JPH10323346A - Overlap scanning method for multiple array detector and x-ray ct unit - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To overlap-scan with an excess overlapping part reduced as far as possible, by setting two different shift amounts from a scanning position to the next based on the number of multiple array detectors and the overlapping width and alternately repeating the shifts. SOLUTION: Overlap scanning is carried out alternately using first and second shift amounts to a three array X-ray detector with the array number of three. The shift amount from SCAN #1 to SCAN #2 equals to TH/2 where TH is the slice thickness. The shift amount from SCAN #2 to SCAN #3 equals to 5.TH/2. After that, the first shift amount and the second shift amount are alternately repeated. By setting the shift amount in such a manner, scanning completely without an excess over lapping part can be carried out.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、多列検出器のオー
バーラップスキャン方法およびＸ線ＣＴ（Ｃomputed
Ｔomography）装置に関し、さらに詳しくは、余分なオ
ーバーラップ部分をできるだけなくしたオーバーラップ
スキャンを行うことが出来る多列検出器のオーバーラッ
プスキャン方法およびそのオーバーラップスキャン方法
を好適に実施しうるＸ線ＣＴ装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an overlap scanning method for a multi-row detector and an X-ray CT (Computed).
More specifically, the present invention relates to a tomography apparatus, and more particularly, to an overlap scanning method for a multi-row detector capable of performing an overlap scan in which an extra overlap portion is eliminated as much as possible, and an X-ray CT capable of suitably implementing the overlap scan method. Related to the device.

【０００２】[0002]

【従来の技術】図７は、通常の１列のＸ線検出器を用い
たオーバーラップスキャンのスキャンインターバルの説
明図である。Ａは、Ｘ線検出器のスライス幅範囲を表し
ている。スライス厚をTHとし、オーバーラップ幅をTH／
２とするとき、一つのスキャンから次のスキャンへのシ
フト量すなわちスキャンインターバルＤを、 Ｄ＝TH／２ にし、Ｘ線検出器を被検体の体軸方向（図７のｚ軸方向
に相当）に沿って相対移動させながら、このスキャンイ
ンターバルＤでスキャン#1（SCAN#1），#2（SCAN#2），
…を順に行っている。この場合、オーバーラップ幅をTH
／２とするのは、隣接するスキャンから得られるデータ
を相互に補間関係におき、得られる画像情報の空間分解
能を高めるためである。2. Description of the Related Art FIG. 7 is an explanatory diagram of a scan interval of an overlap scan using a normal one-line X-ray detector. A represents the slice width range of the X-ray detector. The slice thickness is TH, and the overlap width is TH /
When 2, the shift amount from one scan to the next scan, that is, the scan interval D is set to D = TH / 2, and the X-ray detector is set in the body axis direction of the subject (corresponding to the z-axis direction in FIG. 7). Scan # 1 (SCAN # 1), # 2 (SCAN # 2),
... in order. In this case, set the overlap width to TH
The reason for setting to / 2 is to increase the spatial resolution of the obtained image information by interpolating data obtained from adjacent scans with each other.

【０００３】[0003]

【発明が解決しようとする課題】図８は、多列検出器の
模式図である。Ｘ線管３０から出射されたＸ線は、ｍ
（ｍ≧２）列検出器５ｍの第１列検出器ｄｅｔ１〜第ｍ
列検出器ｄｅｔｍで同時に検出される。図９は、検出器
列が２列であるＸ線検出器に対して、１列のＸ線検出器
の時と同じスキャンインターバルＤ（＝TH／２）を用い
てオーバーラップスキャンを行った場合の説明図であ
る。スキャン#j（ｊ＝３，４，…）の第１列検出器のス
ライス幅範囲Ａは、そのスキャンの２つ前に行われたス
キャン#(j-2)の第２列検出器のスライス幅範囲Ｂとそれ
らのｚ軸座標上で重複しており、余分なオーバーラップ
部分になっている。FIG. 8 is a schematic diagram of a multi-row detector. The X-ray emitted from the X-ray tube 30 is m
(M ≧ 2) First column detector det1 to m-th column detector 5m
It is detected simultaneously by the column detector detm. FIG. 9 shows a case where an overlap scan is performed on an X-ray detector having two detector rows using the same scan interval D (= TH / 2) as in the case of an X-ray detector having one row. FIG. The slice width range A of the first column detector of scan #j (j = 3, 4,...) Is the slice width of the second column detector of scan # (j-2) performed two scans before that scan. The width range B overlaps on the z-axis coordinate thereof, and is an extra overlapped portion.

【０００４】このように多列検出器でオーバーラップス
キャンを行う場合、１列検出器でオーバーラップスキャ
ンを行う場合のようにひとつのスキャンを終えるごとに
TH／２の等量のシフトを行っていると、図９に示すよう
に、オーバーラップが３重以上に発生した余分なオーバ
ーラップ部分が生じてしまう。As described above, when an overlap scan is performed by a multi-row detector, every time one scan is completed, as in the case of performing an overlap scan by a single-row detector.
If a shift of TH / 2 is performed, as shown in FIG. 9, an extra overlap portion occurs in which the overlap occurs three times or more.

【０００５】また、この等量なシフ卜量を例えばTHに設
定すると、図１０に示すように、オーバーラップが３重
以上に発生した部分は生じずに済むが、ひとつのスキャ
ンを終えるごとに１つの検出器列の幅の１／２だけシフ
トを行って隣接するスキャンから得られるデータを相互
に補間関係におき、得られる画像情報の空間分解能を高
めるというオーバーラップスキャンの本来の目的が損な
われてしまう。If this equivalent shift amount is set to, for example, TH, as shown in FIG. 10, the portion where the overlap occurs more than three times does not occur, but every time one scan is completed. The original purpose of the overlap scan, in which the data obtained from adjacent scans are interpolated with each other by shifting by half the width of one detector row, thereby increasing the spatial resolution of the obtained image information, is impaired. I will be.

【０００６】そこで、本発明の目的は、オーバーラップ
スキャンの本来の目的を損うことなく且つ余分なオーバ
ーラップ部分をできるだけなくしたオーバーラップスキ
ャンを行うことが出来る多列検出器のオーバーラップス
キャン方法およびそのオーバーラップスキャン方法を好
適に実施し得るＸ線ＣＴ装置を提供することにある。An object of the present invention is to provide an overlap scanning method for a multi-row detector capable of performing an overlap scan without impairing the original purpose of the overlap scan and minimizing an extra overlap portion. And an X-ray CT apparatus capable of suitably implementing the overlap scan method.

【０００７】[0007]

【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、多列検出器を被検体に沿って相対移動させながらス
キャン＃ｉ（ｉ＝１，２，…）を順に行う際、スキャン
＃ｉとスキャン＃（ｉ＋１）のスキャン範囲がオーバー
ラップするように被検体の体軸方向にシフトさせてスキ
ャンを順次行うオーバーラップスキャン方法であって、
前記多列検出器のひとつのスキャン＃ｉとこれに続くス
キャン＃（ｉ＋１）との間の第１のシフト量と、前記Ｘ
線検出器の前記スキャン＃（ｉ＋１）とこれにさらに続
くスキャン＃（ｉ＋２）との間の第２のシフト量とを異
ならしめると共に、前記第１のシフト量のシフトと前記
第２のシフト量のシフトとを交互に行いつつスキャンを
順次行うことを特徽とする多列検出器のオーバーラップ
スキャン方法を提供する。上記第１の観点による多列検
出器のオーバーラップスキャン方法によれぱ、オーバー
ラップスキャンの目的を損なうことなく且つ余分なオー
バーラップ部分をできるだけなくすことが可能となる。According to a first aspect, the present invention provides a method for sequentially performing scan #i (i = 1, 2,...) While relatively moving a multi-row detector along an object. An overlap scanning method in which scans are sequentially shifted by shifting in the body axis direction of a subject so that scan ranges of scan #i and scan # (i + 1) overlap,
A first shift amount between one scan #i of the multi-row detector and a subsequent scan # (i + 1);
A second shift amount between the scan # (i + 1) of the line detector and a scan # (i + 2) following the scan # (i + 1) is made different, and a shift of the first shift amount and a second shift amount are performed. And an overlap scan method for a multi-row detector, wherein scanning is sequentially performed while alternately performing a shift and a shift. According to the overlap scanning method of the multi-row detector according to the first aspect, it is possible to minimize the unnecessary overlap portion without impairing the purpose of the overlap scan.

【０００８】第２の観点では、本発明は、上記の多列検
出器のオーバーラップスキャン方法において、スライス
厚をTHとし、検出器列の列数をｍ（ｍ≧２）とすると、
前記第１のシフト量をTH／２に設定し、前記第２のシフ
ト量を（２ｍ−１）TH／２に設定する。シフト量をこの
ように設定することによって、余分なオーバーラップ部
分を全く生じないようにすることが可能となる。[0008] In a second aspect, the present invention provides the overlap scanning method for a multi-row detector, wherein the slice thickness is TH and the number of detector rows is m (m ≧ 2).
The first shift amount is set to TH / 2, and the second shift amount is set to (2m-1) TH / 2. By setting the shift amount in this way, it is possible to prevent an extra overlap portion from being generated at all.

【０００９】第３の観点では、本発明は、多列検出器
と、前記多列検出器のひとつのスキャン＃ｉ（ｉ＝１，
２，…）が行われるごとに前記多列検出器を前記被検体
の体軸方向にシフトさせる相対移動手段と、前記多列検
出器のひとつのスキャン＃ｉとこれに続くスキャン＃
（ｉ＋１）との間の第１のシフト量と、前記多列検出器
の前記スキャン＃（ｉ＋ｌ）とこれにさらに続くスキャ
ン＃（ｉ＋２）との間の第２のシフト量とを求めるシフ
ト量取得手段とを具備し、前記第１のシフ卜量のシフ卜
と前記第２のシフト量のシフトとを交互に行いつつスキ
ャンを順次行うことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供す
る。上記第３の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第１
の観点による多列検出器のオーバーラップスキャン方法
を好適に実施できる。In a third aspect, the present invention provides a multi-row detector and a scan #i (i = 1, 1) of the multi-row detector.
Relative movement means for shifting the multi-row detector in the body axis direction of the subject every time (2,...) Is performed, one scan #i of the multi-row detector, and a scan # following the scan #i
(I + 1) and a second shift amount between the scan # (i + 1) of the multi-row detector and a subsequent scan # (i + 2). An X-ray CT apparatus comprising an acquisition unit, wherein scanning is sequentially performed while alternately performing the shift of the first shift amount and the shift of the second shift amount. In the X-ray CT apparatus according to the third aspect, the first
The overlap scanning method of the multi-row detector from the viewpoint of the above can be suitably implemented.

【００１０】第４の観点では、本発明は、上記構成のＸ
線ＣＴ装置において、スライス厚をTHとし、検出器列の
列数をｍ（ｍ≧２）とすると、前記第１のシフト量をTH
／２に設定し、前記第２のシフト量を（２ｍ−１）TH／
２に設定したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供す
る。上記第４の観点によるＸ線ＣＴ装置では、上記第２
の観点による多列検出器のオーバーラップスキャン方法
を好適に実施できる。According to a fourth aspect, the present invention provides an X
In the line CT apparatus, when the slice thickness is TH and the number of detector rows is m (m ≧ 2), the first shift amount is TH.
/ 2, and the second shift amount is set to (2m-1) TH /
An X-ray CT apparatus characterized in that it is set to 2. In the X-ray CT apparatus according to the fourth aspect, the second
The overlap scanning method of the multi-row detector from the viewpoint of the above can be suitably implemented.

【００１１】[0011]

【発明の実施の形態】以下、図に示す実施形態に基づい
て本発明をさらに詳しく説明する。なお、これにより本
発明が限定されるものではない。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on an embodiment shown in the drawings. Note that the present invention is not limited by this.

【００１２】−第１の実施形態− 図１は、本発明の第１の実施形態にかかるＸ線ＣＴ装置
を示すブロック図である。このＸ線ＣＴ装置１００は、
操作コンソール１と、撮影テーブル１０と、走査ガント
リ２０とを具備している。前記操作コンソール１は、操
作者の指示や情報などを受け付ける入力装置２と、オー
バーラップスキャンの制御や画像再構成処理などを実行
する中央処理装置３と、制御信号などを撮影テーブル１
０や走査ガントリ２０へ出力する制御インタフェース４
と、走査ガントリ２０で取得したデータを収集するデー
タ収集バッファ５と、画像などを表示するＣＲＴ６と、
各種のデータやプログラムを記憶する記憶装置７とを具
備している。前記撮影テーブル１０は、被検体を乗せて
体軸方向に移動させる。前記走査ガントリ２０は、Ｘ線
管３０と、コリメータ４０と、２列検出器５２と、Ｘ線
照射のタイミングや強度を調整するＸ線コントローラ２
１と、前記コリメータ４０のＸ線透過スリットの幅や位
置を調整するコリメータコントローラ２２と、データ収
集部６２と、被検体の体軸の回りにＸ線管３０や２列検
出器５２などを回転させる回転コントローラ２４とを具
備している。First Embodiment FIG. 1 is a block diagram showing an X-ray CT apparatus according to a first embodiment of the present invention. This X-ray CT apparatus 100
An operation console 1, an imaging table 10, and a scanning gantry 20 are provided. The operation console 1 includes an input device 2 for receiving instructions and information from an operator, a central processing unit 3 for performing control of overlap scanning, image reconstruction processing, and the like.
0 and control interface 4 to output to scanning gantry 20
A data collection buffer 5 for collecting data acquired by the scanning gantry 20, a CRT 6 for displaying images and the like,
It has a storage device 7 for storing various data and programs. The imaging table 10 moves the subject on the body axis direction. The scanning gantry 20 includes an X-ray tube 30, a collimator 40, a two-row detector 52, and an X-ray controller 2 for adjusting the timing and intensity of X-ray irradiation.
1, a collimator controller 22 that adjusts the width and position of the X-ray transmission slit of the collimator 40, a data collection unit 62, and the X-ray tube 30 and the two-row detector 52 that rotate around the body axis of the subject. And a rotation controller 24 for performing the rotation.

【００１３】図２は、前記２列検出器５２を示す模式的
斜視図である。この２列検出器５２は、第１列検出器ｄ
ｅｔ１および第２列検出器ｄｅｔ２を一体化したもので
ある。第１列検出器ｄｅｔ１は、多数のチャネルのＸ線
検出器ｄｅｔ１(ｉ)を円弧状に配列したものである。同
様に、第２列検出器ｄｅｔ２は、多数のチャネルのＸ線
検出器ｄｅｔ２(ｉ)を円弧状に配列したものである。こ
こで、ｉは検出器チャネル番号である。図３は、オーバ
ーラップスキャンの開始までの処理のフロー図である。
ステップＳ１では、スキャン位置（スライス位置）の設
定などのスキャン計画を行う。ステップＳ２では、オー
バーラッププロトコルを選択する。ステップＳ３では、
第１及び第２シフト量を算出する。この実施例では、最
初のスキャン位置から次の第２のスキャン位置へのシフ
ト量を第１シフト量とし、この第２のスキャン位置から
さらに次の第３のスキャン位置へのシフト量を第２シフ
ト量とする。この第１及び第２シフト量算出処理は、図
４を参照して後で詳述する。ステップＳ４では、算出し
た第１及び第２シフト量をＣＲＴ６に表示し、操作者に
確認させる。ステップＳ５では、スキャン条件を実現す
るための制御条件を設定する。ステップＳ６では、オー
バーラップスキャンを開始する。FIG. 2 is a schematic perspective view showing the two-row detector 52. The two-row detector 52 includes a first-row detector d
In this example, et1 and the second column detector det2 are integrated. The first column detector det1 is obtained by arranging X-ray detectors det1 (i) of many channels in an arc shape. Similarly, the second column detector det2 is obtained by arranging X-ray detectors det2 (i) of many channels in an arc shape. Where i is the detector channel number. FIG. 3 is a flowchart of the processing up to the start of the overlap scan.
In step S1, a scan plan such as setting of a scan position (slice position) is performed. In step S2, an overlap protocol is selected. In step S3,
First and second shift amounts are calculated. In this embodiment, the shift amount from the first scan position to the next second scan position is defined as the first shift amount, and the shift amount from the second scan position to the further third scan position is defined as the second shift amount. The shift amount. The first and second shift amount calculation processing will be described later in detail with reference to FIG. In step S4, the calculated first and second shift amounts are displayed on the CRT 6 to allow the operator to confirm. In step S5, control conditions for realizing the scan conditions are set. In step S6, an overlap scan is started.

【００１４】図４は、第１及び第２シフト量算出処理
（Ｓ３）の詳細フロー図である。スライス厚をTHとし、
オーバーラップ幅をTH／２とするとき、第１シフト量を
“TH／２”とする。また、第２シフト量を“（２ｍ−
１）TH／２”とする。但し、ｍ＝２であるから、第２シ
フト量は“３・TH／２”となる。FIG. 4 is a detailed flowchart of the first and second shift amount calculation processing (S3). Let the slice thickness be TH,
When the overlap width is set to TH / 2, the first shift amount is set to “TH / 2”. Further, the second shift amount is set to “(2m−
1) TH / 2 ". However, since m = 2, the second shift amount is" 3.TH/2 ".

【００１５】図５は、２列Ｘ線検出器５２に対して、上
記第１及び第２シフト量を交互に用いながらオーバーラ
ップスキャンを行った場合の説明図である。スキャン#1
（SCAN#1）からスキャン#2（SCAN#2）へのシフト量は
“TH／２”であり、スキャン#2（SCAN#2）からスキャン
#3（SCAN#3）へのシフト量は“３・TH／２”であり、以
下、第１シフト量のシフトと第２シフト量のシフトが交
互に繰り返される。第１及び第２シフト量を上述のよう
に設定することによって、余分なオーバーラップ部分が
全く生じていないことが図５から判る。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a case where an overlap scan is performed on the two-row X-ray detector 52 while using the first and second shift amounts alternately. Scan # 1
The shift amount from (SCAN # 1) to scan # 2 (SCAN # 2) is "TH / 2", and scan from scan # 2 (SCAN # 2)
The shift amount to # 3 (SCAN # 3) is “3 · TH / 2”, and thereafter, the shift of the first shift amount and the shift of the second shift amount are alternately repeated. It can be seen from FIG. 5 that by setting the first and second shift amounts as described above, no extra overlapping portion is generated.

【００１６】−第２の実施形態− ３列検出器の場合は、図４の不等間隔スキャンインター
バル算出処理（Ｓ３）でｍ＝３とすればよいだけであ
る。この場合、第１シフト量は“TH／２”となり、第２
シフト量は“５・TH／２”となる。Second Embodiment In the case of a three-row detector, it is only necessary to set m = 3 in the uneven scan interval calculation processing (S3) of FIG. In this case, the first shift amount is “TH / 2” and the second shift amount is “TH / 2”.
The shift amount is “5 · TH / 2”.

【００１７】図６は、３列Ｘ線検出器に対して、上記第
１及び第２シフト量を交互に用いながらオーバーラップ
スキャンを行った場合の説明図である。スキャン#1（SC
AN#1）からスキャン#2（SCAN#2）へのシフト量は“TH／
２”であり、スキャン#2（SCAN#2）からスキャン#3（SC
AN#3）へのシフト量は“５・TH／２”であり、以下、第
１シフト量のシフトと第２シフト量のシフトが交互に繰
り返される。ここでも、第１及び第２シフト量を上述の
ように設定することによって、余分なオーバーラップ部
分を全く生じていないことが図６から判る。FIG. 6 is an explanatory diagram of a case where an overlap scan is performed on a three-row X-ray detector while alternately using the first and second shift amounts. Scan # 1 (SC
The shift amount from AN # 1) to scan # 2 (SCAN # 2) is “TH /
2 ", and scan # 2 (SCAN # 2) to scan # 3 (SC
The shift amount to AN # 3) is “5 · TH / 2”, and thereafter, the shift of the first shift amount and the shift of the second shift amount are alternately repeated. Again, it can be seen from FIG. 6 that by setting the first and second shift amounts as described above, there is no extra overlapped portion.

【００１８】[0018]

【発明の効果】本発明の多列検出器のオーバーラップス
キャン方法およびＸ線ＣＴ装置によれば、多列検出器の
列数とオーバーラップ幅に基づいて、ひとつのスキャン
位置から次のスキャン位置ヘの２つの異なるシフト量を
設定し、この２つの異なるシフト量のシフトを交互に繰
り返しながらスキャンを行うようにしているので、オー
バーラップスキャンの本来の目的を損なうことなく且つ
余分なオーバーラップ部分をできるだけなくしたオーバ
ーラップスキャンを行うことができる。従って、Ｘ線Ｃ
Ｔの検査に服する患者の被曝量を最小限に抑えつつ診断
画像の空間分解能を高く保つことが可能となるとと共
に、スキャンの被検体体軸方向の移動がむだなく速やか
に行われ、スループットも向上する。According to the overlap scanning method and the X-ray CT apparatus of the multi-row detector according to the present invention, one scan position is changed to the next scan position based on the number of rows and the overlap width of the multi-row detector. Since two different shift amounts are set and the scan is performed while alternately repeating the shifts of the two different shift amounts, an extra overlap portion can be obtained without impairing the original purpose of the overlap scan. Can be performed as much as possible. Therefore, X-ray C
The spatial resolution of the diagnostic image can be kept high while minimizing the amount of exposure of the patient who is subjected to the examination of T, and the scan is moved in the axial direction of the subject body unnecessarily, and the throughput is also increased. improves.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の第１の実施形態にかかるＸ線ＣＴ装置
のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an X-ray CT apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図２】２列検出器の模式的斜視図である。FIG. 2 is a schematic perspective view of a two-row detector.

【図３】オーバーラップスキャンの開始までの処理のフ
ロー図である。FIG. 3 is a flowchart of processing up to the start of an overlap scan.

【図４】第１の実施形態にかかるシフト量算出処理のフ
ロー図である。FIG. 4 is a flowchart of a shift amount calculation process according to the first embodiment;

【図５】２列Ｘ線検出器に対して２つの異なるシフト量
のシフトを交互に行いながらオーバーラップスキャンを
行った場合の説明図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a case where an overlap scan is performed while alternately shifting two different shift amounts with respect to a two-row X-ray detector.

【図６】３列Ｘ線検出器に対して２つの異なるシフト量
のシフトを交互に行いながらオーバーラップスキャンを
行った場合の説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram in a case where an overlap scan is performed while alternately shifting two different shift amounts with respect to a three-row X-ray detector.

【図７】１列Ｘ線検出器に対して等間隔スキャンインタ
ーバルを用いてオーバーラップスキャンを行う従来例の
説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram of a conventional example in which an overlap scan is performed on a single-row X-ray detector using an equal scan interval.

【図８】多列検出器の模式図である。FIG. 8 is a schematic diagram of a multi-row detector.

【図９】２列Ｘ線検出器に対してスライス厚の１／２の
等間隔シフト量のシフトを行いながらオーバーラップス
キャンを行った場合の説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of a case where an overlap scan is performed while shifting the half-row X-ray detector by an equal shift amount of ス ラ イ ス of the slice thickness.

【図１０】２列Ｘ線検出器に対して余分なオーバーラッ
プ部分が生じないようにスライス厚の等間隔シフト量の
シフトを行いながらオーバーラップスキャンを行った場
合の説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram of a case where an overlap scan is performed while shifting the slice thickness by an equal interval shift amount so that an extra overlap portion does not occur in the two-row X-ray detector.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１００ Ｘ線ＣＴ装置 １ 操作コンソール ３ 中央処理装置 ２０ 走査ガントリ ３０ Ｘ線管 ５２ ２列検出器 ５ｍ ｍ列検出器 REFERENCE SIGNS LIST 100 X-ray CT apparatus 1 Operation console 3 Central processing unit 20 Scanning gantry 30 X-ray tube 52 2 row detector 5 mm m row detector

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 多列検出器を被検体に沿って相対移動さ
せながらスキャン＃ｉ（ｉ＝１，２，…）を順に行う
際、スキャン＃ｉとスキャン＃（ｉ＋１）のスキャン範
囲がオーバーラップするように被検体の体軸方向にシフ
トさせてスキャンを順次行うオーバーラップスキャン方
法であって、 前記多列検出器のひとつのスキャン＃ｉとこれに続くス
キャン＃（ｉ＋１）との間の第１のシフト量と、前記Ｘ
線検出器の前記スキャン＃（ｉ＋１）とこれにさらに続
くスキャン＃（ｉ＋２）との間の第２のシフト量とを異
ならしめると共に、前記第１のシフト量のシフトと前記
第２のシフト量のシフトとを交互に行いつつスキャンを
順次行うことを特徽とする多列検出器のオーバーラップ
スキャン方法。When a scan #i (i = 1, 2,...) Is sequentially performed while a multi-row detector is relatively moved along a subject, a scan range of a scan #i and a scan # (i + 1) is exceeded. An overlap scanning method in which scans are sequentially shifted while being shifted in the body axis direction of a subject so as to overlap each other, wherein an overlap scan between one scan #i of the multi-row detector and a scan # (i + 1) subsequent thereto is performed. The first shift amount and the X
A second shift amount between the scan # (i + 1) of the line detector and a scan # (i + 2) following the scan # (i + 1) is made different, and a shift of the first shift amount and a second shift amount are performed. The overlap scanning method of a multi-row detector is characterized in that scanning is sequentially performed while alternately performing the above-described shifting. 【請求項２】 請求項１に記載の多列検出器のオーバー
ラップスキャン方法において、スライス厚をTHとし、検
出器列の列数をｍ（ｍ≧２）とすると、前記第１のシフ
ト量をTH／２に設定し、前記第２のシフト量を（２ｍ−
１）TH／２に設定したことを特徴とする多列検出器のオ
ーバーラップスキャン方法。2. The overlap shift method for a multi-row detector according to claim 1, wherein the slice amount is TH and the number of detector rows is m (m ≧ 2). Is set to TH / 2, and the second shift amount is set to (2 m−
1) An overlap scanning method for a multi-row detector, wherein TH is set to TH / 2. 【請求項３】 多列検出器と、前記多列検出器のひとつ
のスキャン＃ｉ（ｉ＝１，２，…）が行われるごとに前
記多列検出器を前記被検体の体軸方向にシフトさせる相
対移動手段と、前記多列検出器のひとつのスキャン＃ｉ
とこれに続くスキャン＃（ｉ＋１）との間の第１のシフ
ト量と、前記多列検出器の前記スキャン＃（ｉ＋ｌ）と
これにさらに続くスキャン＃（ｉ＋２）との間の第２の
シフト量とを求めるシフト量取得手段とを具備し、 前記第１のシフ卜量のシフ卜と前記第２のシフト量のシ
フトとを交互に行いつつスキャンを順次行うことを特徴
とするＸ線ＣＴ装置。3. A multi-row detector, and the multi-row detector is moved in the body axis direction of the subject every time a scan #i (i = 1, 2,...) Of one of the multi-row detectors is performed. Relative moving means for shifting, and one scan #i of the multi-row detector
And a second shift between the scan # (i + 1) and the following scan # (i + 1) of the multi-row detector and a subsequent scan # (i + 2). X-ray CT, comprising: a shift amount obtaining unit for obtaining a shift amount, wherein scanning is sequentially performed while alternately performing the shift of the first shift amount and the shift of the second shift amount. apparatus. 【請求項４】 請求項３に記載のＸ線ＣＴ装置におい
て、スライス厚をTHとし、検出器列の列数をｍ（ｍ≧
２）とすると、前記第１のシフ卜量をTH／２に設定し、
前記第２のシフト量を（２ｍ−１）TH／２に設定したこ
とを特徴とするＸ線ＣＴ装置。4. The X-ray CT apparatus according to claim 3, wherein the slice thickness is TH, and the number of detector rows is m (m ≧ m).
2), the first shift amount is set to TH / 2,
An X-ray CT apparatus, wherein the second shift amount is set to (2m-1) TH / 2.