JPH11205823A - Frame position/form detection method for crt display monitor - Google Patents
Frame position/form detection method for crt display monitorInfo
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- JPH11205823A JPH11205823A JP10001318A JP131898A JPH11205823A JP H11205823 A JPH11205823 A JP H11205823A JP 10001318 A JP10001318 A JP 10001318A JP 131898 A JP131898 A JP 131898A JP H11205823 A JPH11205823 A JP H11205823A
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- display monitor
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- illumination
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ブラウン管（ＣＲ
Ｔ）を用いたカラー／モノクロディスプレイ装置やＴＶ
などの自動画質検査方法に関する。The present invention relates to a cathode ray tube (CR)
T) color / monochrome display device and TV
And other automatic image quality inspection methods.
【０００２】[0002]
【従来の技術】ＴＶやディスプレイモニタ（以下ディス
プレイと略す）に映出されるラスタは、偏向系の特性な
どにより様々な形に歪んでしまうため、その調整・検査
が必要である。そのためにはラスタの位置・形状を計測
することが必要である。また、ラスタの位置は通常、ベ
ゼルと呼ばれるディスプレイの外枠の位置を基準にした
相対位置で測られるため、ベゼルの位置測定が重要とな
ってくる。従来、ベゼルの位置測定を行う方法として
は、ストロボなどの光源をディスプレイに照射して、ベ
ゼル枠が他の部分より明るくなることを利用して、明る
さの２値化によりベゼルを検出する方法が一般的であっ
た。2. Description of the Related Art A raster projected on a TV or a display monitor (hereinafter abbreviated as a display) is distorted into various shapes due to the characteristics of a deflection system and the like. For that purpose, it is necessary to measure the position and shape of the raster. In addition, since the position of the raster is usually measured by a relative position based on the position of the outer frame of the display called a bezel, the position measurement of the bezel becomes important. Conventionally, as a method of measuring the position of the bezel, a method of irradiating a display with a light source such as a strobe and using the fact that the bezel frame becomes brighter than other portions to detect the bezel by binarizing the brightness. Was common.
【０００３】この方法では、ベゼルと他の部分との明る
さのコントラストが十分に得られることが条件となる
が、そうでない場合にも対処するため、特開平１−１３
３４９７号公報では、明るさをそのまま２値化するので
はなく、明るさの微分値を計算することによって、その
変化率の大きいところをベゼル枠のへりの部分として検
出する方法を提案している。In this method, it is required that a sufficient contrast in brightness between the bezel and other parts is obtained.
Japanese Patent No. 3497 proposes a method of calculating a differential value of brightness, instead of binarizing brightness as it is, and detecting a portion having a large change rate as an edge portion of a bezel frame. .
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
１−１３３４９７号公報では２つの点で問題がある。１
つは、たとえ微分をとったとしても、ベゼルとその他の
部分とのコントラストが十分になければやはり微分値も
小さいものとなるため、誤検出の可能性が高くなる。However, JP-A-1-133497 has two problems. 1
First, even if differentiation is performed, if the contrast between the bezel and other parts is not sufficient, the differential value will also be small, and the possibility of erroneous detection will increase.
【０００５】本特許の解決しようとする課題のひとつ
は、コントラストが十分に得られない場合に対処するこ
とである。特開平１−１３３４９７号公報のもう１つの
問題は、微分した結果を２値化して２値データとしてし
まうため、計測されるエッジ（ベゼルのへり）位置測定
精度が落ちてしまうことである。[0005] One of the problems to be solved by this patent is to cope with a case where sufficient contrast cannot be obtained. Another problem of Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-133497 is that the accuracy of measuring the measured edge (edge of the bezel) is reduced because the differentiated result is binarized and converted into binary data.
【０００６】本特許の解決しようとするもうひとつの課
題は、エッジ位置の測定精度を十分に高くすることであ
る。[0006] Another problem to be solved by the present patent is to sufficiently increase the measurement accuracy of the edge position.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】上述の第１の課題を解決
するために、本特許では、外部から適当な明るさと分光
強度特性を持った照明光を照射した状態でディスプレイ
を撮像した画像データと、照明を消した状態（もしくは
別の明るさと分光強度特性を持った照明光を照射した状
態）でディスプレイを撮像した画像データとの差違を表
す差画像データを生成しそれを解析する手段をとる。ま
た、第２の課題を解決するために、本特許では、この差
画像データのベゼルエッジ部分におけるデータ値の変化
率すなわち微分値を計算し、この分布曲線の変化率最大
の部分を含む山の濃淡重心を計算する手段を持つ。In order to solve the above-mentioned first problem, in the present invention, image data obtained by imaging a display in a state where illumination light having appropriate brightness and spectral intensity characteristics is radiated from the outside is disclosed. And means for generating and analyzing difference image data representing a difference between image data obtained by imaging the display in a state where the illumination is turned off (or a state where illumination light having different brightness and spectral intensity characteristics is emitted). Take. Further, in order to solve the second problem, in this patent, the change rate of the data value at the bezel edge portion of the difference image data, that is, the differential value is calculated, and the peak of the mountain including the maximum change rate of the distribution curve is calculated. It has means to calculate the center of gravity.
【０００８】[0008]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、差
画像を作成しそれからベゼル枠内側境界線を２値画像と
して抽出する方法と、抽出されたベゼル枠内側境界線の
２値画像と元の差画像（濃淡画像）から高精度に境界線
の位置を検出する方法に分けて説明する。なお、本実施
例における装置構成は、ごく一般的な画像処理装置であ
る。すなわち、対象物を撮像するためのＴＶカメラ（カ
ラーまたはモノクロ）および画像入力装置、そして画像
処理を行う計算機といった構成である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to a method of creating a difference image, extracting a bezel frame inner boundary line as a binary image, and a binary image of the extracted bezel frame inner boundary line. And a method of detecting the position of the boundary line with high accuracy from the original difference image (shade image). Note that the device configuration in the present embodiment is a very general image processing device. That is, the configuration includes a TV camera (color or monochrome) for capturing an image of an object, an image input device, and a computer for performing image processing.
【０００９】図１に、ベゼル枠内側境界線を抽出する手
順を示す。また、各手順中の画像の例を図３に示す。ま
ず、手順１０２において照明を点灯しながら対象となる
ディスプレイを撮像し、濃淡画像Ａとする（図３の２０
２）。図２は、被検査ディスプレイを、照明で照らす様
子を示したものであるが、照明を点灯したときと消灯し
たときの明るさの差が、ベゼル枠の各部分において十分
に大きくなるように照明を配置する。FIG. 1 shows a procedure for extracting a bezel frame inner boundary line. FIG. 3 shows an example of an image during each procedure. First, in step 102, the target display is imaged while the illumination is turned on, and is set as a gray image A (see FIG.
2). FIG. 2 shows a state in which the display to be inspected is illuminated by the illumination. The illumination is set such that the difference in brightness between when the illumination is turned on and when the illumination is turned off is sufficiently large in each part of the bezel frame. Place.
【００１０】次に、手順１０４において照明を消灯して
対象となるディスプレイを撮像し、濃淡画像Ｂとする
（図３の２０４）。これらの例図でも分かるように、デ
ィスプレイの画面にはテストパターンが発光していても
良い。また、背景に明るい部分があっても良い。Next, in step 104, the illumination is turned off, and the target display is imaged to obtain a gray image B (204 in FIG. 3). As can be seen from these example diagrams, a test pattern may be emitted on the screen of the display. Also, there may be a bright part in the background.
【００１１】次に、手順１０６において濃淡画像ＡとＢ
の各画素の値の差をとり差画像Ｃを作成する（図３の２
０６）。なお、Ａの値がＢの値よりも小さい画素ではＣ
の値は０とする。次に、手順１０８において濃淡画像Ｃ
をある一定のしきい値で２値化して２値画像Ｄとする
（図３の２０８）。この際の２値化のしきい値は、予め
実験的に求めることができる。Next, in step 106, the gray images A and B
The difference between the values of the respective pixels is taken to create a difference image C (2 in FIG. 3).
06). In a pixel where the value of A is smaller than the value of B, C
Is 0. Next, in step 108, the grayscale image C
Is binarized with a certain threshold to obtain a binary image D (208 in FIG. 3). The threshold value for binarization at this time can be obtained experimentally in advance.
【００１２】例えば、画像Ａ、Ｂの左上の明るい背景部
分は差をとることによってほとんど０に近い値をとるし
（ただしノイズレベルは残る）、画面内部のラスタの光
っている部分も同様に差をとることによってほとんど０
となるため、ノイズレベルを十分に除去できる程度の低
いしきい値で２値化することができる。ただし、本例で
は単純な２値化を考えているので、ベゼル枠全体が不均
一に照明されていて差画像の値が低い部分がカットされ
る危険がある場合がある。For example, a bright background portion at the upper left of the images A and B takes a value almost close to 0 (however, the noise level remains) by taking the difference, and a shining portion of the raster inside the screen similarly has a difference. By taking almost 0
Therefore, binarization can be performed with a threshold value that is low enough to sufficiently remove the noise level. However, in this example, since simple binarization is considered, there is a case where the entire bezel frame is unevenly illuminated and a portion where the value of the difference image is low may be cut.
【００１３】この場合は照明の明るさや配置を工夫し、
また必要ならば２値化のしきい値を調節し、ノイズをあ
まり拾わない程度に低くすればよい。なお、画像Ｄの例
（２０８）にも現れているが、ディスプレイ画面の中程
には照明光の正反射が写り込んでいる。In this case, the brightness and arrangement of the lighting are devised,
If necessary, the threshold value for binarization may be adjusted so that the noise is not so much picked up. As shown in the example (208) of the image D, the specular reflection of the illumination light is reflected in the middle of the display screen.
【００１４】また、右側に細い円弧状に光っている部分
があるがこれは照明から漏れた光がカメラに直接入射し
たものである。更に、左下の部分は、ディスプレイが置
かれている台が照明によって光ったものである。また、
ベゼル枠左側には白い物体が枠に接しているがこれは例
えば作業者が背後で動いたことによって差画像に現れた
ものである。２値画像Ｄに現れるこれらの余計な白領域
は、後続の処理によってその影響を取り除くことができ
る。On the right side, there is a portion shining in a thin arc shape, which is a result of light leaking from the illumination directly entering the camera. Further, the lower left part is a table on which the display is placed illuminated by illumination. Also,
A white object is in contact with the frame on the left side of the bezel frame, which appears in the difference image due to, for example, the worker moving behind. These extra white areas appearing in the binary image D can be removed by subsequent processing.
【００１５】次の手順１１０では、２値画像Ｄをラベリ
ングしラベル画像Ｅを得る。これは通常の２値画像のラ
ベリングである。次に、手順１１２において、ラベル画
像Ｅの中の各ラベル領域の縦幅および横幅を調べ、その
和の値が最大となるラベルをベゼル枠を含むラベルと判
定する。そしてこのラベルを白黒反転した画像を２値画
像Ｆとする（図３の２１０）。In the next step 110, a label image E is obtained by labeling the binary image D. This is the labeling of a normal binary image. Next, in step 112, the vertical width and the horizontal width of each label area in the label image E are checked, and the label having the maximum sum is determined as the label including the bezel frame. An image obtained by inverting the label in black and white is defined as a binary image F (210 in FIG. 3).
【００１６】画像Ｆの例２１０を見て分かる通り、ディ
スプレイ画面中の照明からの正反射光成分は消えてベゼ
ル内側領域を表す白領域と、外側の画像データ外縁に接
する領域と、その他の周辺に存在する小領域に分かれて
いる。そこで、手順１１４において２値画像Ｆを再度ラ
ベリングし、画面中央に位置し大きさの最大のラベルを
もってベゼル内側領域を表す２値画像Ｇを得る。なお、
周辺のラベルは大きいが、通常は画像外縁に接している
ためラベリングでラベル番号が１となることが分かって
おり容易に除去できる。この後、画像Ｇの輪郭線追跡を
行うことによってベゼル枠内側境界線を表す２値画像Ｈ
（図３の２１４）を得る。As can be seen from example 210 of image F, the specularly reflected light component from the illumination in the display screen disappears, a white area representing the inner area of the bezel, an area in contact with the outer edge of the image data, and other peripheral areas. Are divided into small areas. Therefore, in step 114, the binary image F is labeled again to obtain a binary image G that is located at the center of the screen and that represents the bezel inner region with the largest label. In addition,
Although the peripheral label is large, it is known that the label number becomes 1 by labeling since the label is usually in contact with the outer edge of the image, and the label can be easily removed. Thereafter, by performing contour line tracing of the image G, a binary image H representing a bezel frame inner boundary line is obtained.
(214 in FIG. 3) is obtained.
【００１７】次に、以上の手順で抽出されたベゼル枠内
側境界線の２値画像と、元の差画像（濃淡画像）から、
高精度に境界線の位置を検出する方法について図４を用
いて説明する。図４の最初の手順３０２では、図１の手
順１１６にて求められたベゼル枠内側境界線の２値画像
Ｈの「１」画素上で、差画像ＣのＨ方向とＶ方向の微分
値をそれぞれ求め、Ｈ方向微分の値がＶ方向微分の値よ
りも大きければその点は上辺または下辺に属すると判定
する。逆に、Ｖ方向微分の値がＨ方向微分の値よりも大
きければその点は左辺または右辺に属すると判定する。Next, from the binary image of the inner boundary line of the bezel frame extracted by the above procedure and the original difference image (shade image),
A method for detecting the position of the boundary line with high accuracy will be described with reference to FIG. In the first step 302 of FIG. 4, the differential values of the difference image C in the H direction and the V direction on the “1” pixel of the binary image H of the inner boundary line of the bezel frame obtained in the step 116 of FIG. If the value of the H-direction derivative is greater than the value of the V-direction derivative, it is determined that the point belongs to the upper side or the lower side. Conversely, if the value of the derivative in the V direction is greater than the value of the derivative in the H direction, it is determined that the point belongs to the left side or the right side.
【００１８】そして、上下辺と判定された画素点の縦座
標の平均値を求め、平均値より上方向にある画素を上辺
と判定し、平均値より下方向にある画素を下辺と判定す
る。同様に、左右辺と判定された画素点の横座標の平均
値を求め、平均値より左方向にある画素を左辺と判定
し、平均値より右方向にある画素を右辺と判定する。こ
れにより手順３０２により輪郭画像Ｈ上の点列が上・下
・左・右辺に分割できる。Then, the average value of the ordinates of the pixel points determined to be the upper and lower sides is determined, and a pixel located above the average value is determined as an upper side, and a pixel located below the average value is determined as a lower side. Similarly, the average value of the abscissas of the pixel points determined to be the left and right sides is determined, the pixel located on the left side of the average value is determined as the left side, and the pixel located on the right side of the average value is determined as the right side. As a result, the point sequence on the contour image H can be divided into upper, lower, left, and right sides by the procedure 302.
【００１９】次に、手順３０４により上・下・左・右辺
に分割された各辺上の各画素につき、その画素の属する
辺に垂直な方向の差画素Ｃにおける輝度分布を元に、そ
の画素の属する辺に垂直な方向のサブピクセル座標を計
算する。例えば、ある画素について、その画素の属する
辺に垂直な方向の差画像Ｃにおける輝度分布の例を図５
の４０２に示す。この曲線の中心にあたり、傾きのもっ
とも大きい点付近にエッジ位置があると推測される。そ
こで本実施例では、エッジ位置のサブピクセル算出方法
として、次のような方法をとる。Next, for each pixel on each side divided into upper, lower, left, and right sides in step 304, based on the luminance distribution in the difference pixel C in the direction perpendicular to the side to which the pixel belongs, Calculate the sub-pixel coordinates in the direction perpendicular to the side to which belongs. For example, FIG. 5 shows an example of a luminance distribution of a certain pixel in a difference image C in a direction perpendicular to a side to which the pixel belongs.
402. At the center of this curve, it is assumed that there is an edge position near the point with the largest slope. Therefore, in the present embodiment, the following method is used as a sub-pixel calculation method of the edge position.
【００２０】まず、図５の４０２の曲線を微分する。こ
れは図５の４０４のような曲線になる。この４０４の曲
線の最大点の位置では元の曲線４０２の傾きが最大にな
っている。しかし、このままでは位置算出分解能は画素
単位であり、サブピクセル精度は出ない。そこで４０４
の曲線の、エッジ位置にできる微分の極大点を含む山の
輝度重心位置を算出し、これを測定値とすることにす
る。これにより、計算分解能がサブピクセルになると同
時に、実際に実験で確かめた結果、測定絶対精度もサブ
ピクセルになることが分かった。First, the curve 402 in FIG. 5 is differentiated. This results in a curve like 404 in FIG. At the position of the maximum point of the curve 404, the slope of the original curve 402 is maximum. However, in this state, the position calculation resolution is on a pixel-by-pixel basis, and no sub-pixel accuracy is obtained. So 404
Of the curve including the local maximum point of the derivative formed at the edge position is calculated, and this is used as a measured value. As a result, at the same time as the calculation resolution becomes a sub-pixel, it was found that the absolute measurement accuracy was also a sub-pixel as a result of actual experiments.
【００２１】また、更なる精度の向上を目指して、曲線
４０２を適当な方法で補間し、その微分値をとって輝度
重心位置を求めることが考えられる。In order to further improve the accuracy, it is conceivable to interpolate the curve 402 by an appropriate method and obtain the luminance centroid position by taking the differential value.
【００２２】以上に説明した手順３０４により、ベゼル
枠内側境界線の高精度位置座標が求められる。残る、手
順３０６および３０８は、ベゼル枠内側境界の基準点と
なるべき四隅の４点のサブピクセル座標を求める手順で
ある。まず、手順３０６において各コーナー４点に近い
部分の各辺のサブピクセル座標列を、各辺ごとに直線な
いしは２次曲線近似する。According to the procedure 304 described above, high-precision position coordinates of the inner boundary line of the bezel frame are obtained. The remaining steps 306 and 308 are steps for obtaining four sub-pixel coordinates at four corners to be used as reference points for the inner boundary of the bezel frame. First, in step 306, the sub-pixel coordinate sequence of each side near the four corners is approximated by a straight line or a quadratic curve for each side.
【００２３】例えば、左上コーナー点のサブピクセル座
標を求めるためには、左辺および上辺を構成する点列の
うち左上コーナーに近い部分の点をとり、直線ないしは
曲線近似する。そして、手順３０８においてこれらの交
点座標を計算し、求める四隅の４点のサブピクセル座標
とする。以上の手順３０２〜３０８により、ベゼル枠内
側の四隅の４点のサブピクセル座標が求められ、高精度
にベゼル座標系を構成することができるようになる。For example, in order to obtain the sub-pixel coordinates of the upper left corner point, a point close to the upper left corner in a sequence of points forming the left side and the upper side is taken and a straight line or a curve is approximated. Then, in step 308, the coordinates of these intersections are calculated and used as the subpixel coordinates of the four points at the four corners to be obtained. By the above procedures 302 to 308, the subpixel coordinates of the four points at the four corners inside the bezel frame are obtained, and the bezel coordinate system can be configured with high accuracy.
【００２４】[0024]
【発明の効果】本発明によれば、外部から照明を当てた
ときと当てないときの差画像を利用することにより、非
目的物が消滅し、目的部分すなわちベゼル枠の鮮明な画
像が得られるので、安定してベゼル枠を検出することが
できる。更に、ベゼルの各エッジ部分において、輝度分
布の微分曲線の輝度重心位置を、必要とあらば補間処理
を組み合わせて計算することにより、高精度なサブピク
セル位置検出が可能となる。According to the present invention, the non-object is eliminated by using the difference image between when the illumination is applied from the outside and when the illumination is not applied, and a clear image of the target portion, that is, the bezel frame is obtained. Therefore, the bezel frame can be detected stably. Further, in each edge portion of the bezel, the luminance centroid position of the differential curve of the luminance distribution is calculated by combining interpolation processing as necessary, thereby enabling highly accurate sub-pixel position detection.
【図１】本発明の一実施例におけるベゼル枠検出処理手
順を示すフローチャート図。FIG. 1 is a flowchart illustrating a bezel frame detection processing procedure according to an embodiment of the present invention.
【図２】ベゼル枠を検出するための照明をディスプレイ
の前方に配置したことを示す図。FIG. 2 is a diagram showing that illumination for detecting a bezel frame is arranged in front of a display.
【図３】図１に示す処理手順に従って処理を行った場合
の処理画像の例を示す図。FIG. 3 is a view showing an example of a processed image when processing is performed according to the processing procedure shown in FIG. 1;
【図４】本発明の一実施例におけるベゼル枠位置高精度
算出処理手順を示すフローチャート図。FIG. 4 is a flowchart showing a bezel frame position high-accuracy calculation processing procedure in one embodiment of the present invention.
【図５】ベゼルエッジにおける輝度分布とその部分曲線
を例示した図。FIG. 5 is a diagram exemplifying a luminance distribution at a bezel edge and a partial curve thereof.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北川 泰治 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株式 会社日立製作所生産技術研究所内 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor Taiji Kitagawa 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Pref.
Claims (3)
照射してディスプレイモニタを撮像した画像と照明を消
灯して撮像した画像との差を計測することにより、ベゼ
ル枠の位置・形状を測定することを特徴とするＣＲＴデ
ィスプレイモニタの枠位置・形状検出方法。1. A method for measuring the position and shape of a bezel frame by irradiating an appropriate illumination to a CRT display monitor and measuring a difference between an image captured by the display monitor and an image captured by extinguishing the illumination. A method for detecting the position and shape of a frame of a CRT display monitor.
を検出する方法であって、適当な照明を照射してディス
プレイモニタを撮像した画像と照明を消灯して撮像した
画像との違いを表す画像すなわち差画像を求めるステッ
プと、この差画像を定められたしきい値により２値化を
行うステップと、２値化された画像からディスプレイモ
ニタのベゼル枠の上下左右の４辺を求め、それぞれの辺
の輪郭点列の座標を元の差画像からサブピクセル精度で
求めるステップと、サブピクセル精度で求めた上下左右
の４辺の点列を直線、ないしは二次曲線等で近似し、そ
れらの交点を求めるステップを持ったＣＲＴディスプレ
イモニタの枠位置・形状検出方法。2. A method for detecting the position of a bezel frame of a CRT display monitor, comprising: an image representing a difference between an image obtained by irradiating an appropriate illumination on the display monitor and an image obtained by turning off the illumination, that is, a difference. An image obtaining step, a step of binarizing the difference image with a predetermined threshold value, and obtaining the four sides of the bezel frame of the display monitor from the binarized image. A step of obtaining the coordinates of the contour point sequence from the original difference image with sub-pixel accuracy, and approximating a point sequence of four sides of upper, lower, left and right obtained with sub-pixel accuracy by a straight line or a quadratic curve, and obtaining an intersection thereof A method for detecting the frame position / shape of a CRT display monitor having steps.
を検出する方法であって、適当な照明を照射してディス
プレイモニタを撮像した画像と照明を消灯して撮像した
画像との違いを表す画像すなわち差画像を求めるステッ
プと、この差画像の２値化を行うステップと、この２値
化画像をラベリングするステップと、出てきたラベルの
中から画面枠内側を表す２値画像を抽出するステップ
と、この２値画像の輪郭追跡を行うステップと、抽出さ
れた輪郭点列を、上下左右の４辺に分割し、それぞれの
辺の輪郭点列の座標を元の差画像からサブピクセル精度
で求めるステップと、サブピクセル精度で求めた上下左
右の４辺の点列を直線、ないしは二次曲線等で近似し、
それらの交点を求めるステップを持ったＣＲＴディスプ
レイモニタの枠位置・形状検出方法。3. A method for detecting the position of a bezel frame of a CRT display monitor, comprising: an image representing a difference between an image obtained by irradiating an appropriate illumination on the display monitor and an image obtained by turning off the illumination, that is, a difference. A step of obtaining an image, a step of binarizing the difference image, a step of labeling the binarized image, and a step of extracting a binary image representing the inside of the screen frame from the labels that appear. A step of tracking the outline of the binary image and a step of dividing the extracted outline point sequence into four sides, that is, upper, lower, left, and right, and obtaining coordinates of the outline point sequence of each side from the original difference image with subpixel accuracy. And the point sequence of the four sides of the upper, lower, left and right obtained with sub-pixel accuracy is approximated by a straight line or a quadratic curve,
A method for detecting a frame position / shape of a CRT display monitor having a step of obtaining those intersections.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10001318A JPH11205823A (en) | 1998-01-07 | 1998-01-07 | Frame position/form detection method for crt display monitor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10001318A JPH11205823A (en) | 1998-01-07 | 1998-01-07 | Frame position/form detection method for crt display monitor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11205823A true JPH11205823A (en) | 1999-07-30 |
Family
ID=11498156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10001318A Pending JPH11205823A (en) | 1998-01-07 | 1998-01-07 | Frame position/form detection method for crt display monitor |
Country Status (1)
| Country | Link |
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1998
- 1998-01-07 JP JP10001318A patent/JPH11205823A/en active Pending
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