実行結果から、各
試験項目について過去6ヶ月間の実行結果が抽出され、
図7(b)に示したように、編集内容として試験項目別
の最短発生間隔(ここでは2日以上の間隔を最短発生間
隔の対象とする)が求められる。例えば、試験項目1に
ついては、最短発生間隔が21日となっている。この最
短発生間隔の21日が編集結果データとなる。
【0060】このようにして編集結果データが作成され
ると、続くステップS6においてその編集結果データに
基づいてエラーの発生間隔の短い試験項目順となる試験
項目実行データ(試験項目実行テーブル)が作成され
る。その際、詳細条件指定欄203での指定がなけれ
ば、そのまますべての試験項目を実行対象として試験項
目実行データが作成されるが、詳細条件指定欄203に
おいて間隔が150日以上を外す指示がなされているこ
とから(図11参照)、150日以上に相当する試験項
目3および9の試験項目は実行対象から外される。その
結果、例えば図12に示したように、試験項目は8つに
厳選される。これら8つの試験項目はすべて150日未
満の最短発生間隔をもっている。
ると、続くステップS6においてその編集結果データに
基づいてエラーの発生間隔の短い試験項目順となる試験
項目実行データ(試験項目実行テーブル)が作成され
る。その際、詳細条件指定欄203での指定がなけれ
ば、そのまますべての試験項目を実行対象として試験項
目実行データが作成されるが、詳細条件指定欄203に
おいて間隔が150日以上を外す指示がなされているこ
とから(図11参照)、150日以上に相当する試験項
目3および9の試験項目は実行対象から外される。その
結果、例えば図12に示したように、試験項目は8つに
厳選される。これら8つの試験項目はすべて150日未
満の最短発生間隔をもっている。
【0061】そして、試験項目実行データが作成される
と、その試験項目実行データに従う試験項目の実行順序
実行可否により、試験項目が先頭から順に実行され、そ
の際の実行結果から結果更新データが作成される(ステ
ップS9)。以降前述と同様に、この結果更新データに
基づいて前回までの試験結果データは更新(追加)され
る(ステップS10)。
と、その試験項目実行データに従う試験項目の実行順序
実行可否により、試験項目が先頭から順に実行され、そ
の際の実行結果から結果更新データが作成される(ステ
ップS9)。以降前述と同様に、この結果更新データに
基づいて前回までの試験結果データは更新(追加)され
る(ステップS10)。
【0062】つぎに、図3、図7、図13および図14
を参照して、実行制御条件が「エラーの発生日付の新し
い試験項目から実行する」とした場合について説明す
る。テストの実行条件指定欄202において、例えば図
13に示すように、実行制御条件「エラー発生日付の新
しい項目順」が選択された場合には、図3において処理
はステップS7へ移行する。なお、その他の条件は前述
したエラー発生頻度の場合と同様とする。ステップS7
において、メモリ12内の試験結果データから過去6ヶ
月間のデータに対して編集が行われ、編集結果データが
作成される。この場合、図6のプログラム実行結果か
ら、各試験項目について過去6ヶ月間の実行結果が抽出
され、図7(c)に示したように、編集内容として試験
項目別の最新発生日付(ここでは2日以上前のエラー発
生日付を対象とする)が求められる。例えば、試験項目
1については、最新発生日付が1997年9月8日とな
り、現15日よりも2日以上前のエラー発生日付となっ
ている。この最新発生日付の1997年9月8日が編集
結果データとなる。
を参照して、実行制御条件が「エラーの発生日付の新し
い試験項目から実行する」とした場合について説明す
る。テストの実行条件指定欄202において、例えば図
13に示すように、実行制御条件「エラー発生日付の新
しい項目順」が選択された場合には、図3において処理
はステップS7へ移行する。なお、その他の条件は前述
したエラー発生頻度の場合と同様とする。ステップS7
において、メモリ12内の試験結果データから過去6ヶ
月間のデータに対して編集が行われ、編集結果データが
作成される。この場合、図6のプログラム実行結果か
ら、各試験項目について過去6ヶ月間の実行結果が抽出
され、図7(c)に示したように、編集内容として試験
項目別の最新発生日付(ここでは2日以上前のエラー発
生日付を対象とする)が求められる。例えば、試験項目
1については、最新発生日付が1997年9月8日とな
り、現15日よりも2日以上前のエラー発生日付となっ
ている。この最新発生日付の1997年9月8日が編集
結果データとなる。
【0063】このようにして編集結果データが作成され
ると、続くステップS8においてその編集結果データに
基づいてエラーの発生日付の新しい試験項目順となる試
験項目実行データ(試験項目実行テーブル)が作成され
る。その際、詳細条件指定欄203での指定がなけれ
ば、そのまますべての試験項目を実行対象として試験項
目実行データが作成されるが、詳細条件指定欄203に
おいて日付が180日(約6ヶ月)以上前を外す指示が
なされていることから(図13参照)、180日以上前
に相当する試験項目9は実行対象から外される。その結
果、例えば図14に示したように、試験項目は9つに厳
選される。これら9つの試験項目はすべて180日未満
の最新発生日付をもっている。
ると、続くステップS8においてその編集結果データに
基づいてエラーの発生日付の新しい試験項目順となる試
験項目実行データ(試験項目実行テーブル)が作成され
る。その際、詳細条件指定欄203での指定がなけれ
ば、そのまますべての試験項目を実行対象として試験項
目実行データが作成されるが、詳細条件指定欄203に
おいて日付が180日(約6ヶ月)以上前を外す指示が
なされていることから(図13参照)、180日以上前
に相当する試験項目9は実行対象から外される。その結
果、例えば図14に示したように、試験項目は9つに厳
選される。これら9つの試験項目はすべて180日未満
の最新発生日付をもっている。
【0064】そして、試験項目実行データが作成される
と、その試験項目実行データに従う試験項目の実行順序
実行可否により、試験項目が先頭から順に実行され、そ
の際の実行結果から結果更新データが作成される(ステ
ップS9)。以降前述と同様に、この結果更新データに
基づいて前回までの試験結果データは更新(追加)され
る(ステップS10)。
と、その試験項目実行データに従う試験項目の実行順序
実行可否により、試験項目が先頭から順に実行され、そ
の際の実行結果から結果更新データが作成される(ステ
ップS9)。以降前述と同様に、この結果更新データに
基づいて前回までの試験結果データは更新(追加)され
る(ステップS10)。
【0065】以上説明したように、この実施の形態の発
明によれば、所定の情報処理システムに対して実行した
試験プログラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程
とともに蓄積して、その試験結果のうち、任意の試験期
間での試験結果に基づいて所定の情報処理システムの動
作状況を判断するようにしたので、所定の情報処理シス
テムでその運用の経過とともに変化する動作状況につい
て任意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を
取得することができる。これにより、試験対象とする情
報処理システムの現状に合った効率的な試験を実現する
ことが可能である。
明によれば、所定の情報処理システムに対して実行した
試験プログラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程
とともに蓄積して、その試験結果のうち、任意の試験期
間での試験結果に基づいて所定の情報処理システムの動
作状況を判断するようにしたので、所定の情報処理シス
テムでその運用の経過とともに変化する動作状況につい
て任意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を
取得することができる。これにより、試験対象とする情
報処理システムの現状に合った効率的な試験を実現する
ことが可能である。
【0066】また、所定の情報処理システムと同機能を
有する情報処理システムに対して試験項目毎に試験プロ
グラムを実行して得られた試験結果およびその試験日程
をあらかじめ記憶しておき、その試験結果のうち、任意
の試験期間での試験結果に基づいて所定の情報処理シス
テムの動作状況を判断するようにしたので、所定の情報
処理システムと同等の機能を有する情報処理システムで
の運用の経過とともに変化する動作状況を援用して、所
定の情報処理システムにおける任意の試験期間すなわち
任意の経過時点での動作状況を取得することができる。
これにより、試験対象とする情報処理システムから動作
状況を得なくてもその情報処理システムの現状に合った
効率的な試験を実現することが可能である。
有する情報処理システムに対して試験項目毎に試験プロ
グラムを実行して得られた試験結果およびその試験日程
をあらかじめ記憶しておき、その試験結果のうち、任意
の試験期間での試験結果に基づいて所定の情報処理シス
テムの動作状況を判断するようにしたので、所定の情報
処理システムと同等の機能を有する情報処理システムで
の運用の経過とともに変化する動作状況を援用して、所
定の情報処理システムにおける任意の試験期間すなわち
任意の経過時点での動作状況を取得することができる。
これにより、試験対象とする情報処理システムから動作
状況を得なくてもその情報処理システムの現状に合った
効率的な試験を実現することが可能である。
【0067】また、動作状況を判断する際に任意の試験
期間を指定するようにしたので、試験期間のうちで局所
的な期間での動作状況を把握することが可能である。
期間を指定するようにしたので、試験期間のうちで局所
的な期間での動作状況を把握することが可能である。
【0068】また、任意の試験期間の動作状況に応じて
試験プログラムの試験項目の実行手順を決定するように
したので、実行手順が固定化されず、試験対象とする情
報処理システムの現状に合わせて適宜、最適の実行手順
を取得することが可能である。
試験プログラムの試験項目の実行手順を決定するように
したので、実行手順が固定化されず、試験対象とする情
報処理システムの現状に合わせて適宜、最適の実行手順
を取得することが可能である。
【0069】また、試験プログラムを実行するための試
験項目の実行手順は実行順序と実行の有無とを含むの
で、実行順序および実行対象が固定化されず、試験対象
とする情報処理システムの現状に合わせて適宜、最適の
実行順序および実行対象を取得することが可能である。
験項目の実行手順は実行順序と実行の有無とを含むの
で、実行順序および実行対象が固定化されず、試験対象
とする情報処理システムの現状に合わせて適宜、最適の
実行順序および実行対象を取得することが可能である。
【0070】また、動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目から昇順に実行順
序を決定するようにしたので、現状の情報処理システム
においてエラーを検出する確立の高い試験項目から効率
的に実行することが可能である。
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目から昇順に実行順
序を決定するようにしたので、現状の情報処理システム
においてエラーを検出する確立の高い試験項目から効率
的に実行することが可能である。
【0071】また、動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生間隔の短い試験項目から昇順に実行順
序を決定するようにしたので、エラーの発生しやすい試
験項目から効率的に実行することが可能である。
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生間隔の短い試験項目から昇順に実行順
序を決定するようにしたので、エラーの発生しやすい試
験項目から効率的に実行することが可能である。
【0072】また、動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生日付の新しい試験項目から昇順に実行
順序を決定するようにしたので、発生したエラーへの対
処が確実に実施されていることを最初に確認することが
可能である。
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生日付の新しい試験項目から昇順に実行
順序を決定するようにしたので、発生したエラーへの対
処が確実に実施されていることを最初に確認することが
可能である。
【0073】また、動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生頻度があらかじめ設定された値よりも
低い値をもつ試験項目を実行対象から外すようにしたの
で、実質的に試験の効果を低下させずに通常よりも短時
間で試験を効率的に行うことが可能である。
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生頻度があらかじめ設定された値よりも
低い値をもつ試験項目を実行対象から外すようにしたの
で、実質的に試験の効果を低下させずに通常よりも短時
間で試験を効率的に行うことが可能である。
【0074】また、試験項目について決定された実行手
順に従って試験プログラムの実行を制御するようにした
ので、試験順序や試験対象に無駄がなく試験を効率的に
実行することが可能である。
順に従って試験プログラムの実行を制御するようにした
ので、試験順序や試験対象に無駄がなく試験を効率的に
実行することが可能である。
【0075】また、各試験項目をエラーの発生頻度に応
じた回数だけ実行することにより、限られた時間内にク
リティカルな機能に的を絞った効果的な試験が行える。
例えば、図15に示すように、エラーの発生頻度の高い
試験項目ほど実行回数を多く設定し、エラーが検出され
やすくなる。また、図16に示すように、エラーの発生
頻度が所定値以下の試験項目の実行回数を0に設定する
ことにより、試験時間の短縮を図ることも可能である。
なお、図15および図16においては、各試験項目が発
生頻度の高いものから順に所定回数実行されているが、
各試験項目をランダムに決められた回数だけ実行しても
よい。
じた回数だけ実行することにより、限られた時間内にク
リティカルな機能に的を絞った効果的な試験が行える。
例えば、図15に示すように、エラーの発生頻度の高い
試験項目ほど実行回数を多く設定し、エラーが検出され
やすくなる。また、図16に示すように、エラーの発生
頻度が所定値以下の試験項目の実行回数を0に設定する
ことにより、試験時間の短縮を図ることも可能である。
なお、図15および図16においては、各試験項目が発
生頻度の高いものから順に所定回数実行されているが、
各試験項目をランダムに決められた回数だけ実行しても
よい。
【0076】以上、この発明を上述した実施の形態によ
り説明したが、この発明の主旨の範囲内で種々の変形が
可能であり、これらをこの発明の範囲から排除するもの
ではない。
り説明したが、この発明の主旨の範囲内で種々の変形が
可能であり、これらをこの発明の範囲から排除するもの
ではない。
【0077】
【発明の効果】以上説明したように、この請求項1の発
明によれば、所定の情報処理システムに対して実行した
試験プログラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程
とともに蓄積して、その試験結果のうち、任意の試験期
間での試験結果に基づいて所定の情報処理システムの動
作状況を判断するようにしたので、所定の情報処理シス
テムでその運用の経過とともに変化する動作状況につい
て任意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を
取得することができ、これにより、試験対象とする情報
処理システムの現状に合った効率的な試験を実現するこ
とが可能な試験プログラム実行制御装置が得られるとい
う効果を奏する。
明によれば、所定の情報処理システムに対して実行した
試験プログラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程
とともに蓄積して、その試験結果のうち、任意の試験期
間での試験結果に基づいて所定の情報処理システムの動
作状況を判断するようにしたので、所定の情報処理シス
テムでその運用の経過とともに変化する動作状況につい
て任意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を
取得することができ、これにより、試験対象とする情報
処理システムの現状に合った効率的な試験を実現するこ
とが可能な試験プログラム実行制御装置が得られるとい
う効果を奏する。
【0078】また、請求項2の発明によれば、請求項1
の発明において、各試験項目をエラーの発生頻度に応じ
た回数だけ実行するようにしたので、限られた時間内に
クリティカルな機能に的を絞った効果的な試験を実現す
ることが可能な試験プログラム実行制御装置が得られる
という効果を奏する。
の発明において、各試験項目をエラーの発生頻度に応じ
た回数だけ実行するようにしたので、限られた時間内に
クリティカルな機能に的を絞った効果的な試験を実現す
ることが可能な試験プログラム実行制御装置が得られる
という効果を奏する。
【0079】また、請求項3の発明によれば、請求項1
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目から昇順に実行順
序を決定するようにしたので、現状の情報処理システム
においてエラーを検出する確立の高い試験項目から効率
的に実行することが可能な試験プログラム実行制御装置
が得られるという効果を奏する。
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目から昇順に実行順
序を決定するようにしたので、現状の情報処理システム
においてエラーを検出する確立の高い試験項目から効率
的に実行することが可能な試験プログラム実行制御装置
が得られるという効果を奏する。
【0080】また、請求項4の発明によれば、請求項1
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生間隔の短い試験項目から昇順に実行順
序を決定するようにしたので、エラーの発生しやすい試
験項目から効率的に実行することが可能な試験プログラ
ム実行制御装置が得られるという効果を奏する。
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生間隔の短い試験項目から昇順に実行順
序を決定するようにしたので、エラーの発生しやすい試
験項目から効率的に実行することが可能な試験プログラ
ム実行制御装置が得られるという効果を奏する。
【0081】また、請求項5の発明によれば、請求項1
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生日付の新しい試験項目から昇順に実行
順序を決定するようにしたので、発生したエラーへの対
処が確実に実施されていることを最初に確認することが
可能な試験プログラム実行制御装置が得られるという効
果を奏する。
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生日付の新しい試験項目から昇順に実行
順序を決定するようにしたので、発生したエラーへの対
処が確実に実施されていることを最初に確認することが
可能な試験プログラム実行制御装置が得られるという効
果を奏する。
【0082】また、請求項6の発明によれば、請求項1
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生頻度があらかじめ設定された値よりも
低い値をもつ試験項目を実行対象から外すようにしたの
で、実質的に試験の効果を低下させずに通常よりも短時
間で試験を効率的に行うことが可能な試験プログラム実
行制御装置が得られるという効果を奏する。
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生頻度があらかじめ設定された値よりも
低い値をもつ試験項目を実行対象から外すようにしたの
で、実質的に試験の効果を低下させずに通常よりも短時
間で試験を効率的に行うことが可能な試験プログラム実
行制御装置が得られるという効果を奏する。
【0083】また、請求項7の発明によれば、請求項1
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エラーの発生間
隔の短い試験項目、および、エラーの発生日付の新しい
試験項目のいずれか1種の試験項目から昇順に実行順序
を決定するようにしたので、エラ−の発生頻度の高い試
験項目に着目した場合、現状の情報処理システムにおい
てエラーを検出する確立の高い試験項目から効率的に実
行することが可能であり、エラーの発生間隔の短い試験
項目に着目した場合、エラーの発生しやすい試験項目か
ら効率的に実行することが可能であり、エラーの発生日
付の新しい試験項目に着目した場合、発生したエラーへ
の対処が確実に実施されていることを最初に確認するこ
とが可能な試験プログラム実行制御装置が得られるとい
う効果を奏する。
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エラーの発生間
隔の短い試験項目、および、エラーの発生日付の新しい
試験項目のいずれか1種の試験項目から昇順に実行順序
を決定するようにしたので、エラ−の発生頻度の高い試
験項目に着目した場合、現状の情報処理システムにおい
てエラーを検出する確立の高い試験項目から効率的に実
行することが可能であり、エラーの発生間隔の短い試験
項目に着目した場合、エラーの発生しやすい試験項目か
ら効率的に実行することが可能であり、エラーの発生日
付の新しい試験項目に着目した場合、発生したエラーへ
の対処が確実に実施されていることを最初に確認するこ
とが可能な試験プログラム実行制御装置が得られるとい
う効果を奏する。
【0084】また、請求項8の発明によれば、メモリ
に、所定の情報処理システムに対して実行した試験プロ
グラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに
蓄積し、そのメモリに蓄積された試験結果の試験日程か
ら、その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指定し、
その指定された任意の試験期間での試験結果に基づいて
所定の情報処理システムの動作状況を判断して、その判
断された動作状況に応じて試験プログラムの試験項目の
実行手順を決定する工程にしたので、所定の情報処理シ
ステムでその運用の経過とともに変化する動作状況につ
いて任意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況
を取得することができ、これにより、試験対象とする情
報処理システムの現状に合った効率的な試験を実現する
ことが可能な試験プログラム実行制御方法が得られると
いう効果を奏する。
に、所定の情報処理システムに対して実行した試験プロ
グラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに
蓄積し、そのメモリに蓄積された試験結果の試験日程か
ら、その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指定し、
その指定された任意の試験期間での試験結果に基づいて
所定の情報処理システムの動作状況を判断して、その判
断された動作状況に応じて試験プログラムの試験項目の
実行手順を決定する工程にしたので、所定の情報処理シ
ステムでその運用の経過とともに変化する動作状況につ
いて任意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況
を取得することができ、これにより、試験対象とする情
報処理システムの現状に合った効率的な試験を実現する
ことが可能な試験プログラム実行制御方法が得られると
いう効果を奏する。
【0085】また、請求項9の発明によれば、請求項8
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エラーの発生間
隔の短い試験項目、および、エラーの発生日付の新しい
試験項目のいずれか1種の試験項目から昇順に実行順序
を決定する工程にしたので、エラ−の発生頻度の高い試
験項目に着目した場合、現状の情報処理システムにおい
てエラーを検出する確立の高い試験項目から効率的に実
行することが可能であり、エラーの発生間隔の短い試験
項目に着目した場合、エラーの発生しやすい試験項目か
ら効率的に実行することが可能であり、エラーの発生日
付の新しい試験項目に着目した場合、発生したエラーへ
の対処が確実に実施されていることを最初に確認するこ
とが可能な試験プログラム実行制御方法が得られるとい
う効果を奏する。
の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー発
生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エラーの発生間
隔の短い試験項目、および、エラーの発生日付の新しい
試験項目のいずれか1種の試験項目から昇順に実行順序
を決定する工程にしたので、エラ−の発生頻度の高い試
験項目に着目した場合、現状の情報処理システムにおい
てエラーを検出する確立の高い試験項目から効率的に実
行することが可能であり、エラーの発生間隔の短い試験
項目に着目した場合、エラーの発生しやすい試験項目か
ら効率的に実行することが可能であり、エラーの発生日
付の新しい試験項目に着目した場合、発生したエラーへ
の対処が確実に実施されていることを最初に確認するこ
とが可能な試験プログラム実行制御方法が得られるとい
う効果を奏する。
【0086】また、請求項10の発明によれば、請求項
8の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生頻度があらかじめ設定された値よりも
低い値をもつ試験項目を実行対象から外す工程にしたの
で、実質的に試験の効果を低下させずに通常よりも短時
間で試験を効率的に行うことが可能な試験プログラム実
行制御方法が得られるという効果を奏する。
8の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラーの発生頻度があらかじめ設定された値よりも
低い値をもつ試験項目を実行対象から外す工程にしたの
で、実質的に試験の効果を低下させずに通常よりも短時
間で試験を効率的に行うことが可能な試験プログラム実
行制御方法が得られるという効果を奏する。
【0087】また、請求項11の発明によれば、請求項
9の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エラーの発生間
隔の短い試験項目、および、エラーの発生日付の新しい
試験項目のいずれか1種の試験項目から昇順に実行順序
を決定する工程にしたので、エラ−の発生頻度の高い試
験項目に着目した場合、現状の情報処理システムにおい
てエラーを検出する確立の高い試験項目から効率的に実
行することが可能であり、エラーの発生間隔の短い試験
項目に着目した場合、エラーの発生しやすい試験項目か
ら効率的に実行することが可能であり、エラーの発生日
付の新しい試験項目に着目した場合、発生したエラーへ
の対処が確実に実施されていることを最初に確認するこ
とが可能な試験プログラム実行制御方法が得られるとい
う効果を奏する。
9の発明において、動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基づ
き、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エラーの発生間
隔の短い試験項目、および、エラーの発生日付の新しい
試験項目のいずれか1種の試験項目から昇順に実行順序
を決定する工程にしたので、エラ−の発生頻度の高い試
験項目に着目した場合、現状の情報処理システムにおい
てエラーを検出する確立の高い試験項目から効率的に実
行することが可能であり、エラーの発生間隔の短い試験
項目に着目した場合、エラーの発生しやすい試験項目か
ら効率的に実行することが可能であり、エラーの発生日
付の新しい試験項目に着目した場合、発生したエラーへ
の対処が確実に実施されていることを最初に確認するこ
とが可能な試験プログラム実行制御方法が得られるとい
う効果を奏する。
【0088】また、請求項12の発明によれば、請求項
8または9の発明において、エラーの発生頻度に応じて
各試験項目の実行回数が設定されるので、限られた時間
内にクリティカルな機能に的を絞った効果的な試験を実
現することが可能な試験プログラム実行制御方法が得ら
れるという効果を奏する。
8または9の発明において、エラーの発生頻度に応じて
各試験項目の実行回数が設定されるので、限られた時間
内にクリティカルな機能に的を絞った効果的な試験を実
現することが可能な試験プログラム実行制御方法が得ら
れるという効果を奏する。
【0089】また、請求項13の発明によれば、メモリ
に、所定の情報処理システムに対して実行した試験プロ
グラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに
蓄積させ、そのメモリに蓄積させた試験結果の試験日程
から、その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指定
し、その指定された任意の試験期間での試験結果に基づ
いて前記所定の情報処理システムの動作状況を判断し
て、その判断された動作状況に応じて試験プログラムの
試験項目の実行手順を決定する手順にしたので、試験プ
ログラム実行制御装置に対して所定の情報処理システム
でその運用の経過とともに変化する動作状況について任
意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を取得
する機能を実現させることができ、これにより、試験対
象とする情報処理システムの現状に合った効率的な試験
を実現することが可能なコンピュータ読み取り可能な記
録媒体が得られるという効果を奏する。
に、所定の情報処理システムに対して実行した試験プロ
グラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに
蓄積させ、そのメモリに蓄積させた試験結果の試験日程
から、その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指定
し、その指定された任意の試験期間での試験結果に基づ
いて前記所定の情報処理システムの動作状況を判断し
て、その判断された動作状況に応じて試験プログラムの
試験項目の実行手順を決定する手順にしたので、試験プ
ログラム実行制御装置に対して所定の情報処理システム
でその運用の経過とともに変化する動作状況について任
意の試験期間すなわち任意の経過時点の動作状況を取得
する機能を実現させることができ、これにより、試験対
象とする情報処理システムの現状に合った効率的な試験
を実現することが可能なコンピュータ読み取り可能な記
録媒体が得られるという効果を奏する。
【0090】また、請求項14の発明によれば、請求項
13の発明において、動作状況として試験項目毎のエラ
ー発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基
づき、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エラーの発生
間隔の短い試験項目、および、エラーの発生日付の新し
い試験項目のいずれか1種の試験項目から昇順に実行順
序を決定する手順にしたので、試験プログラム実行制御
装置上で、エラ−の発生頻度の高い試験項目に着目した
場合、現状の情報処理システムにおいてエラーを検出す
る確立の高い試験項目から効率的に実行することが可能
であり、エラーの発生間隔の短い試験項目に着目した場
合、エラーの発生しやすい試験項目から効率的に実行す
ることが可能であり、エラーの発生日付の新しい試験項
目に着目した場合、発生したエラーへの対処が確実に実
施されていることを最初に確認することが可能なコンピ
ュータ読み取り可能な記録媒体が得られるという効果を
奏する。
13の発明において、動作状況として試験項目毎のエラ
ー発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基
づき、エラ−の発生頻度の高い試験項目、エラーの発生
間隔の短い試験項目、および、エラーの発生日付の新し
い試験項目のいずれか1種の試験項目から昇順に実行順
序を決定する手順にしたので、試験プログラム実行制御
装置上で、エラ−の発生頻度の高い試験項目に着目した
場合、現状の情報処理システムにおいてエラーを検出す
る確立の高い試験項目から効率的に実行することが可能
であり、エラーの発生間隔の短い試験項目に着目した場
合、エラーの発生しやすい試験項目から効率的に実行す
ることが可能であり、エラーの発生日付の新しい試験項
目に着目した場合、発生したエラーへの対処が確実に実
施されていることを最初に確認することが可能なコンピ
ュータ読み取り可能な記録媒体が得られるという効果を
奏する。
【0091】また、請求項15の発明によれば、請求項
13の発明において、動作状況として試験項目毎のエラ
ー発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基
づき、エラーの発生頻度があらかじめ設定された値より
も低い値をもつ試験項目を実行対象から外す手順にした
ので、試験プログラム実行制御装置上で、実質的に試験
の効果を低下させずに通常よりも短時間で試験を効率的
に行うことが可能なコンピュータ読み取り可能な記録媒
体が得られるという効果を奏する。
13の発明において、動作状況として試験項目毎のエラ
ー発生状況を判断し、試験項目毎のエラー発生状況に基
づき、エラーの発生頻度があらかじめ設定された値より
も低い値をもつ試験項目を実行対象から外す手順にした
ので、試験プログラム実行制御装置上で、実質的に試験
の効果を低下させずに通常よりも短時間で試験を効率的
に行うことが可能なコンピュータ読み取り可能な記録媒
体が得られるという効果を奏する。
【図1】この発明の一実施の形態による試験プログラム
実行制御装置を機能的に示すブロック図である。
実行制御装置を機能的に示すブロック図である。
【図2】この発明の一実施の形態による試験プログラム
実行制御装置をハードウェア的に示すブロック図であ
る。
実行制御装置をハードウェア的に示すブロック図であ
る。
【図3】この発明の一実施の形態による動作を説明する
フローチャートである。
フローチャートである。
【図4】編集期間の入力画面の一例を示す図である。
【図5】編集期間の一入力例を説明する図である。
【図6】試験結果の一例を説明する図である。
【図7】編集結果の一例を説明する図である。
【図8】編集期間および実行制御条件に応じた試験項目
実行テーブルの一内容例を説明する図である。
実行テーブルの一内容例を説明する図である。
【図9】図8とは異なる試験項目実行テーブルの一内容
例を説明する図である。
例を説明する図である。
【図10】試験結果の更新例を説明する図である。
【図11】編集期間の他の入力例を説明する図である。
【図12】編集期間および実行制御条件に応じた試験項
目実行テーブルの他の内容例を説明する図である。
目実行テーブルの他の内容例を説明する図である。
【図13】編集期間のさらに他の入力例を説明する図で
ある。
ある。
【図14】編集期間および実行制御条件に応じた試験項
目実行テーブルのさらに他の内容例を説明する図であ
る。
目実行テーブルのさらに他の内容例を説明する図であ
る。
【図15】編集期間および実行制御条件に応じた試験項
目実行テーブルの一内容例を説明する図である。
目実行テーブルの一内容例を説明する図である。
【図16】図15とは異なる試験項目実行テーブルの一
内容例を説明する図である。
内容例を説明する図である。
1 試験プログラム制御部 2 編集期間入力部 3 試験結果編集部 4 試験項目スケジューリング部 5 試験項目実行テーブル 6 試験プログラム 10 制御装置本体 11 MPU 12 メモリ 20 ディスプレイ/キーボード 30 ハードディスク装置 31 記憶媒体 40 回線
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成11年1月13日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項3
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0012
【補正方法】変更
【補正内容】
【0012】また、請求項3の発明に係る試験プログラ
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、決定手段は、前記試験項目毎のエラ
ー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験項目
から昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
ム実行制御装置は、請求項1の発明において、前記動作
状況判断手段は前記動作状況として試験項目毎のエラー
発生状況を判断し、決定手段は、前記試験項目毎のエラ
ー発生状況に基づき、エラ−の発生頻度の高い試験項目
から昇順に実行順序を決定することを特徴とする。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0049
【補正方法】変更
【補正内容】
【0049】制御装置本体10は、例えば図2に示した
ように、本装置の制御の中枢をなすMPU11、このM
PU11と各インタフェース14,16,18との間で
データの受渡しを行うオペレータインタフェース制御部
13,入出力装置インタフェース制御部15、ネットワ
ークインタフェース制御部17、および、前述した図1
のすべての機能を実現するための試験プログラム実行制
御プログラムを格納するとともに内部的にデータを保持
するメモリ12を備えている。
ように、本装置の制御の中枢をなすMPU11、このM
PU11と各インタフェース14,16,18との間で
データの受渡しを行うオペレータインタフェース制御部
13,入出力装置インタフェース制御部15、ネットワ
ークインタフェース制御部17、および、前述した図1
のすべての機能を実現するための試験プログラム実行制
御プログラムを格納するとともに内部的にデータを保持
するメモリ12を備えている。
【手続補正4】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
Claims (15)
- 【請求項1】 所定の情報処理システムに対する試験プ
ログラムの実行を制御する試験プログラム実行制御装置
において、 前記所定の情報処理システムに対して実行した試験プロ
グラムの試験項目毎の試験結果をその試験日程とともに
蓄積する蓄積手段と、 前記蓄積手段に蓄積された試験結果のうち、任意の試験
期間での試験結果に基づいて前記所定の情報処理システ
ムの動作状況を判断する動作状況判断手段と、を備えた
ことを特徴とする試験プログラム実行制御装置。 - 【請求項2】 前記各試験項目をエラーの発生頻度に応
じた回数だけ実行することを特徴とする請求項1に記載
の試験プログラム実行制御装置。 - 【請求項3】 前記動作状況判断手段は前記動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、前記決定手
段は、前記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラ
−の発生頻度の高い試験項目から昇順に実行順序を決定
することを特徴とする請求項1に記載の試験プログラム
実行制御装置。 - 【請求項4】 前記動作状況判断手段は前記動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、前記決定手
段は、前記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラ
ーの発生間隔の短い試験項目から昇順に実行順序を決定
することを特徴とする請求項1に記載の試験プログラム
実行制御装置。 - 【請求項5】 前記動作状況判断手段は前記動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、前記決定手
段は、前記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラ
ーの発生日付の新しい試験項目から昇順に実行順序を決
定することを特徴とする請求項1に記載の試験プログラ
ム実行制御装置。 - 【請求項6】 前記動作状況判断手段は前記動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、前記決定手
段は、前記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラ
ーの発生頻度があらかじめ設定された値よりも低い値を
もつ試験項目を実行対象から外すことを特徴とする請求
項1に記載の試験プログラム実行制御装置。 - 【請求項7】 前記動作状況判断手段は前記動作状況と
して試験項目毎のエラー発生状況を判断し、前記決定手
段は、前記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラ
−の発生頻度の高い試験項目、エラーの発生間隔の短い
試験項目、および、エラーの発生日付の新しい試験項目
のいずれか1種の試験項目から昇順に実行順序を決定す
ることを特徴とする請求項1に記載の試験プログラム実
行制御装置。 - 【請求項8】 所定の情報処理システムに対する試験プ
ログラムの実行を制御する試験プログラム実行制御方法
において、 メモリが用意され、前記メモリに、前記所定の情報処理
システムに対して実行した試験プログラムの試験項目毎
の試験結果をその試験日程とともに蓄積する第1工程
と、 前記第1工程で前記メモリに蓄積された試験結果の試験
日程から、その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指
定する第2工程と、 前記第1工程で蓄積された試験結果のうち、前記第2工
程で指定された任意の試験期間での試験結果に基づいて
前記所定の情報処理システムの動作状況を判断する第3
工程と、 前記第3工程で判断された動作状況に応じて前記試験プ
ログラムの試験項目の実行手順を決定する第4工程と、 を含んだことを特徴とする試験プログラム実行制御方
法。 - 【請求項9】 前記第3工程は前記動作状況として試験
項目毎のエラー発生状況を判断し、前記第4工程は、前
記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラ−の発生
頻度の高い試験項目、エラーの発生間隔の短い試験項
目、および、エラーの発生日付の新しい試験項目のいず
れか1種の試験項目から昇順に実行順序を決定すること
を特徴とする請求項8に記載の試験プログラム実行制御
方法。 - 【請求項10】 前記第3工程は前記動作状況として試
験項目毎のエラー発生状況を判断し、前記第4工程は、
前記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラーの発
生頻度があらかじめ設定された値よりも低い値をもつ試
験項目を実行対象から外すことを特徴とする請求項8に
記載の試験プログラム実行制御方法。 - 【請求項11】 前記第2工程は前記動作状況として試
験項目毎のエラー発生状況を判断し、前記第3工程は、
前記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラ−の発
生頻度の高い試験項目、エラーの発生間隔の短い試験項
目、および、エラーの発生日付の新しい試験項目のいず
れか1種の試験項目から昇順に実行順序を決定すること
を特徴とする請求項9に記載の試験プログラム実行制御
方法。 - 【請求項12】 エラーの発生頻度に応じて各試験項目
の実行回数が設定されることを特徴とする請求項8また
は9に記載の試験プログラム実行制御方法。 - 【請求項13】 所定の情報処理システムに対する試験
プログラムの実行を制御する試験プログラム実行制御装
置に適用される試験プログラム実行制御方法をコンピュ
ータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読
み取り可能な記録媒体において、 前記試験プログラム実行制御装置にはメモリが用意さ
れ、前記メモリに、前記所定の情報処理システムに対し
て実行した試験プログラムの試験項目毎の試験結果をそ
の試験日程とともに蓄積させる第1手順と、 前記第1手順で前記メモリに蓄積させた試験結果の試験
日程から、その試験日程の範囲内で任意の試験期間を指
定する第2手順と、 前記第1手順で蓄積された試験結果のうち、前記第2手
順で指定された任意の試験期間での試験結果に基づいて
前記所定の情報処理システムの動作状況を判断する第3
手順と、 前記第3手順で判断された動作状況に応じて前記試験プ
ログラムの試験項目の実行手順を決定する第4手順と、 を実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ
読み取り可能な記録媒体。 - 【請求項14】 前記第3手順は前記動作状況として試
験項目毎のエラー発生状況を判断し、前記第4手順は、
前記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラ−の発
生頻度の高い試験項目、エラーの発生間隔の短い試験項
目、および、エラーの発生日付の新しい試験項目のいず
れか1種の試験項目から昇順に実行順序を決定すること
を特徴とする請求項13に記載のコンピュータ読み取り
可能な記録媒体。 - 【請求項15】 前記第3手順は前記動作状況として試
験項目毎のエラー発生状況を判断し、前記第4手順は、
前記試験項目毎のエラー発生状況に基づき、エラーの発
生頻度があらかじめ設定された値よりも低い値をもつ試
験項目を実行対象から外すことを特徴とする請求項13
に記載のコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10113767A JPH11306039A (ja) | 1998-04-23 | 1998-04-23 | 試験プログラム実行制御装置,試験プログラム実行制御方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
US09/161,029 US6233701B1 (en) | 1998-04-23 | 1998-09-25 | Method and apparatus for test program execution control, and a computer-readable recording medium with a program for making a computer execute the method recorded therein |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10113767A JPH11306039A (ja) | 1998-04-23 | 1998-04-23 | 試験プログラム実行制御装置,試験プログラム実行制御方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11306039A true JPH11306039A (ja) | 1999-11-05 |
Family
ID=14620633
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10113767A Pending JPH11306039A (ja) | 1998-04-23 | 1998-04-23 | 試験プログラム実行制御装置,試験プログラム実行制御方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6233701B1 (ja) |
JP (1) | JPH11306039A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010211491A (ja) * | 2009-03-10 | 2010-09-24 | Toshiba Corp | 証券取引所シミュレータおよび証券取引所シミュレート方法 |
JP2013058073A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 異常系シナリオの組合せのテスト項目生成装置及び方法及びプログラム |
JP2013058074A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単独の異常系シナリオを任意回数実行するテスト項目生成装置及び方法及びプログラム |
JP6032369B2 (ja) * | 2013-08-01 | 2016-11-24 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、診断方法、診断プログラム、及び情報処理システム |
JP2019159517A (ja) * | 2018-03-09 | 2019-09-19 | 株式会社日立国際電気 | システム試験装置 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6882980B1 (en) * | 2000-05-08 | 2005-04-19 | Rohm And Haas Company | Chemical product commerce network |
GB2377517A (en) * | 2001-07-13 | 2003-01-15 | Sun Microsystems Inc | Apparatus and method for testing computer equipment for use in networks |
US7418642B2 (en) * | 2001-07-30 | 2008-08-26 | Marvell International Technology Ltd. | Built-in-self-test using embedded memory and processor in an application specific integrated circuit |
US7263634B2 (en) * | 2003-10-21 | 2007-08-28 | Sap Aktiengesellschaft | Failures of computer system diagnostic procedures addressed in specified order |
US7260744B2 (en) * | 2003-10-21 | 2007-08-21 | Sap Aktiengesellschaft | Computer system diagnosis with user-developed procedure |
US7260750B2 (en) * | 2003-10-22 | 2007-08-21 | Sap Aktiengesellschaft | Computer system diagnostic procedures performed in specified order |
US20050102569A1 (en) * | 2003-10-22 | 2005-05-12 | Yuh-Cherng Wu | Performing diagnosis in a computer system |
KR100761851B1 (ko) * | 2006-06-30 | 2007-09-28 | 삼성전자주식회사 | 실시간으로 최적화되는 반도체 소자의 전기적 검사를 위한 컴퓨터로 실행 가능한 저장매체 및 그 적용방법 |
JP6295113B2 (ja) * | 2014-03-17 | 2018-03-14 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 自己診断装置及び自己診断方法 |
US9569339B1 (en) * | 2015-07-23 | 2017-02-14 | Amazon Technologies, Inc. | Debugging in an actor-based system |
US10229040B2 (en) | 2016-06-22 | 2019-03-12 | International Business Machines Corporation | Optimizing execution order of system interval dependent test cases |
-
1998
- 1998-04-23 JP JP10113767A patent/JPH11306039A/ja active Pending
- 1998-09-25 US US09/161,029 patent/US6233701B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010211491A (ja) * | 2009-03-10 | 2010-09-24 | Toshiba Corp | 証券取引所シミュレータおよび証券取引所シミュレート方法 |
JP2013058073A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 異常系シナリオの組合せのテスト項目生成装置及び方法及びプログラム |
JP2013058074A (ja) * | 2011-09-08 | 2013-03-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 単独の異常系シナリオを任意回数実行するテスト項目生成装置及び方法及びプログラム |
JP6032369B2 (ja) * | 2013-08-01 | 2016-11-24 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、診断方法、診断プログラム、及び情報処理システム |
JPWO2015015621A1 (ja) * | 2013-08-01 | 2017-03-02 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、診断方法、診断プログラム、及び情報処理システム |
JP2019159517A (ja) * | 2018-03-09 | 2019-09-19 | 株式会社日立国際電気 | システム試験装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6233701B1 (en) | 2001-05-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH11306039A (ja) | 試験プログラム実行制御装置,試験プログラム実行制御方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
US20080010543A1 (en) | Test planning assistance apparatus, test planning assistance method, and recording medium having test planning assistance program recorded therein | |
US20100218168A1 (en) | System and Method for Generating a Test Environment Script File | |
JPH07334572A (ja) | 情報処理システム | |
US8494971B2 (en) | System, method, and program for editing production schedule | |
CN107902507B (zh) | 控制软件现场调试***以及调试方法 | |
JP2004005399A (ja) | ソフトウェアのテスト方法および装置 | |
JP2019185132A (ja) | 推定プログラム、推定装置、及び推定方法 | |
JP2005309593A (ja) | プログラム作成装置及びプログラム作成方法 | |
JP4767309B2 (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、及びコンピュータプログラム | |
JPH0625991B2 (ja) | 工程計画支援装置 | |
EP3748442A1 (en) | Numerical control device | |
US20070094639A1 (en) | Preparing assembly languague source code | |
CN109019217B (zh) | 一种电梯控制软件现场调试*** | |
JP2006215713A (ja) | ワークフローシステムの先行業務指示及び廃止方法 | |
JP2002288009A (ja) | テスト工程管理装置、テスト工程管理方法 | |
JP4904724B2 (ja) | 解析プログラム、解析方法および解析装置 | |
JP2008033815A (ja) | プロジェクト管理装置及び方法並びにプログラム | |
JPH10187710A (ja) | 単語修正装置、単語修正方法および単語修正用プログラ ムを記録した記録媒体 | |
JP2008234379A (ja) | ソフトウェア生成装置ならびにソフトウェア生成方法 | |
JP2010152454A (ja) | 混流生産システムにおける自動機取り付け順序決定方法及び設備運用指示機 | |
JPH09223164A (ja) | 設計支援方法 | |
WO2012066635A1 (ja) | テスト方法、テスト装置及びテスト実行用プログラム | |
JPH10283176A (ja) | プログラム規模見積方法及びプログラム規模見積装置 | |
JPH0520001A (ja) | ユーザインタフエース装置及びユーザインタフエース方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030506 |