JPH11258145A - 粒子センサーおよびそれに関連する改良された粒子識別方法 - Google Patents
粒子センサーおよびそれに関連する改良された粒子識別方法Info
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- JPH11258145A JPH11258145A JP10334057A JP33405798A JPH11258145A JP H11258145 A JPH11258145 A JP H11258145A JP 10334057 A JP10334057 A JP 10334057A JP 33405798 A JP33405798 A JP 33405798A JP H11258145 A JPH11258145 A JP H11258145A
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 175
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 31
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 241001425718 Vagrans egista Species 0.000 description 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 2
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 2
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 2
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 239000011860 particles by size Substances 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 238000004513 sizing Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
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- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Abstract
子センサーを提供する。 【解決手段】粒子センサー10は入口23、検知容積、
排出口25およびミラー39のごとき集光系を有する。
本センサー10は集光系に接続された電子システムをも
有する。本電子システムはいくつかのユニークな方法の
いずれかでサイズによって粒子をカウントするようプロ
グラムされている。各実施例に対応して、本方法および
センサー10は浮浪粒子、偽ピークなどをカウントして
しまうのを回避するのに役立つ向上された識別を可能に
する。
Description
し、より具体的には光の散乱を利用してサイズ判別して
粒子をカウントする技術に関する。
る粒子によって散乱された光を検出するタイプのカウン
ターおよびセンサーが現在実用されている。通常、この
タイプのカウンターおよびセンサーは直径の非常に小さ
い高濃度のレーザー光ビームを使用する。空気流および
その中に捕捉されている粒子はこの光ビームを通過して
吸引される。この技術分野の業界用語では、この空気流
とレーザービームとの交差によって形成される小さい空
間領域を“検知容積”または“監視容積”と呼んでい
る。
反射鏡がこの散乱光を光検知器の方向に導く。検知器は
これに応答して電流パルスを発生する。この電流パルス
の振幅は一般に検知器に入射した光の強度に比例する。
そして、当然のことながら、光の強度は粒子のサイズの
1つの尺度となる。
じられた透明な管に沿って流され、別のタイプのもでは
空気とそれに同伴する粒子は特定の流速(多くの場合立
方フィ−ト/分の単位で測定される)で、1つの管から
開放空間を横切って別の管に向けて“投射”される。後
者のタイプのセンサーの場合、光の散乱と捕集を妨害す
るような管壁(たとえ壁が透明であっても)は存在しな
い。換言すれば、粒子はそれが開放空間を“飛んでい
る”時に、光ビームによって単に照明されるだけであ
る。
た粒子カウンターを特定体積の空気中、たとえば空気1
立方メートル中に存在する粒子の数とサイズに関する情
報を集めて空気の品質の1つの評価を求めるために使用
するものがある。人間が見たところではクリーンと見え
る仕事場−ビジネスオフィス、製造工場など−でもかな
りの数の空気で運ばれる粒子が存在することがある。こ
のような粒子は普通はその場所にいる人達にとって問題
ではないが、ある種の製造作業ではかなりの問題を生じ
る可能性がある。
“クリーンルーム”として公知となっている、きわめて
厳格に空気が濾過された場所で製造がなされている。実
際には、クリーンルームは通常非常にクリーンな空気を
使用してきわめてわずかな加圧がなされており、周囲環
境から粒子を含有する空気が侵入しないようになってい
る。他方、半導体および集積チップ製造工業ではますま
す製品が小型化する傾向にある。
子が製品に入ると早期の製造失敗を招くかあるいは需要
者に出荷する前においても不良品として排除されてしま
う。ますます進行する“小型化”は、空気によって運ば
れる粒子の数およびサイズをあらかじめ設定された許容
レベル以下に確実におさえるためにクリーンルームの環
境(ならびに関連する測定器)の一層の改良を求めてい
る。
粒子センサーが使用される唯一の場所ではない。薬品メ
ーカーも製品および薬品から異物を排除するためにこの
ようなセンサーを使用している。
場で問題となる粒子のサイズ範囲は数ミクロンからいわ
ゆる“サブミクロン”すなわち0.1ミクロンまたはそ
れ以下までの範囲である。(比較の参考までに言うと、
人間が裸眼で見ることのできる粒子のサイズはおよそ1
0ミクロンまでである)。
動させる場合、単位時間あたりセンサーを通過する数種
の異なるサイズ範囲の粒子について、各サイズ範囲のそ
れぞれの粒子の数を測定するのが好ましい。粒子センサ
ーの電算化部分は“複数のビン(bins)”をもって構成
されている。すなわち、いくつかの粒子サイズのそれぞ
れについてデータに基づき1カウントを加える計数レジ
スターが組み込まれている。たとえば、その複数の電算
化ビンは0.1乃至0.2ミクロンのサイズの粒子、
0.2乃至0.3ミクロンのサイズの粒子、0.3乃至
0.4ミクロンのサイズの粒子、等々をそれぞれサイズ
別にカウントするように構成されうる。
の特定アスペクトを判定するためにアナログおよびデジ
タルの両方の技術を使用している。たとえば、米国特許
第5047963(Kosaka)は血球分析のために構成さ
れた装置を開示している。細胞の核(クリーンルーム分
析の対象となる粒子に比較してまったく大きい細胞全体
ではない)に関するデータがデジタル信号プロセッサー
を使用して処理される。
er)は光検知器からのアナログパルスを使用する粒子サ
イズ測定システムを開示している。粒子がこの装置を通
過するとパルスが発生する。アナログ入力パルスのピー
ク振幅のみがデジタル化されそしてコンピュータ等にサ
イズ別の粒子の“カウント”をインクレメントすべく登
録される。
enbeck)はアナログ出力をデジタル化する粒子カウンタ
ーを開示している。コンパレータがその信号を電圧しき
い値と比較しそしてしきい値を超過している時(これは
1つの粒子の検出を表すものとみなされる)、サンプラ
ーがA/Dコンバーター出力の200以上のサンプルの
採取を行う。この中からただ1つの最大サンプルが選択
されそれ以下のサンプルは捨てられる。
(Borden等)は粒子分析を実行するためにデジタル信号
処理を利用することに言及している。しかしどのように
してそれを行うかについては情報の記載が不足してい
る。Borden等の装置はダイナミックチューニング、すな
わち、異なるタイプの信号パルスに適応するためにバン
ド幅と利得を調整できるタイプのものである。
般に意図する目的のために満足すべきものではあるが、
しかし不都合な点がないとはいえない。たとえば、粒子
センサーが、サイズ判定され、カウントされるべき粒子
をある種の“浮浪粒子(フローター:floater ”すなわ
ち光ビームを通過する単なる物質の浮動微小片から区別
できることが大いに望ましい。このような微小片は単に
管壁またはハウジング壁の剥落片に過ぎないかも知れな
い。いくつかのカウンターでは、Hollenbeck特許のカウ
ンターと同様、あるしきい値電圧を超過する光ダイオー
ド出力電圧の信号ピークまたはクロッシングをカウント
する。このタイプのカウンターでは、1つの浮浪粒子が
数個の偽カウントを生む可能性がある。
において明らかである。すなわち、それらの装置は粒子
サイズビンを定めるしきい値の数値と数を変更すべく弾
力的に再構成(動作中の再構成)ができるようにはなっ
ていない。作動の最大の融通性を得るためには、これは
望ましい特性であるはずである。
規な粒子センサーが開発されればこの技術分野での大き
な進歩となるであろう。
術の問題および短所のいくつかを処理する新規な粒子セ
ンサーおよび関連する方法を提供することである。
を数え、サイズ判定する新規な粒子センサーおよび関連
する方法を提供することである。
子と浮浪する無意味な粒子すなわち計数およびサイズ判
定が実行されるべきでない物質微細片とをより良く弁別
する新規な粒子センサーならびに関連する方法を提供す
ることである。
ズビンを画定するパルス電圧しきい値の数値および数を
弾力的に変更できる新規な粒子センサーを提供すること
である。
ラウンドノイズによって生じる偽ピークをカウントして
しまうことを回避するのに役立つ新規な粒子センサーを
提供することである。これらおよびその他の目的がいか
に達成されかは以下の記載ならびに添付図面から明らか
となろう。
引された流体中に捕捉されている粒子の数を、サイズ範
囲ごとにカウントするために散乱光を使用する。1つの
実施例においては、センサーは製造プラント内の監視さ
れている環境領域、たとえば“クリーンルーム”からそ
れを通って吸引される入口を含む。センサーは光ビーム
と該入口から流入する流体との交差によって画定される
検知容積を有する。さらにセンサーは検知容積を通過し
た後、流体がそれを通ってセンサーから出て行く出口を
有する。
散乱された光を光検知器回路の方向に再指向し、その光
検知回路は粒子のサイズを表す電気パルスを発する。1
つの特定実施例においては、そのパルスは光検知器から
の電流パルスに基づいた整形された電圧パルスである。
その回路にはアナログ−デジタルコンバータが接続され
ておりそして上記パルスを少なくとも2回サンプリング
する。ここで、パルスの“サンプリング”とはそのパル
スに沿った複数の異なる電圧値を“読み取る”ことであ
る。
ッサーが接続されておりそして該プロセッサーにはマイ
クロコントローラが接続されている。このプロセッサー
およびマイクロコントローラは本粒子センサーを通って
流れる粒子を、サイズ範囲別に、カウントするための本
方法を実施すべくプログラムされている。自明のごと
く、センサー内にプログラムされる方法は以下に記載さ
れているいくつかのバリエーションの任意の1つまたは
それ以上を包含することができる。
ーを通って流れる粒子はサイズ範囲別にカウントされ
る。本方法はしきい値電圧の電算化されたテーブルに粒
子サイズ範囲を設定する工程を含む。1つの特定例で
は、表は逓増する粒子サイズと、各電圧が1つの粒子サ
イズに対応する逓増する漸増電圧とを包含する。
その粒子によって散乱された光から生ずる1つのパル
ス、たとえば、電流パルスが発生される。1つの特定の
方法においては、その電流パルスは反転され、電圧パル
スに再整形される。このパルスは元のパルスの振幅/電
荷関係を保っている。
って多数の電圧値がサンプリングされる。それら多数の
サンプルには1つの最新の数値と1つの先行の数値とが
含まれる。最新値が順ぐりに先行値と比較されそして最
新値が先行値を下回った時に、センサーはテーブルの中
でその粒子のサイズ範囲を見つけ出す(探索)。そのサ
イズ範囲が判定されると、そのサイズ範囲に対応するカ
ウント“ビン”がインクレメントされる。
は、ノイズレベル電圧および/またはベースライン電圧
が1つまたは複数のパラメーターとして使用される。
(ノイズレベル電圧とは所望されない、しかしほとんど
不可避である外乱、すなわち、検知キャビティー内の
“ノイズ”から生じるA/Dコンバーターによって“読
み取られた”電圧である。ベースライン電圧はセンサー
に粒子が存在しない時にA/Dコンバーターによって読
み取られるノミナル電圧である。
−レベル電圧を確認する工程を含みそして探索工程は最
新値がノイズレベル電圧を超えた時にのみ実行される。
設定工程は、また、ベースライン電圧を確認する工程お
よび最新値がベースライン電圧以下であった時にのみ実
行される探索工程とインクレメント工程とを包含しう
る。この技術は浮浪粒子に起因する偽カウントを減少さ
せるのに役立つはずである。
は検知キャビティー内を浮遊する浮浪粒子から生じる電
圧パルスよりも実質的に持続時間が短いことが観察され
ている。本発明の別の実施態様においては、サンプリン
グ工程は正当な(カウントされるべき)粒子であれ、浮
浪粒子であれ、1つの粒子によって発生された多数の電
圧値のいずれかがノイズレベル電圧を超した時にタイマ
ーをスタートさせる工程を含む。探索工程はそのパルス
の持続時間がある予め定めた最大時間を超過しない時に
のみ実行される。この技術は浮浪粒子に起因する偽カウ
ントを相当に減少させる。
リングされるべき1つの粒子によって生じたパルスは1
つのピーク値を持つ。サンプリングされた多数の電圧値
は等差数列をなす1から“n”までのサンプルを包含す
る。最新値はサンプル“n”であり、そして先行値はサ
ンプル(n−1)であり、そしてピーク値である。サン
プリング速度の遅いセンサーとそのコンバーターの場合
には本方法のこの実施態様が適用されうるであろう。
リング速度を有する場合は、最新値はサンプル“n”そ
して先行値はピーク値でありそしてサンプル(n−a)
である。ここで、“a”は整数である。この整数は比較
的大きい数、たとえば20、50またはそれ以上の大き
い数でありうる。(サンプリング速度は高速であること
が所望されるであろう。なぜならば、コンバーターの速
度および関連する“チップ”の速度が増加し、それらの
コストが下がるからである)。
添付図面によりさらに詳細に説明される。
れに関連した新規な方法を包含するものである。発明の
詳細な説明では最初に本新規センサー10の構成を説明
する。
はレーザーダイオード光源のごとき光源11を含む。こ
の光源は1つまたはそれ以上の集光レンズ(図示なし)
と共に非常に直径の小さい光ビーム13を発射する。光
ビーム13は検知キャビティー15を通過して光キリン
グトラップ17に投射される。一対の流体流し管19、
21は粒子のサイズと個数が監視されている部屋または
環境から吸引された流体のための導入口23および排出
口25をそれぞれ提供している。
容積29、これはしばしば監視容積とも呼ばれる、を画
定する。サンプルが吸引されている環境、たとえば、1
つの部屋からの粒子31がサイズによりカウントされる
べき時、または。浮浪粒子33たとえばセンサー自体か
ら生じたキャビティーのまわりを浮遊している微小な物
質片が光ビーム13を通過した時、粒子31、33のい
ずれであれ、それは光を反射する。粒子31または33
によって反射された光は図に矢印35で示されており、
これらは直接または光学的集光系たとえば楕円ミラー3
9によって反射されたあと、光ダイオード37に入射す
る。その光ダイオード37は1つの電流パルスを発生す
る。このパルスは“平滑化”された電圧パルスに変換さ
れた後、図1Bに示した電子システムによって分析され
て粒子31のサイズが判定されそして該当するサイズカ
テゴリーの中にその粒子がカウントされる。後記により
明らかとなるように、本発明の特定の実施態様は、浮浪
粒子33を、監視されている環境から吸引された真の粒
子31としてカウントしてしまうのを回避するために役
立つ。
は電荷感応型のもの)、パルス整形増幅器43、アナロ
グ−デジタル(A/D)コンバータ45(たとえば12
ビット装置、XRD8794 型)、データバッファー47、デ
ジタル信号プロセッサー49すなわち“DSP”(たと
えば、TMS320C50 型のもの)、コントロールロジックセ
クション51、マイクロコントローラ53(たとえば、
PIC16C74型)およびホストコンピュータ55を包含す
る。
49をホストコンピュータ55にインターフェース接続
するために使用される。この構成によりプロセッサー4
9はマイクロコントローラ53が比較的遅いコンピュー
タ55と通信している時に自由にデータの流れを処理で
きるようなる。マイクロコントローラ53はフレキシブ
ルなインターフェースポート56(並列または直列)を
有しており、これを通じてコマンド(たとえばサンプリ
ング開始、サンプリング停止、しきい値設定などのコマ
ンド)を受信しそして粒子カウントを送り返す。マイク
ロコントローラのプロセッサー49へのインターフェー
スポート57は主としてコントロールコマンドを送り出
しそして蓄積されたカウントを受け取る役目をする。
受けそして表示のためのカウントを受信する。このコン
ピュータ55は外部コンピュータたとえばデスクトップ
型パーソナルコンピュータとして具体化することもでき
るし、また、センサー10の一部分として内蔵されたコ
ンピュータとして具体化することもできる。後者の場合
はそのセンサー10はまったく外部コンピュータに接続
する必要のない“スタンドアロン”型のセンサーとな
る。
明する。記載は粒子サイズによる粒子のカウントがどの
ようにして実行されるかの説明を含む。
する時、上記のごとくその粒子は光を散乱する。その光
は光に感応する光ダイオード37に入射される。光ダイ
オードはその入射光に応答して電気信号を出力する。す
なわち、光ダイオード37は1つの小さな電流パルスを
出す。そのパルスの大きさは一般に光ダイオード37に
入射した光エネルギー(フォトンとしての)の大きさに
比例する。そして、もちろん、その光エネルギーは粒子
のサイズを示す。この電流パルスは次に前置増幅器41
によって増幅され、この増幅器からは光ダイオード37
によって発生された全電荷に比例する電圧パルス59が
出る。(このパルス59は図1Bに“負の向き”で示さ
れている)。
反転と平滑化を行う。これによりパルス59の振幅/電
荷関係を保持した正の方向のアナログ電圧パルス61が
生じる。(前置増幅器からのパルス59は並列接続され
た2つまたはそれ以上のパルス整形増幅器43に導入さ
れうるものであることを理解されたい。説明の簡単化の
ために、図には1つの増幅器43のみが図示されてい
る)。
ンバータ45に送られ、このコンバータは、ある非常に
短い時間期間にわたって、パルス61上の複数の点、た
とえば、点63、65、67、69において、アナログ
電圧値をそれらの点で等価なデジタル値に順次変換する
ことによって“サンプリング”を行う。変換(すなわ
ち、サンプリング)は連続的にある一定の速度で実施さ
れる。すなわち、コンバータ45はパルス61上の1つ
の点を一定の持続時間の1単位時間ごとに1回等価のデ
ジタル値に変換する。
各サンプリングと変換の結果は一続きの12ビットデジ
タル数であり、これがバッファー47を経由して送られ
てプロセッサー49によって1回に1つ読み取られる。
コントロールロジックセクション51ガ正しいクロック
タイミングと制御信号の発生を保証する。
うに測定の電圧単位でアナログで表わされる。(実際に
は、コンバータ45が各点のアナログ値を等価デジタル
値に変換しそしてプロセッサー49はこれらの等価デジ
タル値を“読み取る”)。等価デジタル値では、パルス
61上の各点は0と1の12ケタの一続きの数からなる
二進数字によって表される。1つの12ビット二進数字
の任意の例を示せば001011001010である。
値を使用される場合でも、あたかもコンバータ45とプ
ロセッサー49がアナログ値を使用しているように記載
されている。たとえば、“ノイズ”および“ベースライ
ン”電圧値はアナログ表現で記載されているが、しかし
プロセッサー49はこれらをデジタル化された数値とし
て“読む”のである。ほとんどすべての最近のコンピュ
ータシステムは二進またはデジタル化された数を使用す
るよう構成されているが、アナログ表現で記載がなされ
ている)。
目のサンプルに対応し、点65、67、69、71、7
3、75、77、79、80、81および83は第2番
目から第12番目のサンプルにそれぞれ対応する。第1
番目のサンプリングで点63が10の値を持つと“読み
取る”。第2番目のサンプリングで点65が16の値を
持つと読み取る。以下、同様である。プロセッサー49
は表1の右側欄の数値を使用して増幅器出力のピーク値
を決定する。図3および表1の例では、そのピーク値は
97である。後述するように、このピーク値は光を散乱
した粒子31のサイズに関係している。表の右側欄の数
の正確な使用の仕方を以下に説明する。
つの実施例では、プロセッサー49は図表化したアルゴ
リズム85をもってプログラムされている。簡単に説明
すると、図4のアルゴリズム85でプログラムされたプ
ロセッサー49は逐次発生されるパルスのそれぞれ(た
とえばパルス61)からそのピーク値(たとえば点77
の数値97)を抽出しそしてそれぞれの“しきい値”の
間にはいる粒子31のカウントをキープする。
て電子システムに設定可能である。しきい値のテーブル
の一例を次表に示す。
ーク値は97であり、その測定の単位はmVである。表2
を見ると、97はしきい値90.9mVより大きいが、し
きい値129mVよりも小さい。なお、これらのしきい値
は粒子サイズに対応させて選択されているものである。
したがって、プロセッサー49は粒子31が0.600
0μ乃至0.7000μのサイズを有する粒子と判定し
てそのパルスを発生した粒子をカウントするのである。
が1つのパルス61のサンプリングを始めた後で実行さ
れる。図4の各“泡”87、89、91はそれぞれアル
ゴリズム85の独特な状態に対応しており、矢印93は
その状態の間中このアルゴリズム85が再循環するもの
であることを示している。その再循環は次の状態へ移行
させる条件が検出されるまで続く。
値”という言葉またはこれに類似する表現は、たとえば
パルス61に沿った時間的に最も近時に生じた電圧値を
指す。また、“先行”、“先行値”という言葉またはこ
れに類似する表現は最新値の直前の電圧値を指す。
ン”という言葉を理解するのに役立つであろう。すなわ
ち、ベースラインとは、粒子がセンサー10内に存在し
ない時に増幅器43がそこに復帰するであろう電圧値9
5を指す。“ノイズ”という言葉は増幅器43がノイズ
のみに基づいて出力することが期待される最大電圧値9
7を指す。(センサー10内のノイズは気体分子によっ
て散乱された光によって、光ビーム13の濃度の変化に
よってあるいは他の原因によって生じうる)。
を参照して説明すると、アルゴリズム85はパルス61
のごときパルスの最新サンプル電圧値がノイズレベル9
7を超すまで状態89の中を再循環する。ノイズレベル
を超過することは1つの粒子31が検知容積29を通過
中であり、光を散乱していることを意味する。
ある。図3をさらに見ると、アルゴリズム85は状態9
1へ進みそして最新サンプル値が先行サンプル値より小
さいことが検出されるまで状態91を循環または再循環
する。最新サンプル値が先行サンプル値より小さくなっ
たということはパルスまたは波形のピークが丁度発生し
終わったことを意味する。表1の値を使用すると、8番
目のサンプリングは97の数値を与えておりそして9番
目のサンプリングは81の数値を与えている。9番目の
サンプリングが先行値97より小さい最初の最新値であ
るので、この数値97がたとえば表2からそのパルスを
生じた粒子31のサイズを知るために使用される。別の
言い方をすれば、プロセッサー49が先行値よりも小さ
い最新値をひとたび検出すると、プロセッサー49は
“後ろをふりかえり”1つのサンプル値をピーク値とし
て取る。
れる多数の電圧値は1つの数列をつくる1から“n”ま
でのサンプルを含む。最新値はサンプル“n”でありそ
してその先行値がこのパルスのピーク値であり、それは
サンプル(n−1)、すなわち、最新値の直前の電圧値
である。これらの数学用語を表1および図3に適用して
見れば、アルゴリズム85は点79でサンプリングした
(サンプル“n”)直後に粒子サイズを探索することに
なろう。なぜならば最新値が先行値よりも小さくなった
サンプルは点77(n−1)の後の最初のサンプルであ
るからである。
たサンプリングはサイズ別に粒子をカウントするために
有効である。しかし、パルスは図3に示したパルス61
よりもはるかに不規則である場合がある。より頻繁にサ
ンプル採取しないかぎり、カウントされた粒子31のサ
イズは正確には決まらないであろう。
れる多数の電圧値は同じく1つの数列をつくる1から
“n”までのサンプルを含む。最新値はサンプル“n”
でありそしてその先行値がこのパルスのピーク値であ
り、それはサンプル(n−a)である、ここで“a”
は、たとえば、1乃至20または1乃至10の整数であ
る。特定の方法例においては、サンプル(n−a)がサ
ンプル1乃至nの中の最大電圧値を有する。
つのパルス99は49個のサンプルを包含している。し
たがって、サンプル“n”が最後の、すなわち49番目
サンプルである。このパルスのピークはサンプル33の
点に存在する。したがって、式中の“a”は16(49
−16=33)である。この方法の好ましい実施態様に
おいては、設定工程はノイズレベル電圧97を確認する
ことを含みそしてサイズ探索工程は最新値がノイズレベ
ル電圧を下回った時に実行される。すなわち、プロセッ
サー49は最新値が、粒子31が確かに検知容積29を
通過したことを保証するレベルになるまでは、ピーク値
を求めるために“後ろをふりかえる”ことはない。
とえば粒子31をそのサイズによりカウントすることで
ある。アルゴリズムは先行値(ピーク値として選択され
たもの)を表2のごときしきい値テーブルの中の値と比
較することによって正しいカウント“ビン”を見つけ出
す。先行値がそれを超した最大しきい値がその粒子のサ
イズビンであり、そのビンに対してカウントがインクレ
メントされる。すなわち、1のカウントがそのビンに加
算される。なぜならば、1つの粒子がその特定サイズの
粒子であることがいま突き止められたからである。上記
した例に着目すると、プロセッサー49はその例の数値
97と81をもたらしたパルスを発生した粒子31を
0.6000μから0.7000μまでの間のサイズを
有する粒子としてカウントしそしてその時までの当該サ
イズの粒子カウント数に1を加える。
アルゴリズム85は丁度いまカウントした粒子にかかわ
るパルス61の終了を待機する状態87に入る。この状
態87においては、アルゴリズム85は最新値がベース
ライン値95を下回るまで増幅器出力のサンプリングを
続ける。ベースライン値95に到達したら、アルゴリズ
ム85は再びノイズレベル97を上回る次のパルスを待
つ待機状態89に入る。アルゴリズム85はプロセッサ
ーがマイクロコントローラ53からのSTOPコマンド
を受信するまで繰り返しを行う。
値よりも小さい最新サンプル値が最初に出現した時に粒
子31をカウントすることは浮浪粒子などに起因する偽
カウントを回避するためにも役立つということである、
特に図5を参照すると、新規粒子センサー10はカウン
トされるべき有意な粒子31を無意味な浮浪粒子33ま
たはその他の無意味な浮遊物から識別することができ
る。図5は、1つの例としての、粒子センサー10の浮
浪粒子33から結果する電圧パルス101ならびに流体
中に存在している、粒子センサー10を通過する粒子3
1から結果する電圧パルス103を示す。
じた電圧パルス101は通常粒子によって生じたパルス
103のようには迅速にベースライン値95に戻らな
い。パルス101は最終的にベースライン95に戻るま
でいくつかのピークを持つ可能性がある。図4に示した
アルゴリズム85はこのような付加的ピークを、先行値
より小さい最新値が最初に検出された後別の粒子31を
カウントする前に、増幅器43の出力がベースラインに
戻るよう強制することによって排除してしまう。
れている。この実施例の粒子センサー10は浮浪粒子ま
たは他の無意味な浮遊物を排除する向上された性能を有
するアリゴリズム105を含有する。その浮浪粒子の排
除は、増幅器からのパルスがある特定限度時間内の持続
時間を有していることを必要条件とし、その条件が満足
された後で初めて、先行値より小さい最新値の出現がカ
ウントされるべき1つの粒子31を表すものと解釈する
ことによって達成される。前記パルス101の持続時間
から明らかなように、浮浪粒子33は一般にその持続時
間が流体流内を移動するカウントされるべき粒子31に
よって発生されるパルス103の持続時間よりもはるか
に長い。
ルス101または103についてサンプリングされた1
つの電圧値がノイズレベルを上回ると直ちにパルス幅タ
イマーがスタートされる。上記の方法で1つの明白なパ
ルスピークが同定された後、そのパルスの持続時間が予
め設定されたノミナルな最大持続時間と比較される。も
し、そのパルス持続時間が予め設定された最大時間を超
過していた場合には、そのパルスは無視される。すなわ
ち、そのようなパルスはカウントされるべき粒子を表す
ものとは解釈されないのである。
の実施例が示されている。この実施例の粒子センサー1
0はノイズを排除することによって電圧パルスのピーク
値をより正確に確認する向上された性能を示すアリゴリ
ズム109を含む。1つの電圧パルス111の立上がり
エッジ113上のノイズは一時的な反転すなわち115
の点の傾斜の変化を引き起こす可能性がある。これによ
る生じるピーク117は、119の点のパルス111の
下降によって生じる“偽”ピークではないけれども、図
4のアルゴリズム85によってピークとして誤って読み
取られる可能性がある。
109の場合では、“ピーク確認”状態121を追加す
ることによって解決される。ピーク117が最初に検出
された後、その次にサンプリングされる値は、当該ピー
ク値がカウントされるべき粒子を表すものと解釈される
ためには、そのピーク値117より小さくなければなら
ない。もしそうでなかった場合には、アルゴリズムはピ
ーク検出状態へ逆行する。
リングは一見適正なピーク117のサンプリングと思わ
れる。しかし、T7の時点でのパルス値をサンプリング
した時、その値がピーク117の値よりも大きいことが
明らかになる。したがって、T6の時点でサンプリング
された値は見捨てられる。すなわち、カウントされるべ
き粒子31によって生じたピークとは解釈されない。ノ
イズがはげしい場合には、反転は1サンプル期間よりも
長く持続するであろう。この場合、アルゴリズム109
はさらの多くの確認ステップを加えることによってさら
に変更される。このようにすれば、数サンプル期間持続
する(あるいはどんなに多くの確認ステップがあっても
存在する)ノイズのスパイクは排除することができる。
上記の記載に関して、図4、7、8に示したアルゴリズ
ム85、105、109は組み合わせることができるも
のであることに留意されたい。すなわち、1つのアルゴ
リズムがノイズ排除の特徴とパルス幅識別の特徴との両
方を併せ持つことができるのである。
イズビンを定めるしきい値の数値と個数を変更すること
によって粒子カウンターを弾力的に再構成することも可
能にする。換言すれば、表2のデータは変更可能であ
る。
クロコントローラ53へ粒子サイズビンの個数とそれら
のしきい値の数とを含む目盛りコマンドを送る。マイク
ロコントローラ53はその情報を次にプロセッサー49
に知らせ、これによりプロセッサー49はそのしきい値
テーブルの値を更新する。これらの更新されたしきい値
がその後上記した計数アルゴリズによって使用されそし
てカウントされるべき粒子のカウントはそれら新規なサ
イズビンに仕分けされることになる。このような弾力的
再構成はそのタイプが前記したBorden等の '558特許
明細書に記載されているものとは異なる。すなわち、後
者では外部サンプリング条件に基づいて単に増幅器アナ
ログ利得/帯域幅を変更するだけである。
実施例について図面を参照しながら説明したが、それら
の実施例は単に例示のためのものであり、本発明を限定
するものではないことを十分に理解されたい。
面と電子システムの面とを説明する図面である。
面と電子システムの面とを説明する図面である。
れる多数のサンプリング点を示すグラフである。
うる複数のアルゴリズムのうちの1つをダイアグラムの
形で示す。
トされるべき粒子によって表される電圧パルスを示し、
かつ同時にノイズレベル電圧とベースライン電圧を示し
ているグラフである。
よりもはるかに迅速に1つの電圧パルスに沿ってサンプ
リングがなされる多数のサンプリング点を示す。
うる複数のアルゴリズムのうちの他の1つをダイアグラ
ムの形で示す。
うる複数のアルゴリズムのうちのさらに他の1つをダイ
アグラムの形で示す。
を及ぼしうるかを示すグラフである。
Claims (10)
- 【請求項1】 下記工程を包含する、粒子センサーを通
って流れる粒子をサイズ範囲別に計数するための方法:
センサー内の検知キャビティーを通じて光の定常ビーム
を投射し;複数の粒子サイズ範囲を、粒子サイズと対応
する電圧との電算化テーブルの中に設定しておき;粒子
を該光ビームを通過して流し;ある不定の時間期間にわ
たって1つの電圧パルスに沿った複数の電圧値をサンプ
リングし、その複数の電圧値は最新の電圧値と該最新の
電圧値に先行する電圧値を含むものであり;該最新値と
該先行値とを比較し;サンプリングされた最新値がサン
プリングされた先行値より小さいと判定された時に、上
記表の中で、その粒子に対するサイズ範囲を見つけ出
し;および該粒子のサイズ範囲に対応するカウントビン
をインクレメントする。 - 【請求項2】 該設定工程はノイズレベル電圧を確定す
ることを含み;および該サイズ探索工程は該最新値がそ
のノイズレベル電圧を超過した場合にのみ実行される、
請求項1記載の方法。 - 【請求項3】 該設定工程はベースライン電圧を確定す
ることを含み;および該サイズ探索工程およびインクレ
メントする工程を繰り返し、この繰り返しは該最新値が
そのベースライン電圧を下回った後においてのみ実行さ
れ、これによって浮浪粒子によって生じる偽カウントを
実質的に減少させる、請求項1記載の方法。 - 【請求項4】 該設定工程はベースライン電圧を確定す
ることを含み;および該サイズ探索工程およびインクレ
メントする工程を繰り返し、この繰り返しは該最新値が
そのベースライン電圧を下回った後においてのみ実行さ
れ、これによって浮浪粒子によって生じる偽カウントを
実質的に減少させる、請求項2記載の方法。 - 【請求項5】 該電圧パルスはある持続時間を有してお
り、および該設定工程はノイズレベル電圧を確定するこ
とを含み;該サンプリング工程は該複数の電圧値のいず
れかが該ノイズレベル電圧を超過した時にタイマーをス
タートさせることを含み;および該サイズ探索工程はそ
のパルス持続時間がある予め定められた最大時間を超過
しない場合にのみ実行され、これによって浮浪粒子によ
って生じる偽カウントを実質的に減少させる、請求項1
記載の方法。 - 【請求項6】 該電圧パルスはある持続時間を有してお
り、および該サンプリング工程は該複数の電圧値のいず
れかが該ノイズレベル電圧を超過した時にタイマーをス
タートさせることを含み;および該サイズ探索工程はそ
のパルス持続時間がある予め定められた最大時間を超過
しない場合にのみ実行され、これによって浮浪粒子によ
って生じる偽カウントを実質的に減少させる、請求項2
記載の方法。 - 【請求項7】 該電圧パルスはある持続時間を有してお
り、および該サンプリング工程は該複数の電圧値のいず
れかが該ノイズレベル電圧を超過した時にタイマーをス
タートさせることを含み;および該サイズ探索工程はそ
のパルス持続時間がある予め定められた最大時間を超過
しない場合にのみ実行され、これによって浮浪粒子によ
って生じる偽カウントを実質的に減少させる、請求項4
記載の方法。 - 【請求項8】 該パルスは1つのピーク値を有し;サン
プルされる該複数の電圧値は1つの等差数列をなす1か
ら“n”までのサンプルを含み;および該最新値はサン
プル“n”そして該先行値はサンプル(n−1)であり
そしてピーク値である、請求項1記載の方法。 - 【請求項9】 環境から粒子センサーに吸引される流体
中に捕捉されている粒子の個数をサイズ範囲別に計数す
るための散乱光を使用する粒子センサーにおいて、該セ
ンサーは下記構成要素を包含する:それを通って粒子が
環境から吸引される入口;定常光ビームと該入口から流
入する流体流との交差により画定される検知のための容
積;該検知容積を通過後該流体がそれを通ってセンサー
から出ていく排出口;該検知容積内の粒子によって散乱
された光を光検知回路へ向けて再指向する光学的集光
系、該光検知回路は該粒子のサイズを表す電気パルスを
発生する;該回路に接続されておりおよび該パルスを少
なくとも2回サンプリングするアナログ−デジタル変換
器;該変換器に連結されたデジタル信号プロセッサー;
および該プロセッサーに連結されたマイクロコントロー
ラ−;該プロセッサーおよびマイクロコントローラーは
該粒子センサーを通って流れる粒子の個数をサイズ範囲
別にカウントするための方法を実行するようにプログラ
ムされており、そのカウントを実行するための方法は下
記工程を包含する:複数の粒子サイズ範囲を、粒子サイ
ズと対応する電圧との電算化テーブルの中に設定し;粒
子を定常光ビームを通過して流動させ;ある不定の時間
期間にわたって1つの電圧パルスに沿った複数の電圧値
をサンプリングし;最新値と該最新値より前の先行値と
を比較し;サンプリングされた最新値がサンプリングさ
れた先行値より小さいと判定された時に、上記テーブル
の中で、その粒子に対するサイズ範囲を見つけ出し;お
よび該粒子のサイズ範囲に対応するカウントビンをイン
クレメントする。 - 【請求項10】 該プロセッサーおよびマイクロコント
ローラーがさらに、該設定工程はノイズレベル電圧を確
定することを含み;および該探索工程は最新値がそのノ
イズレベル電圧を超過した場合にのみ実行される方法を
実行するようプログラムされている請求項9記載のセン
サー。
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP4545839B2 (ja) | 2010-09-15 |
US5870190A (en) | 1999-02-09 |
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