JPH11211772A - Method for impulse testing power equipment - Google Patents
Method for impulse testing power equipmentInfo
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- JPH11211772A JPH11211772A JP1247098A JP1247098A JPH11211772A JP H11211772 A JPH11211772 A JP H11211772A JP 1247098 A JP1247098 A JP 1247098A JP 1247098 A JP1247098 A JP 1247098A JP H11211772 A JPH11211772 A JP H11211772A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、電力機器が規格に
定められた電圧に耐えることを確認するためのインパル
ス試験方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an impulse test method for confirming that a power device withstands a voltage specified in a standard.
【０００２】[0002]
【従来の技術】一般に、電力機器に対しては規格に定め
られた電圧に電力機器が耐えられるかどうかを確認する
ためにインパルス試験が行われている。このようなイン
パルス試験を行う場合、試験に供される供試器に対しイ
ンパルス電圧を印加するインパルスジェネレータ、印加
電圧の時間波形を測定する分圧器、さらには供試器接地
電流の時間波形を測定するシャント抵抗などが使用され
ている。ここで図９を参照して、インパルス試験方法の
従来例について具体的に説明する。2. Description of the Related Art Generally, an impulse test is performed on a power device to check whether the power device can withstand a voltage specified in a standard. When performing such an impulse test, an impulse generator that applies an impulse voltage to the EUT under test, a voltage divider that measures the time waveform of the applied voltage, and a time waveform of the EUT ground current are measured. A shunt resistor or the like is used. Here, a conventional example of the impulse test method will be specifically described with reference to FIG.
【０００３】図９はインパルス試験を行う際の回路図を
示している。電力機器である供試器１９にはインパルス
ジェネレータ１８および分圧器２０が接続されている。
インパルスジェネレータ１８とは多数のコンデンサを並
列に充電し、それらをいっせいに直列に接続することに
よって開閉サージなどの過電圧に匹敵する高電圧を人工
的に発生させる装置である。分圧器２０は供試器１９に
印加された印加電圧を分圧するものである。また、供試
器１９のアース側端子にはシャント抵抗２２が接続され
ており、これを通して接地されている。さらに、分圧器
２０およびシャント抵抗２２には時間波形を表示するた
めのオシロスコープ２１が接続されている。FIG. 9 is a circuit diagram when an impulse test is performed. An impulse generator 18 and a voltage divider 20 are connected to a test device 19 which is a power device.
The impulse generator 18 is a device that charges a large number of capacitors in parallel and connects them in series to artificially generate a high voltage comparable to an overvoltage such as an open / close surge. The voltage divider 20 divides an applied voltage applied to the test device 19. Further, a shunt resistor 22 is connected to a ground side terminal of the test device 19, and is grounded through the shunt resistor 22. Further, an oscilloscope 21 for displaying a time waveform is connected to the voltage divider 20 and the shunt resistor 22.
【０００４】以上のような機器を用いて、次のようなイ
ンパルス試験を行っている。まず、インパルスジェネレ
ータ１８が蓄えた電荷を供試器１９の端子に印加する。
この印加電圧を分圧器２０が分圧して供試器１９におけ
る印加電圧の時間波形を測定する。また、放電時にシャ
ント抵抗２２の両端に発生する電圧を測定することによ
り供試器１９における接地電流の時間波形を測定する。The following impulse tests are performed using the above-described devices. First, the electric charge stored by the impulse generator 18 is applied to the terminal of the test device 19.
The applied voltage is divided by the voltage divider 20 and the time waveform of the applied voltage in the test device 19 is measured. Further, the time waveform of the ground current in the test device 19 is measured by measuring the voltage generated at both ends of the shunt resistor 22 at the time of discharging.
【０００５】そして、分圧器２０およびシャント抵抗２
２が測定した時間波形をオシロスコープ２１にて表示す
る。このとき、測定された時間波形が前後の測定にて相
違の無ければ供試器１９に絶縁破壊が無いと判断し、反
対に、測定された時間波形が前後の測定にて変化してい
れば供試器１９に絶縁破壊があると判断することができ
る。さらに、上記のインパルス試験方法では時間波形が
変化したときに供試器１９の絶縁破壊を判定するので、
絶縁破壊が発生した時間も判断可能である。The voltage divider 20 and the shunt resistor 2
2 displays the time waveform measured by the oscilloscope 21. At this time, if there is no difference between the measured time waveforms before and after the measurement, it is determined that there is no dielectric breakdown in the EUT 19, and conversely, if the measured time waveform has changed between the before and after measurements. It can be determined that the test device 19 has dielectric breakdown. Furthermore, in the above-described impulse test method, when the time waveform changes, the insulation breakdown of the EUT 19 is determined.
The time at which the dielectric breakdown occurred can also be determined.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のイン
パルス試験方法は、印加電圧または接地電流の時間波形
が変化したことをオシロスコープ２１にて確認すること
により、供試器１９の絶縁破壊を把握している。そのた
め、時間波形の変化が僅かしか無い場合には、これを見
落としてしまうおそれがあった。また、時間波形の変化
に基づいて供試器１９の良否を判定する今までの試験方
法では、供試器１９の絶縁破壊の有無や絶縁破壊発生時
間は分かるものの、供試器１９における絶縁破壊箇所を
特定することは極めて困難であった。According to the impulse test method described above, the oscilloscope 21 confirms that the time waveform of the applied voltage or the ground current has changed to grasp the dielectric breakdown of the test device 19. ing. Therefore, when there is only a slight change in the time waveform, there is a possibility that this is overlooked. Further, in the conventional test method for judging the quality of the EUT 19 based on the change of the time waveform, the presence or absence of the insulation breakdown and the time of the occurrence of the insulation breakdown of the EUT 19 are known. It was extremely difficult to identify the location.
【０００７】本発明は、上記の問題点を解消するために
提案されたものであり、その目的は、時間波形の変化が
僅かであって供試器の良否を判定可能であり、さらに該
供試器に絶縁破壊が起きた場合には絶縁破壊箇所の特定
も可能とした電力機器のインパルス試験方法を提供する
ことにある。The present invention has been proposed to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to make it possible to judge the quality of a test device with a small change in a time waveform. It is an object of the present invention to provide an impulse test method for a power device that can specify a breakdown point when a breakdown occurs in a test device.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項１の発明は、電力機器である供試器にイン
パルス電圧を印加するインパルスジェネレータと、前記
供試器に印加された印加電圧を分圧して前記供試器にお
ける印加電圧の時間波形を測定する分圧器と、前記供試
器を接地して前記供試器における接地電流の時間波形を
測定するシャント抵抗と、前記分圧器および前記シャン
ト抵抗が測定した時間波形をデジタル化して記憶するデ
ジタルメモリと、このデジタルメモリ内のデータを取込
んで演算処理するコンピュータとを用いた電力機器のイ
ンパルス試験方法であって、まず、前記分圧器および前
記シャント抵抗により前記供試器における印加電圧およ
び接地電流の時間波形を測定し、続いて、前記デジタル
メモリにて前記時間波形をデジタル化して記憶し、さら
に、前記コンピュータにおいてデジタル化された前記印
加電圧および前記接地電流の時間波形をフーリエ変換し
て２つの周波数特性を導き、これら２つの周波数特性の
比である伝達関数を求めることを特徴とする。Means for Solving the Problems To achieve the above object, an invention according to claim 1 comprises an impulse generator for applying an impulse voltage to a test device which is a power device, and an impulse generator applied to the test device. A voltage divider that divides an applied voltage and measures a time waveform of an applied voltage in the test device; a shunt resistor that grounds the test device and measures a time waveform of a ground current in the test device; A digital memory for digitizing and storing a time waveform measured by a pressure device and the shunt resistor, and a computer for taking and processing the data in the digital memory. A time waveform of an applied voltage and a ground current in the EUT is measured by the voltage divider and the shunt resistor, and then the time is measured by the digital memory. The waveform is digitized and stored, and further, the time waveform of the applied voltage and the ground current digitized in the computer is Fourier-transformed to derive two frequency characteristics, and a transfer function which is a ratio of these two frequency characteristics is obtained. Is obtained.
【０００９】以上のような請求項１の発明では、デジタ
ルメモリにてデジタル化された印加電圧および接地電流
の時間波形に基づいてコンピュータが伝達関数を求める
ので、時間波形の変化が僅かであっても、伝達関数の変
化としてこれを正確に把握することができる。時間波形
が変化した場合、供試器の内部で絶縁破壊が起きたとす
ると供試器の等価回路が変化するため伝達関数が変化す
る。これに対して、供試器の外部で絶縁破壊が起きても
供試器の等価回路には変化が無いため伝達関数は変化し
ない。このような関係から、伝達関数の変化した場合は
供試器の内部で絶縁破壊が起きていることが分かる。す
なわち、請求項１の発明においては、伝達関数の変化か
ら絶縁破壊の有無を確認することができ、これにより供
試器の良否を確実に判定することができる。According to the first aspect of the present invention, since the computer obtains the transfer function based on the time waveforms of the applied voltage and the ground current digitized by the digital memory, the change in the time waveform is small. This can be accurately grasped as a change in the transfer function. When the time waveform changes, if an insulation breakdown occurs inside the test device, the equivalent circuit of the test device changes, so that the transfer function changes. On the other hand, even if insulation breakdown occurs outside the test device, the transfer function does not change because there is no change in the equivalent circuit of the test device. From this relationship, it can be seen that when the transfer function changes, dielectric breakdown has occurred inside the test device. That is, according to the first aspect of the present invention, the presence or absence of insulation breakdown can be confirmed from the change of the transfer function, and the quality of the test device can be reliably determined.
【００１０】請求項２の発明は、請求項１記載の電力機
器のインパルス試験方法において、前記供試器に絶縁破
壊が起きた場合、前記コンピュータにおいて絶縁破壊が
起きた時間以降の時間波形のみから前記伝達関数を求め
ることを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the impulse test method for a power device according to the first aspect, when insulation breakdown occurs in the EUT, only the time waveform after the time when the insulation breakdown occurs in the computer is performed. The transfer function is obtained.
【００１１】以上のような請求項２の発明では、供試器
に絶縁破壊が起きた場合に、時間波形全体から伝達関数
を計算するのではなく、絶縁破壊が起きた時間以降の時
間波形のみから伝達関数を求めるので、絶縁破壊前後に
おける伝達関数の合成を防いで、供試器の等価回路に変
化させたときの正確な伝達関数のみを導くことができ
る。したがって、この伝達関数から供試器の絶縁破壊箇
所を特定することが可能となる。According to the second aspect of the present invention, when a dielectric breakdown occurs in the test device, the transfer function is not calculated from the entire time waveform, but only the time waveform after the time when the dielectric breakdown occurs is calculated. , The transfer function before and after insulation breakdown is prevented, and only an accurate transfer function when the equivalent circuit of the test device is changed can be derived. Therefore, it is possible to specify the dielectric breakdown point of the test device from this transfer function.
【００１２】請求項３の発明は、請求項１または２記載
の電力機器のインパルス試験方法において、任意の電圧
を前記供試器に印加したときの電流時間波形を、前記伝
達関数から計算することを特徴とする。According to a third aspect of the present invention, in the impulse test method for a power device according to the first or second aspect, a current time waveform when an arbitrary voltage is applied to the EUT is calculated from the transfer function. It is characterized by.
【００１３】以上の請求項３の発明では、伝達関数が計
算されていれば、任意の電圧における時間波形をフーリ
エ変換して周波数応答を計算し、これを伝達関数とかけ
あわせて得られた周波数特性を逆フーリエ変換すること
により、任意の電圧を供試器に印加したときの電流の時
間波形を、実際に測定することなく、計算から求めるこ
とができ、きめ細かなインパルス試験を簡単に行うこと
が可能である。According to the third aspect of the present invention, if the transfer function is calculated, the frequency response is calculated by Fourier-transforming the time waveform at an arbitrary voltage, and the frequency response obtained by multiplying the frequency response with the transfer function is obtained. By performing inverse Fourier transform of the characteristics, the time waveform of the current when an arbitrary voltage is applied to the EUT can be obtained from the calculation without actually measuring it, making it easy to perform fine impulse tests Is possible.
【００１４】請求項４の発明は、請求項１または２記載
の電力機器のインパルス試験方法において、任意の電流
を前記供試器に印加したときの電圧時間波形を、前記伝
達関数から計算することを特徴とする。According to a fourth aspect of the present invention, in the impulse test method for a power device according to the first or second aspect, a voltage-time waveform when an arbitrary current is applied to the test device is calculated from the transfer function. It is characterized by.
【００１５】以上の請求項４の発明では、上記請求項３
の発明と同様、伝達関数が計算されていれば、任意の電
流における時間波形をフーリエ変換して周波数応答を計
算し、これを伝達関数とかけあわせて得られた周波数特
性を逆フーリエ変換することにより、任意の電流を供試
器に印加したときの電圧の時間波形を実際に測定するの
ではなく、計算により導くことができる。[0015] According to the fourth aspect of the present invention, the third aspect is provided.
As in the invention of the above, if the transfer function is calculated, the frequency response is calculated by Fourier-transforming the time waveform at an arbitrary current, and the frequency response obtained by multiplying this by the transfer function is subjected to the inverse Fourier transform. Accordingly, the time waveform of the voltage when an arbitrary current is applied to the test device can be derived by calculation instead of actually measuring it.
【００１６】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図１〜図９を参照して詳細に説明する。本実施形態
は請求項１および２を包含するものであり、図１は本実
施形態における回路図を示している。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to FIGS. The present embodiment includes claims 1 and 2, and FIG. 1 shows a circuit diagram in the present embodiment.
【００１７】（１）インパルス試験に用いる機器 図１に示すように、供試器２にはインパルスジェネレー
タ１および分圧器３が接続されており、供試器２のアー
ス側端子にはシャント抵抗４が接続されている。また、
分圧器３およびシャント抵抗４にはデジタルメモリ５が
接続されている。デジタルメモリ５は分圧器３およびシ
ャント抵抗４が測定した時間波形をデジタル化して記憶
するものである。さらに、デジタルメモリ５にはデジタ
ルメモリ５内のデータを取込んで演算処理するコンピュ
ータ６が接続されている。(1) Equipment Used for Impulse Test As shown in FIG. 1, an impulse generator 1 and a voltage divider 3 are connected to a test device 2, and a shunt resistor 4 is connected to a ground terminal of the test device 2. Is connected. Also,
A digital memory 5 is connected to the voltage divider 3 and the shunt resistor 4. The digital memory 5 digitizes and stores the time waveform measured by the voltage divider 3 and the shunt resistor 4. Further, a computer 6 for taking in data in the digital memory 5 and performing arithmetic processing is connected to the digital memory 5.
【００１８】（２）インパルス試験方法 以上のような機器を用いて、次のようなインパルス試験
を行っている。まず、インパルスジェネレータ１が蓄え
た電荷を供試器２の端子に印加し、この印加電圧を分圧
器３が分圧して供試器２における印加電圧の時間波形を
測定する。また、放電時にシャント抵抗４の両端に発生
する電圧を測定することにより供試器２における接地電
流の時間波形を測定する。ここまでは従来の試験方法と
同じである。(2) Impulse Test Method The following impulse test is performed using the above-described equipment. First, the charge stored by the impulse generator 1 is applied to the terminal of the test device 2, and the applied voltage is divided by the voltage divider 3 to measure the time waveform of the applied voltage in the test device 2. Further, the time waveform of the ground current in the test device 2 is measured by measuring the voltage generated across the shunt resistor 4 during discharging. Up to this point, it is the same as the conventional test method.
【００１９】本実施形態の特徴は次の点にある。すなわ
ち、分圧器３およびシャント抵抗４により供試器２にお
ける印加電圧および接地電流の時間波形を測定した後、
デジタルメモリ５にてこれらの時間波形をデジタル化し
て記憶する。図２および図３はデジタルメモリ５に記憶
された電圧の時間波形７および電流の時間波形８を示し
ている。The features of this embodiment are as follows. That is, after measuring the time waveforms of the applied voltage and the ground current in the EUT 2 with the voltage divider 3 and the shunt resistor 4,
These time waveforms are digitized and stored in the digital memory 5. 2 and 3 show a voltage time waveform 7 and a current time waveform 8 stored in the digital memory 5.
【００２０】続いてコンピュータ６において、デジタル
化された印加電圧および接地電流の時間波形７、８をフ
ーリエ変換して、電圧周波数特性９および電流周波数特
性１０（共に図４に図示）を導き、これら２つの周波数
特性９、１０の比である伝達関数１１（図５に図示）を
求めるようになっている。この伝達関数１１には供試器
２の等価回路により決まる共振周波数にピーク１２が現
れるようになっている。また、本実施形態では、供試器
２に絶縁破壊が起きたと判定される場合、コンピュータ
６において絶縁破壊が起きた時間以降の時間波形のみか
ら伝達関数を求めるようになっている。Subsequently, in the computer 6, the time waveforms 7 and 8 of the digitized applied voltage and ground current are subjected to Fourier transform to derive a voltage frequency characteristic 9 and a current frequency characteristic 10 (both shown in FIG. 4). A transfer function 11 (shown in FIG. 5) which is a ratio of the two frequency characteristics 9 and 10 is obtained. The transfer function 11 has a peak 12 at a resonance frequency determined by an equivalent circuit of the test device 2. Further, in the present embodiment, when it is determined that the dielectric breakdown has occurred in the test device 2, the computer 6 determines the transfer function only from the time waveform after the time when the dielectric breakdown occurs.
【００２１】（３）作用効果 以上のような本実施形態における作用効果は次の通りで
ある。すなわち、デジタルメモリ５にてデジタル化され
た印加電圧および接地電流の時間波形７、８に基づい
て、コンピュータ６が伝達関数１１を求めるので、時間
波形７、８の変化が僅かであっても、伝達関数１１の変
化となって現れることになり、これを正確に把握するこ
とができる。前述したように、時間波形が変化した場
合、供試器２内部で絶縁破壊が起きていれば供試器２の
等価回路が変化するため伝達関数１１が変化する。した
がって、伝達関数１１が変化した場合は供試器２内部で
絶縁破壊が起きているということになる。以上のような
本実施形態によれば、伝達関数１１の変化の有無により
供試器２の良否を確実に判定することができる。(3) Operation and Effect The operation and effect of the present embodiment as described above are as follows. That is, since the computer 6 determines the transfer function 11 based on the time waveforms 7 and 8 of the applied voltage and the ground current digitized by the digital memory 5, even if the time waveforms 7 and 8 change slightly, It appears as a change in the transfer function 11, which can be accurately grasped. As described above, when the time waveform changes, if the insulation breakdown occurs inside the test device 2, the transfer function 11 changes because the equivalent circuit of the test device 2 changes. Therefore, when the transfer function 11 changes, it means that insulation breakdown has occurred inside the test device 2. According to the present embodiment as described above, the quality of the EUT 2 can be reliably determined based on whether or not the transfer function 11 has changed.
【００２２】また、本実施形態によれば、供試器２に絶
縁破壊が起きた場合、時間波形全体から伝達関数を計算
するのではなく、絶縁破壊が起きた時間以降の時間波形
のみから伝達関数を求めている。これにより、供試器２
に絶縁破壊が起きた場合の絶縁破壊箇所を特定すること
ができる。According to the present embodiment, when insulation breakdown occurs in the EUT 2, the transfer function is not calculated from the entire time waveform, but is transmitted only from the time waveform after the time when the insulation breakdown occurred. Seeking a function. Thus, the test device 2
In this case, it is possible to specify the location of the dielectric breakdown when the dielectric breakdown occurs.
【００２３】この点について、図６〜図８を用いて具体
的に説明する。電圧の時間波形１３（図６参照）および
電流の時間波形１４（図７参照）は、時間ｔ１にて供試
器２が絶縁破壊を起こしたことを示しており、図８にお
いて伝達関数１６は時間波形全てを用いて計算したも
の、伝達関数１７は絶縁破壊が起きた時間ｔ１以降の時
間波形のみを用いて計算したものを示している。This point will be specifically described with reference to FIGS. The time waveform 13 of the voltage (see FIG. 6) and the time waveform 14 of the current (see FIG. 7) indicate that the test device 2 has broken down at time t1, and the transfer function 16 in FIG. The transfer function 17 calculated using all the time waveforms, and the transfer function 17 calculated using only the time waveform after the time t1 at which the dielectric breakdown occurred.
【００２４】図８中の伝達関数１６は絶縁破壊前後の２
つの等価回路の伝達関数を含むことになるので、正確な
等価回路での故障を模擬することができない。これに対
して、図８中の伝達関数１７は絶縁破壊後の等価回路の
伝達関数のみを含むため、供試器２の等価回路から、等
価回路を変化させたときの伝達関数を波形計算ソフトで
計算することができる。そして、これを測定結果と比較
することによって供試器２の絶縁破壊箇所を正確に特定
することができる。The transfer function 16 in FIG.
Since a transfer function of two equivalent circuits is included, a failure in an accurate equivalent circuit cannot be simulated. On the other hand, since the transfer function 17 in FIG. 8 includes only the transfer function of the equivalent circuit after insulation breakdown, the transfer function when the equivalent circuit is changed from the equivalent circuit of the EUT 2 is calculated by waveform calculation software. Can be calculated by Then, by comparing this with the measurement result, the insulation breakdown portion of the test device 2 can be accurately specified.
【００２５】（４）他の実施形態 なお、本発明は以上のような実施形態に限定されるもの
ではなく、請求項３あるいは４に対応するものとして、
供試器２の伝達関数を求めておき、任意の電圧あるいは
電流を供試器２に印加したときの電流時間波形あるいは
電圧時間波形を計算するようにしても良い。つまり、伝
達関数１１（図５）が計算してあれば、電圧周波数特性
９（図４）を伝達関数１１で割ることにより、この時の
電流周波数特性１０（図４）を計算から導くことがで
き、これを逆フーリエ変換することによって、電圧時間
波形７（図２）を計算することができる。同様に、電流
周波数特性１０（図４）を伝達関数１１で割れば、この
時の電圧周波数特性９（図４）を計算でき、これを逆フ
ーリエ変換して電流時間波形８（図３）を計算すること
ができる。このような電力機器のインパルス試験方法に
よれば、任意の電圧を供試器に印加したときの電流の時
間波形、あるいは任意の電流を供試器に印加したときの
電圧の時間波形に関して、実際に測定することなく、計
算から求めることができ、きめ細かなインパルス試験を
簡単に行うことが可能となる。(4) Other Embodiments The present invention is not limited to the above-described embodiment, but corresponds to claim 3 or claim 4.
The transfer function of the EUT 2 may be obtained in advance, and a current time waveform or a voltage time waveform when an arbitrary voltage or current is applied to the EUT 2 may be calculated. That is, if the transfer function 11 (FIG. 5) is calculated, the current frequency characteristic 10 (FIG. 4) at this time can be derived from the calculation by dividing the voltage frequency characteristic 9 (FIG. 4) by the transfer function 11. The voltage time waveform 7 (FIG. 2) can be calculated by performing an inverse Fourier transform on this. Similarly, by dividing the current frequency characteristic 10 (FIG. 4) by the transfer function 11, the voltage frequency characteristic 9 (FIG. 4) at this time can be calculated, and this is subjected to inverse Fourier transform to obtain the current time waveform 8 (FIG. 3). Can be calculated. According to such an impulse test method for power equipment, the time waveform of the current when an arbitrary voltage is applied to the EUT, or the time waveform of the voltage when an arbitrary current is applied to the EUT, It can be obtained from the calculation without any measurement, and a fine impulse test can be easily performed.
【００２６】[0026]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の電力機器のインパルス試験方法によれば、分圧器およ
びシャント抵抗により測定した供試器の印加電圧および
接地電流の時間波形を、コンピュータにてフーリエ変換
して２つの周波数特性を導き、これら２つの周波数特性
の比である伝達関数を求めることによって、伝達関数の
変化の有無に伴って供試器の良否を確実に判定すること
ができた。さらに、供試器に絶縁破壊が起きた場合、絶
縁破壊状態時のみの伝達関数を計算することにより、供
試器内部の等価回路から絶縁破壊箇所を正確に特定する
ことができた。As is clear from the above description, according to the impulse test method for a power device of the present invention, the time waveforms of the applied voltage and the ground current of the test device measured by the voltage divider and the shunt resistor can be measured by the computer. By performing a Fourier transform to derive two frequency characteristics, and obtaining a transfer function that is a ratio of these two frequency characteristics, it is possible to reliably determine the quality of the EUT according to whether or not the transfer function changes. did it. Furthermore, when a dielectric breakdown occurred in the EUT, the transfer function was calculated only when the EUT was in a dielectric breakdown state, and the location of the dielectric breakdown could be accurately identified from the equivalent circuit inside the EUT.
【図１】本発明の実施形態における回路図FIG. 1 is a circuit diagram according to an embodiment of the present invention.
【図２】デジタルメモリ５に記憶された電圧の時間波形
７を示すグラフFIG. 2 is a graph showing a time waveform 7 of a voltage stored in a digital memory 5;
【図３】デジタルメモリ５に記憶された電流の時間波形
８を示すグラフFIG. 3 is a graph showing a time waveform 8 of a current stored in a digital memory 5;
【図４】時間波形７、８をフーリエ変換して得られる２
つの周波数特性９、１０を示すグラフFIG. 4 is a diagram showing 2 obtained by performing Fourier transform on time waveforms 7 and 8
Showing two frequency characteristics 9 and 10
【図５】周波数特性９、１０の比である伝達関数１１を
示すグラフFIG. 5 is a graph showing a transfer function 11, which is a ratio of frequency characteristics 9 and 10;
【図６】時間ｔ１にて供試器２が絶縁破壊を起こした際
の電圧の時間波形１３を示すグラフFIG. 6 is a graph showing a time waveform 13 of voltage when a dielectric breakdown occurs in the test device 2 at time t1.
【図７】時間ｔ１にて供試器２が絶縁破壊を起こした際
の電流の時間波形１４を示すグラフFIG. 7 is a graph showing a time waveform 14 of a current when a dielectric breakdown occurs in the test device 2 at a time t1.
【図８】伝達関数１６、１７を示すグラフFIG. 8 is a graph showing transfer functions 16 and 17;
【図９】従来例における回路図FIG. 9 is a circuit diagram in a conventional example.
１，１８…インパルスジェネレータ ２，１９…供試器 ３，２０…分圧器 ４，２２…シャント抵抗 ５…デジタルメモリ ６…コンピュータ ７，１３…電圧の時間波形 ８，１４…電流の時間波形 ９…電圧周波数特性 １０…電流周波数特性 １１，１６，１７…伝達関数 １２…伝達関数１１のピーク ２１…オシロスコープ ｔ１…供試器２が絶縁破壊を起こした時間 1, 18 impulse generator 2, 19 tester 3, 20 voltage divider 4, 22 shunt resistor 5, digital memory 6, computer 7, 13, voltage time waveform 8, 14, current time waveform 9, Voltage frequency characteristic 10 Current frequency characteristic 11, 16, 17 Transfer function 12 Peak of transfer function 11 Oscilloscope t1 Time when dielectric breakdown occurred in test device 2
Claims (4)
を印加するインパルスジェネレータと、前記供試器に印
加された印加電圧を分圧して前記供試器における印加電
圧の時間波形を測定する分圧器と、前記供試器を接地し
て前記供試器における接地電流の時間波形を測定するシ
ャント抵抗と、前記分圧器および前記シャント抵抗が測
定した時間波形をデジタル化して記憶するデジタルメモ
リと、このデジタルメモリ内のデータを取込んで演算処
理するコンピュータとを用いた電力機器のインパルス試
験方法であって、 まず、前記分圧器および前記シャント抵抗により前記供
試器における印加電圧および接地電流の時間波形を測定
し、 続いて、前記デジタルメモリにて前記時間波形をデジタ
ル化して記憶し、 さらに、前記コンピュータにおいてデジタル化された前
記印加電圧および前記接地電流の時間波形をフーリエ変
換して２つの周波数特性を導き、これら２つの周波数特
性の比である伝達関数を求めることを特徴とする電力機
器のインパルス試験方法。An impulse generator for applying an impulse voltage to a test device as a power device, and a component for dividing a voltage applied to the test device and measuring a time waveform of the applied voltage in the test device. Voltage, a shunt resistor that grounds the EUT and measures the time waveform of the ground current in the EUT, a digital memory that digitizes and stores the time waveform measured by the voltage divider and the shunt resistor, An impulse test method for a power device using a computer for taking in data in the digital memory and performing arithmetic processing, wherein first, a time of an applied voltage and a ground current in the test device by the voltage divider and the shunt resistor. Measuring the waveform, and then digitizing and storing the time waveform in the digital memory; A time waveform of the applied voltage and the ground current, which has been digitized by the Fourier transform, derives two frequency characteristics, and obtains a transfer function as a ratio of the two frequency characteristics. Method.
記コンピュータにおいて絶縁破壊が起きた時間以降の時
間波形のみから前記伝達関数を求めることを特徴とする
請求項１記載の電力機器のインパルス試験方法。2. The power device according to claim 1, wherein when the dielectric breakdown occurs in the test device, the computer determines the transfer function only from a time waveform after the time when the dielectric breakdown occurs. Impulse test method.
の電流時間波形を、前記伝達関数から計算することを特
徴とする請求項１または２記載の電力機器のインパルス
試験方法。3. The impulse test method for a power device according to claim 1, wherein a current time waveform when an arbitrary voltage is applied to the test device is calculated from the transfer function.
の電圧時間波形を、前記伝達関数から計算することを特
徴とする請求項１または２記載の電力機器のインパルス
試験方法。4. The impulse test method for a power device according to claim 1, wherein a voltage-time waveform when an arbitrary current is applied to the test device is calculated from the transfer function.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1247098A JPH11211772A (en) | 1998-01-26 | 1998-01-26 | Method for impulse testing power equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1247098A JPH11211772A (en) | 1998-01-26 | 1998-01-26 | Method for impulse testing power equipment |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11211772A true JPH11211772A (en) | 1999-08-06 |
Family
ID=11806267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1247098A Pending JPH11211772A (en) | 1998-01-26 | 1998-01-26 | Method for impulse testing power equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11211772A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009168474A (en) * | 2008-01-10 | 2009-07-30 | Nippon Technart Inc | Method of insulation withstand voltage test and its device |
| KR100996141B1 (en) | 2008-11-12 | 2010-11-24 | 한국전기연구원 | Power quality measuring system and divider circuit used in there |
| JP2011169694A (en) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | Voltage monitor apparatus |
| JP2017150828A (en) * | 2016-02-22 | 2017-08-31 | 中部電力株式会社 | Inference method and inference device for lightning stroke |
-
1998
- 1998-01-26 JP JP1247098A patent/JPH11211772A/en active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009168474A (en) * | 2008-01-10 | 2009-07-30 | Nippon Technart Inc | Method of insulation withstand voltage test and its device |
| KR100996141B1 (en) | 2008-11-12 | 2010-11-24 | 한국전기연구원 | Power quality measuring system and divider circuit used in there |
| JP2011169694A (en) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | Voltage monitor apparatus |
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