JPH11166953A - パルス電源の試験装置 - Google Patents
パルス電源の試験装置Info
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- JPH11166953A JPH11166953A JP9333967A JP33396797A JPH11166953A JP H11166953 A JPH11166953 A JP H11166953A JP 9333967 A JP9333967 A JP 9333967A JP 33396797 A JP33396797 A JP 33396797A JP H11166953 A JPH11166953 A JP H11166953A
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- pulse
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Generation Of Surge Voltage And Current (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 パルス発生回路１からパルストランスＰＴを
介して得るパルス電流を磁気パルス圧縮回路３でパルス
圧縮してレーザの模擬負荷に供給するパルス電源の試験
装置では、パルス放電後にトランスを未飽和状態にする
磁気リセット電流に対して模擬負荷で短絡状態になり、
トランスが飽和してしまう。 【解決手段】 模擬負荷４Ｂは、ダイオードＤを設け、
このダイオードにより磁気リセット電流に対して、トラ
ンスの巻線が抵抗Ｒで短絡状態になるのを阻止する。ダ
イオードＤに代えて、コンデンサとすることもできる。
パルストランスに代えて、可飽和トランスとするパルス
電源にも適用できる。
介して得るパルス電流を磁気パルス圧縮回路３でパルス
圧縮してレーザの模擬負荷に供給するパルス電源の試験
装置では、パルス放電後にトランスを未飽和状態にする
磁気リセット電流に対して模擬負荷で短絡状態になり、
トランスが飽和してしまう。 【解決手段】 模擬負荷４Ｂは、ダイオードＤを設け、
このダイオードにより磁気リセット電流に対して、トラ
ンスの巻線が抵抗Ｒで短絡状態になるのを阻止する。ダ
イオードＤに代えて、コンデンサとすることもできる。
パルストランスに代えて、可飽和トランスとするパルス
電源にも適用できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電力用半導体スイ
ッチを用いたパルス発生回路と磁気パルス圧縮回路を組
み合わせ、高い繰り返しで狭幅の大電流パルスを発生す
るパルス電源に係り、特に負荷となるレーザ発振装置に
代えて模擬負荷を使ったパルス電源の試験装置に関す
る。
ッチを用いたパルス発生回路と磁気パルス圧縮回路を組
み合わせ、高い繰り返しで狭幅の大電流パルスを発生す
るパルス電源に係り、特に負荷となるレーザ発振装置に
代えて模擬負荷を使ったパルス電源の試験装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のトランス昇圧形パルス電源例を図
３に示す。パルス発生回路１は、電力用の初段コンデン
サＣ0を設け、このコンデンサＣ0を高圧充電器２により
初期充電しておき、半導体スイッチＳＷのオン制御でコ
ンデンサＣ0から可飽和リアクトルＳＩ0を通してパルス
トランスＰＴにパルス電流を供給する。
３に示す。パルス発生回路１は、電力用の初段コンデン
サＣ0を設け、このコンデンサＣ0を高圧充電器２により
初期充電しておき、半導体スイッチＳＷのオン制御でコ
ンデンサＣ0から可飽和リアクトルＳＩ0を通してパルス
トランスＰＴにパルス電流を供給する。
【０００３】可飽和リアクトルＳＩ0は、コンデンサＣ0
からパルストランスＰＴへの放電に磁気スイッチ動作
し、半導体スイッチＳＷが完全にオン動作した後に放電
電流を流すことで半導体スイッチＳＷのスイッチング損
失を軽減する磁気アシスト手段になる。
からパルストランスＰＴへの放電に磁気スイッチ動作
し、半導体スイッチＳＷが完全にオン動作した後に放電
電流を流すことで半導体スイッチＳＷのスイッチング損
失を軽減する磁気アシスト手段になる。
【０００４】磁気パルス圧縮回路２は、パルストランス
ＰＴの二次側に（ｎ−１）段の磁気パルス圧縮回路が縦
続接続され、初段の磁気パルス圧縮回路ではパルストラ
ンスＰＴで昇圧したパルス電流Ｉ0でコンデンサＣ1が高
圧充電され、このコンデンサＣ1の充電電圧で可飽和リ
アクトルＳＴ1が磁気スイッチ動作することにより磁気
パルス圧縮した狭幅のパルス電流を次段の磁気パルス圧
縮回路に供給する。同様に、可飽和リアクトルＳＴ2〜
ＳＴn-1の磁気スイッチ動作と、コンデンサＣ2〜Ｃn-1
の組み合わせ回路により、パルス幅の磁気パルス圧縮を
行う。
ＰＴの二次側に（ｎ−１）段の磁気パルス圧縮回路が縦
続接続され、初段の磁気パルス圧縮回路ではパルストラ
ンスＰＴで昇圧したパルス電流Ｉ0でコンデンサＣ1が高
圧充電され、このコンデンサＣ1の充電電圧で可飽和リ
アクトルＳＴ1が磁気スイッチ動作することにより磁気
パルス圧縮した狭幅のパルス電流を次段の磁気パルス圧
縮回路に供給する。同様に、可飽和リアクトルＳＴ2〜
ＳＴn-1の磁気スイッチ動作と、コンデンサＣ2〜Ｃn-1
の組み合わせ回路により、パルス幅の磁気パルス圧縮を
行う。
【０００５】最終段の磁気パルス圧縮回路のパルス出力
は、レーザ発振装置のヘッドになる負荷４に狭幅・高電
圧のパルス電流を供給する。負荷４は、主放電電極ＬＨ
に並列にピーキングコンデンサＣnが設けられ、パルス
電流でピーキングコンデンサＣPが一定電圧レベルまで
充電されたときに主放電電極ＬＨに主放電を得る。
は、レーザ発振装置のヘッドになる負荷４に狭幅・高電
圧のパルス電流を供給する。負荷４は、主放電電極ＬＨ
に並列にピーキングコンデンサＣnが設けられ、パルス
電流でピーキングコンデンサＣPが一定電圧レベルまで
充電されたときに主放電電極ＬＨに主放電を得る。
【０００６】図４は、コンデンサＣ0及びＣ1〜Ｃn-1、
Ｃnの充放電電圧のうち、電圧Ｖn-2〜Ｖnの波形を示
し、磁気パルス圧縮動作により、後段になるほど磁気パ
ルス圧縮されることで負荷４には狭幅の放電電流出力を
得る。
Ｃnの充放電電圧のうち、電圧Ｖn-2〜Ｖnの波形を示
し、磁気パルス圧縮動作により、後段になるほど磁気パ
ルス圧縮されることで負荷４には狭幅の放電電流出力を
得る。
【０００７】このようにパルス圧縮されたエネルギー
は、レーザ装置により光エネルギーとして放出され、エ
キシマレーザやＣＯ2レーザとして使用される。
は、レーザ装置により光エネルギーとして放出され、エ
キシマレーザやＣＯ2レーザとして使用される。
【０００８】なお、パルストランスＰＴは、放電動作後
に未飽和状態に戻すための外部の磁気リセット回路から
リセット電流（直流）が供給される。また、可飽和リア
クトルＳＩ0〜ＳＩn-1は、飽和動作後に逆極性の飽和状
態に戻すための磁気リセット回路が設けられる。
に未飽和状態に戻すための外部の磁気リセット回路から
リセット電流（直流）が供給される。また、可飽和リア
クトルＳＩ0〜ＳＩn-1は、飽和動作後に逆極性の飽和状
態に戻すための磁気リセット回路が設けられる。
【０００９】また、パルス発生回路１や磁気パルス圧縮
回路３の構成は、パルストランスＰＴを可飽和トランス
とするなど、種々の変形例が提案されている。
回路３の構成は、パルストランスＰＴを可飽和トランス
とするなど、種々の変形例が提案されている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】従来のパルス電源にお
いて、電源としての評価方法は、最終段のコンデンサの
ピーク電圧及びコンデンサからレーザヘッドに流れるパ
ルス電流幅等で評価するが、パルス電流を実際に負荷に
流すための試験方法として、レーザ発振装置と組み合わ
せた実機による試験方法と、レーザ発振装置のヘッド部
を模擬した模擬負荷試験方法がある。
いて、電源としての評価方法は、最終段のコンデンサの
ピーク電圧及びコンデンサからレーザヘッドに流れるパ
ルス電流幅等で評価するが、パルス電流を実際に負荷に
流すための試験方法として、レーザ発振装置と組み合わ
せた実機による試験方法と、レーザ発振装置のヘッド部
を模擬した模擬負荷試験方法がある。
【００１１】前者の実機による試験方法は、実際にレー
ザ発振させるための各種の設備が必要となる。例えば、
ＸｅＣＩエキシマレーザの場合、ヘッド部にＸｅ、ＨＣ
Ｉ及びバッファーガス（Ｎｅ又はＨｅ）を３〜４気圧に
充満させて試験するが、繰り返し周波数が高く安定な発
振を得るためには、前回の放電で主放電電極領域に発生
した荷電粒子や不純物を次の放電までに放電領域から取
り除くための循環用の設備が必要となる。
ザ発振させるための各種の設備が必要となる。例えば、
ＸｅＣＩエキシマレーザの場合、ヘッド部にＸｅ、ＨＣ
Ｉ及びバッファーガス（Ｎｅ又はＨｅ）を３〜４気圧に
充満させて試験するが、繰り返し周波数が高く安定な発
振を得るためには、前回の放電で主放電電極領域に発生
した荷電粒子や不純物を次の放電までに放電領域から取
り除くための循環用の設備が必要となる。
【００１２】このように、実機による試験方法は、実際
にレーザ発振を行い、パルス電源の評価をするために
は、レーザ装置を安定に動作させるための負荷装置が大
掛かりになってしまう等の問題がある。
にレーザ発振を行い、パルス電源の評価をするために
は、レーザ装置を安定に動作させるための負荷装置が大
掛かりになってしまう等の問題がある。
【００１３】この点、後者の模擬負荷試験方法は、模擬
負荷を使用した試験のため、試験を簡易にするが、適確
な模擬負荷を用意する必要がある。
負荷を使用した試験のため、試験を簡易にするが、適確
な模擬負荷を用意する必要がある。
【００１４】図５は、従来の模擬負荷試験装置を示す。
パルス電源はトランスを使用しない構成にされ、模擬負
荷４Ａは主放電電極を抵抗ＲとインダクタンスＬ及び可
飽和リアクトルＳＩnの直列回路で模擬し、これをピー
キングコンデンサＣnに並列接続する。抵抗Ｒは実機で
の放電抵抗を模擬し、インダクタンスＬは実機での振動
性放電を模擬する。可飽和リアクトルＳＩnは、パルス
電流Ｉn-1でコンデンサＣnが充電されるまで主放電電極
側への放電を抑止するのに必要なＶｔ（電圧時間積）を
持つよう構成される。
パルス電源はトランスを使用しない構成にされ、模擬負
荷４Ａは主放電電極を抵抗ＲとインダクタンスＬ及び可
飽和リアクトルＳＩnの直列回路で模擬し、これをピー
キングコンデンサＣnに並列接続する。抵抗Ｒは実機で
の放電抵抗を模擬し、インダクタンスＬは実機での振動
性放電を模擬する。可飽和リアクトルＳＩnは、パルス
電流Ｉn-1でコンデンサＣnが充電されるまで主放電電極
側への放電を抑止するのに必要なＶｔ（電圧時間積）を
持つよう構成される。
【００１５】この従来の模擬負荷を図３のトランス昇圧
形パルス電源の試験に使用する場合、模擬負荷ではピー
キングコンデンサＣnからの放電後、抵抗Ｒの両端が同
電位になろうとし、コンデンサＣnの両端の抵抗が極め
て小さくなる。
形パルス電源の試験に使用する場合、模擬負荷ではピー
キングコンデンサＣnからの放電後、抵抗Ｒの両端が同
電位になろうとし、コンデンサＣnの両端の抵抗が極め
て小さくなる。
【００１６】このため、トランスＰＴでは放電動作後に
磁気リセット回路により未飽和状態に戻そうとすると、
トランスＰＴの二次巻線が短絡状態に近くなり、磁気リ
セット電流の供給にも完全な未飽和状態に戻すことがで
きなくなる。この場合、連続した試験ではパルストラン
スＰＴが磁気飽和状態に至り、トランスＰＴの機能喪
失、すなわち連続した安定試験ができなくなる問題があ
る。
磁気リセット回路により未飽和状態に戻そうとすると、
トランスＰＴの二次巻線が短絡状態に近くなり、磁気リ
セット電流の供給にも完全な未飽和状態に戻すことがで
きなくなる。この場合、連続した試験ではパルストラン
スＰＴが磁気飽和状態に至り、トランスＰＴの機能喪
失、すなわち連続した安定試験ができなくなる問題があ
る。
【００１７】この問題は、パルストランスに代えて、可
飽和トランスを使用した場合も同様にある。
飽和トランスを使用した場合も同様にある。
【００１８】本発明の目的は、磁気パルス圧縮回路等に
トランスを設けたパルス電源による連続で安定した模擬
負荷試験ができる試験装置を提供することにある。
トランスを設けたパルス電源による連続で安定した模擬
負荷試験ができる試験装置を提供することにある。
【００１９】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するため、模擬負荷の抵抗に直列にダイオード又はコ
ンデンサを設け、模擬負荷の放電後のトランスの磁気リ
セット電流に対してトランスの巻線が短絡状態になるの
を阻止することでトランスを確実に未飽和状態に戻すこ
とができるようにしたもので、以下の構成を特徴とす
る。
決するため、模擬負荷の抵抗に直列にダイオード又はコ
ンデンサを設け、模擬負荷の放電後のトランスの磁気リ
セット電流に対してトランスの巻線が短絡状態になるの
を阻止することでトランスを確実に未飽和状態に戻すこ
とができるようにしたもので、以下の構成を特徴とす
る。
【００２０】トランスを介して取り込むパルス電流を磁
気パルス圧縮して負荷に供給するパルス電源の試験に際
して、前記パルス電源の負荷をレーザの模擬負荷とする
パルス電源の試験装置において、前記模擬負荷は、ピー
キングコンデンサと、このピーキングコンデンサに並列
接続した可飽和リアクトルと抵抗及びダイオードの直列
回路とし、前記ダイオードは、前記トランスがパルスを
発生した後に未飽和状態に戻すための磁気リセット電流
に対して、該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態にな
るのを阻止する方向にしたことを特徴とする。
気パルス圧縮して負荷に供給するパルス電源の試験に際
して、前記パルス電源の負荷をレーザの模擬負荷とする
パルス電源の試験装置において、前記模擬負荷は、ピー
キングコンデンサと、このピーキングコンデンサに並列
接続した可飽和リアクトルと抵抗及びダイオードの直列
回路とし、前記ダイオードは、前記トランスがパルスを
発生した後に未飽和状態に戻すための磁気リセット電流
に対して、該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態にな
るのを阻止する方向にしたことを特徴とする。
【００２１】また、前記模擬負荷は、ピーキングコンデ
ンサと、このピーキングコンデンサに並列接続した可飽
和リアクトルと抵抗及びコンデンサの直列回路とし、前
記抵抗に直列のコンデンサは、前記トランスがパルスを
発生した後に未飽和状態に戻すための磁気リセット電流
に対して、該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態にな
るのを阻止することを特徴とする。
ンサと、このピーキングコンデンサに並列接続した可飽
和リアクトルと抵抗及びコンデンサの直列回路とし、前
記抵抗に直列のコンデンサは、前記トランスがパルスを
発生した後に未飽和状態に戻すための磁気リセット電流
に対して、該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態にな
るのを阻止することを特徴とする。
【００２２】
【発明の実施の形態】（第１の実施形態）図１は、本発
明の実施形態を示す模擬負荷を使った試験装置である。
同図中のパルス発生回路１や磁気パルス圧縮回路３は図
３と同様にパルストランスＰＴを持つものである。
明の実施形態を示す模擬負荷を使った試験装置である。
同図中のパルス発生回路１や磁気パルス圧縮回路３は図
３と同様にパルストランスＰＴを持つものである。
【００２３】模擬負荷４Ｂは、ダイオードＤと抵抗Ｒ及
び可飽和リアクトルＳＩnの直列回路に構成され、ピー
キングコンデンサＣnに並列接続される。ダイオードＤ
の向きは、ピーキングコンデンサＣnからの主放電電流
Ｉnに対して順方向にされる。
び可飽和リアクトルＳＩnの直列回路に構成され、ピー
キングコンデンサＣnに並列接続される。ダイオードＤ
の向きは、ピーキングコンデンサＣnからの主放電電流
Ｉnに対して順方向にされる。
【００２４】このような模擬負荷を使った試験における
動作は、磁気パルス圧縮回路３の最終段からのパルス電
流Ｉn-1でピーキングコンデンサＣnの接地側が充電さ
れ、この充電で可飽和リアクトルＳＩnが飽和し、ダイ
オードＤと抵抗Ｒを通して放電し、抵抗Ｒでエネルギー
が消費される。
動作は、磁気パルス圧縮回路３の最終段からのパルス電
流Ｉn-1でピーキングコンデンサＣnの接地側が充電さ
れ、この充電で可飽和リアクトルＳＩnが飽和し、ダイ
オードＤと抵抗Ｒを通して放電し、抵抗Ｒでエネルギー
が消費される。
【００２５】ここで、模擬負荷４Ｂの放電動作後、パル
ストランスＰＴを未飽和状態に戻す磁気リセット電流を
供給する。このとき、パルストランスＰＴの二次巻線側
に模擬負荷４Ｂの抵抗Ｒが介在するが、リセット電流の
極性に対してダイオードＤがトランスの巻線の両端が抵
抗Ｒで短絡状態になるのを阻止する方向になり、パルス
トランスＰＴを確実に未飽和状態に戻すことができる。
ストランスＰＴを未飽和状態に戻す磁気リセット電流を
供給する。このとき、パルストランスＰＴの二次巻線側
に模擬負荷４Ｂの抵抗Ｒが介在するが、リセット電流の
極性に対してダイオードＤがトランスの巻線の両端が抵
抗Ｒで短絡状態になるのを阻止する方向になり、パルス
トランスＰＴを確実に未飽和状態に戻すことができる。
【００２６】（第２の実施形態）図２は、本発明の他の
実施形態を示す模擬負荷を使った試験装置である。同図
が図１と異なる部分は、模擬負荷４Ｃにある。
実施形態を示す模擬負荷を使った試験装置である。同図
が図１と異なる部分は、模擬負荷４Ｃにある。
【００２７】模擬負荷４Ｃは、可飽和リセットＳＩnと
抵抗Ｒ及びコンデンサＣの直列回路に構成され、ピーキ
ングコンデンサＣnに並列接続される。
抵抗Ｒ及びコンデンサＣの直列回路に構成され、ピーキ
ングコンデンサＣnに並列接続される。
【００２８】このような模擬負荷を使った試験における
動作は、磁気パルス圧縮回路３の最終段からのパルス電
流Ｉn-1でピーキングコンデンサＣnの接地側が充電さ
れ、この充電で可飽和リアクトルＳＩnが飽和し、コン
デンサＣと抵抗Ｒを通して放電し、抵抗Ｒでエネルギー
が消費される。
動作は、磁気パルス圧縮回路３の最終段からのパルス電
流Ｉn-1でピーキングコンデンサＣnの接地側が充電さ
れ、この充電で可飽和リアクトルＳＩnが飽和し、コン
デンサＣと抵抗Ｒを通して放電し、抵抗Ｒでエネルギー
が消費される。
【００２９】ここで、模擬負荷４Ｃの放電動作後、コン
デンサＣに充電されたエネルギーは、破線矢印で示すよ
うに、ピーキングコンデンサＣnの接地側に戻り、この
エネルギーが磁気パルス圧縮回路３の各コンデンサＣ
n-1→…Ｃ2→Ｃ1を経てパルストランスＰＴの二次巻線
に印加され、さらにコンデンサＣ1〜Ｃn-1と可飽和リア
クトルＳＩ1〜ＳＩnを通して抵抗Ｒに至り、この抵抗Ｒ
で消費される。
デンサＣに充電されたエネルギーは、破線矢印で示すよ
うに、ピーキングコンデンサＣnの接地側に戻り、この
エネルギーが磁気パルス圧縮回路３の各コンデンサＣ
n-1→…Ｃ2→Ｃ1を経てパルストランスＰＴの二次巻線
に印加され、さらにコンデンサＣ1〜Ｃn-1と可飽和リア
クトルＳＩ1〜ＳＩnを通して抵抗Ｒに至り、この抵抗Ｒ
で消費される。
【００３０】このようにしてコンデンサＣのエネルギー
が消費され、しかもコンデンサＣは図１のダイオードＤ
と同様に、パルストランスＰＴを未飽和状態にする電流
に対して、トランスの巻線が抵抗Ｒで短絡状態になるの
を阻止することができ、パルストランスＰＴを確実に未
飽和状態に戻すことができる。
が消費され、しかもコンデンサＣは図１のダイオードＤ
と同様に、パルストランスＰＴを未飽和状態にする電流
に対して、トランスの巻線が抵抗Ｒで短絡状態になるの
を阻止することができ、パルストランスＰＴを確実に未
飽和状態に戻すことができる。
【００３１】なお、以上までの実施形態において、パル
ストランスＰＴに代えて可飽和トランスとするパルス電
源の模擬負荷試験に適用して同等の作用効果を奏する。
また、模擬負荷４Ｂ及び４Ｃは、模擬負荷４Ａと同様
に、実機での振動性放電を模擬するためのインダクタン
スＬを設けたものとすることができる。
ストランスＰＴに代えて可飽和トランスとするパルス電
源の模擬負荷試験に適用して同等の作用効果を奏する。
また、模擬負荷４Ｂ及び４Ｃは、模擬負荷４Ａと同様
に、実機での振動性放電を模擬するためのインダクタン
スＬを設けたものとすることができる。
【００３２】さらに、本発明は、磁気パルス圧縮回路３
やパルス発生回路１が適宜設計変更された場合にも適用
できる。
やパルス発生回路１が適宜設計変更された場合にも適用
できる。
【００３３】
【発明の効果】以上のとおり、本発明によれば、模擬負
荷の抵抗に直列にダイオード又はコンデンサを設け、模
擬負荷の放電後のトランスの磁気リセット電流に対して
トランスの巻線が短絡状態になるのを阻止するようにし
たため、トランスを持つパルス電源の模擬試験にもトラ
ンスを確実に未飽和状態に戻して連続で安定した模擬試
験ができる。
荷の抵抗に直列にダイオード又はコンデンサを設け、模
擬負荷の放電後のトランスの磁気リセット電流に対して
トランスの巻線が短絡状態になるのを阻止するようにし
たため、トランスを持つパルス電源の模擬試験にもトラ
ンスを確実に未飽和状態に戻して連続で安定した模擬試
験ができる。
【図１】本発明の実施形態を示すパルス電源の模擬負荷
試験装置構成図。
試験装置構成図。
【図２】本発明の他の実施形態を示すパルス電源の模擬
負荷試験装置構成図。
負荷試験装置構成図。
【図３】トランス昇圧形パルス電源例。
【図４】パルス電源の磁気パルス圧縮電圧波形例。
【図５】トランスを使用しない従来の模擬負荷試験装
置。
置。
１…パルス発生回路 ２…高圧充電器 ３…磁気パルス圧縮回路 ４…負荷 ４Ａ，４Ｂ，４Ｃ…模擬負荷 ＳＷ…半導体スイッチ ＳＩ0〜ＳＩn…可飽和リアクトル Ｃ0、Ｃ1〜Ｃn-1…コンデンサ Ｃn…ピーキングコンデンサ Ｌ…インダクタンス Ｒ…抵抗 Ｄ…ダイオード Ｃ…コンデンサ
Claims (2)
- 【請求項１】 トランスを介して取り込むパルス電流を
磁気パルス圧縮して負荷に供給するパルス電源の試験に
際して、前記パルス電源の負荷をレーザの模擬負荷とす
るパルス電源の試験装置において、 前記模擬負荷は、ピーキングコンデンサと、このピーキ
ングコンデンサに並列接続した可飽和リアクトルと抵抗
及びダイオードの直列回路とし、 前記ダイオードは、前記トランスがパルスを発生した後
に未飽和状態に戻すための磁気リセット電流に対して、
該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態になるのを阻止
する方向にしたことを特徴とするパルス電源の試験装
置。 - 【請求項２】 前記模擬負荷は、ピーキングコンデンサ
と、このピーキングコンデンサに並列接続した可飽和リ
アクトルと抵抗及びコンデンサの直列回路とし、 前記抵抗に直列のコンデンサは、前記トランスがパルス
を発生した後に未飽和状態に戻すための磁気リセット電
流に対して、該トランスの巻線が前記抵抗で短絡状態に
なるのを阻止することを特徴とする請求項１記載のパル
ス電源の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9333967A JPH11166953A (ja) | 1997-12-04 | 1997-12-04 | パルス電源の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9333967A JPH11166953A (ja) | 1997-12-04 | 1997-12-04 | パルス電源の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11166953A true JPH11166953A (ja) | 1999-06-22 |
Family
ID=18272001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9333967A Pending JPH11166953A (ja) | 1997-12-04 | 1997-12-04 | パルス電源の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11166953A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100554690B1 (ko) * | 2002-03-05 | 2006-02-24 | 주식회사 시스하이텍 | 고전압 전원공급기의 시험장치 및 그 시험방법 |
| CN102141589A (zh) * | 2010-12-28 | 2011-08-03 | 天津电气传动设计研究所 | 多路并联型升压斩波器输入电流特性的自动测试*** |
| KR20110124201A (ko) * | 2009-03-06 | 2011-11-16 | 마쉬넨파브릭 레인하우센 게엠베하 | 고전압 펄스 시험 시스템의 시스템 컴포넨트를 위한 장치 |
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