JPH1082814A

JPH1082814A - 画像表示装置及び画像表示装置の検査方法

Info

Publication number: JPH1082814A
Application number: JP23637896A
Authority: JP
Inventors: Manabu Matsuura; 学松浦; Yutaka Yoneda; 裕米田
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1996-09-06
Filing date: 1996-09-06
Publication date: 1998-03-31

Abstract

(57)【要約】【課題】画像表示装置の走査線とデータ信号線の欠陥検
出を容易に行わせるようにする。【解決手段】複数本の走査線Ｙ₁，Ｙ₂，…Ｙ_nと、これ
らの走査線に交差するデータ信号線Ｘ₁，Ｘ₂，…Ｘ
_mと、上記走査線及びデータ信号線に対向配設する共通
電極の少なくともいずれかの電源波形を観測し、観測し
た電源波形の異常箇所を検出して、検出した異常箇所よ
り上記走査線或いはデータ信号線の短絡（リーク）或い
は断線箇所を特定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、画素がマトリック
ス状に形成される画像表示装置及び画像表示装置の検査
方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１５は、従来技術の構成図であり、画
像表示装置として液晶画像表示装置を例示している。マ
トリックス状のデータ信号線Ｘ₁,Ｘ₂,…Ｘ_m及び走査線
Ｙ₁,Ｙ₂,…Ｙ_nと、それらの交点に配置される薄膜トラ
ンジスタ（以下ＴＦＴという）１０及び画素電極１１と
からなる。この基板状態で配線間の短絡や配線の断線を
検出するには、それぞれのデータ信号線Ｘ₁,Ｘ₂,…Ｘ_m
と走査線Ｙ₁,Ｙ₂,…Ｙ_n上に設けられた検出用パッド１
２にプローブ針１３を接触させていた。

【０００３】また、前述の検出用パッド１２を用いない
別の方法による技術が特開平１−１３０１３２号公報に
開示されている。この技術は、図１６に示すように、絶
縁基板上に、複数のデータ信号線と走査線、及びそれら
の交点に設けられたＴＦＴと画素電極を備えているアク
ティブマトリックス基板において、上記の絶縁基板上に
ＴＦＴによって構成される検査回路を設け、上記データ
信号線、及び走査線の全数または一部を上記検査回路に
接続して、走査線やデータ信号線の短絡や断線の検出を
行わせるものである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術におい
ては、高精細の画像表示装置を得ようとすると、画素数
が増加するので、上記の検出用パッドの数が増大し、プ
ローブ針の数が増大すると共に、そのピッチが小さくな
る。従って、一枚のプローブカードで構成するのはほと
んど不可能となる。また、プローブ針による静電気によ
り、素子の静電破壊を招く恐れもあり、また、パネルに
検出回路等の特別の回路を付加するものでは、その回路
自身の信頼性の向上が必要であり、パネルの歩留りに影
響していた。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記の問題を解決するた
め、本願の第１の発明は、絶縁基板上に、複数本の走査
線と、該走査線に電気的に絶縁されて交差する複数本の
データ信号線を設け、上記走査線とデータ信号線の交点
部に画素を形成する画像表示部を構成し、上記データ信
号線を駆動するデータ信号線駆動回路と、上記走査線を
駆動する走査線駆動回路を設けた画像表示装置の検査方
法であって、上記走査線駆動回路の電源電圧の波形を観
測し、該電源電圧の波形に異常が生ずる箇所を検出し
て、この異常が生ずる箇所より、異常が生じている走査
線を検出するようにしたことを特徴とする。

【０００６】従って、ある特定のデータ信号線と走査線
が短絡（リーク）していると、上記データ信号線に供給
される映像信号は、上記の短絡箇所を介して走査線に入
り、走査線駆動回路を介して、該走査線駆動回路の電源
に影響を与え、該電源の端子電圧が変動する。この電源
の端子には検査用パッドが設けられているので、この検
査用パッドの電圧を検出することにより、上記の短絡に
よる上記電源の端子電圧の異常を検出することができ、
異常を検出した時点より、短絡されている走査線とデー
タ信号線の位置を検出することができる。

【０００７】また、走査線が断線している場合、この断
線箇所以降に接続される負荷が切り離されることになる
ので、この走査線の負荷が他の走査線の負荷より軽くな
る。従って、この走査線が駆動されるタイミングでは、
走査線駆動回路の電源電圧に変動が生じ、この電源電圧
の変動が生じるタイミングより、断線している走査線を
検出することができる。

【０００８】また、本願の第２の発明は、絶縁基板上
に、複数本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて
交差する複数本のデータ信号線を設け、上記走査線とデ
ータ信号線の交点部に画素を形成する画像表示部を構成
し、上記データ信号線を駆動するデータ信号線駆動回路
と、上記走査線を駆動する走査線駆動回路を設けた画像
表示装置の検査方法であって、上記データ信号線駆動回
路の電源電圧の波形を観測し、該電源電圧の波形に異常
が生ずる箇所を検出して、この異常が生ずる箇所より、
異常が生じているデータ信号線を検出するようにしたこ
とを特徴とする。

【０００９】従って、パネル内に短絡（リーク）や断線
等の異常箇所があると、その部分のデータ信号線の負荷
が異常になり、データ信号線駆動回路への電源供給が過
剰になるので、データ信号線駆動回路の電源電圧に特異
点が現れる。この特異点は、各水平期間中の同一時点に
生ずる。従って、１水平期間毎に同一時点に現れる電源
電圧の特異点を観測すれば、この特異点が生ずるタイミ
ングとデータ信号線出力が一致するところがデータ信号
線の短絡（リーク）や断線等の異常箇所であることを検
出することができる。

【００１０】また、本願の第３の発明は、絶縁基板上
に、複数本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて
交差する複数本のデータ信号線と、上記走査線とデータ
信号線との交点部に形成した複数個の画素電極を設け、
上記複数個の画素電極に対向して配設した共通電極と、
上記画素電極と共通電極間に設けた表示体で構成する表
示画素と、上記走査線を駆動する走査線駆動回路と、上
記データ信号線を駆動するデータ信号線駆動回路と、上
記共通電極を駆動する共通電極駆動回路とを設けた画像
表示装置の検査方法であって、上記共通電極駆動回路の
電源電圧波形を観測し、該電源電圧波形の異常が生ずる
タイミングより上記共通電極と、上記走査線或いはデー
タ信号線間の異常箇所を検出するようにしたことを特徴
とする。

【００１１】この発明によれば、パネル内で共通電極と
データ信号線或いは走査線が短絡（リーク）しているよ
うな異常箇所があると、映像信号に白ウインドウの信号
等検査用の信号を入力して水平方向にスクロールした場
合、異常箇所のあるデータ信号線上で、共通電極の電源
波形に異常が現れる。従って、この電源波形の異常が現
れるタイミングと、上記白ウインドウが通過する時間が
一致する位置のデータ信号線に異常があることを検出す
ることができる。また、上記共通電極の電源波形に異常
が現れるタイミングより、上記走査線の短絡による異常
及びデータ信号線或いは走査線の断線による異常を検出
することができる。

【００１２】また、第４の発明は、絶縁基板上に、複数
本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて交差する
複数本のデータ信号線と、上記走査線とデータ信号線と
の交点部に形成した複数個の画素電極と、該複数個の画
素電極に対向して配設した共通電極とを設け、上記走査
線を駆動する走査線駆動回路と、上記データ信号線を駆
動するデータ信号線駆動回路と、上記共通電極を駆動す
る共通電極駆動回路とを設けた画像表示装置の検査方法
であって、上記データ信号線に供給する検査用の映像信
号を映像振幅の異なる２値のパターンで構成し、該パタ
ーンを表示画面上でスクロールさせて、上記走査線駆動
回路、データ信号線駆動回路或いは共通電極駆動回路の
電源電圧波形を観測し、該電源電圧波形の異常が生ずる
タイミングより、上記走査線或いはデータ信号線の異常
箇所を検出するようにしたことを特徴とする。

【００１３】この発明によれば、データ信号線に映像振
幅の異なる２値のパターンで構成した検査用の映像信号
を供給し、この映像信号によるパターンを表示画面上で
スクロールさせて、この時の走査線駆動回路、データ信
号線駆動回路或いは共通電極駆動回路の電源電圧を観測
すれば、この観測値の異常が発生するタイミングより走
査線とデータ信号線間及び共通電極と走査線或いはデー
タ信号線間の短絡による異常を検出することができる。

【００１４】また、本願の第５の発明は、絶縁基板上
に、複数本の走査線と、該走査線に電気的に絶縁されて
交差する複数本のデータ信号線と、上記走査線とデータ
信号線との交点部に形成した複数個の画素電極と、上記
複数個の画素電極に対向して設けた共通電極と、上記画
素電極と共通電極間に設けた表示体で構成する表示画素
と、上記走査線を駆動する走査線駆動回路と、上記デー
タ信号線を駆動するデータ信号線駆動回路と、上記共通
電極を駆動する共通電極駆動回路とを設け、上記走査線
駆動回路、データ信号線駆動回路或いは共通電極駆動回
路にそれぞれ電源を供給する電源回路に接続し、上記デ
ータ信号線或いは走査線の異常に起因した上記電源回路
の電圧異常を検出するための検出用パッドを設けたこと
を特徴とする。

【００１５】従って、この発明によれば、画像表示装置
のデータ信号線駆動回路、走査線駆動回路及び共通電極
駆動回路の各電源回路に、該電源回路の出力電圧を検出
するための検出用パッドを設けているので、簡単な構成
で、上記検出用パッドにより上記電源回路の出力電圧を
検出でき、上記電源回路の電圧より画像表示装置の検査
を行う場合に検査が行い易い画像表示装置を提供するこ
とができる。

【００１６】

【発明の実施の形態】

（実施形態１）図１は、本発明の第１の実施形態を示す
ものであり、ＴＦＴで駆動されるアクティブマトリック
ス方式の液晶表示装置に適用した場合を示している。図
１において、１は走査線Ｙ₁，Ｙ₂，…Ｙ_nを駆動する走
査線（ゲート）駆動回路、２はデータ信号線Ｘ₁，Ｘ₂，
…Ｘ_mを駆動するデータ信号線（ソース）駆動回路、３
は画像表示部である。ゲート駆動回路１内の４は走査信
号を順番にスキャンするシフトレジスタであり、５はそ
の走査信号を出力する為のバッファである。

【００１７】図２に、上記バッファ５の代表的な構成を
示す。上記バッファ５は、ＰchとＮchのトランジスタＴ
_r1、Ｔ_r2をHigh側電源とLow側電源の間に直列に設けた
いわゆるＣＭＯＳ構成であるが、これは代表的な構成を
例示するものであって回路構成を特定するものではな
い。上記バッファ５の他の構成として、図３に示すよう
に、High側電源あるいはLow側電源のどちらか一方と０
電位の間に、２個のトランジスタＴ_r3、Ｔ_r4を挿入する
ようにしてもよい。

【００１８】図１において、上記ゲート駆動回路１内の
VGH,VGLはシフトレジスタ４とバッファ５のHigh側の電
源とLow側の電源であり、図１ではシフトレジスタ４と
バッファ５の両方に供給されているが、別々に供給する
ようにしてもよい。１２−１は、上記High側の電源の電
圧波形を観測するための検出用パッドであり、１２−２
は、上記Low側の電源の電圧波形を観測するための検出
用パッドである。上記両検出用パッド１２−１、１２−
２は、上記ゲート駆動回路１上に設けてもよく、また、
外部回路等、その他の適宜の場所に形成することができ
る。

【００１９】６はソース駆動回路２内において、外部よ
り映像信号ライン７に供給される映像信号Ｖ_Sを順次サ
ンプリングするためのサンプリング信号を出力するシフ
トレジスタであり、８は、上記映像信号Ｖ_Sを上記サン
プリング信号に基づき、サンプリングするためのサンプ
リング回路である。上記シフトレジスタ６からのサンプ
リング信号が、サンプリング回路８の各トランジスタの
ゲートに入力され、この各トランジスタのドレインよ
り、上記映像信号Ｖ_Sをサンプリングした信号がデータ
信号線Ｘ₁，Ｘ₂，…Ｘ_nへ出力される。そして、走査線
駆動回路１から出力される、各走査線Ｙ₁，Ｙ₂，…Ｙ_m
に供給される走査信号により画像表示部３の各画素部が
駆動される。

【００２０】次に、上記構成の液晶表示装置において、
画像表示部３内の短絡（リーク）の検出方法を説明す
る。上記の映像信号ライン７に入力する映像信号Ｖ
_Sは、映像振幅が２値以上の画面で、なるべく振幅差が
大きいものが望ましい。ここでは図４に示すように、黒
ベタ画面に白ウインドウがある画面を入力している。走
査線Ｙ₁，Ｙ₂，…Ｙ_nとデータ信号線Ｘ₁，Ｘ₂，…Ｘ_mの
リーク抵抗をＲ_LKとすると、ソース駆動回路２から上記
のリーク抵抗Ｒ_LKを介して、ゲート駆動回路１までの等
価回路は図５及び図６に示すようになる。

【００２１】図５は走査線が非選択期間の場合、即ち、
走査線上のＴＦＴがＯＦＦの期間のときの等価回路図で
あり、ゲート駆動回路１のバッファ５を構成する図２の
下側のトランジスタＴ_r2（Ｎch）がＯＮしている状態を
示している。画像表示部３内のリーク箇所を図４中のＡ
点とし、まずＡ点でリークしているデータ信号線Ｘ₁，
Ｘ₂，…Ｘ_nの検出方法を説明する。

【００２２】図４中の白ウインドウを水平方向へスクロ
ールさせると、上記の白ウインドウがＡ点を通過すると
き、走査線の非選択期間中、図５に示すように、映像信
号Ｖ_Sはリーク抵抗Ｒ_LKからバッファ５のＮchトランジ
スタＴ_r2のＯＮ抵抗を介してゲートLow電源Ｖ_GLに流れ
るので、ゲートLow電源Ｖ_GLに出力用のパッド１２−１
を設け観測すると、リーク箇所で異常な電圧波形が検出
される。図７はリーク箇所を検出するときのゲートLow
電源の波形を示している。また、白ウインドウがＡ点以
外の位置にあるときは、リークがないので、ゲートLow
電源Ｖ_GLの波形は、図７（ウ）に示すように、一定の正
常状態を示す。同図の（ア）は、ゲート駆動回路１に与
えられる垂直期間のスタートパルスである。

【００２３】以上より、映像信号Ｖ_SがゲートLow電源へ
リークしたときの波形は、垂直期間中の白ウインドウの
位置、つまり図７の（イ）で示す斜線部になる。従っ
て、白ウインドウが水平方向に移動している時間中、波
形（イ）の状態が観測される時間と、画面上で白ウイン
ドウが通過する時間が一致する位置のデータ信号線がリ
ークしていると推測できる。白ウインドウの幅を狭くし
ていくことでデータ信号線の特定がより正確になる。

【００２４】次に図４に示すリーク箇所Ａ点の走査線の
検出方法を説明する。走査線の検出は、ゲート駆動回路
１のバッファ５を構成する図２に示した回路の上側トラ
ンジスタＴ_r1（Ｐch）がＯＮしている走査線選択期間
中、図６の等価回路に示すように、映像信号Ｖ_Sはリー
ク抵抗Ｒ_LKを介してゲートHigh電源Ｖ_GHへリークするの
で、ゲートHigh電源Ｖ_GLに検出用パッド１２−１を設
け、ゲートHigh電源Ｖ_GHの異常を観測することにより走
査線の異常を検出することができる。

【００２５】上記画面上で白ウインドウを垂直方向へス
クロールさせると、走査線がリークをおこしている箇所
つまりＡ点を白ウインドウが通過するとき、図６の等価
回路より、映像信号成分がリークし、ゲートHigh電源Ｖ
_GH側へ異常となって現れる。これを示すのが図８（イ）
である。Ａ点以外においても白成分の信号はリークする
が、データ信号線の抵抗により、Ａ点から遠ざかる程異
常電圧は減少する。図８（ウ）はこの状態を示してい
る。

【００２６】従って、白ウインドウの位置と図８（イ）
の波形を観測することにより、リークしている走査線を
特定できる。白ウインドウを小さくしていけば、リーク
箇所の限定はし易くなるのはいうまでもない。また、走
査線の特定の際に入力する画面は振幅レベルに差がある
２値の信号に限らず、他の画面（例えば黒ベタ）でもよ
い。リークする走査線がＯＮするときのみ映像信号が重
畳してくるので図８（イ）或いは（ウ）が観測できる。

【００２７】その時の走査線の特定方法を以下に示す。
図８（ア）に示すゲートスタートパルスから図８（エ）
に示すゲート初段の出力信号までの時間をｔ₁、ゲート
出力のスキャン時間をｔ_GCKとする。また、上記のゲー
トスタートパルスから図８（イ）に示す異常箇所（Ａ
点）までの時間を測定し、それをｔ_LKとする。求める走
査線をＹ_LKとすると、次式でＹ_LKが求められる。

【００２８】Ｙ_LK＝（ｔ_LK−ｔ₁）／ｔ_GCK …（１）また、（１）式は、上記のゲートスタートパルスからカ
ウントして算出する方法であるが、ゲート初段出力時間
よりカウントして求めてよいのはいうまでもない。その
ときは、ゲート初段の出力パルスから異常箇所の時間を
測定する。これをｔ_LK’とすると、Ｙ_LK＝ｔ_LK’／ｔ_GCK …（２）となり、これより求める走査線が算出できる。

【００２９】以上は、走査線のリーク箇所を、ゲート駆
動回路のLow電源の波形の観測で特定し、また、データ
信号線のリーク箇所は、ゲート駆動回路のHigh電源の波
形を観測して求める方法を示したが、電源の観測はどち
らでもよく、場合によっては入れ換えてもよいし、また
両方を観測してもよい。

【００３０】（実施形態２）次にソース駆動回路の電源
波形を観測することにより、パネル内の異常箇所を特定
する方法を説明する。図９はソース駆動回路２の出力部
の詳細な構成を示す図である。サンプリング回路８のサ
ンプリングトランジスタと、データ信号線Ｘ₁，Ｘ₂，…
Ｘ_mの間には、データ信号線につながる負荷の影響を受
けないようにゲート駆動回路１で示したのと同様なバッ
ファ９が挿入されている。

【００３１】データ信号線Ｘ₁，Ｘ₂，…Ｘ_mにつながる
負荷は、パネルが大型になればなるほど増加するので、
挿入されるバッファ９は不可欠なものになる。バッファ
９は、パネル内が正常であり、データ信号線Ｘ₁，Ｘ₂，
…Ｘ_mにつながる負荷に異常がなければ、正常に機能
し、それ以前の回路、あるいはバッファ９の電源に大き
な変動をきたすことはない。

【００３２】パネル内に異常箇所があり、その部分のデ
ータ信号線の負荷が異常になると、バッファ９への電源
供給が過剰になり、バッファ９の電源電圧に特異点が現
れる。従って、バッファ９の電源を観測することで異常
箇所を特定することができる。この特定方法において、
上記の実施形態１の場合と相違する点は、映像信号Ｖ_S
を２値の画面の一方（例えば黒ベタ上に白ウインドウ）
を動かすことによる特定が行えない点である。

【００３３】次に、この異常箇所の特定を行う方法につ
いて説明する。ソース電源の波形観測は、High電源或い
はLow電源のいずれの電源の電圧波形でもかまわない
が、観測を１水平周期で行うようにすることである。異
常箇所は、図１０に示すように、High電源の電源電圧Ｖ
_GHにおいて、１水平周期ごとに同一時間（時間軸にＡで
図示）に現れる。

【００３４】従って、そのタイミングとデータ信号線出
力が一致するところがデータ信号線の異常箇所であるこ
とを特定することができる。異常箇所ではデータ信号線
からの異常な電流の流出あるいは流入で電圧変動が起こ
ることから、映像信号Ｖ_Sをベタ画面の最小レベルから
最大レベルまで変化させることにより電圧変動部分を判
別しやすくすることも可能である。

【００３５】（実施形態３）次に、各画素電極に対向し
て設けた共通電極の共通電極駆動回路（以下ＣＯＭ回路
という）の電源波形を観測することでパネル内の異常箇
所を特定する方法を説明する。ＣＯＭ回路２０は図１１
に示すような回路構成になっている。即ち、ＣＯＭ回路
２０の出力も上述する実施形態１，２で示したものと同
様のバッファ２１で構成されている。ＣＯＭ回路２０を
含めたパネル構成図は図１２に示す。図１２は、共通電
極ライン２２（以下ＣＯＭラインという）をＴＦＴ基板
上に専用ラインとして設け、このＣＯＭライン２２を液
晶の補助容量（Ｃｓ）のもう一方の電極となるように配
線した構成を示す。

【００３６】次に、ＣＯＭライン２２とデータ信号線Ｘ
₁，Ｘ₂，…Ｘ_mあるいは走査線Ｙ₁，Ｙ₂，…Ｙ_nがリーク
（異常）している箇所の特定を説明する。ＣＯＭ回路２
０は図１１に示すごとく、出力はバッファ２１で構成さ
れているので、実施形態１の場合と同様に、この電源を
観測すれば異常箇所の特定ができる。

【００３７】つまり、データ信号線Ｘ₁，Ｘ₂，…Ｘ_mの
リーク箇所の特定は、映像画面をベタ黒に白ウインドウ
を出し、白ウインドウを水平方向に動かし、電源波形の
異常箇所が現れる時間と、画面上で白ウインドウが通過
する時間が一致する位置のデータ信号線が異常箇所であ
り、また、ゲート駆動回路の出力のタイミングと一致す
る走査線が異常箇所と特定ができる。

【００３８】（実施形態４）次に、液晶表示装置のパネ
ル内の断線箇所の特定を行う実施形態を示す。ゲート駆
動回路１の電源を観測することを例にして示すが、ソー
ス駆動回路２の電源、あるいは、ＣＯＭ回路２０の電源
波形を観測することによっても同様に実施できる。図１
３に示すように、２段目の走査線上でＢ点が断線されて
いるとする。その走査線の断線以降は、データ信号線と
の重なり容量が切り離されるので、重なり容量による負
荷が他の正常な走査線より軽くなっている。

【００３９】図１４は、ゲート駆動回路１の電源波形を
垂直周期で観測した図である。正常な走査線は、データ
信号線Ｘ₁，Ｘ₂，…Ｘ_mとの重なりで、データ信号上の
信号、つまりは映像信号と容量結合をしているので、図
１４で示すごとく、ゲート駆動回路１の電源にはビデオ
成分による変動がある。図１４では、変動を電圧降下と
して示し、点線と実線の差で図示している。

【００４０】断線ラインに相当する走査線は負荷が少な
いので、電源は正常に戻ろうとする。従って、この時の
波形は図１４のＢ点のように示すことができ、他と比べ
ると特異点として観測することができる。これより、図
１４中の特異点（Ｂ点）のタイミングとゲート駆動回路
の出力タイミングが一致する走査線が異常（断線）であ
ることを特定することができる。電源波形の観測はHigh
側電源を用いた場合を示したが、Low電源を用いても同
様に実施することができる。

【００４１】以上、画素がマトリックス状に構成される
画像表示部の短絡、あるいは断線の箇所を特定する例と
して液晶画像表示装置を例にとり説明したが、これに特
定するものではなく、マトリックス状に画素を配列した
表示装置であれば、例えばＥＬ(electro luminescenc
e)、ＦＥＤ(field emission display)、ＰＤＰ(Plazuma
display panles)等、他の表示装置にも同様に適用する
ことができる。

【００４２】また、画像表示部とゲート駆動回路１ある
いは、ソース駆動回路２、あるいは２つの駆動回路両方
を同一基板上にモノリシックに形成したパネルでも同様
な方法で異常箇所の特定ができる。その際、駆動回路の
実装工程が省け、基板形成後に異常箇所を検出すること
ができるので、パネルの歩留まり向上が図れる。

【００４３】

【発明の効果】本発明は以上のように、走査線、データ
信号線或いは共通電極の電源の波形より、走査線或いは
データ信号線の異常を観測し、短絡（リーク）或いは断
線ラインの特定を行うので、各走査線或いは各データ信
号線毎に検出用パッドを設ける必要がなく、高精細な表
示装置の検査方法にも適用することができる。

【００４４】また、走査線、データ信号線の検査にプロ
ーブ針を多数設けたプローブカードの使用が不要にな
り、検出用パッドの減少で、検査工程の短縮及びコスト
ダウンを図ることができる。また、特別な検査回路を付
加する必要がないので、表示パネルの歩留まりを向上さ
せることができ、また、プローブ針を直接走査線やデー
タ信号線に接触させる必要がないので、静電気によるス
イッチング素子の静電破壊を招くこともない。

【００４５】また、アクティブマトリックス型液晶表示
装置に適用した場合、ゲート駆動回路及びソース駆動回
路を画像表示部の同一基板上にモノリシックに形成する
ことができ、検査を基板形成後に行えるので、パネルの
歩留まりを向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に用いる画像表示装置の構成図であ
る。

【図２】図１の要部の構成図である。

【図３】図１の要部の他の実施形態の構成図である。

【図４】本発明の検査に用いる映像パターンの説明図
である。

【図５】本発明の動作説明に用いる第１の等価回路図
である。

【図６】本発明の動作説明に用いる第２の等価回路図
である。

【図７】本発明の動作説明図である。

【図８】本発明の他の動作説明図である。

【図９】本発明の他の実施形態に用いる回路の要部構
成図である。

【図１０】図９の実施形態における動作説明図であ
る。

【図１１】本発明の更に他の実施形態に用いる回路の
要部構成図である。

【図１２】本発明の更に他の実施形態に用いる回路の
構成図である。

【図１３】本発明の更に他の実施形態の説明に用いる
回路構成図である。

【図１４】図１３の動作説明図である。

【図１５】従来例の構成図である。

【図１６】他の従来例の構成図である。

【符号の説明】

１走査線（ゲート）駆動回路２データ信号線（ソース）駆動回路３画像表示部７映像信号ライン１２検出用パッド１２−１検出用パッド１２−２検出用パッド２０ＣＯＭ回路２２共通電極ラインＸ₁，Ｘ₂，…Ｘ_m データ信号線Ｙ₁，Ｙ₂，…Ｙ_n 走査線

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線を設け、上記走査線とデータ信号線の交点部に画素を
形成する画像表示部を構成し、上記データ信号線を駆動
するデータ信号線駆動回路と、上記走査線を駆動する走
査線駆動回路を設けた画像表示装置の検査方法であっ
て、上記走査線駆動回路の電源電圧の波形を観測し、該
電源電圧の波形に異常が生ずる箇所を検出して、この異
常が生ずる箇所より、異常が生じている走査線を検出す
るようにしたことを特徴とする画像表示装置の検査方
法。
【請求項２】絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線を設け、上記走査線とデータ信号線の交点部に画素を
形成する画像表示部を構成し、上記データ信号線を駆動
するデータ信号線駆動回路と、上記走査線を駆動する走
査線駆動回路を設けた画像表示装置の検査方法であっ
て、上記データ信号線駆動回路の電源電圧の波形を観測
し、該電源電圧の波形に異常が生ずる箇所を検出して、
この異常が生ずる箇所より、異常が生じているデータ信
号線を検出するようにしたことを特徴とする画像表示装
置の検査方法。
【請求項３】絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線と、上記走査線とデータ信号線との交点部に形成した
複数個の画素電極を設け、上記複数個の画素電極に対向
して配設した共通電極と、上記画素電極と共通電極間に
設けた表示体で構成する表示画素と、上記走査線を駆動
する走査線駆動回路と、上記データ信号線を駆動するデ
ータ信号線駆動回路と、上記共通電極を駆動する共通電
極駆動回路とを設けた画像表示装置の検査方法であっ
て、上記共通電極駆動回路の電源電圧波形を観測し、該
電源電圧波形の異常が生ずるタイミングより上記共通電
極と、上記走査線或いはデータ信号線間の異常箇所を検
出するようにしたことを特徴とする画像表示装置の検査
方法。
【請求項４】絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線と、上記走査線とデータ信号線との交点部に形成した
複数個の画素電極と、該複数個の画素電極に対向して配
設した共通電極とを設け、上記走査線を駆動する走査線
駆動回路と、上記データ信号線を駆動するデータ信号線
駆動回路と、上記共通電極を駆動する共通電極駆動回路
とを設けた画像表示装置の検査方法であって、上記デー
タ信号線に供給する検査用の映像信号を映像振幅の異な
る２値のパターンで構成し、該パターンを表示画面上で
スクロールさせて、上記走査線駆動回路、データ信号線
駆動回路或いは共通電極駆動回路の電源電圧波形を観測
し、該電源電圧波形の異常が生ずるタイミングより、上
記走査線或いはデータ信号線の異常箇所を検出するよう
にしたことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項５】絶縁基板上に、複数本の走査線と、該走
査線に電気的に絶縁されて交差する複数本のデータ信号
線と、上記走査線とデータ信号線との交点部に形成した
複数個の画素電極と、上記複数個の画素電極に対向して
設けた共通電極と、上記画素電極と共通電極間に設けた
表示体で構成する表示画素と、上記走査線を駆動する走
査線駆動回路と、上記データ信号線を駆動するデータ信
号線駆動回路と、上記共通電極を駆動する共通電極駆動
回路とを設け、上記走査線駆動回路、データ信号線駆動
回路或いは共通電極駆動回路にそれぞれ電源を供給する
電源回路に接続し、上記データ信号線或いは走査線の異
常に起因した上記電源回路の電圧異常を検出するための
検出用パッドを設けたことを特徴とする画像表示装置。