JPH1082814A - 画像表示装置及び画像表示装置の検査方法 - Google Patents
画像表示装置及び画像表示装置の検査方法Info
- Publication number
- JPH1082814A JPH1082814A JP23637896A JP23637896A JPH1082814A JP H1082814 A JPH1082814 A JP H1082814A JP 23637896 A JP23637896 A JP 23637896A JP 23637896 A JP23637896 A JP 23637896A JP H1082814 A JPH1082814 A JP H1082814A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data signal
- scanning
- line
- lines
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】画像表示装置の走査線とデータ信号線の欠陥検
出を容易に行わせるようにする。 【解決手段】複数本の走査線Y1,Y2,…Ynと、これ
らの走査線に交差するデータ信号線X1,X2,…X
mと、上記走査線及びデータ信号線に対向配設する共通
電極の少なくともいずれかの電源波形を観測し、観測し
た電源波形の異常箇所を検出して、検出した異常箇所よ
り上記走査線或いはデータ信号線の短絡(リーク)或い
は断線箇所を特定する。
出を容易に行わせるようにする。 【解決手段】複数本の走査線Y1,Y2,…Ynと、これ
らの走査線に交差するデータ信号線X1,X2,…X
mと、上記走査線及びデータ信号線に対向配設する共通
電極の少なくともいずれかの電源波形を観測し、観測し
た電源波形の異常箇所を検出して、検出した異常箇所よ
り上記走査線或いはデータ信号線の短絡(リーク)或い
は断線箇所を特定する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、画素がマトリック
ス状に形成される画像表示装置及び画像表示装置の検査
方法に関するものである。
ス状に形成される画像表示装置及び画像表示装置の検査
方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図15は、従来技術の構成図であり、画
像表示装置として液晶画像表示装置を例示している。マ
トリックス状のデータ信号線X1,X2,…Xm及び走査線
Y1,Y2,…Ynと、それらの交点に配置される薄膜トラ
ンジスタ(以下TFTという)10及び画素電極11と
からなる。この基板状態で配線間の短絡や配線の断線を
検出するには、それぞれのデータ信号線X1,X2,…Xm
と走査線Y1,Y2,…Yn上に設けられた検出用パッド1
2にプローブ針13を接触させていた。
像表示装置として液晶画像表示装置を例示している。マ
トリックス状のデータ信号線X1,X2,…Xm及び走査線
Y1,Y2,…Ynと、それらの交点に配置される薄膜トラ
ンジスタ(以下TFTという)10及び画素電極11と
からなる。この基板状態で配線間の短絡や配線の断線を
検出するには、それぞれのデータ信号線X1,X2,…Xm
と走査線Y1,Y2,…Yn上に設けられた検出用パッド1
2にプローブ針13を接触させていた。
【0003】また、前述の検出用パッド12を用いない
別の方法による技術が特開平1−130132号公報に
開示されている。この技術は、図16に示すように、絶
縁基板上に、複数のデータ信号線と走査線、及びそれら
の交点に設けられたTFTと画素電極を備えているアク
ティブマトリックス基板において、上記の絶縁基板上に
TFTによって構成される検査回路を設け、上記データ
信号線、及び走査線の全数または一部を上記検査回路に
接続して、走査線やデータ信号線の短絡や断線の検出を
行わせるものである。
別の方法による技術が特開平1−130132号公報に
開示されている。この技術は、図16に示すように、絶
縁基板上に、複数のデータ信号線と走査線、及びそれら
の交点に設けられたTFTと画素電極を備えているアク
ティブマトリックス基板において、上記の絶縁基板上に
TFTによって構成される検査回路を設け、上記データ
信号線、及び走査線の全数または一部を上記検査回路に
接続して、走査線やデータ信号線の短絡や断線の検出を
行わせるものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術におい
ては、高精細の画像表示装置を得ようとすると、画素数
が増加するので、上記の検出用パッドの数が増大し、プ
ローブ針の数が増大すると共に、そのピッチが小さくな
る。従って、一枚のプローブカードで構成するのはほと
んど不可能となる。また、プローブ針による静電気によ
り、素子の静電破壊を招く恐れもあり、また、パネルに
検出回路等の特別の回路を付加するものでは、その回路
自身の信頼性の向上が必要であり、パネルの歩留りに影
響していた。
ては、高精細の画像表示装置を得ようとすると、画素数
が増加するので、上記の検出用パッドの数が増大し、プ
ローブ針の数が増大すると共に、そのピッチが小さくな
る。従って、一枚のプローブカードで構成するのはほと
んど不可能となる。また、プローブ針による静電気によ
り、素子の静電破壊を招く恐れもあり、また、パネルに
検出回路等の特別の回路を付加するものでは、その回路
自身の信頼性の向上が必要であり、パネルの歩留りに影
響していた。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の問題を解決するた
め、本願の第1の発明は、絶縁基板上に、複数本の走査
線と、該走査線に電気的に絶縁されて交差する複数本の
データ信号線を設け、上記走査線とデータ信号線の交点
部に画素を形成する画像表示部を構成し、上記データ信
号線を駆動するデータ信号線駆動回路と、上記走査線を
駆動する走査線駆動回路を設けた画像表示装置の検査方
法であって、上記走査線駆動回路の電源電圧の波形を観
測し、該電源電圧の波形に異常が生ずる箇所を検出し
て、この異常が生ずる箇所より、異常が生じている走査
線を検出するようにしたことを特徴とする。
め、本願の第1の発明は、絶縁基板上に、複数本の走査
線と、該走査線に電気的に絶縁されて交差する複数本の
データ信号線を設け、上記走査線とデータ信号線の交点
部に画素を形成する画像表示部を構成し、上記データ信
号線を駆動するデータ信号線駆動回路と、上記走査線を
駆動する走査線駆動回路を設けた画像表示装置の検査方
法であって、上記走査線駆動回路の電源電圧の波形を観
測し、該電源電圧の波形に異常が生ずる箇所を検出し
て、この異常が生ずる箇所より、異常が生じている走査
線を検出するようにしたことを特徴とする。
【0006】従って、ある特定のデータ信号線と走査線
が短絡(リーク)していると、上記データ信号線に供給
される映像信号は、上記の短絡箇所を介して走査線に入
り、走査線駆動回路を介して、該走査線駆動回路の電源
に影響を与え、該電源の端子電圧が変動する。この電源
の端子には検査用パッドが設けられているので、この検
査用パッドの電圧を検出することにより、上記の短絡に
よる上記電源の端子電圧の異常を検出することができ、
異常を検出した時点より、短絡されている走査線とデー
タ信号線の位置を検出することができる。
が短絡(リーク)していると、上記データ信号線に供給
される映像信号は、上記の短絡箇所を介して走査線に入
り、走査線駆動回路を介して、該走査線駆動回路の電源
に影響を与え、該電源の端子電圧が変動する。この電源
の端子には検査用パッドが設けられているので、この検
査用パッドの電圧を検出することにより、上記の短絡に
よる上記電源の端子電圧の異常を検出することができ、
異常を検出した時点より、短絡されている走査線とデー
タ信号線の位置を検出することができる。
【0007】また、走査線が断線している場合、この断
線箇所以降に接続される負荷が切り離されることになる
ので、この走査線の負荷が他の走査線の負荷より軽くな
る。従って、この走査線が駆動されるタイミングでは、
走査線駆動回路の電源電圧に変動が生じ、この電源電圧
の変動が生じるタイミングより、断線している走査線を
検出することができる。
線箇所以降に接続される負荷が切り離されることになる
ので、この走査線の負荷が他の走査線の負荷より軽くな
る。従って、この走査線が駆動されるタイミングでは、
走査線駆動回路の電源電圧に変動が生じ、この電源電圧
の変動が生じるタイミングより、断線している走査線を
検出することができる。
【0008】また、本願の第2の発明は、絶縁基板上
に、複数本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて
交差する複数本のデータ信号線を設け、上記走査線とデ
ータ信号線の交点部に画素を形成する画像表示部を構成
し、上記データ信号線を駆動するデータ信号線駆動回路
と、上記走査線を駆動する走査線駆動回路を設けた画像
表示装置の検査方法であって、上記データ信号線駆動回
路の電源電圧の波形を観測し、該電源電圧の波形に異常
が生ずる箇所を検出して、この異常が生ずる箇所より、
異常が生じているデータ信号線を検出するようにしたこ
とを特徴とする。
に、複数本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて
交差する複数本のデータ信号線を設け、上記走査線とデ
ータ信号線の交点部に画素を形成する画像表示部を構成
し、上記データ信号線を駆動するデータ信号線駆動回路
と、上記走査線を駆動する走査線駆動回路を設けた画像
表示装置の検査方法であって、上記データ信号線駆動回
路の電源電圧の波形を観測し、該電源電圧の波形に異常
が生ずる箇所を検出して、この異常が生ずる箇所より、
異常が生じているデータ信号線を検出するようにしたこ
とを特徴とする。
【0009】従って、パネル内に短絡(リーク)や断線
等の異常箇所があると、その部分のデータ信号線の負荷
が異常になり、データ信号線駆動回路への電源供給が過
剰になるので、データ信号線駆動回路の電源電圧に特異
点が現れる。この特異点は、各水平期間中の同一時点に
生ずる。従って、1水平期間毎に同一時点に現れる電源
電圧の特異点を観測すれば、この特異点が生ずるタイミ
ングとデータ信号線出力が一致するところがデータ信号
線の短絡(リーク)や断線等の異常箇所であることを検
出することができる。
等の異常箇所があると、その部分のデータ信号線の負荷
が異常になり、データ信号線駆動回路への電源供給が過
剰になるので、データ信号線駆動回路の電源電圧に特異
点が現れる。この特異点は、各水平期間中の同一時点に
生ずる。従って、1水平期間毎に同一時点に現れる電源
電圧の特異点を観測すれば、この特異点が生ずるタイミ
ングとデータ信号線出力が一致するところがデータ信号
線の短絡(リーク)や断線等の異常箇所であることを検
出することができる。
【0010】また、本願の第3の発明は、絶縁基板上
に、複数本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて
交差する複数本のデータ信号線と、上記走査線とデータ
信号線との交点部に形成した複数個の画素電極を設け、
上記複数個の画素電極に対向して配設した共通電極と、
上記画素電極と共通電極間に設けた表示体で構成する表
示画素と、上記走査線を駆動する走査線駆動回路と、上
記データ信号線を駆動するデータ信号線駆動回路と、上
記共通電極を駆動する共通電極駆動回路とを設けた画像
表示装置の検査方法であって、上記共通電極駆動回路の
電源電圧波形を観測し、該電源電圧波形の異常が生ずる
タイミングより上記共通電極と、上記走査線或いはデー
タ信号線間の異常箇所を検出するようにしたことを特徴
とする。
に、複数本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて
交差する複数本のデータ信号線と、上記走査線とデータ
信号線との交点部に形成した複数個の画素電極を設け、
上記複数個の画素電極に対向して配設した共通電極と、
上記画素電極と共通電極間に設けた表示体で構成する表
示画素と、上記走査線を駆動する走査線駆動回路と、上
記データ信号線を駆動するデータ信号線駆動回路と、上
記共通電極を駆動する共通電極駆動回路とを設けた画像
表示装置の検査方法であって、上記共通電極駆動回路の
電源電圧波形を観測し、該電源電圧波形の異常が生ずる
タイミングより上記共通電極と、上記走査線或いはデー
タ信号線間の異常箇所を検出するようにしたことを特徴
とする。
【0011】この発明によれば、パネル内で共通電極と
データ信号線或いは走査線が短絡(リーク)しているよ
うな異常箇所があると、映像信号に白ウインドウの信号
等検査用の信号を入力して水平方向にスクロールした場
合、異常箇所のあるデータ信号線上で、共通電極の電源
波形に異常が現れる。従って、この電源波形の異常が現
れるタイミングと、上記白ウインドウが通過する時間が
一致する位置のデータ信号線に異常があることを検出す
ることができる。また、上記共通電極の電源波形に異常
が現れるタイミングより、上記走査線の短絡による異常
及びデータ信号線或いは走査線の断線による異常を検出
することができる。
データ信号線或いは走査線が短絡(リーク)しているよ
うな異常箇所があると、映像信号に白ウインドウの信号
等検査用の信号を入力して水平方向にスクロールした場
合、異常箇所のあるデータ信号線上で、共通電極の電源
波形に異常が現れる。従って、この電源波形の異常が現
れるタイミングと、上記白ウインドウが通過する時間が
一致する位置のデータ信号線に異常があることを検出す
ることができる。また、上記共通電極の電源波形に異常
が現れるタイミングより、上記走査線の短絡による異常
及びデータ信号線或いは走査線の断線による異常を検出
することができる。
【0012】また、第4の発明は、絶縁基板上に、複数
本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて交差する
複数本のデータ信号線と、上記走査線とデータ信号線と
の交点部に形成した複数個の画素電極と、該複数個の画
素電極に対向して配設した共通電極とを設け、上記走査
線を駆動する走査線駆動回路と、上記データ信号線を駆
動するデータ信号線駆動回路と、上記共通電極を駆動す
る共通電極駆動回路とを設けた画像表示装置の検査方法
であって、上記データ信号線に供給する検査用の映像信
号を映像振幅の異なる2値のパターンで構成し、該パタ
ーンを表示画面上でスクロールさせて、上記走査線駆動
回路、データ信号線駆動回路或いは共通電極駆動回路の
電源電圧波形を観測し、該電源電圧波形の異常が生ずる
タイミングより、上記走査線或いはデータ信号線の異常
箇所を検出するようにしたことを特徴とする。
本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて交差する
複数本のデータ信号線と、上記走査線とデータ信号線と
の交点部に形成した複数個の画素電極と、該複数個の画
素電極に対向して配設した共通電極とを設け、上記走査
線を駆動する走査線駆動回路と、上記データ信号線を駆
動するデータ信号線駆動回路と、上記共通電極を駆動す
る共通電極駆動回路とを設けた画像表示装置の検査方法
であって、上記データ信号線に供給する検査用の映像信
号を映像振幅の異なる2値のパターンで構成し、該パタ
ーンを表示画面上でスクロールさせて、上記走査線駆動
回路、データ信号線駆動回路或いは共通電極駆動回路の
電源電圧波形を観測し、該電源電圧波形の異常が生ずる
タイミングより、上記走査線或いはデータ信号線の異常
箇所を検出するようにしたことを特徴とする。
【0013】この発明によれば、データ信号線に映像振
幅の異なる2値のパターンで構成した検査用の映像信号
を供給し、この映像信号によるパターンを表示画面上で
スクロールさせて、この時の走査線駆動回路、データ信
号線駆動回路或いは共通電極駆動回路の電源電圧を観測
すれば、この観測値の異常が発生するタイミングより走
査線とデータ信号線間及び共通電極と走査線或いはデー
タ信号線間の短絡による異常を検出することができる。
幅の異なる2値のパターンで構成した検査用の映像信号
を供給し、この映像信号によるパターンを表示画面上で
スクロールさせて、この時の走査線駆動回路、データ信
号線駆動回路或いは共通電極駆動回路の電源電圧を観測
すれば、この観測値の異常が発生するタイミングより走
査線とデータ信号線間及び共通電極と走査線或いはデー
タ信号線間の短絡による異常を検出することができる。
【0014】また、本願の第5の発明は、絶縁基板上
に、複数本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて
交差する複数本のデータ信号線と、上記走査線とデータ
信号線との交点部に形成した複数個の画素電極と、上記
複数個の画素電極に対向して設けた共通電極と、上記画
素電極と共通電極間に設けた表示体で構成する表示画素
と、上記走査線を駆動する走査線駆動回路と、上記デー
タ信号線を駆動するデータ信号線駆動回路と、上記共通
電極を駆動する共通電極駆動回路とを設け、上記走査線
駆動回路、データ信号線駆動回路或いは共通電極駆動回
路にそれぞれ電源を供給する電源回路に接続し、上記デ
ータ信号線或いは走査線の異常に起因した上記電源回路
の電圧異常を検出するための検出用パッドを設けたこと
を特徴とする。
に、複数本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて
交差する複数本のデータ信号線と、上記走査線とデータ
信号線との交点部に形成した複数個の画素電極と、上記
複数個の画素電極に対向して設けた共通電極と、上記画
素電極と共通電極間に設けた表示体で構成する表示画素
と、上記走査線を駆動する走査線駆動回路と、上記デー
タ信号線を駆動するデータ信号線駆動回路と、上記共通
電極を駆動する共通電極駆動回路とを設け、上記走査線
駆動回路、データ信号線駆動回路或いは共通電極駆動回
路にそれぞれ電源を供給する電源回路に接続し、上記デ
ータ信号線或いは走査線の異常に起因した上記電源回路
の電圧異常を検出するための検出用パッドを設けたこと
を特徴とする。
【0015】従って、この発明によれば、画像表示装置
のデータ信号線駆動回路、走査線駆動回路及び共通電極
駆動回路の各電源回路に、該電源回路の出力電圧を検出
するための検出用パッドを設けているので、簡単な構成
で、上記検出用パッドにより上記電源回路の出力電圧を
検出でき、上記電源回路の電圧より画像表示装置の検査
を行う場合に検査が行い易い画像表示装置を提供するこ
とができる。
のデータ信号線駆動回路、走査線駆動回路及び共通電極
駆動回路の各電源回路に、該電源回路の出力電圧を検出
するための検出用パッドを設けているので、簡単な構成
で、上記検出用パッドにより上記電源回路の出力電圧を
検出でき、上記電源回路の電圧より画像表示装置の検査
を行う場合に検査が行い易い画像表示装置を提供するこ
とができる。
【0016】
(実施形態1)図1は、本発明の第1の実施形態を示す
ものであり、TFTで駆動されるアクティブマトリック
ス方式の液晶表示装置に適用した場合を示している。図
1において、1は走査線Y1,Y2,…Ynを駆動する走
査線(ゲート)駆動回路、2はデータ信号線X1,X2,
…Xmを駆動するデータ信号線(ソース)駆動回路、3
は画像表示部である。ゲート駆動回路1内の4は走査信
号を順番にスキャンするシフトレジスタであり、5はそ
の走査信号を出力する為のバッファである。
ものであり、TFTで駆動されるアクティブマトリック
ス方式の液晶表示装置に適用した場合を示している。図
1において、1は走査線Y1,Y2,…Ynを駆動する走
査線(ゲート)駆動回路、2はデータ信号線X1,X2,
…Xmを駆動するデータ信号線(ソース)駆動回路、3
は画像表示部である。ゲート駆動回路1内の4は走査信
号を順番にスキャンするシフトレジスタであり、5はそ
の走査信号を出力する為のバッファである。
【0017】図2に、上記バッファ5の代表的な構成を
示す。上記バッファ5は、PchとNchのトランジスタT
r1、Tr2をHigh側電源とLow側電源の間に直列に設けた
いわゆるCMOS構成であるが、これは代表的な構成を
例示するものであって回路構成を特定するものではな
い。上記バッファ5の他の構成として、図3に示すよう
に、High側電源あるいはLow側電源のどちらか一方と0
電位の間に、2個のトランジスタTr3、Tr4を挿入する
ようにしてもよい。
示す。上記バッファ5は、PchとNchのトランジスタT
r1、Tr2をHigh側電源とLow側電源の間に直列に設けた
いわゆるCMOS構成であるが、これは代表的な構成を
例示するものであって回路構成を特定するものではな
い。上記バッファ5の他の構成として、図3に示すよう
に、High側電源あるいはLow側電源のどちらか一方と0
電位の間に、2個のトランジスタTr3、Tr4を挿入する
ようにしてもよい。
【0018】図1において、上記ゲート駆動回路1内の
VGH,VGLはシフトレジスタ4とバッファ5のHigh側の電
源とLow側の電源であり、図1ではシフトレジスタ4と
バッファ5の両方に供給されているが、別々に供給する
ようにしてもよい。12−1は、上記High側の電源の電
圧波形を観測するための検出用パッドであり、12−2
は、上記Low側の電源の電圧波形を観測するための検出
用パッドである。上記両検出用パッド12−1、12−
2は、上記ゲート駆動回路1上に設けてもよく、また、
外部回路等、その他の適宜の場所に形成することができ
る。
VGH,VGLはシフトレジスタ4とバッファ5のHigh側の電
源とLow側の電源であり、図1ではシフトレジスタ4と
バッファ5の両方に供給されているが、別々に供給する
ようにしてもよい。12−1は、上記High側の電源の電
圧波形を観測するための検出用パッドであり、12−2
は、上記Low側の電源の電圧波形を観測するための検出
用パッドである。上記両検出用パッド12−1、12−
2は、上記ゲート駆動回路1上に設けてもよく、また、
外部回路等、その他の適宜の場所に形成することができ
る。
【0019】6はソース駆動回路2内において、外部よ
り映像信号ライン7に供給される映像信号VSを順次サ
ンプリングするためのサンプリング信号を出力するシフ
トレジスタであり、8は、上記映像信号VSを上記サン
プリング信号に基づき、サンプリングするためのサンプ
リング回路である。上記シフトレジスタ6からのサンプ
リング信号が、サンプリング回路8の各トランジスタの
ゲートに入力され、この各トランジスタのドレインよ
り、上記映像信号VSをサンプリングした信号がデータ
信号線X1,X2,…Xnへ出力される。そして、走査線
駆動回路1から出力される、各走査線Y1,Y2,…Ym
に供給される走査信号により画像表示部3の各画素部が
駆動される。
り映像信号ライン7に供給される映像信号VSを順次サ
ンプリングするためのサンプリング信号を出力するシフ
トレジスタであり、8は、上記映像信号VSを上記サン
プリング信号に基づき、サンプリングするためのサンプ
リング回路である。上記シフトレジスタ6からのサンプ
リング信号が、サンプリング回路8の各トランジスタの
ゲートに入力され、この各トランジスタのドレインよ
り、上記映像信号VSをサンプリングした信号がデータ
信号線X1,X2,…Xnへ出力される。そして、走査線
駆動回路1から出力される、各走査線Y1,Y2,…Ym
に供給される走査信号により画像表示部3の各画素部が
駆動される。
【0020】次に、上記構成の液晶表示装置において、
画像表示部3内の短絡(リーク)の検出方法を説明す
る。上記の映像信号ライン7に入力する映像信号V
Sは、映像振幅が2値以上の画面で、なるべく振幅差が
大きいものが望ましい。ここでは図4に示すように、黒
ベタ画面に白ウインドウがある画面を入力している。走
査線Y1,Y2,…Ynとデータ信号線X1,X2,…Xmの
リーク抵抗をRLKとすると、ソース駆動回路2から上記
のリーク抵抗RLKを介して、ゲート駆動回路1までの等
価回路は図5及び図6に示すようになる。
画像表示部3内の短絡(リーク)の検出方法を説明す
る。上記の映像信号ライン7に入力する映像信号V
Sは、映像振幅が2値以上の画面で、なるべく振幅差が
大きいものが望ましい。ここでは図4に示すように、黒
ベタ画面に白ウインドウがある画面を入力している。走
査線Y1,Y2,…Ynとデータ信号線X1,X2,…Xmの
リーク抵抗をRLKとすると、ソース駆動回路2から上記
のリーク抵抗RLKを介して、ゲート駆動回路1までの等
価回路は図5及び図6に示すようになる。
【0021】図5は走査線が非選択期間の場合、即ち、
走査線上のTFTがOFFの期間のときの等価回路図で
あり、ゲート駆動回路1のバッファ5を構成する図2の
下側のトランジスタTr2(Nch)がONしている状態を
示している。画像表示部3内のリーク箇所を図4中のA
点とし、まずA点でリークしているデータ信号線X1,
X2,…Xnの検出方法を説明する。
走査線上のTFTがOFFの期間のときの等価回路図で
あり、ゲート駆動回路1のバッファ5を構成する図2の
下側のトランジスタTr2(Nch)がONしている状態を
示している。画像表示部3内のリーク箇所を図4中のA
点とし、まずA点でリークしているデータ信号線X1,
X2,…Xnの検出方法を説明する。
【0022】図4中の白ウインドウを水平方向へスクロ
ールさせると、上記の白ウインドウがA点を通過すると
き、走査線の非選択期間中、図5に示すように、映像信
号VSはリーク抵抗RLKからバッファ5のNchトランジ
スタTr2のON抵抗を介してゲートLow電源VGLに流れ
るので、ゲートLow電源VGLに出力用のパッド12−1
を設け観測すると、リーク箇所で異常な電圧波形が検出
される。図7はリーク箇所を検出するときのゲートLow
電源の波形を示している。また、白ウインドウがA点以
外の位置にあるときは、リークがないので、ゲートLow
電源VGLの波形は、図7(ウ)に示すように、一定の正
常状態を示す。同図の(ア)は、ゲート駆動回路1に与
えられる垂直期間のスタートパルスである。
ールさせると、上記の白ウインドウがA点を通過すると
き、走査線の非選択期間中、図5に示すように、映像信
号VSはリーク抵抗RLKからバッファ5のNchトランジ
スタTr2のON抵抗を介してゲートLow電源VGLに流れ
るので、ゲートLow電源VGLに出力用のパッド12−1
を設け観測すると、リーク箇所で異常な電圧波形が検出
される。図7はリーク箇所を検出するときのゲートLow
電源の波形を示している。また、白ウインドウがA点以
外の位置にあるときは、リークがないので、ゲートLow
電源VGLの波形は、図7(ウ)に示すように、一定の正
常状態を示す。同図の(ア)は、ゲート駆動回路1に与
えられる垂直期間のスタートパルスである。
【0023】以上より、映像信号VSがゲートLow電源へ
リークしたときの波形は、垂直期間中の白ウインドウの
位置、つまり図7の(イ)で示す斜線部になる。従っ
て、白ウインドウが水平方向に移動している時間中、波
形(イ)の状態が観測される時間と、画面上で白ウイン
ドウが通過する時間が一致する位置のデータ信号線がリ
ークしていると推測できる。白ウインドウの幅を狭くし
ていくことでデータ信号線の特定がより正確になる。
リークしたときの波形は、垂直期間中の白ウインドウの
位置、つまり図7の(イ)で示す斜線部になる。従っ
て、白ウインドウが水平方向に移動している時間中、波
形(イ)の状態が観測される時間と、画面上で白ウイン
ドウが通過する時間が一致する位置のデータ信号線がリ
ークしていると推測できる。白ウインドウの幅を狭くし
ていくことでデータ信号線の特定がより正確になる。
【0024】次に図4に示すリーク箇所A点の走査線の
検出方法を説明する。走査線の検出は、ゲート駆動回路
1のバッファ5を構成する図2に示した回路の上側トラ
ンジスタTr1(Pch)がONしている走査線選択期間
中、図6の等価回路に示すように、映像信号VSはリー
ク抵抗RLKを介してゲートHigh電源VGHへリークするの
で、ゲートHigh電源VGLに検出用パッド12−1を設
け、ゲートHigh電源VGHの異常を観測することにより走
査線の異常を検出することができる。
検出方法を説明する。走査線の検出は、ゲート駆動回路
1のバッファ5を構成する図2に示した回路の上側トラ
ンジスタTr1(Pch)がONしている走査線選択期間
中、図6の等価回路に示すように、映像信号VSはリー
ク抵抗RLKを介してゲートHigh電源VGHへリークするの
で、ゲートHigh電源VGLに検出用パッド12−1を設
け、ゲートHigh電源VGHの異常を観測することにより走
査線の異常を検出することができる。
【0025】上記画面上で白ウインドウを垂直方向へス
クロールさせると、走査線がリークをおこしている箇所
つまりA点を白ウインドウが通過するとき、図6の等価
回路より、映像信号成分がリークし、ゲートHigh電源V
GH側へ異常となって現れる。これを示すのが図8(イ)
である。A点以外においても白成分の信号はリークする
が、データ信号線の抵抗により、A点から遠ざかる程異
常電圧は減少する。図8(ウ)はこの状態を示してい
る。
クロールさせると、走査線がリークをおこしている箇所
つまりA点を白ウインドウが通過するとき、図6の等価
回路より、映像信号成分がリークし、ゲートHigh電源V
GH側へ異常となって現れる。これを示すのが図8(イ)
である。A点以外においても白成分の信号はリークする
が、データ信号線の抵抗により、A点から遠ざかる程異
常電圧は減少する。図8(ウ)はこの状態を示してい
る。
【0026】従って、白ウインドウの位置と図8(イ)
の波形を観測することにより、リークしている走査線を
特定できる。白ウインドウを小さくしていけば、リーク
箇所の限定はし易くなるのはいうまでもない。また、走
査線の特定の際に入力する画面は振幅レベルに差がある
2値の信号に限らず、他の画面(例えば黒ベタ)でもよ
い。リークする走査線がONするときのみ映像信号が重
畳してくるので図8(イ)或いは(ウ)が観測できる。
の波形を観測することにより、リークしている走査線を
特定できる。白ウインドウを小さくしていけば、リーク
箇所の限定はし易くなるのはいうまでもない。また、走
査線の特定の際に入力する画面は振幅レベルに差がある
2値の信号に限らず、他の画面(例えば黒ベタ)でもよ
い。リークする走査線がONするときのみ映像信号が重
畳してくるので図8(イ)或いは(ウ)が観測できる。
【0027】その時の走査線の特定方法を以下に示す。
図8(ア)に示すゲートスタートパルスから図8(エ)
に示すゲート初段の出力信号までの時間をt1、ゲート
出力のスキャン時間をtGCKとする。また、上記のゲー
トスタートパルスから図8(イ)に示す異常箇所(A
点)までの時間を測定し、それをtLKとする。求める走
査線をYLKとすると、次式でYLKが求められる。
図8(ア)に示すゲートスタートパルスから図8(エ)
に示すゲート初段の出力信号までの時間をt1、ゲート
出力のスキャン時間をtGCKとする。また、上記のゲー
トスタートパルスから図8(イ)に示す異常箇所(A
点)までの時間を測定し、それをtLKとする。求める走
査線をYLKとすると、次式でYLKが求められる。
【0028】YLK=(tLK−t1)/tGCK …(1) また、(1)式は、上記のゲートスタートパルスからカ
ウントして算出する方法であるが、ゲート初段出力時間
よりカウントして求めてよいのはいうまでもない。その
ときは、ゲート初段の出力パルスから異常箇所の時間を
測定する。これをtLK’とすると、 YLK=tLK’/tGCK …(2) となり、これより求める走査線が算出できる。
ウントして算出する方法であるが、ゲート初段出力時間
よりカウントして求めてよいのはいうまでもない。その
ときは、ゲート初段の出力パルスから異常箇所の時間を
測定する。これをtLK’とすると、 YLK=tLK’/tGCK …(2) となり、これより求める走査線が算出できる。
【0029】以上は、走査線のリーク箇所を、ゲート駆
動回路のLow電源の波形の観測で特定し、また、データ
信号線のリーク箇所は、ゲート駆動回路のHigh電源の波
形を観測して求める方法を示したが、電源の観測はどち
らでもよく、場合によっては入れ換えてもよいし、また
両方を観測してもよい。
動回路のLow電源の波形の観測で特定し、また、データ
信号線のリーク箇所は、ゲート駆動回路のHigh電源の波
形を観測して求める方法を示したが、電源の観測はどち
らでもよく、場合によっては入れ換えてもよいし、また
両方を観測してもよい。
【0030】(実施形態2)次にソース駆動回路の電源
波形を観測することにより、パネル内の異常箇所を特定
する方法を説明する。図9はソース駆動回路2の出力部
の詳細な構成を示す図である。サンプリング回路8のサ
ンプリングトランジスタと、データ信号線X1,X2,…
Xmの間には、データ信号線につながる負荷の影響を受
けないようにゲート駆動回路1で示したのと同様なバッ
ファ9が挿入されている。
波形を観測することにより、パネル内の異常箇所を特定
する方法を説明する。図9はソース駆動回路2の出力部
の詳細な構成を示す図である。サンプリング回路8のサ
ンプリングトランジスタと、データ信号線X1,X2,…
Xmの間には、データ信号線につながる負荷の影響を受
けないようにゲート駆動回路1で示したのと同様なバッ
ファ9が挿入されている。
【0031】データ信号線X1,X2,…Xmにつながる
負荷は、パネルが大型になればなるほど増加するので、
挿入されるバッファ9は不可欠なものになる。バッファ
9は、パネル内が正常であり、データ信号線X1,X2,
…Xmにつながる負荷に異常がなければ、正常に機能
し、それ以前の回路、あるいはバッファ9の電源に大き
な変動をきたすことはない。
負荷は、パネルが大型になればなるほど増加するので、
挿入されるバッファ9は不可欠なものになる。バッファ
9は、パネル内が正常であり、データ信号線X1,X2,
…Xmにつながる負荷に異常がなければ、正常に機能
し、それ以前の回路、あるいはバッファ9の電源に大き
な変動をきたすことはない。
【0032】パネル内に異常箇所があり、その部分のデ
ータ信号線の負荷が異常になると、バッファ9への電源
供給が過剰になり、バッファ9の電源電圧に特異点が現
れる。従って、バッファ9の電源を観測することで異常
箇所を特定することができる。この特定方法において、
上記の実施形態1の場合と相違する点は、映像信号VS
を2値の画面の一方(例えば黒ベタ上に白ウインドウ)
を動かすことによる特定が行えない点である。
ータ信号線の負荷が異常になると、バッファ9への電源
供給が過剰になり、バッファ9の電源電圧に特異点が現
れる。従って、バッファ9の電源を観測することで異常
箇所を特定することができる。この特定方法において、
上記の実施形態1の場合と相違する点は、映像信号VS
を2値の画面の一方(例えば黒ベタ上に白ウインドウ)
を動かすことによる特定が行えない点である。
【0033】次に、この異常箇所の特定を行う方法につ
いて説明する。ソース電源の波形観測は、High電源或い
はLow電源のいずれの電源の電圧波形でもかまわない
が、観測を1水平周期で行うようにすることである。異
常箇所は、図10に示すように、High電源の電源電圧V
GHにおいて、1水平周期ごとに同一時間(時間軸にAで
図示)に現れる。
いて説明する。ソース電源の波形観測は、High電源或い
はLow電源のいずれの電源の電圧波形でもかまわない
が、観測を1水平周期で行うようにすることである。異
常箇所は、図10に示すように、High電源の電源電圧V
GHにおいて、1水平周期ごとに同一時間(時間軸にAで
図示)に現れる。
【0034】従って、そのタイミングとデータ信号線出
力が一致するところがデータ信号線の異常箇所であるこ
とを特定することができる。異常箇所ではデータ信号線
からの異常な電流の流出あるいは流入で電圧変動が起こ
ることから、映像信号VSをベタ画面の最小レベルから
最大レベルまで変化させることにより電圧変動部分を判
別しやすくすることも可能である。
力が一致するところがデータ信号線の異常箇所であるこ
とを特定することができる。異常箇所ではデータ信号線
からの異常な電流の流出あるいは流入で電圧変動が起こ
ることから、映像信号VSをベタ画面の最小レベルから
最大レベルまで変化させることにより電圧変動部分を判
別しやすくすることも可能である。
【0035】(実施形態3)次に、各画素電極に対向し
て設けた共通電極の共通電極駆動回路(以下COM回路
という)の電源波形を観測することでパネル内の異常箇
所を特定する方法を説明する。COM回路20は図11
に示すような回路構成になっている。即ち、COM回路
20の出力も上述する実施形態1,2で示したものと同
様のバッファ21で構成されている。COM回路20を
含めたパネル構成図は図12に示す。図12は、共通電
極ライン22(以下COMラインという)をTFT基板
上に専用ラインとして設け、このCOMライン22を液
晶の補助容量(Cs)のもう一方の電極となるように配
線した構成を示す。
て設けた共通電極の共通電極駆動回路(以下COM回路
という)の電源波形を観測することでパネル内の異常箇
所を特定する方法を説明する。COM回路20は図11
に示すような回路構成になっている。即ち、COM回路
20の出力も上述する実施形態1,2で示したものと同
様のバッファ21で構成されている。COM回路20を
含めたパネル構成図は図12に示す。図12は、共通電
極ライン22(以下COMラインという)をTFT基板
上に専用ラインとして設け、このCOMライン22を液
晶の補助容量(Cs)のもう一方の電極となるように配
線した構成を示す。
【0036】次に、COMライン22とデータ信号線X
1,X2,…Xmあるいは走査線Y1,Y2,…Ynがリーク
(異常)している箇所の特定を説明する。COM回路2
0は図11に示すごとく、出力はバッファ21で構成さ
れているので、実施形態1の場合と同様に、この電源を
観測すれば異常箇所の特定ができる。
1,X2,…Xmあるいは走査線Y1,Y2,…Ynがリーク
(異常)している箇所の特定を説明する。COM回路2
0は図11に示すごとく、出力はバッファ21で構成さ
れているので、実施形態1の場合と同様に、この電源を
観測すれば異常箇所の特定ができる。
【0037】つまり、データ信号線X1,X2,…Xmの
リーク箇所の特定は、映像画面をベタ黒に白ウインドウ
を出し、白ウインドウを水平方向に動かし、電源波形の
異常箇所が現れる時間と、画面上で白ウインドウが通過
する時間が一致する位置のデータ信号線が異常箇所であ
り、また、ゲート駆動回路の出力のタイミングと一致す
る走査線が異常箇所と特定ができる。
リーク箇所の特定は、映像画面をベタ黒に白ウインドウ
を出し、白ウインドウを水平方向に動かし、電源波形の
異常箇所が現れる時間と、画面上で白ウインドウが通過
する時間が一致する位置のデータ信号線が異常箇所であ
り、また、ゲート駆動回路の出力のタイミングと一致す
る走査線が異常箇所と特定ができる。
【0038】(実施形態4)次に、液晶表示装置のパネ
ル内の断線箇所の特定を行う実施形態を示す。ゲート駆
動回路1の電源を観測することを例にして示すが、ソー
ス駆動回路2の電源、あるいは、COM回路20の電源
波形を観測することによっても同様に実施できる。図1
3に示すように、2段目の走査線上でB点が断線されて
いるとする。その走査線の断線以降は、データ信号線と
の重なり容量が切り離されるので、重なり容量による負
荷が他の正常な走査線より軽くなっている。
ル内の断線箇所の特定を行う実施形態を示す。ゲート駆
動回路1の電源を観測することを例にして示すが、ソー
ス駆動回路2の電源、あるいは、COM回路20の電源
波形を観測することによっても同様に実施できる。図1
3に示すように、2段目の走査線上でB点が断線されて
いるとする。その走査線の断線以降は、データ信号線と
の重なり容量が切り離されるので、重なり容量による負
荷が他の正常な走査線より軽くなっている。
【0039】図14は、ゲート駆動回路1の電源波形を
垂直周期で観測した図である。正常な走査線は、データ
信号線X1,X2,…Xmとの重なりで、データ信号上の
信号、つまりは映像信号と容量結合をしているので、図
14で示すごとく、ゲート駆動回路1の電源にはビデオ
成分による変動がある。図14では、変動を電圧降下と
して示し、点線と実線の差で図示している。
垂直周期で観測した図である。正常な走査線は、データ
信号線X1,X2,…Xmとの重なりで、データ信号上の
信号、つまりは映像信号と容量結合をしているので、図
14で示すごとく、ゲート駆動回路1の電源にはビデオ
成分による変動がある。図14では、変動を電圧降下と
して示し、点線と実線の差で図示している。
【0040】断線ラインに相当する走査線は負荷が少な
いので、電源は正常に戻ろうとする。従って、この時の
波形は図14のB点のように示すことができ、他と比べ
ると特異点として観測することができる。これより、図
14中の特異点(B点)のタイミングとゲート駆動回路
の出力タイミングが一致する走査線が異常(断線)であ
ることを特定することができる。電源波形の観測はHigh
側電源を用いた場合を示したが、Low電源を用いても同
様に実施することができる。
いので、電源は正常に戻ろうとする。従って、この時の
波形は図14のB点のように示すことができ、他と比べ
ると特異点として観測することができる。これより、図
14中の特異点(B点)のタイミングとゲート駆動回路
の出力タイミングが一致する走査線が異常(断線)であ
ることを特定することができる。電源波形の観測はHigh
側電源を用いた場合を示したが、Low電源を用いても同
様に実施することができる。
【0041】以上、画素がマトリックス状に構成される
画像表示部の短絡、あるいは断線の箇所を特定する例と
して液晶画像表示装置を例にとり説明したが、これに特
定するものではなく、マトリックス状に画素を配列した
表示装置であれば、例えばEL(electro luminescenc
e)、FED(field emission display)、PDP(Plazuma
display panles)等、他の表示装置にも同様に適用する
ことができる。
画像表示部の短絡、あるいは断線の箇所を特定する例と
して液晶画像表示装置を例にとり説明したが、これに特
定するものではなく、マトリックス状に画素を配列した
表示装置であれば、例えばEL(electro luminescenc
e)、FED(field emission display)、PDP(Plazuma
display panles)等、他の表示装置にも同様に適用する
ことができる。
【0042】また、画像表示部とゲート駆動回路1ある
いは、ソース駆動回路2、あるいは2つの駆動回路両方
を同一基板上にモノリシックに形成したパネルでも同様
な方法で異常箇所の特定ができる。その際、駆動回路の
実装工程が省け、基板形成後に異常箇所を検出すること
ができるので、パネルの歩留まり向上が図れる。
いは、ソース駆動回路2、あるいは2つの駆動回路両方
を同一基板上にモノリシックに形成したパネルでも同様
な方法で異常箇所の特定ができる。その際、駆動回路の
実装工程が省け、基板形成後に異常箇所を検出すること
ができるので、パネルの歩留まり向上が図れる。
【0043】
【発明の効果】本発明は以上のように、走査線、データ
信号線或いは共通電極の電源の波形より、走査線或いは
データ信号線の異常を観測し、短絡(リーク)或いは断
線ラインの特定を行うので、各走査線或いは各データ信
号線毎に検出用パッドを設ける必要がなく、高精細な表
示装置の検査方法にも適用することができる。
信号線或いは共通電極の電源の波形より、走査線或いは
データ信号線の異常を観測し、短絡(リーク)或いは断
線ラインの特定を行うので、各走査線或いは各データ信
号線毎に検出用パッドを設ける必要がなく、高精細な表
示装置の検査方法にも適用することができる。
【0044】また、走査線、データ信号線の検査にプロ
ーブ針を多数設けたプローブカードの使用が不要にな
り、検出用パッドの減少で、検査工程の短縮及びコスト
ダウンを図ることができる。また、特別な検査回路を付
加する必要がないので、表示パネルの歩留まりを向上さ
せることができ、また、プローブ針を直接走査線やデー
タ信号線に接触させる必要がないので、静電気によるス
イッチング素子の静電破壊を招くこともない。
ーブ針を多数設けたプローブカードの使用が不要にな
り、検出用パッドの減少で、検査工程の短縮及びコスト
ダウンを図ることができる。また、特別な検査回路を付
加する必要がないので、表示パネルの歩留まりを向上さ
せることができ、また、プローブ針を直接走査線やデー
タ信号線に接触させる必要がないので、静電気によるス
イッチング素子の静電破壊を招くこともない。
【0045】また、アクティブマトリックス型液晶表示
装置に適用した場合、ゲート駆動回路及びソース駆動回
路を画像表示部の同一基板上にモノリシックに形成する
ことができ、検査を基板形成後に行えるので、パネルの
歩留まりを向上させることができる。
装置に適用した場合、ゲート駆動回路及びソース駆動回
路を画像表示部の同一基板上にモノリシックに形成する
ことができ、検査を基板形成後に行えるので、パネルの
歩留まりを向上させることができる。
【図1】 本発明に用いる画像表示装置の構成図であ
る。
る。
【図2】 図1の要部の構成図である。
【図3】 図1の要部の他の実施形態の構成図である。
【図4】 本発明の検査に用いる映像パターンの説明図
である。
である。
【図5】 本発明の動作説明に用いる第1の等価回路図
である。
である。
【図6】 本発明の動作説明に用いる第2の等価回路図
である。
である。
【図7】 本発明の動作説明図である。
【図8】 本発明の他の動作説明図である。
【図9】 本発明の他の実施形態に用いる回路の要部構
成図である。
成図である。
【図10】 図9の実施形態における動作説明図であ
る。
る。
【図11】 本発明の更に他の実施形態に用いる回路の
要部構成図である。
要部構成図である。
【図12】 本発明の更に他の実施形態に用いる回路の
構成図である。
構成図である。
【図13】 本発明の更に他の実施形態の説明に用いる
回路構成図である。
回路構成図である。
【図14】 図13の動作説明図である。
【図15】 従来例の構成図である。
【図16】 他の従来例の構成図である。
1 走査線(ゲート)駆動回路 2 データ信号線(ソース)駆動回路 3 画像表示部 7 映像信号ライン 12 検出用パッド 12−1 検出用パッド 12−2 検出用パッド 20 COM回路 22 共通電極ライン X1,X2,…Xm データ信号線 Y1,Y2,…Yn 走査線
Claims (5)
- 【請求項1】 絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線を設け、上記走査線とデータ信号線の交点部に画素を
形成する画像表示部を構成し、上記データ信号線を駆動
するデータ信号線駆動回路と、上記走査線を駆動する走
査線駆動回路を設けた画像表示装置の検査方法であっ
て、上記走査線駆動回路の電源電圧の波形を観測し、該
電源電圧の波形に異常が生ずる箇所を検出して、この異
常が生ずる箇所より、異常が生じている走査線を検出す
るようにしたことを特徴とする画像表示装置の検査方
法。 - 【請求項2】 絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線を設け、上記走査線とデータ信号線の交点部に画素を
形成する画像表示部を構成し、上記データ信号線を駆動
するデータ信号線駆動回路と、上記走査線を駆動する走
査線駆動回路を設けた画像表示装置の検査方法であっ
て、上記データ信号線駆動回路の電源電圧の波形を観測
し、該電源電圧の波形に異常が生ずる箇所を検出して、
この異常が生ずる箇所より、異常が生じているデータ信
号線を検出するようにしたことを特徴とする画像表示装
置の検査方法。 - 【請求項3】 絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線と、上記走査線とデータ信号線との交点部に形成した
複数個の画素電極を設け、上記複数個の画素電極に対向
して配設した共通電極と、上記画素電極と共通電極間に
設けた表示体で構成する表示画素と、上記走査線を駆動
する走査線駆動回路と、上記データ信号線を駆動するデ
ータ信号線駆動回路と、上記共通電極を駆動する共通電
極駆動回路とを設けた画像表示装置の検査方法であっ
て、上記共通電極駆動回路の電源電圧波形を観測し、該
電源電圧波形の異常が生ずるタイミングより上記共通電
極と、上記走査線或いはデータ信号線間の異常箇所を検
出するようにしたことを特徴とする画像表示装置の検査
方法。 - 【請求項4】 絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線と、上記走査線とデータ信号線との交点部に形成した
複数個の画素電極と、該複数個の画素電極に対向して配
設した共通電極とを設け、上記走査線を駆動する走査線
駆動回路と、上記データ信号線を駆動するデータ信号線
駆動回路と、上記共通電極を駆動する共通電極駆動回路
とを設けた画像表示装置の検査方法であって、上記デー
タ信号線に供給する検査用の映像信号を映像振幅の異な
る2値のパターンで構成し、該パターンを表示画面上で
スクロールさせて、上記走査線駆動回路、データ信号線
駆動回路或いは共通電極駆動回路の電源電圧波形を観測
し、該電源電圧波形の異常が生ずるタイミングより、上
記走査線或いはデータ信号線の異常箇所を検出するよう
にしたことを特徴とする画像表示装置の検査方法。 - 【請求項5】 絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線と、上記走査線とデータ信号線との交点部に形成した
複数個の画素電極と、上記複数個の画素電極に対向して
設けた共通電極と、上記画素電極と共通電極間に設けた
表示体で構成する表示画素と、上記走査線を駆動する走
査線駆動回路と、上記データ信号線を駆動するデータ信
号線駆動回路と、上記共通電極を駆動する共通電極駆動
回路とを設け、上記走査線駆動回路、データ信号線駆動
回路或いは共通電極駆動回路にそれぞれ電源を供給する
電源回路に接続し、上記データ信号線或いは走査線の異
常に起因した上記電源回路の電圧異常を検出するための
検出用パッドを設けたことを特徴とする画像表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23637896A JPH1082814A (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 画像表示装置及び画像表示装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23637896A JPH1082814A (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 画像表示装置及び画像表示装置の検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1082814A true JPH1082814A (ja) | 1998-03-31 |
Family
ID=16999907
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23637896A Pending JPH1082814A (ja) | 1996-09-06 | 1996-09-06 | 画像表示装置及び画像表示装置の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1082814A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100612280B1 (ko) | 2004-08-12 | 2006-08-11 | 삼성에스디아이 주식회사 | 표시 패널의 검사 장치 |
WO2018079636A1 (ja) * | 2016-10-31 | 2018-05-03 | パナソニック株式会社 | 液晶表示装置及び故障検査方法 |
CN112102774A (zh) * | 2020-09-03 | 2020-12-18 | Oppo广东移动通信有限公司 | 显示屏、电子设备和处理方法 |
CN115798426A (zh) * | 2022-11-16 | 2023-03-14 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示装置以及显示装置串扰的改善方法 |
-
1996
- 1996-09-06 JP JP23637896A patent/JPH1082814A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100612280B1 (ko) | 2004-08-12 | 2006-08-11 | 삼성에스디아이 주식회사 | 표시 패널의 검사 장치 |
WO2018079636A1 (ja) * | 2016-10-31 | 2018-05-03 | パナソニック株式会社 | 液晶表示装置及び故障検査方法 |
CN109891313A (zh) * | 2016-10-31 | 2019-06-14 | 松下电器产业株式会社 | 液晶显示装置和故障检查方法 |
JPWO2018079636A1 (ja) * | 2016-10-31 | 2019-09-19 | パナソニック株式会社 | 液晶表示装置及び故障検査方法 |
US10971095B2 (en) | 2016-10-31 | 2021-04-06 | Panasonic Corporation | Liquid crystal display device and failure inspection method |
CN109891313B (zh) * | 2016-10-31 | 2021-12-07 | 松下电器产业株式会社 | 液晶显示装置和故障检查方法 |
CN112102774A (zh) * | 2020-09-03 | 2020-12-18 | Oppo广东移动通信有限公司 | 显示屏、电子设备和处理方法 |
CN115798426A (zh) * | 2022-11-16 | 2023-03-14 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示装置以及显示装置串扰的改善方法 |
CN115798426B (zh) * | 2022-11-16 | 2024-05-24 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示装置以及显示装置串扰的改善方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100394923B1 (ko) | 어레이 기판의 검사 방법 | |
US20070236244A1 (en) | Test method, semiconductor device, and display | |
US6265889B1 (en) | Semiconductor test circuit and a method for testing a semiconductor liquid crystal display circuit | |
JP2758103B2 (ja) | アクティブマトリクス基板及びその製造方法 | |
JP3213472B2 (ja) | アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出検査方法、欠陥検出検査装置 | |
US8525540B2 (en) | Switch control unit, test apparatus and method for liquid crystal cell | |
JP2002296620A (ja) | 液晶表示装置 | |
US6864869B2 (en) | Data driver and display utilizing the same | |
US10311766B2 (en) | Test circuit for in-cell touch screen | |
KR100225569B1 (ko) | 액티브 매트릭스 액정 패널의 결함을 검출하는 방법 | |
US5532615A (en) | Inspecting method, inspecting apparatus, and defect correcting method | |
KR100724745B1 (ko) | 액정표시소자 및 그 검사방법 | |
EP3648086A1 (en) | Embedded touch screen testing circuit | |
JP3424302B2 (ja) | 液晶表示装置 | |
US20020017917A1 (en) | Inspection method for array substrate and inspection device for the same | |
JP4795548B2 (ja) | 液晶表示基板検査方法 | |
JPH1082814A (ja) | 画像表示装置及び画像表示装置の検査方法 | |
JP4128677B2 (ja) | 液晶表示装置の検査方法 | |
KR20050005775A (ko) | 플랫 디스플레이 장치 및 플랫 디스플레이 장치의 시험 방법 | |
KR20180074956A (ko) | 패널구동장치 및 패널구동방법 | |
KR100206568B1 (ko) | 게이트 라인 결함 감지 수단을 구비한 액정 표시 장치 | |
KR101043678B1 (ko) | 액정표시장치 | |
JPH0682836A (ja) | アクティブマトリクス基板の検査方法、検査装置及び欠陥修正方法 | |
JP3062552B2 (ja) | 液晶表示装置及びその検査方法 | |
JPH086047A (ja) | アクティブマトリクス基板の検査方法 |