JPH11216905A - マルチビーム記録装置 - Google Patents
マルチビーム記録装置Info
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- JPH11216905A JPH11216905A JP10021778A JP2177898A JPH11216905A JP H11216905 A JPH11216905 A JP H11216905A JP 10021778 A JP10021778 A JP 10021778A JP 2177898 A JP2177898 A JP 2177898A JP H11216905 A JPH11216905 A JP H11216905A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 マルチビーム記録装置において、高周波クロ
ックを用いることなく、正確に副走査方向のピッチ計測
を行う。また、各ビームに対応した書込みクロックを発
生させる。 【解決手段】 複数の光ビームを個々に検出する少なく
とも２組の光ビーム検出器、基準クロックに同期した基
準信号を発生する基準信号発生手段、ビーム検出器のビ
ーム位置検出信号からビームの前記検出器における通過
時間を計測するビーム通過時間計測手段及び、そのビー
ム位置検出信号の位相を検出する位相検出手段を用い、
前記ビームの通過時間を表すパルス間隔及び前記位相検
出手段からの位相データを得、それを基に副走査演算手
段により副走査方向のピッチを計算する。また、前記光
ビーム検出器のうちの１組を光ビームの走査方向と直角
に配置し、該光ビーム検出器のビーム位置検出信号から
得られる位相検出信号と前記基準信号とから記録用の書
込みクロックを発生させる。
ックを用いることなく、正確に副走査方向のピッチ計測
を行う。また、各ビームに対応した書込みクロックを発
生させる。 【解決手段】 複数の光ビームを個々に検出する少なく
とも２組の光ビーム検出器、基準クロックに同期した基
準信号を発生する基準信号発生手段、ビーム検出器のビ
ーム位置検出信号からビームの前記検出器における通過
時間を計測するビーム通過時間計測手段及び、そのビー
ム位置検出信号の位相を検出する位相検出手段を用い、
前記ビームの通過時間を表すパルス間隔及び前記位相検
出手段からの位相データを得、それを基に副走査演算手
段により副走査方向のピッチを計算する。また、前記光
ビーム検出器のうちの１組を光ビームの走査方向と直角
に配置し、該光ビーム検出器のビーム位置検出信号から
得られる位相検出信号と前記基準信号とから記録用の書
込みクロックを発生させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のレーザービ
ームを用いて記録を行う、マルチビーム記録装置に関す
るものであって、とくに、レーザープリンタ、デジタル
複写機などに用いるマルチビーム記録装置に関するもの
である。
ームを用いて記録を行う、マルチビーム記録装置に関す
るものであって、とくに、レーザープリンタ、デジタル
複写機などに用いるマルチビーム記録装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】高速記録を行うため複数の光ビームを用
いて記録を行うことは従来から種々提案されている。例
えば、特開平９−１９３４５８号公報には、光源装置を
光軸に対して回転させることで、副走査方向のピッチを
可変にすることができる装置が開示されている。この装
置においては、光源装置からの光ビームを出射させ、回
転する多面鏡（ポリゴンミラー）により、ビーム偏向さ
せることにより感光体面上にビームスポットを形成し走
査するようにしているが、このような装置によって良好
な記録画像を得るためには、各ラインの走査方向での書
き出し位置と、複数ビームのビーム間のピッチ間隔とを
正確に検出し制御する必要がある。このため、副走査方
向のピッチ間隔を計測するには、例えば、図２に示すよ
うに、互いに非平行に置いた２つの光検出素子（ＰＤ）
で検出されるパルスの間隔を計測し、パルス間隔の差か
ら副走査ピッチを求める方法が提案されている。その
際、ピッチを正確に求めるには高周波のクロックでカウ
ントしなければならないが、高周波回路は高価であり、
ノイズなどの面で実装が難しいという欠点がある。特願
平８−１５９２５４号では、光ビーム位置検出手段から
の、ビーム位置検出信号に対して基準クロックを遅延さ
せた複数の遅延クロックの中から位相の一致するクロッ
クを選択することにより、ビーム位置信号の基準クロッ
クに対する位相を検出し、基準クロックで計測したビー
ムの時間間隔を補正している。しかし、回路実装上は遅
延素子のバラツキ、配線遅延の相違により均等な遅延ク
ロックを発生させることは難しい。
いて記録を行うことは従来から種々提案されている。例
えば、特開平９−１９３４５８号公報には、光源装置を
光軸に対して回転させることで、副走査方向のピッチを
可変にすることができる装置が開示されている。この装
置においては、光源装置からの光ビームを出射させ、回
転する多面鏡（ポリゴンミラー）により、ビーム偏向さ
せることにより感光体面上にビームスポットを形成し走
査するようにしているが、このような装置によって良好
な記録画像を得るためには、各ラインの走査方向での書
き出し位置と、複数ビームのビーム間のピッチ間隔とを
正確に検出し制御する必要がある。このため、副走査方
向のピッチ間隔を計測するには、例えば、図２に示すよ
うに、互いに非平行に置いた２つの光検出素子（ＰＤ）
で検出されるパルスの間隔を計測し、パルス間隔の差か
ら副走査ピッチを求める方法が提案されている。その
際、ピッチを正確に求めるには高周波のクロックでカウ
ントしなければならないが、高周波回路は高価であり、
ノイズなどの面で実装が難しいという欠点がある。特願
平８−１５９２５４号では、光ビーム位置検出手段から
の、ビーム位置検出信号に対して基準クロックを遅延さ
せた複数の遅延クロックの中から位相の一致するクロッ
クを選択することにより、ビーム位置信号の基準クロッ
クに対する位相を検出し、基準クロックで計測したビー
ムの時間間隔を補正している。しかし、回路実装上は遅
延素子のバラツキ、配線遅延の相違により均等な遅延ク
ロックを発生させることは難しい。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、以上の従来
の問題点に鑑みてなされたものであって、請求項１乃至
３の発明の課題は、高い周波数のクロックを用いること
なく正確な副走査方向のピッチ計測を行うことである。
請求項４の発明の課題は、基準信号として鋸歯状波を用
いることにより、簡単な構成で計測を行うことである。
請求項５の発明の課題は、基準信号として三角波を用い
ることにより、急激な変動がなく計測を行うことであ
る。請求項６の発明の課題は、光検出素子の一つを副走
査方向と平行に配置し、基準クロックとして書込みクロ
ックと同じ周波数のクロックを使い、各ビームの位置検
出信号の基準クロックに対する位相情報により、各ビー
ムに対応した書込みクロックを発生させることである。
の問題点に鑑みてなされたものであって、請求項１乃至
３の発明の課題は、高い周波数のクロックを用いること
なく正確な副走査方向のピッチ計測を行うことである。
請求項４の発明の課題は、基準信号として鋸歯状波を用
いることにより、簡単な構成で計測を行うことである。
請求項５の発明の課題は、基準信号として三角波を用い
ることにより、急激な変動がなく計測を行うことであ
る。請求項６の発明の課題は、光検出素子の一つを副走
査方向と平行に配置し、基準クロックとして書込みクロ
ックと同じ周波数のクロックを使い、各ビームの位置検
出信号の基準クロックに対する位相情報により、各ビー
ムに対応した書込みクロックを発生させることである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、複数
の光ビームにより記録媒体上を一括走査して前記記録媒
体上に情報記録を行うマルチビーム記録装置において、
前記複数光ビームを分離して検出する少なくとも２組の
光ビーム検出器を有する光ビーム位置検出手段と、基準
クロックに同期して電圧が変化する信号を発生させる基
準信号発生手段と、前記光ビーム検出手段からのビーム
位置検出信号と前記基準信号発生手段からの基準信号か
らビーム位置検出信号の位相を検出する位相検出手段
と、前記ビーム位置検出手段からの光位置検出信号から
ビーム通過時間を計測するビーム通過時間計測手段と、
前記ビーム通過時間計測手段での計測結果と前記位相検
出手段からの位相データを基に、副走査方向のピッチを
計算する副走査ピッチ演算手段を具備するマルチビーム
記録装置である。
の光ビームにより記録媒体上を一括走査して前記記録媒
体上に情報記録を行うマルチビーム記録装置において、
前記複数光ビームを分離して検出する少なくとも２組の
光ビーム検出器を有する光ビーム位置検出手段と、基準
クロックに同期して電圧が変化する信号を発生させる基
準信号発生手段と、前記光ビーム検出手段からのビーム
位置検出信号と前記基準信号発生手段からの基準信号か
らビーム位置検出信号の位相を検出する位相検出手段
と、前記ビーム位置検出手段からの光位置検出信号から
ビーム通過時間を計測するビーム通過時間計測手段と、
前記ビーム通過時間計測手段での計測結果と前記位相検
出手段からの位相データを基に、副走査方向のピッチを
計算する副走査ピッチ演算手段を具備するマルチビーム
記録装置である。
【０００５】請求項２の発明は、請求項１に記載された
マルチビーム記録装置において、前記位相検出手段が、
光ビーム検出手段からのビーム位置検出信号と前記基準
信号発生手段からの基準信号との電圧の一致点から、ビ
ーム位置検出信号の位相を検出するマルチビーム記録装
置である。
マルチビーム記録装置において、前記位相検出手段が、
光ビーム検出手段からのビーム位置検出信号と前記基準
信号発生手段からの基準信号との電圧の一致点から、ビ
ーム位置検出信号の位相を検出するマルチビーム記録装
置である。
【０００６】請求項３の発明は、請求項１又は２に記載
されたマルチビーム記録装置において、前記複数光ビー
ムを分離して検出する少なくとも２組の光ビーム検出器
が、互いに非平行に配置された少なくとも２組の光ビー
ム検出器を含むマルチビーム記録装置である。
されたマルチビーム記録装置において、前記複数光ビー
ムを分離して検出する少なくとも２組の光ビーム検出器
が、互いに非平行に配置された少なくとも２組の光ビー
ム検出器を含むマルチビーム記録装置である。
【０００７】請求項４の発明は、請求項１乃至３のいず
れかに記載されたマルチビーム記録装置において、基準
信号として鋸歯状波を用いるマルチビーム記録装置であ
る。
れかに記載されたマルチビーム記録装置において、基準
信号として鋸歯状波を用いるマルチビーム記録装置であ
る。
【０００８】請求項５の発明は、請求項１乃至３のいず
れかに記載されたマルチビーム記録装置において、基準
信号として三角波を用いるマルチビーム記録装置であ
る。
れかに記載されたマルチビーム記録装置において、基準
信号として三角波を用いるマルチビーム記録装置であ
る。
【０００９】請求項６の発明は、請求項１乃至３のいず
れかに記載されたマルチビーム記録装置において、前記
少なくとも２組の光ビーム検出器のうちの１組を光ビー
ムの走査方向と直角に配置し、該直角に配置した光ビー
ム検出器から出力されるビーム位置検出信号から得られ
る位置検出信号と前記基準信号とから、記録用の書込み
クロックを発生させる書込みクロック発生手段を更に具
備したマルチビーム記録装置である。
れかに記載されたマルチビーム記録装置において、前記
少なくとも２組の光ビーム検出器のうちの１組を光ビー
ムの走査方向と直角に配置し、該直角に配置した光ビー
ム検出器から出力されるビーム位置検出信号から得られ
る位置検出信号と前記基準信号とから、記録用の書込み
クロックを発生させる書込みクロック発生手段を更に具
備したマルチビーム記録装置である。
【００１０】
【発明の実施の形態】図面を参考にして、請求項１乃至
４の発明をその実施例について説明する。図１は、本発
明を実施するための副走査ピッチデータ演算装置の一例
を示すブロックで図であり、かつ、図２は、図１に示す
装置に用いるビーム位置検出手段の一例を示している。
図１において、ビーム位置検出手段１０は、図２に示す
ように、光センサーＰＤ１、および、ＰＤ１に対して角
度θで配置された光センサーＰＤ２及び、光センサーか
らの光ビーム検出信号を増幅するための増幅器（ＡＭ
Ｐ）１０１Ａ，１０１Ｂから成っており、前記光センサ
ーＰＤ１，ＰＤ２は感光体面上を走査する、例えば２個
の光ビームＬＤ１，ＬＤ２の通過を検知し、検知信号を
それぞれ増幅器（ＡＭＰ）１０１Ａ，１０１Ｂにより増
幅してビーム位置検出信号パルスＳ１，Ｓ２として出力
する。
４の発明をその実施例について説明する。図１は、本発
明を実施するための副走査ピッチデータ演算装置の一例
を示すブロックで図であり、かつ、図２は、図１に示す
装置に用いるビーム位置検出手段の一例を示している。
図１において、ビーム位置検出手段１０は、図２に示す
ように、光センサーＰＤ１、および、ＰＤ１に対して角
度θで配置された光センサーＰＤ２及び、光センサーか
らの光ビーム検出信号を増幅するための増幅器（ＡＭ
Ｐ）１０１Ａ，１０１Ｂから成っており、前記光センサ
ーＰＤ１，ＰＤ２は感光体面上を走査する、例えば２個
の光ビームＬＤ１，ＬＤ２の通過を検知し、検知信号を
それぞれ増幅器（ＡＭＰ）１０１Ａ，１０１Ｂにより増
幅してビーム位置検出信号パルスＳ１，Ｓ２として出力
する。
【００１１】図１に示すように、このビーム位置検出信
号Ｓ１，Ｓ２は、次に、それぞれ光センサーＰＤ１，Ｐ
Ｄ２におけるビーム通過時間を計測するため、ビーム通
過時間計測回路１３Ａ，１３Ｂから成る計測手段１３に
入力され、光センサーＰＤ１及びＰＤ２からのビーム位
置検出信号Ｓ１，Ｓ２のパルス間隔がそれぞれ計測され
る。図中、基準信号発生手段１１は外部から基準クロッ
クｆcの供給を受けて、それと同一周期で電圧が変化す
る基準信号ｆ0を発生させる。ここでは基準クロックｆc
は図３に示すように矩形波でありかつ、基準信号ｆcは
１周期間に電圧が直線的に変化する鋸歯状波である。
号Ｓ１，Ｓ２は、次に、それぞれ光センサーＰＤ１，Ｐ
Ｄ２におけるビーム通過時間を計測するため、ビーム通
過時間計測回路１３Ａ，１３Ｂから成る計測手段１３に
入力され、光センサーＰＤ１及びＰＤ２からのビーム位
置検出信号Ｓ１，Ｓ２のパルス間隔がそれぞれ計測され
る。図中、基準信号発生手段１１は外部から基準クロッ
クｆcの供給を受けて、それと同一周期で電圧が変化す
る基準信号ｆ0を発生させる。ここでは基準クロックｆc
は図３に示すように矩形波でありかつ、基準信号ｆcは
１周期間に電圧が直線的に変化する鋸歯状波である。
【００１２】ビーム位置検出手段１０から出力されるビ
ーム位置検出信号Ｓ１，Ｓ２は図１に示すように前記ビ
ーム通過時間計測手段に入力されると同時に、ビーム位
置検出信号の位相を検出するための位相検出回路１２
Ａ，１２Ｂから成る位相検出手段１２に入力される。位
相検出回路１２Ａ，１２Ｂはビーム位置検出信号Ｓ１，
Ｓ２のパルスの立ち下がりエッジの基準クロックに対す
る位相を検出する。この位相検出回路は例えばその一例
を図４に示すように、ビーム位置検出信号分離回路４
１、コンパレータ（比較器）４２、サンプル／ホールド
回路４３、及びＡＤ変換器４４から成っており、光セン
サーＰＤ１，ＰＤ２からビーム位置検出手段１０を介し
て出力されるビーム位置検出信号Ｓ１，Ｓ２は、ビーム
位置検出信号分離回路４１により光ビームＬＤ１，ＬＤ
２のパルス（ビーム位置検出信号）に分離される。分離
された光ビーム位置検出信号はコンパレータ４２Ａ，４
２Ｂにおいて基準信号ｆ0と比較され、コンパレータは
両者の電圧が一致したとき一致信号を出力する。サンプ
ル／ホールド回路は一致信号の出力タイミングで基準信
号の電圧をホールドする。ホールドされた電圧Ｖ01，Ｖ
02はＡＤコンバータ（ＡＤＣ）によりデジタルデータに
変換され、位相データとして出力される。
ーム位置検出信号Ｓ１，Ｓ２は図１に示すように前記ビ
ーム通過時間計測手段に入力されると同時に、ビーム位
置検出信号の位相を検出するための位相検出回路１２
Ａ，１２Ｂから成る位相検出手段１２に入力される。位
相検出回路１２Ａ，１２Ｂはビーム位置検出信号Ｓ１，
Ｓ２のパルスの立ち下がりエッジの基準クロックに対す
る位相を検出する。この位相検出回路は例えばその一例
を図４に示すように、ビーム位置検出信号分離回路４
１、コンパレータ（比較器）４２、サンプル／ホールド
回路４３、及びＡＤ変換器４４から成っており、光セン
サーＰＤ１，ＰＤ２からビーム位置検出手段１０を介し
て出力されるビーム位置検出信号Ｓ１，Ｓ２は、ビーム
位置検出信号分離回路４１により光ビームＬＤ１，ＬＤ
２のパルス（ビーム位置検出信号）に分離される。分離
された光ビーム位置検出信号はコンパレータ４２Ａ，４
２Ｂにおいて基準信号ｆ0と比較され、コンパレータは
両者の電圧が一致したとき一致信号を出力する。サンプ
ル／ホールド回路は一致信号の出力タイミングで基準信
号の電圧をホールドする。ホールドされた電圧Ｖ01，Ｖ
02はＡＤコンバータ（ＡＤＣ）によりデジタルデータに
変換され、位相データとして出力される。
【００１３】光センサーＰＤ１，ＰＤ２からのビーム位
置検出信号Ｓ１，Ｓ２に基づき前記ビーム通過時間計測
手段１３によって得られた、光センサーＰＤ１及びＰＤ
２からのパルス間隔及び、前記位相検出手段１２によっ
て得られた位相データ（ＰＤ１−ＬＤ１，ＰＤ１−ＬＤ
２，ＰＤ２−ＬＤ１，ＰＤ２−ＬＤ２位相データ）は副
走査ピッチ演算手段１４に入力されて演算され、演算の
結果得られたデータは副走査ピッチデータとして出力さ
れる。この副走査ピッチ演算手段１４での副走査ピッチ
演算方法を以下に示す。
置検出信号Ｓ１，Ｓ２に基づき前記ビーム通過時間計測
手段１３によって得られた、光センサーＰＤ１及びＰＤ
２からのパルス間隔及び、前記位相検出手段１２によっ
て得られた位相データ（ＰＤ１−ＬＤ１，ＰＤ１−ＬＤ
２，ＰＤ２−ＬＤ１，ＰＤ２−ＬＤ２位相データ）は副
走査ピッチ演算手段１４に入力されて演算され、演算の
結果得られたデータは副走査ピッチデータとして出力さ
れる。この副走査ピッチ演算手段１４での副走査ピッチ
演算方法を以下に示す。
【００１４】副走査ピッチＰＶは光ビームの光センサＰ
Ｄ上での走査速度をｖとすると以下の式で求めることが
できる。 副走査ピッチ ＰＶ＝ｖ（ＴPD2−ＴPD1）／ｔａｎθ ＝ｖ｛（ＴC2＋Ｔ21−Ｔ22）−（ＴC1＋Ｔ11−Ｔ12）｝／ｔａｎθ Ｔ11＝（１−Ｖ11／Ｖ0）Ｔ，Ｔ12＝（１−Ｖ12／Ｖ0）Ｔ， Ｔ21＝（１−Ｖ21／Ｖ0）Ｔ，Ｔ22＝（１−Ｖ22／Ｖ0）Ｔ として求める。ここで、Ｔは基準クロックパルスの周
期、Ｖ0は基準信号の振幅（最大電圧）、Ｖ11，Ｖ12，
Ｖ21，Ｖ22はそれぞれＰＤ１，ＰＤ２のビーム位置検出
信号の立ち下がり時における基準信号電圧、ＴPD1，Ｔ
PD2はそれぞれはＰＤ１，ＰＤ２ビーム位置検出信号の
間隔、ＴC1，ＴC2は光センサーＰＤ１で光ビームを検知
してから光センサーＰＤ２で同光ビームを検知した後ま
での基準クロックのカウント数、Ｔ11，Ｔ12，Ｔ21，Ｔ
22はそれぞれその時点における基準信号ｆ0のＰＤ１，
ＰＤ２ビーム位置検出信号の立下り時点から一周期の終
端までの間隔を表す。
Ｄ上での走査速度をｖとすると以下の式で求めることが
できる。 副走査ピッチ ＰＶ＝ｖ（ＴPD2−ＴPD1）／ｔａｎθ ＝ｖ｛（ＴC2＋Ｔ21−Ｔ22）−（ＴC1＋Ｔ11−Ｔ12）｝／ｔａｎθ Ｔ11＝（１−Ｖ11／Ｖ0）Ｔ，Ｔ12＝（１−Ｖ12／Ｖ0）Ｔ， Ｔ21＝（１−Ｖ21／Ｖ0）Ｔ，Ｔ22＝（１−Ｖ22／Ｖ0）Ｔ として求める。ここで、Ｔは基準クロックパルスの周
期、Ｖ0は基準信号の振幅（最大電圧）、Ｖ11，Ｖ12，
Ｖ21，Ｖ22はそれぞれＰＤ１，ＰＤ２のビーム位置検出
信号の立ち下がり時における基準信号電圧、ＴPD1，Ｔ
PD2はそれぞれはＰＤ１，ＰＤ２ビーム位置検出信号の
間隔、ＴC1，ＴC2は光センサーＰＤ１で光ビームを検知
してから光センサーＰＤ２で同光ビームを検知した後ま
での基準クロックのカウント数、Ｔ11，Ｔ12，Ｔ21，Ｔ
22はそれぞれその時点における基準信号ｆ0のＰＤ１，
ＰＤ２ビーム位置検出信号の立下り時点から一周期の終
端までの間隔を表す。
【００１５】次に、請求項５の発明に対応した実施例に
ついて説明する。この実施例においては基準信号に基準
クロックと同一周期の三角波を使用し、図５はその場合
のタイミングチャートを示す。図５において、前記
Ｔ11，Ｔ12，Ｔ21，Ｔ22はそれぞれ下に示す式から求め
られる。 Ｔ11＝ＴＶ11／（２Ｖ0）（Ｒ＝０）、又は、Ｔ11＝Ｔ
｛１−Ｖ11／（２Ｖ0）｝（Ｒ＝１） Ｔ12＝ＴＶ12／（２Ｖ0）（Ｒ＝０）、又は、Ｔ12＝Ｔ
｛１−Ｖ12／（２Ｖ0）｝（Ｒ＝１） Ｔ21＝ＴＶ21／（２Ｖ0）（Ｒ＝０）、又は、Ｔ21＝Ｔ
｛１−Ｖ21／（２Ｖ0）｝（Ｒ＝１） Ｔ22＝ＴＶ22／（２Ｖ0）（Ｒ＝０）、又は、Ｔ22＝Ｔ
｛１−Ｖ22／（２Ｖ0）｝（Ｒ＝１） ここで、Ｒは基準クロックパルスの値を表し、他は図３
に示す各信号について定義したのと同様である。Ｒ＝
１，０はそれぞれＲが１又は０である期間を示す。その
他の点は既に説明した実施例と同様であるため説明を省
略する。
ついて説明する。この実施例においては基準信号に基準
クロックと同一周期の三角波を使用し、図５はその場合
のタイミングチャートを示す。図５において、前記
Ｔ11，Ｔ12，Ｔ21，Ｔ22はそれぞれ下に示す式から求め
られる。 Ｔ11＝ＴＶ11／（２Ｖ0）（Ｒ＝０）、又は、Ｔ11＝Ｔ
｛１−Ｖ11／（２Ｖ0）｝（Ｒ＝１） Ｔ12＝ＴＶ12／（２Ｖ0）（Ｒ＝０）、又は、Ｔ12＝Ｔ
｛１−Ｖ12／（２Ｖ0）｝（Ｒ＝１） Ｔ21＝ＴＶ21／（２Ｖ0）（Ｒ＝０）、又は、Ｔ21＝Ｔ
｛１−Ｖ21／（２Ｖ0）｝（Ｒ＝１） Ｔ22＝ＴＶ22／（２Ｖ0）（Ｒ＝０）、又は、Ｔ22＝Ｔ
｛１−Ｖ22／（２Ｖ0）｝（Ｒ＝１） ここで、Ｒは基準クロックパルスの値を表し、他は図３
に示す各信号について定義したのと同様である。Ｒ＝
１，０はそれぞれＲが１又は０である期間を示す。その
他の点は既に説明した実施例と同様であるため説明を省
略する。
【００１６】図６は、請求項６の発明の実施例を示すも
のである。この実施例においては図１に示した副走査ピ
ッチデータ演算装置に更に書込みクロック発生手段５０
を付加したものであって、それ以外の構成は図１に示し
たものと同様である。この場合は光センサーＰＤ１は光
ビームＬＤの走査方向と直角に配置されている。光セン
サーＰＤのビーム位置検出信号から検出されたＬＤ１，
ＬＤ２の位相信号Ｐ１，Ｐ２は基準信号とともに書込み
クロック発生手段５０に入力され、これにより書込みク
ロック発生手段５０は記録用の書込みクロックＣｗ１，
Ｃｗ２を発生させる。
のである。この実施例においては図１に示した副走査ピ
ッチデータ演算装置に更に書込みクロック発生手段５０
を付加したものであって、それ以外の構成は図１に示し
たものと同様である。この場合は光センサーＰＤ１は光
ビームＬＤの走査方向と直角に配置されている。光セン
サーＰＤのビーム位置検出信号から検出されたＬＤ１，
ＬＤ２の位相信号Ｐ１，Ｐ２は基準信号とともに書込み
クロック発生手段５０に入力され、これにより書込みク
ロック発生手段５０は記録用の書込みクロックＣｗ１，
Ｃｗ２を発生させる。
【００１７】図７は、書込みクロック発生手段５０の書
込みクロック発生回路の一例を示すものであって、図示
のように書込みクロック発生手段５０はコンパレータ７
０とワンショットマルチ７１によって構成されている。
この構成において、コンパレータ７０は位相信号Ｐ１又
はＰ２と基準信号ｆ0とを比較し両者の電圧が一致した
とき一致信号を出力する。次段のワンショット・マルチ
・バイブレータはその一致信号が入力されたタイミング
でパルスを発出させる。ここで、パルス幅は回路の時定
数を変えることにより変更可能であるから、パルス幅を
基準クロックの１／２にすることでデューティ比が５０
％のパルスである書込みクロック信号を発生させること
ができる。
込みクロック発生回路の一例を示すものであって、図示
のように書込みクロック発生手段５０はコンパレータ７
０とワンショットマルチ７１によって構成されている。
この構成において、コンパレータ７０は位相信号Ｐ１又
はＰ２と基準信号ｆ0とを比較し両者の電圧が一致した
とき一致信号を出力する。次段のワンショット・マルチ
・バイブレータはその一致信号が入力されたタイミング
でパルスを発出させる。ここで、パルス幅は回路の時定
数を変えることにより変更可能であるから、パルス幅を
基準クロックの１／２にすることでデューティ比が５０
％のパルスである書込みクロック信号を発生させること
ができる。
【００１８】
【発明の効果】請求項１乃至３に対応する効果：基準ク
ロックの周期して電圧が変化する基準信号に基づいてビ
ーム位置信号の基準クロックに対する位相を検出し、そ
れによりビームの通過時間間隔を基準クロックでカウン
トした結果を補正するので、高周波の計数クロックを使
うことなく正確な副走査方向のピッチを計数することが
できる。
ロックの周期して電圧が変化する基準信号に基づいてビ
ーム位置信号の基準クロックに対する位相を検出し、そ
れによりビームの通過時間間隔を基準クロックでカウン
トした結果を補正するので、高周波の計数クロックを使
うことなく正確な副走査方向のピッチを計数することが
できる。
【００１９】請求項４に対応する効果：基準信号として
鋸歯状波を使うので簡単な構成で位相を検出することが
できる。
鋸歯状波を使うので簡単な構成で位相を検出することが
できる。
【００２０】請求項５に対応する効果：基準信号として
三角波を使っているので、鋸歯状波と比較して急激な電
圧変動がなく、全周期にわたって位相を安定的に検出す
ることができる。
三角波を使っているので、鋸歯状波と比較して急激な電
圧変動がなく、全周期にわたって位相を安定的に検出す
ることができる。
【００２１】請求項６に対応する効果：ビーム位置検出
回路の光センサーの一つを副走査方向と平行に配置し、
書込みクロックに基準クロックと同じ周波数のクロック
を使うことができかつ、各ビームの位置検出装置を小型
で安価に構成することができる。
回路の光センサーの一つを副走査方向と平行に配置し、
書込みクロックに基準クロックと同じ周波数のクロック
を使うことができかつ、各ビームの位置検出装置を小型
で安価に構成することができる。
【図１】 副走査ピッチデータ演算装置の実施例を示す
ブロック図。
ブロック図。
【図２】 ビーム位置検出手段のブロック図。
【図３】 本発明の副走査ピッチデータ演算装置に用い
る信号のタイミングチャート。
る信号のタイミングチャート。
【図４】 位相検出回路のブロック図。
【図５】 本発明の書込みクロック発生手段を備えた副
走査ピッチデータ演算回路に用いる信号のタイミングチ
ャート。
走査ピッチデータ演算回路に用いる信号のタイミングチ
ャート。
【図６】 書込みクロック発生手段を備えた副走査ピッ
チデータ演算回路の他の実施例を示すブロック図。
チデータ演算回路の他の実施例を示すブロック図。
【図７】 書込みクロック発生回路を示すブロック図。
１０…ビーム位置検出手段、１１…基準信号発生手段、
１２…位相検出手段、１２Ａ，１２Ｂ…位相検出回路、
１３…ビーム通過時間計測手段、１３Ａ，１３Ｂ…ビー
ム通過時間計測回路、１４…副走査ピッチ演算手段、４
１…ビーム位置検出信号分離回路、４２（４２Ａ，４２
Ｂ）…コンパレータ、４３（４３Ａ，４３Ｂ）…サンプ
ル／ホールド回路、４４（４４Ａ，４４Ｂ）…ＡＤ変換
器、５０…書込みクロック発生手段、７０…コンパレー
タ、７１…ワンショットマルチ、１０１Ａ，１０１Ｂ…
増幅器。
１２…位相検出手段、１２Ａ，１２Ｂ…位相検出回路、
１３…ビーム通過時間計測手段、１３Ａ，１３Ｂ…ビー
ム通過時間計測回路、１４…副走査ピッチ演算手段、４
１…ビーム位置検出信号分離回路、４２（４２Ａ，４２
Ｂ）…コンパレータ、４３（４３Ａ，４３Ｂ）…サンプ
ル／ホールド回路、４４（４４Ａ，４４Ｂ）…ＡＤ変換
器、５０…書込みクロック発生手段、７０…コンパレー
タ、７１…ワンショットマルチ、１０１Ａ，１０１Ｂ…
増幅器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０４Ｎ 5/06 Ｈ０４Ｎ 1/04 １０４Ａ
Claims (6)
- 【請求項１】 複数の光ビームにより記録媒体上を一括
走査して前記記録媒体上に情報記録を行うマルチビーム
記録装置において、前記複数光ビームを個々に検出する
少なくとも２組の光ビーム検出器を有する光ビーム位置
検出手段と、基準クロックに同期して電圧が変化する信
号を発生させる基準信号発生手段と、前記光ビーム検出
手段からのビーム位置検出信号と前記基準信号発生手段
からの基準信号からビーム位置検出信号の位相を検出す
る位相検出手段と、前記ビーム位置検出手段からの光位
置検出信号からビーム通過時間を計測するビーム通過時
間計測手段と、前記ビーム通過時間計測手段での計測結
果と前記位相検出手段からの位相データを基に、副走査
方向のピッチを計算する副走査ピッチ演算手段を具備す
ることを特徴とするマルチビーム記録装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載されたマルチビーム記録
装置において、前記位相検出手段が、光ビーム検出手段
からのビーム位置検出信号と前記基準信号発生手段から
の基準信号との電圧の一致点から、ビーム位置検出信号
の位相を検出することを特徴とするマルチビーム記録装
置。 - 【請求項３】 請求項１又は２に記載されたマルチビー
ム記録装置において、前記複数光ビームを分離して検出
する少なくとも２組の光ビーム検出器が、互いに非平行
に配置された少なくとも２組の光ビーム検出器を含むこ
とを特徴とするマルチビーム記録装置。 - 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれかに記載された
マルチビーム記録装置において、基準信号として鋸歯状
波を用いることを特徴とする、マルチビーム記録装置。 - 【請求項５】 請求項１乃至３のいずれかに記載された
マルチビーム記録装置において、基準信号として三角波
を用いることを特徴とする、マルチビーム記録装置。 - 【請求項６】 請求項１乃至３のいずれかに記載された
マルチビーム記録装置において、前記少なくとも２組の
光ビーム検出器のうちの１組を光ビームの走査方向と直
角に配置し、該直角に配置した光ビーム検出器から出力
されるビーム位置検出信号から得られる位置検出信号と
前記基準信号とから、記録用の書込みクロックを発生さ
せる書込みクロック発生手段を更に具備することを特徴
とするマルチビーム記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02177898A JP3681273B2 (ja) | 1998-02-03 | 1998-02-03 | マルチビーム記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02177898A JP3681273B2 (ja) | 1998-02-03 | 1998-02-03 | マルチビーム記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11216905A true JPH11216905A (ja) | 1999-08-10 |
| JP3681273B2 JP3681273B2 (ja) | 2005-08-10 |
Family
ID=12064528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02177898A Expired - Fee Related JP3681273B2 (ja) | 1998-02-03 | 1998-02-03 | マルチビーム記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3681273B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008279632A (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Kyocera Mita Corp | 画像形成装置、画像書き出しタイミング設定方法 |
| JP2009184145A (ja) * | 2008-02-04 | 2009-08-20 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 画像形成装置および画像形成装置制御プログラム |
-
1998
- 1998-02-03 JP JP02177898A patent/JP3681273B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008279632A (ja) * | 2007-05-09 | 2008-11-20 | Kyocera Mita Corp | 画像形成装置、画像書き出しタイミング設定方法 |
| JP2009184145A (ja) * | 2008-02-04 | 2009-08-20 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 画像形成装置および画像形成装置制御プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3681273B2 (ja) | 2005-08-10 |
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