JPH10142309A - Image target-detecting apparatus - Google Patents
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- JPH10142309A JPH10142309A JP29378696A JP29378696A JPH10142309A JP H10142309 A JPH10142309 A JP H10142309A JP 29378696 A JP29378696 A JP 29378696A JP 29378696 A JP29378696 A JP 29378696A JP H10142309 A JPH10142309 A JP H10142309A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、航空機に搭載し
て、上空を飛行する航空機、飛翔体等の目標を赤外線で
撮像して、目標位置を検出する画像目標検出装置に関す
るものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image target detection apparatus for detecting a target position by infrared imaging of a target such as an aircraft or a flying object mounted on an aircraft and flying above.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図１９は、従来の画像目標検出装置を示
す回路構成図である。図１９において、１は赤外線の中
波長領域の放射強度に応じて変化する電圧値を画素毎に
中波長輝度値として出力する中波長赤外線撮像回路、２
は中波長輝度値、３ａは画素毎に中波長輝度値の変化点
を強調する第１のコントラスト値算出回路、４は第１の
コントラスト値、５は第１のコントラスト値と第１のし
きい値を比較して二値画像を出力する二値化回路、６は
第１のしきい値、７は二値画像、８は二値画像の各有意
画素の連結状態を判別し重心位置を算出する位置検出回
路、９は位置検出回路８が検出した重心位置である。FIG. 19 is a circuit diagram showing a conventional image target detecting apparatus. In FIG. 19, reference numeral 1 denotes a medium-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in the medium-wavelength region of infrared light as a medium-wavelength luminance value for each pixel;
Is a first contrast value calculation circuit that emphasizes a change point of the middle wavelength luminance value for each pixel, 4a is a first contrast value, 5 is a first contrast value and a first threshold. A binarizing circuit for comparing the values and outputting a binary image, 6 is a first threshold value, 7 is a binary image, 8 is a discriminating state of connection of each significant pixel of the binary image to calculate a center of gravity position. The position detection circuit 9 is a position of the center of gravity detected by the position detection circuit 8.
【０００３】従来の画像目標検出装置は前記のように構
成され、中波長赤外線撮像回路１は赤外線の中波長領域
の放射強度に応じて変化する電圧値を画素毎に中波長輝
度値２として出力する。第１のコントラスト値算出回路
３ａは画素毎に中波長輝度値２の変化点を強調する。The conventional image target detection device is configured as described above, and the medium-wavelength infrared imaging circuit 1 outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in the medium-wavelength region of infrared light as a medium-wavelength luminance value 2 for each pixel. I do. The first contrast value calculation circuit 3a emphasizes a change point of the middle wavelength luminance value 2 for each pixel.
【０００４】[0004]
【数１】 (Equation 1)
【０００５】第１のコントラスト値算出回路３ａは、例
えば、図２０に示すような第１の注目画素８０と第１の
注目画素８０の周辺の画素を切り出した第１のウインド
ウ８１を構成する。第１の注目画素８０と第１のウイン
ドウ８１を画素毎に走査し、式（１）、式（３）の演算
を画素毎に行う。式（１）のｇ１＿ｍａｘ（ｘ，ｙ）
は、（ｘ，ｙ）に位置する第１の注目画素８０が構成す
る第１のウインドウ８１の中波長輝度値２の最大値であ
る。式（３）のＣ１（ｘ，ｙ）は第１の注目画素８０が
（ｘ，ｙ）に位置する場合の第１のコントラスト値４で
ある。但し、ｇ１（ｘ，ｙ）は、第１の注目画素８０の
中波長輝度値２である。ｇ１ｉは、第１のウインドウ８
１の画素ｉの中波長輝度値２、ｎ１は第１のウインドウ
８１の画素総数である。尚、演算子ＭＡＸ｛｝は｛｝内
の最大値を算出する。The first contrast value calculating circuit 3a forms a first window 81 obtained by cutting out a first pixel of interest 80 and pixels around the first pixel of interest 80 as shown in FIG. 20, for example. The first target pixel 80 and the first window 81 are scanned for each pixel, and the operations of Expressions (1) and (3) are performed for each pixel. G1_max (x, y) in equation (1)
Is the maximum value of the middle-wavelength luminance value 2 of the first window 81 formed by the first target pixel 80 located at (x, y). C1 (x, y) in Expression (3) is the first contrast value 4 when the first target pixel 80 is located at (x, y). Here, g1 (x, y) is the middle wavelength luminance value 2 of the first target pixel 80. g1i is the first window 8
The medium-wavelength luminance value 2, n1 of one pixel i is the total number of pixels in the first window 81. Note that the operator MAX # calculates the maximum value within the {}.
【０００６】図１９において、二値化回路５は第１のコ
ントラスト値４を第１のしきい値６で二値化し、有意画
素を示す二値画像７を出力する。例えば、第１のコント
ラスト値４が第１のしきい値６より大きい画素は有意画
素として、”１”を出力し、小さい画素は有意でないと
して”０”を出力する。位置検出回路８は、二値画像７
を入力して、各有意画素の連結状態を判別し連結領域毎
の重心位置９を算出する。In FIG. 19, a binarizing circuit 5 binarizes a first contrast value 4 with a first threshold value 6 and outputs a binary image 7 indicating significant pixels. For example, a pixel having the first contrast value 4 larger than the first threshold value 6 outputs “1” as a significant pixel, and outputs a “0” as a small pixel is not significant. The position detection circuit 8 outputs the binary image 7
Is input, the connected state of each significant pixel is determined, and the center of gravity position 9 for each connected region is calculated.
【０００７】図２１は、連結領域の重心位置９の例を示
したものである。図２１（ａ）は二値画像７の例を示し
たものである。８２は有意画素の連結領域を示す。図２
１（ｂ）は、図２１（ａ）中の点線領域内の拡大図で、
連結領域８２は４画素で構成されていることを表す。８
３は有意画素を表す。位置検出回路８は、図２１（ｂ）
中の各有意画素８３が４画素で連結していることを検出
し、連結領域の重心位置９を算出する。８４は、連結領
域８２の重心位置９を示す。FIG. 21 shows an example of the position 9 of the center of gravity of the connection area. FIG. 21A shows an example of the binary image 7. Reference numeral 82 denotes a connected region of significant pixels. FIG.
1 (b) is an enlarged view in a dotted line area in FIG. 21 (a),
The connected area 82 is composed of four pixels. 8
3 represents a significant pixel. FIG. 21B shows the position detection circuit 8.
It is detected that each significant pixel 83 in the middle is connected by four pixels, and the center of gravity 9 of the connected area is calculated. Reference numeral 84 denotes the position 9 of the center of gravity of the connection area 82.
【０００８】[0008]
【発明が解決しようとする課題】従来の方法では、航空
機に搭載して周囲を中波長赤外撮像回路１で撮像した場
合、太陽光の影響により雲からの放射強度が増大し、雲
を撮像している画素の中波長輝度値２が大きくなる。特
に雲の起伏が多い場合、中波長輝度値２の振幅変化が大
きくなり、突起状の変化を示す。突起状の雲クラッタに
第１の注目画素８０がある場合、第１のコントラスト値
４が大きくなり、突起状の雲クラッタが二値画像７に有
意画素として現れる。In the conventional method, when mounted on an aircraft and the surroundings are imaged by the mid-wavelength infrared imaging circuit 1, the radiation intensity from the clouds increases due to the influence of sunlight, and the clouds are imaged. The middle-wavelength luminance value 2 of the pixel in question becomes large. In particular, when there are many undulations in the clouds, the amplitude change of the medium wavelength luminance value 2 becomes large, indicating a change in the shape of a protrusion. When the projection cloud clutter has the first target pixel 80, the first contrast value 4 becomes large, and the projection cloud clutter appears as a significant pixel in the binary image 7.
【０００９】図２２（ａ）は、太陽光の影響により雲ク
ラッタが存在する中波長輝度値２の画像例を示したディ
スプレイ上の中間値画像である。８５は目標Ａ、８６は
雲クラッタＡ、８７は雲クラッタＢである。目標Ａ８５
は、背景が天空であるクリアスカイ領域に存在している
目標の例である。雲クラッタＡ８６は小さな塊状の雲の
例を示したものである。雲クラッタＢ８７は積雲の一部
分で、太陽光の影響により表面の起伏が顕著に現れてい
る例を示すものである。図２２（ｂ）は、図２２（ａ）
の二値画像７を示したものである。８８は目標Ａ８５の
連結領域である検出目標Ａ、８９は雲クラッタＡ８６の
連結領域である検出クラッタＡ、９０は雲クラッタＢ８
７に対応した連結領域の検出クラッタＢである。FIG. 22A is an intermediate value image on a display showing an example of an image having a medium wavelength luminance value 2 in which cloud clutter exists due to the influence of sunlight. 85 is a target A, 86 is cloud clutter A, and 87 is cloud clutter B. Goal A85
Is an example of a target existing in the clear sky area where the background is the sky. Cloud clutter A86 is an example of a small clump of clouds. Cloud clutter B87 is a part of a cumulus cloud, and shows an example in which surface undulations are noticeably affected by sunlight. FIG. 22 (b) is the same as FIG.
2 shows the binary image 7 of FIG. Reference numeral 88 denotes a detection target A which is a connection area of the target A85, 89 denotes a detection clutter A which is a connection area of the cloud clutter A86, and 90 denotes a cloud clutter B8.
7 is a detection clutter B of the connection region corresponding to 7.
【００１０】図２３（ａ）は、図２２（ａ）の雲クラッ
タＡ８６の中波長輝度値２の振幅変化を示したものであ
る。図２３（ｂ）は、雲クラッタＡ８６の第１のコント
ラスト値４の振幅変化と第１のしきい値６の関係を示し
たものである。図２３（ｃ）は、雲クラッタＡ８６の二
値画像７の有効画素の分布を示したものである。尚、図
２２（ａ）〜（ｃ）の横軸は、雲クラッタＡ８６の図２
２（ａ）の画像上での位置を表す。FIG. 23A shows an amplitude change of the medium wavelength luminance value 2 of the cloud clutter A86 shown in FIG. 22A. FIG. 23B shows the relationship between the amplitude change of the first contrast value 4 of the cloud clutter A86 and the first threshold value 6. FIG. 23C shows a distribution of effective pixels of the binary image 7 of the cloud clutter A86. Note that the horizontal axis in FIGS. 22A to 22C is the cloud clutter A86 in FIG.
2 (a) represents the position on the image.
【００１１】同様に図２４（ａ）は、図２２（ａ）の雲
クラッタＢ８７の中波長輝度値２の振幅変化を示したも
のである。図２４（ｂ）は、雲クラッタＢ８７の第１の
コントラスト値４の振幅変化と第１のしきい値６の関係
を示したものである。図２４（ｃ）は、雲クラッタＢ８
７の二値画像７の有効画素の分布を示したものである。
尚、図２３（ａ）〜（ｃ）の横軸は、雲クラッタＢ８７
の図２２（ａ）の画像上での位置を表す。Similarly, FIG. 24A shows an amplitude change of the medium wavelength luminance value 2 of the cloud clutter B87 of FIG. 22A. FIG. 24B shows the relationship between the amplitude change of the first contrast value 4 of the cloud clutter B87 and the first threshold value 6. FIG. 24C shows a cloud clutter B8.
7 shows a distribution of effective pixels of the binary image 7 of FIG.
Note that the horizontal axes in FIGS. 23A to 23C are cloud clutter B87.
Of the image on the image of FIG.
【００１２】同様に図２５（ａ）は、図２２（ａ）の目
標Ａ８５の中波長輝度値２の振幅変化を示したものであ
る。図２５（ｂ）は、目標Ａ８５の第１のコントラスト
値４の振幅変化と第１のしきい値６の関係を示したもの
である。図２５（ｃ）は目標Ａ８５の二値画像７の有効
画素の分布を示したものである。尚、図２４（ａ）〜
（ｃ）の横軸は、目標Ａ８５の図２２（ａ）の画像上で
の位置を表す。Similarly, FIG. 25A shows a change in the amplitude of the medium wavelength luminance value 2 of the target A85 in FIG. 22A. FIG. 25B shows the relationship between the amplitude change of the first contrast value 4 of the target A85 and the first threshold value 6. FIG. 25C shows the distribution of effective pixels of the binary image 7 of the target A85. In addition, FIG.
The horizontal axis of (c) represents the position of the target A85 on the image of FIG.
【００１３】図２３〜２５の（ｂ）から、目標Ａ８５が
有意画素として現れるように第１のしきい値６を選定す
れば、雲クラッタＡ８６、雲クラッタＢ８７も有意画素
として現れてしまう。よって、位置検出回路８は、雲ク
ラッタＡ８６、雲クラッタＢ８７を目標として誤検出し
てしまう問題点がある。From FIGS. 23 to 25B, if the first threshold value 6 is selected so that the target A85 appears as a significant pixel, the cloud clutter A86 and the cloud clutter B87 also appear as significant pixels. Therefore, there is a problem that the position detection circuit 8 erroneously detects the cloud clutter A86 and the cloud clutter B87 as targets.
【００１４】この発明は、このような課題を解消するた
めになされたもので、突起状の雲クラッタの誤検出を抑
制する画像目標検出装置を得ることを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide an image target detection apparatus which suppresses erroneous detection of a protruding cloud clutter.
【００１５】[0015]
【課題を解決するための手段】第１の発明による画像目
標検出装置は、赤外線の中波長領域の放射強度に応じて
変化する電圧値を画素毎に中波長輝度値として出力する
中波長赤外線撮像回路と、中波長輝度値を入力し、画素
毎に中波長輝度値の変化点を強調する第１のコントラス
ト値算出回路と、第１のコントラスト値算出回路の出力
値と第１のしきい値を比較して二値画像を出力する二値
化回路と、二値画像の各有意画素の連結状態を判別し連
結領域毎の重心位置を検出する位置検出回路と、赤外線
の長波長領域の放射強度に応じて変化する電圧値を画素
毎に長波長輝度値として出力する長波長赤外線撮像回路
と、長波長輝度値を入力し、画素毎に長波長輝度値の変
化点を強調する第２のコントラスト値算出回路と、位置
検出回路で検出した重心位置付近の画素の第１のコント
ラスト値算出回路の出力値を抽出する第１の抽出回路
と、位置検出回路で検出した重心位置付近の画素の第２
のコントラスト値算出回路の出力値を抽出する第２の抽
出回路と、第１の抽出回路の抽出値と係数との乗算を行
う係数乗算回路と、係数乗算回路の出力値から第２の抽
出回路の抽出値を減算する差分回路と、差分回路の出力
値と第２のしきい値との比較結果を出力する比較回路
と、比較結果から位置検出回路で検出した重心位置の有
効性を判定し、目標位置を決定する目標位置決定回路を
備える。According to a first aspect of the present invention, there is provided an image target detection apparatus which outputs a voltage value which varies according to the radiation intensity in a medium wavelength region of infrared light as a medium wavelength luminance value for each pixel. A first contrast value calculating circuit for inputting a medium wavelength luminance value and emphasizing a change point of the medium wavelength luminance value for each pixel; an output value of the first contrast value calculating circuit and a first threshold value A binarization circuit that outputs a binary image by comparing the binarized image, a position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image, and detects the position of the center of gravity of each connected region, A long-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the intensity as a long-wavelength luminance value for each pixel, and a second that inputs the long-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the long-wavelength luminance value for each pixel Contrast value calculation circuit and position detection circuit A first extracting circuit for extracting an output value of the first contrast value calculation circuit of a pixel in the vicinity of the center of gravity position, the second pixels in the vicinity of the gravity center position detected by the position detection circuit
A second extraction circuit for extracting the output value of the contrast value calculation circuit, a coefficient multiplication circuit for multiplying the extraction value of the first extraction circuit by a coefficient, and a second extraction circuit from the output value of the coefficient multiplication circuit A difference circuit that subtracts the extracted value of the above, a comparison circuit that outputs a comparison result between the output value of the difference circuit and the second threshold value, and determines the validity of the center of gravity position detected by the position detection circuit from the comparison result. And a target position determining circuit for determining a target position.
【００１６】また、第２の発明においては、赤外線の長
波長領域の放射強度に応じて変化する電圧値を画素毎に
長波長輝度値として出力する長波長赤外線撮像回路と、
長波長輝度値を入力し、画素毎に長波長輝度値の変化点
を強調する第１のコントラスト値算出回路と、第１のコ
ントラスト値算出回路の出力値と第１のしきい値を比較
して二値画像を出力する二値化回路と、二値画像の各有
意画素の連結状態を判別し連結領域毎の重心位置を検出
する位置検出回路と、赤外線の中波長領域の放射強度に
応じて変化する電圧値を画素毎に中波長輝度値として出
力する中波長赤外線撮像回路と、中波長輝度値を入力
し、画素毎に中波長輝度値の変化点を強調する第２のコ
ントラスト値算出回路と、位置検出回路で検出した重心
位置付近の画素の第１のコントラスト値算出回路の出力
値を抽出する第１の抽出回路と、位置検出回路で検出し
た重心位置付近の画素の第２のコントラスト値算出回路
の出力値を抽出する第２の抽出回路と、第１の抽出回路
の抽出値と係数との乗算を行う係数乗算回路と、係数乗
算回路の出力値から第２の抽出回路の抽出値を減算する
差分回路と、差分回路の出力値と第２のしきい値との比
較結果を出力する比較回路と、比較結果から位置検出回
路で検出した重心位置の有効性を判定し、目標位置を決
定する目標位置決定回路を備える。Further, in the second invention, a long-wavelength infrared imaging circuit for outputting a voltage value that changes according to the radiation intensity in a long-wavelength region of infrared light as a long-wavelength luminance value for each pixel;
A first contrast value calculation circuit that inputs a long wavelength luminance value and emphasizes a change point of the long wavelength luminance value for each pixel, and compares an output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value. A binarization circuit that outputs a binary image, a position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image, and detects the position of the center of gravity of each connection region, -Wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes as a medium-wavelength luminance value for each pixel, and a second contrast value that inputs the medium-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the medium-wavelength luminance value for each pixel Circuit, a first extraction circuit for extracting an output value of the first contrast value calculation circuit of a pixel near the center of gravity detected by the position detection circuit, and a second extraction circuit for a pixel near the center of gravity detected by the position detection circuit. Extract the output value of the contrast value calculation circuit A second extraction circuit, a coefficient multiplication circuit for multiplying the coefficient by the extraction value of the first extraction circuit, a difference circuit for subtracting the extraction value of the second extraction circuit from the output value of the coefficient multiplication circuit, and a difference circuit And a target position determination circuit that determines the validity of the center of gravity position detected by the position detection circuit based on the comparison result and determines a target position. .
【００１７】また、第３の発明においては、赤外線の中
波長領域の放射強度に応じて変化する電圧値を画素毎に
中波長輝度値として出力する中波長赤外線撮像回路と、
中波長輝度値を入力し、画素毎に中波長輝度値の変化点
を強調する第１のコントラスト値算出回路と、第１のコ
ントラスト値算出回路の出力値と第１のしきい値を比較
して二値画像を出力する二値化回路と、二値画像の各有
意画素の連結状態を判別し連結領域毎の重心位置を検出
する位置検出回路と、赤外線の長波長領域の放射強度に
応じて変化する電圧値を画素毎に長波長輝度値として出
力する長波長赤外線撮像回路と、長波長輝度値を入力
し、画素毎に長波長輝度値の変化点を強調する第２のコ
ントラスト値算出回路と、位置検出回路で検出した重心
位置付近の画素の第２のコントラスト値算出回路の出力
値を抽出する第２の抽出回路と、第２のしきい値を記憶
する目標判定輝度値記憶回路と、第２の抽出回路の出力
値と第２のしきい値との比較結果を出力する比較回路
と、比較結果から位置検出回路で検出した重心位置の有
効性を判定し、目標位置を決定する目標位置決定回路と
を備える。Further, in the third invention, a medium-wavelength infrared imaging circuit for outputting a voltage value that changes according to the radiation intensity in the medium-wavelength region of infrared light as a medium-wavelength luminance value for each pixel;
A first contrast value calculation circuit that inputs a medium-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the medium-wavelength luminance value for each pixel, and compares an output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value. A binarization circuit that outputs a binary image, a position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image, and detects the position of the center of gravity of each connected region, -Wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes as a long-wavelength luminance value for each pixel, and a second contrast value that inputs the long-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the long-wavelength luminance value for each pixel Circuit, a second extraction circuit for extracting an output value of a second contrast value calculation circuit of a pixel near the position of the center of gravity detected by the position detection circuit, and a target determination luminance value storage circuit for storing a second threshold value And an output value of the second extraction circuit and a second threshold value Comprises a comparator circuit for outputting a comparison result, determines the validity of the gravity center position detected by the position detection circuit from the comparison result, the target position determining circuit for determining the target position.
【００１８】また、第４の発明においては、赤外線の長
波長領域の放射強度に応じて変化する電圧値を画素毎に
長波長輝度値として出力する長波長赤外線撮像回路と、
長波長輝度値を入力し、画素毎に長波長輝度値の変化点
を強調する第１のコントラスト値算出回路と、第１のコ
ントラスト値算出回路の出力値と第１のしきい値を比較
して二値画像を出力する二値化回路と、二値画像の各有
意画素の連結状態を判別し連結領域毎の重心位置を検出
する位置検出回路と、赤外線の中波長領域の放射強度に
応じて変化する電圧値を画素毎に中波長輝度値として出
力する中波長赤外線撮像回路と、中波長輝度値を入力
し、画素毎に中波長輝度値の変化点を強調する第２のコ
ントラスト値算出回路と、位置検出回路で検出した重心
位置付近の画素の第２のコントラスト値算出回路の出力
値を抽出する第２の抽出回路と、第２のしきい値を記憶
する目標判定輝度値記憶回路と、第２の抽出回路の出力
値と第２のしきい値との比較結果を出力する比較回路
と、比較結果から位置検出回路で検出した重心位置の有
効性を判定し、目標位置を決定する目標位置決定回路と
を備える。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a long-wave infrared imaging circuit for outputting a voltage value that changes according to the radiation intensity in a long-wavelength region of infrared light as a long-wavelength luminance value for each pixel,
A first contrast value calculation circuit that inputs a long wavelength luminance value and emphasizes a change point of the long wavelength luminance value for each pixel, and compares an output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value. A binarization circuit that outputs a binary image, a position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image, and detects the position of the center of gravity of each connection region, -Wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes as a medium-wavelength luminance value for each pixel, and a second contrast value that inputs the medium-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the medium-wavelength luminance value for each pixel Circuit, a second extraction circuit for extracting an output value of a second contrast value calculation circuit of a pixel near the position of the center of gravity detected by the position detection circuit, and a target determination luminance value storage circuit for storing a second threshold value And an output value of the second extraction circuit and a second threshold value Comprises a comparator circuit for outputting a comparison result, determines the validity of the gravity center position detected by the position detection circuit from the comparison result, the target position determining circuit for determining the target position.
【００１９】また、第５の発明においては、赤外線の中
波長領域の放射強度に応じて変化する電圧値を画素毎に
中波長輝度値として出力する中波長赤外線撮像回路と、
中波長輝度値を入力し、画素毎に中波長輝度値の変化点
を強調する第１のコントラスト値算出回路と、第１のコ
ントラスト値算出回路の出力値と第１のしきい値を比較
して二値画像を出力する二値化回路と、二値画像の各有
意画素の連結状態を判別し連結領域毎の重心位置を検出
する位置検出回路と、赤外線の長波長領域の放射強度に
応じて変化する電圧値を画素毎に長波長輝度値として出
力する長波長赤外線撮像回路と、長波長輝度値を入力
し、画素毎に長波長輝度値の変化点を強調する第２のコ
ントラスト値算出回路と、位置検出回路で検出した重心
位置付近の画素の第２のコントラスト値算出回路の出力
値を抽出する第２の抽出回路と、位置検出回路で検出し
た重心位置毎に第２の抽出回路の出力値を複数回抽出
し、複数回抽出した第２の抽出回路の出力値の平均値を
算出する平均値算出回路と、第２のしきい値を記憶する
目標判定輝度値記憶回路と、第２のしきい値と平均値算
出回路の出力値との比較結果を出力する比較回路と、比
較結果から位置検出回路で検出した重心位置の有効性を
判定し、目標位置を決定する目標位置決定回路を備え
る。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a medium-wavelength infrared imaging circuit for outputting a voltage value that changes according to the radiation intensity in the medium-wavelength region of infrared light as a medium-wavelength luminance value for each pixel,
A first contrast value calculation circuit that inputs a medium-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the medium-wavelength luminance value for each pixel, and compares an output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value. A binarization circuit that outputs a binary image, a position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image, and detects the position of the center of gravity of each connected region, -Wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes as a long-wavelength luminance value for each pixel, and a second contrast value that inputs the long-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the long-wavelength luminance value for each pixel Circuit, a second extraction circuit for extracting an output value of the second contrast value calculation circuit for a pixel near the position of the center of gravity detected by the position detection circuit, and a second extraction circuit for each position of the center of gravity detected by the position detection circuit Extract the output value of the Average value calculation circuit for calculating the average value of the output values of the extraction circuit, a target determination luminance value storage circuit for storing the second threshold value, and the second threshold value and the output value of the average value calculation circuit. And a target position determination circuit that determines the validity of the position of the center of gravity detected by the position detection circuit from the comparison result and determines a target position.
【００２０】また、第６の発明においては、赤外線の長
波長領域の放射強度に応じて変化する電圧値を画素毎に
長波長輝度値として出力する長波長赤外線撮像回路と、
長波長輝度値を入力し、画素毎に長波長輝度値の変化点
を強調する第１のコントラスト値算出回路と、第１のコ
ントラスト値算出回路の出力値と第１のしきい値を比較
して二値画像を出力する二値化回路と、二値画像の各有
意画素の連結状態を判別し連結領域毎の重心位置を検出
する位置検出回路と、赤外線の中波長領域の放射強度に
応じて変化する電圧値を画素毎に中波長輝度値として出
力する中波長赤外線撮像回路と、中波長輝度値を入力
し、画素毎に中波長輝度値の変化点を強調する第２のコ
ントラスト値算出回路と、位置検出回路で検出した重心
位置付近の画素の第２のコントラスト値算出回路の出力
値を抽出する第２の抽出回路と、位置検出回路で検出し
た重心位置毎に第２の抽出回路の出力値を複数回抽出
し、複数回抽出した第２の抽出回路の出力値の平均値を
算出する平均値算出回路と、第２のしきい値を記憶する
目標判定輝度値記憶回路と、第２のしきい値と平均値算
出回路の出力値との比較結果を出力する比較回路と、比
較結果から位置検出回路で検出した重心位置の有効性を
判定し、目標位置を決定する目標位置決定回路を備え
る。According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a long-wavelength infrared imaging circuit for outputting a voltage value that changes according to the radiation intensity in a long-wavelength region of infrared light as a long-wavelength luminance value for each pixel;
A first contrast value calculation circuit that inputs a long wavelength luminance value and emphasizes a change point of the long wavelength luminance value for each pixel, and compares an output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value. A binarization circuit that outputs a binary image, a position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image, and detects the position of the center of gravity of each connection region, -Wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes as a medium-wavelength luminance value for each pixel, and a second contrast value that inputs the medium-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the medium-wavelength luminance value for each pixel Circuit, a second extraction circuit for extracting an output value of the second contrast value calculation circuit for a pixel near the position of the center of gravity detected by the position detection circuit, and a second extraction circuit for each position of the center of gravity detected by the position detection circuit Extract the output value of the Average value calculation circuit for calculating the average value of the output values of the extraction circuit, a target determination luminance value storage circuit for storing the second threshold value, and the second threshold value and the output value of the average value calculation circuit. And a target position determination circuit that determines the validity of the position of the center of gravity detected by the position detection circuit from the comparison result and determines a target position.
【００２１】[0021]
実施の形態１．図１はこの発明による装置の実施の形態
１を示す構成図である。１０は、赤外線の長波長領域の
放射強度に応じて変化する電圧値を画素毎に長波長輝度
値として出力する長波長赤外線撮像回路、１１は長波長
輝度値、１２ａは画素毎に長波長輝度値の変化点を強調
する第２のコントラスト値算出回路、１３は第２のコン
トラスト値、１４は位置検出回路８で検出した重心位置
９に対応する第１のコントラスト値算出回路３ａの出力
値を抽出する第１の抽出回路、１５は第１の抽出輝度
値、１６は位置検出回路８で検出した重心位置９に対応
する第２のコントラスト値算出回路１２ａの出力値を抽
出する第２の抽出回路、１７は第２の抽出輝度値、１８
は第１の抽出輝度値１５と係数との乗算を行う係数乗算
回路、１９は係数、２０は乗算結果値、２１は乗算結果
値２０から第２の抽出輝度値１７を減算する差分回路、
２２は差分結果値、２３ａは差分結果値２２と第２のし
きい値との比較結果を出力する比較回路、２４は第２の
しきい値、２５ａは比較結果値、２６は比較結果２５ａ
から位置検出回路８で検出した重心位置９の有効性を判
定し、目標位置を決定する目標位置決定回路である。Embodiment 1 FIG. FIG. 1 is a configuration diagram showing Embodiment 1 of the apparatus according to the present invention. Reference numeral 10 denotes a long-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in a long-wavelength region of infrared light as a long-wavelength luminance value for each pixel, 11 denotes a long-wavelength luminance value, and 12a denotes a long-wavelength luminance for each pixel. A second contrast value calculation circuit for emphasizing a change point of the value, 13 is a second contrast value, 14 is an output value of the first contrast value calculation circuit 3 a corresponding to the position of the center of gravity 9 detected by the position detection circuit 8. A first extraction circuit for extraction, 15 is a first extracted luminance value, 16 is a second extraction for extracting an output value of the second contrast value calculation circuit 12a corresponding to the position 9 of the center of gravity detected by the position detection circuit 8 Circuit, 17 is the second extracted luminance value, 18
Is a coefficient multiplication circuit for multiplying the first extracted luminance value 15 by a coefficient, 19 is a coefficient, 20 is a multiplication result value, 21 is a difference circuit for subtracting the second extraction luminance value 17 from the multiplication result value 20,
22 is a difference result value, 23a is a comparison circuit that outputs a comparison result between the difference result value 22 and a second threshold value, 24 is a second threshold value, 25a is a comparison result value, and 26 is a comparison result 25a
Is a target position determination circuit that determines the validity of the center-of-gravity position 9 detected by the position detection circuit 8 and determines a target position.
【００２２】長波長赤外線撮像回路１０は赤外線の長波
長領域の放射強度に応じて変化する電圧値を画素毎に中
波長輝度値１１として出力する。第２のコントラスト値
算出回路１２ａは画素毎に長波長輝度値１１の変化点を
強調する。The long-wavelength infrared imaging circuit 10 outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in the long-wavelength region of infrared light as a medium-wavelength luminance value 11 for each pixel. The second contrast value calculation circuit 12a emphasizes a change point of the long wavelength luminance value 11 for each pixel.
【００２３】第２のコントラスト値算出回路１２ａは、
第１のコントラスト値算出回路３ａの入力値を長波長輝
度値１１とした場合と同様の動作をする。図２は、第２
のコントラスト値算出回路１２に適用するウインドウ構
成例を示したディスプレイ上の中間値画像である。２７
は第２の注目画素、２８は第２のウインドウである。The second contrast value calculation circuit 12a
The same operation as when the input value of the first contrast value calculation circuit 3a is set to the long wavelength luminance value 11 is performed. FIG. 2 shows the second
7 is an intermediate value image on a display showing a window configuration example applied to the contrast value calculation circuit 12 of FIG. 27
Is a second target pixel, and 28 is a second window.
【００２４】[0024]
【数２】 (Equation 2)
【００２５】式（４）のｇ２＿ｍａｘ（ｘ，ｙ）は、第
２のウインドウ２８中の長波長輝度値１１の最大値、式
（２）のＣ２（ｘ，ｙ）は第２のコントラスト値１３で
ある。但し、（ｘ，ｙ）は第２の注目画素２７が画像中
の（ｘ，ｙ）に位置することを示し、ｇ２（ｘ，ｙ）
は、画像中の（ｘ，ｙ）に位置する第２の注目画素２７
の長波長輝度値１１である。ｇ２ｉは、第２のウインド
ウ２８中の画素ｉの長波長輝度値１１、ｎ２は第２のウ
インドウ２８の画素総数である。G2_max (x, y) in equation (4) is the maximum value of the long-wavelength luminance value 11 in the second window 28, and C2 (x, y) in equation (2) is the second contrast value 13 It is. Here, (x, y) indicates that the second target pixel 27 is located at (x, y) in the image, and g2 (x, y)
Is a second pixel of interest 27 located at (x, y) in the image.
Is a long-wavelength luminance value 11. g2i is the long wavelength luminance value 11 of the pixel i in the second window 28, and n2 is the total number of pixels in the second window 28.
【００２６】位置検出回路８で検出した連結領域の重心
位置９を（Ｘｇｊ，Ｙｇｊ）とする。但し、ｊは二値画
像７中の連結領域の番号である。The position 9 of the center of gravity of the connected area detected by the position detection circuit 8 is defined as (Xgj, Ygj). Here, j is the number of the connected area in the binary image 7.
【００２７】[0027]
【数３】 (Equation 3)
【００２８】式（６）は第１の抽出輝度値１５、式
（７）は第２の抽出輝度値１７の算出式である。Equation (6) is for calculating the first extracted luminance value 15, and Equation (7) is for calculating the second extracted luminance value 17.
【００２９】[0029]
【数４】 (Equation 4)
【００３０】式（８）は、乗算結果値２０の算出例式で
ある。但し、ａは係数１９である。Equation (8) is an example equation for calculating the multiplication result value 20. Here, a is a coefficient 19.
【００３１】[0031]
【数５】 (Equation 5)
【００３２】式（９）は、差分結果値２２の算出例式で
ある。Formula (9) is a formula for calculating the difference result value 22.
【００３３】[0033]
【数６】 (Equation 6)
【００３４】式（１０）は、比較結果値２５ａの算出式
である。Equation (10) is an equation for calculating the comparison result value 25a.
【００３５】目標位置決定回路２６は比較結果値２５ａ
が”１”である連結領域ｊの重心位置９（Ｘｇｊ，Ｙｇ
ｊ）を目標位置として決定する。The target position determination circuit 26 calculates the comparison result value 25a.
Is "1", the position of the center of gravity 9 (Xgj, Yg
j) is determined as the target position.
【００３６】図３は、航空機から目標を撮像しているデ
ィスプレイ上の中間値画像の例を示したものである。２
９は太陽、３０は航空機、３１は目標Ｂ、３２は雲、３
３は地表である。FIG. 3 shows an example of an intermediate value image on a display which is capturing an image of a target from an aircraft. 2
9 is sun, 30 is aircraft, 31 is target B, 32 is cloud, 3
3 is the ground surface.
【００３７】図４（ａ）は、図２の航空機３０から撮像
した中波長輝度値２のディスプレイ上の中間値画像例、
同様に図４（ｂ）は、長波長輝度値１１のディスプレイ
上の中間値画像例である。３６は撮像している背景が低
温度のクリアスカイ領域、３７は背景が常温の地表背景
領域である。３４、３５は雲クラッタＣ、雲クラッタＤ
である。FIG. 4A is an example of an intermediate value image on the display of the medium wavelength luminance value 2 taken from the aircraft 30 in FIG.
Similarly, FIG. 4B is an example of an intermediate value image on the display having the long wavelength luminance value 11. Numeral 36 denotes a clear sky area where the background being imaged has a low temperature, and numeral 37 denotes a ground surface background area where the background is normal temperature. 34 and 35 are cloud clutter C and cloud clutter D
It is.
【００３８】赤外線の中波長領域では太陽光の反射、散
乱の影響を受けるため、雲表面の起伏が中波長輝度値２
の振幅変化に反映される。雲クラッタＣ３４は小さな塊
状の雲で、太陽光の影響により背景の地表３３の中波長
輝度値２より大きくなり、中波長輝度値２の振幅変化が
突起状となる。又、雲クラッタＤ３５は雲表面の起伏が
大きいため、中波長輝度値２の振幅変化が突起状とな
る。In the middle wavelength region of infrared light, the undulation of the cloud surface is affected by the reflection and scattering of sunlight, so
Is reflected in the amplitude change. The cloud clutter C34 is a small clump of clouds, and becomes larger than the medium wavelength luminance value 2 of the background surface 33 due to the influence of sunlight, and the amplitude change of the medium wavelength luminance value 2 becomes a projection. Further, since the cloud clutter D35 has a large undulation on the cloud surface, the amplitude change of the medium-wavelength luminance value 2 has a protruding shape.
【００３９】一方、赤外線の長波長領域において、厚い
雲では主に雲自身の赤外線放射、薄い雲では主に雲を透
過してくる地表３３からの赤外線放射が長波長輝度値１
１の振幅変化に現れる。よって図４（ａ）の中波長輝度
値２の画像中の雲クラッタＣ３４、雲クラッタＤ３５に
対応する長波長輝度値１１の振幅変化は突起状にならな
い。On the other hand, in the long-wavelength region of the infrared light, the thick-clouds mainly emit the infrared radiation of the cloud itself, and the thin-clouds mainly emit the infrared radiation from the ground surface 33 penetrating the cloud with a long-wavelength luminance value of 1.
1 appears in the amplitude change. Therefore, the amplitude change of the long wavelength luminance value 11 corresponding to the cloud clutter C34 and the cloud clutter D35 in the image of the medium wavelength luminance value 2 in FIG.
【００４０】図５（ａ）は雲クラッタＣ３４の中波長輝
度値２の振幅変化、図５（ｂ）は雲クラッタＣ３４の長
波長輝度値１１の振幅変化を示したものである。図５
（ａ）の横軸は図４（ａ）の画像中の位置を表し、図５
（ａ）の横軸は図４（ｂ）の画像中の位置を表す。中波
長輝度値２の振幅変化は、太陽光の影響により地表３３
の放射強度より雲クラッタＣ３４の放射強度が大きくな
る。一方、雲クラッタＣ３４の温度は地表３３の温度よ
り低く、又雲クラッタ３６は塊状なので地表３３からの
放射が透過しにくくなるので、雲クラッタＣ３４の長波
長輝度値１１の振幅変化は落ち込む。FIG. 5A shows an amplitude change of the medium wavelength luminance value 2 of the cloud clutter C34, and FIG. 5B shows an amplitude change of the long wavelength luminance value 11 of the cloud clutter C34. FIG.
The horizontal axis of FIG. 5A represents the position in the image of FIG.
The horizontal axis of (a) represents the position in the image of FIG. 4 (b). The amplitude change of the medium wavelength luminance value 2 is caused by the influence of sunlight,
The radiation intensity of the cloud clutter C34 is larger than the radiation intensity of the cloud clutter C34. On the other hand, the temperature of the cloud clutter C34 is lower than the temperature of the ground surface 33, and since the cloud clutter 36 is in a lump, the radiation from the ground surface 33 becomes difficult to transmit. Therefore, the amplitude change of the long-wavelength luminance value 11 of the cloud clutter C34 decreases.
【００４１】図５（ｃ）は、雲クラッタＣ３４の第１の
コントラスト値４の振幅変化、図５（ｄ）は雲クラッタ
Ｃ３４の第２のコントラスト値１３の振幅変化である。
図５（ｅ）は、図５（ｃ）中の第１のしきい値６で２値
化した時の有意画素の分布を示したものである。４３
は、雲クラッタＣ３４の位置検出回路８で検出する重心
位置９を表す。図５（ｅ）の重心位置９を（Ｘｇ１，Ｙ
ｇ１）とすると、第１の抽出輝度値１５は図５（ｃ）の
Ｃ１（Ｘｇ１，Ｙｇ１）、第２の抽出輝度値１７は図５
（ｄ）のＣ２（Ｘｇ１，Ｙｇ１）となる。FIG. 5C shows an amplitude change of the first contrast value 4 of the cloud clutter C34, and FIG. 5D shows an amplitude change of the second contrast value 13 of the cloud clutter C34.
FIG. 5E shows the distribution of significant pixels when binarized by the first threshold value 6 in FIG. 5C. 43
Represents the position of the center of gravity 9 detected by the position detection circuit 8 of the cloud clutter C34. The center of gravity position 9 in FIG.
g1), the first extracted luminance value 15 is C1 (Xg1, Yg1) in FIG. 5C, and the second extracted luminance value 17 is
C2 (Xg1, Yg1) in (d).
【００４２】図６（ａ）は、雲クラッタＤ３５の中波長
輝度値２の振幅変化、図６（ｂ）は、雲クラッタＤ３５
の長波長輝度値１１の振幅変化を示したものである。
尚、４５は雲クラッタＤ３５の第１の抽出輝度値１５、
４７は雲クラッタＤ３５の第２の抽出輝度値１７、（Ｘ
ｇ２，Ｙｇ２）は雲クラッタＤ３５の重心位置９であ
る。雲クラッタＤ３５は積雲の一部分で、赤外線の中波
長領域では太陽光の影響により雲表面の起伏が顕著に現
れている例を示すものである。一方、赤外線の長波長領
域では、積雲は厚いので地表３３から透過してくる放射
はほとんどなく、雲自身の温度分布も一様なので長波長
輝度値１１の振幅変化がほとんどない。FIG. 6A shows an amplitude change of the medium-wavelength luminance value 2 of the cloud clutter D35, and FIG.
5 shows the change in amplitude of the long-wavelength luminance value 11 of FIG.
Here, 45 is the first extracted luminance value 15 of the cloud clutter D35,
47 is the second extracted luminance value 17 of the cloud clutter D35, (X
g2, Yg2) is the position 9 of the center of gravity of the cloud clutter D35. The cloud clutter D35 is a part of a cumulus cloud, and shows an example in which unevenness of the cloud surface appears remarkably in the middle wavelength region of infrared light due to the influence of sunlight. On the other hand, in the long wavelength region of infrared light, since the cumulus cloud is thick, almost no radiation penetrates from the ground surface 33, and the temperature distribution of the cloud itself is uniform, so that the amplitude of the long wavelength luminance value 11 hardly changes.
【００４３】図７（ａ）は、目標Ｂ３３の中波長輝度値
２の振幅変化、図７（ｂ）は、目標Ｂ３３の長波長輝度
値１１の振幅変化を示したものである。尚、４９は目標
Ｂ３３の第１の抽出輝度値１５、５１は目標Ｂ３３の第
２の抽出輝度値１７、（Ｘｇ３，Ｙｇ３）は目標Ｂ３３
の重心位置９である。目標Ｂ３３はクリアスカイ領域３
６に存在するので、中波長輝度値２と長波長輝度値１１
とも同様の振幅変化となる。FIG. 7A shows an amplitude change of the medium wavelength luminance value 2 of the target B33, and FIG. 7B shows an amplitude change of the long wavelength luminance value 11 of the target B33. Note that 49 is the first extracted luminance value 15 of the target B33, 51 is the second extracted luminance value 17 of the target B33, and (Xg3, Yg3) is the target B33.
Is the position 9 of the center of gravity. Goal B33 is clear sky area 3
6, the medium wavelength luminance value 2 and the long wavelength luminance value 11
Both have the same amplitude change.
【００４４】図８は、第１の抽出輝度値１５を横軸、第
２の抽出輝度値１７を縦軸とした特徴空間に、雲クラッ
タＣ３４、雲クラッタＤ３５、目標Ｂ３３をプロットし
た分布図である。５２は目標Ｂ３３の分布位置、５３は
雲クラッタＣ３４の分布位置、５４は雲クラッタＤ３５
の分布位置を表す。FIG. 8 is a distribution diagram in which the cloud clutter C34, the cloud clutter D35, and the target B33 are plotted in a feature space in which the first extracted luminance value 15 is the horizontal axis and the second extracted luminance value 17 is the vertical axis. is there. 52 is a distribution position of the target B33, 53 is a distribution position of the cloud clutter C34, and 54 is a cloud clutter D35.
Represents the distribution position of.
【００４５】目標Ｂ３３は第１の抽出輝度値１５が大き
ければ、第２の抽出輝度値１７も大きくなるが、雲クラ
ッタＣ３４、雲クラッタＤ３５は、第１の抽出輝度値１
５が大きくても第２の抽出輝度値１７は負値又は零付近
になる。For the target B33, if the first extracted luminance value 15 is large, the second extracted luminance value 17 is also large. However, the cloud clutter C34 and the cloud clutter D35 have the first extracted luminance value 1
Even if 5 is large, the second extracted luminance value 17 becomes a negative value or near zero.
【００４６】よって、係数１９の大きさの傾きと第２の
しきい値２４の切片をもつ識別関数により、目標Ｂ３３
と雲クラッタＣ３４、雲クラッタＤ３５を弁別すること
ができる。識別関数は式（１０）であり、５５は識別関
数の境界線、５６は識別関数の切片量、５７は識別関数
の傾き量を表す。図８の特徴空間図上の識別関数の境界
線５５より上に分布するものを目標と判断することによ
って、雲クラッタＣ３４、雲クラッタＤ３５を目標位置
決定回路２６で除去できる。Therefore, the target B33 is obtained by the discriminant function having the slope of the magnitude of the coefficient 19 and the intercept of the second threshold value 24.
Cloud clutter C34 and cloud clutter D35. The discriminant function is expressed by equation (10), 55 represents a boundary of the discriminant function, 56 represents the intercept of the discriminant function, and 57 represents the slope of the discriminant function. The cloud clutter C34 and the cloud clutter D35 can be removed by the target position determination circuit 26 by judging that the distribution above the boundary 55 of the discriminant function on the feature space diagram of FIG. 8 is the target.
【００４７】このように、中波長輝度値２と長波長輝度
値１１の振幅変化から雲クラッタか目標かの弁別をする
ので、中波長輝度値２の振幅変化の中で太陽光の影響で
現れてくる突起状の雲クラッタを誤検出しないようにす
ることができる。As described above, whether the target is cloud clutter or a target is discriminated from the change in the amplitude of the medium-wavelength luminance value 2 and the change in the long-wavelength luminance value 11. It is possible to prevent erroneous detection of the coming-up-like cloud clutter.
【００４８】実施の形態２．図９は、この発明の実施の
形態２を示す構成図である。長波長赤外線撮像回路１０
から出力される長波長輝度値１１を第１のコントラスト
値算出回路３ｂへ入力し、中波長赤外線撮像回路１から
出力される中波長輝度値２を第２のコントラスト値算出
回路１２ｂへ入力する。３ｂは長波長輝度値１１を入力
とする第１のコントラスト値算出回路、１２ｂは中波長
輝度値２を入力とする第２のコントラスト値算出回路で
ある。Embodiment 2 FIG. 9 is a configuration diagram showing Embodiment 2 of the present invention. Long wavelength infrared imaging circuit 10
Is input to the first contrast value calculation circuit 3b, and the medium wavelength luminance value 2 output from the middle wavelength infrared imaging circuit 1 is input to the second contrast value calculation circuit 12b. Reference numeral 3b denotes a first contrast value calculation circuit that receives a long-wavelength luminance value 11, and reference numeral 12b denotes a second contrast value calculation circuit that receives a medium-wavelength luminance value 2.
【００４９】[0049]
【数７】 (Equation 7)
【００５０】式（１１）、式（１２）は、第１のコント
ラスト値算出回路３ｂが出力する第１のコントラスト値
４である。Equations (11) and (12) are the first contrast value 4 output from the first contrast value calculation circuit 3b.
【００５１】[0051]
【数８】 (Equation 8)
【００５２】式（１３）、式（１４）は、第２のコント
ラスト値算出回路１２ｂが出力する第２のコントラスト
値１３である。Equations (13) and (14) are the second contrast values 13 output by the second contrast value calculation circuit 12b.
【００５３】赤外線の長波長領域において、厚い雲では
雲自身の赤外線放射、薄い雲では雲を透過してくる地表
からの赤外線放射が支配的となる。長波長輝度値１１の
振幅変化が突起状となり、二値画像７に有効画素として
現れる部分は、雲の起伏が落ち込んで、地表から雲を透
過してくる放射強度が増加している部分である。In the long-wavelength region of infrared light, infrared radiation from the cloud itself is dominant for thick clouds, and infrared radiation from the ground surface penetrating the clouds for thin clouds. The portion where the amplitude change of the long-wavelength luminance value 11 becomes a projection and appears as an effective pixel in the binary image 7 is a portion where the undulation of the cloud is reduced and the radiation intensity transmitted through the cloud from the ground surface is increased. .
【００５４】一方、雲の表面の起伏が落ち込む部分での
中波長輝度値２の振幅変化は、雲の起伏に応じて落ち込
む。On the other hand, the change in the amplitude of the medium-wavelength luminance value 2 at the portion where the undulation on the surface of the cloud falls is reduced in accordance with the undulation of the cloud.
【００５５】図１０（ａ）は長波長輝度値１１の振幅変
化が突起状となるディスプレイ上の中間値画像の例を示
したものである。図１０（ｂ）は、図１０（ａ）に対応
した中波長輝度値２のディスプレイ上の中間値画像の例
である。５８は雲クラッタＥである。雲クラッタＥ５８
は長波長輝度値１１の振幅変化が突起状となる例であ
る。５９は目標Ｃである。６０は天空を背景としたクリ
アスカイ領域、６１は地表を背景とした地表背景領域で
ある。FIG. 10 (a) shows an example of an intermediate value image on a display in which the amplitude change of the long-wavelength luminance value 11 has a projection shape. FIG. 10B is an example of an intermediate value image on a display having a medium wavelength luminance value of 2 corresponding to FIG. 58 is a cloud clutter E. Cloud clutter E58
Is an example in which the amplitude change of the long-wavelength luminance value 11 has a protruding shape. 59 is a target C. Numeral 60 denotes a clear sky area with the sky as the background, and numeral 61 a ground surface background area with the ground as the background.
【００５６】図１１（ａ）は雲クラッタＥ５８の長波長
輝度値１１の振幅変化を示したものである。図１１
（ｂ）は、雲クラッタＥ５８の中波長輝度値２の振幅変
化を示したものである。尚、６２は雲クラッタＥ５８の
第１の抽出輝度値１５、６４は雲クラッタＥ５８の第２
の抽出輝度値１７、（Ｘｇ４，Ｙｇ４）は雲クラッタＥ
５８の重心位置９である。FIG. 11A shows an amplitude change of the long-wavelength luminance value 11 of the cloud clutter E58. FIG.
(B) shows the amplitude change of the medium wavelength luminance value 2 of the cloud clutter E58. Here, 62 is the first extracted luminance value 15 of the cloud clutter E58, and 64 is the second extracted luminance value of the cloud clutter E58.
, The extracted brightness value of (Xg4, Yg4) is the cloud clutter E
58 is the position 9 of the center of gravity.
【００５７】図１２（ａ）は目標Ｃ５９の長波長輝度値
１１の振幅変化を示したものである。図１２（ｂ）は、
目標Ｃ５９の中波長輝度値２の振幅変化を示したもので
ある。尚、６６は目標Ｃ５９の第１の抽出輝度値１５、
６８は目標Ｃ５９の第２の抽出輝度値１７、（Ｘｇ５，
Ｙｇ５）は雲クラッタＥ５８の重心位置９である。FIG. 12A shows an amplitude change of the long-wavelength luminance value 11 of the target C59. FIG. 12 (b)
It shows an amplitude change of the medium wavelength luminance value 2 of the target C59. Incidentally, 66 is the first extracted luminance value 15 of the target C59,
68 is the second extracted luminance value 17 of the target C59, (Xg5,
Yg5) is the position 9 of the center of gravity of the cloud clutter E58.
【００５８】図１３は、横軸を第１の抽出輝度値１５、
縦軸を第２の抽出輝度値１７とした特徴量空間に、雲ク
ラッタＥ５８、目標Ｃ５９をプロットした分布図であ
る。７０は目標Ｃ５９の分布位置、７１は雲クラッタＥ
５８の分布位置を表す。目標Ｃ５９は、第１の抽出輝度
値１５が大きければ、第２の抽出輝度値１７も大きい正
値となるが、雲クラッタＥ５８は、第１の抽出輝度値１
５が大きくても第２の抽出輝度値１７は負値となること
がわかる。In FIG. 13, the horizontal axis represents the first extracted luminance value 15,
FIG. 10 is a distribution diagram in which a cloud clutter E58 and a target C59 are plotted in a feature amount space in which the vertical axis represents a second extracted luminance value 17; 70 is the distribution position of the target C59, 71 is the cloud clutter E
58 distribution positions. For the target C59, if the first extracted luminance value 15 is large, the second extracted luminance value 17 is also a large positive value. However, the cloud clutter E58 has the first extracted luminance value 1
It can be seen that the second extracted luminance value 17 is a negative value even if 5 is large.
【００５９】よって、係数１９の大きさの傾きと第２の
しきい値２４の切片をもつ識別関数で、目標Ｂ３３と雲
クラッタＣ３４、雲クラッタＤ３５を弁別することがで
きる。識別関数は式（１０）であり、７２は識別関数の
境界線、７３は識別関数の切片量、７４は識別関数の傾
き量を表す。図１３の特徴空間分布図上の識別関数の境
界線より上に分布するものを目標と判断することによっ
て、雲クラッタＥ５８を目標位置決定回路２６で除去で
きる。Therefore, the target B33, the cloud clutter C34, and the cloud clutter D35 can be distinguished by the discriminant function having the slope of the coefficient 19 and the intercept of the second threshold value 24. The discriminant function is represented by equation (10), where 72 is the boundary of the discriminant function, 73 is the intercept of the discriminant function, and 74 is the slope of the discriminant function. Cloud clutter E58 can be removed by the target position determination circuit 26 by judging that the target is located above the boundary of the discriminant function on the feature space distribution diagram of FIG.
【００６０】このように、長波長輝度値１１と中波長輝
度値２の振幅変化から雲クラッタか目標かの弁別をする
ので、雲の起伏の落ち込みにより長波長輝度値１１の振
幅変化が突起状となる雲クラッタを誤検出しないように
することができる。As described above, the distinction between the cloud clutter and the target is made based on the change in the amplitude of the long-wavelength luminance value 11 and the change in the medium-wavelength luminance value 2. Thus, the change in the amplitude of the long-wavelength luminance value 11 is protruded due to the depression of the cloud. Can be prevented from being erroneously detected.
【００６１】実施の形態３．図１４は、この発明の実施
の形態３を示す構成図である。前記実施の形態１では、
係数１９と第２のしきい値２４で識別関数を形成した
が、係数１９をゼロ、第２のしきい値２４を検出目標が
取り得る第２の抽出輝度値１７の下限値としても同様の
効果がある。７５は第２の抽出輝度値１７の下限値を第
２のしきい値２４として出力する目標抽出輝度値記憶回
路である。Embodiment 3 FIG. 14 is a configuration diagram showing a third embodiment of the present invention. In the first embodiment,
The discriminant function is formed by the coefficient 19 and the second threshold value 24. The same applies when the coefficient 19 is set to zero and the second threshold value 24 is set to the lower limit of the second extracted luminance value 17 that can be taken by the detection target. effective. Reference numeral 75 denotes a target extracted luminance value storage circuit that outputs the lower limit value of the second extracted luminance value 17 as the second threshold value 24.
【００６２】[0062]
【数９】 (Equation 9)
【００６３】式（１５）は比較演算結果値２５ｂの算出
式である。但し、ｂｍｉｎ１は第２のしきい値２４であ
る。Equation (15) is an equation for calculating the comparison operation result value 25b. However, bmin1 is the second threshold value 24.
【００６４】実施の形態１の図８に示したように、雲ク
ラッタＣ３４、雲クラッタＤ３５の第２の抽出輝度値１
７は、目標３３の第２の抽出輝度値１７と比較して低く
なり、負値又は零付近の値となる。よって、所望する検
出目標が取り得る第２の抽出輝度値１７の下限値を第２
のしきい値２４として与え、係数１９をゼロとしても、
雲クラッタを除去でき、誤検出を抑制することが可能で
ある。As shown in FIG. 8 of the first embodiment, the second extracted luminance value 1 of cloud clutter C34 and cloud clutter D35
7 is lower than the second extracted luminance value 17 of the target 33 and becomes a negative value or a value near zero. Therefore, the lower limit of the second extracted luminance value 17 that can be taken by the desired detection target is set to the second
And the coefficient 19 is set to zero,
Cloud clutter can be removed, and erroneous detection can be suppressed.
【００６５】実施の形態４．図１５は、この発明の実施
の形態４を示す構成図である。前記実施の形態２でも、
前記実施の形態３と同様に係数１９をゼロ、目標抽出輝
度値記憶回路７５の出力値を第２のしきい値２４として
も同様の効果がある。Embodiment 4 FIG. 15 is a configuration diagram showing a fourth embodiment of the present invention. Also in the second embodiment,
Similar effects are obtained when the coefficient 19 is set to zero and the output value of the target extracted luminance value storage circuit 75 is set to the second threshold value 24 as in the third embodiment.
【００６６】実施の形態２の図１３に示したように、雲
クラッタＥ５８の第２の抽出輝度値１７は、目標Ｃ５９
の第２の抽出輝度値１７と比較して、低くなる。よっ
て、所望する検出目標が取り得る第２の抽出輝度値１７
の下限値を第２のしきい値２４として与え、係数１９を
ゼロとしても、雲クラッタを除去でき、誤検出を抑制す
ることが可能である。As shown in FIG. 13 of the second embodiment, the second extracted luminance value 17 of the cloud clutter E58 is equal to the target C59.
Is lower than the second extracted luminance value 17. Therefore, the second extracted luminance value 17 that can be taken by the desired detection target
Is given as the second threshold value 24 and the coefficient 19 is set to zero, cloud clutter can be removed and erroneous detection can be suppressed.
【００６７】実施の形態５．図１６は、この発明の実施
の形態５を示す構成図である。前記実施の形態３におい
て長波長輝度値１１にノイズが重畳すると、第２の抽出
輝度値１７は時間毎に変動する。実施の形態３では目標
の第２の抽出輝度値１７が第２のしきい値２４付近に分
布する場合、安定に目標を検出できない問題がある。そ
こで、第２の抽出輝度値１７の時間毎の変動の影響を除
去するために、第２の抽出輝度値１７を複数回抽出し
て、複数回抽出した第２の抽出輝度値１７の平均値を求
める平均値算出回路を備える。７６は平均値算出回路で
ある。Embodiment 5 FIG. 16 is a configuration diagram showing a fifth embodiment of the present invention. When noise is superimposed on the long-wavelength luminance value 11 in the third embodiment, the second extracted luminance value 17 changes with time. In the third embodiment, when the target second extracted luminance value 17 is distributed around the second threshold value 24, there is a problem that the target cannot be detected stably. Therefore, in order to remove the influence of the variation of the second extracted luminance value 17 over time, the second extracted luminance value 17 is extracted a plurality of times, and the average value of the second extracted luminance values 17 extracted a plurality of times is described. Is provided. 76 is an average value calculation circuit.
【００６８】[0068]
【数１０】 (Equation 10)
【００６９】式（１６）は時間平均算出回路２８の動作
を示した式である。但し、Ｃ２ｔ（Ｘｇｊ，Ｙｇｊ，
ｔ）は、ｔ回目に抽出した第２の抽出輝度値１７を示
す。ｍは抽出回数である。式（１６）は、抽出回数ｍま
での第２の抽出輝度値１７の平均値を算出する。Equation (16) is an equation showing the operation of the time average calculation circuit 28. However, C2t (Xgj, Ygj,
t) indicates the second extracted luminance value 17 extracted at the t-th time. m is the number of extractions. Equation (16) calculates the average value of the second extracted luminance values 17 up to the number of extractions m.
【００７０】図１７は、長波長輝度値１１に重畳するノ
イズにより第２の抽出輝度値１７が抽出毎に変動する様
子を示したものである。７７は第２の抽出輝度値１７の
抽出分布、７８は平均値算出回路７６の出力値、７９は
第２のしきい値２４である。図１７（ａ）は目標と判定
すべき第２の抽出輝度値１７の抽出毎の変化、図１７
（ｂ）は雲クラッタと判定すべき第２の抽出輝度値１７
の抽出毎の変化を示したものである。図１７（ａ）にお
いて、第２の抽出輝度値１７が第２のしきい値２４より
小さくなる場合がある。第２の抽出輝度値１７が第２の
しきい値２４より小さくなると、比較回路２３ｂの比較
結果値２５ｂが”０”となり目標として検出できない。FIG. 17 shows how the second extracted luminance value 17 fluctuates for each extraction due to noise superimposed on the long-wavelength luminance value 11. 77 is an extraction distribution of the second extracted luminance value 17, 78 is an output value of the average value calculation circuit 76, and 79 is a second threshold value 24. FIG. 17A shows a change in each extraction of the second extracted luminance value 17 to be determined as the target.
(B) is a second extracted luminance value 17 to be determined as cloud clutter
3 shows the change for each extraction. In FIG. 17A, the second extracted luminance value 17 may be smaller than the second threshold value 24 in some cases. When the second extracted brightness value 17 becomes smaller than the second threshold value 24, the comparison result value 25b of the comparison circuit 23b becomes "0" and cannot be detected as a target.
【００７１】一方、図１７（ｂ）において、ノイズの影
響により第２の抽出輝度値１７が第２のしきい値２４よ
り大きくなる場合がある。第２の抽出輝度値１７が第２
のしきい値２４より大きくなると、比較回路２３ｂの比
較結果値２５ｂが”１”となり目標と判定されてしま
い、誤検出となる。そこで、第２の抽出輝度値１７の平
均値を比較回路２３ｂに入力することによって、安定し
た目標検出が可能になる。On the other hand, in FIG. 17B, the second extracted luminance value 17 may become larger than the second threshold value 24 due to the influence of noise. When the second extracted luminance value 17 is the second
Becomes larger than the threshold value 24, the comparison result value 25b of the comparison circuit 23b becomes "1", which is determined as the target, and erroneous detection is performed. Thus, by inputting the average value of the second extracted luminance values 17 to the comparison circuit 23b, stable target detection becomes possible.
【００７２】実施の形態６．図１８は、この発明の実施
の形態６を示す構成図である。前記実施の形態４におい
て中波長輝度値１１にノイズが重畳すると、第２の抽出
輝度値１７は抽出毎に変動する。そこで、前実施の形態
５と同様に第２の抽出輝度値１７を複数回抽出して、複
数回抽出した第２の輝度値１７の平均値を求める平均値
算出回路７６を備えたことにより、中波長輝度値１１に
ノイズが重畳しても、安定した目標検出が可能になる。Embodiment 6 FIG. FIG. 18 is a configuration diagram showing Embodiment 6 of the present invention. When noise is superimposed on the medium-wavelength luminance value 11 in the fourth embodiment, the second extracted luminance value 17 changes every extraction. In view of this, by providing the average value calculation circuit 76 for extracting the second extracted luminance value 17 a plurality of times and obtaining the average value of the second luminance values 17 extracted a plurality of times as in the fifth embodiment, Even if noise is superimposed on the medium-wavelength luminance value 11, stable target detection can be performed.
【００７３】[0073]
【発明の効果】この発明は、以上説明したように構成さ
れているので、以下に記載されるような効果を奏する。Since the present invention is configured as described above, it has the following effects.
【００７４】第１の発明によれば、中波長輝度値と長波
長輝度値の振幅変化から雲クラッタか目標かを弁別する
ので、太陽光の影響により中波長輝度値の振幅変化が突
起状をする雲クラッタの誤検出を抑圧する効果がある。According to the first aspect of the invention, whether the target is cloud clutter or a target is discriminated from the change in the amplitude of the medium-wavelength luminance value and the change in the long-wavelength luminance value. This has the effect of suppressing false detection of cloud clutter.
【００７５】第２の発明によれば、長波長輝度値と中波
長輝度値の振幅変化から雲クラッタか目標かの弁別する
ので、雲の起伏の落ち込みにより長波長輝度値の振幅変
化が突起状となる雲クラッタの誤検出を抑圧する効果が
ある。According to the second aspect of the invention, whether the target is cloud clutter or a target is distinguished from the change in the amplitude of the long-wavelength luminance value and the change in the medium-wavelength luminance value. This has the effect of suppressing erroneous detection of cloud clutter.
【００７６】第３の発明によれば、中波長輝度値と長波
長輝度値の振幅変化から雲クラッタか目標かを弁別する
方法として、長波長輝度値の振幅変化を第２のしきい値
と比較することにより、太陽光の影響により中波長輝度
値の振幅変化が突起状をする雲クラッタの誤検出を抑圧
する効果がある。According to the third aspect of the present invention, as a method of discriminating between a cloud clutter and a target from the amplitude change between the medium-wavelength luminance value and the long-wavelength luminance value, the change in the amplitude of the long-wavelength luminance value is determined by the second threshold value. By comparison, there is an effect of suppressing erroneous detection of cloud clutter in which the amplitude change of the medium wavelength luminance value is projected due to the influence of sunlight.
【００７７】第４の発明によれば、長波長輝度値と中波
長輝度値の振幅変化から雲クラッタか目標かを弁別する
方法として、中波長輝度値の振幅変化を第２のしきい値
と比較することにより、雲の起伏の落ち込みにより長波
長輝度値の振幅変化が突起状とする雲クラッタの誤検出
を抑圧する効果がある。According to the fourth invention, as a method of discriminating whether the target is cloud clutter or a target from the amplitude change of the long wavelength luminance value and the medium wavelength luminance value, the change of the amplitude of the medium wavelength luminance value is determined by the second threshold value The comparison has the effect of suppressing erroneous detection of cloud clutter in which the amplitude change of the long-wavelength luminance value is projected due to the drop in the undulation of the cloud.
【００７８】第５の発明によれば、複数回抽出した第２
の抽出輝度値の平均値を用いて目標又は雲クラッタとを
分別することにより、長波長輝度値に重畳するノイズの
影響による第２の抽出輝度値の変動を抑制するので、安
定した目標検出をすることができる。According to the fifth aspect, the second extracted multiple times
By using the average value of the extracted luminance values to separate the target or cloud clutter, the fluctuation of the second extracted luminance value due to the influence of noise superimposed on the long-wavelength luminance value is suppressed. can do.
【００７９】第６の発明によれば、複数回抽出した第２
の抽出輝度値の平均値を用いて目標又は雲クラッタとを
分別することにより、中波長輝度値に重畳するノイズの
影響による第２の抽出輝度値の変動を抑制するので、安
定した目標検出をすることができる。According to the sixth aspect, the second extracted multiple times
By separating the target or cloud clutter using the average value of the extracted luminance values, the fluctuation of the second extracted luminance value due to the influence of noise superimposed on the medium-wavelength luminance value is suppressed, so that stable target detection can be performed. can do.
【図１】 この発明による装置の実施の形態１を示す構
成図である。FIG. 1 is a configuration diagram showing Embodiment 1 of an apparatus according to the present invention.
【図２】 この発明の第２のコントラスト値算出回路に
適用するウインドウ構成例を示すディスプレイ上の中間
値画像である。FIG. 2 is an intermediate value image on a display showing a window configuration example applied to a second contrast value calculation circuit of the present invention.
【図３】 この発明の実施の形態例１を説明するための
目標撮像例を示すディスプレイ上の中間値画像である。FIG. 3 is an intermediate value image on a display showing a target imaging example for explaining Embodiment 1 of the present invention.
【図４】 この発明の中波長、長波長輝度値の画像例を
示すディスプレイ上の中間値画像である。FIG. 4 is an intermediate value image on a display showing an image example of a medium wavelength and long wavelength luminance value of the present invention.
【図５】 この発明の雲クラッタの中波長、長波長輝度
値および第１、第２のコントラスト値の振幅変化等を示
す図である。FIG. 5 is a diagram showing a change in amplitude of a medium wavelength, a long wavelength luminance value, and first and second contrast values of the cloud clutter of the present invention.
【図６】 この発明の雲クラッタの中波長、長波長輝度
値の振幅変化を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating a change in the amplitude of the medium-wavelength and long-wavelength luminance values of the cloud clutter according to the present invention.
【図７】 この発明の目標の中波長、長波長輝度値の振
幅変化を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing a change in amplitude of a medium- and long-wavelength luminance value which is a target of the present invention.
【図８】 この発明の目標とクラッタの分布位置を示す
図である。FIG. 8 is a diagram showing a target and clutter distribution positions according to the present invention.
【図９】 この発明による装置の実施の形態２を示す構
成図である。FIG. 9 is a configuration diagram showing Embodiment 2 of the apparatus according to the present invention.
【図１０】 この発明の長波長、中波長輝度値の画像例
を示すディスプレイ上の中間値画像である。FIG. 10 is an intermediate value image on a display showing an example of an image of a long- and medium-wavelength luminance value of the present invention.
【図１１】 この発明の雲クラッタの長波長、中波長輝
度値の振幅変化を示す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating a change in amplitude of a long-wavelength and middle-wavelength luminance value of the cloud clutter according to the present invention.
【図１２】 この発明の目標の長波長、中波長輝度値の
振幅変化を示す図である。FIG. 12 is a diagram illustrating a change in amplitude of a long- and medium-wavelength luminance value targeted by the present invention.
【図１３】 この発明の目標とクラッタの分布位置を示
す図である。FIG. 13 is a diagram showing a target and clutter distribution positions according to the present invention.
【図１４】 この発明による装置の実施の形態３を示す
構成図である。FIG. 14 is a configuration diagram showing Embodiment 3 of the apparatus according to the present invention.
【図１５】 この発明による装置の実施の形態４を示す
構成図である。FIG. 15 is a configuration diagram showing Embodiment 4 of the apparatus according to the present invention.
【図１６】 この発明による装置の実施の形態５を示す
構成図である。FIG. 16 is a configuration diagram showing Embodiment 5 of the apparatus according to the present invention.
【図１７】 この発明の実施の形態例５を説明するため
の第２の抽出輝度値のノイズによる変動を示す図であ
る。FIG. 17 is a diagram illustrating a variation of a second extracted luminance value due to noise for describing Embodiment 5 of the present invention;
【図１８】 この発明による装置の実施の形態６を示す
構成図である。FIG. 18 is a configuration diagram showing a sixth embodiment of the device according to the present invention.
【図１９】 従来例を示す構成図である。FIG. 19 is a configuration diagram showing a conventional example.
【図２０】 従来の第１のコントラスト値算出回路を説
明するための動作説明用ディスプレイ上の中間値画像で
ある。FIG. 20 is an intermediate value image on an operation explanation display for explaining a conventional first contrast value calculating circuit.
【図２１】 従来の連結領域の重心位置を示す図であ
る。FIG. 21 is a diagram showing a barycentric position of a conventional connection region.
【図２２】 雲クラッタが存在する中波長輝度値の画像
例を示すディスプレイ上の中間値画像である。FIG. 22 is an intermediate image on a display showing an example of an image of a medium-wavelength luminance value in which cloud clutter exists.
【図２３】 雲クラッタの中波長輝度値、第１のコント
ラスト値の振幅変化と二値画像の有効画素の分布を示す
図である。FIG. 23 is a diagram illustrating a medium-wavelength luminance value of a cloud clutter, a change in amplitude of a first contrast value, and a distribution of effective pixels in a binary image.
【図２４】 他の雲クラッタの中波長輝度値、第１のコ
ントラスト値の振幅変化と二値画像の有意画素の分布を
示す図である。FIG. 24 is a diagram illustrating a medium-wavelength luminance value of another cloud clutter, a change in amplitude of a first contrast value, and a distribution of significant pixels in a binary image.
【図２５】 目標の中波長輝度値の振幅変化と二値画像
の有意画素の分布を示す図である。FIG. 25 is a diagram illustrating a change in amplitude of a target medium-wavelength luminance value and a distribution of significant pixels in a binary image.
１ 中波長赤外線撮像回路、２ 中波長輝度値、３ 第
１のコントラスト値算出回路、４ 第１のコントラスト
値、５ 二値化回路、６ 第１のしきい値、７二値画
像、８ 位置検出回路、９ 重心位置、１０ 長波長赤
外線撮像回路、１１ 長波長輝度値、１２ 第２のコン
トラスト値算出回路、１３ 第２のコントラスト値、１
４ 第１の抽出回路、１５ 第１の抽出輝度値、１６
第２の抽出回路、１７ 第２の抽出輝度値、１８ 係数
乗算回路、１９ 係数、２０ 乗算結果値、２１ 差分
回路、２２ 差分結果値、２３ 比較回路、２４ 第２
のしきい値、２５ 比較結果値、２６ 目標位置決定回
路、２９ 太陽、３０ 航空機、３１ 目標Ｂ、３２
雲、３３ 地表、７５ 目標判定輝度値記憶回路、７６
平均値算出回路。DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Mid-wavelength infrared imaging circuit, 2 Medium-wavelength luminance value, 3rd contrast value calculation circuit, 4th contrast value, 5 binarization circuit, 6 1st threshold value, 7 binary image, 8 position Detection circuit, 9 center of gravity position, 10 long wavelength infrared imaging circuit, 11 long wavelength luminance value, 12 second contrast value calculation circuit, 13 second contrast value, 1
4 First extraction circuit, 15 First extracted luminance value, 16
2nd extraction circuit, 17 2nd extraction luminance value, 18 coefficient multiplication circuit, 19 coefficient, 20 multiplication result value, 21 difference circuit, 22 difference result value, 23 comparison circuit, 24 second
Threshold value, 25 comparison result value, 26 target position determination circuit, 29 sun, 30 aircraft, 31 target B, 32
Cloud, 33 ground, 75 target judgment brightness value storage circuit, 76
Average value calculation circuit.
Claims (6)
変化する電圧値を画素毎に中波長輝度値として出力する
中波長赤外線撮像回路と、上記中波長輝度値を入力し画
素毎に中波長輝度値の変化点を強調する第１のコントラ
スト値算出回路と、上記第１のコントラスト値算出回路
の出力値と第１のしきい値を比較して二値画像を出力す
る二値化回路と、上記二値画像の各有意画素の連結状態
を判別し連結領域毎の重心位置を検出する位置検出回路
と、赤外線の長波長領域の放射強度に応じて変化する電
圧値を画素毎に長波長輝度値として出力する長波長赤外
線撮像回路と、長波長輝度値を入力し画素毎に長波長輝
度値の変化点を強調する第２のコントラスト値算出回路
と、上記位置検出回路で検出した重心位置付近の画素の
第１のコントラスト値算出回路の出力値を抽出する第１
の抽出回路と、上記位置検出回路で検出した重心位置付
近の画素の第２のコントラスト値算出回路の出力値を抽
出する第２の抽出回路と、上記第１の抽出回路の抽出値
と係数との乗算を行う係数乗算回路と、上記係数乗算回
路の出力値から第２の抽出回路の抽出値を減算する差分
回路と、上記差分回路の出力値と第２のしきい値との比
較結果を出力する比較回路と、上記比較回路の比較結果
から上記位置検出回路で検出した重心位置の有効性を判
定し目標位置を決定する目標位置決定回路とを備えたこ
とを特徴とする画像目標検出装置。1. A medium-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in a medium-wavelength region of infrared light as a medium-wavelength luminance value for each pixel, and receives the medium-wavelength luminance value and outputs a medium-voltage luminance value for each pixel. A first contrast value calculation circuit that emphasizes a change point of the wavelength luminance value, and a binarization circuit that compares the output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value and outputs a binary image A position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image and detects the position of the center of gravity of each connection region, and a voltage value that changes according to the radiation intensity in the long wavelength region of the infrared ray for each pixel. A long-wavelength infrared imaging circuit for outputting as a wavelength brightness value, a second contrast value calculation circuit for inputting the long-wavelength brightness value and emphasizing a change point of the long-wavelength brightness value for each pixel, and a center of gravity detected by the position detection circuit First contrast of pixel near position 1st extraction of the output value of the value calculation circuit
An extraction circuit, a second extraction circuit for extracting an output value of a second contrast value calculation circuit of a pixel near the position of the center of gravity detected by the position detection circuit, and an extraction value and a coefficient of the first extraction circuit. And a difference circuit for subtracting the value of the second extraction circuit from the output value of the coefficient multiplication circuit, and a comparison result between the output value of the difference circuit and a second threshold value. An image target detection device comprising: a comparison circuit for outputting; and a target position determination circuit for determining the validity of the position of the center of gravity detected by the position detection circuit from the comparison result of the comparison circuit and determining a target position. .
変化する電圧値を画素毎に長波長輝度値として出力する
長波長赤外線撮像回路と、長波長輝度値を入力し画素毎
に長波長輝度値の変化点を強調する第１のコントラスト
値算出回路と、上記第１のコントラスト値算出回路の出
力値と第１のしきい値を比較して二値画像を出力する二
値化回路と、上記二値画像の各有意画素の連結状態を判
別し連結領域毎の重心位置を検出する位置検出回路と、
赤外線の中波長領域の放射強度に応じて変化する電圧値
を画素毎に中波長輝度値として出力する中波長赤外線撮
像回路と、上記中波長輝度値を入力し画素毎に中波長輝
度値の変化点を強調する第２のコントラスト値算出回路
と、上記位置検出回路で検出した重心位置付近の画素の
第１のコントラスト値算出回路の出力値を抽出する第１
の抽出回路と、上記位置検出回路で検出した重心位置付
近の画素の第２のコントラスト値算出回路の出力値を抽
出する第２の抽出回路と、上記第１の抽出回路の抽出値
と係数との乗算を行う係数乗算回路と、上記係数乗算回
路の出力値から上記第２の抽出回路の抽出値を減算する
差分回路と、上記差分回路の出力値と第２のしきい値と
の比較結果を出力する比較回路と、上記比較結果から位
置検出回路で検出した重心位置の有効性を判定し目標位
置を決定する目標位置決定回路とを備えたことを特徴と
する画像目標検出装置。2. A long-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in a long-wavelength region of infrared light as a long-wavelength luminance value for each pixel, and a long-wavelength luminance value that is input to the long-wavelength luminance value for each pixel. A first contrast value calculating circuit for emphasizing a change point of the luminance value, a binarizing circuit for comparing the output value of the first contrast value calculating circuit with a first threshold value and outputting a binary image; A position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image and detects the position of the center of gravity of each connection region;
A medium-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes in accordance with the radiation intensity in the infrared medium-wavelength region as a medium-wavelength luminance value for each pixel, and a change in the medium-wavelength luminance value for each pixel that receives the medium-wavelength luminance value A second contrast value calculating circuit for emphasizing a point, and a first contrast value calculating circuit for extracting an output value of the first contrast value calculating circuit for a pixel near the position of the center of gravity detected by the position detecting circuit.
An extraction circuit, a second extraction circuit for extracting an output value of a second contrast value calculation circuit of a pixel near the position of the center of gravity detected by the position detection circuit, and an extraction value and a coefficient of the first extraction circuit. Multiplication circuit, a difference circuit for subtracting the extracted value of the second extraction circuit from the output value of the coefficient multiplication circuit, and a comparison result between the output value of the difference circuit and a second threshold value And a target position determining circuit that determines the validity of the position of the center of gravity detected by the position detecting circuit from the comparison result to determine a target position.
変化する電圧値を画素毎に中波長輝度値として出力する
中波長赤外線撮像回路と、上記中波長輝度値を入力し画
素毎に中波長輝度値の変化点を強調する第１のコントラ
スト値算出回路と、上記第１のコントラスト値算出回路
の出力値と第１のしきい値を比較して二値画像を出力す
る二値化回路と、上記二値画像の各有意画素の連結状態
を判別し連結領域毎の重心位置を検出する位置検出回路
と、赤外線の長波長領域の放射強度に応じて変化する電
圧値を画素毎に長波長輝度値として出力する長波長赤外
線撮像回路と、上記長波長輝度値を入力し画素毎に長波
長輝度値の変化点を強調する第２のコントラスト値算出
回路と、上記位置検出回路で検出した重心位置付近の画
素の第２のコントラスト値算出回路の出力値を抽出する
第２の抽出回路と、上記第２のしきい値を記憶する目標
判定輝度値記憶回路と、上記第２の抽出回路の出力値と
第２のしきい値との比較結果を出力する比較回路と、上
記比較回路の比較結果から上記位置検出回路で検出した
重心位置の有効性を判定し目標位置を決定する目標位置
決定回路とを備えたことを特徴とする画像目標検出装
置。3. A medium-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in a medium-wavelength region of infrared light as a medium-wavelength luminance value for each pixel, and inputs the medium-wavelength luminance value and outputs a medium-voltage luminance value for each pixel. A first contrast value calculation circuit that emphasizes a change point of the wavelength luminance value, and a binarization circuit that compares the output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value and outputs a binary image A position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image and detects the position of the center of gravity of each connection region, and a voltage value that changes according to the radiation intensity in the long wavelength region of the infrared ray for each pixel. A long-wavelength infrared imaging circuit for outputting as a wavelength brightness value, a second contrast value calculation circuit for inputting the long-wavelength brightness value and emphasizing a change point of the long-wavelength brightness value for each pixel, and detecting the position detection circuit. Second contra of pixels near the center of gravity A second extraction circuit for extracting an output value of the strike value calculation circuit, a target determination brightness value storage circuit for storing the second threshold value, and an output value of the second extraction circuit and a second threshold value A comparison circuit that outputs a result of comparison with the value, and a target position determination circuit that determines validity of the position of the center of gravity detected by the position detection circuit from the comparison result of the comparison circuit and determines a target position. Image target detecting device.
変化する電圧値を画素毎に長波長輝度値として出力する
長波長赤外線撮像回路と、上記長波長輝度値を入力し画
素毎に長波長輝度値の変化点を強調する第１のコントラ
スト値算出回路と、上記第１のコントラスト値算出回路
の出力値と第１のしきい値を比較して二値画像を出力す
る二値化回路と、上記二値画像の各有意画素の連結状態
を判別し連結領域毎の重心位置を検出する位置検出回路
と、赤外線の中波長領域の放射強度に応じて変化する電
圧値を画素毎に中波長輝度値として出力する中波長赤外
線撮像回路と、上記中波長輝度値を入力し画素毎に中波
長輝度値の変化点を強調する第２のコントラスト値算出
回路と、上記位置検出回路で検出した重心位置付近の画
素の第２のコントラスト値算出回路の出力値を抽出する
第２の抽出回路と、第２のしきい値を記憶する目標判定
輝度値記憶回路と、上記第２の抽出回路の出力値と第２
のしきい値との比較結果を出力する比較回路と、上記比
較回路の比較結果から上記位置検出回路で検出した重心
位置の有効性を判定し目標位置を決定する目標位置決定
回路とを備えたことを特徴とする画像目標検出装置。4. A long-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in a long-wavelength region of infrared light as a long-wavelength luminance value for each pixel, and receives the long-wavelength luminance value and outputs a long-wavelength luminance value for each pixel. A first contrast value calculation circuit that emphasizes a change point of the wavelength luminance value, and a binarization circuit that compares the output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value and outputs a binary image And a position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image and detects the position of the center of gravity of each connection region, and a voltage value that changes according to the radiation intensity in the middle wavelength region of the infrared light for each pixel. A medium-wavelength infrared imaging circuit that outputs as a wavelength luminance value, a second contrast value calculation circuit that inputs the medium-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the medium-wavelength luminance value for each pixel, and that is detected by the position detection circuit. Second contra of pixels near the center of gravity A second extraction circuit for extracting an output value of the strike value calculation circuit, a target determination brightness value storage circuit for storing a second threshold value, and an output value of the second extraction circuit and a second
A comparison circuit that outputs a comparison result with the threshold value of the above, and a target position determination circuit that determines the validity of the center of gravity position detected by the position detection circuit from the comparison result of the comparison circuit and determines a target position. An image target detection device, characterized in that:
変化する電圧値を画素毎に中波長輝度値として出力する
中波長赤外線撮像回路と、上記中波長輝度値を入力し画
素毎に中波長輝度値の変化点を強調する第１のコントラ
スト値算出回路と、上記第１のコントラスト値算出回路
の出力値と第１のしきい値を比較して二値画像を出力す
る二値化回路と、上記二値画像の各有意画素の連結状態
を判別し連結領域毎の重心位置を検出する位置検出回路
と、赤外線の長波長領域の放射強度に応じて変化する電
圧値を画素毎に長波長輝度値として出力する長波長赤外
線撮像回路と、上記長波長輝度値を入力し画素毎に長波
長輝度値の変化点を強調する第２のコントラスト値算出
回路と、上記位置検出回路で検出した重心位置付近の画
素の第２のコントラスト値算出回路の出力値を抽出する
第２の抽出回路と、上記位置検出回路で検出した重心位
置毎に上記第２の抽出回路の出力値を複数回抽出しその
平均値を算出する平均値算出回路と、第２のしきい値を
記憶する目標判定輝度値記憶回路と、上記第２のしきい
値と平均値算出回路の出力値との比較結果を出力する比
較回路と、上記比較回路の比較結果から上記位置検出回
路で検出した重心位置の有効性を判定し目標位置を決定
する目標位置決定回路とを備えたことを特徴とする画像
目標検出装置。5. A medium-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in the medium-wavelength region of infrared light as a medium-wavelength luminance value for each pixel, and receives the medium-wavelength luminance value and outputs A first contrast value calculation circuit that emphasizes a change point of the wavelength luminance value, and a binarization circuit that compares an output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value and outputs a binary image A position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image and detects the position of the center of gravity of each connection region, and a voltage value that changes according to the radiation intensity in the long wavelength region of the infrared ray for each pixel. A long-wavelength infrared imaging circuit for outputting as a wavelength brightness value, a second contrast value calculation circuit for inputting the long-wavelength brightness value and emphasizing a change point of the long-wavelength brightness value for each pixel, and detecting the position detection circuit. Second contra of pixels near the center of gravity A second extraction circuit for extracting the output value of the strike value calculation circuit, and an average value for extracting the output value of the second extraction circuit for each barycentric position detected by the position detection circuit a plurality of times and calculating an average value thereof A calculation circuit, a target determination brightness value storage circuit for storing a second threshold value, a comparison circuit for outputting a comparison result between the second threshold value and the output value of the average value calculation circuit, A target position determining circuit for determining the validity of the position of the center of gravity detected by the position detecting circuit from the comparison result of the above and determining a target position.
変化する電圧値を画素毎に長波長輝度値として出力する
長波長赤外線撮像回路と、上記長波長輝度値を入力し画
素毎に長波長輝度値の変化点を強調する第１のコントラ
スト値算出回路と、上記第１のコントラスト値算出回路
の出力値と第１のしきい値を比較して二値画像を出力す
る二値化回路と、上記二値画像の各有意画素の連結状態
を判別し連結領域毎の重心位置を検出する位置検出回路
と、赤外線の中波長領域の放射強度に応じて変化する電
圧値を画素毎に中波長輝度値として出力する中波長赤外
線撮像回路と、上記中波長輝度値を入力し画素毎に中波
長輝度値の変化点を強調する第２のコントラスト値算出
回路と、上記位置検出回路で検出した重心位置付近の画
素の第２のコントラスト値算出回路の出力値を抽出する
第２の抽出回路と、上記位置検出回路で検出した重心位
置毎に上記第２の抽出回路の出力値を複数回抽出しその
出力値の平均値を算出する平均値算出回路と、第２のし
きい値を記憶する目標判定輝度値記憶回路と、上記第２
のしきい値と平均値算出回路の出力値との比較結果を出
力する比較回路と、上記比較回路の比較結果から位置検
出回路で検出した重心位置の有効性を判定し目標位置を
決定する目標位置決定回路とを備えたことを特徴とする
画像目標検出装置。6. A long-wavelength infrared imaging circuit that outputs a voltage value that changes according to the radiation intensity in a long-wavelength region of infrared light as a long-wavelength luminance value for each pixel, and inputs the long-wavelength luminance value and outputs a long-wavelength luminance value for each pixel. A first contrast value calculation circuit that emphasizes a change point of the wavelength luminance value, and a binarization circuit that compares the output value of the first contrast value calculation circuit with a first threshold value and outputs a binary image And a position detection circuit that determines the connection state of each significant pixel of the binary image and detects the position of the center of gravity of each connection region, and a voltage value that changes according to the radiation intensity in the middle wavelength region of the infrared light for each pixel. A medium-wavelength infrared imaging circuit that outputs as a wavelength luminance value, a second contrast value calculation circuit that inputs the medium-wavelength luminance value and emphasizes a change point of the medium-wavelength luminance value for each pixel, and that is detected by the position detection circuit. Second contra of pixels near the center of gravity A second extraction circuit for extracting an output value of the strike value calculation circuit, and extracting an output value of the second extraction circuit a plurality of times for each barycentric position detected by the position detection circuit, and calculating an average value of the output values An average value calculating circuit, a target determination brightness value storing circuit for storing a second threshold value,
A comparison circuit that outputs a comparison result between the threshold value of the threshold value and the output value of the average value calculation circuit, and a target that determines the validity of the position of the center of gravity detected by the position detection circuit from the comparison result of the comparison circuit and determines the target position An image target detection device comprising a position determination circuit.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29378696A JPH10142309A (en) | 1996-11-06 | 1996-11-06 | Image target-detecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29378696A JPH10142309A (en) | 1996-11-06 | 1996-11-06 | Image target-detecting apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10142309A true JPH10142309A (en) | 1998-05-29 |
Family
ID=17799160
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29378696A Pending JPH10142309A (en) | 1996-11-06 | 1996-11-06 | Image target-detecting apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10142309A (en) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009150831A (en) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Fujitsu Ltd | Sunlight clutter removal device to infrared picked-up image, and method and program |
| JP2010025473A (en) * | 2008-07-22 | 2010-02-04 | Toshiba Corp | Image emphasizing device and method |
| JP2011133423A (en) * | 2009-12-25 | 2011-07-07 | Mitsubishi Electric Corp | Object deducing device |
| JP2011196939A (en) * | 2010-03-23 | 2011-10-06 | Mitsubishi Electric Corp | Image target detector and method of detecting image target |
| JP2013121147A (en) * | 2011-12-08 | 2013-06-17 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Image processing device, image processing method, and image processing program |
| JP2014059710A (en) * | 2012-09-18 | 2014-04-03 | Toshiba Corp | Object detection device and object detection method |
| JP2014134442A (en) * | 2013-01-10 | 2014-07-24 | Mitsubishi Electric Corp | Infrared target detection device |
| JP2017223544A (en) * | 2016-06-15 | 2017-12-21 | 三菱電機株式会社 | Target determination device |
-
1996
- 1996-11-06 JP JP29378696A patent/JPH10142309A/en active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009150831A (en) * | 2007-12-21 | 2009-07-09 | Fujitsu Ltd | Sunlight clutter removal device to infrared picked-up image, and method and program |
| JP2010025473A (en) * | 2008-07-22 | 2010-02-04 | Toshiba Corp | Image emphasizing device and method |
| JP2011133423A (en) * | 2009-12-25 | 2011-07-07 | Mitsubishi Electric Corp | Object deducing device |
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| JP2013121147A (en) * | 2011-12-08 | 2013-06-17 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Image processing device, image processing method, and image processing program |
| JP2014059710A (en) * | 2012-09-18 | 2014-04-03 | Toshiba Corp | Object detection device and object detection method |
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| JP2017223544A (en) * | 2016-06-15 | 2017-12-21 | 三菱電機株式会社 | Target determination device |
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