JPH10206152A - 機械高測定方法 - Google Patents
機械高測定方法Info
- Publication number
- JPH10206152A JPH10206152A JP2332397A JP2332397A JPH10206152A JP H10206152 A JPH10206152 A JP H10206152A JP 2332397 A JP2332397 A JP 2332397A JP 2332397 A JP2332397 A JP 2332397A JP H10206152 A JPH10206152 A JP H10206152A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- surveying instrument
- telescope
- angle
- height
- machine height
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測量機の基点からの高い精度の機械高を容易
に得る機械高測定方法を提供する。 【解決手段】 測量機２０の望遠鏡２２の先端に反射ミ
ラーユニット３０を取り付ける。反射ミラーユニット３
０に、光軸に対し角度θだけ傾斜して反射ミラー３２を
取り付ける。望遠鏡２２から反射ミラー３２を介して基
点Ｐを視準したときの望遠鏡２２の振り角γを、測量機
２０の内部に設けた測角器によって測定する。角度θ
と、振り角γと、測量機２０の中心Ｏから反射ミラー３
２までの距離ａとから、三角法を用いて機械高Ｈを求め
る。
に得る機械高測定方法を提供する。 【解決手段】 測量機２０の望遠鏡２２の先端に反射ミ
ラーユニット３０を取り付ける。反射ミラーユニット３
０に、光軸に対し角度θだけ傾斜して反射ミラー３２を
取り付ける。望遠鏡２２から反射ミラー３２を介して基
点Ｐを視準したときの望遠鏡２２の振り角γを、測量機
２０の内部に設けた測角器によって測定する。角度θ
と、振り角γと、測量機２０の中心Ｏから反射ミラー３
２までの距離ａとから、三角法を用いて機械高Ｈを求め
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばセオドライ
ト、トータルステーションなどの機械高を測定する機械
高測定方法に関する。
ト、トータルステーションなどの機械高を測定する機械
高測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年測量機の電子化により、光波を用い
て瞬時に測距作業を行なえる光波測距装置が開発されて
いる。このような測距作業では、測量機内の既知点を原
点とし、この原点を地上測点の鉛直線上に設置して行な
われる。測距時のデータから実際の地点高度を算出する
には、原点と地上測点との鉛直距離、即ち機械高が必要
である。
て瞬時に測距作業を行なえる光波測距装置が開発されて
いる。このような測距作業では、測量機内の既知点を原
点とし、この原点を地上測点の鉛直線上に設置して行な
われる。測距時のデータから実際の地点高度を算出する
には、原点と地上測点との鉛直距離、即ち機械高が必要
である。
【０００３】従来機械高の測定は、例えば基点上に設置
された測量機本体の側面カバーの機械高測定マーク位置
に係止金具を取り付け、巻尺の一端を係止金具に引掛
け、他端を地面まで延ばして巻尺の目盛りを読み取るこ
とにより行なわれていた。
された測量機本体の側面カバーの機械高測定マーク位置
に係止金具を取り付け、巻尺の一端を係止金具に引掛
け、他端を地面まで延ばして巻尺の目盛りを読み取るこ
とにより行なわれていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このように測
量機の側面に巻尺を引掛けて測定する場合、測定点が基
点から離れているので誤差が生じやすい。また巻尺によ
る測定の精度は低く、光波測距装置による高い精度の測
定を行なっても、演算結果の精度は荒くなる。
量機の側面に巻尺を引掛けて測定する場合、測定点が基
点から離れているので誤差が生じやすい。また巻尺によ
る測定の精度は低く、光波測距装置による高い精度の測
定を行なっても、演算結果の精度は荒くなる。
【０００５】本発明は、この様な問題点に鑑みてなされ
たものであり、高い精度の基点からの機械高を容易に得
る機械高測定方法を提供することを目的とする。
たものであり、高い精度の基点からの機械高を容易に得
る機械高測定方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明による機械高測定
方法は、測角器を備えた測量機の望遠鏡の前方に設けら
れ、この望遠鏡を通過する光の光路を所定の角度に偏向
する反射部材を備えた機械高測定方法であって、測量機
の望遠鏡から反射部材を介して基点を視準するときの、
反射部材の水平軸周りに関する回転角が測定され、基点
から測量機までの高さが、測量機中心から反射部材まで
の距離と、所定の角度と、回転角とに基づいて求められ
ることを特徴としている。
方法は、測角器を備えた測量機の望遠鏡の前方に設けら
れ、この望遠鏡を通過する光の光路を所定の角度に偏向
する反射部材を備えた機械高測定方法であって、測量機
の望遠鏡から反射部材を介して基点を視準するときの、
反射部材の水平軸周りに関する回転角が測定され、基点
から測量機までの高さが、測量機中心から反射部材まで
の距離と、所定の角度と、回転角とに基づいて求められ
ることを特徴としている。
【０００７】機械高測定方法において、好ましくは、反
射部材が望遠鏡に対し着脱可能に設けられる。
射部材が望遠鏡に対し着脱可能に設けられる。
【０００８】機械高測定方法において、好ましくは、反
射部材が箱型の保持部材の開口面と対向する面に取り付
けられる。さらに好ましくは、保持部材が望遠鏡と嵌合
することにより、測量機に取り付けられる。
射部材が箱型の保持部材の開口面と対向する面に取り付
けられる。さらに好ましくは、保持部材が望遠鏡と嵌合
することにより、測量機に取り付けられる。
【０００９】機械高測定方法において、好ましくは、測
量機の高さが、測量機に設けられたコンピュータにより
演算され、測量機の表示部に表示される。
量機の高さが、測量機に設けられたコンピュータにより
演算され、測量機の表示部に表示される。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明による機械高測定方
法の実施形態について添付図面を参照して説明する。
法の実施形態について添付図面を参照して説明する。
【００１１】図１には機械高測定アダプタが測量機、お
よび三脚とともに示される。測量機２０は三脚１２の上
にスライド可能に固定され、測量機２０の中心Ｏが基点
Ｐのほぼ真上にくるように載置される。三脚１２は３本
の脚１４が伸縮自在になっており、高さが調節可能であ
る。
よび三脚とともに示される。測量機２０は三脚１２の上
にスライド可能に固定され、測量機２０の中心Ｏが基点
Ｐのほぼ真上にくるように載置される。三脚１２は３本
の脚１４が伸縮自在になっており、高さが調節可能であ
る。
【００１２】測量機２０の望遠鏡２２は中心Ｏに関して
水平軸回り（図２のＡ方向）に回動可能であり、その前
方先端には反射ミラーユニット３０が取付られる。筒状
の反射ミラーユニット３０には、望遠鏡２２の光軸を所
定角度（図中、角度αで示される）だけ偏向し、望遠鏡
２２の中心Ｏから距離ａだけ離れた反射部材である反射
ミラー３２が設けられる。
水平軸回り（図２のＡ方向）に回動可能であり、その前
方先端には反射ミラーユニット３０が取付られる。筒状
の反射ミラーユニット３０には、望遠鏡２２の光軸を所
定角度（図中、角度αで示される）だけ偏向し、望遠鏡
２２の中心Ｏから距離ａだけ離れた反射部材である反射
ミラー３２が設けられる。
【００１３】測量機２０の望遠鏡２２からの光（図中、
光軸が１点鎖線で示される）は反射ミラーユニット３０
の反射ミラー３２によって所定角度をもって下方に偏向
され、地面上の基点Ｐにより反射させられた後、望遠鏡
２２に戻る。
光軸が１点鎖線で示される）は反射ミラーユニット３０
の反射ミラー３２によって所定角度をもって下方に偏向
され、地面上の基点Ｐにより反射させられた後、望遠鏡
２２に戻る。
【００１４】図２は、反射ミラーユニット３０を取り付
けた状態の測量機２０の側面図である。図３は、反射ミ
ラーユニット３０の近傍の正面図であり、図４は反射ミ
ラーユニット３０の拡大断面図である。なお、図３の１
点鎖線Ｓは中心Ｏを通る水平軸を示す。
けた状態の測量機２０の側面図である。図３は、反射ミ
ラーユニット３０の近傍の正面図であり、図４は反射ミ
ラーユニット３０の拡大断面図である。なお、図３の１
点鎖線Ｓは中心Ｏを通る水平軸を示す。
【００１５】測量機２０は台座２１において三脚１２に
支持固定される。台座２１には３つの水平調節部２１ａ
が設けられ、測量機２０の水平調節を行なう。台座２１
の上方には、この台座２１の鉛直軸に関して回動可能な
Ｕ字型の支持部２３が備えられる。支持部２３は図示し
ない調整ネジによって回動する。支持部２３の下部に
は、種々の測量機２０の情報を表示する表示部２４が設
けられる。また支持部２３には例えば各装置を制御する
マイクロコンピュータ（図示しない）、および求心望遠
鏡２５が備えられる。
支持固定される。台座２１には３つの水平調節部２１ａ
が設けられ、測量機２０の水平調節を行なう。台座２１
の上方には、この台座２１の鉛直軸に関して回動可能な
Ｕ字型の支持部２３が備えられる。支持部２３は図示し
ない調整ネジによって回動する。支持部２３の下部に
は、種々の測量機２０の情報を表示する表示部２４が設
けられる。また支持部２３には例えば各装置を制御する
マイクロコンピュータ（図示しない）、および求心望遠
鏡２５が備えられる。
【００１６】図３で明らかなように、支持部２３の間に
は望遠鏡支持部２６が設けられ、望遠鏡支持部２６は支
持部２３によってＳ軸周り（図２のＡ方向）に回動自在
に支持される。望遠鏡支持部２６の略中央にはＳ軸およ
び支持部２３に対して垂直の方向に延びる望遠鏡２２が
設けられる。図２を参照すると、望遠鏡支持部２６と望
遠鏡２２は微動ネジ２７により一体的に回動する。望遠
鏡２２の一端には着脱可能な接眼レンズ２９が設けら
れ、他端側には反射ミラーユニット３０が取付けられ
る。なお、望遠鏡２２には透明の焦点板（図示しない）
が設けられ、焦点板は中心を識別するための十字マーク
が施される。
は望遠鏡支持部２６が設けられ、望遠鏡支持部２６は支
持部２３によってＳ軸周り（図２のＡ方向）に回動自在
に支持される。望遠鏡支持部２６の略中央にはＳ軸およ
び支持部２３に対して垂直の方向に延びる望遠鏡２２が
設けられる。図２を参照すると、望遠鏡支持部２６と望
遠鏡２２は微動ネジ２７により一体的に回動する。望遠
鏡２２の一端には着脱可能な接眼レンズ２９が設けら
れ、他端側には反射ミラーユニット３０が取付けられ
る。なお、望遠鏡２２には透明の焦点板（図示しない）
が設けられ、焦点板は中心を識別するための十字マーク
が施される。
【００１７】支持部２３には、望遠鏡２２の光軸のＳ軸
周りにおける回転角（以下、振り角γという）を測定す
る測角器（図示しない）が設けられる。測角器は例えば
公知のエンコーダであり、測定された振り角γはデジタ
ルデータとしてマイクロコンピュータに一時的に記憶さ
れる。
周りにおける回転角（以下、振り角γという）を測定す
る測角器（図示しない）が設けられる。測角器は例えば
公知のエンコーダであり、測定された振り角γはデジタ
ルデータとしてマイクロコンピュータに一時的に記憶さ
れる。
【００１８】反射ミラーユニット３０は、一端側に、断
面が正方形であり一側面が解放された角柱部３１を有
し、他端側に正方形断面より大きい断面の円筒部３３を
有する鏡筒３４（保持部材）を備えている。鏡筒３４の
角柱部３１は一端部の上方において斜面部３５を有し、
この斜面部３５の内壁には反射ミラー３２が光軸に対し
一定の角度（図中、θで示される）で取り付けられる。
なお、角度θは任意に変更することができる。角度θと
前述の角度αとの関係は（１）式で示される。
面が正方形であり一側面が解放された角柱部３１を有
し、他端側に正方形断面より大きい断面の円筒部３３を
有する鏡筒３４（保持部材）を備えている。鏡筒３４の
角柱部３１は一端部の上方において斜面部３５を有し、
この斜面部３５の内壁には反射ミラー３２が光軸に対し
一定の角度（図中、θで示される）で取り付けられる。
なお、角度θは任意に変更することができる。角度θと
前述の角度αとの関係は（１）式で示される。
【００１９】 α＝180 °−２θ （０＜θ＜90°） ・・・（１）
【００２０】反射ミラー３２と対向する円筒部３３は、
環状の鏡筒固定ネジ３６によって望遠鏡２２の先端に固
定される。即ち望遠鏡２２の内周面には周方向の溝２２
ａ，２２ｂが段状に形成されており、円筒部３３の外周
面３３ａは、溝２２ｂに係合する。円筒部３３の円筒部
当接面３３ｃは望遠鏡当接面２２ｃによって光軸方向に
係止される。望遠鏡２２の先端において、円筒部３３の
外周面３３ｂと望遠鏡２２の溝２２ａとの間には鏡筒固
定ネジ３６が設けられる。望遠鏡２２の溝２２ａは鏡筒
固定ネジ３６と螺合するネジに形成される。溝２２ａと
鏡筒固定ネジ３６の外周面３６ａとが螺合するととも
に、鏡筒固定ネジ３６と円筒部３３が係合することによ
り、鏡筒３４の光軸方向の位置が規制される。円筒部３
３には鏡筒固定ネジ３６が鏡筒３４から抜け落ちないよ
うにするための抜け止めストッパ３８が設けられる。
環状の鏡筒固定ネジ３６によって望遠鏡２２の先端に固
定される。即ち望遠鏡２２の内周面には周方向の溝２２
ａ，２２ｂが段状に形成されており、円筒部３３の外周
面３３ａは、溝２２ｂに係合する。円筒部３３の円筒部
当接面３３ｃは望遠鏡当接面２２ｃによって光軸方向に
係止される。望遠鏡２２の先端において、円筒部３３の
外周面３３ｂと望遠鏡２２の溝２２ａとの間には鏡筒固
定ネジ３６が設けられる。望遠鏡２２の溝２２ａは鏡筒
固定ネジ３６と螺合するネジに形成される。溝２２ａと
鏡筒固定ネジ３６の外周面３６ａとが螺合するととも
に、鏡筒固定ネジ３６と円筒部３３が係合することによ
り、鏡筒３４の光軸方向の位置が規制される。円筒部３
３には鏡筒固定ネジ３６が鏡筒３４から抜け落ちないよ
うにするための抜け止めストッパ３８が設けられる。
【００２１】図５は鏡筒３４を正面から見た図である。
鏡筒３４の円筒部３３には、反射ミラー３２の周方向の
位置を規制するために、位置決めピン４０が設けられて
いる。望遠鏡２２の望遠鏡当接面２２ｂにはこの位置決
めピン４０と係合する位置決めピン溝４２が形成され
る。
鏡筒３４の円筒部３３には、反射ミラー３２の周方向の
位置を規制するために、位置決めピン４０が設けられて
いる。望遠鏡２２の望遠鏡当接面２２ｂにはこの位置決
めピン４０と係合する位置決めピン溝４２が形成され
る。
【００２２】次に、図１を再び参照して動作を説明す
る。まず基点Ｐのほぼ真上に置いた三脚１２に測量機２
０を取付け、整準および求心を行なう。マイクロコンピ
ュータには機械中心Ｏから反射ミラー３２の点Ｒまでの
距離ａ、および角度θが既知の値として記憶されてい
る。
る。まず基点Ｐのほぼ真上に置いた三脚１２に測量機２
０を取付け、整準および求心を行なう。マイクロコンピ
ュータには機械中心Ｏから反射ミラー３２の点Ｒまでの
距離ａ、および角度θが既知の値として記憶されてい
る。
【００２３】鏡筒３４の円筒部３３を望遠鏡２２の溝２
２ｂに嵌合させ、望遠鏡２２の光軸に対してラジアル方
向の位置を決める。次に光軸周りに鏡筒３４を回転さ
せ、位置決めピン４０を位置決めピン溝４２に嵌合させ
て、反射ミラー３２が光軸周りに関して角度θに定まる
ように、周方向の位置を決定する。鏡筒固定ネジ３６を
望遠鏡ネジ２２ａに締め込むことにより、円筒部当接面
３３ｃが望遠鏡当接面２２ｃに当接し、反射ミラー３２
は測量機２０の中心から距離ａだけ離れた位置に位置決
めされる。
２ｂに嵌合させ、望遠鏡２２の光軸に対してラジアル方
向の位置を決める。次に光軸周りに鏡筒３４を回転さ
せ、位置決めピン４０を位置決めピン溝４２に嵌合させ
て、反射ミラー３２が光軸周りに関して角度θに定まる
ように、周方向の位置を決定する。鏡筒固定ネジ３６を
望遠鏡ネジ２２ａに締め込むことにより、円筒部当接面
３３ｃが望遠鏡当接面２２ｃに当接し、反射ミラー３２
は測量機２０の中心から距離ａだけ離れた位置に位置決
めされる。
【００２４】図６は、望遠鏡２２から基点Ｐの視準を行
なったときの画像を示す。望遠鏡２２を水平軸周りおよ
び鉛直軸周りに回動させ、望遠鏡２２から覗いて、焦点
板６０の十字線７０と基点Ｐを合わせる。図６に示すよ
うに、マークの一致が行なわれた後、測角を行ない、測
量機２０の中心Ｏを通る水平軸周りの反射ミラー３２
（点Ｒ）の振り角γが求められる。なお振り角γは、反
時計回りを正方向とし、水平を０とする。
なったときの画像を示す。望遠鏡２２を水平軸周りおよ
び鉛直軸周りに回動させ、望遠鏡２２から覗いて、焦点
板６０の十字線７０と基点Ｐを合わせる。図６に示すよ
うに、マークの一致が行なわれた後、測角を行ない、測
量機２０の中心Ｏを通る水平軸周りの反射ミラー３２
（点Ｒ）の振り角γが求められる。なお振り角γは、反
時計回りを正方向とし、水平を０とする。
【００２５】図７は、機械高Ｈを求めるための点Ｏ、
Ｐ、Ｒの位置関係を示す図である。点Ｏから直線ＲＰに
下ろした垂線を線分ＯＳとすると、三角法により線分Ｏ
Ｓの長さｂに関して（２）式が成り立つ。
Ｐ、Ｒの位置関係を示す図である。点Ｏから直線ＲＰに
下ろした垂線を線分ＯＳとすると、三角法により線分Ｏ
Ｓの長さｂに関して（２）式が成り立つ。
【００２６】 ｂ＝ａ・ｓｉｎ（180 °−α）＝Ｈ・ｓｉｎβ ・・・（２） ただし、 β＝90°−α＋γ
【００２７】（２）式を変形し（１）式を代入して求め
られた（３）式により、辺ＯＰの長さ、即ち機械高Ｈが
求められる。なお、基点Ｐが地面に対し凹凸がある場合
は、機械高Ｈは凹凸分だけ補正されるものとする。
られた（３）式により、辺ＯＰの長さ、即ち機械高Ｈが
求められる。なお、基点Ｐが地面に対し凹凸がある場合
は、機械高Ｈは凹凸分だけ補正されるものとする。
【００２８】 Ｈ＝ａ・ｓｉｎ（180 °−α）／ｓｉｎβ ＝ａ・ｓｉｎ（２θ）／ｓｉｎ（γ＋２θ−90°） ・・・（３）
【００２９】この演算は例えば支持部２３内のマイクロ
コンピュータで行なわれ、演算結果が表示部２４に表示
される。
コンピュータで行なわれ、演算結果が表示部２４に表示
される。
【００３０】以上のように、本発明では測量機に備えら
れた測角器を用いて振り角γを測定するので、正確な機
械高さが容易に求められる。また従来は巻尺を用いてい
たので、巻尺を引張ることにより測量機の片側に負荷が
かかり、測量機を動かしたり倒したりすることがあった
が、本発明の機械高測定方法における機械高測定アダプ
タを用いた測量機では倒れることはない。
れた測角器を用いて振り角γを測定するので、正確な機
械高さが容易に求められる。また従来は巻尺を用いてい
たので、巻尺を引張ることにより測量機の片側に負荷が
かかり、測量機を動かしたり倒したりすることがあった
が、本発明の機械高測定方法における機械高測定アダプ
タを用いた測量機では倒れることはない。
【００３１】なお、本実施形態では反射ミラーは光軸に
関して、位置決めピンにより周方向は固定されるが、特
に限定されることはなく回転自在にしてもよい。また、
望遠鏡を覗いた際、焦点距離の違う接眼レンズに適宜変
更して見やすい倍率にしてもよい。
関して、位置決めピンにより周方向は固定されるが、特
に限定されることはなく回転自在にしてもよい。また、
望遠鏡を覗いた際、焦点距離の違う接眼レンズに適宜変
更して見やすい倍率にしてもよい。
【００３２】
【発明の効果】本発明によると、高い精度の基点からの
機械高を容易に得る機械高測定方法を提供することがで
きる。
機械高を容易に得る機械高測定方法を提供することがで
きる。
【図１】機械高測定アダプタを測量機、および三脚とと
もに示す図である。
もに示す図である。
【図２】図１に示す測量機の部分拡大側面図である。
【図３】図１に示す測量機の部分拡大正面図である。
【図４】図１に示す反射ミラーユニットの縦断面図であ
る。
る。
【図５】図４に示す鏡筒の正面図である。
【図６】望遠鏡から基点を視準したときの図である。
【図７】機械高を求めるための各点の位置を示す模式図
である。
である。
１２ 三脚 ２０ 測量機 ３０ 反射ミラーユニット ３２ 反射ミラー
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１０年１月７日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２４】 図６は、望遠鏡２２から基点Ｐの視準を
行なったときの画像を示す。望遠鏡２２を水平軸周りお
よび鉛直軸周りに回動させ、望遠鏡２２から覗いて、焦
点板６０の十字線７０と基点Ｐを合わせる。図６に示す
ように、マークの一致が行なわれた後、測角を行ない、
測量機２０の中心Ｏを通る水平軸周りの反射ミラー３２
（点Ｒ）の振り角γが求められる。例えば振り角γは、
反時計周りを正方向とし、水平を０とする。
行なったときの画像を示す。望遠鏡２２を水平軸周りお
よび鉛直軸周りに回動させ、望遠鏡２２から覗いて、焦
点板６０の十字線７０と基点Ｐを合わせる。図６に示す
ように、マークの一致が行なわれた後、測角を行ない、
測量機２０の中心Ｏを通る水平軸周りの反射ミラー３２
（点Ｒ）の振り角γが求められる。例えば振り角γは、
反時計周りを正方向とし、水平を０とする。
Claims (5)
- 【請求項１】 測角器を備えた測量機の望遠鏡の前方に
設けられ、この望遠鏡を通過する光の光路を所定の角度
に偏向する反射部材を備えた機械高測定アダプタを用い
て、 前記測量機の望遠鏡から前記反射部材を介して基点を視
準するときの、前記反射部材の水平軸周りに関する回転
角が測定され、 前記基点から前記測量機までの高さが、前記測量機中心
から前記反射部材までの距離と、前記所定の角度と、前
記回転角とに基づいて求められることを特徴とする機械
高測定方法。 - 【請求項２】 前記反射部材が前記望遠鏡に対し着脱可
能に設けられることを特徴とする請求項１に記載の機械
高測定方法。 - 【請求項３】 前記反射部材が箱型の保持部材の開口面
と対向する面に取り付けられることを特徴とする請求項
２に記載の機械高測定方法。 - 【請求項４】 前記保持部材が前記望遠鏡と嵌合するこ
とにより、前記測量機に取り付けられることを特徴とす
る請求項３に記載の機械高測定方法。 - 【請求項５】 前記測量機の高さが、前記測量機に設け
られたコンピュータにより演算され、前記測量機の表示
部に表示されることを特徴とする請求項１に記載の機械
高測定方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2332397A JPH10206152A (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 機械高測定方法 |
| US09/009,334 US5949548A (en) | 1997-01-22 | 1998-01-20 | Height sensing measurement device |
| DE19802379A DE19802379C2 (de) | 1997-01-22 | 1998-01-22 | Vermessungsgerät |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2332397A JPH10206152A (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 機械高測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10206152A true JPH10206152A (ja) | 1998-08-07 |
Family
ID=12107390
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2332397A Withdrawn JPH10206152A (ja) | 1997-01-22 | 1997-01-22 | 機械高測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10206152A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017181427A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 株式会社トプコン | 測量装置及び測量装置の機械高取得方法 |
-
1997
- 1997-01-22 JP JP2332397A patent/JPH10206152A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017181427A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 株式会社トプコン | 測量装置及び測量装置の機械高取得方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5949548A (en) | Height sensing measurement device | |
| JP4820753B2 (ja) | 高精度試験体の角度依存アライメントの検査または校正の方法 | |
| US5159760A (en) | Device for aligning a geodetic instrument over a defined position mark | |
| US5893214A (en) | Measuring ball reflector | |
| JP3965593B2 (ja) | 測量機の求心位置測定装置及び測量機 | |
| US20200263986A1 (en) | Surveying instrument and method of calibrating a survey instrument | |
| US3810312A (en) | Alignment instrument | |
| JP6721479B2 (ja) | 測定システムおよび測定方法 | |
| US6067152A (en) | Alignment range for multidirectional construction laser | |
| CN113324514A (zh) | 转轴调试方法与调试组件 | |
| JP3803188B2 (ja) | 機械高測定機能付測量機 | |
| JP3718312B2 (ja) | 機械高測定装置 | |
| JPH10206152A (ja) | 機械高測定方法 | |
| US11385052B2 (en) | Surveying instrument | |
| EP0497683A1 (en) | Distance measuring method and apparatus | |
| JPH05248865A (ja) | 光波測距装置の機械高測定装置 | |
| EP0025695A2 (en) | Instrument for measuring or marking out the distance of a point from a basic plane or line | |
| RU2106600C1 (ru) | Автоколлимационный теодолит | |
| JP2001165630A (ja) | 表面性状測定機のセンサー校正装置 | |
| JPH08114451A (ja) | 測量機の機械高測定方法および測定器 | |
| JPH04181140A (ja) | レンズ偏心測定器 | |
| JPS631258Y2 (ja) | ||
| US2911877A (en) | Geodetical instruments | |
| JP2005090965A (ja) | 視準機能、被視準機能及び光学計測用反射機能を併せ持つ望遠鏡 | |
| JP2005345326A (ja) | 傾き測定器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20041220 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041222 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20050224 |