JPH095409A - On-line diagnosis method of electromagnetic apparatus and diagnosis device therefor - Google Patents

On-line diagnosis method of electromagnetic apparatus and diagnosis device therefor

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JPH095409A
JPH095409A JP7149963A JP14996395A JPH095409A JP H095409 A JPH095409 A JP H095409A JP 7149963 A JP7149963 A JP 7149963A JP 14996395 A JP14996395 A JP 14996395A JP H095409 A JPH095409 A JP H095409A
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Japan
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signal
electromagnetic device
voltage
test signal
drive circuit
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JP7149963A
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Japanese (ja)
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Hajime Fukuya
肇 福家
Setsuo Arita
節男 有田
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

PURPOSE: To realize the diagnosis of an electromagnetic apparatus and its drive circuit, even if an electric current wave form and voltage wave form are changed due to the change with the lapse of year of the electromagnetic apparatus and the additional connection or the like of the electromagnetic apparatus, without being affected by that. CONSTITUTION: By a diagnosis device 12, a test signal 4A with a time width, in which an electromagnetic apparatus 1 is not actuated, is impressed on a drive circuit 2 from a test signal impression circuit 4. An electric current detecting signal 5A that has detected an electric current flowing into the electromagnetic apparatus 1 at this time is held by a hold circuit 6. A comparison circuit 8 compares a hold circuit output signal 6A with a partial pressure circuit output signal 7A that is a signal by dividing a detection signal in normal electricity conduction. On the basis of this comparison outcome, a judgement circuit 10 outputs a closed fault judging signal 10A, and an NOR circuit 13 outputs an open fault judging signal 13A.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【０００１】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電磁リレーや電磁開閉
器等の電磁機器のオンライン診断方法及び装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for on-line diagnosis of electromagnetic equipment such as electromagnetic relays and electromagnetic switches.

【０００２】[0002]

【従来の技術】原子力プラントをはじめとする各種の発
電プラント，鉄鋼プラント，化学プラント等では、電磁
リレーや電磁開閉器等の電磁機器が多く使用されてい
る。これらの電磁機器は通常時は励磁状態であり、動作
要求が発生したときに動作させるようになっている場合
がある。このような場合、動作させるべきときに本当に
動作するか否かを電磁機器を動作させずに事前に把握で
きるようにしておくことはプラントの安全運転上重要な
ことであり、そのための電磁機器の診断が強く要望され
ている。2. Description of the Related Art Electromagnetic devices such as electromagnetic relays and electromagnetic switches are often used in various power plants such as nuclear power plants, steel plants, chemical plants and the like. These electromagnetic devices are normally in an excited state and may be operated when an operation request is made. In such a case, it is important for safe operation of the plant to know beforehand whether or not it should actually operate without operating the electromagnetic device. There is a strong demand for diagnosis.

【０００３】特開平3−96871号公報の電磁機器及びその
駆動回路のオンライン診断装置は、電磁機器の駆動回路
に電磁機器が動作しない時間幅のテスト信号を印加し、
駆動回路内の電流を検出し、この検出電流をレベルシフ
ト手段と遅延手段と比較手段とからなる回路に入力する
ことにより、テスト信号印加時の駆動回路の応答を検出
し、この検出結果を基に電磁機器，駆動回路の正常／異
常を判定している。The online diagnostic device for an electromagnetic device and its driving circuit disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 3-96871 applies a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate to the driving circuit of the electromagnetic device,
By detecting the current in the drive circuit and inputting the detected current to the circuit consisting of the level shift means, the delay means and the comparison means, the response of the drive circuit when the test signal is applied is detected and the detected result is used as the basis. The electromagnetic device and drive circuit are judged to be normal / abnormal.

【０００４】[0004]

【発明が解決しようとする課題】特開平3−96871号公報
では、電磁機器の駆動回路に電磁機器が動作しない時間
幅のテスト信号を印加し、テスト信号に対して駆動回路
内に流れる電流の微小な変化量を、レベルシフト手段と
遅延手段と比較手段とからなる回路により検出している
が、レベルシフト量と遅延量は実電流波形を基に設計し
なければならないという問題がある。更に、電磁機器の
経年変化や電磁機器の追加接続により電流波形が変化し
た場合には、その都度レベルシフト量と遅延量を再度変
更しなければならないという問題がある。In Japanese Patent Laid-Open No. 3-96871, a test signal of a time width in which the electromagnetic device does not operate is applied to the drive circuit of the electromagnetic device, and the current flowing in the drive circuit is applied to the test signal. Although the minute change amount is detected by the circuit including the level shift means, the delay means, and the comparison means, there is a problem that the level shift amount and the delay amount must be designed based on the actual current waveform. Further, when the current waveform changes due to the secular change of the electromagnetic device or the additional connection of the electromagnetic device, there is a problem that the level shift amount and the delay amount must be changed each time.

【０００５】本発明の目的は電磁機器の実電流波形の波
形やレベル等を予め把握して設計する必要のない電磁機
器の診断方法及び装置を提供することにある。An object of the present invention is to provide a method and apparatus for diagnosing an electromagnetic device that does not require designing by grasping the waveform and level of the actual current waveform of the electromagnetic device in advance.

【０００６】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、電磁機器に前
記電磁機器が動作しない時間幅のテスト信号を印加し、
前記テスト信号印加時の前記電磁機器あるいは駆動回路
に流れる電流又は電圧をホールド手段によりホールド
し、ホールドした電流又は電圧と前記テスト信号を印加
していないときの電流又は電圧とを比較して電磁機器及
びその駆動回路の正常／異常を判断する。またこれとは
逆に、電磁機器あるいは駆動回路の通常時の電流又は電
圧をホールド手段によりホールドし、ホールドした電流
又は電圧とテスト信号印加時の電流又は電圧とを比較し
て電磁機器及びその駆動回路の正常／異常を判断する。According to the present invention, an electromagnetic device is applied with a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate,
A current or voltage flowing through the electromagnetic device or the drive circuit when the test signal is applied is held by a holding means, and the held current or voltage is compared with the current or voltage when the test signal is not applied to the electromagnetic device. And normality / abnormality of the drive circuit. On the contrary, the normal current or voltage of the electromagnetic device or the drive circuit is held by the holding means, and the held current or voltage is compared with the current or voltage when the test signal is applied to the electromagnetic device and its drive. Determine whether the circuit is normal or abnormal.

【０００７】[0007]

【作用】本発明は、ホールド手段を用いてテスト信号印
加時とテスト信号を印加していない時の電流を比較する
ため、電磁機器の電流波形又は電圧波形そのものや、電
磁機器の経年変化等による電流変化や電圧変化に影響を
受けることなく電磁機器及びその駆動回路を診断するこ
とができる。The present invention compares the currents when the test signal is applied and when the test signal is not applied by using the hold means. Therefore, the current waveform or the voltage waveform of the electromagnetic device itself, the secular change of the electromagnetic device, or the like is used. The electromagnetic device and its drive circuit can be diagnosed without being affected by current changes and voltage changes.

【０００８】[0008]

【実施例】以下、本発明による実施例を図面を用いて説
明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【０００９】図１は本発明の一実施例を示したブロック
図である。本実施例で示す電磁機器１は、通常は通電状
態であり、動作時に通電を遮断するタイプである。直流
電源３の電圧は駆動回路２が閉状態の時に電磁機器１に
印加され電磁機器１が通電状態となる。電磁機器１及び
駆動回路２が正常か否かを診断する診断装置１２は以下
のように構成している。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. The electromagnetic device 1 shown in this embodiment is a type that is normally energized and interrupts energization during operation. The voltage of the DC power supply 3 is applied to the electromagnetic device 1 when the drive circuit 2 is closed, and the electromagnetic device 1 is energized. The diagnostic device 12 that diagnoses whether the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal is configured as follows.

【００１０】先ず、テスト信号印加回路４から出力する
テスト信号４Ａは、電磁機器１が動作しない時間幅のパ
ルス信号であり、このテスト信号４Ａを駆動回路２に印
加する。このときの電磁機器１に流れる電流を電流検出
用の抵抗５を介して電圧の形で検出する。電流検信号５
Ａはホールド回路６と分圧回路７に入力される。比較回
路８はホールド回路出力信号６Ａと分圧回路出力信号７
Ａとの大小を比較して、信号６Ａが信号７Ａより大きけ
れば論理“１”の信号を出力し、それ以外の場合は論理
“０”の信号を出力する。ホールド信号作成回路１１は
テスト信号４Ａを基にホールド信号１１Ａ，マスク信号
１１Ｂ，ウインド信号１１Ｃを出力する。ＮＯＲ回路１
３は比較回路出力信号８Ａとマスク信号１１Ｂとの論理
和の反転論理をとり、開故障判定信号１３Ａを出力す
る。ＡＮＤ回路９は比較回路出力信号８Ａとウインド信
号１１Ｃとの論理積をとり、ＡＮＤ回路出力信号９Ａを
判定回路１０に入力する。判定回路１０は例えばフリッ
プ・フロップ（Ｆ／Ｆ）で構成でき、駆動回路２が閉故
障か否かを判定した診断結果である閉故障判定信号１０
Ａを出力する。又、電磁機器１又は駆動回路２が開故障
か否かは、開故障判定信号１３Ａにより示される。尚、
駆動回路２にはテスト信号４Ａに応答するためにトラン
ジスタやサイリスタ等の半導体スイッチング素子を用い
ている。First, the test signal 4A output from the test signal applying circuit 4 is a pulse signal having a time width in which the electromagnetic device 1 does not operate, and the test signal 4A is applied to the drive circuit 2. The current flowing through the electromagnetic device 1 at this time is detected in the form of voltage via the resistor 5 for current detection. Current detection signal 5
A is input to the hold circuit 6 and the voltage dividing circuit 7. The comparator circuit 8 outputs the hold circuit output signal 6A and the voltage divider circuit output signal 7
If the signal 6A is larger than the signal 7A by comparing the magnitude with A, a signal of logic "1" is output, and in other cases, a signal of logic "0" is output. The hold signal generation circuit 11 outputs a hold signal 11A, a mask signal 11B, and a window signal 11C based on the test signal 4A. NOR circuit 1
Reference numeral 3 represents the inversion logic of the logical sum of the comparison circuit output signal 8A and the mask signal 11B, and outputs the open failure determination signal 13A. The AND circuit 9 takes the logical product of the comparison circuit output signal 8A and the window signal 11C and inputs the AND circuit output signal 9A to the determination circuit 10. The determination circuit 10 can be formed of, for example, a flip-flop (F / F), and a closed failure determination signal 10 which is a diagnostic result of determining whether or not the drive circuit 2 has a closed failure.
A is output. Further, whether or not the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open circuit failure is indicated by an open circuit failure determination signal 13A. still,
The drive circuit 2 uses semiconductor switching elements such as transistors and thyristors in order to respond to the test signal 4A.

【００１１】このように構成した診断装置１２の動作を
図２と図３を用いて説明する。The operation of the diagnostic device 12 thus configured will be described with reference to FIGS. 2 and 3.

【００１２】図２(ａ)は電磁機器１及び駆動回路２が正
常である場合の各部の動作波形図であり、図２(ｂ)は駆
動回路２が閉故障になった場合の各部の動作波形を示す
図である。図３は電磁機器１又は駆動回路２が開故障に
なった場合の各部の動作波形図である。FIG. 2 (a) is an operation waveform diagram of each part when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal, and FIG. 2 (b) is an operation waveform of each part when the drive circuit 2 has a closing failure. It is a figure which shows a waveform. FIG. 3 is an operation waveform diagram of each part when the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure.

【００１３】テスト信号印加回路４から図２(ａ)の(ｉ)
に示すテスト信号４Ａを駆動回路２に印加する。電磁機
器１及び駆動回路２が正常であるためテスト信号４Ａを
印加することにより、テスト信号４Ａが論理“０”とな
る時刻ｔ１からｔ３の期間で駆動回路２は開状態となり
電磁機器１に流れている電流が遮断され電流はゼロにな
る。尚、この時刻ｔ１からｔ３の期間は電磁機器１が動
作しない時間幅である。この結果、図２(ａ)の(ii)に示
すように電流検出信号５Ａの電圧値もこの期間は０(ｖ)
となる。ホールド回路６は図２(ａ)の(iii）に示すホー
ルド信号１１Ａが論理“１”から“０”になる時刻ｔ２
で電流検出信号５Ａをラッチし、ホールド信号１１Ａが
論理“０”となる時刻ｔ１からｔ３の期間だけこのラッ
チした値をホールドし続け出力する。更にホールド回路
６はホールド信号１１Ａが論理“１”のときに電流検出
信号５Ａに追従し、それを出力する。この結果、ホール
ド回路出力信号６Ａは図２(ａ)の(iv)に示すように、時
刻ｔ１からｔ４の期間で０(ｖ)となる。ホールド信号１
１Ａが論理“１”の期間で、ホールド回路出力信号６Ａ
は電流検出信号５Ａに追従する。このためホールド回路
出力信号６Ａは図２(ａ)の(iv)に示す波形となる。尚、
テスト信号印加時の電流検出信号５Ａの電圧値０(ｖ)を
確実にホールドするため、ホールド信号１１Ａはテスト
信号４Ａの論理“０”の期間の中央の時刻ｔ２で論理
“０”になるようにしている。テスト信号印加時の信号
５Ａと通常の通電時の信号５Ａとを比較するために図２
(ａ)では時刻ｔ２でラッチした信号５Ａを時刻ｔ４まで
ホールドするようにしているが、ホールドを解除するタ
イミング（ホールド信号を論理“０”から“１”に戻す
タイミング）は時刻ｔ３以降であって、次のテスト信号
が印加される以前であればよい。電流検出信号５Ａは分
圧回路７により１／２に分圧される。この結果、分圧回
路出力信号７Ａは図２(ａ)の(ｖ)に示す波形となる。比
較回路８は時刻ｔ１以前は信号６Ａの電圧値(Ｖ(ｖ))が
信号７Ａの電圧値(Ｖ／２(ｖ))より大きいので論理
“１”を出力し、時刻ｔ１からｔ３の期間は信号６Ａと
信号７Ａは共に電圧値がゼロで等しいため論理“０”を
出力し、時刻ｔ３からｔ４の期間は信号６Ａの電圧値
(Ｖ(ｖ))が信号７Ａの電圧値７Ａの電圧値(Ｖ／２(ｖ))
より小さいので論理“０”を出力し、時刻ｔ４以降は時
刻ｔ１以前と同様に論理“１”を出力する。つまり、比
較回路８は図２(ａ)の(vi)に示す信号を出力する。テス
ト信号印加時のホールドした電流検出信号５Ａと通常の
通電時の電流検出信号５Ａとを比較する期間は時刻ｔ３
からｔ４であるため、図２(ａ)の(vii）に示すウインド
信号１１Ｃはこの期間で論理“１”となるようにしてい
る。ＡＮＤ回路９は図２(ａ)の(vi)に示す比較回路出力
信号８Ａと図２(ａ)の(vii）に示すウインド信号１１Ｃ
とのＡＮＤ論理をとる。この結果、ＡＮＤ回路出力信号
９Ａは図２の(ix)に示すように論理“０”の信号にな
る。信号９Ａが論理“０”のままであり、論理“０”か
ら“１”に立ち上がることがないため、図２の(ｘ)に示
すように閉故障判定信号１０Ａは論理“０”のままであ
る。つまり、駆動回路２は閉故障になっていないことが
示される。マスク信号１１Ｂは図２の(viii)に示すよう
にテスト信号４Ａが出力されたときのみ所定時間だけ論
理“１"になり、論理“１"から“０”になるタイミング
は、ホールド信号１１Ａが論理“０”から“１”にもど
るタイミングと同一となるようにしている。ＮＯＲ回路
１３は図２(ａ)の(vi)に示す比較回路出力信号８Ａと図
２(ａ)の(viii)に示すマスク信号１１ＢとのＮＯＲ論理
をとる。この結果、図２の(xi)に示すように、開故障判
定信号13Ａは論理“０”のままである。つまり、電磁機
器１及び駆動回路２は開故障になっていないことが示さ
れる。従って、信号１０Ａ及び信号１３Ａが共に論理
“０”ならば、電磁機器１及び駆動回路２が正常である
ことが示される。From the test signal applying circuit 4 to (i) of FIG.
The test signal 4A shown in is applied to the drive circuit 2. Since the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal, by applying the test signal 4A, the drive circuit 2 is opened in the period from the time t1 to the time t3 when the test signal 4A becomes the logic "0" and flows to the electromagnetic device 1. Current is cut off and the current becomes zero. The period from time t1 to t3 is a time width during which the electromagnetic device 1 does not operate. As a result, as shown in (ii) of FIG. 2 (a), the voltage value of the current detection signal 5A is also 0 (v) during this period.
Becomes At the hold circuit 6, the time t2 when the hold signal 11A shown in (iii) of FIG. 2A changes from the logic "1" to "0".
Then, the current detection signal 5A is latched, and the latched value is continuously held and output only during the period from time t1 to time t3 when the hold signal 11A becomes logical "0". Further, the hold circuit 6 follows the current detection signal 5A and outputs it when the hold signal 11A is logical "1". As a result, the hold circuit output signal 6A becomes 0 (v) during the period from time t1 to t4, as shown in (iv) of FIG. Hold signal 1
Hold circuit output signal 6A when 1A is a logic "1"
Follows the current detection signal 5A. Therefore, the hold circuit output signal 6A has the waveform shown in (iv) of FIG. still,
In order to surely hold the voltage value 0 (v) of the current detection signal 5A at the time of applying the test signal, the hold signal 11A becomes the logic "0" at the time t2 at the center of the logic "0" period of the test signal 4A. I have to. To compare the signal 5A when the test signal is applied and the signal 5A when the current is normally applied, FIG.
In (a), the signal 5A latched at the time t2 is held until the time t4, but the timing of releasing the hold (the timing of returning the hold signal from the logic "0" to "1") is after the time t3. Therefore, it may be before the next test signal is applied. The current detection signal 5A is divided into ½ by the voltage dividing circuit 7. As a result, the voltage dividing circuit output signal 7A has the waveform shown in (v) of FIG. Since the voltage value (V (v)) of the signal 6A is larger than the voltage value (V / 2 (v)) of the signal 7A before the time t1, the comparison circuit 8 outputs a logic "1" and the period from the time t1 to t3. Since the signal 6A and the signal 7A have the same voltage value of zero, a logic "0" is output, and the voltage value of the signal 6A is output during the period from time t3 to t4.
(V (v)) is the voltage value of signal 7A (V / 2 (v))
Since it is smaller, the logic "0" is output, and after the time t4, the logic "1" is output as in the case before the time t1. That is, the comparison circuit 8 outputs the signal shown in (vi) of FIG. The period for comparing the held current detection signal 5A when applying the test signal with the current detection signal 5A during normal energization is time t3.
Since it is from t4 to t4, the window signal 11C shown in (vii) of FIG. 2A is set to be logical "1" in this period. The AND circuit 9 includes a comparison circuit output signal 8A shown in (vi) of FIG. 2 (a) and a window signal 11C shown in (vii) of FIG. 2 (a).
AND logic with. As a result, the AND circuit output signal 9A becomes a signal of logic "0" as shown in (ix) of FIG. Since the signal 9A remains at the logic "0" and does not rise from the logic "0" to "1", the closed failure determination signal 10A remains at the logic "0" as shown in (x) of FIG. is there. That is, it is shown that the drive circuit 2 does not have the closing failure. As shown in (viii) of FIG. 2, the mask signal 11B becomes a logic "1" only for a predetermined time when the test signal 4A is output, and the hold signal 11A changes when the logic "1" changes to "0". The timing is the same as the timing of returning from the logic "0" to "1". The NOR circuit 13 takes the NOR logic of the comparison circuit output signal 8A shown in (vi) of FIG. 2A and the mask signal 11B shown in (viii) of FIG. 2A. As a result, as shown in (xi) of FIG. 2, the open failure determination signal 13A remains at logic "0". That is, it is shown that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are not in open circuit failure. Therefore, if the signals 10A and 13A are both logic "0", it indicates that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal.

【００１４】尚、分圧回路７は必ずしも電圧を１／２に
する必要はなく、比較回路８がホールド回路出力信号６
Ａと分圧回路出力信号７Ａを確実に比較できる電位差が
あるようになっていれば良い。The voltage dividing circuit 7 does not necessarily need to halve the voltage, and the comparison circuit 8 outputs the hold circuit output signal 6
It suffices that there is a potential difference with which A and the voltage dividing circuit output signal 7A can be reliably compared.

【００１５】図２(ｂ)は駆動回路２が閉故障になった場
合の動作波形図である。FIG. 2B is an operation waveform diagram when the drive circuit 2 has a closed fault.

【００１６】テスト信号印加回路４から図２(ｂ)の(ｉ)
に示すテスト信号４Ａを時刻ｔ５で印加するが、駆動回
路２が閉状態であるため通電を一時的に遮断することは
できず電磁機器１の電流は流れ続ける。このため電流検
出信号５Ａの電圧値は図２(ｂ)の(ii)に示すようにＶ
(ｖ)で一定である。従って、ホールド回路出力信号６Ａ
は図２(ｂ)の(iv)に示す波形となる。また、通電状態の
電流検出信号５Ａを分圧回路７を介して１／２に分圧し
た信号７Ａは図２(ｂ)の(ｖ)に示す波形となる。比較回
路８で信号６Ａと信号７Ａを比較すると、信号６Ａの電
圧値(Ｖ(ｖ))が信号７Ａの電圧値(Ｖ／２(ｖ))より大き
いため、比較回路出力信号８Ａは図２(ｂ)の(vi)に示す
ように論理“１”のままである。ＡＮＤ回路９は図２
(ｂ)の(vi)に示す信号８Ａと図２(ｂ)の(vii）に示す信
号１１Ｃとの論理積をとり、図２(ｂ)の(ix)に示すＡＮ
Ｄ回路出力信号９Ａを出力する。この結果、判定回路１
０は図２(ｂ)の(ｘ)に示すように時刻ｔ６で論理“１”
をラッチし、それ以降で論理“１”の閉故障判定信号１
０Ａを出力し続ける。これが、駆動回路２の閉故障を示
す診断結果である。つまり、閉故障判定信号１０Ａが論
理“１”になることで駆動回路２の閉故障が示される。From the test signal applying circuit 4 to (i) in FIG.
The test signal 4A is applied at time t5, but since the drive circuit 2 is closed, the energization cannot be temporarily interrupted and the current of the electromagnetic device 1 continues to flow. Therefore, the voltage value of the current detection signal 5A is V as shown in (ii) of FIG.
It is constant in (v). Therefore, the hold circuit output signal 6A
Has a waveform shown in (iv) of FIG. Further, the signal 7A obtained by dividing the current detection signal 5A in the energized state into 1/2 through the voltage dividing circuit 7 has a waveform shown in (v) of FIG. 2B. When the comparison circuit 8 compares the signal 6A and the signal 7A, the voltage value (V (v)) of the signal 6A is larger than the voltage value (V / 2 (v)) of the signal 7A, and therefore the comparison circuit output signal 8A is shown in FIG. As shown in (vi) of (b), the logic "1" remains. The AND circuit 9 is shown in FIG.
The signal 8A shown in (b) of (b) and the signal 11C shown in (vii) of FIG. 2 (b) are ANDed to obtain the AN shown in (ix) of FIG. 2 (b).
The D circuit output signal 9A is output. As a result, the determination circuit 1
0 is a logical "1" at time t6 as shown in (x) of FIG. 2 (b).
Latched, and after that, the closed fault judgment signal 1 of logic "1"
Continue to output 0A. This is the diagnostic result indicating the closed failure of the drive circuit 2. That is, the closing failure determination signal 10A becomes the logic "1" to indicate the closing failure of the drive circuit 2.

【００１７】図３は時刻ｔ７で電磁機器１又は駆動回路
２が開故障になった場合の各部の動作波形図である。FIG. 3 is an operation waveform diagram of each part when the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure at time t7.

【００１８】電磁機器１又は駆動回路２が開故障か否か
の診断は電流検出信号５Ａを監視することによってでき
るため、図３の(ｉ)に示すようにテスト信号４Ａは論理
“０”のパルス信号が印加されず論理“１”のままであ
る。電磁機器１又は駆動回路２が時刻ｔ７で開状態にな
ると電流はこれ以降流れないため図３の(ii)に示すよう
に時刻ｔ７で電流検出信号５Ａは電圧値が０(ｖ)にな
る。ホールド回路６はホールド信号１１Ａが論理“１”
のときに、入力信号である電流検出信号５Ａに追従した
値を出力するため、ホールド回路出力信号６Ａは信号５
Ａと同様に図３の(iv)に示すような波形になる。電流検
出信号５Ａを１／２に分圧した分圧回路出力信号７Ａ
は、時刻ｔ７以前では電圧値がＶ／２(ｖ)であり、時刻
ｔ７以降では電圧値が０(ｖ)になる。比較回路出力信号
８Ａは図３の(vi)に示すように、時刻ｔ７以前には信号
６Ａの電圧値(Ｖ(ｖ))が信号７Ａの電圧値(Ｖ／２(ｖ))
より大きいので論理“１”であり、時刻ｔ７以降は信号
６Ａと信号７Ａの電圧値が等しくなるため論理“０”に
なる。マスク信号１１Ｂは短期間論理“０”のテスト信
号４Ａが印加されないため図３の(vii）のように常に論
理“０”である。従って、ＮＯＲ回路１３は比較回路出
力信号８Ａが図３の(vi)のように時刻ｔ７で論理“１”
から“０”になるため、図３の(viii)のように時刻ｔ７
以降で論理“１”の信号１３Ａを出力する。この信号１
３Ａが論理“１”になることによって電磁機器１又は駆
動回路２の開故障が示される。尚、閉故障診断のためテ
スト信号４Ａが印加されても信号１３ＡはＮＯＲ回路１
３により信号１１Ｃと信号８Ａの論理和の反転をとられ
ているため、図２(ａ)，(ｂ)に示したように開故障判定
結果はこれに影響を受けることはない。Since it is possible to diagnose whether the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open circuit failure, by monitoring the current detection signal 5A, the test signal 4A has a logic "0" as shown in (i) of FIG. The pulse signal is not applied and remains at logic "1". When the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 is in the open state at time t7, no current flows thereafter, so that the voltage value of the current detection signal 5A becomes 0 (v) at time t7 as shown in (ii) of FIG. In the hold circuit 6, the hold signal 11A is logical "1".
At the time of, since the value following the current detection signal 5A which is the input signal is output, the hold circuit output signal 6A changes to the signal 5
Similar to A, the waveform is as shown in (iv) of FIG. Voltage division circuit output signal 7A obtained by dividing the current detection signal 5A into 1/2
Has a voltage value of V / 2 (v) before time t7, and has a voltage value of 0 (v) after time t7. As shown in (vi) of FIG. 3, the comparison circuit output signal 8A has a voltage value (V (v)) of the signal 6A before the time t7, which is a voltage value (V / 2 (v)) of the signal 7A.
Since it is larger, it is a logical "1", and after time t7, the voltage values of the signal 6A and the signal 7A are equal, and therefore it is a logical "0". The mask signal 11B is always logic "0" as shown in (vii) of FIG. 3 because the test signal 4A having logic "0" is not applied for a short period. Therefore, in the NOR circuit 13, the comparison circuit output signal 8A has a logic "1" at time t7 as shown in (vi) of FIG.
Since it becomes “0” from time t7, as shown in (viii) of FIG.
After that, the signal 13A of logic "1" is output. This signal 1
An open fault of the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 is indicated by 3A becoming a logic "1". Even if the test signal 4A is applied for closing failure diagnosis, the signal 13A is still applied to the NOR circuit 1
Since the logical sum of the signal 11C and the signal 8A is inverted by 3, the open failure determination result is not affected by this as shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b).

【００１９】以上の説明のように本実施例の診断装置１
２では、テスト信号印加時の電磁機器１に流れる電流を
ホールドし、このホールドした電流と通電状態の電流と
を比較して電磁機器１及び駆動回路２を診断することが
可能であるため、電磁機器１や駆動回路２の経年変化等
で、電磁機器１に流れる電流の波形や振幅が変化して
も、これに影響を受けることなく診断することが可能で
ある。As described above, the diagnostic device 1 of this embodiment
2, it is possible to hold the current flowing through the electromagnetic device 1 when the test signal is applied and compare the held current with the current in the energized state to diagnose the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2. Even if the waveform or amplitude of the current flowing through the electromagnetic device 1 changes due to aging of the device 1 or the drive circuit 2, it is possible to make a diagnosis without being affected by this.

【００２０】図４の実施例では、交流電源１１によって
電磁機器１を駆動する場合の診断装置１２のブロック図
である。図１と異なる点は、先ず位相検出回路１４によ
り交流電源１１の電流の周期に同期してテスト信号４Ａ
を出力している点である。このためホールド信号１１Ａ
及びウインド信号１１Ｃを変更している。次に開故障判
定のためにマルチバイブレータ１６を設けた点である。The embodiment of FIG. 4 is a block diagram of the diagnostic device 12 when the electromagnetic equipment 1 is driven by the AC power supply 11. The difference from FIG. 1 is that the phase detection circuit 14 first synchronizes with the test signal 4A in synchronization with the current cycle of the AC power supply 11.
Is output. Therefore, hold signal 11A
And the window signal 11C is changed. Next, the multivibrator 16 is provided to determine the open failure.

【００２１】図１の実施例では電磁機器１に流れる電流
を抵抗を用いて検出するようにしていたが、図４では電
流が交流であるため、非接触で電流を検出することが可
能なカレント・トランス１５を用いている。これは、非
接触で電流検出することにより、カレント・トランス１
５が故障しても電磁機器１の駆動に影響を及ぼさなくす
るためであり、より望ましい実施形態を示しただけであ
る。カレント・トランス１５は検出する交流電流を電流
検出信号５Ａとして出力する。この信号５Ａは位相検出
回路１４とホールド回路６及び分圧回路７に入力され
る。位相検出回路１４は信号５Ａに同期して予め定めた
位相の時にテスト信号４Ａを出力するためのトリガ信号
１４Ａをテスト信号印加回路４に出力する。マルチバイ
ブレータ１６は比較回路出力信号８Ａがパルス的な信号
になるか否かで、電磁機器１又は駆動回路２の開故障を
判定する。その他は図１と同一である。In the embodiment shown in FIG. 1, the current flowing through the electromagnetic device 1 is detected by using a resistor. However, in FIG. 4, since the current is an alternating current, it is possible to detect the current without contact.・ The transformer 15 is used. This is the current transformer 1 by non-contact current detection.
This is to prevent the drive of the electromagnetic device 1 from being affected even if the device 5 fails, and only a more preferable embodiment is shown. The current transformer 15 outputs the alternating current to be detected as a current detection signal 5A. This signal 5A is input to the phase detection circuit 14, the hold circuit 6 and the voltage dividing circuit 7. The phase detection circuit 14 outputs to the test signal application circuit 4 a trigger signal 14A for outputting the test signal 4A at a predetermined phase in synchronization with the signal 5A. The multivibrator 16 determines the open failure of the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 depending on whether the comparison circuit output signal 8A becomes a pulse signal. Others are the same as FIG.

【００２２】図５は電磁機器１及び駆動回路２が正常の
場合の診断装置１２の各部の動作波形図であり、図６は
駆動回路２が閉故障になった場合の診断装置１２の各部
の動作波形図である。FIG. 5 is an operation waveform diagram of each part of the diagnostic device 12 when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal, and FIG. 6 is a waveform diagram of each part of the diagnostic device 12 when the drive circuit 2 has a closed fault. It is an operation waveform diagram.

【００２３】先ず、図５を用いて電磁機器１及び駆動回
路２が正常の場合を説明する。位相検出回路１４は電流
検出信号５Ａがゼロになったときにトリガ信号１４Ａを
出力するようにしているため、テスト信号印加回路４は
図５の(ｉ)に示すテスト信号４Ａを時刻ｔ８で駆動回路
２に印加する。この結果、カレント・トランス１５が検
出する電流検出信号５Ａは図５の(ii)に示すような通常
時は正弦波でテスト信号印加時にゼロの波形となる。テ
スト信号４Ａは時刻ｔ８から時刻ｔ１０の期間で論理
“０”である。尚この期間では前述したように電磁機器
１は動作しない。電磁機器１及び駆動回路２が正常であ
るため、電流検出信号５Ａは図５の(ii)に示すようにテ
スト信号４Ａが印加されている時刻ｔ８からｔ１０の期
間で電圧値が０(ｖ)となる。尚、信号５Ａがゼロのタイ
ミングでテスト信号４Ａを印加する理由は、テスト信号
印加によって不要な電磁ノイズが発生するのを防止する
ためである。図５の(iii）に示すホールド信号１１Ａ
は、テスト信号印加期間（時刻ｔ８からｔ１０）の信号
５Ａの電圧値(０(ｖ))をホールドするために時刻ｔ９で
論理“０”になる。従って、ホールド回路６は時刻ｔ１
２までこの値をホールドし続ける。尚、時刻ｔ９でラッ
チしてホールドを開始している理由は、テスト信号４Ａ
を信号５Ａの電圧値が０(ｖ)のときに印加しているた
め、テスト信号印加と同時に信号５Ａのホールドを開始
すると、電磁機器１又は駆動回路２が開故障となったこ
とで０(ｖ)となっているのと区別できないので開故障で
ないときには０(ｖ)以外の有限の値をホールドするよう
にしている。また、時刻ｔ１２は時刻ｔ１０と同一位相
のタイミングであり、時刻ｔ１１からｔ１２の電流検出
信号５Ａと時刻ｔ８からｔ１０の期間の電流検出信号５
Ａとを比較するためにホールド信号１１Ａの時間幅を決
定している。First, the case where the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal will be described with reference to FIG. Since the phase detection circuit 14 outputs the trigger signal 14A when the current detection signal 5A becomes zero, the test signal application circuit 4 drives the test signal 4A shown in (i) of FIG. 5 at time t8. Apply to circuit 2. As a result, the current detection signal 5A detected by the current transformer 15 is a sine wave in the normal state and has a zero waveform when the test signal is applied, as shown in (ii) of FIG. The test signal 4A is logic "0" during the period from time t8 to time t10. During this period, the electromagnetic device 1 does not operate as described above. Since the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal, the voltage value of the current detection signal 5A is 0 (v) during the period from time t8 to t10 when the test signal 4A is applied as shown in (ii) of FIG. Becomes The reason why the test signal 4A is applied at the timing when the signal 5A is zero is to prevent unnecessary electromagnetic noise from being generated by the application of the test signal. Hold signal 11A shown in (iii) of FIG.
Becomes a logic "0" at time t9 in order to hold the voltage value (0 (v)) of the signal 5A during the test signal application period (time t8 to t10). Therefore, the hold circuit 6 operates at time t1.
Continue to hold this value up to 2. Incidentally, the reason why the latching and the holding is started at the time t9 is that the test signal 4A
Is applied when the voltage value of the signal 5A is 0 (v), so if the hold of the signal 5A is started at the same time when the test signal is applied, the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure, and Since it is indistinguishable from v), a finite value other than 0 (v) is held when there is no open failure. Further, the time t12 is a timing of the same phase as the time t10, and the current detection signal 5A from the time t11 to t12 and the current detection signal 5 from the time t8 to t10.
In order to compare with A, the time width of the hold signal 11A is determined.

【００２４】ホールド回路６及び分圧回路７の動作によ
り比較回路８の入力信号である信号６Ａと信号７Ａは図
５の(iv)に示すような波形となる。信号６Ａでは、時刻
ｔ９以前及び時刻ｔ１２以降はホールド信号１１Ａが論
理“１”のため信号５Ａの値に追従した信号であり、時
刻ｔ９からｔ１２まではテスト信号印加時の信号５Ａの
電圧値０(ｖ)になる。信号７Ａは信号５Ａを１／２に分
圧している波形になっている。比較回路８は信号６Ａの
電圧が信号７Ａの電圧より大きいとき論理“１”を出力
し、信号６Ａと信号７Ａとの電圧が等しいか又は信号６
Ａの電圧が信号７Ａの電圧より小さいとき論理“０”を
出力するため、比較回路出力信号８Ａは図５の(ｖ)に示
す波形となる。図５の(vi)に示すウインド信号１１Ｃは
時刻ｔ１１からｔ１２の期間で論理“１”であるが、こ
れはテスト信号印加期間の時刻ｔ８からｔ１０と同一位
相のタイミングであり、テスト信号印加時の信号５Ａの
位相とテスト信号印加タイミングと同一位相で且つ通常
の通電時の信号５Ａとを比較するためである。図５の
(ｖ)と(vi)に示すウインド信号１１Ｃと比較回路出力信
号８ＡをＡＮＤ回路９に入力し論理積をとると、(vii）
に示すように常に論理“０”のＡＮＤ回路出力信号９Ａ
になる。判定回路１０に入力された信号９Ａが論理
“０”のままであり、論理“０”から“１”に立ち上が
ることがないため、図５の(viii)に示すように閉故障判
定信号１０Ａは論理“０”のままである。また開故障判
定信号１３Ａについては図７で詳述するが、この場合に
は(ix)のように論理“０”のままである。つまり、電磁
機器１及び駆動回路２は正常であることが示される。By the operations of the hold circuit 6 and the voltage dividing circuit 7, the signals 6A and 7A which are the input signals of the comparison circuit 8 have the waveforms shown in (iv) of FIG. In the signal 6A, before the time t9 and after the time t12, the hold signal 11A is a signal that follows the value of the signal 5A because the hold signal 11A is logic "1", and from the time t9 to t12, the voltage value 0 of the signal 5A when the test signal is applied (v). The signal 7A has a waveform in which the signal 5A is divided in half. The comparator circuit 8 outputs a logic "1" when the voltage of the signal 6A is larger than the voltage of the signal 7A, and the voltage of the signal 6A is equal to that of the signal 7A or
Since the logic "0" is output when the voltage of A is smaller than the voltage of the signal 7A, the comparison circuit output signal 8A has the waveform shown in (v) of FIG. The window signal 11C shown in (vi) of FIG. 5 has a logic "1" in the period from time t11 to t12, which is the same phase as the test signal application period from time t8 to t10. This is for comparing the phase of the signal 5A with the signal 5A in the same phase as the test signal application timing and during normal energization. Of FIG.
When the window signal 11C shown in (v) and (vi) and the comparison circuit output signal 8A are input to the AND circuit 9 and the logical product is taken, (vii)
AND circuit output signal 9A which is always logic "0" as shown in
become. Since the signal 9A input to the determination circuit 10 remains at the logic "0" and does not rise from the logic "0" to "1", the closed failure determination signal 10A is as shown in (viii) of FIG. It remains a logic "0". Further, the open failure determination signal 13A will be described in detail with reference to FIG. 7, but in this case, the logic "0" remains as in (ix). That is, it is shown that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal.

【００２５】次に、駆動回路２が閉故障になった場合の
診断装置１２の動作を図６を用いて説明する。Next, the operation of the diagnostic device 12 when the drive circuit 2 has a closed fault will be described with reference to FIG.

【００２６】図６の(ｉ)に示すテスト信号４Ａを駆動回
路２に印加しても駆動回路２が閉状態であるため通電は
遮断されず、テスト信号４Ａの印加期間（時刻ｔ１３か
らｔ１５）でも電磁機器１に電流は流れる。このため電
流検出信号５Ａは図６の(ii)に示すような波形となる。
この結果、時刻ｔ１４での信号５Ａの値をホールド回路
６がラッチしてホールドし、このホールドされた値は時
刻ｔ１４からｔ17まで出力される。このため比較回路８
に入力される信号６Ａと信号７Ａは図６の(iv)に示す波
形となり、図６の(ｖ)に示すように信号６Ａが信号７Ａ
より大きいときにのみ論理“１”となる比較回路出力信
号８Ａが出力される。ＡＮＤ回路９で図６の(ｖ)と(vi)
に示す信号８Ａと信号１１Ｃとの論理積をとるため、Ａ
ＮＤ回路出力信号９Ａは図６の(vii）に示すように時刻
ｔ１６からｔ１７で論理“１”となる。このため、信号
９Ａが論理“０”から“１”に変化した時刻ｔ16で(vii
i)に示すように閉故障判定信号１０Ａは論理“１”とな
る。つまり、駆動回路２が閉故障になったことが示され
る。Even if the test signal 4A shown in (i) of FIG. 6 is applied to the drive circuit 2, the drive circuit 2 is in the closed state, so that the energization is not interrupted, and the test signal 4A application period (time t13 to t15). However, the current flows through the electromagnetic device 1. Therefore, the current detection signal 5A has a waveform as shown in (ii) of FIG.
As a result, the hold circuit 6 latches and holds the value of the signal 5A at time t14, and the held value is output from time t14 to t17. Therefore, the comparison circuit 8
The signal 6A and the signal 7A input to the signal have the waveforms shown in (iv) of FIG. 6, and the signal 6A is the signal 7A as shown in (v) of FIG.
The comparison circuit output signal 8A which becomes logical "1" is output only when it is larger. In the AND circuit 9, (v) and (vi) of FIG.
The logical product of the signal 8A and the signal 11C shown in
The ND circuit output signal 9A becomes a logic "1" from time t16 to t17 as shown in (vii) of FIG. Therefore, at time t16 when the signal 9A changes from logic "0" to "1" (vii
As shown in i), the closed fault determination signal 10A has a logic "1". That is, it is indicated that the drive circuit 2 has a closed fault.

【００２７】図７は時刻ｔ１８で電磁機器１又は駆動回
路２が開故障になった場合の診断装置１２の各部の動作
波形図である。FIG. 7 is an operation waveform diagram of each part of the diagnostic device 12 when the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure at time t18.

【００２８】この場合も図１の実施例と同様に電磁機器
１又は駆動回路２が開故障か否かの診断は電流検出信号
５Ａを監視することによりできるため、図７の(ｉ)に示
すようにテスト信号４Ａは印加せず論理“１”のままで
ある。電磁機器１又は駆動回路２が時刻ｔ１８で開状態
になると電流はこれ以降流れないため、図７の(ii)に示
すように電流検出信号５Ａは時刻ｔ１８以降で電圧値が
０(ｖ)になる。ホールド回路６は入力信号の電流検出信
号５Ａに追従した値を出力するため、(iii）に示すよう
に時刻ｔ１８以前では信号６Ａは信号５Ａと同様な波形
になる。また信号７Ａは信号５Ａを１／２に分圧した波
形となる。比較回路８で信号６Ａと信号７Ａとを比較し
た結果、比較回路出力信号８Ａは図７の(iv)に示すよう
に時刻ｔ１８以前では交流電流の周期に同期して論理
“１”と“０”を繰り返すパルス信号になり、時刻ｔ１
８以降は信号６Ａと信号７Ａが同一レベルであるため論
理“０”になる。ここで、マルチバイブレータ１６は入
力信号が交流電流の周期以内のパルス信号であれば論理
“０”を出力し、パルス信号が喪失して交流電流の周期
よりも長い期間にわたって論理“１”又は“０”の信号
のままとなった場合には論理“１”を出力するものであ
る。ここでは、交流電流の周期の２倍以上か否かで判定
している。マルチバイブレータ１６は、例えば一般的な
リトリガブル・モノステーブル・マルチバイブレータに
よって実現できる。図７の(ｖ)に示すように時刻ｔ１８
以前では開故障判定信号１３Ａは論理“０”であり電磁
機器１及び駆動回路２が正常であることが示される。時
刻ｔ１８で電磁機器１又は駆動回路２が開故障になるこ
とにより信号８Ａのパルス信号が喪失して論理“０”と
なるため、時刻ｔ１８から交流電源１１の周波数の２周
期だけ遅れた時刻ｔ１９で論理“１”になる。つまり、
電磁機器１又は駆動回路２が開故障になったことが時刻
ｔ１９以降で示される。Also in this case, as in the embodiment of FIG. 1, the diagnosis as to whether or not the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open circuit failure can be made by monitoring the current detection signal 5A. Thus, the test signal 4A is not applied and remains at the logic "1". When the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 is in the open state at time t18, no current flows thereafter, so that the voltage value of the current detection signal 5A becomes 0 (v) after time t18 as shown in (ii) of FIG. Become. Since the hold circuit 6 outputs a value following the current detection signal 5A of the input signal, the signal 6A has a waveform similar to that of the signal 5A before time t18 as shown in (iii). The signal 7A has a waveform obtained by dividing the signal 5A by half. As a result of comparing the signal 6A and the signal 7A in the comparison circuit 8, the comparison circuit output signal 8A shows that the logic "1" and "0" are synchronized with the cycle of the alternating current before time t18 as shown in (iv) of FIG. Becomes a pulse signal that repeats "
From 8 onward, the signal 6A and the signal 7A are at the same level, and therefore become a logic "0". Here, the multivibrator 16 outputs a logical "0" if the input signal is a pulse signal within the cycle of the alternating current, and loses the pulse signal and is a logical "1" or "for a period longer than the cycle of the alternating current. When the signal of "0" remains as it is, the logic "1" is output. Here, the determination is made based on whether or not the cycle of the alternating current is twice or more. The multivibrator 16 can be realized by, for example, a general retriggerable monostable multivibrator. As shown in (v) of FIG. 7, time t18
Previously, the open failure determination signal 13A has a logic "0", indicating that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal. At time t18, since the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure, the pulse signal of the signal 8A is lost and becomes a logic “0”. Therefore, the time t19 is delayed by two cycles of the frequency of the AC power supply 11 from the time t18. Then it becomes logical "1". That is,
It is indicated after time t19 that the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure.

【００２９】以上の説明のように、電磁機器１及び駆動
回路２が交流電源により通電されている場合でも図１に
示す実施例の場合と同様に実電流波形を予め把握してお
かなくてもこれらの診断が可能である。As described above, even when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are energized by the AC power source, it is not necessary to grasp the actual current waveform in advance as in the case of the embodiment shown in FIG. These diagnoses are possible.

【００３０】これまでの実施例では、テスト信号印加時
の電磁機器１に流れる電流を検出してホールドし、この
ホールドした値と通常の通電時の値とを比較して、比較
の結果により電磁機器１及び駆動回路２を診断してい
た。図８，図１１，図１４，図１８に示す他の実施例で
は、電磁機器１に流れる電流を検出するのではなく、駆
動回路２の両端電圧や電磁機器１の両端電圧を検出し
て、この検出した電圧をもとに電磁機器１及び駆動回路
２を診断するものである。In the above-described embodiments, the current flowing through the electromagnetic device 1 at the time of applying the test signal is detected and held, the held value is compared with the value at the time of normal energization, and the result of the comparison indicates that The device 1 and the drive circuit 2 were diagnosed. In other embodiments shown in FIGS. 8, 11, 14, and 18, instead of detecting the current flowing through the electromagnetic device 1, the voltage across the drive circuit 2 and the voltage across the electromagnetic device 1 are detected. The electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are diagnosed based on the detected voltage.

【００３１】先ず、図８の実施例を説明する。図８は電
磁機器１が直流電源３によって駆動され、且つ駆動回路
２の両端電圧を検出してこの検出信号をもとに電磁機器
１及び駆動回路２を診断する場合の実施例である。図８
では、通常の通電時に駆動回路２は閉状態であるため駆
動回路２の両端電圧はゼロであり、テスト信号印加時に
駆動回路２は開状態になるため駆動回路２の両端に電源
電圧が発生する。一方図１の実施例ではこれとは逆に、
電流検出信号５Ａは図２(ａ)の(ii)に示すように通常の
通電時にＶ(ｖ)であり、テスト信号印加時に０(ｖ)にな
っていた。この点が図８と図１の大きな相違点であり、
そのための処理が異なっており図８の診断装置１２の構
成では、比較回路出力信号８Ａに対する信号処理方法が
図１と異なる。図１の診断装置１２と異なる点は、先ず
絶縁アンプ１７及び抵抗Ｒ１とＲ２からなる電圧検出回
路１８により駆動回路２の両端電圧を検出する点であ
る。尚、Ｒ１とＲ２は分圧用の抵抗である。次に電圧検
出信号１８Ａをホールド回路６及び分圧回路７に入力し
ていること、比較回路出力信号８Ａの信号処理について
は、信号８Ａとウインド信号１１ＣとをＮＯＲ回路１３
に入力し、ＮＯＲ論理をとった結果を判定回路１０に入
力して判定回路１０により閉故障判定信号１０Ａを出力
していることである。更に、信号８Ａとマスク信号１１
ＢとをAND回路９に入力し、ＡＮＤ論理をとった結果を
開故障判定信号１３Ａとして出力していることである点
である。上記のように信号８Ａの信号処理方法の変更に
伴い、ウインド信号１１Ｃ及びマスク信号１１Ｂも図１
の場合と異なり変更している。First, the embodiment shown in FIG. 8 will be described. FIG. 8 shows an embodiment in which the electromagnetic device 1 is driven by the DC power supply 3, the voltage across the drive circuit 2 is detected, and the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are diagnosed based on this detection signal. FIG.
Then, the voltage across the drive circuit 2 is zero because the drive circuit 2 is closed during normal energization, and the power supply voltage is generated across the drive circuit 2 when the test signal is applied because the drive circuit 2 is open. . On the other hand, in the embodiment of FIG.
As shown in (ii) of FIG. 2A, the current detection signal 5A was V (v) during normal energization, and was 0 (v) during application of the test signal. This is a big difference between FIG. 8 and FIG.
The processing therefor is different, and in the configuration of the diagnostic device 12 in FIG. 8, the signal processing method for the comparison circuit output signal 8A is different from that in FIG. The difference from the diagnostic device 12 of FIG. 1 is that first, the voltage across the drive circuit 2 is detected by a voltage detection circuit 18 including an insulation amplifier 17 and resistors R1 and R2. Incidentally, R1 and R2 are resistors for voltage division. Next, the voltage detection signal 18A is input to the hold circuit 6 and the voltage dividing circuit 7, and regarding the signal processing of the comparison circuit output signal 8A, the signal 8A and the window signal 11C are input to the NOR circuit 13.
That is, the result of NOR logic is input to the determination circuit 10, and the determination circuit 10 outputs the closed failure determination signal 10A. Further, the signal 8A and the mask signal 11
That is, B and B are input to the AND circuit 9, and the result of AND logic is output as the open failure determination signal 13A. As the signal processing method of the signal 8A is changed as described above, the window signal 11C and the mask signal 11B are also shown in FIG.
Different from the case of.

【００３２】このように構成した診断装置１２の動作を
図９と図１０を用いて説明する。The operation of the diagnostic device 12 thus constructed will be described with reference to FIGS. 9 and 10.

【００３３】図９(ａ)は電磁機器１及び駆動回路２が正
常である場合の動作波形図であり、図９(ｂ)は駆動回路
２が閉故障になった場合の動作波形図である。図１０は
駆動回路２が開故障になった場合の動作波形図である。FIG. 9A is an operation waveform diagram when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal, and FIG. 9B is an operation waveform diagram when the drive circuit 2 has a closing failure. . FIG. 10 is an operation waveform diagram when the drive circuit 2 has an open failure.

【００３４】図９(ａ)の(ｉ)に示すテスト信号４Ａを駆
動回路２に印加すると駆動回路２は開状態となるため、
(ii)に示すように電圧検出信号１８Ａは電圧値Ｖ(ｖ)と
なる。この結果、信号６Ａは(iv）に示す波形となり、
信号７Ａは(ｖ）に示す波形となる。比較回路８で信号
６Ａと信号７Ａとを比較した結果、比較回路出力信号８
Ａは(vi)に示す波形になる。比較回路出力信号８Ａに対
する信号処理方法を変更しているので、ウインド信号１
１Ｃ及びマスク信号１１Ｂをそれぞれ(vii）及び(viii)
に示すようにしている。ＮＯＲ回路１３は信号８Ａと信
号１１ＣとのＮＯＲ論理をとる。この結果、ＮＯＲ回路
出力信号１３Ｂは(ix)に示すように論理“０”の信号に
なる。このため、(ｘ)に示すように閉故障判定信号１０
Ａは論理“０”のままである。また、ＡＮＤ回路９によ
り信号８Ａと信号１１Ｂの論理積がとられるため信号１
３Ａは(xi)のように常に論理“０”である。つまり、電
磁機器１及び駆動回路２は正常であることが示される。When the test signal 4A shown in (i) of FIG. 9 (a) is applied to the drive circuit 2, the drive circuit 2 is brought into an open state.
As shown in (ii), the voltage detection signal 18A has a voltage value V (v). As a result, the signal 6A has the waveform shown in (iv),
The signal 7A has a waveform shown in (v). As a result of the comparison circuit 8 comparing the signal 6A and the signal 7A, the comparison circuit output signal 8
A has the waveform shown in (vi). Since the signal processing method for the comparison circuit output signal 8A is changed, the window signal 1
1C and mask signal 11B are (vii) and (viii), respectively.
As shown in. The NOR circuit 13 takes the NOR logic of the signal 8A and the signal 11C. As a result, the NOR circuit output signal 13B becomes a signal of logic "0" as shown in (ix). Therefore, as shown in (x), the closing failure determination signal 10
A remains logical "0". Further, since the AND circuit 9 takes the logical product of the signal 8A and the signal 11B, the signal 1
3A is always logical "0" like (xi). That is, it is shown that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal.

【００３５】図９(ｂ)は駆動回路２が閉故障になった場
合の動作波形図であり、(ｉ)に示すテスト信号４Ａを駆
動回路２に印加しても駆動回路２は閉状態であるため、
駆動回路２の両端に電圧は発生せず(ii)に示すように電
圧検出信号１８Ａは電圧値０(ｖ)で一定である。図９
(ａ)の場合と同様に信号６Ａと信号７Ａを比較した結
果、(vi)に示すように信号８Ａは論理“０”のままであ
る。信号８Ａと信号１１ＣとのＮＯＲ論理をとると、信
号１３Ｂは(ix)に示すような波形になり、このため判定
回路１０から出力される閉故障判定信号１０Ａは(ｘ)に
示すように時刻ｔ５以降で論理“１”となる。つまり、
駆動回路２は閉故障になったことが示される。FIG. 9B is an operation waveform diagram in the case where the drive circuit 2 has a closing failure. Even if the test signal 4A shown in (i) is applied to the drive circuit 2, the drive circuit 2 is in the closed state. Because there is
No voltage is generated across the drive circuit 2, and the voltage detection signal 18A is constant at a voltage value of 0 (v) as shown in (ii). FIG.
As a result of comparing the signal 6A and the signal 7A as in the case of (a), the signal 8A remains the logic "0" as shown in (vi). When the NOR logic of the signal 8A and the signal 11C is taken, the signal 13B has a waveform as shown in (ix). Therefore, the closing failure determination signal 10A output from the determination circuit 10 has time as shown in (x). It becomes a logical "1" after t5. That is,
It is shown that the drive circuit 2 has a closed fault.

【００３６】図１０は時刻ｔ７で駆動回路２が開故障に
なった場合の動作波形図である。駆動回路２が開故障か
否かの診断は電磁機器１に流れる電流を検出し電流検出
信号５Ａを監視するのと同様に、電圧検出信号１８Ａを
監視することによってできるため、(ｉ)に示すようにテ
スト信号４Ａは印加せず論理“１”のままである。駆動
回路２が時刻ｔ７で開状態になると駆動回路２の両端に
電源電圧が発生し、このため電圧検出信号１８Ａは(ii)
に示すように時刻ｔ７以降で電圧値Ｖ(ｖ)になる。ホー
ルド回路６はホールド信号１１Ａが論理“１”のとき
に、入力信号である信号１８Ａに追従した値を出力する
ため、ホールド回路出力信号６Ａは(iv)に示すような信
号１８Ａと同様の波形になる。信号６Ａと信号７Ａとを
比較した結果、(vi)に示すように信号８Ａは時刻ｔ７以
降で論理“１”となる。マスク信号１１Ｂはテスト信号
４Ａが印加されていないため(vii）に示すように常に論
理“１”である。従って、信号８Ａと信号１１ＢとのＡ
ＮＤ論理をとった結果、開故障判定信号１３Ａは時刻ｔ
７で論理“１”になる。つまり、駆動回路２の開故障を
示すことになる。FIG. 10 is an operation waveform diagram when the drive circuit 2 has an open circuit failure at time t7. Since it is possible to diagnose whether or not the drive circuit 2 has an open circuit failure by monitoring the voltage detection signal 18A in the same manner as detecting the current flowing through the electromagnetic device 1 and monitoring the current detection signal 5A, it is shown in (i). Thus, the test signal 4A is not applied and remains at the logic "1". When the drive circuit 2 is opened at time t7, a power supply voltage is generated across the drive circuit 2, and therefore the voltage detection signal 18A is (ii)
As shown in, the voltage value becomes V (v) after time t7. Since the hold circuit 6 outputs a value following the signal 18A which is an input signal when the hold signal 11A is logical "1", the hold circuit output signal 6A has the same waveform as the signal 18A as shown in (iv). become. As a result of comparing the signal 6A and the signal 7A, the signal 8A becomes a logic "1" after the time t7 as shown in (vi). The mask signal 11B is always logic "1" as shown in (vii) because the test signal 4A is not applied. Therefore, A of signal 8A and signal 11B
As a result of taking the ND logic, the open failure determination signal 13A is time t
At 7, it becomes a logical "1". In other words, it indicates an open failure of the drive circuit 2.

【００３７】以上のように、駆動回路２の両端電圧を検
出することによっても電磁機器１及び駆動回路２を診断
することができる。As described above, the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 can be diagnosed by detecting the voltage across the drive circuit 2.

【００３８】次に、図１１の実施例を説明する。図１１
は電磁機器１が直流電源３によって駆動され、且つ電磁
機器１の両端電圧を検出して電磁機器１及び駆動回路２
を診断する場合の実施例である。通常の通電時に駆動回
路２は閉状態であるので電磁機器１の両端に電圧はかか
っている。テスト信号印加時に駆動回路２は開状態にな
るため電磁機器１の両端電圧はゼロになる。これは、図
１に示す実施例でテスト信号印加時に電磁機器１に流れ
ている電流がゼロになることと同様である。つまり、図
１１に示す電圧検出信号１８Ａは図１の電流検出信号５
Ａと同一波形となる。このため図１１の診断装置１２は
電圧検出回路１８後段の構成を図１の診断装置１２と同
一にでき、図１と異なる部分は電圧検出回路１８のみで
ある。尚、この電圧検出回路１８は図８に示す電圧検出
回路１８と同じものである。Next, the embodiment shown in FIG. 11 will be described. FIG.
The electromagnetic device 1 is driven by the DC power supply 3, and the voltage across the electromagnetic device 1 is detected to detect the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2.
It is an example in the case of diagnosing. Since the drive circuit 2 is closed during normal energization, a voltage is applied across the electromagnetic device 1. Since the drive circuit 2 is opened when the test signal is applied, the voltage across the electromagnetic device 1 becomes zero. This is the same as the current flowing through the electromagnetic device 1 being zero when the test signal is applied in the embodiment shown in FIG. That is, the voltage detection signal 18A shown in FIG. 11 is the current detection signal 5A shown in FIG.
It has the same waveform as A. Therefore, the diagnostic device 12 of FIG. 11 can have the same configuration as that of the diagnostic device 12 of FIG. 1 after the voltage detection circuit 18, and only the voltage detection circuit 18 is different from FIG. The voltage detection circuit 18 is the same as the voltage detection circuit 18 shown in FIG.

【００３９】このような構成の診断装置１２の動作を図
１２と図１３を用いて説明する。The operation of the diagnostic device 12 having such a configuration will be described with reference to FIGS. 12 and 13.

【００４０】図１２(ａ)は駆動回路２が正常である場合
の動作波形図であり、図１２(ｂ)は駆動回路２が閉故障
になった場合の動作波形を示す図である。図１３は電磁
機器１又は駆動回路２が開故障になった場合の動作波形
図である。FIG. 12 (a) is an operation waveform diagram when the drive circuit 2 is normal, and FIG. 12 (b) is a diagram showing an operation waveform when the drive circuit 2 has a closing failure. FIG. 13 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure.

【００４１】前述したように図１１に示す診断装置１２
は、電圧検出回路１８のみが図１と異なるだけでありそ
の他の構成は同一である。このため図１２(ａ)に示す動
作波形は図２(ａ)に示す動作波形と同一になり、電磁機
器１及び駆動回路２が正常であることが示される。また
図１２(ｂ)に示す動作波形は図２(ｂ)に示す動作波形と
同一になり、駆動回路２が閉故障になったことが示され
る。更に図１３は時刻ｔ７で電磁機器１又は駆動回路２
が開故障になった場合の動作波形であり、これは図３に
示す開故障発生時の動作波形と同一である。As described above, the diagnostic device 12 shown in FIG.
1 is different from FIG. 1 only in the voltage detection circuit 18, and the other configurations are the same. Therefore, the operation waveform shown in FIG. 12A becomes the same as the operation waveform shown in FIG. 2A, indicating that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal. The operation waveform shown in FIG. 12B is the same as the operation waveform shown in FIG. 2B, which shows that the drive circuit 2 has a closed fault. Further, in FIG. 13, at time t7, the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 is
Is an operation waveform when an open failure occurs, which is the same as the operation waveform when the open failure occurs as shown in FIG.

【００４２】以上のように電磁機器１の両端電圧を検出
しても電磁機器１や駆動回路２を診断することができ
る。As described above, the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 can be diagnosed by detecting the voltage across the electromagnetic device 1.

【００４３】図１４は電磁機器１が交流電源１１によっ
て駆動され、且つ駆動回路２の両端電圧を検出して電磁
機器１及び駆動回路２を診断する場合の実施例である。
図１４では、通常の通電時に駆動回路２は閉状態である
ため駆動回路２の両端電圧はゼロであり、テスト信号印
加時に駆動回路２は開状態となるため駆動回路２の両端
に電圧が発生する。一方図４の実施例では、電磁機器１
に流れる電流を検出しているため、通常の通電時に電流
は流れ、テスト信号印加時に通電が遮断され電流はゼロ
となっていた。この点が図１４と図４の大きな相違点で
あり、そのための処理が異なっており図１４の診断装置
１２の構成では、比較回路出力信号８Ａに対する信号処
理方法が図４とは異なる。図４の診断装置１２と異なる
点は、先ず電圧検出回路１８により駆動回路２の両端電
圧を検出し、電圧検出信号１８Ａをホールド回路６及び
分圧回路７に入力している点である。次に電磁機器１が
交流電源１１により駆動されているので、電圧検出回路
２０により通常の通電時に交流電圧がかかっている電磁
機器１の両端電圧を検出し、電圧検出信号２０Ａを位相
検出回路１４に入力してテスト信号印加タイミングを検
出している点である。ここでは電圧検出回路２０を用い
ているが、図４の実施例で示すカレント・トランスを用
いている場合の他の実施形態を示しているだけである。
尚、電圧検出回路１８は図８に示すものと同一であり、
また電圧検出回路２０は電圧検出回路１８と同様に絶縁
アンプ１９及び抵抗Ｒ３とＲ４からなるものである。比
較回路出力信号８Ａの信号処理方法については、信号８
Ａとウインド信号11ＣとをＮＯＲ回路２２に入力し、Ｎ
ＯＲ論理をとった結果を判定回路１０に入力して、判定
回路１０により閉故障判定信号１０Ａを出力しているこ
とである。更に信号８Ａをマルチバイブレータ１６に入
力して、マルチバイブレータ１６の出力信号１６ＡをＮ
ＯＴ回路２１を介して論理反転したものを開故障判定信
号１３Ａとして出力している点である。このように信号
８Ａに対する信号処理方法の変更に伴い、ウインド信号
１１Ｃも図４の場合と異なり変更している。FIG. 14 shows an embodiment in which the electromagnetic device 1 is driven by the AC power supply 11 and the voltage across the drive circuit 2 is detected to diagnose the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2.
In FIG. 14, since the drive circuit 2 is in the closed state during normal energization, the voltage across the drive circuit 2 is zero, and when the test signal is applied, the drive circuit 2 is in the open state, so that a voltage is generated across the drive circuit 2. To do. On the other hand, in the embodiment of FIG.
Since the current flowing in the circuit was detected, the current flowed during the normal energization, and the energization was interrupted when the test signal was applied, and the current was zero. This point is a major difference between FIG. 14 and FIG. 4, and the processing therefor is different, and in the configuration of the diagnostic device 12 in FIG. 14, the signal processing method for the comparison circuit output signal 8A is different from that in FIG. 4 is different from the diagnostic device 12 in FIG. 4 in that the voltage detection circuit 18 first detects the voltage across the drive circuit 2 and inputs the voltage detection signal 18A to the hold circuit 6 and the voltage dividing circuit 7. Next, since the electromagnetic device 1 is driven by the AC power supply 11, the voltage detection circuit 20 detects the voltage across the electromagnetic device 1 to which an AC voltage is applied during normal energization, and outputs the voltage detection signal 20A to the phase detection circuit 14 This is the point at which the test signal application timing is detected by inputting to the. Although the voltage detection circuit 20 is used here, only another embodiment in which the current transformer shown in the embodiment of FIG. 4 is used is shown.
The voltage detection circuit 18 is the same as that shown in FIG.
The voltage detection circuit 20, like the voltage detection circuit 18, includes an insulation amplifier 19 and resistors R3 and R4. For the signal processing method of the comparison circuit output signal 8A, refer to Signal 8
A and the window signal 11C are input to the NOR circuit 22, and N
That is, the result of the OR logic is input to the determination circuit 10, and the determination circuit 10 outputs the closed failure determination signal 10A. Further, the signal 8A is input to the multivibrator 16, and the output signal 16A of the multivibrator 16 is changed to N
The point that the logically inverted signal is output as the open failure determination signal 13A via the OT circuit 21. As described above, the window signal 11C is also changed in accordance with the change in the signal processing method for the signal 8A, unlike the case of FIG.

【００４４】このように構成した診断装置１２の動作を
図１５，図１６，図１７を用いて説明する。The operation of the diagnostic device 12 thus configured will be described with reference to FIGS. 15, 16 and 17.

【００４５】図１５は電磁機器１及び駆動回路２が正常
である場合の動作波形図である。図１６は駆動回路２が
閉故障になった場合の動作波形図である。図１７は駆動
回路２が開故障になった場合の動作波形図である。FIG. 15 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal. FIG. 16 is an operation waveform diagram when the drive circuit 2 has a closing failure. FIG. 17 is an operation waveform diagram when the drive circuit 2 has an open failure.

【００４６】先ず、図１５を用いて電磁機器１及び駆動
回路２が正常である場合の動作について説明する。テス
ト信号印加によって不要な電磁ノイズが発生するのを防
ぐため電流がゼロのときにテスト信号４Ａを印加する
が、電流波形と電圧波形とは位相にずれがあるため、位
相検出回路１４は図１５の(ii)に示す電圧検出信号20Ａ
が＋Ｖ(ｖ)の時刻ｔ１３でトリガ信号１４Ａをテスト信
号印加回路４に出力する。このためテスト信号４Ａは図
１５の(ｉ)に示すように電圧検出信号２０Ａの電圧＋Ｖ
(ｖ)の時刻ｔ１３で出力される。テスト信号印加期間の
時刻ｔ１３からｔ１５では、駆動回路２が開状態となる
ため駆動回路２の両端には(iii）に示すように電圧が発
生する。このテスト信号印加時の電圧値を(iv)に示すホ
ールド信号１１Ａにより時刻ｔ１４からｔ１７までホー
ルドし、ホールド回路６は(ｖ)に示す信号６Ａを出力す
る。比較回路８は(vi)に示す信号７Ａと信号６Ａとを比
較し、時刻ｔ１３からｔ１７の期間は信号６Ａの電圧値
が大きいため、(vii）に示すように比較回路出力信号８
Ａは時刻ｔ１３からｔ１７の期間で論理“１”となる。
信号８Ａとウインド信号１１ＣとのＮＯＲ論理をとった
結果、ＮＯＲ回路出力信号２２Ａは(ix)に示すように論
理“０”の信号になる。信号２２Ａが論理“０”のまま
なので、(ｘ)に示すように閉故障判定信号１０Ａは論理
“０”のままである。つまり、電磁機器１及び駆動回路
２は正常であることが示される。First, the operation when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal will be described with reference to FIG. The test signal 4A is applied when the current is zero in order to prevent unnecessary electromagnetic noise from being generated by the application of the test signal. However, since the current waveform and the voltage waveform are out of phase with each other, the phase detection circuit 14 does not operate as shown in FIG. Voltage detection signal 20A shown in (ii)
Outputs a trigger signal 14A to the test signal applying circuit 4 at time t13 of + V (v). Therefore, the test signal 4A is the voltage + V of the voltage detection signal 20A as shown in (i) of FIG.
It is output at time t13 in (v). From time t13 to time t15 in the test signal application period, the drive circuit 2 is in the open state, so that a voltage is generated across the drive circuit 2 as shown in (iii). The voltage value at the time of applying the test signal is held from time t14 to t17 by the hold signal 11A shown in (iv), and the hold circuit 6 outputs the signal 6A shown in (v). The comparison circuit 8 compares the signal 7A shown in (vi) with the signal 6A. Since the voltage value of the signal 6A is large during the period from time t13 to t17, the comparison circuit output signal 8 shown in (vii) is output.
A becomes a logical "1" during the period from time t13 to t17.
As a result of taking the NOR logic of the signal 8A and the window signal 11C, the NOR circuit output signal 22A becomes a signal of logic "0" as shown in (ix). Since the signal 22A remains at logic "0", the close failure determination signal 10A remains at logic "0" as shown in (x). That is, it is shown that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal.

【００４７】次に、図１６を用いて駆動回路２が閉故障
になった場合の各部の動作について説明する。図１６の
(ｉ)に示すテスト信号４Ａを印加しても駆動回路２は閉
状態であるため駆動回路２の両端に電圧は発生せず、電
圧検出信号１８Ａは(iii）に示すように０(ｖ)で一定で
ある。テスト信号印加時の信号１８Ａの電圧値０(ｖ)を
(iv)に示すホールド信号１１Ａにより時刻ｔ１４からｔ
１７までホールドすると、信号６Ａは(ｖ)に示すように
なる。そして、信号６Ａと(vi)に示す信号７Ａとを比較
した結果、信号６Ａと信号７Ａとは電圧値が等しいため
(vii）に示すように信号８Ａは論理“０”のままであ
る。信号８Ａとウインド信号１１ＣとのＮＯＲ論理をと
ると、信号２２Ａは(ix)に示すように時刻ｔ１６からｔ
１７の期間で論理“１”となる。このため判定回路１０
から出力される閉故障判定信号１０Ａは(ｘ)に示すよう
に時刻ｔ１６以降で論理“１”となる。つまり、駆動回
路２は閉故障になったことが示される。Next, the operation of each part when the drive circuit 2 has a closing failure will be described with reference to FIG. Of FIG.
Even if the test signal 4A shown in (i) is applied, since the drive circuit 2 is in the closed state, no voltage is generated across the drive circuit 2, and the voltage detection signal 18A is 0 (v) as shown in (iii). It is constant at. The voltage value 0 (v) of the signal 18A when the test signal is applied
From the time t14 to t by the hold signal 11A shown in (iv)
When held up to 17, the signal 6A becomes as shown in (v). Then, as a result of comparing the signal 6A and the signal 7A shown in (vi), the signal 6A and the signal 7A have the same voltage value.
As shown in (vii), the signal 8A remains at logic "0". If the NOR logic of the signal 8A and the window signal 11C is taken, the signal 22A will change from time t16 to t as shown in (ix).
It becomes logical "1" in the period of 17. Therefore, the determination circuit 10
The closed-fault determination signal 10A output from the signal becomes logical "1" after time t16 as shown in (x). That is, it is indicated that the drive circuit 2 has a closed fault.

【００４８】図１７は時刻ｔ１８で駆動回路２が開故障
になった場合の動作波形図である。駆動回路２が開故障
になると信号１８Ａは(iii）に示すように時刻ｔ１８以
降で交流の信号となる。この結果、信号８Ａは(vi)に示
す波形になる。マルチバイブレータ１６は前述したよう
に予め定めた周期より短い周期でパルス信号が入力され
ると論理“０”を出力し続けるので、(vii）に示す信号
１６Ａを出力することになる。この結果、ＮＯＴ回路２
１を介して論理を反転するため開故障判定信号１３Ａは
時刻ｔ１８以降で論理“１”となる。つまり、駆動回路
２の開故障を示すことになる。FIG. 17 is an operation waveform diagram when the drive circuit 2 has an open failure at time t18. When the drive circuit 2 has an open circuit failure, the signal 18A becomes an AC signal after time t18 as shown in (iii). As a result, the signal 8A has the waveform shown in (vi). As described above, the multivibrator 16 continues to output the logic "0" when the pulse signal is input in a cycle shorter than the predetermined cycle, and thus outputs the signal 16A shown in (vii). As a result, the NOT circuit 2
Since the logic is inverted via 1, the open failure determination signal 13A becomes logic "1" after time t18. In other words, it indicates an open failure of the drive circuit 2.

【００４９】以上のように駆動回路２の両端電圧を検出
しても電磁機器１及び駆動回路２を診断することができ
る。As described above, the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 can be diagnosed by detecting the voltage across the drive circuit 2.

【００５０】図１８は電磁機器１が交流電源１１によっ
て駆動され、且つ電磁機器１の両端電圧を検出して電磁
機器１及び駆動回路２を診断する場合の実施例である。
図４と異なる点は、前述した電圧検出回路１８により電
磁機器１の両端電圧を検出している点である。また、図
１４ではテスト信号印加のタイミングを決めるために電
磁機器１の両端電圧を検出し、駆動回路２の診断をする
ために駆動回路２の両端電圧を検出していたがしかし、
本実施例では電磁機器１の電圧のみを検出することによ
り両方を実現できるようにしている。FIG. 18 shows an embodiment in which the electromagnetic device 1 is driven by the AC power supply 11 and the voltage across the electromagnetic device 1 is detected to diagnose the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2.
The difference from FIG. 4 is that the voltage across the electromagnetic device 1 is detected by the voltage detection circuit 18 described above. In FIG. 14, the voltage across the electromagnetic device 1 is detected to determine the timing of applying the test signal, and the voltage across the drive circuit 2 is detected to diagnose the drive circuit 2.
In this embodiment, both are realized by detecting only the voltage of the electromagnetic device 1.

【００５１】このように構成した診断装置１２の動作を
図１９，図２０，図２１を用いて説明する。The operation of the diagnostic device 12 thus constructed will be described with reference to FIGS. 19, 20 and 21.

【００５２】図１９は電磁機器１及び駆動回路２が正常
である場合の動作波形図である。図２０は駆動回路２が
閉故障になった場合の動作波形図である。図２１は電磁
機器１又は駆動回路２が開故障になった場合の動作波形
図である。FIG. 19 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal. FIG. 20 is an operation waveform diagram when the drive circuit 2 has a closing failure. FIG. 21 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure.

【００５３】先ず、図１９を用いて電磁機器１及び駆動
回路２が正常である場合の動作について説明する。図１
４の場合と同様に電流がゼロの時に（図１９では直接的
に図示していない）テスト信号４Ａを印加する。このた
め位相検出回路１４は図１９の(ii)に示す電圧検出信号
２０Ａが＋Ｖ(ｖ)のときにトリガ信号１４Ａを出力す
る。この結果としてテスト信号印加回路４は(ｉ)に示す
テスト信号４Ａを(ｉ)に示す時刻ｔ１３からｔ１５の期
間に出力し駆動回路２が開状態となるので、電圧検出信
号２０Ａは(ii)に示す時刻ｔ１３からｔ１５の期間で電
圧値０(ｖ)になる。ホールド回路６及び分圧回路７に入
力する信号２０Ａが(ii)に示す波形になるため、信号６
Ａ及び信号７Ａは(iv)に示すようになり、比較した結果
信号８Ａは(ｖ)に示す波形になる。この結果、(viii)に
示す閉故障判定信号１０Ａは論理“０”のままである。
つまり、電磁機器１及び駆動回路２は正常であることが
示される。First, the operation when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal will be described with reference to FIG. FIG.
As in the case of 4, the test signal 4A is applied when the current is zero (not directly shown in FIG. 19). Therefore, the phase detection circuit 14 outputs the trigger signal 14A when the voltage detection signal 20A shown in (ii) of FIG. 19 is + V (v). As a result, the test signal applying circuit 4 outputs the test signal 4A shown in (i) during the period from time t13 to t15 shown in (i), and the drive circuit 2 is opened, so that the voltage detection signal 20A becomes (ii). The voltage value becomes 0 (v) during the period from time t13 to t15 shown in FIG. Since the signal 20A input to the hold circuit 6 and the voltage dividing circuit 7 has the waveform shown in (ii), the signal 6
A and the signal 7A are as shown in (iv), and as a result of comparison, the signal 8A has a waveform as shown in (v). As a result, the closed failure determination signal 10A shown in (viii) remains the logic "0".
That is, it is shown that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal.

【００５４】次に、図２０を用いて駆動回路２が閉故障
になった場合の各部の動作について説明する。図２０の
(ｉ)に示すテスト信号４Ａを印加しても駆動回路２が閉
状態であるため電圧検出信号１８Ａは(ii)に示すような
波形になる。ホールド回路６及び分圧回路７に入力する
信号２０Ａが(ii)に示す波形であるため、信号６Ａ及び
信号７Ａは(iv)に示すようになり、比較した結果信号８
Ａは(ｖ)に示す波形になる。この結果、閉故障判定信号
１０Ａは(viii)に示すように時刻ｔ１６で論理“１”と
なる。つまり、駆動回路２は閉故障になったことが示さ
れる。Next, the operation of each part when the drive circuit 2 has a closing failure will be described with reference to FIG. Of FIG. 20
Even if the test signal 4A shown in (i) is applied, since the drive circuit 2 is in the closed state, the voltage detection signal 18A has a waveform as shown in (ii). Since the signal 20A input to the hold circuit 6 and the voltage dividing circuit 7 has the waveform shown in (ii), the signal 6A and the signal 7A become as shown in (iv).
A has a waveform shown in (v). As a result, the closing failure determination signal 10A becomes a logic "1" at time t16 as shown in (viii). That is, it is indicated that the drive circuit 2 has a closed fault.

【００５５】図２１は時刻ｔ１８で電磁機器１又は駆動
回路２が開故障になった場合の動作波形図であり、図４
の場合と同様に信号１８Ａは(ii)に示すように時刻ｔ１
８以降で電圧値が０(ｖ)になる。この波形は図７と同一
であり、また図１８と図４の構成が同一である。このた
め動作波形は図７と同様になり、図２１の時刻ｔ１８以
降で開故障判定信号１３Ａは論理“１”となる。つま
り、電磁機器１又は駆動回路２が開故障になったことが
示される。FIG. 21 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure at time t18.
Similarly to the case of the signal 18A, the signal 18A is time t1 as shown in (ii).
After 8 the voltage value becomes 0 (v). This waveform is the same as that of FIG. 7, and the configurations of FIG. 18 and FIG. 4 are the same. Therefore, the operation waveform becomes the same as that in FIG. 7, and the open failure determination signal 13A becomes the logic “1” after the time t18 in FIG. That is, it is indicated that the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure.

【００５６】以上のように電磁機器１の両端電圧を検出
しても電磁機器１及び駆動回路２を診断することができ
る。As described above, the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 can be diagnosed by detecting the voltage across the electromagnetic device 1.

【００５７】これまでに説明してきた実施例では、電磁
機器１が動作しない時間幅のテスト信号４Ａを駆動回路
２に印加したときの電流又は電圧を検出してホールド
し、このホールドしたテスト信号印加時の値と通常の通
電時の値とを比較し、比較の結果に基づき電磁機器１及
び駆動回路２の正常／異常を診断していた。In the embodiments described so far, the current or voltage when the test signal 4A having a time width during which the electromagnetic equipment 1 does not operate is applied to the drive circuit 2 is detected and held, and the held test signal is applied. The value at time and the value at normal energization were compared, and the normality / abnormality of the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 was diagnosed based on the result of the comparison.

【００５８】図２２，図２５に示す実施例では、テスト
信号印加時の電流をホールドするのではなく、通常の通
電時の電流を検出してホールドし、このホールドした値
とテスト信号印加時の値とを比較し、比較の結果に基づ
き電磁機器１及び駆動回路２の正常／異常を診断するも
のである。In the embodiments shown in FIGS. 22 and 25, the current when the test signal is applied is not held, but the current during normal energization is detected and held, and the held value and the test signal applied The values are compared and the normality / abnormality of the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 is diagnosed based on the comparison result.

【００５９】先ず、図２２の実施例を説明する。図２２
は電磁機器１が直流電源３によって駆動され、且つ電磁
機器１に流れる電流を検出してこの電流検出信号５Ａを
もとに電磁機器１及び駆動回路２を診断する場合の実施
例である。図２２では、通常の通電時の電流の検出信号
をホールドした値とテスト信号印加時の検出信号の値と
を比較するために、電流検出信号５Ａに対する信号処理
方法が図１と異なる。図１の診断装置１２と異なる点
は、電流検出信号５Ａをホールド回路６と比較回路８に
入力している点である。上記信号５Ａの信号処理方法の
変更に伴い、ホールド信号１１Ａ，ウインド信号１１
Ｃ，マスク信号１１Ｂも図１の場合と異なり出力タイミ
ング等を変更している。尚、図２２では、信号５Ａをホ
ールド回路６を介して分圧回路７に入力しているが、逆
に分圧回路７を介してホールド回路６に入力する構成と
しても、比較回路８に入力される信号は同一であるの
で、どちらの構成であってもよい。First, the embodiment shown in FIG. 22 will be described. FIG.
Is an embodiment in which the electromagnetic device 1 is driven by the DC power supply 3 and the current flowing through the electromagnetic device 1 is detected to diagnose the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 based on the current detection signal 5A. In FIG. 22, the signal processing method for the current detection signal 5A is different from that of FIG. 1 in order to compare the value obtained by holding the detection signal of the current during normal energization with the value of the detection signal when applying the test signal. The difference from the diagnostic device 12 of FIG. 1 is that the current detection signal 5A is input to the hold circuit 6 and the comparison circuit 8. Due to the change of the signal processing method of the signal 5A, the hold signal 11A and the window signal 11
Unlike the case of FIG. 1, the output timing of C and the mask signal 11B is also changed. In FIG. 22, the signal 5A is input to the voltage dividing circuit 7 via the holding circuit 6, but conversely, it may be input to the holding circuit 6 via the voltage dividing circuit 7 and input to the comparison circuit 8. Since the signals applied are the same, either configuration may be used.

【００６０】このような構成の診断装置１２を図２３と
図２４を用いて説明する。The diagnostic device 12 having such a configuration will be described with reference to FIGS. 23 and 24.

【００６１】図２３(ａ)は電磁機器１及び駆動回路２が
正常である場合の動作波形図であり、図２３(ｂ)は駆動
回路２が閉故障になった場合の動作波形を示す図であ
る。図２４は電磁機器１又は駆動回路２が開故障になっ
た場合の動作波形図である。FIG. 23 (a) is an operation waveform diagram when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal, and FIG. 23 (b) is a diagram showing an operation waveform when the drive circuit 2 has a closing failure. Is. FIG. 24 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure.

【００６２】先ず、電磁機器１及び駆動回路２が正常で
ある場合は、図２３(ａ)の(ｉ)に示すテスト信号４Ａを
駆動回路２に印加すると駆動回路２は開状態となるた
め、電流検出信号５Ａは（ii）に示すようになる。通常
の通電時の信号５Ａの値をホールドするために、ホール
ド信号１１Ａは(iii)に示す時刻ｔ０で論理“１"から
“０”となり、信号５Ａの値をラッチし、時刻ｔ３まで
ホールドし続ける。尚、信号５Ａの値をラッチする時刻
ｔ０は、テスト信号４Ａを印加する時刻ｔ１以前であ
り、且つ前回のテスト信号印加後以降であればよい。こ
のためホールド回路出力信号６Ａは(iv)に示すような波
形となり、この信号６Ａを分圧回路７に介した信号７Ａ
は(ｖ)に示す波形となる。比較回路８で信号５Ａと信号
７Ａとを比較した結果、信号８Ａは(vi)に示す波形にな
る。信号５Ａに対する信号処理方法を上述のよう変更し
ているので、ウインド信号１１Ｃ及びマスク信号１１Ｂ
をそれぞれ(vii）及び(viii)に示すようにしている。通
常の通電時のホールドした電流検出信号５Ａとテスト信
号印加時の電流検出信号５Ａとを比較するため、ウイン
ド信号１１Ｃは(vii）に示す時刻ｔ１から時刻ｔ３の期
間で論理“１”となるようにしている。ＡＮＤ回路９が
信号８Ａと信号１１Ｃとの論理積をとることにより、Ａ
ＮＤ回路出力信号９Ａは(ix)に示すように論理“０”の
信号になる。信号９Ａが論理“０”のままであるため、
(ｘ)に示すように閉故障判定信号１０Ａは論理“０”の
ままである。また、ＮＯＲ回路１３により信号８Ａと信
号１１ＢのＮＯＲ論理がとられるため信号１３Ａは(xi)
のように常に論理“０”である。つまり、電磁機器１及
び駆動回路２は正常であることが示される。First, when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal, when the test signal 4A shown in (i) of FIG. 23 (a) is applied to the drive circuit 2, the drive circuit 2 is opened. The current detection signal 5A is as shown in (ii). In order to hold the value of the signal 5A during normal energization, the hold signal 11A changes from logic "1" to "0" at time t0 shown in (iii), latches the value of the signal 5A, and holds it until time t3. to continue. The time t0 at which the value of the signal 5A is latched may be before the time t1 at which the test signal 4A is applied and after the last test signal is applied. Therefore, the hold circuit output signal 6A has a waveform as shown in (iv), and this signal 6A is passed through the voltage dividing circuit 7 to the signal 7A.
Has the waveform shown in (v). As a result of comparing the signal 5A and the signal 7A in the comparison circuit 8, the signal 8A has a waveform shown in (vi). Since the signal processing method for the signal 5A is changed as described above, the window signal 11C and the mask signal 11B
Are shown in (vii) and (viii), respectively. In order to compare the held current detection signal 5A during normal energization with the current detection signal 5A during test signal application, the window signal 11C becomes logic "1" during the period from time t1 to time t3 shown in (vii). I am trying. By ANDing the AND circuit 9 with the signal 8A and the signal 11C, A
The ND circuit output signal 9A becomes a signal of logic "0" as shown in (ix). Since the signal 9A remains the logic "0",
As shown in (x), the closing failure determination signal 10A remains at the logic "0". Further, since the NOR circuit 13 takes the NOR logic of the signal 8A and the signal 11B, the signal 13A becomes (xi)
Is always a logical "0". That is, it is shown that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal.

【００６３】次に、図２３(ｂ)は駆動回路２が閉故障に
なった場合の動作波形図であり、(ｉ)に示すテスト信号
４Ａを印加しても駆動回路２は閉状態であるため、電流
検出信号５Ａは(ii)に示すようになる。信号５Ａと信号
７Ａを比較した結果、(vi)に示すように信号８Ａは論理
“１”のままである。信号８Ａと信号１１ＣとのＡＮＤ
論理をとると、信号９Ａは(ix)に示す波形になり、この
ため判定回路１０から出力される閉故障判定信号１０Ａ
は(ｘ)に示すように時刻ｔ５以降で論理“１”となる。
つまり、駆動回路２は閉故障になったことが示される。Next, FIG. 23 (b) is an operation waveform diagram in the case where the drive circuit 2 has a closing failure, and the drive circuit 2 is in the closed state even if the test signal 4A shown in (i) is applied. Therefore, the current detection signal 5A becomes as shown in (ii). As a result of comparing the signal 5A and the signal 7A, the signal 8A remains the logic "1" as shown in (vi). AND of signal 8A and signal 11C
When the logic is taken, the signal 9A has the waveform shown in (ix), and therefore the closing failure determination signal 10A output from the determination circuit 10 is generated.
Becomes a logical "1" after time t5 as shown in (x).
That is, it is indicated that the drive circuit 2 has a closed fault.

【００６４】図２４は時刻ｔ７で電磁機器１又は駆動回
路２が開故障になった場合の動作波形図である。開故障
か否かの診断は図４の実施例で説明したように電流検出
信号５Ａを監視することによってできるため、(ｉ)に示
すようにテスト信号４Ａは印加せず論理“１”のままで
ある。電磁機器１又は駆動回路２が時刻ｔ７で開故障に
なると信号５Ａは(ii)に示す波形となる。テスト信号４
Ａを印加していないためホールド信号１１Ａは常に論理
“１”であり、このため信号６Ａは(iv)に示す波形とな
り、信号７Ａは(ｖ)に示す波形となる。信号５Ａと信号
７Ａとを比較した結果、信号８Ａは(vi)に示すように時
刻ｔ７以降で論理“０”となる。マスク信号１１Ｂはテ
スト信号４Ａが印加されていないため(vii）に示すよう
に常に論理“０”である。従って、ＮＯＲ回路１３で信
号８Ａと信号１１ＢとのＮＯＲ論理をとることにより、
開故障判定信号１３Ａは時刻ｔ７で論理“１”となる。
つまり、電磁機器１又は駆動回路２の開故障を示すこと
になる。FIG. 24 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure at time t7. Since the diagnosis of the open failure can be made by monitoring the current detection signal 5A as described in the embodiment of FIG. 4, the test signal 4A is not applied and the logic "1" remains as shown in (i). Is. When the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure at time t7, the signal 5A has a waveform shown in (ii). Test signal 4
Since A is not applied, the hold signal 11A is always logic "1", so that the signal 6A has the waveform shown in (iv) and the signal 7A has the waveform shown in (v). As a result of comparing the signal 5A and the signal 7A, the signal 8A becomes a logic "0" after the time t7 as shown in (vi). The mask signal 11B is always logic "0" as shown in (vii) because the test signal 4A is not applied. Therefore, by taking the NOR logic of the signal 8A and the signal 11B in the NOR circuit 13,
The open failure determination signal 13A becomes a logic "1" at time t7.
That is, it indicates an open failure of the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2.

【００６５】以上のように、通常の通電時の電流を検出
してホールドし、このホールドした値とテスト信号印加
時の値とを比較し、比較の結果に基づき電磁機器１及び
駆動回路２を診断することができる。As described above, the current during normal energization is detected and held, the held value is compared with the value when the test signal is applied, and the electromagnetic equipment 1 and the drive circuit 2 are based on the comparison result. Can be diagnosed.

【００６６】次に、図２５の実施例を説明する。図２５
は電磁機器１が交流電源１１によって駆動され、且つ電
磁機器１に流れる電流を検出して電磁機器１及び駆動回
路２を診断する場合の実施例である。図２５では、通常
の通電時の電流をホールドした電流検出信号５Ａとテス
ト信号印加時の電流検出信号５Ａとを比較するために電
流検出信号５Ａに対する信号処理方法が図４と異なる。
信号５Ａは交流波形であるため、テスト信号印加タイミ
ングと同一位相のタイミングで且つテスト信号印加前の
通常の通電時の電流検出信号５Ａをラッチして、テスト
信号４Ａが印加されるまでホールドし続けるために、ホ
ールド信号１１Ａは図４とは異なるタイミングの信号と
している。図４の診断装置１２と異なる点は、電流検出
信号５Ａをホールド回路６と比較回路８及び位相検出回
路１４に入力している点である。これに伴い、ホールド
信号１１Ａの他にウインド信号１１Ｃ及びマスク信号11
Ｂも図４の場合と出力タイミング等が異なる。Next, the embodiment shown in FIG. 25 will be described. Figure 25
Is an embodiment in which the electromagnetic device 1 is driven by the AC power supply 11 and the current flowing through the electromagnetic device 1 is detected to diagnose the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2. In FIG. 25, the signal processing method for the current detection signal 5A is different from that of FIG. 4 in order to compare the current detection signal 5A that holds the current during normal energization with the current detection signal 5A when the test signal is applied.
Since the signal 5A has an AC waveform, the current detection signal 5A during normal energization before the test signal application is latched at the timing of the same phase as the test signal application timing, and is held until the test signal 4A is applied. Therefore, the hold signal 11A has a timing different from that in FIG. The difference from the diagnostic device 12 of FIG. 4 is that the current detection signal 5A is input to the hold circuit 6, the comparison circuit 8 and the phase detection circuit 14. Accordingly, in addition to the hold signal 11A, the window signal 11C and the mask signal 11
B also has different output timing and the like from the case of FIG.

【００６７】図２６は、電磁機器１及び駆動回路２が正
常である場合の動作波形を示す図であり、図２７は駆動
回路２が閉故障になった場合の動作波形を示す図であ
る。FIG. 26 is a diagram showing operation waveforms when the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal, and FIG. 27 is a diagram showing operation waveforms when the drive circuit 2 has a closing failure.

【００６８】図２６で通常の通電時の信号５Ａをラッチ
してホールドするために、ホールド信号１１Ａは(iii）
に示す時刻ｔ１９で論理“１”から“０”となるように
している。通常の通電時にホールドした電流検出信号５
Ａとテスト信号印加時の電流検出信号５Ａとを比較する
ため、ホールド信号１１Ａは(iii）に示す時刻ｔ２１ま
で論理“０”としている。これによりホールド回路６は
時刻ｔ１９で信号５Ａの値をラッチして、この値を時刻
ｔ２１までホールドし続ける。このため信号６Ａを分圧
した信号７Ａは(ii)に示す波形となる。電磁機器１及び
駆動回路２が正常であるのでテスト信号印加により駆動
回路２は開状態となり、信号５Ａは(ii)に示す時刻ｔ２
０からｔ２１の期間で０(ｖ)になる。従って、比較回路
８の入力信号である信号５Ａ及び信号７Ａは(ii)に示す
ような波形になる。比較回路８は信号５Ａの値が信号７
Ａの値より大きければ論理“１”の信号を出力し、それ
以外は論理“０”の信号を出力する。比較回路８で信号
５Ａと信号７Ａとを比較することにより、信号８Ａは(i
v)に示す波形になる。このため(vii）に示す閉故障判定
信号１０Ａは論理“０”のままである。つまり、電磁機
器１及び駆動回路２は正常であることが示される。In FIG. 26, in order to latch and hold the signal 5A during normal energization, the hold signal 11A is (iii)
At the time t19 shown in, the logic is changed from "1" to "0". Current detection signal 5 held during normal energization
In order to compare A with the current detection signal 5A when the test signal is applied, the hold signal 11A is kept at logic "0" until time t21 shown in (iii). As a result, the hold circuit 6 latches the value of the signal 5A at time t19 and continues to hold this value until time t21. Therefore, the signal 7A obtained by dividing the signal 6A has the waveform shown in (ii). Since the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal, the drive circuit 2 is opened by applying the test signal, and the signal 5A indicates the time t2 shown in (ii).
It becomes 0 (v) in the period from 0 to t21. Therefore, the signals 5A and 7A which are the input signals of the comparison circuit 8 have the waveforms shown in (ii). In the comparison circuit 8, the value of the signal 5A is the signal 7
If it is larger than the value of A, a signal of logic "1" is output, and otherwise, a signal of logic "0" is output. By comparing the signal 5A and the signal 7A in the comparison circuit 8, the signal 8A becomes (i
It becomes the waveform shown in v). Therefore, the closed failure determination signal 10A shown in (vii) remains the logic "0". That is, it is shown that the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are normal.

【００６９】図２７では、上記図２６の場合と同様に通
常の通電時の信号５Ａの値をホールドする。但しテスト
信号４Ａを印加しても駆動回路２が閉故障であるため、
比較回路８の入力信号である信号５Ａ及び信号７Ａは(i
i)に示すような波形になる。信号５Ａと信号７Ａとを比
較した結果、信号８Ａは(iv)に示す波形になる。このた
め(vii）に示す閉故障判定信号１０Ａは時刻ｔ２０′で
論理“１”となる。つまり、駆動回路２は閉故障になっ
たことが示される。In FIG. 27, as in the case of FIG. 26, the value of the signal 5A during normal energization is held. However, even if the test signal 4A is applied, since the drive circuit 2 has a closed fault,
The signals 5A and 7A which are the input signals of the comparison circuit 8 are (i
The waveform is as shown in i). As a result of comparing the signal 5A and the signal 7A, the signal 8A has the waveform shown in (iv). Therefore, the closed failure determination signal 10A shown in (vii) becomes a logic "1" at time t20 '. That is, it is indicated that the drive circuit 2 has a closed fault.

【００７０】電磁機器１又は駆動回路２が開故障になっ
た場合の動作は、図４の場合と同様にして電流検出信号
５Ａを監視することにより診断できる。動作波形は図７
に示す波形と同一になるので図示していない。但し図７
の(iii）に示す信号６Ａが、ここでは信号５Ａに対応す
る。The operation when the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 has an open failure can be diagnosed by monitoring the current detection signal 5A as in the case of FIG. Figure 7 shows the operating waveform
The waveform is the same as that shown in FIG. However, FIG.
The signal 6A shown in (iii) corresponds to the signal 5A here.

【００７１】以上のように、電磁機器１が交流電源１１
によって駆動されている場合でも、通常の通電時の電流
を検出してホールドし、このホールドした値とテスト信
号印加時の値とを比較し、比較の結果に基づき電磁機器
１及び駆動回路２を診断することができる。As described above, the electromagnetic device 1 uses the AC power source 11
Even when driven by, the current during normal energization is detected and held, the held value is compared with the value when the test signal is applied, and the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 are compared based on the comparison result. Can be diagnosed.

【００７２】図２２及び図２５では、通常の通電時の電
流を検出して、検出した電流検出信号５Ａをホールド
し、このホールドした信号とテスト信号印加時の電流検
出信号５Ａとを比較し、比較の結果に基づき電磁機器１
及び駆動回路２を診断する場合であった。電磁機器１に
流れる電流を検出する代わりに、駆動回路２の両端電圧
や電磁機器１の両端電圧を検出し、通常時の検出信号を
ホールドし、ホールドした検出信号とテスト信号印加時
の検出信号とを比較して、電磁機器１及び駆動回路２を
診断することが可能である。具体的には、図８，図１
１，図１４，図１８で、図２２や図２５のようにホール
ド回路６を分圧回路７の前段に設置し、電圧検出信号１
８Ａをこのホールド回路６に入力すると共に比較回路８
に入力するように構成すればよい。この変更に伴い、ホ
ールド信号１１Ａ，マスク信号１１Ｂ，ウインド信号１
１Ｃの出力タイミング等も図８，図１１，図１４，図１
８の場合とは異なるが、図２２及び図２５の場合と同様
な考え方で変更すればよい。In FIG. 22 and FIG. 25, the current during normal energization is detected, the detected current detection signal 5A is held, and the held signal is compared with the current detection signal 5A when the test signal is applied. Electromagnetic device 1 based on the result of comparison
And the case of diagnosing the drive circuit 2. Instead of detecting the current flowing through the electromagnetic device 1, the voltage across the drive circuit 2 or the voltage across the electromagnetic device 1 is detected, and the detection signal during normal operation is held, and the held detection signal and the detection signal during test signal application It is possible to diagnose the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 by comparing with. Specifically, FIG. 8 and FIG.
1, FIG. 14 and FIG. 18, the hold circuit 6 is installed in front of the voltage dividing circuit 7 as shown in FIG. 22 and FIG.
8A is input to the hold circuit 6 and the comparison circuit 8
It may be configured to input to. With this change, the hold signal 11A, the mask signal 11B, and the window signal 1
The output timing of 1C is also shown in FIGS. 8, 11, 14, and 1.
Although it is different from the case of FIG. 8, it may be changed in the same way as the case of FIGS. 22 and 25.

【００７３】以上のように電磁機器１又は駆動回路２の
電圧を検出する場合でも、通常の通電時の電圧を検出し
て検出信号をホールドし、ホールドした検出信号とテス
ト信号印加時の検出信号とを比較し、比較の結果に基づ
き電磁機器１及び駆動回路２を診断することが可能であ
る。Even when the voltage of the electromagnetic device 1 or the drive circuit 2 is detected as described above, the detection signal is held by detecting the voltage during normal energization, and the held detection signal and the detection signal when the test signal is applied It is possible to make a diagnosis of the electromagnetic device 1 and the drive circuit 2 based on the result of the comparison.

【００７４】[0074]

【発明の効果】本発明は、電磁機器に電磁機器が動作し
ない時間幅のテスト信号を印加し、テスト信号印加時の
電磁機器あるいは駆動回路に流れる電流又は電圧をホー
ルド手段によりホールドし、ホールドした電流又は電圧
とテスト信号を印加していない時の電流又は電圧とを比
較する。これに基づいて電磁機器及び駆動回路の正常／
異常を判断するため電磁機器の電流波形又は電圧波形そ
のものや、電磁機器の経年変化等による電流変化や電圧
変化に影響を受けることなく電磁機器及びその駆動回路
を診断することができる。また、電磁機器あるいは駆動
回路の通常時の電流又は電圧をホールド手段によりホー
ルドし、ホールドした電流又は電圧とテスト信号印加時
の電流又は電圧とを比較する場合でも、電磁機器の経年
変化等による電流変化や電圧変化に影響を受けることな
く電磁機器及びその駆動回路を診断することができる。According to the present invention, a test signal having a time width during which the electromagnetic device does not operate is applied to the electromagnetic device, and the current or voltage flowing through the electromagnetic device or the drive circuit when the test signal is applied is held by the holding means and held. The current or voltage is compared with the current or voltage when the test signal is not applied. Based on this, the normality of electromagnetic equipment and drive circuit /
The electromagnetic device and its drive circuit can be diagnosed without being affected by the current waveform or the voltage waveform itself of the electromagnetic device or the current change or the voltage change due to the secular change of the electromagnetic device in order to judge the abnormality. Even when the current or voltage during normal operation of the electromagnetic equipment or drive circuit is held by the hold means and the held current or voltage is compared with the current or voltage when the test signal is applied, the current due to aging of the electromagnetic equipment, etc. The electromagnetic device and its drive circuit can be diagnosed without being affected by changes and voltage changes.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図１】本発明の実施例を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図２】図１における正常時及び駆動回路閉故障時の動
作波形図。FIG. 2 is an operation waveform diagram in a normal state and a drive circuit closing fault in FIG.

【図３】図１における電磁機器又は駆動回路の開故障時
の動作波形図。FIG. 3 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device or the drive circuit in FIG. 1 has an open failure.

【図４】本発明の他の実施例を示すブロック図。FIG. 4 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

【図５】図４における正常時の動作波形図。FIG. 5 is an operation waveform diagram in a normal state in FIG.

【図６】図４における駆動回路閉故障時の動作波形図。FIG. 6 is an operation waveform diagram when the drive circuit in FIG. 4 has a failure.

【図７】図４における電磁機器又は駆動回路の開故障時
の動作波形図。7 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device or the drive circuit in FIG. 4 has an open failure.

【図８】本発明の他の実施例を示すブロック図。FIG. 8 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

【図９】図８における正常時及び駆動回路閉故障時の動
作波形図。9 is an operation waveform diagram in a normal state and a drive circuit closing failure in FIG. 8;

【図１０】図８における駆動回路開故障時の動作波形
図。10 is an operation waveform diagram when the drive circuit in FIG. 8 has an open failure.

【図１１】本発明の他の実施例を示すブロック図。FIG. 11 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

【図１２】図１１における正常時及び駆動回路閉故障時
の動作波形図。FIG. 12 is an operation waveform diagram in a normal state and a drive circuit closing failure in FIG. 11.

【図１３】図１１における電磁機器又は駆動回路の開故
障時の動作波形図。13 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device or the drive circuit in FIG. 11 has an open failure.

【図１４】本発明の他の実施例を示すブロック図。FIG. 14 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

【図１５】図１４における正常時の動作波形図。15 is an operation waveform diagram in a normal state in FIG.

【図１６】図１４における駆動回路閉故障時の動作波形
図。16 is an operation waveform diagram when the drive circuit is closed in FIG.

【図１７】図１４における駆動回路開故障時の動作波形
図。17 is an operation waveform diagram when the drive circuit in FIG. 14 has an open failure.

【図１８】本発明の他の実施例を示すブロック図。FIG. 18 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

【図１９】図１８における正常時の動作波形図。FIG. 19 is an operation waveform diagram in a normal state in FIG. 18.

【図２０】図１８における駆動回路閉故障時の動作波形
図。20 is an operation waveform diagram at the time of a drive circuit closing failure in FIG.

【図２１】図１８における電磁機器又は駆動回路の開故
障時の動作波形図。FIG. 21 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device or the drive circuit in FIG. 18 has an open failure.

【図２２】本発明の他の実施例を示すブロック図。FIG. 22 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

【図２３】図２２における正常時及び駆動回路閉故障時
の動作波形図。23 is an operation waveform diagram in a normal state and a drive circuit closing failure in FIG. 22.

【図２４】図２２における電磁機器又は駆動回路の開故
障時の動作波形図。24 is an operation waveform diagram when the electromagnetic device or the drive circuit in FIG. 22 has an open failure.

【図２５】本発明の他の実施例を示すブロック図。FIG. 25 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.

【図２６】図２５における正常時の動作波形図。FIG. 26 is an operation waveform diagram in a normal state in FIG. 25.

【図２７】図２５における駆動回路閉故障時の動作波形
図。27 is an operation waveform diagram at the time of a drive circuit closing failure in FIG. 25.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１…電磁機器、２…駆動回路、３…直流電源、４…テス
ト信号印加回路、４Ａ…テスト信号、５…抵抗、５Ａ…
電流検出信号、６…ホールド回路、６Ａ…ホールド回路
出力信号、７…分圧回路、７Ａ…分圧回路出力信号、８
…比較回路、８Ａ…比較回路出力信号、９…ＡＮＤ回
路、９Ａ…ＡＮＤ回路出力信号、１０…判定回路、１０
Ａ…閉故障判定信号、１１…ホールド信号作成回路、１
１Ａ…ホールド信号、１１Ｂ…マスク信号、１１Ｃ…ウ
インド信号、１２…診断装置、１３，２２…ＮＯＲ回
路、１３Ａ…開故障判定信号。1 ... Electromagnetic equipment, 2 ... Drive circuit, 3 ... DC power supply, 4 ... Test signal application circuit, 4A ... Test signal, 5 ... Resistance, 5A ...
Current detection signal, 6 ... Hold circuit, 6A ... Hold circuit output signal, 7 ... Voltage dividing circuit, 7A ... Voltage dividing circuit output signal, 8
... comparison circuit, 8A ... comparison circuit output signal, 9 ... AND circuit, 9A ... AND circuit output signal, 10 ... determination circuit, 10
A ... Closed failure determination signal, 11 ... Hold signal generation circuit, 1
1A ... Hold signal, 11B ... Mask signal, 11C ... Window signal, 12 ... Diagnostic device, 13, 22 ... NOR circuit, 13A ... Open fault judgment signal.

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】電磁機器に通電して前記電磁機器を通電状
態とし、前記電磁機器が動作しない時間幅のテスト信号
を前記電磁機器に印加したときの電流を検出してホール
ドし、ホールドした電流と通電状態の前記電磁機器に流
れる電流との大小を比較し、前記比較の結果により前記
電磁機器の正常／異常を判断することを特徴とする電磁
機器のオンライン診断方法。1. An electromagnetic device is energized to bring the electromagnetic device into an energized state, a current when a test signal having a time width during which the electromagnetic device is not operated is applied to the electromagnetic device is detected and held, and the held current is held. And a current flowing through the electromagnetic device in the energized state are compared with each other, and whether the electromagnetic device is normal or abnormal is determined based on the result of the comparison. 【請求項２】通電状態の電磁機器に流れる電流を検出し
てホールドし、ホールドした電流と前記電磁機器が動作
しない時間幅のテスト信号を前記電磁機器に印加したと
きの電流との大小を比較し、前記比較の結果により前記
電磁機器の正常／異常を判断する電磁機器のオンライン
診断方法。2. A current flowing through an electromagnetic device in the energized state is detected and held, and the held current is compared with the current when a test signal having a time width during which the electromagnetic device does not operate is applied to the electromagnetic device. Then, an online diagnostic method for an electromagnetic device, which determines whether the electromagnetic device is normal or abnormal based on the result of the comparison. 【請求項３】請求項１または請求項２において、テスト
信号の印加と電流の検出は、電磁機器の駆動回路に対し
て行う電磁機器のオンライン診断方法。3. An online diagnostic method for an electromagnetic device according to claim 1 or 2, wherein the application of the test signal and the detection of the current are performed on a drive circuit of the electromagnetic device. 【請求項４】電磁機器に通電して前記電磁機器を通電状
態とし、前記電磁機器が動作しない時間幅のテスト信号
を前記電磁機器に印加したときの前記電磁機器の両端電
圧を検出してホールドし、ホールドした電圧と通電状態
の前記電磁機器の両端電圧との大小を比較し、前記比較
の結果により前記電磁機器の正常／異常を判断する電磁
機器のオンライン診断方法。4. An electromagnetic device is energized to bring the electromagnetic device into an energized state, and a voltage across the electromagnetic device is detected and held when a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate is applied to the electromagnetic device. Then, an online diagnostic method for an electromagnetic device is performed, in which the held voltage is compared with the voltage across the electromagnetic device in the energized state, and whether the electromagnetic device is normal or abnormal is determined based on the result of the comparison. 【請求項５】通電状態の電磁機器の両端電圧を検出して
ホールドし、ホールドした電圧と前記電磁機器が動作し
ない時間幅のテスト信号を前記電磁機器に印加したとき
の前記電磁機器の両端電圧との大小を比較し、前記比較
の結果により前記電磁機器の正常／異常を判断すること
を特徴とする電磁機器のオンライン診断方法。5. The voltage across the electromagnetic device when the voltage across the electromagnetic device in the energized state is detected and held, and the held voltage and a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate are applied to the electromagnetic device. And the normality / abnormality of the electromagnetic device is determined based on the result of the comparison. 【請求項６】電磁機器及び前記電磁機器の通電をオン，
オフ制御する駆動回路を通電状態とし、前記電磁機器が
動作しない時間幅のテスト信号を前記駆動回路に印加し
たときの前記駆動回路の両端電圧を検出してホールド
し、ホールドした電圧と通電状態の前記駆動回路の両端
電圧との大小を比較し、前記比較の結果により前記電磁
機器の正常／異常を判断することを特徴とする電磁機器
のオンライン診断方法。6. An electromagnetic device and the energization of the electromagnetic device are turned on,
The drive circuit to be turned off is energized, and the voltage across the drive circuit when a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate is applied to the drive circuit is detected and held. An online diagnostic method for an electromagnetic device, comprising comparing the voltage between both ends of the drive circuit and judging whether the electromagnetic device is normal or abnormal based on a result of the comparison. 【請求項７】電磁機器及び前記電磁機器の通電をオン，
オフ制御する駆動回路を通電状態とし、通電状態の前記
駆動回路の両端電圧を検出してホールドし、ホールドし
た電圧と前記電磁機器が動作しない時間幅のテスト信号
を前記駆動回路に印加したときの前記駆動回路の両端電
圧との大小を比較し、前記比較の結果により前記電磁機
器の正常／異常を判断することを特徴とする電磁機器の
オンライン診断方法。7. An electromagnetic device and the energization of the electromagnetic device are turned on,
When the drive circuit to be turned off is energized, the voltage across the drive circuit in the energized state is detected and held, and the held voltage and a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate are applied to the drive circuit. An online diagnostic method for an electromagnetic device, comprising comparing the voltage between both ends of the drive circuit and judging whether the electromagnetic device is normal or abnormal based on a result of the comparison. 【請求項８】通電状態の電磁機器に流れる電流を検出す
る電流検出手段，前記電磁機器が動作しない時間幅のテ
スト信号を前記電磁機器に印加するテスト信号印加手段
と、前記テスト信号が印加されたときの前記電流検出手
段の出力をホールドするホールド手段，前記ホールド手
段の出力信号と前記電流検出手段の出力信号との大小を
比較する比較手段と、前記比較手段の結果により前記電
磁機器の正常／異常を判断する判定手段とを備えること
を特徴とする電磁機器のオンライン診断装置。8. A current detecting means for detecting a current flowing through an electromagnetic device in an energized state, a test signal applying means for applying to the electromagnetic device a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate, and the test signal is applied. Hold means for holding the output of the current detecting means, a comparing means for comparing the output signal of the holding means and the output signal of the current detecting means, and a result of the comparing means for normalizing the electromagnetic equipment. / An online diagnostic device for electromagnetic equipment, comprising: a determination unit for determining an abnormality. 【請求項９】通電状態の電磁機器に流れる電流を検出す
る電流検出手段と、前記電流検出手段の検出した電流を
ホールドするホールド手段，前記電磁機器が動作しない
時間幅のテスト信号を前記電磁機器に印加するテスト信
号印加手段，前記テスト信号印加手段によりテスト信号
が印加されたときの前記電流検出手段の出力信号と前記
ホールド手段の出力信号との大小を比較する比較手段
と、前記比較手段の結果により前記電磁機器の正常／異
常を判断する判定手段とを備えることを特徴とする電磁
機器のオンライン診断装置。9. A current detecting means for detecting a current flowing through an electromagnetic device in an energized state, a holding means for holding a current detected by the current detecting means, and a test signal for a time width during which the electromagnetic device does not operate. Of the output signal of the current detecting means and the output signal of the holding means when the test signal is applied by the test signal applying means, and the comparing means of the comparing means. An online diagnostic device for an electromagnetic device, comprising: a determination unit that determines whether the electromagnetic device is normal or abnormal based on a result. 【請求項１０】通電状態の電磁機器の両端電圧を検出す
る電圧検出手段，前記電磁機器が動作しない時間幅のテ
スト信号を印加するテスト信号印加手段と、前記テスト
信号が印加されたときの前記電圧検出手段の出力をホー
ルドするホールド手段，前記ホールド手段の出力信号と
前記電圧検出手段の出力信号との大小を比較する比較手
段と、前記比較手段の結果により前記電磁機器の正常／
異常を判断する判定手段とを備えることを特徴とする電
磁機器のオンライン診断装置。10. A voltage detecting means for detecting a voltage across an electromagnetic device in an energized state, a test signal applying means for applying a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate, and the test signal when the test signal is applied. Hold means for holding the output of the voltage detecting means, comparing means for comparing the magnitude of the output signal of the holding means and the output signal of the voltage detecting means, and the normal / normal state of the electromagnetic equipment depending on the result of the comparing means.
An online diagnostic apparatus for an electromagnetic device, comprising: a determination unit that determines an abnormality. 【請求項１１】通電状態の電磁機器の両端電圧を検出す
る電圧検出手段と、前記電圧検出手段の検出した電圧を
ホールドするホールド手段，前記電磁機器が動作しない
時間幅のテスト信号を前記電磁機器に印加するテスト信
号印加手段，前記テスト信号印加手段によりテスト信号
が印加されたときの前記電圧検出手段の出力信号と前記
ホールド手段の出力信号との大小を比較する比較手段
と、前記比較の結果により前記電磁機器の正常／異常を
判断する判定手段とを備えることを特徴とする電磁機器
のオンライン診断装置。11. A voltage detection means for detecting a voltage across an electromagnetic device in an energized state, a holding means for holding a voltage detected by the voltage detection means, and a test signal for a time width during which the electromagnetic device does not operate, the electromagnetic device. A test signal applying means for applying to the test signal, comparing means for comparing the output signal of the voltage detecting means and the output signal of the holding means when a test signal is applied by the test signal applying means, and a result of the comparison. An online diagnostic device for an electromagnetic device, comprising: a determining unit that determines whether the electromagnetic device is normal or abnormal. 【請求項１２】電磁機器の通電をオン，オフ制御する駆
動回路の両端電圧を検出する電圧検出手段，前記電磁機
器が動作しない時間幅のテスト信号を前記駆動回路に印
加するテスト信号印加手段と、前記テスト信号が印加さ
れたときの前記電圧検出手段の出力をホールドするホー
ルド手段，前記ホールド手段の出力信号と前記電圧検出
手段の出力信号との大小を比較する比較手段と、前記比
較手段の結果により前記電磁機器の正常／異常を判断す
る判定手段とを備えることを特徴とする電磁機器のオン
ライン診断装置。12. A voltage detecting means for detecting a voltage across a drive circuit for controlling on / off of energization of an electromagnetic device, a test signal applying means for applying a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate to the drive circuit. Holding means for holding the output of the voltage detecting means when the test signal is applied, comparing means for comparing the output signal of the holding means and the output signal of the voltage detecting means, and the comparing means. An online diagnostic device for an electromagnetic device, comprising: a determination unit that determines whether the electromagnetic device is normal or abnormal based on a result. 【請求項１３】電磁機器の通電をオン，オフ制御する駆
動回路の両端電圧を検出する電圧検出手段と、前記電圧
検出手段の検出した電圧をホールドするホールド手段，
前記電磁機器が動作しない時間幅のテスト信号を前記駆
動回路に印加するテスト信号印加手段，前記テスト信号
印加手段によりテスト信号が印加されたときの前記電圧
検出手段の出力信号と前記ホールド手段の出力信号との
大小を比較する比較手段と、前記比較手段の結果により
前記電磁機器の正常／異常を判断する判定手段とを備え
ることを特徴とする電磁機器のオンライン診断装置。13. A voltage detecting means for detecting a voltage across a drive circuit for controlling on / off of energization of an electromagnetic device, and a holding means for holding a voltage detected by the voltage detecting means,
Test signal applying means for applying a test signal of a time width in which the electromagnetic equipment does not operate to the drive circuit, an output signal of the voltage detecting means and an output of the holding means when the test signal is applied by the test signal applying means An online diagnostic apparatus for electromagnetic equipment, comprising: comparing means for comparing the magnitude with a signal; and determining means for judging normality / abnormality of the electromagnetic equipment based on the result of the comparing means. 【請求項１４】請求項８，請求項９，請求項１０，請求
項１１，請求項１２または請求項１３において、前記電
磁機器は交流電源によって通電され、テスト信号印加手
段は前記交流電源の電圧又は電流に同期して、予め定め
た位相でテスト信号を印加する手段を備える電磁機器の
オンライン診断装置。14. In claim 8, claim 9, claim 10, claim 11, claim 12, or claim 13, the electromagnetic equipment is energized by an AC power supply, and the test signal applying means is a voltage of the AC power supply. Alternatively, an online diagnostic device for an electromagnetic device, which includes means for applying a test signal in a predetermined phase in synchronization with a current.
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