JPH10155232A - Device for judging cause of abnormality of distribution line - Google Patents
Device for judging cause of abnormality of distribution lineInfo
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- JPH10155232A JPH10155232A JP8309250A JP30925096A JPH10155232A JP H10155232 A JPH10155232 A JP H10155232A JP 8309250 A JP8309250 A JP 8309250A JP 30925096 A JP30925096 A JP 30925096A JP H10155232 A JPH10155232 A JP H10155232A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、配電線に発生した
事故（地絡事故や短絡事故）及び、これから配電線に発
生する可能性のある事故の原因が何であるのかを判定す
る配電線の異常原因判定装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distribution line for determining an accident (a ground fault accident or a short circuit accident) that has occurred in a distribution line and what is the cause of an accident that may occur in the distribution line. The present invention relates to an abnormality cause determination device.
【０００２】[0002]
【従来の技術】上記のような配電線の異常原因判定装置
として、例えば、特開平３−７８４２０号公報記載の
「配電線の異常状態監視装置」を挙げることができる。
この公報に記載の装置においては、配電線に生じる零相
電圧及び零相電流を波形化した後、その波形を高速フー
リエ解析処理（以下、ＦＦＴ解析処理という）する。そ
して、そのＦＦＴ解析処理したデータ（解析波形）と、
予めメモリに記憶されている各種基準データ（基準波
形）とを照合する。2. Description of the Related Art As an apparatus for determining the cause of an abnormality in a distribution line as described above, for example, a "distribution line abnormal state monitoring apparatus" described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-78420 can be mentioned.
In the device described in this publication, a zero-phase voltage and a zero-phase current generated in a distribution line are formed into a waveform, and the waveform is subjected to a fast Fourier analysis process (hereinafter, referred to as an FFT analysis process). Then, the data (analysis waveform) subjected to the FFT analysis processing,
Various reference data (reference waveforms) stored in the memory in advance are collated.
【０００３】前記メモリには各種実験により故意に配電
線に事故を発生させて得た異常波形や実際の事故で確認
された異常波形がデータベース化され、基準波形データ
として複数種記憶されている。各基準波形データには、
その異常波形の特徴である事故内容が付与されている。
例えば、基準波形データが「針状波」であればその「針
状波」の発生原因である事故内容（例えば、碍子不良に
よる事故）が事故内容データとして記憶されている。[0003] In the memory, an abnormal waveform obtained by intentionally causing an accident in a distribution line by various experiments and an abnormal waveform confirmed by an actual accident are stored in a database, and a plurality of types are stored as reference waveform data. Each reference waveform data contains
The content of the accident, which is a feature of the abnormal waveform, is given.
For example, if the reference waveform data is a “needle-like wave”, the details of the accident that caused the “needle-like wave” (for example, an accident due to a defective insulator) are stored as accident detail data.
【０００４】異常波形の検出時にはＦＦＴ解析処理した
解析波形をメモリに記憶されている各基準波形と順次照
合させる。両波形が一致する場合には、その解析波形と
一致した基準波形がモニタに表示されるとともに、その
基準波形に付与されている事故内容も一緒にモニタに表
示されるようになっている。作業者はモニタに表示され
る内容に基づき配電線事故をその前兆段階で発見するこ
とができる。When an abnormal waveform is detected, the analyzed waveform subjected to the FFT analysis is sequentially collated with each reference waveform stored in a memory. When the two waveforms match, the reference waveform that matches the analysis waveform is displayed on the monitor, and the accident content assigned to the reference waveform is also displayed on the monitor. The operator can detect a distribution line accident at an early stage based on the content displayed on the monitor.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術における配電線の異常原因判定装置においては、
次のような問題があった。However, in the above-described conventional apparatus for determining the cause of abnormality of a distribution line,
There were the following problems.
【０００６】（１）配電線から検出された異常波形（解
析波形）と照合する基準波形のデータを複数用意しなけ
れば、解析波形の種類を判定しにくい。すなわち、解析
波形が用意されている基準波形と一致されなかった場合
には、その解析波形が何なのかが判定不能となる。従っ
て、基準波形のサンプル数はできるだけ多数必要にな
る。しかし、基準波形のサンプルを多数用意すること
は、多大な人件費、設備費、時間が必要となり、コスト
的な面で大きな問題が発生する。(1) It is difficult to determine the type of analysis waveform unless a plurality of data of a reference waveform to be collated with an abnormal waveform (analysis waveform) detected from a distribution line is prepared. That is, when the analysis waveform does not match the prepared reference waveform, it is impossible to determine what the analysis waveform is. Therefore, the number of samples of the reference waveform needs to be as large as possible. However, preparing a large number of samples of the reference waveform requires enormous labor costs, equipment costs, and time, and causes a great problem in terms of cost.
【０００７】（２）用意された基準波形に検出された解
析波形が一致するものがなかった場合には、その解析波
形の判定結果は出力されないままで処理が終了する。こ
のように、従来では解析波形が基準波形と一致しない場
合には、何が原因で異常が発生したのかを知ることがで
きないという問題があった。(2) If there is no analysis waveform that matches the reference waveform prepared, the process ends without outputting the determination result of the analysis waveform. As described above, conventionally, when the analysis waveform does not match the reference waveform, there has been a problem that it is not possible to know what caused the abnormality.
【０００８】（３）解析波形と基準波形との照合処理
は、解析波形に基準波形を１データずつ照合させて行う
ことから、判定するまでにかかる処理時間が長くなると
いう問題があった。(3) Since the comparison processing between the analysis waveform and the reference waveform is performed by comparing the analysis waveform with the reference waveform one data at a time, there is a problem that the processing time required for the determination becomes long.
【０００９】（４）解析波形と基準波形とを照合する前
処理として、検出された異常波形をＦＦＴ解析し、波形
の高調波成分の実行値、含有率、波高値等を算出する
が、ＦＦＴ解析だけでは、解析した波形の形状を細かく
分析できない。例えば、実際に検出された異常波形が三
角波であるにもかかわらず、その波形が正弦波と似てい
るために正弦波と判定される場合があった。この場合、
検出された異常波形は三角波であるにもかかわらず、比
較される基準波形は正弦波となる。そのため、判定され
る異常原因は正弦波に対応するものとなる。その結果、
正確な異常判定が行われず、復旧作業等に支障を来すと
いう問題があった。(4) As preprocessing for collating the analyzed waveform with the reference waveform, the detected abnormal waveform is subjected to FFT analysis to calculate the effective value, content rate, peak value, etc. of the harmonic component of the waveform. The analysis alone cannot analyze the shape of the analyzed waveform in detail. For example, even though the abnormal waveform actually detected is a triangular wave, the waveform may be determined to be a sine wave because the waveform resembles a sine wave. in this case,
Although the detected abnormal waveform is a triangular wave, the reference waveform to be compared is a sine wave. Therefore, the determined cause of abnormality corresponds to a sine wave. as a result,
There has been a problem that accurate abnormality determination is not performed, which hinders recovery work and the like.
【００１０】本発明は、上記問題を解消するためになさ
れたものであって、第１の目的は、異常波形のサンプル
となる波形を複数波形用意することなく、異常波形の異
常の判定を可能とし、コストの低減を図ることが可能な
配電線の異常原因判定装置を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problem. A first object of the present invention is to make it possible to judge an abnormal waveform without preparing a plurality of waveforms as samples of the abnormal waveform. It is an object of the present invention to provide a distribution line abnormality cause determination device capable of reducing costs.
【００１１】第２の目的は、異常波形の異常原因の判定
を素早く行うことが可能な配電線の異常原因判定装置を
提供することにある。第３の目的は、検出した異常波形
の波形種を確実に識別可能な配電線の異常原因判定装置
を提供することにある。A second object of the present invention is to provide a distribution line abnormality cause determining apparatus capable of quickly determining the cause of an abnormal waveform. A third object is to provide a distribution line abnormality cause determination device capable of reliably identifying the type of a detected abnormal waveform.
【００１２】[0012]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１に記載の発明では、図１に示すように、配
電線に発生する零相電圧及び零相電流を検出し、両検出
値に基づき、配電線に異常が発生したことを判別すると
ともに、異常発生時の零相電圧波形及び零相電流波形を
検出する異常波形検出手段Ｈ１と、過去に実際に発生し
た事故データや実験データを基にして得た異常波形に対
応する異常原因を、波形種別に区分して記憶する異常原
因記憶手段Ｈ２と、前記異常波形検出手段Ｈ１により検
出された異常波形の波形種を識別し、その識別した波形
種に対応する異常原因を前記異常原因記憶手段Ｈ２から
読み出し、その読み出した異常原因を表示手段Ｈ３に出
力する制御手段Ｈ４とを備えたことをその要旨とする。To achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, as shown in FIG. 1, a zero-phase voltage and a zero-phase current generated in a distribution line are detected. Based on the detected value, it is determined that an abnormality has occurred in the distribution line, and an abnormal waveform detecting means H1 for detecting a zero-phase voltage waveform and a zero-phase current waveform at the time of occurrence of the abnormality, and data of accident data actually generated in the past, An abnormality cause storage means H2 for storing an abnormality cause corresponding to the abnormal waveform obtained based on the experimental data by classifying it into a waveform type and a waveform type of the abnormal waveform detected by the abnormal waveform detection means H1 are identified. And a control means H4 for reading the cause of the abnormality corresponding to the identified waveform type from the abnormality cause storage means H2 and outputting the read cause of the abnormality to the display means H3.
【００１３】請求項２に記載の発明では、前記制御手段
Ｈ４は、検出された異常波形の高速フーリエ解析処理、
及び傾き解析処理又は面積解析処理の少なくともいずれ
か一方の解析処理を行い、各解析処理により判別される
異常波形の形状からその波形の波形種を識別することを
その要旨とする。[0013] In the invention described in claim 2, the control means H4 performs a fast Fourier analysis process of the detected abnormal waveform,
The gist of the present invention is to perform at least one of the slope analysis process and the area analysis process and to identify the waveform type of the abnormal waveform from the shape of the abnormal waveform determined by each analysis process.
【００１４】請求項３に記載の発明では、前記制御手段
Ｈ４は、検出された異常波形の間欠性の有無を判別し、
異常波形の波形種をさらに細分化して識別するととも
に、前記異常原因記憶手段Ｈ２は、前記制御手段Ｈ４が
識別可能な波形種に対応する異常原因を記憶することを
その要旨とする。According to the third aspect of the present invention, the control means H4 determines whether or not the detected abnormal waveform is intermittent.
The gist is that the waveform type of the abnormal waveform is further subdivided and identified, and the abnormality cause storage means H2 stores the abnormality cause corresponding to the waveform type that can be identified by the control means H4.
【００１５】従って、請求項１に記載の発明において
は、異常波形検出手段により配電線に異常が発生したこ
とが検出されると、制御手段Ｈ４により異常波形の波形
種が識別される。異常波形の波形種が識別されると、制
御手段は異常原因記憶手段から識別した波形種に対応す
る異常原因を読み出して、表示手段に出力する。作業者
は表示手段に出力された異常原因に基づき作業を行う。Therefore, in the first aspect of the present invention, when the abnormal waveform detecting means detects that an abnormality has occurred in the distribution line, the control means H4 identifies the waveform type of the abnormal waveform. When the waveform type of the abnormal waveform is identified, the control means reads out the abnormality cause corresponding to the identified waveform type from the abnormality cause storage means and outputs it to the display means. The operator works based on the cause of the abnormality output on the display means.
【００１６】請求項２に記載の発明においては、請求項
１に記載の発明の作用に加え、制御手段Ｈ４により異常
波形が高速フーリエ解析処理、及び傾き解析処理又は面
積解析処理の少なくともいずれか一方の解析処理され、
検出された異常波形の形状が判別される。そして、その
判別された異常波形の形状がいずれの波形種に属するの
かが識別された後、その波形種に対応する異常原因が異
常原因記憶手段Ｈ２から読み出され、表示手段Ｈ３に出
力される。According to a second aspect of the present invention, in addition to the operation of the first aspect, the control means H4 controls the abnormal waveform to perform at least one of a fast Fourier analysis process, a slope analysis process, and an area analysis process. Is analyzed and
The shape of the detected abnormal waveform is determined. Then, after identifying to which waveform type the shape of the determined abnormal waveform belongs, the cause of the abnormality corresponding to the waveform type is read from the abnormality cause storage unit H2 and output to the display unit H3. .
【００１７】請求項３に記載の発明においては、請求項
２に記載の発明の作用に加え、制御手段Ｈ４は、検出さ
れた異常波形の間欠性の有無を判別することで、異常波
形の波形種をさらに細分化して識別し、異常原因記憶手
段から識別した波形種に対応する異常原因を読み出す。According to the third aspect of the present invention, in addition to the operation of the second aspect, the control means H4 determines the presence or absence of intermittentness of the detected abnormal waveform, thereby obtaining a waveform of the abnormal waveform. The type is further subdivided and identified, and an abnormality cause corresponding to the identified waveform type is read out from the abnormality cause storage means.
【００１８】[0018]
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化した一実施
形態を、図面に基づいて説明する。図２は本実施形態に
おけるシステム内容を示す構成図であり、各変電所１１
には複数の変圧器Ｂが設けられているとともに、各変圧
器Ｂと個々に対応する異常波形検出手段としての波形検
出装置１２が設けられている。各変圧器Ｂにはそれぞれ
アドレスナンバーが付与されている。例えば、変圧器Ｂ
が３つ設けられている変電所１１においては、１つ目の
変圧器Ｂには第１バンク、２つ目の変圧器Ｂには第２バ
ンク、３つ目の変圧器Ｂには第３バンクというアドレス
がそれぞれ付与されている。また、本実施の形態におい
ては、１バンク当たり８本の配電線（図示せず）が分岐
されている。各配電線にも第１フィーダ〜第８フィーダ
のアドレスが付与されている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 2 is a block diagram showing the contents of the system according to this embodiment.
Is provided with a plurality of transformers B, and a waveform detection device 12 as abnormal waveform detection means individually corresponding to each transformer B. Each transformer B is assigned an address number. For example, transformer B
, The first transformer B has the first bank, the second transformer B has the second bank, and the third transformer B has the third bank. An address called a bank is provided. In the present embodiment, eight distribution lines (not shown) are branched per bank. Each distribution line is also assigned an address of the first to eighth feeders.
【００１９】前記各波形検出装置１２には零相電圧Ｖ０
を検出するための電圧センサ１３及び零相電流Ｉ０を検
出するための電流センサ１４が接続されている。前記電
圧センサ１３は変電所内の計器用変圧器（図示せず）に
接続されている。一方、前記電流センサ１４は各フィー
ダ毎に接続されている。波形検出装置１２は両センサ１
３，１４から入力する検出信号に基づき、零相電圧Ｖ0
のＶ0波形及び各フィーダの零相電流Ｉ0のＩ0波形を検
出する。各波形検出装置１２は電話回線を介して変電所
１１から離間する位置に設けられた統括局１５のホスト
コンピュータ１６に接続されている。また、ホストコン
ピュータ１６には電話回線を介して各事業所（営業所）
３１のファックス３２も接続されている。前記波形検出
装置１２はＶ0波形，Ｉ0波形に基づき配電線の異常を検
出するようになっている。そして、波形検出装置１２は
異常を検出した際には、異常発生日時とともに異常時の
波形をデータ化してホストコンピュータ１６に送信する
ようになっている。Each of the waveform detectors 12 has a zero-phase voltage V0
And a current sensor 14 for detecting the zero-phase current I0. The voltage sensor 13 is connected to an instrument transformer (not shown) in the substation. On the other hand, the current sensor 14 is connected to each feeder. The waveform detection device 12 includes both sensors 1
The zero-phase voltage V0 is determined based on the detection signals
And the I0 waveform of the zero-phase current I0 of each feeder are detected. Each waveform detection device 12 is connected to a host computer 16 of a control station 15 provided at a position separated from the substation 11 via a telephone line. Each business office (sales office) is connected to the host computer 16 via a telephone line.
31 faxes 32 are also connected. The waveform detecting device 12 detects an abnormality of the distribution line based on the V0 waveform and the I0 waveform. When the waveform detection device 12 detects an abnormality, the waveform at the time of the abnormality together with the date and time of occurrence of the abnormality is digitized and transmitted to the host computer 16.
【００２０】前記ホストコンピュータ１６の本体１７に
は各種演算処理及び制御を行うＣＰＵ、各種制御プログ
ラムを記憶するＲＯＭやデータ等を記憶するＲＡＭ等の
内部メモリ（いずれも図示せず）が設けられている。本
体１７には外部メモリ１８、ＣＲＴモニタ１９、データ
等をプリントアウトするためのプリンタ２０及びプロッ
タ２１、さらにデータ入力を行うためのキーボード２２
が接続されている。The main body 17 of the host computer 16 is provided with an internal memory (both not shown) such as a CPU for performing various arithmetic processing and control, a ROM for storing various control programs and a RAM for storing data and the like. I have. The main body 17 includes an external memory 18, a CRT monitor 19, a printer 20 and a plotter 21 for printing out data and the like, and a keyboard 22 for inputting data.
Is connected.
【００２１】前記内部メモリには前記フィーダに異常が
発生した際に考えられる異常原因を記憶した異常原因記
憶領域が設けられている。本実施の形態ではこの異常原
因記憶領域は７つのアドレスに区分けされ、各アドレス
にはそれぞれ異なる異常原因が記憶されている。ホスト
コンピュータ１６により異常原因記憶手段及び制御手段
が構成されている。The internal memory is provided with an abnormal cause storage area for storing an abnormal cause considered when an abnormality occurs in the feeder. In the present embodiment, the abnormality cause storage area is divided into seven addresses, and each address stores a different abnormality cause. The host computer 16 constitutes an abnormality cause storage unit and a control unit.
【００２２】ここで、前記異常原因記憶領域の各アドレ
スに記憶されている異常原因の内容について説明する。
１番目のアドレスには「変圧器の可能性４５％ ケーブ
ルの可能性４５％ その他の可能性１０％」という内容
が記憶されている。２番目のアドレスには「樹木接触の
可能性８０％ 柱体の可能性１０％ その他の可能性１
０％」という内容が記憶されている。３番目のアドレス
には「柱体接触の可能性８０％ 樹木接触の可能性１０
％ その他の可能性１０％」という内容が記憶されてい
る。４番目のアドレスには「鳥獣の可能性８０％ 避雷
器、碍子の可能性１０％ その他の可能性１０％」とい
う内容が記憶されている。５番目のアドレスには「避雷
器の可能性８０％ 鳥獣接触の可能性１０％ その他の
可能性１０％」という内容が記憶されている。６番目の
アドレスには「避雷器、碍子の可能性８０％ 鳥獣接触
の可能性１０％ その他の可能性１０％」という内容が
記憶されている。７番目のアドレスには「その他」とい
う内容が記憶されている。Here, the contents of the cause of the abnormality stored in each address of the abnormality cause storage area will be described.
The first address stores "45% possibility of transformer, 45% possibility of cable, 10% other possibility". The second address says, "A possibility of contact with trees is 80% A possibility of pillars is 10% Other possibilities 1
0% "is stored. The third address says, "Possibility of column contact 80% Possibility of tree contact 10
% Other possibility 10% "is stored. The fourth address stores the content of “80% possibility of birds and beasts, 10% possibility of arresters and insulators, 10% other possibilities”. The fifth address stores "80% possibility of lightning arrester, 10% possibility of contact with birds and beasts, 10% other possibility". The sixth address stores the content of “80% possibility of lightning arrester and insulator, 10% possibility of contact with birds and beasts, 10% other possibility”. The content of "others" is stored in the seventh address.
【００２３】前記１番目のアドレスに記憶されている異
常原因は、零相電流波形（以下、Ｉ0波形という）が針
状波（図７参照）の場合に最も発生する異常原因であ
る。２番目のアドレスに記憶されている異常原因は、Ｉ
0波形が正弦波で、かつ、間欠性を有する波形（図８参
照）の場合に最も発生する異常原因である。３番目のア
ドレスに記憶されている異常原因は、Ｉ0波形が正弦波
で、かつ、間欠性を有しない波形（図９参照）の場合に
最も発生する異常原因である。４番目のアドレスに記憶
されている異常原因は、Ｉ0波形が三角波で、かつ、間
欠性を有する波形（図１０参照）の場合に最も発生する
異常原因である。５番目のアドレスに記憶されている異
常原因は、Ｉ0波形が三角波で、かつ、間欠性を有しな
い波形（図１１参照）であるとともに、Ｖ0波形のレベ
ルが比較的小さい場合に最も発生しやすい異常原因であ
る。６番目に記憶されている異常原因は、Ｉ0波形が三
角波で、かつ、間欠性を有しない波形（図１２参照）で
あるとともに、Ｖ0波形のレベルが比較的大きい場合に
最も発生しやすい異常原因である。前記間欠性の有無と
は波形中に水平状の部分（図８及び図１０のα部）が存
在するかしないかをいう。The cause of the abnormality stored at the first address is the cause of the abnormality that occurs most frequently when the zero-phase current waveform (hereinafter referred to as I0 waveform) is a needle-like wave (see FIG. 7). The cause of the abnormality stored at the second address is I
This is the most abnormal cause when the zero waveform is a sine wave and has an intermittent waveform (see FIG. 8). The cause of the abnormality stored at the third address is the most likely cause when the I0 waveform is a sine wave and has no intermittent waveform (see FIG. 9). The cause of the abnormality stored at the fourth address is the cause of the abnormality that occurs most frequently when the I0 waveform is a triangular wave and has an intermittent waveform (see FIG. 10). The cause of the abnormality stored at the fifth address is most likely to occur when the I0 waveform is a triangular wave and has no intermittent waveform (see FIG. 11) and the level of the V0 waveform is relatively small. This is the cause of the abnormality. The sixth cause of abnormality stored is the one most likely to occur when the I0 waveform is a triangular wave and has no intermittent waveform (see FIG. 12) and the level of the V0 waveform is relatively large. It is. The presence or absence of the intermittentness means whether or not a horizontal portion (α portion in FIGS. 8 and 10) exists in the waveform.
【００２４】次に、前記ホストコンピュータ１６のＣＰ
Ｕが実行する制御内容を図３〜図６のフローチャートに
基づいて説明する。まず、ＣＰＵはステップ１０１に
て、いずれかの波形検出装置１２から波形データを受信
した際には、ステップ１０２に移行し、受信した約１秒
間（６４サイクル）の波形データをメモリに記憶する。
次のステップ１０３においては、メモリに記憶したＩ0
波形全体をサーチする。そして、ステップ１０４におい
ては、ステップ１０３にてサーチしたＩ0波形の最大値
を検出する。次のステップ１０５においては、抽出判定
値（最大値×設定値（％））を算出する。ここで、抽出
判定値について説明する。例えば、受信した異常波形が
図１４に示す波形であるとする。同図の波形において
は、Ａ部が最大値となり、このＡ部の電流値が例えば、
１Ａ（この最大値はステップ１０４にて検出されたも
の）で、予めキーボード２２の操作により設定された設
定値が３０％の場合には抽出判定値は０．３Ａとなる。Next, the CP of the host computer 16
The control executed by U will be described with reference to the flowcharts of FIGS. First, in step 101, when receiving the waveform data from any one of the waveform detection devices 12, the CPU proceeds to step 102 and stores the received waveform data of about one second (64 cycles) in the memory.
In the next step 103, I0 stored in the memory
Search the entire waveform. Then, in step 104, the maximum value of the I0 waveform searched in step 103 is detected. In the next step 105, an extraction determination value (maximum value × set value (%)) is calculated. Here, the extraction determination value will be described. For example, assume that the received abnormal waveform is the waveform shown in FIG. In the waveform of FIG. 3, the maximum value is obtained at the portion A, and the current value of the portion A is, for example,
At 1A (the maximum value is detected at step 104), if the set value set in advance by operating the keyboard 22 is 30%, the extraction determination value is 0.3A.
【００２５】ＣＰＵは抽出判定値を算出すると次のステ
ップ１０６に移行する。ステップ１０６においては、連
続する２サイクル分の波形を読み込む。ここで連続する
２サイクル分の波形について説明する。前記読み込んだ
波形は６４サイクルの波形から構成されている。図１４
で説明すると、この６４サイクルの１番目のサイクル
と、当該１番目のサイクルと連続する２番目のサイクル
とをステップ１０６では読み込む。次のステップ１０７
においては前側のサイクルの波形（１番目のサイクルの
波形）に前記ステップ１０５にて算出した抽出判定値以
上の波形が存在するか否かを判別する。すなわち、この
ステップ１０７は、全サイクルの中からある程度のレベ
ル以上（抽出判定値以上）のものをピックアップするた
めのステップである。ここで、ＣＰＵは抽出判定値以上
の波形が存在すると判別した際にはステップ１０８に移
行する。一方、ＣＰＵは抽出判定値以上の波形が存在し
ないと判別した際にはステップ１０９に移行する。After calculating the extraction judgment value, the CPU proceeds to the next step 106. In step 106, waveforms for two consecutive cycles are read. Here, waveforms for two consecutive cycles will be described. The read waveform is composed of a waveform of 64 cycles. FIG.
In step 106, the first cycle of the 64 cycles and the second cycle following the first cycle are read in step 106. Next step 107
In, it is determined whether or not the waveform of the preceding cycle (the waveform of the first cycle) has a waveform equal to or greater than the extraction determination value calculated in step 105. That is, this step 107 is a step for picking up a certain level or more (extraction judgment value or more) from all the cycles. Here, when the CPU determines that there is a waveform equal to or larger than the extraction determination value, the process proceeds to step 108. On the other hand, when the CPU determines that there is no waveform equal to or greater than the extraction determination value, the process proceeds to step 109.
【００２６】ステップ１０９においては、全サイクル
（６４サイクル）の波形の読み込みを終了したか否かを
判別し、未だ終了していないと判別した際には前記ステ
ップ１０６に戻り、次の連続する２サイクル分の波形を
読み込む。前回のルーチンで読み込んだサイクルが１番
目と２番目のサイクルである場合には、今回読み込むサ
イクルは２番目と３番目のサイクルとなる。一方、ステ
ップ１０９において全サイクルの波形の読み込みを終了
したと判別した際にはステップ１１０に移行する。In step 109, it is determined whether or not the reading of the waveforms for all cycles (64 cycles) has been completed. If it is determined that the reading has not been completed yet, the process returns to step 106, and the next 2 Read the waveform for the cycle. If the cycles read in the previous routine are the first and second cycles, the read cycle this time is the second and third cycles. On the other hand, if it is determined in step 109 that the reading of the waveforms of all the cycles has been completed, the process proceeds to step 110.
【００２７】前記ステップ１０８においては、読み込ん
だ２サイクル分の波形を所定計算式（省略）を用いてＦ
ＦＴ解析処理を行う（以下、ステップ１０８にて行うＦ
ＦＴ解析処理を第１ＦＦＴ解析処理という）。このステ
ップ１０８にて２サイクル分の波形を第１ＦＦＴ解析処
理することにより、実行値、高調波の含有率等が算出さ
れる。ＣＰＵは第１ＦＦＴ解析処理の結果に基づき、読
み込んだ２サイクル分の波形の波形種（針状波・正弦波
・三角波）を識別する。本実施の形態では、この識別方
法として、６０Ｈｚを基本波とする２次〜２０次までの
高調波の含有率が全て６％未満の場合には、その波形種
を「正弦波」と識別するようになっている。また、２次
〜１０次までの高調波の含有率が全て１５％未満の場合
には、その波形種を「三角波」と識別するようになって
いる。また、それ以外の高調波の含有率の場合には、そ
の波形種を「針状波」と識別するようになっている。次
のステップ１１１においては、２サイクルずつ前記ステ
ップ１０８での識別した結果をメモリに記憶する。In step 108, the read waveforms of two cycles are converted into F by using a predetermined calculation formula (omitted).
Perform FT analysis processing (hereinafter referred to as F performed in step 108).
The FT analysis process is referred to as a first FFT analysis process.) By performing the first FFT analysis on the waveforms for two cycles in step 108, the execution value, the harmonic content, and the like are calculated. The CPU identifies the waveform type (needle wave, sine wave, triangular wave) of the read two-cycle waveform based on the result of the first FFT analysis processing. In the present embodiment, as the identification method, when the content of all the second to twentieth harmonics having a fundamental frequency of 60 Hz is less than 6%, the waveform type is identified as a “sine wave”. It has become. Further, when the contents of the second to tenth harmonics are all less than 15%, the waveform type is identified as a “triangular wave”. In the case of the content rate of other harmonics, the waveform type is identified as “needle-like wave”. In the next step 111, the result identified in step 108 is stored in the memory every two cycles.
【００２８】次のステップ１１２においては、ステップ
１０６にて読み込んだ２サイクル分の波形を、前記第１
ＦＦＴ解析処理とは異なる計算式（省略）を用いてＦＦ
Ｔ解析処理を行う（以下、ステップ１１２にて行うＦＦ
Ｔ解析処理を第２ＦＦＴ解析処理という）。この第２Ｆ
ＦＴ解析処理を行うことで波形が平均化され、波形全体
が平坦化される。これにより、小レベルの波形が取り除
かれ、波形全体が見やすくなる。ＣＰＵは波形を平均化
した後、前記第１ＦＦＴ解析処理と同等の条件で波形種
の判別を行う。そして、ステップ１１３において、２サ
イクルずつ前記ステップ１１２の判定結果をメモリに記
憶する。In the next step 112, the waveform for two cycles read in step 106 is converted into the first waveform.
The FF is calculated using a different formula (omitted) from the FFT analysis process.
Perform T analysis processing (hereinafter, FF performed in step 112)
The T analysis processing is referred to as a second FFT analysis processing.) This second floor
By performing the FT analysis processing, the waveform is averaged, and the entire waveform is flattened. As a result, the low-level waveform is removed, and the entire waveform becomes easy to see. After averaging the waveform, the CPU determines the waveform type under the same conditions as in the first FFT analysis process. Then, in step 113, the determination result of step 112 is stored in the memory every two cycles.
【００２９】次のステップ１１４においては、前記ステ
ップ１０６にて読み込んだ２サイクル分の波形の傾き解
析処理を行う。このステップ１１４では、波形の傾きに
基づいて波形種の判別を行う。この判別方法としては、
波形の傾きが「大」から「小」に変化、又は「小」から
「大」に変化しているものは、「正弦波」と判定し、傾
きが一定のものは「三角波」と識別するようになってい
る。すなわち、このステップで識別される波形種として
は、「正弦波」か「三角」波のいずれかである。そし
て、次のステップ１１５においては、２サイクルずつス
テップ１１４での識別した結果をメモリに記憶する。In the next step 114, a slope analysis process of the waveform for two cycles read in step 106 is performed. In step 114, the type of the waveform is determined based on the gradient of the waveform. As a method of this determination,
If the slope of the waveform changes from "large" to "small" or from "small" to "large", it is judged as "sine wave", and if the slope is constant, it is identified as "triangle wave". It has become. That is, the waveform type identified in this step is either a “sine wave” or a “triangle” wave. Then, in the next step 115, the result identified in step 114 is stored in the memory every two cycles.
【００３０】ステップ１１６においては、ステップ１０
６にて読み込んだ２サイクル分の波形の面積解析処理を
行う。このステップ１１６では、波形を積分演算して波
形の面積を算出し、その算出した面積と、予めメモリに
記憶されている理想的な形状の正弦波の面積とを比較
し、その波形の波形種を識別する。ここで識別される波
形種としては、「正弦波」か「三角波」のいずれかであ
る。そして、次のステップ１１７においては、２サイク
ルずつステップ１１６での識別した判定結果をメモリに
記憶する。In step 116, step 10
The area analysis processing of the waveform for two cycles read in 6 is performed. In step 116, the waveform is integrated to calculate the area of the waveform, the calculated area is compared with the area of a sine wave of an ideal shape stored in advance in a memory, and the waveform type of the waveform is determined. Identify. The waveform type identified here is either “sine wave” or “triangle wave”. Then, in the next step 117, the determination result identified in step 116 is stored in the memory every two cycles.
【００３１】続くステップ１１８において、全サイクル
の波形解析処理を終了したか否かを判別し、未だ終了し
ていないと判別した場合には、前記ステップ１０６に戻
り、以降の処理を繰り返す。一方、全サイクルの波形解
析処理が終了したと判別した際にはステップ１１０に移
行する。ステップ１１０においては、ステップ１１１及
びステップ１１３にてメモリに記憶した識別結果を読み
出す。そして、ステップ１１９においては、その読み出
した２つの識別結果から、受信した波形が針状波である
か否かを判別する。すなわち、両ＦＦＴ解析処理により
判定された判定結果を波形種別にトータルし、そのトー
タルされた波形種の中で最も「針状波」が多い場合に
は、ＣＰＵは受信した波形を「針状波」として最終識別
し、ステップ１２０に移行する。In the following step 118, it is determined whether or not the waveform analysis processing of all the cycles has been completed. If it is determined that the processing has not been completed yet, the process returns to step 106 and the subsequent processing is repeated. On the other hand, when it is determined that the waveform analysis processing of all cycles has been completed, the process proceeds to step 110. In step 110, the identification result stored in the memory in steps 111 and 113 is read. Then, in step 119, it is determined whether or not the received waveform is a needle-like wave from the two read identification results. That is, the determination results determined by both FFT analysis processes are totaled into waveform types, and if the “needle wave” is the largest among the total waveform types, the CPU determines the received waveform as “needle wave”. ", And the process proceeds to step 120.
【００３２】ステップ１２０においては、メモリの異常
原因記憶領域から１番目のアドレス内容を読み出した
後、次のステップ１２１に移行する。一方、前記ステッ
プ１１９において、受信波形が「針状波」ではないと識
別した際にはステップ１２２に移行する。In step 120, after the first address content is read from the error cause storage area of the memory, the process proceeds to the next step 121. On the other hand, if it is determined in step 119 that the received waveform is not a “needle wave”, the process proceeds to step 122.
【００３３】ステップ１２２においては、ステップ１１
１，１１３，１１５，１１７で記憶する各判定結果を読
み出す。そして、ステップ１２３において、受信した波
形が正弦波であるか否かを判別する。ここでの判別方法
も、前記針状波の判定方法と同様に、全解析処理での判
定結果を波形種別にトータルし、トータルされた波形種
の中で最も「正弦波」が多い場合には、受信した波形を
「正弦波」として最終識別し、ステップ１２４に移行す
る。ステップ１２４においては、受信した波形に間欠性
が有るか否かを判別する。ここで、間欠性が有ると判別
した際にはステップ１２５に移行し、メモリの異常原因
記憶領域から２番目のアドレス内容を読み出し、ステッ
プ１２１に移行する。一方、前記ステップ１２４におい
て、正弦波には間欠性は無いと判別した場合には、ステ
ップ１２６に移行する。ステップ１２６では、メモリの
異常原因記憶領域から３番目のアドレス内容を読み出
し、ステップ１２１に移行する。In step 122, step 11
The respective judgment results stored in 1, 113, 115 and 117 are read. Then, in a step 123, it is determined whether or not the received waveform is a sine wave. The determination method here is also the same as the determination method of the needle-shaped wave, and the determination results in all the analysis processes are totaled into waveform types, and when the “sine wave” is the largest among the total waveform types, , The received waveform is finally identified as a “sine wave”, and the process proceeds to step 124. In step 124, it is determined whether or not the received waveform is intermittent. Here, when it is determined that there is intermittentness, the process proceeds to step 125, the second address content is read from the abnormality cause storage area of the memory, and the process proceeds to step 121. On the other hand, if it is determined in step 124 that the sine wave is not intermittent, the process proceeds to step 126. In step 126, the third address content is read from the error cause storage area of the memory, and the process proceeds to step 121.
【００３４】また、前記ステップ１２３において、受信
した波形が正弦波ではないと識別した際には、ステップ
１２７に移行する。ステップ１２７においては、受信し
た波形が三角波か否かを判定する。ここでの判定方法
も、前記正弦波の判定方法と同様であることからその説
明は省略する。ここで、受信した波形を「三角波」とし
て最終識別した際にはステップ１２８に移行する。ステ
ップ１２８において、受信した波形に間欠性が有ると識
別した際には、ステップ１２９に移行する。ステップ１
２９においては、メモリの異常原因記憶領域から４番目
のアドレス内容を読み出し、ステップ１２１に移行す
る。一方、前記ステップ１２８において、受信した波形
に間欠性が無いと判別した際にはステップ１３０に移行
する。If it is determined in step 123 that the received waveform is not a sine wave, the process proceeds to step 127. In step 127, it is determined whether or not the received waveform is a triangular wave. The determination method here is also the same as the above-described sine wave determination method, and a description thereof will be omitted. Here, when the received waveform is finally identified as a “triangle wave”, the process proceeds to step 128. If it is determined in step 128 that the received waveform is intermittent, the process proceeds to step 129. Step 1
In step 29, the contents of the fourth address are read from the error cause storage area of the memory, and the routine proceeds to step 121. On the other hand, when it is determined in step 128 that the received waveform is not intermittent, the process proceeds to step 130.
【００３５】ステップ１３０においては、受信したＶ0
波形の最大値が予め設定された所定値未満か否かを判別
する。ここで、受信したＶ0波形の最大値が所定値未満
であると判別した際には、ステップ１３１に移行し、メ
モリの異常原因記憶領域から５番目のアドレス内容を読
み出して、ステップ１２１に移行する。一方、受信した
Ｖ0波形の最大値が所定値未満でないと判別した際に
は、ステップ１３２に移行し、メモリの異常原因記憶領
域から６番目のアドレス内容を読み出して、ステップ１
２１に移行する。In step 130, the received V0
It is determined whether the maximum value of the waveform is less than a predetermined value. Here, when it is determined that the maximum value of the received V0 waveform is less than the predetermined value, the process proceeds to step 131, the fifth address content is read from the abnormality cause storage area of the memory, and the process proceeds to step 121. . On the other hand, when it is determined that the maximum value of the received V0 waveform is not less than the predetermined value, the process proceeds to step 132, where the sixth address content is read from the abnormality cause storage area of the memory, and step 1 is executed.
Move to 21.
【００３６】また、前記ステップ１２７において、受信
した波形が「三角波」ではないと最終識別した際には、
ステップ１３３に移行する。ステップ１３３において
は、メモリの異常原因記憶領域から７番目のアドレス内
容を読み出して、ステップ１２１に移行する。When it is finally determined in step 127 that the received waveform is not a "triangle wave",
Move to step 133. In step 133, the contents of the seventh address are read from the error cause storage area of the memory, and the process proceeds to step 121.
【００３７】ステップ１２１においては、読み出した異
常原因記憶領域のアドレス内容、受信した異常波形、さ
らに異常が発生した変電所名、バンク名、フィーダ名、
異常発生日時を、ＣＲＴモニタ１９、プリンター２０及
びプロッタ２１に出力表示する（図１３参照）。また、
事故が発生した最寄りの事業所（営業所）３１のファッ
クス３２にもＣＲＴモニタ１９に出力される同内容のデ
ータを送信し、その後の処理を一旦終了する。In step 121, the read address content of the abnormality cause storage area, the received abnormal waveform, the substation name, bank name, feeder name,
The abnormality occurrence date and time is output and displayed on the CRT monitor 19, the printer 20, and the plotter 21 (see FIG. 13). Also,
The same data output to the CRT monitor 19 is also transmitted to the facsimile 32 of the nearest business office (business office) 31 where the accident has occurred, and the subsequent processing is temporarily terminated.
【００３８】さて、続いて、実際に配電線に異常が発生
した際のシステムの動作について説明する。例えば、
「××変電所」の「第１バンク」の変圧器Ｂの「第２フ
ィーダ」に何らかの原因で異常が発生したとする。配電
線に異常が発生すると、その配電線の零相電流値Ｉ0及
び零相電圧値V0は正常時の値とは異なるため、第１バン
クの変圧器Ｂに対応する波形検出装置１２は第２フィー
ダに異常が発生したことを検出する。このとき、波形検
出装置１２はその異常を異常波形として統括局１５のホ
ストコンピュータ１６に送信する。Next, the operation of the system when an abnormality actually occurs in the distribution line will be described. For example,
It is assumed that an abnormality has occurred in the “second feeder” of the transformer B in the “first bank” of the “xx substation” for some reason. When an abnormality occurs in the distribution line, the zero-phase current value I0 and the zero-phase voltage value V0 of the distribution line are different from the values at the time of normal operation. It detects that an abnormality has occurred in the feeder. At this time, the waveform detection device 12 transmits the abnormality to the host computer 16 of the control station 15 as an abnormal waveform.
【００３９】ホストコンピュータ１６は波形検出装置１
２から受信した異常波形の中から高レベル部位のＩ0波
形のみをピックアップする。そして、そのピックアップ
されたＩ0波形はホストコンピュータ１６により２種類
のＦＦＴ解析処理及び傾き解析処理、面積解析処理され
た後、その波形形状、すなわち波形種が６種類（針状
波、正弦波で間欠性有り、正弦波で間欠性無し、三角波
で間欠性有り、三角波で間欠性無しでＶ0波高値が大、
三角波で間欠性無しでＶ0波高値が小）の内、何れであ
るか識別される。The host computer 16 is provided with the waveform detecting device 1
Only the I0 waveform at the high level portion is picked up from the abnormal waveforms received from Step 2. The I0 waveform thus picked up is subjected to two types of FFT analysis processing, inclination analysis processing, and area analysis processing by the host computer 16 and then has six types of waveform shapes, that is, intermittent waveforms of needle-like waves and sine waves. Sine wave, no intermittent, triangular wave has intermittent, triangular wave has no intermittent, V0 peak value is large,
(The peak value of V0 is small without intermittent with a triangular wave).
【００４０】ここで、ホストコンピュータ１６により識
別された波形種が針状波であったとする。従って、この
場合ホストコンピュータ１６により異常原因記憶領域か
ら１番目のアドレス（「変圧器の可能性４５％ ケーブ
ルの可能性４５％ その他の可能性１０％」）が読み出
される。そして、読み出された異常原因の内容、受信し
た異常波形、異常発生変電所名、そのバンク名、フィー
ダ名、異常発生日時等がＣＲＴモニタ１９やプリンタ２
０、プロッタ２１、さらに異常が発生した変電所の最寄
りの事業所３１のファックス３２に出力される。このと
き、ＣＲＴモニタ１９には、図１３に示す画面が表示さ
れる。Here, it is assumed that the waveform type identified by the host computer 16 is a needle wave. Therefore, in this case, the first address ("potential of the transformer 45%, possibility of the cable 45%, and other possibilities 10%") is read from the abnormality cause storage area by the host computer 16. Then, the read contents of the abnormal cause, the received abnormal waveform, the abnormal substation name, the bank name, the feeder name, the abnormal date and time, and the like are stored in the CRT monitor 19 and the printer 2.
0, the plotter 21, and the fax 32 of the office 31 nearest to the substation where the abnormality has occurred. At this time, the screen shown in FIG. 13 is displayed on the CRT monitor 19.
【００４１】作業者はこのＣＲＴモニタ１９等の画面表
示に従い、異常が発生した変電所１１は「××変電所」
で、その「××変電所」の「第１バンク」の「第２フィ
ーダ」にて「×月×日」「×時×分」に異常が発生した
ことを知ることができる。また、その異常原因は「変圧
器４５％ ケーブルの可能性４５％ その他の可能性１
０％」ということを知ることができる。The operator follows the screen display on the CRT monitor 19 and the like, and finds that the substation 11 in which the abnormality has occurred is "XX substation".
Thus, it is possible to know that an abnormality has occurred in "xx month x day" and "x hour x minute" in the "second feeder" of the "first bank" of the "xx substation". In addition, the cause of the abnormality is “Transformer 45% Cable possibility 45% Other possibility 1
0% ".
【００４２】本実施の形態では、上記のように配電線の
異常原因判定装置を構成したことにより、次のような効
果を得ることができる。 （１）波形検出装置１２により検出された異常波形の波
形種を識別し、その識別した波形種に対応する異常原因
をＣＲＴモニタ１９等の表示手段に表示するようにし
た。これにより、本実施の形態では、検出された異常波
形を複数用意されたサンプル波形と一波形ずつ照合し、
両波形が一致した際にそのサンプル波形に対応する異常
原因を表示する従来技術とは異なり、異常波形のサンプ
ルとなる波形を複数波形用意することなく、異常波形の
異常原因を判定できる。In the present embodiment, the following effects can be obtained by configuring the distribution line abnormality cause determining apparatus as described above. (1) The waveform type of the abnormal waveform detected by the waveform detection device 12 is identified, and the cause of the abnormality corresponding to the identified waveform type is displayed on a display means such as the CRT monitor 19. Thereby, in the present embodiment, the detected abnormal waveform is compared with a plurality of prepared sample waveforms one by one,
Unlike the prior art which displays the cause of the abnormality corresponding to the sample waveform when the two waveforms match, the cause of the abnormality of the abnormal waveform can be determined without preparing a plurality of waveforms as samples of the abnormal waveform.
【００４３】その結果、コストの低減を図ることができ
るとともに、素早い処理が可能となる。また、異常波形
の波形種を識別することから、従来とは異なり、異常波
形とサンプル波形とが一致しないという問題も大幅に減
少され、より信頼性のある判定が可能となる。As a result, the cost can be reduced, and the processing can be performed quickly. In addition, since the waveform type of the abnormal waveform is identified, unlike the related art, the problem that the abnormal waveform does not match the sample waveform is significantly reduced, and more reliable determination can be performed.
【００４４】（２）異常波形の波形種を識別するにあた
り、ＦＦＴ解析処理以外に異常波形の傾き解析処理、面
積解析処理を行うようにした。すなわち、異常波形のＦ
ＦＴ解析処理を行うことにより、コンピュータ的な感覚
で異常波形の形状を判別する一方、異常波形の傾き解析
処理及び面積解析処理を行うことにより、人間的な感覚
で異常波形の形状を判別するようにした。その結果、よ
り確実に異常波形の波形種を識別できる。(2) In identifying the waveform type of the abnormal waveform, a slope analysis process and an area analysis process of the abnormal waveform are performed in addition to the FFT analysis process. That is, the abnormal waveform F
By performing the FT analysis processing, the shape of the abnormal waveform is discriminated in a computer-like manner, while performing the slope analysis processing and the area analysis processing of the abnormal waveform to discriminate the shape of the abnormal waveform in a human-like manner. I made it. As a result, the waveform type of the abnormal waveform can be identified more reliably.
【００４５】（３）検出された異常波形の間欠性の有無
を判別することで、さらに異常波形の波形種が細分化さ
れる。これにより、より一層確実な異常原因の判定が可
能となる。(3) By determining the presence or absence of intermittentness of the detected abnormal waveform, the waveform type of the abnormal waveform is further subdivided. As a result, the cause of the abnormality can be more reliably determined.
【００４６】（４）本実施の形態では、連続する２サイ
クル分の波形を各解析処理するようにした。１サイクル
ずつ波形を解析処理した場合には、その処理結果がシビ
アになりすぎて、突発的なノイズも拾って解析してしま
うため、波形種の識別が正確に行われない場合があっ
た。これを連続する２サイクルずつ解析処理した際には
正確に波形種の識別が可能となった。(4) In the present embodiment, the waveforms of two consecutive cycles are subjected to each analysis processing. When the waveform is analyzed one cycle at a time, the processing result becomes too severe, and sudden noise is also picked up and analyzed, so that the type of the waveform may not be accurately identified. When this was analyzed two consecutive cycles at a time, it was possible to accurately identify the waveform type.
【００４７】なお、本発明は次のように実施することも
できる。 （１）上記実施形態では、ＦＦＴ解析処理後、傾き解析
処理、面積解析処理を行うように構成したが、これを傾
き解析処理又は面積解析処理を省略して異常波形の波形
種を識別するように構成してもよい。The present invention can be carried out as follows. (1) In the above embodiment, after the FFT analysis processing, the inclination analysis processing and the area analysis processing are performed. However, the inclination analysis processing or the area analysis processing is omitted to identify the waveform type of the abnormal waveform. May be configured.
【００４８】（２）上記実施形態では、連続する２サイ
クル分ずつ波形を各解析処理したが、これを１サイクル
ずつ解析処理したり、連続する４サイクル、８サイクル
ずつ等適宜まとめて解析処理するようにしてもよい。(2) In the above-described embodiment, each waveform is analyzed for two consecutive cycles. However, the waveform is analyzed one cycle at a time, or four or eight consecutive cycles are collectively analyzed. You may do so.
【００４９】（３）波形種を識別するために２種類のＦ
ＦＴ解析処理を行ったが、これを１種類のＦＦＴ解析処
理で波形種を識別したり、３種類以上のＦＦＴ解析処理
で波形種の識別を行うようにしてもよい。(3) Two types of F for identifying the waveform type
Although the FT analysis processing was performed, the waveform type may be identified by one type of FFT analysis processing, or the waveform type may be identified by three or more types of FFT analysis processing.
【００５０】（４）上記実施形態では、波形種の種類が
針状波、正弦波の間欠性有り無し、三角波の間欠性有
り、三角波の間欠性無しでＶ0波高値の大小の６種類の
波形種を設定したが、これにノコギリ波や２コブラクダ
波等の波形種を加えて具体化してもよい。(4) In the above embodiment, there are six types of waveforms, namely, a needle wave, a sine wave intermittent / non-intermittent, a triangular wave intermittent, no triangular wave intermittent and a V0 peak value. Although the type is set, a waveform type such as a sawtooth wave or a two-bred camel wave may be added to the type to realize the type.
【００５１】（５）上記実施形態では、異常波形（Ｉ0
波形）の波形種を識別し、その波形種に対応する異常原
因をＣＲＴモニタ１９等に表示するようにしたが、異常
原因を、波形種の他に異常発生日時に基づき判定するよ
うにしてもよい。例えば、発生日時が午後７時以降（夜
間）であれば、通常、鳥類は飛ばないことから異常原因
から鳥類を外すようにしたり、１２月等の冬季にはヘビ
等の冬眠する動物を異常原因から外すようにしてもよ
い。この場合、さらに一層正確な異常原因の判定を行う
ことができる。(5) In the above embodiment, the abnormal waveform (I0
The waveform type of the waveform is identified and the cause of the abnormality corresponding to the waveform type is displayed on the CRT monitor 19 or the like. However, the cause of the abnormality may be determined based on the date and time of occurrence of the abnormality in addition to the waveform type. Good. For example, if the date and time of occurrence is after 7:00 pm (at night), birds usually do not fly, so birds should be excluded from abnormal causes, and in winter such as December, snakes and other hibernating animals could cause abnormalities. May be removed. In this case, the cause of the abnormality can be determined even more accurately.
【００５２】（６）上記実施形態では、波形検出装置１
２からの送信信号に基づき、ホストコンピュータ１６に
より異常波形種、異常発生変電所、異常発生バンク、異
常発生日時、異常発生原因内容等を識別するような構成
とした。これに対し、波形検出装置１２側で前記ホスト
コンピュータ１６により実行される処理を行い、その処
理結果をホストコンピュータ１６に送信するような構成
としてもよい。(6) In the above embodiment, the waveform detecting device 1
On the basis of the transmission signal from the host computer 2, the host computer 16 identifies an abnormal waveform type, an abnormal substation, an abnormal bank, an abnormal date and time, an abnormal cause, and the like. On the other hand, the waveform detection device 12 may be configured to perform the processing executed by the host computer 16 and transmit the processing result to the host computer 16.
【００５３】また、その処理結果内容を、直接波形検出
装置１２から各事業所（営業所）３１のファックスに送
信するように構成してもよい。Further, the processing result content may be directly transmitted from the waveform detection device 12 to the fax of each business office (business office) 31.
【００５４】[0054]
【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、検出さ
れた異常波形を複数用意されたサンプル波形と照合し、
両波形が一致した際にそのサンプル波形に対応する異常
原因を表示する従来技術とは異なり、検出された異常波
形の波形種を識別し、その識別した波形種に対応する異
常原因を表示するようした。これにより、異常波形のサ
ンプルとなる波形を複数波形用意することなく、異常波
形の異常原因を判定できる。その結果、コストの低減を
図ることができるとともに、素早い処理が可能となる。
また、異常波形の波形種を識別することから、従来とは
異なり、異常波形とサンプル波形とが一致しないという
問題も大幅に減少され、より信頼性のある判定が可能と
なる。According to the first aspect of the present invention, the detected abnormal waveform is compared with a plurality of prepared sample waveforms,
Unlike the prior art, which displays the cause of abnormality corresponding to the sample waveform when both waveforms match, the waveform type of the detected abnormal waveform is identified, and the cause of abnormality corresponding to the identified waveform type is displayed. did. As a result, it is possible to determine the cause of the abnormal waveform without preparing a plurality of waveforms as samples of the abnormal waveform. As a result, cost can be reduced, and quick processing can be performed.
In addition, since the waveform type of the abnormal waveform is identified, unlike the related art, the problem that the abnormal waveform does not match the sample waveform is significantly reduced, and more reliable determination can be performed.
【００５５】請求項２に記載の発明によれば、請求項１
に記載の発明の効果に加え、ＦＦＴ解析処理以外に、検
出された異常波形の傾き解析処理、面積解析処理を行う
ことにより、確実に異常波形の形状、すなわち波形種を
判別することができる。その結果、より確実に異常波形
が発生した異常原因の判定を行うことができる。According to the invention described in claim 2, according to claim 1,
In addition to the effects of the invention described in (1), by performing a slope analysis process and an area analysis process on the detected abnormal waveform in addition to the FFT analysis process, the shape of the abnormal waveform, that is, the waveform type can be reliably determined. As a result, it is possible to more reliably determine the cause of the abnormality in which the abnormal waveform has occurred.
【００５６】請求項３に記載の発明によれば、請求項２
に記載の発明の効果に加え、検出された異常波形の間欠
性の有無を判別することで、さらに異常波形の波形種が
細分化される。これにより、より一層確実な異常原因の
判定が可能となる。According to the invention described in claim 3, according to claim 2
In addition to the effects of the invention described in (1), by determining the presence or absence of intermittentness of the detected abnormal waveform, the waveform type of the abnormal waveform is further subdivided. As a result, the cause of the abnormality can be more reliably determined.
【図１】本発明の基本的な概念構成を説明する概念構成
図。FIG. 1 is a conceptual configuration diagram illustrating a basic conceptual configuration of the present invention.
【図２】本発明を具体化した実施形態におけるシステム
構成を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing a system configuration according to an embodiment of the present invention;
【図３】ホストコンピュータのＣＰＵが実行するフロー
チャート。FIG. 3 is a flowchart executed by a CPU of a host computer.
【図４】同じくホストコンピュータのＣＰＵが実行する
フローチャート。FIG. 4 is a flowchart executed by the CPU of the host computer.
【図５】同じくホストコンピュータのＣＰＵが実行する
フローチャート。FIG. 5 is a flowchart executed by the CPU of the host computer.
【図６】同じくホストコンピュータのＣＰＵが実行する
フローチャート。FIG. 6 is a flowchart executed by the CPU of the host computer.
【図７】異常波形種（針状波）のサンプル波形図。FIG. 7 is a sample waveform diagram of an abnormal waveform type (needle wave).
【図８】異常波形種（正弦波の間欠性有り）のサンプル
波形図。FIG. 8 is a sample waveform chart of an abnormal waveform type (sine wave intermittent).
【図９】異常波形種（正弦波の間欠性無し）のサンプル
波形図。FIG. 9 is a sample waveform chart of an abnormal waveform type (no intermittent sine wave).
【図１０】異常波形種（三角波の間欠性有り）のサンプ
ル波形図。FIG. 10 is a sample waveform chart of an abnormal waveform type (triangular wave intermittent).
【図１１】異常波形種（三角波の間欠性無しでＶ0波高
値が小）のサンプル波形図。FIG. 11 is a sample waveform chart of an abnormal waveform type (the V0 peak value is small without intermittent triangular wave).
【図１２】異常波形種（三角波の間欠性無しでＶ0波高
値が大）のサンプル波形図。FIG. 12 is a sample waveform chart of an abnormal waveform type (V0 peak value is large without intermittent triangular wave).
【図１３】ＣＲＴモニタに表示された画面。FIG. 13 is a screen displayed on a CRT monitor.
【図１４】受信した異常波形。FIG. 14 shows a received abnormal waveform.
１２…異常波形検出手段としての波形検出装置、１６…
異常原因記憶手段及び制御手段を構成するホストコンピ
ュータ、１９…表示手段としてのＣＲＴモニタ、２０…
表示手段としてのプリンタ、２１…表示手段としてのプ
ロッタ。12 ... a waveform detecting device as an abnormal waveform detecting means, 16 ...
A host computer constituting an abnormality cause storage means and a control means; 19, a CRT monitor as a display means;
Printer as display means, 21... Plotter as display means.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０２Ｈ 3/38 Ｈ０２Ｈ 3/38 Ｄ 7/26 7/26 Ｍ (72)発明者 河野 文昭 愛知県犬山市字上小針１番地 エナジーサ ポート 株式会社内 (72)発明者 宮澤 博成 愛知県犬山市字上小針１番地 エナジーサ ポート 株式会社内────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification symbol FI H02H 3/38 H02H 3/38 D 7/26 7/26 M (72) Inventor Fumiaki Kawano 1st character small needle on Inuyama City, Aichi Prefecture Energy Support Co., Ltd. (72) Inventor Hironari Miyazawa 1st character small needle on Inuyama City, Aichi Prefecture Energy Support Co., Ltd.
Claims (3)
を検出し、両検出値に基づき、配電線に異常が発生した
ことを判別するとともに、異常発生時の零相電圧波形及
び零相電流波形を検出する異常波形検出手段と、 過去に実際に発生した事故データや実験データを基にし
て得た異常波形に対応する異常原因を、波形種別に区分
して記憶する異常原因記憶手段と、 前記異常波形検出手段により検出された異常波形の波形
種を識別し、その識別した波形種に対応する異常原因を
前記異常原因記憶手段から読み出し、その読み出した異
常原因を表示手段に出力する制御手段とを備えた配電線
の異常原因判定装置。1. A zero-phase voltage and a zero-phase current generated in a distribution line are detected. Based on the detected values, it is determined that an abnormality has occurred in the distribution line. Abnormal waveform detecting means for detecting phase current waveforms, and abnormal cause storing means for storing abnormal causes corresponding to abnormal waveforms obtained based on accident data or experimental data actually generated in the past, classified by waveform type And identifying the waveform type of the abnormal waveform detected by the abnormal waveform detecting means, reading out the abnormal cause corresponding to the identified waveform type from the abnormal cause storage means, and outputting the read abnormal cause to the display means. An abnormality determination device for a distribution line, comprising: a control unit.
高速フーリエ解析処理、及び傾き解析処理又は面積解析
処理の少なくともいずれか一方の解析処理を行い、各解
析処理により判別される異常波形の形状からその波形の
波形種を識別する請求項１に記載の配電線の異常原因判
定装置。2. The control means performs a fast Fourier analysis process of the detected abnormal waveform and at least one of a slope analysis process and an area analysis process, and analyzes the abnormal waveform determined by each analysis process. The distribution line abnormality cause determination apparatus according to claim 1, wherein the waveform type of the waveform is identified from the shape.
間欠性の有無を判別し、異常波形の波形種をさらに細分
化して識別するとともに、前記異常原因記憶手段は、前
記制御手段が識別可能な波形種に対応する異常原因を記
憶する請求項２に記載の配電線の異常原因判定装置。3. The control means determines the presence or absence of intermittentness of the detected abnormal waveform, further subdivides and identifies the waveform type of the abnormal waveform, and the abnormality cause storage means identifies the abnormal cause by the control means. The apparatus for determining a cause of abnormality in a distribution line according to claim 2, wherein the cause of abnormality corresponding to a possible waveform type is stored.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8309250A JPH10155232A (en) | 1996-11-20 | 1996-11-20 | Device for judging cause of abnormality of distribution line |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8309250A JPH10155232A (en) | 1996-11-20 | 1996-11-20 | Device for judging cause of abnormality of distribution line |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10155232A true JPH10155232A (en) | 1998-06-09 |
Family
ID=17990745
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8309250A Pending JPH10155232A (en) | 1996-11-20 | 1996-11-20 | Device for judging cause of abnormality of distribution line |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10155232A (en) |
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-
1996
- 1996-11-20 JP JP8309250A patent/JPH10155232A/en active Pending
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