JPH11194144A - ネットワーク・アナライザ測定方法 - Google Patents
ネットワーク・アナライザ測定方法Info
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- JPH11194144A JPH11194144A JP10293456A JP29345698A JPH11194144A JP H11194144 A JPH11194144 A JP H11194144A JP 10293456 A JP10293456 A JP 10293456A JP 29345698 A JP29345698 A JP 29345698A JP H11194144 A JPH11194144 A JP H11194144A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/28—Measuring attenuation, gain, phase shift or derived characteristics of electric four pole networks, i.e. two-port networks; Measuring transient response
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】装置パラメータのフル・セットを探索しない場
合、または、装置パラメータの少なくとも１つの特性表
示において、測定感度を犠牲にすることが可能な場合
に、ダイナミック・レンジの広い装置の測定速度を速め
るネットワーク・アナライザ測定方法を提供すること。 【解決手段】ネットワーク・アナライザの対応する各掃
引毎に、ＩＦフィルタの帯域幅を調整するステップが含
まれており、それに基づいて、装置パラメータのサブセ
ットが探索される。ダイナミック・レンジの広い装置の
散乱パラメータＳ２１等の順方向伝送パラメータを高測
定感度で探索する場合、第１のＩＦ帯域幅を、第２のＩ
Ｆ帯域幅より狭く選択し、該装置の散乱パラメータＳ１
２等の逆方向伝送パラメータを高測定感度で探索する場
合、第２のＩＦ帯域幅を第１のＩＦ帯域幅より狭く選択
する。
合、または、装置パラメータの少なくとも１つの特性表
示において、測定感度を犠牲にすることが可能な場合
に、ダイナミック・レンジの広い装置の測定速度を速め
るネットワーク・アナライザ測定方法を提供すること。 【解決手段】ネットワーク・アナライザの対応する各掃
引毎に、ＩＦフィルタの帯域幅を調整するステップが含
まれており、それに基づいて、装置パラメータのサブセ
ットが探索される。ダイナミック・レンジの広い装置の
散乱パラメータＳ２１等の順方向伝送パラメータを高測
定感度で探索する場合、第１のＩＦ帯域幅を、第２のＩ
Ｆ帯域幅より狭く選択し、該装置の散乱パラメータＳ１
２等の逆方向伝送パラメータを高測定感度で探索する場
合、第２のＩＦ帯域幅を第１のＩＦ帯域幅より狭く選択
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ネットワーク・ア
ナライザの測定技術に関し、より詳細には、IF帯域幅を
選択的に変更することのできるネットワーク・アナライ
ザの測定技術に関する。
ナライザの測定技術に関し、より詳細には、IF帯域幅を
選択的に変更することのできるネットワーク・アナライ
ザの測定技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】最新のネットワーク・アナライザにおい
て、測定速度は、ますますクリティカルな性能的特徴に
なってきた。高速な測定速度は製造環境において極めて
望ましい場合があるので、ネットワーク・アナライザの
ユーザは、測定速度において対応する向上を実現するこ
とができれば、順方向伝送パラメータまたは逆方向伝送
パラメータといった装置のパラメータの特性を明らかに
する場合に、測定感度を犠牲にすることをいとわない可
能性がある。代わりに、測定速度において対応する向上
を実現できる場合、ユーザは、テストを受ける装置すな
わち被試験対象（ＤＵＴ）に関して測定される特性表示
パラメータのフル・セットより少ないパラメータの抽出
を選択することも可能である。測定用途によっては、Ｄ
ＵＴの性能を検証するために、逆方向伝送散乱パラメー
タＳ１２のような装置パラメータの特性を明らかにする
必要がない場合もあり得る。しかし、市販のネットワー
ク・アナライザに固有の測定エラーあるいは測定誤差の
ため、ＤＵＴの順方向伝送パラメータの特性表示は、Ｄ
ＵＴの順方向伝送特性の測定だけでなく、ＤＵＴの逆方
向伝送特性及び順方向及び逆方向反射特性の測定にも依
存する。従って、装置の順方向伝送パラメータだけが探
索される測定用途であっても、ただ単にＤＵＴの逆方向
伝送パラメータ及び反射パラメータの測定を省略するだ
けでは、測定速度を増すことはできない。測定速度は、
ＤＵＴでの減衰が大きいか、または、ダイナミック・レ
ンジが広いために、ネットワーク・アナライザに低レベ
ルの信号が生じる場合にとりわけ影響を受ける。
て、測定速度は、ますますクリティカルな性能的特徴に
なってきた。高速な測定速度は製造環境において極めて
望ましい場合があるので、ネットワーク・アナライザの
ユーザは、測定速度において対応する向上を実現するこ
とができれば、順方向伝送パラメータまたは逆方向伝送
パラメータといった装置のパラメータの特性を明らかに
する場合に、測定感度を犠牲にすることをいとわない可
能性がある。代わりに、測定速度において対応する向上
を実現できる場合、ユーザは、テストを受ける装置すな
わち被試験対象（ＤＵＴ）に関して測定される特性表示
パラメータのフル・セットより少ないパラメータの抽出
を選択することも可能である。測定用途によっては、Ｄ
ＵＴの性能を検証するために、逆方向伝送散乱パラメー
タＳ１２のような装置パラメータの特性を明らかにする
必要がない場合もあり得る。しかし、市販のネットワー
ク・アナライザに固有の測定エラーあるいは測定誤差の
ため、ＤＵＴの順方向伝送パラメータの特性表示は、Ｄ
ＵＴの順方向伝送特性の測定だけでなく、ＤＵＴの逆方
向伝送特性及び順方向及び逆方向反射特性の測定にも依
存する。従って、装置の順方向伝送パラメータだけが探
索される測定用途であっても、ただ単にＤＵＴの逆方向
伝送パラメータ及び反射パラメータの測定を省略するだ
けでは、測定速度を増すことはできない。測定速度は、
ＤＵＴでの減衰が大きいか、または、ダイナミック・レ
ンジが広いために、ネットワーク・アナライザに低レベ
ルの信号が生じる場合にとりわけ影響を受ける。
【０００３】現在利用可能な測定方法では、測定感度を
向上させようとして、ダイナミック・レンジの広いＤＵ
Ｔの順方向と逆方向の伝送及び反射特性を測定する場
合、ネットワーク・アナライザに狭いＩＦ（中間周波
数）帯域幅が無差別に用いられている。ＩＦ帯域幅が狭
いために、ネットワーク・アナライザの測定応答時間が
遅延するので、ＤＵＴの伝送及び反射パラメータのフル
・セットの測定に狭いＩＦ帯域幅をこのように無差別に
用いる結果として、測定速度が甚だしく制限されること
になる。
向上させようとして、ダイナミック・レンジの広いＤＵ
Ｔの順方向と逆方向の伝送及び反射特性を測定する場
合、ネットワーク・アナライザに狭いＩＦ（中間周波
数）帯域幅が無差別に用いられている。ＩＦ帯域幅が狭
いために、ネットワーク・アナライザの測定応答時間が
遅延するので、ＤＵＴの伝送及び反射パラメータのフル
・セットの測定に狭いＩＦ帯域幅をこのように無差別に
用いる結果として、測定速度が甚だしく制限されること
になる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、装置パラメータのフル・セットを探索しない場合、
または、装置パラメータの少なくとも１つの特性表示に
おいて、測定感度を犠牲にすることが可能な場合に、ダ
イナミック・レンジの広い装置の測定速度を速めるネッ
トワーク・アナライザ測定方法を提供することにある。
は、装置パラメータのフル・セットを探索しない場合、
または、装置パラメータの少なくとも１つの特性表示に
おいて、測定感度を犠牲にすることが可能な場合に、ダ
イナミック・レンジの広い装置の測定速度を速めるネッ
トワーク・アナライザ測定方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の望ましい実施態
様による測定方法では、ダイナミック・レンジの広い装
置に関する測定速度を増すため、ネットワーク・アナラ
イザのＩＦ帯域幅が選択的に変更される。テストを受け
る装置（ＤＵＴ）に関する順方向と逆方向の伝送及び反
射パラメータのフル・セットより少ないパラメータを探
索するか、または、１つ以上の装置パラメータの測定感
度を犠牲にする場合には、測定速度が増すことになる。
ダイナミック・レンジの広いＤＵＴの場合、逆方向伝送
パラメータに対するノイズの影響は、ＤＵＴの順方向伝
送パラメータの測定確度にほとんど影響を及ぼさない。
本発明の第１の望ましい実施態様によれば、測定方法に
は、ネットワーク・アナライザの対応する各掃引毎に、
ＩＦフィルタの帯域幅を調整するステップが含まれてお
り、それに基づいて、装置パラメータのサブセットが探
索される。テストを受ける装置の順方向伝送及び反射特
性は、第１のＩＦ帯域幅を利用して測定され、テストを
受ける装置の逆方向伝送及び反射特性は、第２のＩＦ帯
域幅を利用して測定される。ダイナミック・レンジの広
い装置の散乱パラメータＳ２１のような順方向伝送パラ
メータを高測定感度で探索する場合、第１のＩＦ帯域幅
は、第２のＩＦ帯域幅より狭くなるように選択される。
該装置の散乱パラメータＳ１２のような逆方向伝送パラ
メータを高測定感度で探索する場合、第２のＩＦ帯域幅
は、第１のＩＦ帯域幅より狭くなるように選択される。
第１のＩＦ帯域幅と第２のＩＦ帯域幅が大きく異なる場
合、２つの独立したＩＦ帯域幅の選択によって、測定速
度を約２倍に増すことができる。
様による測定方法では、ダイナミック・レンジの広い装
置に関する測定速度を増すため、ネットワーク・アナラ
イザのＩＦ帯域幅が選択的に変更される。テストを受け
る装置（ＤＵＴ）に関する順方向と逆方向の伝送及び反
射パラメータのフル・セットより少ないパラメータを探
索するか、または、１つ以上の装置パラメータの測定感
度を犠牲にする場合には、測定速度が増すことになる。
ダイナミック・レンジの広いＤＵＴの場合、逆方向伝送
パラメータに対するノイズの影響は、ＤＵＴの順方向伝
送パラメータの測定確度にほとんど影響を及ぼさない。
本発明の第１の望ましい実施態様によれば、測定方法に
は、ネットワーク・アナライザの対応する各掃引毎に、
ＩＦフィルタの帯域幅を調整するステップが含まれてお
り、それに基づいて、装置パラメータのサブセットが探
索される。テストを受ける装置の順方向伝送及び反射特
性は、第１のＩＦ帯域幅を利用して測定され、テストを
受ける装置の逆方向伝送及び反射特性は、第２のＩＦ帯
域幅を利用して測定される。ダイナミック・レンジの広
い装置の散乱パラメータＳ２１のような順方向伝送パラ
メータを高測定感度で探索する場合、第１のＩＦ帯域幅
は、第２のＩＦ帯域幅より狭くなるように選択される。
該装置の散乱パラメータＳ１２のような逆方向伝送パラ
メータを高測定感度で探索する場合、第２のＩＦ帯域幅
は、第１のＩＦ帯域幅より狭くなるように選択される。
第１のＩＦ帯域幅と第２のＩＦ帯域幅が大きく異なる場
合、２つの独立したＩＦ帯域幅の選択によって、測定速
度を約２倍に増すことができる。
【０００６】本発明の第２の望ましい実施態様によれ
ば、順方向伝送パラメータ、逆方向伝送パラメータ、順
方向反射パラメータ、及び、逆方向反射パラメータのそ
れぞれについて、別個の測定掃引が用いられる。この測
定方法によれば、ネットワーク・アナライザの４つの独
立した測定掃引のそれぞれについて、ＩＦ帯域幅を別個
に選択することが可能になる。一般に、順方向反射パラ
メータ及び逆方向反射パラメータは、振幅が大きく、比
較的広いＩＦ帯域幅を用いて測定される。順方向と逆方
向の伝送パラメータの一方だけを測定するために、狭い
ＩＦ帯域幅が選択される場合、４つの個別ＤＵＴ測定の
１つだけのために狭いＩＦ帯域幅を選択することによっ
て、測定速度を約４倍に増すことができる。
ば、順方向伝送パラメータ、逆方向伝送パラメータ、順
方向反射パラメータ、及び、逆方向反射パラメータのそ
れぞれについて、別個の測定掃引が用いられる。この測
定方法によれば、ネットワーク・アナライザの４つの独
立した測定掃引のそれぞれについて、ＩＦ帯域幅を別個
に選択することが可能になる。一般に、順方向反射パラ
メータ及び逆方向反射パラメータは、振幅が大きく、比
較的広いＩＦ帯域幅を用いて測定される。順方向と逆方
向の伝送パラメータの一方だけを測定するために、狭い
ＩＦ帯域幅が選択される場合、４つの個別ＤＵＴ測定の
１つだけのために狭いＩＦ帯域幅を選択することによっ
て、測定速度を約４倍に増すことができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】図１には、本発明の望ましい実施
態様に従って構成された測定方法に用いられるネットワ
ーク・アナライザ２０が示されている。信号源２２が、
テストを受ける装置あるいは被測定装置（ＤＵＴ）に対
して刺激信号あるいはスティミュラス信号２１、２３を
加える。受信機Ｒ１ないしＲ４は、信号源２２によって
加えられた刺激信号２１、２３に対するＤＵＴの応答信
号を測定し、応答信号のそれぞれを固定した中間周波数
（ＩＦ）に変換する。中間周波数（ＩＦ）フィルタＦ１
ないしＦ４は、固定ＩＦにおいて測定された応答信号に
フィルタリングを施す。各ＩＦフィルタＦ１ないしＦ４
の帯域幅は、帯域幅制御信号を介して選択される。ノー
ドＮ１ないしＮ４におけるフィルタリングを施された信
号は、検出／処理装置２４に供給される。一般に、散乱
パラメータ（Ｓパラメータ）Ｓ１１のような順方向反射
パラメータは、主として、ノードＮ１に生じる信号対ノ
ードＮ２に生じる信号の比によって決まる。Ｓパラメー
タＳ２２のような逆方向反射パラメータは、主として、
ノードＮ３に生じる信号対ノードＮ４に生じる信号の比
によって決まる。ＳパラメータＳ２１のような順方向伝
送パラメータは、主として、ノードＮ３とＮ１に生じる
信号の比によって決まる。ＳパラメタＳ１２のような逆
方向伝送パラメータは、主として、ノードＮ２とＮ４に
生じる信号の比によって決まる。
態様に従って構成された測定方法に用いられるネットワ
ーク・アナライザ２０が示されている。信号源２２が、
テストを受ける装置あるいは被測定装置（ＤＵＴ）に対
して刺激信号あるいはスティミュラス信号２１、２３を
加える。受信機Ｒ１ないしＲ４は、信号源２２によって
加えられた刺激信号２１、２３に対するＤＵＴの応答信
号を測定し、応答信号のそれぞれを固定した中間周波数
（ＩＦ）に変換する。中間周波数（ＩＦ）フィルタＦ１
ないしＦ４は、固定ＩＦにおいて測定された応答信号に
フィルタリングを施す。各ＩＦフィルタＦ１ないしＦ４
の帯域幅は、帯域幅制御信号を介して選択される。ノー
ドＮ１ないしＮ４におけるフィルタリングを施された信
号は、検出／処理装置２４に供給される。一般に、散乱
パラメータ（Ｓパラメータ）Ｓ１１のような順方向反射
パラメータは、主として、ノードＮ１に生じる信号対ノ
ードＮ２に生じる信号の比によって決まる。Ｓパラメー
タＳ２２のような逆方向反射パラメータは、主として、
ノードＮ３に生じる信号対ノードＮ４に生じる信号の比
によって決まる。ＳパラメータＳ２１のような順方向伝
送パラメータは、主として、ノードＮ３とＮ１に生じる
信号の比によって決まる。ＳパラメタＳ１２のような逆
方向伝送パラメータは、主として、ノードＮ２とＮ４に
生じる信号の比によって決まる。
【０００８】ネットワーク・アナライザ２０内における
不整合エラーあるいは不整合誤差Ｅ１ないしＥ４のた
め、Ｓパラメータは、それぞれ、測定されたＳパラメー
タＳ１１ｍ、Ｓ２１ｍ、Ｓ１２ｍ、及び、Ｓ２２ｍによ
って決まる。例えば、順方向伝送ＳパラメータＳ２１の
ような所望のＳパラメータの抽出は、測定された順方向
伝送特性Ｓ２１ｍ、測定された順方向反射特性Ｓ１１
ｍ、測定された逆方向伝送特性Ｓ２２ｍ、測定された逆
方向反射特性Ｓ１２ｍと、下記の関係式（１）に基づ
く、検出／処理装置２４における較正エラー項あるいは
キャリブレーション誤差項Ｅ１ないしＥ４による補正か
ら実現される：
不整合エラーあるいは不整合誤差Ｅ１ないしＥ４のた
め、Ｓパラメータは、それぞれ、測定されたＳパラメー
タＳ１１ｍ、Ｓ２１ｍ、Ｓ１２ｍ、及び、Ｓ２２ｍによ
って決まる。例えば、順方向伝送ＳパラメータＳ２１の
ような所望のＳパラメータの抽出は、測定された順方向
伝送特性Ｓ２１ｍ、測定された順方向反射特性Ｓ１１
ｍ、測定された逆方向伝送特性Ｓ２２ｍ、測定された逆
方向反射特性Ｓ１２ｍと、下記の関係式（１）に基づ
く、検出／処理装置２４における較正エラー項あるいは
キャリブレーション誤差項Ｅ１ないしＥ４による補正か
ら実現される：
【０００９】（１）Ｓ２１＝Ｓ２１ｍ（１＋Ｓ２２ｍ＊
Ｅ１）／（（１＋Ｓ１１ｍ＊Ｅ２）（１＋Ｓ２２＊Ｅ
３）−（Ｓ２１ｍ＊Ｓ１２ｍ＊Ｅ４））
Ｅ１）／（（１＋Ｓ１１ｍ＊Ｅ２）（１＋Ｓ２２＊Ｅ
３）−（Ｓ２１ｍ＊Ｓ１２ｍ＊Ｅ４））
【００１０】式（１）に示すように、ＳパラメータＳ２
１は、測定された順方向伝送ＳパラメータＳ２１ｍだけ
ではなく、測定された４つのＳパラメータ全てによって
決まる。従って、ＳパラメータＳ２１だけが探索されて
いる測定環境であっても、ＳパラメータＳ２１を抽出
し、ＤＵＴの順方向伝送特性を正確に表すため、測定さ
れたＳパラメータＳ２２ｍ、Ｓ１１ｍ、Ｓ１２ｍも取得
される。
１は、測定された順方向伝送ＳパラメータＳ２１ｍだけ
ではなく、測定された４つのＳパラメータ全てによって
決まる。従って、ＳパラメータＳ２１だけが探索されて
いる測定環境であっても、ＳパラメータＳ２１を抽出
し、ＤＵＴの順方向伝送特性を正確に表すため、測定さ
れたＳパラメータＳ２２ｍ、Ｓ１１ｍ、Ｓ１２ｍも取得
される。
【００１１】ＤＵＴの減衰が大きいか、あるいは、ダイ
ナミック・レンジが広い場合、順方向伝送Ｓパラメータ
Ｓ２１ｍ及び逆方向伝送ＳパラメータＳ１２ｍの測定に
は、一般に、ネットワーク・アナライザ２０における低
レベル信号の処理が必要になる。測定されたＳパラメー
タＳ２１ｍ及びＳ１２ｍが、両方とも、低レベル信号を
含んでいる場合、方程式（１）における積Ｓ２１ｍ＊Ｓ
１２ｍは小さく、この積自体は、順方向伝送Ｓパラメー
タＳ２１にほとんど影響を及ぼすことはない。測定され
たＳパラメータＳ１２ｍの低測定感度に起因する付加ノ
イズがＳパラメータＳ２１に及ぼす影響は、積Ｓ２１ｍ
＊Ｓ１２ｍが小さい測定周波数においてはわずかであ
る。というのも、この付加ノイズの影響は、前記積によ
って軽減されるためである。信号レベルが高い測定周波
数の場合、測定されたＳパラメータＳ２１ｍとＳ１２ｍ
のＳ／Ｎ比（ＳＮＲ）が大きく、これらの測定には高測
定感度は不要である。従って、ダイナミック・レンジが
広いＤＵＴの場合、ＩＦフィルタＦ２の帯域幅は、逆方
向伝送ＳパラメータＳ１２ｍの測定に備えて、比較的広
くなるように調整される。ＳパラメータＳ２１に対する
二次影響のある測定されたＳパラメータＳ１２ｍとは異
なり、測定されたＳパラメータＳ２１ｍは、順方向伝送
ＳパラメータＳ２１に対して一次影響を及ぼす。従っ
て、ＩＦフィルタＦ４の場合、測定されたＳパラメータ
Ｓ２１ｍについて高い測定感度と大きいＳ／Ｎ比（ＳＮ
Ｒ）を実現するため、比較的狭い帯域幅が選択される。
一般に、順方向及び逆方向反射パラメータＳ１１ｍ及び
Ｓ２２ｍには、振幅の大きい信号の測定を伴うので、高
測定確度を実現するのに高測定感度を必要としない。従
って、ＩＦフィルタＦ１及びＩＦフィルタＦ４について
は、比較的広いＩＦ帯域幅を選択する ことが可能であ
る。一般に、高測定感度を必要としない装置パラメータ
は、ネットワーク・アナライザ２０の測定速度を増すた
め、対応するＩＦフィルタに広い帯域幅を利用して、測
定することが可能である。
ナミック・レンジが広い場合、順方向伝送Ｓパラメータ
Ｓ２１ｍ及び逆方向伝送ＳパラメータＳ１２ｍの測定に
は、一般に、ネットワーク・アナライザ２０における低
レベル信号の処理が必要になる。測定されたＳパラメー
タＳ２１ｍ及びＳ１２ｍが、両方とも、低レベル信号を
含んでいる場合、方程式（１）における積Ｓ２１ｍ＊Ｓ
１２ｍは小さく、この積自体は、順方向伝送Ｓパラメー
タＳ２１にほとんど影響を及ぼすことはない。測定され
たＳパラメータＳ１２ｍの低測定感度に起因する付加ノ
イズがＳパラメータＳ２１に及ぼす影響は、積Ｓ２１ｍ
＊Ｓ１２ｍが小さい測定周波数においてはわずかであ
る。というのも、この付加ノイズの影響は、前記積によ
って軽減されるためである。信号レベルが高い測定周波
数の場合、測定されたＳパラメータＳ２１ｍとＳ１２ｍ
のＳ／Ｎ比（ＳＮＲ）が大きく、これらの測定には高測
定感度は不要である。従って、ダイナミック・レンジが
広いＤＵＴの場合、ＩＦフィルタＦ２の帯域幅は、逆方
向伝送ＳパラメータＳ１２ｍの測定に備えて、比較的広
くなるように調整される。ＳパラメータＳ２１に対する
二次影響のある測定されたＳパラメータＳ１２ｍとは異
なり、測定されたＳパラメータＳ２１ｍは、順方向伝送
ＳパラメータＳ２１に対して一次影響を及ぼす。従っ
て、ＩＦフィルタＦ４の場合、測定されたＳパラメータ
Ｓ２１ｍについて高い測定感度と大きいＳ／Ｎ比（ＳＮ
Ｒ）を実現するため、比較的狭い帯域幅が選択される。
一般に、順方向及び逆方向反射パラメータＳ１１ｍ及び
Ｓ２２ｍには、振幅の大きい信号の測定を伴うので、高
測定確度を実現するのに高測定感度を必要としない。従
って、ＩＦフィルタＦ１及びＩＦフィルタＦ４について
は、比較的広いＩＦ帯域幅を選択する ことが可能であ
る。一般に、高測定感度を必要としない装置パラメータ
は、ネットワーク・アナライザ２０の測定速度を増すた
め、対応するＩＦフィルタに広い帯域幅を利用して、測
定することが可能である。
【００１２】図２には本発明の第１の望ましい実施態様
に従って構成されたネットワーク・アナライザ測定方法
１００の流れ図が示されている。測定方法１００のステ
ップ１０２において、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ２、及び、
Ｆ４のそれぞれについて第１の帯域幅が選択され、ＩＦ
フィルタＦ１、Ｆ３、及び、Ｆ４のそれぞれについて第
２の帯域幅が選択される。ＩＦフィルタＦ１、Ｆ２、及
び、Ｆ４のそれぞれの第１のＩＦ帯域幅は、互いに等し
くなるように、または、異なるように選択することが可
能である。同様に、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ３、及び、Ｆ
４のそれぞれの第２のＩＦ帯域幅は、互いに等しくなる
ように、または、異なるように選択することが可能であ
る。図１に示す特定のネットワーク・アナライザ２０の
場合、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ２、及び、Ｆ４は、ＤＵＴ
の順方向伝送及び反射パラメータの測定に対応するＩＦ
フィルタであり、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ３、及び、Ｆ４
は逆方向伝送及び反射パラメータの測定に対応するＩＦ
フィルタである。本発明の望ましい実施態様に用いられ
るネットワーク・アナライザ２０の特定のハードウェア
構成に従って、ＩＦフィルタ数の増減を各測定パラメー
タに対応させることが可能である。
に従って構成されたネットワーク・アナライザ測定方法
１００の流れ図が示されている。測定方法１００のステ
ップ１０２において、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ２、及び、
Ｆ４のそれぞれについて第１の帯域幅が選択され、ＩＦ
フィルタＦ１、Ｆ３、及び、Ｆ４のそれぞれについて第
２の帯域幅が選択される。ＩＦフィルタＦ１、Ｆ２、及
び、Ｆ４のそれぞれの第１のＩＦ帯域幅は、互いに等し
くなるように、または、異なるように選択することが可
能である。同様に、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ３、及び、Ｆ
４のそれぞれの第２のＩＦ帯域幅は、互いに等しくなる
ように、または、異なるように選択することが可能であ
る。図１に示す特定のネットワーク・アナライザ２０の
場合、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ２、及び、Ｆ４は、ＤＵＴ
の順方向伝送及び反射パラメータの測定に対応するＩＦ
フィルタであり、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ３、及び、Ｆ４
は逆方向伝送及び反射パラメータの測定に対応するＩＦ
フィルタである。本発明の望ましい実施態様に用いられ
るネットワーク・アナライザ２０の特定のハードウェア
構成に従って、ＩＦフィルタ数の増減を各測定パラメー
タに対応させることが可能である。
【００１３】測定方法１００のステップ１０４におい
て、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ２、及び、Ｆ４は、それぞ
れ、それらの第１のＩＦ帯域幅に合わせることが可能で
ある。測定方法１００のステップ１０６では、順方向伝
送パラメータＳ２１ｍ及び順方向反射パラメータＳ１１
ｍが、同時に測定される。これらの測定値は、信号源２
２の単一周波数で取得される。代替案では、測定値は、
予め定められた周波数範囲にわたる信号源の周波数掃引
内において取得される。測定方法１００のステップ１０
８では、フィルタＦ１、Ｆ３、及び、Ｆ４は、それぞ
れ、その第２のＩＦ帯域幅に合わせられる。測定方法１
００のステップ１１０では、逆方向伝送パラメータＳ１
２ｍ及び逆方向反射パラメータＳ２２ｍが同時に測定さ
れる。これらの測定値は、信号源２２の単一周波数で取
得される。代替案では、測定値は、予め定められた周波
数範囲にわたる信号源の周波数掃引内において取得され
る。順方向伝送パラメータＳ２１が探索される場合、第
１のＩＦ帯域幅は、第２のＩＦ帯域幅に対して狭くなる
ように調整される。逆方向伝送パラメータＳ１２が探索
される場合、第１のＩＦ帯域幅は、第２のＩＦ帯域幅に
対して広くなるように調整される。測定されたＳパラメ
ータＳ２１ｍ、Ｓ２２ｍ、Ｓ１２ｍ、及び、Ｓ１１ｍを
取得すると、Ｓ２１のような所望のＳパラメータが、測
定されたＳパラメータから、測定方法１００のステップ
１１２におけるネットワーク・アナライザ２０のエラー
項Ｅ１ないしＥ４の補正によって抽出される。方程式
（１）によって、エラー項Ｅ１ないしＥ４を補正し、測
定されたＳパラメータＳ２１ｍ、Ｓ２２ｍ、Ｓ１２ｍ、
及び、Ｓ１１ｍから所望のＳパラメータＳ２１を抽出す
るための手段の一例が得られる。エラー項Ｅ１ないしＥ
４は、Ｕ．Ｓ．Ｐ．Ｎ．あるいは米国特許番号４，８１
６，７６７においてＣａｎｎｏｎによって教示されてい
るような既知の較正技法を用いて導き出される。一般
に、例えばＳ２１のような抽出されたＳパラメータまた
は装置係数は、ディスプレイまたは他の出力装置（不図
示）に対して出力される。第１のＩＦ帯域幅及び第２の
ＩＦ帯域幅が大きく異なる場合、ネットワーク・アナラ
イザ２０の測定数の半分について、広いＩＦ帯域幅を選
択する結果として、測定速度を約２倍に増すことができ
る。
て、ＩＦフィルタＦ１、Ｆ２、及び、Ｆ４は、それぞ
れ、それらの第１のＩＦ帯域幅に合わせることが可能で
ある。測定方法１００のステップ１０６では、順方向伝
送パラメータＳ２１ｍ及び順方向反射パラメータＳ１１
ｍが、同時に測定される。これらの測定値は、信号源２
２の単一周波数で取得される。代替案では、測定値は、
予め定められた周波数範囲にわたる信号源の周波数掃引
内において取得される。測定方法１００のステップ１０
８では、フィルタＦ１、Ｆ３、及び、Ｆ４は、それぞ
れ、その第２のＩＦ帯域幅に合わせられる。測定方法１
００のステップ１１０では、逆方向伝送パラメータＳ１
２ｍ及び逆方向反射パラメータＳ２２ｍが同時に測定さ
れる。これらの測定値は、信号源２２の単一周波数で取
得される。代替案では、測定値は、予め定められた周波
数範囲にわたる信号源の周波数掃引内において取得され
る。順方向伝送パラメータＳ２１が探索される場合、第
１のＩＦ帯域幅は、第２のＩＦ帯域幅に対して狭くなる
ように調整される。逆方向伝送パラメータＳ１２が探索
される場合、第１のＩＦ帯域幅は、第２のＩＦ帯域幅に
対して広くなるように調整される。測定されたＳパラメ
ータＳ２１ｍ、Ｓ２２ｍ、Ｓ１２ｍ、及び、Ｓ１１ｍを
取得すると、Ｓ２１のような所望のＳパラメータが、測
定されたＳパラメータから、測定方法１００のステップ
１１２におけるネットワーク・アナライザ２０のエラー
項Ｅ１ないしＥ４の補正によって抽出される。方程式
（１）によって、エラー項Ｅ１ないしＥ４を補正し、測
定されたＳパラメータＳ２１ｍ、Ｓ２２ｍ、Ｓ１２ｍ、
及び、Ｓ１１ｍから所望のＳパラメータＳ２１を抽出す
るための手段の一例が得られる。エラー項Ｅ１ないしＥ
４は、Ｕ．Ｓ．Ｐ．Ｎ．あるいは米国特許番号４，８１
６，７６７においてＣａｎｎｏｎによって教示されてい
るような既知の較正技法を用いて導き出される。一般
に、例えばＳ２１のような抽出されたＳパラメータまた
は装置係数は、ディスプレイまたは他の出力装置（不図
示）に対して出力される。第１のＩＦ帯域幅及び第２の
ＩＦ帯域幅が大きく異なる場合、ネットワーク・アナラ
イザ２０の測定数の半分について、広いＩＦ帯域幅を選
択する結果として、測定速度を約２倍に増すことができ
る。
【００１４】図３には、本発明の第２の実施態様に従っ
て構成されたネットワーク・アナライザ測定方法２００
の流れ図が示されている。さまざまなネットワーク・ア
ナライザ測定用途において、ネットワーク・アナライザ
２０による個別測定を利用して、順方向伝送パラメー
タ、逆方向伝送パラメータ、順方向反射パラメータ、及
び、逆方向反射パラメータのそれぞれについて特性を明
らかにすることが望ましい可能性がある。例えば、信号
クロス・トークを低減させ、ネットワーク・アナライザ
２０内におけるダイナミック・レンジの広いＤＵＴの伝
送測定と反射測定との間の信号分離を大きくするため、
ネットワーク・アナライザ２０の個別の測定掃引または
個別の単一周波数ステップ式測定を利用して、伝送測定
及び反射測定を行うことが可能である。図３の測定方法
によれば、ＤＵＴの測定された特性の取得に用いられ
る、４つの個別測定掃引または周波数ステップ式測定の
それぞれに対応するＩＦフィルタＦ１ないしＦ４のそれ
ぞれの帯域幅を個別に選択することが可能になる。
て構成されたネットワーク・アナライザ測定方法２００
の流れ図が示されている。さまざまなネットワーク・ア
ナライザ測定用途において、ネットワーク・アナライザ
２０による個別測定を利用して、順方向伝送パラメー
タ、逆方向伝送パラメータ、順方向反射パラメータ、及
び、逆方向反射パラメータのそれぞれについて特性を明
らかにすることが望ましい可能性がある。例えば、信号
クロス・トークを低減させ、ネットワーク・アナライザ
２０内におけるダイナミック・レンジの広いＤＵＴの伝
送測定と反射測定との間の信号分離を大きくするため、
ネットワーク・アナライザ２０の個別の測定掃引または
個別の単一周波数ステップ式測定を利用して、伝送測定
及び反射測定を行うことが可能である。図３の測定方法
によれば、ＤＵＴの測定された特性の取得に用いられ
る、４つの個別測定掃引または周波数ステップ式測定の
それぞれに対応するＩＦフィルタＦ１ないしＦ４のそれ
ぞれの帯域幅を個別に選択することが可能になる。
【００１５】測定方法２００のステップ２０２では、第
１のＩＦ帯域幅が、ＩＦフィルタＦ２及びＦ４のために
選択され、第２のＩＦ帯域幅が、ＩＦフィルタＦ１及び
Ｆ２のために選択され、第３のＩＦ帯域幅が、ＩＦフィ
ルタＦ１及びＦ３のために選択され、第４のＩＦ帯域幅
が、ＩＦフィルタＦ３及びＦ４のために選択される。Ｉ
ＦフィルタＦ２及びＦ４は、ＤＵＴの順方向伝送パラメ
ータＳ２１ｍの測定に対応する、ネットワーク・アナラ
イザ２０内のＩＦフィルタである。ＩＦフィルタＦ１及
びＦ２は、ＤＵＴの順方向反射パラメータＳ１１ｍの測
定に対応する、ネットワーク・アナライザ２０内のＩＦ
フィルタである。ＩＦフィルタＦ１及びＦ３は、ＤＵＴ
の逆方向伝送パラメータＳ１２ｍの測定に対応する、ネ
ットワーク・アナライザ２０内のＩＦフィルタである。
ＩＦフィルタＦ３及びＦ４は、ＤＵＴの逆方向反射パラ
メータＳ２２ｍの測定に対応する、ネットワーク・アナ
ライザ２０内のＩＦフィルタである。
１のＩＦ帯域幅が、ＩＦフィルタＦ２及びＦ４のために
選択され、第２のＩＦ帯域幅が、ＩＦフィルタＦ１及び
Ｆ２のために選択され、第３のＩＦ帯域幅が、ＩＦフィ
ルタＦ１及びＦ３のために選択され、第４のＩＦ帯域幅
が、ＩＦフィルタＦ３及びＦ４のために選択される。Ｉ
ＦフィルタＦ２及びＦ４は、ＤＵＴの順方向伝送パラメ
ータＳ２１ｍの測定に対応する、ネットワーク・アナラ
イザ２０内のＩＦフィルタである。ＩＦフィルタＦ１及
びＦ２は、ＤＵＴの順方向反射パラメータＳ１１ｍの測
定に対応する、ネットワーク・アナライザ２０内のＩＦ
フィルタである。ＩＦフィルタＦ１及びＦ３は、ＤＵＴ
の逆方向伝送パラメータＳ１２ｍの測定に対応する、ネ
ットワーク・アナライザ２０内のＩＦフィルタである。
ＩＦフィルタＦ３及びＦ４は、ＤＵＴの逆方向反射パラ
メータＳ２２ｍの測定に対応する、ネットワーク・アナ
ライザ２０内のＩＦフィルタである。
【００１６】測定方法２００のステップ２０４では、Ｉ
ＦフィルタＦ２及びＦ４が、第１のＩＦ帯域幅に合わせ
られ、ステップ２０６では、順方向伝送パラメータＳ２
１ｍが、第１のＩＦ帯域幅を利用して測定される。測定
方法２００のステップ２０８では、ＩＦフィルタＦ１及
びＦ２が、第２のＩＦ帯域幅に合わせられ、ステップ２
１０では、順方向反射パラメータＳ１１ｍが、第２のＩ
Ｆ帯域幅を利用して測定される。測定方法２００のステ
ップ２１２では、ＩＦフィルタＦ１及びＦ３が、第３の
ＩＦ帯域幅に合わせられ、ステップ２１４では、逆方向
伝送パラメータＳ１２ｍが、第３のＩＦ帯域幅を利用し
て測定される。測定方法２００のステップ２１６では、
ＩＦフィルタＦ３及びＦ４が、第４のＩＦ帯域幅に合わ
せられ、ステップ２１８では、逆方向反射パラメータＳ
２２ｍが、第４のＩＦ帯域幅を利用して測定される。測
定されたＳパラメータＳ２１ｍ、Ｓ２２ｍ、Ｓ１２ｍ、
および、Ｓ１１ｍを取得すると、Ｓ２１のような所望の
Ｓパラメータまたは装置係数が、測定方法２００のステ
ップ２２０において、測定されたＳパラメータから抽出
される。装置係数は、測定されたＳパラメータＳ２１
ｍ、Ｓ１１ｍ、Ｓ１２ｍ、および、Ｓ２２ｍから、ネッ
トワーク・アナライザ２０のエラー項Ｅ１ないしＥ４の
補正によって抽出される。一般に、例えばＳ２１のよう
な抽出されたＳパラメータは、ディスプレイまたは他の
出力装置（不図示）に対して出力される。
ＦフィルタＦ２及びＦ４が、第１のＩＦ帯域幅に合わせ
られ、ステップ２０６では、順方向伝送パラメータＳ２
１ｍが、第１のＩＦ帯域幅を利用して測定される。測定
方法２００のステップ２０８では、ＩＦフィルタＦ１及
びＦ２が、第２のＩＦ帯域幅に合わせられ、ステップ２
１０では、順方向反射パラメータＳ１１ｍが、第２のＩ
Ｆ帯域幅を利用して測定される。測定方法２００のステ
ップ２１２では、ＩＦフィルタＦ１及びＦ３が、第３の
ＩＦ帯域幅に合わせられ、ステップ２１４では、逆方向
伝送パラメータＳ１２ｍが、第３のＩＦ帯域幅を利用し
て測定される。測定方法２００のステップ２１６では、
ＩＦフィルタＦ３及びＦ４が、第４のＩＦ帯域幅に合わ
せられ、ステップ２１８では、逆方向反射パラメータＳ
２２ｍが、第４のＩＦ帯域幅を利用して測定される。測
定されたＳパラメータＳ２１ｍ、Ｓ２２ｍ、Ｓ１２ｍ、
および、Ｓ１１ｍを取得すると、Ｓ２１のような所望の
Ｓパラメータまたは装置係数が、測定方法２００のステ
ップ２２０において、測定されたＳパラメータから抽出
される。装置係数は、測定されたＳパラメータＳ２１
ｍ、Ｓ１１ｍ、Ｓ１２ｍ、および、Ｓ２２ｍから、ネッ
トワーク・アナライザ２０のエラー項Ｅ１ないしＥ４の
補正によって抽出される。一般に、例えばＳ２１のよう
な抽出されたＳパラメータは、ディスプレイまたは他の
出力装置（不図示）に対して出力される。
【００１７】一般に、順方向及び逆方向反射パラメータ
Ｓ１１ｍ及びＳ２２ｍには、振幅の大きい信号の測定を
伴うので、高測定感度を必要としない可能性がある。従
って、該反射パラメータの測定に対応するネットワーク
・アナライザ２０のＩＦフィルタＦ１ないしＦ４につい
ては、比較的広いＩＦ帯域幅を選択することが可能であ
る。順方向伝送パラメータＳ２１を探索する場合、第２
のＩＦ帯域幅は、第３のＩＦ帯域幅に対して狭くなるよ
うに調整される。逆方向伝送パラメータＳ１２を探索す
る場合、第３のＩＦ帯域幅は、第２のＩＦ帯域幅に対し
て狭くなるように調整される。順方向と逆方向の伝送パ
ラメータの一方だけを測定するために、狭いＩＦ帯域幅
が選択される場合、４つの個別ＤＵＴ測定の１つだけの
ために狭いＩＦ帯域幅を選択する結果として、測定速度
を約４倍に増すことができる。
Ｓ１１ｍ及びＳ２２ｍには、振幅の大きい信号の測定を
伴うので、高測定感度を必要としない可能性がある。従
って、該反射パラメータの測定に対応するネットワーク
・アナライザ２０のＩＦフィルタＦ１ないしＦ４につい
ては、比較的広いＩＦ帯域幅を選択することが可能であ
る。順方向伝送パラメータＳ２１を探索する場合、第２
のＩＦ帯域幅は、第３のＩＦ帯域幅に対して狭くなるよ
うに調整される。逆方向伝送パラメータＳ１２を探索す
る場合、第３のＩＦ帯域幅は、第２のＩＦ帯域幅に対し
て狭くなるように調整される。順方向と逆方向の伝送パ
ラメータの一方だけを測定するために、狭いＩＦ帯域幅
が選択される場合、４つの個別ＤＵＴ測定の１つだけの
ために狭いＩＦ帯域幅を選択する結果として、測定速度
を約４倍に増すことができる。
【００１８】本発明の望ましい実施態様に従って構成さ
れたネットワーク・アナライザ測定方法１００、２００
は、さまざまなやり方で実施される。測定方法１００、
２００は、一般に、ファームウェアまたはソフトウェア
を用いて、コントローラ２６（図１に示す）にプログラ
ミングすることによって実施される。コントローラ２６
は、ネットワーク・アナライザ２０内部のマイクロプロ
セッサとすることもできるし、あるいは、代わりに、ネ
ットワーク・アナライザ２６外部のマイクロプロセッサ
またはコンピュータとすることも可能である。コントロ
ーラ２６が外部にある場合、測定方法１００、２００
は、コントローラ２６とネットワーク・アナライザ２０
の間におけるローカル・エリア・ネットワーク（ＬＡ
Ｎ）、ヒューレット・パッカード・インターフェイス・
バス（ＨＰＩＢ）、ＶＸＩ（ブイ・エックス・アイ）イ
ンターフェイス、または、他のタイプのインターフェイ
スを介して実行される。
れたネットワーク・アナライザ測定方法１００、２００
は、さまざまなやり方で実施される。測定方法１００、
２００は、一般に、ファームウェアまたはソフトウェア
を用いて、コントローラ２６（図１に示す）にプログラ
ミングすることによって実施される。コントローラ２６
は、ネットワーク・アナライザ２０内部のマイクロプロ
セッサとすることもできるし、あるいは、代わりに、ネ
ットワーク・アナライザ２６外部のマイクロプロセッサ
またはコンピュータとすることも可能である。コントロ
ーラ２６が外部にある場合、測定方法１００、２００
は、コントローラ２６とネットワーク・アナライザ２０
の間におけるローカル・エリア・ネットワーク（ＬＡ
Ｎ）、ヒューレット・パッカード・インターフェイス・
バス（ＨＰＩＢ）、ＶＸＩ（ブイ・エックス・アイ）イ
ンターフェイス、または、他のタイプのインターフェイ
スを介して実行される。
【００１９】２つのポートを備えるＤＵＴに関する測定
方法１００、２００が例示されているが、該方法では、
探索される装置パラメータに従ってネットワーク・アナ
ライザ内におけるＩＦフィルタの帯域幅を調整すること
によって、任意の数のポートを備える装置に対して容易
に適応する。
方法１００、２００が例示されているが、該方法では、
探索される装置パラメータに従ってネットワーク・アナ
ライザ内におけるＩＦフィルタの帯域幅を調整すること
によって、任意の数のポートを備える装置に対して容易
に適応する。
【００２０】以上、本発明の実施例について詳述した
が、以下、本発明の各実施態様の例を示す。
が、以下、本発明の各実施態様の例を示す。
【００２１】（実施態様１）テストを受ける装置の順方
向伝送パラメータ及び順方向反射パラメータを測定する
ための少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタと、
テストを受ける装置の逆方向伝送パラメータ及び逆方向
反射パラメータを測定するための少なくとも１つの第２
の可調整ＩＦフィルタを備えたネットワーク・アナライ
ザ（２０）の測定方法（１００）であって、少なくとも
１つの第１の可調整ＩＦフィルタに関して第１の予め定
められた帯域幅を選択するステップ（１０２）と、少な
くとも１つの第２の可調整ＩＦフィルタに関して第２の
予め定められた帯域幅を選択するステップ（１０２）
と、少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタの帯域
幅を第１の予め定められた帯域幅に合わせるステップ
（１０４）と、テストを受ける装置の順方向伝送パラメ
ータ及び順方向反射パラメータを測定するステップ（１
０６）と、少なくとも１つの第２の可調整ＩＦフィルタ
の帯域幅を第２の予め定められた帯域幅に合わせるステ
ップ（１０８）と、テストを受ける装置の逆方向伝送パ
ラメータ及び逆方向反射パラメータを測定するステップ
（１１０）と、測定された順方向伝送パラメータ、測定
された順方向反射パラメータ、測定された逆方向伝送パ
ラメータ、及び、測定された逆方向反射パラメータか
ら、テストを受ける装置の順方向伝送係数、順方向反射
係数、逆方向伝送係数、及び、逆方向反射係数のうちの
少なくとも１つを抽出するステップ（１１２）とを含む
方法。
向伝送パラメータ及び順方向反射パラメータを測定する
ための少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタと、
テストを受ける装置の逆方向伝送パラメータ及び逆方向
反射パラメータを測定するための少なくとも１つの第２
の可調整ＩＦフィルタを備えたネットワーク・アナライ
ザ（２０）の測定方法（１００）であって、少なくとも
１つの第１の可調整ＩＦフィルタに関して第１の予め定
められた帯域幅を選択するステップ（１０２）と、少な
くとも１つの第２の可調整ＩＦフィルタに関して第２の
予め定められた帯域幅を選択するステップ（１０２）
と、少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタの帯域
幅を第１の予め定められた帯域幅に合わせるステップ
（１０４）と、テストを受ける装置の順方向伝送パラメ
ータ及び順方向反射パラメータを測定するステップ（１
０６）と、少なくとも１つの第２の可調整ＩＦフィルタ
の帯域幅を第２の予め定められた帯域幅に合わせるステ
ップ（１０８）と、テストを受ける装置の逆方向伝送パ
ラメータ及び逆方向反射パラメータを測定するステップ
（１１０）と、測定された順方向伝送パラメータ、測定
された順方向反射パラメータ、測定された逆方向伝送パ
ラメータ、及び、測定された逆方向反射パラメータか
ら、テストを受ける装置の順方向伝送係数、順方向反射
係数、逆方向伝送係数、及び、逆方向反射係数のうちの
少なくとも１つを抽出するステップ（１１２）とを含む
方法。
【００２２】（実施態様２）順方向伝送係数及び順方向
反射係数のうちの少なくとも１つが抽出される場合、第
１の予め定められた帯域幅が、第２の予め定められた帯
域幅より狭いことを特徴とする、実施態様１に記載の方
法（１００）。
反射係数のうちの少なくとも１つが抽出される場合、第
１の予め定められた帯域幅が、第２の予め定められた帯
域幅より狭いことを特徴とする、実施態様１に記載の方
法（１００）。
【００２３】（実施態様３）逆方向伝送係数及び逆方向
反射係数のうちの少なくとも１つが抽出される場合、第
１の予め定められた帯域幅が、第２の予め定められた帯
域幅より広いことを特徴とする、実施態様１に記載の方
法（１００）。
反射係数のうちの少なくとも１つが抽出される場合、第
１の予め定められた帯域幅が、第２の予め定められた帯
域幅より広いことを特徴とする、実施態様１に記載の方
法（１００）。
【００２４】（実施態様４）順方向伝送パラメータ及び
順方向反射パラメータの測定ステップ（１０６）に、単
一周波数における順方向伝送パラメータ及び順方向反射
パラメータの測定が含まれることを特徴とする、実施態
様１に記載の方法（１００）。
順方向反射パラメータの測定ステップ（１０６）に、単
一周波数における順方向伝送パラメータ及び順方向反射
パラメータの測定が含まれることを特徴とする、実施態
様１に記載の方法（１００）。
【００２５】（実施態様５）順方向伝送パラメータ及び
順方向反射パラメータの測定ステップ（１０６）に、予
め定められた周波数範囲にわたる順方向伝送パラメータ
及び順方向反射パラメータの測定が含まれることを特徴
とする、実施態様１に記載の方法（１００）。
順方向反射パラメータの測定ステップ（１０６）に、予
め定められた周波数範囲にわたる順方向伝送パラメータ
及び順方向反射パラメータの測定が含まれることを特徴
とする、実施態様１に記載の方法（１００）。
【００２６】（実施態様６）逆方向伝送パラメータ及び
逆方向反射パラメータの測定ステップ（１０８）に、単
一周波数における逆方向伝送パラメータ及び逆方向反射
パラメータの測定が含まれることを特徴とする、実施態
様１に記載の方法（１００）。
逆方向反射パラメータの測定ステップ（１０８）に、単
一周波数における逆方向伝送パラメータ及び逆方向反射
パラメータの測定が含まれることを特徴とする、実施態
様１に記載の方法（１００）。
【００２７】（実施態様７）逆方向伝送パラメータ及び
逆方向反射パラメータの測定ステップ（１０８）に、予
め定められた周波数範囲にわたる逆方向伝送パラメータ
及び逆方向反射パラメータの測定が含まれることを特徴
とする、実施態様１に記載の方法（１００）。
逆方向反射パラメータの測定ステップ（１０８）に、予
め定められた周波数範囲にわたる逆方向伝送パラメータ
及び逆方向反射パラメータの測定が含まれることを特徴
とする、実施態様１に記載の方法（１００）。
【００２８】（実施態様８）テストを受ける装置の順方
向伝送パラメータを測定するための少なくとも１つの第
１の可調整ＩＦフィルタと、順方向反射パラメータを測
定するための少なくとも１つの第２の可調整ＩＦフィル
タと、逆方向伝送パラメータを測定するための少なくと
も１つの第３の可調整ＩＦフィルタと、逆方向反射パラ
メータを測定するための少なくとも１つの第４の可調整
ＩＦフィルタを備えたネットワーク・アナライザ（２
０）の測定方法（２００）であって、少なくとも１つの
第１の可調整ＩＦフィルタに関して第１の予め定められ
た帯域幅を選択するステップ（２０２）と、少なくとも
１つの第２の可調整ＩＦフィルタに関して第２の予め定
められた帯域幅を選択するステップ（２０２）と、少な
くとも１つの第３の可調整ＩＦフィルタに関して第３の
予め定められた帯域幅を選択するステップ（２０２）
と、少なくとも１つの第４の可調整ＩＦフィルタに関し
て第４の予め定められた帯域幅を選択するステップ（２
０２）と、少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタ
の帯域幅を第１の予め定められた帯域幅に合わせるステ
ップ（２０４）と、テストを受ける装置の順方向伝送パ
ラメータを測定するステップ（２０６）と、少なくとも
１つの第２の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を第２の予め
定められた帯域幅に合わせるステップ（２０８）と、テ
ストを受ける装置の順方向反射パラメータを測定するス
テップ（２１０）と、少なくとも１つの第３の可調整Ｉ
Ｆフィルタの帯域幅を第３の予め定められた帯域幅に合
わせるステップ（２１２）と、テストを受ける装置の逆
方向伝送パラメータを測定するステップ（２１４）と、
少なくとも１つの第４の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を
第４の予め定められた帯域幅に合わせるステップ（２１
６）と、テストを受ける装置の逆方向反射パラメータを
測定するステップ（２１８）と、測定された順方向伝送
パラメータ、測定された順方向反射パラメータ、測定さ
れた逆方向伝送パラメータ、及び、測定された逆方向反
射パラメータから、テストを受ける装置の順方向伝送係
数、順方向反射係数、逆方向伝送係数、及び、逆方向反
射係数のうちの少なくとも１つを抽出するステップ（２
２０）とを含む方法。
向伝送パラメータを測定するための少なくとも１つの第
１の可調整ＩＦフィルタと、順方向反射パラメータを測
定するための少なくとも１つの第２の可調整ＩＦフィル
タと、逆方向伝送パラメータを測定するための少なくと
も１つの第３の可調整ＩＦフィルタと、逆方向反射パラ
メータを測定するための少なくとも１つの第４の可調整
ＩＦフィルタを備えたネットワーク・アナライザ（２
０）の測定方法（２００）であって、少なくとも１つの
第１の可調整ＩＦフィルタに関して第１の予め定められ
た帯域幅を選択するステップ（２０２）と、少なくとも
１つの第２の可調整ＩＦフィルタに関して第２の予め定
められた帯域幅を選択するステップ（２０２）と、少な
くとも１つの第３の可調整ＩＦフィルタに関して第３の
予め定められた帯域幅を選択するステップ（２０２）
と、少なくとも１つの第４の可調整ＩＦフィルタに関し
て第４の予め定められた帯域幅を選択するステップ（２
０２）と、少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタ
の帯域幅を第１の予め定められた帯域幅に合わせるステ
ップ（２０４）と、テストを受ける装置の順方向伝送パ
ラメータを測定するステップ（２０６）と、少なくとも
１つの第２の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を第２の予め
定められた帯域幅に合わせるステップ（２０８）と、テ
ストを受ける装置の順方向反射パラメータを測定するス
テップ（２１０）と、少なくとも１つの第３の可調整Ｉ
Ｆフィルタの帯域幅を第３の予め定められた帯域幅に合
わせるステップ（２１２）と、テストを受ける装置の逆
方向伝送パラメータを測定するステップ（２１４）と、
少なくとも１つの第４の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を
第４の予め定められた帯域幅に合わせるステップ（２１
６）と、テストを受ける装置の逆方向反射パラメータを
測定するステップ（２１８）と、測定された順方向伝送
パラメータ、測定された順方向反射パラメータ、測定さ
れた逆方向伝送パラメータ、及び、測定された逆方向反
射パラメータから、テストを受ける装置の順方向伝送係
数、順方向反射係数、逆方向伝送係数、及び、逆方向反
射係数のうちの少なくとも１つを抽出するステップ（２
２０）とを含む方法。
【００２９】（実施態様９）順方向伝送係数が抽出され
る場合、第２の予め定められた帯域幅が、第１の予め定
められた帯域幅、第４の予め定められた帯域幅、及び、
第３の予め定められた帯域幅のうちの少なくとも１つよ
りも狭いことを特徴とする、実施態様８に記載の方法
（２００）。
る場合、第２の予め定められた帯域幅が、第１の予め定
められた帯域幅、第４の予め定められた帯域幅、及び、
第３の予め定められた帯域幅のうちの少なくとも１つよ
りも狭いことを特徴とする、実施態様８に記載の方法
（２００）。
【００３０】（実施態様１０）逆方向伝送係数が抽出さ
れる場合、第３の予め定められた帯域幅が、第１の予め
定められた帯域幅、第２の予め定められた帯域幅、及
び、第４の予め定められた帯域幅のうちの少なくとも１
つよりも狭いことを特徴とする、実施態様８に記載の方
法（２００）。
れる場合、第３の予め定められた帯域幅が、第１の予め
定められた帯域幅、第２の予め定められた帯域幅、及
び、第４の予め定められた帯域幅のうちの少なくとも１
つよりも狭いことを特徴とする、実施態様８に記載の方
法（２００）。
【００３１】（実施態様１１）順方向伝送パラメータの
測定ステップ（２０６）に、単一周波数における順方向
伝送パラメータの測定が含まれることと、順方向反射パ
ラメータの測定ステップ（２１０）に、単一周波数にお
ける順方向反射パラメータの測定が含まれることと、逆
方向伝送パラメータの測定ステップ（２１４）に、単一
周波数における逆方向伝送パラメータの測定が含まれる
ことと、逆方向反射パラメータの測定ステップ（２１
８）に、単一周波数における逆方向反射パラメータの測
定が含まれることを特徴とする、実施態様８に記載の方
法（２００）。
測定ステップ（２０６）に、単一周波数における順方向
伝送パラメータの測定が含まれることと、順方向反射パ
ラメータの測定ステップ（２１０）に、単一周波数にお
ける順方向反射パラメータの測定が含まれることと、逆
方向伝送パラメータの測定ステップ（２１４）に、単一
周波数における逆方向伝送パラメータの測定が含まれる
ことと、逆方向反射パラメータの測定ステップ（２１
８）に、単一周波数における逆方向反射パラメータの測
定が含まれることを特徴とする、実施態様８に記載の方
法（２００）。
【００３２】（実施態様１２）順方向伝送パラメータの
測定ステップ（２０６）に、予め定められた周波数範囲
にわたる順方向伝送パラメータの測定が含まれること
と、順方向反射パラメータの測定ステップ（２１０）
に、予め定められた周波数範囲にわたる順方向反射パラ
メータの測定が含まれることと、逆方向伝送パラメータ
の測定ステップ（２１４）に、予め定められた周波数範
囲にわたる逆方向伝送パラメータの測定が含まれること
と、逆方向反射パラメータの測定ステップ（２１８）
に、予め定められた周波数範囲にわたる逆方向反射パラ
メータの測定が含まれることを特徴とする、実施態様８
に記載の方法（２００）。
測定ステップ（２０６）に、予め定められた周波数範囲
にわたる順方向伝送パラメータの測定が含まれること
と、順方向反射パラメータの測定ステップ（２１０）
に、予め定められた周波数範囲にわたる順方向反射パラ
メータの測定が含まれることと、逆方向伝送パラメータ
の測定ステップ（２１４）に、予め定められた周波数範
囲にわたる逆方向伝送パラメータの測定が含まれること
と、逆方向反射パラメータの測定ステップ（２１８）
に、予め定められた周波数範囲にわたる逆方向反射パラ
メータの測定が含まれることを特徴とする、実施態様８
に記載の方法（２００）。
【００３３】
【発明の効果】以上のように、本発明を用いると、装置
パラメータのフル・セットを探索しない場合、または、
装置パラメータの少なくとも１つの特性表示において、
測定感度を犠牲にすることが可能な場合に、ダイナミッ
ク・レンジの広い装置の測定速度を速めるネットワーク
・アナライザ測定方法を提供することができる。
パラメータのフル・セットを探索しない場合、または、
装置パラメータの少なくとも１つの特性表示において、
測定感度を犠牲にすることが可能な場合に、ダイナミッ
ク・レンジの広い装置の測定速度を速めるネットワーク
・アナライザ測定方法を提供することができる。
【００３４】本発明の第１の望ましい実施態様によれ
ば、測定方法には、ネットワーク・アナライザの対応す
る各掃引毎に、ＩＦフィルタの帯域幅を調整するステッ
プが含まれており、それに基づいて、装置パラメータの
サブセットが探索される。テストを受ける装置の順方向
伝送及び反射特性は、第１のＩＦ帯域幅を利用して測定
され、テストを受ける装置の逆方向伝送及び反射特性
は、第２のＩＦ帯域幅を利用して測定される。第１のＩ
Ｆ帯域幅と第２のＩＦ帯域幅が大きく異なる場合、２つ
の独立したＩＦ帯域幅の選択によって、測定速度を約２
倍に増すことができる。
ば、測定方法には、ネットワーク・アナライザの対応す
る各掃引毎に、ＩＦフィルタの帯域幅を調整するステッ
プが含まれており、それに基づいて、装置パラメータの
サブセットが探索される。テストを受ける装置の順方向
伝送及び反射特性は、第１のＩＦ帯域幅を利用して測定
され、テストを受ける装置の逆方向伝送及び反射特性
は、第２のＩＦ帯域幅を利用して測定される。第１のＩ
Ｆ帯域幅と第２のＩＦ帯域幅が大きく異なる場合、２つ
の独立したＩＦ帯域幅の選択によって、測定速度を約２
倍に増すことができる。
【００３５】本発明の第２の望ましい実施態様によれ
ば、順方向伝送パラメータ、逆方向伝送パラメータ、順
方向反射パラメータ、及び、逆方向反射パラメータのそ
れぞれについて、別個の測定掃引が用いられる。この測
定方法によれば、ネットワーク・アナライザの４つの独
立した測定掃引のそれぞれについて、ＩＦ帯域幅を別個
に選択することが可能になる。順方向と逆方向の伝送パ
ラメータの一方だけを測定するために、狭いＩＦ帯域幅
が選択される場合、４つの個別ＤＵＴ測定の１つだけの
ために狭いＩＦ帯域幅を選択することによって、測定速
度を約４倍に増すことができる。
ば、順方向伝送パラメータ、逆方向伝送パラメータ、順
方向反射パラメータ、及び、逆方向反射パラメータのそ
れぞれについて、別個の測定掃引が用いられる。この測
定方法によれば、ネットワーク・アナライザの４つの独
立した測定掃引のそれぞれについて、ＩＦ帯域幅を別個
に選択することが可能になる。順方向と逆方向の伝送パ
ラメータの一方だけを測定するために、狭いＩＦ帯域幅
が選択される場合、４つの個別ＤＵＴ測定の１つだけの
ために狭いＩＦ帯域幅を選択することによって、測定速
度を約４倍に増すことができる。
【図１】本発明の望ましい実施態様に従って構成された
測定方法に用いられるネットワーク・アナライザを示す
図である。
測定方法に用いられるネットワーク・アナライザを示す
図である。
【図２】本発明の望ましい実施態様に従って構成された
ネットワーク・アナライザ測定方法の流れ図である。
ネットワーク・アナライザ測定方法の流れ図である。
【図３】本発明の第２の望ましい実施態様に従って構成
されたネットワーク・アナライザ測定方法の流れ図であ
る。
されたネットワーク・アナライザ測定方法の流れ図であ
る。
【符号の説明】 ２０：ネットワーク・アナライザ ２１、２３：刺激信号 ２２：信号源 ２４：検出／処理装置 ２６：コントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マイケル・エス・マーザレック アメリカ合衆国カリフォルニア州 ローナ ート・パーク バレー・ハウス・ドライブ 1212 (72)発明者 スーザン・ディー・ウッド アメリカ合衆国カリフォルニア州 サン タ・ローザ ツアーマリン・コート4030
Claims (10)
- 【請求項１】テストを受ける装置の順方向伝送パラメー
タ及び順方向反射パラメータを測定するための少なくと
も１つの第１の可調整ＩＦフィルタと、テストを受ける
装置の逆方向伝送パラメータ及び逆方向反射パラメータ
を測定するための少なくとも１つの第２の可調整ＩＦフ
ィルタを備えたネットワーク・アナライザの測定方法で
あって、 少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタに関して第
１の予め定められた帯域幅を選択するステップと、 少なくとも１つの第２の可調整ＩＦフィルタに関して第
２の予め定められた帯域幅を選択するステップと、 少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を
第１の予め定められた帯域幅に合わせるステップと、 テストを受ける装置の順方向伝送パラメータ及び順方向
反射パラメータを測定するステップと、 少なくとも１つの第２の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を
第２の予め定められた帯域幅に合わせるステップと、 テストを受ける装置の逆方向伝送パラメータ及び逆方向
反射パラメータを測定するステップと、 測定された順方向伝送パラメータ、測定された順方向反
射パラメータ、測定された逆方向伝送パラメータ、及
び、測定された逆方向反射パラメータから、テストを受
ける装置の順方向伝送係数、順方向反射係数、逆方向伝
送係数、及び、逆方向反射係数のうちの少なくとも１つ
を抽出するステップとを含む方法。 - 【請求項２】順方向伝送係数及び順方向反射係数のうち
の少なくとも１つが抽出される場合、第１の予め定めら
れた帯域幅が、第２の予め定められた帯域幅より狭いこ
とを特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項３】逆方向伝送係数及び逆方向反射係数のうち
の少なくとも１つが抽出される場合、第１の予め定めら
れた帯域幅が、第２の予め定められた帯域幅より広いこ
とを特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項４】順方向伝送パラメータ及び順方向反射パラ
メータの測定ステップに、単一周波数における順方向伝
送パラメータ及び順方向反射パラメータの測定が含まれ
ることを特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項５】順方向伝送パラメータ及び順方向反射パラ
メータの測定ステップに、予め定められた周波数範囲に
わたる順方向伝送パラメータ及び順方向反射パラメータ
の測定が含まれることを特徴とする、請求項１に記載の
方法。 - 【請求項６】逆方向伝送パラメータ及び逆方向反射パラ
メータの測定ステップに、単一周波数における逆方向伝
送パラメータ及び逆方向反射パラメータの測定が含まれ
ることを特徴とする、請求項１に記載の方法。 - 【請求項７】逆方向伝送パラメータ及び逆方向反射パラ
メータの測定ステップに、予め定められた周波数範囲に
わたる逆方向伝送パラメータ及び逆方向反射パラメータ
の測定が含まれることを特徴とする、請求項１に記載の
方法。 - 【請求項８】テストを受ける装置の順方向伝送パラメー
タを測定するための少なくとも１つの第１の可調整ＩＦ
フィルタと、順方向反射パラメータを測定するための少
なくとも１つの第２の可調整ＩＦフィルタと、逆方向伝
送パラメータを測定するための少なくとも１つの第３の
可調整ＩＦフィルタと、逆方向反射パラメータを測定す
るための少なくとも１つの第４の可調整ＩＦフィルタを
備えたネットワーク・アナライザの測定方法であって、 少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタに関して第
１の予め定められた帯域幅を選択するステップと、 少なくとも１つの第２の可調整ＩＦフィルタに関して第
２の予め定められた帯域幅を選択するステップと、 少なくとも１つの第３の可調整ＩＦフィルタに関して第
３の予め定められた帯域幅を選択するステップと、 少なくとも１つの第４の可調整ＩＦフィルタに関して第
４の予め定められた帯域幅を選択するステップと、 少なくとも１つの第１の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を
第１の予め定められた帯域幅に合わせるステップと、 テストを受ける装置の順方向伝送パラメータを測定する
ステップと、 少なくとも１つの第２の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を
第２の予め定められた帯域幅に合わせるステップと、 テストを受ける装置の順方向反射パラメータを測定する
ステップと、 少なくとも１つの第３の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を
第３の予め定められた帯域幅に合わせるステップと、 テストを受ける装置の逆方向伝送パラメータを測定する
ステップと、 少なくとも１つの第４の可調整ＩＦフィルタの帯域幅を
第４の予め定められた帯域幅に合わせるステップと、 テストを受ける装置の逆方向反射パラメータを測定する
ステップと、 測定された順方向伝送パラメータ、測定された順方向反
射パラメータ、測定された逆方向伝送パラメータ、及
び、測定された逆方向反射パラメータから、テストを受
ける装置の順方向伝送係数、順方向反射係数、逆方向伝
送係数、及び、逆方向反射係数のうちの少なくとも１つ
を抽出するステップとを含む方法。 - 【請求項９】順方向伝送係数が抽出される場合、第２の
予め定められた帯域幅が、第１の予め定められた帯域
幅、第４の予め定められた帯域幅、及び、第３の予め定
められた帯域幅のうちの少なくとも１つよりも狭いこと
を特徴とする、請求項８に記載の方法。 - 【請求項１０】逆方向伝送係数が抽出される場合、第３
の予め定められた帯域幅が、第１の予め定められた帯域
幅、第２の予め定められた帯域幅、及び、第４の予め定
められた帯域幅のうちの少なくとも１つよりも狭いこと
を特徴とする、請求項８に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US953,356 | 1997-10-17 | ||
| US08/953,356 US6018246A (en) | 1997-10-17 | 1997-10-17 | Network analyzer measurement method for high dynamic range devices |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11194144A true JPH11194144A (ja) | 1999-07-21 |
| JP3054406B2 JP3054406B2 (ja) | 2000-06-19 |
Family
ID=25493865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10293456A Expired - Fee Related JP3054406B2 (ja) | 1997-10-17 | 1998-10-15 | ネットワーク・アナライザ測定方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6018246A (ja) |
| JP (1) | JP3054406B2 (ja) |
| DE (1) | DE19839133C2 (ja) |
| GB (1) | GB2331589B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008193689A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | Keithley Instruments Inc | パルス生成の方法及び装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6065137A (en) * | 1998-04-06 | 2000-05-16 | Hewlett-Packard Company | Network analyzer measurement method using adaptive signal processing |
| US7724761B1 (en) * | 2000-03-07 | 2010-05-25 | Juniper Networks, Inc. | Systems and methods for reducing reflections and frequency dependent dispersions in redundant links |
| WO2003087856A1 (fr) * | 2002-04-17 | 2003-10-23 | Advantest Corporation | Analyseur de reseau, procede d'analyse de reseau, correcteur automatique, procede de correction, programme, et support d'enregistrement |
| DE10253168A1 (de) * | 2002-11-14 | 2004-06-03 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Erhöhung der Meßgeschwindigkeit bei der Bestimmung der Streuparameter eines Mehrtor-Meßobjektes mittels eines Mehrtor-Netzwerkanalysators |
| US7221685B2 (en) * | 2002-12-13 | 2007-05-22 | Sbc Properties, L.P. | Method and system relating to bandwidth utilization |
| US7623989B2 (en) | 2005-09-29 | 2009-11-24 | Agilent Technologies, Inc. | System and method for pulsed signal device characterization utilizing an adaptive matched filterbank |
| US8103469B1 (en) * | 2005-12-07 | 2012-01-24 | Altera Corporation | Transceiver link bit error rate prediction |
| DE102006019995A1 (de) * | 2006-04-26 | 2007-11-08 | Ademics Sensor Technology Gmbh | Hochfrequenzreflektometer und Messverfahren |
| US7777497B2 (en) * | 2008-01-17 | 2010-08-17 | Com Dev International Ltd. | Method and system for tracking scattering parameter test system calibration |
| US20090290658A1 (en) * | 2008-05-22 | 2009-11-26 | George Moore | Multi-Pulse Signal Generator Based on a Sawtooth Chirp |
| DE102010011429A1 (de) * | 2010-03-15 | 2011-09-15 | Epcos Ag | Detektorschaltung |
| US10145930B1 (en) * | 2015-09-30 | 2018-12-04 | Keysight Technologies, Inc. | Method and system for phase synchronization and calibration of a multiport vector network analyzer using a single phase reference |
| US11474137B2 (en) * | 2020-09-18 | 2022-10-18 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Test system |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4816767A (en) * | 1984-01-09 | 1989-03-28 | Hewlett-Packard Company | Vector network analyzer with integral processor |
| WO1986006174A1 (en) * | 1985-04-13 | 1986-10-23 | Anritsu Corporation | Heterodyne-type method and apparatus for measuring signals, having means for automatically correcting the detuning |
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| DE59605901D1 (de) * | 1995-03-24 | 2000-10-26 | Marquardt Gmbh | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Betrieb eines Elektromotors |
-
1997
- 1997-10-17 US US08/953,356 patent/US6018246A/en not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-08-27 DE DE19839133A patent/DE19839133C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1998-10-15 JP JP10293456A patent/JP3054406B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1998-10-16 GB GB9822688A patent/GB2331589B/en not_active Expired - Fee Related
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|---|---|---|---|---|
| JP2008193689A (ja) * | 2007-02-01 | 2008-08-21 | Keithley Instruments Inc | パルス生成の方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB9822688D0 (en) | 1998-12-09 |
| GB2331589A (en) | 1999-05-26 |
| DE19839133C2 (de) | 2000-02-10 |
| GB2331589B (en) | 2002-03-27 |
| JP3054406B2 (ja) | 2000-06-19 |
| DE19839133A1 (de) | 1999-05-06 |
| US6018246A (en) | 2000-01-25 |
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