JPH1117777A - Mutual operability test specification generating method - Google Patents
Mutual operability test specification generating methodInfo
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- JPH1117777A JPH1117777A JP9164818A JP16481897A JPH1117777A JP H1117777 A JPH1117777 A JP H1117777A JP 9164818 A JP9164818 A JP 9164818A JP 16481897 A JP16481897 A JP 16481897A JP H1117777 A JPH1117777 A JP H1117777A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、通信システムの
相互運用性を検証するための試験仕様を生成する相互運
用性試験仕様生成方法に関するものである。The present invention relates to an interoperability test specification generation method for generating a test specification for verifying interoperability of a communication system.
【０００２】[0002]
【従来の技術】この種の相互運用性試験仕様生成方法
は、例えば特開平６−６６６０３号公報や、文献「坪
根、土岐田：相互運用性試験に対する試験系列生成方式
の検討、情報処理学会 マルメディア通信と分散処理
７５−１（１９９６）」などにおいて提案、検討がなさ
れている。それらに示された、従来の相互運用性試験仕
様生成方式を以下に説明する。2. Description of the Related Art This type of interoperability test specification generation method is disclosed, for example, in Japanese Patent Laid-Open Publication No. Hei 6-66603, "Tsubone, Tokita: Examination of Test Sequence Generation Method for Interoperability Test," Media communication and distributed processing
75-1 (1996) "and the like. The conventional interoperability test specification generation method shown in them will be described below.
【０００３】ここで、図１６は従来の相互運用性試験仕
様生成方法に基づくプロトコル仕様の一例を示す状態遷
移図、図１７は従来およびこの発明の相互運用性試験仕
様生成方法に基づく試験仕様生成の一例を示す状態遷移
図であり、図１６において、１は相互運用性試験が行わ
れる一方の試験対象の通信システムのプロトコル仕様で
あり、２はもう一方の試験対象の通信システムのプロト
コル仕様である。FIG. 16 is a state transition diagram showing an example of a protocol specification based on a conventional interoperability test specification generation method, and FIG. 17 is a test specification generation based on the conventional and interoperability test specification generation methods of the present invention. FIG. 16 is a state transition diagram showing an example of the communication system. In FIG. 16, 1 is a protocol specification of one communication system to be tested in which an interoperability test is performed, and 2 is a protocol specification of another communication system to be tested. is there.
【０００４】この図１６に示すような２つの通信システ
ムのプロトコル仕様１およびプロトコル仕様２を、有限
状態機械（Ｆｉｎｉｔｅ Ｓｔａｔｅ Ｍａｃｈｉｎ
ｅ；以下、ＦＳＭと略記する）の形式で入力する。次
に、その２つのＦＳＭからシステム状態グラフ（Ｓｙｓ
ｔｅｍ Ｓｔａｔｅ Ｇｒａｐｈ；以下、ＳＳＧと略記
する）を合成し、図１７に示すようなＳＳＧを生成す
る。そして、生成された上記ＳＳＧ全体を試験仕様とし
て出力する。A protocol specification 1 and a protocol specification 2 of two communication systems as shown in FIG. 16 are defined by a finite state machine (Finite State Machine).
e; hereinafter abbreviated as FSM). Next, the system state graph (Sys
This is combined with a “Stem State Graph” (hereinafter abbreviated as SSG) to generate an SSG as shown in FIG. Then, the entirety of the generated SSG is output as a test specification.
【０００５】次に、上記文献「坪根、土岐田：相互運用
性試験に対する試験系列生成方式の検討、情報処理学会
マルメディア通信と分散処理 ７５−１（１９９
６）」に基づき、従来の相互運用性試験のための試験仕
様生成方式を説明する。[0005] Next, the above-mentioned document "Tsubone, Tokita: Examination of test sequence generation method for interoperability test, Information Processing Society of Japan Multimedia Communication and Distributed Processing 75-1 (199)
6)), a description will be given of a conventional test specification generation method for an interoperability test.
【０００６】ここで、図１８は従来およびこの発明の相
互運用性試験仕様生成方法で想定している試験環境モデ
ルを示すブロック図である。この図１８において、１
１、１２はＦＳＭであり、各々試験対象である２つの通
信システムのプロトコル仕様１、２をモデル化したもの
である。また、１３、１４はＦＳＭ１１あるいはＦＳＭ
１２の上部で本試験に関わるイベントを制御・観測する
拠点としての上位ＰＣＯ（ＰＣＯはポイント・オブ・コ
ントロール・アンド・オブザベーション；Ｐｏｉｎｔ
ｏｆ Ｃｏｎｔｒｏ１ ａｎｄ Ｏｂｓｅｒｖａｔｉｏ
ｎの略）であり、１５、１６はＦＳＭ１１あるいはＦＳ
Ｍ１２の下部で本試験に関わるイベントを制御・観測す
る拠点としての下位ＰＣＯである。１７、１８は各々上
位ＰＣＯ１３あるいは上位ＰＣＯ１４を通過するイベン
トを制御・観測する上位テスタであり、１９、２０は各
々下位ＰＣＯ１５あるいは下位ＰＣＯ１６を通過するイ
ベントを制御・観測する下位テスタである。さらに、２
１、２２は各々ＦＳＭ１１、ＦＳＭ１２の下位層のサー
ビス・プロバイダをモデル化したファーストイン・ファ
ーストアウト（ＦＩＦＯ）に基づく双方向のチャネルで
ある。FIG. 18 is a block diagram showing a test environment model assumed in the conventional and interoperability test specification generation methods of the present invention. In FIG. 18, 1
FSMs 1 and 12 model the protocol specifications 1 and 2 of the two communication systems to be tested. 13 and 14 are FSM11 or FSM
Upper PCO as a base for controlling and observing events related to this test at the upper part of PC12 (PCO is Point of Control and Observation; Point
of Contro1 and Observatio
n), and 15 and 16 are FSM11 or FS
It is a lower PCO as a base for controlling and observing events related to the main test below M12. Reference numerals 17 and 18 denote upper testers for controlling and observing events passing through the upper PCO 13 or upper PCO 14, respectively, and reference numerals 19 and 20 denote lower testers for controlling and observing events passing through the lower PCO 15 or the lower PCO 16, respectively. In addition, 2
Reference numerals 1 and 22 denote bidirectional channels based on a first-in first-out (FIFO) model of a service provider in a lower layer of the FSM 11 and the FSM 12, respectively.
【０００７】従来の相互運用性試験仕様生成方法は、こ
の図１８に示す上位テスタ１７および１８と、下位テス
タ１９および２０によって、制御・観測するためのイベ
ントの手順を生成することを目的とする。さらに、ＦＳ
Ｍ１１、ＦＳＭ１２を合成して得られるＳＳＧは、ＦＳ
Ｍ１１、ＦＳＭ１２、チャネル２１、チャネル２２にお
ける状態を組み合わせてできる全ての状態のうち、初期
状態から到達可能な状態に対する状態遷移の集合であ
る。The conventional interoperability test specification generation method aims to generate an event procedure for control and observation by the upper testers 17 and 18 and the lower testers 19 and 20 shown in FIG. . Furthermore, FS
SSG obtained by synthesizing M11 and FSM12 is FS
It is a set of state transitions for states that can be reached from the initial state among all states that can be formed by combining the states in M11, FSM 12, channel 21, and channel 22.
【０００８】図１６は従来の相互運用性試験仕様生成方
法に基づいて、ＦＳＭ１１および１２でモデル化された
２つのプロトコル仕様から、図１７に示す試験仕様を生
成する一例を示している。この図１７に示されたＳＳＧ
は、図１６に示される２つのプロトコル仕様１および２
を合成して生成されたものである。なお、プロトコル仕
様１における“Ｕ？ＣＯＮｒｅｑ／Ｌ！ＣＲ”の記号は
「上位ＰＣＯ（Ｕ）からＦＳＭ１１にイベント名“ＣＯ
Ｎｒｅｑ”なるイベントが入力（？）されると、下位Ｐ
ＣＯ（Ｌ）にイベント名“ＣＲ”なるイベントを出力
（！）する。」ことを示している。FIG. 16 shows an example of generating a test specification shown in FIG. 17 from two protocol specifications modeled by the FSMs 11 and 12 based on a conventional interoperability test specification generation method. The SSG shown in FIG.
Are the two protocol specifications 1 and 2 shown in FIG.
Are generated by synthesizing. The symbol of “U? CONreq / L! CR” in the protocol specification 1 indicates that the event name “CO” is sent from the upper PCO (U) to the FSM 11.
When an event “Nreq” is input (?), The lower P
The event having the event name “CR” is output (!) To CO (L). "It is shown that.
【０００９】すなわち、図１６のプロトコル仕様１およ
び２に示した同様の記号は、一般的に下記の規則に基づ
いて解釈するものとする。 イベント１／イベント２：イベント１（以降、入力イベ
ントと呼称する）が入力されるとイベント２（以降、出
力イベントと呼称する）を出力する。 Ｕ：上位ＰＣＯ Ｌ：下位ＰＣＯ ？：入力 ！：出力 ε：空イベントThat is, similar symbols shown in the protocol specifications 1 and 2 of FIG. 16 are generally interpreted based on the following rules. Event 1 / Event 2: When Event 1 (hereinafter, referred to as an input event) is input, Event 2 (hereinafter, referred to as an output event) is output. U: Upper PCO L: Lower PCO? : Input! : Output ε: Empty event
【００１０】なお、図１７におけるＳＳＧに現れる“Ｕ
１？ＣＯＮｒｅｑ／Ｌ１！ＣＲ”等の記号も上記規則に
基づいて解釈するが、ＰＣＯについては、ＦＳＭ１１、
ＦＳＭ１２の何れのイベントであるかを明示的に区別す
るため、ＦＳＭ１１側はＵ１、Ｌ１、ＦＳＭ１２側はＵ
２、Ｌ２のように表記している。Note that "U" appearing in SSG in FIG.
1? CONreq / L1! Symbols such as "CR" are also interpreted based on the above rules.
To explicitly distinguish which event of the FSM12, the FSM11 side is U1, L1, and the FSM12 side is U1.
It is described as 2, L2.
【００１１】[0011]
【発明が解決しようとする課題】従来の相互運用性試験
仕様生成方法は以上のように構成されているので、網羅
性のある厳密な試験仕様を生成できるが、その反面その
試験仕様に含まれる状態遷移の数は通例膨大な数にな
り、その全ての状態遷移を辿って試験することは開発コ
ストや開発期間の観点から一般的には困難である。さら
に、その膨大な状態遷移の中から適切な試験実施範囲を
選択するにしても、その選択作業は現状人手に頼らなけ
ればならないが、その状態遷移数の膨大さは人間の情報
処理能力をはるかに越えているため、人手による選択も
困難であり、従来の相互運用性試験仕様生成方法は実際
の通信システムの試験作業には適用することができない
という課題があった。Since the conventional interoperability test specification generation method is configured as described above, a strict test specification having completeness can be generated, but the test specification is included in the test specification. In general, the number of state transitions is enormous, and it is generally difficult to trace all the state transitions for testing in terms of development cost and development period. Furthermore, even if an appropriate test execution range is selected from among such a huge number of state transitions, the selection work still has to rely on humans at present, but the huge number of state transitions far exceeds human information processing ability. Therefore, it is difficult to make a manual selection, and there is a problem that the conventional interoperability test specification generation method cannot be applied to an actual communication system test operation.
【００１２】なお、このような上記課題の一例を、先に
説明した図１６と図１７において具体的に示すことがで
きる。図１６において、プロトコル仕様１に含まれる状
態遷移の数は９個、プロトコル仕様２に含まれる状態遷
移の数は６個であるのに対して、それらを合成して得ら
れるＳＳＧに含まれる状態遷移の数は図１７に示すよう
に２６個となっている。このように、従来の相互運用性
試験仕様生成方法で生成される試験仕様、すなわちＳＳ
Ｇに含まれる状態遷移の数は、それぞれの通信システム
のプロトコル仕様１、２を記述する各ＦＳＭ１１、１２
に含まれる状態遷移の数に比べて大きなものとなる。An example of the above problem can be specifically shown in FIGS. 16 and 17 described above. In FIG. 16, the number of state transitions included in the protocol specification 1 is nine, and the number of state transitions included in the protocol specification 2 is six, but the number of state transitions included in the SSG obtained by combining them is six. The number of transitions is 26 as shown in FIG. Thus, the test specification generated by the conventional interoperability test specification generation method, that is, SS
The number of state transitions included in G is determined by the FSMs 11 and 12 that describe the protocol specifications 1 and 2 of each communication system
Is larger than the number of state transitions included in the.
【００１３】さらに、図１６に示した通信システムのプ
ロトコル仕様１および２は、実際の通信システムのプロ
トコル仕様、例えばＩＳＯ（国際標準化機構）標準であ
るＯＳＩ（開放型システム間相互接続）のトランスポー
ト層プロトコル（ＩＳＯ８０７３）や、ＤＴＥ用Ｘ．２
５パケットレベルプロトコル（ＩＳＯ８２０８）などに
比べて極めて簡素なものであるので、実際の通信システ
ムのプロトコル仕様に対して従来の相互運用性試験仕様
生成方法を適用した場合には、得られる試験仕様の規
模、すなわちＳＳＧに含まれる状態遷移の数が膨大なも
のになることは明らかである。Further, the protocol specifications 1 and 2 of the communication system shown in FIG. 16 are the protocol specifications of the actual communication system, for example, the transport of OSI (Open System Interconnection) which is an ISO (International Organization for Standardization) standard. Layer protocol (ISO8073) or D.X. 2
5 is very simple as compared with the packet level protocol (ISO8208), etc. Therefore, when the conventional interoperability test specification generation method is applied to the protocol specification of the actual communication system, the obtained test specification becomes It is clear that the scale, that is, the number of state transitions included in the SSG becomes enormous.
【００１４】この発明は以上のような課題を解決するた
めになされたもので、プロトコル仕様から試験仕様を生
成し、試験仕様の部分集合から複数の詳細試験仕様を生
成した後、試験実施者があらかじめ設定した試験規模の
範囲内で、重要度の高い詳細試験仕様を選んで試験する
ことができ、実際の通信システムの試験作業に適用可能
な相互運用性試験仕様生成方法を得ることを目的とす
る。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems. A test specification is generated from a protocol specification, and a plurality of detailed test specifications are generated from a subset of the test specification. The purpose is to obtain an interoperability test specification generation method that can select and test a highly important detailed test specification within a preset test scale, and that can be applied to actual communication system test work. I do.
【００１５】[0015]
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明に係
る相互運用性試験仕様生成方法は、プロトコル仕様入力
ステップにて状態遷移の集合からなる２つの通信システ
ムのプロトコル仕様をそれぞれ入力し、ＳＳＧ生成ステ
ップでそれらを合成してＳＳＧを生成するとともに、試
験率入力ステップにてＳＳＧを構成する状態遷移の中
で、試験する状態遷移の割合を決定する試験率を別途入
力しておき、ＳＳＧ生成ステップで生成されたＳＳＧの
状態遷移の部分集合から、詳細試験仕様生成ステップで
詳細試験仕様を生成して、詳細試験仕様選択ステップに
おいて、その得られた詳細試験仕様より、試験率入力ス
テップにて入力された試験率の範囲内で、試験を実施す
る詳細試験仕様を選択し、出力ステップでそれを出力す
るようにしたものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided an interoperability test specification generation method, wherein a protocol specification of two communication systems comprising a set of state transitions is input in a protocol specification input step. In the SSG generation step, the SSG is generated by combining them, and in the test rate input step, a test rate for determining the ratio of the state transition to be tested among the state transitions constituting the SSG is separately input, and the SSG is generated. From the subset of state transitions of the SSG generated in the generation step, a detailed test specification is generated in a detailed test specification generation step, and in the detailed test specification selection step, the obtained detailed test specification is converted to a test rate input step. Select the detailed test specification to execute the test within the range of the input test rate and output it in the output step. That.
【００１６】請求項２記載の発明に係る相互運用性試験
仕様生成方法は、詳細試験仕様選択ステップにおける詳
細試験仕様の選択を、ＳＳＧの初期状態から極力遠い状
態遷移を試験すること、およびできる限り多くの異なる
状態遷移を試験することを同時に満たすことを条件とし
て行うようにしたものである。According to a second aspect of the present invention, there is provided an interoperability test specification generation method, wherein the selection of a detailed test specification in the detailed test specification selecting step includes testing a state transition as far as possible from an initial state of the SSG, and The testing is performed on condition that the testing of many different state transitions is simultaneously satisfied.
【００１７】[0017]
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１による相
互運用性試験仕様生成方法における処理の流れを示すフ
ローチャートである。図において、ＳＴ１はそれぞれが
状態遷移の集合からなる２つの通信システムの各プロト
コル仕様の入力を行うプロトコル仕様入力ステップ、Ｓ
Ｔ２はこのプロトコル仕様入力ステップＳＴ１にて入力
されたプロトコル仕様を合成してＳＳＧの生成を行うＳ
ＳＧ生成ステップ、ＳＴ３はこのＳＳＧ生成ステップＳ
Ｔ２で生成されたＳＳＧを構成する状態遷移の中で、試
験を実施する状態遷移の割合を決定する試験率の入力を
行う試験率入力ステップ、ＳＴ４はＳＳＧ生成ステップ
ＳＴ２で生成されたＳＳＧの状態遷移の部分集合より詳
細試験仕様の生成を行う詳細試験仕様生成ステップ、Ｓ
Ｔ５はこの詳細試験仕様生成ステップＳＴ４で生成され
た詳細試験仕様より、試験率入力ステップＳＴ３で入力
された試験率の範囲内で試験を実施する詳細試験仕様の
選択を行う詳細試験仕様選択ステップ、ＳＴ６はこの詳
細試験仕様選択ステップＳＴ５で選択された詳細試験仕
様の出力を行う出力ステップである。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below. Embodiment 1 FIG. FIG. 1 is a flowchart showing a processing flow in the interoperability test specification generation method according to the first embodiment of the present invention. In the figure, ST1 is a protocol specification input step for inputting each protocol specification of two communication systems each consisting of a set of state transitions.
T2 combines the protocol specifications input in the protocol specification input step ST1 to generate SSG.
SG generation step, ST3 is the SSG generation step S
A test rate input step of inputting a test rate for determining a rate of a state transition for performing a test among state transitions constituting the SSG generated in T2, and ST4 is a state of the SSG generated in the SSG generation step ST2. Detailed test specification generation step of generating a detailed test specification from a subset of transitions, S
T5 is a detailed test specification selecting step of selecting a detailed test specification for performing a test within the range of the test rate input in the test rate input step ST3 from the detailed test specification generated in the detailed test specification generating step ST4. ST6 is an output step for outputting the detailed test specification selected in the detailed test specification selecting step ST5.
【００１８】また、図２はこの実施の形態１による相互
運用性試験仕様生成方法を用いて生成した試験仕様に基
づいた相互運用性試験が実行されるシステムの一例を示
したブロック図である。図において、３１はこの発明の
実施の形態１による相互運用性試験仕様生成方法に基づ
いて試験仕様を生成する試験仕様生成装置である。３２
はこの試験仕様生成装置３１が生成した試験仕様に基づ
いて相互運用性試験を実行する相互運用性試験実行装置
であり、３３はこの実施の形態１による相互運用性試験
仕様生成方法の試験対象となる第１の通信システム、３
４は同じく第２の通信システムである。３５は試験仕様
生成装置３１で生成された試験仕様が格納される試験仕
様ファイル、３６は相互運用性試験実行装置３２による
相互運用性試験の実行結果が格納される試験結果ファイ
ルである。FIG. 2 is a block diagram showing an example of a system in which an interoperability test is executed based on a test specification generated by using the interoperability test specification generation method according to the first embodiment. In the figure, reference numeral 31 denotes a test specification generation device that generates a test specification based on the interoperability test specification generation method according to the first embodiment of the present invention. 32
Is an interoperability test execution device that executes an interoperability test based on the test specification generated by the test specification generation device 31, and 33 is a test target of the interoperability test specification generation method according to the first embodiment. A first communication system, 3
Reference numeral 4 denotes a second communication system. Reference numeral 35 denotes a test specification file in which the test specifications generated by the test specification generation device 31 are stored, and reference numeral 36 denotes a test result file in which execution results of the interoperability test by the interoperability test execution device 32 are stored.
【００１９】次に動作について説明する。この実施の形
態１は２つの通信システムのプロトコル仕様を合成して
ＳＳＧを求めるとともに、得られたＳＳＧに含まれる状
態遷移の部分集合からなる詳細試験仕様を求め、前記Ｓ
ＳＧを構成する状態遷移の中で試験する状態遷移の割合
を決定する試験率の範囲内で、詳細試験仕様を選択する
ものである。以下、試験仕様生成装置３１によって第１
の通信システム３３と第２の通信システム３４をそれぞ
れＦＳＭ１１およびＦＳＭ１２にモデル化し、それらに
基づいて試験仕様を生成する手順を図１のフローチャー
トに従って説明する。Next, the operation will be described. In the first embodiment, the SSG is obtained by synthesizing the protocol specifications of the two communication systems, and a detailed test specification including a subset of state transitions included in the obtained SSG is obtained.
The detailed test specification is selected within the range of the test rate for determining the ratio of the state transition to be tested among the state transitions constituting the SG. Hereinafter, the first test specification generating device 31
The procedure for modeling the communication system 33 and the second communication system 34 of the first embodiment into FSM11 and FSM12, respectively, and generating a test specification based on them will be described with reference to the flowchart of FIG.
【００２０】まず、プロトコル仕様入力ステップＳＴ１
において、試験実施者が、図１６に示すようなＦＳＭの
形式で記述された試験対象の第１の通信システム３３お
よび第２の通信システム３４のプロトコル仕様１および
２の入力を行う。試験仕様生成装置３１はこの入力され
た２つのプロトコル仕様１および２をＦＳＭの形式で読
み取る。なお、図１６に示したプロトコル仕様１は試験
対象の通信システム３３のプロトコル仕様、プロトコル
仕様２は試験対象の通信システム３４のプロトコル仕様
である。First, a protocol specification input step ST1
In, the tester inputs the protocol specifications 1 and 2 of the first communication system 33 and the second communication system to be tested described in the FSM format as shown in FIG. The test specification generation device 31 reads the two input protocol specifications 1 and 2 in the FSM format. Note that protocol specification 1 shown in FIG. 16 is the protocol specification of the communication system 33 to be tested, and protocol specification 2 is the protocol specification of the communication system 34 to be tested.
【００２１】次に、ＳＳＧ合成ステップＳＴ２におい
て、試験仕様生成装置３１は図１６に示した２つのＦＳ
Ｍのプロトコル仕様１と２、および図１８に示したチャ
ネル２１と２２における状態の組み合わせによってでき
るすべての状態のうち、２つの通信システム３３および
３４の初期状態から到達可能な状態に対する状態遷移の
集合、すなわちＳＳＧを合成する。このＳＳＧ合成ステ
ップＳＴ２による処埋に基づいて、図１６に示すプロト
コル仕様１とプロトコル仕様２から合成されたＳＳＧの
一例を図１７に示している。Next, in the SSG synthesizing step ST2, the test specification generating device 31 sets the two FSs shown in FIG.
A set of state transitions for states that can be reached from the initial states of the two communication systems 33 and 34 among all the states formed by the combination of the states in the protocol specifications 1 and 2 of M and the channels 21 and 22 shown in FIG. That is, SSG is synthesized. FIG. 17 shows an example of an SSG synthesized from the protocol specification 1 and the protocol specification 2 shown in FIG. 16 based on the processing in the SSG synthesis step ST2.
【００２２】次に、試験率入力ステップＳＴ３におい
て、ＳＳＧ生成ステップＳＴ２で生成されたＳＳＧを構
成する状態遷移の中で、試験する状態遷移の割合を決定
する試験率を入力する。例えば、図１７に示されるＳＳ
Ｇには２６個の状態遷移が含まれるが、その中で１３個
の状態遷移を試験する場合には、試験率を５０％として
入力する。Next, in a test rate input step ST3, a test rate for determining a ratio of a state transition to be tested in the state transitions constituting the SSG generated in the SSG generation step ST2 is input. For example, the SS shown in FIG.
G includes 26 state transitions. When 13 state transitions are tested, G is input as a test rate of 50%.
【００２３】次に、詳細試験仕様生成ステップＳＴ４に
おいて、試験仕様生成装置３１はＳＳＧ生成ステップＳ
Ｔ２で求めたＳＳＧの全状態遷移から部分集合を選ん
で、複数の詳細試験仕様を生成する。なお、この詳細試
験仕様の生成方法は以下に示す方法１〜方法３による。Next, in the detailed test specification generation step ST4, the test specification generation device 31
A subset is selected from all the state transitions of the SSG obtained at T2, and a plurality of detailed test specifications are generated. The method of generating the detailed test specifications is based on the following methods 1 to 3.
【００２４】方法１：ＳＳＧの初期状態Ｓ１から出発し
て各状態遷移を辿ってゆき、一度通過した状態（ある１
つのループを開始する状態）に到達した場合に、それま
でに辿った全ての状態遷移の集合を１つの詳細試験仕様
とする。 方法２：ＳＳＧの初期状態Ｓ１から出発して各状態遷移
を辿ってゆき、終端の状態に到達した場合に、それまで
に辿った全ての状態遷移の集合を１つの詳細試験仕様と
する。 方法３：ＳＳＧを構成する全ての状態遷移が、少なくと
も１つの詳細試験仕様に含まれるまで方法１または方法
２を繰り返す。Method 1: Starting from the initial state S1 of the SSG, tracing each state transition, and passing the state once (one state
(A state where two loops are started), a set of all state transitions traced so far is defined as one detailed test specification. Method 2: Each state transition is traced starting from the initial state S1 of the SSG, and when the terminal state is reached, a set of all state transitions traced so far is defined as one detailed test specification. Method 3: Method 1 or Method 2 is repeated until all state transitions constituting the SSG are included in at least one detailed test specification.
【００２５】例えば、図１７に示すＳＳＧから詳細試験
仕様を生成する場合、上記の方法１により、ＳＳＧの初
期状態Ｓ１から出発して状態Ｓ２〜Ｓ６，Ｓ８，Ｓ１
２，Ｓ１５，Ｓ１８，Ｓ７，Ｓ１１を辿り一度通過した
状態Ｓ２に到達し、図３に示す詳細試験仕様ｄ1 を生成
する。なお、図中の太線で示す経路が該当の詳細試験仕
様であり、この詳細試験仕様ｄ1 では状態遷移数は１２
である。For example, when the detailed test specification is generated from the SSG shown in FIG. 17, the method 1 starts from the initial state S1 of the SSG and states S2 to S6, S8, S1.
2, S15, S18, S7, S11 reaches a state S2 once passed through follows a generates a detailed test specification d 1 shown in FIG. Incidentally, a detailed test specification of the relevant route indicated by the thick line in the figure, the state transition number in this detailed test specification d 1 12
It is.
【００２６】次に、方法３で詳細試験仕様ｄ1 に含まれ
ない状態遷移があるので、方法１を繰り返すことによ
り、図４〜図１１に示す詳細試験仕様ｄ2 〜ｄ9 を順次
生成する。これら詳細試験仕様ｄ2 〜ｄ9 においても、
図中の太線で示す経路が該当の詳細試験仕様であり、そ
れぞれの状態遷移数は１２，１２，１１，１１，９，
９，９，７である。この詳細試験仕様ｄ9 を生成した時
点で、ＳＳＧを構成する全ての状態遷移が少なくとも１
つの詳細試験仕様に含まれるため、方法３に基づいて詳
細試験仕様生成ステップＳＴ４の処理を終了する。な
お、この場合には、方法１および方法３を適用すること
により詳細試験仕様が求まるので、方法２は適用する必
要がない。Next, there is a state transition not included in the method 3 detailed test specification d 1, by repeating the method 1, sequentially generating detailed test specification d 2 to d 9 shown in FIGS. 4 to 11 . In these detailed test specifications d 2 to d 9 ,
The route indicated by the thick line in the figure is the corresponding detailed test specification, and the number of state transitions is 12, 12, 11, 11, 9,
9, 9, 7. Once generated the detailed test specification d 9, all the state transitions constituting the SSG at least 1
Since the detailed test specifications are included in the three detailed test specifications, the process of the detailed test specification generation step ST4 is terminated based on the method 3. In this case, since detailed test specifications are obtained by applying the methods 1 and 3, the method 2 does not need to be applied.
【００２７】次に、詳細試験仕様選択ステップＳＴ５に
おいて、試験仕様生成装置３１は詳細試験仕様生成ステ
ップＳＴ４にて生成された複数の詳細試験仕様の中か
ら、試験率入力ステップＳＴ３で入力された試験率の範
囲内で、試験を実施する詳細試験仕様を選択する。な
お、ここでの選択は、以下に示す各情報の少なくとも１
つを分析することにより行う。 （１）ステップＳＴ１で入力された前記第１のプロトコ
ル仕様１と第２のプロトコル仕様２ （２）ステップＳＴ２で生成されたＳＳＧ （３）ステップＳＴ４で生成された各詳細試験仕様Next, in the detailed test specification selecting step ST5, the test specification generating device 31 selects the test input in the test rate input step ST3 from the plurality of detailed test specifications generated in the detailed test specification generating step ST4. Select a detailed test specification for performing the test within the range of the rate. The selection here is at least one of the information shown below.
This is done by analyzing one. (1) The first protocol specification 1 and the second protocol specification 2 input in step ST1 (2) SSG generated in step ST2 (3) Detailed test specifications generated in step ST4
【００２８】具体的な選択方法の一例としては、ＳＳＧ
生成ステップＳＴ２で生成されたＳＳＧ、および詳細試
験仕様生成ステップＳＴ４で生成された各詳細試験仕様
を分析することにより、 ［条件１］：ＳＳＧの初期状態から極力遠い状態遷移を
試験すること ［条件２］：できる限り多くの異なる状態遷移を試験す
ること の２つの条件を同時に満たすことを条件として選択する
方法である。これらの条件を同時に満たすことにより、
相互運用性試験の最終目的である試験対象の品質を高め
ることに有効な詳細試験仕様を選択することができる。As an example of a specific selection method, SSG
By analyzing the SSG generated in the generation step ST2 and the detailed test specifications generated in the detailed test specification generation step ST4, [condition 1]: testing a state transition as far as possible from the initial state of the SSG [condition] 2]: A method in which two conditions of testing as many different state transitions as possible are simultaneously selected. By satisfying these conditions at the same time,
It is possible to select detailed test specifications that are effective in improving the quality of the test object, which is the ultimate purpose of the interoperability test.
【００２９】この最終目的に有効な詳細試験仕様を選択
するために、［条件１］および［条件２］を挙げた理由
は以下の通りである。 ［条件１］を挙げた理由 試験仕様に相当するＳＳＧの初期状態から遠い所にある
条件遷移を試験するためには、その状態遷移に到達する
までの各状態遷移に関わる２つのＩＵＴ間での各インタ
ラクションを実現する必要があるが、相互運用性試験を
行う以前の単体システムの試験では、このような各イン
タラクションを全て実現することは難しいため、厳密な
試験は実施困難であり、初期状態から遠い状態遷移に関
わる実装部分は不具合が見逃されている可能性が高い。 ［条件２］を挙げた理由 一般に、試験においてはカバレッジの大きい方が効果が
あり、この観点からはなるべく多くの状態遷移を試験す
ることが有効である。The reason why [condition 1] and [condition 2] are given in order to select a detailed test specification effective for this final purpose is as follows. Reason for [Condition 1] In order to test a condition transition far from the initial state of the SSG corresponding to the test specification, a test must be performed between two IUTs related to each state transition until the state transition is reached. Although it is necessary to realize each interaction, it is difficult to realize all such interactions in a single system test before performing the interoperability test, so it is difficult to perform a strict test. It is highly probable that failures have been overlooked for implementation parts related to distant state transitions. Reason for [Condition 2] Generally, in a test, a larger coverage is more effective, and from this viewpoint, it is effective to test as many state transitions as possible.
【００３０】上記の条件に基づいた選択は、次に示す第
１ステップ〜第５ステップによる一連の手順により実現
することができる。なお、この手順に用いられている用
語は以下の意味を持つ。The selection based on the above conditions can be realized by a series of the following first to fifth steps. The terms used in this procedure have the following meanings.
【００３１】※ 詳細試験仕様；ｄi （１≦ｉ≦ｎ） 詳細試験仕様生成ステップＳＴ４で生成された各詳細試
験仕様で、ｎは生成された詳細試験仕様の総数である。 ※ 詳細試験仕様の集合；Ｄ＝｛ｄ1 ，ｄ2 ，・・・
・，ｄn ｝ ※ 選択された詳細試験仕様；ｐi （１≦ｉ≦ｍ） 詳細試験仕様選択ステップＳＴ５で詳細試験仕様の集合
Ｄから選択された詳細試験仕様で、この選択された詳細
試験仕様ｐi は詳細試験仕様の集合Ｄに属している。ま
た、ｍは選択された詳細試験仕様の総数である。 ※ 選択された詳細試験仕様の集合；Ｐ＝｛ｐ1 ，ｐ
2 ，・・・・，ｐm ｝ ※ 選択された詳細試験仕様の規模；Ｓｃａｌｅ（Ｐ） ※ 試験率；ＴｅｓｔＲａｔｉｏ 試験率入力ステップＳＴ３で入力された試験率。* Detailed test specifications; d i (1 ≦ i ≦ n) In each detailed test specification generated in the detailed test specification generation step ST4, n is the total number of generated detailed test specifications. * A set of detailed test specifications; D = ｛d 1 , d 2 , ...
·, D n ｝ * The selected detailed test specification; p i (1 ≦ i ≦ m) The detailed test specification selected from the detailed test specification set D in the detailed test specification selection step ST5. The specifications p i belong to a set D of detailed test specifications. M is the total number of the selected detailed test specifications. * A set of selected detailed test specifications; P = ｛p 1 , p
2, ····, p m} ※ scale of selected details test specification; Scale (P) ※ test rate; TestRatio test rate input entered tested rate in step ST3.
【００３２】なお、上記各詳細試験仕様ｄi はＳＳＧ生
成ステップＳＴ２で生成されたＳＳＧに含まれる全ての
状態遷移の部分集合で、次の式（１）のように表現で
き、また、上記選択された詳細試験仕様の規模Ｓｃａｌ
ｅ（Ｐ）は次の式（２）のように表現できる。[0032] Each of the above detailed test specification d i is a subset of all the state transitions included in the SSG generated in SSG generating step ST2, the can be expressed as the following equation (1), also, the selective Scale of detailed test specifications
e (P) can be expressed as in the following equation (2).
【００３３】[0033]
【数１】 (Equation 1)
【００３４】第１ステップ：選択された詳細試験仕様の
集合Ｐを初期設定のために空集合Φとする。すなわち、
Ｐ＝Φとなる。First step: A set P of the selected detailed test specifications is set as an empty set Φ for initial setting. That is,
P = Φ.
【００３５】第２ステップ：詳細試験仕様の集合Ｄよ
り、前述の［条件１］および［条件２］を定量的に表現
した以下に示す詳細条件１および詳細条件２を満たす詳
細試験仕様ｄi を選択し、それを選択された詳細試験仕
様の集合Ｐの要素として追加して第３ステップに進む。
ただし、次に示す［詳細条件１］および［詳細条件２］
を満たす詳細試験仕様が複数ある場合には、その中の任
意の１つを選択する。The second step: from the set D of detailed test specification, the aforementioned [Condition 1] and [Condition 2] quantitatively satisfy the detailed conditions 1 and detailed condition 2 below that expresses detailed test specification d i Select, add it as an element of the selected detailed test specification set P, and proceed to the third step.
However, [Detailed condition 1] and [Detailed condition 2] shown below
If there are a plurality of detailed test specifications that satisfy the condition, any one of them is selected.
【００３６】［詳細条件１］選択された詳細試験仕様の
集合Ｐに含まれる全ての状態遷移と重複しない各状態遷
移の初期状態からの距離の和を最大にするもの。すなわ
ち、詳細試験仕様の集合Ｄの各要素（詳細試験仕様）ｄ
i と選択された詳細試験仕様の集合Ｐについて、選択さ
れた詳細試験仕様の集合Ｐに含まれる全ての状態遷移の
集合をＧ（Ｐ）と表記した場合、次の式（３）で表され
る集合に含まれる各状態遷移の初期状態からの距離の和
を最大にする詳細試験仕様ｄi を選択する。[Detailed condition 1] A condition that maximizes the sum of the distances from the initial state of each state transition that does not overlap with all the state transitions included in the set P of the selected detailed test specifications. That is, each element (detailed test specification) d of the set D of detailed test specifications
With respect to i and the set P of the selected detailed test specifications, when a set of all state transitions included in the selected set P of the detailed test specifications is denoted by G (P), it is expressed by the following equation (3). the sum of the distances from the initial state of each state transition included in the set to select a detailed test specification d i that maximizes that.
【００３７】[0037]
【数２】 (Equation 2)
【００３８】なお、ここで用いている「状態遷移の初期
状態からの距離」は一般的に次のように定義される。す
なわち、図１２に示した、Ｓ１を初期状態とするＳ１か
らＳ２を経てＳ３へ状態遷移するＳＳＧを例にとると、
初期状態Ｓ１に引き続くＳ１からＳ２への状態遷移の、
初期状態Ｓ１からの距離を１と定義する。また、状態Ｓ
２からＳ３への状態遷移の、初期状態Ｓ１からの距離は
２である。従って、Ｓ１からＳ２への状態遷移とＳ２か
らＳ３への状態遷移の２つの状態遷移の初期状態Ｓ１か
らの距離の和は３となる。The "distance from the initial state of the state transition" used here is generally defined as follows. That is, in the example of SSG shown in FIG.
Of the state transition from S1 to S2 following the initial state S1,
The distance from the initial state S1 is defined as 1. Also, state S
The distance of the state transition from 2 to S3 from the initial state S1 is 2. Therefore, the sum of the distance from the initial state S1 of the two state transitions of the state transition from S1 to S2 and the state transition from S2 to S3 is 3.
【００３９】［詳細条件２］上記［詳細条件１］を満た
す詳細試験仕様が複数ある場合には、それら［詳細条件
１］を満たす詳細試験仕様の中で、選択された詳細試験
仕様の集合Ｐに含まれる全ての状態遷移と重複する状態
遷移の数を最小にするもの。すなわち、状態遷移の集合
Ｇ（Ｐ）に含まれる状態遷移の数を最小にする詳細試験
仕様ｄi を選択する。[Detailed Condition 2] When there are a plurality of detailed test specifications satisfying the above [Detailed Condition 1], a set P of the selected detailed test specifications among the detailed test specifications satisfying the [Detailed Condition 1] is set. That minimize the number of state transitions that overlap with all state transitions included in That is, to select a detailed test specification d i to the number of state transitions included in the set of state transition G (P) to a minimum.
【００４０】第３ステップ：第２ステップで選択された
詳細試験仕様ｄi を詳細試験仕様の集合Ｄから除外して
新たに詳細試験仕様の集合Ｄを再定義し、第４ステップ
に進む。[0040] Third step: to redefine the set D of new detailed test specification excluded from the set D of detailed test specification selected detailed test specification d i in the second step, the process proceeds to the fourth step.
【００４１】第４ステップ：選択された詳細試験仕様の
規模Ｓｃａｌｅ（Ｐ）が、試験実施者があらかじめ設定
した試験率ＴｅｓｔＲａｔｉｏと等しいか試験率Ｔｅｓ
ｔＲａｔｉｏを越える場合、すなわちＳｃａｌｅ（Ｐ）
≧ＴｅｓｔＲａｔｉｏならば第５ステップに進む。ま
た、選択された詳細試験仕様の規模Ｓｃａｌｅ（Ｐ）
が、試験率ＴｅｓｔＲａｔｉｏより小さい場合、すなわ
ちＳｃａｌｅ（Ｐ）＜ＴｅｓｔＲａｔｉｏならば第２ス
テップに進む。Fourth Step: Whether the scale Scale (P) of the selected detailed test specification is equal to the test rate TestRatio set in advance by the tester or not, and the test rate Tes
If the ratio exceeds tRatio, that is, Scale (P)
If ≧ TestRatio, proceed to the fifth step. The scale Scale (P) of the selected detailed test specification
Is smaller than the test rate TestRatio, that is, if Scale (P) <TestRatio, the process proceeds to the second step.
【００４２】第５ステップ：この場合の選択された詳細
試験仕様の集合Ｐが求めるべき詳細試験仕様の集合Ｐで
あり、この一連の処理を終了する。Fifth step: The set P of the selected detailed test specifications in this case is the set P of the detailed test specifications to be obtained, and this series of processing ends.
【００４３】次に、図３〜図１１に示される詳細試験仕
様ｄ1 〜ｄ9 について、上記の第１ステップ〜第５ステ
ップを適用して、試験率５０％で詳細試験仕様ｄi を選
択する手順を説明する。Next, details test specification d 1 to d 9 shown in FIGS. 3 to 11, by applying the first step to fifth step described above, select a detailed test specifications d i in the test 50% The procedure to be performed will be described.
【００４４】まず、第１ステップにおいて選択された詳
細試験仕様の集合Ｐを空集合Φとする。次に、第２ステ
ップにおいて［詳細条件１］を評価すると、Ｐ＝Φであ
ることから、式（３）よりΔi ＝ｄi となる。すなわ
ち、Δi 含まれる各状態遷移の初期状態からの距離の和
を最大にするｄi は、最も多くの状態遷移を有するもの
ということになるので、選択される詳細試験仕様は、１
２個の状態遷移を有する詳細試験仕様ｄ1 ，ｄ2 ，ｄ3
の何れかである。これらの詳細試験仕様ｄ1 ，ｄ2 ，ｄ
3 に対して［詳細条件２］の評価をすると、何れもＧ
（Ｐ）＝Φとなり、互いに同等の選択条件を持つため、
ここではその中の任意の１つである詳細試験仕様ｄ1 を
選択するものとする。従って、Ｐ＝｛ｄ1 ｝となる。First, a set P of the detailed test specifications selected in the first step is defined as an empty set Φ. Next, when [Detailed Condition 1] is evaluated in the second step, since P = Φ, Δ i = d i from equation (3). That is, d i that maximizes the sum of the distances from the initial state of each state transition included in Δ i has the largest number of state transitions. Therefore, the selected detailed test specification is 1
Detailed test specification d 1 , d 2 , d 3 having two state transitions
One of These detailed test specifications d 1 , d 2 , d
When [Detailed Condition 2] is evaluated for 3
Since (P) = Φ and having the same selection conditions as each other,
Here, it is assumed to select the at any one is detailed test specification d 1 therein. Therefore, P = {d 1 }.
【００４５】次に、第３ステップで詳細試験仕様の集合
Ｄからここで選択された詳細試験仕様ｄ1 を除外し、Ｄ
＝｛ｄ2 ，ｄ3 ，ｄ4 ，ｄ5 ，ｄ6 ，ｄ7 ，ｄ8 ，ｄ
9 ｝として第４ステップに進む。Next, in the third step, the detailed test specification d 1 selected here is excluded from the set D of detailed test specifications, and D
= ｛D 2 , d 3 , d 4 , d 5 , d 6 , d 7 , d 8 , d
9 Go to 4th step as｝.
【００４６】この第４ステップでＳｃａｌｅ（Ｐ）を評
価すると、次の式（４）に示すように、詳細試験仕様の
規模Ｓｃａｌｅ（Ｐ）があらかじめ設定しておいた試験
率ＴｅｓｔＲａｔｉｏの５０％よりも小さくなるので、
第２ステップに進む。When the Scale (P) is evaluated in the fourth step, as shown in the following equation (4), the scale Scale (P) of the detailed test specification becomes larger than the preset test rate TestRatio of 50%. Is also smaller,
Proceed to the second step.
【００４７】[0047]
【数３】 (Equation 3)
【００４８】第２ステップにおいて、［詳細条件１］の
評価条件：「選択された詳細試験仕様の集合Ｐに含まれ
る全ての状態遷移と重複しない各状態遷移の初期状態か
らの距離の和」、および［詳細条件２］の評価条件：
「選択された詳細試験仕様の集合Ｐに含まれる全ての状
態遷移と重複する状態遷移の数」を評価する。In the second step, the evaluation condition of [detailed condition 1] is: "the sum of the distance from the initial state of each state transition which does not overlap with all the state transitions included in the set P of the selected detailed test specifications"; And evaluation conditions of [Detailed condition 2]:
"The number of state transitions overlapping with all the state transitions included in the set P of the selected detailed test specifications" is evaluated.
【００４９】これらの評価条件を、図８に示す詳細試験
仕様ｄ6 を例に取って説明すると以下のようになる。ま
ず、［詳細条件１］の評価条件については、選択された
詳細試験仕様の集合Ｐは｛ｄ1 ｝であるから、詳細試験
仕様ｄ6 について、図３に示す詳細試験仕様ｄ1 に含ま
れる全ての状態遷移と重複しない各状態遷移の初期状態
からの距離の和を求めることになる。詳細試験仕様ｄ6
について詳細試験仕様ｄ1 に含まれる全ての状態遷移と
重複しない状態遷移は、図１３のａ欄からｄ欄に示した
４つの状態遷移であり、各々の初期状態Ｓ１からの距離
は、上から順番に６、７、８、９である。従って、これ
らの距離の和である３０が詳細試験仕様ｄ6 に対する
［詳細条件１］の評価条件となる。These evaluation conditions will be described below with reference to the detailed test specification d 6 shown in FIG. 8 as an example. First, regarding the evaluation condition of [Detailed condition 1], since the selected detailed test specification set P is {d 1 }, the detailed test specification d 6 is included in the detailed test specification d 1 shown in FIG. The sum of the distances from the initial state of each state transition that does not overlap with all the state transitions is obtained. Detailed test specification d 6
State transition that does not overlap with all state transitions included in the detailed test specification d 1 is a four state transitions shown in d column from a column in FIG. 13, the distance from each of the initial state S1 is from the top The numbers are 6, 7, 8, 9 in order. Therefore, the sum of these distances 30 is rated conditions [detailed conditions 1] for details test specification d 6.
【００５０】次に、［詳細条件２］の評価条件について
は、詳細試験仕様ｄ6 について詳細試験仕様ｄ1 に含ま
れる全ての状態遷移と重複する状態遷移は、図１４のａ
欄からｅ欄に示した５つであるから、詳細試験仕様ｄ6
に対する［詳細条件２］の評価条件は５となる。[0050] Next, the evaluation conditions of the detailed conditions 2], the state transition that overlaps with all state transitions included in the detailed test specification d 1 for details test specification d 6 is, a in FIG. 14
Column 5 to column e, the detailed test specifications d 6
The evaluation condition of [detailed condition 2] is 5.
【００５１】ここで、詳細試験仕様の集合Ｄ＝｛ｄ2 ，
ｄ3 ，ｄ4 ，ｄ5 ，ｄ6 ，ｄ7 ，ｄ8 ，ｄ9 ｝の全ての
詳細試験仕様について［詳細条件１］および［詳細条件
２］の評価条件を評価すると、図１５に示すようにな
る。この図１５は２つ目の詳細試験仕様を選択する際の
各評価値を示したものであり、各詳細試験仕様ｄi 毎
に、［詳細条件１］の評価値である、選択された詳細試
験仕様の集合Ｐに含まれる全ての状態遷移と重複しない
各状態遷移の初期状態からの距離の和と、［詳細条件
２］の評価値である、選択された詳細試験仕様の集合Ｐ
に含まれる全ての状態遷移と重複する状態遷移の数、お
よび選択候補が示されている。この図１５に示すよう
に、次に選択すべき詳細試験仕様は、［詳細条件１］の
評価値が“３０”で［詳細条件２］の評価値が“５”で
ある詳細試験仕様ｄ6 ，ｄ7 ，ｄ8 の何れかとなるが、
ここでは、例えば詳細試験仕様ｄ6 を選択する。従っ
て、Ｐ＝｛ｄ1 ，ｄ6 ｝となる。Here, a set of detailed test specifications D = ｛d 2 ,
When the evaluation conditions of [Detailed Condition 1] and [Detailed Condition 2] are evaluated for all the detailed test specifications of d 3 , d 4 , d 5 , d 6 , d 7 , d 8 , d 9 }, FIG. Become like FIG. 15 shows the respective evaluation values in selecting the second full test specifications, each detail test specification d i, the evaluation value for the detailed conditions 1], selected details The set P of the selected detailed test specifications, which is the sum of the distance from the initial state of each state transition that does not overlap with all the state transitions included in the test specification set P, and the evaluation value of [Detailed Condition 2]
, The number of state transitions that overlap with all the state transitions included in, and selection candidates are shown. As shown in FIG. 15, the detailed test specification to be selected next is a detailed test specification d 6 in which the evaluation value of [Detailed Condition 1] is “30” and the evaluation value of [Detailed Condition 2] is “5”. , D 7 or d 8 ,
Here, for example, selects a detailed test specification d 6. Therefore, P = {d 1 , d 6 }.
【００５２】次に第３ステップに進み、詳細試験仕様の
集合Ｄからここで選択された詳細試験仕様ｄ6 を除外
し、Ｄ＝｛ｄ2 ，ｄ3 ，ｄ4 ，ｄ5 ，ｄ7 ，ｄ8 ，ｄ
9 ｝として第４ステップに進む。Next, proceeding to the third step, the detailed test specification d 6 selected here is excluded from the set D of detailed test specifications, and D = ｛d 2 , d 3 , d 4 , d 5 , d 7 , d 8 , d
9 Go to 4th step as｝.
【００５３】この第４ステップでＳｃａｌｅ（Ｐ）を評
価すると、次の式（５）に示すように、詳細試験仕様の
規模Ｓｃａｌｅ（Ｐ）があらかじめ設定した試験率Ｔｅ
ｓｔＲａｔｉｏの５０％よりも多くなるので、第５ステ
ップに進む。When Scale (P) is evaluated in the fourth step, as shown in the following equation (5), the scale Scale (P) of the detailed test specification becomes equal to the preset test rate Te.
Since it is more than 50% of stRatio, the process proceeds to the fifth step.
【００５４】[0054]
【数４】 (Equation 4)
【００５５】なお、この場合の選択された詳細試験仕様
の集合Ｐが求めるべき最適な試験となる。すなわち、試
験率５０％に対する最適な試験として詳細試験仕様ｄ1
と詳細試験仕様ｄ6 の２つの試験系列を選択したことに
なる。実質的には、全体で２６個の状態遷移の内、合計
１６個の状態遷移を少なくとも１回は試験することにな
る。In this case, the set P of the selected detailed test specifications is the optimum test to be obtained. That is, the detailed test specification d 1 is an optimal test for a test rate of 50%.
And it will be selected the two test series Details test specification d 6. In effect, a total of 16 state transitions out of a total of 26 state transitions will be tested at least once.
【００５６】次に、図１に示す出力ステップＳＴ６にお
いて、試験仕様生成装置３１は詳細試験仕様選択ステッ
プＳＴ５で選択した各詳細試験仕様ｄi を試験仕様ファ
イル３５に出力する。Next, in the output step ST6 shown in FIG. 1, the test specification generator 31 outputs each detailed test specification d i selected in detail test specification selection step ST5 to the test specification file 35.
【００５７】以後、相互運用性試験実行装置３２は指示
された詳細試験仕様ｄi を試験仕様ファイル３５から読
み込んで、第１の通信システム３３と第２の通信システ
ム３４に対する相互運用性試験を行い、その結果を試験
結果ファイル３６に出力する。[0057] Thereafter, interoperability test execution unit 32 reads the detailed test specification d i instructed by the test specification file 35, performed interoperability tests with the first communication system 33 to the second communication system 34 , And outputs the result to the test result file 36.
【００５８】以上のように、この実施の形態１によれ
ば、プロトコル仕様から試験仕様を生成し、試験仕様の
部分集合から複数の詳細試験仕様を生成した後、試験実
施者があらかじめ設定した試験規模の範囲内で、重要度
の高い詳細試験仕様を選んで試験することができるた
め、実際の通信システムの相互運用性を検証することが
可能な相互運用性試験仕様生成方法が得られる効果があ
る。As described above, according to the first embodiment, a test specification is generated from a protocol specification, a plurality of detailed test specifications are generated from a subset of the test specifications, and then a test set by a tester in advance. Since it is possible to select and test highly important detailed test specifications within the scope of the scale, the effect of obtaining an interoperability test specification generation method that can verify the interoperability of an actual communication system is obtained. is there.
【００５９】なお、上記実施の形態１では、試験率入力
ステップをＳＳＧ生成ステップと詳細試験仕様生成ステ
ップの間で実行している場合について説明したが、詳細
試験仕様選択ステップの前であればどこで実行してもよ
く、上記実施の形態と同様の効果を奏する。In the first embodiment, the case where the test rate input step is executed between the SSG generation step and the detailed test specification generation step has been described. It may be executed, and the same effects as those of the above embodiment can be obtained.
【００６０】[0060]
【発明の効果】以上のように、請求項１記載の発明によ
れば、入力された状態遷移の集合からなる２つの通信シ
ステムの各プロトコル仕様を合成してＳＳＧを生成し、
得られたそのＳＳＧの状態遷移の部分集合から生成した
詳細試験仕様より、別途入力された試験率の範囲内で、
試験を実施する詳細試験仕様を選択して出力するように
構成したので、試験する重要度の高い詳細試験仕様を選
んで試験することが可能となって、膨大な数の状態遷移
の全てを辿って相互運用性の試験を行う必要がなくな
り、実際の通信システムの相互運用性の検証に適用する
ことが可能な相互運用性試験仕様生成方法が得られる効
果がある。As described above, according to the first aspect of the present invention, an SSG is generated by synthesizing each protocol specification of two communication systems including a set of input state transitions,
From the detailed test specification generated from the obtained subset of the state transition of the SSG, within the range of the test rate separately input,
Since the detailed test specifications to be tested are selected and output, it is possible to select and test the detailed test specifications with high importance to be tested, and trace all of the huge number of state transitions. This eliminates the need to perform an interoperability test, and provides an interoperability test specification generation method that can be applied to interoperability verification of an actual communication system.
【００６１】請求項２記載の発明によれば、ＳＳＧの初
期状態から極力遠い状態遷移を試験することと、できる
限り多くの異なる状態遷移を試験することとを同時に満
たすことを条件として、詳細試験仕様選択ステップにお
ける詳細試験仕様の選択を行うように構成したので、試
験対象の品質向上に有効な、重要度の高い詳細試験仕様
を的確に選択することが可能となる効果がある。According to the second aspect of the present invention, a detailed test is performed on the condition that a state transition as far as possible from the initial state of the SSG and a state transition as many as possible are simultaneously tested. Since the detailed test specification is selected in the specification selection step, there is an effect that it is possible to accurately select a highly important detailed test specification which is effective for improving the quality of the test object.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図１】 この発明の実施の一形態による相互運用性試
験仕様生成方法における処理の流れを示すフローチャー
トである。FIG. 1 is a flowchart showing a process flow in an interoperability test specification generation method according to an embodiment of the present invention.
【図２】 この発明の実施の形態１による相互運用性試
験仕様生成方法で生成された試験仕様に基づいて相互運
用性試験が実行されるシステムの一例を示すブロック図
である。FIG. 2 is a block diagram illustrating an example of a system in which an interoperability test is performed based on a test specification generated by an interoperability test specification generation method according to a first embodiment of the present invention.
【図３】 この発明の実施の形態１における詳細試験仕
様ｄ1 を示した状態遷移図である。FIG. 3 is a state transition diagram showing a detailed test specification d1 according to the first embodiment of the present invention.
【図４】 この発明の実施の形態１における詳細試験仕
様ｄ2 を示した状態遷移図である。FIG. 4 is a state transition diagram showing a detailed test specification d 2 according to the first embodiment of the present invention.
【図５】 この発明の実施の形態１における詳細試験仕
様ｄ3 を示した状態遷移図である。FIG. 5 is a state transition diagram showing a detailed test specification d 3 according to the first embodiment of the present invention.
【図６】 この発明の実施の形態１における詳細試験仕
様ｄ4 を示した状態遷移図である。6 is a state transition diagram showing a detailed test specification d 4 in the first embodiment of the present invention.
【図７】 この発明の実施の形態１における詳細試験仕
様ｄ5 を示した状態遷移図である。7 is a state transition diagram showing a detailed test specification d 5 in the first embodiment of the present invention.
【図８】 この発明の実施の形態１における詳細試験仕
様ｄ6 を示した状態遷移図である。8 is a state transition diagram showing a detailed test specification d 6 in the first embodiment of the present invention.
【図９】 この発明の実施の形態１における詳細試験仕
様ｄ7 を示した状態遷移図である。9 is a state transition diagram showing a detailed test specification d 7 in the first embodiment of the present invention.
【図１０】 この発明の実施の形態１における詳細試験
仕様ｄ8 を示した状態遷移図である。10 is a state transition diagram showing a detailed test specification d 8 in a first embodiment of the present invention.
【図１１】 この発明の実施の形態１における詳細試験
仕様ｄ9 を示した状態遷移図である。11 is a state transition diagram showing a detailed test specification d 9 in the first embodiment of the present invention.
【図１２】 状態遷移の初期状態からの距離の定義を説
明するための状態遷移図である。FIG. 12 is a state transition diagram for explaining a definition of a distance from an initial state of a state transition.
【図１３】 この発明の実施の形態１における詳細試験
仕様にて、詳細試験仕様の全ての遷移状態と重複しない
遷移状態を示す説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram showing transition states that do not overlap with all transition states of the detailed test specification in the detailed test specification according to the first embodiment of the present invention.
【図１４】 この発明の実施の形態１における詳細試験
仕様にて、詳細試験仕様の全ての遷移状態と重複する遷
移状態を示す説明図である。FIG. 14 is an explanatory diagram showing transition states that overlap with all transition states of the detailed test specifications in the detailed test specifications in the first embodiment of the present invention.
【図１５】 この発明の実施の形態１における２つ目の
詳細試験仕様を選択する際の各評価値を示す説明図であ
る。FIG. 15 is an explanatory diagram showing evaluation values when a second detailed test specification is selected in the first embodiment of the present invention.
【図１６】 この発明および従来の相互運用性試験仕様
生成方法に基づくプロトコル仕様の一例を説明するため
の状態遷移図である。FIG. 16 is a state transition diagram for explaining an example of a protocol specification based on the present invention and a conventional interoperability test specification generation method.
【図１７】 この発明および従来の相互運用性試験仕様
生成方法に基づく試験仕様生成の一例を説明するための
状態遷移図である。FIG. 17 is a state transition diagram for explaining an example of test specification generation based on the present invention and a conventional interoperability test specification generation method.
【図１８】 この発明および従来の相互運用性試験仕様
生成方法で想定している試験環境モデルを示すブロック
図である。FIG. 18 is a block diagram showing a test environment model assumed in the present invention and a conventional interoperability test specification generation method.
ＳＴ１ プロトコル仕様入力ステップ、ＳＴ２ ＳＳＧ
生成ステップ、ＳＴ３試験率入力ステップ、ＳＴ４ 詳
細試験仕様生成ステップ、ＳＴ５ 詳細試験仕様選択ス
テップ、ＳＴ６ 出力ステップ、１，２ プロトコル仕
様、１１，１２ ＦＳＭ。ST1 protocol specification input step, ST2 SSG
Generation step, ST3 test rate input step, ST4 detailed test specification generation step, ST5 detailed test specification selection step, ST6 output step, 1, 2 protocol specification, 11, 12 FSM.
Claims (2)
コル仕様を各々有限状態機械でモデル化し、その２つの
有限状態機械を合成して得られるシステム状態グラフを
もとに、前記２つの通信システムの相互運用性を検証す
る試験仕様を生成する相互運用性試験仕様生成方法にお
いて、 状態遷移の集合からなる前記２つの通信システムの各プ
ロトコル仕様を入力するプロトコル仕様入力ステップ
と、 前記プロトコル仕様入力ステップで入力された２つのプ
ロトコル仕様を合成して前記システム状態グラフを生成
するシステム状態グラフ生成ステップと、 前記システム状態グラフ生成ステップで生成されたシス
テム状態グラフを構成する状態遷移の中で、試験を行う
状態遷移の割合を決定する試験率を入力する試験率入力
ステップと、 前記システム状態グラフ生成ステップで生成されたシス
テム状態グラフの状態遷移の部分集合から詳細試験仕様
を生成する詳細試験仕様生成ステップと、 前記詳細試験仕様生成ステップで生成された詳細試験仕
様より、前記試験率入力ステップで入力された試験率の
範囲内で試験を実施する詳細試験仕様を選択する詳細試
験仕様選択ステップと、 前記詳細試験仕様選択ステップで選択された詳細試験仕
様を出力する出力ステップとを備えたことを特徴とする
相互運用性試験仕様生成方法。1. A protocol specification of two communication systems to be tested is respectively modeled by a finite state machine, and based on a system state graph obtained by synthesizing the two finite state machines, An interoperability test specification generating method for generating a test specification for verifying interoperability, comprising: a protocol specification inputting step of inputting each protocol specification of the two communication systems consisting of a set of state transitions; A test is performed in a system state graph generating step of generating the system state graph by synthesizing the two input protocol specifications, and in a state transition forming the system state graph generated in the system state graph generating step. A test rate input step of inputting a test rate for determining a state transition ratio; A detailed test specification generating step of generating a detailed test specification from a subset of state transitions of the system state graph generated in the system state graph generating step; and a test rate based on the detailed test specification generated in the detailed test specification generating step. A detailed test specification selecting step of selecting a detailed test specification for performing a test within the range of the test rate input in the input step; and an output step of outputting the detailed test specification selected in the detailed test specification selecting step. A method for generating an interoperability test specification.
状態グラフの初期状態から極力遠い状態遷移を試験する
ことと、できる限り多くの異なる状態遷移を試験するこ
ととを、同時に満たすことを条件として詳細試験仕様を
選択するものであることを特徴とする請求項１記載の相
互運用性試験仕様生成方法。2. The detailed test specification selecting step is characterized in that the step of testing a state transition as far as possible from the initial state of the system state graph and the step of testing as many different state transitions as possible are simultaneously performed. 2. The method according to claim 1, wherein a test specification is selected.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9164818A JPH1117777A (en) | 1997-06-20 | 1997-06-20 | Mutual operability test specification generating method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9164818A JPH1117777A (en) | 1997-06-20 | 1997-06-20 | Mutual operability test specification generating method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1117777A true JPH1117777A (en) | 1999-01-22 |
Family
ID=15800508
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9164818A Pending JPH1117777A (en) | 1997-06-20 | 1997-06-20 | Mutual operability test specification generating method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1117777A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009266092A (en) * | 2008-04-28 | 2009-11-12 | Toshiba Corp | Test case generation apparatus, generation method therefor, and program for test case generation |
-
1997
- 1997-06-20 JP JP9164818A patent/JPH1117777A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009266092A (en) * | 2008-04-28 | 2009-11-12 | Toshiba Corp | Test case generation apparatus, generation method therefor, and program for test case generation |
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