JPH10308024A - トラッキングサーボシステムおよびトラッキング方法 - Google Patents

トラッキングサーボシステムおよびトラッキング方法

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JPH10308024A
JPH10308024A JP11720597A JP11720597A JPH10308024A JP H10308024 A JPH10308024 A JP H10308024A JP 11720597 A JP11720597 A JP 11720597A JP 11720597 A JP11720597 A JP 11720597A JP H10308024 A JPH10308024 A JP H10308024A
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servo
circuit
potential
tracking
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JP11720597A
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Osamu Nishijima
理 西嶋
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 対物レンズアクチュエータが中立な位置より
も内外周方向に移動したときには、サーボ収束ポイント
に対応した制御信号電位が基準電圧から外れ、サーボマ
ージンが小さくなる。 【解決手段】 第1の演算回路16Aは、位置センサ1
0からの変位量にもとづいて基準電圧とサーボオン時の
制御信号電位との差を算出する。そして、第2の演算回
路17Aは、トラッキングエラー検出回路11の出力に
第1の演算回路16Aの出力を加算または減算して、そ
の結果をトラッキングエラー信号21としてサーボ制御
回路12に与える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置等
において用いられ、光スポットをトラック上に正確に追
従させるトラッキングサーボシステムおよびトラッキン
グ方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図13は従来の光ディスクにおける光学
系およびトラッキングサーボシステムの概略構成を示す
ブロック図である。図に示すように、光ヘッド70に搭
載された光学系2には、例えば、レーザ光を発する半導
体レーザ3、半導体レーザ3からのレーザ光を0次光と
±1次回折光に3分割する回折格子4、回折格子4から
の光を通過させるとともに光ディスク50からの反射光
を90゜反射するハーフプリズム5、ハーフプリズム5
からの光を平行光にするコリメータ6、コリメータ6か
らの光を光ディスク50に集光する対物レンズ7を搭載
した対物レンズアクチュエータ1、ハーフプリズム5か
らの反射光を集光するレンズ8、およびレンズ8からの
光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ部9
が搭載される。
【0003】フォトディテクタ部9は、0次光による光
ディスク50からの反射光を受光する4分割フォトディ
テクタ91、+1次回折光による光ディスク50からの
反射光を受光するフォトディテクタ92、および−1次
回折光による光ディスク50からの反射光を受光するフ
ォトディテクタ93を有する。4分割フォトディテクタ
91で受光される光a,b,c,dは、フォーカスエラ
ー検出および情報再生のために用いられる。フォトディ
テクタ92,93で受光される光E,Fは、光ディスク
50において0次光による主ビームの前後に照射された
±1次回折光による反射光である。すなわち、図13に
示されものは、3ビーム法によるトラッキングエラー検
出を行うものである。なお、以下、フォトディテクタ9
2に照射された光をEビーム、フォトディテクタ93に
照射された光をFビームと呼ぶ。フォトディテクタ9
2,93からの各電気信号はトラッキングエラー検出回
路11に入力する。トラッキングエラー検出回路11
は、両電気信号の差をトラッキングエラー検出信号21
として出力する。サーボ制御回路12は、トラッキング
エラー検出信号21にもとづいて、主ビームが光ディス
ク50のトラックを正確に追跡するように対物レンズア
クチュエータ1を駆動する。
【0004】次に、トラッキングサーボシステムの動作
について、図14を参照して説明する。
【0005】図14はトラッキングサーボ制御を説明す
るための概念図である。サーボオフ時(トラッキングサ
ーボ制御がなされないとき)には、対物レンズアクチュ
エータ1がどの位置にあっても、トラッキングエラー検
出回路11から、基準電圧22に対して概ね均等な振り
幅を持っているトラッキングエラー信号21が出力され
る。なお、基準電圧22とは、サーボオフ時のオフセッ
トのないトラッキングエラー信号21の振り幅の中央の
電圧である。また、サーボ収束時のトラッキングエラー
検出回路11からの出力値を制御電圧23と表現する。
【0006】対物レンズアクチュエータ1が機械的に中
立な位置にあるときには、図14(B)に示すように、
制御電圧23は、基準電圧22と同じ値を示す。すなわ
ち、サーボ制御回路12の制御によって主スポットがト
ラック上に正確に追従しているときに、トラッキングエ
ラー検出回路11から出力されている制御電圧値は基準
電圧22と同じ値を示す。図14における符号24は、
制御電圧23のレベルを示し、この電位を制御信号電位
と呼ぶ。
【0007】なお、対物レンズアクチュエータ1が機械
的に中立な位置にある場合にトラッキングエラー検出回
路11からの出力値が基準電圧22よりも上の値を示し
たときには、光ディスク面で集光しているスポットがト
ラックよりも外周側にずれたことを示し、トラッキング
エラー検出回路11からの出力値が基準電圧22よりも
下の値を示したときには、光ディスク面で集光している
スポットがトラックよりも内周側にずれたことを示す。
そのような場合には、トラッキングエラー検出回路11
からの出力値が基準電圧22に戻るようにサーボが働
く。
【0008】対物レンズアクチュエータ1がトラッキン
グ制御に従って中立な位置よりも内周方向に移動したと
きには、図14(A)に示すように、制御電圧23は基
準電圧22よりも上がる。すなわち、主スポットがトラ
ック上に正確に追従しているときに、トラッキングエラ
ー検出回路11からの出力値は基準電圧22よりも高い
値を示す。対物レンズアクチュエータ1がトラッキング
制御に従って中立な位置よりも外周方向に移動したとき
には、図14(C)に示すように、制御電圧23は基準
電圧22よりも下がる。すなわち、主スポットがトラッ
ク上に正確に追従しているときに、トラッキングエラー
検出回路11からの出力値は基準電圧22よりも低い値
を示す。このずれは、対物レンズアクチュエータ1を駆
動することに起因して生ずる。ここで、トラッキング制
御に従った対物レンズアクチュエータ1の内外周への移
動量と制御信号電位24の基準電位22からのずれ量は
比例する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従来のトラッキングサ
ーボシステムは以上のように構成されているので、サー
ボオフ時のトラッキングエラー信号21は基準電圧22
に対して概ね均等な振り幅を持つのに対して、対物レン
ズアクチュエータ1が中立な位置よりも内外周方向に移
動したときには、制御電圧23に対応した制御信号電位
24は、基準電圧22から外れる。すなわち、制御にア
ンバランスが生ずる。このことは、対物レンズアクチュ
エータ1が中立な位置よりも内外周方向に移動すればす
るほど、トラッキングサーボのマージンが小さくなりサ
ーボ制御が外れやすくなることを意味する。例えば、対
物レンズアクチュエータ1がトラッキング制御に従って
中立な位置よりも内周方向に移動しているとする(図1
4(A)に対応)。光スポットA,Bが光ディスク面の
きずや汚れに遭遇して反射光であるEビームやFビーム
光量が小さくなると、トラッキングエラー検出回路11
から出力される値は小さくなる。すなわち、サーボオフ
時のトラッキングエラー信号のP−Q間の幅が小さくな
る。従って、サーボ制御が外れやすくなる。
【0010】また、サーボオフ時の制御信号電位が対物
レンズアクチュエータ1の移動に伴って基準電位22か
らずれていく場合もあるが、そのずれ方は、サーボオン
時のずれ方とは異なる。従って、やはり、対物レンズア
クチュエータ1が中立な位置よりも内外周方向に移動す
ると制御にアンバランスが生ずることになる。
【0011】ディスクの高速回転化に伴って対物レンズ
アクチュエータ1の1次共振周波数が高まる傾向にある
ので、1次共振周波数を高めるために、対物レンズアク
チュエータ1におけるばね定数を高めたり質量を小さく
する傾向にある。ディスクに傷があると一時的に反射光
がなくなるので、そのとき対物レンズアクチュエータ1
に対する制御が一時的に中断する。このとき、対物レン
ズアクチュエータ1が中立な位置から内外周方向に移動
していれればしているほど、対物レンズアクチュエータ
1を中立の位置に戻そうとする力が強く働き、光スポッ
トがトラックからずれる。このことからも、トラッキン
グサーボのマージンが小さいと、光スポットが傷を通過
した後、サーボ制御が外れやすくなるといえる。
【0012】従って、本発明は、対物レンズアクチュエ
ータがどの位置にあっても、サーボマージンが低下しな
いトラッキングエラー信号が得られるトラッキングサー
ボシステムおよびトラッキング方法を提供することを目
的とする。
【0013】なお、特開平2−15428号公報には、
対物レンズアクチュエータ1の変位量を測定して、変位
量に応じてプッシュプル方式のトラッキングエラー信号
21が持つオフセットを除去する技術が開示されてい
る。しかし、その技術は、プッシュプル方式において本
来的に存在するオフセットを除去するものである。すな
わち、対物レンズアクチュエータ1が中立位置から移動
しているときにトラッキングエラー検出回路11から出
力される信号に含まれるオフセット分を補償して、レン
ズシフトに影響されないトラッキングエラー情報を有す
るトラッキングエラー信号21をサーボ制御回路12に
与える技術が開示されている。しかし、本発明の目的
は、トラッキングエラー検出回路11から出力される信
号に含まれるオフセットをなくすことではなく、対物レ
ンズアクチュエータ1が中立位置から移動しているとき
のサーボ収束ポイントのマージンを改善することであ
る。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明によるトラッキン
グサーボシステムは、対物レンズアクチュエータの中立
位置からの変位量にもとづいてサーボオン時の制御信号
電位と基準電位との電位差を演算する第1の演算回路
と、トラッキングエラー検出回路の出力に、第1の演算
回路の演算結果にもとづいたオフセット量を反映させる
第2の演算回路とを備える。
【0015】また、本発明によるトラッキング方法は、
対物レンズアクチュエータの中立位置からの変位量を測
定するステップと、測定された変位量からサーボオン時
の制御信号電位と基準電位との電位差を演算するステッ
プと、演算結果をトラッキングエラー検出結果に対して
加算または減算するステップとを備える。
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。
【0016】図1は、本発明の実施の一形態を示すブロ
ック図である。図に示すように、光ヘッド60には、対
物レンズアクチュエータ1の中立位置からの変位量を検
出する位置センサ10が設けられる。この例では、位置
センサ10は、光ヘッド60に固定された発光素子10
a、光ヘッド60に固定され発光素子10bからの光を
受光する受光素子10b、および対物レンズアクチュエ
ータ1に固定され対物レンズアクチュエータ1の移動に
伴って発光素子10aからの光を遮光する遮光板10c
で構成されている。第1の演算回路16Aは、位置セン
サ10の受光素子10cから出力される対物レンズアク
チュエータ1の変位量に応じた信号にもとづいて基準電
圧22とサーボオン時の制御信号電位24との差を算出
する。そして、第2の演算回路17Aは、トラッキング
エラー検出回路11の出力に第1の演算回路16Aの出
力を加算または減算して、その結果をトラッキングエラ
ー信号21としてサーボ制御回路12に与える。なお、
遮光板10c以外の対物レンズアクチュエータ1の部
分、光学系2の位置センサ10以外の部分、トラッキン
グエラー検出回路11およびサーボ制御回路12の構成
は、図13に示されたものと同じでよい。
【0017】次に動作について説明する。
【0018】トラッキングエラー検出回路11およびサ
ーボ制御回路12は、従来のものと同様に動作する。し
かし、この場合には、光ヘッド60に設けられた位置セ
ンサ10が、対物レンズアクチュエータ1の中立位置か
らの変位量を検出する。そして、変位量を第1の演算回
路16Aに与える。図2(A)は、対物レンズアクチュ
エータ1の中立位置からの変位量X(横軸)と、制御信
号電位24と基準電圧22との差Y(縦軸)との関係の
一例を示す説明図である。図2(A)において、実線Y
f はサーボオフ時のトラッキングエラー検出回路11か
らのトラッキングエラー信号の振幅中心電位と基準電圧
22との電位差を示す。また、点線Ynはサーボオン時
の制御信号電位24と基準電圧22との電位差を示す。
どちらも、対物レンズアクチュエータ1の変位量に対し
て概ね直線的な変化をもつ。すなわち、比例的な特性を
示す。図2(B)は、位置センサ10の出力特性の一例
を示す説明図である。横軸は対物レンズアクチュエータ
1の中立位置からの変位量Xを示し、縦軸は位置センサ
10の出力電圧Yを示す。位置センサ10の出力電圧Y
S は、やはり、対物レンズアクチュエータ1の変位量に
対して比例的な特性を示す。
【0019】従って、第1の演算回路16Aは、位置セ
ンサ10の出力電圧に対してバイアス調整およびゲイン
調整を施すだけで、サーボオン時の制御信号電位24と
基準電圧22との電位差Yn と、サーボオフ時のトラッ
キングエラー検出回路11からのトラッキングエラー信
号の振幅中心電位と基準電圧22との電位差Yf との差
に相当する値を得ることができる。
【0020】図3は、第1の演算回路16Aの一構成例
を示すブロック図である。図に示すバイアス調整回路1
8は、図4に示すように、位置センサ10の出力特性が
オフセットsを持つ場合にそのオフセットsをキャンセ
ルするように位置センサ10の出力電圧にバイアスを与
える。なお、図2(B)に示す例では、位置センサ10
の出力特性はオフセットを持たないので、バイアス値は
0である。ゲイン調整回路9は、位置センサ10の出力
特性における傾きθ2 と図2(A)に示された特性にお
ける傾きθ1 との差に相当するゲインを与える。よっ
て、位置センサ10の出力がバイアス調整回路8および
ゲイン調整回路9に入力すると、第1の演算回路6Aか
ら(Yn −Yf )に相当する値が出力される。
【0021】なお、サーボオフ時のトラッキングエラー
検出回路11からのトラッキングエラー信号の振幅中心
の電位と基準電圧22との電位差Yf が、レンズシフト
によらず、図2(A)に示されるように常に0である場
合には、第1の演算回路16Aは、サーボオン時の制御
信号電位24と基準電圧22との電位差Yn に相当する
値を出力すればよい。
【0022】第2の演算回路17Aは、トラッキングエ
ラー検出回路11の出力に第1の演算回路16Aの出力
を加算して、その結果をトラッキングエラー信号21と
してサーボ制御回路12に与える。図5は、この実施の
形態におけるトラッキングエラー信号21の波形を対物
レンズアクチュエータ1の位置および光ディスク50に
おけるスポット位置とともに示す説明図である。図5
(A)は、対物レンズアクチュエータ1が中立な位置よ
りも内周方向に移動したときの第2の演算回路17Aか
ら出力されるトラッキングエラー信号21を示す。図5
(B)は、図14(B)と同様に、対物レンズアクチュ
エータ1が機械的に中立な位置にあるときの第2の演算
回路7Aから出力されるトラッキングエラー信号21を
示す。図5(C)は、対物レンズアクチュエータ1が中
立な位置よりも外周方向に移動したときの第2の演算回
路7Aから出力されるトラッキングエラー信号21を示
す。対物レンズアクチュエータ1が中立な位置から内外
周方向に移動しても、第2の演算回路7Aによって(Y
n −Yf )に相当するオフセット量が与えられるので、
サーボ収束時の制御電圧23すなわちサーボオン時の制
御信号電位24を基準として、トラッキングエラー信号
21は概ね均等な振り幅を持つ。
【0023】サーボ制御回路12は、このようなトラッ
キングエラー信号21にもとづいてトラッキング制御を
行うことにより、常に均一で大きなサーボマージンをも
って制御を行うことができる。よって、対物レンズアク
チュエータ1がどの位置にあっても、ディスクの偏心、
汚れや傷等に対して高いマージンをもってトラッキング
制御が遂行される。従って、外乱に対して耐性が強くな
るとともに、トラック位置決め精度を向上させてディス
ク情報の読み取り性能を上げることができる。また、ば
ね定数が大きい場合であっても、汚れや傷等に対してデ
トラックしにくくなる。さらに、ディスク偏心があって
も安定したトラックジャンプができる等の効果がある。
【0024】また、アクセス時の対物レンズアクチュエ
ータ1の振れに対するサーボ引き込み性能が向上する効
果も期待できる。さらには、3ビーム方式を用いた場合
のEビームとFビームとは主ビームの反射光に対して正
確にバランスしていることが望ましいが、サーボマージ
ンが向上することから、E−Fバランス調整精度を緩め
ることができる。
【0025】図2(C)は、サーボオフ時のトラッキン
グエラー検出回路11からのトラッキングエラー信号の
振幅中心の電位と基準電圧22との電位差Yf も対物レ
ンズアクチュエータ1の移動に伴って変動する場合の電
位差Yf およびサーボオン時の制御信号電位24と基準
電圧22との電位差Yn の一例を示す説明図である。す
なわち、プッシュプル方式によるトラッキング制御を行
う場合のように、トラッキングエラー検出回路11の出
力がオフセットを持つ場合の例である。また、トラック
の円周方向における集光ビームのガウス分布が均等でな
い場合に、電位差Yf の変動は起こりうる。そのような
場合であっても、第1の演算回路16Aは、位置センサ
10からの変位量にもとづいて(Yn −Yf )に相当す
る値を得ることができる。そして、第2の演算回路17
Aは、トラッキングエラー検出回路11の出力から第1
の演算回路16Aの出力を減算してトラッキングエラー
信号21を生成する。このようにして、対物レンズアク
チュエータ1がどの位置にあっても、常に高いマージン
をもってトラッキング制御が行える。
【0026】図2(D)は、サーボオフ時のトラッキン
グエラー検出回路11からのトラッキングエラー信号の
振幅中心の電位と基準電圧22との電位差Yf も対物レ
ンズアクチュエータ1の移動に伴って変動する場合の電
位差Yf およびサーボオン時の制御信号電位24と基準
電圧22との電位差Yn の他の例を示す説明図である。
この場合も、プッシュプル方式によるトラッキング制御
を行う場合のように、トラッキングエラー検出回路11
の出力がオフセット(誤差分)を持つ場合の例である。
また、トラックの円周方向における集光ビームのガウス
分布が均等でない場合に、このような電位差Yf の変動
も起こりうる。この場合にも、第1の演算回路16Aが
位置センサ10からの変位量にもとづいて(Yn −Yf
)に相当する値を得て、第2の演算回路17Aがトラ
ッキングエラー検出回路3の出力に第1の演算回路16
Aの出力を加算してトラッキングエラー信号21を生成
すれば、対物レンズアクチュエータ1がどの位置にあっ
ても、常に高いマージンをもってトラッキング制御が行
える。
【0027】なお、位置センサ10の出力の極性が逆で
あったり信号極性が逆である場合には、上述した各加算
処理と各減算処理が逆になる。
【0028】また、図2(C)および図2(D)は第1
の演算回路16Aがプッシュプル方式等によるトラッキ
ングエラー検出回路11の出力に含まれるオフセットを
も解消しつつ、所望の値を出力する場合の例であるが、
トラッキングエラー検出回路11の出力にオフセットが
含まれる場合に、図6に示されるように、トラッキング
エラー検出回路11と第2の演算回路17Aの間にオフ
セット補償回路13を設け、オフセット補償回路13が
トラッキングエラー検出回路11の出力に含まれるオフ
セットを解消するようにしてもよい。オフセット補償回
路13として、例えば、特開平2−15428号公報に
記載されたような位置センサ10の変位量にもとづいて
トラッキングエラー検出回路11の出力に含まれるオフ
セット量(誤差量)を推定し推定量に従って補償処理を
行うものが使用できる。そのような構成をとった場合に
は、図2(C),(D)におけるYf の傾きがオフセッ
ト補償回路13によって解消されるので、第1の演算回
路16Aは、トラッキングエラー検出回路11の出力に
オフセットが含まれていない場合と同様に動作できる。
【0029】図7(A)は、第1の演算回路16Aの他
の構成例を示すブロック図である。図7(A)に示され
たものは、図3に示された構成に対して、ローパスフィ
ルタ回路25が加えられているものである。このような
構成によれば、ローパスフィルタ回路25によって、図
7(B)に例示されるような位置センサ10の出力から
不要なノイズをカットしたり必要な低周波成分や直流成
分のみを抽出することができる。例えば、図7(C)に
示される出力周波数特性のように、光ディスク50の偏
心にもとづく対物レンズアクチュエータ1の相対的変動
にもとづく信号成分(偏心周波数)およびそれよりも緩
やかな変動にもとづく信号成分のみを抽出できる。な
お、図7(B)には、バイアス調整回路18およびゲイ
ン調整回路19によって調整が行われた後の波形例が示
されている。
【0030】図8に示されたものは、図3に示された構
成に対して、ハイパスフィルタ回路26と、ゲイン調整
回路19の出力からハイパスフィルタ回路26の出力成
分を取り除く差動回路28が加えられているものであ
る。このような構成によっても、図7(A)に示された
ものと同様に、不要なノイズをカットしたり必要な低周
波成分や直流成分のみを抽出することができる。
【0031】図9(A)に示されたものは、図3に示さ
れた構成に対して、ハイパスフィルタ回路26が加えら
れているものである。このような構成によれば、図9
(B)に例示されるような位置センサ10の出力から必
要な周波数以上の交流成分を抽出することができる。例
えば、図9(C)に示されるように、偏心周波数および
それよりも高速な変動にもとづく信号成分のみを抽出で
きる。
【0032】図10に示されたものは、図3に示された
構成に対して、ローパスフィルタ回路25と、ゲイン調
整回路19の出力からローパスフィルタ回路25の出力
成分を取り除く差動回路28が加えられているものであ
る。このような構成によっても、必要な周波数以上の交
流成分を抽出することができる。
【0033】図11に示されたものは、図3に示された
構成に対して、バンドパスフィルタ回路27が加えられ
ているものである。このような構成によれば、図11
(B)に例示されるような位置センサ10の出力から必
要な交流成分のみ、例えば偏心周波数成分のみを抽出す
ることができる(図11(C)参照)。
【0034】以上のような第1の演算回路16Aの構成
によれば、第2の演算回路17Aは、目的に応じて必要
な周波数成分のみをトラッキングエラー信号21に反映
させることができる。従って、目的に応じたトラッキン
グサーボ制御を行うことができる。例えば、偏心周波数
成分のみを抽出することによって、偏心にもとづく変動
によく追従するシステムを得ることができる。
【0035】図12は本発明の他の実施の形態を示すブ
ロック図である。この場合には、光学系2からの一方の
検出信号に対して第1の演算回路16Bの出力を加算ま
たは減算する第2の演算回路17Bが設けられている。
トラッキングエラー検出回路11は、光学系2からの他
方の検出信号と第2の演算回路17Bの出力との差をと
る。
【0036】次に動作について説明する。
【0037】第1の演算回路16Bは、上述した第1の
演算回路16Aの動作と同様の動作によって、位置セン
サ10からの変位量にもとづいて、基準電圧22とサー
ボオン時の制御信号電位24との差に相当する値を得
る。ただし、この場合には、第1の演算回路16Bの出
力はトラッキングエラー検出回路11の2系統の入力の
一方側にあるので、トラッキングエラー検出回路11の
双方の入力の振幅がそろうようにするためのゲイン調整
も行う。このような構成によっても、トラッキングエラ
ー信号21に適切なオフセット量を与えることが可能で
ある。
【0038】なお、上記の各実施の形態では光ヘッド6
0に位置センサ10を設け位置センサ10が変位量を出
力するようにしたが、光ヘッド60が既にレンズ位置検
出信号を出力する構成であれば、そのレンズ位置検出信
号を位置センサ10からの変位量に代えて用いることが
できる。
【0039】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、トラッ
キングサーボシステムが、対物レンズアクチュエータの
中立位置からの変位量にもとづいてサーボオン時のトラ
ッキングエラー検出回路の出力電位と基準電位との電位
差を演算する第1の演算回路と、トラッキングエラー検
出回路の出力に、第1の演算回路の演算結果にもとづい
たオフセット量を反映させる第2の演算回路とを備えた
構成になっているので、サーボオン時の制御信号電位を
中心として均等な振り幅を持つトラッキングエラー信号
をサーボ制御回路に供給することができ、対物レンズア
クチュエータの位置に関係なく常に高いサーボマージン
をもってトラッキング制御を行うことができる。
【0040】また、サーボオン時の制御信号電位と基準
電位との電位差と、サーボオフ時のトラッキングエラー
検出回路からのトラッキングエラー信号の振幅中心の電
位と基準電位との電位差との差を第1の演算回路が出力
するように構成されている場合には、対物レンズアクチ
ュエータの移動に伴ってサーボオフ時のトラッキングエ
ラー信号の振幅中心電位が変動しても、常に同一のサー
ボマージンをもってトラッキング制御を行うことができ
る。
【0041】さらに、サーボ制御回路が必要とする周波
数帯域の信号が第1の演算回路から出力されるように構
成されている場合には、対物レンズアクチュエータの位
置に関係なく、必要に応じた周波数帯域においてトラッ
キングサーボの追従性能が向上するようなトラッキング
エラー信号をサーボ制御回路に供給することができる。
【0042】また、本発明によるトラッキング方法は、
測定された対物レンズアクチュエータの中立位置からの
変位量からサーボオン時の制御信号電位と基準電位との
電位差を演算し、演算結果をトラッキングエラー検出結
果に対して加算または減算すするように構成されている
ので、サーボオン時の制御信号電位を中心として均等な
振り幅を持つトラッキングエラー信号をサーボ制御機構
に供給することができ、対物レンズアクチュエータの位
置に関係なく常に高いサーボマージンをもってトラッキ
ング制御を行うことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施の一形態を示すブロック図であ
る。
【図2】 対物レンズアクチュエータの中立位置からの
変位量と、制御信号電位と基準電圧との差との関係の一
例を示す説明図である。
【図3】 第1の演算回路の一構成例を示すブロック図
である。
【図4】 位置センサの変位量と出力との関係の一例を
示す説明図である。
【図5】 本発明の実施の一形態におけるトラッキング
エラー信号を対物レンズアクチュエータの位置および光
ディスクにおけるスポット位置とともに示す説明図であ
る。
【図6】 オフセット補償回路を有する実施の形態を示
すブロック図である。
【図7】 第1の演算回路の他の構成例を回路特性とと
もに示す説明図である。
【図8】 第1の演算回路のさらに他の構成例を示すブ
ロック図である。
【図9】 第1の演算回路のさらに他の構成例を回路特
性とともに示す説明図である。
【図10】 第1の演算回路のさらに他の構成例を示す
ブロック図である。
【図11】 第1の演算回路のさらに他の構成例を回路
特性とともに示す説明図である。
【図12】 本発明の他の実施の形態を示すブロック図
である。
【図13】 従来のトラッキングサーボシステムの概略
構成を示すブロック図である。
【図14】 従来のトラッキングサーボシステムにおけ
るトラッキングエラー信号を示す波形図である。
【符号の説明】
1 対物レンズアクチュエータ 10 位置センサ 11 トラッキングエラー検出回路 12 サーボ制御回路 16A,16B 第1の演算回路 17A,17B 第2の演算回路

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 トラッキングエラーを示す信号を生成す
    るトラッキングエラー検出回路と、 前記トラッキングエラー検出回路の出力にもとづいて対
    物レンズアクチュエータをトラッキングのために移動さ
    せるサーボ制御回路とを備えたトラッキングサーボシス
    テムにおいて、 前記対物レンズアクチュエータの中立位置からの変位量
    にもとづいてサーボオン時の制御信号電位と基準電位と
    の電位差を演算する第1の演算回路と、 前記トラッキングエラー検出回路の出力に、前記第1の
    演算回路の演算結果を反映させる第2の演算回路とを備
    えたことを特徴とするトラッキングサーボシステム。
  2. 【請求項2】 第1の演算回路は、サーボオン時の制御
    信号電位と基準電位との電位差と、サーボオフ時のトラ
    ッキングエラー検出回路の出力電位と基準電位との電位
    差との差を出力する請求項1記載のトラッキングサーボ
    システム。
  3. 【請求項3】 第1の演算回路は、サーボ制御回路が必
    要とする周波数帯域の信号を出力する請求項1または請
    求項2記載のトラッキングサーボシステム。
  4. 【請求項4】 トラッキングエラー検出結果にもとづい
    て対物レンズアクチュエータをトラッキングのために移
    動させるトラッキング方法において、 前記対物レンズアクチュエータの中立位置からの変位量
    を測定し、 測定された変位量からサーボオン時の制御信号電位と基
    準電位との電位差を演算し、 演算結果を前記トラッキングエラー検出結果に対して加
    算または減算することを特徴とするトラッキング方法。
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