JPH1083625A - Optical disk reproducing method and optical disk device - Google Patents
Optical disk reproducing method and optical disk deviceInfo
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- JPH1083625A JPH1083625A JP23630796A JP23630796A JPH1083625A JP H1083625 A JPH1083625 A JP H1083625A JP 23630796 A JP23630796 A JP 23630796A JP 23630796 A JP23630796 A JP 23630796A JP H1083625 A JPH1083625 A JP H1083625A
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Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピューター等
に接続され、光ディスクにデータの記録、再生を行う光
ディスク再生方法及び光ディスク装置に関するものであ
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical disk reproducing method and an optical disk apparatus which are connected to a computer or the like and record and reproduce data on and from an optical disk.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、光ディスク装置が普及し、大量の
情報の記録再生装置として不可欠なものとなってきてい
る。光ディスクには、符号化されたデータが光ディスク
の反射面にピット列として、内周側から外周側の方向へ
渦状に連続的に記録されている。このように記録されて
いるデータ列をトラックと称する。再生時にはこのトラ
ックを光ピックアップがトレースすることによりデータ
の読み取りが行われる。そして、このピットはデータの
基本であるから光ディスクの規格に定められている。2. Description of the Related Art In recent years, optical disk devices have become widespread and have become indispensable as recording / reproducing devices for a large amount of information. On the optical disk, encoded data is continuously recorded in the form of pits on the reflection surface of the optical disk in a spiral manner from the inner circumference to the outer circumference. The data string recorded in this way is called a track. During reproduction, data is read by tracing this track with an optical pickup. Since these pits are the basis of data, they are defined in optical disc standards.
【0003】しかし、光ディスクのなかには規格を満足
しないものや、取扱いの乱雑さにより傷をつけてしまい
ピットをつぶしてしまったものも存在している。従っ
て、その規格はずれや傷の程度によっては通常の再生処
理ではピットのデータを再生できないケースが発生して
いる。そこで、光ディスク装置の全体制御で、再生でき
なかった領域について、なんらかの方法で再生を試みる
処理(リトライ処理)をソフトウェアに設けることが一
般的となってきている。以下、リトライ処理を含めた従
来の技術について説明する。[0003] However, some optical disks do not satisfy the standard, and some optical disks have been damaged due to messiness and pits have been crushed. Therefore, there are cases where the pit data cannot be reproduced by the normal reproduction process depending on the degree of deviation from the standard or the degree of flaw. Therefore, it has become common to provide software with a process (retry process) of attempting to reproduce an area that could not be reproduced by some method in the overall control of the optical disk device. Hereinafter, a conventional technique including a retry process will be described.
【0004】図11は光ディスク装置で使用される従来
のデータ再生用2値化回路の例を示す図、図12は図1
1の各部の動作を説明する波形図である。FIG. 11 is a diagram showing an example of a conventional binarizing circuit for data reproduction used in an optical disk device, and FIG.
3 is a waveform diagram illustrating the operation of each unit of FIG.
【0005】図12において、51は入力されたアナロ
グ信号(RFDC、信号A)のDC成分を所定の時定数
で取り除く交流結合回路である。52は交流結合回路5
1の出力(RFAC、信号B)と後述の比較レベル(V
SL、信号E)との大小を比較する比較器である。53
は比較器52の出力(EFM、信号C)をある時定数で
低域成分を取り出す低域通過フィルタである。54は低
域通過フィルタ53の出力(信号D)を増幅する増幅器
で、増幅器出力(前述のVSL、信号E)を比較器52
の比較レベルとする構成である。In FIG. 12, reference numeral 51 denotes an AC coupling circuit for removing a DC component of an input analog signal (RFDC, signal A) with a predetermined time constant. 52 is an AC coupling circuit 5
1 (RFAC, signal B) and a comparison level (V
SL, the signal E). 53
Is a low-pass filter for extracting a low-frequency component from the output (EFM, signal C) of the comparator 52 with a certain time constant. An amplifier 54 amplifies the output (signal D) of the low-pass filter 53. The amplifier 54 compares the amplifier output (VSL, signal E described above) with a comparator 52.
Is a comparison level.
【0006】なお、図11と図12、及び後述する図1
4の波形番号AからEはそれぞれ相互に対応している。
また、信号名C2PO(図14参照)は検出されたEF
M信号(信号C)に対してエラー訂正回路によりエラー
訂正を施したが、訂正しきれず訂正不能状態となった
(高レベルが訂正不能状態を表す)ことを示している。FIG. 11 and FIG. 12 and FIG.
The waveform numbers A to E of 4 correspond to each other.
The signal name C2PO (see FIG. 14) is the detected EF
The error correction circuit performed error correction on the M signal (signal C), but could not correct the error and was in an uncorrectable state (a high level indicates an uncorrectable state).
【0007】以上のように構成されたデータ再生用2値
化回路について、以下その動作を説明する。図13は従
来のリトライ処理のフローチャートである。The operation of the data reproducing binarizing circuit configured as described above will be described below. FIG. 13 is a flowchart of a conventional retry process.
【0008】再生できなかった領域に対して、再び再生
を試みるリトライ処理を開始し(S31)、まず、光ピ
ックアップを再生エラー区間にシークさせる(S3
2)。該当領域を再生し、正常に再生することができた
か判別する(S33)。その結果、正常再生ができなけ
れば次のステップ34に、正常再生ができれば別途ステ
ップ38へジャンプする。[0008] A retry process for retrying reproduction is started for an area that could not be reproduced (S31), and the optical pickup is first sought to a reproduction error section (S3).
2). The corresponding area is reproduced, and it is determined whether or not the reproduction has been normally performed (S33). As a result, if normal reproduction cannot be performed, the process jumps to the next step 34, and if normal reproduction can be performed, the process jumps to step 38 separately.
【0009】次にステップ34では、回転モードまたは
サーボパラメータを変更する。この変更過程を図12と
共に説明する。いま、交流結合回路51の出力(信号
B)に直流オフセット電圧Voftを持つ正弦波が現れ
たとすると、検出パルス(信号C)は、デューティ比
(パルス1周期中の”1”と”0”の比率)が50%に
はならない。そのため、低域通過フィルタ53の平均出
力電圧(信号D)も検出パルスのピーク値Vdの2分の
1に等しくならない。Next, at step 34, the rotation mode or servo parameters are changed. This changing process will be described with reference to FIG. Now, assuming that a sine wave having a DC offset voltage Voff appears at the output (signal B) of the AC coupling circuit 51, the detection pulse (signal C) has the duty ratio (the “1” and “0” of one pulse period). Ratio) does not reach 50%. Therefore, the average output voltage (signal D) of the low-pass filter 53 also does not become equal to one half of the peak value Vd of the detection pulse.
【0010】そこで、この誤差分が直流オフセットVo
ftに等しくなるように増幅器54の利得を設定すれ
ば、交流結合回路51出力の直流オフセットが除去でき
ることになる。よって、CD−ROM等で使用されてい
るEFM(Eight to FourteenModulation)変調方式は
デューティ50%の変調方式であるので、光ディスクの
回転モード(標準速、倍速等の読み出し回転数)に対し
て交流結合回路51、低域通過フィルタ53の時定数を
適切に設定することによりこの原理を利用し、光ディス
クの反射率変動等による低域変動成分を除去した正確な
ディジタル再生信号を検出することができる。なお、こ
れらの時定数は通常、実験的に傷等のない基準ディスク
を用いて検出信号のジッタ(ディジタル再生信号の変換
点位置誤差)が最小となるように設定するのが一般的
で、こうしてランダムエラーが極小となるように回転モ
ードやサーボパラメータが設定される。Therefore, this error is equal to the DC offset Vo.
If the gain of the amplifier 54 is set to be equal to ft, the DC offset of the output of the AC coupling circuit 51 can be removed. Therefore, since the EFM (Eight to Fourteen Modulation) modulation method used in a CD-ROM or the like is a modulation method with a duty of 50%, the AC coupling is performed with respect to the rotation mode of the optical disc (the number of reading rotations such as standard speed and double speed). By properly setting the time constants of the circuit 51 and the low-pass filter 53, an accurate digital reproduction signal from which low-frequency fluctuation components due to fluctuations in the reflectivity of the optical disk or the like have been removed can be detected using this principle. Generally, these time constants are generally set so that the jitter of the detection signal (conversion point position error of the digital reproduction signal) is minimized by using a reference disk which is not scratched experimentally. The rotation mode and the servo parameters are set so that the random error is minimized.
【0011】次に、エラーの原因が不規則な振動等によ
るサーボ外れにあるという想定のもとに、フォーカス、
トラック、およびスピンドル等のサーボゲイン、あるい
はスピンドルの回転数を変えて、エラー区間を読み直す
ためにシーク動作をふたたび行う(S35)。Next, on the assumption that the error is caused by servo deviation due to irregular vibration or the like, the focus,
The seek operation is performed again in order to read the error section again by changing the servo gain of the track and the spindle or the number of revolutions of the spindle (S35).
【0012】次に、該当領域を再生し、正常に再生する
ことができたか判別する(S36)。その結果、正常再
生ができなければ次のステップ37にジャンプし、「再
生不能」として処理する(S37)。また、正常再生が
できれば別途ステップ38へジャンプし、回転モードや
サーボパラメータを元に戻して通常の再生処理を再開す
る(S38)。Next, the corresponding area is reproduced, and it is determined whether or not the reproduction was successful (S36). As a result, if normal reproduction cannot be performed, the process jumps to the next step 37, and processes as "reproduction impossible" (S37). If the normal reproduction can be performed, the process jumps to step 38 separately, and returns the rotation mode and the servo parameters to the original state, and resumes the normal reproduction process (S38).
【0013】[0013]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来のリトライ処理では、再生できなかった領域が光デ
ィスクの傷によるピットのつぶれが原因となっている場
合、リトライ処理によってもほとんど再生に成功する可
能性がなかった。その様子を図に従って説明する。However, in the above-described conventional retry processing, when the area that could not be reproduced is caused by pit collapse due to a scratch on the optical disk, the reproduction can be almost succeeded even by the retry processing. There was no sex. This will be described with reference to the drawings.
【0014】図14は傷のある領域を再生したときの再
生波形例を示す図である。ここで、各波形につけた信号
名、RFDC(信号A)、RFAC(信号B)、EFM
(信号C)はそれぞれ図11の各回路図に対応した信号
となっており、信号名C2POは検出されたEFM信号
に対してエラー訂正回路によりエラー訂正を施したが、
訂正しきれず訂正不能状態となった(高レベルが訂正不
能状態を表す)ことを示す信号である。FIG. 14 is a diagram showing an example of a reproduced waveform when a damaged area is reproduced. Here, the signal name, RFDC (signal A), RFAC (signal B), EFM assigned to each waveform
(Signal C) is a signal corresponding to each circuit diagram of FIG. 11, and the signal name C2PO is obtained by performing error correction on the detected EFM signal by the error correction circuit.
This signal indicates that the correction has not been completed and has become in the uncorrectable state (a high level indicates the uncorrectable state).
【0015】光ディスクに傷領域が存在すると再生信号
RFDC(信号A)には反射光量が低下した領域が発生
する。交流結合回路51は回路に固有の時定数でもって
入力信号の平均値が0となるように動作する。そのため
傷領域通過に伴って図のように傷区間だけでなくその後
のある時間波形RFAC(信号B)がうねる区間が発生
する。従って、その間正常なデータ信号波形EFM信号
(信号C)が生成できず、バーストエラー区間が発生す
る。もともとの傷区間(T1)自体は光ディスク装置制
御用のLSIのエラー訂正能力範囲内であっても、正常
検出できない区間(T2)を含めると訂正能力範囲(T
ECC)を越えたエラーとなり、C2PO信号が出力さ
れデータが欠けるという問題点を有していた。If a scratch area exists on the optical disk, an area where the amount of reflected light is reduced occurs in the reproduction signal RFDC (signal A). The AC coupling circuit 51 operates so that the average value of the input signal becomes 0 with a time constant unique to the circuit. As a result, not only the wound section but also a section in which the subsequent time waveform RFAC (signal B) undulates as shown in FIG. Therefore, during this time, a normal data signal waveform EFM signal (signal C) cannot be generated, and a burst error section occurs. Even if the original flaw section (T1) itself is within the error correction capability range of the LSI for controlling the optical disk device, if the section (T2) where normal detection is not possible is included, the correction capability range (T1) is included.
(ECC), the C2PO signal is output and data is lost.
【0016】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、光ディスクにピットつぶれ領域が存在してもデータ
再生用の論理処理回路が有する最小限のバーストエラー
区間でデータ欠損を抑えてデータ再生を可能とする光デ
ィスク再生方法及び光ディスク装置を提供することを目
的とする。The present invention solves the above-mentioned conventional problems. Even if a pit collapse area exists on an optical disc, data reproduction is suppressed by minimizing data loss in a minimum burst error section of a data processing logic processing circuit. It is an object of the present invention to provide an optical disk reproducing method and an optical disk apparatus that enable the reproduction.
【0017】[0017]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の光ディスク装置は、光ビームを光ディスクに
照射しその反射光を電気信号に変換する光学ユニット
と、光学ユニットから得られた信号を増幅してアナログ
再生信号を出力する再生信号検出手段と、再生信号から
所定の時定数で信号を分離してディジタル再生信号を生
成する2値化回路とを有し、再生エラーの場合は時定数
を短くしてリトライ処理する可変時定数再生手段を備え
ることを特徴とするものである。In order to achieve this object, an optical disk apparatus according to the present invention comprises an optical unit for irradiating an optical disk with a light beam and converting the reflected light into an electric signal, and a signal obtained from the optical unit. A reproduction signal detecting means for amplifying the signal and outputting an analog reproduction signal, and a binarizing circuit for generating a digital reproduction signal by separating the signal from the reproduction signal with a predetermined time constant. A variable time constant reproducing means for performing a retry process by shortening the constant is provided.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】本発明の請求項1から請求項4に
記載の発明は、符号化された情報信号がピット列として
記録された光ディスクに光ビームを照射し、その反射光
から情報信号を再生する光ディスク再生方法及び光ディ
スク装置であって、再生されたアナログ情報信号を増幅
し、所定の時定数で信号を分離してデジタル再生信号を
生成する2値化手段と、生成されたデジタル再生信号に
エラーが存在するとエラー訂正を試み、そのエラー訂正
が不可能となった場合に、光ディスクのエラーが存在す
る領域を再び再生する処理を行うリトライ処理手段とを
有し、2値化手段は時定数を切り替える時定数可変再生
手段を含み、リトライ処理手段を実行する際に、時定数
可変再生手段の時定数を短く切り替えることを特徴と
し、特に、2値化手段はアナログ再生信号を交流結合す
る交流結合回路を有し、時定数可変再生手段が交流結合
回路の時定数であり、あるいは、2値化手段はアナログ
再生信号を後述するしきい値と比較する比較器と、比較
器の出力の低域成分を取り出す低域通過フィルタと、低
域通過フィルタの出力を増幅する増幅器とを有し、増幅
器の出力をしきい値とすると共に、時定数可変再生手段
が低域通過フィルタの時定数である事としたものであ
る。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claims 1 to 4 of the present invention irradiates a light beam on an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit row, and outputs the information signal from the reflected light. An optical disc reproducing method and an optical disc apparatus for reproducing a digital signal, comprising: amplifying a reproduced analog information signal; separating a signal by a predetermined time constant to generate a digital reproduced signal; Retry processing means for performing error correction when an error is present in the signal, and when the error correction becomes impossible, performing processing for reproducing the area of the optical disk where the error is present again; A time constant variable reproducing means for switching the time constant, wherein the time constant of the time constant variable reproducing means is changed to a short time when executing the retry processing means; Has an AC coupling circuit for AC coupling the analog reproduction signal, and the time constant variable reproducing means is the time constant of the AC coupling circuit, or the binarizing means is a comparator for comparing the analog reproduction signal with a threshold value described later. , A low-pass filter for extracting a low-frequency component of the output of the comparator, and an amplifier for amplifying the output of the low-pass filter. Is the time constant of the low-pass filter.
【0019】従って、光ディスクのビットつぶれ(傷)
が原因でその領域のデータが再生不能状態となることを
大幅に改善することができる。Therefore, bit crushing (scratch) of the optical disk
It is possible to greatly improve that data in the area becomes unreproducible due to the above.
【0020】本発明の請求項5から請求項7に記載の発
明は、符号化された情報信号がピット列として記録され
た光ディスクに光ビームを照射し、その反射光から情報
信号を再生する光ディスク装置であって、再生されたア
ナログ情報信号を増幅し、所定の時定数で信号を分離し
てデジタル再生信号を生成する2値化手段と、再生信号
の低域成分の変動から光ディスクの傷の領域を検出する
傷領域検出手段とを有し、傷領域検出手段が傷の領域を
検出した場合、傷領域中または傷領域と傷領域の通過後
一定時間に、時定数を短く切り替えることを特徴とし、
特に、2値化手段はアナログ再生信号を交流結合する交
流結合回路を有し、時定数が交流結合回路の時定数であ
り、あるいは、2値化手段はアナログ再生信号を後述す
るしきい値と比較する比較器と、比較器の出力の低域成
分を取り出す低域通過フィルタと、低域通過フィルタの
出力を増幅する増幅器とを有し、増幅器の出力を前述の
しきい値とすると共に、時定数可変再生手段が低域通過
フィルタの時定数である事としたものである。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an optical disk for irradiating an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit string with a light beam and reproducing the information signal from the reflected light. A binarizing means for amplifying a reproduced analog information signal and separating the signal with a predetermined time constant to generate a digital reproduction signal; and a flaw in an optical disk due to a change in a low-frequency component of the reproduction signal. A flaw area detecting means for detecting the area, wherein when the flaw area detecting means detects the flaw area, the time constant is switched to a shorter time constant in the flaw area or at a certain time after passing the flaw area and the flaw area. age,
In particular, the binarizing means has an AC coupling circuit for AC coupling the analog reproduction signal, and the time constant is the time constant of the AC coupling circuit. A comparator to be compared, a low-pass filter that extracts a low-frequency component of the output of the comparator, and an amplifier that amplifies the output of the low-pass filter, and the output of the amplifier is set to the above-described threshold, The time constant variable reproducing means is a time constant of a low-pass filter.
【0021】従って、光ディスクのビットつぶれ(傷)
が原因でその領域のデータが再生不能状態となることを
大幅に改善することができる。Therefore, bit crushing (scratch) of the optical disk
It is possible to greatly improve that data in the area becomes unreproducible due to the above.
【0022】以下、本発明の実施の形態について図に基
づいて説明する。 (実施の形態1)図1は本発明の実施の形態1における
2値化回路図である。図1において、11は入力された
アナログ再生信号RFDC(信号A)のDC成分を制御
された時定数で取り除くことができる時定数可変機能付
きの交流結合回路、12は交流結合回路11の出力RF
AC(信号B)の信号レベルと後述の比較レベルVSL
との大小を比較する比較器、13は比較器出力EFM
(信号C)を所定の時定数で低域周波数成分を取り出す
低域通過フィルタ、14は低域通過フィルタの出力(信
号D)を増幅する増幅器、そして、増幅器14の出力V
SL(信号E)を比較器14の前述の比較レベルとす
る。15はデータ再生不能の場合に時定数可変機能付き
の交流結合回路11に時定数を切り替える指令を出力す
る指令器である。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. (Embodiment 1) FIG. 1 is a diagram of a binarization circuit according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 11 denotes an AC coupling circuit having a time constant variable function capable of removing a DC component of an input analog reproduction signal RFDC (signal A) with a controlled time constant, and 12 denotes an output RF of the AC coupling circuit 11.
AC (signal B) signal level and a later-described comparison level VSL
13 is a comparator output EFM.
A low-pass filter for extracting a low-frequency component from (signal C) with a predetermined time constant, an amplifier 14 amplifies the output (signal D) of the low-pass filter, and an output V of the amplifier 14
Let SL (signal E) be the comparison level of the comparator 14 described above. Reference numeral 15 denotes a command device that outputs a command to switch the time constant to the AC coupling circuit 11 having a function of changing the time constant when data cannot be reproduced.
【0023】図2は本発明の実施の形態1におけるリト
ライ処理のフローチャート、図3は図1の動作を説明す
る波形図である。以上のように構成された本発明の実施
の形態1における2値化回路について、傷によるリトラ
イが発生した場合の動作を説明する。FIG. 2 is a flowchart of the retry process according to the first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. The operation of the binarization circuit configured as described above according to the first embodiment of the present invention when a retry due to a flaw occurs will be described.
【0024】まず、従来のような光ディスクの傷の領域
が存在し訂正不能状態となると、本発明のリトライ処理
を開始する。即ち、指令器15はその再生動作におい
て、エラー訂正を行ったが訂正不能状態となり、リトラ
イ処理を開始する(S11)。First, when a scratched area of the optical disk as in the prior art exists and cannot be corrected, the retry processing of the present invention is started. That is, in the reproducing operation, the command unit 15 makes an error correction but cannot correct the error, and starts the retry process (S11).
【0025】指令器15は時定数可変機能付きの交流結
合回路11に短い時定数となるように時定数切り替え指
令を出力する(S12)。例えば、図1の2値化回路図
において時定数切り替え指令に基づき接点が解放され、
並列接続された入力コンデンサの合成容量が減少する。
その結果、図3に示すように、交流結合回路11は通常
再生時よりも短い時定数でもって入力信号RFDC(図
3の信号A)の平均値が0となるように動作するので、
交流結合回路11の出力RFAC(図3の信号B)の傷
領域通過直後の「うねり区間」を通常再生時よりも短く
することができる。The command device 15 outputs a time constant switching command to the AC coupling circuit 11 having a function of changing the time constant so as to have a short time constant (S12). For example, in the binarization circuit diagram of FIG. 1, the contact is released based on a time constant switching command,
The combined capacitance of the input capacitors connected in parallel decreases.
As a result, as shown in FIG. 3, the AC coupling circuit 11 operates so that the average value of the input signal RFDC (signal A in FIG. 3) becomes 0 with a time constant shorter than that during normal reproduction.
The “swell section” immediately after the output RFAC (signal B in FIG. 3) of the AC coupling circuit 11 has passed through the flaw area can be made shorter than at the time of normal reproduction.
【0026】従って、従来の例で図14の信号Cに比較
すると明らかなように、図3の信号Cにおいて、再生デ
ータが正常検出できない区間(T2)を、極力短くでき
るので、もともとの傷区間(T1)が十分にデータ再生
用の論理処理回路のバーストエラー訂正能力範囲内であ
れば、 T1+T2≦TECC を満たし(図3の信号C)、信号名C2POも発生する
ことなく、正常データとして出力できるようになる。Therefore, as is clear from the comparison with the signal C in FIG. 14 in the conventional example, the section (T2) in which the reproduced data cannot be normally detected can be shortened as much as possible in the signal C in FIG. If (T1) is sufficiently within the range of the burst error correction capability of the data processing logic processing circuit, T1 + T2 ≦ TECC is satisfied (signal C in FIG. 3), and the signal name is output as normal data without generating the signal name C2PO. become able to.
【0027】次に、光ピックアップを再生エラー区間に
シークさせる(S13)。該当領域を再生し、正常に再
生することができたか判別する(S14)。その結果、
正常再生ができなければ次のステップ15に、正常再生
ができれば別途ステップ18へジャンプする。Next, the optical pickup is sought in a reproduction error section (S13). The corresponding area is reproduced, and it is determined whether or not the area has been reproduced normally (S14). as a result,
If normal reproduction cannot be performed, the process jumps to the next step 15;
【0028】次にステップ15では、回転モードまたは
サーボパラメータを変更する。この変更過程は従来の技
術における図12のステップ34に説明したものと同様
であって、回転モードやサーボパラメータが設定される
(S15)。Next, at step 15, the rotation mode or servo parameters are changed. This change process is the same as that described in step 34 of FIG. 12 in the prior art, and a rotation mode and servo parameters are set (S15).
【0029】こうして、フォーカス、トラック、および
スピンドル等のサーボゲイン、あるいはスピンドルの回
転数を変えて、エラー区間を読み直すためにシーク動作
をふたたび行う(S16)。In this way, the seek operation is performed again in order to read the error section again by changing the servo gain of the focus, track, spindle, etc., or the rotational speed of the spindle (S16).
【0030】次に、該当領域を再生し、正常に再生する
ことができたか判別する(S17)。その結果、正常再
生ができなければ次のステップ19にジャンプし、「再
生不能」として処理する(S19)。また、正常再生が
できれば別途ステップ18へジャンプし、回転モードや
サーボパラメータを元に戻して通常の再生処理を再開す
る(S18)。Next, the corresponding area is reproduced, and it is determined whether or not the area has been reproduced normally (S17). As a result, if normal reproduction cannot be performed, the process jumps to the next step 19, where the reproduction is disabled (S19). If the normal reproduction can be performed, the process jumps to step 18 separately, returns the rotation mode and the servo parameters to the original state, and resumes the normal reproduction process (S18).
【0031】こうして本発明によって実使用時、光ディ
スクの傷が原因となったリトライ処理をしても失敗する
確率を大幅に改善することができる。As described above, according to the present invention, the probability of failure in retry processing due to scratches on the optical disk during actual use can be greatly improved.
【0032】(実施の形態2)図4は本発明の実施の形
態2における2値化回路図である。図4において、21
は入力されたアナログ再生信号RFDC(信号A)のD
C成分を所定の時定数で取り除く交流結合回路、22は
交流結合回路21の出力RFAC(信号B)と後述する
比較レベルVSLの大小を比較する比較器、23は比較
器22の出力EFM(信号C)から制御された時定数で
低域成分を取り出すことができる時定数可変機能付きの
低域通過フィルタ、24は時定数可変機能付きの低域通
過フィルタ23の出力(信号D)を増幅する増幅器、そ
して、増幅器24の出力VSL(信号E)を比較器22
の前述の比較レベルVSLとする。25はデータ再生不
能の時に時定数可変機能付きの低域通過フィルタ23に
時定数切り替え指令を出力する指令器である。(Embodiment 2) FIG. 4 is a diagram of a binarization circuit according to Embodiment 2 of the present invention. In FIG.
Is D of the input analog reproduction signal RFDC (signal A).
An AC coupling circuit that removes the C component with a predetermined time constant, 22 is a comparator that compares the output RFAC (signal B) of the AC coupling circuit 21 with a comparison level VSL described later, and 23 is an output EFM (signal C) a low-pass filter with a variable time-constant function capable of extracting low-frequency components with a controlled time constant from step C), and 24 amplifies the output (signal D) of the low-pass filter 23 with a variable time-constant function. The output VSL (signal E) of the amplifier and the amplifier 24 is
Of the above-mentioned comparison level VSL. Reference numeral 25 denotes a command device that outputs a time constant switching command to the low-pass filter 23 with a time constant variable function when data cannot be reproduced.
【0033】図5は図4の動作を説明する波形図であ
る。以上のように構成された本発明の実施の形態2にお
ける2値化回路について、傷によるリトライ処理が発生
した場合の動作を説明する。なお、リトライ処理のシー
ケンスは実施の形態1と同様であるから、図2に示すフ
ローチャートで動作するものとし、フローチャート全体
の説明の繰り返しを省略し、時定数を切り替える過程を
中心に説明する。FIG. 5 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. The operation of the binarization circuit configured as described above according to the second embodiment of the present invention when a retry process due to a flaw occurs will be described. Since the sequence of the retry process is the same as that of the first embodiment, it is assumed that the operation is performed according to the flowchart shown in FIG. 2, and the description of the entire flowchart will be omitted, and the process of switching the time constant will be mainly described.
【0034】まず、従来例に示したような光ディスクの
傷領域が存在し訂正不能状態になると、本実施の形態2
に示すリトライシーケンスを開始する。指令器25から
時定数可変機能付きの低域通過フィルタ23に短い時定
数となるよう時定数切り替え指令が出力される。例え
ば、図4の2値化回路図において、時定数切り替え指令
に基づき接点が解放され、並列接続された入力コンデン
サの合成容量が減少する。First, when a scratched area of the optical disk as shown in the conventional example exists and cannot be corrected, the second embodiment is performed.
The retry sequence shown in (1) is started. The command device 25 outputs a time constant switching command to the low-pass filter 23 with a time constant variable function so as to have a short time constant. For example, in the binarization circuit diagram of FIG. 4, the contacts are released based on the time constant switching command, and the combined capacitance of the input capacitors connected in parallel decreases.
【0035】その結果、図5に示すように、時定数可変
機能付きの低域通過フィルタ23は通常再生時よりも短
い時定数でもって比較器22の出力EFM(信号C)か
ら低域成分を取り出し、入力信号の平均値に追従するよ
うに動作するので、傷領域通過後のうねり区間におい
て、比較レベルVSLの整定時間を通常再生時よりも短
くすることができる。従って、従来例で示したところの
再生データが正常検出できない区間(T2)を極力短く
できるので、もともとの傷区間(T1)が十分にデータ
再生用の論理処理回路のバーストエラー訂正能力範囲内
であれば T1+T2≦TECC を満たし、正常データとして出力できるようになる。As a result, as shown in FIG. 5, the low-pass filter 23 having the function of changing the time constant has a time constant shorter than that at the time of normal reproduction, and converts the low-frequency component from the output EFM (signal C) of the comparator 22. Since it operates so as to follow the average value of the input signal, the settling time of the comparison level VSL can be made shorter in the swell section after passing through the flaw area than in the normal reproduction. Therefore, since the section (T2) in which the reproduced data cannot be normally detected as shown in the conventional example can be shortened as much as possible, the original damaged section (T1) can be sufficiently set within the range of the burst error correction capability of the data processing logic processing circuit. If it is, T1 + T2 ≦ TECC is satisfied, and the data can be output as normal data.
【0036】こうして本発明によって実使用時、光ディ
スクの傷が原因となったリトライ処理をしても失敗する
確率を大幅に改善することができる。As described above, according to the present invention, the probability of failure in retry processing due to scratches on the optical disk during actual use can be greatly improved.
【0037】(実施の形態3)図6は本発明の実施の形
態3における2値化回路図である。図6において、31
は入力されたアナログ再生信号RFDC(信号A)のD
C成分を制御された時定数で取り除くことができる時定
数可変機能付きの交流結合回路、32は時定数可変機能
付きの交流結合回路31の出力RFAC(信号B)と所
定の比較レベルVSL1の大小を比較する比較器、33
は比較器32の出力EFM(信号C)を所定の時定数で
低域成分を取り出す第1の低域通過フィルタ、34は第
1の低域通過フィルタ33の出力を増幅する増幅器であ
って、増幅器34の出力を前述の比較レベルVSL1と
する。35はアナログ再生信号RFDC(信号A)から
所定の時定数で低域成分を取り出す第2の低域通過フィ
ルタ、36は第2の低域通過フィルタ35の出力RFE
NV(信号D)を所定の固定レベルVSL2と比較する
固定レベル比較器(傷領域検出手段)、37は指令器で
あって、固定レベル比較器36の出力DFCT(信号
E)を受けて傷領域検出時に時定数可変機能付きの交流
結合回路31に時定数切り替え指令S1を出力する。(Embodiment 3) FIG. 6 is a diagram of a binarization circuit according to Embodiment 3 of the present invention. In FIG. 6, 31
Is D of the input analog reproduction signal RFDC (signal A).
An AC coupling circuit with a variable time constant function capable of removing the C component with a controlled time constant. Reference numeral 32 denotes a magnitude of the output RFAC (signal B) of the AC coupling circuit 31 with the variable time constant function and a predetermined comparison level VSL1. Comparator 33
Is a first low-pass filter for extracting a low-frequency component from the output EFM (signal C) of the comparator 32 with a predetermined time constant, 34 is an amplifier for amplifying the output of the first low-pass filter 33, The output of the amplifier 34 is set to the aforementioned comparison level VSL1. Reference numeral 35 denotes a second low-pass filter that extracts low-frequency components from the analog reproduction signal RFDC (signal A) with a predetermined time constant, and reference numeral 36 denotes an output RFE of the second low-pass filter 35.
A fixed level comparator (flaw area detecting means) 37 for comparing the NV (signal D) with a predetermined fixed level VSL2 is a commander, and receives a DFCT (signal E) output from the fixed level comparator 36 to generate a damaged area. At the time of detection, a time constant switching command S1 is output to the AC coupling circuit 31 with a time constant variable function.
【0038】図7は本発明の実施の形態3におけるリト
ライ処理のフローチャート、図8は図6の動作を説明す
る波形図である。以上のように構成された本発明の実施
の形態3における2値化回路について図に基づいてその
動作を説明する。FIG. 7 is a flowchart of a retry process according to the third embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a waveform diagram for explaining the operation of FIG. The operation of the binarization circuit configured as above according to the third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0039】まず、光ディスクの再生処理中(S21)
において、従来例に示したようなディスクの傷領域が存
在すると、固定レベル比較器36の出力DFCT(信号
E)が高レベル(High)となる。そこで、出力DFCT
(信号E)が高レベル(High)かどうか判定する(S2
2)。高レベル(High)であれば次のステップ23へ、
高レベル(High)でなければステップ27へ進む。First, during the reproduction process of the optical disk (S21)
In this case, when there is a scratch area on the disk as shown in the conventional example, the output DFCT (signal E) of the fixed level comparator 36 becomes high level (High). Therefore, output DFCT
It is determined whether (signal E) is at a high level (High) (S2).
2). If the level is high, go to the next step 23,
If it is not high, the process proceeds to step 27.
【0040】ステップ23において、出力DFCT(信
号E)が高レベルであることに基づいて、指令器37か
ら時定数可変機能付きの交流結合回路31に、傷領域時
間(TD1)もしくは傷領域時間にその通過後一定時間
(TD2)を含めた時間(TD1+TD2)、時定数切
り替え指令が出力される。例えば、図6の2値化回路図
において時定数切り替え指令に基づき交流結合回路31
の接点が解放され、並列接続された入力コンデンサの合
成容量が減少する。その結果、図8に示すように、交流
結合回路31は通常再生時よりも短い時定数でもって入
力信号RFDC(図8の信号A)の平均値が0となるよ
うに動作するので、交流結合回路31の出力RFAC
(図8の信号B)の傷領域通過直後の「うねり区間」を
通常再生時よりも短くすることができる。In step 23, based on the output DFCT (signal E) being at a high level, the commander 37 sends the signal to the AC coupling circuit 31 having a function of changing the time constant to the flaw area time (TD1) or flaw area time. A time constant switching command is output for a time (TD1 + TD2) including a certain time (TD2) after the passage. For example, in the binarization circuit diagram of FIG.
Are released, and the combined capacitance of the input capacitors connected in parallel decreases. As a result, as shown in FIG. 8, the AC coupling circuit 31 operates so that the average value of the input signal RFDC (signal A in FIG. 8) becomes 0 with a time constant shorter than that at the time of normal reproduction. Output RFAC of circuit 31
The “undulation section” immediately after the signal (signal B in FIG. 8) has passed through the flaw area can be made shorter than at the time of normal reproduction.
【0041】従って、従来例で示したところの再生デー
タが正常検出できない区間(T2)を極力短くできるの
で、もともとの傷区間(T1)が十分にデータ再生用の
論理処理回路のバーストエラー訂正能力範囲内であれば T1+T2≦TECC を満たし、正常データとして再生することができる(S
23)。Accordingly, the section (T2) in which the reproduced data cannot be normally detected as shown in the conventional example can be shortened as much as possible, so that the original damaged section (T1) can sufficiently reduce the burst error correction capability of the data processing logic processing circuit. Within the range, T1 + T2 ≦ TECC is satisfied, and the data can be reproduced as normal data (S
23).
【0042】こうして、データの再生が再開されると、
固定レベル比較器36の出力DFCT(信号E)が低レ
ベル(Low )となる。そこで、出力DFCT(信号E)
が低レベル(Low )かどうか判定する(S24)。そし
て、低レベル(Low )であれば次のステップ25へ、高
レベル(High)であれば低レベル(Low )になるまで待
機する。Thus, when the reproduction of the data is resumed,
The output DFCT (signal E) of the fixed level comparator 36 becomes low level (Low). Therefore, the output DFCT (signal E)
Is low level (Low) (S24). If the level is low (Low), the process proceeds to the next step 25. If the level is high (High), the process waits until the level becomes low (Low).
【0043】次に、ステップ25において、傷領域の通
過後一定時間(TD2)を経過したかどうか判定する
(S25)。一定時間(TD2)が経過すると、次のス
テップ26へ進む。Next, in step 25, it is determined whether or not a predetermined time (TD2) has passed after passing through the wound area (S25). When the predetermined time (TD2) has elapsed, the process proceeds to the next step 26.
【0044】傷領域を通過した後は正常な領域から正常
な再生信号が得られることが期待できるので、通常の2
値化回路で再生をするため、時定数切り替え指令を解除
し入力コンデンサを通常の並列接続にして時定数を元に
戻す(S26)。After passing through the flaw area, a normal reproduction signal can be expected to be obtained from a normal area.
In order to perform the reproduction by the value conversion circuit, the time constant switching command is released, and the input capacitor is connected in a normal parallel connection to restore the time constant (S26).
【0045】こうして、次の処理へ進む(S27)。以
上のように本発明によれば、傷が原因となったリトライ
処理を失敗する確率を大幅に改善することができ、正常
データとして再生し、出力できるようになる。Thus, the process proceeds to the next process (S27). As described above, according to the present invention, the probability of failure in retry processing due to flaws can be significantly improved, and data can be reproduced and output as normal data.
【0046】(実施の形態4)図9は本発明の実施の形
態4における2値化回路図である。図9において、41
は入力されたアナログ再生信号RFDC(信号A)のD
C成分を所定の時定数で取り除く交流結合回路、42は
交流結合回路41の出力RFAC(信号B)と後述する
比較レベルVSLとの大小を比較する比較器、43は比
較器42の出力EFM(信号C)から異なる時定数で低
域成分を取り出すことができる時定数切り替え機能付き
の低域通過フィルタ、44は低域通過フィルタ43の出
力を増幅する増幅器、そして、増幅器44の出力を前述
の比較器42の比較レベルVSL1とする。45はアナ
ログ再生信号RFDC(信号A)から第2の所定の時定
数で低域成分を取り出す第2の低域通過フィルタ、46
は第2の低域通過フィルタ45の出力RFENV(信号
D)を所定の固定レベルVSL2と比較する固定レベル
比較器(傷領域検出手段)、47は固定レベル比較器4
6の出力DFCT(信号E)を受けて、傷領域検出時に
時定数可変機能付き低域通過フィルタ43に時定数切り
替え指令S1を出力する指令器である。(Embodiment 4) FIG. 9 is a diagram of a binarization circuit according to Embodiment 4 of the present invention. In FIG. 9, 41
Is D of the input analog reproduction signal RFDC (signal A).
An AC coupling circuit that removes the C component with a predetermined time constant, 42 is a comparator that compares the magnitude of an output RFAC (signal B) of the AC coupling circuit 41 with a comparison level VSL described later, and 43 is an output EFM ( A low-pass filter with a time constant switching function capable of extracting low-frequency components from the signal C) with different time constants, an amplifier 44 amplifies the output of the low-pass filter 43, and an output of the amplifier 44 as described above. The comparison level of the comparator 42 is VSL1. 45, a second low-pass filter for extracting low-frequency components from the analog reproduction signal RFDC (signal A) with a second predetermined time constant;
Is a fixed level comparator (flaw area detecting means) for comparing the output RFENV (signal D) of the second low-pass filter 45 with a predetermined fixed level VSL2, and 47 is a fixed level comparator 4
6 is a commander that receives the output DFCT (signal E) and outputs a time constant switching command S1 to the low-pass filter 43 with a time constant variable function when a flaw area is detected.
【0047】以上のように構成された本発明の第4の実
施の形態の2値化回路について、傷領域を通過した時の
実際の動作を、図10の波形図を用いて説明する。図1
0は図9の動作を説明する波形図である。The operation of the binarization circuit according to the fourth embodiment of the present invention configured as described above when passing through the flaw area will be described with reference to the waveform diagram of FIG. FIG.
0 is a waveform diagram illustrating the operation of FIG.
【0048】なお、傷領域を通過した時の実際の動作は
第3の実施の形態と同様であるから図7に示した第3の
実施の形態のフローチャートに準じて説明し、その詳細
ステップは重複するので省略する。Since the actual operation when passing through the flaw area is the same as that of the third embodiment, it will be described according to the flowchart of the third embodiment shown in FIG. The description is omitted because it is duplicated.
【0049】まず、従来例に示したようなディスクの傷
領域が存在すると、固定レベル比較器46の出力DFC
T(信号E)が高レベル(High)となる。この高レベル
のDFCT(信号E)を受けて、時定数可変機能付きの
低域通過フィルタ43に、傷領域時間(TD1)もしく
は傷領域時間にその通過後一定時間(TD2)を含めた
時間(TD1+TD2)、時定数切り替え指令が出力さ
れる。例えば、図9の2値化回路図において時定数切り
替え指令に基づき低域通過フィルタ43の接点が解放さ
れ、並列接続された入力コンデンサの合成容量が減少す
る。First, when there is a scratch area on the disk as shown in the conventional example, the output DFC of the fixed level comparator 46 is output.
T (signal E) becomes high level (High). In response to the high-level DFCT (signal E), the low-pass filter 43 with a function of changing the time constant includes a wound area time (TD1) or a wound area time including a fixed time (TD2) after the passage (TD2). TD1 + TD2), a time constant switching command is output. For example, in the binarization circuit diagram of FIG. 9, the contact of the low-pass filter 43 is released based on the time constant switching command, and the combined capacitance of the input capacitors connected in parallel decreases.
【0050】その結果、図10に示すように、時定数可
変機能付きの低域通過フィルタ43は通常再生時よりも
短い時定数でもって比較器42の出力EFM(信号C)
から低域成分を取り出し、入力信号の平均値に追従する
ように動作するので、傷領域通過後のうねり区間におい
て、比較レベルVSL1の整定時間を通常再生時よりも
短くすることができる。従って、従来例で示したところ
の再生データが正常検出できない区間(T2)を極力短
くできるので、もともとの傷区間(T1)が十分にデー
タ再生用の論理処理回路のバーストエラー訂正能力範囲
内であれば T1+T2≦TECC を満たし、正常データとして出力できるようになる。As a result, as shown in FIG. 10, the low-pass filter 43 having the function of changing the time constant has a time constant shorter than that during the normal reproduction, so that the output EFM (signal C) of the comparator 42 is obtained.
, And operates so as to follow the average value of the input signal, so that the settling time of the comparison level VSL1 in the swell section after passing through the flaw area can be shorter than that in the normal reproduction. Therefore, since the section (T2) in which the reproduced data cannot be normally detected as shown in the conventional example can be shortened as much as possible, the original damaged section (T1) can be sufficiently set within the range of the burst error correction capability of the data processing logic processing circuit. If it is, T1 + T2 ≦ TECC is satisfied, and the data can be output as normal data.
【0051】[0051]
【発明の効果】以上のように本発明による光ディスク装
置は、光ビームを光ディスクに照射しその反射光を電気
信号に変換する光学ユニットと、光学ユニットから得ら
れた信号を増幅してアナログ再生信号を出力する再生信
号検出手段と、再生信号からある時定数で信号を分離し
てディジタル再生信号を生成する2値化回路とを有し、
光ディスクのピットつぶれによって再生不能状態となっ
たときにRF信号の検出時定数を短くして再生リトライ
を行うリトライ処理手段を備え、傷領域通過後の再生不
能区間を最小にすることができ、従って、光ディスクの
ビットつぶれ(傷)が原因でその領域のデータが再生不
能状態となることを大幅に改善することができ、データ
再生率の向上を図れる優れた光ディスク装置を提供する
ことができる。As described above, the optical disk apparatus according to the present invention comprises: an optical unit for irradiating an optical disk with a light beam and converting the reflected light into an electric signal; and an analog reproduction signal obtained by amplifying a signal obtained from the optical unit. And a binarization circuit for separating a signal from the reproduced signal by a certain time constant to generate a digital reproduced signal,
It is provided with retry processing means for shortening the detection time constant of the RF signal and performing reproduction retry when the reproduction becomes impossible due to the collapse of the pit of the optical disk, and the reproduction impossible section after passing through the flaw area can be minimized. In addition, it is possible to greatly improve that data in the area becomes unreproducible due to bit crushing (scratch) of the optical disk, and it is possible to provide an excellent optical disk device capable of improving the data reproduction rate.
【図1】本発明の実施の形態1における2値化回路図FIG. 1 is a diagram of a binarization circuit according to a first embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施の形態1におけるリトライ処理の
フローチャートFIG. 2 is a flowchart of a retry process according to the first embodiment of the present invention.
【図3】図1の動作を説明する波形図FIG. 3 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 1;
【図4】本発明の実施の形態2における2値化回路図FIG. 4 is a diagram showing a binarization circuit according to a second embodiment of the present invention;
【図5】図4の動作を説明する波形図FIG. 5 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 4;
【図6】本発明の実施の形態3における2値化回路図FIG. 6 is a diagram illustrating a binarization circuit according to a third embodiment of the present invention.
【図7】本発明の実施の形態3におけるリトライ処理の
フローチャートFIG. 7 is a flowchart of a retry process according to the third embodiment of the present invention.
【図8】図6の動作を説明する波形図FIG. 8 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 6;
【図9】本発明の実施の形態4における2値化回路図FIG. 9 is a diagram of a binarization circuit according to a fourth embodiment of the present invention.
【図10】図9の動作を説明する波形図FIG. 10 is a waveform chart for explaining the operation of FIG. 9;
【図11】光ディスク装置で使用される従来のデータ再
生用2値化回路図FIG. 11 is a diagram showing a conventional binarization circuit for data reproduction used in an optical disk device.
【図12】図11の各部の動作を説明する波形図FIG. 12 is a waveform chart illustrating the operation of each unit in FIG. 11;
【図13】従来のリトライ処理のフローチャートFIG. 13 is a flowchart of a conventional retry process.
【図14】傷のある領域を再生したときの再生波形例を
示す図FIG. 14 is a diagram showing an example of a reproduced waveform when a damaged area is reproduced.
11、21、31、41、51 交流結合回路 12、22、32、42、52 比較器 13、23、43、53 低域通過フィルタ 14、24、34、44、54 増幅器 15、25、37、47 指令器 33 第1の低域通過フィルタ 35、45 第2の低域通過フィルタ 36、46 固定レベル比較器 11, 21, 31, 41, 51 AC coupling circuit 12, 22, 32, 42, 52 Comparator 13, 23, 43, 53 Low-pass filter 14, 24, 34, 44, 54 Amplifier 15, 25, 37, 47 Commander 33 First low-pass filter 35, 45 Second low-pass filter 36, 46 Fixed level comparator
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G11B 20/18 572 G11B 20/18 572F ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Agency reference number FI Technical display location G11B 20/18 572 G11B 20/18 572F
Claims (7)
録された光ディスクに光ビームを照射し、その反射光か
ら情報信号を再生する光ディスク再生方法であって、再
生された情報信号を増幅し、所定の時定数で信号を分離
してデジタル再生信号を生成する2値化ステップと、生
成されたデジタル再生信号にエラーが存在するとエラー
訂正を試み、そのエラー訂正が不可能となった場合に、
光ディスクのエラーが存在する領域を再び再生するリト
ライ処理ステップとを有し、前記リトライ処理ステップ
において、所定の時定数をより短い時定数に切り替えて
前記2値化ステップを行うことを特徴とする光ディスク
再生方法。An optical disk reproducing method for irradiating an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit string with a light beam and reproducing the information signal from the reflected light, wherein the reproduced information signal is amplified. A binarizing step of separating a signal with a predetermined time constant to generate a digital reproduction signal, and attempting to correct an error if an error exists in the generated digital reproduction signal. If the error cannot be corrected, ,
A retry processing step of reproducing again an area of the optical disc where an error exists, wherein in the retry processing step, the binarizing step is performed by switching a predetermined time constant to a shorter time constant. Playback method.
録された光ディスクに光ビームを照射し、その反射光か
ら情報信号を再生する光ディスク装置であって、 再生されたアナログ情報信号を増幅し、所定の時定数で
信号を分離してデジタル再生信号を生成する2値化手段
と、生成されたデジタル再生信号にエラーが存在すると
エラー訂正を試み、そのエラー訂正が不可能となった場
合に、光ディスクのエラーが存在する領域を再び再生す
る処理を行うリトライ処理手段とを有し、前記2値化手
段は前記時定数を切り替える時定数可変再生手段を含
み、前記リトライ処理手段を実行する際に、前記時定数
可変再生手段の前記時定数を短く切り替えることを特徴
とする光ディスク装置。2. An optical disk device for irradiating an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit string with a light beam and reproducing the information signal from the reflected light, wherein the reproduced analog information signal is amplified. A binarizing means for separating a signal with a predetermined time constant to generate a digital reproduction signal, and performing error correction when an error exists in the generated digital reproduction signal, and when the error correction becomes impossible, And retry processing means for performing processing for reproducing the area of the optical disc where an error exists again. The binarizing means includes a time constant variable reproducing means for switching the time constant. An optical disk device, wherein the time constant of the variable time constant reproducing means is switched to a short time.
交流結合する交流結合回路を有し、前記時定数可変再生
手段が前記交流結合回路の時定数であることを特徴とす
る請求項2記載の光ディスク装置。3. The apparatus according to claim 2, wherein said binarizing means has an AC coupling circuit for AC coupling said analog reproduced signal, and said time constant variable reproducing means is a time constant of said AC coupling circuit. An optical disk device as described in the above.
後述するしきい値と比較する比較器と、前記比較器の出
力の低域成分を取り出す低域通過フィルタと、前記低域
通過フィルタの出力を増幅する増幅器とを有し、前記増
幅器の出力を前記しきい値とすると共に、前記時定数可
変再生手段が前記低域通過フィルタの時定数であること
を特徴とする請求項2記載の光ディスク装置。4. The low-pass filter, wherein the binarizing means compares the analog reproduced signal with a threshold value described later, a low-pass filter for extracting a low-frequency component of an output of the comparator, and the low-pass filter. 3. An amplifier for amplifying the output of the amplifier, wherein the output of the amplifier is used as the threshold value, and the time constant variable reproducing means is a time constant of the low-pass filter. Optical disk device.
録された光ディスクに光ビームを照射し、その反射光か
ら情報信号を再生する光ディスク装置であって、 再生されたアナログ情報信号を増幅し、所定の時定数で
信号を分離してデジタル再生信号を生成する2値化手段
と、前記再生信号の低域成分の変動から光ディスクの傷
の領域を検出する傷領域検出手段とを有し、前記傷領域
検出手段が傷の領域を検出した場合、傷領域中または傷
領域と傷領域の通過後一定時間に、前記時定数を短く切
り替えることを特徴とする光ディスク装置。5. An optical disk device for irradiating an optical disk on which an encoded information signal is recorded as a pit string with a light beam and reproducing the information signal from the reflected light, wherein the reproduced analog information signal is amplified. A binarizing unit that separates a signal with a predetermined time constant to generate a digital reproduction signal, and a flaw region detection unit that detects a flaw region of the optical disc from a change in a low-frequency component of the reproduction signal; An optical disk device, wherein when the flaw area detecting means detects a flaw area, the time constant is switched to a shorter time within the flaw area or for a predetermined time after passing through the flaw area and the flaw area.
交流結合する交流結合回路を有し、前記時定数が前記交
流結合回路の時定数であることを特徴とする請求項5記
載の光ディスク装置。6. An optical disk according to claim 5, wherein said binarizing means has an AC coupling circuit for AC coupling said analog reproduction signal, and said time constant is a time constant of said AC coupling circuit. apparatus.
後述するしきい値と比較する比較器と、前記比較器の出
力の低域成分を取り出す低域通過フィルタと、前記低域
通過フィルタの出力を増幅する増幅器とを有し、前記増
幅器の出力を前記しきい値とすると共に、前記時定数可
変再生手段が前記低域通過フィルタの時定数であること
を特徴とする請求項2記載の光ディスク装置。7. A comparator for comparing the analog reproduction signal with a threshold value described later, a low-pass filter for extracting a low-frequency component of an output of the comparator, and the low-pass filter. 3. An amplifier for amplifying the output of the amplifier, wherein the output of the amplifier is used as the threshold value, and the time constant variable reproducing means is a time constant of the low-pass filter. Optical disk device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23630796A JPH1083625A (en) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | Optical disk reproducing method and optical disk device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23630796A JPH1083625A (en) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | Optical disk reproducing method and optical disk device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1083625A true JPH1083625A (en) | 1998-03-31 |
Family
ID=16998866
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23630796A Pending JPH1083625A (en) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | Optical disk reproducing method and optical disk device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1083625A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2340554B (en) * | 1998-08-07 | 2002-07-03 | Ntn Toyo Bearing Co Ltd | Flywheel damper support |
-
1996
- 1996-09-06 JP JP23630796A patent/JPH1083625A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2340554B (en) * | 1998-08-07 | 2002-07-03 | Ntn Toyo Bearing Co Ltd | Flywheel damper support |
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