JPH10221242A - マルチタイタープレート分析装置 - Google Patents
マルチタイタープレート分析装置Info
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- JPH10221242A JPH10221242A JP9026916A JP2691697A JPH10221242A JP H10221242 A JPH10221242 A JP H10221242A JP 9026916 A JP9026916 A JP 9026916A JP 2691697 A JP2691697 A JP 2691697A JP H10221242 A JPH10221242 A JP H10221242A
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定精度の高い簡単な構造をもったマルチタ
イタープレート分析装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明のマルチタイタープレート分析装
置１は、フラッシュランプ２と、フラッシュランプ２か
らの光を均一光にする光均一ロッド８と、均一光を検査
光として伝送する検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈと参照光
として伝送する参照用光ファイバ９Ｉとからなる光ファ
イバ群９と、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの出射端面１
８に対向され、一本の検査用光ファイバからの検査光を
通過させる通過スリット２１が各出射端面１８に対向す
るように移動可能な遮光部材２０と、透明なプレート１
４の被測定セル１６の試料からの検査光及び参照光を検
出する光検出手段１９と、プレート１４を移動させる移
動手段とを備える構成である。
イタープレート分析装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明のマルチタイタープレート分析装
置１は、フラッシュランプ２と、フラッシュランプ２か
らの光を均一光にする光均一ロッド８と、均一光を検査
光として伝送する検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈと参照光
として伝送する参照用光ファイバ９Ｉとからなる光ファ
イバ群９と、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの出射端面１
８に対向され、一本の検査用光ファイバからの検査光を
通過させる通過スリット２１が各出射端面１８に対向す
るように移動可能な遮光部材２０と、透明なプレート１
４の被測定セル１６の試料からの検査光及び参照光を検
出する光検出手段１９と、プレート１４を移動させる移
動手段とを備える構成である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、透明なマルチタイ
タープレートの複数の被測定セル内の液体試料等に検査
光を照射し、各試料からの透過光や蛍光を検出すること
により各試料の光学的特性を分析するマルチタイタープ
レート分析装置に関する。
タープレートの複数の被測定セル内の液体試料等に検査
光を照射し、各試料からの透過光や蛍光を検出すること
により各試料の光学的特性を分析するマルチタイタープ
レート分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】マルチタイタープレート分析装置は、プ
ラスチック製の透明なプレート本体の表面に複数個の被
測定セルが形成されたいわゆるマルチタイタープレート
を使用する。そして、各被測定セル内に注入される液体
試料や半透明試料のぞれぞれに検査光を照射し、各試料
から出射される検査光を検出し、この検査光と、この検
査光と同一の光源から出射される参照光とに基づいて、
各試料について吸光度等の光学的な特性が得られる。
ラスチック製の透明なプレート本体の表面に複数個の被
測定セルが形成されたいわゆるマルチタイタープレート
を使用する。そして、各被測定セル内に注入される液体
試料や半透明試料のぞれぞれに検査光を照射し、各試料
から出射される検査光を検出し、この検査光と、この検
査光と同一の光源から出射される参照光とに基づいて、
各試料について吸光度等の光学的な特性が得られる。
【０００３】このようなマルチタイタープレート分析装
置としては、例えば実公平６−３４６７６号公報に開示
されるものがある。この分析装置は、屈曲した回転光フ
ァイバが内部に設けられた回転ドラムを有しており、こ
の回転ドラムをモータ等により回転させることで、回転
光ファイバの出射端を、円周状に配列した複数の検査用
光ファイバ及び参照用光ファイバの各入射端面に順次対
向させ、光源からの光を検査光及び参照光として各検査
用光ファイバ及び参照用光ファイバに順次入射させる。
置としては、例えば実公平６−３４６７６号公報に開示
されるものがある。この分析装置は、屈曲した回転光フ
ァイバが内部に設けられた回転ドラムを有しており、こ
の回転ドラムをモータ等により回転させることで、回転
光ファイバの出射端を、円周状に配列した複数の検査用
光ファイバ及び参照用光ファイバの各入射端面に順次対
向させ、光源からの光を検査光及び参照光として各検査
用光ファイバ及び参照用光ファイバに順次入射させる。
【０００４】一方、試料によっては、光源から発生する
熱により測定誤差が生じやすいことが知られており、こ
の観点からすると、光源として熱を発生しないフラッシ
ュランプを用いることが好ましい。
熱により測定誤差が生じやすいことが知られており、こ
の観点からすると、光源として熱を発生しないフラッシ
ュランプを用いることが好ましい。
【０００５】このようなフラッシュランプを光源とした
分析装置として、特開平８−８２５９４号公報に開示さ
れるものがある。この分析装置は、レンズ、ミラー等の
複数の光学素子により光学系を構成し、フラッシュラン
プからの光をこの光学系を介してマルチタイタープレー
トの各被測定セルに照射させている。ところが、フラッ
シュランプは、その発光毎に光量、発光の空間分布パタ
ーンが変動するため、フラッシュランプの発光毎に参照
光を検出し、この参照光と試料から出射される検査光と
を対比して校正する必要がある。このため、この分析装
置は、光学系中のハーフミラーにより、光源からの光を
分岐させ、この分岐光をさらに複数の光学素子を用いて
参照光として検出させている。
分析装置として、特開平８−８２５９４号公報に開示さ
れるものがある。この分析装置は、レンズ、ミラー等の
複数の光学素子により光学系を構成し、フラッシュラン
プからの光をこの光学系を介してマルチタイタープレー
トの各被測定セルに照射させている。ところが、フラッ
シュランプは、その発光毎に光量、発光の空間分布パタ
ーンが変動するため、フラッシュランプの発光毎に参照
光を検出し、この参照光と試料から出射される検査光と
を対比して校正する必要がある。このため、この分析装
置は、光学系中のハーフミラーにより、光源からの光を
分岐させ、この分岐光をさらに複数の光学素子を用いて
参照光として検出させている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実公平
６−３４６７６号公報に開示されるマルチタイタープレ
ート分析装置は、モータ等の機械的な動作により回転ド
ラムを回転させているので、回転光ファイバの出射端
と、各検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各入射
端面とを対向させる際に、回転光ファイバの光軸と、各
検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各光軸とを正
確に合わせることが困難である。この結果、各検査用光
ファイバと参照用光ファイバとに入射する光強度同士が
等しくならず、十分に高い測定精度が得られないという
問題があった。
６−３４６７６号公報に開示されるマルチタイタープレ
ート分析装置は、モータ等の機械的な動作により回転ド
ラムを回転させているので、回転光ファイバの出射端
と、各検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各入射
端面とを対向させる際に、回転光ファイバの光軸と、各
検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各光軸とを正
確に合わせることが困難である。この結果、各検査用光
ファイバと参照用光ファイバとに入射する光強度同士が
等しくならず、十分に高い測定精度が得られないという
問題があった。
【０００７】また、特開平８−８２５９４号公報に開示
されるマルチタイタープレート分析装置は、フラッシュ
ランプの発光毎に、参照光を検出すべく全体として複数
の光学素子で光学系が構成されるため、構造が複雑とな
っており、光軸合せ等の調整に手間がかかる。
されるマルチタイタープレート分析装置は、フラッシュ
ランプの発光毎に、参照光を検出すべく全体として複数
の光学素子で光学系が構成されるため、構造が複雑とな
っており、光軸合せ等の調整に手間がかかる。
【０００８】本発明は、前述した問題点に鑑みてなされ
たもので、測定精度の高い簡単な構造をもったマルチタ
イタープレート分析装置を提供することを目的とする。
たもので、測定精度の高い簡単な構造をもったマルチタ
イタープレート分析装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明は、透明なマルチタイタープレートの複
数の被測定セル内の各試料に検査光を照射するマルチタ
イタープレート分析装置において、フラッシュランプ
と、フラッシュランプからの光を受容し、均一光を出射
する光均一ロッドと、均一光を複数の検査光に分配し、
各検査光をマルチタイタープレートの各被測定セルに伝
送する複数の検査用光ファイバと、均一光を参照光とし
て伝送する参照用光ファイバとからなる光ファイバ群
と、検査用光ファイバの出射端面とマルチタイタープレ
ートとの間に配置され、一本の検査用光ファイバからの
検査光を通過させる通過スリットを有すると共に、通過
スリットが各出射端面に対向配置するように移動可能と
なっている遮光部材と、マルチタイタープレートからの
光及び参照用光ファイバからの参照光を検出する光検出
手段と、被測定セルが各検査用光ファイバの出射端面と
対向するようにマルチタイタープレートを移動させる移
動手段とを備えることを特徴とする。
ために、本発明は、透明なマルチタイタープレートの複
数の被測定セル内の各試料に検査光を照射するマルチタ
イタープレート分析装置において、フラッシュランプ
と、フラッシュランプからの光を受容し、均一光を出射
する光均一ロッドと、均一光を複数の検査光に分配し、
各検査光をマルチタイタープレートの各被測定セルに伝
送する複数の検査用光ファイバと、均一光を参照光とし
て伝送する参照用光ファイバとからなる光ファイバ群
と、検査用光ファイバの出射端面とマルチタイタープレ
ートとの間に配置され、一本の検査用光ファイバからの
検査光を通過させる通過スリットを有すると共に、通過
スリットが各出射端面に対向配置するように移動可能と
なっている遮光部材と、マルチタイタープレートからの
光及び参照用光ファイバからの参照光を検出する光検出
手段と、被測定セルが各検査用光ファイバの出射端面と
対向するようにマルチタイタープレートを移動させる移
動手段とを備えることを特徴とする。
【００１０】このマルチタイタープレート分析装置によ
れば、フラッシュランプからの光を光ファイバ群の各検
査用光ファイバを通して検査光として出射し、光ファイ
バ群の参照用光ファイバを通して参照光として出射する
にあたって、フラッシュランプからの光が光均一ロッド
により均一光となって光ファイバ群の入射端面に入射さ
れる。このため、検査用光ファイバから出射される検査
光および参照用光ファイバから出射される参照光の光強
度が等しくなる。また、遮光部材の移動により通過スリ
ットが移動されて検査用光ファイバの出射端面が通過ス
リットと対向すると、その対向する検査用光ファイバか
らの検査光が通過スリットを通ってマルチタイタープレ
ートの被測定セル内の試料に照射され、他の検査用光フ
ァイバからの検査光は遮光部材により遮光される。この
ため、被測定セルにおけるクロストークの防止が図られ
る。更に、移動手段により、マルチタイタープレートの
各被測定セルが検査用光ファイバの出射端面に対向する
ようにマルチタイタープレートを移動させることができ
るため、マルチタイタープレートの任意の被測定セルに
ついて測定することができる。
れば、フラッシュランプからの光を光ファイバ群の各検
査用光ファイバを通して検査光として出射し、光ファイ
バ群の参照用光ファイバを通して参照光として出射する
にあたって、フラッシュランプからの光が光均一ロッド
により均一光となって光ファイバ群の入射端面に入射さ
れる。このため、検査用光ファイバから出射される検査
光および参照用光ファイバから出射される参照光の光強
度が等しくなる。また、遮光部材の移動により通過スリ
ットが移動されて検査用光ファイバの出射端面が通過ス
リットと対向すると、その対向する検査用光ファイバか
らの検査光が通過スリットを通ってマルチタイタープレ
ートの被測定セル内の試料に照射され、他の検査用光フ
ァイバからの検査光は遮光部材により遮光される。この
ため、被測定セルにおけるクロストークの防止が図られ
る。更に、移動手段により、マルチタイタープレートの
各被測定セルが検査用光ファイバの出射端面に対向する
ようにマルチタイタープレートを移動させることができ
るため、マルチタイタープレートの任意の被測定セルに
ついて測定することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明によるマ
ルチタイタープレート分析装置の好適な実施形態につい
て詳細に説明する。
ルチタイタープレート分析装置の好適な実施形態につい
て詳細に説明する。
【００１２】図１は、いわゆるタワータイプのマルチタ
イタープレート分析装置１の全体を示す側面図である。
同図に示すように、マルチタイタープレート分析装置
（以下、分析装置という）１は、光源装置４０を有し、
この光源装置４０は、キセノン・フラッシュランプ２
と、その上部に設けられるトリガソケット５とで構成さ
れ、このフラッシュランプ２とトリガソケット５とは互
いに電気的に接続されている。フラッシュランプ２は、
トリガソケット５から供給される所定周期のトリガ信号
に対応してこれと同じ周期でフラッシュ光を発するもの
であり、例えば反射ミラー内蔵タイプのフラッシュラン
プ２を用いることができる。このフラッシュランプ２
は、中空状の透明なバルブ３内に反射ミラー６を有し、
この反射ミラー６により発光点４からのフラッシュ光を
集光させながら下方に反射するものである。また、フラ
ッシュランプ２の下方には、特定波長の光を選択する平
板状の波長選択フィルタ７が配置されている。
イタープレート分析装置１の全体を示す側面図である。
同図に示すように、マルチタイタープレート分析装置
（以下、分析装置という）１は、光源装置４０を有し、
この光源装置４０は、キセノン・フラッシュランプ２
と、その上部に設けられるトリガソケット５とで構成さ
れ、このフラッシュランプ２とトリガソケット５とは互
いに電気的に接続されている。フラッシュランプ２は、
トリガソケット５から供給される所定周期のトリガ信号
に対応してこれと同じ周期でフラッシュ光を発するもの
であり、例えば反射ミラー内蔵タイプのフラッシュラン
プ２を用いることができる。このフラッシュランプ２
は、中空状の透明なバルブ３内に反射ミラー６を有し、
この反射ミラー６により発光点４からのフラッシュ光を
集光させながら下方に反射するものである。また、フラ
ッシュランプ２の下方には、特定波長の光を選択する平
板状の波長選択フィルタ７が配置されている。
【００１３】また、波長選択フィルタ７の下方には、下
方に向けて延びる光均一ロッド８が設けられ、その入射
端面８ａは、反射ミラー６の焦点位置に配置されてい
る。光均一ロッド８は、例えば円形断面をもつ棒状の石
英ガラスで形成されている。石英ガラスで形成したの
は、分光測定等を行う際に紫外線領域の光も透過し得る
ようにするためである。この光均一ロッド８は、発光毎
に変動する空間分布パターンをもったフラッシュ光を、
発光毎に均一な光強度をもった光として出射させるため
のものである。
方に向けて延びる光均一ロッド８が設けられ、その入射
端面８ａは、反射ミラー６の焦点位置に配置されてい
る。光均一ロッド８は、例えば円形断面をもつ棒状の石
英ガラスで形成されている。石英ガラスで形成したの
は、分光測定等を行う際に紫外線領域の光も透過し得る
ようにするためである。この光均一ロッド８は、発光毎
に変動する空間分布パターンをもったフラッシュ光を、
発光毎に均一な光強度をもった光として出射させるため
のものである。
【００１４】また、この光均一ロッド８の下方には光フ
ァイバ群９が設けられている。この光ファイバ群９は、
例えば８本の検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈと、１本の参
照用光ファイバ９Ｉとからなり、各検査用光ファイバ９
Ａ〜９Ｈ及び参照用光ファイバ９Ｉの各一端は、角筒形
状のスリーブ１０により束ねられた状態で光均一ロッド
８の出射端面８ｂに対向配置されている。なお、各検査
用光ファイバ９Ａ〜９Ｈ又は参照用光ファイバ９Ｉとし
ては、例えばコア径１．２ｍｍ、クラッド径１．５ｍｍ
の光ファイバが用いられる。
ァイバ群９が設けられている。この光ファイバ群９は、
例えば８本の検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈと、１本の参
照用光ファイバ９Ｉとからなり、各検査用光ファイバ９
Ａ〜９Ｈ及び参照用光ファイバ９Ｉの各一端は、角筒形
状のスリーブ１０により束ねられた状態で光均一ロッド
８の出射端面８ｂに対向配置されている。なお、各検査
用光ファイバ９Ａ〜９Ｈ又は参照用光ファイバ９Ｉとし
ては、例えばコア径１．２ｍｍ、クラッド径１．５ｍｍ
の光ファイバが用いられる。
【００１５】ここで、図２に示すように、各検査用光フ
ァイバ９Ａ〜９Ｈ及び参照用光ファイバ９Ｉの各一端は
３列３行に配列され、この入射端面群１２ａ〜１２ｉと
光均一ロッド８の円形の出射端面８ｂとが接合されてい
る。光均一ロッド８の出射端面８ｂは、それが入射端面
群１２ａ〜１２ｉと接合された状態において、光ファイ
バ群９の各入射端面１２ａ〜１２ｉの各コア部１３ａ〜
１３ｉが完全に覆われる程度の大きさ（例えば、直径８
ｍｍ）を有し、これにより光均一ロッド８から出射され
る均一光を各検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈ及び参照用光
ファイバ９Ｉ内に導入している。
ァイバ９Ａ〜９Ｈ及び参照用光ファイバ９Ｉの各一端は
３列３行に配列され、この入射端面群１２ａ〜１２ｉと
光均一ロッド８の円形の出射端面８ｂとが接合されてい
る。光均一ロッド８の出射端面８ｂは、それが入射端面
群１２ａ〜１２ｉと接合された状態において、光ファイ
バ群９の各入射端面１２ａ〜１２ｉの各コア部１３ａ〜
１３ｉが完全に覆われる程度の大きさ（例えば、直径８
ｍｍ）を有し、これにより光均一ロッド８から出射され
る均一光を各検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈ及び参照用光
ファイバ９Ｉ内に導入している。
【００１６】そして、図１及び図３に示すように、各検
査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各他端は、一列に配列され
てボックス状の測定室１１の上面１１ａに差し込まれ、
参照用光ファイバ９Ｉの他端は、測定室１１の上面１１
ａにおいて、各検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの他端群と
列をなす位置に差し込まれている。
査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各他端は、一列に配列され
てボックス状の測定室１１の上面１１ａに差し込まれ、
参照用光ファイバ９Ｉの他端は、測定室１１の上面１１
ａにおいて、各検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの他端群と
列をなす位置に差し込まれている。
【００１７】図３に示すように、測定室１１は、その内
部にマルチタイタープレート１４を有している。マルチ
タイタープレート１４は、ポリスチレン等の透明なプラ
スチック材料からなるプレート本体１５の上面１５ａに
複数の被測定セル１６を形成して構成され、プレート本
体１５の上面１５ａには、例えば８列１２行で計９６個
の被測定セル１６が配列され、各被測定セル１６内に
は、測定すべき液体試料や半透明試料等が注入されてい
る。また、マルチタイタープレート１４は、各被測定セ
ル１６からの光を通過させる開口部１７ａが形成された
可動支持プレート１７により支持され、この可動支持プ
レート１７は、プレート移動モータやボールねじ等から
なる移動手段（図示せず）により図３のＹ方向に移動可
能となっている。なお、可動支持プレート１７は、図４
に示すように制御装置３０により制御可能となってい
る。すなわち、可動支持プレート１７は、制御装置３０
に電気的に接続されたプレート移動モータの駆動により
図３のＹ方向での移動が可能となっている。
部にマルチタイタープレート１４を有している。マルチ
タイタープレート１４は、ポリスチレン等の透明なプラ
スチック材料からなるプレート本体１５の上面１５ａに
複数の被測定セル１６を形成して構成され、プレート本
体１５の上面１５ａには、例えば８列１２行で計９６個
の被測定セル１６が配列され、各被測定セル１６内に
は、測定すべき液体試料や半透明試料等が注入されてい
る。また、マルチタイタープレート１４は、各被測定セ
ル１６からの光を通過させる開口部１７ａが形成された
可動支持プレート１７により支持され、この可動支持プ
レート１７は、プレート移動モータやボールねじ等から
なる移動手段（図示せず）により図３のＹ方向に移動可
能となっている。なお、可動支持プレート１７は、図４
に示すように制御装置３０により制御可能となってい
る。すなわち、可動支持プレート１７は、制御装置３０
に電気的に接続されたプレート移動モータの駆動により
図３のＹ方向での移動が可能となっている。
【００１８】図４に示すように、マルチタイタープレー
ト１４は、９６個の被測定セル１６のうち、行方向（図
４のＸ方向）に沿って並設する選択された被測定セル１
６ａ〜１６ｈ（以下、選択セルという）が、測定室１１
の上面１１ａから突出する各検査用光ファイバ９Ａ〜９
Ｈの出射端面１８ａ〜１８ｈに対向配置されている。
ト１４は、９６個の被測定セル１６のうち、行方向（図
４のＸ方向）に沿って並設する選択された被測定セル１
６ａ〜１６ｈ（以下、選択セルという）が、測定室１１
の上面１１ａから突出する各検査用光ファイバ９Ａ〜９
Ｈの出射端面１８ａ〜１８ｈに対向配置されている。
【００１９】また、マルチタイタープレート１４の下方
には、光検出手段として、複数のシリコンフォトダイオ
ード１９ａ〜１９ｈが設けられ、各シリコンフォトダイ
オード１９ａ〜１９ｈは、各選択セル１６ａ〜１６ｈに
対して検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８ａ
〜１８ｈの反対側に配置されている。一方、測定室１１
の上面１１ａから突出する参照用光ファイバ９Ｉの出射
端は、その出射端面１８ｉが、光検出手段としてのシリ
コンフォトダイオード１９ｉに対向配置されている。
には、光検出手段として、複数のシリコンフォトダイオ
ード１９ａ〜１９ｈが設けられ、各シリコンフォトダイ
オード１９ａ〜１９ｈは、各選択セル１６ａ〜１６ｈに
対して検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８ａ
〜１８ｈの反対側に配置されている。一方、測定室１１
の上面１１ａから突出する参照用光ファイバ９Ｉの出射
端は、その出射端面１８ｉが、光検出手段としてのシリ
コンフォトダイオード１９ｉに対向配置されている。
【００２０】また、マルチタイタープレート１４と検査
用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８ａ〜１８ｈと
の間には、遮光部材としての回転遮光板２０が設けら
れ、この回転遮光板２０は、その回転中心Ｏから垂直上
方に延びる回転シャフト２２を介して、測定室１１の外
部に設けられた回転モータ２３に接続されている。
用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８ａ〜１８ｈと
の間には、遮光部材としての回転遮光板２０が設けら
れ、この回転遮光板２０は、その回転中心Ｏから垂直上
方に延びる回転シャフト２２を介して、測定室１１の外
部に設けられた回転モータ２３に接続されている。
【００２１】ここで、図４及び図５に示すように、回転
遮光板２０には、一本の検査用光ファイバ９から出射さ
れる検査光を通過させる通過スリット２１が形成されて
いる。図５に示すように、例えば通過スリット２１は、
中心角θを同じにした半径ｒ1の円弧２１ａと半径ｒ2の
円弧２１ｂとの間の領域で形成され、例えば、通過スリ
ット２１は、直径１５０ｍｍの回転遮光板２０に対し検
査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８ａ〜１８ｈ
を９ｍｍ間隔で配列させた場合に、半径ｒ1＝５０ｍ
ｍ、半径ｒ2＝７０ｍｍ、中心角θ＝９°で決定される
大きさを有している。この場合、回転遮光板２０は、通
過スリット２１の円弧２１ａにより描かれる二点鎖線で
示す軌跡３１ａと通過スリット２１の円弧２１ｂにより
描かれる図５の二点鎖線で示す軌跡３１ｂとの間の領域
３２に、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８
ａ〜１８ｈが対向する位置に配置される。
遮光板２０には、一本の検査用光ファイバ９から出射さ
れる検査光を通過させる通過スリット２１が形成されて
いる。図５に示すように、例えば通過スリット２１は、
中心角θを同じにした半径ｒ1の円弧２１ａと半径ｒ2の
円弧２１ｂとの間の領域で形成され、例えば、通過スリ
ット２１は、直径１５０ｍｍの回転遮光板２０に対し検
査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８ａ〜１８ｈ
を９ｍｍ間隔で配列させた場合に、半径ｒ1＝５０ｍ
ｍ、半径ｒ2＝７０ｍｍ、中心角θ＝９°で決定される
大きさを有している。この場合、回転遮光板２０は、通
過スリット２１の円弧２１ａにより描かれる二点鎖線で
示す軌跡３１ａと通過スリット２１の円弧２１ｂにより
描かれる図５の二点鎖線で示す軌跡３１ｂとの間の領域
３２に、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８
ａ〜１８ｈが対向する位置に配置される。
【００２２】また、図１及び図４に示すように、回転モ
ータ２３は、例えばトリガソケット５に電気的に接続さ
れた制御装置３０により、トリガソケット５からフラッ
シュランプ２に与えられるトリガ信号の周期に同期して
その回転動作の制御が可能となっている。
ータ２３は、例えばトリガソケット５に電気的に接続さ
れた制御装置３０により、トリガソケット５からフラッ
シュランプ２に与えられるトリガ信号の周期に同期して
その回転動作の制御が可能となっている。
【００２３】なお、図６に示すように、マルチタイター
プレート１４の各選択セル１６ａ〜１６ｈ内の各試料に
平行光を照射させるために、各検査用光ファイバ９Ａ〜
９Ｈの各出射端面１８ａ〜１８ｈとシリコンフォトダイ
オード１９ａ〜１９ｉとの間には、一対の凸レンズ２
６，２９が設けられている。凸レンズ２６は、回転遮光
板２０とマルチタイタープレート１４との間に配置され
るレンズホルダ２４の円柱状開口部２５ａ〜２５ｈ内に
それぞれ取り付けられ、一方、凸レンズ２９は、可動支
持プレート１７とシリコンフォトダイオード１９ａ〜１
９ｉとの間に配置されるレンズホルダ２７の円柱状開口
部２８ａ〜２８ｈ内にそれぞれ取り付けられている。
プレート１４の各選択セル１６ａ〜１６ｈ内の各試料に
平行光を照射させるために、各検査用光ファイバ９Ａ〜
９Ｈの各出射端面１８ａ〜１８ｈとシリコンフォトダイ
オード１９ａ〜１９ｉとの間には、一対の凸レンズ２
６，２９が設けられている。凸レンズ２６は、回転遮光
板２０とマルチタイタープレート１４との間に配置され
るレンズホルダ２４の円柱状開口部２５ａ〜２５ｈ内に
それぞれ取り付けられ、一方、凸レンズ２９は、可動支
持プレート１７とシリコンフォトダイオード１９ａ〜１
９ｉとの間に配置されるレンズホルダ２７の円柱状開口
部２８ａ〜２８ｈ内にそれぞれ取り付けられている。
【００２４】また、正確なキャリブレーションを行うた
めに、レンズホルダ２４，２７にも、それぞれ一対の凸
レンズ２６ｉ，２９ｉが設けられ、これらは、それぞれ
レンズホルダ２４，２７の円柱状開口部２５ｉ，２８ｉ
内に取り付けられている。なお、より正確なキャリブレ
ーションを行うためには、凸レンズ２６ｉと凸レンズ２
９ｉとの間には、空のセル又は検査すべき試料のバック
グラウンドとなる溶液を注入したセルを配置することが
より好ましい。
めに、レンズホルダ２４，２７にも、それぞれ一対の凸
レンズ２６ｉ，２９ｉが設けられ、これらは、それぞれ
レンズホルダ２４，２７の円柱状開口部２５ｉ，２８ｉ
内に取り付けられている。なお、より正確なキャリブレ
ーションを行うためには、凸レンズ２６ｉと凸レンズ２
９ｉとの間には、空のセル又は検査すべき試料のバック
グラウンドとなる溶液を注入したセルを配置することが
より好ましい。
【００２５】また、図６に示すように、レンズホルダ２
７の上部には、円柱状開口部２８ａ〜２８ｈを塞ぐよう
に石英ガラス板３３が貼り付けられ、これにより各円柱
状開口部２８ａ〜２８ｉ内の各凸レンズ２９ａ〜２９ｈ
の汚れやゴミの付着を防止している。
７の上部には、円柱状開口部２８ａ〜２８ｈを塞ぐよう
に石英ガラス板３３が貼り付けられ、これにより各円柱
状開口部２８ａ〜２８ｉ内の各凸レンズ２９ａ〜２９ｈ
の汚れやゴミの付着を防止している。
【００２６】次に、前述したマルチタイタープレート分
析装置１の作用について図７のフローチャートを参照し
て説明する。
析装置１の作用について図７のフローチャートを参照し
て説明する。
【００２７】まず、１２行あるマルチタイタープレート
の第１行に、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの出射端面１
８ａ〜１８ｈを合わせる（Ｓ１）。そして、回転モータ
２３を作動させて、回転遮光板２０の通過スリット２１
を検査用光ファイバ９Ａとマルチタイタープレート１４
の第１列の選択セル１６ａとの間に配置する（Ｓ２）。
この状態でフラッシュランプ２を点灯する（Ｓ３）と、
フラッシュランプ２からの光は、波長選択フィルタ７を
通して光均一ロッド８に入射され、この光均一ロッド８
において、空間的に不均一な強度分布をもった入射光
は、入射端面８ａから出射端面８ｂまでの間で外部との
境界で反射が繰り返されることにより、出射端面８ｂ全
体にわたって均一な強度分布をもった均一光となって出
射され、この均一光が光ファイバ群９の検査用光ファイ
バ９Ａ〜９Ｈ及び参照用光ファイバ９Ｉに入射される。
の第１行に、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの出射端面１
８ａ〜１８ｈを合わせる（Ｓ１）。そして、回転モータ
２３を作動させて、回転遮光板２０の通過スリット２１
を検査用光ファイバ９Ａとマルチタイタープレート１４
の第１列の選択セル１６ａとの間に配置する（Ｓ２）。
この状態でフラッシュランプ２を点灯する（Ｓ３）と、
フラッシュランプ２からの光は、波長選択フィルタ７を
通して光均一ロッド８に入射され、この光均一ロッド８
において、空間的に不均一な強度分布をもった入射光
は、入射端面８ａから出射端面８ｂまでの間で外部との
境界で反射が繰り返されることにより、出射端面８ｂ全
体にわたって均一な強度分布をもった均一光となって出
射され、この均一光が光ファイバ群９の検査用光ファイ
バ９Ａ〜９Ｈ及び参照用光ファイバ９Ｉに入射される。
【００２８】このため、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈか
ら出射される検査光及び参照用光ファイバ９Ｉから出射
される参照光間において、フラッシュランプ２からの不
均一な空間強度分布をもった光に起因する強度差がほと
んど生じなくなり、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈ及び参
照用光ファイバ９Ｉのそれぞれからほぼ等しい強度の光
が出射される。このように、試料の光学特性を分析する
場合に簡単な構造で測定精度を向上させることができ
る。
ら出射される検査光及び参照用光ファイバ９Ｉから出射
される参照光間において、フラッシュランプ２からの不
均一な空間強度分布をもった光に起因する強度差がほと
んど生じなくなり、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈ及び参
照用光ファイバ９Ｉのそれぞれからほぼ等しい強度の光
が出射される。このように、試料の光学特性を分析する
場合に簡単な構造で測定精度を向上させることができ
る。
【００２９】そして、検査用光ファイバ９Ａから出射さ
れる検査光は、回転遮光板２０の通過スリット２１を通
ってマルチタイタープレート１４の選択セル１６内の試
料に入射し、この試料からの光がシリコンフォトダイオ
ード１９ａで検出される。一方、参照用光ファイバ９Ｉ
から出射される参照光は、直接シリコンフォトダイオー
ド１９ｉで検出される。そして、各シリコンフォトダイ
オード１９ａ，１９ｉで検出された光強度がデータとし
て読み込まれ、試料の光学特性の算出が行われる（Ｓ
４）。このとき、他の検査用光ファイバ９Ｂ〜９Ｈから
出射される検査光は回転遮光板２０により遮光され、選
択セル１６ａ内に照射されることがない。このため、選
択セル１６ａにおけるクロストークの防止が図られる。
れる検査光は、回転遮光板２０の通過スリット２１を通
ってマルチタイタープレート１４の選択セル１６内の試
料に入射し、この試料からの光がシリコンフォトダイオ
ード１９ａで検出される。一方、参照用光ファイバ９Ｉ
から出射される参照光は、直接シリコンフォトダイオー
ド１９ｉで検出される。そして、各シリコンフォトダイ
オード１９ａ，１９ｉで検出された光強度がデータとし
て読み込まれ、試料の光学特性の算出が行われる（Ｓ
４）。このとき、他の検査用光ファイバ９Ｂ〜９Ｈから
出射される検査光は回転遮光板２０により遮光され、選
択セル１６ａ内に照射されることがない。このため、選
択セル１６ａにおけるクロストークの防止が図られる。
【００３０】次に、フラッシュランプ２の次の発光に合
わせて、回転モータ２３を作動させて、通過スリット２
１を検査用光ファイバ９Ｂの出射端面１８ｂと、第１行
における第２列の選択セル１６ｂとの間に配置し、フラ
ッシュランプ２を点灯させて選択セル１６ｂについての
データの読み込みを行う。このようにして第１行の残り
の第３列〜第８列の６個の選択セル１６ｃ〜１６ｈにつ
いても、通過スリット２１を順次第１行の第３列〜第８
列の選択セル１６ｃ〜１６ｈに合わせることにより、各
選択セル１６ｃ〜１６ｈ内の試料について順次測定を行
う（Ｓ５）。
わせて、回転モータ２３を作動させて、通過スリット２
１を検査用光ファイバ９Ｂの出射端面１８ｂと、第１行
における第２列の選択セル１６ｂとの間に配置し、フラ
ッシュランプ２を点灯させて選択セル１６ｂについての
データの読み込みを行う。このようにして第１行の残り
の第３列〜第８列の６個の選択セル１６ｃ〜１６ｈにつ
いても、通過スリット２１を順次第１行の第３列〜第８
列の選択セル１６ｃ〜１６ｈに合わせることにより、各
選択セル１６ｃ〜１６ｈ内の試料について順次測定を行
う（Ｓ５）。
【００３１】以上のように第１行のすべての列について
測定したならば、Ｓ１からＳ５までの操作を第２行〜第
１２行についても順次行い、マルチタイタープレート１
４の全ての行について測定したならば、そのマルチタイ
タープレート１４についての測定を終了する（Ｓ６）。
測定したならば、Ｓ１からＳ５までの操作を第２行〜第
１２行についても順次行い、マルチタイタープレート１
４の全ての行について測定したならば、そのマルチタイ
タープレート１４についての測定を終了する（Ｓ６）。
【００３２】なお、本発明は前述した実施形態に限定さ
れるものではない。マルチタイタープレート１４とし
て、８列１２行の被測定セル１６を有するものを使用し
たが、４列６行、２列３行、５列８行のものにも適用す
ることができる。
れるものではない。マルチタイタープレート１４とし
て、８列１２行の被測定セル１６を有するものを使用し
たが、４列６行、２列３行、５列８行のものにも適用す
ることができる。
【００３３】また、フラッシュランプとして、反射ミラ
ー内蔵タイプのフラッシュランプ２を用いたが、反射ミ
ラーを内蔵しないタイプのフラッシュランプを用いるこ
ともできる。この場合、発光点４からの光は、波長選択
フィルタ７、及び図示しない集光レンズを介して、集光
されながら光均一ロッド８の入射端面８ａに入射される
こととなる。
ー内蔵タイプのフラッシュランプ２を用いたが、反射ミ
ラーを内蔵しないタイプのフラッシュランプを用いるこ
ともできる。この場合、発光点４からの光は、波長選択
フィルタ７、及び図示しない集光レンズを介して、集光
されながら光均一ロッド８の入射端面８ａに入射される
こととなる。
【００３４】更に、光均一ロッドとしては、円形断面の
ものが用いられているが、断面が多角形（例えば、四角
形、五角形、六角形）のものであってもよく、この場合
でも円形断面の光均一ロッドを用いた場合と同様な効果
が得られる。
ものが用いられているが、断面が多角形（例えば、四角
形、五角形、六角形）のものであってもよく、この場合
でも円形断面の光均一ロッドを用いた場合と同様な効果
が得られる。
【００３５】更にまた、遮光部材として、回転遮光板２
０を用いたが、直線的に移動する遮光板を用いてもよ
い。この場合でも、通過スリット２１を各検査用光ファ
イバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８ａ〜１８ｈに順次対向
させることができる。
０を用いたが、直線的に移動する遮光板を用いてもよ
い。この場合でも、通過スリット２１を各検査用光ファ
イバ９Ａ〜９Ｈの各出射端面１８ａ〜１８ｈに順次対向
させることができる。
【００３６】また、通過スリット２１の形状や大きさも
前述した実施形態に限定されるものではなく、例えば円
形の通過スリットを軌跡３１ａと軌跡３１ｂとの間の領
域３２に形成するようにしてもよい。
前述した実施形態に限定されるものではなく、例えば円
形の通過スリットを軌跡３１ａと軌跡３１ｂとの間の領
域３２に形成するようにしてもよい。
【００３７】更に、検査用光ファイバ９Ａ〜９Ｈの各出
射端面１８ａ〜１８ｉの配列は、前述の実施形態の場合
のように一列に配列するものに限定されず、如何なるも
のであってもよい。
射端面１８ａ〜１８ｉの配列は、前述の実施形態の場合
のように一列に配列するものに限定されず、如何なるも
のであってもよい。
【００３８】更にまた、回転モータ２３の回転動作は、
前述の実施形態の場合のようにフラッシュランプ２の断
続的な発光に同期する必要はなく、フラッシュランプ２
の発光に対して非同期としてもよい。
前述の実施形態の場合のようにフラッシュランプ２の断
続的な発光に同期する必要はなく、フラッシュランプ２
の発光に対して非同期としてもよい。
【００３９】
【発明の効果】以上説明したように本発明によるマルチ
タイタープレート分析装置は、光ファイバ群の検査用光
ファイバからの検査光及び参照用光ファイバからの参照
光を光均一ロッドにより相互に等しい強度で出射させる
ことができ、試料の光学特性を分析する場合に、簡単な
構造で測定精度を向上させることができる。また、マル
チタイタープレートの被測定セルに複数の検査光を照射
する場合に、複数の検査用光ファイバからの検査光のう
ち一本の検査用光ファイバからの検査光については、通
過スリットを通して被測定セル内の試料に照射させ、他
の検査用光ファイバからの検査光については、遮光部材
により遮光するようにしているので、被測定セルにおけ
るクロストークを防止することができる。更に、マルチ
タイタープレートは、移動手段により移動可能となって
いるため、任意の被測定セル内の試料について測定がで
きる。
タイタープレート分析装置は、光ファイバ群の検査用光
ファイバからの検査光及び参照用光ファイバからの参照
光を光均一ロッドにより相互に等しい強度で出射させる
ことができ、試料の光学特性を分析する場合に、簡単な
構造で測定精度を向上させることができる。また、マル
チタイタープレートの被測定セルに複数の検査光を照射
する場合に、複数の検査用光ファイバからの検査光のう
ち一本の検査用光ファイバからの検査光については、通
過スリットを通して被測定セル内の試料に照射させ、他
の検査用光ファイバからの検査光については、遮光部材
により遮光するようにしているので、被測定セルにおけ
るクロストークを防止することができる。更に、マルチ
タイタープレートは、移動手段により移動可能となって
いるため、任意の被測定セル内の試料について測定がで
きる。
【図１】本発明によるマルチタイタープレート分析装置
の好適な実施形態を示す側面図である。
の好適な実施形態を示す側面図である。
【図２】検査用光ファイバ及び参照用光ファイバの各入
射端面を示す側面図である。
射端面を示す側面図である。
【図３】測定室の上面を示す平面図である。
【図４】測定室の内部を示す断面図である。
【図５】回転遮光板を示す平面図である。
【図６】測定室の内部を示す拡大断面図である。
【図７】マルチタイタープレート分析装置の動作を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
１…マルチタイタープレート分析装置、２…フラッシュ
ランプ、８…光均一ロッド、９…光ファイバ群、９Ａ〜
９Ｈ…検査用光ファイバ、９Ｉ…参照用光ファイバ、１
４…マルチタイタープレート、１５…プレート本体、１
６…被測定セル、１７…可動支持プレート（移動手
段）、１８ａ〜１８ｈ…出射端面、１９ａ〜１９ｉ…シ
リコンフォトダイオード（光検出手段）、２０…回転遮
光板（遮光部材）、２１…通過スリット。
ランプ、８…光均一ロッド、９…光ファイバ群、９Ａ〜
９Ｈ…検査用光ファイバ、９Ｉ…参照用光ファイバ、１
４…マルチタイタープレート、１５…プレート本体、１
６…被測定セル、１７…可動支持プレート（移動手
段）、１８ａ〜１８ｈ…出射端面、１９ａ〜１９ｉ…シ
リコンフォトダイオード（光検出手段）、２０…回転遮
光板（遮光部材）、２１…通過スリット。
Claims (1)
- 【請求項１】 透明なマルチタイタープレートの複数の
被測定セル内の各試料に検査光を照射するマルチタイタ
ープレート分析装置において、 フラッシュランプと、 前記フラッシュランプからの光を受容し、均一光を出射
する光均一ロッドと、 前記均一光を前記複数の検査光に分配し、前記各検査光
を前記マルチタイタープレートの前記各被測定セルに伝
送する複数の検査用光ファイバと、前記均一光を参照光
として伝送する参照用光ファイバとからなる光ファイバ
群と、 前記検査用光ファイバの出射端面と前記マルチタイター
プレートとの間に配置され、一本の前記検査用光ファイ
バからの前記検査光を通過させる通過スリットを有する
と共に、前記通過スリットが前記各出射端面に対向配置
するように移動可能となっている遮光部材と、 前記マルチタイタープレートからの光及び前記参照用光
ファイバからの前記参照光を検出する光検出手段と、 前記被測定セルが前記各検査用光ファイバの出射端面と
対向するように前記マルチタイタープレートを移動させ
る移動手段と、を備えることを特徴とするマルチタイタ
ープレート分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02691697A JP3697007B2 (ja) | 1997-02-10 | 1997-02-10 | マルチタイタープレート分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02691697A JP3697007B2 (ja) | 1997-02-10 | 1997-02-10 | マルチタイタープレート分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10221242A true JPH10221242A (ja) | 1998-08-21 |
| JP3697007B2 JP3697007B2 (ja) | 2005-09-21 |
Family
ID=12206532
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02691697A Expired - Fee Related JP3697007B2 (ja) | 1997-02-10 | 1997-02-10 | マルチタイタープレート分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3697007B2 (ja) |
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-
1997
- 1997-02-10 JP JP02691697A patent/JP3697007B2/ja not_active Expired - Fee Related
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