JPH10221391A - 円筒面放射界測定装置 - Google Patents
円筒面放射界測定装置Info
- Publication number
- JPH10221391A JPH10221391A JP33209197A JP33209197A JPH10221391A JP H10221391 A JPH10221391 A JP H10221391A JP 33209197 A JP33209197 A JP 33209197A JP 33209197 A JP33209197 A JP 33209197A JP H10221391 A JPH10221391 A JP H10221391A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electric field
- probe
- cylindrical surface
- cylindrical
- radiated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 不要波除去手段を利用することにより、測定
設備を一時的に被測定機器の周辺に配置し、被測定機器
から放射される妨害波などの放射電界分布を改修可能な
場所で測定できる円筒面放射界測定装置を得る。 【解決手段】 放射電界及び放射電力を受信するプロー
ブ2と、当該プローブ2が半径の異なる円筒面状放射電
界を受信できるように前記プローブ2を支持した支持手
段10、11、12、14と、前記プローブが受信した
複数の異なる半径の円筒面状受信電界及び円筒面状受信
電力に基づき、不要波を除去する不要波除去手段13、
波源推定演算装置42、からなる。不要波除去手段13
により不要波を除去できるので、周囲電波の少ない場所
に限定されず、例えば被測定機器を改修可能な場所等任
意の場所で被測定機器からの円筒面放射電界分布を測定
することができる。
設備を一時的に被測定機器の周辺に配置し、被測定機器
から放射される妨害波などの放射電界分布を改修可能な
場所で測定できる円筒面放射界測定装置を得る。 【解決手段】 放射電界及び放射電力を受信するプロー
ブ2と、当該プローブ2が半径の異なる円筒面状放射電
界を受信できるように前記プローブ2を支持した支持手
段10、11、12、14と、前記プローブが受信した
複数の異なる半径の円筒面状受信電界及び円筒面状受信
電力に基づき、不要波を除去する不要波除去手段13、
波源推定演算装置42、からなる。不要波除去手段13
により不要波を除去できるので、周囲電波の少ない場所
に限定されず、例えば被測定機器を改修可能な場所等任
意の場所で被測定機器からの円筒面放射電界分布を測定
することができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば電気・電
子機器から放射される妨害波などの放射電界分布を測定
するEMC(Electromagnetic Compatibility)用の円筒
面放射界測定装置に関するものであり、特に供試機器を
改修でき得る場所で検査できる円筒面放射界測定装置に
関するものである。
子機器から放射される妨害波などの放射電界分布を測定
するEMC(Electromagnetic Compatibility)用の円筒
面放射界測定装置に関するものであり、特に供試機器を
改修でき得る場所で検査できる円筒面放射界測定装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】図19は、「電磁波の吸収と遮蔽」、日
経技術図書株式会社、p.442、1989年1月10
日、に示された第1の従来例である円筒面放射界測定装
置である。この図において、1は被測定機器、2は測定
用アンテナであるプローブ、3は妨害波測定器、4は金
属大地面、5は被測定機器1から放射されプローブ2に
直接到達する妨害波からなる直接波、6は被測定機器1
から放射され金属大地面4で反射してプローブ2に到達
する妨害波からなる大地反射波であり、7は被測定機器
1を載せて回転させる回転台、8はプローブ昇降設備で
ある。測定場はオープンサイトといわれ屋外である。
経技術図書株式会社、p.442、1989年1月10
日、に示された第1の従来例である円筒面放射界測定装
置である。この図において、1は被測定機器、2は測定
用アンテナであるプローブ、3は妨害波測定器、4は金
属大地面、5は被測定機器1から放射されプローブ2に
直接到達する妨害波からなる直接波、6は被測定機器1
から放射され金属大地面4で反射してプローブ2に到達
する妨害波からなる大地反射波であり、7は被測定機器
1を載せて回転させる回転台、8はプローブ昇降設備で
ある。測定場はオープンサイトといわれ屋外である。
【0003】妨害波の測定方法について説明する。測定
は、被測定機器1から放射される放射妨害波を、直接波
5と大地反射波6とが合成された電界分布として測定す
る。このとき、プローブ昇降設備8によりプローブ2を
上下させ、又被測定機器1を載せた回転台7を回転させ
ることにより、被測定機器1の周りの円筒面状の妨害波
が測定できる。測定時には被測定機器1以外から到達す
る周囲ノイズを十分抑えるため、大都市近郊を避け、高
速道路や高圧送電線から離れた場所で、又地形の上か
ら、放送などの電波が到来しにくい場所を選んで測定さ
れる。
は、被測定機器1から放射される放射妨害波を、直接波
5と大地反射波6とが合成された電界分布として測定す
る。このとき、プローブ昇降設備8によりプローブ2を
上下させ、又被測定機器1を載せた回転台7を回転させ
ることにより、被測定機器1の周りの円筒面状の妨害波
が測定できる。測定時には被測定機器1以外から到達す
る周囲ノイズを十分抑えるため、大都市近郊を避け、高
速道路や高圧送電線から離れた場所で、又地形の上か
ら、放送などの電波が到来しにくい場所を選んで測定さ
れる。
【0004】図20は円筒面放射界測定装置の第2の従
来例である。この図は、「電磁波の吸収と遮蔽」、日経
技術図書株式会社、p.457、1989年1月10
日、に示されたものである。この図において、1、2、
4、7、8は図19に示した第1の従来装置の同一又は
相当部であり、説明を省略する。9は室内の電波を吸収
する電波吸収体である。電波暗室内と外部とを電波的に
遮断して外部からの周囲ノイズを十分抑えるため、天
井、床、壁面などの全ての面が金網あるいは金属板から
構成したシールド設備によりシールドされている。
来例である。この図は、「電磁波の吸収と遮蔽」、日経
技術図書株式会社、p.457、1989年1月10
日、に示されたものである。この図において、1、2、
4、7、8は図19に示した第1の従来装置の同一又は
相当部であり、説明を省略する。9は室内の電波を吸収
する電波吸収体である。電波暗室内と外部とを電波的に
遮断して外部からの周囲ノイズを十分抑えるため、天
井、床、壁面などの全ての面が金網あるいは金属板から
構成したシールド設備によりシールドされている。
【0005】妨害波の測定方法について説明する。測定
方法は前記第1の従来例と同様である。しかし、本従来
例の電波暗室においては、電波吸収体9が壁面および天
井の全ての面に設けられ反射波を吸収し、かつシールド
設備は外部からの周囲ノイズを遮断するので、第1の従
来例と異なり、大都市近郊、高速道路、高圧送電線、放
送などによる電波とは無関係に設備を設けることが可能
である。また、電波暗室は屋内設備であるため、第1の
従来装置のように天候で運用が左右されることがない。
方法は前記第1の従来例と同様である。しかし、本従来
例の電波暗室においては、電波吸収体9が壁面および天
井の全ての面に設けられ反射波を吸収し、かつシールド
設備は外部からの周囲ノイズを遮断するので、第1の従
来例と異なり、大都市近郊、高速道路、高圧送電線、放
送などによる電波とは無関係に設備を設けることが可能
である。また、電波暗室は屋内設備であるため、第1の
従来装置のように天候で運用が左右されることがない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】第1の従来の円筒面放
射界測定装置は以上のように構成されているので、周囲
ノイズの到来しにくい場所に設けられた屋外測定場に被
測定機器を運搬しなければならなかった。このため、測
定結果が許容値以上の場合には、被測定機器を工場まで
運搬して改修し、再度、屋外測定場に運搬して測定する
必要があった。つまり測定結果を簡単にかつ瞬時に改修
へとフィードバックできないという問題点があった。特
に、被測定機器が大型の場合には、運搬作業が大規模と
なる問題点があった。
射界測定装置は以上のように構成されているので、周囲
ノイズの到来しにくい場所に設けられた屋外測定場に被
測定機器を運搬しなければならなかった。このため、測
定結果が許容値以上の場合には、被測定機器を工場まで
運搬して改修し、再度、屋外測定場に運搬して測定する
必要があった。つまり測定結果を簡単にかつ瞬時に改修
へとフィードバックできないという問題点があった。特
に、被測定機器が大型の場合には、運搬作業が大規模と
なる問題点があった。
【0007】第2の従来の円筒面放射界測定装置は以上
のように構成されているので、電波暗室まで被測定機器
を運搬しなければならず、測定結果が許容値以上の場合
には、被測定機器を工場まで運搬して改修し、再度、電
波暗室まで運搬して測定する必要があった。このため、
測定結果を簡単にかつ瞬時に改修へとフィードバックで
きないという問題点があった。特に、被測定機器が大型
の場合には、運搬作業が大規模となると同時に、電波暗
室のテストゾーンの大きさよりも大型の被測定機器は測
定できないという問題点があった。
のように構成されているので、電波暗室まで被測定機器
を運搬しなければならず、測定結果が許容値以上の場合
には、被測定機器を工場まで運搬して改修し、再度、電
波暗室まで運搬して測定する必要があった。このため、
測定結果を簡単にかつ瞬時に改修へとフィードバックで
きないという問題点があった。特に、被測定機器が大型
の場合には、運搬作業が大規模となると同時に、電波暗
室のテストゾーンの大きさよりも大型の被測定機器は測
定できないという問題点があった。
【0008】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、測定設備を一時的に被測定機器
の周辺に配置し、被測定機器から放射される妨害波など
の放射電界分布を改修可能な場所で測定できる円筒面放
射界測定装置を得ることを目的とする。
ためになされたもので、測定設備を一時的に被測定機器
の周辺に配置し、被測定機器から放射される妨害波など
の放射電界分布を改修可能な場所で測定できる円筒面放
射界測定装置を得ることを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明に係る円筒面放
射界測定装置は、被測定物から放射される放射電界を測
定する円筒面放射界測定装置であって、放射電界を受信
するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面状
放射電界を受信できるように前記プローブを支持した支
持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の
円筒面状受信電界に基づき、前記プローブが受信した円
筒面状の受信電界から不要波を除去する不要波除去手段
とを備えたものである。
射界測定装置は、被測定物から放射される放射電界を測
定する円筒面放射界測定装置であって、放射電界を受信
するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面状
放射電界を受信できるように前記プローブを支持した支
持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の
円筒面状受信電界に基づき、前記プローブが受信した円
筒面状の受信電界から不要波を除去する不要波除去手段
とを備えたものである。
【0010】また、他の発明に係る円筒面放射界測定装
置は、被測定物から放射される放射電界を測定する円筒
面放射界測定装置であって、放射電界を受信するプロー
ブと、当該プローブが半径の異なる円筒面上を移動でき
るように前記プローブを支持した支持手段と、前記プロ
ーブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受信電界に
基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受信電界か
ら不要波を除去する不要波除去手段とを備えたものであ
る。
置は、被測定物から放射される放射電界を測定する円筒
面放射界測定装置であって、放射電界を受信するプロー
ブと、当該プローブが半径の異なる円筒面上を移動でき
るように前記プローブを支持した支持手段と、前記プロ
ーブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受信電界に
基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受信電界か
ら不要波を除去する不要波除去手段とを備えたものであ
る。
【0011】また、前記円筒面放射界測定装置は、特定
半径の円筒面状電界を異なる半径の円筒面状電界に変換
する変換手段を備えたことを特徴とするものである。
半径の円筒面状電界を異なる半径の円筒面状電界に変換
する変換手段を備えたことを特徴とするものである。
【0012】また、前記円筒面放射界測定装置は、特定
半径の円周状電界を異なる半径の円周状電界に変換する
変換手段を備えたことを特徴とするものである。
半径の円周状電界を異なる半径の円周状電界に変換する
変換手段を備えたことを特徴とするものである。
【0013】また、前記円筒面放射界測定装置は、前記
特定円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電
界を、異なる半径の線状電界に変換する変換手段を備え
たことを特徴とするものである。
特定円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電
界を、異なる半径の線状電界に変換する変換手段を備え
たことを特徴とするものである。
【0014】また、前記円筒面放射界測定装置は、前記
被測定物が設置された地面により放射電界が反射されな
い場合の電界を前記地面で完全反射された場合の電界に
変換する変換手段を備えたことを特徴とするものであ
る。
被測定物が設置された地面により放射電界が反射されな
い場合の電界を前記地面で完全反射された場合の電界に
変換する変換手段を備えたことを特徴とするものであ
る。
【0015】また、前記支持手段は、さらに、放射電界
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、前記不
要波除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴
とするものである。
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、前記不
要波除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴
とするものである。
【0016】また、前記支持手段は、前記プローブが前
記円筒面の中心軸方向に移動できるように前記プローブ
を支持する第1の構成部と、当該第1の構成部が前記中
心軸方向とほぼ垂直方向に移動できるように前記第1の
構成部を支持する第2の構成部と、当該第2の構成部が
前記中心軸を中心に回転できるように前記第2の構成部
を支持する第3の構成部を備えたことを特徴とするもの
である。
記円筒面の中心軸方向に移動できるように前記プローブ
を支持する第1の構成部と、当該第1の構成部が前記中
心軸方向とほぼ垂直方向に移動できるように前記第1の
構成部を支持する第2の構成部と、当該第2の構成部が
前記中心軸を中心に回転できるように前記第2の構成部
を支持する第3の構成部を備えたことを特徴とするもの
である。
【0017】また、前記プローブは、前記円筒面の中心
軸とほぼ垂直方向に長さの異なる複数のプローブを備え
たことを特徴とするものである。
軸とほぼ垂直方向に長さの異なる複数のプローブを備え
たことを特徴とするものである。
【0018】また、前記不要波除去手段は、当該プロー
ブが受信した複数の異なる半径の異なる円筒面状放射電
界測定距離の範囲でフーリエ変換することで直接波以外
の残留反射波成分を除去する演算部からなることを特徴
とするものである。
ブが受信した複数の異なる半径の異なる円筒面状放射電
界測定距離の範囲でフーリエ変換することで直接波以外
の残留反射波成分を除去する演算部からなることを特徴
とするものである。
【0019】また、さらに他の発明に係る円筒面放射電
磁波測定装置は、被測定物から放射される放射電力を測
定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を受信
するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面状
放射電力を受信できるように前記プローブを支持した支
持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の
円筒面状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界
を推測する変換手段と、この円筒面状電界から不要波を
除去する不要波除去手段とを備えたものである。
磁波測定装置は、被測定物から放射される放射電力を測
定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を受信
するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面状
放射電力を受信できるように前記プローブを支持した支
持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の
円筒面状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界
を推測する変換手段と、この円筒面状電界から不要波を
除去する不要波除去手段とを備えたものである。
【0020】また、さらに他の発明に係る円筒面放射電
磁波測定装置は、被測定物から放射される放射電力を測
定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を受信
するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面上
を移動できるように前記プローブを支持した支持手段
と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面
状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測
する変換手段と、この円筒面状電界から不要波を除去す
る不要波除去手段とを備えたものである。
磁波測定装置は、被測定物から放射される放射電力を測
定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を受信
するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面上
を移動できるように前記プローブを支持した支持手段
と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面
状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測
する変換手段と、この円筒面状電界から不要波を除去す
る不要波除去手段とを備えたものである。
【0021】また、前記円筒面放射界測定装置は、特定
半径の円筒面状電力から異なる半径の円筒面状電界を推
測する演算手段を備えたことを特徴とするものである。
半径の円筒面状電力から異なる半径の円筒面状電界を推
測する演算手段を備えたことを特徴とするものである。
【0022】また、前記円筒面放射界測定装置は、特定
半径の円周状電力から異なる半径の円周状電界を推測す
る演算手段を備えたことを特徴とするものである。
半径の円周状電力から異なる半径の円周状電界を推測す
る演算手段を備えたことを特徴とするものである。
【0023】また、前記円筒面放射界測定装置は、前記
特定円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電
力から異なる半径の円周状電界を推測する演算手段を備
えたことを特徴とするものである。
特定円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電
力から異なる半径の円周状電界を推測する演算手段を備
えたことを特徴とするものである。
【0024】また、前記支持手段は、さらに、放射電界
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、前記不
要波除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴
とするものである。
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、前記不
要波除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴
とするものである。
【0025】さらに、被測定機器を囲む円筒面上・円周
または当該円筒面の中心軸と平行な線状で測定した電界
または電力から被測定機器周辺円筒面上・円周または当
該円筒面の中心軸と平行な線状の電界を計算する演算部
と、当該演算結果から前記被測定物が設置された地面に
より放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完
全反射された場合の電界に変換する変換手段と、前記被
測定機器周辺円筒面上・円周または当該円筒面の中心軸
と平行な線状の電界と、前記被測定物が設置された地面
で完全反射された場合の電界を用いて、任意距離におけ
る合成電界を計算する演算部とを有することを特徴とす
るものである。
または当該円筒面の中心軸と平行な線状で測定した電界
または電力から被測定機器周辺円筒面上・円周または当
該円筒面の中心軸と平行な線状の電界を計算する演算部
と、当該演算結果から前記被測定物が設置された地面に
より放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完
全反射された場合の電界に変換する変換手段と、前記被
測定機器周辺円筒面上・円周または当該円筒面の中心軸
と平行な線状の電界と、前記被測定物が設置された地面
で完全反射された場合の電界を用いて、任意距離におけ
る合成電界を計算する演算部とを有することを特徴とす
るものである。
【0026】
実施の形態1.図1はこの発明の一実施の形態である円
筒面放射界測定装置の構成図を示したものである。図1
において、1は被測定機器、2は測定用アンテナである
プローブ、3は妨害波測定器、10はプローブ2を取り
付けて垂直方向に駆動する垂直方向駆動機構、11はプ
ローブ2と垂直方向駆動機構10とを保持し一体として
円筒の極軸を中心に回転させる周方向回転機構、12は
垂直方向駆動機構10を円筒の半径方向に伸縮させる半
径方向伸縮機構、13は周囲反射や外来電波などの不要
波を除去する不要波除去演算装置、14はプローブ2、
垂直方向駆動機構10、周方向回転機構11、半径方向
伸縮機構12を保持する支持体である。
筒面放射界測定装置の構成図を示したものである。図1
において、1は被測定機器、2は測定用アンテナである
プローブ、3は妨害波測定器、10はプローブ2を取り
付けて垂直方向に駆動する垂直方向駆動機構、11はプ
ローブ2と垂直方向駆動機構10とを保持し一体として
円筒の極軸を中心に回転させる周方向回転機構、12は
垂直方向駆動機構10を円筒の半径方向に伸縮させる半
径方向伸縮機構、13は周囲反射や外来電波などの不要
波を除去する不要波除去演算装置、14はプローブ2、
垂直方向駆動機構10、周方向回転機構11、半径方向
伸縮機構12を保持する支持体である。
【0027】ここで、垂直方向駆動機構10、周方向回
転機構11、半径方向伸縮機構12、支持体14等によ
り支持手段を構成し、特に垂直方向駆動機構10等によ
り第1の構成部を構成し、半径方向伸縮機構12等によ
り第2の構成部を構成し、周方向回転機構11、支持体
14等により第3の構成部を構成する。
転機構11、半径方向伸縮機構12、支持体14等によ
り支持手段を構成し、特に垂直方向駆動機構10等によ
り第1の構成部を構成し、半径方向伸縮機構12等によ
り第2の構成部を構成し、周方向回転機構11、支持体
14等により第3の構成部を構成する。
【0028】動作を説明する。プローブ2は、垂直方向
駆動機構10、周方向回転機構11、半径方向伸縮機構
12により円筒面に沿って走査され、被測定機器1から
放射される放射電界分布が受信される。これにより、異
なる半径の円筒面上の電界分布が複数回測定される。受
信電界は、被測定機器1から放射される放射電界と周囲
ノイズの両方が含まれるが、不要波除去演算装置13は
周囲反射や外来電波などの不要波を除去する不要波除去
演算装置であり、プローブ2によって測定される異なる
半径位置での受信電界を半径に関わる級数で展開し、半
径に関わる最低次項から被測定器1から放射される本来
の放射電界を得るものである。
駆動機構10、周方向回転機構11、半径方向伸縮機構
12により円筒面に沿って走査され、被測定機器1から
放射される放射電界分布が受信される。これにより、異
なる半径の円筒面上の電界分布が複数回測定される。受
信電界は、被測定機器1から放射される放射電界と周囲
ノイズの両方が含まれるが、不要波除去演算装置13は
周囲反射や外来電波などの不要波を除去する不要波除去
演算装置であり、プローブ2によって測定される異なる
半径位置での受信電界を半径に関わる級数で展開し、半
径に関わる最低次項から被測定器1から放射される本来
の放射電界を得るものである。
【0029】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、又周囲ノ
イズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を抑え
るための電波吸収体9が不要であり、測定設備を一時的
に被測定機器1の周辺に配置して、被測定機器1から放
射される妨害波などの放射電界分布を、被測定機器1が
改修可能な場所で測定することができる。
囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、又周囲ノ
イズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を抑え
るための電波吸収体9が不要であり、測定設備を一時的
に被測定機器1の周辺に配置して、被測定機器1から放
射される妨害波などの放射電界分布を、被測定機器1が
改修可能な場所で測定することができる。
【0030】尚、上記実施の形態では、プローブ2を機
構的に移動させることにより円筒面状の電界を得ている
が、アレーアンテナ等を使用して円筒面状の電界を得る
ことも可能である。又、プローブ2は、複数でも単数で
もよい。又、プローブ2を機構的に移動させる方法とし
ては、例えば、円筒状の支持体によりプローブ2を支持
し、当該支持体の半径が変化するようなものでもよい。
構的に移動させることにより円筒面状の電界を得ている
が、アレーアンテナ等を使用して円筒面状の電界を得る
ことも可能である。又、プローブ2は、複数でも単数で
もよい。又、プローブ2を機構的に移動させる方法とし
ては、例えば、円筒状の支持体によりプローブ2を支持
し、当該支持体の半径が変化するようなものでもよい。
【0031】又、実施の形態においては円筒面の半径方
向に伸縮し、垂直方向に駆動させてプローブ2を移動さ
せているが、例えばこれら伸縮又は駆動の一方のみを使
用してもよいし、伸縮や駆動方法は自動、手動どちらに
よっても可能である。又、支持体14は移動用の車輪が
付いた形態、あるいは車載形式であってもよい。以上の
点は、以下の実施の形態において同様である。
向に伸縮し、垂直方向に駆動させてプローブ2を移動さ
せているが、例えばこれら伸縮又は駆動の一方のみを使
用してもよいし、伸縮や駆動方法は自動、手動どちらに
よっても可能である。又、支持体14は移動用の車輪が
付いた形態、あるいは車載形式であってもよい。以上の
点は、以下の実施の形態において同様である。
【0032】実施の形態2.図2はこの発明の一実施の
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、1、2、3、10、11、12、
13、14は図1で示した構成と同一又は相当部を示
し、説明を省略する。図2において、16はプローブ2
によって円筒走査面で受信された円筒面上2次元電界分
布を円筒波展開により異なる半径位置に変換する2次元
フィールド変換装置である。
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、1、2、3、10、11、12、
13、14は図1で示した構成と同一又は相当部を示
し、説明を省略する。図2において、16はプローブ2
によって円筒走査面で受信された円筒面上2次元電界分
布を円筒波展開により異なる半径位置に変換する2次元
フィールド変換装置である。
【0033】動作を説明する。基本的動作は実施の形態
1と同様である。図3は被測定電界の2次元分布の位置
を示す概略図である。図3において、15はプローブ2
が走査される円筒走査面であり、15a、15b、15
cは半径方向伸縮機構12によってプローブ2が移動し
た半径の円筒面に対応する。17は2次元フィールド変
換装置16によって得られる円筒面上2次元電界分布、
あるいは2次元放射パターンの位置を示す円筒面であ
る。例えば、15a、15b、15cの測定2次元電界
分布を円筒波展開して、円筒波スぺクトラムを求める。
円筒波スぺクトラムが既知であれば、任意の位置での電
界分布が求まり、異なる半径位置での円筒面17におけ
る電界分布が計算される。その後、不要波除去演算装置
13によって周囲反射や外来電波などの不要波が除去さ
れた放射電界分布が得られる。
1と同様である。図3は被測定電界の2次元分布の位置
を示す概略図である。図3において、15はプローブ2
が走査される円筒走査面であり、15a、15b、15
cは半径方向伸縮機構12によってプローブ2が移動し
た半径の円筒面に対応する。17は2次元フィールド変
換装置16によって得られる円筒面上2次元電界分布、
あるいは2次元放射パターンの位置を示す円筒面であ
る。例えば、15a、15b、15cの測定2次元電界
分布を円筒波展開して、円筒波スぺクトラムを求める。
円筒波スぺクトラムが既知であれば、任意の位置での電
界分布が求まり、異なる半径位置での円筒面17におけ
る電界分布が計算される。その後、不要波除去演算装置
13によって周囲反射や外来電波などの不要波が除去さ
れた放射電界分布が得られる。
【0034】任意の位置での電界分布を求めるには、以
下の式に従う。円筒波展開された電磁界E、Hは次式で
与えられる。
下の式に従う。円筒波展開された電磁界E、Hは次式で
与えられる。
【0035】
【数1】
【0036】ただし、zは円筒の中心軸座標、ρは円筒
の半径方向座標、φはzを中心軸とした回転座標であ
る。又、A、BはTE波、TM波の円筒波スペクトラ
ム、aにより示されるのは各座標方向の単位ベクトル、
nは整数でφ方向のモードの次数、hはz方向の波数成
分、kは自由空間波数である。uは以下の式で与えら
れ、
の半径方向座標、φはzを中心軸とした回転座標であ
る。又、A、BはTE波、TM波の円筒波スペクトラ
ム、aにより示されるのは各座標方向の単位ベクトル、
nは整数でφ方向のモードの次数、hはz方向の波数成
分、kは自由空間波数である。uは以下の式で与えら
れ、
【0037】
【数2】
【0038】H(2)は第2種Hankel関数、H(2)'
は第2種Hankel関数の微分、M、Nは円筒波ベク
トル波動関数である。円筒波スペクトラムA(r)、B
(r)は以下の式で与えられる。
は第2種Hankel関数の微分、M、Nは円筒波ベク
トル波動関数である。円筒波スペクトラムA(r)、B
(r)は以下の式で与えられる。
【0039】
【数3】
【0040】従って、数1、数3より、特定半径での円
筒面電界分布から任意半径での円筒面電界分布を計算す
ることができる。尚、特定半径におけるtransve
rse電界ベクトルは、
筒面電界分布から任意半径での円筒面電界分布を計算す
ることができる。尚、特定半径におけるtransve
rse電界ベクトルは、
【0041】
【数4】
【0042】で表わされ、Eφ、Ezが測定値に該当す
る。又、実際の測定においては、プローブ2によって測
定されるのは離散的かつ有限の領域のみであるため、数
1、数3のフーリエ変換は、離散フーリエ変換対として
近似する。この点は、以下の実施の形態において同様で
ある。以上のようにこの実施の形態によれば、実施の形
態1の効果に加え、測定していない所定の半径での円筒
面放射電界分布を得ることができ、測定の手間を省くこ
とが可能であり、又測定装置によって測定できない半径
の円筒面状放射電界分布を得ることができる。
る。又、実際の測定においては、プローブ2によって測
定されるのは離散的かつ有限の領域のみであるため、数
1、数3のフーリエ変換は、離散フーリエ変換対として
近似する。この点は、以下の実施の形態において同様で
ある。以上のようにこの実施の形態によれば、実施の形
態1の効果に加え、測定していない所定の半径での円筒
面放射電界分布を得ることができ、測定の手間を省くこ
とが可能であり、又測定装置によって測定できない半径
の円筒面状放射電界分布を得ることができる。
【0043】実施の形態3.図4はこの発明の一実施の
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、1、2、3、10、11、12、
13、14は図1で示した構成と同一又は相当部を示
し、説明を省略する。図4において、19はプローブ2
によって水平面内で受信された水平方向1次元電界分布
を円筒波展開により異なる半径位置に変換する水平方向
1次元フィールド変換装置である。変換方法は、次のよ
うに与えられる。今、実施の形態2における電界成分E
φ、Ezがφとzに変数分離できる場合を考える。この
とき、
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、1、2、3、10、11、12、
13、14は図1で示した構成と同一又は相当部を示
し、説明を省略する。図4において、19はプローブ2
によって水平面内で受信された水平方向1次元電界分布
を円筒波展開により異なる半径位置に変換する水平方向
1次元フィールド変換装置である。変換方法は、次のよ
うに与えられる。今、実施の形態2における電界成分E
φ、Ezがφとzに変数分離できる場合を考える。この
とき、
【0044】
【数5】
【0045】となり、zが一定の水平面1次元パターン
では、zの関数が定数となり、次のようになる。
では、zの関数が定数となり、次のようになる。
【0046】
【数6】
【0047】これにより、数式1、数式3のフーリエ変
換対は、φに関するフーリエ変換対で、1次元で表わさ
れる。この関係式より、水平面1次元のフィールド変換
が計算される。
換対は、φに関するフーリエ変換対で、1次元で表わさ
れる。この関係式より、水平面1次元のフィールド変換
が計算される。
【0048】動作を説明する。基本的動作は実施の形態
1と同様である。図5は、被測定電界の水平方向1次元
分布の位置を示す概略図である。18はプローブ2が走
査される水平面内走査軌跡であり、18a、18b、1
8cは半径方向伸縮機構12によってプローブ2が移動
した半径の円周に対応する。20は水平方向1次元フィ
ールド変換装置19によって得られる水平方向1次元電
界分布、あるいは水平面内放射パターンの位置を示す水
平面内1次元カット面である。例えば、円周18a、1
8b、18cの測定データから水平面内1次元カット面
20の位置における分布を求めた後、不要波除去演算装
置13によって周囲反射や外来電波などの不要波が除去
された1次元放射電界分布が得られる。
1と同様である。図5は、被測定電界の水平方向1次元
分布の位置を示す概略図である。18はプローブ2が走
査される水平面内走査軌跡であり、18a、18b、1
8cは半径方向伸縮機構12によってプローブ2が移動
した半径の円周に対応する。20は水平方向1次元フィ
ールド変換装置19によって得られる水平方向1次元電
界分布、あるいは水平面内放射パターンの位置を示す水
平面内1次元カット面である。例えば、円周18a、1
8b、18cの測定データから水平面内1次元カット面
20の位置における分布を求めた後、不要波除去演算装
置13によって周囲反射や外来電波などの不要波が除去
された1次元放射電界分布が得られる。
【0049】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、又周囲ノ
イズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を抑え
るための電波吸収体9が不要であり、測定設備を一時的
に被測定機器1の周辺に配置して、被測定機器1から放
射される妨害波などの水平方向放射近傍電界分布を改修
可能な場所で測定できる。又測定していない所定の距離
での1次元水平方向放射電界分布を得ることができ、測
定の手間を省くことが可能であり、又測定装置によって
測定できない半径の円筒面状放射電界分布を得ることが
できる。
囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、又周囲ノ
イズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を抑え
るための電波吸収体9が不要であり、測定設備を一時的
に被測定機器1の周辺に配置して、被測定機器1から放
射される妨害波などの水平方向放射近傍電界分布を改修
可能な場所で測定できる。又測定していない所定の距離
での1次元水平方向放射電界分布を得ることができ、測
定の手間を省くことが可能であり、又測定装置によって
測定できない半径の円筒面状放射電界分布を得ることが
できる。
【0050】実施の形態4.図6はこの発明の一実施の
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、1、2、3、10、11、12、
13、14は図1で示した構成と同一又は相当部を示
し、説明を省略する。図6において、22は垂直方向1
次元電界分布を円筒波展開により異なる半径位置に変換
する垂直方向1次元フィールド変換装置である。垂直方
向1次元フィールド変換は次のように計算される。実施
の形態3と同様に、電界成分Eφ、Ezがφとzがに変
数が分離できる場合、数5からφが一定の垂直方向1次
元パターンにおいては、φの関数が定数となり、
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、1、2、3、10、11、12、
13、14は図1で示した構成と同一又は相当部を示
し、説明を省略する。図6において、22は垂直方向1
次元電界分布を円筒波展開により異なる半径位置に変換
する垂直方向1次元フィールド変換装置である。垂直方
向1次元フィールド変換は次のように計算される。実施
の形態3と同様に、電界成分Eφ、Ezがφとzがに変
数が分離できる場合、数5からφが一定の垂直方向1次
元パターンにおいては、φの関数が定数となり、
【0051】
【数7】
【0052】となる。これにより、フーリエ変換対はz
に関する1次元のフーリエ変換対となり、垂直方向1次
元フィールド変換の計算ができる。
に関する1次元のフーリエ変換対となり、垂直方向1次
元フィールド変換の計算ができる。
【0053】動作を説明する。基本的動作は実施の形態
1と同様である。図7は、被測定電界の垂直方向1次元
分布の位置を示す概略図である。21はプローブ2が走
査される垂直面内走査軌跡であり、21a、21b、2
1cは半径方向伸縮機構12によってプローブ2が移動
した異なる半径の垂直線に対応する。23は垂直方向1
次元フィールド変換装置22によって得られる垂直方向
1次元電界分布、あるいは垂直面内放射パターンの位置
を示す垂直面内1次元カット面である。例えば直線21
a、21b、21cの測定データから、垂直面内1次元
カット面23の位置における電界分布を求めた後、不要
波除去演算装置13によって周囲反射や外来電波などの
不要波が除去た放射電界が得られる。
1と同様である。図7は、被測定電界の垂直方向1次元
分布の位置を示す概略図である。21はプローブ2が走
査される垂直面内走査軌跡であり、21a、21b、2
1cは半径方向伸縮機構12によってプローブ2が移動
した異なる半径の垂直線に対応する。23は垂直方向1
次元フィールド変換装置22によって得られる垂直方向
1次元電界分布、あるいは垂直面内放射パターンの位置
を示す垂直面内1次元カット面である。例えば直線21
a、21b、21cの測定データから、垂直面内1次元
カット面23の位置における電界分布を求めた後、不要
波除去演算装置13によって周囲反射や外来電波などの
不要波が除去た放射電界が得られる。
【0054】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、又周囲ノ
イズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を抑え
るための電波吸収体9が不要であり、測定設備を一時的
に被測定機器1の周辺に配置して、被測定機器1から放
射される妨害波などの垂直方向放射近傍電界分布を被測
定機器1が改修可能な場所で測定でる。又、測定してい
ない所定の距離での垂直方向放射電界分布を得ることが
でき、測定の手間を省くことが可能であり、又測定装置
によって測定できない半径の円筒面状放射電界分布を得
ることができる。
囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、又周囲ノ
イズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を抑え
るための電波吸収体9が不要であり、測定設備を一時的
に被測定機器1の周辺に配置して、被測定機器1から放
射される妨害波などの垂直方向放射近傍電界分布を被測
定機器1が改修可能な場所で測定でる。又、測定してい
ない所定の距離での垂直方向放射電界分布を得ることが
でき、測定の手間を省くことが可能であり、又測定装置
によって測定できない半径の円筒面状放射電界分布を得
ることができる。
【0055】実施の形態5.図8はこの発明の一実施の
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、1、3、10、11、12、1
3、14は図1で示した構成と同一又は相当部を示し、
説明を省略する。図8において、24は軸長の異なる複
数の導波管開口アンテナあるいはホーンアンテナから構
成したマルチプローブであり、異なる距離での電界分布
が複数のアンテナにより一度の走査により測定できる。
25はその一度の走査により測定した場合のマルチ円筒
走査面である。図9はマルチプローブ24の拡大図であ
る。
形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したもの
である。図において、1、3、10、11、12、1
3、14は図1で示した構成と同一又は相当部を示し、
説明を省略する。図8において、24は軸長の異なる複
数の導波管開口アンテナあるいはホーンアンテナから構
成したマルチプローブであり、異なる距離での電界分布
が複数のアンテナにより一度の走査により測定できる。
25はその一度の走査により測定した場合のマルチ円筒
走査面である。図9はマルチプローブ24の拡大図であ
る。
【0056】動作を説明する。基本的動作は実施の形態
1と同様である。実施の形態1との相違点は、マルチプ
ローブ24により異なる距離での電界分布が複数のアン
テナにより一度の走査により測定できる点である。以上
のようにこの実施の形態によれば、実施の形態1の効果
に加え、不要波除去に必要な測定に要する時間を短縮す
ることができる。
1と同様である。実施の形態1との相違点は、マルチプ
ローブ24により異なる距離での電界分布が複数のアン
テナにより一度の走査により測定できる点である。以上
のようにこの実施の形態によれば、実施の形態1の効果
に加え、不要波除去に必要な測定に要する時間を短縮す
ることができる。
【0057】実施の形態6.図10はこの発明の一実施
の形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したも
のである。図において、1、2、3、10、11、1
2、13、14は図1で示した構成と同一又は相当部を
示し、説明を省略する。図10において、26は半径方
向伸縮機構12に設けた水平面内走査用プローブであ
り、プローブ2とは独立なプローブである。27は水平
面内走査用プローブ26を半径方向に走査させる半径方
向走査機構、28は垂直方向伸縮機構である。水平面内
走査用プローブ26の走査面位置を、円周方向回転機構
11、半径方向走査機構27により円面内で変化させ、
垂直方向伸縮機構28により水平面内走査用プローブ2
6の走査面位置を垂直方向に変化させる。
の形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したも
のである。図において、1、2、3、10、11、1
2、13、14は図1で示した構成と同一又は相当部を
示し、説明を省略する。図10において、26は半径方
向伸縮機構12に設けた水平面内走査用プローブであ
り、プローブ2とは独立なプローブである。27は水平
面内走査用プローブ26を半径方向に走査させる半径方
向走査機構、28は垂直方向伸縮機構である。水平面内
走査用プローブ26の走査面位置を、円周方向回転機構
11、半径方向走査機構27により円面内で変化させ、
垂直方向伸縮機構28により水平面内走査用プローブ2
6の走査面位置を垂直方向に変化させる。
【0058】動作を説明する。円筒面放射電界の測定に
ついては、実施の形態1と同様であり説明を省略する。
水平面内の測定において、異なる垂直位置での水平面電
界分布が水平面内走査用プローブ26により測定され
る。異なる垂直位置での測定された水平面内電界分布
は、不要波除去演算装置13によって本来の放射電界分
布が得られ、周囲反射や外来電波などの不要波が除去さ
れる。以上のようにこの実施の形態によれば、実施の形
態1の効果に加え、水平面内電界分布をも同時に測定す
ることが可能となる。
ついては、実施の形態1と同様であり説明を省略する。
水平面内の測定において、異なる垂直位置での水平面電
界分布が水平面内走査用プローブ26により測定され
る。異なる垂直位置での測定された水平面内電界分布
は、不要波除去演算装置13によって本来の放射電界分
布が得られ、周囲反射や外来電波などの不要波が除去さ
れる。以上のようにこの実施の形態によれば、実施の形
態1の効果に加え、水平面内電界分布をも同時に測定す
ることが可能となる。
【0059】実施の形態7.図11はこの発明の一実施
の形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したも
のである。図において、1、2、3、10、11、1
2、13、14、16は図1又は図2で示した構成と同
一又は相当部を示し、説明を省略する。29は、2次元
フィールド変換装置16により得られた円筒面上2次元
電界分布、2次元放射パターンの床面より上方の値と下
方の値とを重畳して合成する電界分布合成装置である。
の形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したも
のである。図において、1、2、3、10、11、1
2、13、14、16は図1又は図2で示した構成と同
一又は相当部を示し、説明を省略する。29は、2次元
フィールド変換装置16により得られた円筒面上2次元
電界分布、2次元放射パターンの床面より上方の値と下
方の値とを重畳して合成する電界分布合成装置である。
【0060】図12の実施の形態7の説明図により動作
を詳しく説明する。プローブ2で走査して放射電界を受
信し、不要波除去手段13によって被測定物1からの直
接波のみに変換された円筒面上電界分布データ30aを
得る。続いて、床面をz=0としてz<0の領域に与え
た電界が零の零データ30bを想定する。次に、円筒面
上電界分布データ30aと零データ30bを2次元フィ
ールド変換装置16により、フィールド変換後データ3
2aと32bを得る。この変換は、実施の形態2におい
て説明したように、フーリエ変換によりなされる。つま
り、フィールド変換後データ32aと32bは零データ
30bをも考慮した変換がなされたものであり、特に3
2bは円筒面上電界分布データ30aにうち、仮想的な
床面31を透過した放射電界に相当する。最後に、電界
分布合成装置29により、フィールド変換後データ32
aに対してフィールド変換後データ32bを重畳して、
床面からの反射を考慮した分布34を得ることができ
る。
を詳しく説明する。プローブ2で走査して放射電界を受
信し、不要波除去手段13によって被測定物1からの直
接波のみに変換された円筒面上電界分布データ30aを
得る。続いて、床面をz=0としてz<0の領域に与え
た電界が零の零データ30bを想定する。次に、円筒面
上電界分布データ30aと零データ30bを2次元フィ
ールド変換装置16により、フィールド変換後データ3
2aと32bを得る。この変換は、実施の形態2におい
て説明したように、フーリエ変換によりなされる。つま
り、フィールド変換後データ32aと32bは零データ
30bをも考慮した変換がなされたものであり、特に3
2bは円筒面上電界分布データ30aにうち、仮想的な
床面31を透過した放射電界に相当する。最後に、電界
分布合成装置29により、フィールド変換後データ32
aに対してフィールド変換後データ32bを重畳して、
床面からの反射を考慮した分布34を得ることができ
る。
【0061】以上の動作により、床面からの反射を考慮
した分布34は、円筒面30aを通過した放射電界が、
大地で完全反射した場合の電界分布として得ることがで
きる。つまり、フィールド変換後データ32bが大地で
完全反射された電界分布に相当する。尚、30は円筒面
上電界分布データ30aと零データ30bの電界分布を
重畳したフィールド変換前データ、31は実際には床が
存在するところであるが計算上、零データ30bによっ
て取り除いた仮想的な床面、33は実際に存在する床面
である。
した分布34は、円筒面30aを通過した放射電界が、
大地で完全反射した場合の電界分布として得ることがで
きる。つまり、フィールド変換後データ32bが大地で
完全反射された電界分布に相当する。尚、30は円筒面
上電界分布データ30aと零データ30bの電界分布を
重畳したフィールド変換前データ、31は実際には床が
存在するところであるが計算上、零データ30bによっ
て取り除いた仮想的な床面、33は実際に存在する床面
である。
【0062】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を
抑えるための図20に示した電波吸収体9が不要であ
り、測定設備を一時的に被測定機器1の周辺に配置し
て、被測定機器1から放射される妨害波などの放射電界
分布の直接波と大地反射波との合成電界が改修可能な場
所で測定できる。尚、電界分布合成装置29が垂直方向
1次元フィールド変換装置22により得られた垂直方向
1次元電界分布、水平面内放射パターンの床面より上方
の値と下方の値とを重畳して合成するものでも同様の効
果がある。
囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を
抑えるための図20に示した電波吸収体9が不要であ
り、測定設備を一時的に被測定機器1の周辺に配置し
て、被測定機器1から放射される妨害波などの放射電界
分布の直接波と大地反射波との合成電界が改修可能な場
所で測定できる。尚、電界分布合成装置29が垂直方向
1次元フィールド変換装置22により得られた垂直方向
1次元電界分布、水平面内放射パターンの床面より上方
の値と下方の値とを重畳して合成するものでも同様の効
果がある。
【0063】実施の形態8.図13は、この発明の一実
施の形態である不要電磁波除去装置の計算に係る説明図
で、不要波除去演算装置13による演算手法について説
明するものである。被測定機器EUTから角度θto(一
定値)方向に送信された電界を被測定機器から測定距離
r0 離れた点におかれた受信プローブ2で受信するとと
もに、受信プローブを回転させることで、角度θr0に対
する受信アンテナの遠方界放射パターンを測定するもの
である。図において、Et は被測定機器の電界放射パタ
ーン、Er は受信プローブの電界放射パターン、θr0は
直接波(被測定機器から受信プローブへの直接波)、θ
tiは直接波の受信プローブへの入射角度、αi は反射波
#1に対する壁面の反射係数、θtiは被測定機器からの反
射波の受信プローブへの入射角度、ri は反射波の伝搬
距離である。
施の形態である不要電磁波除去装置の計算に係る説明図
で、不要波除去演算装置13による演算手法について説
明するものである。被測定機器EUTから角度θto(一
定値)方向に送信された電界を被測定機器から測定距離
r0 離れた点におかれた受信プローブ2で受信するとと
もに、受信プローブを回転させることで、角度θr0に対
する受信アンテナの遠方界放射パターンを測定するもの
である。図において、Et は被測定機器の電界放射パタ
ーン、Er は受信プローブの電界放射パターン、θr0は
直接波(被測定機器から受信プローブへの直接波)、θ
tiは直接波の受信プローブへの入射角度、αi は反射波
#1に対する壁面の反射係数、θtiは被測定機器からの反
射波の受信プローブへの入射角度、ri は反射波の伝搬
距離である。
【0064】一般的に、N波の反射波(あるいは散乱
波)が存在する場合、受信プローブの受信電界E
[θr0,r0]は、次式により表される。
波)が存在する場合、受信プローブの受信電界E
[θr0,r0]は、次式により表される。
【0065】
【数8】
【0066】但し、k0は、測定周波数f0での波数2π
/λ0(λ0はf0 での自由空間波長)である。被測定機
器と受信プローブの測定距離r0 が変化しても、直接波
の放射角度θt0、直接波の入射角度θr0は一定である。
しかし、反射波#1の放射角度θti、入射角度θri、反射
係数αi、反射波の伝搬距離riは測定距離r0 に応じて
変化するので、測定距離r0 の関数である。ここで、数
8に波動関数exp(−jk0r0/r0)の逆数を掛け
た関数F[θr0,r0]は次式となる。
/λ0(λ0はf0 での自由空間波長)である。被測定機
器と受信プローブの測定距離r0 が変化しても、直接波
の放射角度θt0、直接波の入射角度θr0は一定である。
しかし、反射波#1の放射角度θti、入射角度θri、反射
係数αi、反射波の伝搬距離riは測定距離r0 に応じて
変化するので、測定距離r0 の関数である。ここで、数
8に波動関数exp(−jk0r0/r0)の逆数を掛け
た関数F[θr0,r0]は次式となる。
【0067】
【数9】
【0068】関数F[θr0,r0]は、直流項である直接
波の成分Et[θt0]・Er[θr0]に距離差Δi=ri
−r0により位相が変化する反射波の成分が重畳した関
数形を示している。従って、関数F[θr0,r0]をフー
リエ変換すれば、直接波成分と反射波成分を分離でき
る。
波の成分Et[θt0]・Er[θr0]に距離差Δi=ri
−r0により位相が変化する反射波の成分が重畳した関
数形を示している。従って、関数F[θr0,r0]をフー
リエ変換すれば、直接波成分と反射波成分を分離でき
る。
【0069】関数F[θr0,fr]に関数exp(jkr
r0)をかけて測定距離r0 に関してフーリエ変換型の
積分を実行した関数G[θr0,fr]を以下に示す。な
お、測定距離r0の範囲は、R1≦r0≦R2とし、積分範
囲は測定距離の範囲とする。
r0)をかけて測定距離r0 に関してフーリエ変換型の
積分を実行した関数G[θr0,fr]を以下に示す。な
お、測定距離r0の範囲は、R1≦r0≦R2とし、積分範
囲は測定距離の範囲とする。
【0070】
【数10】
【0071】但し、frは測定距離r0に対する反射波成
分の変動を示す周波数、krも反射波成分の変動も示す
波数である。また、cは光速を示している。
分の変動を示す周波数、krも反射波成分の変動も示す
波数である。また、cは光速を示している。
【0072】ここで、測定距離の差R2−R1が十分に大
きく、かつ、直接波成分のフーリエスペクトルと反射波
成分のフーリエスペクトルが周波数fr 軸上で十分に離
れているならば、数10で周波数fr=0すなわちkr=
0とすることにより、
きく、かつ、直接波成分のフーリエスペクトルと反射波
成分のフーリエスペクトルが周波数fr 軸上で十分に離
れているならば、数10で周波数fr=0すなわちkr=
0とすることにより、
【0073】
【数11】
【0074】が得られる。被測定機器からの電界放射パ
ターンEt[θt0] は一定値なので、受信プローブの各
角度θr0に対するfr =0での関数G[θr0,0]の値
は直接波に対する受信プローブの電界放射パターンを示
す。
ターンEt[θt0] は一定値なので、受信プローブの各
角度θr0に対するfr =0での関数G[θr0,0]の値
は直接波に対する受信プローブの電界放射パターンを示
す。
【0075】従って、上記実施の形態8によれば、異な
る距離で測定することで、任意の設置場所におかれた被
供試機器から放射する電界の任意距離における直接波成
分が計算可能になる。
る距離で測定することで、任意の設置場所におかれた被
供試機器から放射する電界の任意距離における直接波成
分が計算可能になる。
【0076】実施の形態9.図14はこの発明の一実施
の形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したも
のである。図において、1、2、3、10、11、1
2、14は図1ないし13で示した構成と同一又は相当
部を示し、説明を省略する。42は測定した受信電力か
ら非線形の計画法を用いて電界を推測する波源推定演算
装置である。
の形態である円筒面放射界測定装置の構成図を示したも
のである。図において、1、2、3、10、11、1
2、14は図1ないし13で示した構成と同一又は相当
部を示し、説明を省略する。42は測定した受信電力か
ら非線形の計画法を用いて電界を推測する波源推定演算
装置である。
【0077】動作を説明する。プローブ2は、垂直方向
駆動機構10、周方向回転機構11、半径方向伸縮機構
12により円筒面に沿って走査され、被測定機器1から
放射される放射電力分布が受信される。これにより、異
なる半径の円筒面上の電力分布が複数回測定される。波
源推定演算装置42は、受信電力から非線形の計画法を
用いて電界を推測する波源推定演算装置であり、不要波
除去演算装置13は異なる半径から求めた電界分布を平
均化することにより、被測定機器本来の電界分布を得る
ものである。
駆動機構10、周方向回転機構11、半径方向伸縮機構
12により円筒面に沿って走査され、被測定機器1から
放射される放射電力分布が受信される。これにより、異
なる半径の円筒面上の電力分布が複数回測定される。波
源推定演算装置42は、受信電力から非線形の計画法を
用いて電界を推測する波源推定演算装置であり、不要波
除去演算装置13は異なる半径から求めた電界分布を平
均化することにより、被測定機器本来の電界分布を得る
ものである。
【0078】以下、波源推定演算装置について詳細を述
べる。非線形の計画法(最急降下法)に基づき、評価関
数を与え、その勾配を計算する。求める電界分布の素子
数をNi、評価点数をM、素子iのm方向の素子振幅を
Eim、素子iのm方向の素子位相をΦim、素子iの励振
振幅をαi、素子iの励振位相をpi、m方向の所望電力
(測定値)をP0mとすると、評価関数Fは、次式とな
る。
べる。非線形の計画法(最急降下法)に基づき、評価関
数を与え、その勾配を計算する。求める電界分布の素子
数をNi、評価点数をM、素子iのm方向の素子振幅を
Eim、素子iのm方向の素子位相をΦim、素子iの励振
振幅をαi、素子iの励振位相をpi、m方向の所望電力
(測定値)をP0mとすると、評価関数Fは、次式とな
る。
【0079】
【数12】
【0080】この評価関数Fを最小にする(収束する)
まで、非線形の計画法(最急降下法)を用いて、計算を
繰り返す。Fの値が収束したときのαi、piが測定パタ
ーンを形成する際の励振振幅・励振位相として求まる。
さらに、最急降下法について説明する。評価関数F
(x);(x1,x2,・・・,xN)をxに関して最小
になるようなx*を見つける。x*は、最急降下法で求
められる。
まで、非線形の計画法(最急降下法)を用いて、計算を
繰り返す。Fの値が収束したときのαi、piが測定パタ
ーンを形成する際の励振振幅・励振位相として求まる。
さらに、最急降下法について説明する。評価関数F
(x);(x1,x2,・・・,xN)をxに関して最小
になるようなx*を見つける。x*は、最急降下法で求
められる。
【0081】まず、1番目(初期)にxをx1とし、F
(x1)をx1について微分し、その微分係数をS1=
(S1 1,S1 2,・・・,S1 N)とする。x2=x1+αS
1とし、F(x2)が最小であるかを判別する。αは2次
形内挿法で求めている。同様に、F(x2)をx2につい
て微分し、その微分係数をS2=(S2 1,S2 2,・・
・,S2 N)とおき、x3=x2+αS2とし、F(x3)が
最小であるかを判別する。以下、この作業をF(xi)
が最小になるまで繰り返し計算を行う。
(x1)をx1について微分し、その微分係数をS1=
(S1 1,S1 2,・・・,S1 N)とする。x2=x1+αS
1とし、F(x2)が最小であるかを判別する。αは2次
形内挿法で求めている。同様に、F(x2)をx2につい
て微分し、その微分係数をS2=(S2 1,S2 2,・・
・,S2 N)とおき、x3=x2+αS2とし、F(x3)が
最小であるかを判別する。以下、この作業をF(xi)
が最小になるまで繰り返し計算を行う。
【0082】以上のようにこの実施の形態によれば、電
力のみを測ることにより、測定データの数を低減でき、
また電界分布の周囲ノイズの少ない場所で測定する必要
がなく、又周囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内で
の周囲反射を抑えるための電波吸収体9が不要であり、
測定設備を一時的に被測定機器1の周辺に配置して、被
測定機器1から放射される妨害波などの放射電界分布
を、被測定機器1が改修可能な場所で測定することがで
きる。
力のみを測ることにより、測定データの数を低減でき、
また電界分布の周囲ノイズの少ない場所で測定する必要
がなく、又周囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内で
の周囲反射を抑えるための電波吸収体9が不要であり、
測定設備を一時的に被測定機器1の周辺に配置して、被
測定機器1から放射される妨害波などの放射電界分布
を、被測定機器1が改修可能な場所で測定することがで
きる。
【0083】尚、上記実施の形態では、プローブ2を機
構的に移動させることにより円筒面状の電力を得ている
が、アレーアンテナ等を使用して円筒面状の電力を得る
ことも可能である。又、プローブ2は、複数でも単数で
もよい。又、プローブ2を機構的に移動させる方法とし
ては、例えば、円筒状の支持体によりプローブ2を支持
し、当該支持体の半径が変化するようなものでもよい。
構的に移動させることにより円筒面状の電力を得ている
が、アレーアンテナ等を使用して円筒面状の電力を得る
ことも可能である。又、プローブ2は、複数でも単数で
もよい。又、プローブ2を機構的に移動させる方法とし
ては、例えば、円筒状の支持体によりプローブ2を支持
し、当該支持体の半径が変化するようなものでもよい。
【0084】又、実施の形態においては円筒面の半径方
向に伸縮し、垂直方向に駆動させてプローブ2を移動さ
せているが、例えばこれら伸縮又は駆動の一方のみを使
用してもよいし、伸縮や駆動方法は自動、手動どちらに
よっても可能である。又、支持体14は移動用の車輪が
付いた形態、あるいは車載形式であってもよい。以上の
点は、以下の実施の形態において同様である。
向に伸縮し、垂直方向に駆動させてプローブ2を移動さ
せているが、例えばこれら伸縮又は駆動の一方のみを使
用してもよいし、伸縮や駆動方法は自動、手動どちらに
よっても可能である。又、支持体14は移動用の車輪が
付いた形態、あるいは車載形式であってもよい。以上の
点は、以下の実施の形態において同様である。
【0085】また、異なる半径の円筒面上の電力分布か
ら非線形の計画を波源推定演算装置により求めた電界分
布は全て同じ位置における電界分布であるが、異なる不
要反射波を有している。不要波除去演算装置13により
不要反射波を除去するが、このとき、測定距離の間隔=
0、すなわち、平均化することにより、被測定機器本来
の電界分布を得るものである。
ら非線形の計画を波源推定演算装置により求めた電界分
布は全て同じ位置における電界分布であるが、異なる不
要反射波を有している。不要波除去演算装置13により
不要反射波を除去するが、このとき、測定距離の間隔=
0、すなわち、平均化することにより、被測定機器本来
の電界分布を得るものである。
【0086】以上のように、この実施の形態によれば、
異なる半径の円筒面上の電力分布から波源推定演算装置
を介して求めた電界分布を平均化することにより、被測
定物の電界分布を求めることができる。
異なる半径の円筒面上の電力分布から波源推定演算装置
を介して求めた電界分布を平均化することにより、被測
定物の電界分布を求めることができる。
【0087】また、測定点の数と電界分布の点数は、同
じである必要はなく、少ない即定点数から、多点の電界
分布を推測することも、多くの測定点から少数の電界分
布を推測することも可能である。
じである必要はなく、少ない即定点数から、多点の電界
分布を推測することも、多くの測定点から少数の電界分
布を推測することも可能である。
【0088】また、測定点は、2次元の円筒面であって
も、1次元の円周や線であっても、演算可能である。
も、1次元の円周や線であっても、演算可能である。
【0089】実施の形態10.図15は、この発明の一
実施の形態である円筒面放射界測定装置の説明図であ
る。図において、1、2、3、10、11、12、1
3、16、17、29、14は図1ないし13で示した
構成と同一又は相当部を示し、説明を省略する。
実施の形態である円筒面放射界測定装置の説明図であ
る。図において、1、2、3、10、11、12、1
3、16、17、29、14は図1ないし13で示した
構成と同一又は相当部を示し、説明を省略する。
【0090】動作を説明する。図16は、動作説明のた
めのフローチャートである。プローブ2は、垂直方向駆
動機構10、周方向回転機構11、半径方向伸縮機構1
2により円筒面に沿って走査され、被測定機器1から放
射される放射電界を受信する。これにより、異なる半径
の円筒面上の電界分布が複数回測定される。受信電界
は、被測定機器1から放射される放射電界と周囲ノイズ
の両方が含まれるが、不要波除去演算装置13により、
周囲反射や外来電波などの不要波を除去される。さら
に、2次元フィールド変換装置16、水平方向1次元フ
ィールド変換装置19または垂直方向1次元フィールド
変換装置22を経て、被測定機器の電界分布を計算し、
任意測定距離におけるこの電界分布からの直接波による
電界分布と、床面からの完全反射波の電界分布の合成電
界を計算する電界分布合成装置29を用いることによ
り、放射EMI測定を考慮した値の計算が可能となる。
めのフローチャートである。プローブ2は、垂直方向駆
動機構10、周方向回転機構11、半径方向伸縮機構1
2により円筒面に沿って走査され、被測定機器1から放
射される放射電界を受信する。これにより、異なる半径
の円筒面上の電界分布が複数回測定される。受信電界
は、被測定機器1から放射される放射電界と周囲ノイズ
の両方が含まれるが、不要波除去演算装置13により、
周囲反射や外来電波などの不要波を除去される。さら
に、2次元フィールド変換装置16、水平方向1次元フ
ィールド変換装置19または垂直方向1次元フィールド
変換装置22を経て、被測定機器の電界分布を計算し、
任意測定距離におけるこの電界分布からの直接波による
電界分布と、床面からの完全反射波の電界分布の合成電
界を計算する電界分布合成装置29を用いることによ
り、放射EMI測定を考慮した値の計算が可能となる。
【0091】実施の形態11.図17は、この発明の一
実施の形態である円筒面放射界測定装置の説明図であ
る。図において、1、2、3、10、11、12、1
3、16、17、29、14は図1ないし13で示した
構成と同一又は相当部を示し、説明を省略する。
実施の形態である円筒面放射界測定装置の説明図であ
る。図において、1、2、3、10、11、12、1
3、16、17、29、14は図1ないし13で示した
構成と同一又は相当部を示し、説明を省略する。
【0092】動作を説明する。図18は、動作説明のた
めのフローチャートである。プローブ2は、垂直方向駆
動機構10、周方向回転機構11、半径方向伸縮機構1
2により円筒面に沿って走査され、被測定機器1から放
射される放射電力を受信する。受信した電力分布から波
源推定演算装置42を用いて、被測定機器の電界分布を
計算する。こうすることで、異なる半径からもとめた被
測定機器の電界分布が複数計算される。この電界分布
は、被測定機器1から放射される放射電界の電界分布と
周囲ノイズの仮想的な波源となる電界分布の両方が含ま
れるが、不要波除去演算装置13により、周囲反射や外
来電波などの電界分布を除去される。任意測定距離にお
けるこの電界分布からの直接波による電界分布と、床面
からの完全反射波の電界分布の合成電界を計算する電界
分布合成装置29を用いることにより、放射EMI測定
を考慮した値の計算が可能となる。
めのフローチャートである。プローブ2は、垂直方向駆
動機構10、周方向回転機構11、半径方向伸縮機構1
2により円筒面に沿って走査され、被測定機器1から放
射される放射電力を受信する。受信した電力分布から波
源推定演算装置42を用いて、被測定機器の電界分布を
計算する。こうすることで、異なる半径からもとめた被
測定機器の電界分布が複数計算される。この電界分布
は、被測定機器1から放射される放射電界の電界分布と
周囲ノイズの仮想的な波源となる電界分布の両方が含ま
れるが、不要波除去演算装置13により、周囲反射や外
来電波などの電界分布を除去される。任意測定距離にお
けるこの電界分布からの直接波による電界分布と、床面
からの完全反射波の電界分布の合成電界を計算する電界
分布合成装置29を用いることにより、放射EMI測定
を考慮した値の計算が可能となる。
【0093】以上のようにこの実施の形態によれば、周
囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を
抑えるための図20に示した電波吸収体9が不要であ
り、測定設備を一時的に被測定機器1の周辺に配置し
て、被測定機器1から放射される妨害波などの放射電界
分布の直接波と大地反射波との合成電界が改修可能な場
所で測定できる。尚、電界分布合成装置29が垂直方向
1次元フィールド変換装置22により得られた垂直方向
1次元電界分布、水平面内放射パターンの床面より上方
の値と下方の値とを重畳して合成するものでも同様の効
果がある。
囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を
抑えるための図20に示した電波吸収体9が不要であ
り、測定設備を一時的に被測定機器1の周辺に配置し
て、被測定機器1から放射される妨害波などの放射電界
分布の直接波と大地反射波との合成電界が改修可能な場
所で測定できる。尚、電界分布合成装置29が垂直方向
1次元フィールド変換装置22により得られた垂直方向
1次元電界分布、水平面内放射パターンの床面より上方
の値と下方の値とを重畳して合成するものでも同様の効
果がある。
【0094】
【発明の効果】以上のように、この発明に係る円筒面放
射界測定装置によれば、被測定物から放射される放射電
界を測定する円筒面放射界測定装置であって、放射電界
を受信するプローブと、当該プローブが半径の異なる円
筒面状放射電界を受信できるように前記プローブを支持
した支持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる
半径の円筒面状受信電界に基づき、前記プローブが受信
した円筒面状の受信電界から不要波を除去する不要波除
去手段を備えたので、周囲ノイズの少ない場所で測定す
る必要がなく、周囲ノイズを遮断するシールド設備や屋
内での周囲反射を抑えるための電波吸収体等が不要とな
る。
射界測定装置によれば、被測定物から放射される放射電
界を測定する円筒面放射界測定装置であって、放射電界
を受信するプローブと、当該プローブが半径の異なる円
筒面状放射電界を受信できるように前記プローブを支持
した支持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる
半径の円筒面状受信電界に基づき、前記プローブが受信
した円筒面状の受信電界から不要波を除去する不要波除
去手段を備えたので、周囲ノイズの少ない場所で測定す
る必要がなく、周囲ノイズを遮断するシールド設備や屋
内での周囲反射を抑えるための電波吸収体等が不要とな
る。
【0095】また、他の発明に係る円筒面放射界測定装
置によれば、被測定物から放射される放射電界を測定す
る円筒面放射界測定装置であって、放射電界を受信する
プローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面上を移
動できるように前記プローブを支持した支持手段と、前
記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受信
電界に基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受信
電界から不要波を除去する不要波除去手段を備えること
で、周囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、周
囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を
抑えるための電波吸収体等が不要となる。
置によれば、被測定物から放射される放射電界を測定す
る円筒面放射界測定装置であって、放射電界を受信する
プローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面上を移
動できるように前記プローブを支持した支持手段と、前
記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受信
電界に基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受信
電界から不要波を除去する不要波除去手段を備えること
で、周囲ノイズの少ない場所で測定する必要がなく、周
囲ノイズを遮断するシールド設備や屋内での周囲反射を
抑えるための電波吸収体等が不要となる。
【0096】また、特定半径の円筒面状電界を、異なる
半径の円筒面状電界に変換する変換手段を備えること
で、任意の特定半径の円筒面状電界を得ることができ
る。
半径の円筒面状電界に変換する変換手段を備えること
で、任意の特定半径の円筒面状電界を得ることができ
る。
【0097】また、特定半径の円周状電界を、異なる半
径の円周状電界に変換する変換手段を備えることで、任
意の特定半径の円周状電界及び円筒面状電界を得ること
ができる。
径の円周状電界に変換する変換手段を備えることで、任
意の特定半径の円周状電界及び円筒面状電界を得ること
ができる。
【0098】また、前記特定円筒面であって当該円筒面
の中心軸と平行な線状電界を、異なる半径の線状電界に
変換する変換手段を備えることで、任意の特定半径の線
状電界及び円筒面状電界を得ることができる。
の中心軸と平行な線状電界を、異なる半径の線状電界に
変換する変換手段を備えることで、任意の特定半径の線
状電界及び円筒面状電界を得ることができる。
【0099】また、前記被測定物が設置された地面によ
り放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完全
反射された場合の電界に変換する変換手段を備えること
で、地面で反射していない測定放射電界から地面で完全
反射した場合の放射電界を得ることができる。
り放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完全
反射された場合の電界に変換する変換手段を備えること
で、地面で反射していない測定放射電界から地面で完全
反射した場合の放射電界を得ることができる。
【0100】また、支持手段により、さらに、放射電界
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、不要波
除去手段により、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することで、水
平面内電界分布をも同時に測定することが可能となる。
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、不要波
除去手段により、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することで、水
平面内電界分布をも同時に測定することが可能となる。
【0101】また、支持手段は、前記プローブが前記円
筒面の中心軸方向に移動できるように前記プローブを支
持する第1の構成部と、当該第1の構成部が前記中心軸
方向とほぼ垂直方向に移動できるように前記第1の構成
部を支持する第2の構成部と、当該第2の構成部が前記
中心軸を中心に回転できるように前記第2の構成部を支
持する第3の構成部を備えることで、周囲ノイズの少な
い場所で測定する必要がなく、周囲ノイズを遮断するシ
ールド設備や屋内での周囲反射を抑えるための電波吸収
体等が不要となる。
筒面の中心軸方向に移動できるように前記プローブを支
持する第1の構成部と、当該第1の構成部が前記中心軸
方向とほぼ垂直方向に移動できるように前記第1の構成
部を支持する第2の構成部と、当該第2の構成部が前記
中心軸を中心に回転できるように前記第2の構成部を支
持する第3の構成部を備えることで、周囲ノイズの少な
い場所で測定する必要がなく、周囲ノイズを遮断するシ
ールド設備や屋内での周囲反射を抑えるための電波吸収
体等が不要となる。
【0102】また、プローブは、前記円筒面の中心軸と
ほぼ垂直方向に長さの異なる複数のプローブを備えるこ
とで、異なる半径の測定を同時にでき、測定時間を短縮
することができる。
ほぼ垂直方向に長さの異なる複数のプローブを備えるこ
とで、異なる半径の測定を同時にでき、測定時間を短縮
することができる。
【0103】また、不要波除去手段は、当該プローブが
受信した複数の異なる半径の異なる円筒面状放射電界測
定距離の範囲でフーリエ変換することで直接波以外の残
留反射成分を除去する演算部からなることにより、計算
時間を短縮することができる。
受信した複数の異なる半径の異なる円筒面状放射電界測
定距離の範囲でフーリエ変換することで直接波以外の残
留反射成分を除去する演算部からなることにより、計算
時間を短縮することができる。
【0104】また、さらに他のの発明に係る円筒面放射
界測定装置によれば、被測定物から放射される放射電力
を測定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を
受信するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒
面状放射電力を受信できるように前記プローブを支持し
た支持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる半
径の円筒面状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状
電界を推測する変換手段と、この円筒面状電界から不要
波を除去する不要波除去手段を備えることで、上述した
発明が奏する効果に加え、測定データを少量化すること
可能になり、計算時間を短縮することができる。
界測定装置によれば、被測定物から放射される放射電力
を測定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を
受信するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒
面状放射電力を受信できるように前記プローブを支持し
た支持手段と、前記プローブが受信した複数の異なる半
径の円筒面状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状
電界を推測する変換手段と、この円筒面状電界から不要
波を除去する不要波除去手段を備えることで、上述した
発明が奏する効果に加え、測定データを少量化すること
可能になり、計算時間を短縮することができる。
【0105】また、さらに他の発明に係る円筒波放射界
測定装置によれば、被測定物から放射される放射電力を
測定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を受
信するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面
上を移動できるように前記プローブを支持した支持手段
と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面
状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測
する変換手段と、この円筒面状電界から不要波を除去す
る不要波除去手段を備えることで、上述した発明が奏す
る効果に加え、測定データを少量化し、計算時間を短縮
化することができる。
測定装置によれば、被測定物から放射される放射電力を
測定する円筒面放射界測定装置であって、放射電力を受
信するプローブと、当該プローブが半径の異なる円筒面
上を移動できるように前記プローブを支持した支持手段
と、前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面
状受信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測
する変換手段と、この円筒面状電界から不要波を除去す
る不要波除去手段を備えることで、上述した発明が奏す
る効果に加え、測定データを少量化し、計算時間を短縮
化することができる。
【0106】また、特定半径の円周状電力から、異なる
半径の円周状電界を推測するための波源推測演算装置を
備えることで、任意の特定半径の円周状電界及び円筒面
状電界を得ることができる。
半径の円周状電界を推測するための波源推測演算装置を
備えることで、任意の特定半径の円周状電界及び円筒面
状電界を得ることができる。
【0107】また、特定半径の円周状電力から、異なる
半径の円周状電界を推測するための波源推測演算装置を
備えることで、任意の特定半径の円周状電界及び円筒面
状電界を得ることができる。
半径の円周状電界を推測するための波源推測演算装置を
備えることで、任意の特定半径の円周状電界及び円筒面
状電界を得ることができる。
【0108】また、前記特定円筒面であって当該円筒面
の中心軸と平行な線状電力から、異なる半径の線状電界
を推測するための波源推定演算装置を備えることで、特
定半径の円周状電界及び円筒面状電界を得ることができ
る。
の中心軸と平行な線状電力から、異なる半径の線状電界
を推測するための波源推定演算装置を備えることで、特
定半径の円周状電界及び円筒面状電界を得ることができ
る。
【0109】また、支持手段により、さらに、放射電界
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、不要波
除去手段により、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することで、水
平面内電界分布をも同時に測定することが可能となる。
を受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の
高さが異なる水平面を移動できるように支持し、不要波
除去手段により、さらに、前記プローブが受信した複数
の異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受
信した水平面の受信電界の不要波を除去することで、水
平面内電界分布をも同時に測定することが可能となる。
【0110】さらに、被測定機器を囲む円筒面上・円周
または当該円筒面の中心軸と平行な線状で測定した電界
または電力から被測定機器周辺円筒面上・円周または当
該円筒面の中心軸と平行な線状の電界を計算する演算部
と、演算結果から前記被測定物が設置された地面により
放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完全反
射された場合の電界に変換する変換手段と、更に、前記
被測定機器周辺円筒面上・円周または当該円筒面の中心
軸と平行な線状の電界と、前記被測定物が設置された地
面で完全反射された場合の電界を用いて、任意距離にお
ける合成電界を計算する演算部を有することにより、任
意設置場所における被供試機器からの放射電界、放射電
力の測定値から、放射EMI測定を考慮した値の計算が
可能になる。
または当該円筒面の中心軸と平行な線状で測定した電界
または電力から被測定機器周辺円筒面上・円周または当
該円筒面の中心軸と平行な線状の電界を計算する演算部
と、演算結果から前記被測定物が設置された地面により
放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完全反
射された場合の電界に変換する変換手段と、更に、前記
被測定機器周辺円筒面上・円周または当該円筒面の中心
軸と平行な線状の電界と、前記被測定物が設置された地
面で完全反射された場合の電界を用いて、任意距離にお
ける合成電界を計算する演算部を有することにより、任
意設置場所における被供試機器からの放射電界、放射電
力の測定値から、放射EMI測定を考慮した値の計算が
可能になる。
【図1】 本発明の実施の形態1に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。
定装置の構成を示す構成図である。
【図2】 本発明の実施の形態2に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。
定装置の構成を示す構成図である。
【図3】 本発明の実施の形態2に係る電界の2次元分
布の位置を示す概略図である。
布の位置を示す概略図である。
【図4】 本発明の実施の形態3に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。
定装置の構成を示す構成図である。
【図5】 本発明の実施の形態3に係る電界の1次元分
布の位置を示す概略図である。
布の位置を示す概略図である。
【図6】 本発明の実施の形態4に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。
定装置の構成を示す構成図である。
【図7】 本発明の実施の形態4に係る電界の1次元分
布の位置を示す概略図である。
布の位置を示す概略図である。
【図8】 本発明の実施の形態5に係る円筒面放射界測
定装置の構成を示す構成図である。
定装置の構成を示す構成図である。
【図9】 本発明の実施の形態5に係るプローブの拡大
図である。
図である。
【図10】 本発明の実施の形態6に係る円筒面放射界
測定装置の構成を示す構成図である。
測定装置の構成を示す構成図である。
【図11】 本発明の実施の形態7に係る円筒面放射界
測定装置の構成を示す構成図である。
測定装置の構成を示す構成図である。
【図12】 本発明の実施の形態7に係る円筒面放射界
測定装置の説明図である。
測定装置の説明図である。
【図13】 本発明の実施の形態8に係る不溶波除去装
置の計算に係る説明図である。
置の計算に係る説明図である。
【図14】 本発明の実施の形態9に係る円筒面放射界
測定装置の構成図である。
測定装置の構成図である。
【図15】 本発明の実施の形態10に係る円筒面放射
界測定装置の説明図である
界測定装置の説明図である
【図16】 本発明の実施の形態10に係る円筒面放射
界測定装置の動作説明のためのフローチャート図であ
る。
界測定装置の動作説明のためのフローチャート図であ
る。
【図17】 本発明の実施の形態11に係る円筒面放射
界測定装置の説明図である。
界測定装置の説明図である。
【図18】 本発明の実施の形態11に係る円筒面放射
界測定装置の動作説明のためのフローチャート図であ
る。
界測定装置の動作説明のためのフローチャート図であ
る。
【図19】 従来の技術における第1の円筒面放射界測
定装置の基本構成を示す構成図である。
定装置の基本構成を示す構成図である。
【図20】 従来の技術における第2の円筒面放射界測
定装置の基本構成を示す構成図である。
定装置の基本構成を示す構成図である。
1 被測定機器、2 プローブ、3 受信機、4 金属
大地面、5 直接波、6 大地反射波、7 回転台、8
プローブ昇降設備、9 電波吸収体、10 垂直方向
駆動機構、11 周方向回転機構、12 半径方向伸縮
機構、13 不要波除去演算装置、14 支持体、15
円筒走査面、16 2次元フィールド変換装置、17
円筒面、18 水平面内走査軌跡、19 水平方向1
次元フィールド変換装置、20 水平面内1次元カット
面、21 垂直面内走査軌跡、22 垂直方向1次元フ
ィールド変換装置、23 垂直面内1次元カット面、2
4 マルチプローブ、25 マルチ円筒走査面、26
水平面内走査用プローブ、27 半径方向走査機構、2
8 垂直方向伸縮機構、29 電界分布合成装置、30
フィールド変換前データ、31 仮想的な床面、32
フィールド変換後データ、33 床面、34 床面を
考慮した電界分布、35 被測定機器の電界放射パター
ン、36 受信プローブの電界放射パターン、37 直
接波(被測定機器から受信プローブへの直接波)、38
直接波の受信プローブへの入射角度、39 反射波に
対する壁面の反射係数、40 被測定機器からの反射波
の受信プローブへの入射角度、41 反射波の伝搬距
離、42 測定した受信電力から非線形の計画法を用い
て電界を推測する波源推定演算装置。
大地面、5 直接波、6 大地反射波、7 回転台、8
プローブ昇降設備、9 電波吸収体、10 垂直方向
駆動機構、11 周方向回転機構、12 半径方向伸縮
機構、13 不要波除去演算装置、14 支持体、15
円筒走査面、16 2次元フィールド変換装置、17
円筒面、18 水平面内走査軌跡、19 水平方向1
次元フィールド変換装置、20 水平面内1次元カット
面、21 垂直面内走査軌跡、22 垂直方向1次元フ
ィールド変換装置、23 垂直面内1次元カット面、2
4 マルチプローブ、25 マルチ円筒走査面、26
水平面内走査用プローブ、27 半径方向走査機構、2
8 垂直方向伸縮機構、29 電界分布合成装置、30
フィールド変換前データ、31 仮想的な床面、32
フィールド変換後データ、33 床面、34 床面を
考慮した電界分布、35 被測定機器の電界放射パター
ン、36 受信プローブの電界放射パターン、37 直
接波(被測定機器から受信プローブへの直接波)、38
直接波の受信プローブへの入射角度、39 反射波に
対する壁面の反射係数、40 被測定機器からの反射波
の受信プローブへの入射角度、41 反射波の伝搬距
離、42 測定した受信電力から非線形の計画法を用い
て電界を推測する波源推定演算装置。
フロントページの続き (72)発明者 内田 雄 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 岡 尚人 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 富山 勝己 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内
Claims (17)
- 【請求項1】 被測定物から放射される放射電界を測定
する円筒面放射界測定装置であって、 放射電界を受信するプローブと、 当該プローブが半径の異なる円筒面状放射電界を受信で
きるように前記プローブを支持した支持手段と、 前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受
信電界に基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受
信電界から不要波を除去する不要波除去手段とを備えた
円筒面放射界測定装置。 - 【請求項2】 被測定物から放射される放射電界を測定
する円筒面放射界測定装置であって、 放射電界を受信するプローブと、 当該プローブが半径の異なる円筒面上を移動できるよう
に前記プローブを支持した支持手段と、 前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受
信電界に基づき、前記プローブが受信した円筒面状の受
信電界から不要波を除去する不要波除去手段とを備えた
円筒面放射界測定装置。 - 【請求項3】 前記円筒面放射界測定装置は、特定半径
の円筒面状電界を異なる半径の円筒面状電界に変換する
変換手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2記載
の円筒面放射界測定装置。 - 【請求項4】 前記円筒面放射界測定装置は、特定半径
の円周状電界を異なる半径の円周状電界に変換する変換
手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2記載の円
筒面放射界測定装置。 - 【請求項5】 前記円筒面放射界測定装置は、前記特定
円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電界
を、異なる半径の線状電界に変換する変換手段を備えた
ことを特徴とする請求項1又は2記載の円筒面放射界測
定装置。 - 【請求項6】 前記円筒面放射界測定装置は、前記被測
定物が設置された地面により放射電界が反射されない場
合の電界を前記地面で完全反射された場合の電界に変換
する変換手段を備えたことを特徴とする請求項1又は2
記載の円筒面放射界測定装置。 - 【請求項7】 前記支持手段は、さらに、放射電界を受
信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の高さ
が異なる水平面を移動できるように支持し、前記不要波
除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数の異
なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受信し
た水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴とす
る請求項1又は2記載の円筒面放射界測定装置。 - 【請求項8】 前記支持手段は、前記プローブが前記円
筒面の中心軸方向に移動できるように前記プローブを支
持する第1の構成部と、当該第1の構成部が前記中心軸
方向とほぼ垂直方向に移動できるように前記第1の構成
部を支持する第2の構成部と、当該第2の構成部が前記
中心軸を中心に回転できるように前記第2の構成部を支
持する第3の構成部を備えたことを特徴とする請求項2
ないし7のいずれかに記載の円筒面放射界測定装置。 - 【請求項9】 前記プローブは、前記円筒面の中心軸と
ほぼ垂直方向に長さの異なる複数のプローブを備えたこ
とを特徴とする請求項1ないし8のいずれかに記載の円
筒面放射界測定装置。 - 【請求項10】 前記不要波除去手段は、当該プローブ
が受信した複数の異なる半径の異なる円筒面状放射電界
測定距離の範囲でフーリエ変換することで直接波以外の
残留反射波成分を除去する演算部からなることを特徴と
する請求項1ないし9のいずれかに記載の円筒面放射電
磁波測定装置。 - 【請求項11】 被測定物から放射される放射電力を測
定する円筒面放射界測定装置であって、 放射電力を受信するプローブと、 当該プローブが半径の異なる円筒面状放射電力を受信で
きるように前記プローブを支持した支持手段と、 前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受
信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測する
変換手段と、 この円筒面状電界から不要波を除去する不要波除去手段
とを備えた円筒面放射界測定装置。 - 【請求項12】 被測定物から放射される放射電力を測
定する円筒面放射界測定装置であって、 放射電力を受信するプローブと、 当該プローブが半径の異なる円筒面上を移動できるよう
に前記プローブを支持した支持手段と、 前記プローブが受信した複数の異なる半径の円筒面状受
信電力に基づき、異なる半径の円筒面状電界を推測する
変換手段と、 この円筒面状電界から不要波を除去する不要波除去手段
とを備えた前記円筒面放射界測定装置。 - 【請求項13】 前記円筒面放射界測定装置は、特定半
径の円筒面状電力から異なる半径の円筒面状電界を推測
する演算手段を備えたことを特徴とする請求項11又は
12記載の円筒面放射界測定装置。 - 【請求項14】 前記円筒面放射界測定装置は、特定半
径の円周状電力から異なる半径の円周状電界を推測する
演算手段を備えたことを特徴とする請求項11又は12
記載の円筒面放射界測定装置。 - 【請求項15】 前記円筒面放射界測定装置は、前記特
定円筒面であって当該円筒面の中心軸と平行な線状電力
から異なる半径の円周状電界を推測する演算手段を備え
たことを特徴とする請求項11又は12記載の円筒面放
射界測定装置。 - 【請求項16】 前記支持手段は、さらに、放射電界を
受信するプローブが半径及び前記円筒面中心軸方向の高
さが異なる水平面を移動できるように支持し、前記不要
波除去手段は、さらに、前記プローブが受信した複数の
異なる高さの水平面の受信電界から前記プローブが受信
した水平面の受信電界の不要波を除去することを特徴と
する請求項13又は14記載の円筒面放射界測定装置。 - 【請求項17】 被測定機器を囲む円筒面上・円周また
は当該円筒面の中心軸と平行な線状で測定した電界また
は電力から被測定機器周辺円筒面上・円周または当該円
筒面の中心軸と平行な線状の電界を計算する演算部と、 当該演算結果から前記被測定物が設置された地面により
放射電界が反射されない場合の電界を前記地面で完全反
射された場合の電界に変換する変換手段と、 前記被測定機器周辺円筒面上・円周または当該円筒面の
中心軸と平行な線状の電界と、前記被測定物が設置され
た地面で完全反射された場合の電界を用いて、任意距離
における合成電界を計算する演算部とを有することを特
徴とする請求項1ないし14のいずれかに記載の円筒波
放射界測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33209197A JPH10221391A (ja) | 1996-12-04 | 1997-12-02 | 円筒面放射界測定装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8-323973 | 1996-12-04 | ||
JP32397396 | 1996-12-04 | ||
JP33209197A JPH10221391A (ja) | 1996-12-04 | 1997-12-02 | 円筒面放射界測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10221391A true JPH10221391A (ja) | 1998-08-21 |
Family
ID=26571357
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33209197A Pending JPH10221391A (ja) | 1996-12-04 | 1997-12-02 | 円筒面放射界測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10221391A (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000230954A (ja) * | 1999-02-12 | 2000-08-22 | Canon Inc | 電磁界測定装置および電磁界分布測定方法 |
WO2003081265A1 (fr) * | 2002-03-26 | 2003-10-02 | Hitachi, Ltd. | Dispositif de detection de source de production d'ondes electromagnetiques |
KR100981256B1 (ko) | 2008-05-23 | 2010-09-10 | 한국전자통신연구원 | 안테나 방사 성능 측정 시스템 및 방법 |
JP2011099856A (ja) * | 2009-11-04 | 2011-05-19 | Astrium Gmbh | 放射界の特性測定のための方法及び装置 |
WO2013042846A1 (ko) * | 2011-09-20 | 2013-03-28 | 충남대학교산학협력단 | 파 발원지 측정 시스템 |
CN103292122A (zh) * | 2013-01-25 | 2013-09-11 | 北京无线电计量测试研究所 | 场强探头自适应固定装置 |
WO2016152257A1 (ja) * | 2015-03-23 | 2016-09-29 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | 電界イメージング方法 |
JP2017161247A (ja) * | 2016-03-07 | 2017-09-14 | 株式会社フォトン | 電磁界解析装置、電磁界解析方法、及びコンピュータプログラム |
JP2017207464A (ja) * | 2016-05-17 | 2017-11-24 | アンリツ株式会社 | アンテナ測定システム及びアンテナ測定方法 |
-
1997
- 1997-12-02 JP JP33209197A patent/JPH10221391A/ja active Pending
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000230954A (ja) * | 1999-02-12 | 2000-08-22 | Canon Inc | 電磁界測定装置および電磁界分布測定方法 |
WO2003081265A1 (fr) * | 2002-03-26 | 2003-10-02 | Hitachi, Ltd. | Dispositif de detection de source de production d'ondes electromagnetiques |
KR100981256B1 (ko) | 2008-05-23 | 2010-09-10 | 한국전자통신연구원 | 안테나 방사 성능 측정 시스템 및 방법 |
JP2011099856A (ja) * | 2009-11-04 | 2011-05-19 | Astrium Gmbh | 放射界の特性測定のための方法及び装置 |
WO2013042846A1 (ko) * | 2011-09-20 | 2013-03-28 | 충남대학교산학협력단 | 파 발원지 측정 시스템 |
CN103292122A (zh) * | 2013-01-25 | 2013-09-11 | 北京无线电计量测试研究所 | 场强探头自适应固定装置 |
WO2016152257A1 (ja) * | 2015-03-23 | 2016-09-29 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | 電界イメージング方法 |
JP2016176887A (ja) * | 2015-03-23 | 2016-10-06 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | 電界イメージング方法 |
US10145791B2 (en) | 2015-03-23 | 2018-12-04 | National Institute Of Information And Communications Technology | Electric field imaging method |
JP2017161247A (ja) * | 2016-03-07 | 2017-09-14 | 株式会社フォトン | 電磁界解析装置、電磁界解析方法、及びコンピュータプログラム |
JP2017207464A (ja) * | 2016-05-17 | 2017-11-24 | アンリツ株式会社 | アンテナ測定システム及びアンテナ測定方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100926561B1 (ko) | 유한 거리간 안테나 방사 패턴 측정 장치 및 방법 | |
KR100802181B1 (ko) | 프레넬 영역에서의 안테나 방사 패턴 측정 시스템 및 그방법 | |
US8330661B2 (en) | System and method for measuring antenna radiation pattern in Fresnel region based on phi-variation method | |
EP3864430B1 (en) | Radome measuring system and method | |
CN106990300A (zh) | 一种同步实现天线方向图与散射像测试的装置及方法 | |
JPH10221391A (ja) | 円筒面放射界測定装置 | |
López-Pérez et al. | Surface accuracy improvement of the Yebes 40 meter radiotelescope using microwave holography | |
JPH1062467A (ja) | 不要電磁波測定システム | |
Hofmann et al. | Challenges of RF absorber characterization: comparison between RCS-and NRL-arch-methods | |
US20070241761A1 (en) | System and method for determining attenuation of electromagnetic waves impacting an electromagnetic shield | |
US5502394A (en) | Compact, portable device for measuring the reflection coefficient of a structure exposed to microwave radiation | |
JP2012068222A (ja) | レーダークロスセクション(rcs)測定システム | |
Spang et al. | Application of probes with multiple outputs on probe-compensated EMC near-field measurements | |
EP1026780B1 (en) | Antenna mirror surface measuring/adjusting device | |
RU2111506C1 (ru) | Устройство для дистанционного измерения отражательных свойств объектов сложной формы в свч диапазоне радиоволн | |
Viikari et al. | A feed scanning based APC technique for compact antenna test ranges | |
Parini et al. | Use of quiet zone prediction in the design of compact antenna test ranges | |
Capozzoli et al. | Millimeter-wave phaseless antenna characterization | |
EP4214801B1 (en) | Radome measurement | |
Ciorba et al. | Radiation physics allows ten-fold optimization of UAV near-field scanning | |
Husein et al. | Characterisation of a D-band horn antenna: Comparison of near-field and OTA measurements | |
Öztürk et al. | Design and realization of a planar near field antenna measurement system | |
Geise et al. | Ka-band measurement results of the irregular near-field scanning system PAMS | |
JP2007187642A (ja) | 放射電磁界測定装置 | |
Wang et al. | Comparison of EMC Chamber Debugging Techiniques above 1GHz |