JPH1097755A

JPH1097755A - 光ディスク記録再生装置

Info

Publication number: JPH1097755A
Application number: JP24952396A
Authority: JP
Inventors: Satoshi Sugaya; 諭菅谷
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1996-09-20
Filing date: 1996-09-20
Publication date: 1998-04-14
Anticipated expiration: 2016-09-20
Also published as: JP2882383B2

Abstract

(57)【要約】【課題】異なる基板厚さや記録層数の光ディスクに対
して互換性のある光ディスク記録再生装置を構成する場
合には、光ディスクの種類を判別するための手段が必要
であり、そのためのセンサや特殊な加工が必要となる。【解決手段】レーザスポットを光ディスクに照射し、
その反射光を利用してフォーカスエラー信号を検出する
手段を備える光ディスク記録再生装置において、そのフ
ォーカスエラー信号としてのＳ字波形のうち、光ディス
クの表面で反射された光を検出する第１のＳ字波形検出
回路８１と、光ディスクの記録層で反射された光を検出
する第２のＳ字波形検出回路８２を備え、判別回路８５
において、第１のＳ字波形から第２のＳ字波形の間をカ
ウントする第１のカウンタ８３の出力で基板の厚さを判
別し、第２のＳ字波形以降のＳ字波形をカウントする第
２のカウンタ８４の出力で記録層の数を判別する。特別
なセンサや光ディスクに対する加工を行うことなく異な
る種類の光ディスクの判別が実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク記録再生
装置に関し、特に基板の厚さの異なる複数の種類の光デ
ィスク、および複数の記録層を持つ光ディスクに対し
て、情報の記録、再生の互換性を有する光ディスク記録
再生装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクは、レーザ光を対物レンズで
波長オーダの回折限界まで絞り込み、光ディスク記録膜
面上に照射して、データの記録・再生を行うため、記録
密度を非常に高めることが可能となる。また、光ディス
クは、記録・再生に光を利用しているため、光ディスク
と光ヘッドは非接触となり、情報の信頼性が高い。さら
に、光ディスクでは、基板を通してレーザ光が入射され
るので、塵埃や基板表面の汚れに強く、媒体交換が可能
で、容易に持ち運べるということも大きな特徴となって
いる。以上のような特徴から、光ディスクの研究開発が
盛んに行われ、普及し始めている。従来、ＣＤ（コンパ
クトディスク）やＣＤ−ＲＯＭ等の光ディスクの基板厚
は、ほとんど１．２ｍｍに統一されていた。しかし最近
では、光ディスクのさらなる高密度化を実現するため
に、ＤＶＤ（ディジタルビデオディスク）のように基板
厚を薄くした光ディスクが検討されるようになってい
る。ここで、光ディスクの基板の厚さを薄くすることに
より、高密度化が可能になる理由を以下に説明する。

【０００３】光ディスクは、記録・再生に用いるレーザ
ビームのスポット径ｄが小さいほど再生分解能が向上
し、記録密度を高くすることが可能となる。一般的にレ
ーザビームの集光スポット径ｄは、式（１）に示すよう
に、光源の波長λに比例し、対物レンズの開口数（Ｎ
Ａ）に反比例する。ｄ＝Ｋλ／ＮＡ …（１）ここで、Ｋはレンズの開口形状や入射ビームの断面の強
度分布などで決まる定数である。したがって、光ディス
クの記録密度を高めるためには、光源の短波長化と対物
レンズの高ＮＡ化が有効である。

【０００４】しかし、焦点震度、光ディスクの傾きによ
る収差、厚さむらによる収差は、それぞれ１／（ＮＡ）
²、１／（ＮＡ）³、１／（ＮＡ）⁴に比例するため、
対物レンズの高ＮＡ化は、光ディスクやドライブの機械
的な精度に対する要求などを厳しくする。特に、光ディ
スクの傾きに対するコマ収差は、対物レンズのＮＡが大
きくなると、同じ傾きに対してＮＡの３乗に比例して大
きくなる。コマ収差が大きくなると、各種エラー信号、
および再生信号の品質が悪化し、ジッタやエラーレート
などの再生特性が悪化する。このコマ収差は、対物レン
ズのＮＡの３乗と光ディスクの基板厚ｔに比例し、波長
に反比例する。したがって、光ディスクの基板厚を薄く
することにより、光ディスクの傾きに対するコマ収差を
抑えることが可能となり、対物レンズのＮＡを大きくす
ることができ、高密度化には有利である。そこで、光デ
ィスクのさらなる高密度化を実現するために、基板厚の
薄い光ディスクを用いて、高ＮＡレンズを用いる方法が
検討されている。

【０００５】ここで、一般に光ディスク基板に、集光し
たレーザビームを入射させると、球面収差が発生し、レ
ーザビームを一点に集光することができない。そのた
め、通常光ディスクの基板の厚さに応じて、球面収差が
最小となるように、あらかじめ対物レンズ側で収差の補
正を行っている。対物レンズは、球面収差を補正できる
ように設計された基板と異なる厚さの光ディスク基板に
対しては、レーザビームを一点に集光させることができ
ない。したがって、ＤＶＤ等のような基板厚が薄い光デ
ィスクの記録・再生を行うための光ヘッドでは、ＣＤや
ＣＤ−ＲＯＭ等の従来の基板厚が厚い光ディスクに対し
ては、十分な集光特性が得られず、記録・再生を行うこ
とができない。また、従来の基板厚の厚い光ディスクの
記録・再生を行うための光ヘッドでは、基板厚の薄い光
ディスクに対して記録・再生を行うことができない。し
かし、これまでのＣＤ、およびＣＤ−ＲＯＭを始めとし
た光ディスクの膨大なソフト資産の蓄積を無視すること
はできない。そこで、基板厚の薄い高密度化した光ディ
スクに対する記録再生装置では、従来の基板厚１．２ｍ
ｍの光ディスクとの互換性を実現する必要がある。この
ため、例えば、光ディスク記録再生装置に挿入された光
ディスクの種類を判別して、挿入された光ディスクに適
する対物レンズに切り換えたり、開口補正板や収差補正
板を出し入れしたりする方法が考えられている。

【０００６】また、さらなる光ディスクの大容量化を実
現するために、記録層を従来の１層から２層化などの多
層化することが検討されている。例えば、２枚の光ディ
スクを貼り合わせて、片面から２層の記録膜に対して、
記録・再生可能にする方式が開発されている。このと
き、貼り合わせる２枚の光ディスクのうち、一方の光デ
ィスクの記録面（第１層）を半透明膜とする。２枚の光
ディスクは、厚さ４０μｍ程度の紫外線硬化樹脂で接着
する。これにより、従来の両面光ディスクと比較して、
ユーザが裏返す必要がないことと、データを２層にまた
がって記録しても、すべてのデータにランダムアクセス
可能となることなどが利点となる。このとき、記録面の
切り換えは、フォーカスジャンプにより、数ミリ秒程度
で行うことができ、バッファメモリを用いることによ
り、途切れなく記録したり、再生したりすることが可能
となる。

【０００７】このように、基板厚さの異なる光ディスク
や、記録層数が異なる光ディスクに対する互換性を可能
とした光ディスク記録再生装置の構築は可能とされてい
るが、いずれの場合でも実際に記録再生の対象とされる
光ディスクの基板厚さや記録層数を判別しなければ、そ
の光ディスクに対して好適な記録再生を行うことは不可
能である。このため、装置にセットされた光ディスクの
種類を判別するための手段が必要とされる。このよう
に、セットされた光ディスクの種類を判別するために、
例えば、図５に示すように、光ディスクを保持するカー
トリッジ１００に、当該光ディスクの基板厚さや記録層
数などの情報を示すようなマークや検出穴１０１を設け
ておき、光ディスク記録再生装置に取り付けた光ディス
ク種類検出スイッチ１０２により、それらマークや検出
穴を検出することで、光ディスク種類を判別することが
考えられている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
例のように、光ディスクカートリッジに設けられている
光ディスクの種類を検出するためのマークや穴を、光デ
ィスク記録再生装置に設けた光ディスク種類検出スイッ
チで検出する構成では、光ディスクカートリッジや光デ
ィスク記録再生装置のそれぞれに加工を施したり、新た
にセンサを設けたりする必要があり、製造工程数が増加
されるとともに、部品点数が増大され、調整箇所が増大
されるという問題が生じることになる。

【０００９】本発明の目的は、このような問題を解消
し、製造工数や部品点数の増大や、調整箇所を増大させ
ることなしに、挿入された光ディスクの種類を判別し、
判別した光ディスクの種類に応じて記録・再生系を最適
化し、互換性を実現することが可能な光ディスク記録再
生装置を提供することにある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は、レーザスポッ
トを光ディスクに照射し、その反射光を利用してフォー
カスエラー信号を検出する手段を備えており、この得ら
れるフォーカスエラー信号に基づいて、光ディスクの表
面で反射された光と、光ディスクの記録層で反射された
光をそれぞれ検出し、これら表面での反射光と記録層で
の反射光とから光ディスクの基板厚さを判別する手段を
備えたことを特徴とする。また、これに加えて、光ディ
スクの複数の記録層で反射されたそれぞれの光を検出
し、これら複数の反射光から光ディスクの記録層数を判
別する手段を備えたことを特徴とする。

【００１１】例えば、レーザスポットを光ディスクに照
射し、その反射光を利用してフォーカスエラー信号を検
出する手段を備える光ディスク記録再生装置において、
前記フォーカスエラー信号から光ディスクの表面位置を
検出する第１の検出手段と、前記フォーカスエラー信号
から光ディスクの記録層位置を検出する第２の検出手段
と、前記第１及び第２の検出手段の検出出力から光ディ
スクの基板厚さを判別し、前記第２の検出手段の検出出
力から光ディスクの記録層数を判別する手段とを備えた
構成とする。なお、フォーカスエラー信号としてＳ字波
形信号を用い、前記第１の検出手段と第２の検出手段は
それぞれ異なるレベルをしきい値とする光信号レベル検
出手段として構成され、第１の検出手段のしきい値レベ
ルは第２の検出手段のしきい値レベルよりも低く設定さ
れた構成とすることが好ましい。

【００１２】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図１は本発明の一つの実施形態例を
示す光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図で
ある。この光ディスク記録再生装置は、光ディスク１
と、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、
このスピンドルモータ２を回転駆動するスピンドルモー
タ制御回路２１と、前記光ディスク１に対して記録・再
生を行うための光ビームを照射し、光ディスク１からの
エラー信号や再生信号を検出する光ヘッド３と、光ヘッ
ド３の制御を行う光ヘッド制御部４と、光ヘッド３に記
録信号を送り、光ヘッド３からの再生信号を検出する信
号処理部５と、光ヘッド３を光ディスク１に対して半径
方向に駆動させるポジショナ６と、ポジショナ６を駆動
するポジショナ制御回路６１と、各種の制御信号を出力
するコントローラ７とを備えている。前記光ディスク１
は、プラスチック、あるいはガラスなどからなる透明な
光ディスク基板１１とデータが記録される記録層１２と
から構成される。

【００１３】前記光ヘッド３は、光学系と駆動系から構
成されていて、記録再生を行うための光ビームの光源で
ある半導体レーザ３１と、半導体レーザ３１から発散さ
れる光ビームを平行光とするコリメータレンズ３２と、
光ビームの光路を分割するビームスプリッタ３３と、光
ビームを集光して光ディスク１に照射する対物レンズ３
４と、光ディスク１の種類に対応して複数（ここでは２
つ）設けられている対物レンズ３４Ａ，３４Ｂを切り換
える対物レンズ切り換え部３５と、対物レンズ３４をフ
ォーカス方向（光ディスクの基板厚さ方向）に駆動する
フォーカスアクチュエータ３６と、対物レンズ３４をト
ラック方向（光ディスクの半径方向）に駆動するトラッ
クアクチュエータ３７と、光ディスク１から反射してき
た光ビームを集光するレンズ３８と、光ディスク１から
反射した光信号を検出する光信号検出部３９とから構成
される。

【００１４】また、光ヘッド制御部４は、光ビームの集
光スポットと光ディスク１の記録膜１２との相対的な位
置ずれを検出するフォーカスエラー検出回路４１と、集
光スポットの記録トラックからの位置ずれを検出するト
ラックエラー検出回路４２と、フォーカスエラー検出回
路４１の出力信号に基づいてフォーカスアクチュエータ
３６を駆動するフォーカス制御回路４３と、トラックエ
ラー検出回路４２の出力信号に基づいてトラックアクチ
ュエータ３７を駆動するトラック制御回路４４と、フォ
ーカスエラー検出回路４１の出力信号を元に、挿入され
た光ディスクの基板の厚さや記録膜の層数などを検出し
光ディスクの種類を判別する光ディスク判別回路４５
と、光ディスク判別回路４５で判別した光ディスクに対
して、最適な対物レンズに切り換えるために、対物レン
ズ切り換え部３５を駆動するレンズ切替回路４６とから
構成される。

【００１５】ここで、前記フォーカスエラー検出回路４
１では、例えば、図２のように、前記光信号検出部３９
に入射される光を円筒レンズ３８Ａによって非点収差の
楕円形光束とし、この光束を前記光信号検出部３９の受
光部３９ａ，３９ｂ，３９ｃ，３９ｄとで受光し、かつ
これら受光部の差信号と和信号とを取ることで、後述す
るＳ字波形を検出する。そして、このＳ字波形の０点を
求めることで、光ディスクに対するフォーカシング位置
を検出することができるものである。

【００１６】また、前記光ディスク判別回路４５は、図
３にブロック構成を示すように、光ディスク基板１の表
面からの反射光に基づいて前記フォーカスエラー検出回
路４１で検出されるＳ字波形を検出する第１のＳ字波形
検出回路８１と、同様に光ディスクの記録層からのＳ字
波形を検出する第２のＳ字波形検出回路８２と、光ディ
スク基板表面から記録層までの厚さを計測する第１のカ
ウンタ８３と、光ディスクの記録層の層数をカウントす
る第２のカウンタ８４と、光ディスクの基板の厚さや記
録層の層数を判別する判別回路８５とから構成される。
ここで、Ｓ字波形検出回路８１，８２としては、例えば
コンパレータを用いた場合や、コンパレータでゲート信
号を作り、ゼロクロス信号から検出する方法などが考え
られる。ここでは、コンパレータを用いたものとする。

【００１７】また、前記信号処理部５は、変調回路５１
と、半導体レーザ３１の光出力を制御する半導体レーザ
駆動回路５２と、光ヘッド３の光信号検出部３９で検出
した信号を元に光ディスク１に記録されているデータを
検出する再生信号検出部５３と、復調回路５４とから構
成される。変調回路５１は、光ディスク１から情報を再
生するとき、安定に読み出すことができるようにした
り、光ディスク１の記録密度が同じ場合でも、より多く
の情報が記録できるようにするために、記録データをあ
る変換方式にしたがって変換する回路である。また、復
調回路５４は、変調回路５１で変換されたデータを、再
生時に元の情報に復元する回路である。

【００１８】この構成の光ディスク記録再生装置の動作
を説明する。まず、光ディスク記録再生装置にセットさ
れた光ディスクの種類を、その基板厚さの相違に基づい
て判別するための動作を説明する。図４はその動作を説
明するためのタイミング波形図であり、横軸は時間を示
している。同図（ａ）は光ディスク１と対物レンズ３４
との相対的な距離の変化を示している。同図（ｂ）はフ
ォーカスエラー検出回路４１で検出されたフォーカスエ
ラー信号の出力を示していて、その中の、Ｌ１とＬ２
は、それぞれ第１のＳ字波形検出回路８１と第２のＳ字
波形検出回路８２のコンパレータの比較電圧レベルであ
る。同図（ｃ）は第１のＳ字波形検出回路８１の出力波
形、同図（ｄ）は第２のＳ字波形検出回路８２の出力波
形である。

【００１９】先ず、光ディスク１が光ディスク記録再生
装置にセットされ、スピンドルモータ２に装着されたと
きに、コントローラ７からフォーカス制御回路４３に出
力を送って、対物レンズ３４を図４（ａ）のように移動
させる。すなわち、最初に集光スポット位置が光ディス
ク１の基板１１の表面よりも対物レンズ側に来る位置
に、対物レンズ３４を光ディスク１から引き離した後、
第１のカウンタ８３、および第２のカウンタ８４をゼロ
リセットする。次に、対物レンズ３４を光ディスクの厚
さ方向に等速、あるいはあらかじめ移動状態の履歴がわ
かるように移動させて、光ディスク１に近づけていく。
このとき、まず光ディスク１の基板１１の表面からの反
射によって、フォーカスエラー信号に、同図（ｂ）のＡ
のようなＳ字波形が現れる。

【００２０】ここで、第１のＳ字波形検出回路８１でこ
のＳ字波形を検出して、パルスＢが出力される。この出
力Ｂを図２に示すように第１のカウンタ８３に送り、カ
ウントを開始する。さらに、対物レンズ３４を光ディス
ク１に対して近づけていくと、今度は光ディスク１の記
録層１２からの反射によって、同図（ｂ）のＣのような
Ｓ字波形が得られる。これは、第１のコンパレータ８１
と第２のコンパレータ８２でそれぞれ検出されるが、こ
こでは第２のコンパレータ８２から出力されるパルスＤ
を第１のカウンタ８３に送りカウントを終了する。第１
のカウンタ８３は、パルスＢからパルスＤまでの時間Ｔ
１を計測し、判別回路８５であらかじめ対物レンズの移
動履歴とパルス間の時間から求めていた基準値との比較
を行い、光ディスクの基板の厚さを判別する。

【００２１】なお、光ディスク１の基板１１の表面から
の反射は、反射率が数％と小さく、一方、記録層１２か
らの反射は、反射率が数十％と大きいので、同図（ｂ）
に示すように、第１のＳ字波形検出回路８１のコンパレ
ータの比較電圧レベルＬ１を、光ディスク１の基板１１
の表面からのＳ字波形の電圧よりも低く設定し、第２の
Ｓ字波形検出回路８２のコンパレータの比較電圧レベル
Ｌ２を、光ディスク１の基板１１の表面からのＳ字波形
の電圧と記録層１２からのＳ字波形の電圧との間に設定
することにより、前記したＳ字波形の検出が可能とな
る。

【００２２】このように、光ディスク判別回路４５で判
別した光ディスク１の基板１１の厚さの判別信号をコン
トローラ７に入力し、判別した基板厚さを元に、例えば
基板厚さに適した対物レンズに切り換えるための信号を
コントローラ７からレンズ切り換え回路４６に出力し、
対物レンズ切り換え部３５を駆動して、挿入された光デ
ィスク１の記録再生が可能となるようにして、互換性を
実現することができる。例えば、高密度化された光ディ
スクの基板厚が０．６ｍｍのとき、対物レンズ３４Ａ
は、光ディスクの基板厚０．６ｍｍに対応していて、対
物レンズ３４Ｂが、従来の光ディスク基板厚１．２ｍｍ
に対応しているとき、挿入された光ディスクの基板厚が
１．２ｍｍと判別されたときに、コントローラ７から出
力信号が送られ、対物レンズ切り換え部３５によって、
対物レンズ３４Ｂに切り換えられる。

【００２３】ここで、光ディスクの基板の厚さの種類が
２種類しかありえない場合には、基板の厚さが薄い場合
に現れるＳ字波形が、現れるか現れないかを検出するこ
とにより、基板の厚さを判別することもできる。また、
この実施形態の装置では、光ディスク１の基板１１の厚
さに応じて対物レンズを切り換える構成をとっている
が、光学系の中で収差などを補正する補正板を出し入れ
することにより、挿入された光ディスクを記録再生でき
るようにするようにしてもよい。この場合には、光ディ
スク判別回路４５で判別した信号をコントローラ７に入
力し、コントローラ７から補正板を出し入れするための
信号を出力することにより実現できる。

【００２４】次に、光ディスク記録再生装置にセットさ
れた光ディスクの種類を、その記録層の層数の相違に基
づいて判別するための動作を説明する。図３（ａ）に示
すように、さらに対物レンズ３４を光ディスク１に対し
て基板厚さ方向に近付けていったとき、同図（ｂ）の
Ａ，ＣのＳ字波形に続いてＥのようなＳ字波形が現れた
場合、記録層が２層、またはそれ以上の光ディスクであ
ることが判別できる。第２のＳ字波形検出回路８２で検
出された、光ディスク１の基板１１の表面以外で得られ
たＣ，Ｅなどの記録膜からのＳ字波形の個数を第２のカ
ウンタ８４でカウントすることにより、そのカウント値
Ｔ２の値と得られる回数から記録層１２の層間厚さと層
数を判別することができる。

【００２５】この判別結果をコントローラ７に送ること
により、光ディスク記録再生装置にセットされた光ディ
スク１の記録層１２の層数をコントローラ７が認識する
ことができる。コントローラ７は、光ディスク１の記録
層１２の層数を元に、何層にもまたがってすべてのデー
タ領域に記録したり、再生したりすることができ、すべ
てのデータにランダムアクセス可能となる。このとき、
記録層に対するフォーカシングを切り換える場合、コン
トローラ７からフォーカス制御回路４３に出力を送っ
て、フォーカスアクチュエータ３６を駆動してフォーカ
スジャンプさせることにより、数ミリ秒程度で行うこと
ができ、バッファメモリを用いることにより途切れなく
記録したり、再生したりすることが可能となる。

【００２６】また、記録層が２層以上の光ディスクで
は、従来の１層の光ディスクと比較して、それぞれの記
録層の反射率が低下している。このため、フォーカスエ
ラー検出回路４１やトラックエラー検出回路４２で検出
されるエラー信号の出力が小さくなる。そこで、コント
ローラ７が多層記録層の光ディスクであると認識した場
合には、コントローラ７からフォーカス制御回路４３や
トラック制御回路４４に出力を送り、反射率の低下され
た光ディスクの記録層に適するように、フォーカス、お
よびトラックサーボのゲインを調整することにより、こ
の種の光ディスクの各記録層に対して好適なスポット照
射を可能とし、各光ディスクに対する互換性を実現する
ことが可能となる。

【００２７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
ク記録再生装置によれば、フォーカスエラー信号を用い
て、光ディスクの表面位置と記録層の位置が検出でき、
これに基づいて光ディスクの基板厚さや記録層数が判別
できるので、光ディスクや光ディスクカートリッジに細
工をしたり、それを検出するためのセンサを設けたりす
ることなしに、異なる種類の光ディスクに対する記録・
再生が可能となる。これにより、製造工数や部品点数を
増大させたり、調整箇所を増大させることなしに、基板
厚の異なる光ディスクや、多層の記録層を有する光ディ
スクのそれぞれに対しての制御が実現でき、互換性のあ
る光ディスク記録再生装置を実現することが可能とな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態のブロック構成図である。

【図２】Ｓ字波形のフォーカスエラー信号を得るための
概略構成図である。

【図３】光ディスク判別回路のブロック構成図である。

【図４】本発明における光ディスク判別動作を説明する
ためのタイミング波形図である。

【図５】従来の光ディスク判別方法の一例を説明するた
めの概略図である。

【符号の説明】

１光ディスク２スピンドルモータ３光ヘッド４光ヘッド制御部５信号処理部６ポジショナ７コントローラ３４Ａ，３４Ｂ対物レンズ３９光検出器４１フォーカスエラー検出回路４２トラックエラー検出回路４５光ディスク判別回路８１第１のＳ字波形検出回路８２第２のＳ字波形検出回路８３第１のカウンタ８４第２のカウンタ８５判別回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】レーザスポットを光ディスクに照射し、
その反射光を利用してフォーカスエラー信号を検出する
手段を備える光ディスク記録再生装置において、前記フ
ォーカスエラー信号に基づいて、前記光ディスクの表面
で反射された光と、前記光ディスクの記録層で反射され
た光をそれぞれ検出し、これら表面での反射光と記録層
での反射光とから光ディスクの基板厚さを判別する手段
を備えたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項２】前記光ディスクの複数の記録層で反射さ
れたそれぞれの光を検出し、これら複数の反射光から光
ディスクの記録層数を判別する手段を備えた請求項１の
光ディスク記録再生装置。
【請求項３】レーザスポットを光ディスクに照射し、そ
の反射光を利用してフォーカスエラー信号を検出する手
段を備える光ディスク記録再生装置において、前記フォ
ーカスエラー信号から光ディスクの表面位置を検出する
第１の検出手段と、前記フォーカスエラー信号から光デ
ィスクの記録層位置を検出する第２の検出手段と、前記
第１及び第２の検出手段の検出出力から光ディスクの基
板厚さを判別し、前記第２の検出手段の検出出力から光
ディスクの記録層数を判別する手段とを備えることを特
徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項４】フォーカスエラー信号としてＳ字波形信
号を用い、前記第１の検出手段と第２の検出手段はそれ
ぞれ異なるレベルをしきい値とする光信号レベル検出手
段として構成され、第１の検出手段のしきい値レベルは
第２の検出手段のしきい値レベルよりも低く設定されて
なる請求項３の光ディスク記録再生装置。
【請求項５】レーザスポットを光ディスクの記録膜に
照射する光ヘッドと、前記レーザスポットと前記光ディ
スク記録層との相対的な位置を検出するフォーカスエラ
ー信号検出手段と、前記レーザスポットの記録トラック
からの位置ずれを検出するトラックエラー信号検出手段
と、前記レーザスポットの集光位置を光ディスクの厚さ
方向に移動させるフォーカス位置制御手段と、前記レー
ザスポットの集光位置を光ディスクの径方向に移動させ
るトラック位置制御手段と、前記フォーカスエラー信号
を用いて前記光ディスクの基板の厚さやその記録層数を
判断して光ディスクの種類を判別する判別手段と、前記
光ディスク判別手段で判別された光ディスクの種類に応
じて、前記各手段を最適な状態に設定制御する手段とを
備えたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。