JPH0961294A - Optical fiber tester - Google Patents
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- JPH0961294A JPH0961294A JP21468695A JP21468695A JPH0961294A JP H0961294 A JPH0961294 A JP H0961294A JP 21468695 A JP21468695 A JP 21468695A JP 21468695 A JP21468695 A JP 21468695A JP H0961294 A JPH0961294 A JP H0961294A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバの検査
装置に関し、特により感度の高い光ファイバ検査装置に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical fiber inspection apparatus, and more particularly to an optical fiber inspection apparatus having higher sensitivity.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来の光ファイバの検査装置としては一
般に知られているＯＴＤＲ(Optical Time Domain Refle
ctmeter)やＯＦＤＲ(Optical Frequency Domain Reflec
tmeter)がある。ＯＦＤＲは周波数を掃引した電気信号
を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイバ
内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報から
前記障害点を特定する。2. Description of the Related Art OTDR (Optical Time Domain Refle) is generally known as a conventional optical fiber inspection apparatus.
ctmeter) and OFDR (Optical Frequency Domain Reflec)
tmeter). The OFDR converts an electric signal whose frequency has been swept into an optical signal and then enters the optical fiber to detect reflected light from a failure point in the optical fiber and identify the failure point from the frequency information.
【０００３】ここで、図４はこのような従来の強度変調
形ＯＦＤＲの一例を示す構成ブロック図である。図４に
おいて１は出力周波数を掃引する発振器、２は分配器、
３は半導体レーザ等の外部信号で出力光の制御が可能な
光源、４はビームスプリッタ、５はレンズ、６は光ファ
イバ等のＤＵＴ(Device Under Test )、７は光検出器、
８はミキサ、９は周波数アナライザである。FIG. 4 is a block diagram showing an example of such a conventional intensity modulation type OFDR. In FIG. 4, 1 is an oscillator for sweeping the output frequency, 2 is a distributor,
3 is a light source capable of controlling output light by an external signal such as a semiconductor laser, 4 is a beam splitter, 5 is a lens, 6 is a DUT (Device Under Test) such as an optical fiber, 7 is a photodetector,
Reference numeral 8 is a mixer, and 9 is a frequency analyzer.
【０００４】また、１〜３は強度変調光源５０を、４及
び５は光学手段５１を、７は検波手段５２を、８及び９
は解析手段５３をそれぞれ構成している。Further, 1 to 3 are intensity modulation light sources 50, 4 and 5 are optical means 51, 7 is detection means 52, and 8 and 9
Respectively constitute the analysis means 53.
【０００５】発振器１の出力は分配器２に接続され、分
配器２の一方の出力は光源３に接続され、他方の出力は
ミキサ８の一方の入力端子に接続される。光源３の出力
光はビームスプリッタ４及びレンズ５を透過してＤＵＴ
６に入射される。The output of the oscillator 1 is connected to the distributor 2, one output of the distributor 2 is connected to the light source 3, and the other output is connected to one input terminal of the mixer 8. The output light of the light source 3 passes through the beam splitter 4 and the lens 5 and is transmitted to the DUT.
6 is incident.
【０００６】ＤＵＴ６からの反射光はレンズ５を介して
ビームスプリッタ４に入射され、ビームスプリッタ４で
反射されて光検出器７に入射される。光検出器７の出力
はミキサ８の他方の入力端子に接続され、ミキサ８の出
力は周波数アナライザ９に接続される。The reflected light from the DUT 6 enters the beam splitter 4 through the lens 5, is reflected by the beam splitter 4 and enters the photodetector 7. The output of the photodetector 7 is connected to the other input terminal of the mixer 8, and the output of the mixer 8 is connected to the frequency analyzer 9.
【０００７】ここで、図４に示す従来例の動作を説明す
る。発振器１の出力は分配器２で２つに分配され、その
一方の出力で光源３を駆動する。この時、光源３の出力
光は発振器１の出力により強度変調される。The operation of the conventional example shown in FIG. 4 will be described. The output of the oscillator 1 is divided into two by the distributor 2, and the light source 3 is driven by one of the outputs. At this time, the output light of the light source 3 is intensity-modulated by the output of the oscillator 1.
【０００８】この強度変調された光はＤＵＴ６に入射さ
れ、ＤＵＴ６内に存在する障害点において反射が生じ
る。この反射光は光検出器７で検出され、ミキサ８にお
いて分配器２の他方の出力、言い換えれば発振器１の出
力と合成される。The intensity-modulated light is incident on the DUT 6, and is reflected at a fault point existing in the DUT 6. This reflected light is detected by the photodetector 7, and is combined with the other output of the distributor 2, that is, the output of the oscillator 1, in the mixer 8.
【０００９】周波数アナライザ９ではミキサ８の出力で
ある２つの入力信号の差周波数に基づき光ファイバ等の
ＤＵＴ６を検査する。The frequency analyzer 9 inspects the DUT 6 such as an optical fiber based on the difference frequency between the two input signals which are the outputs of the mixer 8.
【００１０】即ち、発振器１を単位時間当たり一定の周
波数変化でリニアに掃引すると、ミキサ８に接続される
２つの入力信号の差周波数は遅れ時間差に比例し、さら
に、この遅れ時間差はＤＵＴ６内の障害点までの距離に
比例するので、前記差周波数からＤＵＴ６内の障害点ま
での距離が求まり、前記差周波数の信号強度から障害点
の大きさが求まり、光ファイバを検査することができ
る。That is, when the oscillator 1 is swept linearly with a constant frequency change per unit time, the difference frequency between the two input signals connected to the mixer 8 is proportional to the delay time difference, and this delay time difference is within the DUT 6. Since it is proportional to the distance to the obstacle point, the distance from the difference frequency to the obstacle point in the DUT 6 can be obtained, and the size of the obstacle point can be obtained from the signal strength of the difference frequency, so that the optical fiber can be inspected.
【００１１】例えば、発振器１を”１ＧＨｚ／ｓｅｃ”
の割合で掃引し、ＤＵＴ６を群屈折率”ｎ＝１．５”の
光ファイバとし、真空中の光速を”Ｃ”とした場合、光
ファイバ”１ｍ”を光が往復する時間”ｔ”は、 ｔ＝１×２×ｎ／Ｃ≒１×１０-8 ［ｓｅｃ］ (1) となる。For example, the oscillator 1 is set to "1 GHz / sec"
When the DUT 6 is an optical fiber having a group index of refraction “n = 1.5” and the speed of light in vacuum is “C”, the time “t” for light to travel back and forth through the optical fiber “1 m” is , T = 1 × 2 × n / C≈1 × 10 −8 [sec] (1)
【００１２】さらに、掃引の割合から、 １×１０9×１×１０-8 ＝１０9×１０-8＝１０ ［Ｈｚ］ (2) となり、”１０Ｈｚ”の差周波数が生じることになる。Further, from the sweep rate, 1 × 10 9 × 1 × 10 -8 = 10 9 × 10 -8 = 10 [Hz] (2), and a difference frequency of "10 Hz" is generated.
【００１３】言い換えれば、ＤＵＴ６内の障害点までの
距離が”１ｍ”であれば”１０Ｈｚ”、”１０ｍ”であ
れば”１００Ｈｚ”、”１００ｍ”であれば”１ＫＨ
ｚ”と言った周波数出力がミキサ８の周波数出力として
得られることになる。In other words, if the distance to the fault point in the DUT 6 is "1 m", "10 Hz", "10 m", "100 Hz", and "100 m", "1 KH".
The frequency output called "z" is obtained as the frequency output of the mixer 8.
【００１４】この結果、この具体例においては差周波
数”１０Ｈｚ”がＤＵＴ６内の障害点までの距離”１
ｍ”に相当するので、周波数アナライザ９において差周
波数を解析することにより、ＤＵＴ６内の障害点までの
距離等を得ることができる。As a result, in this example, the difference frequency "10 Hz" is the distance "1" to the fault point in the DUT 6.
Since it corresponds to m ″, by analyzing the difference frequency in the frequency analyzer 9, the distance to the fault point in the DUT 6 can be obtained.
【００１５】[0015]
【発明が解決しようとする課題】しかし、ＤＵＴ６内の
障害点までの距離が長い場合や障害点が小さい場合等に
より反射光の強度が弱くなると、光検出器７の感度等に
より前記反射光が検出できず前述の差周波数を得ること
ができないと言った問題点がある。従って本発明が解決
しようとする課題は、微弱な反射光でも検査可能な光フ
ァイバ検査装置を実現することにある。However, if the intensity of the reflected light becomes weak due to a long distance to the obstacle point in the DUT 6 or a small obstacle point, the reflected light will be affected by the sensitivity of the photodetector 7 and the like. There is a problem that it cannot be detected and the difference frequency cannot be obtained. Therefore, the problem to be solved by the present invention is to realize an optical fiber inspection apparatus capable of inspecting even weak reflected light.
【００１６】[0016]
【課題を解決するための手段】このような課題を解決す
るために、本発明の第１では、周波数を掃引した電気信
号を光信号に変換した後光ファイバに入射し、光ファイ
バ内の障害点からの反射光を検出してその周波数情報か
ら前記障害点を特定する光ファイバ検査装置において、
周波数を掃引した電気信号に基づき強度変調した光を出
力する強度変調光源と、光源を有し、前記光ファイバ内
の障害点からの前記反射光と前記光源の出力光とを干渉
させて電気信号に変換する検波手段と、前記強度変調光
源の出力光を前記光ファイバに入射すると共に前記光フ
ァイバからの前記反射光を前記検波手段に入射する光学
手段と、周波数を掃引した前記電気信号と前記検波手段
の出力信号との差周波数に基づき前記光ファイバを検査
する解析手段とを備えたことを特徴とするものである。In order to solve such a problem, according to the first aspect of the present invention, a frequency-swept electric signal is converted into an optical signal and then is incident on an optical fiber to cause an obstacle in the optical fiber. In an optical fiber inspection device that detects the reflected light from a point and identifies the fault point from the frequency information,
An intensity-modulated light source that outputs light intensity-modulated based on an electric signal whose frequency is swept, and a light source, and the reflected light from a fault point in the optical fiber interferes with the output light of the light source to generate an electric signal. Detecting means for converting to, an optical means for making the output light of the intensity-modulated light source incident on the optical fiber and for making the reflected light from the optical fiber incident on the detecting means, the frequency-swept electrical signal and the And an analysis unit for inspecting the optical fiber based on a frequency difference from the output signal of the detection unit.
【００１７】本発明の第２では、本発明の第１において
検波手段の有する光源の出力光を周波数を掃引した電気
信号に基づき強度変調して出力する強度変調光源を備え
たことを特徴とするものである。According to a second aspect of the present invention, there is provided an intensity-modulated light source for intensity-modulating and outputting the output light of the light source included in the detecting means according to the first aspect of the present invention based on an electric signal whose frequency is swept. It is a thing.
【００１８】[0018]
【作用】ＤＵＴ内に存在する障害点において生じる反射
光と光源の出力光とを干渉させて光検出器で検出するこ
とにより、直接反射光のパワーを検出する従来例と比較
して数倍〜数１０倍の強度変調信号を得ることができ、
微弱な反射光でも検査可能になる。The reflected light generated at the fault point existing in the DUT and the output light of the light source are caused to interfere with each other and detected by the photodetector, so that the power of the directly reflected light is several times higher than the conventional example. It is possible to obtain an intensity-modulated signal several tens of times,
Even weakly reflected light can be inspected.
【００１９】[0019]
【発明の実施の形態】以下本発明を図面を用いて詳細に
説明する。図１は本発明に係る光ファイバ検査装置の一
実施例を示す構成ブロック図である。図１において１０
は連続光を出力する光源、１１はビームスプリッタであ
る。また、ここで、１〜９，５０，５１及び５３は図４
と同一符号を付してあり、７，１０及び１１は検波手段
５２ａを構成している。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration block diagram showing an embodiment of an optical fiber inspection apparatus according to the present invention. In FIG.
Is a light source that outputs continuous light, and 11 is a beam splitter. Further, here, 1 to 9, 50, 51 and 53 are shown in FIG.
7 and 10 and 11 constitute the detecting means 52a.
【００２０】接続関係についても図４に示す従来例とほ
ぼ同様であり、異なる点はビームスプリッタ４の反射光
がビームスプリッタ１１で反射されて光検出器７に入射
されると共に光源１０の出力光がビームスプリッタ１１
を透過して光検出器７に入射される点である。The connection relationship is almost the same as that of the conventional example shown in FIG. 4, except that the reflected light of the beam splitter 4 is reflected by the beam splitter 11 and is incident on the photodetector 7 and the output light of the light source 10. Is the beam splitter 11
Is a point which is transmitted through and is incident on the photodetector 7.
【００２１】ここで、図１に示す実施例の動作を説明す
る。強度変調光源５０の出力光はＤＵＴ６に入射され、
ＤＵＴ６内に存在する障害点において反射が生じる。こ
の反射光は光源１０の出力光と合波されて干渉し、光検
出器７で検出される。The operation of the embodiment shown in FIG. 1 will now be described. The output light of the intensity modulation light source 50 is incident on the DUT 6,
Reflections occur at the points of failure present within the DUT 6. This reflected light is combined with the output light of the light source 10 and interferes, and is detected by the photodetector 7.
【００２２】ミキサ８は光検出器７の出力と分配器２の
他方の出力、言い換えれば発振器１の出力と合成し、周
波数アナライザ９はミキサ８の出力である２つの入力信
号の差周波数に基づき光ファイバ等のＤＵＴ６を検査す
る。The mixer 8 synthesizes the output of the photodetector 7 and the other output of the distributor 2, in other words, the output of the oscillator 1, and the frequency analyzer 9 is based on the difference frequency between the two input signals which is the output of the mixer 8. Inspect the DUT 6 such as an optical fiber.
【００２３】例えば、ＤＵＴ６からの反射光のパワー
を”Ｅ１”、光源１０の出力光のパワーを”Ｅ２”とす
れば、 Ｅ１＜Ｅ２ (3) の関係であり、両者が干渉して光検出器７で検出される
パワー”Ｅ”は干渉する両者の光周波数差を”Δ
ｆopt ”とすれば、 Ｅ≒Ｅ１＋Ｅ２＋(Ｅ１・Ｅ２)1/2・cos(Δｆopt) (4) となる。For example, if the power of the reflected light from the DUT 6 is "E1" and the power of the output light of the light source 10 is "E2", then the relationship of E1 <E2 (3) holds, and the two interfere with each other to detect light. The power "E" detected by the device 7 is the difference in the optical frequencies of the two that interfere with each other by "Δ".
f opt ”, E≈E1 + E2 + (E1 · E2) 1/2 · cos (Δf opt ) (4)
【００２４】ここで、”Ｅ１＝１０μＷ”、”Ｅ２＝１
ｍＷ”とすると式（４）の第３項から、 (Ｅ１・Ｅ２)1/2・cos(Δｆopt) ＝(１０×１０-6・１０-3)1/2・cos(Δｆopt) ＝１００×１０-6・cos(Δｆopt) (5) となり、直接反射光のパワー”Ｅ１”を検出する従来例
と比較して約１０倍の強度変調信号を得ることができ
る。Here, "E1 = 10 μW", "E2 = 1"
If mW ”, then from the third term of equation (4), (E1 · E2) 1/2 · cos (Δf opt ) = (10 × 10 −6 · 10 −3 ) 1/2 · cos (Δf opt ) = 100 × 10 −6 · cos (Δf opt ) (5), which is the conventional method for detecting the power “E1” of the direct reflected light. It is possible to obtain an intensity-modulated signal that is about 10 times that of the example.
【００２５】即ち、反射光のパワー”Ｅ１”が微弱であ
っても、光源１０の出力光のパワー”Ｅ２”を大きくし
て式（４）中第３項を光検出器７で検出することによ
り、必要な強度変調信号を得ることができる。That is, even if the power "E1" of the reflected light is weak, the power "E2" of the output light of the light source 10 is increased to detect the third term in the equation (4) by the photodetector 7. Thus, it is possible to obtain the required intensity modulation signal.
【００２６】一方、ミキサ８の周波数出力に関しては検
波手段５２ａで干渉される２つの光の光周波数差”Δｆ
opt ”がオフセット成分として加算されることになる。On the other hand, regarding the frequency output of the mixer 8, the optical frequency difference "Δf" between the two lights interfered by the detection means 52a.
opt ”will be added as an offset component.
【００２７】即ち、”Δｆopt ＝１０ＧＨｚ”とした場
合、ＤＵＴ６内の障害点までの距離が”１ｍ”であれ
ば”１０ＧＨｚ＋１０Ｈｚ”、”１０ｍ”であれば”１
０ＧＨｚ＋１００Ｈｚ”、”１００ｍ”であれば”１０
ＧＨｚ＋１ＫＨｚ”と言った周波数出力がミキサ８の周
波数出力として得られることになる。That is, when "Δf opt = 10 GHz" is set, "10 GHz + 10 Hz" if the distance to the fault point in the DUT 6 is "1 m", and "1" if it is "10 m".
0GHz + 100Hz ", if it is" 100m ", it is" 10 "
A frequency output such as “GHz + 1 KHz” is obtained as the frequency output of the mixer 8.
【００２８】この結果、ＤＵＴ６内に存在する障害点に
おいて生じる反射光と光源１０の出力光とを干渉させて
光検出器７で検出することにより、微弱な反射光でも検
査可能な光ファイバ検査装置が実現できる。As a result, the reflected light generated at the fault point existing in the DUT 6 and the output light of the light source 10 are caused to interfere with each other and detected by the photodetector 7, so that an optical fiber inspection apparatus capable of inspecting even weak reflected light. Can be realized.
【００２９】なお、図２は本発明に係る光ファイバ検査
装置の第２の実施例を示す構成ブロック図である。図２
において１２は変調器である。また、ここで、１，２，
４〜１１，５１，５２ａ及び５３は図１と同一符号を付
してあり、１，２及び１２は強度変調光源５０ａを構成
している。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the second embodiment of the optical fiber inspection device according to the present invention. FIG.
Reference numeral 12 is a modulator. Also, here, 1, 2,
Reference numerals 4 to 11, 51, 52a and 53 are assigned the same reference numerals as those in FIG. 1, and reference numerals 1, 2 and 12 constitute the intensity modulation light source 50a.
【００３０】接続関係は図１に示す実施例とほぼ同様で
あり、異なる点は分配器２の出力が変調器１２に接続さ
れると共に光源１０の出力光が変調器１２に入射され、
変調器１２の出力光が強度変調光としてビームスプリッ
タ４及びレンズ５を介してＤＵＴ６に入射される点であ
る。The connection relationship is almost the same as that of the embodiment shown in FIG. 1, except that the output of the distributor 2 is connected to the modulator 12 and the output light of the light source 10 is incident on the modulator 12.
This is the point where the output light of the modulator 12 is incident on the DUT 6 via the beam splitter 4 and the lens 5 as intensity modulated light.
【００３１】ここで、図２に示す第２の実施例の動作を
説明する。変調器１２において光源１０の出力光が分配
器２の出力に基づき強度変調されてＤＵＴ６に入射され
る以外は図１に示す実施例の動作と同様である。The operation of the second embodiment shown in FIG. 2 will be described here. The operation of the modulator 12 is the same as that of the embodiment shown in FIG. 1 except that the output light of the light source 10 is intensity-modulated based on the output of the distributor 2 and is incident on the DUT 6.
【００３２】但し、第２の実施例では同一の光源を用い
ているため式（４）及び式（５）に記載されている光周
波数差”Δｆopt ”は”０”である。However, since the same light source is used in the second embodiment, the optical frequency difference "Δf opt " described in equations (4) and (5) is "0".
【００３３】即ち、オフセット成分は”０”となり、Ｄ
ＵＴ６内の障害点までの距離が”１ｍ”であれば”１０
Ｈｚ”、”１０ｍ”であれば”１００Ｈｚ”、”１００
ｍ”であれば”１ＫＨｚ”と言った周波数出力がミキサ
８の周波数出力として得られることになる。That is, the offset component becomes "0" and D
If the distance to the obstacle point in the UT6 is "1m", "10"
Hz "," 10m ", then" 100Hz "," 100
If m ", a frequency output of" 1 KHz "is obtained as the frequency output of the mixer 8.
【００３４】また、図３は本発明に係る光ファイバ検査
装置の第３の実施例を示す構成ブロック図である。図３
において１３は周波数シフタである。また、ここで、
１，２，４〜１２，５０ａ，５１及び５３は図２と同一
符号を付してあり、７，１０，１１及び１３は検波手段
５２ｂを構成している。FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of a third embodiment of the optical fiber inspection device according to the present invention. FIG.
13 is a frequency shifter. Also, where
1, 2, 4 to 12, 50a, 51 and 53 are designated by the same reference numerals as those in FIG. 2, and 7, 10, 11 and 13 constitute the detecting means 52b.
【００３５】接続関係は図２に示す実施例とほぼ同様で
あり、光源１０の出力光が周波数シフタ１３を介してビ
ームスプリッタ１１に入射される点である。The connection relationship is almost the same as that of the embodiment shown in FIG. 2, and the output light of the light source 10 is incident on the beam splitter 11 via the frequency shifter 13.
【００３６】ここで、図３に示す第３の実施例の動作を
説明する。この動作も図２に示す第２の実施例と同様で
あり、異なる点は干渉用の光を周波数シフタ１３により
シフトさせている点である。The operation of the third embodiment shown in FIG. 3 will be described here. This operation is also the same as that of the second embodiment shown in FIG. 2, except that the interference light is shifted by the frequency shifter 13.
【００３７】但し、この為、ミキサ８の周波数出力に関
しては周波数シフタ１３でシフトされた周波数相当分が
オフセット成分として加算されることになる。However, for the frequency output of the mixer 8, therefore, the frequency component shifted by the frequency shifter 13 is added as an offset component.
【００３８】また、図３において光源１０とビームスプ
リッタ１１との間に周波数シフタ１３を設けているが、
光源１０と変調器１２との間若しくはビームスプリッタ
４と変調器１２との間に周波数シフタ１３を設けても良
い。この場合の動作は図３に示す第３の実施例と同様で
ある。Further, although the frequency shifter 13 is provided between the light source 10 and the beam splitter 11 in FIG.
A frequency shifter 13 may be provided between the light source 10 and the modulator 12 or between the beam splitter 4 and the modulator 12. The operation in this case is similar to that of the third embodiment shown in FIG.
【００３９】[0039]
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば次のような効果がある。ＤＵＴ内に存在
する障害点において生じる反射光と光源の出力光とを干
渉させて光検出器で検出することにより、微弱な反射光
でも検査可能な光ファイバ検査装置が実現できる。As is apparent from the above description,
The present invention has the following effects. By interfering the reflected light generated at the fault existing in the DUT with the output light of the light source and detecting the light with the photodetector, it is possible to realize an optical fiber inspection device capable of inspecting even weak reflected light.
【図１】本発明に係る光ファイバ検査装置の一実施例を
示す構成ブロック図である。FIG. 1 is a configuration block diagram showing an embodiment of an optical fiber inspection apparatus according to the present invention.
【図２】本発明に係る光ファイバ検査装置の第２の実施
例を示す構成ブロック図である。FIG. 2 is a configuration block diagram showing a second embodiment of the optical fiber inspection apparatus according to the present invention.
【図３】本発明に係る光ファイバ検査装置の第３の実施
例を示す構成ブロック図である。FIG. 3 is a configuration block diagram showing a third embodiment of the optical fiber inspection device according to the present invention.
【図４】従来の強度変調形ＯＦＤＲの一例を示す構成ブ
ロック図である。FIG. 4 is a configuration block diagram showing an example of a conventional intensity modulation type OFDR.
１ 発振器 ２ 分配器 ３，１０ 光源 ４，１１ ビームスプリッタ ５ レンズ ６ ＤＵＴ ７ 光検出器 ８ ミキサ ９ 周波数アナライザ １２ 変調器 １３ 周波数シフタ ５０，５０ａ 強度変調光源 ５１ 光学手段 ５２，５２ａ，５２ｂ 検波手段 ５３ 解析手段 1 Oscillator 2 Distributor 3,10 Light source 4,11 Beam splitter 5 Lens 6 DUT 7 Photodetector 8 Mixer 9 Frequency analyzer 12 Modulator 13 Frequency shifter 50, 50a Intensity modulation light source 51 Optical means 52, 52a, 52b Detection means 53 Analytical means
Claims (2)
した後光ファイバに入射し、光ファイバ内の障害点から
の反射光を検出してその周波数情報から前記障害点を特
定する光ファイバ検査装置において、 周波数を掃引した電気信号に基づき強度変調した光を出
力する強度変調光源と、 光源を有し、前記光ファイバ内の障害点からの前記反射
光と前記光源の出力光とを干渉させて電気信号に変換す
る検波手段と、 前記強度変調光源の出力光を前記光ファイバに入射する
と共に前記光ファイバからの前記反射光を前記検波手段
に入射する光学手段と、 周波数を掃引した前記電気信号と前記検波手段の出力信
号との差周波数に基づき前記光ファイバを検査する解析
手段とを備えたことを特徴とする光ファイバ検査装置。1. An optical fiber which converts an electric signal whose frequency is swept into an optical signal and then enters the optical fiber to detect reflected light from a fault point in the optical fiber to identify the fault point from the frequency information. In an inspection device, an intensity-modulated light source that outputs light intensity-modulated based on an electric signal whose frequency is swept, and a light source, and interferes the reflected light from a fault point in the optical fiber with the output light of the light source. Detecting means for converting the output light of the intensity-modulated light source into the optical fiber and the reflected light from the optical fiber into the detecting means; An optical fiber inspection device comprising: an analysis unit that inspects the optical fiber based on a difference frequency between an electric signal and an output signal of the detection unit.
掃引した電気信号に基づき強度変調して出力する強度変
調光源を備えたことを特徴とする特許請求の範囲請求項
１記載の光ファイバ検査装置。2. An optical fiber according to claim 1, further comprising an intensity-modulated light source for intensity-modulating the output light of the light source of the detecting means based on an electric signal whose frequency is swept, and outputting the intensity-modulated light source. Inspection device.
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21468695A JPH0961294A (en) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | Optical fiber tester |
| EP96901143A EP0754939B1 (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical fibre detecting device |
| DE69632000T DE69632000T2 (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | MEASURING DEVICE FOR OPTICAL FIBERS |
| DE0754939T DE754939T1 (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | MEASURING DEVICE FOR OPTICAL FIBERS |
| US08/727,377 US5844235A (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical frequency domain reflectometer for use as an optical fiber testing device |
| PCT/JP1996/000170 WO1996024038A1 (en) | 1995-02-02 | 1996-01-30 | Optical fibre detecting device |
| US09/039,944 US6008487A (en) | 1995-02-02 | 1998-03-16 | Optical-fiber inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21468695A JPH0961294A (en) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | Optical fiber tester |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0961294A true JPH0961294A (en) | 1997-03-07 |
Family
ID=16659915
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21468695A Pending JPH0961294A (en) | 1995-02-02 | 1995-08-23 | Optical fiber tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0961294A (en) |
-
1995
- 1995-08-23 JP JP21468695A patent/JPH0961294A/en active Pending
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