JPH1012804A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPH1012804A
JPH1012804A JP8184051A JP18405196A JPH1012804A JP H1012804 A JPH1012804 A JP H1012804A JP 8184051 A JP8184051 A JP 8184051A JP 18405196 A JP18405196 A JP 18405196A JP H1012804 A JPH1012804 A JP H1012804A
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JP
Japan
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electrode pads
lead
row
semiconductor device
bus bar
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JP8184051A
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Hiroyuki Sano
裕幸 佐野
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Texas Instruments Japan Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】SOP、DIP、QFP、サイドボンドLOC
などの、集積回路チップの周辺寄りに複数の電極パッド
の列を備えるパッケージにおいてバスバーを実装可能と
する。 【解決手段】半導体装置1は、第一の基準電圧、例えば
電源電位を与えられる導体リード6及び第二の基準電
圧、例えば接地電位を与えられる導体リード7を有す
る。両導体リードは、複数の電極パッド2aの列に沿っ
て配置されるバスバー6a、6b、7a及び7bを有す
る。すなわち、両導体リードのバスバーは、相互に干渉
しないように複数の電極パッドの列に沿って引き回され
る。バスバーは接着テープでチップ面上に固定され、そ
の複数箇所で電極パッドとワイヤボンディングされる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は集積回路チップ面上
にバスバーを備えた集積回路パッケージに関し、特にサ
イドボンド型の集積回路パッケージに適用して好適なる
パッケージ構造に関する。
【0002】
【従来の技術】集積回路チップのパッケージング技術の
一つにLOC(LeadOn Chip)と呼ばれるものがある。L
OCにおいては、集積回路チップの回路素子及び電極パ
ッドが形成された面上にリードフレームのインナーリー
ドが位置され、このインナーリードと集積回路チップの
電極パッドがワイヤボンディングされる。LOC構造の
パッケージは、集積回路チップの幅に対するパッケージ
の幅の比率を小さくして半導体装置の小型化を図る上
で、有効な技術である。
【0003】LOC構造のパッケージにおいては、バス
バーと呼ばれる電源供給用及び接地用のリードを備えて
いる。バスバーを備えたLOC構造の半導体装置のリー
ドレイアウトの一例を図7に示す。図7には集積回路チ
ップの主面上に配置したリードが平面的に示されてい
る。集積回路チップ20の主面の中央にはチップ内の回
路素子に電気的に接続された電極パッド20aがほぼ一
列に配置されている。このような構造を特にセンターボ
ンドLOCと呼ぶことがある。各信号線用のリード21
は、チップ20の両側面から上記中央の電極パッド20
aに向かって延びている。信号線用のリード21のチッ
プ面上の領域は、インナーリードと呼ばれる。バスバー
22は電源電位供給用のリードであり、またバスバー2
3は接地電位供給用のリードである。バスバー22及び
23は、電極パッド20aの列の両側に沿って配置さ
れ、電極パッド20aのうち給電用に用意された複数の
電極パッドに対し、バスバー22及び23の複数箇所で
導体ワイヤ24により電気的に接続される。上記信号線
用リード21のインナーリード先端は、このバスバー2
2又は23を超えて配置される導体ワイヤにより各電極
パッド20aにボンディングされる。
【0004】チップ内の集積回路上の複数の箇所に電源
電圧及び接地電圧を与えることにより、回路内のインピ
ーダンスを抑えることがバスバーを配置する目的であ
る。すなわち、回路内で給電用の配線を引き回すより、
回路内配線よりも低抵抗のバスバーをチップ外部に配置
したほうが、回路内インピーダンスを下げる上で有利で
ある。バスバー22及び23の両端は、信号線用のリー
ド21と同様にチップの側面から外側に延び、さらに下
方に曲げられて、外部基板のランド上に接触可能にされ
る。このようなバスバーの外部基板への接続側は、信号
線用のリードの場合と同じように、アウターリードと呼
ばれる。上記信号線用のリード21、バスバー22及び
23は、リードフレームの形で与えられ、集積回路チッ
プの主面上に接着された後、不要部分を切断されること
によって形成される。
【0005】一方、集積回路チップの素子領域の外周囲
すなわちチップの周辺寄りに電極パッドの列を配置した
一般的なパッケージは、信号線を中央の電極パッドの列
まで引き延ばさなければならない上記センターボンドL
OCよりも有利な面がある。すなわち、リード上のイン
ダクタンスは該リードの長さに比例し、センターボンド
LOCにおいては隣り合うインナーリードとの間でクロ
ストークが生じる恐れがある。SOP(Small Out-line
Package)、DIP(Dual In-line Package)、QFP(Qua
d Flat Package)その他のパッケージでは、集積回路チ
ップの周辺寄りに電極パッドを有しているため、リード
長が短くなりクロストークが抑えられる。このことは集
積回路チップの周辺寄りに電極パッドを備えたLOCパ
ッケージ、すなわちサイドボンドLOCと呼ばれるパッ
ケージにおいても当てはまる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、SO
P、DIP、QFP、サイドボンドLOCなどの、集積
回路チップの周辺寄りに電極パッドを備えるパッケージ
において、該チップ上にバスバーを備えることにある。
【0007】本発明の別の目的は、既存のSOP、DI
P、QFP、サイドボンドLOCなどのパッケージにお
ける電極パッドの配置、リードの配列等の設計を変更す
ることなく、これらのパッケージにバスバーを実装する
ことにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、一つの面上に
電極パッドの列を複数備えた集積回路チップを有するメ
モリーIC、論理IC、アナログICその他の半導体装
置に適用される。上記半導体装置は、第一の基準電圧、
例えば電源電位を与えられる導体リード及び第二の基準
電圧、例えば接地電位を与えられる導体リードを有す
る。両導体リードは、上記各電極パッドの列に沿って配
置される部分(以下、これをバスバー部と呼ぶことがあ
る)を有している。言い換えれば、第一の基準電圧と第
二の基準電圧の少なくとも二本の導体リードが、すべて
の電極パッドの列の近傍を通過するように配置される。
上記導体リードのアウターリードは、信号線用の導体リ
ードと同様に、集積回路チップの側面より外側に延びて
外部基板側へ接続可能にされる。複数の電極パッドと各
導体リードとが導体ワイヤにより電気的に接続される。
【0009】本発明において半導体装置は複数の電極パ
ッドの列を備えていればよく、SOP、DIP又はサイ
ドボンドLOC型のパッケージのように、集積回路チッ
プの対向する二辺に沿って電極パッドの列を備えたもの
に本発明が適用できる。また、QFP型のパッケージの
ように集積回路チップの四辺に沿って電極パッドの列を
備えたものにも本発明を適用できる。
【0010】ここで、集積回路チップ上の各電極パッド
の列は、全体として一つのまとまりとして連続的に配置
された電極パッドの群であればよく、必ずしも一直線上
に配置された複数の電極パッドのみを指すのではない。
したがって、複数の電極パッドの並び方向と交差する方
向に相互の位置を異ならせて電極パッドを配列した構造
の半導体装置においても、本発明は適用されるであろ
う。
【0011】信号線用のリードと電極パッドとの接続を
容易にし、又は既存の電極パッドの集積回路チップ面上
の配置に関する設計を変更しない目的で、両導体リード
の電極パッドの列に沿う部分を、各電極パッドの列の内
側に並べて配置し、さらにはチップ面上に接着すること
が好ましい。2つの導体リードのバスバー部のうち、電
極パッドの列から離れた側は、もう一方のバスバー部を
超えていくつかの電極パッドにワイヤボンディングされ
る。
【0012】本発明において、信号線用導体リードの配
置はさほど重要ではない。集積回路チップの電極パッド
にインナーリードを介して電気的に接続し得る配置が達
成されればよい。信号線用導体リードのインナーリード
は、LOCパッケージの場合のように、集積回路チップ
面上に置かれてもよく、またSOP、QFPその他の一
般的なパッケージの場合のように、集積回路チップの外
側に置かれてもよい。また、各信号線用導体リードは、
各電極パッドに対して導体ワイヤを介してワイヤボンデ
ィングされるものでも、半田バンプを介して直接電極パ
ッド上に接続されるものでもよい。
【0013】本発明において信号線用導体リードとは、
データ入出力用、書込みイネーブル信号用、行アドレス
ストローブ用、列アドレスストローブ信号用及びアドレ
ス信号用のリードを含む。
【0014】上記給電用の導体リードのバスバー部を集
積回路チップ上に並べて接着する場合に、チップと導体
リードとの熱膨張係数差により、その接着箇所において
熱応力を生じることがある。チップと導体リードとの接
触面積が大きい場合に、チップの歪み、又はクラックが
生じる。この問題を避けるため、導体リードがチップ上
に接触される領域をできるだけ小さくすることが好まし
い。このような目的から、バスバー部の互いの対向面の
ずれた位置から相手側に向けて複数の腕を引き延ばし、
該腕を集積回路チップ面に接着する構造を採用すること
ができる。
【0015】また、上記電極パッドの列の内側に並べら
れた導体リードのバスバー部と集積回路チップの電極パ
ッドとをワイヤボンディングする場合に、電極パッドの
列から離れた側のバスバー部は、電極パッドの列寄りの
バスバー部を超えて延びる導体ワイヤにより電気的に接
続される。したがって、この導体ワイヤと電極パッドの
列寄りのバスバー部とがショートしないように、これら
の間のクリアランスを十分に確保しなければならない。
このような設計上の手間を避けるために、本発明はま
た、上記電極パッドの列寄りのバスバー部の表面に絶縁
層を形成し、各バスバー部と電極パッドとを上記腕の位
置でワイヤボンディングする構造を採用することができ
る。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
に沿って説明する。図1及び図2は、本発明をスモール
アウトライン型パッケージ(SOP)を有するDRAM
等のメモリ装置に適用した場合の例を示している。メモ
リ装置1は、集積回路チップ2及びリードフレーム3を
有する。集積回路チップの電極パッド2aは、回路素子
が形成されたチップ主面の長手方向両側に各一列に配置
されている。リードフレーム3のアウターリードとなる
部分を除いて、集積回路チップ2及びリードフレーム3
は、プラスチックパッケージ11に覆われている。図1
ではリードフレーム3の配置を明確に示すために、プラ
スチックパッケージ11の外形線のみを破線で示し、ま
たリードフレーム上には斜線を施している。リードフレ
ーム3のパッケージから外側にある部分を外部基板のパ
ッド上にはんだ接合することによりメモリ装置1が実装
される。メモリ装置1を外部基板に実装したときに、ア
ウターリードOL1及びOL44がメモリ装置1を電源
電位Vccに接続する。またアウターリードOL45及
びOL88がメモリ装置1を接地電位Vssに接続す
る。アウターリードOL2〜OL43、OL46〜OL
87は、信号線用のリード4の一部である。信号線用リ
ード4を介して、データ、書込みイネーブル信号、行ア
ドレスストローブ信号、列アドレスストローブ信号、及
びアドレス信号等の信号がメモリ装置1に対し入出力さ
れる。信号線用のリード4は、パッケージの内部におい
て対応する電極パッド2aと導体ワイヤ5を介して電気
的に接続される。
【0017】リードフレーム3は、電源電位供給用のリ
ード6を有する。電源電位供給用のリード6は、アウタ
ーリードOL1及びOL44に一体的に形成され、これ
らを共通接続するバスバー6aを有する。バスバー6a
は、一方の電極パッド2aの列に沿って集積回路チップ
2上に配置されている。電極パッド2aのうちいくつか
の電源電位供給用電極パッドとバスバー6aとが導体ワ
イヤ5により電気的に接続される。上記アウターリード
OL1及びOL44に対し、さらにバスバー6bが接続
線6cを介してバスバー6aと一体的に形成されてい
る。バスバー6bは、もう一方の電極パッド2aの列に
沿って配置され、導体ワイヤ5により、電極パッド2a
のうちいくつかの電極パッドと接続される。
【0018】またリードフレーム3は、接地電位供給用
のリード7を有する。接地電位供給用のリード7は、ア
ウターリードOL45及びOL88に一体的に形成さ
れ、これらを共通接続するバスバー7aを有する。バス
バー7aは、上記電源用のバスバー6bと電極パッド2
aの列の間に配置される。したがって、電源用のバスバ
ー6bと電極パッド2aとを接続する導体ワイヤ5は、
この接地用のバスバー7aを跨ぐ。バスバー7aもまた
電極パッド2aのうちいくつかの接地電位供給用電極パ
ッドと導体ワイヤ5により電気的に接続される。接地用
のアウターリードOL45及びOL88は、さらにバス
バー7bに接続線7cを介してバスバー7aと一体的に
形成されている。バスバー7bは、電源用のバスバー6
aのチップ中央側に該バスバー6aに沿って配置され
る。バスバー7bと電極パッド2aのうちいくつかの電
極パッドとは、電源用のバスバー6aを超えて延びる導
体ワイヤ5により接続される。以上の説明からも明らか
なように、電源用のリード6及び接地用のリード7は、
それぞれが各電極パッドの列に沿う二本のバスバーを有
しており、互いの線路が干渉しあわないようにチップの
中心に対し点対称に配置されている。一つの実施例にお
いて電極パッド2aの列からバスバー6a及びバスバー
7bまでの距離L1及びL2は、それぞれ210μm、
810μmである。リードフレーム3の幅は300μ
m、厚さは125μmである。リードフレームの材質と
しては、銅、燐青銅、Fe-Ni合金、コバール、鉄等が適
している。
【0019】電源用のリード6及び接地用のリード7
は、それぞれそのバスバーの部分で集積回路チップ2の
面に接着される。バスバー6a及びバスバー7bはポリ
イミド製の接着テープ8a、8bで共にチップ面上に接
着される。またバスバー6b及びバスバー7aも別の接
着テープ8a、8bで共にチップ面上に接着される。リ
ードフレーム3をチップ側に接着する前に、バスバー側
に接着テープを張り付けることにより、リード6とリー
ド7との相互の位置が固定されチップへの接着が容易に
なる。図1に示すように、各バスバー6a、6b、7a
及び7bの略中央は、内側に向けて曲げられ、この曲げ
られた部分はチップ2に対し浮いている。これはバスバ
ーの熱による伸縮の影響をこの部分で吸収するためであ
る。
【0020】メモリ装置1の製造工程は、基本的に一般
的なLOCの製造工程と同じである。すなわち、集積回
路チップ2の主面に、リードフレーム3を接着テープ8
a、8bによって固定する。本実施形態において、リー
ドフレームのバスバーの部分のみがチップ上に位置し、
接続線6c、7c及び信号線用リード4は、チップ2の
外側に位置する。次に信号線用リード4のインナーリー
ド及び各バスバーに対し、電極パッド2aとのワイヤボ
ンディングが施される。その後トランスファーモールド
により集積回路チップ2及びリードフレーム3が封止さ
れる。固化した樹脂のバリ取りを行なった後、リードフ
レーム3のアウターリードを枠から切り離し、外部基板
に実装できるように曲げる。以上の工程を経て、メモリ
装置1が組み立てられる。
【0021】図3は、信号線用リード4のインナーリー
ドを集積回路チップ面上に位置させた上記実施形態の変
形例を示している。特に説明の無い限り、上記実施形態
で用いられた符号をこの実施形態おいても同一の部品に
対して用いる。信号線用リード4のインナーリードは、
電極パッド2aの列の個々のパッドの間において、集積
回路チップ2上に接着されている。本発明の特徴とは基
本的に関係はないが、各インナーリードの先端は直角に
曲げられ、パッケージからリードが抜け難くなるように
されている。各インナーリードは電極パッド2aとワイ
ヤボンディングされる。電源電位供給用のリード及び接
地電位供給用のリードの全体像は、この図には示されて
いないが、図1に示す例と基本的に同じである。電源電
位供給用のリード及び接地電位供給用のリードのバスバ
ー6b及びバスバー7aは、信号線用のリード4との干
渉を避けるために、先の実施形態の場合よりも電極パッ
ド2aの列から離されている。それぞれのバスバー6
b、7aが同様に、対応する電極パッド2aに対しワイ
ヤボンディングされる。
【0022】図4及び図5は、図1に示すバスバーの他
の構成態様を示す本発明の他の実施形態を示している。
図において電源電位供給用リードのバスバー6bは、接
地電位供給用リードのバスバー7a側に延びる複数の腕
6dを有する。同様に、接地電位供給用リードのバスバ
ー7aは、電源電位供給用リードのバスバー6b側に延
びる複数の腕7dを有する。腕6d及び7dは、バスバ
ー6b、7aの全長に亙って交互に配置されている。こ
れら腕6d及び7dの列の下側に、接着テープ9が設け
られ、バスバー、延いてはリードフレームは接着テープ
9によって集積回路チップ2上に接着される。このよう
な構成は、接着テープの幅を狭くすることができ、また
接着テープに対するバスバーの接着面積を少なくするこ
とができる。異なる部材間の接着面積を少なくすること
は、熱応力を小さくする上で好ましい。
【0023】更に、電極パッド2aの列側のバスバー7
aの表面には、ポリイミドの絶縁皮膜10が塗布され
る。バスバー6b及びバスバー7aは、腕6d及び7d
の位置で、それぞれ対応するいくつかの電極パッド2a
と導体ワイヤ5により電気的に接続される。バスバー6
bと電極パッド2aとを結ぶ導体ワイヤ5は、他方のバ
スバー7aを跨ぐが、その表面に施された絶縁膜10に
よりこの導体ワイヤ5とバスバー7aとの間のショート
が完全に防げる。上記腕6d、7dの位置は、電極パッ
ド2aとの接続が達成される位置であればよく、電極パ
ッド2aの位置に対応させても、またそうでなくともよ
い。また腕6d及び7dはすべての位置において交互に
形成する必要はなく、場合によっては腕を形成しない箇
所があっても良い。
【0024】図6は、パッケージの四辺に沿ってリード
を有するQFP型のパッケージに本発明を適用した場合
の一実施形態を示している。本実施形態においても特に
説明の無い限り、上記実施形態で用いられた符号を同一
の部品に対して用いる。図に示す集積回路チップ2は、
その四辺に沿って電極パッド2aの列を有する。リード
フレーム3は、チップ2の四方に延びる信号線用のリー
ド4、電源電位供給用のリード6及び接地電位供給用の
リード7を含む。電源電位供給用のリード6は、一つの
電極パッドの列に沿って延びるバスバー6aと、このバ
スバー6aと一体的に形成され残りの三つの列に沿って
さらに延びるバスバー6bを有する。バスバー6bは、
各チップのコーナーで90°に曲げられ、電極パッドの
列の内側に沿って略U字型に配置される。同様に、接地
電位供給用のリード7は、一つの電極パッドの列に沿っ
て延びるバスバー7aと、このバスバー7aと一体的に
形成され残りの三つの列に沿ってさらに延びるバスバー
7bを有する。バスバー7bは、各チップのコーナーで
90°に曲げられ、電極パッドの列の内側に沿って略U
字型に配置される。電源用のリード6のバスバーと接地
用のリード7のバスバーは、四辺の各電極パッドの列の
内側に並んで配置され、接着テープ8でチップ面上に接
着される。両リード6及び7のバスバーは、チップの各
辺においてそれぞれ複数の電極パッド2aに対しワイヤ
ボンディングされる。この実施形態においても電源用の
リード6及び接地用のリード7は、それぞれが各電極パ
ッドの列に沿う二本のバスバーを有しており、互いの線
路が干渉しあわないようにチップの中心に対し点対称に
配置されている。
【0025】以上、本発明を適用したいくつかの実施形
態を図に沿って説明したが、本発明の適用範囲は、上記
実施形態で示された半導体装置に限られない。本発明の
基本的な思想は、複数の電極パッドの列のそれぞれに対
し、第一の基準電圧の導体リードと第二の基準電圧の導
体リードをそれぞれ引き回すように配置した点にある。
したがって、具体的なリードの配列については、さらに
別の構成態様が実現できることが明らかである。
【0026】
【発明の効果】以上の如く本発明の半導体装置によっ
て、SOP、DIP、QFP、サイドボンドLOCなど
の、集積回路チップの周辺寄りに複数の電極パッドの列
を備えるパッケージにおいて、バスバーを備えることが
可能となる。この場合に、既存のパッケージにおける電
極パッドの配置、リードの配列等の設計を変更すること
なく、これらのパッケージにバスバーを実装することが
可能となり、半導体装置の設計、製造の効率化が図られ
る。
【0027】導体リードの電極パッドの列に沿う部分に
腕を設けた本発明の半導体装置においては、該腕の部分
で集積回路チップへの接着をすることにより、リードの
チップに対する接着面積を少なくすることができる。チ
ップとリードとの接着面積を少なくすることは、チップ
に加わる熱応力を小さくし、チップの反りやクラックを
防止するのに役立つ。
【0028】更に、上記腕の位置で電極パッドに対して
ワイヤボンディングをすることにより、導体ワイヤの下
に位置するリード表面に絶縁層を施せる。リード表面の
絶縁層は、導体ワイヤとの間のショートを完全に防止
し、またリードと導体ワイヤ間のクリアランスを最小限
にすることを許す。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明をスモールアウトライン型パッケージ
(SOP)を有するメモリ装置に適用した場合の例を示
しており、プラスチックパッケージを省いた状態のメモ
リ装置の平面図である。
【図2】プラスチックパッケージを備えた状態における
図1のA−A線における断面図である。
【図3】信号線用リードのインナーリードを集積回路チ
ップ面上に位置させた半導体装置における本発明の適用
例を示す要部拡大平面図である。
【図4】バスバーの他の構成態様を示す図1の要部拡大
平面図である。
【図5】プラスチックパッケージを備えた状態における
図4のB−B線における断面図である。
【図6】パッケージの四辺に沿ってリードを有するQF
P型のパッケージに本発明を適用した場合の一実施形態
を示しており、プラスチックパッケージを省いた状態の
半導体装置の平面図である。
【図7】バスバー付きセンターボンドLOCパッケージ
の一例を示す平面図である。
【符号の説明】
1 メモリ装置 2 集積回路チップ 2a 電極パッド 3 リードフレーム 4 信号線用リード 5 導体ワイヤ 6 電源電位供給用リード 6a、6b バスバー 6c 接続線 6d 腕 7 接地電位供給用リード 7a、7b バスバー 7c 接続線 7d 腕 8 接着テープ 9 接着テープ 10 絶縁皮膜

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一つの面上に電極パッドの列を複数備え
    た集積回路チップと、 上記各電極パッドの列に沿って設けられる部分を有し、
    複数の電極パッドに対し導体ワイヤにより電気的に接続
    される第一の基準電圧の導体リードと、 上記各電極パッドの列に沿って設けられる部分を有し、
    複数の電極パッドに対し導体ワイヤにより電気的に接続
    される第二の基準電圧の導体リードと、 上記各電極パッドに電気的に接続される複数の信号用導
    体リードと、を備えた半導体装置。
  2. 【請求項2】 集積回路チップの対向する二辺に沿って
    上記電極パッドの列を備えた請求項1記載の半導体装
    置。
  3. 【請求項3】 集積回路チップの四辺に沿って上記電極
    パッドの列を備えた請求項1記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 上記第一及び第二の基準電圧の導体リー
    ドの上記電極パッドの列に沿って設けられた部分を、上
    記各電極パッドの列の内側に位置させた請求項2又は3
    記載の半導体装置。
  5. 【請求項5】 上記信号用導体リードの電極パッドとの
    接続部を上記集積回路チップの外側に位置させた請求項
    4記載の半導体装置。
  6. 【請求項6】 上記信号用導体リードの電極パッドとの
    接続部を上記集積回路チップ面上に位置させた請求項4
    記載の半導体装置。
  7. 【請求項7】 上記第一及び第二の基準電圧の導体リー
    ドは、それぞれ少なくとも一つの外部接続端子と、各電
    極パッドの列に沿って設けられる複数のバスバー部と、
    上記各バスバー部を相互に連結する接続線とを備えた請
    求項4、5又は6記載の半導体装置。
  8. 【請求項8】 上記第一及び第二の基準電圧の導体リー
    ドの上記電極パッドの列に沿って設けられた部分を、上
    記集積回路チップ面に接着した請求項4記載の半導体装
    置。
  9. 【請求項9】 上記第一及び第二の基準電圧の導体リー
    ドは、上記電極パッドの列に沿って設けられた部分に、
    互いの対向面のずれた位置から相手側に向けて引き伸ば
    された複数の腕を有し、該腕を上記集積回路チップ面に
    接着してなる請求項4記載の半導体装置。
  10. 【請求項10】 上記腕の位置で上記電極パッドとの電
    気的接続をなすと共に、上記第一及び第二の基準電圧の
    導体リードの上記電極パッドの列に沿って設けられた部
    分のうち、上記電極パッドの列寄りに配置されたものの
    表面に絶縁層を設けた請求項9記載の半導体装置。
  11. 【請求項11】 上記第一の基準電圧が電源電圧であ
    り、上記第二の基準電圧が接地電圧である請求項1記載
    の半導体装置。
  12. 【請求項12】 上記第一の基準電圧の導体リード、上
    記第二の基準電圧の導体リード及び上記複数の信号用導
    体リードが、一つのリードフレームにより与えられる請
    求項1の半導体装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0926734A2 (en) * 1997-12-22 1999-06-30 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for delivering electrical power to a semiconducteur die
CN1065486C (zh) * 1996-05-24 2001-05-09 日野自动车工业株式会社 车载电池的控制装置
KR100381844B1 (ko) * 1998-08-31 2003-07-10 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체패키지용써킷테이프

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1065486C (zh) * 1996-05-24 2001-05-09 日野自动车工业株式会社 车载电池的控制装置
EP0926734A2 (en) * 1997-12-22 1999-06-30 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for delivering electrical power to a semiconducteur die
EP0926734A3 (en) * 1997-12-22 2002-04-03 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for delivering electrical power to a semiconducteur die
KR100381844B1 (ko) * 1998-08-31 2003-07-10 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 반도체패키지용써킷테이프

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