JPH095210A

JPH095210A - ツリー型およびスター型カプラーの特性評価装置

Info

Publication number: JPH095210A
Application number: JP15324195A
Authority: JP
Inventors: Toshio Sakane; 敏夫坂根
Original assignee: Sumitomo Osaka Cement Co Ltd
Current assignee: Sumitomo Osaka Cement Co Ltd
Priority date: 1995-06-20
Filing date: 1995-06-20
Publication date: 1997-01-10

Abstract

(57)【要約】【目的】ツリー型又はスター型カプラーの特性測定評
価を、自動的に、かつ低コストで実施できる装置の提
供。【構成】光源１と測定対象物（ツリー型又はスター型
カプラー）５とをＳＭＦ２で連結し、ＳＭＦ上に分岐カ
プラー３と反射戻り光分岐カプラー４を設け、対象物５
を透過した光を分岐導波するＮ個のファイバ６の端末お
よび前記カプラー３，４の導波ファイバ端末を、光スイ
ッチ８により個別に光検出器７に連結し、光検出器７
に、光検出器により検出されたデータから、測定対象物
の特性を算出評価する手段が連結されているツリー型お
よびスター型カプラーの特性評価装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバーあるいは
光導波路を用いたツリー型カプラーおよびスター型カプ
ラーの特性評価装置に関するものである。このようなツ
リー型およびスター型カプラーは光分配システムにおい
て不可欠の構成要素である。

【０００２】

【従来の技術】光通信システムに於て、中でも端末数が
飛躍的に多い加入者システムにおいて、光を分配するた
めのツリー型カプラー（１×Ｎカプラー）あるいはスタ
ー型カプラー（２×Ｎ、・・Ｎ×Ｎカプラー）の重要性
は非常に高い。ツリー型カプラーは１入力を、互に等し
いＮ出力に分割するものであり、またスター型カプラー
は、Ｍチャンネル（Ｍ＝２〜Ｎ）からのそれぞれの入力
を、互に等しいＮ出力に分割するものである。さらに逆
方向入力に対しても同様な分配過程をへて入力端（ツリ
ー型では１チャンネル、スター型ではＭチャンネル）に
伝達されるものである。このようなツリー型およびスタ
ー型カプラーは、光分配系では欠かせない部品であり、
大量に使用される部品でもある。

【０００３】さて、光加入者システムは現在研究開発中
であり、実用化の機会を伺っている段階である。実用化
が躊躇されている要因は、布線に係わる費用と効果との
バランスの問題であるが、現段階では費用に対する効果
が小さいと見られている。すなわち、光加入者システム
で使用される部品は極力コストを下げる必要がある。

【０００４】ところで、ツリー型およびスター型カプラ
ーは、ファイバーの１点融着方式あるいは光導波路方式
で作られている。ファイバー１点融着方式は、ファイバ
ーを撚り、その１点を融着するものであり、コスト要因
は材料費、加工費、評価費である。これは、１品宛の少
数生産で行われるため、歩留りも悪いことから加工費
が、またチャンネル数が増すと共に、その評価費用がコ
スト増大の主要因となる。光導波路方式では、導波路は
ガラス、又はポリマー導波路により大量に廉価に作製出
来る。しかし、導波路と入出力ファイバーとの結合に要
する調整費用、さらにはファイバー融着方式と同様にチ
ャンネル数の増加と共に特性評価費用がコスト増大の主
要因となる。

【０００５】実用的に使用されるであろうツリ型カプラ
ー数は１×１６個、またスター型カプラーの数は２×３
２個であり、このような多チャンネルの特性を実験室レ
ベルの装置でチャンネル毎に評価するには費用が掛りす
ぎるという問題点がある。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】カプラーの評価項目の
例として、入力端から出力端への透過損失であるチャン
ネル毎の挿入損（以下ＩＬ）、入力端から入った光が反
射して入力端に戻ることに起因する反射損失（以下Ｒ
Ｌ）、入出力ポートを逆転させてのチャンネル毎のＩＬ
およびＲＬ、および多チャンネル出力ポートの１つから
入力した時の他の出力ポートへのクロストーク出力（以
下方向性）などであり、これらは、仕様範囲の１つの波
長あるいは多数の波長について、さらには偏光状態を変
えて測定評価する必要がある。この様にカプラーの評価
のために、多数の光量を測定する必要があり、コスト・
ダウンのためには測定の自動化が必要である。

【０００７】カプラーの評価装置として、浜松ホトニク
ス社から製品番号Ｃ５５６１−０１が市販されている。
これの利用範囲は１×８ツリー型カプラーまで拡張可能
で、ＩＬおよび分光評価も可能である。しかし、分光評
価はツリー型およびスター型カプラーの生産ラインで
は、必ずしも必要ではない。また、この測定装置は必要
評価項目であるＲＬ測定機能を備えていない。そこで生
産ラインで必要とされる評価項目を、高速に計測処理す
る自動化装置の出現が強く望まれている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明のツリー型および
スター型カプラーの特性評価装置は、光源１、前記光源
１と測定対象物５とを連結し、前記光源１から出射され
た光を前記測定対象物５に導波するシングルモードファ
イバ２と、前記シングルモードファイバ２上に設けら
れ、前記光源１から出射された光の一部を参考光として
分岐させる第１カプラー３と、前記シングルモードファ
イバ２の、前記第１カプラー３の下流部に設けられ、前
記対象物５からの反射戻り光を、前記シングルモードフ
ァイバ２から分岐させる第２カプラー４と、前記対象物
５を透過した光を導波するＮ個のファイバーからなるフ
ァイバー群６と、前記第１および第２カプラー３，４と
前記ファイバー群６を通る光量を検出する光検出器７
と、前記第１カプラー３、および第２カプラー４、並び
に前記ファイバー群６の各ファイバの端末を、個別に前
記光検出計７に連結する光スイッチ８と、前記第１カプ
ラー３、第２カプラー４およびファイバー群６から導波
され、光検出計７により検出されたデータに基いて、カ
プラーの性能を評価する手段と、を有するものである。

【０００９】本発明の装置において、前記光源１が、互
に波長帯の異なる光を出射する２つの発光手段９，１０
と、前記発光手段９，１０より出力された光を、前記シ
ングルモードファイバ２に導波する波長結合カプラー４
１とを有し、前記発光手段９，１０はそれぞれ、その出
力波長を２種以上に変化させ得るものであることが好ま
しい。

【００１０】また、本発明装置において、前記発光手段
９，１０の各々が、順次に連結されたラミポール偏光子
１１付きファイバコリメータ１２、半波長板１３、およ
びファイバコリメータ１４、並びに前記半波長板１３を
駆動する手段１５を有する偏光制御手段４０を介して、
前記波長結合カプラー４１に連結されていることが好ま
しい。

【００１１】本発明の装置において、前記第１カプラー
３および第２カプラー４が、それぞれ、波長無依存型カ
プラーであることが好ましい。

【００１２】さらに本発明のツリー型およびスター型カ
プラーの特性検出装置において、前記ファイバー群６の
各ファイバーは、前記測定対象５に直接連結されている
出力ファイバー２９に連結され、各ファイバに連結する
出力ファイバ２９のモードフィールド径より大きなコア
径を有するマルチモードファイバであることが好まし
い。

【００１３】さらに本発明のツリー型およびスター型カ
プラーの特性検出装置において、前記光スイッチ８が、
前記第１カプラーにより分岐された光導波路の端末１６
と、第２カプラーにより分岐された光導波路の端末１７
と、前記ファイバー群６の各々の導波端末１８とを、円
周１９上に、等間隔をおいて配置固定した端末配置板２
０、前記端末配置板２０から離間し、これに対向して配
置され、中心回転軸４４のまわりに回転することがで
き、かつ前記端末１６，１７，１８の１つから出射され
る光を透過させる１つの開口部２２を有する回転円盤２
１と、この回転円盤の前記開口部に対向し、その内側に
取り付けられ、前記導波端末から出射される光を平行光
にするコリメータレンズ２３と、前記回転円盤２１と前
記光検出器７との間に配置され、前記コリメータレンズ
２３から出射される平行光を集光してスポット光として
前記光検出器７に入射する集光レンズ２４と、前記回転
円盤２１を回転駆動する回転駆動手段２５と、前記光検
出器に侵入する迷光を阻止する遮光手段とを有するもの
であることが好ましい。

【００１４】

【作用】本発明装置は、ツリー型およびスター型カプラ
ーの特性評価に要する費用を低減し、そのコストダウン
を可能にするものである。

【００１５】下記に本発明装置の実施態様を説明する。
図１は、本発明装置の一実施態様の構成を説明するため
のブロック図である。図１において光源１と、測定対象
物５とはシングルモードファイバ２（以下ＳＭＦ２と記
す）により光学的に連結されており、このＳＭＦ２によ
り形成される導光路には、光源１が出射する光の一部を
参考光（ＲＥＦ）として採取するための第１カプラー３
が配置され、ＳＭＦ２から光源１の出射光の１０％程度
をＲＥＦとして分岐する。また、第１カプラー３の下流
部には第２カプラー４が設けられ、これは測定対象物５
からの反射戻り光を、ＳＭＦ２から分岐する。

【００１６】ＳＭＦ２は、光コネクター２６から出力さ
れ、この出射光は、それに対向する光コネクター２７を
介して、測定対象物５の入力ファイバ２８に入力され
る。測定対象物５の一例として、図１には１×４導波路
を有するツリー型カプラーが示されている。この場合、
入力ファイバ２８に入力された入力光は、ツリー型カプ
ラー５により４分岐され、出力ファイバ２９を経てそれ
ぞれ出光用コネクター３０−Ｏ₁，３０−Ｏ₂，３０−
Ｏ₃，３０−Ｏ₄より出力される。これら入出力ファイ
バ２８および２９は通常ＳＭＦである。

【００１７】前記出光用コネクター３０に対向して、４
個（一般にＮ＝１〜３２個）の受光コネクター３１−Ｏ
_1p，３１−Ｏ_2p，３１−Ｏ_3p，３１−Ｏ_4pが設けられ前
記出光用コネクター３０−Ｏ₁〜Ｏ₄に接続される。受
光コネクター３１−Ｏ_1p〜Ｏ _4pを通る透過光が、コネク
ターの結合状態に依存しないような最も安定した結合を
形成するためには、受光コネクターに結合される光ファ
イバ６は、出力ファイバー２９のモードフィールド径
（ＭＦＤ）よりも大きなコア径を有するマルチモールド
ファイバ（ＭＭＦ）であることが好ましい。

【００１８】ファイバ６の導波端末１８、第１カプラー
３からの導波端末１６、および第２カプラー１７からの
導波端末１７から出力される光は個別に光スイッチ８に
より選択出力され光検出器７に導かれる。

【００１９】上記導波端末１６，１７，１８からの受光
量データを、光検出器７から演算処理手段３２に入力し
て演算し、その結果すなわち測定対象物５（ツリー型又
はスター型カプラー）の特性評価データを表示手段３３
に表示し、また、それを記録又は伝達手段３４により記
録し、又は他の装置（例えばコンピューター）に伝送す
る。

【００２０】図１において、制御手段３５はそのプログ
ラムに基づき、又は演算処理手段の演算結果に基づき、
光スイッチ８のスイッチ切替えのシーケンスを制御し、
また光源１の主波長切替え、可変波長の制御、および偏
光方向の制御などを行うものである。さらに、制御手段
３５は検出のＳ／Ｎ比を増すために、光源の低周波強度
変調、および光検出の位相検波制御なども行う。

【００２１】図１の装置による１つの波長、１つの偏光
方向におけるツリー型カプラー５（測定対象）の測定項
目、測定手順を説明する。図１に示されているように各
構成要素を順方向接続する。第１カプラー３から分岐さ
れ、導波端末１６から出力される参考光の光量をＰ_ref
で示し、スイッチ８を、制御手段３５からの指令により
切り替えたとき、第２カプラー４から分岐され、導波端
末１７から出力される光量をＰ_retで示し、さらにスイ
ッチ８を切り替えたとき、ファイバー６の導波端末１８
から出力される光量をＯ_1d，Ｏ_2d，Ｏ_3d，Ｏ_4dで表す。
これらのデータから、演算処理手段３２において、順方
向のＩＬ（挿入損失）（ＩＬ_1n＝Ｏ_1d／Ｐ_ref，Ｉ
Ｌ_2n，ＩＬ_3n、およびＩＬ_4n）および順方向のＲＬ（反
射損失）（ＲＬ_n＝Ｐ_ret／Ｐ_ref）を算出する。

【００２２】次に、逆方向の特性を求めるために、コネ
クター３０−Ｏ₁を、コネクター２６のＩ_pに接続し、
コネクター２７のＩを、測定入力端子コネクター３０−
Ｏ_1pに接続する。導波端末１７からの光量Ｐ_retからＲ
Ｌ値（ＲＬ_1r）を求め、導波端末１８の端末３０−Ｏ₁
から光量Ｏ_1dからＩＬ（ＩＬ_1r＝Ｏ_1d／Ｐ_ref）を求
め、残余の端末３０−Ｏ₂〜Ｏ₄からの光量から方向性
Ｄ_1n（Ｄ₁₂＝Ｏ_2d／Ｐ_re _f，Ｄ₁₃＝Ｏ_3d／Ｐ_ref，Ｄ₁₄
＝Ｏ_4d／Ｐ_ref）を求める、同様に、接続を変更して測
定対象物の残余の分岐路の各々における逆方向特性を求
め、データ群を得る。

【００２３】測定データのまとめ方には限定はなく、例
えば挿入損失ＩＬは、ＩＬ_Nn，ＩＬ _Nrからの最小値とし
て求め、挿入損失の分布（平坦度）は、両値のバラツキ
として求め、反射戻り光の反射損失ＲＬは、ＲＬ_n，Ｒ
Ｌ_nrからの最大値として求め、さらに、方向性Ｄ値を、
Ｄ_nnの最大値として求める。但し上記の実施例において
は、カプラー３および４の分岐比、コネクターの結合効
率などによる補正は無視されており、またＩＬ，ＲＬ、
およびＤは比として定義されており、ｄｂではない。

【００２４】所望の波長について、上記手段の操作を繰
り返えして所望のデータを得る。また測定対象物５の偏
光依存性についても、同様の測定を行えばよいが、この
ときの手順は下記のようにする。まず、図１の結合にお
いて後述する偏光制御手段によりＯ_1dが最大となる偏光
状態（Ｐ）とする。この偏光状態Ｐにおいて、上記の一
連の順方向測定を行い、次に偏光状態を９０度回転させ
て、同様の測定を行う。この両測定値の差違が偏光依存
性ＰＤ値である。逆方向測定を行うときは、接続を変更
する度に、上記偏光状態の調整を行う。

【００２５】本発明の測定装置の構成要素について下記
に説明する。まず光源１について説明する。通信用カプ
ラーに於ては、１．３μｍ帯と１．５５μｍ帯との特性
評価が必要である。また各波長帯に於て、例えばコーニ
ング社製１×１６ＳＭＦカプラーでは１２６９−１３
６０nm、１４３０−１５５０nmの範囲で数値保証がなさ
れている。このため全波長に於て測定するのが最良では
あるが、これは生産ラインにおいては必ずしも必要では
なく、例えば中心波長のみ、あるいは中心波長と、両端
の２波長との計３波長の測定で充分である。また、光源
出力は干渉効果等の測定に悪影響をもたらす要素を持た
ないことが望ましい。上記の理由から光源１は図２に示
す様な、ファブリペロー半導体レーザ３６に波長可変フ
ィルター３７を帰還ループ３８中に含み、帰還ループか
ら一定量以上の光量をレーザにもどすもの、所謂外部複
合ミラーレーザを使用する。

【００２６】前記レーザ３６のスペクトルは外部共振器
長で決まる狭い間隔の多モードであり、幅はフィルター
透過幅で規制される干渉性の低い、巨視的には単一波長
とみなせるスペクトルとなる。さらに、波長はフィルタ
ーの傾きで可変出来る。１．５５μｍおよび１．３μｍ
を中心波長とするレーザからなる発光手段９，１０を有
し、制御手段３５からの指令に応じて、いずれかの一方
を動作させる。両レーザ発光手段９，１０からの出力は
ファイバー３９を通り、ＷＤＭカプラー４１において合
波されＳＭＦ２を介して出力される。

【００２７】光源として、ＳＬＤ（スーパー・ルミネッ
セント・ダイオード）からの出力を可変フィルターで使
用波長を切出す手段を用いることも可能である。しか
し、この場合、切出された波長の出力強度はｕＷオーダ
となり、５０dB以上であるＲＬ測定光量が−８０dBm と
なり、光量測定にとって困難な状態となる。これに対し
て光ＡＭＰで増幅すればよいが、高価であり、コスト低
減の目的に反する。また、ＤＦＢレーザは、スペクトル
幅が狭すぎて、測定対象内部における反射等により干渉
が生じ、測定値が不安定となる。また、これは高価であ
り、波長可変範囲が狭いという欠点がある。

【００２８】図１に示されているように、発光手段９，
１０の出力ファイバと、ＷＤＭ４１との間に偏光制御手
段４０をそれぞれに設けてもよい。図３によりこの偏光
制御手段４０を説明する。図３において、ファイバー３
９端にラミポール偏光子１１を貼り付けて直線偏光とし
（レーザの偏光状態は変らないため、最大出力になる様
に偏光方向を合わせる。このようにすると一般に消光比
の良い安定した直線偏光となる）これをレンズ１２で平
行ビームとする。平行ビームは半波長板１３を経た後、
レンズ１４で集光されＳＭＦ２に導波される。制御手段
３５からの指令を受けて、半波長板１３を駆動手段１５
により光軸廻りに回転させる。このようにして上記指令
に応じた偏光方向が得られる。

【００２９】次に、第１カプラー３、および第２カプラ
ー４について説明する。第１カプラー３、および第２カ
プラー４は、ファイバー・カプラーであって、その使用
されない１つの端子は無反射終端となっている。これら
のカプラーの波長依存性に関して、波長１．３μｍおよ
び１．５５μｍにおいて特性の変らないＷＩＣカプラー
を用いる。分岐比は第１カプラー３では１０％程度をＳ
ＭＦ２から分岐出力させ、導波端末１６からの参照光と
して出力する。また第２カプラー４では、５０：５０程
度の分岐比で測定対象５からＳＭＦ２への反射戻り光を
分岐し、端末１７からＲＥＴ光として出力する。これら
両カプラーは偏光依存性の少ないカプラーである必要が
ある。

【００３０】次に、光スイッチ８について説明する。図
４は光スイッチ８の断面図を示している。Ｎチャンネル
（Ｎは３２）分のファイバー６の出力端１８と、前記Ｒ
ＥＦ端１６およびＲＥＴ端１７における計（Ｎ＋２）個
のそれぞれのファイバー端末をフェルール４２により補
強し、端末配置板２０に設けた円周１９（図１）上に等
間隔にあけた（Ｎ＋２）個の透孔２０ａに、端末１６，
１７，１８が同一表面上にあるようにフェルール４２を
固定配置する。板２０の中心には透孔が設けられ、この
透孔には軸受け４３が装着され、それを回転軸４４が通
っている。この端末配置板２０から離間し、これに対向
して回転円盤２１が配置されている。この回転円盤２１
の中心には、端末配置板２０の軸受け４３により支持さ
れている回転軸４４が取りつけられ、この回転軸４４に
よりその回りに回転できる。

【００３１】回転円盤２１には、端末配置板２０の端末
１６，１７，１８が位置している円周１９と同心の円周
上の、前記端末１６，１７、および１８の１つから出射
される光を透過させる位置に設けられた一個の開口部２
２を有し、この開口部２２と、端末配置板２０との間に
レンズ２３が配置され、このレンズ２３は回転円盤２１
に固定されている。回転軸４４の端末配置板２０の外側
に突き出た部分は、適宜の回転駆動手段（例えば、歯
車、ベルトなどを介して取りつけられたパルスモータな
ど、図示されていない）に連結され、回転駆動される。
一般に制御手段３５からの指令により、回転円盤２１を
回転して、レンズ２３および開口部２２を端末配置板２
０上に位置している端末１６，１７、又は１８の一つに
対向する位置に置き、当該端末からの光出力を個別に選
択受光する。選択されていない端末からの出力光は円盤
２１によりブロック（遮光）され、これらの出力光は光
検出器７に伝達されることはない。すなわち端末配置板
２０と、回転円盤２１は光スイッチ１８として機能す
る。

【００３２】回転円盤２１のレンズ２３は、端末１６，
１７、又は１８からの出力光を平行光束に変換し、開口
部２２を透過させる。この透過光束は、大口径レンズ２
４の周辺部に入射し、レンズ２４の焦点に位置している
光検出器７に集光される。大口径レンズ２４は、遮光筒
２５に取り付けられており、光検出器７は、遮光筒２５
の底を形成する遮光板５１上に配置されている。

【００３３】図１において、導波端末１８とコネクター
３１との間のＭＭＦ（マルチモードファイバ）６は、例
えば１．３μｍ用のＧＩ５０（ＮＡ：０．２）を用い、
レンズ２３の焦点距離は、例えば２mmとすると、平行光
ビーム径は約１mmであるから開口部２２の径は約２mmで
あり、また端末配置板２０の円周１９上の透孔２０ａの
ピッチを５mm、Ｎ＝３２とすると、円周１９の直径は５
５mm程度、大口径レンズ２４の有効径は６０mm程度とな
り、さらにレンズ２４の焦点距離を約１００mmとする
と、光検出器７上の光スポットの径は５０μｍ、入射角
は１２度となる。

【００３４】光検出器７としては、波長感度のすぐれた
ＩｎＧａＡｓＰＩＮホトダイオードを用いることが好ま
しく、その受光面の径は１mm程度であればよい。これら
の数値は、実用上ほゞ妥当な値である。端末配置板２０
から光検出器７までの空間は比較的大きく、迷光の影響
を受けやすい。このため、この空間を遮光筒２５，２５
ａおよび遮光板５１により遮光の迷光の侵入を防止す
る。

【００３５】図４においては、導光端末１６，１７，１
８を同心円周上に配置した例が示されているが、これら
を、図５（ａ）および（ｂ）に示されているように、端
末配置板２０の同心二重円周１９，４７上に配置しても
よい。すなわち、迷光の影響を強く受ける反射戻り光導
波端末１７を、小直径円周４７上に配置し、他の端末１
６，１８を大直径円周１９上に配置し、大直径円周１９
と小直径円周４７との中間に、遮光円筒５０を設ける。
このようにすれば、端末１６，１８からの迷光が端末１
７の光量測定時に侵入することを防止することができ
る。

【００３６】上記の場合、図５（ｂ）（回転円盤２１、
端末配置板２０を大口径レンズ２４（図４）側、すなわ
ち図面右側から見た説明図）に示されているように回転
円盤２１には大直径円周１９上に端末１６，１９に対向
する開口部２２と、レンズ２３が配置され、円心小直径
円周４７上に端末１７に対向する開口部４９とレンズ４
８が配置される。レンズ４８および開口部４９並びにレ
ンズ２４（図５には図示されていない）は、端末１７か
ら出力される戻り光（ＲＥＴ光）に対して図４に示され
たレンズ２３、開口部２２およびレンズ２４と同様に作
用し、戻り光を光検出器７（図示されていない）に入射
することができる。しかし、戻り光量測定中に、開口部
２２を通って迷光が侵入する可能性がある場合には、図
５（ｂ）に示されているように、遮光板５２を、当該開
口部２２に対向するように、回転円盤２１と大口径レン
ズ２４との間に配置する。

【００３７】図６には光スイッチ８の他の態様が示され
ている。図６においてファイバ端末１６，１７，１８
を、固定台５７上に一直線上に配置してその端面が１平
面上にあるようにし、この端末端面に沿って移動可能な
可動台５４上にコリメータレンズ５４を配置し、可動台
５４を所定位置に移動し、所定端末からの出力光を、コ
リメータレンズ５４で受光してこれを平行光束として、
ミラー５５に出射し、このミラー５５により平行光束を
所定角度（直角）に反射し、これを固定台５７上のレン
ズ５３により集光し、これを光検出器により受光する。
可動台５４はコリメータレンズ５４を、所望の端末から
の出力光を受光する位置に移動する。

【００３８】また、光スイッチ８の他の態様において、
結合させる両方のファイバ端末を、電磁ソレノイドなど
の手段により移動させ、それを、フィバー／ファイバ結
合させるものであってもよい。

【００３９】図１〜６において、ツリー型カプラー（１
×Ｎ）を測定対象とする場合について説明したが、この
測定手段をスター型カプラー（Ｎ×Ｎ（Ｎ≧２））にも
適用できる。すなわち、この場合、入力チャンネル毎
に、上記測定操作を繰り返えせばよい。

【００４０】

【発明の効果】本発明装置により、ツリー型およびスタ
ー型カプラーの特性評価を、自動的に行うことが可能に
なり、特性評価に要するコストを低減することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明のツリー型およびスター型カプラ
ー特性評価装置の一例の構成を示すブロック説明図。

【図２】図２は本発明装置に用いられる光源の一例の構
成を示す説明図。

【図３】図３は、本発明装置の光源に用いられる偏光制
御装置の一例の構成を示す説明図。

【図４】図４は本発明装置に用いられる光スイッチの一
例の構成を示す断面説明図。

【図５】図５（ａ）は本発明装置に用いられる光スイッ
チ４の他の例の構成を示す断面説明図、図５（ｂ）は、
上記光スイッチの平面説明図。

【図６】図６は、本発明装置に用いられる光スイッチの
更に他の例の構成を示す平面説明図。

【符号の説明】

１…光源２…ＳＭＦ３…第１カプラー４…第２カプラー５…測定対象物６…ＭＭＦ７…光検出器８…光スイッチ９，１０…発光手段１１…ラミポール偏光子１２…レンズ１３…半波長板１４…レンズ１５…半波長板駆動手段１６，１７，１８…導波端末１９…円周２０…端末配置板２０ａ…透孔２１…回転円盤２２…開口部２３…レンズ２４…大口径レンズ２５，２５ａ…遮光筒２６，２７…コネクター２８，２９…ファイバ３０，３１…コネクター３２…演算処理手段３３…表示手段３４…記録・転送手段３５…制御手段３６…ファブリペロー半導体レーザダイオード３７…波長可変フィルタ３８…帰還ループ３９…ファイバ４０…偏光制御手段４１…波長結合カプラー４２…フェルール４３…軸受け４４…回転軸４７…小直径円周４８…レンズ４９…開口部５０…遮光円筒５１，５２…遮光板５３…集光レンズ５４…可動台５５…ミラー５６…コリメータレンズ５７…固定台

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源１、前記光源１と測定対象物５とを連結し、前記光源１から
出射された光を前記測定対象物５に導波するシングルモ
ードファイバ２と、前記シングルモードファイバ２上に設けられ、前記光源
１から出射された光の一部を参考光として分岐させる第
１カプラー３と、前記シングルモードファイバ２の、前記第１カプラー３
の下流部に設けられ、前記対象物５からの反射戻り光を、前記シングルモード
ファイバ２から分岐させる第２カプラー４と、前記対象物５を透過した光を導波するＮ個のファイバー
からなるファイバー群６と、前記第１および第２カプラー３，４と前記ファイバ群ー
６を通る光量を検出する光検出器７と、前記第１カプラー３、および第２カプラー４、並びに前
記ファイバー群６の各ファイバの端末を、個別に前記光
検出計７に連結する光スイッチ８と、前記第１カプラー
３、第２カプラー４およびファイバー群６から導波さ
れ、光検出計７により検出されたデータに基いて、前記
測定対象物の物性を評価する手段と、を有する、ツリー
型およびスター型カプラーの特性評価装置。
【請求項２】前記光源１が、互に波長帯の異なる光を
出射する２つの発光手段９，１０と、前記発光手段９，
１０より出力された光を、前記シングルモードファイバ
２に導波する波長結合カプラー４１とを有し、前記発光
手段９，１０はそれぞれ、その出力波長を２種以上に変
化させ得る、請求項１に記載の装置。
【請求項３】前記発光手段９，１０の各々が、順次に
連結されたラミポール偏光子１１付きファイバコリメー
タ１２、半波長板１３、およびファイバコリメータ１
４、並びに前記半波長板１３を駆動する手段１５を有す
る偏光制御手段４０を介して、前記波長結合カプラー４
１に連結されている、請求項２に記載の装置。
【請求項４】前記第１カプラー３および第２カプラー
４が、それぞれ、波長無依存型カプラーである、請求項
１に記載の装置。
【請求項５】前記ファイバー群６の各ファイバーは、
前記測定対象５に直接連結されている出力ファイバ２９
に連結され、各ファイバに連結する出力ファイバ２９の
モードフィールド径より大きなコア径を有するマルチモ
ードファイバである、請求項１に記載の装置。
【請求項６】前記光スイッチ８が、前記第１カプラー
により分岐された光導波路の端末１６と、第２カプラー
により分岐された光導波路の端末１７と、前記ファイバ
ー群６の各々の導波端末１８とを、円周１９上に等間隔
をおいて配置固定した端末配置板２０、前記端末配置板
２０から離間し、これに対向して配置され、中心回転軸
４４のまわりに回転することができ、かつ前記端末１
６，１７，１８の１つから出射される光を透過する１つ
の開口部２２を有する回転円盤２１と、この回転円盤の
前記開口部に対向し、その内側に取り付けられ、前記導
波端末から出射される光を平行光にするコリメータレン
ズ２３と、前記回転円盤２１と前記光検出器７との間に
配置され、前記コリメータレンズ２３から出射される平
行光を集光し、スポットとして前記光検出器７に入射す
る集光レンズ２４と、前記回転円盤２１を回転駆動する
回転駆動手段と、前記光検出器に侵入する迷光を阻止す
る遮光手段とを有する、請求項１に記載の装置。