JPH10307089A - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
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- JPH10307089A JPH10307089A JP11482997A JP11482997A JPH10307089A JP H10307089 A JPH10307089 A JP H10307089A JP 11482997 A JP11482997 A JP 11482997A JP 11482997 A JP11482997 A JP 11482997A JP H10307089 A JPH10307089 A JP H10307089A
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
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Abstract
試験の試験データ処理項目の設定を容易に行えるように
する。 【解決手段】 CRTにデータ試験データ処理項目設定
画面を表示し、その画面中に材料試験の種類に対応した
代表的な線図Cを図柄として表示する。そして、この線
図Cの特定の点に対応した試験データ処理項目名を、線
図Cの特定の点近傍に「上降伏点」、「弾性率」などの
ように文字表示する。ユーザはマウスを用いて、これら
のデータ処理項目の文字表示IL、UY、CEなどの中
から所望のデータ処理項目を示すデータ処理項目表示に
ポインタPを合わせ、クリックすることにより試験デー
タ処理項目を指定する。これにより、試験データ処理項
目が選択される。
Description
位特性などを測定する材料試験機に関する。
の全体の構成を示すブロック図である。この図10にお
いて、材料試験機は、大別して3つの部分、すなわち、
試験機本体部2と、試験機本体部2の制御および試験デ
ータの蓄積のための制御装置1と、材料試験機で行われ
る試験条件の設定や、試験後のデータ処理方法の設定を
ユーザが行うための入出力操作部3とで構成される。
ド11、マウス12などで構成され、ユーザがキーボー
ド11あるいはマウス12を介して引張試験、圧縮試験
などの試験方法やその他の試験条件、そして試験データ
の処理方法などについて入力する。そのときの設定条件
や実験結果などがCRT10に表示される。
装置で構成され、入出力操作部3を介してユーザにより
設定された試験条件に基づき、後述する試験機本体部2
を駆動制御するとともにこの試験機本体部2より試験デ
ータを逐次入力し、試験終了後にはデータを処理してC
RT10に表示する。なお、制御装置1にはデータの処
理結果を打ち出すためにプリンタ13、そして試験条件
や実験で得られたデータを保存するために補助記憶装置
14が接続される。
張や圧縮などの荷重を加え、そのときの試験片TPの挙
動を調べるためのものであり、テーブル22の上に立設
された一対のねじ棹23、24の上端にはヨーク25が
横架されるとともに、ねじ棹23、24にクロスヘッド
26が螺合される。
2が設置され、これらモータ31および変速機32でね
じ棹23および24が回転駆動されてクロスヘッド26
が昇降する。モータ31はモータドライバ33を介して
制御装置1によって制御される。
して上つかみ具28が、そしてテーブル22には下つか
み具29が設けられる。試験片TPはこれら上つかみ具
28および下つかみ具29によって両端を把持され、ク
ロスヘッド26の昇降にともない、引張荷重または圧縮
荷重が与えられる。
27により検出され、ヘッドアンプ37、A/Dコンバ
ータ38を介して制御装置1に入力される。
れ、変速機32の回転あるいはねじ棹23、24の回転
に応じたパルス信号を出力する。このエンコーダ35か
らのパルス信号はカウンタ36でカウントされ、このカ
ウント結果が制御装置1に入力される。制御装置1はカ
ウンタ36からの入力や変速機32の変速比、そしてね
じ棹23、24のねじピッチなどに基づいて試験片TP
の変位を検出する。
よび停止を指示するためのスイッチ30が設けられてお
り、ユーザが上述したように入出力操作部3で試験方法
や試験後のデータ処理方法などを設定した後、スイッチ
30を操作することにより材料試験機は作動を開始し、
試験片TPに与えられた荷重と、その荷重時における試
験片TPの変位を検出し、試験片TPの荷重−変位特性
が測定される。
は、試験条件あるいは試験後のデータ処理方法の設定に
際して、図11に示すような設定画面で項目を設定し、
そして各種のパラメータを設定していた。ところが、上
述した材料試験機で各種の設定を行うには材料試験に関
する専門知識を必要としていた。これについて図11を
参照して説明する。
処理項目条件設定モード、すなわち材料試験で得られた
データの処理項目と、その処理項目における処理条件と
を設定するためのモードの画面を示したものである。画
面左上のデータ処理項目リストDLには、上から順に弾
性率、上降伏点荷重、...、耐力1荷重などが表示さ
れている。ユーザは、これらの項目の中からマウス12
(図10)を用いて処理したい項目を選択する。図11
の例においては、上降伏点荷重の文字UYが白黒反転し
て表示されており、上降伏点荷重がデータ処理項目とし
て選択されていることが示されている。
点荷重が選択されるのにともない、データ処理項目リス
トの右には3つのウィンドウが表示される。これらのウ
ィンドウについて順次説明すると、パラメータウィンド
ウPWは、データの表示桁数や表示単位、そして印刷す
るときの印字位置について設定するためのものである。
計算点ウィンドウCWは、上降伏点を求める際の計算点
を設定するためのものである。合否判定ウィンドウJW
は、試験片TP(図10)の試験結果に対して自動的に
合否判定をするか否かを設定するためのもので、合否判
定をする際には判定基準の上限および下限が設定可能と
なる。
き項目およびその設定内容が画面下部に一覧表示され
る。このようなマン・マシンインターフェイスによれ
ば、処理項目が選択されるのに応じて必要な設定項目が
ポップアップウィンドウに表示されるので、スムーズに
処理条件ならびに処理項目の設定が可能となる反面、材
料試験に関する知識が十分でないとデータ処理項目リス
トのそれぞれの項目が何を意味しているのか、あるいは
何をもって数値算定のよりどころとするのか等が判らな
いため、これらのデータ処理条件の設定をすることが困
難であった。
豊富でなくても容易にデータ処理項目や処理条件等の設
定が可能な材料試験機を提供することを目的とする。
および図10に対応づけて本発明を説明すると、材料試
験の試験データの処理項目の設定をするための操作部材
11、12と;操作部材11、12により設定される処
理項目に関する情報を表示する表示部10とを有し;材
料試験の種類に対応した代表的な線図Cを表示部10に
図柄で表示するとともに図柄の特定の点に対応した試験
データ処理項目CE、UY、IL、BF、LY、IF、
ML、ENを特定の点近傍に文字表示し;文字表示を指
定することで試験データ処理項目を選択可能とすること
により上述した目的を達成する。
明の実施の形態について説明する。なお、本発明の実施
の形態に係る材料試験機の構成は図10に示したものと
同様であり、その図および説明は省略し、適宜図10を
参照して説明する。
材料試験機のCRT10(図10)に映し出される材料
試験処理プログラムの画面を示す。
(図10)により、システムに関するメニューが選択さ
れ、これに対応するウィンドウが開いている状態を示
す。このシステムに関するメニューでは、試験結果を表
示する際の単位系や、材料破断後の試験機の動作に関し
て設定可能となっている。そして、設定可能な項目に対
応してそれぞれ絵表示がなされており、ユーザは設定し
たい項目を表す絵表示の右に表示されている長方形の枠
内に、マウス12(図10)を用いてCRT画面上に表
示されているポインタPを移動させ、マウス12の左ボ
タン12L(図10)を押し下げればよい(以後、上記
動作を単にクリックと呼ぶ)。このようなグラフィカル
ユーザインターフェイスにより、直観的に条件の設定が
可能となっている。
れ、これに対応するウィンドウが開いている状態を示
す。この試験条件に関するメニューでは、試験モードや
バッチ処理の内容、試験速度等の試験条件などが設定可
能となっている。図2に示すウィンドウにおいても絵表
示がなされており、例えば、ウィンドウ左上の試験モー
ドの表示TMをクリックすることにより、図2では表示
されていないがポップアップメニューが表示され、引張
試験や圧縮試験、あるいは曲げ試験などの試験モードが
選択できる。なお、この図2においてはピールモードが
選択されており、このピールモードで条件を設定する意
味のない項目の表示部分には操作禁止マークIが表示さ
れる。この操作禁止マークIが表示されている項目表示
についてはクリックを受け付けないようになっているた
め、操作の不慣れなユーザが誤った設定をすることがな
い。なお、図2に示す画面で、条件名あるいは絵表示の
近傍にアルファベットのFと、それに続く数字が記され
ているものがあるが、これらのものについてはクリック
によらず、キーボード11(図10)に設けられた不図
示のファンクションキーを押すことによってもファンク
ションキー番号に対応したそれぞれの設定等を選択する
ことが可能である。
れ、これに対応したウィンドウが開いている状態を示
す。この図3に表示されているグラフは、図2で示した
試験条件設定ウィンドウでピールモードが選択されてい
るのに対し、連動して表示される。なお、図3に表示さ
れているグラフの線図Cは実際の試験結果ではなく、ピ
ールモードの試験で得られるデータの代表的な例が図柄
として表示されている。このグラフ中には、ピーク点、
全平均、凸点平均、凸凹平均、凹点平均のデータ処理項
目表示PP、AV、VA、BA、CAが、線図Cにおけ
るそれぞれのデータ処理項目の持つ意味を端的に示す点
の近傍に表示されている。ユーザは、これらのデータ処
理項目表示をクリックすることにより、データ処理項目
を選択することができる(データ処理項目の選択方法に
ついては後述)。選択されたデータ処理項目は画面右側
のデータ処理項目一覧に表示される。グラフ中で、前半
削除あるいは後半削除とあるのは、試験データの平均を
求める際の計算処理対象範囲を設定するためのもので、
試験片の変位量(mm)で設定される。また、画面下部
に表示されている平均値、標準偏差、などの表示は、複
数の試験片TP(図10)を試験して得られたピーク
点、凸点平均などの試験データの統計処理を選択するた
めのものである。このように、データ処理項目がそれぞ
れどのような意味を持つのかについてグラフィカルに表
示することで、ユーザは直観的にデータ処理項目を選択
することができる。
ーが選択された場合に開くウィンドウ表示を示してい
る。図2に示した試験条件メニューで引張試験が選択さ
れたのにともない、引張試験で得られるデータを特徴的
に示す代表的な線図Cが図柄として表示されている。そ
して、図3を参照して説明したのと同様に、グラフ中に
は上降伏点、弾性率などの表示のあるデータ処理項目表
示UY、CEなどが、線図Cにおけるそれぞれのデータ
処理項目の内容を端的に示す点の近傍に表示されてお
り、所望のデータ処理項目表示をクリックすることでデ
ータ処理項目が選択される(データ処理項目の選択方法
については後述)。選択されたデータ処理項目が画面右
側のデータ処理項目一覧に表示されるのも図3を参照し
て説明したのと同様である。
ータ処理項目表示をクリックした場合に表示されるポッ
プアップメニューPMについて説明する。図5は、図4
に示したデータ処理条件の設定画面において上降伏点の
データ処理項目表示UYをクリックし、それに応じて上
降伏点に関するデータ処理条件を決定するためのポップ
アップメニューPMが表示されている状態を示す。この
ポップアップメニューに表示された各項目名のうち、C
RT10(図10)に表示させたい項目の右側に表示さ
れた枠内にポインタPを合わせてクリックすることによ
りOFF表示がON表示に変わる。そして、表示させた
い項目を選択し終えた後に、ポップアップメニューPM
の右下部分にあるOKの表示CLをクリックすることに
よりポップアップメニューPMは閉じるとともに画面右
側のデータ処理項目一覧の表示部分に上降伏点が選択さ
れたことが表示される。
の他のデータ処理項目を示す表示をクリックした場合に
表示されるポップアップメニューについて、図6〜図8
を参照して説明する。図6〜図8は、図3あるいは図4
に示すデータ処理条件設定メニューの画面内のグラフ上
に表示されているデータ処理項目表示をクリックしたと
きに表示されるポップアップメニューを示している。そ
して図6は、ピールモードが選択されている場合のデー
タ処理条件設定画面(図3)において、データ処理項目
表示PP、AVなどがクリックされることにより画面上
に表示されるポップアップメニューを、図7〜図8は、
引張試験モードが選択されている場合のデータ処理条件
設定画面(図4)において、データ処理項目表示CE、
BFなどがクリックされることにより画面上に表示され
るポップアップメニューを示す。なお、これらのポップ
アップメニューは、実際には図5に示したように図3あ
るいは図4などのデータ処理条件設定画面に重ねて表示
されるが、図6〜図8においてはポップアップメニュー
の部分のみを示す。
メニューと、図3におけるデータ処理項目表示との対応
について説明すると、図6(a)が図3のピーク点表示
PPを、図6(b)が図3の全平均表示AVを、以下同
様に図6(c)が凸点平均表示VA、図6(d)が凸凹
平均表示BA、図6(e)が凹点平均表示CAをクリッ
クしたときに、クリックされたデータ処理項目表示の近
傍に表示されるポップアップメニューを示している。
(a)〜(d)に示すポップアップメニューと図4にお
けるデータ処理表示項目表示との対応について説明する
と、図7(a)が図4の中間点(荷重、応力指定)表示
IFを、以下同様に図7(b)が弾性率表示CEを、図
7(c)が中間点(変位、歪指定)表示ILを、図7
(d)が下降伏点表示LYを、図8(a)が耐力点表示
BFを、図8(b)が破断点表示BPを、図8(c)が
エネルギー表示ENを、図8(d)が最大点表示MLを
クリックしたときに、クリックされたデータ処理項目表
示の近傍に表示されるポップアップメニューを示してい
る。なお、これら図6〜図8に示すポップアップメニュ
ー中での操作方法は図5を参照して説明したものと同様
であり、その説明を省略する。
対応したウィンドウが開いている状態を示す。この試験
メニューでは、図1〜図8を参照して説明した、システ
ムに関するメニュー、試験条件設定メニュー、データ処
理条件設定メニュー、あるいはポップアップメニューな
どで設定された内容に基づいて試験結果を表示する。図
9に示す画面には、試験中、あるは試験終了後のデータ
がグラフ化されて逐次表示される。そのグラフの下部に
はメニューが表示され、必要に応じてそれぞれの表示を
クリックすることにより、既に補助記憶装置14(図1
0)に記録されたデータの読み込み(F5)、試験条件
の補助記憶装置14への保存(F6)、試験データの印
刷(F7)、再試験(F8)などの処理を指示すること
ができる。なお、図9の例においては、試験途中で試験
速度変更を指示するF9あるいはクロスヘッド26(図
10)のストロークの変更を指示するF10については
操作禁止マークIが表示され、クリックを受け付けない
ので誤操作することがない。なお、これら試験速度、ス
トロークの変更は、図2に示す試験条件設定画面におけ
る設定内容によっては操作可能となり、特に未知の試験
片を試験する際に、試験片の挙動を観察しながら試験速
度やストロークを変更する場合などに有効である。
ス12、あるいはキーボード11(図10)により試験
条件やデータ処理項目などを設定する例について説明し
たが、これに代えてトラックボールやタッチパネルなど
の、他のポインティングデバイスを用いるものであって
もよい。
において、マウス12あるいはキーボード11が操作部
材を、CRT10が表示部を、それぞれ構成する。
試験機によれば、材料試験の種類に対応した代表的な線
図を表示部に図柄で表示するとともにその図柄の特定の
点に対応した試験データ処理項目を図柄の特定の点近傍
に文字表示し、マウスなどの操作部材でその文字表示を
指定することにより試験データ処理項目を選択できる。
これにより、材料試験に関する深い専門知識を有しない
ユーザであっても、それぞれの試験データ処理項目がど
のような処理内容であるのかについて視覚で捕らえるこ
とができるので、容易に試験データ処理項目を設定する
ことが可能となるとともに誤った設定等を防止すること
ができる。
(システムメニュー表示状態)を示す図。
(試験条件設定メニュー表示状態)を示す図。
(データ処理条件設定メニュー表示状態)を示す図。
(データ処理条件設定メニュー表示状態)で、引張試験
モードが選択されている場合の画面を示す図。
(データ処理条件設定メニュー表示状態)で、データ処
理項目を選択中の画面を示す図。
一部(データ処理項目が選択されたときに表示されるポ
ップアップメニュー)の例を示す図。
一部(データ処理項目が選択されたときに表示されるポ
ップアップメニュー)の、別の例を示す図。
一部(データ処理項目が選択されたときに表示されるポ
ップアップメニュー)の、さらに別の例を示す図。
(試験メニュー表示状態)を示す図。
項目選択メニュー表示状態)を示す図。
Claims (1)
- 【請求項1】 材料試験の試験データの処理項目の設定
をするための操作部材と、 前記操作部材により設定される前記処理項目に関する情
報を表示する表示部とを有し、 材料試験の種類に対応した代表的な線図を前記表示部に
図柄で表示するとともに前記図柄の特定の点に対応した
試験データ処理項目を前記特定の点の近傍に文字表示
し、 前記文字表示を指定することにより前記試験データ処理
項目が選択可能なことを特徴とする材料試験機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11482997A JP3239797B2 (ja) | 1997-05-02 | 1997-05-02 | 材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11482997A JP3239797B2 (ja) | 1997-05-02 | 1997-05-02 | 材料試験機 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10307089A true JPH10307089A (ja) | 1998-11-17 |
JP3239797B2 JP3239797B2 (ja) | 2001-12-17 |
Family
ID=14647742
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11482997A Expired - Fee Related JP3239797B2 (ja) | 1997-05-02 | 1997-05-02 | 材料試験機 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3239797B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003068847A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-07 | Hitachi Chem Co Ltd | 接着力測定方法、積層膜及び半導体素子 |
JP2004110485A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-08 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 株価情報表示装置 |
JP2007064886A (ja) * | 2005-09-01 | 2007-03-15 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
JP2007155521A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
WO2007141855A1 (ja) * | 2006-06-07 | 2007-12-13 | Shimadzu Corporation | 試験機および試験方法 |
JP2008267860A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
-
1997
- 1997-05-02 JP JP11482997A patent/JP3239797B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP4710578B2 (ja) * | 2005-12-06 | 2011-06-29 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
WO2007141855A1 (ja) * | 2006-06-07 | 2007-12-13 | Shimadzu Corporation | 試験機および試験方法 |
JPWO2007141855A1 (ja) * | 2006-06-07 | 2009-10-15 | 株式会社島津製作所 | 試験機および試験方法 |
JP2008267860A (ja) * | 2007-04-17 | 2008-11-06 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3239797B2 (ja) | 2001-12-17 |
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