JPH098277A - 光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置 - Google Patents
光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【目的】発光素子の劣化故障をその初期の段階で早期に
検出でき、最適な対策が打てるようにメンテナンスのた
めの情報支援を行うことができる光サイリスタ用発光素
子の劣化検出装置を得る。 【構成】同一電源5に、ほぼ同一特性の複数の発光素子
L1 〜Ln が接続され、前記電源5をオン、オフさせる
ことにより、各発光素子L1 〜Ln からそれぞれ得られ
る光信号を、同一回路に接続され、前記発光素子L1 〜
Ln に対応した複数の光サイリスタT1 〜Tn のゲート
にそれぞれ供給するようにした光サイリスタ用発光素子
において、発光素子L1 〜Ln が接続されている回路に
接続し、各発光素子L1 〜Ln とほぼ同一特性のモニタ
用発光素子Lm と、Lm から出力される光パルス信号の
ピーク値に比例した電気信号として出力し、この出力に
基づいて発光素子の劣化を検出する発光素子劣化検出回
路2を備えたもの。
検出でき、最適な対策が打てるようにメンテナンスのた
めの情報支援を行うことができる光サイリスタ用発光素
子の劣化検出装置を得る。 【構成】同一電源5に、ほぼ同一特性の複数の発光素子
L1 〜Ln が接続され、前記電源5をオン、オフさせる
ことにより、各発光素子L1 〜Ln からそれぞれ得られ
る光信号を、同一回路に接続され、前記発光素子L1 〜
Ln に対応した複数の光サイリスタT1 〜Tn のゲート
にそれぞれ供給するようにした光サイリスタ用発光素子
において、発光素子L1 〜Ln が接続されている回路に
接続し、各発光素子L1 〜Ln とほぼ同一特性のモニタ
用発光素子Lm と、Lm から出力される光パルス信号の
ピーク値に比例した電気信号として出力し、この出力に
基づいて発光素子の劣化を検出する発光素子劣化検出回
路2を備えたもの。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば直流送電や無効
電力補償に使用され、光学的点弧機能を有する光サイリ
スタを使用した半導体変換器において、そのゲート信号
を発生する光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置に関
する。
電力補償に使用され、光学的点弧機能を有する光サイリ
スタを使用した半導体変換器において、そのゲート信号
を発生する光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】直流送電、周波数変換、無効電力補償等
で使用される高電圧サイリスタ変換器には、多数の直列
または直並列接続されたサイリスタが用いられている。
このサイリスタを点弧するための信号は、ゲート信号発
生回路から出力されるが、高電圧部のサイリスタと、大
地電位に設置されるゲート信号発生回路とを絶縁するた
めに、光パルス信号による点弧方式が採用されている。
で使用される高電圧サイリスタ変換器には、多数の直列
または直並列接続されたサイリスタが用いられている。
このサイリスタを点弧するための信号は、ゲート信号発
生回路から出力されるが、高電圧部のサイリスタと、大
地電位に設置されるゲート信号発生回路とを絶縁するた
めに、光パルス信号による点弧方式が採用されている。
【0003】図8は従来の光サイリスタ変換器へ光パル
ス信号を出力するゲート信号発生回路を示している。光
サイリスタバルブ9は、直列接続された光サイリスタT
1 ,T2 ,T3 ,…Tn から構成され、各光サイリスタ
Tのゲートに、光パルス信号発生回路10から出力され
る光パルス信号をライトガイド1に導くことにより、点
弧される。
ス信号を出力するゲート信号発生回路を示している。光
サイリスタバルブ9は、直列接続された光サイリスタT
1 ,T2 ,T3 ,…Tn から構成され、各光サイリスタ
Tのゲートに、光パルス信号発生回路10から出力され
る光パルス信号をライトガイド1に導くことにより、点
弧される。
【0004】光パルス信号発生回路10は、複数個の直
列接続された発光素子群11、発光素子群11をオン,
オフするスイッチング素子4、光パルス信号のタイミン
グを決定し、スイッチング素子4を駆動するゲート制御
回路3および発光素子群11へ電流を供給する直流電源
5から構成されている。
列接続された発光素子群11、発光素子群11をオン,
オフするスイッチング素子4、光パルス信号のタイミン
グを決定し、スイッチング素子4を駆動するゲート制御
回路3および発光素子群11へ電流を供給する直流電源
5から構成されている。
【0005】発光素子群11は、例えば発光ダイオード
からなる発光素子L1 ,L2 ,L3,…Ln がn個直列
に接続され、各発光素子L1 〜Ln から出力される光パ
ルス信号は、ライトガイド1により各々相対する光サイ
リスタT1 〜Tn へ伝送され、光サイリスタT1 〜Tn
は点弧される。
からなる発光素子L1 ,L2 ,L3,…Ln がn個直列
に接続され、各発光素子L1 〜Ln から出力される光パ
ルス信号は、ライトガイド1により各々相対する光サイ
リスタT1 〜Tn へ伝送され、光サイリスタT1 〜Tn
は点弧される。
【0006】一般に、高電圧サイリスタバルブ9ではバ
ルブ内の直列接続されるサイリスタの直列数は、ある一
定の冗長サイリスタを有している。従って、冗長サイリ
スタ数以内のサイリスタの破損に対しては、サイリスタ
変換器の運転を停止することなく、運転継続が可能であ
る。
ルブ内の直列接続されるサイリスタの直列数は、ある一
定の冗長サイリスタを有している。従って、冗長サイリ
スタ数以内のサイリスタの破損に対しては、サイリスタ
変換器の運転を停止することなく、運転継続が可能であ
る。
【0007】しかし、冗長サイリスタ数を増加しても光
パルス信号発生回路10の信頼性が低くては、システム
としての信頼性は望めない。いま、図8において発光素
子群11のいずれか故障(開放故障)した場合、全発光
素子L1 〜Ln が光パルス信号を出力することができ
ず、光サイリスタバルブ9は点弧することができない。
このように、サイリスタに冗長サイリスタを設けていて
も、光パルス信号発生回路10内の発光素子L1 〜Ln
が1個故障しただけで、システムを停止させてしまう結
果となる。
パルス信号発生回路10の信頼性が低くては、システム
としての信頼性は望めない。いま、図8において発光素
子群11のいずれか故障(開放故障)した場合、全発光
素子L1 〜Ln が光パルス信号を出力することができ
ず、光サイリスタバルブ9は点弧することができない。
このように、サイリスタに冗長サイリスタを設けていて
も、光パルス信号発生回路10内の発光素子L1 〜Ln
が1個故障しただけで、システムを停止させてしまう結
果となる。
【0008】このため、従来は光点弧系(発光素子また
は光パルス信号発生回路)を多重化し、さらに定期点検
時に全部の発光素子を点検し、その健全性を確認してい
た。しかしながら、サイリスタ変換器が高圧化し、その
直列数が増加すると、光パルス信号を発生させる発光素
子の数も増加するため、点検、保守時間の増大を招く結
果となり、改善が望まれていた。
は光パルス信号発生回路)を多重化し、さらに定期点検
時に全部の発光素子を点検し、その健全性を確認してい
た。しかしながら、サイリスタ変換器が高圧化し、その
直列数が増加すると、光パルス信号を発生させる発光素
子の数も増加するため、点検、保守時間の増大を招く結
果となり、改善が望まれていた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、従
来の光パルス信号発生回路10では、その信頼性を向上
させるべく、多重化、点検による発光素子の劣化診断を
行っていた。これらの必要性は、発光素子L1 〜Ln が
劣化することにあり、またその劣化現象が機器運転状況
の違いもあり、把握できないためである。もし、発光素
子L1 〜Ln の劣化状況を把握することができれば、メ
ンテナンスへの情報支援が可能になり、定期点検周期の
延長が図られ、保守時間の短縮が図られ、装置運用上の
メリットは大きい。
来の光パルス信号発生回路10では、その信頼性を向上
させるべく、多重化、点検による発光素子の劣化診断を
行っていた。これらの必要性は、発光素子L1 〜Ln が
劣化することにあり、またその劣化現象が機器運転状況
の違いもあり、把握できないためである。もし、発光素
子L1 〜Ln の劣化状況を把握することができれば、メ
ンテナンスへの情報支援が可能になり、定期点検周期の
延長が図られ、保守時間の短縮が図られ、装置運用上の
メリットは大きい。
【0010】本発明の目的は、発光素子の劣化故障をそ
の初期の段階で早期に検出でき、最適な対策が打てるよ
うにメンテナンスのための情報支援を行うことができる
光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置を提供すること
にある。
の初期の段階で早期に検出でき、最適な対策が打てるよ
うにメンテナンスのための情報支援を行うことができる
光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置を提供すること
にある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項1に対応する発明は、同一電源に、ほぼ同一
特性の複数の発光素子が接続され、前記電源をオン、オ
フさせることにより、前記各発光素子からそれぞれ得ら
れる光信号を、同一回路に接続され、前記発光素子に対
応した複数の光サイリスタのゲートにそれぞれ供給する
ようにした光サイリスタ用発光素子において、前記発光
素子が接続されている回路に接続し、前記各発光素子と
ほぼ同一特性のモニタ用発光素子と、このモニタ用発光
素子から出力される光パルス信号のピーク値に比例した
電気信号として出力し、この出力に基づいて前記発光素
子の劣化を検出する発光素子劣化検出回路を具備した光
サイリスタ用発光素子の劣化検出装置である。
め、請求項1に対応する発明は、同一電源に、ほぼ同一
特性の複数の発光素子が接続され、前記電源をオン、オ
フさせることにより、前記各発光素子からそれぞれ得ら
れる光信号を、同一回路に接続され、前記発光素子に対
応した複数の光サイリスタのゲートにそれぞれ供給する
ようにした光サイリスタ用発光素子において、前記発光
素子が接続されている回路に接続し、前記各発光素子と
ほぼ同一特性のモニタ用発光素子と、このモニタ用発光
素子から出力される光パルス信号のピーク値に比例した
電気信号として出力し、この出力に基づいて前記発光素
子の劣化を検出する発光素子劣化検出回路を具備した光
サイリスタ用発光素子の劣化検出装置である。
【0012】前記目的を達成するため、請求項2に対応
する発明は、前記発光素子劣化検出回路は、前記モニタ
用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に比
例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回路
と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比較
し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比較
判断回路を備えたことを特徴とする請求項1記載の光サ
イリスタ用発光素子の劣化検出装置である。
する発明は、前記発光素子劣化検出回路は、前記モニタ
用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に比
例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回路
と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比較
し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比較
判断回路を備えたことを特徴とする請求項1記載の光サ
イリスタ用発光素子の劣化検出装置である。
【0013】前記目的を達成するため、請求項3に対応
する発明は、前記発光素子劣化検出回路は、前記モニタ
用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に比
例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回路
と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比較
し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比較
判断回路と、この比較判断回路の出力を常時または定期
的に記録する記録器を備えたことを特徴とする請求項1
記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置である。
する発明は、前記発光素子劣化検出回路は、前記モニタ
用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に比
例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回路
と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比較
し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比較
判断回路と、この比較判断回路の出力を常時または定期
的に記録する記録器を備えたことを特徴とする請求項1
記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置である。
【0014】前記目的を達成するため、請求項4に対応
する発明は、前記発光素子劣化検出回路は、前記モニタ
用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に比
例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回路
と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比較
し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比較
判断回路と、この比較判断回路の出力が所定レベルを超
えたとき報知する報知器とを備えたことを特徴とする請
求項1記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置で
ある。
する発明は、前記発光素子劣化検出回路は、前記モニタ
用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に比
例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回路
と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比較
し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比較
判断回路と、この比較判断回路の出力が所定レベルを超
えたとき報知する報知器とを備えたことを特徴とする請
求項1記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置で
ある。
【0015】
【作用】請求項1に対応する発明によれば、発光素子劣
化検出回路の出力によりモニタ用発光素子の劣化状況を
調べることで、等価的に正規発光素子の劣化状況を把握
することができる。
化検出回路の出力によりモニタ用発光素子の劣化状況を
調べることで、等価的に正規発光素子の劣化状況を把握
することができる。
【0016】請求項2に対応する発明によれば、発光素
子の劣化をその初期段階で検出できる。請求項3に対応
する発明によれば、発光素子の劣化程度、残存寿命の予
測が可能になり、メンテナンスへの情報支援が行える。
子の劣化をその初期段階で検出できる。請求項3に対応
する発明によれば、発光素子の劣化程度、残存寿命の予
測が可能になり、メンテナンスへの情報支援が行える。
【0017】請求項4に対応する発明によれば、発光素
子の劣化程度に応じた報知、例えば発光素子の交換時期
が報知されるので、メンテナンスへの情報支援がより有
効に行える。
子の劣化程度に応じた報知、例えば発光素子の交換時期
が報知されるので、メンテナンスへの情報支援がより有
効に行える。
【0018】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。 <第1実施例>図1は図8と異なる点として、新たにモ
ニタ用発光素子Lm とモニタ用ライトガイド1Aと発光
素子劣化検出回路2を設けた点であり、これ以外の構成
は同一である。
て説明する。 <第1実施例>図1は図8と異なる点として、新たにモ
ニタ用発光素子Lm とモニタ用ライトガイド1Aと発光
素子劣化検出回路2を設けた点であり、これ以外の構成
は同一である。
【0019】すなわち、光サイリスタバルブ9の光パル
ス信号発生回路10において、光サイリスタT1 ,T2
,…Tn のゲートに光パルス信号を与える発光素子
(以下正規発光素子と呼ぶ)L1 ,L2 ,…Ln の他
に、モニタ用発光素子Lm を設けると共に、これから出
力される光をモニタ用ライトガイド1Aを介して発光素
子劣化検出回路2に導き、ここでモニタ用発光素子Lm
から出力される光パルス信号のピーク値に比例した電気
信号(電圧信号)として出力され、この出力に基づいて
前記モニタ用発光素子Lm の劣化を検出できるように構
成されている。この場合、正規発光素子L1 〜Ln と、
モニタ用発光素子Lm は同一特性例えば同一製造ロット
のもの(同一寿命のもの)を同時に使用(使用開始時期
を同じにする)する。この時、素子L1 〜Ln ,Lm は
直列接続されているため、同一電流が流れ同一運転スト
レスを受けることになる。
ス信号発生回路10において、光サイリスタT1 ,T2
,…Tn のゲートに光パルス信号を与える発光素子
(以下正規発光素子と呼ぶ)L1 ,L2 ,…Ln の他
に、モニタ用発光素子Lm を設けると共に、これから出
力される光をモニタ用ライトガイド1Aを介して発光素
子劣化検出回路2に導き、ここでモニタ用発光素子Lm
から出力される光パルス信号のピーク値に比例した電気
信号(電圧信号)として出力され、この出力に基づいて
前記モニタ用発光素子Lm の劣化を検出できるように構
成されている。この場合、正規発光素子L1 〜Ln と、
モニタ用発光素子Lm は同一特性例えば同一製造ロット
のもの(同一寿命のもの)を同時に使用(使用開始時期
を同じにする)する。この時、素子L1 〜Ln ,Lm は
直列接続されているため、同一電流が流れ同一運転スト
レスを受けることになる。
【0020】このように構成することにより、ゲート制
御回路3からのパルス信号によりスイッチング素子4を
オンーオフさせることで、直流電源5から正規発光素子
L1〜Ln およびモニタ用発光素子Lm に同一のパルス
状の電流が流れ、発光素子L1 〜Ln ,Lm が同一条件
で運転される。この運転状態が所定時間継続あるいは運
転時間の累積時間がある程度以上になると、発光素子L
1 〜Ln ,Lm がともに劣化してくる。すると、モニタ
用発光素子Lm からモニタ用ライトガイド1Aを介して
発光素子劣化検出回路2に導かれる光パルス信号のピー
ク値が低下することから、これに伴って発光素子劣化検
出回路2の出力信号が低下するので、正規発光素子L1
〜Ln の劣化状況を等価的に把握することができ、これ
により正規発光素子L1 〜Ln の偶発故障以外の劣化故
障を事前に察知でき、メンテナンスへの情報支援が可能
になる。
御回路3からのパルス信号によりスイッチング素子4を
オンーオフさせることで、直流電源5から正規発光素子
L1〜Ln およびモニタ用発光素子Lm に同一のパルス
状の電流が流れ、発光素子L1 〜Ln ,Lm が同一条件
で運転される。この運転状態が所定時間継続あるいは運
転時間の累積時間がある程度以上になると、発光素子L
1 〜Ln ,Lm がともに劣化してくる。すると、モニタ
用発光素子Lm からモニタ用ライトガイド1Aを介して
発光素子劣化検出回路2に導かれる光パルス信号のピー
ク値が低下することから、これに伴って発光素子劣化検
出回路2の出力信号が低下するので、正規発光素子L1
〜Ln の劣化状況を等価的に把握することができ、これ
により正規発光素子L1 〜Ln の偶発故障以外の劣化故
障を事前に察知でき、メンテナンスへの情報支援が可能
になる。
【0021】<第2実施例>前述の第1実施例は正規発
光素子L1 〜Ln およびモニタ用発光素子Lm が直列接
続された場合であるが、図2に示す第2実施例では、正
規発光素子L1 〜Ln およびモニタ用発光素子Lm をそ
れぞれ並列接続したものであり、これ以外の点は図1と
同一である。
光素子L1 〜Ln およびモニタ用発光素子Lm が直列接
続された場合であるが、図2に示す第2実施例では、正
規発光素子L1 〜Ln およびモニタ用発光素子Lm をそ
れぞれ並列接続したものであり、これ以外の点は図1と
同一である。
【0022】この場合も、第1実施例と同様に正規発光
素子L1 〜Ln およびモニタ用発光素子Lm は並列接続
されているため、同一電流(ゲート制御回路3に流れる
電流をIとし、素子L1 〜Ln 、Lm の全て個数をmと
すると、I/m)が流れ、同一運転ストレスを受けるこ
とになる。
素子L1 〜Ln およびモニタ用発光素子Lm は並列接続
されているため、同一電流(ゲート制御回路3に流れる
電流をIとし、素子L1 〜Ln 、Lm の全て個数をmと
すると、I/m)が流れ、同一運転ストレスを受けるこ
とになる。
【0023】この結果、モニタ用発光素子Lm の劣化状
況を発光素子劣化検出回路2にてチェックすることで、
等価的に正規発光素子L1 〜Ln の劣化を判断すること
ができる。
況を発光素子劣化検出回路2にてチェックすることで、
等価的に正規発光素子L1 〜Ln の劣化を判断すること
ができる。
【0024】<第3実施例>図3に示すように、第1実
施例と異なる点は、発光素子劣化検出回路2の構成を、
比較器6と初期値設定器13と差分検出器14と光電変
換ピーク検出回路15により構成したものである。すな
わち、光電変換ピーク検出回路15は、周知の回路であ
って、例えばモニタ用ライトガイド1Aの光パルス信号
を検出して電気信号に変換する検出器と、この検出器か
らの電気信号のピーク値をホールドするピークホールド
回路と、ピークホールド回路の出力に比例した電気信号
(電圧信号)に換算する換算回路からなり、モニタ用ラ
イトガイド1Aを介して得られるモニタ用発光素子Lm
の出力パルスのピーク値が光の強度に比例し、そのピー
ク値を電気信号(電圧信号)を出力するものである。
施例と異なる点は、発光素子劣化検出回路2の構成を、
比較器6と初期値設定器13と差分検出器14と光電変
換ピーク検出回路15により構成したものである。すな
わち、光電変換ピーク検出回路15は、周知の回路であ
って、例えばモニタ用ライトガイド1Aの光パルス信号
を検出して電気信号に変換する検出器と、この検出器か
らの電気信号のピーク値をホールドするピークホールド
回路と、ピークホールド回路の出力に比例した電気信号
(電圧信号)に換算する換算回路からなり、モニタ用ラ
イトガイド1Aを介して得られるモニタ用発光素子Lm
の出力パルスのピーク値が光の強度に比例し、そのピー
ク値を電気信号(電圧信号)を出力するものである。
【0025】比較器6は光電変換ピーク検出回路15の
出力である電気信号と設定器13から得られる初期値K
Lm を比較し、比較器6の出力を差分検出器14に入力
し、差分検出器14において比較器6の出力が所定値を
超えた信号を出力するように構成したものである。
出力である電気信号と設定器13から得られる初期値K
Lm を比較し、比較器6の出力を差分検出器14に入力
し、差分検出器14において比較器6の出力が所定値を
超えた信号を出力するように構成したものである。
【0026】このように構成したものにおいて、モニタ
用発光素子Lm の光は、常時または定期的なある一定期
間検出され、この光パルス信号が発光素子劣化検出回路
2に入力される。
用発光素子Lm の光は、常時または定期的なある一定期
間検出され、この光パルス信号が発光素子劣化検出回路
2に入力される。
【0027】ここで、定期的なある一定時間としては、
例えば1回/1日のように、発光素子の寿命に対して問
題にならない範囲で検出装置のデータ処理に負担となら
ないような大きな値をとすればよい。
例えば1回/1日のように、発光素子の寿命に対して問
題にならない範囲で検出装置のデータ処理に負担となら
ないような大きな値をとすればよい。
【0028】そして、発光素子劣化検出回路2内では、
設定器13の初期値KLm と光電変換ピーク検出回路1
5の出力である電気信号とが比較され、比較器6の出力
7は、図4のように、正常時はほぼ“0”であるが、発
光素子が劣化すると光パルス信号の強度が低下し、その
結果ピーク値が低下して初期値KLm との差分が出力さ
れ、この差分出力が図4のA点(初期値との差A点)を
超えると、差分検出器14から信号が出力される。この
結果、正規発光素子L1 〜Ln の“劣化初期”を検出す
ることができる。これにより発光素子L1 〜Ln の早期
対策を施すことができる。
設定器13の初期値KLm と光電変換ピーク検出回路1
5の出力である電気信号とが比較され、比較器6の出力
7は、図4のように、正常時はほぼ“0”であるが、発
光素子が劣化すると光パルス信号の強度が低下し、その
結果ピーク値が低下して初期値KLm との差分が出力さ
れ、この差分出力が図4のA点(初期値との差A点)を
超えると、差分検出器14から信号が出力される。この
結果、正規発光素子L1 〜Ln の“劣化初期”を検出す
ることができる。これにより発光素子L1 〜Ln の早期
対策を施すことができる。
【0029】<第4実施例>図5に示すように、第1実
施例と異なる点は、発光素子劣化検出回路2の構成を、
比較器6と初期値設定器13とレベル検出器8と光電変
換ピーク検出回路15により構成したものである。すな
わち、比較器6は光電変換ピーク検出回路15出力と初
期値設定器13の初期値KLm を比較し、比較器6の出
力をレベル検出器8に入力し、発光素子L1 〜Ln の劣
化程度を判断できるように構成したものである。例え
ば、図6のような比較器6の出力7に対して−10%の
時点、すなわちB時点でアラームを出力するように構成
し、さらにレベル検出器8を数段階例えば2段階C時点
(−15%の時点)、D時点(−20%の時点)でそれ
ぞれ識別可能な異なる信号が出力されるように構成し、
レベル検出器8の出力を常時または定期的に記録する記
録器(図示せず)を備えたたものである。
施例と異なる点は、発光素子劣化検出回路2の構成を、
比較器6と初期値設定器13とレベル検出器8と光電変
換ピーク検出回路15により構成したものである。すな
わち、比較器6は光電変換ピーク検出回路15出力と初
期値設定器13の初期値KLm を比較し、比較器6の出
力をレベル検出器8に入力し、発光素子L1 〜Ln の劣
化程度を判断できるように構成したものである。例え
ば、図6のような比較器6の出力7に対して−10%の
時点、すなわちB時点でアラームを出力するように構成
し、さらにレベル検出器8を数段階例えば2段階C時点
(−15%の時点)、D時点(−20%の時点)でそれ
ぞれ識別可能な異なる信号が出力されるように構成し、
レベル検出器8の出力を常時または定期的に記録する記
録器(図示せず)を備えたたものである。
【0030】ここで、用いる記録器は記録紙に記録する
もの、あるいは記憶媒体に記憶するものの少なくとも一
方であればよい。このように構成することにより、図6
のC時点の発光素子L1 〜Ln の劣化状態を検出するこ
とが可能になるため、発光素子L1 〜Ln の劣化の時間
的経緯(Tc −TB =ΔT、ΔT期間に−10%→−1
5%への劣化)を把握することも可能となる。
もの、あるいは記憶媒体に記憶するものの少なくとも一
方であればよい。このように構成することにより、図6
のC時点の発光素子L1 〜Ln の劣化状態を検出するこ
とが可能になるため、発光素子L1 〜Ln の劣化の時間
的経緯(Tc −TB =ΔT、ΔT期間に−10%→−1
5%への劣化)を把握することも可能となる。
【0031】さらに、劣化許容値(例えば図6の−20
%)までの残存寿命時間を予測することも可能となる。
以上述べたことから第4実施例によれば、メンテナンス
への情報支援が可能となり、メンテナンスの実行計画を
立案できるため、運転自由度を増大させた信頼性の高い
光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置が得られる。
%)までの残存寿命時間を予測することも可能となる。
以上述べたことから第4実施例によれば、メンテナンス
への情報支援が可能となり、メンテナンスの実行計画を
立案できるため、運転自由度を増大させた信頼性の高い
光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置が得られる。
【0032】<第5実施例>図7に示すように、比較器
6の出力側に、比較器6の出力7のレベルに応じた状態
信号を出力する報知器12を設けたものである。この場
合、図6のB点、C点、D点の状態になったとき、警報
信号を出力するように構成したものである。この場合、
警報信号の出力としては、警報音、文字または音声のい
ずれであってもよい。
6の出力側に、比較器6の出力7のレベルに応じた状態
信号を出力する報知器12を設けたものである。この場
合、図6のB点、C点、D点の状態になったとき、警報
信号を出力するように構成したものである。この場合、
警報信号の出力としては、警報音、文字または音声のい
ずれであってもよい。
【0033】このように発光素子の劣化程度に応じた報
知、例えば発光素子の交換時期が報知されるので、メン
テナンスへの情報支援がより有効に行える。 <変形例>前述の実施例で用いた初期値設定器13の初
期値は、発光素子の設計データに基づいて設定したり、
または現地で据付後調整した際に得られる光電変換ピー
ク検出回路15の出力を初期値として使用してもよい。
知、例えば発光素子の交換時期が報知されるので、メン
テナンスへの情報支援がより有効に行える。 <変形例>前述の実施例で用いた初期値設定器13の初
期値は、発光素子の設計データに基づいて設定したり、
または現地で据付後調整した際に得られる光電変換ピー
ク検出回路15の出力を初期値として使用してもよい。
【0034】
【発明の効果】以上述べた本発明によれば、発光素子の
劣化故障をその初期の段階で早期に検出でき、最適な対
策が打てるようにメンテナンスのための情報支援を行う
ことができる光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置を
提供することができる。
劣化故障をその初期の段階で早期に検出でき、最適な対
策が打てるようにメンテナンスのための情報支援を行う
ことができる光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置を
提供することができる。
【図1】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第1実施例を示す概略構成図。
出装置の第1実施例を示す概略構成図。
【図2】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第2実施例を示す概略構成図。
出装置の第2実施例を示す概略構成図。
【図3】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第3実施例を示す概略構成図。
出装置の第3実施例を示す概略構成図。
【図4】図3の動作を説明するための特性図。
【図5】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第4実施例を示す概略構成図。
出装置の第4実施例を示す概略構成図。
【図6】図5の動作を説明するための特性図。
【図7】本発明による光サイリスタ用発光素子の劣化検
出装置の第5実施例を示す概略構成図。
出装置の第5実施例を示す概略構成図。
【図8】従来の技術を説明するための光ゲートシステム
の概略構成図。
の概略構成図。
L1 〜Ln …正規発光素子、 Lm …モニタ用発光素子、 T1 〜Tn …光サイリスタ、 1…ライトガイド、 1A…モニタ用ライトガイド、 2…発光素子劣化検出回路、 3…ゲート制御回路、 4…スイッチング素子、 5…直流電源、 6…比較器、 7…比較器の出力、 8…レベル検出器、 9…光サイリスタバルブ、 10…光パルス信号発生回路 13…設定器、 14…差分検出器、 15…光電変換ピーク検出回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉野 正範 東京都千代田区内幸町一丁目1番3号 東 京電力株式会社内 (72)発明者 向井 一馬 東京都港区芝浦一丁目1番1号 株式会社 東芝本社事務所内 (72)発明者 村林 一彦 東京都府中市東芝町1番地 株式会社東芝 府中工場内
Claims (4)
- 【請求項1】 同一電源に、ほぼ同一特性の複数の発光
素子が接続され、前記電源をオン、オフさせることによ
り、前記各発光素子からそれぞれ得られる光信号を、 同一回路に接続され、前記発光素子に対応した複数の光
サイリスタのゲートにそれぞれ供給するようにした光サ
イリスタ用発光素子において、 前記発光素子が接続されている回路に接続し、前記各発
光素子とほぼ同一特性のモニタ用発光素子と、 このモニタ用発光素子から出力される光パルス信号のピ
ーク値に比例した電気信号として出力し、この出力に基
づいて前記発光素子の劣化を検出する発光素子劣化検出
回路を具備した光サイリスタ用発光素子の劣化検出装
置。 - 【請求項2】 前記発光素子劣化検出回路は、前記モニ
タ用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に
比例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回
路と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比
較し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比
較判断回路を備えたことを特徴とする請求項1記載の光
サイリスタ用発光素子の劣化検出装置。 - 【請求項3】 前記発光素子劣化検出回路は、前記モニ
タ用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に
比例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回
路と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比
較し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比
較判断回路と、この比較判断回路の出力を常時または定
期的に記録する記録器を備えたことを特徴とする請求項
1記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置。 - 【請求項4】 前記発光素子劣化検出回路は、前記モニ
タ用発光素子から出力される光パルス信号のピーク値に
比例した電気信号として出力する光電変換ピーク検出回
路と、この光電変換ピーク検出回路の出力と初期値を比
較し、その偏差が所定値以上となった条件を判断する比
較判断回路と、この比較判断回路の出力が所定レベルを
超えたとき報知する報知器とを備えたことを特徴とする
請求項1記載の光サイリスタ用発光素子の劣化検出装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14737395A JPH098277A (ja) | 1995-06-14 | 1995-06-14 | 光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14737395A JPH098277A (ja) | 1995-06-14 | 1995-06-14 | 光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH098277A true JPH098277A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15428772
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14737395A Pending JPH098277A (ja) | 1995-06-14 | 1995-06-14 | 光サイリスタ用発光素子の劣化検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH098277A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006074738A (ja) * | 2004-08-02 | 2006-03-16 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 光信号伝送システムの劣化診断装置 |
JP2008543043A (ja) * | 2005-05-27 | 2008-11-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 異なる色の光を発する半導体の装置の制御 |
WO2011059016A1 (ja) * | 2009-11-16 | 2011-05-19 | 株式会社 日立メディコ | 生体光計測装置及び発光部交換要否情報表示方法 |
JP2018523452A (ja) * | 2016-03-03 | 2018-08-16 | エヌアール エレクトリック カンパニー リミテッドNr Electric Co., Ltd | 変換弁故障の事前警報方法及びシステム |
JP2019507953A (ja) * | 2016-02-11 | 2019-03-22 | ツェットカーヴェー グループ ゲーエムベーハー | 照明装置の、少なくとも2つのledを含むモジュールを検査するための方法およびict装置 |
-
1995
- 1995-06-14 JP JP14737395A patent/JPH098277A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006074738A (ja) * | 2004-08-02 | 2006-03-16 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 光信号伝送システムの劣化診断装置 |
JP2008543043A (ja) * | 2005-05-27 | 2008-11-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 異なる色の光を発する半導体の装置の制御 |
WO2011059016A1 (ja) * | 2009-11-16 | 2011-05-19 | 株式会社 日立メディコ | 生体光計測装置及び発光部交換要否情報表示方法 |
JP5753789B2 (ja) * | 2009-11-16 | 2015-07-22 | 株式会社日立メディコ | 生体光計測装置 |
JP2019507953A (ja) * | 2016-02-11 | 2019-03-22 | ツェットカーヴェー グループ ゲーエムベーハー | 照明装置の、少なくとも2つのledを含むモジュールを検査するための方法およびict装置 |
JP2018523452A (ja) * | 2016-03-03 | 2018-08-16 | エヌアール エレクトリック カンパニー リミテッドNr Electric Co., Ltd | 変換弁故障の事前警報方法及びシステム |
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