JPH10221242A - マルチタイタープレート分析装置 - Google Patents
マルチタイタープレート分析装置Info
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- JPH10221242A JPH10221242A JP9026916A JP2691697A JPH10221242A JP H10221242 A JPH10221242 A JP H10221242A JP 9026916 A JP9026916 A JP 9026916A JP 2691697 A JP2691697 A JP 2691697A JP H10221242 A JPH10221242 A JP H10221242A
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- G01N2201/08—Optical fibres; light guides
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定精度の高い簡単な構造をもったマルチタ
イタープレート分析装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明のマルチタイタープレート分析装
置1は、フラッシュランプ2と、フラッシュランプ2か
らの光を均一光にする光均一ロッド8と、均一光を検査
光として伝送する検査用光ファイバ9A〜9Hと参照光
として伝送する参照用光ファイバ9Iとからなる光ファ
イバ群9と、検査用光ファイバ9A〜9Hの出射端面1
8に対向され、一本の検査用光ファイバからの検査光を
通過させる通過スリット21が各出射端面18に対向す
るように移動可能な遮光部材20と、透明なプレート1
4の被測定セル16の試料からの検査光及び参照光を検
出する光検出手段19と、プレート14を移動させる移
動手段とを備える構成である。
イタープレート分析装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明のマルチタイタープレート分析装
置1は、フラッシュランプ2と、フラッシュランプ2か
らの光を均一光にする光均一ロッド8と、均一光を検査
光として伝送する検査用光ファイバ9A〜9Hと参照光
として伝送する参照用光ファイバ9Iとからなる光ファ
イバ群9と、検査用光ファイバ9A〜9Hの出射端面1
8に対向され、一本の検査用光ファイバからの検査光を
通過させる通過スリット21が各出射端面18に対向す
るように移動可能な遮光部材20と、透明なプレート1
4の被測定セル16の試料からの検査光及び参照光を検
出する光検出手段19と、プレート14を移動させる移
動手段とを備える構成である。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、透明なマルチタイ
タープレートの複数の被測定セル内の液体試料等に検査
光を照射し、各試料からの透過光や蛍光を検出すること
により各試料の光学的特性を分析するマルチタイタープ
レート分析装置に関する。
タープレートの複数の被測定セル内の液体試料等に検査
光を照射し、各試料からの透過光や蛍光を検出すること
により各試料の光学的特性を分析するマルチタイタープ
レート分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】マルチタイタープレート分析装置は、プ
ラスチック製の透明なプレート本体の表面に複数個の被
測定セルが形成されたいわゆるマルチタイタープレート
を使用する。そして、各被測定セル内に注入される液体
試料や半透明試料のぞれぞれに検査光を照射し、各試料
から出射される検査光を検出し、この検査光と、この検
査光と同一の光源から出射される参照光とに基づいて、
各試料について吸光度等の光学的な特性が得られる。
ラスチック製の透明なプレート本体の表面に複数個の被
測定セルが形成されたいわゆるマルチタイタープレート
を使用する。そして、各被測定セル内に注入される液体
試料や半透明試料のぞれぞれに検査光を照射し、各試料
から出射される検査光を検出し、この検査光と、この検
査光と同一の光源から出射される参照光とに基づいて、
各試料について吸光度等の光学的な特性が得られる。
【0003】このようなマルチタイタープレート分析装
置としては、例えば実公平6−34676号公報に開示
されるものがある。この分析装置は、屈曲した回転光フ
ァイバが内部に設けられた回転ドラムを有しており、こ
の回転ドラムをモータ等により回転させることで、回転
光ファイバの出射端を、円周状に配列した複数の検査用
光ファイバ及び参照用光ファイバの各入射端面に順次対
向させ、光源からの光を検査光及び参照光として各検査
用光ファイバ及び参照用光ファイバに順次入射させる。
置としては、例えば実公平6−34676号公報に開示
されるものがある。この分析装置は、屈曲した回転光フ
ァイバが内部に設けられた回転ドラムを有しており、こ
の回転ドラムをモータ等により回転させることで、回転
光ファイバの出射端を、円周状に配列した複数の検査用
光ファイバ及び参照用光ファイバの各入射端面に順次対
向させ、光源からの光を検査光及び参照光として各検査
用光ファイバ及び参照用光ファイバに順次入射させる。
【0004】一方、試料によっては、光源から発生する
熱により測定誤差が生じやすいことが知られており、こ
の観点からすると、光源として熱を発生しないフラッシ
ュランプを用いることが好ましい。
熱により測定誤差が生じやすいことが知られており、こ
の観点からすると、光源として熱を発生しないフラッシ
ュランプを用いることが好ましい。
【0005】このようなフラッシュランプを光源とした
分析装置として、特開平8−82594号公報に開示さ
れるものがある。この分析装置は、レンズ、ミラー等の
複数の光学素子により光学系を構成し、フラッシュラン
プからの光をこの光学系を介してマルチタイタープレー
トの各被測定セルに照射させている。ところが、フラッ
シュランプは、その発光毎に光量、発光の空間分布パタ
ーンが変動するため、フラッシュランプの発光毎に参照
光を検出し、この参照光と試料から出射される検査光と
を対比して校正する必要がある。このため、この分析装
置は、光学系中のハーフミラーにより、光源からの光を
分岐させ、この分岐光をさらに複数の光学素子を用いて
参照光として検出させている。
分析装置として、特開平8−82594号公報に開示さ
れるものがある。この分析装置は、レンズ、ミラー等の
複数の光学素子により光学系を構成し、フラッシュラン
プからの光をこの光学系を介してマルチタイタープレー
トの各被測定セルに照射させている。ところが、フラッ
シュランプは、その発光毎に光量、発光の空間分布パタ
ーンが変動するため、フラッシュランプの発光毎に参照
光を検出し、この参照光と試料から出射される検査光と
を対比して校正する必要がある。このため、この分析装
置は、光学系中のハーフミラーにより、光源からの光を
分岐させ、この分岐光をさらに複数の光学素子を用いて
参照光として検出させている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実公平
6−34676号公報に開示されるマルチタイタープレ
ート分析装置は、モータ等の機械的な動作により回転ド
ラムを回転させているので、回転光ファイバの出射端
と、各検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各入射
端面とを対向させる際に、回転光ファイバの光軸と、各
検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各光軸とを正
確に合わせることが困難である。この結果、各検査用光
ファイバと参照用光ファイバとに入射する光強度同士が
等しくならず、十分に高い測定精度が得られないという
問題があった。
6−34676号公報に開示されるマルチタイタープレ
ート分析装置は、モータ等の機械的な動作により回転ド
ラムを回転させているので、回転光ファイバの出射端
と、各検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各入射
端面とを対向させる際に、回転光ファイバの光軸と、各
検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各光軸とを正
確に合わせることが困難である。この結果、各検査用光
ファイバと参照用光ファイバとに入射する光強度同士が
等しくならず、十分に高い測定精度が得られないという
問題があった。
【0007】また、特開平8−82594号公報に開示
されるマルチタイタープレート分析装置は、フラッシュ
ランプの発光毎に、参照光を検出すべく全体として複数
の光学素子で光学系が構成されるため、構造が複雑とな
っており、光軸合せ等の調整に手間がかかる。
されるマルチタイタープレート分析装置は、フラッシュ
ランプの発光毎に、参照光を検出すべく全体として複数
の光学素子で光学系が構成されるため、構造が複雑とな
っており、光軸合せ等の調整に手間がかかる。
【0008】本発明は、前述した問題点に鑑みてなされ
たもので、測定精度の高い簡単な構造をもったマルチタ
イタープレート分析装置を提供することを目的とする。
たもので、測定精度の高い簡単な構造をもったマルチタ
イタープレート分析装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、透明なマルチタイタープレートの複
数の被測定セル内の各試料に検査光を照射するマルチタ
イタープレート分析装置において、フラッシュランプ
と、フラッシュランプからの光を受容し、均一光を出射
する光均一ロッドと、均一光を複数の検査光に分配し、
各検査光をマルチタイタープレートの各被測定セルに伝
送する複数の検査用光ファイバと、均一光を参照光とし
て伝送する参照用光ファイバとからなる光ファイバ群
と、検査用光ファイバの出射端面とマルチタイタープレ
ートとの間に配置され、一本の検査用光ファイバからの
検査光を通過させる通過スリットを有すると共に、通過
スリットが各出射端面に対向配置するように移動可能と
なっている遮光部材と、マルチタイタープレートからの
光及び参照用光ファイバからの参照光を検出する光検出
手段と、被測定セルが各検査用光ファイバの出射端面と
対向するようにマルチタイタープレートを移動させる移
動手段とを備えることを特徴とする。
ために、本発明は、透明なマルチタイタープレートの複
数の被測定セル内の各試料に検査光を照射するマルチタ
イタープレート分析装置において、フラッシュランプ
と、フラッシュランプからの光を受容し、均一光を出射
する光均一ロッドと、均一光を複数の検査光に分配し、
各検査光をマルチタイタープレートの各被測定セルに伝
送する複数の検査用光ファイバと、均一光を参照光とし
て伝送する参照用光ファイバとからなる光ファイバ群
と、検査用光ファイバの出射端面とマルチタイタープレ
ートとの間に配置され、一本の検査用光ファイバからの
検査光を通過させる通過スリットを有すると共に、通過
スリットが各出射端面に対向配置するように移動可能と
なっている遮光部材と、マルチタイタープレートからの
光及び参照用光ファイバからの参照光を検出する光検出
手段と、被測定セルが各検査用光ファイバの出射端面と
対向するようにマルチタイタープレートを移動させる移
動手段とを備えることを特徴とする。
【0010】このマルチタイタープレート分析装置によ
れば、フラッシュランプからの光を光ファイバ群の各検
査用光ファイバを通して検査光として出射し、光ファイ
バ群の参照用光ファイバを通して参照光として出射する
にあたって、フラッシュランプからの光が光均一ロッド
により均一光となって光ファイバ群の入射端面に入射さ
れる。このため、検査用光ファイバから出射される検査
光および参照用光ファイバから出射される参照光の光強
度が等しくなる。また、遮光部材の移動により通過スリ
ットが移動されて検査用光ファイバの出射端面が通過ス
リットと対向すると、その対向する検査用光ファイバか
らの検査光が通過スリットを通ってマルチタイタープレ
ートの被測定セル内の試料に照射され、他の検査用光フ
ァイバからの検査光は遮光部材により遮光される。この
ため、被測定セルにおけるクロストークの防止が図られ
る。更に、移動手段により、マルチタイタープレートの
各被測定セルが検査用光ファイバの出射端面に対向する
ようにマルチタイタープレートを移動させることができ
るため、マルチタイタープレートの任意の被測定セルに
ついて測定することができる。
れば、フラッシュランプからの光を光ファイバ群の各検
査用光ファイバを通して検査光として出射し、光ファイ
バ群の参照用光ファイバを通して参照光として出射する
にあたって、フラッシュランプからの光が光均一ロッド
により均一光となって光ファイバ群の入射端面に入射さ
れる。このため、検査用光ファイバから出射される検査
光および参照用光ファイバから出射される参照光の光強
度が等しくなる。また、遮光部材の移動により通過スリ
ットが移動されて検査用光ファイバの出射端面が通過ス
リットと対向すると、その対向する検査用光ファイバか
らの検査光が通過スリットを通ってマルチタイタープレ
ートの被測定セル内の試料に照射され、他の検査用光フ
ァイバからの検査光は遮光部材により遮光される。この
ため、被測定セルにおけるクロストークの防止が図られ
る。更に、移動手段により、マルチタイタープレートの
各被測定セルが検査用光ファイバの出射端面に対向する
ようにマルチタイタープレートを移動させることができ
るため、マルチタイタープレートの任意の被測定セルに
ついて測定することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明によるマ
ルチタイタープレート分析装置の好適な実施形態につい
て詳細に説明する。
ルチタイタープレート分析装置の好適な実施形態につい
て詳細に説明する。
【0012】図1は、いわゆるタワータイプのマルチタ
イタープレート分析装置1の全体を示す側面図である。
同図に示すように、マルチタイタープレート分析装置
(以下、分析装置という)1は、光源装置40を有し、
この光源装置40は、キセノン・フラッシュランプ2
と、その上部に設けられるトリガソケット5とで構成さ
れ、このフラッシュランプ2とトリガソケット5とは互
いに電気的に接続されている。フラッシュランプ2は、
トリガソケット5から供給される所定周期のトリガ信号
に対応してこれと同じ周期でフラッシュ光を発するもの
であり、例えば反射ミラー内蔵タイプのフラッシュラン
プ2を用いることができる。このフラッシュランプ2
は、中空状の透明なバルブ3内に反射ミラー6を有し、
この反射ミラー6により発光点4からのフラッシュ光を
集光させながら下方に反射するものである。また、フラ
ッシュランプ2の下方には、特定波長の光を選択する平
板状の波長選択フィルタ7が配置されている。
イタープレート分析装置1の全体を示す側面図である。
同図に示すように、マルチタイタープレート分析装置
(以下、分析装置という)1は、光源装置40を有し、
この光源装置40は、キセノン・フラッシュランプ2
と、その上部に設けられるトリガソケット5とで構成さ
れ、このフラッシュランプ2とトリガソケット5とは互
いに電気的に接続されている。フラッシュランプ2は、
トリガソケット5から供給される所定周期のトリガ信号
に対応してこれと同じ周期でフラッシュ光を発するもの
であり、例えば反射ミラー内蔵タイプのフラッシュラン
プ2を用いることができる。このフラッシュランプ2
は、中空状の透明なバルブ3内に反射ミラー6を有し、
この反射ミラー6により発光点4からのフラッシュ光を
集光させながら下方に反射するものである。また、フラ
ッシュランプ2の下方には、特定波長の光を選択する平
板状の波長選択フィルタ7が配置されている。
【0013】また、波長選択フィルタ7の下方には、下
方に向けて延びる光均一ロッド8が設けられ、その入射
端面8aは、反射ミラー6の焦点位置に配置されてい
る。光均一ロッド8は、例えば円形断面をもつ棒状の石
英ガラスで形成されている。石英ガラスで形成したの
は、分光測定等を行う際に紫外線領域の光も透過し得る
ようにするためである。この光均一ロッド8は、発光毎
に変動する空間分布パターンをもったフラッシュ光を、
発光毎に均一な光強度をもった光として出射させるため
のものである。
方に向けて延びる光均一ロッド8が設けられ、その入射
端面8aは、反射ミラー6の焦点位置に配置されてい
る。光均一ロッド8は、例えば円形断面をもつ棒状の石
英ガラスで形成されている。石英ガラスで形成したの
は、分光測定等を行う際に紫外線領域の光も透過し得る
ようにするためである。この光均一ロッド8は、発光毎
に変動する空間分布パターンをもったフラッシュ光を、
発光毎に均一な光強度をもった光として出射させるため
のものである。
【0014】また、この光均一ロッド8の下方には光フ
ァイバ群9が設けられている。この光ファイバ群9は、
例えば8本の検査用光ファイバ9A〜9Hと、1本の参
照用光ファイバ9Iとからなり、各検査用光ファイバ9
A〜9H及び参照用光ファイバ9Iの各一端は、角筒形
状のスリーブ10により束ねられた状態で光均一ロッド
8の出射端面8bに対向配置されている。なお、各検査
用光ファイバ9A〜9H又は参照用光ファイバ9Iとし
ては、例えばコア径1.2mm、クラッド径1.5mm
の光ファイバが用いられる。
ァイバ群9が設けられている。この光ファイバ群9は、
例えば8本の検査用光ファイバ9A〜9Hと、1本の参
照用光ファイバ9Iとからなり、各検査用光ファイバ9
A〜9H及び参照用光ファイバ9Iの各一端は、角筒形
状のスリーブ10により束ねられた状態で光均一ロッド
8の出射端面8bに対向配置されている。なお、各検査
用光ファイバ9A〜9H又は参照用光ファイバ9Iとし
ては、例えばコア径1.2mm、クラッド径1.5mm
の光ファイバが用いられる。
【0015】ここで、図2に示すように、各検査用光フ
ァイバ9A〜9H及び参照用光ファイバ9Iの各一端は
3列3行に配列され、この入射端面群12a〜12iと
光均一ロッド8の円形の出射端面8bとが接合されてい
る。光均一ロッド8の出射端面8bは、それが入射端面
群12a〜12iと接合された状態において、光ファイ
バ群9の各入射端面12a〜12iの各コア部13a〜
13iが完全に覆われる程度の大きさ(例えば、直径8
mm)を有し、これにより光均一ロッド8から出射され
る均一光を各検査用光ファイバ9A〜9H及び参照用光
ファイバ9I内に導入している。
ァイバ9A〜9H及び参照用光ファイバ9Iの各一端は
3列3行に配列され、この入射端面群12a〜12iと
光均一ロッド8の円形の出射端面8bとが接合されてい
る。光均一ロッド8の出射端面8bは、それが入射端面
群12a〜12iと接合された状態において、光ファイ
バ群9の各入射端面12a〜12iの各コア部13a〜
13iが完全に覆われる程度の大きさ(例えば、直径8
mm)を有し、これにより光均一ロッド8から出射され
る均一光を各検査用光ファイバ9A〜9H及び参照用光
ファイバ9I内に導入している。
【0016】そして、図1及び図3に示すように、各検
査用光ファイバ9A〜9Hの各他端は、一列に配列され
てボックス状の測定室11の上面11aに差し込まれ、
参照用光ファイバ9Iの他端は、測定室11の上面11
aにおいて、各検査用光ファイバ9A〜9Hの他端群と
列をなす位置に差し込まれている。
査用光ファイバ9A〜9Hの各他端は、一列に配列され
てボックス状の測定室11の上面11aに差し込まれ、
参照用光ファイバ9Iの他端は、測定室11の上面11
aにおいて、各検査用光ファイバ9A〜9Hの他端群と
列をなす位置に差し込まれている。
【0017】図3に示すように、測定室11は、その内
部にマルチタイタープレート14を有している。マルチ
タイタープレート14は、ポリスチレン等の透明なプラ
スチック材料からなるプレート本体15の上面15aに
複数の被測定セル16を形成して構成され、プレート本
体15の上面15aには、例えば8列12行で計96個
の被測定セル16が配列され、各被測定セル16内に
は、測定すべき液体試料や半透明試料等が注入されてい
る。また、マルチタイタープレート14は、各被測定セ
ル16からの光を通過させる開口部17aが形成された
可動支持プレート17により支持され、この可動支持プ
レート17は、プレート移動モータやボールねじ等から
なる移動手段(図示せず)により図3のY方向に移動可
能となっている。なお、可動支持プレート17は、図4
に示すように制御装置30により制御可能となってい
る。すなわち、可動支持プレート17は、制御装置30
に電気的に接続されたプレート移動モータの駆動により
図3のY方向での移動が可能となっている。
部にマルチタイタープレート14を有している。マルチ
タイタープレート14は、ポリスチレン等の透明なプラ
スチック材料からなるプレート本体15の上面15aに
複数の被測定セル16を形成して構成され、プレート本
体15の上面15aには、例えば8列12行で計96個
の被測定セル16が配列され、各被測定セル16内に
は、測定すべき液体試料や半透明試料等が注入されてい
る。また、マルチタイタープレート14は、各被測定セ
ル16からの光を通過させる開口部17aが形成された
可動支持プレート17により支持され、この可動支持プ
レート17は、プレート移動モータやボールねじ等から
なる移動手段(図示せず)により図3のY方向に移動可
能となっている。なお、可動支持プレート17は、図4
に示すように制御装置30により制御可能となってい
る。すなわち、可動支持プレート17は、制御装置30
に電気的に接続されたプレート移動モータの駆動により
図3のY方向での移動が可能となっている。
【0018】図4に示すように、マルチタイタープレー
ト14は、96個の被測定セル16のうち、行方向(図
4のX方向)に沿って並設する選択された被測定セル1
6a〜16h(以下、選択セルという)が、測定室11
の上面11aから突出する各検査用光ファイバ9A〜9
Hの出射端面18a〜18hに対向配置されている。
ト14は、96個の被測定セル16のうち、行方向(図
4のX方向)に沿って並設する選択された被測定セル1
6a〜16h(以下、選択セルという)が、測定室11
の上面11aから突出する各検査用光ファイバ9A〜9
Hの出射端面18a〜18hに対向配置されている。
【0019】また、マルチタイタープレート14の下方
には、光検出手段として、複数のシリコンフォトダイオ
ード19a〜19hが設けられ、各シリコンフォトダイ
オード19a〜19hは、各選択セル16a〜16hに
対して検査用光ファイバ9A〜9Hの各出射端面18a
〜18hの反対側に配置されている。一方、測定室11
の上面11aから突出する参照用光ファイバ9Iの出射
端は、その出射端面18iが、光検出手段としてのシリ
コンフォトダイオード19iに対向配置されている。
には、光検出手段として、複数のシリコンフォトダイオ
ード19a〜19hが設けられ、各シリコンフォトダイ
オード19a〜19hは、各選択セル16a〜16hに
対して検査用光ファイバ9A〜9Hの各出射端面18a
〜18hの反対側に配置されている。一方、測定室11
の上面11aから突出する参照用光ファイバ9Iの出射
端は、その出射端面18iが、光検出手段としてのシリ
コンフォトダイオード19iに対向配置されている。
【0020】また、マルチタイタープレート14と検査
用光ファイバ9A〜9Hの各出射端面18a〜18hと
の間には、遮光部材としての回転遮光板20が設けら
れ、この回転遮光板20は、その回転中心Oから垂直上
方に延びる回転シャフト22を介して、測定室11の外
部に設けられた回転モータ23に接続されている。
用光ファイバ9A〜9Hの各出射端面18a〜18hと
の間には、遮光部材としての回転遮光板20が設けら
れ、この回転遮光板20は、その回転中心Oから垂直上
方に延びる回転シャフト22を介して、測定室11の外
部に設けられた回転モータ23に接続されている。
【0021】ここで、図4及び図5に示すように、回転
遮光板20には、一本の検査用光ファイバ9から出射さ
れる検査光を通過させる通過スリット21が形成されて
いる。図5に示すように、例えば通過スリット21は、
中心角θを同じにした半径r1の円弧21aと半径r2の
円弧21bとの間の領域で形成され、例えば、通過スリ
ット21は、直径150mmの回転遮光板20に対し検
査用光ファイバ9A〜9Hの各出射端面18a〜18h
を9mm間隔で配列させた場合に、半径r1=50m
m、半径r2=70mm、中心角θ=9°で決定される
大きさを有している。この場合、回転遮光板20は、通
過スリット21の円弧21aにより描かれる二点鎖線で
示す軌跡31aと通過スリット21の円弧21bにより
描かれる図5の二点鎖線で示す軌跡31bとの間の領域
32に、検査用光ファイバ9A〜9Hの各出射端面18
a〜18hが対向する位置に配置される。
遮光板20には、一本の検査用光ファイバ9から出射さ
れる検査光を通過させる通過スリット21が形成されて
いる。図5に示すように、例えば通過スリット21は、
中心角θを同じにした半径r1の円弧21aと半径r2の
円弧21bとの間の領域で形成され、例えば、通過スリ
ット21は、直径150mmの回転遮光板20に対し検
査用光ファイバ9A〜9Hの各出射端面18a〜18h
を9mm間隔で配列させた場合に、半径r1=50m
m、半径r2=70mm、中心角θ=9°で決定される
大きさを有している。この場合、回転遮光板20は、通
過スリット21の円弧21aにより描かれる二点鎖線で
示す軌跡31aと通過スリット21の円弧21bにより
描かれる図5の二点鎖線で示す軌跡31bとの間の領域
32に、検査用光ファイバ9A〜9Hの各出射端面18
a〜18hが対向する位置に配置される。
【0022】また、図1及び図4に示すように、回転モ
ータ23は、例えばトリガソケット5に電気的に接続さ
れた制御装置30により、トリガソケット5からフラッ
シュランプ2に与えられるトリガ信号の周期に同期して
その回転動作の制御が可能となっている。
ータ23は、例えばトリガソケット5に電気的に接続さ
れた制御装置30により、トリガソケット5からフラッ
シュランプ2に与えられるトリガ信号の周期に同期して
その回転動作の制御が可能となっている。
【0023】なお、図6に示すように、マルチタイター
プレート14の各選択セル16a〜16h内の各試料に
平行光を照射させるために、各検査用光ファイバ9A〜
9Hの各出射端面18a〜18hとシリコンフォトダイ
オード19a〜19iとの間には、一対の凸レンズ2
6,29が設けられている。凸レンズ26は、回転遮光
板20とマルチタイタープレート14との間に配置され
るレンズホルダ24の円柱状開口部25a〜25h内に
それぞれ取り付けられ、一方、凸レンズ29は、可動支
持プレート17とシリコンフォトダイオード19a〜1
9iとの間に配置されるレンズホルダ27の円柱状開口
部28a〜28h内にそれぞれ取り付けられている。
プレート14の各選択セル16a〜16h内の各試料に
平行光を照射させるために、各検査用光ファイバ9A〜
9Hの各出射端面18a〜18hとシリコンフォトダイ
オード19a〜19iとの間には、一対の凸レンズ2
6,29が設けられている。凸レンズ26は、回転遮光
板20とマルチタイタープレート14との間に配置され
るレンズホルダ24の円柱状開口部25a〜25h内に
それぞれ取り付けられ、一方、凸レンズ29は、可動支
持プレート17とシリコンフォトダイオード19a〜1
9iとの間に配置されるレンズホルダ27の円柱状開口
部28a〜28h内にそれぞれ取り付けられている。
【0024】また、正確なキャリブレーションを行うた
めに、レンズホルダ24,27にも、それぞれ一対の凸
レンズ26i,29iが設けられ、これらは、それぞれ
レンズホルダ24,27の円柱状開口部25i,28i
内に取り付けられている。なお、より正確なキャリブレ
ーションを行うためには、凸レンズ26iと凸レンズ2
9iとの間には、空のセル又は検査すべき試料のバック
グラウンドとなる溶液を注入したセルを配置することが
より好ましい。
めに、レンズホルダ24,27にも、それぞれ一対の凸
レンズ26i,29iが設けられ、これらは、それぞれ
レンズホルダ24,27の円柱状開口部25i,28i
内に取り付けられている。なお、より正確なキャリブレ
ーションを行うためには、凸レンズ26iと凸レンズ2
9iとの間には、空のセル又は検査すべき試料のバック
グラウンドとなる溶液を注入したセルを配置することが
より好ましい。
【0025】また、図6に示すように、レンズホルダ2
7の上部には、円柱状開口部28a〜28hを塞ぐよう
に石英ガラス板33が貼り付けられ、これにより各円柱
状開口部28a〜28i内の各凸レンズ29a〜29h
の汚れやゴミの付着を防止している。
7の上部には、円柱状開口部28a〜28hを塞ぐよう
に石英ガラス板33が貼り付けられ、これにより各円柱
状開口部28a〜28i内の各凸レンズ29a〜29h
の汚れやゴミの付着を防止している。
【0026】次に、前述したマルチタイタープレート分
析装置1の作用について図7のフローチャートを参照し
て説明する。
析装置1の作用について図7のフローチャートを参照し
て説明する。
【0027】まず、12行あるマルチタイタープレート
の第1行に、検査用光ファイバ9A〜9Hの出射端面1
8a〜18hを合わせる(S1)。そして、回転モータ
23を作動させて、回転遮光板20の通過スリット21
を検査用光ファイバ9Aとマルチタイタープレート14
の第1列の選択セル16aとの間に配置する(S2)。
この状態でフラッシュランプ2を点灯する(S3)と、
フラッシュランプ2からの光は、波長選択フィルタ7を
通して光均一ロッド8に入射され、この光均一ロッド8
において、空間的に不均一な強度分布をもった入射光
は、入射端面8aから出射端面8bまでの間で外部との
境界で反射が繰り返されることにより、出射端面8b全
体にわたって均一な強度分布をもった均一光となって出
射され、この均一光が光ファイバ群9の検査用光ファイ
バ9A〜9H及び参照用光ファイバ9Iに入射される。
の第1行に、検査用光ファイバ9A〜9Hの出射端面1
8a〜18hを合わせる(S1)。そして、回転モータ
23を作動させて、回転遮光板20の通過スリット21
を検査用光ファイバ9Aとマルチタイタープレート14
の第1列の選択セル16aとの間に配置する(S2)。
この状態でフラッシュランプ2を点灯する(S3)と、
フラッシュランプ2からの光は、波長選択フィルタ7を
通して光均一ロッド8に入射され、この光均一ロッド8
において、空間的に不均一な強度分布をもった入射光
は、入射端面8aから出射端面8bまでの間で外部との
境界で反射が繰り返されることにより、出射端面8b全
体にわたって均一な強度分布をもった均一光となって出
射され、この均一光が光ファイバ群9の検査用光ファイ
バ9A〜9H及び参照用光ファイバ9Iに入射される。
【0028】このため、検査用光ファイバ9A〜9Hか
ら出射される検査光及び参照用光ファイバ9Iから出射
される参照光間において、フラッシュランプ2からの不
均一な空間強度分布をもった光に起因する強度差がほと
んど生じなくなり、検査用光ファイバ9A〜9H及び参
照用光ファイバ9Iのそれぞれからほぼ等しい強度の光
が出射される。このように、試料の光学特性を分析する
場合に簡単な構造で測定精度を向上させることができ
る。
ら出射される検査光及び参照用光ファイバ9Iから出射
される参照光間において、フラッシュランプ2からの不
均一な空間強度分布をもった光に起因する強度差がほと
んど生じなくなり、検査用光ファイバ9A〜9H及び参
照用光ファイバ9Iのそれぞれからほぼ等しい強度の光
が出射される。このように、試料の光学特性を分析する
場合に簡単な構造で測定精度を向上させることができ
る。
【0029】そして、検査用光ファイバ9Aから出射さ
れる検査光は、回転遮光板20の通過スリット21を通
ってマルチタイタープレート14の選択セル16内の試
料に入射し、この試料からの光がシリコンフォトダイオ
ード19aで検出される。一方、参照用光ファイバ9I
から出射される参照光は、直接シリコンフォトダイオー
ド19iで検出される。そして、各シリコンフォトダイ
オード19a,19iで検出された光強度がデータとし
て読み込まれ、試料の光学特性の算出が行われる(S
4)。このとき、他の検査用光ファイバ9B〜9Hから
出射される検査光は回転遮光板20により遮光され、選
択セル16a内に照射されることがない。このため、選
択セル16aにおけるクロストークの防止が図られる。
れる検査光は、回転遮光板20の通過スリット21を通
ってマルチタイタープレート14の選択セル16内の試
料に入射し、この試料からの光がシリコンフォトダイオ
ード19aで検出される。一方、参照用光ファイバ9I
から出射される参照光は、直接シリコンフォトダイオー
ド19iで検出される。そして、各シリコンフォトダイ
オード19a,19iで検出された光強度がデータとし
て読み込まれ、試料の光学特性の算出が行われる(S
4)。このとき、他の検査用光ファイバ9B〜9Hから
出射される検査光は回転遮光板20により遮光され、選
択セル16a内に照射されることがない。このため、選
択セル16aにおけるクロストークの防止が図られる。
【0030】次に、フラッシュランプ2の次の発光に合
わせて、回転モータ23を作動させて、通過スリット2
1を検査用光ファイバ9Bの出射端面18bと、第1行
における第2列の選択セル16bとの間に配置し、フラ
ッシュランプ2を点灯させて選択セル16bについての
データの読み込みを行う。このようにして第1行の残り
の第3列〜第8列の6個の選択セル16c〜16hにつ
いても、通過スリット21を順次第1行の第3列〜第8
列の選択セル16c〜16hに合わせることにより、各
選択セル16c〜16h内の試料について順次測定を行
う(S5)。
わせて、回転モータ23を作動させて、通過スリット2
1を検査用光ファイバ9Bの出射端面18bと、第1行
における第2列の選択セル16bとの間に配置し、フラ
ッシュランプ2を点灯させて選択セル16bについての
データの読み込みを行う。このようにして第1行の残り
の第3列〜第8列の6個の選択セル16c〜16hにつ
いても、通過スリット21を順次第1行の第3列〜第8
列の選択セル16c〜16hに合わせることにより、各
選択セル16c〜16h内の試料について順次測定を行
う(S5)。
【0031】以上のように第1行のすべての列について
測定したならば、S1からS5までの操作を第2行〜第
12行についても順次行い、マルチタイタープレート1
4の全ての行について測定したならば、そのマルチタイ
タープレート14についての測定を終了する(S6)。
測定したならば、S1からS5までの操作を第2行〜第
12行についても順次行い、マルチタイタープレート1
4の全ての行について測定したならば、そのマルチタイ
タープレート14についての測定を終了する(S6)。
【0032】なお、本発明は前述した実施形態に限定さ
れるものではない。マルチタイタープレート14とし
て、8列12行の被測定セル16を有するものを使用し
たが、4列6行、2列3行、5列8行のものにも適用す
ることができる。
れるものではない。マルチタイタープレート14とし
て、8列12行の被測定セル16を有するものを使用し
たが、4列6行、2列3行、5列8行のものにも適用す
ることができる。
【0033】また、フラッシュランプとして、反射ミラ
ー内蔵タイプのフラッシュランプ2を用いたが、反射ミ
ラーを内蔵しないタイプのフラッシュランプを用いるこ
ともできる。この場合、発光点4からの光は、波長選択
フィルタ7、及び図示しない集光レンズを介して、集光
されながら光均一ロッド8の入射端面8aに入射される
こととなる。
ー内蔵タイプのフラッシュランプ2を用いたが、反射ミ
ラーを内蔵しないタイプのフラッシュランプを用いるこ
ともできる。この場合、発光点4からの光は、波長選択
フィルタ7、及び図示しない集光レンズを介して、集光
されながら光均一ロッド8の入射端面8aに入射される
こととなる。
【0034】更に、光均一ロッドとしては、円形断面の
ものが用いられているが、断面が多角形(例えば、四角
形、五角形、六角形)のものであってもよく、この場合
でも円形断面の光均一ロッドを用いた場合と同様な効果
が得られる。
ものが用いられているが、断面が多角形(例えば、四角
形、五角形、六角形)のものであってもよく、この場合
でも円形断面の光均一ロッドを用いた場合と同様な効果
が得られる。
【0035】更にまた、遮光部材として、回転遮光板2
0を用いたが、直線的に移動する遮光板を用いてもよ
い。この場合でも、通過スリット21を各検査用光ファ
イバ9A〜9Hの各出射端面18a〜18hに順次対向
させることができる。
0を用いたが、直線的に移動する遮光板を用いてもよ
い。この場合でも、通過スリット21を各検査用光ファ
イバ9A〜9Hの各出射端面18a〜18hに順次対向
させることができる。
【0036】また、通過スリット21の形状や大きさも
前述した実施形態に限定されるものではなく、例えば円
形の通過スリットを軌跡31aと軌跡31bとの間の領
域32に形成するようにしてもよい。
前述した実施形態に限定されるものではなく、例えば円
形の通過スリットを軌跡31aと軌跡31bとの間の領
域32に形成するようにしてもよい。
【0037】更に、検査用光ファイバ9A〜9Hの各出
射端面18a〜18iの配列は、前述の実施形態の場合
のように一列に配列するものに限定されず、如何なるも
のであってもよい。
射端面18a〜18iの配列は、前述の実施形態の場合
のように一列に配列するものに限定されず、如何なるも
のであってもよい。
【0038】更にまた、回転モータ23の回転動作は、
前述の実施形態の場合のようにフラッシュランプ2の断
続的な発光に同期する必要はなく、フラッシュランプ2
の発光に対して非同期としてもよい。
前述の実施形態の場合のようにフラッシュランプ2の断
続的な発光に同期する必要はなく、フラッシュランプ2
の発光に対して非同期としてもよい。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように本発明によるマルチ
タイタープレート分析装置は、光ファイバ群の検査用光
ファイバからの検査光及び参照用光ファイバからの参照
光を光均一ロッドにより相互に等しい強度で出射させる
ことができ、試料の光学特性を分析する場合に、簡単な
構造で測定精度を向上させることができる。また、マル
チタイタープレートの被測定セルに複数の検査光を照射
する場合に、複数の検査用光ファイバからの検査光のう
ち一本の検査用光ファイバからの検査光については、通
過スリットを通して被測定セル内の試料に照射させ、他
の検査用光ファイバからの検査光については、遮光部材
により遮光するようにしているので、被測定セルにおけ
るクロストークを防止することができる。更に、マルチ
タイタープレートは、移動手段により移動可能となって
いるため、任意の被測定セル内の試料について測定がで
きる。
タイタープレート分析装置は、光ファイバ群の検査用光
ファイバからの検査光及び参照用光ファイバからの参照
光を光均一ロッドにより相互に等しい強度で出射させる
ことができ、試料の光学特性を分析する場合に、簡単な
構造で測定精度を向上させることができる。また、マル
チタイタープレートの被測定セルに複数の検査光を照射
する場合に、複数の検査用光ファイバからの検査光のう
ち一本の検査用光ファイバからの検査光については、通
過スリットを通して被測定セル内の試料に照射させ、他
の検査用光ファイバからの検査光については、遮光部材
により遮光するようにしているので、被測定セルにおけ
るクロストークを防止することができる。更に、マルチ
タイタープレートは、移動手段により移動可能となって
いるため、任意の被測定セル内の試料について測定がで
きる。
【図1】本発明によるマルチタイタープレート分析装置
の好適な実施形態を示す側面図である。
の好適な実施形態を示す側面図である。
【図2】検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各入
射端面を示す側面図である。
射端面を示す側面図である。
【図3】測定室の上面を示す平面図である。
【図4】測定室の内部を示す断面図である。
【図5】回転遮光板を示す平面図である。
【図6】測定室の内部を示す拡大断面図である。
【図7】マルチタイタープレート分析装置の動作を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
1…マルチタイタープレート分析装置、2…フラッシュ
ランプ、8…光均一ロッド、9…光ファイバ群、9A〜
9H…検査用光ファイバ、9I…参照用光ファイバ、1
4…マルチタイタープレート、15…プレート本体、1
6…被測定セル、17…可動支持プレート(移動手
段)、18a〜18h…出射端面、19a〜19i…シ
リコンフォトダイオード(光検出手段)、20…回転遮
光板(遮光部材)、21…通過スリット。
ランプ、8…光均一ロッド、9…光ファイバ群、9A〜
9H…検査用光ファイバ、9I…参照用光ファイバ、1
4…マルチタイタープレート、15…プレート本体、1
6…被測定セル、17…可動支持プレート(移動手
段)、18a〜18h…出射端面、19a〜19i…シ
リコンフォトダイオード(光検出手段)、20…回転遮
光板(遮光部材)、21…通過スリット。
Claims (1)
- 【請求項1】 透明なマルチタイタープレートの複数の
被測定セル内の各試料に検査光を照射するマルチタイタ
ープレート分析装置において、 フラッシュランプと、 前記フラッシュランプからの光を受容し、均一光を出射
する光均一ロッドと、 前記均一光を前記複数の検査光に分配し、前記各検査光
を前記マルチタイタープレートの前記各被測定セルに伝
送する複数の検査用光ファイバと、前記均一光を参照光
として伝送する参照用光ファイバとからなる光ファイバ
群と、 前記検査用光ファイバの出射端面と前記マルチタイター
プレートとの間に配置され、一本の前記検査用光ファイ
バからの前記検査光を通過させる通過スリットを有する
と共に、前記通過スリットが前記各出射端面に対向配置
するように移動可能となっている遮光部材と、 前記マルチタイタープレートからの光及び前記参照用光
ファイバからの前記参照光を検出する光検出手段と、 前記被測定セルが前記各検査用光ファイバの出射端面と
対向するように前記マルチタイタープレートを移動させ
る移動手段と、を備えることを特徴とするマルチタイタ
ープレート分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02691697A JP3697007B2 (ja) | 1997-02-10 | 1997-02-10 | マルチタイタープレート分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP02691697A JP3697007B2 (ja) | 1997-02-10 | 1997-02-10 | マルチタイタープレート分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10221242A true JPH10221242A (ja) | 1998-08-21 |
JP3697007B2 JP3697007B2 (ja) | 2005-09-21 |
Family
ID=12206532
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP02691697A Expired - Fee Related JP3697007B2 (ja) | 1997-02-10 | 1997-02-10 | マルチタイタープレート分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3697007B2 (ja) |
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-
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- 1997-02-10 JP JP02691697A patent/JP3697007B2/ja not_active Expired - Fee Related
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