JPH1012348A - コネクタの検査治具 - Google Patents
コネクタの検査治具Info
- Publication number
- JPH1012348A JPH1012348A JP8164455A JP16445596A JPH1012348A JP H1012348 A JPH1012348 A JP H1012348A JP 8164455 A JP8164455 A JP 8164455A JP 16445596 A JP16445596 A JP 16445596A JP H1012348 A JPH1012348 A JP H1012348A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lance
- terminal
- engaged
- pin
- check pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Connector Housings Or Holding Contact Members (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】従来の検査治具は、端子とランスの撓み空間と
に対向させてそれぞれ導通検査用プローブとランスチェ
ックピンとを配置した構成であり、導通検査用プローブ
とランスチェックピンの2本の検出用ピンを必要とする
ために、高価でありまた構造も複雑であるという問題が
あった。 【解決手段】ランスチェックピン1と導通検出ピン2と
を備えており、ランスチェックピン1は、ランス10が
端子に係合している状態のときには先端側がランスの先
端および端子にそれぞれ接触すると共に導通検出ピン2
とも接触するので、端子、ランスチェックピン1および
導通検出ピン2の電気回路が形成される。これによって
ランスが端子に係合していることを検出できる。
に対向させてそれぞれ導通検査用プローブとランスチェ
ックピンとを配置した構成であり、導通検査用プローブ
とランスチェックピンの2本の検出用ピンを必要とする
ために、高価でありまた構造も複雑であるという問題が
あった。 【解決手段】ランスチェックピン1と導通検出ピン2と
を備えており、ランスチェックピン1は、ランス10が
端子に係合している状態のときには先端側がランスの先
端および端子にそれぞれ接触すると共に導通検出ピン2
とも接触するので、端子、ランスチェックピン1および
導通検出ピン2の電気回路が形成される。これによって
ランスが端子に係合していることを検出できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、コネクタハウジン
グと一体に設けたランスが、コネクタハウジングに挿入
した端子に係合しているか否かを検査するコネクタの検
査治具に関するものである。
グと一体に設けたランスが、コネクタハウジングに挿入
した端子に係合しているか否かを検査するコネクタの検
査治具に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、コネクタハウジングと一体に設け
たランスが、コネクタハウジングに挿入した端子に係合
しているか否かを検査するコネクタの検査治具として
は、端子に対向させて押し出しピンを配置し、該押し出
しピンを端子に当てることによりランスが端子に係合し
ているか否かを検査する検査治具が知られている。この
検査治具は、押し出しピンを端子に当てると、ランスに
係合していない端子はコネクタハウジングの外に押し出
されるのでランスに係合していない端子を検出できるも
のである。
たランスが、コネクタハウジングに挿入した端子に係合
しているか否かを検査するコネクタの検査治具として
は、端子に対向させて押し出しピンを配置し、該押し出
しピンを端子に当てることによりランスが端子に係合し
ているか否かを検査する検査治具が知られている。この
検査治具は、押し出しピンを端子に当てると、ランスに
係合していない端子はコネクタハウジングの外に押し出
されるのでランスに係合していない端子を検出できるも
のである。
【0003】しかしながら、押し出しピンを端子に当て
る構造であると、端子に接続した電線が太い場合や電線
がコネクタハウジングの近くでテープで束ねられている
ような場合には、ランスが端子に係合していない状態に
おいても、端子がコネクタハウジングの外に押し出され
難く、このためにランスに係合していない端子を検出で
きないという問題があった。また端子に押し出しピンを
強く押しつけると端子が変形し易いという問題があっ
た。
る構造であると、端子に接続した電線が太い場合や電線
がコネクタハウジングの近くでテープで束ねられている
ような場合には、ランスが端子に係合していない状態に
おいても、端子がコネクタハウジングの外に押し出され
難く、このためにランスに係合していない端子を検出で
きないという問題があった。また端子に押し出しピンを
強く押しつけると端子が変形し易いという問題があっ
た。
【0004】そこで、特開平7ー73949号に記載さ
れているように、ランスを利用してランスが端子に係合
しているか否かを検査するようにしたものが提案されて
いる。すなわち、このコネクタの検査治具は、図5に示
すように、端子43とランス44の撓み空間42aとに
対向させてそれぞれ導通検査用プローブ18とランスチ
ェックピン30とを配置し、かつ導通検査用プローブ1
8には装着不良検出スイッチ38を介して導通検査回路
39を接続しておく構成である。前記装着不良検出スイ
ッチ38は、ランスチェックピン30が後退することに
よって開となるように構成されており、通常は閉じられ
ている。
れているように、ランスを利用してランスが端子に係合
しているか否かを検査するようにしたものが提案されて
いる。すなわち、このコネクタの検査治具は、図5に示
すように、端子43とランス44の撓み空間42aとに
対向させてそれぞれ導通検査用プローブ18とランスチ
ェックピン30とを配置し、かつ導通検査用プローブ1
8には装着不良検出スイッチ38を介して導通検査回路
39を接続しておく構成である。前記装着不良検出スイ
ッチ38は、ランスチェックピン30が後退することに
よって開となるように構成されており、通常は閉じられ
ている。
【0005】この検査治具で検査を行うには、導通検査
用プローブ18とランスチェックピン30とに端子43
とランス44とを押し当てる。この際ランス44が端子
43に完全係合している場合は、ランス44の下部の撓
み空間42aが開いているのでランスチェックピン30
が撓み空間42a内に入り込む。したがって前記装着不
良検出スイッチ38は閉じられたままであり、ランス4
4が端子43に係合していることを検知できる。一方、
ランス44が端子43に完全に係合していない場合は、
撓み空間42aにランス44の先端側が位置するので、
ランスチェックピン30がランス44に接触し、ランス
チェックピン30が後退して装着不良検出スイッチ38
を開とする。これによって、導通検査回路39に電流が
流れなくなるのでランス44が端子43に係合していな
いことを検知できる。
用プローブ18とランスチェックピン30とに端子43
とランス44とを押し当てる。この際ランス44が端子
43に完全係合している場合は、ランス44の下部の撓
み空間42aが開いているのでランスチェックピン30
が撓み空間42a内に入り込む。したがって前記装着不
良検出スイッチ38は閉じられたままであり、ランス4
4が端子43に係合していることを検知できる。一方、
ランス44が端子43に完全に係合していない場合は、
撓み空間42aにランス44の先端側が位置するので、
ランスチェックピン30がランス44に接触し、ランス
チェックピン30が後退して装着不良検出スイッチ38
を開とする。これによって、導通検査回路39に電流が
流れなくなるのでランス44が端子43に係合していな
いことを検知できる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし上記構成の検査
治具においては、導通検査用プローブ18とランスチェ
ックピン30の2本の検出用ピンを必要とするために、
高価でありまた構造も複雑であるという問題があった。
治具においては、導通検査用プローブ18とランスチェ
ックピン30の2本の検出用ピンを必要とするために、
高価でありまた構造も複雑であるという問題があった。
【0007】上記とは別に、特開平7ー130441号
に記載されているように、1本の検出用ピンで、コネク
タハウジング内への端子の装着状態を検出するようにし
たものがある。すなわちこのものは、端子と一体にラン
スを設け、この端子と一体に設けたランスにランスチェ
ックピンを接触させるように構成したものである。
に記載されているように、1本の検出用ピンで、コネク
タハウジング内への端子の装着状態を検出するようにし
たものがある。すなわちこのものは、端子と一体にラン
スを設け、この端子と一体に設けたランスにランスチェ
ックピンを接触させるように構成したものである。
【0008】このように端子と一体に設けたランスにラ
ンスチェックピンを接触させるように構成すれば、1本
の検出用ピンすなわち1本のランスチェックピンのみの
使用でよいが、上記のものは、ランスが端子と一体に設
けられている場合にしか適用できないという問題があ
る。
ンスチェックピンを接触させるように構成すれば、1本
の検出用ピンすなわち1本のランスチェックピンのみの
使用でよいが、上記のものは、ランスが端子と一体に設
けられている場合にしか適用できないという問題があ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するためになされたもので、ランスがコネクタハウジン
グと一体に設けられている場合において、かかるランス
を利用し、しかも1本の検出用ピンを使用するのみで、
ランスが端子に係合しているか否かを検査することがで
きるコネクタの検査治具を提供するものであり、その構
成は、コネクタハウジングと一体に設けたランスが、コ
ネクタハウジングに挿入した端子に係合しているか否か
を検査するコネクタの検査治具であって、ランスが端子
に係合している状態のときには先端部がランスの先端お
よび端子にそれぞれ接触し、ランスが端子に係合してい
ない状態のときには先端部がランスの先端より奥部に入
り込むランスチェックピンと、ランスが端子に係合して
いる状態のときにはランスチェックピンと接触して導通
し、ランスが端子に係合していない状態のときにはラン
スチェックピンと接触せず導通しない導通検出ピンとを
備えていることを特徴とするものである。
するためになされたもので、ランスがコネクタハウジン
グと一体に設けられている場合において、かかるランス
を利用し、しかも1本の検出用ピンを使用するのみで、
ランスが端子に係合しているか否かを検査することがで
きるコネクタの検査治具を提供するものであり、その構
成は、コネクタハウジングと一体に設けたランスが、コ
ネクタハウジングに挿入した端子に係合しているか否か
を検査するコネクタの検査治具であって、ランスが端子
に係合している状態のときには先端部がランスの先端お
よび端子にそれぞれ接触し、ランスが端子に係合してい
ない状態のときには先端部がランスの先端より奥部に入
り込むランスチェックピンと、ランスが端子に係合して
いる状態のときにはランスチェックピンと接触して導通
し、ランスが端子に係合していない状態のときにはラン
スチェックピンと接触せず導通しない導通検出ピンとを
備えていることを特徴とするものである。
【0010】ランスチェックピンは、ランスが端子に係
合している状態のときには先端側がランスの先端および
端子にそれぞれ接触すると共に導通検出ピンとも接触す
るので、端子、ランスチェックピンおよび導通検出ピン
の電気回路が形成される。これによってランスが端子に
係合していることを検出できる。一方ランスが端子に係
合していない状態のときには、ランスチェックピンの先
端部がランスの先端より奥部に入り込んでしまうのでラ
ンスチェックピンが導通検出ピンと接触せず、ランスチ
ェックピンと導通検出ピンとの間が電気的に繋がらな
い。これによってランスが端子に係合していないことを
検出できる。
合している状態のときには先端側がランスの先端および
端子にそれぞれ接触すると共に導通検出ピンとも接触す
るので、端子、ランスチェックピンおよび導通検出ピン
の電気回路が形成される。これによってランスが端子に
係合していることを検出できる。一方ランスが端子に係
合していない状態のときには、ランスチェックピンの先
端部がランスの先端より奥部に入り込んでしまうのでラ
ンスチェックピンが導通検出ピンと接触せず、ランスチ
ェックピンと導通検出ピンとの間が電気的に繋がらな
い。これによってランスが端子に係合していないことを
検出できる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図1ないし図4を
参照して詳細に説明する。図1(イ)(ロ)は本発明の
コネクタの検査治具の原理説明図である。この検査治具
は、ランスチェックピン1と導通検出ピン2とを備えて
いる。ランスチェックピン1と導通検出ピン2とは筒体
3内で直列に配置されている。ランスチェックピン1
は、筒体3内でバネ4によって軸線方向に後退可能であ
るように支持されており、また導通検出ピン2は筒体3
内で後退可能であるようにバネ5で支持されている。
参照して詳細に説明する。図1(イ)(ロ)は本発明の
コネクタの検査治具の原理説明図である。この検査治具
は、ランスチェックピン1と導通検出ピン2とを備えて
いる。ランスチェックピン1と導通検出ピン2とは筒体
3内で直列に配置されている。ランスチェックピン1
は、筒体3内でバネ4によって軸線方向に後退可能であ
るように支持されており、また導通検出ピン2は筒体3
内で後退可能であるようにバネ5で支持されている。
【0012】図1(イ)に示すように、ランスチェック
ピン1は、通常その後端が導通検出ピン2と接触しない
ように導通検出ピン2と所定間隔Lを開けて配置されて
いるが、図1(ロ)に示すように、ランスチェックピン
1が導通検出ピン2の方向、すなわち矢印A方向に押圧
されると後退して導通検出ピン2と接触するように構成
されている。
ピン1は、通常その後端が導通検出ピン2と接触しない
ように導通検出ピン2と所定間隔Lを開けて配置されて
いるが、図1(ロ)に示すように、ランスチェックピン
1が導通検出ピン2の方向、すなわち矢印A方向に押圧
されると後退して導通検出ピン2と接触するように構成
されている。
【0013】次に、上記構成の検査治具を用いて、ラン
スが端子に係合しているか否かを検出する方法を図2
(イ)(ロ)および図3(イ)(ロ)を参照して説明す
る。
スが端子に係合しているか否かを検出する方法を図2
(イ)(ロ)および図3(イ)(ロ)を参照して説明す
る。
【0014】図2(イ)は、ランス10が端子11に係
合していない状態の説明図、図2(ロ)は、ランス10
が端子11に係合している状態の説明図である。図2
(イ)に示す如く、ランス10が端子11に係合してい
ない状態においては、ランス10の先端がランス撓み空
間12に位置している。このようにランス10がランス
撓み空間12に位置している状態のときに、検査治具の
ランスチェックピン1をランス10に押し当てると、ラ
ンスチェックピン1の先端部は、ランス10の先端10
aより奥部に入り込むと共に端子11と接触する。この
ように、ランスチェックピン1の先端部が、ランス10
の先端10aより奥部に入り込むと、ランスチェックピ
ン1は後退することなく図1(イ)の状態を保ち、ラン
スチェックピン1と導通検出ピン2とは電気的に絶縁さ
れた状態を保つ。したがって、図3(イ)に示すように
端子11、ランスチェックピン1、導通検出ピン2の電
気回路が形成されず、ランプ13が付かない。これによ
って、ランス10が端子11に係合してないことを検出
できる。
合していない状態の説明図、図2(ロ)は、ランス10
が端子11に係合している状態の説明図である。図2
(イ)に示す如く、ランス10が端子11に係合してい
ない状態においては、ランス10の先端がランス撓み空
間12に位置している。このようにランス10がランス
撓み空間12に位置している状態のときに、検査治具の
ランスチェックピン1をランス10に押し当てると、ラ
ンスチェックピン1の先端部は、ランス10の先端10
aより奥部に入り込むと共に端子11と接触する。この
ように、ランスチェックピン1の先端部が、ランス10
の先端10aより奥部に入り込むと、ランスチェックピ
ン1は後退することなく図1(イ)の状態を保ち、ラン
スチェックピン1と導通検出ピン2とは電気的に絶縁さ
れた状態を保つ。したがって、図3(イ)に示すように
端子11、ランスチェックピン1、導通検出ピン2の電
気回路が形成されず、ランプ13が付かない。これによ
って、ランス10が端子11に係合してないことを検出
できる。
【0015】一方、 図2(ロ)に示す如く、ランス1
0が端子11に係合している状態においては、ランス1
0の先端がランス撓み空間12の上部に位置している。
このようにランス10がランス撓み空間12の上部に位
置している状態のときに、検査治具のランスチェックピ
ン1をランス10に押し当てると、ランスチェックピン
1の先端部は、ランス10の先端10aに接触すると共
に端子11と接触する。このように、ランスチェックピ
ン1の先端部が、ランス10の先端10aに接触すると
共に端子11と接触すると、図1(ロ)に示す如く、ラ
ンスチェックピン1は後退して導通検出ピン2と電気的
に接触する。したがって、図3(ロ)に示すように端子
11、ランスチェックピン1、導通検出ピン2の電気回
路が形成されランプ13が点灯する。これによって、ラ
ンス10が端子11に係合していることを検出できる。
0が端子11に係合している状態においては、ランス1
0の先端がランス撓み空間12の上部に位置している。
このようにランス10がランス撓み空間12の上部に位
置している状態のときに、検査治具のランスチェックピ
ン1をランス10に押し当てると、ランスチェックピン
1の先端部は、ランス10の先端10aに接触すると共
に端子11と接触する。このように、ランスチェックピ
ン1の先端部が、ランス10の先端10aに接触すると
共に端子11と接触すると、図1(ロ)に示す如く、ラ
ンスチェックピン1は後退して導通検出ピン2と電気的
に接触する。したがって、図3(ロ)に示すように端子
11、ランスチェックピン1、導通検出ピン2の電気回
路が形成されランプ13が点灯する。これによって、ラ
ンス10が端子11に係合していることを検出できる。
【0016】なお、本発明で使用するランスチェックピ
ン1の先端部形状は特に限定するものではなく、例えば
図4に示すように先端を丸くすると共に端子との接触を
良好にするために先端部に段部1aを設けてもよい。ま
た、図示していないが、本発明に係る検出治具は、コネ
クタハウジングと対向させて取付け台上に載置して使用
するものである。さらに、ランスチェックピン1と導通
検出ピン2とが電気的に接触しているか否かを検出する
手段としては、ランプに限るのではなくブザーまたはブ
ザーとランプの併用等であってもよい。
ン1の先端部形状は特に限定するものではなく、例えば
図4に示すように先端を丸くすると共に端子との接触を
良好にするために先端部に段部1aを設けてもよい。ま
た、図示していないが、本発明に係る検出治具は、コネ
クタハウジングと対向させて取付け台上に載置して使用
するものである。さらに、ランスチェックピン1と導通
検出ピン2とが電気的に接触しているか否かを検出する
手段としては、ランプに限るのではなくブザーまたはブ
ザーとランプの併用等であってもよい。
【0017】
【発明の効果】上記のように、本発明に係るコネクタの
検査治具は、ランスが端子に係合している状態のときに
は先端側がランスの先端および端子にそれぞれ接触する
と共に導通検出ピンとも接触するランスチェックピンを
備えているので、容易にランスが端子に係合しているこ
とを検出でき、一方ランスが端子に係合していない状態
のときには、ランスチェックピンの先端部がランスの先
端より奥部に入り込んでしまうのでランスチェックピン
が導通検出ピンと接触せず、ランスチェックピンと導通
検出ピンとの間が電気的に繋がらないので、容易にラン
スが端子に係合していないことを検出できる。また本発
明に係る検査治具は、ランスを利用するものであるため
に端子に損傷を与えることがなく、しかも1本のランス
チェックピンがランスおよび端子にそれぞれ接触する構
造であるの、構成が簡単であり安価である。
検査治具は、ランスが端子に係合している状態のときに
は先端側がランスの先端および端子にそれぞれ接触する
と共に導通検出ピンとも接触するランスチェックピンを
備えているので、容易にランスが端子に係合しているこ
とを検出でき、一方ランスが端子に係合していない状態
のときには、ランスチェックピンの先端部がランスの先
端より奥部に入り込んでしまうのでランスチェックピン
が導通検出ピンと接触せず、ランスチェックピンと導通
検出ピンとの間が電気的に繋がらないので、容易にラン
スが端子に係合していないことを検出できる。また本発
明に係る検査治具は、ランスを利用するものであるため
に端子に損傷を与えることがなく、しかも1本のランス
チェックピンがランスおよび端子にそれぞれ接触する構
造であるの、構成が簡単であり安価である。
【図1】(イ)(ロ)は本発明のコネクタの検査治具の
原理説明図。
原理説明図。
【図2】(イ)はランスが端子に係合していない状態の
説明図、(ロ)はランスが端子に係合している状態の説
明図。
説明図、(ロ)はランスが端子に係合している状態の説
明図。
【図3】(イ)は電気回路が形成されない状態の説明
図、(ロ)は電気回路が形成された状態の説明図。
図、(ロ)は電気回路が形成された状態の説明図。
【図4】ランスチェックピンの他の実施の形態を示す側
面図。
面図。
【図5】従来のコネクタの検査治具の原理説明図。
【符号の説明】 1 ランスチェックピン 2 導通検出ピン 3 筒体 10 ランス 11 端子 12 ランス撓み空間
Claims (1)
- 【請求項1】 コネクタハウジングと一体に設けたラン
スが、コネクタハウジングに挿入した端子に係合してい
るか否かを検査するコネクタの検査治具であって、ラン
スが端子に係合している状態のときには先端部がランス
の先端および端子にそれぞれ接触し、ランスが端子に係
合していない状態のときには先端部がランスの先端より
奥部に入り込むとランスチェックピンと、ランスが端子
に係合している状態のときにはランスチェックピンと接
触して導通し、ランスが端子に係合していない状態のと
きにはランスチェックピンと接触せず導通しない導通検
出ピンとを備えていることを特徴とするコネクタの検査
治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8164455A JPH1012348A (ja) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | コネクタの検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8164455A JPH1012348A (ja) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | コネクタの検査治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1012348A true JPH1012348A (ja) | 1998-01-16 |
Family
ID=15793511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8164455A Pending JPH1012348A (ja) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | コネクタの検査治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1012348A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100787201B1 (ko) | 2006-10-27 | 2007-12-21 | 한국단자공업 주식회사 | 커넥터하우징의 랜스검사장치 |
KR100838773B1 (ko) | 2007-03-30 | 2008-06-17 | 한국단자공업 주식회사 | 터미널홀더 |
KR100864246B1 (ko) * | 2007-02-27 | 2008-10-17 | 한국단자공업 주식회사 | 커넥터하우징 |
-
1996
- 1996-06-25 JP JP8164455A patent/JPH1012348A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100787201B1 (ko) | 2006-10-27 | 2007-12-21 | 한국단자공업 주식회사 | 커넥터하우징의 랜스검사장치 |
KR100864246B1 (ko) * | 2007-02-27 | 2008-10-17 | 한국단자공업 주식회사 | 커넥터하우징 |
KR100838773B1 (ko) | 2007-03-30 | 2008-06-17 | 한국단자공업 주식회사 | 터미널홀더 |
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