JPH11147725A - プレス成形用金型およびこの金型によるガラス成形品 - Google Patents

プレス成形用金型およびこの金型によるガラス成形品

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JPH11147725A
JPH11147725A JP9312989A JP31298997A JPH11147725A JP H11147725 A JPH11147725 A JP H11147725A JP 9312989 A JP9312989 A JP 9312989A JP 31298997 A JP31298997 A JP 31298997A JP H11147725 A JPH11147725 A JP H11147725A
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glass
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 超平滑な表面と高精度な微細パターン或いは
精密形状とを有し、長期間に亘って繰り返し使用して
も、金型の劣化が防止されて、金型の寿命が長くなるプ
レス成形用金型およびこの金型によるガラス成形品を提
供する。 【解決手段】 表面が平滑なガラスから成る成形用金型
の母材1のプレス成形面に、貴金属系の金属或いは合金
からなる薄膜状の保護膜3を、耐熱性金属或いは合金か
らなる下地層を介して、形成したプレス成形用金型によ
り、磁気ディスク用ガラス基板をプレス成形する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスクなど
の記録媒体に最適な磁気ディスク用ガラス基板を大量か
つ安価に生産するプレス成形用金型およびその製造方法
並びに磁気ディスク用ガラス基板の製造方法および光学
レンズなどの高精度光学ガラス素子を大量かつ安価に生
産するプレス成形用金型およびその製造方法並び光学ガ
ラス素子の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、磁気記録の分野、特に磁気ディス
クにおいては、小型化、薄型化、高容量化などの高性能
化が進んでいるが、それに伴って、高密度磁気記録媒体
への要求が高まり、高剛性、高硬度で平滑化が容易なガ
ラス基板は、高密度化、高信頼性化に極めて有利なこと
から盛んに検討されている。
【0003】従来、磁気ディスク用ガラス基板は、所定
のサイズに切り抜かれた後、平滑な表面を得るために1
枚1枚ガラス基板を研磨する研磨法により製造されてき
た。しかしながら、研磨工程に高い精度が要求され、か
つ、工程数も多いという欠点があった。
【0004】それに対して、高品質かつ高生産性の可能
なプレス成形法は光学ガラス素子製造の分野では、数多
くの検討がなされ、既に実用化が図られている。
【0005】ところで、プレス成形に用いられる金型
は、ガラスを繰り返し成形しても劣化しない特殊な金型
が必要であり、種々の検討がなされている。
【0006】プレス成形金型母材としては、超硬合金
(タングステンカーバイド)や、サーメット、ジルコニ
ア、炭化珪素その他セラミックスが使用され、金型は母
材保護と離型時のガラスの粘着を防止するため、離型
性、耐酸化性、耐反応性の良い保護膜がコーティングさ
れるものが開発されている。
【0007】例えば、特開平2−137914号公報に
記載では、超硬合金表面に貴金属合金薄膜を設け、合金
表面上に微細パターンを形成した成形用金型が提案され
ている。しかしながら、母材として用いれれる超硬合金
(タングステンカーバイド)やサーメットは加工性が悪
く、磁気ディスク用基板の型として十分な平滑性(nm
オーダの平滑性)を得ることは難しく、加工時表面に欠
陥ができやすいという課題があった。
【0008】また、貴金属合金薄膜は微細加工が非常に
困難であり、所望のパターンが得られ難く、得られる磁
気ディスク基板の品質が劣るという欠陥があった。
【0009】さらに、光学レンズやプリズムなどの光学
素子においても、金型の表面の微小な凹凸は散乱光の増
加につながり、より表面平滑性の良いレンズが求められ
ているが、従来の金型では限界に来ていた。
【0010】また、磁気ディスク用基板として十分な平
滑性の得る事が容易なガラス材を成形母材として使用す
る技術については、特開平1−148714号公報の記
載では、ガラスをプレス成形用母材とし、セラミックス
または貴金属物質で保護膜を作製して使用する試みがな
され、また、特開昭64−33022号公報の記載で
は、MgF2などのフッ化物またはSiO2などの酸化物
を離型被膜として使用した光学素子成形用金型として提
案されている。また、特開平2−51434号公報の記
載では、ガラスをプレス成形用母材とし、表面に微細加
工用による微細パターンを形成した薄膜を有し、炭化珪
素、窒化珪素からなる中間膜を介して、保護膜として炭
素膜を形成した成形用金型が、光ディスク成形用金型と
して提案されている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、いずれ
も、プレス成形における過酷な高温加圧下の繰り返し使
用に対して、十分な耐久性を有しておらず、長期間の繰
り返し使用によりプレス面の荒れによる表面粗さの増
加、また、ミクロな保護膜の剥離が発生する場合があ
り、微細パターンの変形など品質の劣化がおこり、近年
の高耐久、長寿命化の要求には、十分に答えていないと
いう課題を有していた。
【0012】また、従来、金型加工は円盤状のダイヤモ
ンド砥石を回転させ加工を行う研削法が用いられていた
が、用いる円盤状のダイヤモンド砥石は、直径2ミリ以
下のものは現状では製造することが出来ず、この径以下
の凹形状を有する金型の加工は出来ず、プレス成形法に
よる光学ガラス素子の製造には限界があった。
【0013】従って、本発明の目的は、上記した従来技
術の欠点を解消し、製造されるべき磁気ディスク用基板
および光学ガラス素子に対応した超平滑な表面性ならび
に高精度な精密形状を有し、プレス成形において金型形
状を精密かつ高精度に転写した磁気ディスク用ガラス基
板製造および光学ガラス素子の製造が可能であり、かつ
長期間の繰り返し使用においても、金型劣化の少ない磁
気ディスク用基板および光学ガラス素子のプレス用金型
およびその製造方法、更にそれを用いて製造した磁気デ
ィスク用ガラス基板および光学ガラス素子を提供するも
のである。
【0014】また、従来、プレス成形法では製造するこ
とが出来なかった直径2ミリ以下の凸形状を有する光学
ガラス素子用のプレス用金型およびその製造方法ならび
に光学ガラス素子を提供するものである。
【0015】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
の第1の発明は、酸化物からなる金型母材のプレス成形
面に耐熱性金属或いは合金からなる下地層を介して、貴
金属系の金属或いは合金からなる薄膜状の保護膜を形成
したプレス成形用金型である。
【0016】第2の発明は、表面の平滑なガラスまたは
単結晶アルミナからなるプレス成形用母材のプレス面に
耐熱性金属或いは合金からなる下地層を介して、貴金属
系の金属或いは合金からなる薄膜状の保護膜を形成した
プレス成形用金型である。
【0017】第3の発明は、ガラス製品に対応した微細
パターンを形成したガラスまたは単結晶アルミナからな
る成形用金型の母材のプレス成形面に耐熱性金属或いは
合金からなる下地層を介して、貴金属系の金属或いはの
合金からなる薄膜状の保護膜を形成したプレス成形用金
型である。
【0018】第4の発明は、光学ガラス素子に対応した
形状を形設したガラスまたは単結晶アルミナからなる成
形用金型の母材のプレス成形面に耐熱性金属或いは合金
からなる下地層を介して、貴金属系の金属或いはの合金
からなる薄膜状の保護膜を形成したプレス成形用金型で
ある。
【0019】第5の発明は、表面が平滑なガラスまたは
単結晶アルミナをドライエッチングしてなる成形用金型
の母材の少なくともプレス成形面に、耐熱性金属或いは
合金からなる下地層をスパッタ法で形成し且つその下地
層の表面をドライエッチングした後に、貴金属系の金属
或いは合金からなる薄膜状の保護膜を、スパッタ法で形
成したプレス成形用金型である。
【0020】第6の発明は、表面が平滑なガラスまたは
単結晶アルミナにガラス製品に対応した微細パターンを
ドライエッチング法にて形成してなる成形用金型の母材
のプレス成形面に、耐熱性金属或いは合金からなる下地
層をスパッタ法で形成し且つその下地層の表面をドライ
エッチングした後に、貴金属系の金属或いは合金からな
る薄膜状の保護膜を、スパッタ法で形成したプレス成形
用金型。
【0021】第7の発明は、ガラス製品形状を有する成
形用母型によってプレス成形されたガラスの表面をドラ
イエッチングしてなる成形用金型の母材のプレス成形面
に、耐熱性金属或いは合金からなる下地層をスパッタ法
で形成し且つその下地層の表面をドライエッチングした
後に、貴金属系の金属或いは合金からなる薄膜状の保護
膜を、スパッタ法で形成したプレス成形用金型。
【0022】第8の発明は、第2,3,4,5又は6の
発明のプレス成形用金型を用いプレス成形された磁気デ
ィスク用ガラス基板或いは光学ガラス素子である。
【0023】第9の発明は、第7の発明のプレス成形用
金型によりプレス成形された磁気ディスク用ガラス基板
或いは光学ガラス素子である。
【0024】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施形態について、
図面を参照しながら説明する。
【0025】(実施形態の1)図1は本発明で使用した
磁気ディスク用基板のプレス成形用金型の構成を示す拡
大断面図である。
【0026】1はガラス転移温度がガラス成形温度より
も高いガラスからなるプレス成形用金型の母材で、この
母材1に使用するガラス種類は、特に限定する物ではな
いが、金型の繰り返し使用による変形を防止するため、
できるだけ高温時の機械強度の優れたものがよく、熱膨
張係数が小さい物が望ましい。
【0027】例えば、石英ガラスは、ガラス転移温度が
高く、プレス成形用母材として好適である。
【0028】また、二酸化珪素を主成分とし、酸化アル
ミ、酸化マグネシウム、酸化亜鉛、アルカリ金属酸化
物、アルカリ土類金属酸化物などの成分を含有したもの
も必要に応じて母材1として使用することができる。こ
の場合には、成形されるガラス素材の成形温度よりも転
移温度が高いガラス材が必要であり、望ましくは成形温
度よりも50℃以上高くなるように成分を調節したガラ
スを使用する必要がある。
【0029】更に、母材1のプレス成形面の平滑性は、
磁気ディスク用としては、5nm以下が適当で、望まし
くは2nm以下、さらに望ましくは、1nm以下が適当
で、で、このような平滑面は酸化セリウムの微粒子を用
いた研磨によって得ることができる。
【0030】また、単結晶アルミナもプレス成形用金型
の母材として、使用することができる。2000℃を越
える耐熱性を有しており、ダイヤモンド砥粒を用いたラ
ッピングの後、SiO2の球状微粒子を用いた精密研磨
により、ガラスの場合と同様に、磁気ディスク用として
必要な5nm以下、望ましくは2nm以下、さらに望ま
しくは、1nm以下の平滑面を得ることができる。
【0031】2はチタン(Ti)、バナジウム(V)、
クロム(Cr)、ジルコニウム(Zr)、ニオブ(N
b)、モリブデン(Mo)、ハフニウム(Hf)、タン
タル(Ta)、タングステン(W)の耐熱性金属うちで
少なくとも一種類以上の成分を含有させた材料からなる
ターゲットをスパッタして、母材1の表面に形成した薄
膜状の下地層で、この下地層2は、母材1と後述する保
護膜3との付着強度を増加させて、高温、高圧下でのプ
レス成形用金型の繰り返し使用による保護膜3の膜剥が
れを防止するものである。
【0032】この下地層2は、直流スパッタ法,高周波
スパッタ法、マグネトロンスパッタ法或いはイオンビー
ム法により、ガス圧が1x10-2〜1x10-4Torr、パ
ワー密度が1〜10W/cm2の製膜条件でスパッタして、膜
厚を0.05〜3μmとするのが適当で、これ以下の膜
厚では、下地層2として十分な付着強度が得られなくな
り、又、これ以上の膜厚では、下地層2の表面が荒れて
母材1の表面平滑性が損なわれる。
【0033】3は、白金(Pt)、パラジウム(P
d)、ロジウム(Rh)、ルテニュウム(Ru)、イリ
ジウム(Ir)、オスミウム(Os)、レニウム(R
e)、タンタル(Ta)の元素を一種類以上含有する貴
金属系金属或いは合金の材料からなるターゲットをスパ
ッタして、下地層2の表面に形成した薄膜状の保護膜
で、この保護膜3は高温、高圧下でのガラスのプレス成
形の繰り返しによるガラスの母材1のプレス面への付着
及び母材1のプレス成形面の面荒れによる表面平滑性の
低下を防止する。
【0034】この保護膜3は、直流スパッタ法,高周波
スパッタ法、マグネトロンスパッタ法或いはイオンビー
ム法により、ガス圧が1x10-2〜1x10-4Torr、パ
ワー密度が1〜10W/cm2の製膜条件でスパッタして、膜
厚を0.1〜5μmとするのが適当で、対応する材料か
ら成るターゲットをスパッタし、形成することができ
る。スパッタ法としては、直流スパッタ法、高周波スパ
ッタ法、マグネトロンスパッタ法、イオンビームスパッ
タ法が適用でき、これ以下の膜厚では、保護膜3として
十分な付着強度が得られなくなり、又、これ以上の膜厚
では、下地層2と同様に、保護膜3の表面が荒れて母材
1の表面平滑性が損なわれる。
【0035】なお、母材1の表面に下地層2と保護膜3
を形設する前に、母材1の表面をアルゴンなどの高周波
プラズマによって表面をドライエッチングしておくと、
母材1と下地層2と保護膜3との付着強度を高めること
ができるが、この場合には、母材1の表面がドライエッ
チングで荒れないように条件を最適化する必要がある。
【0036】図2は、本発明のプレス成形用金型を使用
するプレス成形機の基本的な構成図である。
【0037】4は磁気ディスク用ガラス基板となるガラ
ス素材、5は、磁気ディスク用ガラス基板の外径及び厚
みを規制する胴型、6は胴型5の内側下部に配設された
プレス成形用金型の下型、7は図中上下方向に移動可能
な状態で胴型5の内側上部に挿入された上型、8は胴型
5を加熱する胴型用ヒータ部、11は上型7を押し下げ
て下型6に載置されたガラス素材4を加圧するピストン
シリンダ、12はプレス成形機の本体を覆うチャンバ、
13はチャンバ12の中に窒素ガスを導入する窒素導入
口である。
【0038】このように構成されたプレス成形機におい
て、胴型5、下型6及び上型7をそれぞれ胴型用ヒータ
部8、下型用ヒータ部9及び上型用ヒータ部10によっ
て加熱し、かつ、窒素ガスを窒素ガス導入口13からチ
ャンバ12の中に導入した上、下型6に載置されたガラ
ス素材4を、ピストンシリンダ11によって押し下げら
れる上型7で加圧して、磁気ディスク用ガラス基板を製
造する。
【0039】ところで、磁気ディスク用ガラス基板のプ
レス成形は低い酸素濃度雰囲気中で行うため、プレス成
形の高温による金型の酸化防止され、金型の耐久性が向
上する。
【0040】(実施例1)つぎに、本発明の表面が平滑
な磁気ディスク用基板の製造方法及び磁気ディスク用ガ
ラス基板のプレス成形用金型の製造方法について図1及
び図2により具体的に説明する。
【0041】先ず、直径48mm、厚み15mmの円柱状の
石英ガラスからなる一対のプレス成形用金型の母材1の
プレス成形面を、粒径0.1μmの微細なダイヤモンド
砥粒で鏡面研磨した上、酸化セリウムを用い表面粗さ
0.5nmになるまで研磨する。そして、研磨された母材
1のプレス成形面を、アルゴンガスの高周波プラズマに
よって、アルゴンガス圧8x10-3Torr、パワー密
度2W/cm2の条件でエッチングする。
【0042】次に、研磨、マグネトロン高周波スパッタ
法により、アルゴンガス圧5x10 -3Torr、パワー
密度5W/cm2の条件で、各種材料をターゲットとし
て、膜厚0.2μmの下地層2を形成した上、その下地
層2の表面を、アルゴンガスの高周波プラズマにより、
アルゴンガス圧8x10-3Torr、パワー密度2W/
cm2の条件でエッチングする。
【0043】最後に、このエッチングされた下地層2の
表面に、マグネトロン高周波スパッタ法により、各種貴
金属をターゲットとし貴金属合金からなる薄膜状の保護
膜3を形成することによって、後記「表1」に示す試料
1〜8のプレス成形用金型を製造する。なお、試料1〜
8のプレス成形用金型に形成した下地層2及び保護膜3
の具体的な組成は「表1」に示す。
【0044】又、この比較例として、下地層2のないプ
レス成形用金型(「表1」の試料9)と、粒径0.1μ
mの微細なダイヤモンド砥粒によって鏡面研磨した超硬
合金の表面に保護膜3を形成したプレス成形用金型
(「表1」の試料10)とを製造する。
【0045】そして、試料1,2,・・・・・,9或い
は10のプレス成形用金型を図2のプレス成形機に取り
付けて、ソーダライムガラスからなる直径35mmの円柱
状のガラス素材4を、酸素濃度0.1%以下の窒素雰囲
気中において、温度700℃、プレス圧力60Kg/cm2
の条件で2分間プレス成形した上、その温度が450℃
に冷却されるまで更にプレス成形を継続して、プレス成
形機から取り出せば、円盤状のガラス基板が製造され、
この円盤状のガラス基板に内径加工を施せば、磁気ディ
スク用ガラス基板ができる。
【0046】そこで、このようなプレス成形を3000
回行った後、成形用金型及びプレス成形した磁気ディス
ク用ガラス基板の表面をAFM(原子間力顕微鏡)によ
り34μm角の範囲で5ヶ所測定した上、その表面粗さ
(SRa)の平均を算出し評価し、又、プレス成形した
磁気ディスク用ガラス基板の表面を光干渉方式の3次元
表面粗さ計にて測定し、高さ50nm以上の粗大突起の数
を測定すると、「表1」のような結果になる。
【0047】
【表1】
【0048】「表1」から明らかなように、本発明のプ
レス成形用金型(試料1〜8)で製造された磁気ディス
ク用ガラス基板は、3000回目のプレス成形品でも初
期の成形品と比較して、表面粗さに変化はほとんどな
く、粗大突起の形成も見られなかった。
【0049】これに対し、下地層2のないプレス成形用
金型(試料9)では、表面粗さが大きくなると共に、5
0nm以上の粗大突起の発生が見られる。
【0050】又超硬合金の母材の表面に保護膜3を形成
したプレス成形用金型(試料10)では、初期の成形品
から表面荒さが荒くて、粗大突起が形成されている上
に、このプレス成形用金型の表面を光学顕微鏡で倍率4
00倍で金型表面を観察したところ、ミクロな膜剥離が
部分的に発生しているのが見られた。
【0051】なお、本実施例では、ガラスを金型母材と
したプレス成形による磁気ディスク用ガラス基板の製造
方法及び磁気ディスク用ガラス基板のプレス成形用金型
の製造方法について説明したが、光学ガラス素子につい
ても同様の結果が得られる。
【0052】更に、単結晶アルミナを金型母材としたプ
レス成形用金型においても、磁気ディスク用ガラス基板
および光学ガラス素子の製造において同様の結果が得ら
れる。
【0053】(実施形態の2)次に、本発明の微細パタ
ーンを有する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び
その磁気ディスク用ガラス基板のプレス成形用金型の製
造方法について図1及び図2により具体的に説明する。
【0054】プレス成形用金型の母材1の表面に、微細
パターンを形成する方法としては、レジストをスピンコ
ートして、プリベイクした後、従来の紫外線露光、また
は、レーザビームで描画するレーザビーム露光、電子ビ
ームで描画する電子ビーム露光により、レジストパター
ンを形成する。そして、パターン形成したレジストをマ
スクにしてドライエッチングを行うと、母材1の表面に
パターンが形成される。
【0055】ドライエッチングには、アルゴンガス、C
4等のフッ素系ガス又はフッ素系ガスと酸素との混合
系ガスが使用できるイオンビームエッチング、電子サイ
クロトロン(ECR)共鳴イオンエッチング法など指向
性の良いエッチング法が適当である。
【0056】(実施例2)以下、微細パターンを有する
磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及びその磁気ディ
スク用ガラス基板のプレス成形用金型の製造方法につい
て具体的に説明する。
【0057】実施例1と同様に、直径48mm、厚み15
mmの円柱状の石英ガラスからなる一対のプレス成形用金
型の母材と1のプレス成形面を、微細なダイヤモンド砥
粒を用いて鏡面研磨した上、酸化セリウムで表面粗さ
0.5nmになるまで研磨する。そして、研磨された母材
1のプレス成形面に、ポジ型電子ビームレジストPMM
Aをスピンコーティング法で塗布して、70℃の条件で
プリベイクした後、0.2μmランド形状と1.0μm
のグルーブ形状とを同心円状に交互に有する微細パター
ンを電子ビーム露光法で描画して、現像することによ
り、レジストパターンを形成する。
【0058】つぎに、母材1の研磨されたプレス成形面
を、アルゴンガスを用いた電子サイクロトロン(EC
R)共鳴イオンエッチング法により、真空度6x10-4
Torr、電力1000Wの条件でドライエッチングし
て、母材1のプレス成形面に深さ200nm微細パターン
を形成する。実施例1と同様に、研磨され且つ微細パタ
ーンが形成された母材1のプレス成形面を、アルゴンガ
スの高周波プラズマでエッチングした後、マグネトロン
高周波スパッタ法により、各種材料をターゲットとし下
地層2を形成した上、その下地層2の表面をアルゴンガ
スの高周波プラズマでエッチングする。
【0059】最後に、このエッチングされた下地層2の
表面に、マグネトロン高周波スパッタ法により、各種貴
金属をターゲットとし貴金属合金からなる薄膜状の保護
膜3を形成することによって、後記「表2」に示す試料
11〜19のプレス成形用金型を製造する。なお、試料
11〜19のプレス成形用金型に形成した下地層2及び
保護膜3の具体的な組成は「表2」に示す。
【0060】又、この比較例として、鏡面研磨された円
柱状の石英ガラスのプレス成形面に、酸化珪素のスパッ
タ膜を形成して、電子ビーム露光法によりパターン形成
した上、CF4ガスでドライエッチングして、微細パタ
ーンを形成する。そして、研磨され且つ微細パターンが
形成された母材1のプレス成形面に、炭化珪素のスパッ
タ膜を形成した上、メタンと水素との混合ガスのプラズ
マCVD法で炭素からなる保護膜3を形成したプレス成
形用金型(「表2」の試料20)を製造する。
【0061】そして、試料11,12,・・・・・,1
9或いは20のプレス成形用金型を図2のプレス成形機
に取り付けて、ソーダライムガラスからなる直径35mm
の円柱状のガラス素材4を、酸素濃度0.1%以下の窒
素雰囲気中において、温度700℃、プレス圧力60Kg
/cm2の条件で2分間プレス成形した上、その温度が4
50℃に冷却されるまで更にプレス成形を継続して、プ
レス成形機から取り出せば、円盤状のガラス基板が製造
され、この円盤状のガラス基板に内径加工を施せば、磁
気ディスク用ガラス基板ができる。
【0062】なお、磁気ディスク用ガラス基板の表面及
び断面を走査型電子顕微鏡を用いて評価した結果、磁気
ディスク用ガラス基板にはプレス成形用金型のプレス成
形面のランド形状及びグルーブ形状の精度は寸法誤差が
10%の範囲内できれいに転写しており、ランド形状部
の表面の粗さ(SRa)も0.8nmとプレス成形用金型
のプレス成形面の表面の粗さと同レベルであった。
【0063】そこで、このようなプレス成形を3000
回行った後、成形用金型及びプレス成形面の微細パター
ンのグルーブ形状部の表面及びプレス成形した磁気ディ
スク用ガラス基板のランド部の表面をAFM(原子間力
顕微鏡)により34μm角の範囲で5ヶ所測定した上、
その表面粗さ(SRa)の平均を算出し評価し、又、プ
レス成形した磁気ディスク用ガラス基板の表面を光干渉
方式の3次元表面粗さ計にて測定し、高さ50nm以上の
粗大突起の数を測定すると、「表2」のような結果にな
る。
【0064】
【表2】
【0065】「表2」から明らかなように、本発明のプ
レス成形用金型(試料11〜19)によって製造された
磁気ディスク用ガラス基板は、3000回目のプレス成
形品でも初期のプレス成形品と比較して、表面粗さに変
化はなく、粗大突起の形成も見られなかった。
【0066】これに対し、炭素膜からなる保護膜3を母
材1のプレス成形面に形成した比較例(試料20)で
は、このプレス成形用金型の表面を光学顕微鏡で倍率8
00倍で観察したところ、微細パターンのエッヂ部に保
護膜3の剥がれと思われる欠陥が発生しており、又、微
細パターンの変形も見られた。
【0067】なお、本実施例では、ガラスを金型母材と
したプレス成形による磁気ディスク用ガラス基板の製造
方法と、ランド形状及びグルーブ形状の微細パターンを
有する磁気ディスク用ガラス基板のプレス成形用金型の
製造方法とについて説明したが、微細パターンを有する
光学ガラス素子についても同様の結果が得られる。
【0068】更に、単結晶アルミナを金型母材としたプ
レス成形用金型においても、磁気ディスク用ガラス基板
および光学ガラス素子の製造において同様の結果が得ら
れる。
【0069】(実施形態の3)更に、プレス成形法では
製造することができなかった直径2mm以下の凸形状の光
学ガラス素子の製造方法及びその光学ガラス素子のプレ
ス成形用金型の製造方法について図3により具体的に説
明する。
【0070】図3は、本発明の光学ガラス素子のプレス
成形用金型の製造工程の概念を示すものである。
【0071】14は製造するレンズの見本(以下「レン
ズ見本」という)、15は円柱状のガラスのプレス成形
面を研削法で加工し且つ研磨して、レンズ見本14の図
3において上面或いは下面の曲面或いは平面と同一の形
状、同等の平滑性を有する曲面或いは平面に形成した成
形用母型の母材、16は母材15の表面に下地層17と
保護膜18とを順次形成してなる成形用母型である。
【0072】19は、加熱された円柱状のガラスの一平
面に成形用母型16のプレス成形面を押圧して、レンズ
見本14の上面或いは下面の曲面或いは平面と同一の形
状、同等の平滑性を有する面を形成してなる成形用金型
の母材で、この母材19は、成形用母型の母材15に使
用するガラスの成形温度よりも50℃以上低い転移温度
のガラスからなる。20は母材19の表面に下地層21
と保護膜22とを順次形成してなる成形用金型である。
【0073】成形用金型20を製造するには、先ず、レ
ンズ見本14の一方の面の曲面或いは平面と同一の形
状、同等の平滑性を有するように、円柱状のガラスのプ
レス成形面を研削法で加工し且つ研磨して成形用母型の
母材15を形成した上、その母材15の表面に下地層1
7と保護膜18とを順次形成することにより、成形用母
型16を製造する。
【0074】次に、加熱された円柱状のガラスのプレス
成形面を成形用母型16のプレス成形面で押圧して、レ
ンズ見本14の一方の面の曲面或いは平面と同一の形
状、同等の平滑性を有する凹み或いは平面を形成して成
形用金型の母材19を形成した上、その母材19の表面
に下地層21と保護膜22とを順次形成することによ
り、成形用金型20を製造する。
【0075】又、レンズ見本14の他方の面の平面或い
は曲面と同一の形状、同等の平滑性を有する平面或いは
凹みを形成した成形用金型20も前述の如き製造方法で
製造することにより、一対の成形用金型20ができあが
る。
【0076】この結果、従来製造できなかったガラスの
研磨表面と同等の平滑表面性を有する小径の凸状或いは
凹状のレンズを製造することができる。
【0077】(実施例3)以下、直径2mm以下の凸形状
の光学ガラス素子の製造方法及びその光学ガラス素子の
プレス成形金型の製造方法について図3により更に具体
的に説明する。
【0078】先ず、直径1.8mm、長さ5mmの2つの円柱
状の石英ガラスをそれぞれ研削加工して、曲率半径が0.
9mmの凸面形状のプレス成形面を有するマイクロレンズ
の成形用母型の母材15と、平面形状のプレス成形面を
有するマイクロレンズのプレス成形用母型の母材15と
をそれぞれ形成した上、これらの母材15のプレス成形
面をそれぞれ表面の粗さが1nmになるまで酸化セリウム
砥粒で研磨する。
【0079】そして、これらの母材15の研磨されたプ
レス面を、実施例1と同様に、アルゴンガスの高周波プ
ラズマでエッチングした後、マグネトロン高周波スパッ
タ法によって、炭化珪素−白金(SiC−Pt、Pt含
有率50wt%)からなる下地層17を形成し、且つ、
その下地層17の表面をアルゴンガスの高周波プラズマ
によってエッチングする。その上、下地層17の表面に
マグネトロン高周波スパッタ法によって白金−ロジウム
(Pt−Rh、Rh含有率20wt%)合金薄膜からなる保護
膜18を形成することにより、成形用母型16を製造す
る。
【0080】次に、この成形用母型16を図2のプレス
成形機に取り付けてマイクロレンズの成形用金型20を
製造する。すなわち、直径が6mm厚さが6mmの円柱状の
パイレックスガラス素材を、成形母型16とプレス成形
面が平らな金型の間に設置して、温度が750℃、プレ
ス圧力が50Kg/cm2の条件で5分間プレス成形した
上、その温度が500℃に冷却されるまで更にプレスを
継続した後、ガラス素材をプレス成形機から取り出す
と、曲率半径が0.9mmの凹面形状のプレス成形面を有す
る成形用金型の母材19が形成される。
【0081】また、直径が6mm厚さが6mmの円柱状のパ
イレックスガラス素材の1面を研磨して、平面形状をプ
レス成形面に有する成形用金型の母材19を形成する。
【0082】そこで、2つの成形用金型の母材19のプ
レス成形面を、それぞれ、実施例1と同様に、アルゴン
ガスの高周波プラズマでエッチングした後、各種材料を
ターゲットとしマグネトロン高周波スパッタ法により下
地層21を形成する。そして、その下地層21の表面を
アルゴンガスの高周波プラズマでエッチングした上、各
種貴金属をターゲットとしマグネトロン高周波スパッタ
法により保護膜22を形成することにより、後記「表
3」に示す試料21〜29の上型或いは下型となる一対
の成形用金型20を製造する。なお、試料21〜29の
成形用金型20に形成した下地層21及び保護膜22の
具体的な組成は「表3」に示す。
【0083】又、比較例として、フッ化マグネシウムを
プレス成形面に蒸着した成形用金型(「表3」の試料3
0)を製造する。
【0084】そして、試料21,22,・・・・・,2
9或いは30のプレス成形用金型を図2のプレス成形機
に取り付けて、PbOの含有率が70wt%、SiO2の含
有率が27wt%、残りが微量成分から成る酸化鉛系光
学ガラスを直径0.7mmの球状に加工したガラス素材を、
酸素濃度0.1%以下の窒素雰囲気中において、温度が
520℃、プレス圧力が40Kg/cm2の条件で2分間プ
レス成形した上、その温度が300℃に冷却されるまで
更にプレス成形を継続して、プレス成形機から取り出せ
ば、マイクロレンズが製造される。
【0085】そこで、このようなプレス成形を3000
回行った後に、成形用金型20の表面および成形用金型
20によって成形したマイクロレンズの表面をそれぞれ
光干渉方式の3次元表面粗さ計で5ヶ所測定した上、そ
の表面粗さ(RMS値)の平均を算出し評価する。この
結果および成形用金型20の表面状態の観察結果「表
3」のようになる。
【0086】
【表3】
【0087】「表3」から明らかなように、本発明のプ
レス用金型(試料21〜29)で製造されたマイクロレ
ンズは、3000回目のプレス成形品でも、初期の成形
品と比較して表面粗さ(RSM値)に変化がなかったの
に対し、フッ化マグネシウムからなる保護膜を形成した
比較例(試料30)では、プレス成形が3000回に達
するまでに膜の剥離とガラス素材の溶着が発生した。
【0088】
【発明の効果】以上説明したのように本発明によれば、
製造する磁気ディスク用ガラス基板あるいは光学ガラス
素子に対応する超平滑な表面性と高精度な微細パターン
或いは精密形状を有するプレス成形用金型が簡単に製造
できるという効果がある。
【0089】また、本発明によれば、本発明のプレス成
形用金型を使用してプレス成形を行うと、金型形状が精
密且つ高精度に転写された磁気ディスク用ガラス基板あ
るいは光学ガラス素子が容易に製造できるという効果が
ある。更に、本発明によれば、従来のプレス成形法では
製造できなかったマイクロレンズのプレス成形用金型を
プレス成形法によって安価に且つ大量に製造できるとい
う効果がある。
【0090】更に、本発明によれば、プレス成形用金型
を長期間に亘って繰り返し使用しても、金型の劣化を防
止それて、金型の寿命が長くなるという効果がある。
【0091】更に、本発明によれば、前述の効果から、
高品質な磁気ディスク用ガラス基板或いは光学ガラス素
子が安価に且つ大量に製造できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の磁気ディスク用ガラス基板のプレス成
形用金型の断面図
【図2】本発明のプレス成形用金型を使用するプレス成
形機の基本的な構成図
【図3】本発明の光学ガラス素子のプレス成形用金型の
製造工程の概念図
【符号の説明】
1,19 成形用金型の母材 2,17,21 下地層 3,18,22 保護膜 4 ガラス素材 5 胴型 6 下型 7 上型 8 胴型用ヒータ部 9 下型用ヒータ部 10 上型用ヒータ部 11 ピストンシリンダ 12 チャンバ 13 窒素ガス導入口 14 レンズ見本 15 成形用母型の母材 16 成形用母型 20 成形用金型

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】酸化物からなる金型母材のプレス成形面に
    下地層を介してタングステン(W)、白金(Pt)、パ
    ラジウム(Pd)、ロジウム(Rh)、ルテニュウム
    (Ru)、イリジウム(Ir)、オスミウム(Os)、
    レニウム(Re)、タンタル(Ta)のうち、少なくと
    も一種類以上の金属或いは合金からなる薄膜状の保護膜
    を形成したプレス成形用金型において、 前記下地層は、チタン(Ti)、バナジウム(V)、ク
    ロム(Cr)、ジルコニウム(Zr)、ニオブ(N
    b)、モリブデン(Mo)、ハフニウム(Hf)、タン
    タル(Ta)、タングステン(W)のうち、少なくとも
    一種類以上の金属或いは合金からなることを特徴とする
    プレス成形用金型。
  2. 【請求項2】表面が平滑なガラスまたは単結晶アルミナ
    からなる成形用金型の母材のプレス成形面には、タング
    ステン(W)、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、ロ
    ジウム(Rh)、ルテニュウム(Ru)、イリジウム
    (Ir)、オスミウム(Os)、レニウム(Re)、タ
    リウム(Ta)のうち少なくとも一種類以上の金属或い
    は合金からなる薄膜状の保護膜が、チタン(Ti)、バ
    ナジウム(V)、クロム(Cr)、ジルコニウム(Z
    r)、ニオブ(Nb)、モリブデン(Mo)、ハフニウ
    ム(Hf)、タンタル(Ta)、タングステン(W)の
    うち、少なくとも一種類以上の金属或いは合金からなる
    下地層を介して、形成されることを特徴とするプレス成
    形用金型。
  3. 【請求項3】ガラス製品に対応した微細パターンを形成
    したガラスまたは単結晶アルミナからなる成形用金型の
    母材のプレス成形面には、タングステン(W)、白金
    (Pt)、パラジウム(Pd)、ロジウム(Rh)、ル
    テニュウム(Ru)、イリジウム(Ir)、オスミウム
    (Os)、レニウム(Re)、タリウム(Ta)のうち
    少なくとも一種類以上の合金からなる薄膜状の保護膜
    が、チタン(Ti)、バナジウム(V)、クロム(C
    r)、ジルコニウム(Zr)、ニオブ(Nb)、モリブ
    デン(Mo)、ハフニウム(Hf)、タンタル(T
    a)、タングステン(W)のうち、少なくとも一種類以
    上の金属或いは合金からなる下地層を介して、形成され
    ることを特徴とするプレス成形用金型。
  4. 【請求項4】光学ガラス素子に対応した形状を形設した
    ガラスまたは単結晶アルミナからなる成形用金型の母材
    のプレス成形面には、タングステン(W)、白金(P
    t)、パラジウム(Pd)、ロジウム(Rh)、ルテニ
    ュウム(Ru)、イリジウム(Ir)、オスミウム(O
    s)、レニウム(Re)、タンタル(Ta)のうち少な
    くとも一種類以上の金属或いは合金からなる薄膜状の保
    護膜が、チタン(Ti)、バナジウム(V)、クロム
    (Cr)、ジルコニウム(Zr)、ニオブ(Nb)、モ
    リブデン(Mo)、ハフニウム(Hf)、タンタル(T
    a)、タングステン(W)のうち、少なくとも一種類以
    上の金属或いは合金からなる下地層を介して、形成され
    ることを特徴とするプレス成形用金型。
  5. 【請求項5】表面が平滑なガラスまたは単結晶アルミナ
    をドライエッチングしてなる成形用金型の母材の少なく
    ともプレス成形面には、タングステン(W)、白金(P
    t)、パラジウム(Pd)、ロジウム(Rh)、ルテニ
    ュウム(Ru)、イリジウム(Ir)、オスミウム(O
    s)、レニウム(Re)、タンタル(Ta)のうち少な
    くとも一種類以上の金属或いは合金からなる薄膜状の保
    護膜が、チタン(Ti)、バナジウム(V)、クロム
    (Cr)、ジルコニウム(Zr)、ニオブ(Nb)、モ
    リブデン(Mo)、ハフニウム(Hf)、タンタル(T
    a)、タングステン(W)のうち、少なくとも一種類以
    上の金属或いは合金からなる下地層をスパッタ法で形成
    し且つ該下地層をドライエッチングした後、スパッタ法
    で形成されることを特徴とするプレス成形用金型。
  6. 【請求項6】表面が平滑なガラスまたは単結晶アルミナ
    にガラス製品に対応した微細パターンをドライエッチン
    グ法にて形成してなる成形用金型の母材のプレス成形面
    には、タングステン(W)、白金(Pt)、パラジウム
    (Pd)、ロジウム(Rh)、ルテニュウム(Ru)、
    イリジウム(Ir)、オスミウム(Os)、レニウム
    (Re)、タンタル(Ta)のうち少なくとも一種類以
    上の金属或いは合金からなる薄膜状の保護膜が、チタン
    (Ti)、バナジウム(V)、クロム(Cr)、ジルコ
    ニウム(Zr)、ニオブ(Nb)、モリブデン(M
    o)、ハフニウム(Hf)、タンタル(Ta)、タング
    ステン(W)のうち、少なくとも一種類以上の金属或い
    は合金からなる下地層をスパッタ法で形成し且つ該下地
    層をドライエッチングした後、スパッタ法で形成される
    ことを特徴とするプレス成形用金型。
  7. 【請求項7】ガラス製品形状を有する成形用母型によっ
    てプレス成形されたガラスの表面をドライエッチングし
    てなる成形用金型の母材のプレス成形面には、タングス
    テン(W)、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、ロジ
    ウム(Rh)、ルテニュウム(Ru)、イリジウム(I
    r)、オスミウム(Os)、レニウム(Re)、タンタ
    ル(Ta)のうち少なくとも一種類以上の金属或いは合
    金からなる薄膜状の保護膜が、チタン(Ti)、バナジ
    ウム(V)、クロム(Cr)、ジルコニウム(Zr)、
    ニオブ(Nb)、モリブデン(Mo)、ハフニウム(H
    f)、タンタル(Ta)、タングステン(W)のうち、
    少なくとも一種類以上の金属或いは合金からなる下地層
    をスパッタ法で形成し且つ該下地層をドライエッチング
    した後、スパッタ法で形成されることを特徴とするプレ
    ス成形用金型。
  8. 【請求項8】請求項2、3、4、5又は6記載のプレス
    成形用金型を用いプレス成形されたことを特徴とする磁
    気ディスク用ガラス基板或いは光学ガラス素子。
  9. 【請求項9】請求項7記載のプレス成形用金型によりプ
    レス成形されたことを特徴とする磁気ディスク用ガラス
    基板或いは光学ガラス素子。
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