JPH1083625A - Optical disk reproducing method and optical disk device - Google Patents
Optical disk reproducing method and optical disk deviceInfo
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- JPH1083625A JPH1083625A JP23630796A JP23630796A JPH1083625A JP H1083625 A JPH1083625 A JP H1083625A JP 23630796 A JP23630796 A JP 23630796A JP 23630796 A JP23630796 A JP 23630796A JP H1083625 A JPH1083625 A JP H1083625A
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- reproducing
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Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピューター等
に接続され、光ディスクにデータの記録、再生を行う光
ディスク再生方法及び光ディスク装置に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk reproducing method and an optical disk apparatus which are connected to a computer or the like and record and reproduce data on and from an optical disk.
【０００２】[0002]
【従来の技術】近年、光ディスク装置が普及し、大量の
情報の記録再生装置として不可欠なものとなってきてい
る。光ディスクには、符号化されたデータが光ディスク
の反射面にピット列として、内周側から外周側の方向へ
渦状に連続的に記録されている。このように記録されて
いるデータ列をトラックと称する。再生時にはこのトラ
ックを光ピックアップがトレースすることによりデータ
の読み取りが行われる。そして、このピットはデータの
基本であるから光ディスクの規格に定められている。2. Description of the Related Art In recent years, optical disk devices have become widespread and have become indispensable as recording / reproducing devices for a large amount of information. On the optical disk, encoded data is continuously recorded in the form of pits on the reflection surface of the optical disk in a spiral manner from the inner circumference to the outer circumference. The data string recorded in this way is called a track. During reproduction, data is read by tracing this track with an optical pickup. Since these pits are the basis of data, they are defined in optical disc standards.
【０００３】しかし、光ディスクのなかには規格を満足
しないものや、取扱いの乱雑さにより傷をつけてしまい
ピットをつぶしてしまったものも存在している。従っ
て、その規格はずれや傷の程度によっては通常の再生処
理ではピットのデータを再生できないケースが発生して
いる。そこで、光ディスク装置の全体制御で、再生でき
なかった領域について、なんらかの方法で再生を試みる
処理（リトライ処理）をソフトウェアに設けることが一
般的となってきている。以下、リトライ処理を含めた従
来の技術について説明する。[0003] However, some optical disks do not satisfy the standard, and some optical disks have been damaged due to messiness and pits have been crushed. Therefore, there are cases where the pit data cannot be reproduced by the normal reproduction process depending on the degree of deviation from the standard or the degree of flaw. Therefore, it has become common to provide software with a process (retry process) of attempting to reproduce an area that could not be reproduced by some method in the overall control of the optical disk device. Hereinafter, a conventional technique including a retry process will be described.
【０００４】図１１は光ディスク装置で使用される従来
のデータ再生用２値化回路の例を示す図、図１２は図１
１の各部の動作を説明する波形図である。FIG. 11 is a diagram showing an example of a conventional binarizing circuit for data reproduction used in an optical disk device, and FIG.
3 is a waveform diagram illustrating the operation of each unit of FIG.
【０００５】図１２において、５１は入力されたアナロ
グ信号（ＲＦＤＣ、信号Ａ）のＤＣ成分を所定の時定数
で取り除く交流結合回路である。５２は交流結合回路５
１の出力（ＲＦＡＣ、信号Ｂ）と後述の比較レベル（Ｖ
ＳＬ、信号Ｅ）との大小を比較する比較器である。５３
は比較器５２の出力（ＥＦＭ、信号Ｃ）をある時定数で
低域成分を取り出す低域通過フィルタである。５４は低
域通過フィルタ５３の出力（信号Ｄ）を増幅する増幅器
で、増幅器出力（前述のＶＳＬ、信号Ｅ）を比較器５２
の比較レベルとする構成である。In FIG. 12, reference numeral 51 denotes an AC coupling circuit for removing a DC component of an input analog signal (RFDC, signal A) with a predetermined time constant. 52 is an AC coupling circuit 5
1 (RFAC, signal B) and a comparison level (V
SL, the signal E). 53
Is a low-pass filter for extracting a low-frequency component from the output (EFM, signal C) of the comparator 52 with a certain time constant. An amplifier 54 amplifies the output (signal D) of the low-pass filter 53. The amplifier 54 compares the amplifier output (VSL, signal E described above) with a comparator 52.
Is a comparison level.
【０００６】なお、図１１と図１２、及び後述する図１
４の波形番号ＡからＥはそれぞれ相互に対応している。
また、信号名Ｃ２ＰＯ（図１４参照）は検出されたＥＦ
Ｍ信号（信号Ｃ）に対してエラー訂正回路によりエラー
訂正を施したが、訂正しきれず訂正不能状態となった
（高レベルが訂正不能状態を表す）ことを示している。FIG. 11 and FIG. 12 and FIG.
The waveform numbers A to E of 4 correspond to each other.
The signal name C2PO (see FIG. 14) is the detected EF
The error correction circuit performed error correction on the M signal (signal C), but could not correct the error and was in an uncorrectable state (a high level indicates an uncorrectable state).
【０００７】以上のように構成されたデータ再生用２値
化回路について、以下その動作を説明する。図１３は従
来のリトライ処理のフローチャートである。The operation of the data reproducing binarizing circuit configured as described above will be described below. FIG. 13 is a flowchart of a conventional retry process.
【０００８】再生できなかった領域に対して、再び再生
を試みるリトライ処理を開始し（Ｓ３１）、まず、光ピ
ックアップを再生エラー区間にシークさせる（Ｓ３
２）。該当領域を再生し、正常に再生することができた
か判別する（Ｓ３３）。その結果、正常再生ができなけ
れば次のステップ３４に、正常再生ができれば別途ステ
ップ３８へジャンプする。[0008] A retry process for retrying reproduction is started for an area that could not be reproduced (S31), and the optical pickup is first sought to a reproduction error section (S3).
2). The corresponding area is reproduced, and it is determined whether or not the reproduction has been normally performed (S33). As a result, if normal reproduction cannot be performed, the process jumps to the next step 34, and if normal reproduction can be performed, the process jumps to step 38 separately.
【０００９】次にステップ３４では、回転モードまたは
サーボパラメータを変更する。この変更過程を図１２と
共に説明する。いま、交流結合回路５１の出力（信号
Ｂ）に直流オフセット電圧Ｖｏｆｔを持つ正弦波が現れ
たとすると、検出パルス（信号Ｃ）は、デューティ比
（パルス１周期中の”１”と”０”の比率）が５０％に
はならない。そのため、低域通過フィルタ５３の平均出
力電圧（信号Ｄ）も検出パルスのピーク値Ｖｄの２分の
１に等しくならない。Next, at step 34, the rotation mode or servo parameters are changed. This changing process will be described with reference to FIG. Now, assuming that a sine wave having a DC offset voltage Voff appears at the output (signal B) of the AC coupling circuit 51, the detection pulse (signal C) has the duty ratio (the “1” and “0” of one pulse period). Ratio) does not reach 50%. Therefore, the average output voltage (signal D) of the low-pass filter 53 also does not become equal to one half of the peak value Vd of the detection pulse.
【００１０】そこで、この誤差分が直流オフセットＶｏ
ｆｔに等しくなるように増幅器５４の利得を設定すれ
ば、交流結合回路５１出力の直流オフセットが除去でき
ることになる。よって、ＣＤ−ＲＯＭ等で使用されてい
るＥＦＭ（Eight to FourteenModulation）変調方式は
デューティ５０％の変調方式であるので、光ディスクの
回転モード（標準速、倍速等の読み出し回転数）に対し
て交流結合回路５１、低域通過フィルタ５３の時定数を
適切に設定することによりこの原理を利用し、光ディス
クの反射率変動等による低域変動成分を除去した正確な
ディジタル再生信号を検出することができる。なお、こ
れらの時定数は通常、実験的に傷等のない基準ディスク
を用いて検出信号のジッタ（ディジタル再生信号の変換
点位置誤差）が最小となるように設定するのが一般的
で、こうしてランダムエラーが極小となるように回転モ
ードやサーボパラメータが設定される。Therefore, this error is equal to the DC offset Vo.
If the gain of the amplifier 54 is set to be equal to ft, the DC offset of the output of the AC coupling circuit 51 can be removed. Therefore, since the EFM (Eight to Fourteen Modulation) modulation method used in a CD-ROM or the like is a modulation method with a duty of 50%, the AC coupling is performed with respect to the rotation mode of the optical disc (the number of reading rotations such as standard speed and double speed). By properly setting the time constants of the circuit 51 and the low-pass filter 53, an accurate digital reproduction signal from which low-frequency fluctuation components due to fluctuations in the reflectivity of the optical disk or the like have been removed can be detected using this principle. Generally, these time constants are generally set so that the jitter of the detection signal (conversion point position error of the digital reproduction signal) is minimized by using a reference disk which is not scratched experimentally. The rotation mode and the servo parameters are set so that the random error is minimized.
【００１１】次に、エラーの原因が不規則な振動等によ
るサーボ外れにあるという想定のもとに、フォーカス、
トラック、およびスピンドル等のサーボゲイン、あるい
はスピンドルの回転数を変えて、エラー区間を読み直す
ためにシーク動作をふたたび行う（Ｓ３５）。Next, on the assumption that the error is caused by servo deviation due to irregular vibration or the like, the focus,
The seek operation is performed again in order to read the error section again by changing the servo gain of the track and the spindle or the number of revolutions of the spindle (S35).
【００１２】次に、該当領域を再生し、正常に再生する
ことができたか判別する（Ｓ３６）。その結果、正常再
生ができなければ次のステップ３７にジャンプし、「再
生不能」として処理する（Ｓ３７）。また、正常再生が
できれば別途ステップ３８へジャンプし、回転モードや
サーボパラメータを元に戻して通常の再生処理を再開す
る（Ｓ３８）。Next, the corresponding area is reproduced, and it is determined whether or not the reproduction was successful (S36). As a result, if normal reproduction cannot be performed, the process jumps to the next step 37, and processes as "reproduction impossible" (S37). If the normal reproduction can be performed, the process jumps to step 38 separately, and returns the rotation mode and the servo parameters to the original state, and resumes the normal reproduction process (S38).
【００１３】[0013]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来のリトライ処理では、再生できなかった領域が光デ
ィスクの傷によるピットのつぶれが原因となっている場
合、リトライ処理によってもほとんど再生に成功する可
能性がなかった。その様子を図に従って説明する。However, in the above-described conventional retry processing, when the area that could not be reproduced is caused by pit collapse due to a scratch on the optical disk, the reproduction can be almost succeeded even by the retry processing. There was no sex. This will be described with reference to the drawings.
【００１４】図１４は傷のある領域を再生したときの再
生波形例を示す図である。ここで、各波形につけた信号
名、ＲＦＤＣ（信号Ａ）、ＲＦＡＣ（信号Ｂ）、ＥＦＭ
（信号Ｃ）はそれぞれ図１１の各回路図に対応した信号
となっており、信号名Ｃ２ＰＯは検出されたＥＦＭ信号
に対してエラー訂正回路によりエラー訂正を施したが、
訂正しきれず訂正不能状態となった（高レベルが訂正不
能状態を表す）ことを示す信号である。FIG. 14 is a diagram showing an example of a reproduced waveform when a damaged area is reproduced. Here, the signal name, RFDC (signal A), RFAC (signal B), EFM assigned to each waveform
(Signal C) is a signal corresponding to each circuit diagram of FIG. 11, and the signal name C2PO is obtained by performing error correction on the detected EFM signal by the error correction circuit.
This signal indicates that the correction has not been completed and has become in the uncorrectable state (a high level indicates the uncorrectable state).
【００１５】光ディスクに傷領域が存在すると再生信号
ＲＦＤＣ（信号Ａ）には反射光量が低下した領域が発生
する。交流結合回路５１は回路に固有の時定数でもって
入力信号の平均値が０となるように動作する。そのため
傷領域通過に伴って図のように傷区間だけでなくその後
のある時間波形ＲＦＡＣ（信号Ｂ）がうねる区間が発生
する。従って、その間正常なデータ信号波形ＥＦＭ信号
（信号Ｃ）が生成できず、バーストエラー区間が発生す
る。もともとの傷区間（Ｔ１）自体は光ディスク装置制
御用のＬＳＩのエラー訂正能力範囲内であっても、正常
検出できない区間（Ｔ２）を含めると訂正能力範囲（Ｔ
ＥＣＣ）を越えたエラーとなり、Ｃ２ＰＯ信号が出力さ
れデータが欠けるという問題点を有していた。If a scratch area exists on the optical disk, an area where the amount of reflected light is reduced occurs in the reproduction signal RFDC (signal A). The AC coupling circuit 51 operates so that the average value of the input signal becomes 0 with a time constant unique to the circuit. As a result, not only the wound section but also a section in which the subsequent time waveform RFAC (signal B) undulates as shown in FIG. Therefore, during this time, a normal data signal waveform EFM signal (signal C) cannot be generated, and a burst error section occurs. Even if the original flaw section (T1) itself is within the error correction capability range of the LSI for controlling the optical disk device, if the section (T2) where normal detection is not possible is included, the correction capability range (T1) is included.
(ECC), the C2PO signal is output and data is lost.
【００１６】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、光ディスクにピットつぶれ領域が存在してもデータ
再生用の論理処理回路が有する最小限のバーストエラー
区間でデータ欠損を抑えてデータ再生を可能とする光デ
ィスク再生方法及び光ディスク装置を提供することを目
的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems. Even if a pit collapse area exists on an optical disc, data reproduction is suppressed by minimizing data loss in a minimum burst error section of a data processing logic processing circuit. It is an object of the present invention to provide an optical disk reproducing method and an optical disk apparatus that enable the reproduction.
【００１７】[0017]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の光ディスク装置は、光ビームを光ディスクに
照射しその反射光を電気信号に変換する光学ユニット
と、光学ユニットから得られた信号を増幅してアナログ
再生信号を出力する再生信号検出手段と、再生信号から
所定の時定数で信号を分離してディジタル再生信号を生
成する２値化回路とを有し、再生エラーの場合は時定数
を短くしてリトライ処理する可変時定数再生手段を備え
ることを特徴とするものである。In order to achieve this object, an optical disk apparatus according to the present invention comprises an optical unit for irradiating an optical disk with a light beam and converting the reflected light into an electric signal, and a signal obtained from the optical unit. A reproduction signal detecting means for amplifying the signal and outputting an analog reproduction signal, and a binarizing circuit for generating a digital reproduction signal by separating the signal from the reproduction signal with a predetermined time constant. A variable time constant reproducing means for performing a retry process by shortening the constant is provided.
【００１８】[0018]
【発明の実施の形態】本発明の請求項１から請求項４に
記載の発明は、符号化された情報信号がピット列として
記録された光ディスクに光ビームを照射し、その反射光
から情報信号を再生する光ディスク再生方法及び光ディ
スク装置であって、再生されたアナログ情報信号を増幅
し、所定の時定数で信号を分離してデジタル再生信号を
生成する２値化手段と、生成されたデジタル再生信号に
エラーが存在するとエラー訂正を試み、そのエラー訂正
が不可能となった場合に、光ディスクのエラーが存在す
る領域を再び再生する処理を行うリトライ処理手段とを
有し、２値化手段は時定数を切り替える時定数可変再生
手段を含み、リトライ処理手段を実行する際に、時定数
可変再生手段の時定数を短く切り替えることを特徴と
し、特に、２値化手段はアナログ再生信号を交流結合す
る交流結合回路を有し、時定数可変再生手段が交流結合
回路の時定数であり、あるいは、２値化手段はアナログ
再生信号を後述するしきい値と比較する比較器と、比較
器の出力の低域成分を取り出す低域通過フィルタと、低
域通過フィルタの出力を増幅する増幅器とを有し、増幅
器の出力をしきい値とすると共に、時定数可変再生手段
が低域通過フィルタの時定数である事としたものであ
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claims 1 to 4 of the present invention irradiates a light beam on an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit row, and outputs the information signal from the reflected light. An optical disc reproducing method and an optical disc apparatus for reproducing a digital signal, comprising: amplifying a reproduced analog information signal; separating a signal by a predetermined time constant to generate a digital reproduced signal; Retry processing means for performing error correction when an error is present in the signal, and when the error correction becomes impossible, performing processing for reproducing the area of the optical disk where the error is present again; A time constant variable reproducing means for switching the time constant, wherein the time constant of the time constant variable reproducing means is changed to a short time when executing the retry processing means; Has an AC coupling circuit for AC coupling the analog reproduction signal, and the time constant variable reproducing means is the time constant of the AC coupling circuit, or the binarizing means is a comparator for comparing the analog reproduction signal with a threshold value described later. , A low-pass filter for extracting a low-frequency component of the output of the comparator, and an amplifier for amplifying the output of the low-pass filter. Is the time constant of the low-pass filter.
【００１９】従って、光ディスクのビットつぶれ（傷）
が原因でその領域のデータが再生不能状態となることを
大幅に改善することができる。Therefore, bit crushing (scratch) of the optical disk
It is possible to greatly improve that data in the area becomes unreproducible due to the above.
【００２０】本発明の請求項５から請求項７に記載の発
明は、符号化された情報信号がピット列として記録され
た光ディスクに光ビームを照射し、その反射光から情報
信号を再生する光ディスク装置であって、再生されたア
ナログ情報信号を増幅し、所定の時定数で信号を分離し
てデジタル再生信号を生成する２値化手段と、再生信号
の低域成分の変動から光ディスクの傷の領域を検出する
傷領域検出手段とを有し、傷領域検出手段が傷の領域を
検出した場合、傷領域中または傷領域と傷領域の通過後
一定時間に、時定数を短く切り替えることを特徴とし、
特に、２値化手段はアナログ再生信号を交流結合する交
流結合回路を有し、時定数が交流結合回路の時定数であ
り、あるいは、２値化手段はアナログ再生信号を後述す
るしきい値と比較する比較器と、比較器の出力の低域成
分を取り出す低域通過フィルタと、低域通過フィルタの
出力を増幅する増幅器とを有し、増幅器の出力を前述の
しきい値とすると共に、時定数可変再生手段が低域通過
フィルタの時定数である事としたものである。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an optical disk for irradiating an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit string with a light beam and reproducing the information signal from the reflected light. A binarizing means for amplifying a reproduced analog information signal and separating the signal with a predetermined time constant to generate a digital reproduction signal; and a flaw in an optical disk due to a change in a low-frequency component of the reproduction signal. A flaw area detecting means for detecting the area, wherein when the flaw area detecting means detects the flaw area, the time constant is switched to a shorter time constant in the flaw area or at a certain time after passing the flaw area and the flaw area. age,
In particular, the binarizing means has an AC coupling circuit for AC coupling the analog reproduction signal, and the time constant is the time constant of the AC coupling circuit. A comparator to be compared, a low-pass filter that extracts a low-frequency component of the output of the comparator, and an amplifier that amplifies the output of the low-pass filter, and the output of the amplifier is set to the above-described threshold, The time constant variable reproducing means is a time constant of a low-pass filter.
【００２１】従って、光ディスクのビットつぶれ（傷）
が原因でその領域のデータが再生不能状態となることを
大幅に改善することができる。Therefore, bit crushing (scratch) of the optical disk
It is possible to greatly improve that data in the area becomes unreproducible due to the above.
【００２２】以下、本発明の実施の形態について図に基
づいて説明する。 （実施の形態１）図１は本発明の実施の形態１における
２値化回路図である。図１において、１１は入力された
アナログ再生信号ＲＦＤＣ（信号Ａ）のＤＣ成分を制御
された時定数で取り除くことができる時定数可変機能付
きの交流結合回路、１２は交流結合回路１１の出力ＲＦ
ＡＣ（信号Ｂ）の信号レベルと後述の比較レベルＶＳＬ
との大小を比較する比較器、１３は比較器出力ＥＦＭ
（信号Ｃ）を所定の時定数で低域周波数成分を取り出す
低域通過フィルタ、１４は低域通過フィルタの出力（信
号Ｄ）を増幅する増幅器、そして、増幅器１４の出力Ｖ
ＳＬ（信号Ｅ）を比較器１４の前述の比較レベルとす
る。１５はデータ再生不能の場合に時定数可変機能付き
の交流結合回路１１に時定数を切り替える指令を出力す
る指令器である。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. (Embodiment 1) FIG. 1 is a diagram of a binarization circuit according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes an AC coupling circuit having a time constant variable function capable of removing a DC component of an input analog reproduction signal RFDC (signal A) with a controlled time constant, and 12 denotes an output RF of the AC coupling circuit 11.
AC (signal B) signal level and a later-described comparison level VSL
13 is a comparator output EFM.
A low-pass filter for extracting a low-frequency component from (signal C) with a predetermined time constant, an amplifier 14 amplifies the output (signal D) of the low-pass filter, and an output V of the amplifier 14
Let SL (signal E) be the comparison level of the comparator 14 described above. Reference numeral 15 denotes a command device that outputs a command to switch the time constant to the AC coupling circuit 11 having a function of changing the time constant when data cannot be reproduced.
【００２３】図２は本発明の実施の形態１におけるリト
ライ処理のフローチャート、図３は図１の動作を説明す
る波形図である。以上のように構成された本発明の実施
の形態１における２値化回路について、傷によるリトラ
イが発生した場合の動作を説明する。FIG. 2 is a flowchart of the retry process according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. The operation of the binarization circuit configured as described above according to the first embodiment of the present invention when a retry due to a flaw occurs will be described.
【００２４】まず、従来のような光ディスクの傷の領域
が存在し訂正不能状態となると、本発明のリトライ処理
を開始する。即ち、指令器１５はその再生動作におい
て、エラー訂正を行ったが訂正不能状態となり、リトラ
イ処理を開始する（Ｓ１１）。First, when a scratched area of the optical disk as in the prior art exists and cannot be corrected, the retry processing of the present invention is started. That is, in the reproducing operation, the command unit 15 makes an error correction but cannot correct the error, and starts the retry process (S11).
【００２５】指令器１５は時定数可変機能付きの交流結
合回路１１に短い時定数となるように時定数切り替え指
令を出力する（Ｓ１２）。例えば、図１の２値化回路図
において時定数切り替え指令に基づき接点が解放され、
並列接続された入力コンデンサの合成容量が減少する。
その結果、図３に示すように、交流結合回路１１は通常
再生時よりも短い時定数でもって入力信号ＲＦＤＣ（図
３の信号Ａ）の平均値が０となるように動作するので、
交流結合回路１１の出力ＲＦＡＣ（図３の信号Ｂ）の傷
領域通過直後の「うねり区間」を通常再生時よりも短く
することができる。The command device 15 outputs a time constant switching command to the AC coupling circuit 11 having a function of changing the time constant so as to have a short time constant (S12). For example, in the binarization circuit diagram of FIG. 1, the contact is released based on a time constant switching command,
The combined capacitance of the input capacitors connected in parallel decreases.
As a result, as shown in FIG. 3, the AC coupling circuit 11 operates so that the average value of the input signal RFDC (signal A in FIG. 3) becomes 0 with a time constant shorter than that during normal reproduction.
The “swell section” immediately after the output RFAC (signal B in FIG. 3) of the AC coupling circuit 11 has passed through the flaw area can be made shorter than at the time of normal reproduction.
【００２６】従って、従来の例で図１４の信号Ｃに比較
すると明らかなように、図３の信号Ｃにおいて、再生デ
ータが正常検出できない区間（Ｔ２）を、極力短くでき
るので、もともとの傷区間（Ｔ１）が十分にデータ再生
用の論理処理回路のバーストエラー訂正能力範囲内であ
れば、 Ｔ１＋Ｔ２≦ＴＥＣＣ を満たし（図３の信号Ｃ）、信号名Ｃ２ＰＯも発生する
ことなく、正常データとして出力できるようになる。Therefore, as is clear from the comparison with the signal C in FIG. 14 in the conventional example, the section (T2) in which the reproduced data cannot be normally detected can be shortened as much as possible in the signal C in FIG. If (T1) is sufficiently within the range of the burst error correction capability of the data processing logic processing circuit, T1 + T2 ≦ TECC is satisfied (signal C in FIG. 3), and the signal name is output as normal data without generating the signal name C2PO. become able to.
【００２７】次に、光ピックアップを再生エラー区間に
シークさせる（Ｓ１３）。該当領域を再生し、正常に再
生することができたか判別する（Ｓ１４）。その結果、
正常再生ができなければ次のステップ１５に、正常再生
ができれば別途ステップ１８へジャンプする。Next, the optical pickup is sought in a reproduction error section (S13). The corresponding area is reproduced, and it is determined whether or not the area has been reproduced normally (S14). as a result,
If normal reproduction cannot be performed, the process jumps to the next step 15;
【００２８】次にステップ１５では、回転モードまたは
サーボパラメータを変更する。この変更過程は従来の技
術における図１２のステップ３４に説明したものと同様
であって、回転モードやサーボパラメータが設定される
（Ｓ１５）。Next, at step 15, the rotation mode or servo parameters are changed. This change process is the same as that described in step 34 of FIG. 12 in the prior art, and a rotation mode and servo parameters are set (S15).
【００２９】こうして、フォーカス、トラック、および
スピンドル等のサーボゲイン、あるいはスピンドルの回
転数を変えて、エラー区間を読み直すためにシーク動作
をふたたび行う（Ｓ１６）。In this way, the seek operation is performed again in order to read the error section again by changing the servo gain of the focus, track, spindle, etc., or the rotational speed of the spindle (S16).
【００３０】次に、該当領域を再生し、正常に再生する
ことができたか判別する（Ｓ１７）。その結果、正常再
生ができなければ次のステップ１９にジャンプし、「再
生不能」として処理する（Ｓ１９）。また、正常再生が
できれば別途ステップ１８へジャンプし、回転モードや
サーボパラメータを元に戻して通常の再生処理を再開す
る（Ｓ１８）。Next, the corresponding area is reproduced, and it is determined whether or not the area has been reproduced normally (S17). As a result, if normal reproduction cannot be performed, the process jumps to the next step 19, where the reproduction is disabled (S19). If the normal reproduction can be performed, the process jumps to step 18 separately, returns the rotation mode and the servo parameters to the original state, and resumes the normal reproduction process (S18).
【００３１】こうして本発明によって実使用時、光ディ
スクの傷が原因となったリトライ処理をしても失敗する
確率を大幅に改善することができる。As described above, according to the present invention, the probability of failure in retry processing due to scratches on the optical disk during actual use can be greatly improved.
【００３２】（実施の形態２）図４は本発明の実施の形
態２における２値化回路図である。図４において、２１
は入力されたアナログ再生信号ＲＦＤＣ（信号Ａ）のＤ
Ｃ成分を所定の時定数で取り除く交流結合回路、２２は
交流結合回路２１の出力ＲＦＡＣ（信号Ｂ）と後述する
比較レベルＶＳＬの大小を比較する比較器、２３は比較
器２２の出力ＥＦＭ（信号Ｃ）から制御された時定数で
低域成分を取り出すことができる時定数可変機能付きの
低域通過フィルタ、２４は時定数可変機能付きの低域通
過フィルタ２３の出力（信号Ｄ）を増幅する増幅器、そ
して、増幅器２４の出力ＶＳＬ（信号Ｅ）を比較器２２
の前述の比較レベルＶＳＬとする。２５はデータ再生不
能の時に時定数可変機能付きの低域通過フィルタ２３に
時定数切り替え指令を出力する指令器である。(Embodiment 2) FIG. 4 is a diagram of a binarization circuit according to Embodiment 2 of the present invention. In FIG.
Is D of the input analog reproduction signal RFDC (signal A).
An AC coupling circuit that removes the C component with a predetermined time constant, 22 is a comparator that compares the output RFAC (signal B) of the AC coupling circuit 21 with a comparison level VSL described later, and 23 is an output EFM (signal C) a low-pass filter with a variable time-constant function capable of extracting low-frequency components with a controlled time constant from step C), and 24 amplifies the output (signal D) of the low-pass filter 23 with a variable time-constant function. The output VSL (signal E) of the amplifier and the amplifier 24 is
Of the above-mentioned comparison level VSL. Reference numeral 25 denotes a command device that outputs a time constant switching command to the low-pass filter 23 with a time constant variable function when data cannot be reproduced.
【００３３】図５は図４の動作を説明する波形図であ
る。以上のように構成された本発明の実施の形態２にお
ける２値化回路について、傷によるリトライ処理が発生
した場合の動作を説明する。なお、リトライ処理のシー
ケンスは実施の形態１と同様であるから、図２に示すフ
ローチャートで動作するものとし、フローチャート全体
の説明の繰り返しを省略し、時定数を切り替える過程を
中心に説明する。FIG. 5 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. The operation of the binarization circuit configured as described above according to the second embodiment of the present invention when a retry process due to a flaw occurs will be described. Since the sequence of the retry process is the same as that of the first embodiment, it is assumed that the operation is performed according to the flowchart shown in FIG. 2, and the description of the entire flowchart will be omitted, and the process of switching the time constant will be mainly described.
【００３４】まず、従来例に示したような光ディスクの
傷領域が存在し訂正不能状態になると、本実施の形態２
に示すリトライシーケンスを開始する。指令器２５から
時定数可変機能付きの低域通過フィルタ２３に短い時定
数となるよう時定数切り替え指令が出力される。例え
ば、図４の２値化回路図において、時定数切り替え指令
に基づき接点が解放され、並列接続された入力コンデン
サの合成容量が減少する。First, when a scratched area of the optical disk as shown in the conventional example exists and cannot be corrected, the second embodiment is performed.
The retry sequence shown in (1) is started. The command device 25 outputs a time constant switching command to the low-pass filter 23 with a time constant variable function so as to have a short time constant. For example, in the binarization circuit diagram of FIG. 4, the contacts are released based on the time constant switching command, and the combined capacitance of the input capacitors connected in parallel decreases.
【００３５】その結果、図５に示すように、時定数可変
機能付きの低域通過フィルタ２３は通常再生時よりも短
い時定数でもって比較器２２の出力ＥＦＭ（信号Ｃ）か
ら低域成分を取り出し、入力信号の平均値に追従するよ
うに動作するので、傷領域通過後のうねり区間におい
て、比較レベルＶＳＬの整定時間を通常再生時よりも短
くすることができる。従って、従来例で示したところの
再生データが正常検出できない区間（Ｔ２）を極力短く
できるので、もともとの傷区間（Ｔ１）が十分にデータ
再生用の論理処理回路のバーストエラー訂正能力範囲内
であれば Ｔ１＋Ｔ２≦ＴＥＣＣ を満たし、正常データとして出力できるようになる。As a result, as shown in FIG. 5, the low-pass filter 23 having the function of changing the time constant has a time constant shorter than that at the time of normal reproduction, and converts the low-frequency component from the output EFM (signal C) of the comparator 22. Since it operates so as to follow the average value of the input signal, the settling time of the comparison level VSL can be made shorter in the swell section after passing through the flaw area than in the normal reproduction. Therefore, since the section (T2) in which the reproduced data cannot be normally detected as shown in the conventional example can be shortened as much as possible, the original damaged section (T1) can be sufficiently set within the range of the burst error correction capability of the data processing logic processing circuit. If it is, T1 + T2 ≦ TECC is satisfied, and the data can be output as normal data.
【００３６】こうして本発明によって実使用時、光ディ
スクの傷が原因となったリトライ処理をしても失敗する
確率を大幅に改善することができる。As described above, according to the present invention, the probability of failure in retry processing due to scratches on the optical disk during actual use can be greatly improved.
【００３７】（実施の形態３）図６は本発明の実施の形
態３における２値化回路図である。図６において、３１
は入力されたアナログ再生信号ＲＦＤＣ（信号Ａ）のＤ
Ｃ成分を制御された時定数で取り除くことができる時定
数可変機能付きの交流結合回路、３２は時定数可変機能
付きの交流結合回路３１の出力ＲＦＡＣ（信号Ｂ）と所
定の比較レベルＶＳＬ１の大小を比較する比較器、３３
は比較器３２の出力ＥＦＭ（信号Ｃ）を所定の時定数で
低域成分を取り出す第１の低域通過フィルタ、３４は第
１の低域通過フィルタ３３の出力を増幅する増幅器であ
って、増幅器３４の出力を前述の比較レベルＶＳＬ１と
する。３５はアナログ再生信号ＲＦＤＣ（信号Ａ）から
所定の時定数で低域成分を取り出す第２の低域通過フィ
ルタ、３６は第２の低域通過フィルタ３５の出力ＲＦＥ
ＮＶ（信号Ｄ）を所定の固定レベルＶＳＬ２と比較する
固定レベル比較器（傷領域検出手段）、３７は指令器で
あって、固定レベル比較器３６の出力ＤＦＣＴ（信号
Ｅ）を受けて傷領域検出時に時定数可変機能付きの交流
結合回路３１に時定数切り替え指令Ｓ１を出力する。(Embodiment 3) FIG. 6 is a diagram of a binarization circuit according to Embodiment 3 of the present invention. In FIG. 6, 31
Is D of the input analog reproduction signal RFDC (signal A).
An AC coupling circuit with a variable time constant function capable of removing the C component with a controlled time constant. Reference numeral 32 denotes a magnitude of the output RFAC (signal B) of the AC coupling circuit 31 with the variable time constant function and a predetermined comparison level VSL1. Comparator 33
Is a first low-pass filter for extracting a low-frequency component from the output EFM (signal C) of the comparator 32 with a predetermined time constant, 34 is an amplifier for amplifying the output of the first low-pass filter 33, The output of the amplifier 34 is set to the aforementioned comparison level VSL1. Reference numeral 35 denotes a second low-pass filter that extracts low-frequency components from the analog reproduction signal RFDC (signal A) with a predetermined time constant, and reference numeral 36 denotes an output RFE of the second low-pass filter 35.
A fixed level comparator (flaw area detecting means) 37 for comparing the NV (signal D) with a predetermined fixed level VSL2 is a commander, and receives a DFCT (signal E) output from the fixed level comparator 36 to generate a damaged area. At the time of detection, a time constant switching command S1 is output to the AC coupling circuit 31 with a time constant variable function.
【００３８】図７は本発明の実施の形態３におけるリト
ライ処理のフローチャート、図８は図６の動作を説明す
る波形図である。以上のように構成された本発明の実施
の形態３における２値化回路について図に基づいてその
動作を説明する。FIG. 7 is a flowchart of a retry process according to the third embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. The operation of the binarization circuit configured as above according to the third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
【００３９】まず、光ディスクの再生処理中（Ｓ２１）
において、従来例に示したようなディスクの傷領域が存
在すると、固定レベル比較器３６の出力ＤＦＣＴ（信号
Ｅ）が高レベル（High）となる。そこで、出力ＤＦＣＴ
（信号Ｅ）が高レベル（High）かどうか判定する（Ｓ２
２）。高レベル（High）であれば次のステップ２３へ、
高レベル（High）でなければステップ２７へ進む。First, during the reproduction process of the optical disk (S21)
In this case, when there is a scratch area on the disk as shown in the conventional example, the output DFCT (signal E) of the fixed level comparator 36 becomes high level (High). Therefore, output DFCT
It is determined whether (signal E) is at a high level (High) (S2).
2). If the level is high, go to the next step 23,
If it is not high, the process proceeds to step 27.
【００４０】ステップ２３において、出力ＤＦＣＴ（信
号Ｅ）が高レベルであることに基づいて、指令器３７か
ら時定数可変機能付きの交流結合回路３１に、傷領域時
間（ＴＤ１）もしくは傷領域時間にその通過後一定時間
（ＴＤ２）を含めた時間（ＴＤ１＋ＴＤ２）、時定数切
り替え指令が出力される。例えば、図６の２値化回路図
において時定数切り替え指令に基づき交流結合回路３１
の接点が解放され、並列接続された入力コンデンサの合
成容量が減少する。その結果、図８に示すように、交流
結合回路３１は通常再生時よりも短い時定数でもって入
力信号ＲＦＤＣ（図８の信号Ａ）の平均値が０となるよ
うに動作するので、交流結合回路３１の出力ＲＦＡＣ
（図８の信号Ｂ）の傷領域通過直後の「うねり区間」を
通常再生時よりも短くすることができる。In step 23, based on the output DFCT (signal E) being at a high level, the commander 37 sends the signal to the AC coupling circuit 31 having a function of changing the time constant to the flaw area time (TD1) or flaw area time. A time constant switching command is output for a time (TD1 + TD2) including a certain time (TD2) after the passage. For example, in the binarization circuit diagram of FIG.
Are released, and the combined capacitance of the input capacitors connected in parallel decreases. As a result, as shown in FIG. 8, the AC coupling circuit 31 operates so that the average value of the input signal RFDC (signal A in FIG. 8) becomes 0 with a time constant shorter than that at the time of normal reproduction. Output RFAC of circuit 31
The “undulation section” immediately after the signal (signal B in FIG. 8) has passed through the flaw area can be made shorter than at the time of normal reproduction.
【００４１】従って、従来例で示したところの再生デー
タが正常検出できない区間（Ｔ２）を極力短くできるの
で、もともとの傷区間（Ｔ１）が十分にデータ再生用の
論理処理回路のバーストエラー訂正能力範囲内であれば Ｔ１＋Ｔ２≦ＴＥＣＣ を満たし、正常データとして再生することができる（Ｓ
２３）。Accordingly, the section (T2) in which the reproduced data cannot be normally detected as shown in the conventional example can be shortened as much as possible, so that the original damaged section (T1) can sufficiently reduce the burst error correction capability of the data processing logic processing circuit. Within the range, T1 + T2 ≦ TECC is satisfied, and the data can be reproduced as normal data (S
23).
【００４２】こうして、データの再生が再開されると、
固定レベル比較器３６の出力ＤＦＣＴ（信号Ｅ）が低レ
ベル（Low ）となる。そこで、出力ＤＦＣＴ（信号Ｅ）
が低レベル（Low ）かどうか判定する（Ｓ２４）。そし
て、低レベル（Low ）であれば次のステップ２５へ、高
レベル（High）であれば低レベル（Low ）になるまで待
機する。Thus, when the reproduction of the data is resumed,
The output DFCT (signal E) of the fixed level comparator 36 becomes low level (Low). Therefore, the output DFCT (signal E)
Is low level (Low) (S24). If the level is low (Low), the process proceeds to the next step 25. If the level is high (High), the process waits until the level becomes low (Low).
【００４３】次に、ステップ２５において、傷領域の通
過後一定時間（ＴＤ２）を経過したかどうか判定する
（Ｓ２５）。一定時間（ＴＤ２）が経過すると、次のス
テップ２６へ進む。Next, in step 25, it is determined whether or not a predetermined time (TD2) has passed after passing through the wound area (S25). When the predetermined time (TD2) has elapsed, the process proceeds to the next step 26.
【００４４】傷領域を通過した後は正常な領域から正常
な再生信号が得られることが期待できるので、通常の２
値化回路で再生をするため、時定数切り替え指令を解除
し入力コンデンサを通常の並列接続にして時定数を元に
戻す（Ｓ２６）。After passing through the flaw area, a normal reproduction signal can be expected to be obtained from a normal area.
In order to perform the reproduction by the value conversion circuit, the time constant switching command is released, and the input capacitor is connected in a normal parallel connection to restore the time constant (S26).
【００４５】こうして、次の処理へ進む（Ｓ２７）。以
上のように本発明によれば、傷が原因となったリトライ
処理を失敗する確率を大幅に改善することができ、正常
データとして再生し、出力できるようになる。Thus, the process proceeds to the next process (S27). As described above, according to the present invention, the probability of failure in retry processing due to flaws can be significantly improved, and data can be reproduced and output as normal data.
【００４６】（実施の形態４）図９は本発明の実施の形
態４における２値化回路図である。図９において、４１
は入力されたアナログ再生信号ＲＦＤＣ（信号Ａ）のＤ
Ｃ成分を所定の時定数で取り除く交流結合回路、４２は
交流結合回路４１の出力ＲＦＡＣ（信号Ｂ）と後述する
比較レベルＶＳＬとの大小を比較する比較器、４３は比
較器４２の出力ＥＦＭ（信号Ｃ）から異なる時定数で低
域成分を取り出すことができる時定数切り替え機能付き
の低域通過フィルタ、４４は低域通過フィルタ４３の出
力を増幅する増幅器、そして、増幅器４４の出力を前述
の比較器４２の比較レベルＶＳＬ１とする。４５はアナ
ログ再生信号ＲＦＤＣ（信号Ａ）から第２の所定の時定
数で低域成分を取り出す第２の低域通過フィルタ、４６
は第２の低域通過フィルタ４５の出力ＲＦＥＮＶ（信号
Ｄ）を所定の固定レベルＶＳＬ２と比較する固定レベル
比較器（傷領域検出手段）、４７は固定レベル比較器４
６の出力ＤＦＣＴ（信号Ｅ）を受けて、傷領域検出時に
時定数可変機能付き低域通過フィルタ４３に時定数切り
替え指令Ｓ１を出力する指令器である。(Embodiment 4) FIG. 9 is a diagram of a binarization circuit according to Embodiment 4 of the present invention. In FIG. 9, 41
Is D of the input analog reproduction signal RFDC (signal A).
An AC coupling circuit that removes the C component with a predetermined time constant, 42 is a comparator that compares the magnitude of an output RFAC (signal B) of the AC coupling circuit 41 with a comparison level VSL described later, and 43 is an output EFM ( A low-pass filter with a time constant switching function capable of extracting low-frequency components from the signal C) with different time constants, an amplifier 44 amplifies the output of the low-pass filter 43, and an output of the amplifier 44 as described above. The comparison level of the comparator 42 is VSL1. 45, a second low-pass filter for extracting low-frequency components from the analog reproduction signal RFDC (signal A) with a second predetermined time constant;
Is a fixed level comparator (flaw area detecting means) for comparing the output RFENV (signal D) of the second low-pass filter 45 with a predetermined fixed level VSL2, and 47 is a fixed level comparator 4
6 is a commander that receives the output DFCT (signal E) and outputs a time constant switching command S1 to the low-pass filter 43 with a time constant variable function when a flaw area is detected.
【００４７】以上のように構成された本発明の第４の実
施の形態の２値化回路について、傷領域を通過した時の
実際の動作を、図１０の波形図を用いて説明する。図１
０は図９の動作を説明する波形図である。The operation of the binarization circuit according to the fourth embodiment of the present invention configured as described above when passing through the flaw area will be described with reference to the waveform diagram of FIG. FIG.
0 is a waveform diagram illustrating the operation of FIG.
【００４８】なお、傷領域を通過した時の実際の動作は
第３の実施の形態と同様であるから図７に示した第３の
実施の形態のフローチャートに準じて説明し、その詳細
ステップは重複するので省略する。Since the actual operation when passing through the flaw area is the same as that of the third embodiment, it will be described according to the flowchart of the third embodiment shown in FIG. The description is omitted because it is duplicated.
【００４９】まず、従来例に示したようなディスクの傷
領域が存在すると、固定レベル比較器４６の出力ＤＦＣ
Ｔ（信号Ｅ）が高レベル（High）となる。この高レベル
のＤＦＣＴ（信号Ｅ）を受けて、時定数可変機能付きの
低域通過フィルタ４３に、傷領域時間（ＴＤ１）もしく
は傷領域時間にその通過後一定時間（ＴＤ２）を含めた
時間（ＴＤ１＋ＴＤ２）、時定数切り替え指令が出力さ
れる。例えば、図９の２値化回路図において時定数切り
替え指令に基づき低域通過フィルタ４３の接点が解放さ
れ、並列接続された入力コンデンサの合成容量が減少す
る。First, when there is a scratch area on the disk as shown in the conventional example, the output DFC of the fixed level comparator 46 is output.
T (signal E) becomes high level (High). In response to the high-level DFCT (signal E), the low-pass filter 43 with a function of changing the time constant includes a wound area time (TD1) or a wound area time including a fixed time (TD2) after the passage (TD2). TD1 + TD2), a time constant switching command is output. For example, in the binarization circuit diagram of FIG. 9, the contact of the low-pass filter 43 is released based on the time constant switching command, and the combined capacitance of the input capacitors connected in parallel decreases.
【００５０】その結果、図１０に示すように、時定数可
変機能付きの低域通過フィルタ４３は通常再生時よりも
短い時定数でもって比較器４２の出力ＥＦＭ（信号Ｃ）
から低域成分を取り出し、入力信号の平均値に追従する
ように動作するので、傷領域通過後のうねり区間におい
て、比較レベルＶＳＬ１の整定時間を通常再生時よりも
短くすることができる。従って、従来例で示したところ
の再生データが正常検出できない区間（Ｔ２）を極力短
くできるので、もともとの傷区間（Ｔ１）が十分にデー
タ再生用の論理処理回路のバーストエラー訂正能力範囲
内であれば Ｔ１＋Ｔ２≦ＴＥＣＣ を満たし、正常データとして出力できるようになる。As a result, as shown in FIG. 10, the low-pass filter 43 having the function of changing the time constant has a time constant shorter than that during the normal reproduction, so that the output EFM (signal C) of the comparator 42 is obtained.
, And operates so as to follow the average value of the input signal, so that the settling time of the comparison level VSL1 in the swell section after passing through the flaw area can be shorter than that in the normal reproduction. Therefore, since the section (T2) in which the reproduced data cannot be normally detected as shown in the conventional example can be shortened as much as possible, the original damaged section (T1) can be sufficiently set within the range of the burst error correction capability of the data processing logic processing circuit. If it is, T1 + T2 ≦ TECC is satisfied, and the data can be output as normal data.
【００５１】[0051]
【発明の効果】以上のように本発明による光ディスク装
置は、光ビームを光ディスクに照射しその反射光を電気
信号に変換する光学ユニットと、光学ユニットから得ら
れた信号を増幅してアナログ再生信号を出力する再生信
号検出手段と、再生信号からある時定数で信号を分離し
てディジタル再生信号を生成する２値化回路とを有し、
光ディスクのピットつぶれによって再生不能状態となっ
たときにＲＦ信号の検出時定数を短くして再生リトライ
を行うリトライ処理手段を備え、傷領域通過後の再生不
能区間を最小にすることができ、従って、光ディスクの
ビットつぶれ（傷）が原因でその領域のデータが再生不
能状態となることを大幅に改善することができ、データ
再生率の向上を図れる優れた光ディスク装置を提供する
ことができる。As described above, the optical disk apparatus according to the present invention comprises: an optical unit for irradiating an optical disk with a light beam and converting the reflected light into an electric signal; and an analog reproduction signal obtained by amplifying a signal obtained from the optical unit. And a binarization circuit for separating a signal from the reproduced signal by a certain time constant to generate a digital reproduced signal,
It is provided with retry processing means for shortening the detection time constant of the RF signal and performing reproduction retry when the reproduction becomes impossible due to the collapse of the pit of the optical disk, and the reproduction impossible section after passing through the flaw area can be minimized. In addition, it is possible to greatly improve that data in the area becomes unreproducible due to bit crushing (scratch) of the optical disk, and it is possible to provide an excellent optical disk device capable of improving the data reproduction rate.
【図１】本発明の実施の形態１における２値化回路図FIG. 1 is a diagram of a binarization circuit according to a first embodiment of the present invention.
【図２】本発明の実施の形態１におけるリトライ処理の
フローチャートFIG. 2 is a flowchart of a retry process according to the first embodiment of the present invention.
【図３】図１の動作を説明する波形図FIG. 3 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 1;
【図４】本発明の実施の形態２における２値化回路図FIG. 4 is a diagram showing a binarization circuit according to a second embodiment of the present invention;
【図５】図４の動作を説明する波形図FIG. 5 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 4;
【図６】本発明の実施の形態３における２値化回路図FIG. 6 is a diagram illustrating a binarization circuit according to a third embodiment of the present invention.
【図７】本発明の実施の形態３におけるリトライ処理の
フローチャートFIG. 7 is a flowchart of a retry process according to the third embodiment of the present invention.
【図８】図６の動作を説明する波形図FIG. 8 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 6;
【図９】本発明の実施の形態４における２値化回路図FIG. 9 is a diagram of a binarization circuit according to a fourth embodiment of the present invention.
【図１０】図９の動作を説明する波形図FIG. 10 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 9;
【図１１】光ディスク装置で使用される従来のデータ再
生用２値化回路図FIG. 11 is a diagram showing a conventional binarization circuit for data reproduction used in an optical disk device.
【図１２】図１１の各部の動作を説明する波形図FIG. 12 is a waveform chart illustrating the operation of each unit in FIG. 11;
【図１３】従来のリトライ処理のフローチャートFIG. 13 is a flowchart of a conventional retry process.
【図１４】傷のある領域を再生したときの再生波形例を
示す図FIG. 14 is a diagram showing an example of a reproduced waveform when a damaged area is reproduced.
１１、２１、３１、４１、５１ 交流結合回路 １２、２２、３２、４２、５２ 比較器 １３、２３、４３、５３ 低域通過フィルタ １４、２４、３４、４４、５４ 増幅器 １５、２５、３７、４７ 指令器 ３３ 第１の低域通過フィルタ ３５、４５ 第２の低域通過フィルタ ３６、４６ 固定レベル比較器 11, 21, 31, 41, 51 AC coupling circuit 12, 22, 32, 42, 52 Comparator 13, 23, 43, 53 Low-pass filter 14, 24, 34, 44, 54 Amplifier 15, 25, 37, 47 Commander 33 First low-pass filter 35, 45 Second low-pass filter 36, 46 Fixed level comparator
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Agency reference number FI Technical display location G11B 20/18 572 G11B 20/18 572F
Claims (7)
録された光ディスクに光ビームを照射し、その反射光か
ら情報信号を再生する光ディスク再生方法であって、再
生された情報信号を増幅し、所定の時定数で信号を分離
してデジタル再生信号を生成する２値化ステップと、生
成されたデジタル再生信号にエラーが存在するとエラー
訂正を試み、そのエラー訂正が不可能となった場合に、
光ディスクのエラーが存在する領域を再び再生するリト
ライ処理ステップとを有し、前記リトライ処理ステップ
において、所定の時定数をより短い時定数に切り替えて
前記２値化ステップを行うことを特徴とする光ディスク
再生方法。An optical disk reproducing method for irradiating an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit string with a light beam and reproducing the information signal from the reflected light, wherein the reproduced information signal is amplified. A binarizing step of separating a signal with a predetermined time constant to generate a digital reproduction signal, and attempting to correct an error if an error exists in the generated digital reproduction signal. If the error cannot be corrected, ,
A retry processing step of reproducing again an area of the optical disc where an error exists, wherein in the retry processing step, the binarizing step is performed by switching a predetermined time constant to a shorter time constant. Playback method.
録された光ディスクに光ビームを照射し、その反射光か
ら情報信号を再生する光ディスク装置であって、 再生されたアナログ情報信号を増幅し、所定の時定数で
信号を分離してデジタル再生信号を生成する２値化手段
と、生成されたデジタル再生信号にエラーが存在すると
エラー訂正を試み、そのエラー訂正が不可能となった場
合に、光ディスクのエラーが存在する領域を再び再生す
る処理を行うリトライ処理手段とを有し、前記２値化手
段は前記時定数を切り替える時定数可変再生手段を含
み、前記リトライ処理手段を実行する際に、前記時定数
可変再生手段の前記時定数を短く切り替えることを特徴
とする光ディスク装置。2. An optical disk device for irradiating an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit string with a light beam and reproducing the information signal from the reflected light, wherein the reproduced analog information signal is amplified. A binarizing means for separating a signal with a predetermined time constant to generate a digital reproduction signal, and performing error correction when an error exists in the generated digital reproduction signal, and when the error correction becomes impossible, And retry processing means for performing processing for reproducing the area of the optical disc where an error exists again. The binarizing means includes a time constant variable reproducing means for switching the time constant. An optical disk device, wherein the time constant of the variable time constant reproducing means is switched to a short time.
交流結合する交流結合回路を有し、前記時定数可変再生
手段が前記交流結合回路の時定数であることを特徴とす
る請求項２記載の光ディスク装置。3. The apparatus according to claim 2, wherein said binarizing means has an AC coupling circuit for AC coupling said analog reproduced signal, and said time constant variable reproducing means is a time constant of said AC coupling circuit. An optical disk device as described in the above.
後述するしきい値と比較する比較器と、前記比較器の出
力の低域成分を取り出す低域通過フィルタと、前記低域
通過フィルタの出力を増幅する増幅器とを有し、前記増
幅器の出力を前記しきい値とすると共に、前記時定数可
変再生手段が前記低域通過フィルタの時定数であること
を特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。4. The low-pass filter, wherein the binarizing means compares the analog reproduced signal with a threshold value described later, a low-pass filter for extracting a low-frequency component of an output of the comparator, and the low-pass filter. 3. An amplifier for amplifying the output of the amplifier, wherein the output of the amplifier is used as the threshold value, and the time constant variable reproducing means is a time constant of the low-pass filter. Optical disk device.
録された光ディスクに光ビームを照射し、その反射光か
ら情報信号を再生する光ディスク装置であって、 再生されたアナログ情報信号を増幅し、所定の時定数で
信号を分離してデジタル再生信号を生成する２値化手段
と、前記再生信号の低域成分の変動から光ディスクの傷
の領域を検出する傷領域検出手段とを有し、前記傷領域
検出手段が傷の領域を検出した場合、傷領域中または傷
領域と傷領域の通過後一定時間に、前記時定数を短く切
り替えることを特徴とする光ディスク装置。5. An optical disk device for irradiating an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit string with a light beam and reproducing the information signal from the reflected light, wherein the reproduced analog information signal is amplified. A binarizing unit that separates a signal with a predetermined time constant to generate a digital reproduction signal, and a flaw region detection unit that detects a flaw region of the optical disc from a change in a low-frequency component of the reproduction signal; An optical disk device, wherein when the flaw area detecting means detects a flaw area, the time constant is switched to a shorter time within the flaw area or for a predetermined time after passing through the flaw area and the flaw area.
交流結合する交流結合回路を有し、前記時定数が前記交
流結合回路の時定数であることを特徴とする請求項５記
載の光ディスク装置。6. An optical disk according to claim 5, wherein said binarizing means has an AC coupling circuit for AC coupling said analog reproduction signal, and said time constant is a time constant of said AC coupling circuit. apparatus.
後述するしきい値と比較する比較器と、前記比較器の出
力の低域成分を取り出す低域通過フィルタと、前記低域
通過フィルタの出力を増幅する増幅器とを有し、前記増
幅器の出力を前記しきい値とすると共に、前記時定数可
変再生手段が前記低域通過フィルタの時定数であること
を特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。7. A comparator for comparing the analog reproduction signal with a threshold value described later, a low-pass filter for extracting a low-frequency component of an output of the comparator, and the low-pass filter. 3. An amplifier for amplifying the output of the amplifier, wherein the output of the amplifier is used as the threshold value, and the time constant variable reproducing means is a time constant of the low-pass filter. Optical disk device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23630796A JPH1083625A (en) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | Optical disk reproducing method and optical disk device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23630796A JPH1083625A (en) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | Optical disk reproducing method and optical disk device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1083625A true JPH1083625A (en) | 1998-03-31 |
Family
ID=16998866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23630796A Pending JPH1083625A (en) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | Optical disk reproducing method and optical disk device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1083625A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2340554B (en) * | 1998-08-07 | 2002-07-03 | Ntn Toyo Bearing Co Ltd | Flywheel damper support |
-
1996
- 1996-09-06 JP JP23630796A patent/JPH1083625A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2340554B (en) * | 1998-08-07 | 2002-07-03 | Ntn Toyo Bearing Co Ltd | Flywheel damper support |
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