JPH1065250A - 光学装置を動作させあるいは試験するための装置と方法 - Google Patents
光学装置を動作させあるいは試験するための装置と方法Info
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- JPH1065250A JPH1065250A JP13702297A JP13702297A JPH1065250A JP H1065250 A JPH1065250 A JP H1065250A JP 13702297 A JP13702297 A JP 13702297A JP 13702297 A JP13702297 A JP 13702297A JP H1065250 A JPH1065250 A JP H1065250A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】多数の波長を同時に加えて光学装置を試験する
安価な方法を提供する。 【解決手段】単独光源から順次多数の光信号を発生して
被試験光学装置に入力し、測定をおこなう。その場合、
光信号の切り替えは、被試験光学装置の回復が僅かであ
る期間内に行われる。
安価な方法を提供する。 【解決手段】単独光源から順次多数の光信号を発生して
被試験光学装置に入力し、測定をおこなう。その場合、
光信号の切り替えは、被試験光学装置の回復が僅かであ
る期間内に行われる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光通信回路網の分野にお
ける試験機器に関するものであり、更に詳細に述べれ
ば、エルビウム添加ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）などの
光学装置を動作させ試験する装置および方法に関する。
ける試験機器に関するものであり、更に詳細に述べれ
ば、エルビウム添加ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）などの
光学装置を動作させ試験する装置および方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】増幅器などの、能動および受動の光学装
置を動作試験するための装置および方法は光通信システ
ムにおいて普通に使用されている。実際問題として、波
長依存の装置または部品をそれらの波長依存性について
試験する必要性が存在する。これには一つの波長にわた
って幾つかの装置パラメータを試験すること、および多
数の波長で試験することが必要である。一つの波長での
試験はレーザ源を用いて容易に達成される。波長範囲に
わたる試験の場合には普通、チューナブル・レーザまた
は他の源が使用される。
置を動作試験するための装置および方法は光通信システ
ムにおいて普通に使用されている。実際問題として、波
長依存の装置または部品をそれらの波長依存性について
試験する必要性が存在する。これには一つの波長にわた
って幾つかの装置パラメータを試験すること、および多
数の波長で試験することが必要である。一つの波長での
試験はレーザ源を用いて容易に達成される。波長範囲に
わたる試験の場合には普通、チューナブル・レーザまた
は他の源が使用される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】実際問題として多数の
波長を同時に加えて装置を試験する必要性が存在する。
このような装置は、たとえば、波長分割多重（ＷＤＭ）
用途に使用されるＥＤＦＡである。このような用途につ
いては、幾つかの単一波長レーザ源または一組のチュー
ナブル・レーザ源を使用することが知られている。上述
の用途でこれらの試験を行なうのに幾つかのレーザ源が
必要であるから、試験機器は非常に高価で取扱いが困難
である。
波長を同時に加えて装置を試験する必要性が存在する。
このような装置は、たとえば、波長分割多重（ＷＤＭ）
用途に使用されるＥＤＦＡである。このような用途につ
いては、幾つかの単一波長レーザ源または一組のチュー
ナブル・レーザ源を使用することが知られている。上述
の用途でこれらの試験を行なうのに幾つかのレーザ源が
必要であるから、試験機器は非常に高価で取扱いが困難
である。
【０００４】したがって、被試験装置に多数の波長を同
時に加えて光学装置を試験するための装置および方法の
必要性が存在する。
時に加えて光学装置を試験するための装置および方法の
必要性が存在する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は相異なる波長の
多数の信号を発生し、光学装置を動作させ試験するため
の装置および方法に関する。
多数の信号を発生し、光学装置を動作させ試験するため
の装置および方法に関する。
【０００６】基本的に、本発明による装置は、被試験光
学装置に、次々に、加えられる多数の光信号を発生する
単独光源、前記光源の多数の光信号を次々に前記光学装
置に加える切換え手段、および被試験前記光学装置の応
答信号を分析する分析手段、を備えている。
学装置に、次々に、加えられる多数の光信号を発生する
単独光源、前記光源の多数の光信号を次々に前記光学装
置に加える切換え手段、および被試験前記光学装置の応
答信号を分析する分析手段、を備えている。
【０００７】本発明では、多数の波長を発生して、回復
時間を有する被試験部品、装置、またはシステムが、多
数の単一レーザ源を同時に加えられたときと同じように
反応するようにした唯一つの多重レーザ源があればよ
い。したがって、本発明の重要部分は、チューナブル・
レーザまたは他の源により発生された多数の波長を時間
多重し、回復時間を有する被試験部品、装置、またはシ
ステムが相異なる波長が次々に加えられていることを認
識しないほど速く時間多重を行なうことである。被試験
装置は、光通信回路網における光学装置、生物学的およ
び化学的物質、特に細胞およびＤＮＡ構造、およびレー
ザ・プリンタにおける感光ドラムなどのように、上述の
回復時間を示すならレーザ技術の分野のどんな光学装置
でもよいことが理解されよう。
時間を有する被試験部品、装置、またはシステムが、多
数の単一レーザ源を同時に加えられたときと同じように
反応するようにした唯一つの多重レーザ源があればよ
い。したがって、本発明の重要部分は、チューナブル・
レーザまたは他の源により発生された多数の波長を時間
多重し、回復時間を有する被試験部品、装置、またはシ
ステムが相異なる波長が次々に加えられていることを認
識しないほど速く時間多重を行なうことである。被試験
装置は、光通信回路網における光学装置、生物学的およ
び化学的物質、特に細胞およびＤＮＡ構造、およびレー
ザ・プリンタにおける感光ドラムなどのように、上述の
回復時間を示すならレーザ技術の分野のどんな光学装置
でもよいことが理解されよう。
【０００８】本発明の一実施例によれば、被試験装置は
光増幅器、特にエルビウム添加ファイバ増幅器（ＥＤＦ
Ａ）またはプラセオジム添加ファイバ増幅器（ＰＤＦ
Ａ）である。測定される重要なパラメータはこの増幅器
の利得および雑音指数である。将来、この増幅器を波長
分割多重システムに使用することができる。現在の状態
では、これらのシステムは光信号を伝送するのに四つの
別々のチャンネル（波長）を使用している。したがっ
て、増幅器を完全に動作試験するには、波長の異なる四
つの光信号を動作および試験のために加えなければなら
ない。ＥＤＦＡの物理により、信号を増幅器に加えた状
態の雑音レベルから信号の無い状態の雑音レベルまでの
回復時間は緩やかで、すなわち、約10ミリ秒以内（ＥＤ
ＦＡまたはＰＤＦＡの一般的回復時間）であり、雑音レ
ベルは非常に低いレベルから安定レベルまで増大する。
本発明によれば、単独チューナブル・レーザにより発生
される四つの別々の波長は、次々に、その回復時間以内
に被試験装置に加えられるので、被試験装置は一度に一
つの波長か存在しているだけであるということを認識し
ない。好適には、異なるすべての波長が10から30マイク
ロ秒、特に12-15マイクロ秒の時間内に、すなわち低回
復時に、加えられる。
光増幅器、特にエルビウム添加ファイバ増幅器（ＥＤＦ
Ａ）またはプラセオジム添加ファイバ増幅器（ＰＤＦ
Ａ）である。測定される重要なパラメータはこの増幅器
の利得および雑音指数である。将来、この増幅器を波長
分割多重システムに使用することができる。現在の状態
では、これらのシステムは光信号を伝送するのに四つの
別々のチャンネル（波長）を使用している。したがっ
て、増幅器を完全に動作試験するには、波長の異なる四
つの光信号を動作および試験のために加えなければなら
ない。ＥＤＦＡの物理により、信号を増幅器に加えた状
態の雑音レベルから信号の無い状態の雑音レベルまでの
回復時間は緩やかで、すなわち、約10ミリ秒以内（ＥＤ
ＦＡまたはＰＤＦＡの一般的回復時間）であり、雑音レ
ベルは非常に低いレベルから安定レベルまで増大する。
本発明によれば、単独チューナブル・レーザにより発生
される四つの別々の波長は、次々に、その回復時間以内
に被試験装置に加えられるので、被試験装置は一度に一
つの波長か存在しているだけであるということを認識し
ない。好適には、異なるすべての波長が10から30マイク
ロ秒、特に12-15マイクロ秒の時間内に、すなわち低回
復時に、加えられる。
【０００９】本発明の主な長所は、数チャンネルを有す
る装置を動作させたり、各々が単一波長の信号を発生す
るレーザ源の組と同じ測定を行なうのに一つの単独高速
多重チューナブル・レーザ源で充分であるということで
ある。本発明による装置を用いれば、多数波長での上述
の試験の動作を一組のレーザによるより少ない費用で、
しかも容易に行なうことができる。
る装置を動作させたり、各々が単一波長の信号を発生す
るレーザ源の組と同じ測定を行なうのに一つの単独高速
多重チューナブル・レーザ源で充分であるということで
ある。本発明による装置を用いれば、多数波長での上述
の試験の動作を一組のレーザによるより少ない費用で、
しかも容易に行なうことができる。
【００１０】本発明の第１の実施例によれば、多数の光
信号を発生するのにチューナブル・レーザが使用され
る。チューナブル・レーザは相異なる波長の光信号を、
次々に、発生することができる。
信号を発生するのにチューナブル・レーザが使用され
る。チューナブル・レーザは相異なる波長の光信号を、
次々に、発生することができる。
【００１１】本発明の第２の実施例によれば、チューナ
ブル・レーザの入力はパターン発生器出力に接続されて
いる。パターン発生器はチューナブル・レーザが発生す
る多数の相異なる波長の信号を多重化する。パターン発
生器はチューナブル・レーザが発生する信号の一つの波
長から他の波長への切換え時間間隔を広い範囲にわたっ
て調節できる。被試験装置の低い回復時間（回復の程度
が低い時間範囲）内にチューナブル・レーザを一つの波
長から他の波長へ切換えうる他のどんな装置もパターン
発生器を置き換え得ることが理解されよう。
ブル・レーザの入力はパターン発生器出力に接続されて
いる。パターン発生器はチューナブル・レーザが発生す
る多数の相異なる波長の信号を多重化する。パターン発
生器はチューナブル・レーザが発生する信号の一つの波
長から他の波長への切換え時間間隔を広い範囲にわたっ
て調節できる。被試験装置の低い回復時間（回復の程度
が低い時間範囲）内にチューナブル・レーザを一つの波
長から他の波長へ切換えうる他のどんな装置もパターン
発生器を置き換え得ることが理解されよう。
【００１２】本発明の第３の実施例によれば、レーザの
代わりの光源が使用されている。このような光源は幾つ
かの波長を同時に発生する。本発明によれば、装置が動
作する相異なる波長に透明な一組の回転フィルタが白色
光源の出力と被試験光学部品、装置、またはシステムの
入力との間に設置されている。一組のフィルタの回転は
光源が発生する光の相異なる波長が、被試験装置の回復
時間内に、次々に、被試験または動作中の装置に加えら
れるように行なわれる。
代わりの光源が使用されている。このような光源は幾つ
かの波長を同時に発生する。本発明によれば、装置が動
作する相異なる波長に透明な一組の回転フィルタが白色
光源の出力と被試験光学部品、装置、またはシステムの
入力との間に設置されている。一組のフィルタの回転は
光源が発生する光の相異なる波長が、被試験装置の回復
時間内に、次々に、被試験または動作中の装置に加えら
れるように行なわれる。
【００１３】第４の実施例では試験すべきまたは動作さ
せるべき光学装置は増幅器、特に波長分割多重の用途に
使用することができ、多数の波長で同時に動作するエル
ビウム添加ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）である。
せるべき光学装置は増幅器、特に波長分割多重の用途に
使用することができ、多数の波長で同時に動作するエル
ビウム添加ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）である。
【００１４】本発明は、単独であろうと、または他のど
んな任意の組合せであろうと、上に開示した特徴のすべ
ての有効且つ新規な組合せに関係していることが理解さ
れ、明示されている。更に、引用したすべての長所をそ
っくりそのまま本発明により解決される対象と見ること
ができる。
んな任意の組合せであろうと、上に開示した特徴のすべ
ての有効且つ新規な組合せに関係していることが理解さ
れ、明示されている。更に、引用したすべての長所をそ
っくりそのまま本発明により解決される対象と見ること
ができる。
【００１５】本発明を、その他の目的、長所、および能
力と共に更によく理解するため、以下に図面を参照して
説明する。
力と共に更によく理解するため、以下に図面を参照して
説明する。
【００１６】
【実施例】図１はエルビウム添加ファイバ増幅器（ＥＤ
ＦＡ）2の相異なるパラメータを試験する既知の装置を
示す。チューナブル・レーザ1の出力は光ファイバ4によ
ってＥＤＦＡ2の入力に接続されている。ＥＤＦＡ2の出
力は光ファイバ5により光信号アナライザ（ＯＳＡ）3の
入力に接続されている。相異なる波長でＥＤＦＡの特
性を分析するために、チューナブル・レーザ1は第１の
測定のための第１の波長 に切換えられる。光信号アナ
ライザ 3はＥＤＦＡの相異なるパラメータ、特に利得お
よび雑音を分析し、それらをオペレータに表示する。第
２の波長の信号の影響を受けているＥＤＦＡの特性を分
析するのに、オペレータはチューナブル・レーザ源1を
第２の波長に切換える。以下同様。
ＦＡ）2の相異なるパラメータを試験する既知の装置を
示す。チューナブル・レーザ1の出力は光ファイバ4によ
ってＥＤＦＡ2の入力に接続されている。ＥＤＦＡ2の出
力は光ファイバ5により光信号アナライザ（ＯＳＡ）3の
入力に接続されている。相異なる波長でＥＤＦＡの特
性を分析するために、チューナブル・レーザ1は第１の
測定のための第１の波長 に切換えられる。光信号アナ
ライザ 3はＥＤＦＡの相異なるパラメータ、特に利得お
よび雑音を分析し、それらをオペレータに表示する。第
２の波長の信号の影響を受けているＥＤＦＡの特性を分
析するのに、オペレータはチューナブル・レーザ源1を
第２の波長に切換える。以下同様。
【００１７】図２は本発明により光学装置を試験する装
置構成のブロック図である。チューナブル・レーザ1の
出力は光ファイバ4によりＥＤＦＡ2の入力に接続されて
いる。ＥＤＦＡの出力は光ファイバ5により光信号アナ
ライザ（ＯＳＡ）3の出力に接続されている。本発明に
よる装置は更にパターン発生器6を備えている。パター
ン発生器6の出力は電気ケーブルによりチューナブル・
レーザ1の制御出力に接続されている。パターン発生器6
の出力信号は、図３に関して更に詳細に説明するが、相
異なる波長λ1、λ2、λ3、およびλ4の多数の光信号を
発生するチューナブル・レーザ1を制御する。チューナ
ブル・レーザ1であるレーザ源1により発生されて光ファ
イバ4に加えられる、これら多数の信号は図２Ａに表示
されている。
置構成のブロック図である。チューナブル・レーザ1の
出力は光ファイバ4によりＥＤＦＡ2の入力に接続されて
いる。ＥＤＦＡの出力は光ファイバ5により光信号アナ
ライザ（ＯＳＡ）3の出力に接続されている。本発明に
よる装置は更にパターン発生器6を備えている。パター
ン発生器6の出力は電気ケーブルによりチューナブル・
レーザ1の制御出力に接続されている。パターン発生器6
の出力信号は、図３に関して更に詳細に説明するが、相
異なる波長λ1、λ2、λ3、およびλ4の多数の光信号を
発生するチューナブル・レーザ1を制御する。チューナ
ブル・レーザ1であるレーザ源1により発生されて光ファ
イバ4に加えられる、これら多数の信号は図２Ａに表示
されている。
【００１８】図２Ａはレーザ源1により発生される多数
の波長λ1からλ4までの出現を時間tの関数として示し
ている。パターン発生器6の援助を得て、レーザ源1は時
刻t1で波長λ1の信号を発生する。チューナブル・レー
ザ1は時刻t2で波長λ1の信号を遮断し、波長λ2の信号
に切換える。次のステップで、レーザ源1は時刻t3で波
長λ2の信号を遮断し、波長λ3の信号に切換える。次に
レーザ源1は時刻t4で波長λ3の信号を遮断し、波長λ4
の信号に切換える。パターン発生器の代わりに、説明し
たと同じようにチューナブル・レーザを制御する他のど
んな装置をも使用できる。
の波長λ1からλ4までの出現を時間tの関数として示し
ている。パターン発生器6の援助を得て、レーザ源1は時
刻t1で波長λ1の信号を発生する。チューナブル・レー
ザ1は時刻t2で波長λ1の信号を遮断し、波長λ2の信号
に切換える。次のステップで、レーザ源1は時刻t3で波
長λ2の信号を遮断し、波長λ3の信号に切換える。次に
レーザ源1は時刻t4で波長λ3の信号を遮断し、波長λ4
の信号に切換える。パターン発生器の代わりに、説明し
たと同じようにチューナブル・レーザを制御する他のど
んな装置をも使用できる。
【００１９】更に、被試験装置が動作する波長に応じ
て、種々な波長を有する更に多いまたは更に少ない信号
を一つ以上のチューナブル・レーザにより発生できるこ
とが理解されよう。波長λ1からλ4までの異なる信号の
間の時間間隔（発生間隔）を、それらが異なるように修
正できる。更に、第１の信号が接続されている時間間隔
を他の時間間隔より長くすることができる。異なる信号
の電力を異なる大きさに調節することもできる。相異な
る信号の相異なる特性とそれらの時間相関を広い範囲で
変化させて、実際に生じる状況にあわせたいろいろな条
件で被試験装置を動作させることができる。パターン発
生器には多数の異なる試験パターンを記憶させることが
できる。
て、種々な波長を有する更に多いまたは更に少ない信号
を一つ以上のチューナブル・レーザにより発生できるこ
とが理解されよう。波長λ1からλ4までの異なる信号の
間の時間間隔（発生間隔）を、それらが異なるように修
正できる。更に、第１の信号が接続されている時間間隔
を他の時間間隔より長くすることができる。異なる信号
の電力を異なる大きさに調節することもできる。相異な
る信号の相異なる特性とそれらの時間相関を広い範囲で
変化させて、実際に生じる状況にあわせたいろいろな条
件で被試験装置を動作させることができる。パターン発
生器には多数の異なる試験パターンを記憶させることが
できる。
【００２０】異なる波長λ1からλ4までの信号はすべ
て、増幅器2の回復時間の時間間隔の中にあるt1からt4
までの時間間隔で現われる。異なる波長の種々の信号を
特定の被試験装置の回復時間内に発生することは本発明
の範囲内にあることが理解される。
て、増幅器2の回復時間の時間間隔の中にあるt1からt4
までの時間間隔で現われる。異なる波長の種々の信号を
特定の被試験装置の回復時間内に発生することは本発明
の範囲内にあることが理解される。
【００２１】ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ、ＰＤＦＡな
ど）は入力信号および時間に応じてそれらの出力に雑音
信号を発生する能動的光学部品である。
ど）は入力信号および時間に応じてそれらの出力に雑音
信号を発生する能動的光学部品である。
【００２２】このような増幅器の入力に光信号が加えら
れ、レーザ条件が満たされていれば、信号は光子の誘導
放出を引き起す。光子の大部分は高エネルギレベルにあ
るので、出力信号は強力で、光子を刺激してそのエネル
ギを低いレベルに変え、増幅器の入力における光とコヒ
ーレントな光を放出するに至る入力信号の増幅に使用さ
れる。従って、光の自然放出に利用できる高エネルギレ
ベルの光子はほんの小量しか存在しない。したがって、
雑音レベルは低い。
れ、レーザ条件が満たされていれば、信号は光子の誘導
放出を引き起す。光子の大部分は高エネルギレベルにあ
るので、出力信号は強力で、光子を刺激してそのエネル
ギを低いレベルに変え、増幅器の入力における光とコヒ
ーレントな光を放出するに至る入力信号の増幅に使用さ
れる。従って、光の自然放出に利用できる高エネルギレ
ベルの光子はほんの小量しか存在しない。したがって、
雑音レベルは低い。
【００２３】入力信号を遮断すると、光子の刺激は止ま
る。増幅器はなおも光子を高エネルギレベルに汲み上
げ、光子が刺激されないので、光の自然放出（雑音）に
利用できる光子の量は上述の回復時間中増大する。約10
秒（ＥＤＦＡまたはＰＤＦＡの代表的回復時間）以内
に、雑音信号は非常に低いレベルから安定レベルまで増
大する。
る。増幅器はなおも光子を高エネルギレベルに汲み上
げ、光子が刺激されないので、光の自然放出（雑音）に
利用できる光子の量は上述の回復時間中増大する。約10
秒（ＥＤＦＡまたはＰＤＦＡの代表的回復時間）以内
に、雑音信号は非常に低いレベルから安定レベルまで増
大する。
【００２４】本発明による光源51は、図５に示してあ
り、後に更に詳細に説明するように、多数の光信号を発
生し、一つの波長から他の波長に切り替わるのに数マイ
クロ秒を要するだけである。この時間間隔内では、増幅
器の雑音レベルは入力信号を遮断する前と（ほぼ）同じ
雑音レベルに保たれる。したがって、増幅器の物理によ
り、被試験増幅器は増幅器の回復時間内での試験信号の
組合せのもとで、相異なる波長の多数の信号が同時に存
在する実際の条件下と同じ挙動を示す。エルビウム添加
ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）2の回復時間は10msの範囲
内にある。
り、後に更に詳細に説明するように、多数の光信号を発
生し、一つの波長から他の波長に切り替わるのに数マイ
クロ秒を要するだけである。この時間間隔内では、増幅
器の雑音レベルは入力信号を遮断する前と（ほぼ）同じ
雑音レベルに保たれる。したがって、増幅器の物理によ
り、被試験増幅器は増幅器の回復時間内での試験信号の
組合せのもとで、相異なる波長の多数の信号が同時に存
在する実際の条件下と同じ挙動を示す。エルビウム添加
ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）2の回復時間は10msの範囲
内にある。
【００２５】図３は図２のパターン発生器6により発生
される制御信号を時間の関数として示している。レーザ
源1に加えられる制御信号20は異なる信号レベルの四つ
のステップ21から24を備えている。時刻t5でパターン発
生器6は制御信号を発生し始める。信号レベルが一定の
値に達すると、被制御レーザ源は図２に示すように短時
間波長λ1の信号を発生する。このとき制御信号は第１
のステップ21により示したように縁9から縁10まで一定
になっている。制御信号が縁10で示す時刻t6で降下する
と、チューナブル・レーザ1は短時間波長λ2の信号を発
生する。このとき制御信号は第２のステップ22により示
した時間間隔t6からt7きで一定のままである。制御信号
20が縁11で再び降下すると、レーザ源1は短時間波長λ3
の信号を発生する。時刻t7からt8まで制御信号は今度も
第３のステップ23により示したように一定になってい
る。縁12で、制御信号20は再び降下し、チューナブル・
レーザ1を短時間波長λ4の信号を発生するように切換え
る。t8からt9まで、制御信号20は第４のステップ24によ
り示すように一定のままであり、時刻t9で、縁3で示す
ように、パターン発生器は上述の制御信号を反復し始め
る。
される制御信号を時間の関数として示している。レーザ
源1に加えられる制御信号20は異なる信号レベルの四つ
のステップ21から24を備えている。時刻t5でパターン発
生器6は制御信号を発生し始める。信号レベルが一定の
値に達すると、被制御レーザ源は図２に示すように短時
間波長λ1の信号を発生する。このとき制御信号は第１
のステップ21により示したように縁9から縁10まで一定
になっている。制御信号が縁10で示す時刻t6で降下する
と、チューナブル・レーザ1は短時間波長λ2の信号を発
生する。このとき制御信号は第２のステップ22により示
した時間間隔t6からt7きで一定のままである。制御信号
20が縁11で再び降下すると、レーザ源1は短時間波長λ3
の信号を発生する。時刻t7からt8まで制御信号は今度も
第３のステップ23により示したように一定になってい
る。縁12で、制御信号20は再び降下し、チューナブル・
レーザ1を短時間波長λ4の信号を発生するように切換え
る。t8からt9まで、制御信号20は第４のステップ24によ
り示すように一定のままであり、時刻t9で、縁3で示す
ように、パターン発生器は上述の制御信号を反復し始め
る。
【００２６】上述したものとは異なる制御信号を有する
チューナブル・レーザを使用するために図示した制御信
号20を修正するのは容易である。
チューナブル・レーザを使用するために図示した制御信
号20を修正するのは容易である。
【００２７】時間間隔t5からt9は、回復時間がほぼ10ms
のエルビウム添加ファイバ増幅器2を試験するのには10m
sよりかなり少ない。したがって、ステップ21から24ま
でのシーケンス周波数は、低回復で光学装置を動作させ
るため、100Ｈzよりかなり高い。
のエルビウム添加ファイバ増幅器2を試験するのには10m
sよりかなり少ない。したがって、ステップ21から24ま
でのシーケンス周波数は、低回復で光学装置を動作させ
るため、100Ｈzよりかなり高い。
【００２８】図４は、図３に関連し別途調節し得る更に
他のレーザ40を備えた、光学装置2を試験するための第
２の実施例のブロック図である。図２に加えて、図４は
更に他のレーザ40、光ファイバ41、および光ファイバ4
および光ファイバ41を、光増幅器2である被試験装置の
入力に結合する光学結合手段42を備えている。 図４Ａ
に示すように、チューナブル・レーザ1は波長λ１、λ
２、およびλ３の光信号を発生する。波長λ４の光信号
は別途調節し得るレーザ40により発生される 。図４の
構成では波長λ４の光信号を別途発生することができ、
これにより光信号を試験条件に合わせて適切に修正する
ことができる。したがって、光信号を試験する更に他の
自由度が得られる。更に他のレーザを使用して時間多重
チューナブル・レーザ1により発生される光信号を置き
換え、試験条件を調節する自由度を増すことができるこ
とが理解されよう。
他のレーザ40を備えた、光学装置2を試験するための第
２の実施例のブロック図である。図２に加えて、図４は
更に他のレーザ40、光ファイバ41、および光ファイバ4
および光ファイバ41を、光増幅器2である被試験装置の
入力に結合する光学結合手段42を備えている。 図４Ａ
に示すように、チューナブル・レーザ1は波長λ１、λ
２、およびλ３の光信号を発生する。波長λ４の光信号
は別途調節し得るレーザ40により発生される 。図４の
構成では波長λ４の光信号を別途発生することができ、
これにより光信号を試験条件に合わせて適切に修正する
ことができる。したがって、光信号を試験する更に他の
自由度が得られる。更に他のレーザを使用して時間多重
チューナブル・レーザ1により発生される光信号を置き
換え、試験条件を調節する自由度を増すことができるこ
とが理解されよう。
【００２９】更に、エルビウム添加ファイバ増幅器など
の光学装置を光学的に伝送される信号によりトリガされ
る時間多重チューナブル・レーザ源（図示せず）により
動作させることができることも理解されよう。本発明の
他の実施例では、チューナブル・レーザはパターン発生
器によりトリガされているが更に他のレーザは光学的に
伝送される信号によりトリガされている。
の光学装置を光学的に伝送される信号によりトリガされ
る時間多重チューナブル・レーザ源（図示せず）により
動作させることができることも理解されよう。本発明の
他の実施例では、チューナブル・レーザはパターン発生
器によりトリガされているが更に他のレーザは光学的に
伝送される信号によりトリガされている。
【００３０】図５は、回復時間を有するＥＤＦＡまたは
ＰＤＦＡなどの、被試験装置に加えられる多数の光信号
を発生する、本発明による光源51（チューナブル・レー
ザ）を示す。
ＰＤＦＡなどの、被試験装置に加えられる多数の光信号
を発生する、本発明による光源51（チューナブル・レー
ザ）を示す。
【００３１】光源51は制御装置52、利得媒体53、超音波
可同調フィルタなどの電気的可同調フィルタ54、無線周
波発生器55、調節可能電流源56、モニタ装置57、および
ビーム・スプリッタ58および59を備えている。制御装置
52はディジタル−アナログ変換器およびアナログ−ディ
ジタル変換器を備えている。制御装置52はコンピュータ
（ＰＣ）または類似のデータ処理装置および/またはパ
ターン発生器（図５には示してない）に接続されてい
る。これらの手段により制御装置52をトリガして二つの
出力信号を発生することができる。
可同調フィルタなどの電気的可同調フィルタ54、無線周
波発生器55、調節可能電流源56、モニタ装置57、および
ビーム・スプリッタ58および59を備えている。制御装置
52はディジタル−アナログ変換器およびアナログ−ディ
ジタル変換器を備えている。制御装置52はコンピュータ
（ＰＣ）または類似のデータ処理装置および/またはパ
ターン発生器（図５には示してない）に接続されてい
る。これらの手段により制御装置52をトリガして二つの
出力信号を発生することができる。
【００３２】第１の出力信号は電流源56を調節するるデ
ータ処理装置および/またはパターン発生器からの制御
装置52の出力に応じて、電流源56は、コヒーレント光信
号を発生する半導体増幅器などの、利得媒体53に加える
電流を発生する。光信号の電力レベルは加えられる電流
によって変わる。
ータ処理装置および/またはパターン発生器からの制御
装置52の出力に応じて、電流源56は、コヒーレント光信
号を発生する半導体増幅器などの、利得媒体53に加える
電流を発生する。光信号の電力レベルは加えられる電流
によって変わる。
【００３３】第２の出力信号は無線周波発生器55を調節
する。制御装置52の入力信号に応じて、発生器55はＡＯ
ＴＦ54に加えられる一定周波数の出力信号を発生する。
ＡＯＴＦの周波数特性はＡＯＴＦに加えられる周波数に
よって決まる。
する。制御装置52の入力信号に応じて、発生器55はＡＯ
ＴＦ54に加えられる一定周波数の出力信号を発生する。
ＡＯＴＦの周波数特性はＡＯＴＦに加えられる周波数に
よって決まる。
【００３４】利得媒体53および電気的可同調フィルタ54
は各々光信号用入力および出力を備えている。利得媒体
53の出力はファイバ59aにより電気的可同調フィルタ54
の入力に接続されている。可同調フィルタ54の出力はフ
ァイバ59bにより利得媒体53の入力に接続されている。
利得媒体53と可同調フィルタとの間の接続は好適には偏
り維持ファイバ（ＰＭＦ）により平行ビームで行なわれ
る。好適には、利得媒体53、可同調フィルタ54、および
ファイバ59a、59bはリング空洞構造を構成するように設
置されている。
は各々光信号用入力および出力を備えている。利得媒体
53の出力はファイバ59aにより電気的可同調フィルタ54
の入力に接続されている。可同調フィルタ54の出力はフ
ァイバ59bにより利得媒体53の入力に接続されている。
利得媒体53と可同調フィルタとの間の接続は好適には偏
り維持ファイバ（ＰＭＦ）により平行ビームで行なわれ
る。好適には、利得媒体53、可同調フィルタ54、および
ファイバ59a、59bはリング空洞構造を構成するように設
置されている。
【００３５】出力電力結合用ビーム・スプリッタ59はリ
ング空洞構造内に、好適には利得媒体53の出力の近くに
設置されている。ファイバ59cの一端はビーム・スプリ
ッタ59に接続されており、他端59dは第２のビーム・ス
プリッタ58を通って被試験装置（図５には示してない）
に接続されている。ファイバ59cの一端はビーム・スプ
リッタ58に接続され、他端は光源51の出力信号の一部を
モニタ・ダイオード57などのモニタ装置に導いている。
モニタ・ダイオード57は光源51の周波数および強度に従
い、電気信号を発生する。モニタ・ダイオード57は光源
51を自動調節システムにするために、制御装置52に接続
されている。自動調節は所要信号値を実際の信号値と比
較するコンパレータ（図示せず）を使用して制御装置52
自身によりまたはデータ処理装置（図示せず）により行
い得ることが理解されよう。
ング空洞構造内に、好適には利得媒体53の出力の近くに
設置されている。ファイバ59cの一端はビーム・スプリ
ッタ59に接続されており、他端59dは第２のビーム・ス
プリッタ58を通って被試験装置（図５には示してない）
に接続されている。ファイバ59cの一端はビーム・スプ
リッタ58に接続され、他端は光源51の出力信号の一部を
モニタ・ダイオード57などのモニタ装置に導いている。
モニタ・ダイオード57は光源51の周波数および強度に従
い、電気信号を発生する。モニタ・ダイオード57は光源
51を自動調節システムにするために、制御装置52に接続
されている。自動調節は所要信号値を実際の信号値と比
較するコンパレータ（図示せず）を使用して制御装置52
自身によりまたはデータ処理装置（図示せず）により行
い得ることが理解されよう。
【００３６】図６は図５の光源により発生された相異な
る波長の信号の出力レーザ電力のグラフである。
る波長の信号の出力レーザ電力のグラフである。
【００３７】本発明によれば、波長の同調は、特に1.55
マイクロメートル（μm）の範囲において波長フィルタ
としての超音波可同調フィルタ（ＡＯＴＦ）により達成
される。図６に示すような波長の変更は無線周波発生器
55の無線周波数（ＲＦ）を変えることにより達成され
る。本発明によれば、これは非常に高速に行なうことが
でき、したがって10マイクロ秒の範囲の変更が可能であ
る。
マイクロメートル（μm）の範囲において波長フィルタ
としての超音波可同調フィルタ（ＡＯＴＦ）により達成
される。図６に示すような波長の変更は無線周波発生器
55の無線周波数（ＲＦ）を変えることにより達成され
る。本発明によれば、これは非常に高速に行なうことが
でき、したがって10マイクロ秒の範囲の変更が可能であ
る。
【００３８】図６に示すような他の波長への切換えると
きの電力の変更は半導体利得媒体53の駆動電流を変える
ことにより行なわれる。本発明によれば、波長および各
波長に対する個別の電力設定値の変更は約12-15マイク
ロ秒以内に行なうことができる。
きの電力の変更は半導体利得媒体53の駆動電流を変える
ことにより行なわれる。本発明によれば、波長および各
波長に対する個別の電力設定値の変更は約12-15マイク
ロ秒以内に行なうことができる。
【００３９】この電力設定値変更は非常に速いので、本
発明では被試験装置の回復時間中に幾つかの波長を設定
できる（安定波長の数＝被試験装置の回復時間／各波長
に対する電力設定時間）。ＷＤＭ用途では4、8、16、お
よび恐らくは更に多数の異なる波長が必要であろう。以
下に本発明の実施態様の例を示す。
発明では被試験装置の回復時間中に幾つかの波長を設定
できる（安定波長の数＝被試験装置の回復時間／各波長
に対する電力設定時間）。ＷＤＭ用途では4、8、16、お
よび恐らくは更に多数の異なる波長が必要であろう。以
下に本発明の実施態様の例を示す。
【００４０】（実施態様１）光増幅器を動作させるため
の相異なる波長の多数の光信号を発生する装置であっ
て、動作させようとする前記光増幅器に加えるべき前記
多数の光信号を、次々に発生する単独光源、および前記
光源の前記多数の光信号を、次々に、前記光増幅器に加
えるための切換え手段であって、前記多数の光信号のす
べてが前記切換え手段により、前記光増幅器が、信号が
加えられている状態の雑音レベルから信号が加えられて
いない状態の雑音レベルまで回復する回復時間以内に、
前記光増幅器に加えられるようにした切換え手段、を備
えている装置。
の相異なる波長の多数の光信号を発生する装置であっ
て、動作させようとする前記光増幅器に加えるべき前記
多数の光信号を、次々に発生する単独光源、および前記
光源の前記多数の光信号を、次々に、前記光増幅器に加
えるための切換え手段であって、前記多数の光信号のす
べてが前記切換え手段により、前記光増幅器が、信号が
加えられている状態の雑音レベルから信号が加えられて
いない状態の雑音レベルまで回復する回復時間以内に、
前記光増幅器に加えられるようにした切換え手段、を備
えている装置。
【００４１】（実施態様２）光増幅器を試験するための
相異なる波長の多数の光信号を発生する装置であって、
前記光増幅器に加えるべき前記多数の光信号を、次々に
発生する単独光源、前記光源の前記多数の光信号を、次
々に、前記光増幅器に加えるための切換え手段であっ
て、前記多数の光信号のすべてが前記切換え手段によ
り、前記光増幅器が、信号が加えられている状態の雑音
レベルから信号が加えられていない状態の雑音レベルま
で回復する回復時間以内に、前記光増幅器に加えられる
ようにした切換え手段、および被試験前記光増幅器の応
答信号を分析する分析手段、を備えている装置。
相異なる波長の多数の光信号を発生する装置であって、
前記光増幅器に加えるべき前記多数の光信号を、次々に
発生する単独光源、前記光源の前記多数の光信号を、次
々に、前記光増幅器に加えるための切換え手段であっ
て、前記多数の光信号のすべてが前記切換え手段によ
り、前記光増幅器が、信号が加えられている状態の雑音
レベルから信号が加えられていない状態の雑音レベルま
で回復する回復時間以内に、前記光増幅器に加えられる
ようにした切換え手段、および被試験前記光増幅器の応
答信号を分析する分析手段、を備えている装置。
【００４２】（実施態様３）前記光源は前記多数の光信
号を、次々に、発生するチューナブル・レーザである実
施態様１または２に記載の装置。 （実施態様４）前記光源は前記多数の光信号を、次々
に、10から30マイクロ秒の間隔で、特に12−15マイクロ
秒の間隔で、発生する実施態様３に記載の装置。 （実施態様５）前記切換え手段は前記多数の光信号を、
次々に、発生するよう前記チューナブル・レーザをトリ
ガするパターン発生器である実施態様３に記載の装置。 （実施態様６）前記光源は相異なる波長の多数の信号を
同時に発生し、前記切換え手段は、相異なる波長に透明
で且つ前記光源の出力と前記光増幅器との間に設置され
ている一組の回転フィルタを備えている実施態様１に記
載の装置。
号を、次々に、発生するチューナブル・レーザである実
施態様１または２に記載の装置。 （実施態様４）前記光源は前記多数の光信号を、次々
に、10から30マイクロ秒の間隔で、特に12−15マイクロ
秒の間隔で、発生する実施態様３に記載の装置。 （実施態様５）前記切換え手段は前記多数の光信号を、
次々に、発生するよう前記チューナブル・レーザをトリ
ガするパターン発生器である実施態様３に記載の装置。 （実施態様６）前記光源は相異なる波長の多数の信号を
同時に発生し、前記切換え手段は、相異なる波長に透明
で且つ前記光源の出力と前記光増幅器との間に設置され
ている一組の回転フィルタを備えている実施態様１に記
載の装置。
【００４３】（実施態様７）前記光増幅器はエルビウム
添加ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）またはプラセオジム添
加ファイバ増幅器（ＰＤＦＡ）である実施態様１に記載
の装置。 （実施態様８）光増幅器を動作させる、または試験する
方法であって、 ａ．第１の波長の第１の光信号を前記光増幅器に加える
ステップ、 ｂ．前記第１の光信号を遮断するステップ、 ｃ．第２の波長の第２の光信号を前記光増幅器に加える
ステップ、から成り、ステップａ乃至ｃは、信号が前記
光増幅器に加えられている状態の雑音レベルから信号が
前記光増幅器に加えられていない状態の雑音レベルまで
回復する回復時間内に行なわれる方法。
添加ファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）またはプラセオジム添
加ファイバ増幅器（ＰＤＦＡ）である実施態様１に記載
の装置。 （実施態様８）光増幅器を動作させる、または試験する
方法であって、 ａ．第１の波長の第１の光信号を前記光増幅器に加える
ステップ、 ｂ．前記第１の光信号を遮断するステップ、 ｃ．第２の波長の第２の光信号を前記光増幅器に加える
ステップ、から成り、ステップａ乃至ｃは、信号が前記
光増幅器に加えられている状態の雑音レベルから信号が
前記光増幅器に加えられていない状態の雑音レベルまで
回復する回復時間内に行なわれる方法。
【００４４】（実施態様９）前記第１および第２の光信
号はチューナブル・レーザにより発生され、ステップａ
乃至ｃは、前記チューナブル・レーザをトリガするパタ
ーン発生器により行なわれる、実施態様８に記載の方
法。 （実施態様１０）半導体増幅器などの光学利得媒体と、
超音波光学可同調フィルタ（ＡＯＴＦ）などの電気的可
同調フィルタと、一つは前記利得媒体の出力を前記電気
的可同調フィルタの入力に接続し、一つは電気的可同調
フィルタの出力を前記利得媒体の入力に接続する偏光維
持ファイバー（ＰＭＦ）とを備えている光源。 （実施態様１１）前記光学利得媒体、前記電気的可同調
フィルタ、および前記偏光維持ファイバーがリング空洞
を構成している実施態様１０に記載の光源。
号はチューナブル・レーザにより発生され、ステップａ
乃至ｃは、前記チューナブル・レーザをトリガするパタ
ーン発生器により行なわれる、実施態様８に記載の方
法。 （実施態様１０）半導体増幅器などの光学利得媒体と、
超音波光学可同調フィルタ（ＡＯＴＦ）などの電気的可
同調フィルタと、一つは前記利得媒体の出力を前記電気
的可同調フィルタの入力に接続し、一つは電気的可同調
フィルタの出力を前記利得媒体の入力に接続する偏光維
持ファイバー（ＰＭＦ）とを備えている光源。 （実施態様１１）前記光学利得媒体、前記電気的可同調
フィルタ、および前記偏光維持ファイバーがリング空洞
を構成している実施態様１０に記載の光源。
【００４５】（実施態様１２）アナログ/ディジタル変
換器を有する制御装置を備え、前記電気的可同調フィル
タを駆動する無線周波発生器の周波数を制御し、前記利
得媒体を駆動する電流源の電流を制御する実施態様１０
に記載の光源。 （実施態様１３）前記光源の出力信号の周波数および強
度によって変わる電気信号を発生する、モニタ・ダイオ
ードなどの、モニタ装置を備え、前記電気信号は制御装
置に加えられるものである実施態様１２に記載の光源。 （実施態様１４）実施態様１０から１３までに記載した
光源を備えている実施態様１から７までに記載した装
置。
換器を有する制御装置を備え、前記電気的可同調フィル
タを駆動する無線周波発生器の周波数を制御し、前記利
得媒体を駆動する電流源の電流を制御する実施態様１０
に記載の光源。 （実施態様１３）前記光源の出力信号の周波数および強
度によって変わる電気信号を発生する、モニタ・ダイオ
ードなどの、モニタ装置を備え、前記電気信号は制御装
置に加えられるものである実施態様１２に記載の光源。 （実施態様１４）実施態様１０から１３までに記載した
光源を備えている実施態様１から７までに記載した装
置。
【図１】本発明に従いエルビウム添加ファイバ増幅器
（ＥＤＦＡ）を試験するための多数の入力信号を発生す
る装置のブロック図である。
（ＥＤＦＡ）を試験するための多数の入力信号を発生す
る装置のブロック図である。
【図２】チューナブル・レーザにより発生される異なる
信号間の時間間隔を制御するパターン発生器を備えた、
本発明により光学装置を試験するための第１の装置のブ
ロック図である。
信号間の時間間隔を制御するパターン発生器を備えた、
本発明により光学装置を試験するための第１の装置のブ
ロック図である。
【図２Ａ】図２に示す第１の装置のレーザ源1により発
生される多数の波長λ１からλ4までの出現を時間tの関
数として示すグラフである。
生される多数の波長λ１からλ4までの出現を時間tの関
数として示すグラフである。
【図３】図２のパターン発生器により発生される制御信
号を時間の関数として示すグラフである。
号を時間の関数として示すグラフである。
【図４】図３に関連し、別途調整できる更に他のレーザ
を備えた、光学装置を試験するか動作させるための第２
の装置のブロック図である。
を備えた、光学装置を試験するか動作させるための第２
の装置のブロック図である。
【図４Ａ】図４に示す第２の装置のチューナブル・レー
ザ1から発生される波長λ１、λ２、およびλ３の光信号
を示すグラフである。
ザ1から発生される波長λ１、λ２、およびλ３の光信号
を示すグラフである。
【図５】光増幅器の低回復時、相異なる波長のコヒーレ
ント信号を発生できるようにした本発明による光源のブ
ロック図である。
ント信号を発生できるようにした本発明による光源のブ
ロック図である。
【図６】図５の光源により発生される相異なる波長の信
号の出力レーザ電力を示すグラフである。
号の出力レーザ電力を示すグラフである。
1…チューナブル・レーザ 2…エルビウム添加ファイバ増幅器 3…光信号アナライザ 6…パターン発生器 51…光源 52…制御装置 53…利得媒体 54…電気的可同調フィルタ 55…無線周波発生器 58…ビーム・スプリッタ 59…ビーム・スプリッタ
Claims (1)
- 【請求項１】 光増幅器を動作させるための相異なる波
長の多数の光信号を発生する装置であって、 動作させようとする前記光増幅器に加えるべき前記多数
の光信号を、次々に発生する単独光源、および前記光源
の前記多数の光信号を、次々に、前記光増幅器に加える
ための切換え手段であって、前記多数の光信号のすべて
が前記切換え手段により、前記光増幅器が、信号が加え
られている状態の雑音レベルから信号が加えられていな
い状態の雑音レベルまで回復する回復時間以内に、前記
光増幅器に加えられるようにした切換え手段、を備えて
いる装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE96108813.5 | 1996-06-01 | ||
| EP19960108813 EP0810748B1 (en) | 1996-06-01 | 1996-06-01 | Arrangement and method for operating and testing an optical device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1065250A true JPH1065250A (ja) | 1998-03-06 |
Family
ID=8222840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13702297A Pending JPH1065250A (ja) | 1996-06-01 | 1997-05-27 | 光学装置を動作させあるいは試験するための装置と方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0810748B1 (ja) |
| JP (1) | JPH1065250A (ja) |
| DE (1) | DE69612187T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000035376A (ja) * | 1998-04-21 | 2000-02-02 | Hewlett Packard Co <Hp> | 光学部品テスタ |
| JP2017536750A (ja) * | 2014-10-14 | 2017-12-07 | ザ アリゾナ ボード オブ リージェンツ オン ビハーフ オブ ザ ユニバーシティー オブ アリゾナＴｈｅ Ａｒｉｚｏｎａ Ｂｏａｒｄ ｏｆ Ｒｅｇｅｎｔｓ ｏｎ ｂｅｈａｌｆ ｏｆ Ｔｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆ Ａｒｉｚｏｎａ | 多波長平衡光送信ネットワーク |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19963803A1 (de) * | 1999-12-30 | 2001-07-26 | Siemens Ag | Verfahren und Anordnung zur Einstellung der Frequenz eines Sendelasers |
| CN111901053B (zh) * | 2020-07-14 | 2022-08-30 | 武汉高思光电科技有限公司 | 快速edfa测试***及方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3203611B2 (ja) * | 1994-02-14 | 2001-08-27 | 日本電信電話株式会社 | 雑音指数測定方法および装置 |
| EP0716515B1 (en) * | 1994-12-02 | 1999-08-04 | Hewlett-Packard GmbH | Arrangement for providing optical signals with different wavelengths and arrangement and method for operating and testing an optical device |
-
1996
- 1996-06-01 EP EP19960108813 patent/EP0810748B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-01 DE DE1996612187 patent/DE69612187T2/de not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-05-27 JP JP13702297A patent/JPH1065250A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000035376A (ja) * | 1998-04-21 | 2000-02-02 | Hewlett Packard Co <Hp> | 光学部品テスタ |
| JP2017536750A (ja) * | 2014-10-14 | 2017-12-07 | ザ アリゾナ ボード オブ リージェンツ オン ビハーフ オブ ザ ユニバーシティー オブ アリゾナＴｈｅ Ａｒｉｚｏｎａ Ｂｏａｒｄ ｏｆ Ｒｅｇｅｎｔｓ ｏｎ ｂｅｈａｌｆ ｏｆ Ｔｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆ Ａｒｉｚｏｎａ | 多波長平衡光送信ネットワーク |
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| Publication number | Publication date |
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