JPH11248753A - 信号測定システムにおける自動測定の同時呼び出しのためのシステム及び方法 - Google Patents

信号測定システムにおける自動測定の同時呼び出しのためのシステム及び方法

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JPH11248753A
JPH11248753A JP11005648A JP564899A JPH11248753A JP H11248753 A JPH11248753 A JP H11248753A JP 11005648 A JP11005648 A JP 11005648A JP 564899 A JP564899 A JP 564899A JP H11248753 A JPH11248753 A JP H11248753A
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waveform
operator
waveforms
display
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JP11005648A
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A Alexander J
ジェイ・エイ・アレキサンダー
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    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 波形の自動測定を実施するための単純な直観
的システムを提供する。 【解決手段】 本発明のシステムは、ディスプレイを備
える信号測定システムに用いられる高速測定システムで
あって、該システムは、1つ以上の所定の自動測定を複
数の所定の波形のそれぞれに対して順次適用するように
構成され、ユーザが選択する前記波形のそれぞれに対す
る前記1つ以上の自動測定の前記各適用が、対応する起
動要求に応答して発生し、前記1つ以上の自動測定のそ
れぞれが、ユーザが選択する複数の前記波形のそれぞれ
の所定の範囲を測定することを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に信号測定シ
ステムに関し、より詳細には信号測定システムにおける
自動測定の同時呼び出しに関する。
【0002】
【従来の技術】デジタルオシロスコープのような従来の
信号測定システムは、時変アナログ信号のサンプリン
グ、記録及び表示を行う。入力信号のサンプルが、取り
込まれて、量子化され、その結果生じるデジタル表示
が、サンプリングクロックの制御下において波形メモリ
に記憶される。メモリ内の記憶場所がクロック信号によ
って順次アドレス指定されるので、収集されたデータは
後で読み出され、波形ディスプレイ用の時変出力信号に
変換可能なデジタルデータを与えることが可能である。
サンプリングクロックは、入力信号の周波数内容に基づ
いていくつかの選択可能な速さのうちの1つで動作させ
ることが可能である。サンプリングされ、記憶されるア
ナログ入力信号の一部の選択は、オペレータが波形の所
望の部分を表示可能とするのに適当なトリガ回路要素に
よって決定される。
【0003】一般に信号測定システムにおいて、特にテ
スト及び測定計器において、提示可能な多種多様の表示
要素が存在する。例えばチャネル入力において現在受信
中の信号を表す波形以外に、ファンクション波形と呼ば
れる波形を表示することも可能である。ファンクション
波形は、1つ以上の信号波形を処理することによって生
成される。こうした処理には、例えば信号波形に対する
算術操作の実施、あるいは何らかの所定のやり方による
複数の入力信号波形の組み合わせを含めることが可能で
ある。結果生じるファンクション波形は、後続の検索及
び表示用のディスプレイメモリに記憶される。さらにメ
モリ波形を表示することも可能である。メモリ波形は、
信号測定システムのメモリ装置に既に獲得されて記憶さ
れている波形である。以上の波形に加えて、マーカイン
ジケータ、トリガインジケータ等のような他の表示要素
が一般的に表示される。
【0004】信号の分析において信号測定システムによ
って与えられる主たる機能は、オペレータが所望の信号
パラメータの自動測定を実施することができるようにす
ることである。自動測定によって、オペレータは、手動
計算を行うことなく、獲得信号のキー属性値を迅速かつ
正確に求めることが可能になる。また自動測定は、ピー
クピーク電圧、立ち上がり時間及び周波数といった、一
般的なかつ十分に理解されている量を利用して電気信号
の特性を明らかにするのに役立ち、かつ有効な技法であ
る。さらに自動測定は、所定の回路又はハードウェアコ
ンポーネントが設定された性能仕様を満たすか否かを検
証するために利用される場合が多い。
【0005】従来の信号測定システムにおいて表示され
る信号波形の自動測定を呼び出すため、一般にいくつか
のオペレータアクションを実施することが必要になる。
これらには、所望の測定を選択する1つ以上のアクショ
ン、及びこれに後続する、本明細書においてソース波形
と呼ばれる、測定を実施する波形を識別するための追加
アクションを実行することが含まれる。選択された測定
と選択された波形を関連づけること以外に、追加情報の
指定が必要とされる場合が多い。この情報には、例えば
選択された測定を適用すべきソース波形の部分又は範囲
を含めることが可能である。この範囲は、ソース波形の
一定の時間期間に対応する場合が最も多い。
【0006】オシロスコープ測定を呼び出すための従来
の技法では、計器のフロントパネルにおける押しボタン
キーの利用を必要とする場合が多い。測定は、関連する
測定名がそれに、又はその上方に印刷されている、専用
キーを押すことによって選択される。引き続き、特定の
チャネルに関連したキーを押すか、あるいは可能性のあ
るソースリストをスクロールするノブを回すことによっ
て、ソース波形が識別される。
【0007】もう1つの従来のアプローチでは、所定の
測定を呼び出す機能が現在割り当てられている多機能
「ソフトキー」を押すことによって、所望の測定が選択
される。一般にソフトキーは、キーの現在の機能が表示
されているテキスト又はグラフィカル表示の近くに配置
される。このアプローチの場合、最初に「メニュー」又
は「セットアップ」キーの起動を介して、ソフトキーの
現在の機能を割り当てなければならない。メニュー/セ
ットアップキーは、フロントパネルに配置された固定機
能キーとすることもできるし、あるいはそれ自体1つ以
上の他のソフトキーに対して機能を割り当てる機能が現
在割り当てられているソフトキーとすることもできる。
こうした従来のシステムにおいて、ソース波形の選択
は、一般にさらに追加のソフトキー操作によって達成さ
れる。他の従来の計器の場合には、ハイブリッド解決法
が用いられる。例えば従来のアプローチの1つでは、測
定の選択は固定機能キーによって達成され、一方ソース
波形の選択はソフトキーを利用して実施される。
【0008】よく知られるように、測定及びソース波形
の選択以外に、多くの場合ソース波形の特定領域がユー
ザによって選択されなければならない。一般にこれは、
オペレータが測定のためにソース波形の所望の水平方向
範囲を選択することによって達成される。例えば一連の
パルス間における個別パルスを選択して、信号周期を測
定することが必要になることがある。従来の信号測定シ
ステムは、いくつかの異なる方法を用いて、特定の波形
範囲又は領域を選択する。従来のアプローチの1つで
は、最も左のパルスから始まる表示波形の最初のサイク
ルに対して測定が実施される。これらのシステムでは、
波形の測定を呼び出す前に、問題となるパルスが波形デ
ィスプレイの最も左の位置に現れるように、ユーザが水
平方向位置の制御装置を調整しなければならない。
【0009】従来の他のアプローチでは、1組のマーカ
インジケータ(垂直方向位置及び水平方向位置を調整可
能な可視線)を起動し、マーカが測定すべきソース波形
の領域を画定するように配置しなければならない。さら
にもう1つの技法では、水平方向のスケール及び位置の
両方、さらにおそらくはトリガ仕様を調整することによ
り、問題となるパルスだけが、波形ディスプレイに表示
されるようにすることによって、領域選択の必要を排除
する。
【0010】これら後者の従来のアプローチには、いく
つかの欠点がある。第1に、これら従来の技法は、測定
を正確に呼び出すために、指定された順序で複数のキー
を押すこと及び/又はノブを回転させることを実行する
必要がある。こうした構成は、理解し、操作するのが困
難であるばかりでなく、所望の測定を得るのに必要なス
テップを実施するのに、かなりの時間を費やすことにも
なる。これが特に問題になるのは、多くの波形の様々な
領域において、いくつかの測定を実施しなければならな
い場合である。さらに領域又は水平方向範囲を選択する
必要があるため、多くの場合、呼び出しプロセス全体
に、順序づけの制約が追加されることになる。測定の選
択前に、波形領域の識別を実施しなければならないとい
う要件は、従来のシステムの多くの実施例に共通してい
る。したがってこれら従来のアプローチは、自動測定の
選択前に、ソース波形と波形領域の両方を識別すること
が必要である。これは、まず測定を選択し、次に所定の
表示波形の所定の範囲に対してその測定を適用すること
を考えることが最も多く、一般的なユーザにとって直観
に反することが多い。
【0011】上記従来のアプローチのもう1つの欠点
は、ユーザに命令及びフィードバックを提供する表示が
制限されていることである。例えば所定の波形タイプに
は、所定の測定だけしか適用することができない。従来
のシステムでは、一般に特定の波形に対して特定の測定
を試みるアプリケーションが不適当である場合に、それ
を必ずユーザに通知するための表示がなされない。結果
としてユーザは、かなりの数の一連のソフトキーレイヤ
を介して操作してソース波形を選択し、各種ノブを操作
して測定領域を識別し、さらに再度いくつかのソフトキ
ー間において操作して測定を選択することがある。これ
らの操作を実施した後になって初めて、許容可能な波形
/測定の割り当てが要求されたか否かの判定が行われる
ことになる。結果としてユーザは、所望の波形に対する
適正な測定を呼び出すために、かなりの数のオペレータ
アクションを周期的に繰り返さなければならない。
【0012】これらの欠点は、オペレータが同じソース
波形又は異なるソース波形に対していくつかの測定を呼
び出す場合に、とりわけ厄介である点である。例えばオ
ペレータは、複数波形の同じ信号パラメータを測定する
ことが必要な場合もあるし、あるいは全体として波形の
所望の特性を与える、選択された波形の固有特性の一連
の測定を実施することが必要になる場合もある。従来の
システムにおいてこうした一連の測定を実施するために
は、極めて複雑な手順を実施して、特定の波形、波形領
域及び測定を順次選択しなければならない。結果として
これらのシステムは、利用するのに時間がかかり、また
初心者又はまれにしか利用しないユーザが操作し、理解
するのは困難である。
【0013】さらに複数波形の複数の測定を実施するに
は、多数のオペレータアクションを実施する必要があ
る。複数波形についていくつかの自動測定を実施するた
めに、従来の信号測定システムは、一般にオペレータが
上述の一連のアクションを実施して、各波形毎に各自動
測定を呼び出すことが必要である。結果としていくつか
の波形についていくつかの自動測定を実施するために
は、オペレータアクションの数が大幅に増大する。例え
ば所望の4つの自動測定のそれぞれを呼び出すのに、5
つのオペレータアクションが必要とされ、3つのアクテ
ィブ波形を測定しなければならないとすると、オペレー
タは、60(5×4×3=60)の独立したアクションを実
施して、選択波形のそれぞれについて所望の自動測定の
それぞれを呼び出すことが必要になる。
【0014】複数測定を同時に呼び出す従来のアプロー
チの1つが、Tektronix,Inc.から入手可能なモデルTDS
500、TDS 600及びTDS 700シリーズのオシロスコープに
与えられている。「スナップショット(Snapshot)」機
能と呼ばれるこの機能によって、オペレータは複数測定
を呼び出すことが可能になるが、この技法には、多くの
用途においてそれを非実用的にするいくつかの欠点が存
在する。
【0015】まずテクトロニクススナップショット(Te
ktronix Snapshot)機能には、ソフトキーの利用に関連
した上述の欠点がある。スナップショット測定を正確に
呼び出すために、指定の順序で複数のオペレータアクシ
ョンを実施する必要がある。加えてオペレータは、さら
に追加のソフトキー操作の実施を介して、所望のソース
波形を選択しなければならない。既述のようにこうした
構成は、理解及び操作が困難であるばかりでなく、所望
の測定を得るのに必要なステップを実施することで、か
なりの時間を費やすことになる。
【0016】テクトロニクススナップショット機能のも
う1つの欠点は、測定結果が波形表示のかなりの部分を
覆い隠して、検討中の波形を不明瞭にする表示ウィンド
ウによって、オペレータに提示されることである。オペ
レータが後続の操作結果を見ることができるようにする
ため、このシステムは、オペレータ入力が検出される毎
に、ディスプレイから結果表示ウィンドウを除去するこ
とになる。したがって他のタスクに取りかかる前に、自
動測定の結果を保存するため、オペレータは、測定結果
を手動で記録又は印刷しなければならない。さもなけれ
ばオペレータは、追加タスク又は操作の完了後に、測定
の再呼び出しを行わなければならない。このアプローチ
のさらなる重要な欠点は、それによって、ユーザは波形
と測定結果を視覚的に関連づけることができなくなると
いうことである。
【0017】その他の欠点は、テクトロニクススナップ
ショット機能の静的性質に関連するものである。この機
能を呼び出すと、測定が1回だけ実施され、波形のダイ
ナミクスが、表示される測定結果に反映されない。した
がってオペレータは、更新された測定結果を得るため
に、絶えず自動測定の再呼び出しを実施しなければなら
ない。オペレータに波形の既知の動的変化に関する自動
測定のリフレッシュを要求するだけではなく、このシス
テムは、オペレータに表示波形における未知の動的変化
への注意を喚起することができないので、オペレータ
が、既に取得済みの測定結果が現在有効であると思い込
むのをそのままにしておく。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】したがって本発明の目
的は、オペレータの技能レベルに関係なく、波形の自動
測定を実施するための単純な直観的システムを提供する
ことにある。本発明のもう1つの目的は、こうしたシス
テムによって、オペレータが効率のよいやり方でユーザ
の選択する測定を呼び出し、こうした測定の適用を所望
の波形にカスタマイズできるようにすることにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明は、信号測定シス
テムにおいて自動測定を呼び出すための高速測定装置及
び方法である。本発明の態様の1つでは、高速測定シス
テムは、複数の所定の波形のそれぞれに対して1つ以上
の所定の自動測定を順次適用するように構成されてい
る。単一のそれぞれの測定要求に応答して、複数の測定
がユーザの選択した波形のそれぞれに適用される。自動
測定によって、選択波形の各波形毎にそれぞれの所定の
範囲が測定される。好ましくは、それぞれの測定要求
は、関連する単一のオペレータアクションの実施に応答
して発生する。また高速測定システムは、自動測定が選
択波形に適用される順序をユーザが決めることができる
ように構成されることが望ましい。
【0020】一実施態様において、信号測定システム
は、さらに信号測定システムのディスプレイに波形及び
測定結果を表示するためのグラフィカルユーザインター
フェイスを含む。この実施態様の場合、測定要求の各々
は、グラフィカルユーザインターフェイスにおける表示
要素の対応する選択に応答して発生する。他の実施態様
の場合、信号測定システムはフロントパネルキーボード
も含む。この実施態様の場合、それぞれのオペレータア
クションの各アクション毎に、信号測定システムのフロ
ントパネルにおいて専用ボタンを押し下げることを含
む。専用ボタンを押し下げる毎に、測定要求の1つが呼
び出される。
【0021】他の実施態様では、ディスプレイは、複数
の波形を表示するための波形表示領域と、測定結果を表
示するための測定表示領域を含む。この測定表示領域
は、波形表示領域における波形の表示に重なったり、あ
るいは別様にこの波形表示を妨げることがないように構
成されている。
【0022】本発明の別の態様では、ディスプレイを備
えた信号測定システムに用いられる高速測定システムが
開示されている。この高速測定システムは、所定の順序
で、ユーザの選択した複数の波形のそれぞれに、ユーザ
の選択した複数の自動測定を同時に適用するように構成
されている。複数の自動測定の各適用は、単一の測定要
求に応答して行われる。一実施態様において、信号測定
システムはグラフィカルユーザインターフェイスを含
む。この場合、測定要求は、プルダウンメニュー又はア
イコンのようなグラフィカルユーザインターフェイスに
おける表示項目のオペレータ選択に応答して発生する。
別の実施態様では、信号測定システムは制御パネルを含
む。これらの実施態様の場合、測定要求は、制御パネル
における専用ボタンを押し下げること、又は測定システ
ムのディスプレイにおけるプログラマブルソフトキーの
選択に応答して発生する。代替案では、測定要求は、例
えば信号測定システムのパワーオン時に自動的に発生す
る。
【0023】本発明の他の実施態様では、ディスプレイ
を備えた信号測定システムにおいて、複数の所定の波形
に1つ以上の所定の自動測定を順次適用する方法が開示
される。この方法は、(a)測定要求を受信するステッ
プと、(b)測定要求に対応する複数の所定の波形の1
つに対して1つ以上の所定の自動測定を適用するステッ
プと、(c)表示波形に近接したディスプレイの指定の
領域にステップ(b)の結果を表示するステップと、
(d)1つ以上の所定の自動測定の全てが、所定の順序
で所定の波形のそれぞれに適用されるまで、ステップ
(a)〜(c)を繰り返すステップとを含む。一実施態
様では、この方法は、ステップ(a)の前に、所定の自
動測定を決めておくステップも含む。別の実施態様で
は、この方法は、ステップ(a)の前に、所定の波形を
決めておくステップも含む。
【0024】本発明の他の態様では、信号測定システム
が開示される。この信号測定システムは、信号獲得シス
テム、ディスプレイ及び高速測定が含まれる。高速測定
システムは、所定の測定パラメータにしたがって、複数
の波形のそれぞれに複数の自動測定を順次適用するよう
に構成された測定マネージャを含む。測定の適用の各々
は、測定要求に応答して発生し、結果として測定結果が
表示される。また高速測定システムは、オペレータが、
複数の自動測定と好ましくは所定の測定パラメータを選
択できるように構成された、自動測定カスタマイザを含
む。
【0025】一実施態様では、信号測定システムは、信
号測定システムのディスプレイに波形及び測定結果を表
示するためのグラフィカルユーザインターフェイスも含
む。好ましくは、測定要求の各々は、グラフィカルユー
ザインターフェイスにおける表示要素の対応する選択に
応答して発生する。代替実施態様では、また信号測定シ
ステムはフロントパネルキーボードを含む。この実施態
様の場合、各測定要求は、単一のそれぞれのオペレータ
アクションに応答して発生する。この実施態様の場合、
オペレータアクションは、信号測定システムのフロント
パネルにおける専用ボタンを押し下げることである。好
ましくは、また高速測定システムカスタマイザは、複数
波形に対する自動測定の適用順序、すなわちソース波形
を測定する相対的順序をユーザが決めることができるよ
うに構成される。
【0026】本発明の利点の1つは、信号測定システ
ム、測定パラメータ及び測定呼び出し手順に関して限ら
れた知識だけしか必要とされないということである。結
果として、初心者又は経験のないユーザが、単一のフロ
ントパネルボタン、又はグラフィカルユーザインターフ
ェイスの表示要素の起動を介して簡単に自動測定を呼び
出すことができる。この結果、オペレータがグラフィカ
ルユーザインターフェイスのメニュー、ソフトキーメニ
ュー、ダイアログボックス、又は時間のかかる、初心者
あるいはめったに利用しないユーザには馴染みの薄い他
の機能を介して操作する必要も排除される。
【0027】他の利点は、本発明によれば、オペレータ
が単一の測定要求の発生によって複数測定を呼び出すこ
とが可能になるので、オペレータアクションの数、及び
システムの複雑さが大幅に減じることになるということ
である。さらにこれらの自動測定は、所定の順序で複数
波形に適用させることができ、それぞれの適用は、単一
のオペレータアクションに応答して発生する。結果とし
て、オペレータが、問題となる特定の波形だけを選択
し、波形のそれぞれに対して、順次複数の測定を同時に
適用することができ、選択された波形の全てについて、
迅速かつ容易に順次進められてゆく。
【0028】さらなる利点は、高速測定システムは、オ
ペレータが実施すべき測定の量及びタイプ、並びにどの
固有の波形を測定すべきかを含めて、自動測定の呼び出
しをカスタマイズすることが可能になるということであ
る。結果として、高速測定システムは、オペレータのい
かなる測定要求をも満たすようにカスタマイズすること
ができる。
【0029】本発明のさらなる特徴及び利点、並びに本
発明の各種実施態様の構造及び作用は、添付の図面を参
照しながら、以下で詳述する。図面において、同様の参
照番号は、同一の構成要素又は機能的に同様の構成要素
を表す。加えて参照番号の最も左の1桁または2桁は、
その参照番号が最初に現れる図面を表す。
【0030】
【発明の実施の形態】本発明は、所望の順序で、所定の
複数の波形に対して複数の自動測定を同時に適用するた
めの装置及び方法であり、各適用は、単純なオペレータ
アクションに応答して発生する。今後高速測定システム
と称する本発明は、任意の信号測定システムにおいて実
施可能である。本発明の一好適実施例では、高速測定シ
ステムが、デジタルもしくはアナログオシロスコープ、
論理解析器、ネットワークアナライザ又はスペクトルア
ナライザのような、テスト及び測定用計器において実施
される。図1は、本発明の高速測定システムを実施する
のに適した典型的なデジタルオシロスコープの機能ブロ
ック図である。
【0031】デジタルオシロスコープ100は、多種多様
な信号を獲得し、解析し、一般に信号の電圧対時間に置
き換えて表示するように設計された、普通に利用可能な
デジタルオシロスコープである。好ましくは、デジタル
オシロスコープ100は、高レベルのコンピュータプログ
ラム言語を利用してプログラムすることが可能な、汎用
コンピュータシステム、並びに信号獲得、解析及び表示
機能を実施するための特殊なプログラミングを施された
専用ハードウェアが含まれる。
【0032】デジタルオシロスコープ100には、プロセ
ッサ102、メモリ装置104、入力/出力(I/O)インタ
ーフェイスカード106、ハードディスクドライブやフロ
ッピディスクドライブのような記憶装置(不図示)、デ
ィスプレイ112及びフロントキーボードパネル108やポイ
ンティングデバイス110のような1つ以上の入力装置が
含まれる。メモリ104は、プログラム命令の記憶及びプ
ロセッサ102の実施した計算結果の記憶に利用される。
望ましい実施態様の場合、メモリ104には、ランダムア
クセスメモリ(RAM)が含まれる。ディスプレイは、
液晶ディスプレイであることが望ましく、論理的又は物
理的に画素(ピクセル)アレイをなすように分割され
る。入力/出力(I/O)インターフェイスカード106
は、モデムカード、ネットワークインターフェイスカー
ド、サウンドカード等とすることができる。
【0033】プロセッサ102は、一般にIntel Corporati
on製のペンティアムマイクロプロセッサ、PowerPCマイ
クロプロセッサ、SPARCプロセッサ、PA-RISCプロセッサ
又は68000シリーズマイクロプロセッサといった、市販
のプロセッサである。他の多くのプロセッサも利用可能
である。こうしたプロセッサは、通常Micorosoft Corpo
ration製のさまざまバージョンのウィンドウズオペレー
ティングシステム、Novell,Inc.から入手可能なNetWare
オペレーティングシステム又はSun Microsystems,In
c.、ヒューレットパッカード社及びAT&Tといったさま
ざまなベンダから入手可能なUnixオペレーティングシス
テムといった、オペレーティングシステム114と呼ばれ
るプログラムを実行する。オペレーティングシステム11
4は、グラフィカルユーザインターフェイス(GUI)1
16及び本発明の高速測定システム118のような他のコン
ピュータプログラムの実行を制御し、スケジューリン
グ、入力−出力制御、ファイルとデータ管理、メモリ管
理及び通信制御と関連サービスを行う。プロセッサ102
及びオペレーティングシステム114は、それのために高
レベルプログラミング言語によるアプリケーションプロ
グラムが書かれる、点線ブロック101によって示される
コンピュータプラットフォームを形成している。デジタ
ルオシロスコープ100の機能要素は、バス120を介して互
いに通信を行う。
【0034】デジタルオシロスコープ100には、信号獲
得システム122、スコープインターフェイス124及びビデ
オコントローラ126が含まれる。信号獲得システム122に
は、チャネル入力130を介して入力信号を受信するスケ
ーリング及び調整装置128が含まれる。スケーリング及
び調整装置128及び獲得装置132には、その全てがコンピ
ュータシステム101によって制御され、当該技術におい
て周知のものとみなされる、信号獲得、信号調整及びア
ナログ−デジタル変換のための周知の高周波電子装置が
含まれる。時間ベース装置134によって、獲得装置132に
おいて実行されるアナログ−デジタル変換処理が駆動さ
れ、入力信号のサンプリング時期及び抽出すべきサンプ
ル数が指定される。トリガ136によって、時間ベース装
置134を介した獲得プロセスの同期がとられるので、オ
ペレータは、トリガ事象を調整して、1つ以上の入力信
号の所望の特徴に関する安定した波形表示を得ることが
可能になる。トリガ136は、当該技術において周知のよ
うに、ライン同期または補助トリガ入力に基づくものと
することができる。
【0035】波形アナライザ138は、表示に備えて波形
を発現する測定プロセスを実施する。波形アナライザ
は、獲得装置132のためのアナログ−デジタルコードの
設定及びGUI 116の制御下において、最終的にはディ
スプレイ112に提示されることになる、物理的ピクセル
位置に対する結果生じるデジタル情報のマッピングとい
った、周知の操作を実行するハードウェア及びソフトウ
ェアを含む。ポインティングデバイス110及び/又はキ
ーボード118を利用して、GUI制御ディスプレイ112上
のカーソルを移動させ、カーソルの下の表示要素が選択
される。ポインティングデバイス110には、マウス、ト
ラックボール又はジョイスティックといった任意の数の
ポインティングデバイスを含むことが可能である。もち
ろんカーソルは、デジタルオシロスコープ100の外部に
配置された又はそのフロントパネルに組み込まれた、1
つ以上のキーボード108によって制御することができ
る。
【0036】スコープインターフェイスカード124に
は、波形ランダムアクセスメモリ(RAM)142へのピ
クセルのレンダリングを制御するビデオコントローラ14
0が含まれる。このカード124は、またフロントパネルキ
ーボード108及びポインティングデバイス110から表示要
素制御コマンド及びカーソル入力情報も受信する。波形
RAM 142には、ディスプレイ112の各ピクセル位置に
関するデータ構造が含まれている。このデータ構造に
は、各ピクセル位置に描かれるべき全ての表示要素に関
する情報が含まれる。所定のピクセル位置に描かれるべ
き複数の表示要素が存在する可能性があるが、その位置
においてレンダリング可能な色は1つだけである。波形
RAM 142は、優先順位エンコーダ144にこの情報を供
給する。優先順位エンコーダ144は、競合する表示要素
に優先順位をつける。例えばオペレータが、マーカ及び
波形を同じピクセル位置につくように配置すると、優先
順位エンコーダ144は、最高の所定の優先順位を備える
その表示要素を選択する。こうした例の場合、そのピク
セル位置において、マーカの色がレンダリングされる
と、波形の上に重なったマーカを示すように見える表示
が得られる。次に優先順位エンコーダは、選択された色
をVRAM 146に送り、さらにVRAMによって、ピク
セルに対して指示された色のレンダリングが施される。
【0037】ビデオディスプレイコントローラ126に
は、ディスプレイ112の各ピクセル毎に色を指定するデ
ータを納めたダイナミックランダムアクセスメモリ(D
RAM)148が含まれる。同様にビデオランダムアクセ
スメモリ(VRAM)146にも、ディスプレイ112の各ピ
クセル毎に色を指定するデータが含まれる。コンピュー
タシステム101が、DRAM 148の情報を制御し、一方
信号獲得システム122が、VRAM 146の情報を制御す
る。ディスプレイ112の各ピクセル毎に、ビデオコント
ローラ126は、ディスプレイ112のピクセルが、VRAM
146とDRAM 148のいずれによって指定されるかを選
択する。一般にVRAM 146の情報には、ディスプレイ
112における波形のリアルタイム表示のための、コンピ
ュータシステム101によるソフトウェア処理にとっては
あまりにも速すぎる高変化率で、システム122によって
発生されるデジタル化波形が含まれる。
【0038】ビデオコントローラ126には、コントロー
ラ150及びマルチプレクサ152が含まれる。コントローラ
150は、マルチプレクサ152に対する2つの入力のどちら
が、グラフィカルユーザインターフェイス116の制御下
において、ディスプレイ112に伝送するための表示信号
となるように処理を受けるかを制御する。コントローラ
150は、一般にDRAM 148から送られてくるカラーデ
ータをモニタし、DRAM 148から特定のプログラムさ
れた色を受信すると、マルチプレクサ152を異なる入力
にスイッチするようにプログラムすることができる。一
般には暗いグレーである、プログラムされた色で、DR
AM 148内に矩形のピクセル領域が画定されるのが普通
である。プログラムされた色は表示されず、代わりにマ
ルチプレクサ152に対するデータ経路スイッチ制御のよ
うな働きをする。したがってプログラムされた色矩形内
における表示データは、VRAM 146から得られる。さ
まざまな制御機能が必要になる場合、対話式のダイアロ
グボックスが、プログラムされた色矩形内に描かれる。
【0039】高速測定システム118は、オペレータが多
くのソース波形に対して複数の自動測定を順次適用する
ことを可能とする、単純で、直観的な装置及び関連する
手順である。自動測定及び波形は、ユーザ/オペレータ
によって選択されるのが望ましい。選択された測定は、
所定の順序で、順次波形に適用される。好ましくは波形
(本明細書ではソース波形と呼ばれる)の測定順序も、
ユーザが決めることができる。単一波形に対する複数測
定の各適用は、単一測定要求に応答して行われ、単一測
定要求は、さらに単一オペレータアクションに応答して
発生させることができる。オペレータアクションは、例
えばフロントパネルキーボードに配置された単一の専用
ボタンを押し下げること、又はグラフィカルユーザイン
ターフェイス116を介してディスプレイ112に表示された
アイコンあるいはメニュー項目を選択することである。
こうしたオペレータアクションのそれぞれによって、高
速測定システム118が応答する単一測定要求が発生す
る。好ましくは同じオペレータアクションの実施によっ
て、各ソース波形毎に複数の測定が適用される。こうし
た実施態様の場合、各オペレータアクションは、特定の
ソース波形に対する所定の測定の適用に順次関連づけら
れる。好ましくは同じオペレータアクションは、全ての
測定のクリアリングにも関連づけられる。こうして、ユ
ーザ/オペレータは、同じオペレータアクションの反復
実施によって全て、測定結果のリセットによって後続す
る、ソース波形を介しての測定の適用を順次進めること
ができる。
【0040】実施態様の1つでは、高速測定システム11
8は、信号測定システム100のコンポーネントを共同利用
して、本発明にしたがって高速測定機能を実施するソフ
トウェアルーチンによって実現される。こうしたソフト
ウェアルーチンは、一般にメモリ104及び/又はディス
ク記憶装置に常駐しており、例えば磁気ディスク、コン
パクトディスク又は磁気テープのような任意のコンピュ
ータ書込み媒体に記憶することが可能であり、当該技術
において周知の適合する周辺装置を用いて、デジタルオ
シロスコープ100にロードすることができる。好ましく
は高速測定システム118のこの実施態様は、C又はC+
+のような任意の周知の関数型又はオブジェクト指向プ
ログラミング言語によって実現される。種々の実施例
が、本発明の実施態様において、後述のもの以外に、さ
まざまな関数名、プログラミング言語、データ構造及び
/又はアルゴリズムを含むということは当該技術者には
明らかである。もちろん本発明は、特定のコンピュータ
プラットフォーム、特定のオペレーティングシステム、
特定のプロセッサ又は特定の高レベルプログラミング言
語に制限されるものではなく、上述のハードウェアコン
ポーネントは、単なる例として示されたものにすぎない
ということが理解されなければならない。高速測定シス
テムは、例えば専用ハードウェア、ファームウェア又は
それらの任意の組み合わせによって実現することができ
る。
【0041】高速測定システム118は、フロントパネル1
08のような制御パネルキーボード及び/又はグラフィカ
ルユーザインターフェイス116を備えたテスト及び測定
装置において実施されるのが望ましい。デジタルオシロ
スコープ100において実施される本発明の高速測定シス
テム118に関する1つの好適な実施態様の機能ブロック
図が図2に示されている。図3には、高速測定システム
118のこの実施態様によって生成され、アクセスされる
データ構造が詳細に示されている。図2及び3、並びに
グラフィカルユーザインターフェイス116を利用してデ
ィスプレイ112に表示される、図4に例示の典型的な測
定結果表示300を参照して、高速測定システム118の機能
及び動作が説明される。
【0042】グラフィカルユーザインターフェイス116
における測定結果表示300には、本発明にしたがって発
生する、波形表示領域302と測定結果表示領域304が含ま
れる。グラフィカルユーザインターフェイス300には、
いくつかの情報及び制御メニューもまた表示される。例
えば好ましくは波形表示領域302の周辺にチャネル状態
表示領域314が表示される。図4に示す図解例の場合、
単一波形が表示領域302に表示される。すなわちチャネ
ル1の波形306が、チャネル状態表示領域314に示されて
いる。
【0043】図2を参照すると、高速測定システム118
には、主として測定コントローラ202及び測定カスタマ
イザ204が含まれる。測定コントローラ202は、1つ以上
の所望のソース波形に対して1つ以上の所定の自動測定
を適用する。測定コントローラ202は、所定の順序にし
たがって、また関連のオペレータアクションに応答して
発生する測定要求250に応答して、ソース波形に測定を
適用する。測定カスタマイザ204は、ユーザ/オペレー
タがソース波形に適用されることになる現在の自動測定
に修正を加えることができるようにする。さらに好まし
くは測定カスタマイザ204は、ユーザ/オペレータが、
高速測定システム118によって測定されることになるソ
ース波形を選択して修正を加えることができるようにす
る。測定カスタマイザ204は、ユーザ/オペレータによ
る波形の測定順序の修正を可能とするように構成するこ
とも望ましい。図2に示され、図3において詳細が明ら
かにされているように、高速測定システム118には、測
定コントローラ202と測定カスタマイザ204の間で波形及
び測定データの受け渡しを行う、いくつかのデータ構造
206、208及び210が含まれる。
【0044】本発明の例示の実施態様では、ソース波形
データ構造208を利用して、ホスト計器において現在ア
クティブな波形のどれが、ユーザ/オペレータによって
測定するように選択されたものであるかが識別される。
ソース波形データ構造208は、システム100によってモニ
タすることができる波形のそれぞれに関する波形ID 2
20と、それに加えて波形がシステム100によって現在モ
ニタ中のものであるか否か、すなわち波形が現在アクテ
ィブであるか否かの表示222を納めるように構成されて
配列される。ソース波形データ構造208には、測定すべ
きアクティブ波形がどれか、すなわちソース波形がどれ
かを識別する表示224も含まれる。望ましい実施態様の
場合、ソース波形データ構造208には、ソース波形の測
定順序を識別するシーケンス番号226も含まれる。
【0045】図2に示され、後述するように、測定コン
トローラ202は、ソース波形データ構造208にアクセスし
て、高速測定システム118の現在の実施において測定す
べきソース波形258を識別する波形識別子220を検索す
る。上述のように、ソース波形データ構造208には、信
号測定システム100において、どの波形が現在アクティ
ブであるかの表示222が含まれる。測定コントローラ202
は、ソース波形データ構造208におけるアクティブ表示2
22をセットして、そのアクティブ波形を識別する。これ
が、測定コントローラ202によって生じるアクティブ波
形262として、図2に示される。この情報は、図示のよ
うに、測定コントローラ202によって波形アナライザ138
からアクティブ波形262を検索することによって、波形
アナライザ138から得られる。
【0046】測定カスタマイザ204は、ソース波形デー
タ構造208を更新して、高速測定システム118によって測
定すべきソース波形258として、どのアクティブ波形が
選択されたかを表示する。高速測定システム118は、ア
クティブではない(すなわち、信号測定システム100に
よって現在獲得又は表示されていない)波形を測定する
ことができないので、実施態様の1つでは、ソース波形
258を選択するためにユーザに与えられるアクティブ波
形262は1つだけである。したがってアクティブ波形262
はソース波形データ構造208から検索される。上述のよ
うに、アクティブ波形262には、アクティブ表示222がそ
の波形がシステム100によって現在獲得又は表示されて
いることを示している、波形の波形ID 220が含まれ
る。代替案として、ユーザ/オペレータに、可能性のあ
る全波形のリストを提供することもでき、ユーザは、そ
のリストから高速測定ローテーションに対する適格性に
基づいて波形を排除することができる。この実施態様の
場合、こうした波形が表示されるが、本発明によって測
定されることはない。例えば多数のアクティブ波形が存
在するシステムの場合、ユーザは関心のない波形を予め
排除することが可能である。
【0047】本発明の例示の実施態様では、現在の測定
データ構造210を利用して、現在の測定260と呼ばれる、
ユーザ/オペレータによってソース波形258に適用する
ために選択された測定が識別される。現在の測定データ
構造210には、ソース波形258に適用するように現在選択
されている自動測定のそれぞれについて測定ID 228が
含まれる。各測定ID 228毎に、他の現在の測定260に
関連した各ソース波形258に対する測定の適用順序を表
示するシーケンス番号230が納められている。したがっ
て、図3に示す現在の測定データ構造210には、ソース
波形258に適用すべき4つの測定が存在する。第1の測
定は、3の測定ID 228を備える測定であり;第2の測
定は、7の測定ID 228を備える測定であり;第3の測
定は、1の測定ID 228を備える測定であり;第4の測
定は、4の測定ID 228を備える測定である。
【0048】測定カスタマイザ204は、現在の測定デー
タ構造210にアクセスして、ソース波形258に適用される
ことになる現在の測定260をユーザに与え、ユーザ/オ
ペレータの選択にしたがって現在の測定260に修正を加
える。現在の測定260は、測定コントローラ202に与えら
れ、下記に述べるようにソース波形258に適用される。
【0049】測定属性データ構造206には、測定のそれ
ぞれに関する測定属性が含まれる。測定属性データ構造
には、各測定機能の測定ID(索引)228、測定名(表
示テキスト)234、アイコンID 236及び属性238が含ま
れる。属性238には、例えば測定が波形に特化した測定
であるか否か、もしそうであるならば測定を適用するこ
とが可能な波形はどのタイプであるかということが含ま
れる。例えばFFT波形に対して有効な測定もあれば、
一方立ち上がり時間のように、役立たない測定もある。
属性238には、必要とされるソース波形の数及び測定機
能がエッジ感応性か否かということが含まれる。もちろ
ん他の属性238を含むことも可能であることが理解され
なければならない。測定コントローラ202は、測定ID
228で測定属性データ構造206にアクセスすることによっ
て、測定パラメータ254を検索する。測定カスタマイザ2
04も、測定ID 228で測定属性データ構造206にアクセ
スする。明らかにされるように、測定カスタマイザ204
は、測定テキスト及び好ましくは測定アイコン位置又は
ID240を検索する。この情報は、測定カスタマイザ204
によって利用され、測定の識別を容易にするようにユー
ザにテキスト及び視覚表示を提供する。
【0050】測定属性データ構造206、ソース波形デー
タ構造208及び現在の測定データ構造210は、測定コント
ローラ202及び測定カスタマイザ204によって任意の周知
のやり方でアクセスされる。さらにデータ構造206、208
及び210の情報内容は、テーブル、リンクリスト等のよ
うな任意の適合するデータ構造にまとめることができ
る。
【0051】測定コントローラ202は、周知のやり方で
波形アナライザ138にアクセスすることによって、アク
ティブ波形262を決定する。測定コントローラ202は、上
述のように、アクティブ波形262でソース波形データ構
造208を更新する。測定カスタマイザ204も、ソース波形
258でソース波形データ構造208を更新する。好ましくは
測定カスタマイザ204は、省略時又は初期ソース波形258
を選択して、ソース波形データ構造208に書き込む。測
定要求250を受信すると、測定コントローラ202は、ソー
ス波形258を決定して、現在の測定データ構造210からの
現在の測定260をソース波形データ構造208のソース波形
258に適用する。
【0052】測定要求250は、単純なオペレータアクシ
ョンに応答して発生するのが望ましい。好適な実施態様
の1つでは、測定要求250は、フロントパネルキーボー
ド108における専用スイッチ、ボタン又はソフトキーの
起動に応答して発生する。これが、図2におけるフロン
トパネルキーボード108から発する測定要求250として示
されている。関連技術者には明らかなように、インター
フェイスモジュールは、一般にフロントパネルキーボー
ド108と信号測定システム100の他の部分との間に挿入さ
れる。こうしたモジュールは、周知の動作を実施して、
フロントパネルキーボード108とのインターフェイスを
与えるが、見やすくするため図2には示されていない。
【0053】他の好適実施態様の場合、起動要求250
は、グラフィカルユーザインターフェイス116における
表示要素の選択に応答して発生する。本明細書において
用いられる限りにおいて、「表示要素」という用語は、
グラフィカルユーザインターフェイス116によってディ
スプレイ112に表示することができる任意の選択可能項
目を表す。これが、図2において、同じ測定要求250を
発生するグラフィカルユーザインターフェイス116とし
て示されている。もちろん測定要求250の発生は、フロ
ントパネルキーボード108とグラフィカルユーザインタ
ーフェイス116のいずれか又は両方によって与えられる
ことが理解されるべきである。代替実施態様の場合、測
定要求250は、例えば信号測定システムに最初に電力が
供給されるような時点において、信号測定システム100
によって自動的に発生する。
【0054】測定コントローラ202は、各測定要求250と
対応するソース波形258を関連づける。すなわち測定コ
ントローラ202は、関連する測定要求250の受信に応答し
て、1つのソース波形258に対して現在の測定260を適用
する。例えば第1の測定要求250を受信すると、ソース
波形測定データ構造208におけるシーケンス番号226が1
の波形に対して現在の測定260が適用されることにな
る。同様に次の測定要求250を受信すると、測定コント
ローラ202は、ソース波形測定データ構造208におけるシ
ーケンス番号226が2のソース波形258に対して現在の測
定260が適用されることになる。換言すれば、測定コン
トローラ202によって、測定要求250と測定すべきソース
波形258が関連づけられる。代替案として測定コントロ
ーラ202によって、異なる要求250とソース波形258に対
する現在の測定260の適用を関連づけることもできる。
例えばさまざまなスイッチ位置を備えたフロントパネル
キーボード108に、回転式ダイアルを設けることが可能
である。各スイッチ位置は、特定のソース波形258と関
連づけることができる。こうした実施態様の場合、ノブ
を回転させて、その特定のスイッチセッティングを施す
と、関連する測定要求が発生し、測定コントローラ202
によって、関連するソース波形258に現在の測定260が適
用される。1つの好適な実施態様では、グラフィカルユ
ーザインターフェイス116によって、対話型ダイアログ
ボックスが表示され、これを通じてユーザ/オペレータ
は、それぞれ特定のソース波形に関連した、一連の表示
ボタンの1つを選択することができる。上記と同じやり
方で、測定コントローラ202は、選択された表示要素に
関連したソース波形に対して現在の測定を適用する。
【0055】特定の実施態様において、測定要求250
は、フロントパネルキーボード108の専用ボタンを押し
下げることに応答して発生する。この実施態様の場合、
測定コントローラ202は、測定要求250とソース波形258
を順次関連づける。結果として、ユーザ/オペレータ
が、専用ボタンを押し下げることと解放することを繰り
返すと、高速測定システム118は、ソース波形データ構
造208におけるシーケンス番号226にしたがって、各ソー
ス波形258毎に現在の測定260を順次適用することが可能
になる。専用ボタンを繰り返し押すと、高速測定システ
ム118は、このやり方でソース波形258の全シーケンスを
循環する。上述のように、好適な実施態様の場合、測定
要求250の1つが、全ての測定のクリアリング及び測定
結果のリセット(すなわち、「オフ」状態)と順次関連
づけられる。この実施態様の場合、専用ボタンを繰り返
し押すと、ソース波形258の全てに現在の測定260を順次
適用した後、高速測定システム118は、最終的にオフ状
態に入る。したがってユーザ/オペレータは、ただ単に
フロントパネルキーボード108における専用ボタンの押
し下げ及び解放を行うだけで、多数のソース波形258に
対する高速測定システム118による測定の適用を制御す
ることが可能である。これによって、初心者のユーザ/
オペレータによる高速測定システム118の利用が可能に
なる。
【0056】測定コントローラ202は、測定パラメータ2
54にしたがって、ソース波形258に関する自動測定260の
それぞれを呼び出す。測定コントローラ202は、現在の
測定260に関する測定ID 228を検索し、測定ID 228
を測定属性データ構造206への索引として利用し、測定
パラメータ254を検索する。測定コントローラ202は、波
形アナライザ138に対する測定要求264の発生を介して、
ソース波形データ構造208において識別されるソース波
形258に対して現在の測定260を適用する。測定要求264
には、適用されている現在の測定に関する測定ID 228
と、測定すべきソース波形258の波形ID 220が含まれ
ている。波形アナライザ138は、VRAM 146を介し
て、測定結果295と、好ましくは波形注釈表示要求296を
グラフィカルユーザインターフェイス116に戻す。この
間接的な経路は、図2に点線で示されている。波形アナ
ライザ138は、波形表示領域302の透明領域304に測定結
果を配置するのが望ましい。代替案として、測定結果29
5及び波形注釈296が、測定コントローラ202に戻され、
さらに測定コントローラは、表示波形のユーザの視界を
妨げることがない、グラフィカルユーザインターフェイ
ス300の領域において、ユーザに提示される。
【0057】ソース波形258の特定の範囲又は領域につ
いて、周波数、立ち上がり時間及び立ち下がり時間とい
った、所定の測定を実施しなければならない。任意の自
動測定のこのエッジ感度が、測定属性データ構造206に
記録される。この結果、測定コントローラ202には、上
述のように、その測定パラメータ254の一部として呼び
出す任意の測定のエッジ感度に関する情報が含まれる。
測定コントローラ202は、測定要求264を介して、波形ア
ナライザ138に現在の測定がエッジ感応性か否かの表示
を与える。波形アナライザ138は、測定に対してソース
波形の適合範囲を自動的に選択する。本発明の1つの好
適な実施態様では、波形アナライザ138は、波形表示領
域302に表示される波形の最も左の限度を自動的に選択
する。
【0058】測定されるソース波形258の範囲又は領
域、及び表示される測定結果は、互いに注釈によって記
号的に関連づけられている。注釈によって、ユーザ/オ
ペレータは、選択された測定、その測定の結果295及び
測定が適用されているソース波形258の位置を容易に関
連づけることが可能である。結果得られる測定表示に
は、測定機能のテキストによる記述、測定の数値による
結果及び注釈付き記号を含まれ、ソース波形との相互参
照により、測定機能が適用された位置が明確に識別され
ることが望ましい。
【0059】測定カスタマイザ204は、起動及びカスタ
マイズ要求280を受信すると、起動又は呼び出される。
図2に示すように、要求280は、フロントパネルキーボ
ード108及び/又はグラフィカルユーザインターフェイ
ス116から与えられることがある。起動及びカスタマイ
ズ要求280の発生は、測定要求250に関して上述のような
単純なオペレータアクションに応答することが望まし
い。上述のように、測定カスタマイザ204は、ユーザ/
オペレータが現在の測定260、ソース波形258及び好まし
くはソース波形258に対する現在の測定260の適用順序に
修正を加えることができるように構成される。これらの
操作は、グラフィカルユーザインターフェイス116を用
いて、ユーザ/オペレータによって実施されるのが望ま
しい。グラフィカルユーザインターフェイス116は、測
定カスタマイザ204によって受信される測定/ソース波
形カスタマイズ要求280を発生する。この要求280は、本
説明では、同じ要求又はコマンドに応答して、高速測定
システム118が起動とカスタマイズの両方が可能になる
ことを明らかにするため、起動及びカスタマイズ要求28
0と呼ばれている。例えば要求280を最初に受信すると、
高速測定システム118が呼び出されて、本明細書におい
て解説のカスタマイズ機能を自動的に実施することがで
きる。高速測定システム118が現在動作中の場合、要求2
80を受信すると、カスタマイズ操作が開始される。多様
なバリエーション及び組み合わせが可能であり、本発明
の範囲内にあるとみなされる。
【0060】測定カスタマイザ204は、要求に適合する
対話型ダイアログボックスを発生する。ユーザ/オペレ
ータが、現在の測定260が修正されるべきであると指示
すると、測定カスタマイザ204は、グラフィカルユーザ
インターフェイス116に対して、カスタマイズ高速測定
ダイアログボックスと呼ばれる、対話型ダイアログボッ
クスを発生させるためのコマンド274を発生する。この
ダイアログボックスには、測定テキストと好ましくは現
在の測定260のアイコンID 236によって識別されるア
イコンが含まれる。上述のように、測定カスタマイザ20
4は、測定属性データ構造206への索引として、現在の測
定データ構造210からの測定ID 228を利用し、測定テ
キスト234及び測定アイコンID 236を検索する。この
情報は、カスタマイズ高速測定ダイアログボックスを生
成するコマンド274の一部として、グラフィカルユーザ
インターフェイス116に与えられる。図4には、典型的
なカスタマイズ高速測定ダイアログボックス308が示さ
れている。後述するように、ユーザ/オペレータは、利
用可能な全ての測定から、ソース波形258に適用すべき
所望の測定を選択することができる。この情報は、グラ
フィカルユーザインターフェイス116を介して測定カス
タマイザ204に提供される。こうした情報の転送は、選
択的測定コマンド272として図2に表示されている。次
に測定カスタマイザ204は、上述のように、選択された
測定で現在の測定データ構造210を更新する。上述のよ
うに、測定カスタマイザ204は、当初メモリ104から検索
される省略時測定276の検索を通じて、現在の測定を設
定することができる。
【0061】1つの好適な実施態様では、ユーザ/オペ
レータはソース波形258を修正することができる。この
実施態様の場合、ユーザ/オペレータがソース波形258
を修正すべきであると指示すると、測定カスタマイザ20
4は、グラフィカルユーザインターフェイス116に対し
て、ソース波形対話型ダイアログボックスを生成するよ
うに要求するコマンド266を発生する。上述のように、
測定カスタマイザ204は、ソース波形データ構造208から
ソース波形258を検索する。ユーザ/オペレータが、グ
ラフィカルユーザインターフェイス116を介して所望の
ソース波形を修正又は選択すると、その情報は、選択波
形コマンド268によって表示のように、カスタマイザ104
に供給される。次に測定カスタマイザ204は、上述のよ
うにグラフィカルユーザインターフェイス116から受信
した選択ソース波形でソース波形データ構造208を更新
する。上述のように、1つの好適な実施態様では、アク
ティブの場合には、高速測定システム118によって測定
されない波形を選択するため、全波形がユーザ/オペレ
ータに供給される。こうした実施態様は、システム100
によって表示し得る可能性のあるアクティブ波形が多数
存在する場合にとりわけ有効である。
【0062】ソース波形258の各々に各現在の測定260を
適用する前に、測定コントローラ202は、ソース波形258
が正しいスケーリングを施されているか否か、及び測定
属性データ構造206で得られる妥当な波形255に基づい
て、現在の測定260による測定に適合した波形であるか
否かを判定する。測定/波形の関連づけに無効なものが
あれば、測定コントローラ202は、グラフィカルユーザ
インターフェイス116を介して、その選択波形の測定が
実施できないことをユーザに通知する。1つの好適な実
施態様では、これは、測定の数値による結果ではなく、
何らかのテキストによる表示を与えることによって、測
定結果表示領域304に表示される。また測定コントロー
ラ202は、周期的にソース波形の全てに現在の測定を実
施して、ユーザ/オペレータにソース波形の動的変化の
表示を与える。好ましくは周期性は、例えば測定ダイア
ログボックス308を介して、ユーザが選択する。
【0063】図4は、上述のグラフィカルユーザインタ
ーフェイス116における表示300の1つに関する典型的な
実施態様である。上述のように、信号測定システム100
には、ユーザが、高速測定システム118を含めた、信号
測定システム100のさまざまな機能を視覚化して、制御
することが可能な対話型グラフィカル環境を提供する、
グラフィカルユーザインターフェイス116が含まれてい
ることが望ましい。
【0064】上述のように、グラフィカルユーザインタ
ーフェイス116には、波形表示領域302及び測定結果表示
領域304が設けられる。波形表示領域302に示す例示の波
形306は、チャネル、関数、メモリ又は他の任意のタイ
プの波形とすることができる。測定結果表示領域304
は、ソース波形258に対する現在の測定260の適用からの
測定結果を与える。例示の実施態様の場合、ソース波形
258は波形306を含む。
【0065】図4に示すように、表示領域302は、何ら
かの視覚表示によって測定結果表示領域304と隔離され
ているのが望ましい。図4に示す例示の実施態様の場
合、この隔離帯は表示要素状況バー316である。結果と
して領域304に表示される測定結果は、表示領域302の波
形表示が覆われるとか、あるいは混乱させられることが
なくなる。
【0066】例示の実施態様における上述の対話型ダイ
アログボックス308が、図4に示される。ユーザ/オペ
レータによる修正が可能な各測定毎に、対話型ダイアロ
グボックス308は、ダイアログボックス308内に測定制御
領域310を提示する。例示の実施態様の場合、4つのこ
うした測定制御領域310A〜310Dが示されている。これ
は、図2に示す実例となる高速測定システム118によっ
て、4つの現在の測定260がソース波形258のそれぞれに
順次適用されることを表している。もちろん高速測定シ
ステム118は、ユーザ/オペレータによる修正が不可能
な測定を適用する場合もあり、したがって対話型ダイア
ログボックス308内に測定制御領域310が与えられないと
いうことが理解されなければならない。また云うまでも
ないことではあるが、代替実施態様の場合、信号測定シ
ステム100において利用可能な全測定数まで、修正する
測定を増やすことも、あるいは減らすことも可能であ
る。
【0067】各制御領域310は、現在の測定260の1つを
表示し、ユーザ/オペレータによる測定の変更を可能に
するように構成される。図4に示すように、各測定制御
領域310には、また実施すべき測定を図形で表示するア
イコン316と測定のテキストによる記述318の両方を含む
ことが望ましい。したがってユーザ/オペレータに対し
て画像及びテキスト表示の与えられることが望ましい。
【0068】測定制御領域310に示された現在の測定と
置き換えるため、ユーザは、各測定制御領域310に含ま
れるメニュー呼び出しボタン320を選択する。ボタン320
を選択することによって、ユーザが異なる測定を選択す
ることができるドロップダウンリストの表示が呼び出さ
れる。次に選択された測定が、測定の視覚アイコンと共
にテキスト表示領域318に現れる。アイコンを利用して
測定を表すことによって、ユーザ/オペレータは、時間
の経過につれて機能と視覚表示要素を一致させ、信号測
定システム100を実施する操作及び機能にグラフィカル
ユーザインターフェイス116を統合することが可能にな
る。こうした表示/選択オプションは、当該技術におい
て周知のところである。これは、対話型ダイアログボッ
クス308に与えられる修正可能な測定の全てについて実
施可能である。完了すると、ユーザは、ダイアログボッ
クス308を閉じ、測定カスタマイザ204にデータ構造210
を更新させることができる。もちろん、ユーザ/オペレ
ータによる修正中、又はダイアログボックスの閉じた
後、さまざまな確認操作を実施することができる。例え
ば測定の各々に関する選択の1つが「無測定」という場
合がある。全ての測定が「無測定」として選択される
と、システムは、ユーザ/オペレータに対して、このよ
うな選択が故意によるものであることを確認するように
促すことができる。代替的にはカスタマイザ204によっ
て、表示された測定の2つ以上について同じ測定をユー
ザが選択することを阻止することも可能である。こうし
たプロセスは、選択された測定の測定IDを周知のやり
方で互いに比較することによって実施することができ
る。当該技術者には明らかなように、測定カスタマイザ
204に、他のタイプの制約、確認又は制限を組み込むこ
とも可能である。
【0069】上述のように、測定表示ウィンドウ300に
は、測定結果表示領域304も含まれる。図4に示す例証
となる実施態様の場合、波形表示領域302に単一のソー
ス波形306が表示されている。測定結果領域304には、ダ
イアログボックス308に表示された4つの測定に関する
測定結果が含まれている。すなわち、結果領域304に
は、電圧(ピークピーク電圧)、周期、周波数及び立ち
上がり時間の測定結果が表示されている。
【0070】また測定コントローラ302は、表示波形306
と、特定の測定によって測定された波形の範囲に記号で
注釈をつけるのが望ましい。測定結果表示領域304に同
じ記号を与えることによって、ユーザ/オペレータは、
測定された波形と、その測定の結果を関連づけることが
できる。例えば図4に示すように、立ち上がり時間測定
は三角形で表されるが、これはその測定が波形表示領域
302に示すように、表示波形306の第1の立ち上がりエッ
ジに適用されたことを表している。
【0071】図5は、高速測定システム118によって実
施される、本発明にしたがって複数波形に自動測定を適
用するためのプロセスの実施態様の1つに関するフロー
チャートである。システムの初期化が済むと、高速測定
システム118は開始ステップ402からステップ404に移行
し、そこで高速測定システム118は起動要求250を求めて
信号測定システム100のモニタを行う。上述のように起
動要求250は、ユーザ/オペレータによる高速測定適用
プロセス500の実施要求に応答して発生する。
【0072】測定適用プロセス500が起動すると、高速
測定システム118は、ステップ406において測定適用プロ
セス500のこの実施に関して、アクティブ波形のどれが
ソース波形になるのかを判定する。上述の好適な実施態
様の場合、高速測定システム118は、ソース波形データ
構造208にアクセスして、ユーザ/オペレータによって
アクティブ波形のどれが選択されたのかを判定する。他
の好適な実施態様の場合、全てのアクティブ波形がソー
ス波形とみなされる。すなわち高速測定システム118
は、信号測定システムにおいて現在アクティブな全ての
波形に対して、所定の順序で所定の測定を適用する。代
替的には、ユーザ/オペレータによって別様の修正が加
えられるまで、省略時測定が適用される。
【0073】ステップ408において、高速測定システム1
18は、測定要求250が受信されたか否かを判定する。上
述のように測定要求250は、高速測定システム118が実施
される信号測定システム100の構成にしたがって、ユー
ザがフロントパネルキーボード108の専用ボタン又はグ
ラフィカルユーザインターフェイス116の表示要素を起
動することを介して発生させることができる。無測定要
求250を受信すると、処理は後述のステップ416から続行
される。代替的にはステップ408において測定要求250が
検出されると、処理はステップ410から続行される。
【0074】上述のように、高速測定システム118の1
つの好適な実施態様において、各測定要求250は、ソー
ス波形及び好ましくは測定結果のクリアリングと順次関
連づけられる。ステップ410において高速測定システム1
18は、測定要求250が「オフ」又は「無適用」状態に一
致するか否かを判定する。一致する場合、ステップ411
において現在のソース波形に関連した測定がクリアさ
れ、測定適用プロセス400が、終了ステップ420において
終了する。別様であれば、測定要求250がソース波形258
の1つと関連づけられ、処理はステップ413から続行さ
れる。ステップ413において、現在のソース波形に関す
る測定が、次の測定に備えてクリアされる。
【0075】ステップ414において、高速測定システム1
18は、ステップ408でその受信が検出されたソース波形2
58のうちのどれが測定要求250と関連づけられるのかを
判定する。既述のように、上述の好適な実施態様の場
合、ソース波形258は測定要求250と順次関連づけられ
る。ユーザ/オペレータがソース波形258の測定順序を
選択する実施態様の場合、高速測定システム118は、ユ
ーザ/オペレータによって指示される順序で現在の測定
260を適用する。代替的には高速測定システム118は、あ
る所定の順序でソース波形258に対して現在の測定260を
適用する。測定要求250と関連づけられるソース波形が
決定されると、その波形は、ステップ414において測定
すべき現在のソース波形として選択される。
【0076】ステップ416において高速測定システム118
は、現在のソース波形258に対して現在の測定260を連続
して適用し、表示300の測定表示領域304にそれらの測定
結果を表示する。
【0077】さらに処理は、ステップ408から続行さ
れ、そこで高速測定システム118は、別の測定要求250が
受信されたか否かを判定する。追加測定進行要求251を
受信すると、ステップ414における測定要求250と関連づ
けられるソース波形258の選択、及びステップ416におけ
るそのソース波形258に対する所定の現在の測定の後続
の呼び出しが促される。
【0078】上述のように、現在のソース波形258の連
続測定は、現在のソース波形に動的変化が生じると、選
択波形の特性を視覚と数値の両面においてユーザ/オペ
レータが連続してモニタすることを可能にする。
【0079】図6は、本発明の測定カスタマイズプロセ
ス500の1つの実施態様に関するフローチャートであ
る。システムの初期化が済むと、高速測定システム118
は開始ステップ502からステップ504に移行し、そこで高
速測定システム118はカスタマイズ要求280を求めて信号
測定システム100のモニタを行う。上述のように、カス
タマイズ要求280は、フロントパネルキーボード108又は
グラフィカルユーザインターフェイス116のどちらかを
介した、ユーザ/オペレータによる測定カスタマイズプ
ロセス500の実施要求に応答して発生する。
【0080】ステップ506において高速測定システム118
は、ユーザ/オペレータが現在の測定260を修正するオ
プションを選択したか否かの判定を行う。上述の1つの
好適な実施態様において、これは、グラフィカルユーザ
インターフェイス116における選択可能な表示要素をユ
ーザに提示することによって達成される。こうした表示
要素は、メニュー項目、アイコン又は他の周知の表示要
素とすることができる。代替実施態様の場合、ユーザ/
オペレータは、フロントパネル108を介してアクセスさ
れる専用ボタン又はプログラマブルソフトキーを選択す
ることによって、現在の測定を修正すべきであることを
指示することができる。ユーザ/オペレータが、現在の
測定を修正すべきであると指示しない場合、処理は、ス
テップ514から続行され、ソース波形258に関して同様の
判定がなされる。代替的にはユーザが現在の測定260を
修正すべきであると指示して、処理はステップ508から5
12まで続行される。
【0081】高速測定システム118は、ステップ508にお
いて、ソース波形258に適用されることとなる現在の測
定260を決定する。図2及び3に示す高速測定システム1
18の実施態様の場合、高速測定システム118は、この情
報を現在の測定データ構造210に納め、そこから検索す
る。
【0082】現在の測定260がデータ構造210から検索さ
れると、高速測定システム118は、ステップ510におい
て、それをユーザ/オペレータに知らせる。上述のよう
に、高速測定システム118は、グラフィカルユーザイン
ターフェイス116を含む信号測定システム100において実
施されるのが望ましい。こうした実施態様の場合、高速
測定システム118は、グラフィカルユーザインターフェ
イス116に対して、対話型カスタマイズ高速測定ダイア
ログボックス308を表示させる、適当なコマンド274を発
生する。上述のように、ユーザ/オペレータは、好まし
くは周知のやり方でフロントパネルキーボード108又は
ポインティングデバイス110を用いてプルダウンリスト3
20にアクセスすることによって、現在の測定の1つ以上
を変更することができる。さらにユーザ/オペレータ
は、リストから選択することによって、さもなければダ
イアログボックス308の適合する現在の測定フィールド
に所望の現在の波形を入力することによって、現在の測
定260を変更することが可能である。
【0083】ユーザが対話型ダイアログボックス308を
閉じると、高速測定システム118は、ステップ512におい
て、現在の測定データ構造210に新たな現在の測定に関
する測定ID 228を格納する。その後ユーザ/オペレー
タによって修正された現在の測定260は、ソース波形258
に対しての適用が利用可能になる。ステップ506に関し
て上述のように、ユーザ/オペレータが、現在の測定26
0を修正すべきではないと指示すると、処理はステップ5
14から続行される。同様にユーザ/オペレータの要求に
したがって現在の測定を修正した後、やはり処理はステ
ップ514から続行される。ステップ514において、高速測
定システム118は、ユーザ/オペレータが、ソース波形2
58を修正すべきであると指示したか否かを判定する。指
示していれば、処理は以下で述べるようにステップ516
から520まで続行される。指示していなければ、処理は
終了ステップ522から続行され、そこで測定カスタマイ
ズプロセス500は終了する。
【0084】ステップ516において、高速測定システム1
18は、現在測定するのが望ましいソース波形258を判定
する。図2及び3に示す高速測定システム118の実施態
様では、この情報はソース波形データ構造208に格納さ
れる。上述のように、ソース波形データ構造208には、
アクティブ波形のそれぞれに関する波形ID、及びこれ
らアクティブ波形のどれが現在のソース波形であるかの
表示が含まれる。
【0085】この情報がステップ518においてユーザに
知らされる。この場合高速測定システム118は、グラフ
ィカルユーザインターフェイス116を介して、対話型ダ
イアログボックスに適格なソース波形に関連したテキス
トを表示する。さらにユーザ/オペレータは、上述のよ
うに適格なソース波形258を変更することが可能であ
る。
【0086】完了すると、高速測定システム118は、ス
テップ520においてユーザ/オペレータによってなされ
る選択にしたがって、ソース波形データ構造208を修正
する。ユーザによって決定されたソース波形258の同定
は、その後所定の測定を適用するのに利用されて役立つ
ことになる。上述のように代替実施態様の場合、全ての
アクティブ波形がソース波形になる。こうした実施態様
の場合、全ての波形を測定しなければならないので、ス
テップ514〜520は実施することができない。代替的には
こうした実施態様の場合、対話型ダイアログボックスを
設けて、ユーザがソース波形の測定順序を選択できるよ
うにすることも可能である。
【0087】ユーザが現在の測定及びソース波形を修正
するか、あるいはこうした修正を行わないことを選択す
ると、終了ステップ522において測定カスタマイズプロ
セスは終了する。
【0088】本発明のさまざまな実施態様について上記
に説明してきたが、もちろんそれらは単なる例示であっ
て、制限を加えるものではないということが理解されな
ければならない。例えば本発明は、信号測定システム10
0において実施されるのが望ましい。しかしながら関連
技術者には明らかなように、本発明の教示を実施するこ
とによって、ユーザは信号測定システム以外のシステム
における波形以外の所定の構成要素に対して実施される
機能を選択し、制御することが可能である。また留意す
べきは、今後開発される任意の技法を利用して、データ
構造を記憶するためのローカル又は分散データベースと
いった本発明の特徴;連結リスト、テーブル等といった
データ構造のタイプ及びフォーマット、ID、状態フィ
ールド及び測定パラメータの表現方法、本発明とグラフ
ィカルユーザインターフェイスとのインターフェイスの
方法;ユーザに対する情報の表示方法等を実現すること
が可能であるという点である。したがって本発明の広さ
及び範囲は、上述の例証となる実施態様のいずれによっ
ても制限されるものではなく、付属の請求項及びその同
等物にしたがって明確にされるのみである。
【0089】以下においては、本発明の種々の構成要件
の組み合わせからなる例示的な実施態様を示す。
【0090】1.ディスプレイ(112)を備える信号測
定システム(100)に用いられる高速測定システム(11
8)であって、該システムは、1つ以上の所定の自動測
定(260)を複数の所定の波形(306)のそれぞれに対し
て順次適用するように構成され、ユーザが選択する前記
波形のそれぞれに対する前記1つ以上の自動測定の前記
各適用が、対応する起動要求(280)に応答して発生
し、前記1つ以上の自動測定のそれぞれが、ユーザが選
択する複数の前記波形のそれぞれの所定の範囲を測定す
ることを特徴とするシステム。
【0091】2.さらに前記信号測定システムが、前記
複数の所定の波形及び測定結果を信号測定システムのデ
ィスプレイに表示するためのグラフィカルユーザインタ
ーフェイス(116)を含み、各前記起動要求が、前記グ
ラフィカルユーザインターフェイスにおける表示要素の
対応する選択に応答して発生する、1項記載のシステ
ム。
【0092】3.各前記対応する起動要求(250)が、
関連する単一のオペレータアクションの実行に応答して
発生する、1項記載のシステム。
【0093】4.さらに前記信号測定システムが、フロ
ントパネルキーボード(108)を含み、前記オペレータ
アクションのそれぞれが、前記信号測定システムのフロ
ントパネル(108)における1つの専用ボタンを押し下
げることを含み、前記専用ボタンを押し下げることのそ
れぞれが、前記対応する起動要求(250)の1つを呼び
出す、1項記載のシステム。
【0094】5.ユーザが、前記1つ以上の自動測定
(260)が前記複数の所定の波形(306)に適用される前
記順序を画定する、1項記載のシステム。
【0095】6.前記高速測定システムが測定結果表示
(300)を発生し、該測定結果表示が、前記複数の波形
(306)を表示するための波形表示領域(302)と、測定
結果を表示するための測定表示領域(304)を含み、前
記測定表示領域(304)が、前記波形表示領域(302)に
おける波形の表示にオーバラップしたり、あるいは別様
にそれを視覚的に妨害したりすることがない、1項記載
のシステム。
【0096】7.ディスプレイ(112)を備える信号測
定システム(100)における複数の所定の波形に1つ以
上の所定の自動測定(260)を順次適用するための方法
であって、(a)起動要求(250)を受信するステップ
(404)と、(b)前記起動要求(250)に対応する前記
所定の波形(306)の1つに1つ以上の所定の自動測定
(260)を適用するステップ(416)と、(c)ディスプ
レイの指定領域(304)に前記ステップ(b)の結果を
表示するステップと、(d)前記起動要求(250)のそ
れぞれを受信すると、前記ステップ(a)〜(c)を繰
り返すステップが含まれることとを含み、前記1つ以上
の所定の自動測定(250)が、所定の順序で、前記所定
の波形(306)のそれぞれに適用されることを特徴とす
る方法。
【0097】8.(e)前記ステップ(a)の前に、前
記1つ以上の所定の自動測定(260)を決定するステッ
プをさらに含む、7項記載の方法。
【0098】9.(e)前記ステップ(a)の前に、前
記所定の波形(306)を決定するステップをさらに含
む、7項記載の方法。
【0099】
【発明の効果】信号測定システム(100)において自動
測定を呼び出すための高速測定装置(118)及び方法で
ある。このシステムは、1つ以上の所定の自動測定を複
数の所定の波形(306)のそれぞれに順次適用する。単
一のそれぞれの測定要求(250)に応答してユーザ選択
波形(306)のそれぞれに適用される自動測定(260)
は、各選択された波形のそれぞれの所定の範囲を測定す
る。好ましくは各単一のそれぞれの起動要求は、関連す
る単一オペレータアクションの実施に応答して発生す
る。またこのシステムは、自動測定が選択された波形に
対して適用される順番をユーザが決定できるように構成
される。さらに信号測定システムは、波形及び測定結果
を表示するためのグラフィカルユーザインターフェイス
(116)を含む。測定結果のそれぞれは、表示要素の対
応する選択に応答して、グラフィカルユーザインターフ
ェイス上に発生する。代替的には信号測定システムはフ
ロントパネルキーボード(108)も含む。ここでそれぞ
れのオペレータアクションの各々は、信号測定システム
フロントパネル上の専用ボタンを押し下げることを含
む。専用ボタンを押し下げることのそれぞれは、測定要
求の1つを呼び出す。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の高速測定システムを実施するのに適し
たデジタルオシロスコープの機能ブロック図である。
【図2】図1に示すデジタルオシロスコープにおいて実
施された高速測定システムの実施態様の1つに関する機
能ブロック図である。
【図3】図2に示す高速測定システムによって生成され
て利用されるデータ構造の実施態様の1つを図解する図
である。
【図4】本発明の実施態様の1つにしたがって表示され
るグラフィカルユーザインターフェイスを図解する図で
ある。
【図5】本発明の測定適用プロセスの実施態様の1つに
関するフローチャートである。
【図6】本発明の測定カスタマイズプロセスの実施態様
の1つに関するフローチャートである。
【符号の説明】
100 デジタルオシロスコープ 102 プロセッサ 104 メモリ装置 106 入力/出力インターフェイスカード 108 フロントキーボードパネル 110 ポインティングデバイス 112 ディスプレイ 114 オペレーティングシステム 116 グラフィカルユーザインターフェイス 118 高速測定システム 122 信号獲得システム 124 スコープインターフェイス 126 ビデオコントローラ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ディスプレイ(112)を備える信号測定シ
    ステム(100)に用いられる高速測定システム(118)で
    あって、該システムは、1つ以上の所定の自動測定(26
    0)を複数の所定の波形(306)のそれぞれに対して順次
    適用するように構成され、 ユーザが選択する前記波形のそれぞれに対する前記1つ
    以上の自動測定の前記各適用が、対応する起動要求(28
    0)に応答して発生し、 前記1つ以上の自動測定のそれぞれが、ユーザが選択す
    る複数の前記波形のそれぞれの所定の範囲を測定するこ
    とを特徴とするシステム。
JP11005648A 1998-01-12 1999-01-12 信号測定システムにおける自動測定の同時呼び出しのためのシステム及び方法 Pending JPH11248753A (ja)

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