JPH10221391A - 円筒面放射界測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 不要波除去手段を利用することにより、測定
設備を一時的に被測定機器の周辺に配置し、被測定機器
から放射される妨害波などの放射電界分布を改修可能な
場所で測定できる円筒面放射界測定装置を得る。 【解決手段】 放射電界及び放射電力を受信するプロー
ブ２と、当該プローブ２が半径の異なる円筒面状放射電
界を受信できるように前記プローブ２を支持した支持手
段１０、１１、１２、１４と、前記プローブが受信した
複数の異なる半径の円筒面状受信電界及び円筒面状受信
電力に基づき、不要波を除去する不要波除去手段１３、
波源推定演算装置４２、からなる。不要波除去手段１３
により不要波を除去できるので、周囲電波の少ない場所
に限定されず、例えば被測定機器を改修可能な場所等任
意の場所で被測定機器からの円筒面放射電界分布を測定
することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、例えば電気・電
子機器から放射される妨害波などの放射電界分布を測定
するＥＭＣ(Electromagnetic Compatibility)用の円筒
面放射界測定装置に関するものであり、特に供試機器を
改修でき得る場所で検査できる円筒面放射界測定装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１９は、「電磁波の吸収と遮蔽」、日
経技術図書株式会社、p．４４２、１９８９年１月１０
日、に示された第１の従来例である円筒面放射界測定装
置である。この図において、１は被測定機器、２は測定
用アンテナであるプローブ、３は妨害波測定器、４は金
属大地面、５は被測定機器１から放射されプローブ２に
直接到達する妨害波からなる直接波、６は被測定機器１
から放射され金属大地面４で反射してプローブ２に到達
する妨害波からなる大地反射波であり、７は被測定機器
１を載せて回転させる回転台、８はプローブ昇降設備で
ある。測定場はオープンサイトといわれ屋外である。

【０００３】妨害波の測定方法について説明する。測定
は、被測定機器１から放射される放射妨害波を、直接波
５と大地反射波６とが合成された電界分布として測定す
る。このとき、プローブ昇降設備８によりプローブ２を
上下させ、又被測定機器１を載せた回転台７を回転させ
ることにより、被測定機器１の周りの円筒面状の妨害波
が測定できる。測定時には被測定機器１以外から到達す
る周囲ノイズを十分抑えるため、大都市近郊を避け、高
速道路や高圧送電線から離れた場所で、又地形の上か
ら、放送などの電波が到来しにくい場所を選んで測定さ
れる。

【０００４】図２０は円筒面放射界測定装置の第２の従
来例である。この図は、「電磁波の吸収と遮蔽」、日経
技術図書株式会社、p．４５７、１９８９年１月１０
日、に示されたものである。この図において、１、２、
４、７、８は図１９に示した第１の従来装置の同一又は
相当部であり、説明を省略する。９は室内の電波を吸収
する電波吸収体である。電波暗室内と外部とを電波的に
遮断して外部からの周囲ノイズを十分抑えるため、天
井、床、壁面などの全ての面が金網あるいは金属板から
構成したシールド設備によりシールドされている。

【０００５】妨害波の測定方法について説明する。測定
方法は前記第１の従来例と同様である。しかし、本従来
例の電波暗室においては、電波吸収体９が壁面および天
井の全ての面に設けられ反射波を吸収し、かつシールド
設備は外部からの周囲ノイズを遮断するので、第１の従
来例と異なり、大都市近郊、高速道路、高圧送電線、放
送などによる電波とは無関係に設備を設けることが可能
である。また、電波暗室は屋内設備であるため、第１の
従来装置のように天候で運用が左右されることがない。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】第１の従来の円筒面放
射界測定装置は以上のように構成されているので、周囲
ノイズの到来しにくい場所に設けられた屋外測定場に被
測定機器を運搬しなければならなかった。このため、測
定結果が許容値以上の場合には、被測定機器を工場まで
運搬して改修し、再度、屋外測定場に運搬して測定する
必要があった。つまり測定結果を簡単にかつ瞬時に改修
へとフィードバックできないという問題点があった。特
に、被測定機器が大型の場合には、運搬作業が大規模と
なる問題点があった。

【０００７】第２の従来の円筒面放射界測定装置は以上
のように構成されているので、電波暗室まで被測定機器
を運搬しなければならず、測定結果が許容値以上の場合
には、被測定機器を工場まで運搬して改修し、再度、電
波暗室まで運搬して測定する必要があった。このため、
測定結果を簡単にかつ瞬時に改修へとフィードバックで
きないという問題点があった。特に、被測定機器が大型
の場合には、運搬作業が大規模となると同時に、電波暗
室のテストゾーンの大きさよりも大型の被測定機器は測
定できないという問題点があった。

【０００８】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、測定設備を一時的に被測定機器
の周辺に配置し、被測定機器から放射される妨害波など
の放射電界分布を改修可能な場所で測定できる円筒面放
射界測定装置を得ることを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】この発明に係る円筒面放
射界測定装置は、被測定物から放射される放射電界を測
定する円筒面放射界測定装置であって、放射電界を受信
するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面状
放射電界を受信できるように前記プローブを支持した支
持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の
円筒面状受信電界に基づき、前記プローブが受信した円
筒面状の受信電界から不要波を除去する不要波除去手段
とを備えたものである。

【００１０】また、他の発明に係る円筒面放射界測定装
置は、被測定物から放射される放射電界を測定する円筒
面放射界測定装置であって、放射電界を受信するプロー
ブと、当該プローブが半径の異なる円筒面上を移動でき
るように前記プローブを支持した支持手段と、前記プロ
ーブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受信電界に
基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受信電界か
ら不要波を除去する不要波除去手段とを備えたものであ
る。

【００１１】また、前記円筒面放射界測定装置は、特定
半径の円筒面状電界を異なる半径の円筒面状電界に変換
する変換手段を備えたことを特徴とするものである。

【００１２】また、前記円筒面放射界測定装置は、特定
半径の円周状電界を異なる半径の円周状電界に変換する
変換手段を備えたことを特徴とするものである。

【００１３】また、前記円筒面放射界測定装置は、前記
特定円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電
界を、異なる半径の線状電界に変換する変換手段を備え
たことを特徴とするものである。

【００１４】また、前記円筒面放射界測定装置は、前記
被測定物が設置された地面により放射電界が反射されな
い場合の電界を前記地面で完全反射された場合の電界に
変換する変換手段を備えたことを特徴とするものであ
る。

【００１５】また、前記支持手段は、さらに、放射電界
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、前記不
要波除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴
とするものである。

【００１６】また、前記支持手段は、前記プローブが前
記円筒面の中心軸方向に移動できるように前記プローブ
を支持する第１の構成部と、当該第１の構成部が前記中
心軸方向とほぼ垂直方向に移動できるように前記第１の
構成部を支持する第２の構成部と、当該第２の構成部が
前記中心軸を中心に回転できるように前記第２の構成部
を支持する第３の構成部を備えたことを特徴とするもの
である。

【００１７】また、前記プローブは、前記円筒面の中心
軸とほぼ垂直方向に長さの異なる複数のプローブを備え
たことを特徴とするものである。

【００１８】また、前記不要波除去手段は、当該プロー
ブが受信した複数の異なる半径の異なる円筒面状放射電
界測定距離の範囲でフーリエ変換することで直接波以外
の残留反射波成分を除去する演算部からなることを特徴
とするものである。

【００１９】また、さらに他の発明に係る円筒面放射電
磁波測定装置は、被測定物から放射される放射電力を測
定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を受信
するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面状
放射電力を受信できるように前記プローブを支持した支
持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の
円筒面状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界
を推測する変換手段と、この円筒面状電界から不要波を
除去する不要波除去手段とを備えたものである。

【００２０】また、さらに他の発明に係る円筒面放射電
磁波測定装置は、被測定物から放射される放射電力を測
定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を受信
するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面上
を移動できるように前記プローブを支持した支持手段
と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面
状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測
する変換手段と、この円筒面状電界から不要波を除去す
る不要波除去手段とを備えたものである。

【００２１】また、前記円筒面放射界測定装置は、特定
半径の円筒面状電力から異なる半径の円筒面状電界を推
測する演算手段を備えたことを特徴とするものである。

【００２２】また、前記円筒面放射界測定装置は、特定
半径の円周状電力から異なる半径の円周状電界を推測す
る演算手段を備えたことを特徴とするものである。

【００２３】また、前記円筒面放射界測定装置は、前記
特定円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電
力から異なる半径の円周状電界を推測する演算手段を備
えたことを特徴とするものである。

【００２４】また、前記支持手段は、さらに、放射電界
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、前記不
要波除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴
とするものである。

【００２５】さらに、被測定機器を囲む円筒面上・円周
または当該円筒面の中心軸と平行な線状で測定した電界
または電力から被測定機器周辺円筒面上・円周または当
該円筒面の中心軸と平行な線状の電界を計算する演算部
と、当該演算結果から前記被測定物が設置された地面に
より放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完
全反射された場合の電界に変換する変換手段と、前記被
測定機器周辺円筒面上・円周または当該円筒面の中心軸
と平行な線状の電界と、前記被測定物が設置された地面
で完全反射された場合の電界を用いて、任意距離におけ
る合成電界を計算する演算部とを有することを特徴とす
るものである。

【００２６】

【発明の実施の形態】

実施の形態１．図１はこの発明の一実施の形態である円
筒面放射界測定装置の構成図を示したものである。図１
において、１は被測定機器、２は測定用アンテナである
プローブ、３は妨害波測定器、１０はプローブ２を取り
付けて垂直方向に駆動する垂直方向駆動機構、１１はプ
ローブ２と垂直方向駆動機構１０とを保持し一体として
円筒の極軸を中心に回転させる周方向回転機構、１２は
垂直方向駆動機構１０を円筒の半径方向に伸縮させる半
径方向伸縮機構、１３は周囲反射や外来電波などの不要
波を除去する不要波除去演算装置、１４はプローブ２、
垂直方向駆動機構１０、周方向回転機構１１、半径方向
伸縮機構１２を保持する支持体である。

【００２７】ここで、垂直方向駆動機構１０、周方向回
転機構１１、半径方向伸縮機構１２、支持体１４等によ
り支持手段を構成し、特に垂直方向駆動機構１０等によ
り第１の構成部を構成し、半径方向伸縮機構１２等によ
り第２の構成部を構成し、周方向回転機構１１、支持体
１４等により第３の構成部を構成する。

【００２８】動作を説明する。プローブ２は、垂直方向
駆動機構１０、周方向回転機構１１、半径方向伸縮機構
１２により円筒面に沿って走査され、被測定機器１から
放射される放射電界分布が受信される。これにより、異
なる半径の円筒面上の電界分布が複数回測定される。受
信電界は、被測定機器１から放射される放射電界と周囲
ノイズの両方が含まれるが、不要波除去演算装置１３は
周囲反射や外来電波などの不要波を除去する不要波除去
演算装置であり、プローブ２によって測定される異なる
半径位置での受信電界を半径に関わる級数で展開し、半
径に関わる最低次項から被測定器１から放射される本来
の放射電界を得るものである。

【００２９】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、又周囲ノ
イズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を抑え
るための電波吸収体９が不要であり、測定設備を一時的
に被測定機器１の周辺に配置して、被測定機器１から放
射される妨害波などの放射電界分布を、被測定機器１が
改修可能な場所で測定することができる。

【００３０】尚、上記実施の形態では、プローブ２を機
構的に移動させることにより円筒面状の電界を得ている
が、アレーアンテナ等を使用して円筒面状の電界を得る
ことも可能である。又、プローブ２は、複数でも単数で
もよい。又、プローブ２を機構的に移動させる方法とし
ては、例えば、円筒状の支持体によりプローブ２を支持
し、当該支持体の半径が変化するようなものでもよい。

【００３１】又、実施の形態においては円筒面の半径方
向に伸縮し、垂直方向に駆動させてプローブ２を移動さ
せているが、例えばこれら伸縮又は駆動の一方のみを使
用してもよいし、伸縮や駆動方法は自動、手動どちらに
よっても可能である。又、支持体１４は移動用の車輪が
付いた形態、あるいは車載形式であってもよい。以上の
点は、以下の実施の形態において同様である。

【００３２】実施の形態２．図２はこの発明の一実施の
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、１、２、３、１０、１１、１２、
１３、１４は図１で示した構成と同一又は相当部を示
し、説明を省略する。図２において、１６はプローブ２
によって円筒走査面で受信された円筒面上２次元電界分
布を円筒波展開により異なる半径位置に変換する２次元
フィールド変換装置である。

【００３３】動作を説明する。基本的動作は実施の形態
１と同様である。図３は被測定電界の２次元分布の位置
を示す概略図である。図３において、１５はプローブ２
が走査される円筒走査面であり、１５ａ、１５ｂ、１５
ｃは半径方向伸縮機構１２によってプローブ２が移動し
た半径の円筒面に対応する。１７は２次元フィールド変
換装置１６によって得られる円筒面上２次元電界分布、
あるいは２次元放射パターンの位置を示す円筒面であ
る。例えば、１５ａ、１５ｂ、１５ｃの測定２次元電界
分布を円筒波展開して、円筒波スぺクトラムを求める。
円筒波スぺクトラムが既知であれば、任意の位置での電
界分布が求まり、異なる半径位置での円筒面１７におけ
る電界分布が計算される。その後、不要波除去演算装置
１３によって周囲反射や外来電波などの不要波が除去さ
れた放射電界分布が得られる。

【００３４】任意の位置での電界分布を求めるには、以
下の式に従う。円筒波展開された電磁界Ｅ、Ｈは次式で
与えられる。

【００３５】

【数１】

【００３６】ただし、ｚは円筒の中心軸座標、ρは円筒
の半径方向座標、φはｚを中心軸とした回転座標であ
る。又、Ａ、ＢはＴＥ波、ＴＭ波の円筒波スペクトラ
ム、ａにより示されるのは各座標方向の単位ベクトル、
ｎは整数でφ方向のモードの次数、ｈはｚ方向の波数成
分、ｋは自由空間波数である。ｕは以下の式で与えら
れ、

【００３７】

【数２】

【００３８】Ｈ⁽²⁾は第２種Ｈａｎｋｅｌ関数、Ｈ⁽²⁾'
は第２種Ｈａｎｋｅｌ関数の微分、Ｍ、Ｎは円筒波ベク
トル波動関数である。円筒波スペクトラムＡ（ｒ）、Ｂ
（ｒ）は以下の式で与えられる。

【００３９】

【数３】

【００４０】従って、数１、数３より、特定半径での円
筒面電界分布から任意半径での円筒面電界分布を計算す
ることができる。尚、特定半径におけるｔｒａｎｓｖｅ
ｒｓｅ電界ベクトルは、

【００４１】

【数４】

【００４２】で表わされ、Ｅφ、Ｅｚが測定値に該当す
る。又、実際の測定においては、プローブ２によって測
定されるのは離散的かつ有限の領域のみであるため、数
１、数３のフーリエ変換は、離散フーリエ変換対として
近似する。この点は、以下の実施の形態において同様で
ある。以上のようにこの実施の形態によれば、実施の形
態１の効果に加え、測定していない所定の半径での円筒
面放射電界分布を得ることができ、測定の手間を省くこ
とが可能であり、又測定装置によって測定できない半径
の円筒面状放射電界分布を得ることができる。

【００４３】実施の形態３．図４はこの発明の一実施の
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、１、２、３、１０、１１、１２、
１３、１４は図１で示した構成と同一又は相当部を示
し、説明を省略する。図４において、１９はプローブ２
によって水平面内で受信された水平方向１次元電界分布
を円筒波展開により異なる半径位置に変換する水平方向
１次元フィールド変換装置である。変換方法は、次のよ
うに与えられる。今、実施の形態２における電界成分Ｅ
φ、Ｅｚがφとｚに変数分離できる場合を考える。この
とき、

【００４４】

【数５】

【００４５】となり、ｚが一定の水平面１次元パターン
では、ｚの関数が定数となり、次のようになる。

【００４６】

【数６】

【００４７】これにより、数式１、数式３のフーリエ変
換対は、φに関するフーリエ変換対で、１次元で表わさ
れる。この関係式より、水平面１次元のフィールド変換
が計算される。

【００４８】動作を説明する。基本的動作は実施の形態
１と同様である。図５は、被測定電界の水平方向１次元
分布の位置を示す概略図である。１８はプローブ２が走
査される水平面内走査軌跡であり、１８ａ、１８ｂ、１
８ｃは半径方向伸縮機構１２によってプローブ２が移動
した半径の円周に対応する。２０は水平方向１次元フィ
ールド変換装置１９によって得られる水平方向１次元電
界分布、あるいは水平面内放射パターンの位置を示す水
平面内１次元カット面である。例えば、円周１８ａ、１
８ｂ、１８ｃの測定データから水平面内１次元カット面
２０の位置における分布を求めた後、不要波除去演算装
置１３によって周囲反射や外来電波などの不要波が除去
された１次元放射電界分布が得られる。

【００４９】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、又周囲ノ
イズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を抑え
るための電波吸収体９が不要であり、測定設備を一時的
に被測定機器１の周辺に配置して、被測定機器１から放
射される妨害波などの水平方向放射近傍電界分布を改修
可能な場所で測定できる。又測定していない所定の距離
での１次元水平方向放射電界分布を得ることができ、測
定の手間を省くことが可能であり、又測定装置によって
測定できない半径の円筒面状放射電界分布を得ることが
できる。

【００５０】実施の形態４．図６はこの発明の一実施の
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、１、２、３、１０、１１、１２、
１３、１４は図１で示した構成と同一又は相当部を示
し、説明を省略する。図６において、２２は垂直方向１
次元電界分布を円筒波展開により異なる半径位置に変換
する垂直方向１次元フィールド変換装置である。垂直方
向１次元フィールド変換は次のように計算される。実施
の形態３と同様に、電界成分Ｅφ、Ｅｚがφとｚがに変
数が分離できる場合、数５からφが一定の垂直方向１次
元パターンにおいては、φの関数が定数となり、

【００５１】

【数７】

【００５２】となる。これにより、フーリエ変換対はｚ
に関する１次元のフーリエ変換対となり、垂直方向１次
元フィールド変換の計算ができる。

【００５３】動作を説明する。基本的動作は実施の形態
１と同様である。図７は、被測定電界の垂直方向１次元
分布の位置を示す概略図である。２１はプローブ２が走
査される垂直面内走査軌跡であり、２１ａ、２１ｂ、２
１ｃは半径方向伸縮機構１２によってプローブ２が移動
した異なる半径の垂直線に対応する。２３は垂直方向１
次元フィールド変換装置２２によって得られる垂直方向
１次元電界分布、あるいは垂直面内放射パターンの位置
を示す垂直面内１次元カット面である。例えば直線２１
ａ、２１ｂ、２１ｃの測定データから、垂直面内１次元
カット面２３の位置における電界分布を求めた後、不要
波除去演算装置１３によって周囲反射や外来電波などの
不要波が除去た放射電界が得られる。

【００５４】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、又周囲ノ
イズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を抑え
るための電波吸収体９が不要であり、測定設備を一時的
に被測定機器１の周辺に配置して、被測定機器１から放
射される妨害波などの垂直方向放射近傍電界分布を被測
定機器１が改修可能な場所で測定でる。又、測定してい
ない所定の距離での垂直方向放射電界分布を得ることが
でき、測定の手間を省くことが可能であり、又測定装置
によって測定できない半径の円筒面状放射電界分布を得
ることができる。

【００５５】実施の形態５．図８はこの発明の一実施の
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、１、３、１０、１１、１２、１
３、１４は図１で示した構成と同一又は相当部を示し、
説明を省略する。図８において、２４は軸長の異なる複
数の導波管開口アンテナあるいはホーンアンテナから構
成したマルチプローブであり、異なる距離での電界分布
が複数のアンテナにより一度の走査により測定できる。
２５はその一度の走査により測定した場合のマルチ円筒
走査面である。図９はマルチプローブ２４の拡大図であ
る。

【００５６】動作を説明する。基本的動作は実施の形態
１と同様である。実施の形態１との相違点は、マルチプ
ローブ２４により異なる距離での電界分布が複数のアン
テナにより一度の走査により測定できる点である。以上
のようにこの実施の形態によれば、実施の形態１の効果
に加え、不要波除去に必要な測定に要する時間を短縮す
ることができる。

【００５７】実施の形態６．図１０はこの発明の一実施
の形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したも
のである。図において、１、２、３、１０、１１、１
２、１３、１４は図１で示した構成と同一又は相当部を
示し、説明を省略する。図１０において、２６は半径方
向伸縮機構１２に設けた水平面内走査用プローブであ
り、プローブ２とは独立なプローブである。２７は水平
面内走査用プローブ２６を半径方向に走査させる半径方
向走査機構、２８は垂直方向伸縮機構である。水平面内
走査用プローブ２６の走査面位置を、円周方向回転機構
１１、半径方向走査機構２７により円面内で変化させ、
垂直方向伸縮機構２８により水平面内走査用プローブ２
６の走査面位置を垂直方向に変化させる。

【００５８】動作を説明する。円筒面放射電界の測定に
ついては、実施の形態１と同様であり説明を省略する。
水平面内の測定において、異なる垂直位置での水平面電
界分布が水平面内走査用プローブ２６により測定され
る。異なる垂直位置での測定された水平面内電界分布
は、不要波除去演算装置１３によって本来の放射電界分
布が得られ、周囲反射や外来電波などの不要波が除去さ
れる。以上のようにこの実施の形態によれば、実施の形
態１の効果に加え、水平面内電界分布をも同時に測定す
ることが可能となる。

【００５９】実施の形態７．図１１はこの発明の一実施
の形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したも
のである。図において、１、２、３、１０、１１、１
２、１３、１４、１６は図１又は図２で示した構成と同
一又は相当部を示し、説明を省略する。２９は、２次元
フィールド変換装置１６により得られた円筒面上２次元
電界分布、２次元放射パターンの床面より上方の値と下
方の値とを重畳して合成する電界分布合成装置である。

【００６０】図１２の実施の形態７の説明図により動作
を詳しく説明する。プローブ２で走査して放射電界を受
信し、不要波除去手段１３によって被測定物１からの直
接波のみに変換された円筒面上電界分布データ３０ａを
得る。続いて、床面をｚ＝０としてｚ＜０の領域に与え
た電界が零の零データ３０ｂを想定する。次に、円筒面
上電界分布データ３０ａと零データ３０ｂを２次元フィ
ールド変換装置１６により、フィールド変換後データ３
２ａと３２ｂを得る。この変換は、実施の形態２におい
て説明したように、フーリエ変換によりなされる。つま
り、フィールド変換後データ３２ａと３２ｂは零データ
３０ｂをも考慮した変換がなされたものであり、特に３
２ｂは円筒面上電界分布データ３０ａにうち、仮想的な
床面３１を透過した放射電界に相当する。最後に、電界
分布合成装置２９により、フィールド変換後データ３２
ａに対してフィールド変換後データ３２ｂを重畳して、
床面からの反射を考慮した分布３４を得ることができ
る。

【００６１】以上の動作により、床面からの反射を考慮
した分布３４は、円筒面３０ａを通過した放射電界が、
大地で完全反射した場合の電界分布として得ることがで
きる。つまり、フィールド変換後データ３２ｂが大地で
完全反射された電界分布に相当する。尚、３０は円筒面
上電界分布データ３０ａと零データ３０ｂの電界分布を
重畳したフィールド変換前データ、３１は実際には床が
存在するところであるが計算上、零データ３０ｂによっ
て取り除いた仮想的な床面、３３は実際に存在する床面
である。

【００６２】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を
抑えるための図２０に示した電波吸収体９が不要であ
り、測定設備を一時的に被測定機器１の周辺に配置し
て、被測定機器１から放射される妨害波などの放射電界
分布の直接波と大地反射波との合成電界が改修可能な場
所で測定できる。尚、電界分布合成装置２９が垂直方向
１次元フィールド変換装置２２により得られた垂直方向
１次元電界分布、水平面内放射パターンの床面より上方
の値と下方の値とを重畳して合成するものでも同様の効
果がある。

【００６３】実施の形態８．図１３は、この発明の一実
施の形態である不要電磁波除去装置の計算に係る説明図
で、不要波除去演算装置１３による演算手法について説
明するものである。被測定機器ＥＵＴから角度θ_to（一
定値）方向に送信された電界を被測定機器から測定距離
ｒ₀ 離れた点におかれた受信プローブ２で受信するとと
もに、受信プローブを回転させることで、角度θ_r0に対
する受信アンテナの遠方界放射パターンを測定するもの
である。図において、Ｅ_t は被測定機器の電界放射パタ
ーン、Ｅ_r は受信プローブの電界放射パターン、θ_r0は
直接波（被測定機器から受信プローブへの直接波）、θ
_tiは直接波の受信プローブへの入射角度、α_i は反射波
#1に対する壁面の反射係数、θ_tiは被測定機器からの反
射波の受信プローブへの入射角度、ｒ_i は反射波の伝搬
距離である。

【００６４】一般的に、Ｎ波の反射波（あるいは散乱
波）が存在する場合、受信プローブの受信電界Ｅ
［θ_r0，ｒ₀］は、次式により表される。

【００６５】

【数８】

【００６６】但し、ｋ₀は、測定周波数ｆ₀での波数２π
／λ₀（λ₀はｆ₀ での自由空間波長）である。被測定機
器と受信プローブの測定距離ｒ₀ が変化しても、直接波
の放射角度θ_t0、直接波の入射角度θ_r0は一定である。
しかし、反射波#1の放射角度θ_ti、入射角度θ_ri、反射
係数α_i、反射波の伝搬距離ｒ_iは測定距離ｒ₀ に応じて
変化するので、測定距離ｒ₀ の関数である。ここで、数
８に波動関数ｅｘｐ（−ｊｋ₀ｒ₀／ｒ₀）の逆数を掛け
た関数Ｆ［θ_r0,ｒ₀］は次式となる。

【００６７】

【数９】

【００６８】関数Ｆ［θ_r0,ｒ₀］は、直流項である直接
波の成分Ｅ_t［θ_t0］・Ｅ_r［θ_r0］に距離差Δｉ＝ｒ_i
−ｒ₀により位相が変化する反射波の成分が重畳した関
数形を示している。従って、関数Ｆ［θ_r0,ｒ₀］をフー
リエ変換すれば、直接波成分と反射波成分を分離でき
る。

【００６９】関数Ｆ［θ_r0,ｆ_r］に関数ｅｘｐ（ｊｋ_r
ｒ₀）をかけて測定距離ｒ₀ に関してフーリエ変換型の
積分を実行した関数Ｇ［θ_r0,ｆ_r］を以下に示す。な
お、測定距離ｒ₀の範囲は、Ｒ₁≦ｒ₀≦Ｒ₂とし、積分範
囲は測定距離の範囲とする。

【００７０】

【数１０】

【００７１】但し、ｆ_rは測定距離ｒ₀に対する反射波成
分の変動を示す周波数、ｋ_rも反射波成分の変動も示す
波数である。また、ｃは光速を示している。

【００７２】ここで、測定距離の差Ｒ₂−Ｒ₁が十分に大
きく、かつ、直接波成分のフーリエスペクトルと反射波
成分のフーリエスペクトルが周波数ｆ_r 軸上で十分に離
れているならば、数１０で周波数ｆ_r＝０すなわちｋ_r＝
０とすることにより、

【００７３】

【数１１】

【００７４】が得られる。被測定機器からの電界放射パ
ターンＥ_t［θ_t0］ は一定値なので、受信プローブの各
角度θ_r0に対するｆ_r ＝０での関数Ｇ［θ_r0,０］の値
は直接波に対する受信プローブの電界放射パターンを示
す。

【００７５】従って、上記実施の形態８によれば、異な
る距離で測定することで、任意の設置場所におかれた被
供試機器から放射する電界の任意距離における直接波成
分が計算可能になる。

【００７６】実施の形態９．図１４はこの発明の一実施
の形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したも
のである。図において、１、２、３、１０、１１、１
２、１４は図１ないし１３で示した構成と同一又は相当
部を示し、説明を省略する。４２は測定した受信電力か
ら非線形の計画法を用いて電界を推測する波源推定演算
装置である。

【００７７】動作を説明する。プローブ２は、垂直方向
駆動機構１０、周方向回転機構１１、半径方向伸縮機構
１２により円筒面に沿って走査され、被測定機器１から
放射される放射電力分布が受信される。これにより、異
なる半径の円筒面上の電力分布が複数回測定される。波
源推定演算装置４２は、受信電力から非線形の計画法を
用いて電界を推測する波源推定演算装置であり、不要波
除去演算装置１３は異なる半径から求めた電界分布を平
均化することにより、被測定機器本来の電界分布を得る
ものである。

【００７８】以下、波源推定演算装置について詳細を述
べる。非線形の計画法（最急降下法）に基づき、評価関
数を与え、その勾配を計算する。求める電界分布の素子
数をＮ_i、評価点数をＭ、素子ｉのｍ方向の素子振幅を
Ｅ_im、素子ｉのｍ方向の素子位相をΦ_im、素子ｉの励振
振幅をα_i、素子ｉの励振位相をｐ_i、ｍ方向の所望電力
（測定値）をＰ_0mとすると、評価関数Ｆは、次式とな
る。

【００７９】

【数１２】

【００８０】この評価関数Ｆを最小にする（収束する）
まで、非線形の計画法（最急降下法）を用いて、計算を
繰り返す。Ｆの値が収束したときのα_i、ｐ_iが測定パタ
ーンを形成する際の励振振幅・励振位相として求まる。
さらに、最急降下法について説明する。評価関数Ｆ
（ｘ）；（ｘ₁，ｘ₂，・・・，ｘ_N）をｘに関して最小
になるようなｘ＊を見つける。ｘ＊は、最急降下法で求
められる。

【００８１】まず、１番目（初期）にｘをｘ₁とし、Ｆ
（ｘ₁）をｘ₁について微分し、その微分係数をＳ₁＝
（Ｓ¹ ₁，Ｓ¹ ₂，・・・，Ｓ¹ _N）とする。ｘ₂＝ｘ₁＋αＳ
₁とし、Ｆ（ｘ₂）が最小であるかを判別する。αは２次
形内挿法で求めている。同様に、Ｆ（ｘ₂）をｘ₂につい
て微分し、その微分係数をＳ₂＝（Ｓ² ₁，Ｓ² ₂，・・
・，Ｓ² _N）とおき、ｘ₃＝ｘ₂＋αＳ₂とし、Ｆ（ｘ₃）が
最小であるかを判別する。以下、この作業をＦ（ｘ_i）
が最小になるまで繰り返し計算を行う。

【００８２】以上のようにこの実施の形態によれば、電
力のみを測ることにより、測定データの数を低減でき、
また電界分布の周囲ノイズの少ない場所で測定する必要
がなく、又周囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内で
の周囲反射を抑えるための電波吸収体９が不要であり、
測定設備を一時的に被測定機器１の周辺に配置して、被
測定機器１から放射される妨害波などの放射電界分布
を、被測定機器１が改修可能な場所で測定することがで
きる。

【００８３】尚、上記実施の形態では、プローブ２を機
構的に移動させることにより円筒面状の電力を得ている
が、アレーアンテナ等を使用して円筒面状の電力を得る
ことも可能である。又、プローブ２は、複数でも単数で
もよい。又、プローブ２を機構的に移動させる方法とし
ては、例えば、円筒状の支持体によりプローブ２を支持
し、当該支持体の半径が変化するようなものでもよい。

【００８４】又、実施の形態においては円筒面の半径方
向に伸縮し、垂直方向に駆動させてプローブ２を移動さ
せているが、例えばこれら伸縮又は駆動の一方のみを使
用してもよいし、伸縮や駆動方法は自動、手動どちらに
よっても可能である。又、支持体１４は移動用の車輪が
付いた形態、あるいは車載形式であってもよい。以上の
点は、以下の実施の形態において同様である。

【００８５】また、異なる半径の円筒面上の電力分布か
ら非線形の計画を波源推定演算装置により求めた電界分
布は全て同じ位置における電界分布であるが、異なる不
要反射波を有している。不要波除去演算装置１３により
不要反射波を除去するが、このとき、測定距離の間隔＝
０、すなわち、平均化することにより、被測定機器本来
の電界分布を得るものである。

【００８６】以上のように、この実施の形態によれば、
異なる半径の円筒面上の電力分布から波源推定演算装置
を介して求めた電界分布を平均化することにより、被測
定物の電界分布を求めることができる。

【００８７】また、測定点の数と電界分布の点数は、同
じである必要はなく、少ない即定点数から、多点の電界
分布を推測することも、多くの測定点から少数の電界分
布を推測することも可能である。

【００８８】また、測定点は、2次元の円筒面であって
も、１次元の円周や線であっても、演算可能である。

【００８９】実施の形態１０．図１５は、この発明の一
実施の形態である円筒面放射界測定装置の説明図であ
る。図において、１、２、３、１０、１１、１２、１
３、１６、１７、２９、１４は図１ないし１３で示した
構成と同一又は相当部を示し、説明を省略する。

【００９０】動作を説明する。図１６は、動作説明のた
めのフローチャートである。プローブ２は、垂直方向駆
動機構１０、周方向回転機構１１、半径方向伸縮機構１
２により円筒面に沿って走査され、被測定機器１から放
射される放射電界を受信する。これにより、異なる半径
の円筒面上の電界分布が複数回測定される。受信電界
は、被測定機器１から放射される放射電界と周囲ノイズ
の両方が含まれるが、不要波除去演算装置１３により、
周囲反射や外来電波などの不要波を除去される。さら
に、２次元フィールド変換装置１６、水平方向1次元フ
ィールド変換装置１９または垂直方向１次元フィールド
変換装置２２を経て、被測定機器の電界分布を計算し、
任意測定距離におけるこの電界分布からの直接波による
電界分布と、床面からの完全反射波の電界分布の合成電
界を計算する電界分布合成装置２９を用いることによ
り、放射ＥＭＩ測定を考慮した値の計算が可能となる。

【００９１】実施の形態１１．図１７は、この発明の一
実施の形態である円筒面放射界測定装置の説明図であ
る。図において、１、２、３、１０、１１、１２、１
３、１６、１７、２９、１４は図１ないし１３で示した
構成と同一又は相当部を示し、説明を省略する。

【００９２】動作を説明する。図１８は、動作説明のた
めのフローチャートである。プローブ２は、垂直方向駆
動機構１０、周方向回転機構１１、半径方向伸縮機構１
２により円筒面に沿って走査され、被測定機器１から放
射される放射電力を受信する。受信した電力分布から波
源推定演算装置４２を用いて、被測定機器の電界分布を
計算する。こうすることで、異なる半径からもとめた被
測定機器の電界分布が複数計算される。この電界分布
は、被測定機器１から放射される放射電界の電界分布と
周囲ノイズの仮想的な波源となる電界分布の両方が含ま
れるが、不要波除去演算装置１３により、周囲反射や外
来電波などの電界分布を除去される。任意測定距離にお
けるこの電界分布からの直接波による電界分布と、床面
からの完全反射波の電界分布の合成電界を計算する電界
分布合成装置２９を用いることにより、放射ＥＭＩ測定
を考慮した値の計算が可能となる。

【００９３】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を
抑えるための図２０に示した電波吸収体９が不要であ
り、測定設備を一時的に被測定機器１の周辺に配置し
て、被測定機器１から放射される妨害波などの放射電界
分布の直接波と大地反射波との合成電界が改修可能な場
所で測定できる。尚、電界分布合成装置２９が垂直方向
１次元フィールド変換装置２２により得られた垂直方向
１次元電界分布、水平面内放射パターンの床面より上方
の値と下方の値とを重畳して合成するものでも同様の効
果がある。

【００９４】

【発明の効果】以上のように、この発明に係る円筒面放
射界測定装置によれば、被測定物から放射される放射電
界を測定する円筒面放射界測定装置であって、放射電界
を受信するプローブと、当該プローブが半径の異なる円
筒面状放射電界を受信できるように前記プローブを支持
した支持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる
半径の円筒面状受信電界に基づき、前記プローブが受信
した円筒面状の受信電界から不要波を除去する不要波除
去手段を備えたので、周囲ノイズの少ない場所で測定す
る必要がなく、周囲ノイズを遮断するシールド設備や屋
内での周囲反射を抑えるための電波吸収体等が不要とな
る。

【００９５】また、他の発明に係る円筒面放射界測定装
置によれば、被測定物から放射される放射電界を測定す
る円筒面放射界測定装置であって、放射電界を受信する
プローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面上を移
動できるように前記プローブを支持した支持手段と、前
記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受信
電界に基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受信
電界から不要波を除去する不要波除去手段を備えること
で、周囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、周
囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を
抑えるための電波吸収体等が不要となる。

【００９６】また、特定半径の円筒面状電界を、異なる
半径の円筒面状電界に変換する変換手段を備えること
で、任意の特定半径の円筒面状電界を得ることができ
る。

【００９７】また、特定半径の円周状電界を、異なる半
径の円周状電界に変換する変換手段を備えることで、任
意の特定半径の円周状電界及び円筒面状電界を得ること
ができる。

【００９８】また、前記特定円筒面であって当該円筒面
の中心軸と平行な線状電界を、異なる半径の線状電界に
変換する変換手段を備えることで、任意の特定半径の線
状電界及び円筒面状電界を得ることができる。

【００９９】また、前記被測定物が設置された地面によ
り放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完全
反射された場合の電界に変換する変換手段を備えること
で、地面で反射していない測定放射電界から地面で完全
反射した場合の放射電界を得ることができる。

【０１００】また、支持手段により、さらに、放射電界
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、不要波
除去手段により、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することで、水
平面内電界分布をも同時に測定することが可能となる。

【０１０１】また、支持手段は、前記プローブが前記円
筒面の中心軸方向に移動できるように前記プローブを支
持する第１の構成部と、当該第１の構成部が前記中心軸
方向とほぼ垂直方向に移動できるように前記第１の構成
部を支持する第２の構成部と、当該第２の構成部が前記
中心軸を中心に回転できるように前記第２の構成部を支
持する第３の構成部を備えることで、周囲ノイズの少な
い場所で測定する必要がなく、周囲ノイズを遮断するシ
ールド設備や屋内での周囲反射を抑えるための電波吸収
体等が不要となる。

【０１０２】また、プローブは、前記円筒面の中心軸と
ほぼ垂直方向に長さの異なる複数のプローブを備えるこ
とで、異なる半径の測定を同時にでき、測定時間を短縮
することができる。

【０１０３】また、不要波除去手段は、当該プローブが
受信した複数の異なる半径の異なる円筒面状放射電界測
定距離の範囲でフーリエ変換することで直接波以外の残
留反射成分を除去する演算部からなることにより、計算
時間を短縮することができる。

【０１０４】また、さらに他のの発明に係る円筒面放射
界測定装置によれば、被測定物から放射される放射電力
を測定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を
受信するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒
面状放射電力を受信できるように前記プローブを支持し
た支持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる半
径の円筒面状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状
電界を推測する変換手段と、この円筒面状電界から不要
波を除去する不要波除去手段を備えることで、上述した
発明が奏する効果に加え、測定データを少量化すること
可能になり、計算時間を短縮することができる。

【０１０５】また、さらに他の発明に係る円筒波放射界
測定装置によれば、被測定物から放射される放射電力を
測定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を受
信するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面
上を移動できるように前記プローブを支持した支持手段
と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面
状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測
する変換手段と、この円筒面状電界から不要波を除去す
る不要波除去手段を備えることで、上述した発明が奏す
る効果に加え、測定データを少量化し、計算時間を短縮
化することができる。

【０１０６】また、特定半径の円周状電力から、異なる
半径の円周状電界を推測するための波源推測演算装置を
備えることで、任意の特定半径の円周状電界及び円筒面
状電界を得ることができる。

【０１０７】また、特定半径の円周状電力から、異なる
半径の円周状電界を推測するための波源推測演算装置を
備えることで、任意の特定半径の円周状電界及び円筒面
状電界を得ることができる。

【０１０８】また、前記特定円筒面であって当該円筒面
の中心軸と平行な線状電力から、異なる半径の線状電界
を推測するための波源推定演算装置を備えることで、特
定半径の円周状電界及び円筒面状電界を得ることができ
る。

【０１０９】また、支持手段により、さらに、放射電界
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、不要波
除去手段により、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することで、水
平面内電界分布をも同時に測定することが可能となる。

【０１１０】さらに、被測定機器を囲む円筒面上・円周
または当該円筒面の中心軸と平行な線状で測定した電界
または電力から被測定機器周辺円筒面上・円周または当
該円筒面の中心軸と平行な線状の電界を計算する演算部
と、演算結果から前記被測定物が設置された地面により
放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完全反
射された場合の電界に変換する変換手段と、更に、前記
被測定機器周辺円筒面上・円周または当該円筒面の中心
軸と平行な線状の電界と、前記被測定物が設置された地
面で完全反射された場合の電界を用いて、任意距離にお
ける合成電界を計算する演算部を有することにより、任
意設置場所における被供試機器からの放射電界、放射電
力の測定値から、放射ＥＭＩ測定を考慮した値の計算が
可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施の形態１に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。

【図２】 本発明の実施の形態２に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。

【図３】 本発明の実施の形態２に係る電界の２次元分
布の位置を示す概略図である。

【図４】 本発明の実施の形態３に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。

【図５】 本発明の実施の形態３に係る電界の１次元分
布の位置を示す概略図である。

【図６】 本発明の実施の形態４に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。

【図７】 本発明の実施の形態４に係る電界の１次元分
布の位置を示す概略図である。

【図８】 本発明の実施の形態５に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。

【図９】 本発明の実施の形態５に係るプローブの拡大
図である。

【図１０】 本発明の実施の形態６に係る円筒面放射界
測定装置の構成を示す構成図である。

【図１１】 本発明の実施の形態７に係る円筒面放射界
測定装置の構成を示す構成図である。

【図１２】 本発明の実施の形態７に係る円筒面放射界
測定装置の説明図である。

【図１３】 本発明の実施の形態８に係る不溶波除去装
置の計算に係る説明図である。

【図１４】 本発明の実施の形態９に係る円筒面放射界
測定装置の構成図である。

【図１５】 本発明の実施の形態１０に係る円筒面放射
界測定装置の説明図である

【図１６】 本発明の実施の形態１０に係る円筒面放射
界測定装置の動作説明のためのフローチャート図であ
る。

【図１７】 本発明の実施の形態１１に係る円筒面放射
界測定装置の説明図である。

【図１８】 本発明の実施の形態１１に係る円筒面放射
界測定装置の動作説明のためのフローチャート図であ
る。

【図１９】 従来の技術における第１の円筒面放射界測
定装置の基本構成を示す構成図である。

【図２０】 従来の技術における第２の円筒面放射界測
定装置の基本構成を示す構成図である。

【符号の説明】

１ 被測定機器、２ プローブ、３ 受信機、４ 金属
大地面、５ 直接波、６ 大地反射波、７ 回転台、８
プローブ昇降設備、９ 電波吸収体、１０ 垂直方向
駆動機構、１１ 周方向回転機構、１２ 半径方向伸縮
機構、１３ 不要波除去演算装置、１４ 支持体、１５
円筒走査面、１６ ２次元フィールド変換装置、１７
円筒面、１８ 水平面内走査軌跡、１９ 水平方向１
次元フィールド変換装置、２０ 水平面内１次元カット
面、２１ 垂直面内走査軌跡、２２ 垂直方向１次元フ
ィールド変換装置、２３ 垂直面内１次元カット面、２
４ マルチプローブ、２５ マルチ円筒走査面、２６
水平面内走査用プローブ、２７ 半径方向走査機構、２
８ 垂直方向伸縮機構、２９ 電界分布合成装置、３０
フィールド変換前データ、３１ 仮想的な床面、３２
フィールド変換後データ、３３ 床面、３４ 床面を
考慮した電界分布、３５ 被測定機器の電界放射パター
ン、３６ 受信プローブの電界放射パターン、３７ 直
接波（被測定機器から受信プローブへの直接波）、３８
直接波の受信プローブへの入射角度、３９ 反射波に
対する壁面の反射係数、４０ 被測定機器からの反射波
の受信プローブへの入射角度、４１ 反射波の伝搬距
離、４２ 測定した受信電力から非線形の計画法を用い
て電界を推測する波源推定演算装置。

フロントページの続き (72)発明者 内田 雄 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 岡 尚人 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 富山 勝己 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号 三 菱電機株式会社内

Claims (17)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定物から放射される放射電界を測定
   する円筒面放射界測定装置であって、 放射電界を受信するプローブと、 当該プローブが半径の異なる円筒面状放射電界を受信で
   きるように前記プローブを支持した支持手段と、 前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受
   信電界に基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受
   信電界から不要波を除去する不要波除去手段とを備えた
   円筒面放射界測定装置。
2. 【請求項２】 被測定物から放射される放射電界を測定
   する円筒面放射界測定装置であって、 放射電界を受信するプローブと、 当該プローブが半径の異なる円筒面上を移動できるよう
   に前記プローブを支持した支持手段と、 前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受
   信電界に基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受
   信電界から不要波を除去する不要波除去手段とを備えた
   円筒面放射界測定装置。
3. 【請求項３】 前記円筒面放射界測定装置は、特定半径
   の円筒面状電界を異なる半径の円筒面状電界に変換する
   変換手段を備えたことを特徴とする請求項１又は２記載
   の円筒面放射界測定装置。
4. 【請求項４】 前記円筒面放射界測定装置は、特定半径
   の円周状電界を異なる半径の円周状電界に変換する変換
   手段を備えたことを特徴とする請求項１又は２記載の円
   筒面放射界測定装置。
5. 【請求項５】 前記円筒面放射界測定装置は、前記特定
   円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電界
   を、異なる半径の線状電界に変換する変換手段を備えた
   ことを特徴とする請求項１又は２記載の円筒面放射界測
   定装置。
6. 【請求項６】 前記円筒面放射界測定装置は、前記被測
   定物が設置された地面により放射電界が反射されない場
   合の電界を前記地面で完全反射された場合の電界に変換
   する変換手段を備えたことを特徴とする請求項１又は２
   記載の円筒面放射界測定装置。
7. 【請求項７】 前記支持手段は、さらに、放射電界を受
   信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の高さ
   が異なる水平面を移動できるように支持し、前記不要波
   除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数の異
   なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受信し
   た水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴とす
   る請求項１又は２記載の円筒面放射界測定装置。
8. 【請求項８】 前記支持手段は、前記プローブが前記円
   筒面の中心軸方向に移動できるように前記プローブを支
   持する第１の構成部と、当該第１の構成部が前記中心軸
   方向とほぼ垂直方向に移動できるように前記第１の構成
   部を支持する第２の構成部と、当該第２の構成部が前記
   中心軸を中心に回転できるように前記第２の構成部を支
   持する第３の構成部を備えたことを特徴とする請求項２
   ないし７のいずれかに記載の円筒面放射界測定装置。
9. 【請求項９】 前記プローブは、前記円筒面の中心軸と
   ほぼ垂直方向に長さの異なる複数のプローブを備えたこ
   とを特徴とする請求項１ないし８のいずれかに記載の円
   筒面放射界測定装置。
10. 【請求項１０】 前記不要波除去手段は、当該プローブ
    が受信した複数の異なる半径の異なる円筒面状放射電界
    測定距離の範囲でフーリエ変換することで直接波以外の
    残留反射波成分を除去する演算部からなることを特徴と
    する請求項１ないし９のいずれかに記載の円筒面放射電
    磁波測定装置。
11. 【請求項１１】 被測定物から放射される放射電力を測
    定する円筒面放射界測定装置であって、 放射電力を受信するプローブと、 当該プローブが半径の異なる円筒面状放射電力を受信で
    きるように前記プローブを支持した支持手段と、 前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受
    信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測する
    変換手段と、 この円筒面状電界から不要波を除去する不要波除去手段
    とを備えた円筒面放射界測定装置。
12. 【請求項１２】 被測定物から放射される放射電力を測
    定する円筒面放射界測定装置であって、 放射電力を受信するプローブと、 当該プローブが半径の異なる円筒面上を移動できるよう
    に前記プローブを支持した支持手段と、 前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受
    信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測する
    変換手段と、 この円筒面状電界から不要波を除去する不要波除去手段
    とを備えた前記円筒面放射界測定装置。
13. 【請求項１３】 前記円筒面放射界測定装置は、特定半
    径の円筒面状電力から異なる半径の円筒面状電界を推測
    する演算手段を備えたことを特徴とする請求項１１又は
    １２記載の円筒面放射界測定装置。
14. 【請求項１４】 前記円筒面放射界測定装置は、特定半
    径の円周状電力から異なる半径の円周状電界を推測する
    演算手段を備えたことを特徴とする請求項１１又は１２
    記載の円筒面放射界測定装置。
15. 【請求項１５】 前記円筒面放射界測定装置は、前記特
    定円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電力
    から異なる半径の円周状電界を推測する演算手段を備え
    たことを特徴とする請求項１１又は１２記載の円筒面放
    射界測定装置。
16. 【請求項１６】 前記支持手段は、さらに、放射電界を
    受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の高
    さが異なる水平面を移動できるように支持し、前記不要
    波除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数の
    異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受信
    した水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴と
    する請求項１３又は１４記載の円筒面放射界測定装置。
17. 【請求項１７】 被測定機器を囲む円筒面上・円周また
    は当該円筒面の中心軸と平行な線状で測定した電界また
    は電力から被測定機器周辺円筒面上・円周または当該円
    筒面の中心軸と平行な線状の電界を計算する演算部と、 当該演算結果から前記被測定物が設置された地面により
    放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完全反
    射された場合の電界に変換する変換手段と、 前記被測定機器周辺円筒面上・円周または当該円筒面の
    中心軸と平行な線状の電界と、前記被測定物が設置され
    た地面で完全反射された場合の電界を用いて、任意距離
    における合成電界を計算する演算部とを有することを特
    徴とする請求項１ないし１４のいずれかに記載の円筒波
    放射界測定装置。