JPH11232139A - 故障監視システム - Google Patents
故障監視システムInfo
- Publication number
- JPH11232139A JPH11232139A JP10164201A JP16420198A JPH11232139A JP H11232139 A JPH11232139 A JP H11232139A JP 10164201 A JP10164201 A JP 10164201A JP 16420198 A JP16420198 A JP 16420198A JP H11232139 A JPH11232139 A JP H11232139A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- monitoring
- evaluation unit
- diagnostic
- monitoring points
- subsystem
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3006—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system is distributed, e.g. networked systems, clusters, multiprocessor systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0706—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
- G06F11/0709—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment in a distributed system consisting of a plurality of standalone computer nodes, e.g. clusters, client-server systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/0703—Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
- G06F11/0751—Error or fault detection not based on redundancy
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3013—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system is an embedded system, i.e. a combination of hardware and software dedicated to perform a certain function in mobile devices, printers, automotive or aircraft systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3058—Monitoring arrangements for monitoring environmental properties or parameters of the computing system or of the computing system component, e.g. monitoring of power, currents, temperature, humidity, position, vibrations
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31907—Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G06F11/2736—Tester hardware, i.e. output processing circuits using a dedicated service processor for test
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3048—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the topology of the computing system or computing system component explicitly influences the monitoring activity, e.g. serial, hierarchical systems
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3065—Monitoring arrangements determined by the means or processing involved in reporting the monitored data
- G06F11/3072—Monitoring arrangements determined by the means or processing involved in reporting the monitored data where the reporting involves data filtering, e.g. pattern matching, time or event triggered, adaptive or policy-based reporting
- G06F11/3082—Monitoring arrangements determined by the means or processing involved in reporting the monitored data where the reporting involves data filtering, e.g. pattern matching, time or event triggered, adaptive or policy-based reporting the data filtering being achieved by aggregating or compressing the monitored data
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】複合システムにおいて発生する故障の検出を改
善する。 【解決手段】複合システムはそのシステムの１つあるい
はそれ以上のサブシステム内にそれぞれ設けられた１つ
あるいはそれ以上の診断モジュールを用いて、あらかじ
め定められる監視点でほぼ永続的に監視される。この診
断モジュールは、その測定結果を、かかるサブシステム
すなわちかかるシステムに対する所定のパラメータおよ
び特性を評価する評価ユニットに供給する。
善する。 【解決手段】複合システムはそのシステムの１つあるい
はそれ以上のサブシステム内にそれぞれ設けられた１つ
あるいはそれ以上の診断モジュールを用いて、あらかじ
め定められる監視点でほぼ永続的に監視される。この診
断モジュールは、その測定結果を、かかるサブシステム
すなわちかかるシステムに対する所定のパラメータおよ
び特性を評価する評価ユニットに供給する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は一般的にはデータ処
理用の複合システムにおける故障の発見に関する。
理用の複合システムにおける故障の発見に関する。
【０００２】
【従来の技術】複合システム、すなわち複数のサブシス
テムを有するシステムにおける故障の発見は一般的に困
難である。これはさまざまなサブシステムに複数の理解
しにくい困難な故障が存在する可能性があり、かかる故
障が異なる形態で現われる可能性があるためである。シ
ステムが完全に動作不能になるといった明らかな故障は
システムのユーザーによって容易に検出可能である。し
かし、システムあるいはサブシステムの内部パラメータ
が変化しそれがシステム全体に影響を与える場合、これ
は外部から、すなわちユーザーによって検出されない場
合がある。かかる故障はその影響によってのみ判明し、
熟練したユーザー、特段の指示を受けた人員、あるいは
固有の検査ルーチンによってのみ検出することができ
る。
テムを有するシステムにおける故障の発見は一般的に困
難である。これはさまざまなサブシステムに複数の理解
しにくい困難な故障が存在する可能性があり、かかる故
障が異なる形態で現われる可能性があるためである。シ
ステムが完全に動作不能になるといった明らかな故障は
システムのユーザーによって容易に検出可能である。し
かし、システムあるいはサブシステムの内部パラメータ
が変化しそれがシステム全体に影響を与える場合、これ
は外部から、すなわちユーザーによって検出されない場
合がある。かかる故障はその影響によってのみ判明し、
熟練したユーザー、特段の指示を受けた人員、あるいは
固有の検査ルーチンによってのみ検出することができ
る。
【０００３】１つのサブシステム内に発生する故障の中
には、例えばそのサブシステムのみが動作不能になると
いったように、そのサブシステム自体にしか影響しない
ものがある。しかし、１つのサブシステムに発生する故
障が他のサブシステムしたがってシステム全体に影響を
及ぼす場合がある。
には、例えばそのサブシステムのみが動作不能になると
いったように、そのサブシステム自体にしか影響しない
ものがある。しかし、１つのサブシステムに発生する故
障が他のサブシステムしたがってシステム全体に影響を
及ぼす場合がある。
【０００４】特に故障に影響されやすいシステムの例と
しては、ＩＣテスター等の自動試験装置（ＡＴＥ）ある
いは製品の光学的認識を行なう仕分け／梱包機械等があ
る。１つのサブシステムの欠陥あるいは故障によって、
ＡＴＥシステム全体に対して、試験結果に誤りが生じ、
被試験装置（ＤＵＴ）の実際の状態が表わされないとい
った影響が生じる場合がある。その結果、ＤＵＴの歩留
りの低下を招くことがあり、また正常に機能している部
品が故障として選別されたり、その逆が生じる場合があ
る。
しては、ＩＣテスター等の自動試験装置（ＡＴＥ）ある
いは製品の光学的認識を行なう仕分け／梱包機械等があ
る。１つのサブシステムの欠陥あるいは故障によって、
ＡＴＥシステム全体に対して、試験結果に誤りが生じ、
被試験装置（ＤＵＴ）の実際の状態が表わされないとい
った影響が生じる場合がある。その結果、ＤＵＴの歩留
りの低下を招くことがあり、また正常に機能している部
品が故障として選別されたり、その逆が生じる場合があ
る。
【０００５】複合システム内の故障は通常当該技術分野
においてはそのシステムの機能を監視する固有の診断ル
ーチンによって検出される。かかる診断ルーチンは通常
所定のサービス期間あるいはメンテナンス期間中あるい
はシステムの使用前に開始される。かかる診断ルーチン
の実行はユーザーによって開始される。あるいはシステ
ムによって自動的かつ定期的に開始される場合もある。
システムの有効使用時間は診断ルーチンの実行に要する
時間によって短くなる。システムを生産あるいは試験の
目的に使用する場合、診断ルーチンの実行に要する時間
によってシステムによって生産あるいは試験される装置
のコストが上昇する場合がある。さらに、システムの動
作中に発生する故障が認識されず、不良品が連続して発
生する可能性がある。
においてはそのシステムの機能を監視する固有の診断ル
ーチンによって検出される。かかる診断ルーチンは通常
所定のサービス期間あるいはメンテナンス期間中あるい
はシステムの使用前に開始される。かかる診断ルーチン
の実行はユーザーによって開始される。あるいはシステ
ムによって自動的かつ定期的に開始される場合もある。
システムの有効使用時間は診断ルーチンの実行に要する
時間によって短くなる。システムを生産あるいは試験の
目的に使用する場合、診断ルーチンの実行に要する時間
によってシステムによって生産あるいは試験される装置
のコストが上昇する場合がある。さらに、システムの動
作中に発生する故障が認識されず、不良品が連続して発
生する可能性がある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は複合システム
において発生する故障の検出を改善することを目的とす
る。
において発生する故障の検出を改善することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、複合シ
ステムはそのシステムの１つあるいはそれ以上のサブシ
ステム内にそれぞれ設けられた１つあるいはそれ以上の
診断モジュールを用いて、あらかじめ定められる監視点
でほぼ永続的に監視される。この診断モジュールは、そ
の測定結果を、かかるサブシステムすなわちかかるシス
テムに対する所定のパラメータおよび特性を評価する評
価ユニットに供給する。
ステムはそのシステムの１つあるいはそれ以上のサブシ
ステム内にそれぞれ設けられた１つあるいはそれ以上の
診断モジュールを用いて、あらかじめ定められる監視点
でほぼ永続的に監視される。この診断モジュールは、そ
の測定結果を、かかるサブシステムすなわちかかるシス
テムに対する所定のパラメータおよび特性を評価する評
価ユニットに供給する。
【０００８】「ほぼ永続的に監視する」とは、ここでは
監視がシステム内で実行される他のプログラム、事象、
タスク等にほぼ並行して実行され、または、それらから
独立して実行されることを意味する。しかし、本発明に
よる監視および評価は、システム内の可能な実行時間の
制約条件を改善するために、システム内で実行される他
のプログラムあるいはタスクに対してその実行の優先順
位を低くする場合もあれば高くする場合もある。システ
ム全体あるいはそれぞれのサブシステムが待機モードで
動作中である場合、監視が続行されることが好適であ
り、システム全体あるいはそれぞれのサブシステムがオ
フされている、すなわち切断モードである場合、システ
ム全体あるいはそれぞれのサブシステムにおける監視は
継続せず、オフするすなわち切断することが好適であ
る。このため、監視は好適には監視用の別個の電源によ
って駆動される。
監視がシステム内で実行される他のプログラム、事象、
タスク等にほぼ並行して実行され、または、それらから
独立して実行されることを意味する。しかし、本発明に
よる監視および評価は、システム内の可能な実行時間の
制約条件を改善するために、システム内で実行される他
のプログラムあるいはタスクに対してその実行の優先順
位を低くする場合もあれば高くする場合もある。システ
ム全体あるいはそれぞれのサブシステムが待機モードで
動作中である場合、監視が続行されることが好適であ
り、システム全体あるいはそれぞれのサブシステムがオ
フされている、すなわち切断モードである場合、システ
ム全体あるいはそれぞれのサブシステムにおける監視は
継続せず、オフするすなわち切断することが好適であ
る。このため、監視は好適には監視用の別個の電源によ
って駆動される。
【０００９】本発明に係るシステムは複数のサブシステ
ムを備え、前記複数のサブシステムのうち少なくとも１
つはそのサブシステムの特定のパラメータに関係し、そ
れを表わす１つあるいはそれ以上の監視点を有し、前記
１つあるいはそれ以上の監視点はそれぞれその監視点を
ほぼ永続的に監視する対応する診断モジュールに接続さ
れる。各診断モジュールには評価ユニットが接続され、
各監視点に関する情報を受け取り、システム内のパラメ
ータおよび特性を記述するために受け取った情報を評価
する。
ムを備え、前記複数のサブシステムのうち少なくとも１
つはそのサブシステムの特定のパラメータに関係し、そ
れを表わす１つあるいはそれ以上の監視点を有し、前記
１つあるいはそれ以上の監視点はそれぞれその監視点を
ほぼ永続的に監視する対応する診断モジュールに接続さ
れる。各診断モジュールには評価ユニットが接続され、
各監視点に関する情報を受け取り、システム内のパラメ
ータおよび特性を記述するために受け取った情報を評価
する。
【００１０】本発明にかかるシステム内の故障を発見す
るための本発明に係る方法は、各監視点をほぼ永続的に
監視するステップ、各診断モジュールから各監視点に関
する情報を受け取るステップ、およびシステム内のパラ
メータおよび特性を記述するために受け取った情報を評
価するステップを含む。
るための本発明に係る方法は、各監視点をほぼ永続的に
監視するステップ、各診断モジュールから各監視点に関
する情報を受け取るステップ、およびシステム内のパラ
メータおよび特性を記述するために受け取った情報を評
価するステップを含む。
【００１１】本発明は好適には自動試験システムに用い
られる。
られる。
【００１２】あらかじめ定められる監視点は、対応する
サブシステムの機能ひいてはシステム全体の機能に関係
し、それを表わすものとして選択されなければならな
い。診断モジュールは好適にはそれぞれの診断モジュー
ルを評価ユニットに接続する通信チャンネルによって結
合される。
サブシステムの機能ひいてはシステム全体の機能に関係
し、それを表わすものとして選択されなければならな
い。診断モジュールは好適にはそれぞれの診断モジュー
ルを評価ユニットに接続する通信チャンネルによって結
合される。
【００１３】評価ユニットは好適にはほぼ永続的に、ま
たシステム内で実行される他のプログラムあるいはタス
クと並行して実行されるソフトウエアプログラムであ
る。
たシステム内で実行される他のプログラムあるいはタス
クと並行して実行されるソフトウエアプログラムであ
る。
【００１４】
【発明の実施の形態】図１にはＡＴＥシステム１０にお
ける本発明の実施態様を示す。システム１０は複数のサ
ブシステム２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃその他からなる。Ｉ
Ｃテスターの用途においては、サブシステム２０Ａ、２
０Ｂ、２０Ｃその他は例えば冷却装置、電力制御回路、
クロック発生回路その他とすることができる。
ける本発明の実施態様を示す。システム１０は複数のサ
ブシステム２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃその他からなる。Ｉ
Ｃテスターの用途においては、サブシステム２０Ａ、２
０Ｂ、２０Ｃその他は例えば冷却装置、電力制御回路、
クロック発生回路その他とすることができる。
【００１５】サブシステム２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃその
他はそれぞれそのサブシステムの特定のパラメータに関
係しそれを表わす１つあるいはそれ以上の監視点からな
る。図１に示す例では、サブシステム２０Ａは第１の監
視点Ａ１および第２の監視点Ａ２を備える。サブシステ
ム２０Ｂは監視点を備えず、サブシステム２０Ｃは１つ
の監視点Ｃ１を備える。１つのサブシステム内の監視点
の数はそのサブシステムの機能と複雑性に加えて全シス
テム１０内でのそのサブシステムの機能によっても決ま
る。
他はそれぞれそのサブシステムの特定のパラメータに関
係しそれを表わす１つあるいはそれ以上の監視点からな
る。図１に示す例では、サブシステム２０Ａは第１の監
視点Ａ１および第２の監視点Ａ２を備える。サブシステ
ム２０Ｂは監視点を備えず、サブシステム２０Ｃは１つ
の監視点Ｃ１を備える。１つのサブシステム内の監視点
の数はそのサブシステムの機能と複雑性に加えて全シス
テム１０内でのそのサブシステムの機能によっても決ま
る。
【００１６】監視点Ａ１、Ａ２、Ｃ１その他はそれぞれ
対応する監視点をほぼ永続的に監視する対応する診断モ
ジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他に接続さ
れている。各診断モジュールは一般的には他の診断モジ
ュールからは独立して動作する。システム１０が故障し
た場合、診断モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１
その他は好適には機能する状態に維持される。また、そ
れぞれの診断モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１
その他は互いに通信し、データを共用することができ
る。
対応する監視点をほぼ永続的に監視する対応する診断モ
ジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他に接続さ
れている。各診断モジュールは一般的には他の診断モジ
ュールからは独立して動作する。システム１０が故障し
た場合、診断モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１
その他は好適には機能する状態に維持される。また、そ
れぞれの診断モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１
その他は互いに通信し、データを共用することができ
る。
【００１７】システム１０がＩＣテスターであり、サブ
システムが冷却装置、電力制御回路、クロック発生回路
その他である場合、それぞれの監視点は水温および水
圧、一次電圧および二次電圧、クロック周波数およびバ
スの終端、その他を表わす。
システムが冷却装置、電力制御回路、クロック発生回路
その他である場合、それぞれの監視点は水温および水
圧、一次電圧および二次電圧、クロック周波数およびバ
スの終端、その他を表わす。
【００１８】図１に戻って、診断モジュール２５Ａ１、
２５Ａ２、２５Ｃ１その他（したがって監視点Ａ１、Ａ
２、Ｃ１その他）は通信チャンネル３０を介して評価ユ
ニット４０に接続されている。評価ユニット４０はシス
テム１０の一部とすることもでき、また独立したユニッ
トとして別に設けることもできる。評価ユニット４０は
好適には監視点Ａ１、Ａ２、Ｃ１その他に対してデータ
の要求および／または自動的受信を行なうことによって
それらを永続的に監視するソフトウエアプログラムによ
って制御される。
２５Ａ２、２５Ｃ１その他（したがって監視点Ａ１、Ａ
２、Ｃ１その他）は通信チャンネル３０を介して評価ユ
ニット４０に接続されている。評価ユニット４０はシス
テム１０の一部とすることもでき、また独立したユニッ
トとして別に設けることもできる。評価ユニット４０は
好適には監視点Ａ１、Ａ２、Ｃ１その他に対してデータ
の要求および／または自動的受信を行なうことによって
それらを永続的に監視するソフトウエアプログラムによ
って制御される。
【００１９】一実施形態において、診断モジュール２５
Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他はそれぞれ通信チャン
ネル３０を介してその診断モジュールが依然動作可能で
あるか否かに関する信号を所定の時間間隔をおいて周期
的に発する。評価ユニットおよび通信チャンネル３０に
接続された他のそれぞれの機能ユニットは対応する診断
モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他から
「生存信号」を受信し、それから結論を導くことができ
る。１つの診断モジュールが完全にあるいは部分的に動
作不能である場合、評価ユニット４０はシステム１０の
ユーザーにこの事象を示す信号を発する。
Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他はそれぞれ通信チャン
ネル３０を介してその診断モジュールが依然動作可能で
あるか否かに関する信号を所定の時間間隔をおいて周期
的に発する。評価ユニットおよび通信チャンネル３０に
接続された他のそれぞれの機能ユニットは対応する診断
モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他から
「生存信号」を受信し、それから結論を導くことができ
る。１つの診断モジュールが完全にあるいは部分的に動
作不能である場合、評価ユニット４０はシステム１０の
ユーザーにこの事象を示す信号を発する。
【００２０】一実施形態において、診断モジュール２５
Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他は監視点Ａ１、Ａ２、
Ｃ１その他のハードウエアによる実施を制御する対応す
るマイクロコントローラ（μＣ）からなる。各マイクロ
コントローラはまた、サブシステム２０Ａ、２０Ｂ、２
０Ｃその他の診断モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５
Ｃ１その他の間での通信およびデータの共用を可能とす
る。また、各診断モジュールのマイクロコントローラは
特定の通信プロトコルを用いてシステム１０内の他の診
断モジュールが依然機能しているかどうかをチェックす
る。
Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他は監視点Ａ１、Ａ２、
Ｃ１その他のハードウエアによる実施を制御する対応す
るマイクロコントローラ（μＣ）からなる。各マイクロ
コントローラはまた、サブシステム２０Ａ、２０Ｂ、２
０Ｃその他の診断モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５
Ｃ１その他の間での通信およびデータの共用を可能とす
る。また、各診断モジュールのマイクロコントローラは
特定の通信プロトコルを用いてシステム１０内の他の診
断モジュールが依然機能しているかどうかをチェックす
る。
【００２１】システム１０がＩＣテスターであり、サブ
システムが冷却装置、電力制御回路、クロック発生回路
その他であり、それぞれの監視点が水温および水圧、一
次および二次電圧、クロック周波数およびバス終端その
他表わす場合、それぞれの診断モジュール２５Ａ１、２
５Ａ２、２５Ｃ１その他は例えば対応する水路ループ内
の水温および水圧を測定し、異なるハードウエアサブシ
ステムに必要な電圧および電流を測定し、システム全体
に供給されるクロック信号を測定する。
システムが冷却装置、電力制御回路、クロック発生回路
その他であり、それぞれの監視点が水温および水圧、一
次および二次電圧、クロック周波数およびバス終端その
他表わす場合、それぞれの診断モジュール２５Ａ１、２
５Ａ２、２５Ｃ１その他は例えば対応する水路ループ内
の水温および水圧を測定し、異なるハードウエアサブシ
ステムに必要な電圧および電流を測定し、システム全体
に供給されるクロック信号を測定する。
【００２２】通信チャンネル３０はコントローラエリア
ネットワーク（ＣＡＮ）等の工業規格バスとして実施す
ることができる。これによって低コストで、高い信頼性
を有し、簡単な通信チャンネル３０を構成することがで
きる。ほとんどのＰＣおよびワークステーションコンピ
ュータは一般的にＣＡＮインターフェースを備えていな
いため、各診断モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ
１その他との通信および診断モジュール間の通信は専用
の通信コントローラ５０によって制御することができ、
この通信コントローラは標準のＲＳ２３２インターフェ
ースを介してそれぞれのデータを送信する。
ネットワーク（ＣＡＮ）等の工業規格バスとして実施す
ることができる。これによって低コストで、高い信頼性
を有し、簡単な通信チャンネル３０を構成することがで
きる。ほとんどのＰＣおよびワークステーションコンピ
ュータは一般的にＣＡＮインターフェースを備えていな
いため、各診断モジュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ
１その他との通信および診断モジュール間の通信は専用
の通信コントローラ５０によって制御することができ、
この通信コントローラは標準のＲＳ２３２インターフェ
ースを介してそれぞれのデータを送信する。
【００２３】監視点Ａ１、Ａ２、Ｃ１その他、診断モジ
ュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他、および評
価ユニット４０等のシステム１０の監視のための各要素
は、システム１０内の他の機能ユニットからはほぼ独立
しており、したがってシステム１０に対するその影響度
は最小限である。
ュール２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１その他、および評
価ユニット４０等のシステム１０の監視のための各要素
は、システム１０内の他の機能ユニットからはほぼ独立
しており、したがってシステム１０に対するその影響度
は最小限である。
【００２４】一実施形態において、評価ユニット４０は
評価ユニット４０が故障の発生を観測したとき、あるい
はシステム１０の観測されたパラメータのドリフトの傾
向がある場合、線６０上に信号を発する信号発生ユニッ
ト（図示せず）を有する。
評価ユニット４０が故障の発生を観測したとき、あるい
はシステム１０の観測されたパラメータのドリフトの傾
向がある場合、線６０上に信号を発する信号発生ユニッ
ト（図示せず）を有する。
【００２５】実施形態の詳細な例を以下に示すが、ここ
ではシステム１０はＩＣテスターであり、サブシステム
２０Ａは電力制御回路として実施される。監視点Ａ１は
診断モジュール２５Ａ１内のマイクロコントローラ（μ
Ｃ）に制御されてシステム１０の一次電圧を測定する外
部のアナログ／デジタル変換器（ＡＤＣ）である。監視
点Ａ２はシステム１０内の通信バスの終端電圧を測定す
る試験点である。監視点Ａ２は診断モジュール２５Ａ２
内に配置されたマイクロコントローラの内部ＡＤＣに直
接接続されている。
ではシステム１０はＩＣテスターであり、サブシステム
２０Ａは電力制御回路として実施される。監視点Ａ１は
診断モジュール２５Ａ１内のマイクロコントローラ（μ
Ｃ）に制御されてシステム１０の一次電圧を測定する外
部のアナログ／デジタル変換器（ＡＤＣ）である。監視
点Ａ２はシステム１０内の通信バスの終端電圧を測定す
る試験点である。監視点Ａ２は診断モジュール２５Ａ２
内に配置されたマイクロコントローラの内部ＡＤＣに直
接接続されている。
【００２６】サブシステム２０Ｃは冷却装置として実施
され、診断モジュール２５Ｃ１（温度センサー）は監視
点Ｃ１における水温を監視する。監視点Ｃ１からの信号
は診断モジュール２５Ｃ１内に設けられるマイクロコン
トローラに供給される。診断モジュール２５Ａ１、２５
Ａ２および２５Ｃ１内に配置されたすべてのマイクロコ
ントローラはＣＡＮネットワークを用いて通信コントロ
ーラ５０に接続される。通信コントローラ５０はＲＳ２
３２インターフェースを用いて評価ユニット４０（Ｕｎ
ｉｘワークステーションあるいはＰＣ）に接続される。
され、診断モジュール２５Ｃ１（温度センサー）は監視
点Ｃ１における水温を監視する。監視点Ｃ１からの信号
は診断モジュール２５Ｃ１内に設けられるマイクロコン
トローラに供給される。診断モジュール２５Ａ１、２５
Ａ２および２５Ｃ１内に配置されたすべてのマイクロコ
ントローラはＣＡＮネットワークを用いて通信コントロ
ーラ５０に接続される。通信コントローラ５０はＲＳ２
３２インターフェースを用いて評価ユニット４０（Ｕｎ
ｉｘワークステーションあるいはＰＣ）に接続される。
【００２７】診断モジュール２５Ａ２によって監視点Ａ
２で測定された終端電圧が変化し、電圧の上限あるいは
下限を超える場合、他の診断モジュール２５Ａ１および
２５Ｃ１および通信コントローラ５０に故障が報告さ
れ、通信モジュール５０はこの故障状態を評価ユニット
４０に送信する。診断モジュール２５Ａ１および２５Ｃ
１はそれらの監視点Ａ１およびＣ１からの値（一次電圧
および水温）を得て、この情報をラッチする。その後、
評価ユニット４０が故障状態の再現および評価を行なう
ためにすべてのデータを要求する。故障は線６０上に信
号を発生することによってＩＣテスターのユーザーに報
告される。
２で測定された終端電圧が変化し、電圧の上限あるいは
下限を超える場合、他の診断モジュール２５Ａ１および
２５Ｃ１および通信コントローラ５０に故障が報告さ
れ、通信モジュール５０はこの故障状態を評価ユニット
４０に送信する。診断モジュール２５Ａ１および２５Ｃ
１はそれらの監視点Ａ１およびＣ１からの値（一次電圧
および水温）を得て、この情報をラッチする。その後、
評価ユニット４０が故障状態の再現および評価を行なう
ためにすべてのデータを要求する。故障は線６０上に信
号を発生することによってＩＣテスターのユーザーに報
告される。
【００２８】以上、本発明の実施例について詳述した
が、以下、本発明の各実施態様の例を示す。
が、以下、本発明の各実施態様の例を示す。
【００２９】（実施態様１）複数のサブシステム（２０
Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ）を有するシステム（１０）であっ
て、前記複数のサブシステム（２０Ａ、２０Ｂ、２０
Ｃ）のうち少なくとも１つ（２０Ａ）はそのサブシステ
ム（２０Ａ）の特定のパラメータに関して、それを表わ
す１つあるいはそれ以上の監視点（Ａ１、Ａ２）を有
し、前記１つあるいはそれ以上の監視点（Ａ１、Ａ２、
Ｃ１）はそれぞれ、前記監視点（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）を
ほぼ永続的に監視する対応する診断モジュール（２５Ａ
１、２５Ａ２、２５Ｃ１）に接続され、各診断モジュー
ル（２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１）には評価ユニット
（４０）が接続され、各監視点（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）に
関する情報を受け取り、システム内のパラメータおよび
特性に関する結論を導くために前記受け取った情報を評
価することを特徴とするシステム。
Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ）を有するシステム（１０）であっ
て、前記複数のサブシステム（２０Ａ、２０Ｂ、２０
Ｃ）のうち少なくとも１つ（２０Ａ）はそのサブシステ
ム（２０Ａ）の特定のパラメータに関して、それを表わ
す１つあるいはそれ以上の監視点（Ａ１、Ａ２）を有
し、前記１つあるいはそれ以上の監視点（Ａ１、Ａ２、
Ｃ１）はそれぞれ、前記監視点（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）を
ほぼ永続的に監視する対応する診断モジュール（２５Ａ
１、２５Ａ２、２５Ｃ１）に接続され、各診断モジュー
ル（２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１）には評価ユニット
（４０）が接続され、各監視点（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）に
関する情報を受け取り、システム内のパラメータおよび
特性に関する結論を導くために前記受け取った情報を評
価することを特徴とするシステム。
【００３０】（実施態様２）前記１つあるいはそれ以上
の監視点（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）はそれぞれ、対応するサ
ブシステム（２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ）の機能および／
または前記システム（１０）全体の機能に関係し、それ
を表わすことを特徴とする実施態様１記載のシステム。
の監視点（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）はそれぞれ、対応するサ
ブシステム（２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ）の機能および／
または前記システム（１０）全体の機能に関係し、それ
を表わすことを特徴とする実施態様１記載のシステム。
【００３１】（実施態様３）各診断モジュール（２５Ａ
１、２５Ａ２、２５Ｃ１）は通信チャンネル（３０）に
よって前記評価ユニット（４０）に結合されていること
を特徴とする実施態様１または２記載のシステム。
１、２５Ａ２、２５Ｃ１）は通信チャンネル（３０）に
よって前記評価ユニット（４０）に結合されていること
を特徴とする実施態様１または２記載のシステム。
【００３２】（実施態様４）前記評価ユニット（４０）
はほぼ永続的に、また前記システム（１０）内で実行さ
れる他のプログラムあるいはタスクと並行して実行され
るソフトウエアプログラムによって制御されることを特
徴とする実施態様１ないし３のいずれかに記載のシステ
ム。
はほぼ永続的に、また前記システム（１０）内で実行さ
れる他のプログラムあるいはタスクと並行して実行され
るソフトウエアプログラムによって制御されることを特
徴とする実施態様１ないし３のいずれかに記載のシステ
ム。
【００３３】（実施態様５）前記評価ユニット（４０）
は前記評価ユニット（４０）が故障の発生を観測する場
合、あるいは前記システム（１０）の観測されたパラメ
ータがドリフトする傾向があるとき、信号を発生する
（６０）信号発生ユニットを有することを特徴とする実
施態様１ないし４のいずれかに記載のシステム。
は前記評価ユニット（４０）が故障の発生を観測する場
合、あるいは前記システム（１０）の観測されたパラメ
ータがドリフトする傾向があるとき、信号を発生する
（６０）信号発生ユニットを有することを特徴とする実
施態様１ないし４のいずれかに記載のシステム。
【００３４】（実施態様６）自動試験装置システム内で
上記のいずれかの実施態様に記載のシステムを用いた自
動試験装置システム。
上記のいずれかの実施態様に記載のシステムを用いた自
動試験装置システム。
【００３５】（実施態様７）前記システムは自動試験装
置であることを特徴とする実施態様１ないし５のいずれ
かに記載のシステム。
置であることを特徴とする実施態様１ないし５のいずれ
かに記載のシステム。
【００３６】（実施態様８）複数のサブシステム（２０
Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ）を有するシステムで故障を発見す
る方法において、前記複数のサブシステム（２０Ａ、２
０Ｂ、２０Ｃ）のうち少なくとも１つ（２０Ａ）はその
サブシステム（２０Ａ）の特定のパラメータに関係し、
それを表わす１つあるいはそれ以上の監視点（Ａ１、Ａ
２）を有し、前記１つあるいはそれ以上の監視点（Ａ
１、Ａ２、Ｃ１）はそれぞれ、前記監視点（Ａ１、Ａ
２、Ｃ１）をほぼ永続的に監視する対応する診断モジュ
ール（２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１）に接続され、各
診断モジュール（２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１）には
評価ユニット（４０）が接続され、ほぼ永続的に前記対
応する監視点（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）を監視し、各監視点
（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）に関する各対応する診断モジュー
ル（２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１）からの情報を受け
取り、システム内のパラメータおよび特性に関する結論
を導くために前記受け取った情報を評価するステップを
含むシステム。
Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ）を有するシステムで故障を発見す
る方法において、前記複数のサブシステム（２０Ａ、２
０Ｂ、２０Ｃ）のうち少なくとも１つ（２０Ａ）はその
サブシステム（２０Ａ）の特定のパラメータに関係し、
それを表わす１つあるいはそれ以上の監視点（Ａ１、Ａ
２）を有し、前記１つあるいはそれ以上の監視点（Ａ
１、Ａ２、Ｃ１）はそれぞれ、前記監視点（Ａ１、Ａ
２、Ｃ１）をほぼ永続的に監視する対応する診断モジュ
ール（２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１）に接続され、各
診断モジュール（２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１）には
評価ユニット（４０）が接続され、ほぼ永続的に前記対
応する監視点（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）を監視し、各監視点
（Ａ１、Ａ２、Ｃ１）に関する各対応する診断モジュー
ル（２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１）からの情報を受け
取り、システム内のパラメータおよび特性に関する結論
を導くために前記受け取った情報を評価するステップを
含むシステム。
【００３７】（実施態様９）前記のステップがほぼ永続
的かつ平行に、前記システム内の他の実行中のプログラ
ムまたはタスクに対して実行されることを特徴とする実
施態様８に記載の方法。
的かつ平行に、前記システム内の他の実行中のプログラ
ムまたはタスクに対して実行されることを特徴とする実
施態様８に記載の方法。
【００３８】（実施態様１０）前記評価ユニット（４
０）が故障の発生を観測した場合、または前記システム
（１０）の観測されたパラメータのドリフト傾向がある
ときには、信号を発するステップ（６０）を含むことを
特徴とする実施態様８又は９に記載の方法。
０）が故障の発生を観測した場合、または前記システム
（１０）の観測されたパラメータのドリフト傾向がある
ときには、信号を発するステップ（６０）を含むことを
特徴とする実施態様８又は９に記載の方法。
【００３９】（実施態様１１）自動試験装置システム内
で実施態様1ない5のいずれかに記載のシステムを用いる
方法。
で実施態様1ない5のいずれかに記載のシステムを用いる
方法。
【００４０】
【発明の効果】以上のように、本発明はシステムの使用
に悪影響を与えることなくシステムパラメータの永続的
な監視および観察を行なうことを可能にする。故障が発
生する場合、あるいは観察されたシステムパラメータが
ドリフトする傾向がある場合、システムのユーザーはシ
ステムの通常動作中に評価ユニットからその通知を受け
ることができる。
に悪影響を与えることなくシステムパラメータの永続的
な監視および観察を行なうことを可能にする。故障が発
生する場合、あるいは観察されたシステムパラメータが
ドリフトする傾向がある場合、システムのユーザーはシ
ステムの通常動作中に評価ユニットからその通知を受け
ることができる。
【００４１】本発明はさらに、評価ユニットによってパ
ラメータのドリフトあるいは故障が観察されない場合、
システムの所期の検査サイクルを延期あるいは中断する
ことを可能とする。これによってシステムの検査間隔が
長くなり、したがってシステムの有効使用時間が増大
し、システムのメンテナンスおよび検査に要する経費が
低減される。
ラメータのドリフトあるいは故障が観察されない場合、
システムの所期の検査サイクルを延期あるいは中断する
ことを可能とする。これによってシステムの検査間隔が
長くなり、したがってシステムの有効使用時間が増大
し、システムのメンテナンスおよび検査に要する経費が
低減される。
【００４２】その結果、システムの信頼性およびシステ
ムの作業結果を大幅に改善することができる。
ムの作業結果を大幅に改善することができる。
【００４３】特にＡＴＥシステムにおいては、本発明は
それぞれの試験を高い信頼性で実行することを可能とす
る。実行すべき試験に関する結論を得るためには監視点
の選択には注意を要する。
それぞれの試験を高い信頼性で実行することを可能とす
る。実行すべき試験に関する結論を得るためには監視点
の選択には注意を要する。
【図１】ＡＴＥシステムにおける本発明の実施態様を示
す図である。
す図である。
１０：ＡＴＥシステム ２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ：サブシステム ２５Ａ１、２５Ａ２、２５Ｃ１：診断モジュール ３０：通信チャンネル ４０：評価ユニット ５０：通信コントローラ ６０：線 Ａ１、Ａ２、Ｃ１：監視点
Claims (1)
- 【請求項１】複数のサブシステムを有するシステムであ
って、 前記複数のサブシステムのうち少なくとも１つはそのサ
ブシステムの特定のパラメータに関して、それを表わす
１つあるいはそれ以上の監視点を有し、 前記１つあるいはそれ以上の監視点はそれぞれ、前記監
視点をほぼ永続的に監視する対応する診断モジュールに
接続され、 各診断モジュールには評価ユニットが接続され、各監視
点に関する情報を受け取り、システム内のパラメータお
よび特性に関する結論を導くために前記受け取った情報
を評価することを特徴とするシステム。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP97108614 | 1997-05-28 | ||
| EP97112332A EP0881572B1 (en) | 1997-05-28 | 1997-07-18 | Permanent failure monitoring in complex systems |
| DE97108614.5 | 1997-07-18 | ||
| DE97112332.8 | 1997-07-18 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11232139A true JPH11232139A (ja) | 1999-08-27 |
Family
ID=26145487
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10164201A Pending JPH11232139A (ja) | 1997-05-28 | 1998-05-28 | 故障監視システム |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6216243B1 (ja) |
| EP (1) | EP0881572B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11232139A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6477486B1 (en) * | 1998-09-10 | 2002-11-05 | Dell Usa, L.P. | Automatic location determination of devices under test |
| US6931572B1 (en) * | 1999-11-30 | 2005-08-16 | Synplicity, Inc. | Design instrumentation circuitry |
| DE102004042380A1 (de) * | 2004-09-02 | 2006-03-09 | Robert Bosch Gmbh | Datenbus-Interface für ein Steuergerät und Steuergerät mit einem Datenbus-Interface |
| CN103140814B (zh) * | 2010-10-11 | 2016-08-03 | 通用电气公司 | 用于检测冗余传感器信号中的移位的***、方法和设备 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0143623A3 (en) * | 1983-11-25 | 1987-09-23 | Mars Incorporated | Automatic test equipment |
| US5202639A (en) * | 1989-01-09 | 1993-04-13 | Schlumberger Technologies Limited | Method and apparatus for testing analogue circuits |
| US5081598A (en) * | 1989-02-21 | 1992-01-14 | Westinghouse Electric Corp. | Method for associating text in automatic diagnostic system to produce recommended actions automatically |
| US5127009A (en) * | 1989-08-29 | 1992-06-30 | Genrad, Inc. | Method and apparatus for circuit board testing with controlled backdrive stress |
| US5734567A (en) * | 1992-11-06 | 1998-03-31 | Siemens Aktiengesellschaft | Diagnosis system for a plant |
| US5566092A (en) * | 1993-12-30 | 1996-10-15 | Caterpillar Inc. | Machine fault diagnostics system and method |
| US5537052A (en) * | 1994-06-17 | 1996-07-16 | Emc Corporation | System and method for executing on board diagnostics and maintaining an event history on a circuit board |
| US5544308A (en) * | 1994-08-02 | 1996-08-06 | Giordano Automation Corp. | Method for automating the development and execution of diagnostic reasoning software in products and processes |
-
1997
- 1997-07-18 EP EP97112332A patent/EP0881572B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-03-30 US US09/050,505 patent/US6216243B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-05-28 JP JP10164201A patent/JPH11232139A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0881572B1 (en) | 2001-10-10 |
| US6216243B1 (en) | 2001-04-10 |
| EP0881572A2 (en) | 1998-12-02 |
| EP0881572A3 (en) | 1999-03-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5381417A (en) | Circuit testing system | |
| KR100727975B1 (ko) | 시스템 온 칩의 고장 진단 장치 및 방법과 고장 진단이가능한 시스템 온 칩 | |
| TWI757437B (zh) | 檢查系統、以及檢查系統之故障解析及預測方法 | |
| US20090282292A1 (en) | Methods, devices and computer program products for automatic fault identification in a network | |
| EP3640654B1 (en) | Self-test apparatuses involving distributed self-test controller circuits and methods thereof | |
| CN108957315A (zh) | 风力发电机组的故障诊断方法和设备 | |
| JPH11232139A (ja) | 故障監視システム | |
| CN111751694A (zh) | 微波半导体器件多处理器融合测控***、方法及测试仪 | |
| KR0164836B1 (ko) | 무선장비 자동 시험장치와 그 방법 | |
| KR102326670B1 (ko) | 진단 디바이스가 구비된 반도체 디바이스 테스트 장치 | |
| US6815943B2 (en) | Electric component test system and electric component test method | |
| CN114969752A (zh) | 一种安全验证平台和安全验证方法 | |
| CN211149399U (zh) | 一种服务器电源使能信号监测*** | |
| CN114168396B (zh) | 一种故障定位方法及相关组件 | |
| CN219179589U (zh) | 一种应用于ic测试机的检测装置 | |
| CN219871510U (zh) | 一种电池包的测试装置 | |
| US20070296428A1 (en) | Semiconductor device having supply voltage monitoring function | |
| JPS63252271A (ja) | 半導体検査装置 | |
| DE69707264T2 (de) | Permanente Fehlerüberwachung in komplexen Systemen | |
| CN219392650U (zh) | 板卡状态监控装置及芯片测试机 | |
| CN111190091B (zh) | Wat设备的测试头及其诊断修复方法 | |
| CN107769953A (zh) | 服务器故障检测*** | |
| JPH0512722B2 (ja) | ||
| JPH04313084A (ja) | 半導体テストシステム | |
| KR100293559B1 (ko) | 자동시험장치에서부품에러자동탐지방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050526 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050526 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20061017 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20061122 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080610 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080905 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20081007 |