JPH1125262A - 画像処理装置 - Google Patents

画像処理装置

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JPH1125262A
JPH1125262A JP9193399A JP19339997A JPH1125262A JP H1125262 A JPH1125262 A JP H1125262A JP 9193399 A JP9193399 A JP 9193399A JP 19339997 A JP19339997 A JP 19339997A JP H1125262 A JPH1125262 A JP H1125262A
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Hajime Takegawa
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Omron Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 対象物を撮像して得られる画像から対象物の
検査・計測等を行う画像処理装置に関し、画像表示装置
を用いずに撮像手段の位置調整を行うことができ、かつ
対象物の種類や使用環境に応じて最適な撮像条件を設定
することができる画像処理装置を提供することを目的と
する。 【解決手段】 レンズ21および半透過鏡22を通して
対象物1の光学像を撮像する撮像手段23と、半透過鏡
22およびレンズ21に導かれて対象物1上に所定形状
の像24pを投影する投影手段24と、レンズ21の周
囲に設置され対象物1を照明する照明手段25と、撮像
条件を変化させ各撮像条件で撮像した撮像画像の中から
所定の条件を満たした撮像画像を抽出しそのときの撮像
条件を記憶するコントロール部4とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、対象物を撮像して
得られる画像から対象物の検査・計測等を行う画像処理
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、撮像装置を用いて対象物を撮像
し、得られた入力画像と基準となるモデル画像とのマッ
チングを行って、その結果から対象物の良否を判定する
画像検査装置が知られている。
【0003】図9は、そのような従来の画像検査装置の
ブロック図である。この装置は対象物70をカメラ71
で撮像し、得られた入力画像をコントローラ72を介し
て画像表示装置73のモニタ画面73aに写し出す構成
となっている。
【0004】セッティング時には、オペレータはモニタ
画面73aを見ながら対象物70の入力画像70pがモ
ニタ画面73aの視野に入るように、また入力画像70
pのぼやけ具合を目視観察しながらピントが合うよう
に、対象物70に対するカメラ71の位置を調整してい
た。
【0005】また、オペレータはモニタ画面73aに写
し出される入力画像70pの濃度分布が最適になるよう
にカメラ71の絞りや照明の輝度を調整していた。ま
た、モニタ画面73aに写し出された入力画像70pと
コントローラ72から出力される枠状の領域指定画像7
2pとを見ながら、操作部74を操作して領域指定画像
72pを入力画像70pの所定の位置に重ね合わせ、検
査対象領域を特定する操作を行っていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来の画像検
査装置においては、対象物70の入力画像70pおよび
領域指定画像72pを画像表示装置73のモニタ画面7
3aに表示する必要があるため、画像出力機能、グラフ
ィック処理機能などが必要となり、システムとして高価
なものにならざるを得なかった。
【0007】また、ピント調整を行うために、オペレー
タが入力画像70pのぼやけ具合をモニタ画面73aで
確認しながらカメラ71の位置を調整する必要があるた
め、カメラ71が設置されている位置と画像表示装置7
3が設置されている位置とが離れている場合にはピント
調整は困難であった。
【0008】本発明は、このような従来の課題を解決す
るためになされたもので、画像表示装置を用いずに撮像
手段の位置調整を行うことができ、かつ対象物の種類や
使用環境に応じて最適な撮像条件を設定することができ
る画像処理装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明による画像処理装
置は、レンズおよび半透過鏡を通して対象物の光学像を
撮像する撮像手段と、半透過鏡およびレンズに導かれて
対象物上に所定形状の像を投影する投影手段と、レンズ
の周囲に設置され対象物を照明する照明手段と、撮像条
件を変化させ各撮像条件で撮像した撮像画像の中から所
定の条件を満たした撮像画像を抽出しそのときの撮像条
件を記憶するコントロール部とを備えるものである。
【0010】本発明によれば、投影手段によって対象物
上の所定領域に投影画像を投影し、この投影画像のぼや
け具合を目視観察しながら画像の輪郭がシャープになる
ように撮像手段の位置調整を行うことができる。また、
こうして位置調整を行った後に撮像条件(例えば、撮像
手段の受光時間や対象物上の照度)を変化させ、各撮像
条件で撮像した画像に対して特徴量を計測し、その計測
結果から最適な画像を抽出し、そのときの撮像条件を対
象物を検査等する際の撮像条件として設定することがで
きる。
【0011】
【発明の実施の形態】図1は、本発明による画像処理装
置の一実施の形態を示すブロック図で、検査や計測等の
対象となる対象物1を撮像する撮像ヘッド部2と、この
撮像ヘッド部2の駆動制御および撮像ヘッド部2で撮像
した画像から対象物1の検査等を行うコントロール部4
とを備えている。
【0012】撮像ヘッド部2およびコントロール部4は
それぞれ個別の筐体から構成されており、撮像ヘッド部
2は対象物1が流れるライン上に設置され、コントロー
ル部4はケーブルを介して撮像ヘッド部2と離間した位
置に設置される。
【0013】撮像ヘッド部2は、対象物1の像を所定位
置に結像させるレンズ21、入射光の一部を透過し一部
を反射する半透過鏡としてのハーフミラー22、レンズ
21およびハーフミラー22を透過した対象物1の像が
結象される撮像手段としての撮像素子(例えば、2次元
CCD撮像デバイス)23を備え、それぞれ光軸L1上
にこれらの順に設置されている。
【0014】また、ハーフミラー22の反射方向である
光軸L2上には、対象物1の検査面11に所定形状の像
を投影させる投影手段24が設置されている。この投影
手段24は投影用光源(例えば、発光ダイオード)24
aとスリット板24bとからなり、投影用光源24aか
ら発せられた光がスリット板24bに穿設したスリット
を透過してハーフミラー22で反射し、レンズ21を通
って対象物1に達するようになっている。
【0015】撮像素子23およびハーフミラー22間の
距離と、スリット板24bおよびハーフミラー22間の
距離とは同一距離に設定されているので、スリット板2
4bの像が対象物1の検査面11にピントが合った状態
で結像されれば、対象物1の像が撮像素子23の撮像面
にピントが合った状態で結象されることになる。
【0016】レンズ21の周囲には対象物1の検査面1
1を照明する照明手段として照明用光源(例えば、発光
ダイオード)25が多数配置されている。図2はその様
子を示す撮像ヘッド部2の正面図で、レンズ21の周囲
に16個の照明用光源25が配置された一例を示してい
る。
【0017】また、撮像ヘッド部2は投影用光源24a
を駆動制御する投影ドライバ26、照明用光源25を駆
動制御する照明ドライバ27、撮像素子23で撮像した
画像を同期信号の付加された映像信号としてコントロー
ル部4に送出する撮像コントローラ28を備えている。
【0018】なお、撮像素子23と投影手段24との位
置は入れ替えてもよい。すなわち、投影手段24を光軸
L1上に、撮像素子23を光軸L2上に配置するように
してもよい。
【0019】また、半透過鏡としてハーフミラーに代え
てダイクロイックミラーを用いるようにしてもよい。ハ
ーフミラーは入射光の一部を透過し残りは反射する性質
を有するので、透過光量および反射光量の双方が減少す
る。これに対してダイクロイックミラーは光の干渉を利
用して可視光域の一部を選択的に反射し、残りは透過す
るので、高価ではあるが投影用光源24の投光量や撮像
素子23の受光量の減衰を少なくすることができる。
【0020】次に、コントロール部4は、撮像ヘッド部
2からの映像信号をディジタル画像信号に変換するアナ
ログ/ディジタル(A/D)変換器41を備え、A/D
変換器41の出力はシステムバス42に接続されてい
る。
【0021】システムバス42には、装置全体を制御す
るCPU43、CPU43を作動させるプログラムデー
タおよび各種データが記憶された読出専用メモリ(RO
M)44、処理中のデータを一次的に記憶する読出/書
込メモリ(RAM)45、撮像ヘッド部2を制御するコ
ントロール信号を出力するコントロール信号発生部4
6、対象物1を検査するときの基準となるモデル画像を
記憶するモデルメモリ47、対象物1を撮像して得た入
力画像を記憶する画像メモリ48、入力画像とモデル画
像との比較など各種のディジタル画像処理を実行する画
像処理部49、モデル画像の登録および対象物1の検査
・計測等を指示する操作部50、対象物1の判定結果等
を出力する出力部51が接続されている。なお、撮像画
像をモニタ画面に表示するための画像表示装置は備えて
いない。
【0022】図3は、スリット板24bの構成図であ
る。スリット板24bは光を遮断する平板に光を透過す
る複数のスリットSL1〜SL5を穿設したものであ
る。スリットSL1〜SL5のうち細い帯状の4つのス
リットSL1〜SL4は対象物1の検査面11の検査領
域に検査領域画像を投影するためのものであり、中央の
方形のスリットSL5は対象物1の検査面11のモデル
登録領域に登録領域画像を投影するものである。
【0023】この構成において、ライン(図示せず)上
を移送されてくる対象物1を撮像して検査等をする場
合、初期設定として撮像ヘッド部2のセッティングを行
う。このセッティングは、図4に示すように、ライン上
に停止した基準となる対象物1の検査面11に対し、光
軸L1が垂直になるように撮像ヘッド部2をセットし、
検査面11の検査領域に投影画像24pが結像されるよ
うに撮像ヘッド部2の位置を上下左右に調整する。
【0024】次いで、投影画像24pのぼやけ具合を目
視観察し、画像の輪郭がシャープになるように距離Dを
調整する。図5にその様子を示す。距離Dはレンズ21
の焦点距離によって定まる。こうして、オペレータは画
像表示装置を用いることなく対象物1の検査面11に投
影された投影画像24pのぼやけ具合を目視観察しなが
ら撮像ヘッド部2の位置調整を行うことができる。
【0025】また、照明用光源25を駆動して対象物1
の検査面11を照明しながら行うことができる。図6に
その様子を示す。この例では、投影用光源24aの発光
周波数を緑色領域とし、照明用光源25の発光周波数を
赤色領域としているので、赤色の照明光で照射された対
象物1の検査面11上に緑色の投影画像24pが照射さ
れることになり、目視観察しやすくなる。
【0026】次に、対象物1の検査等を行う際の基準と
なるモデル画像の登録を行う。これは対象物1の検査面
11に投影した登録領域画像(スリットSL5による投
影画像)で示されるモデル登録領域を撮像素子22で撮
像し、コントロール部4のモデルメモリ47に記憶する
処理である。
【0027】具体的には、基準となる対象物1を撮像素
子22で撮像し、得られた撮像信号を映像信号に変換し
コントロール部4に送出する。コントロール部4では、
A/D変換器41で映像信号をディジタル画像信号に変
換し、画像メモリ48に記憶する。そして、画像メモリ
48に記憶した画像の中からモデル登録領域に相当する
位置の画像を読み出し、モデルメモリ47にモデル画像
として記憶する。
【0028】このモデル画像を登録する際に、種々の撮
像条件でモデル登録領域の画像を撮像し、最適な画像を
モデル画像として登録する処理を行う。すなわち、この
画像処理装置は画像表示装置を備えていないため、撮像
ヘッド部2で撮像した対象物1の画像をモニタ画面に写
し出すことができない。このため、オペレータはモニタ
画面を見ながら対象物1の種類や使用環境によって異な
る入力画像の濃度分布を調整し、最適な撮像条件に設定
することができない。
【0029】そこで、モデル登録領域の画像を撮像する
際に撮像条件(例えば、撮像素子22の受光時間や検査
面11の照度)を時系列に何段階かに変化させ、各撮像
条件で撮像したモデル登録領域の画像に対して特徴量を
計測し、その計測結果から最適な画像を抽出し、そのと
きの撮像条件を対象物1を検査等する際の撮像条件とし
て選択するようにしている。
【0030】撮像条件を変化させる一例としては、図7
に示すように、垂直同期信号VD(図a)の開始時点t
3より12H(1Hは1水平期間)前の時点t2から1
H(28.8μsec )ずつ12段階(最小28.8μse
c 〜最大345.6μsec )で撮像素子23の受光時間
(図c)を時系列に切り換え、同時に照明用光源25の
発光時間(図d)も1Hずつ12段階で切り換える。
【0031】そして、各段階で撮像した画像の特徴量を
計測し、最適な特徴量を有する画像をモデル画像として
抽出する。そして、そのときの受光時間および発光時間
を最適な撮像条件として、対象物1の検査・計測等を行
う際の撮像条件とする。
【0032】なお、図bは水平同期信号HD、図eは投
影用光源24aの投影時間である。この投影時間は時点
t1(<t2)から時点t4(>t3)までの14Hの
間は消灯し、その他の間は点灯する。これによって撮像
素子22が投影画像24pを撮像しないようにしてい
る。また、受光時間(図c)の前後に24.6μsec と
6.5μsec のマージンを取り、受光時間が発光時間
(図d)より長くなるようにしている。
【0033】対象物1の検査面11の照度を変化させる
例としては、照明用光源25を駆動する駆動電流値を切
り換えて発光体の輝度を切り換えるようにしてもよい。
あるいは複数個の照明用光源25の中で発光させる発光
体の個数を変化させるようにしてもよい。
【0034】計測する特徴量としては、例えば濃度ヒス
トグラムを使って濃度分散値Vを求め、この濃度分散値
Vが最大となる画像を選択する。濃度分散値Vはある領
域の画像に対して各画素の濃度値i(i=0〜255)
と画素数Piを求め、全画素数をNとし、濃度平均値を
μとした場合に、次の式から求まる値である。濃度分散
値Vが最大となる画像は、他の画像に比べてコントラス
トが高い最適な画像となる。
【0035】
【数1】 こうして撮像ヘッド部2のセッティング、最適な撮像条
件の設定、モデル画像の登録といった初期設定が終了す
ると、ラインを起動し、ライン上を移送されてくる対象
物1の検査・計測等を開始する。
【0036】対象物1が到来すると対象物1の検査面1
1の検査領域を設定した撮像条件で撮像素子22を撮像
し、撮像コントローラ28からコントロール部4に映像
信号として出力する。コントロール部4では、映像信号
をA/D変換器41でディジタル画像信号に変換し、画
像メモリ48に記憶する。
【0037】次いで、画像メモリ48に記憶した画像中
の検査領域画像と、モデルメモリ47に記憶されている
モデル画像とを比較し、対象物1の検査・計測処理を行
う。比較方法としては、モデル画像を検査領域の画像に
対して1画素ずつずらしながら端から端までを順次比較
し、一致点を検索する2値化サーチまたはグレイサーチ
を行う。
【0038】図8はその様子を示し、アルファベット
A,B,Cが描かれた検査領域画像24qをアルファベ
ットAの描かれたモデル画像24rによって左上端部か
ら右下端部に至るまでサーチし、アルファベットAの有
無を検査する例である。各位置毎に正規化相関演算を行
い、相関値が基準値を越えた位置にモデル画像と同一の
画像、すなわちアルファベットAの画像があることを示
している。
【0039】
【発明の効果】本発明の画像処理装置によれば、画像表
示装置を用いることなく、対象物に投影される投影画像
を目視観察しながら撮像手段の位置を調整することがで
き、かつ撮像条件を自動的に変化させ各撮像条件で撮像
した画像の中から最適な画像を抽出し、そのときの撮像
条件で対象物を検査等する際の撮像条件とするので、画
像表示装置を用いることなく、対象物の種類や使用環境
によって異なる入力画像の濃度分布に適した撮像条件で
対象物の検査等を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による画像処理装置の一実施の形態を示
すブロック図である。
【図2】レンズと照明用光源との位置関係を示す正面図
である。
【図3】スリット板の構成図である。
【図4】対象物と撮像ヘッド部との位置関係を示す斜視
図である。
【図5】対象物に投影された投影手段の画像を示す説明
図である。
【図6】投影用光源の投光色と照明用光源の照明色とを
異ならせて対象物の検査面を照射している様子を示す説
明図である。
【図7】撮像素子の受光時間および照明用光源の発光時
間を変化させる様子を示すタイミング図である。
【図8】検査領域画像をモデル画像によってサーチする
様子を示す説明図である。
【図9】従来の画像検査装置のブロック図である。
【符号の説明】
1 対象物 2 撮像ヘッド部 4 コントロール部 21 レンズ 22 ハーフミラー 23 撮像素子 24 投影手段 24a 投影用光源 24b スリット板 24p 投影画像 24q 検査領域画像 24r モデル画像 25 照明用光源 26 投影ドライバ 27 照明ドライバ 28 撮像コントローラ 41 A/D変換器 46 コントロール信号発生部 47 モデルメモリ 48 画像メモリ 49 画像処理部 L1,L2 光軸 SL1〜SL5 スリット

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レンズおよび半透過鏡を通して対象物の
    光学像を撮像する撮像手段と、 前記半透過鏡および前記レンズに導かれて前記対象物上
    に所定形状の像を投影する投影手段と、 前記レンズの周囲に設置され前記対象物を照明する照明
    手段と、 撮像条件を変化させ各撮像条件で撮像した撮像画像の中
    から所定の条件を満たした撮像画像を抽出しそのときの
    撮像条件を記憶するコントロール部と、を備えることを
    特徴とする画像処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、変化させる撮像条件
    は撮像手段の受光時間であることを特徴とする画像処理
    装置。
  3. 【請求項3】 請求項1において、変化させる撮像条件
    は照明手段の発光時間であることを特徴とする画像処理
    装置。
  4. 【請求項4】 請求項1において、変化させる撮像条件
    は照明手段の輝度であることを特徴とする画像処理装
    置。
  5. 【請求項5】 請求項1において、変化させる撮像条件
    は照明手段の発光体数であることを特徴とする画像処理
    装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003274421A (ja) * 2002-03-18 2003-09-26 Moritex Corp 撮像装置及びそれに用いる照明装置
JP2010008088A (ja) * 2008-06-24 2010-01-14 Panasonic Electric Works Co Ltd 空間情報検出装置

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