JPH09318486A - Testing device of light attenuator - Google Patents
Testing device of light attenuatorInfo
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- JPH09318486A JPH09318486A JP13925896A JP13925896A JPH09318486A JP H09318486 A JPH09318486 A JP H09318486A JP 13925896 A JP13925896 A JP 13925896A JP 13925896 A JP13925896 A JP 13925896A JP H09318486 A JPH09318486 A JP H09318486A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、光信号の強度を
制御する光減衰器の特性の内、光可変減衰器の直線性を
検査する光減衰器の検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical attenuator inspection device for inspecting the linearity of an optical variable attenuator among the characteristics of an optical attenuator that controls the intensity of an optical signal.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図４は、従来の光可変減衰器の直線性検
査装置の構成を示すブロック図である。図４において５
０は光源部であり、連続光を出力する発光素子５２と、
これを駆動する発光素子駆動回路５１とから構成されて
いる。この光源部５０には、駆動電圧源５３から電力が
供給される。2. Description of the Related Art FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional linearity inspection device for an optical variable attenuator. 5 in FIG.
Reference numeral 0 is a light source unit, and a light emitting element 52 that outputs continuous light,
It is composed of a light emitting element drive circuit 51 for driving this. Electric power is supplied to the light source unit 50 from a driving voltage source 53.
【０００３】光源部５０が出射する光電力ＰO1の連続光
は、光ファイバ６０-1によって調整用光可変減衰器６１
に入射される。調整用光可変減衰器６１は、光電力ＰO1
の連続光を所定量減衰させて、光電力ＰO2の連続光を出
射する。The continuous light of the optical power P O1 emitted from the light source section 50 is adjusted by the optical fiber 60 -1 by the variable optical attenuator 61 for adjustment.
Is incident on. The optical variable attenuator 61 for adjustment uses the optical power P O1.
The continuous light of is attenuated by a predetermined amount, and the continuous light of the optical power P O2 is emitted.
【０００４】調整用光可変減衰器６１から出射される光
電力ＰO2の連続光は、光ファイバ６０-2によって検査対
象たる光可変減衰器６２に入射され、光可変減衰器６２
は光電力ＰO3の連続光を出射する。The continuous light of the optical power P O2 emitted from the adjusting optical variable attenuator 61 is incident on the optical variable attenuator 62 to be inspected by the optical fiber 60 -2 , and the optical variable attenuator 62 is inspected.
Emits continuous light of optical power P O3 .
【０００５】７０は基準光パワーメータであり、受光素
子７１と、この受光素子７１が出力する信号を増幅する
増幅回路７２とから構成されている。この基準光パワー
メータ７０は、光可変減衰器６２から光ファイバ６０-3
を介して受光素子７１に入射する連続光の光電力
（ＰO3）を測定して、その測定値Ｐ E3を出力する。Reference numeral 70 denotes a reference light power meter, which is a light receiving element.
The signal output from the child 71 and the light receiving element 71 is amplified.
It is composed of an amplifier circuit 72. This reference light power
The meter 70 includes the variable optical attenuator 62 to the optical fiber 60.-3
Optical power of continuous light incident on the light receiving element 71 via
(PO3) Is measured and the measured value P E3Is output.
【０００６】ここで、光源部５０が出射する連続光の光
電力ＰO1が０ｄＢｍ、検査対象たる光可変減衰器６２の
減衰量可変幅が０〜３０ｄＢ、基準光パワーメータ７０
の０ｄＢｍ〜−５０ｄＢｍまでの直線性が、±０.０２ｄ
Ｂの場合について以下に述べる。Here, the optical power P O1 of the continuous light emitted from the light source unit 50 is 0 dBm, the attenuation variable width of the optical variable attenuator 62 to be inspected is 0 to 30 dB, and the reference optical power meter 70.
The linearity from 0 dBm to -50 dBm is ± 0.02 d.
The case of B will be described below.
【０００７】光源部５０が出射する連続光は、調整用光
可変減衰器６１、および検査対象たる光可変減衰器６２
を通過して基準光パワーメータ７０に入射する。このと
き、検査対象たる光可変減衰器６２の減衰量は０ｄＢに
設定しておく。この状態で、基準光パワーメータ７０の
測定値が−１０ｄＢｍを示すように、調整用光可変減衰
器６１を調整する。The continuous light emitted from the light source unit 50 is an optical variable attenuator 61 for adjustment and an optical variable attenuator 62 to be inspected.
And then enters the reference light power meter 70. At this time, the attenuation amount of the variable optical attenuator 62 to be inspected is set to 0 dB. In this state, the variable optical attenuator 61 for adjustment is adjusted so that the measurement value of the reference optical power meter 70 indicates −10 dBm.
【０００８】次に、検査対象たる光可変減衰器６２の減
衰量を３０ｄＢまで徐々に増加させ、その出射光の光電
力ＰO3を基準光パワーメータ７０によって測定する。こ
こで、基準光パワーメータ７０の測定値をＰE3（ｄＢ
ｍ）とすると、減衰量の測定値ＰATT（ｄＢ）は次の式
（１）で表すことができる。 ＰATT＝−（ＰE3−（−１０））ｄＢ ・・・（１）Next, the attenuation amount of the variable optical attenuator 62 to be inspected is gradually increased to 30 dB, and the optical power P O3 of the emitted light is measured by the reference optical power meter 70. Here, the measured value of the reference optical power meter 70 is P E3 (dB
m), the measured attenuation value P ATT (dB) can be expressed by the following equation (1). P ATT =-(P E3 -(-10)) dB ... (1)
【０００９】図５（ａ）および図５（ｂ）は、検査対象
たる光可変減衰器６２の減衰量設定値０ｄＢ〜３０ｄＢ
の直線性の検査結果の例を示す図である。これら図５
（ａ）、図５（ｂ）において、Ｘ軸は検査対象たる光可
変減衰器６２の減衰量設定値、Ｙ軸は基準光パワーメー
タ７０の測定値ＰE3と式（１）から算出した減衰量測定
値ＰATTである。FIG. 5A and FIG. 5B show attenuation amount set values 0 dB to 30 dB of the variable optical attenuator 62 to be inspected.
It is a figure which shows the example of the inspection result of the linearity of. These Figure 5
In (a) and FIG. 5 (b), the X-axis is the attenuation amount set value of the variable optical attenuator 62 to be inspected, and the Y-axis is the measured value P E3 of the reference optical power meter 70 and the attenuation calculated from the equation (1). It is the quantity measurement value P ATT .
【００１０】図５（ａ）あるいは図５（ｂ）に示したよ
うに、検査対象たる光可変減衰器６２の減衰量設定値を
大きくすると、減衰量測定値ＰATTは大きくなり、逆に減
衰量の設定値を小さくすると減衰量の測定値ＰATTも小
さくなる。As shown in FIG. 5 (a) or FIG. 5 (b), when the attenuation amount set value of the optical variable attenuator 62 to be inspected is increased, the attenuation amount measured value P ATT is increased, and conversely the attenuation amount is decreased. When the set value of the amount is reduced, the measured value P ATT of the attenuation amount is also reduced.
【００１１】この場合、図５（ａ）に示すようにグラフ
が直線的であれば、検査対象たる光可変減衰器６２の直
線性は良好であると判断できるが、図５（ｂ）に示すよ
うにグラフが波打っていれば、検査対象たる光可変減衰
器６２の直線性は悪いと判断される。In this case, if the graph is linear as shown in FIG. 5 (a), it can be judged that the linearity of the optical variable attenuator 62 to be inspected is good, but it is shown in FIG. 5 (b). If the graph is wavy like this, it is determined that the linearity of the variable optical attenuator 62 to be inspected is poor.
【００１２】[0012]
【発明が解決しようとする課題】ところで上述した従来
技術では、検査対象たる光可変減衰器６２が出射する連
続光を基準光パワーメータ７０で測定しており、その測
定値ＰE3から減衰量の測定値ＰATTを算出している。In the prior art described above, the continuous light emitted from the variable optical attenuator 62 to be inspected is measured by the reference optical power meter 70, and the attenuation amount is calculated from the measured value P E3 . The measured value PATT is calculated.
【００１３】しかしながらこの基準光パワーメータ７０
は、０〜−５０ｄＢｍまでの直線性が±０.０２ｄＢで
あるため、測定値ＰE3にはこの誤差値が含まれているこ
とになる。However, the reference optical power meter 70
Since the linearity from 0 to -50 dBm is ± 0.02 dB, the measured value P E3 includes this error value.
【００１４】このため、検査対象たる光可変減衰器６２
の直線性が±０.０２ｄＢあった場合には、基準光パワ
ーメータ７０の直線性と相殺しあうことで、見かけ上の
直線性が±０になることがある。Therefore, the variable optical attenuator 62 to be inspected is
Of ± 0.02 dB, the apparent linearity may be ± 0 by canceling out the linearity of the reference optical power meter 70.
【００１５】逆に、両者が相乗しあった場合には、見か
け上の直線性が±０.０４ｄＢになることもある。この
ように、同じ直線性を有する検査対象たる光可変減衰器
６２であっても、基準光パワーメータ７０によって異な
った結果がでてしまい、誤差の少ない正確な直線性の検
査をすることが困難である。On the contrary, if the two are synergistic, the apparent linearity may be ± 0.04 dB. As described above, even with the variable optical attenuator 62 to be inspected having the same linearity, different results are obtained depending on the reference optical power meter 70, and it is difficult to perform accurate linearity inspection with little error. Is.
【００１６】この発明は、このような背景の下になされ
たもので、簡単に正確な較正ができ、光可変減衰器の真
の直線性を検査することが可能な光減衰器の検査装置を
提供することを目的としている。The present invention has been made under such a background, and an optical attenuator inspection apparatus capable of easily performing accurate calibration and inspecting the true linearity of an optical variable attenuator is provided. It is intended to be provided.
【００１７】[0017]
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項１に記載の発明にあっては、光信号を減
衰させる光減衰器の特性を測定する光減衰器検査装置で
あって、前記光信号を発生する発光手段と、前記発光手
段が発生する前記光信号を断続させるスイッチと、前記
発光手段から直接入射するかまたは前記発光手段から前
記光減衰器を介して入射する前記光信号を第１の電気信
号に変換する光電変換手段と、前記第１の電気信号を平
均化して第２の電気信号を出力する平均化手段と、予め
設定された基準値と前記第２の電気信号の値とを比較し
て誤差信号を出力する比較手段と、パルス幅が前記誤差
信号の値に対応し且つ一定周期で前記スイッチをオン／
オフさせるパルス信号を発生するパルス信号発生手段
と、前記パルス信号のパルス幅を測定するパルス幅測定
手段とを具備することを特徴とする。In order to solve the above-mentioned problems, the invention according to claim 1 is an optical attenuator inspection device for measuring the characteristics of an optical attenuator for attenuating an optical signal. The light emitting means for generating the optical signal, the switch for interrupting the optical signal generated by the light emitting means, and the light incident directly from the light emitting means or incident from the light emitting means through the optical attenuator. A photoelectric conversion unit for converting an optical signal into a first electric signal, an averaging unit for averaging the first electric signal and outputting a second electric signal, a preset reference value and the second electric signal. Comparing means for comparing the value of the electric signal and outputting an error signal, and a pulse width corresponding to the value of the error signal and turning on / off the switch at a constant cycle.
It is characterized by comprising pulse signal generating means for generating a pulse signal to be turned off and pulse width measuring means for measuring the pulse width of the pulse signal.
【００１８】また、請求項２に記載の発明にあっては、
請求項１に記載の光減衰器の検査装置では、前記発光手
段から出射され前記光電変換手段に入射する前記光信号
が受ける減衰量に比例して前記パルス信号のパルス幅が
広くなり、前記減衰量に拘わらず前記第２の電気信号の
値が一定であることを特徴とする。Further, in the invention described in claim 2,
The optical attenuator inspection device according to claim 1, wherein the pulse width of the pulse signal is widened in proportion to the amount of attenuation received by the optical signal emitted from the light emitting unit and incident on the photoelectric conversion unit, The value of the second electric signal is constant regardless of the amount.
【００１９】この発明によれば、発光手段が光信号を発
生し、スイッチは発光手段が発生する光信号を断続さ
せ、光電変換手段は発光手段から直接入射するかまたは
発光手段から光減衰器を介して入射する光信号を第１の
電気信号に変換し、平均化手段が第１の電気信号を平均
化して第２の電気信号を出力し、比較手段は予め設定さ
れた基準値と第２の電気信号の値とを比較して誤差信号
を出力し、パルス信号発生手段はパルス幅が誤差信号の
値に対応し且つ一定周期でスイッチをオン／オフさせる
パルス信号を発生し、このパルス信号のパルス幅をパル
ス幅測定手段によって測定する。また、発光手段から出
射され光電変換手段に入射する光信号が受ける減衰量に
比例してパルス信号のパルス幅が広くなるため、減衰量
に拘わらず第２の電気信号の値が一定である。このパル
ス信号のパルス幅（デューティ比）に基づいて、光減衰
器の減衰量を算出する。According to the present invention, the light emitting means generates an optical signal, the switch intermittently interrupts the optical signal generated by the light emitting means, and the photoelectric conversion means directly enters from the light emitting means or an optical attenuator from the light emitting means. The optical signal incident through the first electric signal is converted into a first electric signal, the averaging means averages the first electric signal and outputs a second electric signal, and the comparing means outputs the second electric signal and a preset reference value. And outputs an error signal, and the pulse signal generating means generates a pulse signal whose pulse width corresponds to the value of the error signal and turns on / off the switch at a constant cycle. Pulse width is measured by a pulse width measuring means. Further, since the pulse width of the pulse signal is increased in proportion to the amount of attenuation received by the optical signal emitted from the light emitting unit and entering the photoelectric conversion unit, the value of the second electric signal is constant regardless of the amount of attenuation. The attenuation amount of the optical attenuator is calculated based on the pulse width (duty ratio) of this pulse signal.
【００２０】[0020]
Ａ．第１の実施の形態 以下に、本発明について説明する。図１は、本発明の第
１の実施の形態にかかる光減衰器の検査装置の構成を示
すブロック図である。なお図１において、図４に示す各
部と対応する部分には同一の符号を付し、その説明は省
略する。A. First Embodiment Hereinafter, the present invention will be described. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an optical attenuator inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention. In FIG. 1, parts corresponding to the parts shown in FIG. 4 are designated by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
【００２１】図１において１１はＦＥＴ（Ｆield Ｅffe
ct Ｔransistor：電界効果トランジスタ）その他トラン
ジスタ等から構成されたアナログスイッチである。この
アナログスイッチ１１は、後述するパルス幅変調器１８
が出力するパルス信号Ｐ1によって接点１１ａ〜接点１
１ｂ間がオン／オフされ、これによってパルス状の駆動
電力が光源部５０に供給される。In FIG. 1, 11 is an FET (Field Effe
ct Transistor: A field effect transistor) An analog switch composed of other transistors and the like. The analog switch 11 has a pulse width modulator 18 described later.
11a to 1 according to the pulse signal P 1 output by
1b is turned on / off, and thereby pulsed driving power is supplied to the light source unit 50.
【００２２】光源部５０が有する発光素子５２は、レー
ザダイオード等の他に、安価なＬＥＤ（Ｌight Ｅmitti
ng Ｄiode:発光ダイオード）を用いることも可能であ
る。この発光素子５２には、上述のようにパルス状の駆
動電力が供給される。このため、発光素子５２はパルス
光を出射する。The light emitting element 52 included in the light source section 50 includes an inexpensive LED (Light Emitti) in addition to a laser diode or the like.
It is also possible to use a ng diode (light emitting diode). The pulsed driving power is supplied to the light emitting element 52 as described above. Therefore, the light emitting element 52 emits pulsed light.
【００２３】本実施の形態では、光源部５０が出射する
光電力ＰP0のパルス光は、光ファイバ２０-1を介して検
査対象たる光可変減衰器６２に入射する。また光可変減
衰器６２が出射する光電力ＰP1あるいはＰP2(後述する
光可変減衰器６２の設定値ＡTT1あるいはＡTT2によって
決定される）パルス光は、光ファイバ２０-2を介して光
電力検出器１４に入射する。In this embodiment, the pulsed light of the optical power P P0 emitted from the light source section 50 enters the variable optical attenuator 62 to be inspected through the optical fiber 20 -1 . Further, the optical power P P1 or P P2 (determined by the set value ATT 1 or ATT 2 of the optical variable attenuator 62 described later) emitted from the optical variable attenuator 62 is a pulsed light which is transmitted through the optical fiber 20 -2. It is incident on the power detector 14.
【００２４】光電力検出器１４は、光電変換素子２４と
差動増幅器３４と積分器４４とから構成されている。こ
の光電変換素子２４は、光を電圧に変換する素子であ
る。この光電素子２４としては時定数の長い素子、例え
ばサーモパイルが用いられ、入射した光電力ＰP2のパル
ス光をパルス波電気信号に変換する。The optical power detector 14 comprises a photoelectric conversion element 24, a differential amplifier 34 and an integrator 44. The photoelectric conversion element 24 is an element that converts light into a voltage. An element having a long time constant, for example, a thermopile is used as the photoelectric element 24, and converts the incident pulsed light of the optical power P P2 into a pulse wave electric signal.
【００２５】また光電変換素子２４の両端子は、各々差
動増幅器３４の両端子に接続されており、光電変換素子
２４によって変換されたパルス波電気信号は差動増幅器
３４によって増幅、ならびに波形整形される。Both terminals of the photoelectric conversion element 24 are connected to both terminals of the differential amplifier 34, respectively, and the pulse wave electric signal converted by the photoelectric conversion element 24 is amplified by the differential amplifier 34, and the waveform is shaped. To be done.
【００２６】積分器４４は、抵抗器やコンデンサ等から
構成されており、上述のパルス波電気信号を積分（平
滑）する。従って積分器４４が出力する信号ＥPの電圧
は、光可変減衰器６２より出力されるパルス光の電力に
比例する。The integrator 44 is composed of a resistor, a capacitor and the like, and integrates (smooths) the above pulse wave electric signal. Therefore, the voltage of the signal E P output by the integrator 44 is proportional to the power of the pulsed light output from the variable optical attenuator 62.
【００２７】電気信号ＥPは誤差増幅器１５に入力さ
れ、ここで基準電圧１６（Ｅr）から減ぜられ、誤差増
幅器は１５は誤差電圧ＥErを出力する。この誤差電圧Ｅ
Erは、パルス幅変調器１８に入力される。The electrical signal E P is input to the error amplifier 15, where it is subtracted from the reference voltage 16 (E r ), which outputs an error voltage E Er . This error voltage E
Er is input to the pulse width modulator 18.
【００２８】パルス幅変調器１８には、上述の誤差電圧
ＥErの他に基準クロック発生回路１７が出力する周期Ｔ
0の基準クロック信号Ｐ0が入力される。このパルス幅変
調器１８は、一例として微分回路や比較回路、ならびに
波形整形回路等から構成され、周期がＴ0であり且つデュ
ーティ比が誤差電圧ＥErに比例したパルス信号Ｐ1を出
力する。In addition to the above-mentioned error voltage E Er , the pulse width modulator 18 has a period T output from the reference clock generation circuit 17.
Reference clock signal P 0 of 0 is input. The pulse width modulator 18 is composed of, for example, a differentiating circuit, a comparing circuit, and a waveform shaping circuit, and outputs a pulse signal P 1 having a cycle of T 0 and a duty ratio proportional to the error voltage E Er .
【００２９】このパルス信号Ｐ1は、デューティ比測定器
１９によってデューティ比が測定されるとともに、前述
のようにアナログスイッチ１１の接点１１ａ〜接点１１
ｂ間をオン／オフさせる。The duty ratio of the pulse signal P 1 is measured by the duty ratio measuring device 19, and the contacts 11a to 11 of the analog switch 11 are connected as described above.
Turn on / off between b.
【００３０】次に、上述した構成の光減衰器の検査装置
の動作を説明する。図２は図１に示す構成における各部
の信号波形を示す図である。まず基準クロック発生回路
１７が出力する周期がＴ0の基準クロックＰ0がパルス幅
変調器１８に供給されると、パルス幅変調器１８は、
“１”レベルのパルス幅がＴ1であるパルス信号Ｐ1を出
力する。Next, the operation of the optical attenuator inspection apparatus having the above-described structure will be described. FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms of respective parts in the configuration shown in FIG. First, when the reference clock P 0 having the cycle T 0 output from the reference clock generation circuit 17 is supplied to the pulse width modulator 18, the pulse width modulator 18
A pulse signal P 1 having a “1” level pulse width of T 1 is output.
【００３１】上述のパルス信号Ｐ1のレベルが“１”で
ある期間は、アナログスイッチ１１の接点１１ａと接点
１１ｂとの間はオンとなり、光源部５０からの出射光が
検査対象たる光可変減衰器６２を経て、光電力検出器１
４へ入力されることになる。During the period when the level of the pulse signal P 1 is "1", the contact between the contact 11a and the contact 11b of the analog switch 11 is turned on, and the light emitted from the light source unit 50 is a variable light attenuation that is an inspection target. Optical power detector 1 through device 62
4 will be input.
【００３２】このとき、検査対象たる光可変減衰器６２
の減衰量の設定値をＡTT1として、パルス信号Ｐ1のデュ
ーティ比を、デューティ比測定器１９で測定する。ま
た、このときの光可変減衰器６２の出射光の強度を
ＰP1、さらにパルス信号Ｐ1のパルス幅をＴ1とする。At this time, the variable optical attenuator 62 to be inspected
The duty ratio of the pulse signal P 1 is measured by the duty ratio measuring device 19 with the setting value of the attenuation amount of A TT 1 . The intensity of the light emitted from the variable optical attenuator 62 at this time is P P1 , and the pulse width of the pulse signal P 1 is T 1 .
【００３３】光可変減衰器６２の出射光は光電変換素子
２４で電圧に変換され、変換された電圧が差動増幅器３
４で増幅され、増幅信号として出力される。この増幅信
号は積分器４４で積分され、光可変減衰器６２の出射光
の光電力に相応する電気信号ＥPとして出力される。こ
の電気信号ＥPの値は、次のように計算される。 電気信号ＥP＝（Ｔ1／Ｔ0）×ＰP1 ・・・（２）The light emitted from the variable optical attenuator 62 is converted into a voltage by the photoelectric conversion element 24, and the converted voltage is output to the differential amplifier 3.
It is amplified by 4 and output as an amplified signal. This amplified signal is integrated by the integrator 44 and output as an electric signal E P corresponding to the optical power of the light emitted from the variable optical attenuator 62. The value of this electrical signal E P is calculated as follows. Electric signal E P = (T 1 / T 0 ) × P P1 (2)
【００３４】上述の電気信号ＥPは誤差増幅回路１５に
入力され、基準電圧１６の値（Ｅr）と比較され、その
差が増幅され誤差電圧ＥErとして出力される。一方、パ
ルス幅変調器１８は誤差電圧ＥErを受けて、電気信号ＥP
と基準電圧Ｅ rとの電位差がなくなる方向にデューティ
比を変化させる。The above-mentioned electric signal EPTo the error amplification circuit 15
The value of the reference voltage 16 (Er) And its
The difference is amplified and the error voltage EErIs output as On the other hand,
The pulse width modulator 18 has an error voltage EErIn response to the electric signal EP
And reference voltage E rDuty in the direction of eliminating the potential difference between
Change the ratio.
【００３５】即ち本実施の形態では、光電力検出器１４
が出力する電気信号ＥPが、基準電圧１６の値Ｅrに比し
てより大きい時には、パルス信号Ｐ1のデューティ比が
より小さくなるように動作する。That is, in the present embodiment, the optical power detector 14
When the electric signal E P outputted by the pulse signal P is larger than the value E r of the reference voltage 16, the duty ratio of the pulse signal P 1 becomes smaller.
【００３６】次に、検査対象たる光可変減衰器６２の減
衰量を先般の２倍(設定値ＡTT2）とし、パルス信号Ｐ1
のデューティ比を、デューティ比測定器１９で測定す
る。また、このときの光可変減衰器６２の出射光の光強
度をＰP2、パルス信号Ｐ1のパルス幅をＴ2とする。Next, the attenuation amount of the optical variable attenuator 62 to be inspected is made twice as much as the previous value (set value ATT 2 ), and the pulse signal P 1
The duty ratio is measured by the duty ratio measuring device 19. The light intensity of the light emitted from the variable optical attenuator 62 at this time is P P2 , and the pulse width of the pulse signal P 1 is T 2 .
【００３７】このときも先般同様、光可変減衰器６２の
出射光の光電力に相応する電気信号ＥPとして出力され
る。このときの電気信号ＥPの値は次のように計算され
る。 電気信号ＥP＝（Ｔ2／Ｔ0）×ＰP2 ・・・（３）At this time as well, as before, the electric signal E P corresponding to the optical power of the light emitted from the variable optical attenuator 62 is output. The value of the electric signal E P at this time is calculated as follows. Electric signal E P = (T 2 / T 0 ) × P P2 (3)
【００３８】以上の動作では、次の式（４）に示すよう
に、検査対象たる光可変減衰器６２の出射光の強度の平
均値、即ち光電力検出器１４の出力である電気信号ＥPの
値が一定となるように負帰還制御される。 電気信号ＥP＝（Ｔ1／ＰP1）×Ｔ0＝（Ｔ2／ＰP2）×Ｔ0 ＝（Ｔ／ＰP）×Ｔ0＝一定 ・・・（４）In the above operation, as shown in the following equation (4), the average value of the intensities of the light emitted from the optical variable attenuator 62 to be inspected, that is, the electric signal E P output from the optical power detector 14 is used. Negative feedback control is performed so that the value of becomes constant. Electrical signal E P = (T 1 / P P1 ) × T 0 = (T 2 / P P2 ) × T 0 = (T / P P ) × T 0 = constant (4)
【００３９】従って、発光素子５２の出射光の光電力Ｐ
P0が検査対象たる光可変減衰器６２の減衰量の設定値Ａ
TT1あるいはＡTT2に対応して変化し、これに対して光電
力検出器１４が出力する電気信号ＥPの値は常に一定で
ある。Therefore, the optical power P of the light emitted from the light emitting element 52 is
P0 is the set value A of the attenuation amount of the variable optical attenuator 62 to be inspected
The value of the electric signal E P that changes in response to TT 1 or A TT 2 and is output by the optical power detector 14 is always constant.
【００４０】式（４）より、光強度ＰPとパルス幅Ｔと
は反比例関係にあり、光強度ＰPが強ければパルス幅Ｔ
が狭くなり、光強度ＰPが弱くなればパルス幅Ｔが広くな
ることがわかる。From the equation (4), the light intensity P P and the pulse width T are in inverse proportion to each other, and if the light intensity P P is strong, the pulse width T
It can be seen that the pulse width T becomes wider as the light intensity P P becomes weaker.
【００４１】即ち、図２に示されるように、検査対象た
る光可変減衰器６２の減衰量の設定値がＡTT1であると
き、光可変減衰器６２の出射光は光強度がＰP1、パルス
幅がＴ 1である。That is, as shown in FIG.
The set value of the attenuation amount of the variable optical attenuator 62 is1Is
When the light emitted from the variable optical attenuator 62 has a light intensity of PP1,pulse
Width is T 1It is.
【００４２】一方、当該減衰量の設定値を２倍のＡTT2
に変化させた場合、光強度はＰ1より小なるＰ2、パルス
幅はＴ1より大なるＴ2となる。この場合、光電力検出器
１４から出力される電気信号ＥPは、その値が一定となる
ように負帰還制御されているため、一定の値Ｑ0とな
る。即ち、式（２）および式（３）に基づいて、次式が
成り立つ。 Ｑ0＝（Ｔ1／Ｔ0）×Ｐ1＝（Ｔ2／Ｔ0）×ＰP2 Ｔ1×ＰP1＝Ｔ2×ＰP2 ＰP1／ＰP2＝Ｔ2／Ｔ1 ・・・（５）On the other hand, the set value of the attenuation amount is doubled by ATT 2
When changed to, the light intensity becomes P 2 smaller than P 1 and the pulse width becomes T 2 larger than T 1 . In this case, the electric signal E P output from the optical power detector 14 has a constant value Q 0 because it is subjected to negative feedback control so that its value becomes constant. That is, the following equation holds based on the equations (2) and (3). Q 0 = (T 1 / T 0 ) × P 1 = (T 2 / T 0 ) × P P2 T 1 × P P1 = T 2 × P P2 P P1 / P P2 = T 2 / T 1 ... ( 5)
【００４３】また、パルス幅変調器１８が出力するパル
ス信号Ｐ1のデューティ比と検査対象たる光可変減衰器
６２の減衰量の設定値とは対応しているので、次式が成
り立つ。 ＡTT1：ＰP1＝ＡTT2：ＰP2 ＰP1／ＰP2＝ＡTT1／ＡTT2 ・・・（６）Since the duty ratio of the pulse signal P 1 output from the pulse width modulator 18 and the set value of the attenuation amount of the optical variable attenuator 62 to be inspected correspond to each other, the following equation is established. ATT 1 : P P1 = ATT 2 : P P2 P P1 / P P2 = ATT 1 / ATT 2 (6)
【００４４】このように本実施の形態によれば、測定し
たパルスのデューティ比から減衰量を算出することがで
きる。一般にデューティ比の測定は、光電力の直接測定
に比べ遙かに高精度ならびに高確度であり、直線性も極
めて良好である。As described above, according to this embodiment, the attenuation amount can be calculated from the measured duty ratio of the pulse. Generally, the measurement of the duty ratio is far more accurate and highly accurate than the direct measurement of the optical power, and the linearity is also very good.
【００４５】Ｂ．第２の実施の形態 以下に、本発明の第２の実施の形態について説明する。
この第２の実施の形態は、上述の第１の実施の形態に示
したような光減衰器の検査装置を較正する場合を示して
いる。B. Second Embodiment Below, a second embodiment of the present invention will be explained.
The second embodiment shows a case where the inspection device for an optical attenuator as shown in the first embodiment is calibrated.
【００４６】図３は、本発明の第２の実施の形態にかか
る光減衰器の検査装置の構成を示すブロック図である。
なお図３において、図４や図１に示す各部と対応する部
分には同一の符号を付し、その説明は省略する。FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the optical attenuator inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention.
Note that, in FIG. 3, portions corresponding to the respective portions shown in FIG. 4 and FIG.
【００４７】図３に示す構成においては、発光素子５２
の出射光を光ファイバ等を用いずに検査対象たる光減衰
器６３に入射させ、光減衰器６３の出射光を同様に光電
力検出器１４が有する光電変換素子２４に入射させる。
この光減衰器６３は較正用の光減衰器であり、予め正確
な減衰量が決定されている。In the configuration shown in FIG. 3, the light emitting element 52
The emitted light of is incident on the optical attenuator 63 to be inspected without using an optical fiber or the like, and the emitted light of the optical attenuator 63 is similarly incident on the photoelectric conversion element 24 of the optical power detector 14.
The optical attenuator 63 is a calibration optical attenuator, and an accurate attenuation amount is determined in advance.
【００４８】図３に示す１８ａはパルス幅変調器であ
る。本実施の形態のパルス幅変調器１８ａの動作は上述
のパルス幅変調器１８と同一であるが、一例として鋸歯
状波発生回路部２８と比較回路３８とから構成されい
る。Reference numeral 18a shown in FIG. 3 is a pulse width modulator. The operation of the pulse width modulator 18a of the present embodiment is the same as that of the pulse width modulator 18 described above, but is composed of the sawtooth wave generation circuit unit 28 and the comparison circuit 38 as an example.
【００４９】即ちパルス幅変調器１８ａは、基準クロッ
ク発生回路１７から周期がＴ0の基準クロックＰ0の供給
を受け、周期がＴ0であり且つデューティ比が誤差電圧
ＥErに比例したパルス信号Ｐ1を出力する。That is, the pulse width modulator 18a is supplied with the reference clock P 0 having a cycle of T 0 from the reference clock generation circuit 17, has a cycle of T 0 , and has a duty ratio proportional to the error voltage E Er. Output P 1 .
【００５０】以下に、本実施の形態の動作について説明
する。なお動作内容について、上述の第１の実施の形態
と同一の部分では、詳細な説明は省略する。まず、発光
素子５２と光電変換素子２４との間に光減衰器を挿入せ
ずに発光素子５２の出射光を直接光電変換素子２４に入
射させて、パルス信号Ｐ1のデューティ比をデューティ比
測定器１９によって測定する。The operation of this embodiment will be described below. The detailed description of the operation content will be omitted for the same parts as those in the first embodiment. First, the light emitted from the light emitting element 52 is directly incident on the photoelectric conversion element 24 without inserting an optical attenuator between the light emitting element 52 and the photoelectric conversion element 24, and the duty ratio of the pulse signal P 1 is measured. It is measured by the instrument 19.
【００５１】このとき光電変換素子２４への入射光の光
電力（光強度）はＰP0であり、またパルス信号Ｐ1のパ
ルス幅をＴ1とする。また、このとき光電力検出器１４
が出力する電気信号ＥPの値は、次のように計算され
る。 電気信号ＥP＝（Ｔ1／Ｔ0）×ＰP0 ・・・（７）At this time, the optical power (light intensity) of the incident light on the photoelectric conversion element 24 is P P0 , and the pulse width of the pulse signal P 1 is T 1 . At this time, the optical power detector 14
The value of the electric signal E P output by is calculated as follows. Electrical signal E P = (T 1 / T 0 ) × P P0 (7)
【００５２】次に、発光素子５２と光電変換素子２４と
の間に検査対象たる光減衰器６３を挿入し、パルス信号
Ｐ1のデューティ比をデューティ比測定器１９によって
測定する。Next, the optical attenuator 63 to be inspected is inserted between the light emitting element 52 and the photoelectric conversion element 24, and the duty ratio of the pulse signal P 1 is measured by the duty ratio measuring device 19.
【００５３】このとき光電変換素子２４への入射光の光
電力（光強度）はＰP63であり、またパルス信号Ｐ1のパ
ルス幅をＴ2とする。また、このとき光電力検出器１４
が出力する電気信号ＥPの値は、次のように計算され
る。 電気信号ＥP＝（Ｔ2／Ｔ0）×ＰP63 ・・・（８）At this time, the optical power (light intensity) of the incident light on the photoelectric conversion element 24 is P P63 , and the pulse width of the pulse signal P 1 is T 2 . At this time, the optical power detector 14
The value of the electric signal E P output by is calculated as follows. Electric signal E P = (T 2 / T 0 ) × P P63 (8)
【００５４】以上の動作では、式（９）に示すように、
検査対象たる光減衰器６３の出射光の強度の平均値、即
ち光電力検出器１４の出力である電気信号ＥPの値が一
定となるように負帰還制御される。 電気信号ＥP＝（Ｔ1／Ｔ0）×ＰP0＝（Ｔ2／Ｔ0）×ＰP63 ＝（Ｔ／Ｔ0）×ＰP＝一定 ・・・（９）In the above operation, as shown in equation (9),
Negative feedback control is performed so that the average value of the intensity of the light emitted from the optical attenuator 63 as the inspection target, that is, the value of the electric signal E P output from the optical power detector 14 is constant. Electrical signal E P = (T 1 / T 0 ) × P P0 = (T 2 / T 0 ) × P P63 = (T / T 0 ) × P P = constant (9)
【００５５】従って、発光素子５２と光電素子２４との
間に挿入され得る検査対象たる光減衰器６３の有無に応
じて発光素子５２の出射光の強度が変化し、光電力検出
器１４の出力である電気信号ＥPの値は常に一定であ
る。Therefore, the intensity of the light emitted from the light emitting element 52 changes depending on the presence or absence of the optical attenuator 63 as an inspection target that can be inserted between the light emitting element 52 and the photoelectric element 24, and the output of the optical power detector 14 is changed. The value of the electrical signal E P is always constant.
【００５６】式（９）より、パルス幅Ｔと光強度ＰPと
は反比例関係にあり、光強度ＰPが強ければパルス幅Ｔ
が狭くなり、光強度ＰPが弱くなればパルス幅Ｔが広くな
ることがわかる。From the equation (9), the pulse width T and the light intensity P P are in inverse proportion to each other. If the light intensity P P is strong, the pulse width T
It can be seen that the pulse width T becomes wider as the light intensity P P becomes weaker.
【００５７】即ち、発光素子５２と光電変換素子２４と
の間に検査対象たる光減衰器６３が挿入されていない場
合の発光素子５２の出射光は光強度がＰP0、パルス幅が
Ｔ1である。That is, when the optical attenuator 63 to be inspected is not inserted between the light emitting element 52 and the photoelectric conversion element 24, the light emitted from the light emitting element 52 has a light intensity of P P0 and a pulse width of T 1 . is there.
【００５８】一方、発光素子５２と光電変換素子２４と
の間に検査対象たる光減衰器６３が挿入されている場合
の出射光は、光強度がＰ0より小なるＰP63となり、パル
ス幅はＴ1より大なるＴ2となる。On the other hand, when the optical attenuator 63 to be inspected is inserted between the light emitting element 52 and the photoelectric conversion element 24, the emitted light becomes P P63 whose light intensity is smaller than P 0 and the pulse width is It becomes T 2 which is larger than T 1 .
【００５９】この場合、光電力検出器１４から出力され
る電気信号ＥPは、その値が一定となるように負帰還制御
されているため、一定の値Ｑ0となる。即ち、式（７）お
よび式（８）に基づいて、次式が成り立つ。 Ｑ0＝（Ｔ1／Ｔ0）×ＰP0＝（Ｔ2／Ｔ0）×ＰP63 Ｔ1×ＰP0＝Ｔ2×ＰP63 ＰP0／ＰP63＝Ｔ2／Ｔ1 ・・・（１０）In this case, the electric signal E P output from the optical power detector 14 has a constant value Q 0 because it is subjected to negative feedback control so that its value becomes constant. That is, the following equation holds based on the equations (7) and (8). Q 0 = (T 1 / T 0 ) × P P0 = (T 2 / T 0 ) × P P63 T 1 × P P0 = T 2 × P P 63 P P0 / P P 63 = T 2 / T 1 ... ( 10)
【００６０】また、パルス幅増幅器１８が出力するパル
ス信号Ｐ1のデューティ比と検査対象たる光減衰器６３
の減衰量ＡTT63とは対応しているので、次式が成り立つ
（検査対象たる光減衰器２３が挿入されていない場合の
光減衰量を０ｄＢとする）。 １：Ｐ0＝ＡTT63：ＰP63 Ｐ0／ＰP63＝１：ＡTT63 ・・・（１１）Further, the duty ratio of the pulse signal P 1 output from the pulse width amplifier 18 and the optical attenuator 63 to be inspected.
Since it corresponds to the attenuation amount ATT 63 of, the following expression holds (the optical attenuation amount when the optical attenuator 23 to be inspected is not inserted is 0 dB). 1: P 0 = ATT 63 : P P63 P 0 / P P63 = 1: ATT 63 (11)
【００６１】このように、この第２の実施の形態によれ
ば、上述の第１の実施の形態に示したような光減衰器の
検査装置の較正を正確に行うことができる。なお第２の
実施の形態では、較正後において、減衰量が固定の光減
衰器の減衰量を正確に測定することもできることは言う
までもない。As described above, according to the second embodiment, it is possible to accurately calibrate the inspection device for the optical attenuator as shown in the first embodiment. In the second embodiment, it goes without saying that the attenuation amount of the optical attenuator having a fixed attenuation amount can be accurately measured after the calibration.
【００６２】なお、上述の各実施の形態に示した発光素
子や光電変換素子等の種類、あるいはパルス幅変調器の
詳細な構成等は一例であり、本発明はこれらに限定され
たものではない。The types of the light emitting element, the photoelectric conversion element, etc., and the detailed configuration of the pulse width modulator, etc., shown in each of the above embodiments are merely examples, and the present invention is not limited to these. .
【００６３】[0063]
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、発光手段が光信号を発生し、スイッチは発光手段が
発生する光信号を断続させ、光電変換手段は発光手段か
ら直接入射するかまたは発光手段から光減衰器を介して
入射する光信号を第１の電気信号に変換し、平均化手段
が第１の電気信号を平均化して第２の電気信号を出力
し、比較手段は予め設定された基準値と第２の電気信号
の値とを比較して誤差信号を出力し、パルス信号発生手
段はパルス幅が誤差信号の値に対応し且つ一定周期でス
イッチをオン／オフさせるパルス信号を発生し、このパ
ルス信号のパルス幅をパルス幅測定手段によって測定す
る。As described above, according to the present invention, the light emitting means generates an optical signal, the switch intermittently interrupts the optical signal generated by the light emitting means, and the photoelectric conversion means directly enters from the light emitting means. Alternatively, an optical signal incident from the light emitting means via the optical attenuator is converted into a first electric signal, the averaging means averages the first electric signal and outputs a second electric signal, and the comparing means previously outputs the electric signal. The set reference value and the value of the second electric signal are compared to output an error signal, and the pulse signal generating means has a pulse width corresponding to the value of the error signal and a pulse for turning on / off the switch at a constant cycle. A signal is generated and the pulse width of this pulse signal is measured by the pulse width measuring means.
【００６４】また、発光手段から出射され光電変換手段
に入射する光信号が受ける減衰量に比例してパルス信号
のパルス幅が広くなるため、減衰量に拘わらず第２の電
気信号の値が一定である。このパルス信号のパルス幅
（デューティ比）に基づいて、光減衰器の減衰量を算出
するので、簡単に正確な較正ができ、光可変減衰器の真
の直線性を検査することが可能な光減衰器の検査装置が
実現可能であるという効果が得られる。Further, since the pulse width of the pulse signal is increased in proportion to the amount of attenuation received by the optical signal emitted from the light emitting means and entering the photoelectric conversion means, the value of the second electric signal is constant regardless of the amount of attenuation. Is. Since the attenuation of the optical attenuator is calculated based on the pulse width (duty ratio) of this pulse signal, an accurate calibration can be performed easily, and the optical linear attenuator can be tested for true linearity. The effect that the attenuator inspection device can be realized is obtained.
【図１】本発明の第１の実施の形態にかかる光減衰器の
検査装置の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an optical attenuator inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
【図２】図１に示す構成における各部の信号波形を示す
図である。FIG. 2 is a diagram showing signal waveforms of respective parts in the configuration shown in FIG.
【図３】本発明の第２の実施の形態にかかる光減衰器の
検査装置の構成を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of an optical attenuator inspection device according to a second embodiment of the present invention.
【図４】従来の光可変減衰器の直線性検査装置の構成を
示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional linearity inspection device for an optical variable attenuator.
【図５】図４に示す構成において、検査対象たる光可変
減衰器６２の減衰量設定値０ｄＢ〜３０ｄＢの直線性の
検査結果の例を示す図である。5 is a diagram showing an example of an inspection result of linearity of attenuation setting values 0 dB to 30 dB of the variable optical attenuator 62 to be inspected in the configuration shown in FIG.
１１ アナログスイッチ（スイッチ） １６ 基準電圧（基準値） １５ 誤差増幅器（比較手段） １８ パルス幅変調器（パルス信号発生手段） １９ デューティ比測定器（パルス幅測定手段） ２４ 光電変換素子（光電変換手段） ４４ 積分器（平均化手段） ５２ 発光素子（発光手段） ６２ 光可変減衰器（光減衰器） ６３ 光減衰器 11 analog switch (switch) 16 reference voltage (reference value) 15 error amplifier (comparing means) 18 pulse width modulator (pulse signal generating means) 19 duty ratio measuring device (pulse width measuring means) 24 photoelectric conversion element (photoelectric conversion means) ) 44 integrator (averaging means) 52 light emitting element (light emitting means) 62 variable optical attenuator (optical attenuator) 63 optical attenuator
Claims (2)
３）の特性を測定する光減衰器検査装置であって、 前記光信号を発生する発光手段（５２）と、 前記発光手段が発生する前記光信号を断続させるスイッ
チ（１１）と、 前記発光手段から直接入射するかまたは前記発光手段か
ら前記光減衰器を介して入射する前記光信号を第１の電
気信号に変換する光電変換手段（２４）と、 前記第１の電気信号を平均化して第２の電気信号を出力
する平均化手段（４４）と、 予め設定された基準値（１６）と前記第２の電気信号の
値とを比較して誤差信号を出力する比較手段（１５）
と、 パルス幅が前記誤差信号の値に対応し且つ一定周期で前
記スイッチをオン／オフさせるパルス信号を発生するパ
ルス信号発生手段（１８）と、 前記パルス信号のパルス幅を測定するパルス幅測定手段
（１９）とを具備することを特徴とする光減衰器の検査
装置。1. An optical attenuator (62, 6) for attenuating an optical signal.
An optical attenuator inspection device for measuring the characteristic of 3), comprising: a light emitting means (52) for generating the optical signal; a switch (11) for connecting and disconnecting the optical signal generated by the light emitting means; Photoelectric conversion means (24) for converting the optical signal directly incident from the light source or incident from the light emitting means through the optical attenuator into a first electric signal, and averaging the first electric signal to obtain a first electric signal. Averaging means (44) for outputting the second electric signal, and comparing means (15) for comparing the preset reference value (16) with the value of the second electric signal and outputting an error signal.
Pulse signal generating means (18) for generating a pulse signal whose pulse width corresponds to the value of the error signal and which turns on / off the switch at a constant cycle; and pulse width measurement for measuring the pulse width of the pulse signal. An optical attenuator inspection apparatus comprising: a means (19).
手段に入射する前記光信号が受ける減衰量に比例して前
記パルス信号のパルス幅が広くなり、 前記減衰量に拘わらず前記第２の電気信号の値が一定で
あることを特徴とする請求項１に記載の光減衰器の検査
装置。2. The pulse width of the pulse signal is increased in proportion to the amount of attenuation received by the optical signal emitted from the light emitting unit and incident on the photoelectric conversion unit, and the second electric signal is generated regardless of the amount of attenuation. The optical attenuator inspection apparatus according to claim 1, wherein the value of the signal is constant.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13925896A JPH09318486A (en) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | Testing device of light attenuator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13925896A JPH09318486A (en) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | Testing device of light attenuator |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09318486A true JPH09318486A (en) | 1997-12-12 |
Family
ID=15241111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13925896A Withdrawn JPH09318486A (en) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | Testing device of light attenuator |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09318486A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2360601A (en) * | 2000-03-23 | 2001-09-26 | Marconi Comm Ltd | Enhanced resolution attenuator |
| US6747778B2 (en) | 2000-03-23 | 2004-06-08 | Marconi Communications Limited | Method and apparatus for generating a pulse width modulated signal and optical attenuator controlled by a pulse width modulated signal |
-
1996
- 1996-05-31 JP JP13925896A patent/JPH09318486A/en not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2360601A (en) * | 2000-03-23 | 2001-09-26 | Marconi Comm Ltd | Enhanced resolution attenuator |
| GB2360601B (en) * | 2000-03-23 | 2002-02-13 | Marconi Comm Ltd | Enhanced resolution attenuator |
| US6747778B2 (en) | 2000-03-23 | 2004-06-08 | Marconi Communications Limited | Method and apparatus for generating a pulse width modulated signal and optical attenuator controlled by a pulse width modulated signal |
| US6934458B2 (en) | 2000-03-23 | 2005-08-23 | Marconi Uk International Property Ltd. | Method and apparatus for generating a pulse width modulated signal and optical attenuator controlled by a pulse width modulated signal |
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