JPH11237308A - Display inspection jig - Google Patents
Display inspection jigInfo
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- JPH11237308A JPH11237308A JP10052963A JP5296398A JPH11237308A JP H11237308 A JPH11237308 A JP H11237308A JP 10052963 A JP10052963 A JP 10052963A JP 5296398 A JP5296398 A JP 5296398A JP H11237308 A JPH11237308 A JP H11237308A
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- measured
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- display
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、有機ＥＬディスプ
レイ、ＬＣＤといったディスプレイ素子の検査に必要な
ジグに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a jig required for inspecting a display element such as an organic EL display and an LCD.
【０００２】[0002]
【従来の技術】有機ＥＬディスプレイやＬＣＤといった
ディスプレイを検査する場合、コンタクトプローブとい
った測定用のプローブをディスプレイの端子に接触させ
て導通を図り、検査用の回路と接続させることにより、
輝度、画質、視野角といったディスプレイの評価を行っ
ていた。2. Description of the Related Art When inspecting a display such as an organic EL display or an LCD, a probe for measurement such as a contact probe is brought into contact with a terminal of the display to achieve conduction, and is connected to a circuit for inspection.
The evaluation of the display such as brightness, image quality, and viewing angle was performed.
【０００３】しかしながら、コンタクトプロ−ブは高価
なため、これを多用した場合検査装置が非常に高価なも
のになってしまう。また、特にディスプレイが大型化高
精細化すると、端子数が増加し、端子の配列間隔が狭く
なってしまう。しかし、コンタクトプローブは比較的大
きく嵩張るため、このような狭ピッチに合わせて配置す
ることはきわめて困難である。[0003] However, since the contact probe is expensive, if it is used frequently, the inspection apparatus becomes very expensive. In particular, when the size of the display is increased and the definition is increased, the number of terminals is increased, and the arrangement interval of the terminals is reduced. However, since the contact probes are relatively large and bulky, it is extremely difficult to arrange them in such a narrow pitch.
【０００４】また、ディスプレイ等は通常のＩＣ等のよ
うに一定のピッチや端子数に統一されている場合は少な
く、ディスプレイ素子が異なる毎に、その素子に適合し
た端子数やピッチのプローブに取り替える必要があり、
さらに、装置のコストを引き上げる要因となっていた。[0004] Further, a display or the like is rarely standardized to a fixed pitch or a fixed number of terminals like a normal IC or the like. Every time a display element is different, a probe having a terminal and a pitch suitable for the element is replaced. Need
Further, this is a factor that raises the cost of the apparatus.
【０００５】特に、有機ＥＬディスプレイにおいては、
通常その視野角が８０〜２４０度程度必要とされてい
る。このため、有機ＥＬディスプレイの製品検査ではこ
の視野角を測定する必要があるが、従来のプロ−ブを用
いた検査装置では、検査装置が大きく、そのまま視野角
を測定することが困難であった。[0005] In particular, in an organic EL display,
Usually, the viewing angle is required to be about 80 to 240 degrees. For this reason, it is necessary to measure this viewing angle in the product inspection of the organic EL display. However, in the inspection device using the conventional probe, the inspection device is large and it is difficult to measure the viewing angle as it is. .
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、極め
て低コストで、狭ピッチのディスプレイにも対応可能で
あり、異なる端子数やピッチにも容易に対応でき、しか
もコンパクトで視野角等の測定にも容易に対応できるデ
ィスプレイ検査ジグを提供することである。SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an extremely low-cost, narrow-pitch display, easily adapt to different numbers of terminals and pitches, and to be compact and have a wide viewing angle. An object of the present invention is to provide a display inspection jig which can easily cope with measurement.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】上記目的は、以下の構成
により達成される。 （１） 被測定素子を収容可能な素子配置部２１を有
し、かつこの素子配置部２１には被測定素子の端子と対
応する部位に接続用コネクタを配置するためのコネクタ
配置部２２を有する保持ブロック２と、前記保持ブロッ
ク２上に配置され、被測定素子の表示部分と対応して設
けられた窓部３１を有すると共に、この窓部３１以外の
部位により被測定素子を位置決め、固定する固定ブロッ
ク３と、前記保持ブロック２と、固定ブロック３とを着
脱自在に固定する係止機構４とを有し、前記保持ブロッ
ク２には、前記コネクタ配置部２２と対応する位置であ
って、少なくとも被測定素子の端子と同位置かつ同ピッ
チに配列された接続用端子とこの接続用端子から測定回
路へ接続するための回路パターンが形成された配線基板
５を有し、かつ前記コネクタ配置部２２には、被測定素
子により押圧されると共に被測定素子の端子と前記配線
基板５上の接続用端子との導通を図るための接続用コネ
クタが配置されるディスプレイ検査ジグ。 （２） 前記固定ブロック３は、前記窓部３１の周囲に
被測定素子に対応した形状の素子位置決め部３２を有す
る上記（１）のディスプレイ検査ジグ。 （３） 前記コネクタ配置部２２は、上下に貫通した長
孔であって、前記配線基板５が保持ブロック２の下部に
配置されると共に、この長孔内に接続用コネクタとして
異方性導電ゴムが配置される上記（１）または（２）の
ディスプレイ検査ジグ。 （４） 前記被測定素子は、扁平な長方形の外形を有
し、かつその両側部の下面側には端子が所定間隔で配列
している上記（１）〜（３）のいずれかのディスプレイ
検査ジグ。 （５） 前記異方性導電ゴムは、導電層の許容電流が５
０mA／mm2 以上である上記（１）〜（４）のいずれかの
ディスプレイ検査ジグ。 （６） 前記素子配置部２１には、被測定素子の端子に
対応して配列された複数の弾性を有する接点金属６が前
記配線基板５ａと一体化している接続用コネクタを有
し、かつこの接続用コネクタが被測定素子の両端子側に
それぞれ形成されているコネクタ配置部８４，８７，８
８に配置されている上記（１）〜（５）のいずれかのデ
ィスプレイ検査ジグ。 （７） 前記保持ブロック２と、固定ブロック３とは位
置決め機構２３，３４により位置決め固定される上記
（１）〜（６）のいずれかのディスプレイ検査ジグ。 （８） さらに支持台１を有し、前記保持ブロック２お
よび固定ブロック３は前記係止機構４により支持台１上
に一体として固定される上記（１）〜（７）のいずれか
のディスプレイ検査ジグ。 （９） 前記支持台１は視野角測定装置に装着するため
の取り付け部を有する上記（１）〜（８）のいずれかの
ディスプレイ検査ジグ。 （１０） 前記支持台１は測定回路を内在する上記
（１）〜（９）のいずれかのディスプレイ検査ジグ。The above object is achieved by the following constitution. (1) It has an element arrangement part 21 capable of accommodating the element to be measured, and the element arrangement part 21 has a connector arrangement part 22 for arranging a connection connector at a portion corresponding to a terminal of the element to be measured. It has a holding block 2 and a window 31 arranged on the holding block 2 and provided corresponding to a display portion of the device to be measured, and positions and fixes the device to be measured by a portion other than the window 31. It has a fixed block 3, the holding block 2, and a locking mechanism 4 for detachably fixing the fixed block 3, wherein the holding block 2 is located at a position corresponding to the connector arrangement portion 22, A connection board arranged at least in the same position and at the same pitch as the terminals of the device to be measured, and a wiring board 5 on which a circuit pattern for connecting the connection terminal to the measurement circuit is formed; A display inspection jig in which a connector for being pressed by the element to be measured and for establishing conduction between the terminal of the element to be measured and the terminal for connection on the wiring board 5 is arranged in the connector arrangement section 22. (2) The display inspection jig according to (1) above, wherein the fixed block 3 has an element positioning section 32 having a shape corresponding to the element to be measured around the window section 31. (3) The connector arranging portion 22 is an elongated hole that penetrates up and down. The wiring board 5 is arranged below the holding block 2, and an anisotropic conductive rubber is provided in the elongated hole as a connector for connection. The display inspection jig according to (1) or (2), wherein the jig is arranged. (4) The display inspection according to any one of (1) to (3), wherein the element to be measured has a flat rectangular outer shape, and terminals are arranged at predetermined intervals on lower surfaces of both side portions thereof. Jig. (5) The anisotropic conductive rubber has an allowable current of 5 in the conductive layer.
The display inspection jig according to any one of the above (1) to (4), which has 0 mA / mm 2 or more. (6) The element placement section 21 has a connector for connection in which a plurality of elastic contact metals 6 arranged corresponding to the terminals of the device under test are integrated with the wiring board 5a. Connector arrangement portions 84, 87, 8 in which connection connectors are formed on both terminal sides of the device under test, respectively.
8. The display inspection jig according to any one of (1) to (5) above, (7) The display inspection jig according to any one of (1) to (6), wherein the holding block 2 and the fixed block 3 are positioned and fixed by positioning mechanisms 23 and 34. (8) The display inspection according to any one of (1) to (7), further including the support table 1, wherein the holding block 2 and the fixed block 3 are integrally fixed on the support table 1 by the locking mechanism 4. Jig. (9) The display inspection jig according to any one of the above (1) to (8), wherein the support base 1 has a mounting portion for mounting to a viewing angle measuring device. (10) The display inspection jig according to any one of (1) to (9), wherein the support base 1 includes a measurement circuit.
【０００８】[0008]
【発明の実施の形態】本発明のディスプレイ検査ジグ
は、被測定素子を収容し載置可能な素子配置部２１を有
し、かつこの素子配置部２１には被測定素子の端子と対
応する部位に接続用コネクタを配置するためのコネクタ
配置部２２を有する保持ブロック２と、前記保持ブロッ
ク２上に配置され、被測定素子の表示部分と対応して設
けられた窓部３１を有すると共に、この窓部３１以外の
部位により被測定素子を位置決めし、固定する固定ブロ
ック３と、前記保持ブロック２と、固定ブロック３とを
着脱自在に固定する係止機構４とを有し、前記保持ブロ
ック２には、前記コネクタ配置部３２と対応する位置で
あって、少なくとも被測定素子の端子と同位置かつ同ピ
ッチとなるように配列された接続用端子とこの接続用端
子から測定回路へ接続するための回路パターンが形成さ
れた配線基板５を有し、かつ前記コネクタ配置部３２に
は被測定素子により押圧された結果、弾性変形して被測
定素子の端子と前記配線基板５上の接続用端子との導通
を図るための接続用コネクタが配置されるものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A display inspection jig according to the present invention has an element arrangement portion 21 for accommodating and placing an element to be measured, and the element arrangement portion 21 has a portion corresponding to a terminal of the element to be measured. A holding block 2 having a connector arranging portion 22 for arranging a connection connector, and a window 31 provided on the holding block 2 and provided in correspondence with a display portion of a device under test. The holding block 2 includes a fixing block 3 for positioning and fixing the device to be measured by a portion other than the window 31, the holding block 2, and a locking mechanism 4 for detachably fixing the fixing block 3. The connection terminals are arranged at positions corresponding to the connector arrangement portion 32 and at least at the same positions and pitches as the terminals of the device under test, and the connection terminals are connected to the measurement circuit from the connection terminals. And a circuit board 5 on which a circuit pattern is formed. The connector placement portion 32 is pressed by the element to be measured, and is elastically deformed to connect the terminal of the element to be measured to the wiring board 5. A connection connector for continuity with the connection terminal is provided.
【０００９】このように、保持ブロック２と固定ブロッ
ク３により被測定素子であるディスプレイを保持すると
共に、ディスプレイにより接続用コネクタを押圧して弾
性変形させることで、配線基板と被測定素子の端子とを
接続用コネクタを介して確実に接続することができる。
また、２つのブロックにより被測定素子を上下から挟み
込むようにして導通を図り、検査するため、被測定素子
の着脱が容易であると共に、接続用コネクタのメンテナ
ンスも容易となる。As described above, the display as the device to be measured is held by the holding block 2 and the fixed block 3, and the connection connector is pressed and elastically deformed by the display, whereby the wiring board and the terminals of the device to be measured are connected. Can be reliably connected via the connection connector.
In addition, since the device to be measured is sandwiched between the two blocks so as to conduct and inspect the device, the device to be measured is easily attached and detached, and the maintenance of the connection connector is also facilitated.
【００１０】また、被測定素子の端子はこれと略同ピッ
チに配列された配線基板上の端子パターンに接続用コネ
クターを介して接続され、測定回路と接続される。この
ため、高価なプローブを用いなくとも被測定素子と測定
回路とを接続することができ、極めて低コストな検査装
置が実現できる。Also, the terminals of the device under test are connected to terminal patterns on a wiring board arranged at substantially the same pitch as this via a connector for connection, and are connected to a measuring circuit. Therefore, the device under test and the measurement circuit can be connected without using an expensive probe, and an extremely low-cost inspection apparatus can be realized.
【００１１】接続用コネクタは、被測定素子の端子位置
に対応して被測定素子の下部側に配置され、それ自体で
被測定素子により押圧され、弾性変形し、その反作用で
被測定素子を上方に押し上げるようにして圧接しうるも
のである。このような接続用コネクタとしては、異方性
導電ゴム（エラスティックコネクタ）や、被測定素子の
端子に対応して配列された複数の弾性を有する金属から
なる接点金属等を好ましく挙げることができる。The connection connector is arranged below the device under test corresponding to the terminal position of the device under test, and is pressed by the device under test by itself, elastically deformed, and lifts the device under test by its reaction. And can be pressed into contact with each other. As such a connector for connection, anisotropic conductive rubber (elastic connector), a contact metal made of a plurality of elastic metals arranged corresponding to the terminals of the device under test, and the like can be preferably mentioned. .
【００１２】異方性導電ゴムは、弾性体であって導電性
を有する導電層と、弾性体であって導電性のない絶縁層
とを交互に配列した細長の四角い形状のものである。そ
して、導電層と絶縁層とのピッチが被測定素子の端子の
ピッチよりも小さいものとすることにより、これを被測
定素子の端子と配線基板上の端子パターンの間に配置す
ると、いずれかの導電層が被測定素子の端子と配線基板
上の端子パターン間との導通を取ることとなる。この異
方性導電ゴムのピッチとしては、必要とされる被測定素
子の端子間隔よりも狭いものであればよく、通常、０．
０５〜１mm、特に０．１〜０．３mm程度である。また、
その材質としてはシリコーンゴム等の弾性部材と、これ
に導電性を付与するためのカーボン、金属繊維、金属細
線等により構成されている。The anisotropic conductive rubber has a slender rectangular shape in which conductive layers which are elastic and have conductivity and insulating layers which are elastic and have no conductivity are alternately arranged. When the pitch between the conductive layer and the insulating layer is smaller than the pitch of the terminals of the device under test, and this is arranged between the terminal of the device under test and the terminal pattern on the wiring board, The conductive layer establishes continuity between the terminals of the device under test and the terminal patterns on the wiring board. The pitch of the anisotropic conductive rubber may be any pitch as long as it is smaller than the required terminal spacing of the device under test.
It is about 0.5 to 1 mm, especially about 0.1 to 0.3 mm. Also,
The material is made of an elastic member such as silicone rubber, and carbon, metal fiber, metal fine wire, etc. for imparting conductivity to the elastic member.
【００１３】ところで、被測定素子が有機ＥＬディスプ
レイの場合、電流駆動素子であるため、比較的大きな電
流を必要とする。このため接続用コネクタに通常の異方
性導電ゴムを用いた場合電流容量が不足してしまう。そ
こで、導電層内部に金属線等を含有し、比較的電流容量
の大きな異方性導電ゴムを用いるとよい。この場合の電
流容量としては、５０mA／mm2 以上が好ましく、特に５
０〜１０００mA／mm2、さらには２００〜１０００mA／m
m2 程度が好ましい。When the device to be measured is an organic EL display, a relatively large current is required because it is a current driving device. Therefore, when ordinary anisotropic conductive rubber is used for the connection connector, the current capacity becomes insufficient. Therefore, it is preferable to use an anisotropic conductive rubber containing a metal wire or the like inside the conductive layer and having a relatively large current capacity. In this case, the current capacity is preferably 50 mA / mm 2 or more, particularly 5 mA / mm 2.
0 to 1000 mA / mm 2 , and even 200 to 1000 mA / m
m 2 is preferable.
【００１４】異方性導電ゴムの大きさとしては、通常、
幅０．５〜１０mm、特に１〜３mm程度、長さ０．５〜３
０cm、特に１〜１２cm程度である。また、その高さとし
ては、素子配置部２１に被測定素子を載置した場合に僅
かに被測定素子が浮き上がる程度、つまり、固定ブロッ
クを装着したときに被測定素子を上方に付勢するような
高さに調節される。なお、この高さは、保持ブロックの
厚み等を調節することにより調整可能である。The size of the anisotropic conductive rubber is usually
Width 0.5-10mm, especially about 1-3mm, length 0.5-3
0 cm, especially about 1 to 12 cm. The height is such that the device under test is slightly lifted when the device under test is mounted on the device placement section 21, that is, the device under test is urged upward when the fixed block is mounted. Is adjusted to the correct height. Note that this height can be adjusted by adjusting the thickness of the holding block and the like.
【００１５】また、接点金属は、被測定素子の端子に対
応して配列されている複数の弾性を有する金属材であっ
て配線基板やその接続用端子と一体化している。このよ
うな接点金属は、通常のプロ−ブに比べ非常に安価であ
り、また、基板上に配列させているため任意のピッチ間
隔に配列させることができる。このような接点部材とし
ては、リン青銅、ベリリウム銅、バネ性ステンレス鋼等
が挙げられるが、好ましくはリン青銅である。そして、
これが接続用コネクタとして被測定素子の両端子側にそ
れぞれ配置されることとなる。The contact metal is a plurality of elastic metal materials arranged corresponding to the terminals of the device under test, and is integrated with the wiring board and its connection terminals. Such a contact metal is very inexpensive as compared with a normal probe, and can be arranged at an arbitrary pitch interval because it is arranged on a substrate. Examples of such a contact member include phosphor bronze, beryllium copper, and spring stainless steel, but phosphor bronze is preferable. And
This is arranged as a connection connector on both terminal sides of the device to be measured.
【００１６】このように、接続用コネクタと配線基板と
を用いているため、狭ピッチの素子であったり、異なる
端子数やピッチの素子にも基板を取り替えたりするだけ
で容易に対応できる。なお、基板上のパターン（端子）
は、公知の技術（エッチング等）により任意の大きさや
形状、あるいはピッチのものを容易に得ることができ
る。As described above, since the connection connector and the wiring board are used, it is possible to easily cope with an element having a narrow pitch or an element having a different number of terminals or pitches simply by replacing the substrate. The pattern (terminal) on the board
Can be easily obtained in any size, shape, or pitch by a known technique (such as etching).
【００１７】保持ブロック２は、被測定素子の厚みより
厚い部材であって、通常、四角い平板状に形成されてい
る。そのほぼ中央部位には被測定素子を収容し、配置す
るための素子配置部２１が形成されている。この素子配
置部２１は、保持ブロック２に好ましくは被測定素子の
大きさより大きな凹部を設けたもので、その深さは、好
ましくは後述の固定ブロック３の素子位置決め部３２に
被測定素子の一部が収容されるため、被測定素子の厚み
より多少浅くなるようになっている。素子配置部を被測
定素子の大きさより大きな凹部とすることにより、被測
定素子と固定ブロック３の着脱が容易となる。The holding block 2 is a member thicker than the thickness of the device to be measured, and is usually formed in a rectangular flat plate shape. An element arrangement portion 21 for accommodating and arranging the element to be measured is formed substantially at the center thereof. The element placement section 21 is preferably provided with a concave portion larger than the size of the device to be measured in the holding block 2, and the depth thereof is preferably the same as that of the device positioning portion 32 of the fixed block 3 described later. Because the portion is accommodated, the thickness is slightly smaller than the thickness of the element to be measured. By making the element arrangement portion a concave portion larger than the size of the device to be measured, attachment and detachment of the device to be measured and the fixed block 3 are facilitated.
【００１８】素子配置部２１内には、被測定素子の端子
と対応する部位に接続用コネクタを配置するためのコネ
クタ配置部２２を有する。このコネクタ配置部２２は、
被測定素子を素子配置部２１上に載置したときに、少な
くともその端子と対向する位置に形成されている。The element arrangement section 21 has a connector arrangement section 22 for arranging a connection connector at a site corresponding to the terminal of the device under test. This connector arrangement part 22
When the device to be measured is placed on the device placement section 21, it is formed at least at a position facing the terminal thereof.
【００１９】コネクタ配置部２２は、例えば接続コネク
タに異方性導電ゴムを用いる場合、この異方性導電ゴム
の形状に対応し、上下に貫通した長孔となる。そして、
このコネクタ配置部２２内に異方性導電ゴムを挿入する
ことにより、その下部に配置されている配線基板の端子
と、被測定素子の端子とが異方性導電ゴムを介して電気
的に接続される（導通される）ことになる。また、異方
性導電ゴムは弾性を有し、素子配置部２１上に被測定素
子が配置されると押圧されるような高さに設定されてい
るため、保持ブロック２を装着すると異方性導電ゴムが
弾性変形して上下に加圧して圧接し、これにより導電性
を確保できるようになっている。When, for example, an anisotropic conductive rubber is used for the connector, the connector arranging portion 22 corresponds to the shape of the anisotropic conductive rubber, and is a long hole vertically penetrated. And
By inserting the anisotropic conductive rubber into the connector placement portion 22, the terminals of the wiring board disposed thereunder and the terminals of the device under test are electrically connected via the anisotropic conductive rubber. (Conduction). Further, since the anisotropic conductive rubber has elasticity and is set to a height such that it is pressed when the device to be measured is placed on the device placement portion 21, the anisotropic conductive rubber is anisotropic when the holding block 2 is mounted. The conductive rubber is elastically deformed and pressed up and down to make pressure contact, thereby ensuring conductivity.
【００２０】コネクタ配置部２２に上記接点金属６を用
いる場合、この接点金属の可動性を確保し得るような構
造が必要となる。このような構造は、例えば所定の大き
さの孔として形成される。この孔は、各接点金属に対応
して形成された小孔でもよいし、全ての接点金属を包含
し得るような大きさの孔でもよい。各接点金属に対応し
た小孔とする場合、この孔が接点金属のガイドとして機
能するようにしてもよい。また、各接点金属は、通常、
配線基板および接続用端子と一体化し、配線基板上に直
接取り付けられている。このため、コネクタ配置部２２
としての基板の取り付け部位は被測定素子の両端子側に
それぞれ形成されることになる。つまり、この場合のコ
ネクタ配置部２２の形状は接点金属と一体化した配線基
板の配置が可能なようになっている。なお、この接点金
属も弾性を有し、素子配置部上の被測定素子を上方に付
勢するような高さに設定されているため、保持ブロック
２を装着すると接点金属が変形して上方に加圧、圧接
し、導電性を確保できるようになっている。When the above-mentioned contact metal 6 is used for the connector arrangement portion 22, a structure that can secure the mobility of the contact metal is required. Such a structure is formed, for example, as a hole of a predetermined size. This hole may be a small hole formed corresponding to each contact metal, or may be a hole having a size that can cover all the contact metals. In the case of a small hole corresponding to each contact metal, this hole may function as a guide for the contact metal. Also, each contact metal is usually
It is integrated with the wiring board and the connection terminals, and is directly mounted on the wiring board. For this reason, the connector placement unit 22
Are attached to both terminals of the device under test. That is, in this case, the shape of the connector arranging portion 22 is such that the wiring board integrated with the contact metal can be arranged. The contact metal also has elasticity and is set to a height that urges the device under measurement on the element arrangement portion upward. Therefore, when the holding block 2 is attached, the contact metal is deformed and the contact metal moves upward. Pressurization and pressure contact can ensure conductivity.
【００２１】固定ブロック３には、前記素子配置部２１
に載置される素子に対応して窓部３１が形成されてい
る。この窓部３１は被測定素子であるディスプレイの形
状に対応した形状（通常ほぼ相似形となる）であり、デ
ィスプレイの表示面が外部から確認できるようになって
いる。また、固定ブロック３の厚みが厚い場合には、視
野角を確保するために窓部３１の周囲をテーパー状にし
てもよい。The fixed block 3 includes the element placement section 21
A window 31 is formed corresponding to the element mounted on the device. The window 31 has a shape corresponding to the shape of the display as the device to be measured (usually substantially similar), so that the display surface of the display can be checked from the outside. When the thickness of the fixed block 3 is large, the periphery of the window 31 may be tapered to secure a viewing angle.
【００２２】窓部３１の被測定素子と対応する側には、
好ましくは被測定素子を位置決め固定するための素子位
置決め部３２が設けられている。この素子位置決め部３
２は、被測定素子の形状と対応した形状の凹部を有して
いて、この凹部に被測定素子の一部（周縁部）を収納す
ることにより位置決め、固定する。そして、保持ブロッ
ク２上に固定ブロック３を配置した場合に素子配置部２
１上に素子位置決め部３２に固定された被測定素子が丁
度収まることになる。これにより、被測定素子は所定の
位置に位置決めされ、固定される。On the side of the window 31 corresponding to the element to be measured,
Preferably, an element positioning section 32 for positioning and fixing the element to be measured is provided. This element positioning section 3
Numeral 2 has a concave portion having a shape corresponding to the shape of the device to be measured, and a portion (peripheral portion) of the device to be measured is housed in the concave portion to position and fix the device. When the fixed block 3 is arranged on the holding block 2, the element arrangement section 2
The device to be measured fixed to the device positioning section 32 just fits on the device 1. Thus, the device under test is positioned and fixed at a predetermined position.
【００２３】保持ブロック２と固定ブロック３とは、好
ましくは位置決め機構により位置決めされる。この位置
決め機構は保持ブロック２と固定ブロック３とを常に同
じ状態で固定するためのものであり、両者の位置関係を
一定に保持しうるものであれば特にその形態は限定され
るものではない。このような位置決め機構として、例え
ば位置決めピン、位置決めガイド等を用いてもよいし、
アジャスト機構を有するものであってもよい。また、単
に目盛り等の目印を設けただけでもよい場合もある。位
置決め機構を設けることにより、配線基板と被測定素子
との導通を確実にすることができる。The holding block 2 and the fixed block 3 are preferably positioned by a positioning mechanism. This positioning mechanism is for always fixing the holding block 2 and the fixed block 3 in the same state, and the form is not particularly limited as long as the positional relationship between the two can be kept constant. As such a positioning mechanism, for example, a positioning pin, a positioning guide, or the like may be used,
It may have an adjustment mechanism. In some cases, a mark such as a scale may be simply provided. By providing the positioning mechanism, conduction between the wiring board and the device under test can be ensured.
【００２４】保持ブロック２および固定ブロック３の大
きさは、それぞれ同じでもよいし、異なっていてもよ
い。大きさが異なる場合、固定ブロック３が多少大きく
なるようにすると、指を掛けたり、ハンドリング機構を
掛けることができ便利である。具体的な寸法としては特
に規制されるのもではないが、例えば、縦５〜４０cm、
横１０〜５０cm、厚さ３〜１５mm程度である。また、有
機ＥＬ素子を搭載し、視野角等を測定する場合には、縦
１０〜１６cm、特に１４〜１５．５cm、横１４〜２０c
m、特に１６〜１９．５cm、厚さ４〜８mm、特に５〜６m
m程度である。なお、これらの寸法は被測定素子の大き
さや、搭載される視野角測定装置の大きさ等により変動
する。The size of the holding block 2 and the size of the fixed block 3 may be the same or different. When the size is different, if the fixed block 3 is made slightly larger, a finger can be hung or a handling mechanism can be hung, which is convenient. Although it is not particularly limited as specific dimensions, for example, 5 to 40 cm in length,
It is about 10 to 50 cm wide and about 3 to 15 mm thick. When an organic EL element is mounted and the viewing angle or the like is measured, the height is 10 to 16 cm, particularly 14 to 15.5 cm, and the width is 14 to 20 c.
m, especially 16-19.5 cm, thickness 4-8 mm, especially 5-6 m
m. Note that these dimensions vary depending on the size of the device to be measured, the size of the mounted viewing angle measuring device, and the like.
【００２５】保持ブロック２と固定ブロック３とは、係
止機構４により着脱自在に固定される。この係止機構４
は保持ブロック２と固定ブロック３とを着脱自在に固定
可能なものであればその形態は特に限定されるものでは
なく、公知の固定手段の中から選択すればよい。このよ
うな係止機構４として、例えばネジ状のもの、クリップ
状のもの等が挙げられる、また、セミ型蓋止めのように
ワンタッチで脱着ができるものを用いてもよい。さら
に、ネジ止めする場合にはローレットつまみを設けた
り、蝶ネジ等を用いて着脱が容易なようにしてもよい。The holding block 2 and the fixed block 3 are detachably fixed by a locking mechanism 4. This locking mechanism 4
The shape is not particularly limited as long as the holding block 2 and the fixing block 3 can be detachably fixed, and may be selected from known fixing means. Examples of such a locking mechanism 4 include a screw-shaped one, a clip-shaped one, and the like, and a mechanism that can be attached and detached with a single touch such as a semi-type lid stopper may be used. Further, in the case of screwing, a knurled knob may be provided, or a knurled screw or the like may be used to facilitate attachment and detachment.
【００２６】保持ブロック２と固定ブロック３とは、さ
らに支持台１上に固定してもよい。この支持台１は保持
ブロック２、固定ブロック３を安定に支持し、測定が容
易なように支持しうるものであればその形状や大きさは
特に限定されるものではない。保持ブロック２と固定ブ
ロック３は、前記係止機構４により一体として支持台１
上に固定するようにすればよい。The holding block 2 and the fixed block 3 may be further fixed on the support 1. The shape and size of the support table 1 are not particularly limited as long as the support table 1 can stably support the holding block 2 and the fixed block 3 and can support the measurement block easily. The holding block 2 and the fixed block 3 are integrated with the support base 1 by the locking mechanism 4.
What is necessary is just to fix it on top.
【００２７】支持台１内には測定用の回路を内蔵しても
よい。この支持台１内に測定用の回路を内蔵することに
より、検査装置がコンパクトになる。測定用の回路と前
記配線基板とは、多芯ケーブル、フラットケーブル、フ
レキシブルプリント基板、ヒートシルコネクタ等の接続
手段を介して着脱自在に接続するようにすればよい。A circuit for measurement may be built in the support 1. By incorporating a circuit for measurement in the support table 1, the inspection apparatus becomes compact. The circuit for measurement and the wiring board may be detachably connected to each other via connection means such as a multi-core cable, a flat cable, a flexible printed board, and a heat sill connector.
【００２８】測定用の回路としては、測定に必要な表示
を行わせるため、ディスプレイを駆動し、制御するため
の回路が必要となる。また、リーク電流、短絡、駆動電
圧等を検出する回路を設けてもよい。このような回路と
しては、ディスプレイコントローラ、ドライバＩＣとし
て市販されているものを適宜選択して使用してもよい
し、汎用のプロセッサとその周辺素子、および駆動用の
電圧電流変化素子や、各種ゲート、フリップフロップ、
デーコーダ等を適宜組み合わせて必要な機能を有するも
のを構成してもよい。これらの回路は、プリント基板上
にコンパクトに構成でき、支持台１内に収納することが
可能である。なお電源などは外部から供給するようにし
てもよい。As a circuit for measurement, a circuit for driving and controlling the display is required in order to perform a display necessary for the measurement. Further, a circuit for detecting a leak current, a short circuit, a driving voltage, or the like may be provided. As such a circuit, those commercially available as a display controller and a driver IC may be appropriately selected and used, or a general-purpose processor and its peripheral elements, a voltage-current changing element for driving, and various gates may be used. ,flip flop,
A device having necessary functions may be configured by appropriately combining a decoder and the like. These circuits can be configured compactly on a printed circuit board, and can be housed in the support base 1. The power supply and the like may be supplied from outside.
【００２９】さらに、支持台１には他の測定装置に容易
に取り付けられるような取り付け部を設けてもよい。こ
の取り付け部は、例えば視野角の測定等のように本発明
のジグのみでは測定が困難な性能を評価する際、他の測
定装置に本発明のジグを取り付けることにより、容易に
測定できるようにするものである。この取り付け部は、
例えば所定の取り付けネジ孔としてもよいし、特別な取
り付けのための機構を設けてもよい。支持台の大きさと
しては、前記保持ブロック２および固定ブロック３と同
等程度とすればよい。Further, the support base 1 may be provided with a mounting portion which can be easily mounted on another measuring device. This mounting part, for example, when evaluating the performance that is difficult to measure only with the jig of the present invention such as measurement of the viewing angle, by attaching the jig of the present invention to another measuring device, so that it can be easily measured. Is what you do. This mounting part
For example, a predetermined mounting screw hole may be used, or a special mounting mechanism may be provided. The size of the support may be approximately the same as that of the holding block 2 and the fixed block 3.
【００３０】このように、保持ブロック２と固定ブロッ
ク３とを別体とし、これらにより被測定素子を挟み込む
ようにして保持しているので、被測定素子の着脱が容易
になる。また、異方性導電ゴムのような接続コネクタを
被測定素子の端子に押圧した状態で固定するので、簡単
な構造で被測定素子、接続用コネクタおよび配線基板間
の導通を確保し、被測定素子を測定用の回路と接続する
ことができる。また、劣化した異方性導電ゴムの交換な
ど、メンテナンスも容易になる。As described above, since the holding block 2 and the fixed block 3 are separated from each other and hold the device under test so as to sandwich the device under test, the device under test can be easily attached and detached. In addition, since a connector such as anisotropic conductive rubber is pressed against and fixed to the terminal of the device under test, conduction between the device under test, the connector for connection and the wiring board is ensured with a simple structure, and The element can be connected to a circuit for measurement. Further, maintenance such as replacement of deteriorated anisotropic conductive rubber becomes easy.
【００３１】本発明に使用される各種部材の材質として
は、特に限定されるものではなく、上記で特に指示され
たもの以外はその機能や必要とされる性能などに応じて
適宜最適なものを使用すればよい。特に、支持台１、保
持ブロック２および固定ブロック３等は、鉄、アルミニ
ウム、真鍮およびこれらの合金材や、アクリル、塩化ビ
ニール、ベークライト等の樹脂材等を用いて製造するこ
とができる。また、接点金属等の導電性材料と接触する
部分は絶縁性を有する樹脂材や、絶縁処理を施したもの
などが好ましく、耐摩耗性や耐久性を必要とする部位に
はハードクローム、ハードアルマイト処理等、摩耗・腐
食防止のための表面処理を施してもよい。The materials of the various members used in the present invention are not particularly limited, and those other than those specifically indicated above may be appropriately optimized according to the function or required performance. Just use it. In particular, the support 1, the holding block 2, the fixed block 3, and the like can be manufactured using iron, aluminum, brass, or an alloy thereof, or a resin such as acrylic, vinyl chloride, or bakelite. In addition, a portion that comes into contact with a conductive material such as a contact metal is preferably a resin material having an insulating property or an insulated material, and a portion requiring abrasion resistance or durability is preferably hard chrome or hard anodized. Surface treatment such as treatment for preventing wear and corrosion may be performed.
【００３２】なお、保持ブロック２上に固定ブロック３
を配置する手段として、作業者のハンドリングにより行
わせてもよいし、チャッキング等のハンドリング機構に
より自動的に行わせてもよい。この場合、被測定素子の
着脱や、保持ブロック２と固定ブロック３との固定動作
等もハンドリング機構や、エアシリンダー、サーボモー
タ、パルスモータ等を使用した機構により行わせるよう
にしてもよい。このように、自動化することにより、製
造ラインの最終工程に検査用のラインとして組み込むこ
とができ、生産効率が向上する。The fixed block 3 is placed on the holding block 2.
The means for arranging may be performed by handling by an operator or automatically by a handling mechanism such as chucking. In this case, the attachment / detachment of the device to be measured and the fixing operation between the holding block 2 and the fixed block 3 may be performed by a handling mechanism or a mechanism using an air cylinder, a servo motor, a pulse motor, or the like. As described above, the automation can be incorporated as an inspection line in the final step of the production line, and the production efficiency is improved.
【００３３】[0033]
【実施例】次に、実施例を示し本発明をより具体的に説
明する。図１および図２は、本発明のディスプレイ検査
ジグの一実施例を示す組立斜視図および組立後の状態を
示した外観斜視図である。図示例のディスプレイ検査ジ
グは、支持台１上に保持ブロック２と固定ブロック３と
が係止機構４により一体として着脱自在に固定されるよ
うになっている。この例では、支持台１、保持ブロック
２および固定ブロック３は、いずれもその外形が四角い
板状のものであって、ほぼ同一の大きさとなっている。
また、保持ブロック２は素子配置部２１を設けるため、
多少厚くなっている。Next, the present invention will be described more specifically with reference to examples. 1 and 2 are an assembly perspective view showing an embodiment of a display inspection jig of the present invention and an external perspective view showing a state after assembly. In the display inspection jig of the illustrated example, a holding block 2 and a fixed block 3 are integrally and detachably fixed on a support base 1 by a locking mechanism 4. In this example, the support 1, the holding block 2, and the fixed block 3 are all in the shape of a rectangular plate, and have substantially the same size.
In addition, since the holding block 2 is provided with the element arrangement portion 21,
It is somewhat thicker.
【００３４】支持台１の四隅には、円柱状の支柱１２が
あり、この支柱１２の上部には支柱１２の外周よりも小
さい径の挿入突起部が段違い状に形成されている。この
挿入突起部は保持ブロック２に設けられている取り付け
孔２４内に挿入されると共に、この取り付け孔の周囲が
支柱１２の段違いの外周部分に当接して所定の高さに保
持固定され、位置決めされるようになっている。また、
挿入突起部にはネジ孔が形成されており、また取り付け
孔２４は上部が所謂ザグリ孔加工されているため、支持
柱１２を固定する止めネジを、保持ブロックの面位置よ
り出ないようにして固定することができるようになって
いる。At each of the four corners of the support 1, there are columnar columns 12, and an insertion projection having a diameter smaller than the outer periphery of the column 12 is formed on the upper portion of the column 12 in a stepped manner. The insertion protrusion is inserted into a mounting hole 24 provided in the holding block 2, and the periphery of the mounting hole abuts on the stepped outer peripheral portion of the column 12, and is held and fixed at a predetermined height. It is supposed to be. Also,
A screw hole is formed in the insertion protrusion, and the upper part of the mounting hole 24 is so-called counterbored hole processing, so that a set screw for fixing the support column 12 does not protrude from the surface position of the holding block. It can be fixed.
【００３５】保持ブロック２には、被測定素子の大きさ
よりも大きな凹部の素子配置部２１が形成されている。
この素子配置部２１は、被測定素子であるディスプレイ
の形状に即して概長方形状に形成されると共に、被測定
素子の装着を容易にするためと、多種類の被測定素子に
対応可能なように大きく設定されている。この素子配置
部２１の深さは、固定ブロック３に固定されている被測
定素子１０を配置したときに後述の素子固定部３２によ
り固定された被測定素子１０により接続用コネクタを押
圧可能なような深さに設定されている。また、配線基板
５にハンダ付けされているコネクタの端子部分を逃がす
ための逃げ孔２７が設けられている。The holding block 2 is formed with an element arrangement portion 21 having a concave portion larger than the size of the device to be measured.
The element placement section 21 is formed in a substantially rectangular shape according to the shape of the display as the element to be measured, and can be used for various kinds of elements to be measured in order to facilitate mounting of the element to be measured. It is set so large. The depth of the element arrangement portion 21 is set such that when the device to be measured 10 fixed to the fixed block 3 is arranged, the connection connector can be pressed by the device to be measured 10 fixed by the element fixing portion 32 described later. Depth is set. Further, an escape hole 27 is provided for allowing a terminal portion of a connector soldered to the wiring board 5 to escape.
【００３６】素子配置部２１には、コネクタ配置部２２
が形成されている。コネクタ配置部２２は、被測定素子
の端子と対向する位置、つまり被測定素子の両脇に設け
られている端子と同じ間隔で２列の平行な長孔状に形成
されている。また、コネクタ配置部２２は、異方性導電
ゴム７を挿入可能なよう、これより僅かに大きな上下に
貫通した長孔状となっている。このコネクタ配置部２２
の下側には、例えば図３に示すように、保持ブロック２
の下部にある補助ブロック９により異方性導電ゴム７が
保持されている。補助ブロック９は、止めネジ１０４に
より、止め孔９１を介して保持ブロック２のネジ孔２６
に固定される。そして、後述するように、コネクタ配置
部２２の長孔部分に配線基板５の接続用端子が配置され
るような位置関係となっている。前記接続用端子は配線
基板上に形成され、少なくとも、被測定素子の端子と同
じピッチ（間隔）となるように形成されている。これに
より、異方性導電ゴム７を介して配線基板５の接続用端
子と被測定素子の端子とが電気的に接続されるようにな
っている。The element arrangement section 21 includes a connector arrangement section 22.
Are formed. The connector arranging portions 22 are formed in two rows of parallel elongated holes at positions facing the terminals of the device under test, that is, at the same intervals as the terminals provided on both sides of the device under test. In addition, the connector disposition portion 22 has a slightly larger vertically extending long hole shape so that the anisotropic conductive rubber 7 can be inserted. This connector arrangement part 22
On the lower side, for example, as shown in FIG.
The anisotropic conductive rubber 7 is held by an auxiliary block 9 provided below. The auxiliary block 9 is screwed into the screw hole 26 of the holding block 2 through a locking hole 91 by a locking screw 104.
Fixed to Then, as described later, the positional relationship is such that the connection terminals of the wiring board 5 are arranged in the elongated holes of the connector arrangement section 22. The connection terminals are formed on a wiring board and are formed so as to have at least the same pitch (interval) as the terminals of the device under test. Thus, the connection terminals of the wiring board 5 and the terminals of the device under test are electrically connected via the anisotropic conductive rubber 7.
【００３７】異方性導電ゴム７は、前記コネクタ配置部
２２内に配置したときに、素子配置部２１の面位置から
多少高くなるように配置されている。そして、素子配置
部２１上に被測定素子１０を配置したときに、被測定素
子１０の端子が形成されている部分に当接し、固定ブロ
ック３に保持されている被測定素子１０を素子配置部２
１の面位置から僅かに浮き上がらせるような位置になっ
ている。これにより、保持ブロック２上に固定ブロック
３を配置し、固定した際に、被測定素子１０を介して異
方性導電ゴム７が押圧されて弾性変形し、上下に圧接し
て導電性を確保できるようになっている。さらに、劣化
した異方性導電ゴム７は、固定ブロック３を取り外すこ
とにより外部に露出する素子配置部２１上やその下部か
ら容易に取り外し、交換することができる。The anisotropic conductive rubber 7 is arranged so as to be slightly higher than the surface position of the element arrangement part 21 when arranged in the connector arrangement part 22. When the device under test 10 is placed on the device placement portion 21, the device under test 10 held in the fixed block 3 is brought into contact with the portion of the device under test 10 where the terminals are formed, and 2
The position is such that it slightly rises from the surface position 1. Thereby, when the fixed block 3 is disposed on the holding block 2 and fixed, the anisotropic conductive rubber 7 is pressed through the element under measurement 10 to be elastically deformed and pressed vertically to secure conductivity. I can do it. Further, the degraded anisotropic conductive rubber 7 can be easily removed from the element placement portion 21 exposed to the outside or the lower portion thereof by removing the fixing block 3 and can be replaced.
【００３８】保持ブロック２には、位置決め機構として
の位置決めピン２３が設けられている。位置決めピン２
３は素子配置部２１以外の部位であればその位置は特に
限定されるものではないが、位置決めのためには２個以
上設けることが好ましい。位置決めピン２３は、保持ブ
ロック２の固定孔２９に圧入されていて、その頭部が固
定ブロック３に形成されている位置決め孔３４内に挿入
され、保持ブロック２と固定ブロック３とを所定の位置
関係に位置決めする。位置決め機構（２３，３４）は図
示例では円柱状の丸ピンとしているが、これをテーパー
状としたり、凹部と凸部を用いた嵌合形状のもの等とし
てもよい。The holding block 2 is provided with a positioning pin 23 as a positioning mechanism. Positioning pin 2
The position 3 is not particularly limited as long as it is a portion other than the element arrangement portion 21, but it is preferable to provide two or more for positioning. The positioning pin 23 is press-fitted into a fixing hole 29 of the holding block 2, and its head is inserted into a positioning hole 34 formed in the fixing block 3, so that the holding block 2 and the fixing block 3 are positioned at predetermined positions. Position in relationship. Although the positioning mechanism (23, 34) is a cylindrical round pin in the illustrated example, the positioning mechanism (23, 34) may have a tapered shape, or may have a fitting shape using a concave portion and a convex portion.
【００３９】さらに、保持ブロック２には、例えば図
３，４に示すように、配線基板５を搭載した基板保持ブ
ロック８を固定するためのネジ孔２８が形成されてい
て、配線基板５を着脱自在に固定できるようになってい
る。この配線基板５は、通常、プリント基板として用い
られているエポキシ、紙エポキシ、ガラスエポキシ等の
基板上に、被測定素子に対応した接続用端子のパターン
と、これから測定回路へ接続するためのパターンとが形
成されるが、この例では基板コネクタ５ａに接続され、
固定されている。Further, as shown in FIGS. 3 and 4, for example, the holding block 2 is formed with a screw hole 28 for fixing the board holding block 8 on which the wiring board 5 is mounted. It can be fixed freely. The wiring board 5 is composed of a pattern of connection terminals corresponding to a device under test and a pattern for connecting to a measurement circuit from now on a board such as epoxy, paper epoxy, or glass epoxy which is usually used as a printed board. Are formed, but in this example, they are connected to the board connector 5a,
Fixed.
【００４０】基板保持ブロック８にはこの基板保持ブロ
ック８の面位置より基板の厚さ分低くなった基板載置部
８１が、略基板の形状に即して形成され、この部分に配
線基板５を収納、固定できるようになっている。すなわ
ち、基板５は止めネジ１０５により、止め孔５１を介し
て基板載置部８１のネジ孔８２にネジ止めされ、２つの
基板５が所定の位置に配置されるようになっている。さ
らに、この基板保持ブロック８は、上記のように蝶ネジ
１０６により、止め孔８３を介して保持ブロック２のネ
ジ孔２８に着脱自在に固定され、位置決めされる。この
ように、蝶ネジ１０６等を用いて、基板保持ブロック８
を着脱自在としているので、異なるピッチや大きさの被
測定素子でも、この基板保持ブロック８を、そのような
ピッチに形成された配線基板５が搭載されたものと交換
するだけで容易に対応することができる。なお、蝶ネジ
１０６はローレットつまみを有するものや、バイヨネッ
ト機構を有するもの等、着脱が容易であって、確実に固
定できる機構のものにしてもよい。In the substrate holding block 8, a substrate mounting portion 81 which is lower than the surface position of the substrate holding block 8 by the thickness of the substrate is formed substantially in accordance with the shape of the substrate. Can be stored and fixed. That is, the substrate 5 is screwed into the screw hole 82 of the substrate mounting portion 81 via the locking hole 51 by the locking screw 105, and the two substrates 5 are arranged at predetermined positions. Further, the substrate holding block 8 is detachably fixed to the screw hole 28 of the holding block 2 via the stopper hole 83 by the thumb screw 106 as described above, and is positioned. As described above, the board holding block 8 is formed using the thumb screw 106 or the like.
Can be easily attached and detached, so that even the devices to be measured having different pitches and sizes can be easily dealt with simply by replacing the substrate holding block 8 with the one on which the wiring board 5 formed at such a pitch is mounted. be able to. The thumb screw 106 may be a mechanism having a knurled knob, a mechanism having a bayonet mechanism, etc., which can be easily attached and detached and can be securely fixed.
【００４１】固定ブロック３の各側部には、そのほぼ中
央にフック４１ａが設けられてる。このフック４１ａ
は、支持台１上の対応する位置にある係止具４１ｂと共
に係止機構４を形成している。係止具４１ｂは、支持台
１上にある係止具固定台１１に所定の高さとなるよう固
定されている。そして、上下方向に動作するレバーと、
このレバーの回転軸に対して僅かに下方にずれた位置に
回動自在に固定されている四角い係止リングとを有し、
前記レバーを引き上げた状態で係止リングをフック４１
ａに引っかけた後、このレバーを引き下げると、係止リ
ングの固定軸がレバーの固定軸より下方に位置すること
となり、フック４１ａを係止リングが強く引きつけた状
態で固定できるようになっている。すなわち、フック４
１ａと係止具４１ｂとでワンタッチで着脱可能な、所謂
セミ型蓋止めを形成している。これにより、支持台１の
支柱１２上に保持ブロック２が位置決め・固定され、保
持ブロック２の位置決めピンにより固定ブロック３が位
置決め・固定されると共に、これらを一体として係止機
構４（４１ａ、４１ｂ）が固定することとなる。On each side of the fixed block 3, a hook 41a is provided substantially at the center thereof. This hook 41a
Form a locking mechanism 4 together with the locking tool 41b at a corresponding position on the support base 1. The locking tool 41b is fixed to the locking tool fixing base 11 on the support base 1 so as to have a predetermined height. And a lever that operates up and down,
A square locking ring rotatably fixed at a position slightly shifted downward with respect to the rotation axis of the lever,
With the lever pulled up, the locking ring is
When the lever is pulled down after being hooked on a, the fixing shaft of the locking ring is located below the fixing shaft of the lever, and the hook 41a can be fixed in a state where the locking ring is strongly pulled. . That is, hook 4
A so-called semi-type lid stopper that can be attached and detached with one touch is formed by 1a and the locking member 41b. As a result, the holding block 2 is positioned and fixed on the column 12 of the support 1, the fixed block 3 is positioned and fixed by the positioning pin of the holding block 2, and the locking mechanism 4 (41 a, 41 b) is integrated with them. ) Will be fixed.
【００４２】また、保持ブロック２と固定ブロック３と
は、ネジ孔２５と孔３５によりネジ止めすることができ
るようにもなっている。これにより、保持ブロック２と
固定ブロック３とをより強固に安定して固定することが
できる。Further, the holding block 2 and the fixed block 3 can be screwed together with the screw holes 25 and the holes 35. Thereby, the holding block 2 and the fixed block 3 can be more firmly and stably fixed.
【００４３】固定ブロック３のほぼ中央部には、窓部３
１が形成されている。この窓部３１は被測定素子よりも
多少小さい形状を成し、しかも被測定素子の表示領域
（表示部）が外部から認識可能な大きさとなっている。
また、その周囲は外方に向かってテーパー状に形成され
たテーパー部３３を有し、視野角を確保できるようにな
っている。At a substantially central portion of the fixed block 3, a window 3
1 is formed. The window portion 31 has a shape slightly smaller than the device under test, and has a size such that the display area (display section) of the device under test can be recognized from the outside.
Further, the periphery thereof has a tapered portion 33 formed in a tapered shape outward, so that a viewing angle can be secured.
【００４４】窓部３１には、例えば図５に示すように、
保持ブロック２と対向する側の周囲に、被測定素子を保
持固定するための素子位置決め部３２が形成された対置
決めブロック３７ａ，３７ｂ，３８，３９が、止めネジ
１０１により止め孔１０２、長孔３８ａを介してネジ孔
３６に固定されている。なお、止めネジ１０１を収納す
る止め孔１０２、長孔３８ａの下側は、ザグリ孔等とな
っていて、この部分に止めネジを収納することにより、
保持ブロック２等と接触しないようになっている。In the window 31, for example, as shown in FIG.
The positioning blocks 37 a, 37 b, 38, and 39 having element positioning portions 32 for holding and fixing the device under test are formed around the side facing the holding block 2. It is fixed to the screw hole 36 via 38a. The lower side of the stop hole 102 and the slot 38a for storing the set screw 101 is a counterbore hole or the like. By storing the set screw in this portion,
It does not come into contact with the holding block 2 or the like.
【００４５】この素子位置決め部３２は、位置決めブロ
ック３７ａｂ，３８，３９により形成される窓部３１ａ
周縁の下部が被測定素子の形状に即した形状、すなわ
ち、被測定素子の形状と対応した凹部として形成されて
いて、この部分に被測定素子の周縁部位や、端部の一部
が収納され、固定されるようになっている。The element positioning section 32 has a window section 31a formed by positioning blocks 37ab, 38 and 39.
The lower part of the peripheral edge is formed as a concave part corresponding to the shape of the device under test, that is, a concave portion corresponding to the shape of the device under test, and the peripheral part of the device under test and a part of the end are housed in this portion. , Is fixed.
【００４６】すなわち、一対の位置決めブロック３７
ａ、３７ｂの下側には被測定素子１０に応じた段部が形
成され、位置決めブロック３９には同様な段部とその上
に被測定素子１０の厚みと対応した高さに爪部が形成さ
れている。そして、固定ブロック３を裏返した状態で、
被測定素子１０を同様に裏返し、位置決めブロック３７
ａ、３７ｂの段部上に乗せ、さらに少し動かして位置決
めブロック３９の段部と爪部の間に挿入する。そして、
位置決めブロック３８を長孔３８ａに止めネジ１０１を
差し込んだ状態で移動させ、位置決めブロック３９と同
様に形成されている段部と爪部の間に被測定素子を挿入
し、さらに固定されるまでスライドさせた後ネジ止め
し、固定する。これにより、被測定素子が素子位置決め
部３２内に収納され、位置決め固定されると共に、保持
ブロック２上に固定ブロック３を配置したときに、被測
定素子に押し当てるように配置されている接続用コネク
タを押圧することになる。なお、位置決めブロック３８
はバネ等によりブロック３９方向に付勢されて長孔３８
ａ方向に自由にスライドするような機構としてもよい。That is, the pair of positioning blocks 37
Steps corresponding to the device under test 10 are formed below a and 37b, and a similar step is formed in the positioning block 39 and a claw portion is formed thereon at a height corresponding to the thickness of the device under test 10. Have been. Then, with the fixed block 3 turned over,
The device under test 10 is similarly turned over, and the positioning block 37
a, 37b, and move it a little further to insert it between the step of the positioning block 39 and the claw. And
The positioning block 38 is moved while the set screw 101 is inserted into the long hole 38a, and the device to be measured is inserted between the step and the claw portion formed similarly to the positioning block 39, and further slid until it is fixed. After that, screw it in and fix it. As a result, the device to be measured is housed in the device positioning section 32 and is positioned and fixed, and when the fixed block 3 is arranged on the holding block 2, the connection is arranged to be pressed against the device to be measured. The connector will be pressed. The positioning block 38
Is urged toward the block 39 by a spring or the like to
A mechanism that can slide freely in the direction a may be used.
【００４７】なお、支持台１には取り付け部としての止
め孔１３が有り、この止め孔１３により視野角測定装置
等の他の測定装置に固定できるようになっている。ま
た、そのような装置に固定する場合、支持台１単独で固
定した後、保持ブロック２および固定ブロック３を取り
付ければよく、極めて簡単にとりつけ作業を行うことが
できる。The support base 1 has a stop hole 13 as a mounting portion, and the stop hole 13 can be fixed to another measuring device such as a viewing angle measuring device. Further, when fixing to such a device, the holding block 2 and the fixing block 3 may be attached after fixing the support base 1 alone, and the mounting operation can be performed extremely easily.
【００４８】本発明のディスプレイ検査ジグに用いられ
る被測定素子１０の一例を図６に示す。図示例のディス
プレイ１０は有機ＥＬディスプレイの一例であって、基
板１１１と、封止板１１２と、基板の両側部に形成され
ている端子１１３とを有する。封止板１１２内には図示
しない有機ＥＬ構造体（電極および有機物層からなる発
光体）がマトリクス状やセグメント状に形成され、これ
らの電極が端子１１３と接続されている。端子１１３は
基板の両側部、つまり封止板１１２が存在しない領域に
所定のピッチで平面状に配列され、下面側（図示例の状
態では上面）に僅かに突出している。そして、この端子
１１３に前記接続用コネクタが接触することとなる。従
って、図示例の被測定素子は、裏返した状態でディスプ
レイ検査用ジグに配置される。FIG. 6 shows an example of the device under test 10 used in the display inspection jig of the present invention. The illustrated display 10 is an example of an organic EL display, and includes a substrate 111, a sealing plate 112, and terminals 113 formed on both sides of the substrate. An unillustrated organic EL structure (a light-emitting body composed of an electrode and an organic material layer) is formed in the sealing plate 112 in a matrix shape or a segment shape, and these electrodes are connected to the terminals 113. The terminals 113 are arranged in a plane at a predetermined pitch on both sides of the substrate, that is, in a region where the sealing plate 112 does not exist, and slightly protrude on the lower surface side (the upper surface in the state of the illustrated example). Then, the connection connector comes into contact with the terminal 113. Therefore, the device to be measured in the illustrated example is disposed on the display inspection jig in an inverted state.
【００４９】次に、本発明の装置の他の実施例について
説明する。図７は本発明の基板保持ブロック８ａの他の
構成例を示す一部外観斜視図、図８はその概略断面図で
ある。この基板保持ブロック８ａは、図４に示される基
板保持ブロック８に代えて使用される。この場合、前記
補助ブロック９および異方性導電ゴムは使用されず、コ
ネクタ配置部２２として記載されている２つの長孔間は
大きく開口した孔となる。Next, another embodiment of the apparatus of the present invention will be described. FIG. 7 is a partial external perspective view showing another configuration example of the substrate holding block 8a of the present invention, and FIG. 8 is a schematic sectional view thereof. This substrate holding block 8a is used in place of the substrate holding block 8 shown in FIG. In this case, the auxiliary block 9 and the anisotropic conductive rubber are not used, and a large opening is formed between the two long holes described as the connector arrangement portion 22.
【００５０】図示例の基板保持ブロック８ａは、基板保
持ブロック８ａ上に設けられた配線基板５ａと一体とな
って配列されている接点金属６と、この接点金属６およ
び配線基板５ａを固定し保護する押さえ板８６とを有す
る。The illustrated substrate holding block 8a has a contact metal 6 arranged integrally with a wiring substrate 5a provided on the substrate holding block 8a, and secures and protects the contact metal 6 and the wiring substrate 5a. And a holding plate 86 for pressing.
【００５１】基板保持ブロック８ａにはネジ孔８２ａが
形成されていて、配線基板５ａおよび押さえ板８６をネ
ジ止め、固定できるようになっている。配線基板５ａに
は、弾性を有し、導電性を有する金属片をへ字状に形成
した接点金属６が複数個配列されている。なお、図示例
では紙面の手前側の部分は配線基板５ａおよび押さえ板
８６を省略し一部の接点金属６のみを表示している。A screw hole 82a is formed in the board holding block 8a, so that the wiring board 5a and the holding plate 86 can be screwed and fixed. On the wiring substrate 5a, a plurality of contact metals 6 each having an elastic and conductive metal piece formed in a letter shape are arranged. In the illustrated example, the wiring board 5a and the pressing plate 86 are omitted from the front side of the drawing, and only a part of the contact metal 6 is shown.
【００５２】また、押さえ板８６は接点金属６の基板取
り付け部分を押さえ、固定すると共に、接点金属６の動
作を確保できるように、接点金属６の立ち上がり部分か
ら上端部分を逃がすための切欠部８７が形成されてい
る。The pressing plate 86 presses and fixes a portion of the contact metal 6 to which the substrate is mounted, and a notch 87 for releasing an upper end portion from a rising portion of the contact metal 6 so that the operation of the contact metal 6 can be secured. Are formed.
【００５３】接点金属６はへ字状の上方に立ち上がった
上端部分で被測定素子の端子と接触し、下方から水平方
向に延びている一方の端部が配線基板５ａに固定されて
いる。これにより上下方向に容易に撓み、かつ、弾性部
材であるため押された方向と逆方向に付勢し、圧接して
接触が確保される。また、接点金属６は、被測定素子の
端子配列と対応して形成されている配線基板のパターン
（接続用端子）に従って取り付けられる。このため、煩
雑な位置決め操作が不要であり、また異なったピッチの
端子を有する被測定素子にはそれに応じたパターンを有
する配線基板を作成するだけで容易に対応することがで
きる。The contact metal 6 is in contact with the terminal of the device under test at the upper end of the upper part of the letter shape, and one end extending horizontally from below is fixed to the wiring board 5a. Thereby, it is easily bent in the vertical direction, and because it is an elastic member, it is urged in a direction opposite to the pressed direction, and is pressed against to secure contact. The contact metal 6 is attached according to a pattern (connection terminal) of the wiring board formed corresponding to the terminal arrangement of the device under test. Therefore, a complicated positioning operation is not required, and the device to be measured having terminals of different pitches can be easily coped with simply by forming a wiring board having a pattern corresponding to the terminals.
【００５４】接点金属６自体は弾性を有し、かつ導電性
を有する金属であればよく、構造が簡単なため、例えば
リン青銅等を用いて容易に得ることが可能であり、プロ
ーブに比べ格段に安く入手することができる。The contact metal 6 itself may be a metal having elasticity and conductivity, and since it has a simple structure, it can be easily obtained using, for example, phosphor bronze or the like. Can be obtained cheaply.
【００５５】基板保持ブロック８ａには、接点金属６の
他の端部を摺動自在に収納し、かつこれをガイドするた
めのガイド孔８８が、接点金属６に対応した位置と大き
さ（形状）に形成されている。このガイド孔８８によ
り、接点金属同士が接触することなく上下方向に可動
し、被測定素子の接点と接触を確保できるようになって
いる。接点金属６の一方の端部はさらに折り曲げられて
配線基板５ａの取り付け孔内に収納されるが、この部分
の配線構造やその他の引き回し線が基板保持ブロック８
ａと接触しないように基板保持ブロック８ａには切欠部
８４ａが形成されている。そしてこの切欠部８４や上記
切欠部８７およびガイド孔８８等により、コネクタ配置
部が形成されている。In the substrate holding block 8a, a guide hole 88 for slidably housing the other end of the contact metal 6 and guiding it is provided in a position and a size (shape) corresponding to the contact metal 6. ) Is formed. The guide hole 88 allows the contact metal to move up and down without contact with each other, thereby ensuring contact with the contact of the device to be measured. One end of the contact metal 6 is further bent and accommodated in the mounting hole of the wiring board 5a, and the wiring structure and other lead wires of this part are formed by the board holding block 8
A notch 84a is formed in the substrate holding block 8a so as not to contact with a. The notch 84, the notch 87, the guide hole 88, and the like form a connector arrangement portion.
【００５６】また、基板保持ブロック８ａには、配線基
板５ａおよび押さえ板８６を収納するための基板載置部
８１ａが形成されている。この基板載置部８１ａは、配
線基板５ａおよび押さえ板５４を取り付けた際に、配線
基板５ａの上面が基板保持ブロック８ａの上面とほぼ同
位置となるような深さに設定されている。The substrate holding block 8a is provided with a substrate mounting portion 81a for accommodating the wiring substrate 5a and the holding plate 86. The substrate mounting portion 81a is set to a depth such that the upper surface of the wiring substrate 5a is substantially at the same position as the upper surface of the substrate holding block 8a when the wiring substrate 5a and the holding plate 54 are attached.
【００５７】このように、接点金属６と配線基板５ａと
が一体として構成され、基板保持ブロック８ａと配線基
板５ａの寸法関係により、被測定素子の端子と対応した
位置に自動的に配置されるため、細かな位置決め操作が
不要であり、異なったピッチの端子配列を有する被測定
素子にも基板を交換するだけで容易に対応することがで
きる。また、接点金属自体安価であるため、検査用ジグ
も低コストに作製することができる。As described above, the contact metal 6 and the wiring board 5a are integrally formed, and are automatically arranged at positions corresponding to the terminals of the device under test due to the dimensional relationship between the board holding block 8a and the wiring board 5a. Therefore, a fine positioning operation is not required, and it is possible to easily cope with elements to be measured having terminal arrangements of different pitches only by replacing the substrate. In addition, since the contact metal itself is inexpensive, an inspection jig can be manufactured at low cost.
【００５８】本発明のディスプレイ検査ジグを用いて有
機ＥＬディスプレイの視野角を測定する場合、例えば有
機ＥＬディスプレイを本発明の検査ジグに取り付け、さ
らにこれを安定して角度調整ができる視野角測定装置に
取り付ける。そして、正面での輝度を測定した後、これ
を所定の角度（例えば８０度±４０度）回転させ、その
角度の輝度が、正面の輝度を１００とした場合、５０以
上のものを良品とすればよい。また、輝度が半減する角
度を求めてもよい。When the viewing angle of an organic EL display is measured by using the display inspection jig of the present invention, for example, a viewing angle measuring apparatus in which an organic EL display is attached to the inspection jig of the present invention and the angle can be adjusted stably. Attach to Then, after measuring the luminance at the front, it is rotated at a predetermined angle (for example, 80 degrees ± 40 degrees). I just need. Further, an angle at which the luminance is reduced by half may be obtained.
【００５９】[0059]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、極めて低
コストで、狭ピッチのディスプレイにも対応可能であ
り、異なる端子数やピッチにも容易に適応でき、しかも
コンパクトで視野角等の測定にも容易に対応可能なディ
スプレイ検査ジグを提供できる。As described above, according to the present invention, it is possible to cope with a display having an extremely low cost and a narrow pitch, easily adapt to different numbers of terminals and pitches, and is compact and has a small viewing angle and the like. A display inspection jig that can easily cope with measurement can be provided.
【図１】本発明のディスプレイ検査ジグの一実施例を示
す組立斜視図である。FIG. 1 is an assembled perspective view showing one embodiment of a display inspection jig of the present invention.
【図２】本発明のディスプレイ検査ジグの組立後の状態
を示した外観斜視図である。FIG. 2 is an external perspective view showing a display inspection jig of the present invention after assembly.
【図３】本発明のディスプレイ検査ジグの部分組立て図
である。FIG. 3 is a partial assembly view of the display inspection jig of the present invention.
【図４】本発明のディスプレイ検査ジグの部分組立て図
である。FIG. 4 is a partial assembly view of the display inspection jig of the present invention.
【図５】本発明のディスプレイ検査ジグの部分組立て図
である。FIG. 5 is a partial assembly view of the display inspection jig of the present invention.
【図６】本発明のディスプレイ検査ジグに使用される被
測定素子として有機ＥＬディスプレイの一例を示した平
面図である。FIG. 6 is a plan view showing an example of an organic EL display as a device to be measured used in a display inspection jig of the present invention.
【図７】本発明の他の実施例である接点ブロックの構成
例を示す一部外観斜視図である。FIG. 7 is a partial external perspective view showing a configuration example of a contact block according to another embodiment of the present invention.
【図８】図７４接点ブロックの概略断面図である。FIG. 8 is a schematic sectional view of the contact block in FIG. 74;
１ 支持台 ２ 保持ブロック ３ 固定ブロック ４ 係止機構 ５ 配線基板 ６ 接点部材 ７ 異方性導電ゴム ８ 基板保持ブロック ９ 補助ブロック １０ 被測定素子 １１ 係止具固定台 １２ 支柱 １３ 止め孔 ２１ 素子配置部 ２２ コネクタ配置部 ２３ 位置決めピン ２４ 取り付け孔 ２５ ネジ孔 ２６ ネジ孔 ２７ 逃げ孔 ３１ 窓部 ３２ 素子位置決め部 ３３ テーパー部 ３４ 位置決め孔 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Support stand 2 Holding block 3 Fixing block 4 Locking mechanism 5 Wiring board 6 Contact member 7 Anisotropic conductive rubber 8 Substrate holding block 9 Auxiliary block 10 Device under test 11 Fixing fixture fixing stand 12 Post 13 Stop hole 21 Element arrangement Part 22 connector arrangement part 23 positioning pin 24 mounting hole 25 screw hole 26 screw hole 27 relief hole 31 window 32 element positioning part 33 taper part 34 positioning hole
Claims (10)
１）を有し、かつこの素子配置部（２１）には被測定素
子の端子と対応する部位に接続用コネクタを配置するた
めのコネクタ配置部（２２）を有する保持ブロック
（２）と、 前記保持ブロック（２）上に配置され、被測定素子の表
示部分と対応して設けられた窓部（３１）を有すると共
に、この窓部（３１）以外の部位により被測定素子を位
置決め、固定する固定ブロック（３）と、 前記保持ブロック（２）と、固定ブロック（３）とを着
脱自在に固定する係止機構（４）とを有し、 前記保持ブロック（２）には、前記コネクタ配置部（２
２）と対応する位置であって、少なくとも被測定素子の
端子と同位置かつ同ピッチに配列された接続用端子とこ
の接続用端子から測定回路へ接続するための回路パター
ンが形成された配線基板（５）を有し、かつ前記コネク
タ配置部（２２）には、被測定素子により押圧されると
共に被測定素子の端子と前記配線基板（５）上の接続用
端子との導通を図るための接続用コネクタが配置される
ディスプレイ検査ジグ。An element arrangement section (2) capable of accommodating an element to be measured.
A holding block (2) having 1) and having a connector arranging portion (22) for arranging a connection connector at a portion corresponding to a terminal of the device to be measured in the element arranging portion (21); It has a window (31) arranged on the holding block (2) and provided corresponding to the display part of the device to be measured, and positions and fixes the device to be measured by a portion other than the window (31). It has a fixing block (3), the holding block (2), and a locking mechanism (4) for detachably fixing the fixing block (3). The connector arrangement is provided on the holding block (2). Part (2
A wiring board at a position corresponding to 2), at least a connection terminal arranged at the same position and at the same pitch as the terminal of the device to be measured, and a circuit pattern for connecting the connection terminal to the measurement circuit; (5) and the connector arrangement part (22) is pressed by the device to be measured and is used to establish conduction between the terminal of the device to be measured and the connection terminal on the wiring board (5). Display inspection jig where the connector for connection is placed.
（３１）の周囲に被測定素子に対応した形状の素子位置
決め部（３２）を有する請求項１のディスプレイ検査ジ
グ。2. The display inspection jig according to claim 1, wherein said fixed block has an element positioning portion having a shape corresponding to an element to be measured around said window portion.
貫通した長孔であって、前記配線基板（５）が保持ブロ
ック（２）の下部に配置されると共に、この長孔内に接
続用コネクタとして異方性導電ゴムが配置される請求項
１または２のディスプレイ検査ジグ。3. The connector arranging portion (22) is an elongated hole penetrating vertically, and the wiring board (5) is arranged below the holding block (2) and connected in the elongated hole. 3. The display inspection jig according to claim 1, wherein an anisotropic conductive rubber is arranged as the connector for the display.
を有し、かつその両側部の下面側には端子が所定間隔で
配列している請求項１〜３のいずれかのディスプレイ検
査ジグ。4. The display inspection jig according to claim 1, wherein the device to be measured has a flat rectangular outer shape, and terminals are arranged at predetermined intervals on lower surfaces on both sides thereof. .
流が５０mA／mm2 以上である請求項１〜４のいずれかの
ディスプレイ検査ジグ。5. The display inspection jig according to claim 1, wherein said anisotropic conductive rubber has an allowable current of a conductive layer of 50 mA / mm 2 or more.
子の端子に対応して配列された複数の弾性を有する接点
金属（６）が前記配線基板（５ａ）と一体化している接
続用コネクタを有し、かつこの接続用コネクタが被測定
素子の両端子側にそれぞれ形成されているコネクタ配置
部（８４，８７，８８）に配置されている請求項１〜５
のいずれかのディスプレイ検査ジグ。6. A connection in which a plurality of resilient contact metals (6) arranged corresponding to terminals of a device under test are integrated with the wiring board (5a) in the element placement section (21). 6. The connector according to claim 1, further comprising a connector for connection, wherein said connector for connection is arranged in a connector arrangement portion (84, 87, 88) formed on both terminal sides of the device under test.
Any of the display inspection jigs.
ク（３）とは位置決め機構（２３，３４）により位置決
め固定される請求項１〜６のいずれかのディスプレイ検
査ジグ。7. The display inspection jig according to claim 1, wherein the holding block (2) and the fixed block (3) are positioned and fixed by a positioning mechanism (23, 34).
ロック（２）および固定ブロック（３）は前記係止機構
（４）により支持台（１）上に一体として固定される請
求項１〜７のいずれかのディスプレイ検査ジグ。8. The apparatus further comprising a support (1), wherein the holding block (2) and the fixed block (3) are integrally fixed on the support (1) by the locking mechanism (4). A display inspection jig according to any one of 1 to 7.
着するための取り付け部を有する請求項１〜８のいずれ
かのディスプレイ検査ジグ。9. The display inspection jig according to claim 1, wherein said support base has a mounting portion for mounting on a viewing angle measuring device.
る請求項１〜９のいずれかのディスプレイ検査ジグ。10. The display inspection jig according to claim 1, wherein the support (1) has a measurement circuit therein.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10052963A JPH11237308A (en) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | Display inspection jig |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10052963A JPH11237308A (en) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | Display inspection jig |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11237308A true JPH11237308A (en) | 1999-08-31 |
Family
ID=12929555
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10052963A Withdrawn JPH11237308A (en) | 1998-02-18 | 1998-02-18 | Display inspection jig |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11237308A (en) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101404662B1 (en) * | 2014-03-05 | 2014-06-09 | 주식회사 에스피텍 | Gripper device for equipments inspecting display panels |
| WO2014170961A1 (en) * | 2013-04-16 | 2014-10-23 | タカノ株式会社 | Device and method for inspecting light emission panel |
| KR101457199B1 (en) * | 2014-08-22 | 2014-10-31 | (주)청공정밀 | Testing system of image display device and Test Jig used therein |
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-
1998
- 1998-02-18 JP JP10052963A patent/JPH11237308A/en not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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