JPH0989969A - 短絡部分検出システム及び短絡部分検出装置及び短絡部分の検出方法 - Google Patents
短絡部分検出システム及び短絡部分検出装置及び短絡部分の検出方法Info
- Publication number
- JPH0989969A JPH0989969A JP7241352A JP24135295A JPH0989969A JP H0989969 A JPH0989969 A JP H0989969A JP 7241352 A JP7241352 A JP 7241352A JP 24135295 A JP24135295 A JP 24135295A JP H0989969 A JPH0989969 A JP H0989969A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ショート箇所が視覚的に把握できる短絡部分
検出システム及び短絡部分検出装置、そして短絡部分の
検出方法を提供する。 【解決手段】 検査データ演算用コンピュータ（以下、
ＰＣ）に測定データを表示したい製品の製品Ｎｏと製品
種とを入力し、ファイルサーバによりその入力された製
品Ｎｏの検査データについて、予め記憶されている製品
Ｎｏに対する検査箇所Ｎｏと抵抗値を検索し、ＰＣに読
み込む。そしてファイルサーバに予め記憶している導体
のパターンの所定の部分の長さ、その所定の部分の長さ
の抵抗値であるＭａｘ抵抗値を、基板の種別毎に対応さ
せたテーブルから読み込み、これらのデータから短絡部
分の距離を抵抗値と導体の長さが正比例の関係であるこ
とに基づいて算出する。算出されたデータを表示装置に
一覧表示し、更に基板を模した画像上でショートしてい
る部分をプロットして表わす。
検出システム及び短絡部分検出装置、そして短絡部分の
検出方法を提供する。 【解決手段】 検査データ演算用コンピュータ（以下、
ＰＣ）に測定データを表示したい製品の製品Ｎｏと製品
種とを入力し、ファイルサーバによりその入力された製
品Ｎｏの検査データについて、予め記憶されている製品
Ｎｏに対する検査箇所Ｎｏと抵抗値を検索し、ＰＣに読
み込む。そしてファイルサーバに予め記憶している導体
のパターンの所定の部分の長さ、その所定の部分の長さ
の抵抗値であるＭａｘ抵抗値を、基板の種別毎に対応さ
せたテーブルから読み込み、これらのデータから短絡部
分の距離を抵抗値と導体の長さが正比例の関係であるこ
とに基づいて算出する。算出されたデータを表示装置に
一覧表示し、更に基板を模した画像上でショートしてい
る部分をプロットして表わす。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、導体パターンの短
絡部分を検出する短絡部分検出システム及び短絡部分検
出装置及びその検出方法に関するものである。
絡部分を検出する短絡部分検出システム及び短絡部分検
出装置及びその検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、電子回路基板上に形成された導体
のパターンを検査する際、検査装置により測定された導
体の抵抗値等の生データが、検査結果として検査装置専
用のロール紙から出力される方式が一般的である。
のパターンを検査する際、検査装置により測定された導
体の抵抗値等の生データが、検査結果として検査装置専
用のロール紙から出力される方式が一般的である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例において検査データより不良品の不良箇所を確認す
るには、その不良製品の検査結果データが印字されたロ
ール紙を参照し、検査結果データと製品とを見比べてシ
ョートしている箇所を探し出す必要があるが、検査結果
の数値だけでは製品のどの部分に不具合があるかがすぐ
には判断できないことが多い。
来例において検査データより不良品の不良箇所を確認す
るには、その不良製品の検査結果データが印字されたロ
ール紙を参照し、検査結果データと製品とを見比べてシ
ョートしている箇所を探し出す必要があるが、検査結果
の数値だけでは製品のどの部分に不具合があるかがすぐ
には判断できないことが多い。
【０００４】そこで本発明は、ショート箇所が視覚的に
把握できる短絡部分検出システム及び短絡部分検出装
置、そして短絡部分の検出方法の提供を目的とする。
把握できる短絡部分検出システム及び短絡部分検出装
置、そして短絡部分の検出方法の提供を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明の構成として、請求項１は、基板に形成され
た導体のパターンが有する複数の端部に接触し、その抵
抗値を測定することにより短絡部分を検査する検査手段
と、その検査データを演算処理する演算処理手段を備
え、それらの装置が相互通信できるように通信手段で接
続されている短絡部分検出システムにおいて、予め測定
した前記導体のパターンの所定の部分の長さ、その所定
の部分の長さの抵抗値、そして測定した基板の抵抗値に
基づいて、前記演算手段にて短絡部分を算出することを
特徴とする短絡部分検出システムである。
めの本発明の構成として、請求項１は、基板に形成され
た導体のパターンが有する複数の端部に接触し、その抵
抗値を測定することにより短絡部分を検査する検査手段
と、その検査データを演算処理する演算処理手段を備
え、それらの装置が相互通信できるように通信手段で接
続されている短絡部分検出システムにおいて、予め測定
した前記導体のパターンの所定の部分の長さ、その所定
の部分の長さの抵抗値、そして測定した基板の抵抗値に
基づいて、前記演算手段にて短絡部分を算出することを
特徴とする短絡部分検出システムである。
【０００６】抵抗値と導体パターンの長さが正比例の関
係であることに着目し、短絡部分を算出する。
係であることに着目し、短絡部分を算出する。
【０００７】請求項２は、前記短絡部分検出システムに
備えられた表示手段に前記基板を模した画像を表示し、
更にその画面上に前記演算手段により算出した短絡部分
を表示することを特徴とする請求項１記載の短絡部分検
出システムである。
備えられた表示手段に前記基板を模した画像を表示し、
更にその画面上に前記演算手段により算出した短絡部分
を表示することを特徴とする請求項１記載の短絡部分検
出システムである。
【０００８】これにより、基板上の短絡部分の位置を直
観的に把握させる。
観的に把握させる。
【０００９】請求項３は、予め測定した前記導体のパタ
ーンの所定の部分の長さ、その所定の部分の長さの抵抗
値を、前記検査手段が検査する複数の種類の基板の種別
毎に対応させたテーブルとして、前記短絡部分検出シス
テムに備えられた記憶手段に記憶していることを特徴と
する請求項１記載の短絡部分検出システムである。
ーンの所定の部分の長さ、その所定の部分の長さの抵抗
値を、前記検査手段が検査する複数の種類の基板の種別
毎に対応させたテーブルとして、前記短絡部分検出シス
テムに備えられた記憶手段に記憶していることを特徴と
する請求項１記載の短絡部分検出システムである。
【００１０】これにより、複数の製品に対応する。
【００１１】請求項４は、基板に形成された導体のパタ
ーンが有する複数の端部に接触し、その抵抗値を測定す
ることにより短絡部分を検査する検査手段と、その検査
データを演算処理する演算処理手段を備えた短絡部分検
出装置において、予め測定した前記導体のパターンの所
定の部分の長さ、その所定の部分の長さの抵抗値、そし
て測定した基板の抵抗値に基づいて、前記演算手段にて
短絡部分を算出することを特徴とする短絡部分検出装置
である。
ーンが有する複数の端部に接触し、その抵抗値を測定す
ることにより短絡部分を検査する検査手段と、その検査
データを演算処理する演算処理手段を備えた短絡部分検
出装置において、予め測定した前記導体のパターンの所
定の部分の長さ、その所定の部分の長さの抵抗値、そし
て測定した基板の抵抗値に基づいて、前記演算手段にて
短絡部分を算出することを特徴とする短絡部分検出装置
である。
【００１２】抵抗値と導体パターンの長さが正比例の関
係であることに着目し、短絡部分を算出する。
係であることに着目し、短絡部分を算出する。
【００１３】請求項５は、前記短絡部分検出装置に備え
られた表示手段に前記基板を模した画像を表示し、更に
その画面上に前記演算手段により算出した短絡部分を表
示することを特徴とする請求項４記載の短絡部分検出装
置である。
られた表示手段に前記基板を模した画像を表示し、更に
その画面上に前記演算手段により算出した短絡部分を表
示することを特徴とする請求項４記載の短絡部分検出装
置である。
【００１４】これにより、基板上の短絡部分の位置を直
観的に把握させる。請求項６は、予め測定した前記導体
のパターンの所定の部分の長さ、その所定の部分の長さ
の抵抗値を、前記検査手段が検査する複数の種類の基板
の種別毎に対応させたテーブルとして、前記短絡部分検
出装置に備えられた記憶手段に記憶していることを特徴
とする請求項４記載の短絡部分検出装置である。
観的に把握させる。請求項６は、予め測定した前記導体
のパターンの所定の部分の長さ、その所定の部分の長さ
の抵抗値を、前記検査手段が検査する複数の種類の基板
の種別毎に対応させたテーブルとして、前記短絡部分検
出装置に備えられた記憶手段に記憶していることを特徴
とする請求項４記載の短絡部分検出装置である。
【００１５】これにより、複数の製品に対応する。
【００１６】上記の目的を達成するための本発明の他の
構成として、請求項７は、基板に形成された導体のパタ
ーンが有する複数の端部に接触し、その抵抗値を測定す
ることにより短絡部分を検査する検査工程と、その検査
データを演算処理する演算処理工程を備えた短絡部分の
検出方法において、予め測定した前記導体のパターンの
所定の部分の長さ、その所定の部分の長さの抵抗値、そ
して測定した基板の抵抗値に基づいて短絡部分を算出す
ることを特徴とする短絡部分の検出方法である。
構成として、請求項７は、基板に形成された導体のパタ
ーンが有する複数の端部に接触し、その抵抗値を測定す
ることにより短絡部分を検査する検査工程と、その検査
データを演算処理する演算処理工程を備えた短絡部分の
検出方法において、予め測定した前記導体のパターンの
所定の部分の長さ、その所定の部分の長さの抵抗値、そ
して測定した基板の抵抗値に基づいて短絡部分を算出す
ることを特徴とする短絡部分の検出方法である。
【００１７】抵抗値と導体パターンの長さが正比例の関
係であることに着目し、短絡部分を算出する。
係であることに着目し、短絡部分を算出する。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【００１９】はじめに、本発明を適用する短絡部分の検
査システムのハード構成を図１及び図２を参照して説明
する。
査システムのハード構成を図１及び図２を参照して説明
する。
【００２０】図１は、本発明の一実施形態としての短絡
部分検査システムのブロック構成図である。
部分検査システムのブロック構成図である。
【００２１】図中、１は基板上の導体のショートを検出
する短絡部分の検査装置、２は検査装置１が出力したデ
ータを蓄積する記憶手段としてのファイルサーバ、３は
検査データを演算処理する検査データ演算用コンピュー
タである。これらの装置は、通信手段としてのネットワ
ーク４に接続されており相互に通信可能である。また、
検査データ演算用コンピュータ３には、検査結果等を表
示する表示装置５とキーボード等の入力部６とを備えて
いる。
する短絡部分の検査装置、２は検査装置１が出力したデ
ータを蓄積する記憶手段としてのファイルサーバ、３は
検査データを演算処理する検査データ演算用コンピュー
タである。これらの装置は、通信手段としてのネットワ
ーク４に接続されており相互に通信可能である。また、
検査データ演算用コンピュータ３には、検査結果等を表
示する表示装置５とキーボード等の入力部６とを備えて
いる。
【００２２】次に、検査装置１による基板上の短絡箇所
の検出方法について、検査機１の検出端であるプローブ
部の概略図と基板の導体パターン例を示した図２を参照
して説明する。
の検出方法について、検査機１の検出端であるプローブ
部の概略図と基板の導体パターン例を示した図２を参照
して説明する。
【００２３】図２は、本発明の一実施形態としての短絡
箇所の検出方法を示す図である。
箇所の検出方法を示す図である。
【００２４】図中、１は検査機本体、１１及び１２は検
査機と結線されたプローブ、２０は測定対象である基
板、２１は基板２０上の導体であり、櫛状のパターンを
形成している。「Ａ」はそのパターンの１ライン分の長
さを示したものである。
査機と結線されたプローブ、２０は測定対象である基
板、２１は基板２０上の導体であり、櫛状のパターンを
形成している。「Ａ」はそのパターンの１ライン分の長
さを示したものである。
【００２５】測定方法として、任意の隣り合う２本の導
体パターンの端部の検査箇所Ｎｏ（Ｐ０〜ＰＮ）にプロ
ーブ１１とプローブ１２を順次移動させて接触させ、各
検査箇所の抵抗値を測定する。この測定値を所定の抵抗
値である基板上の導体パターンの１ライン分の長さ
「Ａ」の２倍の抵抗値（以下、Ｍａｘ抵抗値）と比較す
ればショートしているかどうかがが判るわけである。そ
して測定された抵抗値は、検査箇所Ｎｏ、基板２１がそ
れぞれ固有に有する製品Ｎｏとともに１件の測定データ
としてネットワーク４を介してサーバーに蓄積される。
体パターンの端部の検査箇所Ｎｏ（Ｐ０〜ＰＮ）にプロ
ーブ１１とプローブ１２を順次移動させて接触させ、各
検査箇所の抵抗値を測定する。この測定値を所定の抵抗
値である基板上の導体パターンの１ライン分の長さ
「Ａ」の２倍の抵抗値（以下、Ｍａｘ抵抗値）と比較す
ればショートしているかどうかがが判るわけである。そ
して測定された抵抗値は、検査箇所Ｎｏ、基板２１がそ
れぞれ固有に有する製品Ｎｏとともに１件の測定データ
としてネットワーク４を介してサーバーに蓄積される。
【００２６】また、検査装置１で検査する製品の製品
種、その製品種が有する検査箇所の最大数、Ｍａｘ抵抗
値、そしてライン長さ「Ａ」は、予め対応させたテーブ
ルとして検査データ演算用コンピュータ３より入力し、
ファイルサーバ２に記憶しておく。この対応テーブルの
一例を図３に示す。
種、その製品種が有する検査箇所の最大数、Ｍａｘ抵抗
値、そしてライン長さ「Ａ」は、予め対応させたテーブ
ルとして検査データ演算用コンピュータ３より入力し、
ファイルサーバ２に記憶しておく。この対応テーブルの
一例を図３に示す。
【００２７】図３は、本発明の一実施形態としての製品
種データの対応テーブルを示す図である。
種データの対応テーブルを示す図である。
【００２８】次に、検査データの表示処理の手順につい
て図４のフローチャートを参照して説明する。
て図４のフローチャートを参照して説明する。
【００２９】図４は、本発明の一実施形態としての表示
処理を示すフローチャートである。
処理を示すフローチャートである。
【００３０】図中、まずステップＳ３０１において、検
査データ演算用コンピュータ３の入力部６より測定デー
タを表示したい製品の製品Ｎｏと製品種とを入力する。
例えば製品Ｎｏ＝［Ａ１００１］、製品種＝［製品１］
と入力する。
査データ演算用コンピュータ３の入力部６より測定デー
タを表示したい製品の製品Ｎｏと製品種とを入力する。
例えば製品Ｎｏ＝［Ａ１００１］、製品種＝［製品１］
と入力する。
【００３１】次にステップＳ３０２において、入力され
た製品Ｎｏの検査データについてファイルサーバ２にて
検索を行い、製品Ｎｏに対する検査箇所Ｎｏと抵抗値を
検査データ演算用コンピュータ３に読み込む。例えば製
品Ｎｏ［Ａ１００１］のデータとして、検査箇所ＮｏＰ
２／Ｐ３、抵抗値＝１．２（ｋΩ）、そして検査箇所Ｎ
ｏ／Ｐ８、抵抗値＝４．０（ｋΩ）の２つのデータを読
み込んだとする。
た製品Ｎｏの検査データについてファイルサーバ２にて
検索を行い、製品Ｎｏに対する検査箇所Ｎｏと抵抗値を
検査データ演算用コンピュータ３に読み込む。例えば製
品Ｎｏ［Ａ１００１］のデータとして、検査箇所ＮｏＰ
２／Ｐ３、抵抗値＝１．２（ｋΩ）、そして検査箇所Ｎ
ｏ／Ｐ８、抵抗値＝４．０（ｋΩ）の２つのデータを読
み込んだとする。
【００３２】次にステップＳ３０３において、ファイル
サーバ２に予め記憶している図３の対応テーブルから、
ステップＳ３０１で入力された製品種に対応するＭａｘ
抵抗値、ライン長さ「Ａ」、そして検査箇所の最大数を
検査データ演算用コンピュータ３に読み込む。
サーバ２に予め記憶している図３の対応テーブルから、
ステップＳ３０１で入力された製品種に対応するＭａｘ
抵抗値、ライン長さ「Ａ」、そして検査箇所の最大数を
検査データ演算用コンピュータ３に読み込む。
【００３３】次にステップＳ３０４において、ステップ
Ｓ３０２で読み込んだ抵抗値とステップＳ３０３で読み
込んだ対応テーブルのデータとから短絡部分の距離を求
める。図３より製品１の場合、ライン１往復の長さが３
００（mm）×２＝６００（mm）、その時の抵抗値が６．
０（ｋΩ）である。従って検査箇所ＮｏＰ２／Ｐ３、測
定値である抵抗値が１．２（ｋΩ）の場合、短絡部分の
端部Ｐ２／Ｐ３からの距離はＡ１は、 Ａ１＝１．２（ｋΩ）×６００（mm）／６．０（ｋΩ）
÷２＝６０（ｍｍ） となる。
Ｓ３０２で読み込んだ抵抗値とステップＳ３０３で読み
込んだ対応テーブルのデータとから短絡部分の距離を求
める。図３より製品１の場合、ライン１往復の長さが３
００（mm）×２＝６００（mm）、その時の抵抗値が６．
０（ｋΩ）である。従って検査箇所ＮｏＰ２／Ｐ３、測
定値である抵抗値が１．２（ｋΩ）の場合、短絡部分の
端部Ｐ２／Ｐ３からの距離はＡ１は、 Ａ１＝１．２（ｋΩ）×６００（mm）／６．０（ｋΩ）
÷２＝６０（ｍｍ） となる。
【００３４】同様に、検査箇所ＮｏＰ７／Ｐ８、抵抗値
＝４．０（ｋΩ）の場合の短絡部分の端面からの距離Ａ
２は、２００（mm）である。
＝４．０（ｋΩ）の場合の短絡部分の端面からの距離Ａ
２は、２００（mm）である。
【００３５】次に、ステップＳ３０５で算出されたデー
タを含めて図５に示すような結果データの一覧表示を行
なう。
タを含めて図５に示すような結果データの一覧表示を行
なう。
【００３６】図５は、本発明の一実施形態としての短絡
部分の一覧表示画面を示す図である。
部分の一覧表示画面を示す図である。
【００３７】また、図５の画面右下にある「プロット表
示」部分を不図示のマウス等でクリックすれば、図６に
示すような表示画面を出力する。
示」部分を不図示のマウス等でクリックすれば、図６に
示すような表示画面を出力する。
【００３８】図６は、本発明の一実施形態としての短絡
部分のプロット画面を示す図である。
部分のプロット画面を示す図である。
【００３９】図中、基板２０上でショートしている部分
を黒い正方形のドットでプロットして表わす。
を黒い正方形のドットでプロットして表わす。
【００４０】［実施形態の変形例］ １．上記実施形態では、検査データ演算用コンピュータ
３より製品Ｎｏと製品種とを入力しているが、予め製品
Ｎｏと製品種との対応テーブルを設けてファイルサーバ
２に記憶させてもよい。
３より製品Ｎｏと製品種とを入力しているが、予め製品
Ｎｏと製品種との対応テーブルを設けてファイルサーバ
２に記憶させてもよい。
【００４１】尚、本発明は、本実施形態のように複数の
機器から構成されるシステムに適用しても、１つの機器
からなる装置に適用しても良い。また、本発明はシステ
ム或は装置にプログラムを供給することによって実施さ
れる場合にも適用できることは言うまでもない。この場
合、本発明に係るプログラムを格納した記憶媒体が本発
明を構成することになる。そして、該記憶媒体からその
プログラムをシステム或は装置に読み出すことによっ
て、そのシステム或は装置が、予め定められた仕方で動
作する。
機器から構成されるシステムに適用しても、１つの機器
からなる装置に適用しても良い。また、本発明はシステ
ム或は装置にプログラムを供給することによって実施さ
れる場合にも適用できることは言うまでもない。この場
合、本発明に係るプログラムを格納した記憶媒体が本発
明を構成することになる。そして、該記憶媒体からその
プログラムをシステム或は装置に読み出すことによっ
て、そのシステム或は装置が、予め定められた仕方で動
作する。
【００４２】＜実施形態の効果＞ （１）抵抗値と導体パターンの長さが正比例の関係であ
ることに着目し、算出した短絡部分を表示装置５上で視
覚的に表示した。これにより、検査箇所Ｎｏと短絡部分
の位置の特定が直観的に判断可能となり、良品率を向上
と検査工数の削減が実現できる。
ることに着目し、算出した短絡部分を表示装置５上で視
覚的に表示した。これにより、検査箇所Ｎｏと短絡部分
の位置の特定が直観的に判断可能となり、良品率を向上
と検査工数の削減が実現できる。
【００４３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ショート箇所が視覚的に把握できる短絡部分検出システ
ム及び短絡部分検出装置、そして短絡部分の検出方法の
提供が実現する。
ショート箇所が視覚的に把握できる短絡部分検出システ
ム及び短絡部分検出装置、そして短絡部分の検出方法の
提供が実現する。
【００４４】
【図１】本発明の一実施形態としての短絡部分検査シス
テムのブロック構成図である。
テムのブロック構成図である。
【図２】本発明の一実施形態としての短絡箇所の検出方
法を示す図である。
法を示す図である。
【図３】本発明の一実施形態としての製品種データの対
応テーブルを示す図である。
応テーブルを示す図である。
【図４】本発明の一実施形態としての表示処理を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図５】本発明の一実施形態としての短絡部分の一覧表
示画面を示す図である。
示画面を示す図である。
【図６】本発明の一実施形態としての短絡部分のプロッ
ト画面を示す図である。
ト画面を示す図である。
１ 検査機 ２ ファイルサーバ ３ 検査データ演算用コンピュータ ４ ネットワーク ５ 表示装置 ６ 入力部 １１ 検査機のプローブ １２ 検査機のプローブ ２０ 基板 ２１ 導体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 塚崎 仁史 東京都大田区下丸子３丁目30番２号 キヤ ノン株式会社内
Claims (7)
- 【請求項１】 基板に形成された導体のパターンが有す
る複数の端部に接触し、その抵抗値を測定することによ
り短絡部分を検査する検査手段と、その検査データを演
算処理する演算処理手段を備え、それらの装置が相互通
信できるように通信手段で接続されている短絡部分検出
システムにおいて、 予め測定した前記導体のパターンの所定の部分の長さ、
その所定の部分の長さの抵抗値、そして測定した基板の
抵抗値に基づいて、前記演算手段にて短絡部分を算出す
ることを特徴とする短絡部分検出システム。 - 【請求項２】 前記短絡部分検出システムに備えられた
表示手段に前記基板を模した画像を表示し、更にその画
面上に前記演算手段により算出した短絡部分を表示する
ことを特徴とする請求項１記載の短絡部分検出システ
ム。 - 【請求項３】 予め測定した前記導体のパターンの所定
の部分の長さ、その所定の部分の長さの抵抗値を、前記
検査手段が検査する複数の種類の基板の種別毎に対応さ
せたテーブルとして、前記短絡部分検出システムに備え
られた記憶手段に記憶していることを特徴とする請求項
１記載の短絡部分検出システム。 - 【請求項４】 基板に形成された導体のパターンが有す
る複数の端部に接触し、その抵抗値を測定することによ
り短絡部分を検査する検査手段と、その検査データを演
算処理する演算処理手段を備えた短絡部分検出装置にお
いて、 予め測定した前記導体のパターンの所定の部分の長さ、
その所定の部分の長さの抵抗値、そして測定した基板の
抵抗値に基づいて、前記演算手段にて短絡部分を算出す
ることを特徴とする短絡部分検出装置。 - 【請求項５】 前記短絡部分検出装置に備えられた表示
手段に前記基板を模した画像を表示し、更にその画面上
に前記演算手段により算出した短絡部分を表示すること
を特徴とする請求項４記載の短絡部分検出装置。 - 【請求項６】 予め測定した前記導体のパターンの所定
の部分の長さ、その所定の部分の長さの抵抗値を、前記
検査手段が検査する複数の種類の基板の種別毎に対応さ
せたテーブルとして、前記短絡部分検出装置に備えられ
た記憶手段に記憶していることを特徴とする請求項４記
載の短絡部分検出装置。 - 【請求項７】 基板に形成された導体のパターンが有す
る複数の端部に接触し、その抵抗値を測定することによ
り短絡部分を検査する検査工程と、その検査データを演
算処理する演算処理工程を備えた短絡部分の検出方法に
おいて、 予め測定した前記導体のパターンの所定の部分の長さ、
その所定の部分の長さの抵抗値、そして測定した基板の
抵抗値に基づいて短絡部分を算出することを特徴とする
短絡部分の検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7241352A JPH0989969A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 短絡部分検出システム及び短絡部分検出装置及び短絡部分の検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7241352A JPH0989969A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 短絡部分検出システム及び短絡部分検出装置及び短絡部分の検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0989969A true JPH0989969A (ja) | 1997-04-04 |
Family
ID=17073025
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7241352A Withdrawn JPH0989969A (ja) | 1995-09-20 | 1995-09-20 | 短絡部分検出システム及び短絡部分検出装置及び短絡部分の検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0989969A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007278943A (ja) * | 2006-04-10 | 2007-10-25 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 基板の検査方法及びその検査装置、並びに基板の修繕方法及びその修繕装置 |
| KR100781489B1 (ko) * | 2006-09-12 | 2007-12-03 | 정성현 | 통신선로 장애 진단 단말기 및 이를 이용한 통신선로 장애진단 및 거리 측정 방법 |
| CN100439934C (zh) * | 2005-08-02 | 2008-12-03 | 华为技术有限公司 | 一种电缆组件测试***及装置 |
| JP2011243818A (ja) * | 2010-05-20 | 2011-12-01 | Hioki Ee Corp | 基板検査システム |
-
1995
- 1995-09-20 JP JP7241352A patent/JPH0989969A/ja not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100439934C (zh) * | 2005-08-02 | 2008-12-03 | 华为技术有限公司 | 一种电缆组件测试***及装置 |
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| JP2011243818A (ja) * | 2010-05-20 | 2011-12-01 | Hioki Ee Corp | 基板検査システム |
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