JPH0927272A - 電子放出素子、電子源及び画像形成装置の製造方法 - Google Patents
電子放出素子、電子源及び画像形成装置の製造方法Info
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- JPH0927272A JPH0927272A JP19796695A JP19796695A JPH0927272A JP H0927272 A JPH0927272 A JP H0927272A JP 19796695 A JP19796695 A JP 19796695A JP 19796695 A JP19796695 A JP 19796695A JP H0927272 A JPH0927272 A JP H0927272A
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Abstract
る安定性の高い表面伝導型電子放出素子を得る。 【構成】 電極4,5間に、電子放出部2を有する導電
性膜3を備える表面伝導型電子放出素子の製造方法にお
いて、電子放出部2となる導電性膜3の間隙部に炭素質
被膜を形成した後、該被膜に選択的に加熱処理を施す工
程を有する。 【効果】 炭素質被膜の結晶性を高めることができる。
Description
素子を多数個配置してなる電子源、及び該電子源を用い
て構成した表示装置や露光装置等の画像形成装置の製造
方法に関する。
放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知られてい
る。冷陰極電子放出素子には電界放出型(以下、「FE
型」と称す。)、金属/絶縁層/金属型(以下、「MI
M型」と称す。)や表面伝導型電子放出素子等が有る。
and W.W. Dolan,“Field Em
ission”, Advance in Elect
ron Physics, 8,89(1956)ある
いはC.A. Spindt, “Physical
Properties of thin−filmfi
eld emission cathodes wit
h molybdenum cones”, J.Ap
pl. Phys., 47,5248(1976)等
に開示されたものが知られている。
d,“Operation ofTunnel−Emi
ssion Devices”, J.Appl. P
hys., 32,646(1961)等に開示された
ものが知られている。
M.I. Elinson,Radio Eng.El
ectron Phys., 10,1290(196
5)等に開示されたものがある。
に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流す
ことにより、電子放出が生ずる現象を利用するものであ
る。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリン
ソン等によるSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“Thin Solid
Films”, 9,317(1972)]、In2
O3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartwell
and C.G. Fonstad:“IEEE T
rans. ED Conf.”, 519(197
5)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、
第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告され
ている。
上に形成された導電性膜に、膜面に平行に電流を流すこ
とにより電子放出が生ずる現象を利用するものである。
としては、絶縁性の基板上に設けた一対の素子電極間を
連絡する金属酸化物等の導電性膜に、予めフォーミング
と称される通電処理により電子放出部を形成したものが
挙げられる。フォーミングは、導電性膜の両端に直流電
圧あるいは非常にゆっくりとした昇電圧、例えば1V/
1分程度の昇電圧を印加通電することで通常行われ、導
電性膜を局所的に破壊、変形もしくは変質させて構造を
変化させ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部を形成す
る処理である。電子放出は、上記電子放出部が形成され
た導電性膜に電圧を印加して電流を流すことにより、電
子放出部に発生した亀裂付近から行われる。
純で製造も容易であることから、大面積に亙って多数配
列形成できる利点がある。そこで、この特徴を活かすた
めの種々の応用が研究されている。例えば表示装置等の
画像形成装置への利用が挙げられる。
列形成した例としては、並列に表面伝導型電子放出素子
を配列し、個々の表面伝導型電子放出素子の両端(両素
子電極)を配線(共通配線とも呼ぶ)にて夫々結線した
行を多数行配列(梯型配置とも呼ぶ)した電子源が挙げ
られる(特開昭64−31332号公報、同1−283
749号公報、同2−257552号公報)。また、特
に表示装置においては、液晶を用いた表示装置と同様の
平板型表示装置とすることが可能で、しかもバックライ
トが不要な自発光型の表示装置として、表面伝導型電子
放出素子を多数配置した電子源と、この電子源からの電
子線の照射により可視光を発光する蛍光体とを組み合わ
せた表示装置が提案されている(アメリカ特許第506
6883号明細書)。
子源、画像形成装置等に用いられる電子放出素子を長時
間駆動するに際しては安定で制御された電子放出特性及
びその効率の向上が望まれて来た。
電子放出素子であれば、一対の対向する素子電極に電圧
を印加したとき、流れる電流(以降、「素子電流If」
と呼ぶ)に対する真空中に放出される電流(以降、「放
出電流Ie」と呼ぶ)との電流比をさす。つまり、素子
電流Ifはできるだけ小さく、放出電流Ieはできるだ
け大きいことが望ましい。
上がなされれば、例えば蛍光体を画像形成部材とする画
像形成装置においては、低電流で明るい高品位な画像形
成装置、例えばフラットテレビが実現される。また、低
電流化にともない、画像形成装置を構成する駆動回路等
も安価になることも期待できる。
般的な表面伝導型電子放出素子は、電子放出部を含む導
電性膜が炭素を主成分とする被膜で被覆されているか、
あるいは素子電極の少なくとも一部が被覆されている場
合が多い。この炭素を主成分とする被膜は、グラファイ
トあるいはアモルファスカーボン(以後、非晶質カーボ
ンと言う場合もある)あるいはそれらの混合物からな
る。
は、電子放出部及びその近傍に存在する炭素を主成分と
する被膜の結晶性の良否が、電子源及び画像形成装置の
安定性に寄与していると考えられ、つまりは、結晶性が
高い炭素を主成分とする被膜が形成できれば、放出電流
Ieを上昇させることに加え、素子毎の電子放出特性の
バラツキを抑制させることができると推定される。ま
た、長時間駆動が可能となり、更には、安定な電子源及
び画像形成装置を作製することが期待できる。
駆動しても、電子放出効率を高いまま維持でき安定に駆
動し得る電子放出素子及びそれを用いた電子源及び画像
形成装置の製法を提供することにある。
すべく成された本発明の構成は以下の通りである。
出部を有する導電性膜を備える電子放出素子の製造方法
において、一部に間隙を有し、少なくとも該間隙部に炭
素を主成分とする膜を有する導電性膜の、該炭素を主成
分とする膜に、局部加熱手段にて加熱を施す工程を有す
ることを特徴とする電子放出素子の製造方法にある。
出部を有する導電性膜を備える電子放出素子の製造方法
において、一部に間隙を有する導電性膜の少なくとも該
間隙部に、炭素を主成分とする膜を形成する工程と、前
記炭素を主成分とする膜に、局部加熱手段にて加熱を施
す工程とを有することを特徴とする電子放出素子の製造
方法にある。
て、「導電性膜に間隙を形成する工程を有する」こと、
「前記導電性膜に間隙を形成する工程は、該導電性膜に
電圧を印加する工程を有する」こと、「前記炭素を主成
分とする膜を形成する工程と、前記局部加熱手段にて加
熱を施す工程とを繰り返し行う過程を有する」こと、
「前記導電性膜の間隙部に炭素を主成分とする膜を形成
する工程は、炭素あるいは炭素化合物の雰囲気下にて、
該導電性膜に電圧を印加する工程を有する」こと、をも
含むものである。
その特徴として、「前記局部加熱手段にて加熱を施す工
程は、前記炭素を主成分とする膜の結晶性を向上させる
工程である」こと、「前記局部加熱手段は、レーザーで
ある」こと、「前記導電性膜は、微粒子からなる」こ
と、「前記微粒子は、金属あるいは金属酸化物である」
こと、「前記炭素を主成分とする膜は、アモルファスカ
ーボンあるいはグラファイトあるいはこれらの混合物を
主体としてなる」こと、「前記電子放出素子は、表面伝
導型電子放出素子である」こと、をも含むものである。
記電子放出素子の駆動手段とを有する電子源の製造方法
において、前記電子放出素子が、上記本発明第一又は第
二の方法にて製造されることを特徴とする電子源の製造
方法にある。
て、「前記電子源は、複数の電子放出素子が並列に結線
された素子列を少なくとも1列以上有する電子源であ
る」こと、「前記電子源は、複数の電子放出素子が結線
された素子列の複数列がマトリクス配置されている電子
源である」こと、をも含むものである。
子線の照射により画像を形成する画像形成部材とを有す
る画像形成用パネルの製造方法において、前記電子放出
素子が、前記本発明第一又は第二の方法にて製造される
ことを特徴とする画像形成用パネルの製造方法にある。
て、「前記画像形成用パネルは、前記電子放出素子の複
数が並列に結線された素子列を少なくとも1列以上有す
る画像形成用パネルである」こと、「前記画像形成用パ
ネルは、前記電子放出素子の複数が結線された素子列の
複数列がマトリクス配置されている画像形成用パネルで
ある」こと、「前記画像形成部材が、蛍光体である」こ
と、をも含むものである。
画像形成部材と、前記電子放出素子から放出される電子
線の前記画像形成部材への照射を情報信号に応じて制御
する駆動手段とを有する画像形成装置の製造方法におい
て、前記電子放出素子が前記本発明第一又は第二の方法
にて製造されることを特徴とする画像形成装置の製造方
法にある。
て、「前記画像形成装置は、前記電子放出素子の複数が
並列に結線された素子列を少なくとも1列以上有する画
像形成装置である」こと、「前記画像形成装置は、前記
電子放出素子の複数が結線された素子列の複数列がマト
リクス配置されている画像形成装置である」こと、「前
記画像形成部材が、蛍光体である」こと、をも含むもの
である。
出素子、この電子放出素子を複数個備えた電子源、これ
を用いた画像形成用パネル並びに画像形成装置の新規な
製造方法に係るもので、各発明の構成及び作用を以下に
更に説明する。
うな冷陰極型の電子放出素子に分類されるもので、それ
らの中でも電子放出特性等の観点から特に表面伝導型の
電子放出素子が好適である。このため、以下では表面伝
導型電子放出素子を例に挙げて説明する。
平面型と垂直型がある。まず、平面型の表面伝導型電子
放出素子の基本的な構成について説明する。
型電子放出素子の基本的な構成を示す図であり、図中、
1は基板、2は電子放出部、3は導電性膜、4と5は電
極(素子電極)である。
等の不純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青
板ガラスにスパッタ法等によりSiO2 を積層した積層
体、アルミナ等のセラミックス等が挙げられる。
一般的導体材料が用いられ、例えばNi、Cr、Au、
Mo、W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等の金属ある
いは合金及びPd、Ag、Au、RuO2 、Pd−Ag
等の金属あるいは金属酸化物とガラス等から構成される
印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及びポ
リシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択される。
膜3の形状等は、応用される形態等によって設計され
る。
から数百マイクロメートルであることが好ましく、より
好ましくは、素子電極4,5間に印加する電圧等によ
り、数マイクロメートルから数十マイクロメートルであ
る。
出特性を考慮すると、好ましくは数マイクロメートルか
ら数百マイクロメートルであり、また素子電極厚dは、
数百オングストロームから数マイクロメートルである。
1上に、素子電極4,5、導電性膜3の順に積層された
ものとなっているが、基板1上に、導電性膜3、素子電
極4,5の順に積層したものとしてもよい。
ためには、微粒子で構成された微粒子膜であることが特
に好ましく、その膜厚は、素子電極4,5へのステップ
カバレージ、素子電極4,5間の抵抗値及び後述するフ
ォーミング条件等によって適宜選択される。この導電性
膜3の膜厚は、好ましくは数オングストロームから数千
オングストロームで、特に好ましくは10オングストロ
ームから500オングストロームであり、その抵抗値
は、10の3乗から10の7乗オーム/□のシート抵抗
値である。
う言葉を用いるので、その意味について説明する。
も小さなものを「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」より
もさらに小さく、原子の数が数百個程度以下のものを
「クラスター」と呼ぶことは広く行われている。
ではなく、どの様な性質に注目して分類するかにより変
化する。また「微粒子」と「超微粒子」を一括して「微
粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中での記述はこれに
沿ったものである。
粒子」(木下是雄 編、共立出版1986年9月1日発
行)では、「本稿で微粒子と言うときにはその直径がだ
いたい2〜3μm程度から10nm程度までとし、特に
超微粒子というときは粒径が10nm程度から2〜3n
m程度までを意味することにする。両者を一括して単に
微粒子と書くこともあってけっして厳密なものではな
く、だいたいの目安である。粒子を構成する原子の数が
2個から数十〜数百個程度の場合はクラスターと呼
ぶ。」(195ページ 22〜26行目)と記述されて
いる。
微粒子プロジェクト”での「超微粒子」の定義は、粒径
の下限はさらに小さく、次のようなものであった。
ジェクト”(1981〜1986)では、粒子の大きさ
(径)がおよそ1〜100nmの範囲のものを“超微粒
子”(ultra fine particle) と呼ぶことにした。すると
1個の超微粒子はおよそ100〜108 個くらいの原子
の集合体という事になる。原子の尺度でみれば超微粒子
は大〜巨大粒子である。」(「超微粒子−創造科学技
術」林主税、上田良二、田崎明 編;三田出版 198
8年 2ページ1〜4行目)/「超微粒子よりさらに小
さいもの、すなわち原子が数個〜数百個で構成される1
個の粒子は、ふつうクラスターと呼ばれる」(同書2ペ
ージ12〜13行目)。
本明細書において「微粒子」とは多数の原子・分子の集
合体で、粒径の下限は数Å〜10Å程度、上限は数μm
程度のものを指すこととする。
ばPd,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,
Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金属、P
dO,SnO2 ,In2 O3 ,PbO,Sb2 O3 等の
酸化物、HfB2 ,ZrB2,LaB6 ,CeB6 ,Y
B4 ,GdB4 等の硼化物、TiC,ZrC,HfC,
TaC,SiC,WCなどの炭化物、TiN,ZrN,
HfN等の窒化物、Si,Ge等の半導体、カーボン等
が挙げられる。
合した膜であり、その微細構造として、微粒子が個々に
分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接、あ
るいは重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、
全体として島状構造を形成している場合も含む)の膜を
さす。微粒子膜である場合、微粒子の粒径は、数オング
ストロームから数千オングストロームであることが好ま
しく、特に好ましくは10オングストロームから200
オングストロームである。
子放出はこの亀裂付近から行われる。この亀裂を含む電
子放出部2及び亀裂自体は、導電性膜3の膜厚、膜質、
材料及び後述するフォーミング条件等の製法に依存して
形成される。従って、電子放出部2の位置及び形状は図
1に示されるような位置及び形状に特定されるものでは
ない。
百オングストロームの粒径の導電性微粒子を有すること
もある。この導電性微粒子は、導電性膜3を構成する材
料の元素の一部、あるいは総てと同様のものである。ま
た、亀裂を含む電子放出部2及びその近傍の導電性膜3
は炭素を主成分とする膜を有する。
基本的な構成について説明する。
の基本的な構成を示す図で、図中21は段差形成部材
で、その他図1と同じ符号は同じ部材を示すものであ
る。
電極4,5は、前述した平面型の表面伝導型電子放出素
子と同様の材料で構成されたものである。
印刷法、スパッタ法等で付設されたSiO2 等の絶縁性
材料で構成されたものである。この段差形成部材21の
膜厚は、先に述べた平面型の表面伝導型電子放出素子の
素子電極間隔L(図1参照)に対応するもので、段差形
成部材21の作成法や素子電極4,5間に印加する電圧
等により設定されるが、好ましくは数百オングストロー
ムから数十マイクロメートルであり、特に好ましくは数
百オングストロームから数マイクロメートルである。
成後に形成されるので、素子電極4,5の上に積層され
るが、導電性膜3の形成後に素子電極4,5を作成し、
導電性膜3の上に素子電極4,5が積層されるようにす
ることも可能である。また、平面型の表面伝導型電子放
出素子の説明においても述べたように、電子放出部2の
形成は、導電性膜3の膜厚、膜質、材料及び後述するフ
ォーミング条件等の製法に依存するので、その位置及び
形状は図2に示されるような位置及び形状に特定される
ものではない。
導型電子放出素子と垂直型の表面伝導型電子放出素子の
内、平面型を例にして説明するが、平面型の表面伝導型
電子放出素子に代えて垂直型の表面伝導型電子放出素子
としてもよい。
基本構成の製法としては様々な方法が考えられるが、そ
の一例を図3に基づいて説明する。尚、図3において図
1と同じ符号は同じ部材を示すものである。
り十分に洗浄した後、真空蒸着法、スパッタ法等により
素子電極材料を堆積させた後、フォトリソグラフィー技
術等により基板1の面上に素子電極4,5を形成する
(図3(a))。
機金属溶液を塗布して放置することにより、素子電極4
と素子電極5間を連絡して有機金属膜を形成する。尚、
有機金属溶液とは、前述の導電性膜3の構成材料の金属
を主元素とする有機化合物の溶液である。この後、有機
金属膜を加熱焼成処理し、リフトオフ、エッチング等に
よりパターニングされた導電性膜3を形成する(図3
(b))。
り説明したが、これに限ることなく、例えば真空蒸着
法、スパッタ法、化学的気相堆積法、分散塗布法、ディ
ッピング法、スピンナー法等によって有機金属膜を形成
することもできる。
のフォーミング工程の方法の一例として通電処理による
方法を以下に説明するが、本発明に係るフォーミング工
程はこれに限られるものではなく、導電性膜3に亀裂を
生じさせて高抵抗状態を形成させる方法であればいかな
る方法でも良い。
すると、導電性膜3の部位に構造の変化した電子放出部
2が形成される(図3(c))。この通電処理により導
電性膜3を局所的に破壊、変形もしくは変質せしめ、構
造の変化した部位が電子放出部2である。
示す。
パルス波高値を定電圧とした電圧パルスを連続的に印加
する場合(図4(a))と、パルス波高値を増加させな
がら電圧パルスを印加する場合(図4(b))とがあ
る。
ついて図4(a)で説明する。
形のパルス幅とパルス間隔であり、例えば、T1を1マ
イクロ秒〜10ミリ秒、T2を10マイクロ秒〜100
ミリ秒とし、波高値(フォーミング時のピーク電圧)を
前述した電子放出素子の形態に応じて適宜選択して、1
0の−5乗torr程度の適当な真空度の真空雰囲気下
で、数秒から数十分印加する。尚、印加する電圧波形
は、図示される三角波に限定されるものではなく、矩形
波等の所望の波形を用いても良く、その波高値及びパル
ス幅・パルス間隔等についても上述の値に限るものでは
なく、電子放出部2が良好に形成されるように、電子放
出素子の抵抗値等に合わせて所望の値を選択することが
できる。
パルスを印加する場合について図4(b)で説明する。
(a)と同様であり、波高値(フォーミング時のピーク
電圧)を、例えば0.1Vステップ程度ずつ増加させ、
図4(a)の説明と同様の適当な真空雰囲気下で印加す
る。
所的に破壊、変形もしくは変質させない程度の電圧、例
えば0.1V程度の電圧で素子電流を測定して抵抗値を
求め、例えば1Mオーム以上の抵抗を示したときにフォ
ーミングを終了することが好ましい。
は、図5に示されるような測定評価系内で行うことがで
きる。この測定評価系について説明する。
を示す。また、51は素子に素子電圧Vfを印加するた
めの電源、50は素子電極4,5間の導電性膜3を流れ
る素子電流Ifを測定するための電流計、54は電子放
出部2より放出される放出電流Ieを捕捉するためのア
ノード電極、53はアノード電極54に電圧を印加する
ための高圧電源、52は電子放出部2より放出される放
出電流Ieを測定するための電流計、55は真空装置、
56は排気ポンプである。
空装置55内に設置され、この真空装置55には不図示
の真空計等の必要な機器が具備されていて、所望の真空
下で電子放出素子の測定評価ができるようになってい
る。
リーポンプ等からなる通常の高真空装置系と、イオンポ
ンプ等からなる超高真空装置系とから構成されている。
また、真空装置55全体及び電子放出素子の基板1は、
ヒーターにより200℃程度まで加熱できるようになっ
ている。尚、この測定評価系は、後述するような表示パ
ネルの組み立て段階において、表示パネル及びその内部
を真空装置55及びその内部として構成することで、フ
ォーミング工程及び後述するそれ以後の工程における測
定評価及び処理に応用されるものである。
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、素子
電極4,5間にパルスの印加を繰り返すことで行うこと
ができる。上記雰囲気は、例えば油拡散ポンプやロータ
リーポンプなどを用いて真空容器内を排気した場合に雰
囲気内に残留する有機ガスを利用して形成することがで
きる他、イオンポンプなどにより一旦十分に排気した真
空中に適当な有機物質のガスを導入することによっても
得られる。このときの好ましい有機物質のガス圧は、前
述の応用の形態、真空容器の形状や、有機物質の種類な
どにより異なるため、適宜設定される。
ケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素
類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン類、アミン
類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機酸類等
を挙げることが出来、具体的には、メタン、エタン、プ
ロパンなどCn H2n+2で表される飽和炭化水素、
エチレン、プロピレンなどCn H2n等の組成式で表
される不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノー
ル、エタノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒ
ド、アセトン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エ
チルアミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等
が使用できる。この処理により、雰囲気中に存在する有
機物質から、炭素あるいは炭素化合物が素子上に堆積
し、素子電流If,放出電流Ieが、著しく変化するよ
うになる。
fや放出電流Ieを測定しながら、適宜行う。尚、活性
化工程で印加する電圧パルスのパルス幅、パルス間隔、
パルス波高値などは適宜設定される。
は、例えばグラファイト(いわゆるHOPG,PG,G
Cを包含し、HOPGはほぼ完全なグラファイト結晶構
造、PGは結晶粒が200Å程度で結晶構造がやや乱れ
たもの、GCは結晶粒が20Å程度になり結晶構造の乱
れがさらに大きくなったものを指す。)、非晶質カーボ
ン(アモルファスカーボン及び、アモルファスカーボン
と前記グラファイトの微結晶の混合物を指す)であり、
その膜厚は、500Å以下の範囲とするのが好ましく、
300Å以下の範囲とすることがより好ましい。
加熱工程を施す。
した素子の導電性膜3上に形成された炭素を主成分とす
る被膜、特に電子放出部2ならびにその近傍の導電性膜
3上に形成された被膜に、選択的に充分な加熱処理を行
い、該炭素質被膜の結晶性を向上させる工程である。
素を主成分とする部分にのみ局部加熱が可能な方法、よ
り具体的には、レーザー等を用いて局部加熱を行う。
アモルファスカーボンあるいはそれらの混合物からなる
炭素膜が、グラファイト主体の炭素より形成される膜へ
と結晶性を向上させることができる。
−Neレーザー、Kr+ レーザー、He−Cdレーザ
ー、YAGレーザー等、局部加熱が可能でさえあれば、
どのようなレーザーを用いてもよい。
時間は、使用するレーザーに応じて適宜設定される。
場合、レーザービーム径は100〜1マイクロメーター
程度まで、結晶性を向上させたい領域に応じたビーム径
に絞り、照射するレーザーパワーは、前述したような導
電性膜を使用した場合で、10mW〜40mWの範囲で
照射するのが望ましい。これは酸素が存在しない、つま
りは真空あるいは不活性ガス雰囲気下等で行うのが好ま
しい。酸素雰囲気下等で実施した場合には、該電子放出
部の酸化が進行し、蒸発してしまうなどの問題が生じて
しまう。
ーに応じて、炭素成分の結晶性を向上させるのに適当な
時間が決定される。例えば、上記レーザーパワー範囲内
で照射する場合には、3分〜10分程度の範囲が望まし
い。
用している基板上の導電性膜3の材料と、炭素を主成分
とする電子放出部2に被覆している被膜の初期の結晶性
等にも依存する。又、レーザービーム径とレーザーパワ
ーによって決定される、単位時間当たりの投入エネルギ
ーが低い場合には比較的長時間を要し、投入エネルギー
が高い場合には比較的短時間で良い。
用するレーザーパワー(P)、照射時間(t)、主とし
て触媒能を含むレーザーパワーや照射時間以外の因子
(A)の3つの積によって決定されるエネルギー(W)
値によって決まる。
て、上述の好ましい範囲だけでなく、レーザーパワー
(P)を大きくして、時間tを短くしても、同様の結晶
性の改善が行われる。
決定する要素の一つである、使用する導電性膜3の材料
であるが、一般的にはPd,Pt,Ni,Co及びこれ
らの混合物、又はこれらを主成分とする材料から形成さ
れる。
パワー(P)や照射時間(t)の値が小さくても所望の
目的を達成することができる。
て、W値とラマン分光法により結晶性を評価した模式図
である。
照射点を測定したスペクトルの1580cm-1付近に見
られるピークと1350cm-1付近に見られるピークと
の強度比からも見積もられる。
すること(例えば、一定時間で、レーザーパワーを上昇
させるとか、一定レーザーパワーで長時間照射すると
か)は、結晶性の向上、つまりは結晶子サイズの増加を
促すことが可能であることがわかる。また、図16から
はある程度のW値(本図では、W1 )以上では、それ以
上の加熱処理を行っても、結晶性の向上が見られないた
め、適度な値(W1 )程度でこの処理は充分であり、本
発明には、最適値が存在することがわかる。
を、フォーミング工程、活性化工程での真空度より高い
真空度の真空雰囲気下で動作駆動する、安定化工程を施
すことが好ましい。より好ましくは、この高い真空度の
真空雰囲気下で、80〜250℃の加熱の後、動作駆動
する。尚、加熱温度等、これに限るものではない。
度より高い真空度の真空雰囲気とは、例えば約10の−
6乗torr以上の真空度を有する真空雰囲気であり、
より好ましくは超高真空系であり、炭素及び炭素化合物
が新たにほぼ堆積しない真空度である。
封入してしまうことにより、これ以上の炭素及び炭素化
合物の堆積を抑制することが可能となり、これによって
素子電流If、放出電流Ieが安定する。
放出素子の基本特性について、以下に説明する。
本特性は、図5の測定評価系のアノード電極54の電圧
を1kV〜10kVとし、アノード電極54と表面伝導
型電子放出素子の距離Hを2〜8mmとして、通常測定
を行う。
素子電圧Vfとの関係の典型的な例を図6に示す。尚、
図6の(a)において、放出電流Ieは素子電流Ifに
比べて著しく小さいので、任意単位で示されている。
尚、縦軸はリニアスケールである。
導型電子放出素子は、放出電流Ieに対する次の3つの
特徴的特性を有する。
る電圧(しきい値電圧と呼ぶ:図6の(a)中のVt
h)を超える素子電圧Vfを印加すると急激に放出電流
Ieが増加し、一方しきい値電圧Vth以下では放出電
流Ieが殆ど検出されない。即ち、放出電流Ieに対す
る明確なしきい値電圧Vthを持った非線形素子であ
る。
して単調増加する特性(MI特性と呼ぶ)を有するた
め、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御できる。
捕捉される放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に
依存する。即ち、アノード電極54に捕捉される電荷量
は、素子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
特性を有すると同時に、素子電流Ifも素子電圧Vfに
対してMI特性を有する場合もある。このような表面伝
導型電子放出素子の特性の例が図6の(a)に示す特性
である。一方、図6の(b)に示すように、素子電流I
fは素子電圧Vfに対して電圧制御型負性抵抗特性(V
CNR特性と呼ぶ)を示す場合もある。いずれの特性を
示すかは、表面伝導型電子放出素子の製法及び測定時の
測定条件等に依存する。但し、素子電流Ifが素子電圧
Vfに対してVCNR特性を有する表面伝導型電子放出
素子でも、放出電流Ieは素子電圧Vfに対してMI特
性を有する。
放出素子の特徴的特性のため、複数の素子を配置した電
子源や画像形成装置でも、入力信号に応じて、容易に放
出電子量を制御することができることとなり、多方面へ
の応用が可能である。
述の表面伝導型電子放出素子を複数配置した電子源につ
いて述べる。まず、表面伝導型電子放出素子の配列方式
について説明する。
子放出素子の配列方式としては、従来の技術の項で述べ
たような梯型配置の他、m本のX方向配線の上にn本の
Y方向配線を層間絶縁層を介して設置し、表面伝導型電
子放出素子の一対の素子電極に夫々X方向配線、Y方向
配線を接続した配置方式が挙げられる。これを以後単純
マトリクス配置と呼ぶ。まず、この単純マトリクス配置
について詳述する。
特性によれば、単純マトリクス配置された表面伝導型電
子放出素子における放出電子は、しきい値電圧を超える
電圧では、対向する素子電極間に印加するパルス状電圧
の波高値とパルス幅で制御できる。一方、しきい値電圧
以下では殆ど電子は放出されない。従って、多数の表面
伝導型電子放出素子を配置した場合においても、個々の
素子に上記パルス状電圧を適宜印加すれば、入力信号に
応じて表面伝導型電子放出素子を選択し、その電子放出
量が制御でき、単純なマトリクス配線だけで個別の表面
伝導型電子放出素子を選択して独立に駆動可能となる。
づくもので、本発明に係る電子源の一例である、この単
純マトリクス配置の電子源の構成について図7に基づい
て更に説明する。
ガラス板等であり、この基板1上に配列された本発明に
よる表面伝導型電子放出素子104の個数及び形状は用
途に応じて適宜設定されるものである。
Dx1,Dx2,……,Dxmを有するもので、基板1
上に、真空蒸着法、印刷法、スパッタ法等で形成した導
電性金属等である。また、多数の表面伝導型電子放出素
子104にほぼ均等に電圧が供給されるように、材料、
膜厚、配線幅が設定されている。
Dy1,Dy2,……,Dynを有するもので、X方向
配線102と同様に作成される。
方向配線103間には、不図示の層間絶縁層が設置さ
れ、電気的に分離されて、マトリクス配線を構成してい
る。尚、このm,nは共に正の整数である。
法、スパッタ法等で形成されたSiO2 等であり、X方
向配線102を形成した基板1の全面或は一部に所望の
形状で形成され、特に、X方向配線102とY方向配線
103の交差部の電位差に耐え得るように、膜厚、材
料、製法が適宜設定される。X方向配線102とY方向
配線103は、それぞれ外部端子として引き出されてい
る。
向する素子電極(不図示)が、m本のX方向配線102
と、n本のY方向配線103と、真空蒸着法、印刷法、
スパッタ法等で形成された導電性金属等からなる結線1
05によって電気的に接続されているものである。
のY方向配線103と、結線105と、対向する素子電
極とは、その構成元素の一部あるいは全部が同一であっ
ても、また夫々異なっていてもよく、前述の素子電極の
材料等より適宜選択される。これら素子電極への配線
は、素子電極と材料が同一である場合は素子電極と総称
する場合もある。また、表面伝導型電子放出素子104
は、基板1あるいは不図示の層間絶縁層上どちらに形成
してもよい。
線102には、X方向に配列された表面伝導型電子放出
素子104の行を入力信号に応じて走査するために、走
査信号を印加する不図示の走査信号印加手段が電気的に
接続されている。
列された表面伝導型電子放出素子104の列の各列を入
力信号に応じて変調するために、変調信号を印加する不
図示の変調信号発生手段が電気的に接続されている。更
に、各表面伝導型電子放出素子104に印加される駆動
電圧は、当該表面伝導型電子放出素子104に印加され
る走査信号と変調信号の差電圧として供給されるもので
ある。
電子源を用いて構成される本発明に係る画像形成用パネ
ル(表示パネル)及び画像形成装置の一例を、図8〜図
10を用いて説明する。尚、図8は表示パネル201の
基本構成図であり、図9は蛍光膜114を示す図であ
り、図10は図8の表示パネル201で、NTSC方式
のテレビ信号に応じてテレビジョン表示を行うための駆
動回路の一例を示すブロック図である。
伝導型電子放出素子を配置した電子源の基板、111は
基板1を固定したリアプレート、116はガラス基板1
13の内面に蛍光膜114とメタルバック115等が形
成されたフェースプレート、112は支持枠であり、リ
アプレート111、支持枠112及びフェースプレート
116にフリットガラス等を塗布し、大気中あるいは窒
素中で、400〜500℃で10分以上焼成することで
封着して外囲器118を構成している。
導型電子放出素子104の一対の素子電極4,5(図1
参照)と接続されたX方向配線及びY方向配線で、夫々
外部端子Dx1ないしDxm,Dy1ないしDynを有
している。
プレート116、支持枠112、リアプレート111で
構成されている。しかし、リアプレート111は主に基
板1の強度を補強する目的で設けられるものであり、基
板1自体で十分な強度を持つ場合は別体のリアプレート
111は不要で、基板1に直接支持枠112を封着し、
フェースプレート116、支持枠112、基板1にて外
囲器118を構成してもよい。また、フェースプレート
116、リアプレート111の間にスぺーサーと呼ばれ
る不図示の支持体を更に設置することで、大気圧に対し
て十分な強度を有する外囲器118とすることもでき
る。
光体122のみからなるが、カラーの蛍光膜114の場
合は、蛍光体122の配列により、ブラックストライプ
(図9(a))あるいはブラックマトリクス(図9
(b))等と呼ばれる黒色導伝材121と蛍光体122
とで構成される。ブラックストライプ、ブラックマトリ
クスが設けられる目的は、カラー表示の場合必要となる
三原色の各蛍光体122間の塗り分け部を黒くすること
で混色等を目立たなくすることと、蛍光膜114におけ
る外光反射によるコントラストの低下を抑制することで
ある。黒色導伝材121の材料としては、通常良く用い
られている黒鉛を主成分とする材料だけでなく、導電性
があり、光の透過及び反射が少ない材料であれば他の材
料を用いることもできる。
る方法としては、モノクローム、カラーによらず、沈澱
法や印刷法が用いられる。
4の内面側には通常メタルバック115が設けられる。
メタルバック115の目的は、蛍光体122(図9参
照)の発光のうち内面側への光をフェースプレート11
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上すること、電
子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用する
こと、外囲器118内で発生した負イオンの衝突による
ダメージからの蛍光体122の保護等である。メタルバ
ック115は、蛍光膜114の作製後、蛍光膜114の
内面側表面の平滑化処理(通常フィルミングと呼ばれ
る)を行い、その後Alを真空蒸着等で堆積することで
作製できる。
114の導伝性を高めるため、蛍光膜114の外面側に
透明電極(不図示)を設けてもよい。
蛍光体122と表面伝導型電子放出素子104とを対応
させなくてはいけないため、十分な位置合わせを行なう
必要がある。
て排気し、所定の真空度に達した後、封止される。ま
た、外囲器118の封止後の真空度を維持するためにゲ
ッター処理を行うこともできる。これは、外囲器118
の封止を行う直前あるいは封止後に抵抗加熱あるいは高
周波加熱等により、外囲器118内の所定の位置に配置
したゲッター(不図示)を加熱し、蒸着膜を形成する処
理である。ゲッターは通常Ba等が主成分であり、該蒸
着膜の吸着作用により、例えば1×10の−5乗ないし
は1×10の−7乗torrの真空度を維持するための
ものである。
伝導型電子放出素子の各製造工程は、通常、外囲器11
8の封止直前又は封止後に行われるもので、その内容は
前述した通りである。
に示されるような駆動回路で駆動することができる。
尚、図10において、201は表示パネル、202は走
査回路、203は制御回路、204はシフトレジスタ、
205はラインメモリ、206は同期信号分離回路、2
07は変調信号発生器、Vx及びVaは直流電圧源であ
る。
1は、外部端子Dx1ないしDxm、外部端子Dy1な
いしDyn及び高圧端子Hvを介して外部の電気回路と
接続されている。この内、外部端子Dx1ないしDxm
には前記表示パネル201内に設けられている表面伝導
型電子放出素子、即ちm行n列の行列状にマトリクス配
置された表面伝導型電子放出素子群を1行(n素子ず
つ)順次駆動して行くための走査信号が印加される。
は、前記走査信号により選択された1行の各表面伝導型
電子放出素子の出力電子ビームを制御するための変調信
号が印加される。また、高圧端子Hvには、直流電圧源
Vaより、例えば10kVの直流電圧が供給される。こ
れは表面伝導型電子放出素子より出力される電子ビーム
に、蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与する
ための加速電圧である。
ング素子(図10中S1ないしSmで模式的に示す)を
備えるもので、各スイッチング素子S1〜Smは、直流
電圧電源Vxの出力電圧もしくは0V(グランドレベ
ル)のいずれか一方を選択して、表示パネル201の外
部端子Dx1ないしDxmと電気的に接続するものであ
る。各スイッチング素子S1〜Smは、制御回路203
が出力する制御信号Tscanに基づいて動作するもの
で、実際には、例えばFETのようなスイッチング機能
を有する素子を組み合わせることにより容易に構成する
ことが可能である。
表面伝導型電子放出素子の特性(しきい値電圧)に基づ
き、走査されていない表面伝導型電子放出素子に印加さ
れる駆動電圧がしきい値電圧以下となるような一定電圧
を出力するよう設定されている。
像信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の
動作を整合させる働きを持つものである。次に説明する
同期信号分離回路206より送られる同期信号Tsyn
cに基づいて、各部に対してTscan、Tsft及び
Tmryの各制御信号を発生する。
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分を分離するための回路で、よく知られてい
るように、周波数分離(フィルター)回路を用いれば、
容易に構成できるものである。同期信号分離回路206
により分離された同期信号は、これもよく知られるよう
に、垂直同期信号と水平同期信号よりなる。ここでは、
説明の便宜上Tsyncとして図示する。一方、前記テ
レビ信号から分離された画像の輝度信号成分を便宜上D
ATA信号と図示する。このDATA信号はシフトレジ
スタ204に入力される。
アル入力される前記DATA信号を、画像の1ライン毎
にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制御
回路203より送られる制御信号Tsftに基づいて作
動する。この制御信号Tsftは、シフトレジスタ20
4のシフトクロックであると言い換えてもよい。また、
シリアル/パラレル変換された画像1ライン分(表面伝
導型電子放出素子のn素子分の駆動データに相当する)
のデータは、Id1ないしIdnのn個の並列信号とし
て前記シフトレジスタ204より出力される。
データを必要時間だけ記憶するための記憶装置であり、
制御回路203より送られる制御信号Tmryに従って
適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記憶された
内容は、Id’1ないしId’nとして出力され、変調
信号発生器207に入力される。
Id’1ないしId’nの各々に応じて、表面伝導型電
子放出素子の各々を適切に駆動変調するための信号源
で、その出力信号は、端子Dy1ないしDynを通じて
表示パネル201内の表面伝導型電子放出素子に印加さ
れる。
は電子放出に明確なしきい値電圧を有しており、しきい
値電圧を超える電圧が印加された場合にのみ電子放出が
生じる。また、しきい値電圧を超える電圧に対しては表
面伝導型電子放出素子への印加電圧の変化に応じて放出
電流も変化して行く。表面伝導型電子放出素子の材料、
構成、製造方法を変えることにより、しきい値電圧の値
や印加電圧に対する放出電流の変化度合いが変わる場合
もあるが、いずれにしても以下のことがいえる。
の電圧を印加する場合、例えばしきい値電圧以下の電圧
を印加しても電子放出は生じないが、しきい値電圧を超
える電圧を印加する場合には電子放出を生じる。その
際、第1には電圧パルスの波高値を変化させることによ
り、出力される電子ビームの強度を制御することが可能
である。第2には、電圧パルスの幅を変化させることに
より、出力される電子ビームの電荷の総量を制御するこ
とが可能である。
放出素子を変調する方式としては、電圧変調方式とパル
ス幅変調方式とが挙げられる。電圧変調方式を行う場
合、変調信号発生器207としては、一定の長さの電圧
パルスを発生するが、入力されるデータに応じて適宜パ
ルスの波高値を変調できる電圧変調方式の回路を用い
る。また、パルス幅変調方式を行う場合、変調信号発生
器207としては、一定の波高値の電圧パルスを発生す
るが、入力されるデータに応じて適宜パルス幅を変調で
きるパルス幅変調方式の回路を用いる。
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でもよく、画像信号のシリアル/パラレル変換や記憶が
所定の速度で行えるものであればよい。
号分離回路206の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要がある。これは同期信号分離回路206の出力
部にA/D変換器を設けることで行える。
5の出力信号がデジタル信号かアナログ信号かにより、
変調信号発生器207に設けられる回路が若干異なるも
のとなる。
合、変調信号発生器207には、例えばよく知られてい
るD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等を付
け加えればよい。また、デジタル信号でパルス幅変調方
式の場合、変調信号発生器207は、例えば高速の発振
器及び発振器の出力する波数を計数する計数器(カウン
タ)及び計数器の出力値と前記メモリの出力値を比較す
る比較器(コンパレータ)を組み合わせた回路を用いる
ことで容易に構成することができる。更に、必要に応じ
て、比較器の出力するパルス幅変調された変調信号を表
面伝導型電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するた
めの増幅器を付け加えてもよい。
合、変調信号発生器207には、例えばよく知られてい
るオペアンプ等を用いた増幅回路を用いればよく、必要
に応じてレベルシフト回路等を付け加えてもよい。ま
た、アナログ信号でパルス幅変調方式の場合、例えばよ
く知られている電圧制御型発振回路(VCO)を用いれ
ばよく、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電
圧にまで電圧増幅するための増幅器を付け加えてもよ
い。
路を有する本発明に係る画像形成装置は、端子Dx1〜
Dxm及びDy1〜Dynから電圧を印加することによ
り、必要な表面伝導型電子放出素子から電子を放出させ
ることができ、高圧端子Hvを通じて、メタルバック1
15あるいは透明電極(不図示)に高電圧を印加して電
子ビームを加速し、加速した電子ビームを蛍光膜114
に衝突させることで生じる励起・発光によって、NTS
C方式のテレビ信号に応じてテレビジョン表示を行うこ
とができるものである。
れる本発明に係る画像形成装置を得る上で必要な概略構
成であり、例えば各部材の材料等、詳細な部分は上述の
内容に限られるものではなく、画像形成装置の用途に適
するよう、適宜選択されるものである。また、入力信号
としてNTSC方式を挙げたが、本発明に係る画像形成
装置はこれに限られるものではなく、PAL、SECA
M方式等の他の方式でもよく、更にはこれらよりも多数
の走査線からなるTV信号、例えばMUSE方式を初め
とする高品位TV方式でもよい。
用いて構成される本発明に係る画像形成用パネル(表示
パネル)及び画像形成装置の一例について図11及び図
12を用いて説明する。
伝導型電子放出素子、304は表面伝導型電子放出素子
104を接続する共通配線で10本設けられており、各
々外部端子D1〜D10を有している。
上に並列に複数個配置されている。これを素子行と呼
ぶ。そしてこの素子行が複数行配置されて電子源を構成
している。
子D1とD2の共通配線304)間に適宜の駆動電圧を
印加することで、各素子行を独立に駆動することが可能
である。即ち、電子ビームを放出させたい素子行にはし
きい値電圧を超える電圧を印加し、電子ビームを放出さ
せたくない素子行にはしきい値電圧以下の電圧を印加す
るようにすればよい。このような駆動電圧の印加は、各
素子行間に位置する共通配線D2〜D9について、夫々
相隣接する共通配線304、即ち夫々相隣接する外部端
子D2とD3,D4とD5,D6とD7,D8とD9の
共通配線304を一体の同一配線としても行うことがで
きる。
表示パネル301の構造を示す図である。
電子が通過するための開口、D1〜Dmは各表面伝導型
電子放出素子に電圧を印加するための外部端子、G1〜
Gnはグリッド電極302に接続された外部端子であ
る。また、各素子行間の共通配線304は一体の同一配
線として基板1上に形成されている。
部材を示すものであり、図8に示される単純マトリクス
配置の電子源を用いた表示パネル201との大きな違い
は、基板1とフェースプレート116の間にグリッド電
極302を備えている点である。
は、上記のようにグリッド電極302が設けられてい
る。このグリッド電極302は、表面伝導型電子放出素
子104から放出された電子ビームを変調することがで
きるもので、梯型配置の素子行と直行して設けられたス
トライプ状の電極に、電子ビームを通過させるために、
各表面伝導型電子放出素子104に対応して1個ずつ円
形の開口303を設けたものとなっている。
必ずしも図12に示すようなものでなければならないも
のではなく、開口303をメッシュ状に多数設けること
もあり、またグリッド電極302を、例えば表面伝導型
電子放出素子104の周囲や近傍に設けてもよい。
示の駆動回路に接続されている。そして、素子行を1列
ずつ順次駆動(走査)して行くのと同期してグリッド電
極302の列に画像1ライン分の変調信号を印加するこ
とにより、各電子ビームの蛍光膜114への照射を制御
し、画像を1ラインずつ表示することができる。
ネル及び画像形成装置は、単純マトリクス配置及び梯型
配置のいずれの本発明に係る電子源を用いても得ること
ができ、上述したテレビジョン放送の表示装置のみなら
ず、テレビ会議システム、コンピューター等の表示装置
として好適な画像形成装置が得られる。更には、感光ド
ラムとで構成した光プリンターの露光装置としても用い
ることができるものである。
しく説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるも
のではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要
素の置換や設計変更がなされたものをも包含する。
出素子の構成は、図1に示されるものと同様であり、図
3の製造工程図に基づきその製造方法を以下に説明す
る。尚、基板1上には、同一形状の素子を2個形成し
た。
のシリコン酸化膜をスパッタ法で形成した基板1上に、
素子電極間ギャップとなるべきパターンをホトレジスト
(RD−2000N−41・日立化成社製)形成し、真
空蒸着法により厚さ5ナノメートルのTi、厚さ100
ナノメートルのNiを順次堆積した。
し、Ni/Ti堆積膜をリフトオフし、素子電極間隔L
は3マイクロメートルとし、素子電極の幅Wが300マ
イクロメートルの素子電極4,5を形成した(図3
(a))。
を真空蒸着により堆積、パターニングし、その上に有機
Pd(CCP4230・奥野製薬(株)製)をスピンナ
ーにより回転塗布、300℃で10分間の加熱焼成処理
をした。また、こうして形成された主元素としてPdよ
りなる微粒子から形成される導電性膜3の膜厚は10ナ
ノメートル、シート抵抗値は2×104 Ω/□であっ
た。
ように複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造
として微粒子が個々に分散配置した状態のみならず、微
粒子が互に隣接或いは重なり合った状態(島状も含む)
の膜を指し、その粒径とは前記状態で粒子形状が認識可
能な微粒子についての径をいう。
チャントによりエッチングして所望のパターンを形成し
た(図3(b))。
4,5、導電性膜3を形成した。
を設置し、真空ポンプにて排気して2×10-5torr
の真空度に達した後、電源51より素子電極4,5間に
電圧を印加し、通電処理(フォーミング処理)して、電
子放出部2を形成した(図3(c))。フォーミング処
理の電圧波形は図4(b)に準じた。本実施例ではパル
ス幅T1を1ミリ秒、パルス間隔T2を10ミリ秒と
し、三角波ではなく矩形波を用い、矩形波の波高値(ピ
ーク電圧)を0.1Vステップで昇圧させてフォーミン
グ処理を行った。
Vの電圧でT2間に抵抗測定パルスを挿入し、抵抗を測
定した。尚、フォーミング処理の終了は抵抗測定パルス
での測定値が約1Mオーム以上になった時とし、同時に
素子への電圧の印加を終了した。本実施例で作製した2
つの素子のフォーミング電圧VFは、夫々5.1V,
5.0Vであった。
4(b)の波形で矩形波の波高値を14Vで、活性化処
理した。具体的には、上記の真空容器55内で、素子電
流If及び放出電流Ieを測定しながら、素子電極4,
5間にパルス電圧を印加して行った。尚、真空容器55
内の真空度は1.5×10-5torrとし、約30分で
活性化処理を終了した。
導電性膜3上に被覆された炭素を主成分とする被膜上
に、不図示の可視光Ar+レーザー(使用波長は51
4.5ナノメートル)を導入し、照射点のレーザーパワ
ーが20mWになるように調整しながら、掃引速度1m
m/分で電子放出部2、並びに導電性膜3上にある炭素
被膜に選択的に照射し、加熱した。この時の使用レーザ
ービーム径は、およそ1マイクロメーター程度であっ
た。尚、この操作は2個の素子のうちの片方についての
み行った。
180℃、5時間ベーキングを行う安定化工程を施し
た。
表面伝導型電子放出素子の特性及び形態について観察し
た。
の図5の測定評価系を用いて行った。具体的にはアノー
ド電極54と電子放出素子間の距離を4ミリメートル、
アノード電極54の電位を1kV、電子放出特性測定時
の真空容器55内の真空度を1×10-7torrとし、
素子電極4,5間に素子電圧を14V印加し、その時に
流れる素子電流If及び放出電流Ieを測定した。
2及びこの近傍の炭素被膜の加熱を行った本発明による
素子は、測定初期より、安定した素子電流If、放出電
流Ieが観察され、素子電圧14Vでは素子電流Ifが
2.0mA、放出電流Ieが4.0μAとなり、電子放
出効率η=Ie/Ifは0.20%であった。
った素子は、素子電圧14Vでは素子電流Ifが1.0
mA、放出電流Ieが0.5μAとなり、電子放出効率
η=Ie/Ifは0.05%であった。
より、安定でかつ効率の良い電子放出素子であることが
わかる。又、安定化工程を通じても、従来の素子と比べ
て、素子電流If、放出電流Ieが大きく、本素子は、
熱的にも安定性が高いと推定される。
素子を電子顕微鏡で観察したところ、素子の形態は、素
子電極4,5間の導電性膜3の変質部分、すなわち電子
放出部2から高電位側により厚く被膜が形成されてい
た。また、この被膜は金属微粒子の周囲及び微粒子間に
も形成されているようであった。
で測定したところ、レーザー照射を行った素子の結晶性
の方が単に活性化処理のみを施した素子よりも上昇して
いることがわかった。
択的にレーザーを照射することで、被膜している炭素膜
の結晶性を向上することができ、素子電流If、放出電
流Ieが安定し、かつ効率の良い電子放出素子が作製さ
れた。
4,5間に素子電圧14V印加し、一定時間駆動した
後、素子電流If及び放出電流Ieを測定したところ、
本発明による手法で作製された素子では、Ifが1.5
mA、放出電流Ieが2.4μAとなり、電子放出効率
η=Ie/Ifは0.16%で、初期値の80%であっ
た。一方、通常の活性化のみを行った素子では、Ifが
1.0mA、放出電流Ieが0.2μAとなり、電子放
出効率η=Ie/Ifは0.02%で、初期値の40%
であった。
素子は、炭素膜の結晶性を向上させたことにより、長時
間駆動後における劣化度が低く、安定性の高い素子であ
ることがわかった。
出素子の構成は、図1に示されるものと同様であり、図
3の製造工程図に基づきその製造方法を以下に説明す
る。尚、基板1上には、同一形状の素子を2個形成し
た。
のシリコン酸化膜をスパッタ法で形成した基板1上に、
素子電極間ギャップとなるべきパターンをホトレジスト
(RD−2000N−41・日立化成社製)形成し、真
空蒸着法により厚さ5ナノメートルのTi、厚さ100
ナノメートルのNiを順次堆積した。
し、Ni/Ti堆積膜をリフトオフし、素子電極間隔L
は3マイクロメートルとし、素子電極の幅Wが300マ
イクロメートルの素子電極4,5を形成した(図3
(a))。
を真空蒸着により堆積、パターニングし、その上に有機
Pd(CCP4230・奥野製薬(株)製)をスピンナ
ーにより回転塗布、300℃で10分間の加熱焼成処理
をした。また、こうして形成された主元素としてPdよ
りなる微粒子から形成される導電性膜3の膜厚は10ナ
ノメートル、シート抵抗値は2×104 Ω/□であっ
た。
ように複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造
として微粒子が個々に分散配置した状態のみならず、微
粒子が互に隣接或いは重なり合った状態(島状も含む)
の膜を指し、その粒径とは前記状態で粒子形状が認識可
能な微粒子についての径をいう。
チャントによりエッチングして所望のパターンを形成し
た(図3(b))。
4,5、導電性膜3を形成した。
を設置し、真空ポンプにて排気して2×10-5torr
の真空度に達した後、電源51より素子電極4,5間に
電圧を印加し、通電処理(フォーミング処理)して、電
子放出部2を形成した(図3(c))。フォーミング処
理の電圧波形は図4(b)に準じた。本実施例ではパル
ス幅T1を1ミリ秒、パルス間隔T2を10ミリ秒と
し、三角波ではなく矩形波を用い、矩形波の波高値(ピ
ーク電圧)を0.1Vステップで昇圧させてフォーミン
グ処理を行った。
Vの電圧でT2間に抵抗測定パルスを挿入し、抵抗を測
定した。尚、フォーミング処理の終了は抵抗測定パルス
での測定値が約1Mオーム以上になった時とし、同時に
素子への電圧の印加を終了した。本実施例で作製した2
つの素子のフォーミング電圧VFは、夫々5.2V,
4.9Vであった。
4(b)の波形で矩形波の波高値を14Vで、活性化処
理した。具体的には、上記の真空容器55内にアセトン
を1.0×10-4torr導入し、素子電流If及び放
出電流Ieを測定しながら、素子電極4,5間にパルス
電圧を印加して行った。約20分で活性化処理を終了し
た。
導電性膜3上に被覆された炭素を主成分とする被膜上
に、不図示の可視光Ar+レーザー(使用波長は51
4.5ナノメートル)を導入し、照射点のレーザーパワ
ーが30mWになるように調整しながら、掃引速度10
mm/分で電子放出部2、並びに導電性膜3上にある炭
素被膜に選択的に照射し、加熱した。この時の使用レー
ザービーム径は、およそ1マイクロメーター程度であっ
た。
処理を更に順次2回繰り返して行った。
ーザーパワーが実施例1に比べて強く、導電性膜3上に
形成された被膜の結晶性の向上の効果に加えて、部分的
な蒸発が進行するので、減少した量を補うために上述の
操作を繰り返し行うことで、高結晶性の炭素被膜を厚く
する効果がある。
2個の素子のうちの片方についてのみ行った。
180℃、5時間ベーキングを行う安定化工程を施し
た。
表面伝導型電子放出素子の特性及び形態について観察し
た。
の図5の測定評価系を用いて行った。具体的にはアノー
ド電極54と電子放出素子間の距離を4ミリメートル、
アノード電極54の電位を1kV、電子放出特性測定時
の真空容器55内の真空度を1×10-7torrとし、
素子電極4,5間に素子電圧を14V印加し、その時に
流れる素子電流If及び放出電流Ieを測定した。
った本発明による素子は、測定初期より、安定した素子
電流If、放出電流Ieが観察され、素子電圧14Vで
は素子電流Ifが2.5mA、放出電流Ieが4.3μ
Aとなり、電子放出効率η=Ie/Ifは0.17%で
あった。
かった素子は、素子電圧14Vでは素子電流Ifが0.
95mA、放出電流Ieが0.6μAとなり、電子放出
効率η=Ie/Ifは0.06%であった。
より、安定でかつ効率の良い電子放出素子であることが
わかる。又、実施例1の本発明による素子と同様、熱的
安定性が高いと推定される。
素子を電子顕微鏡で観察したところ、素子の形態は、素
子電極4,5間の導電性膜3の変質部分、すなわち電子
放出部2から高電位側により厚く被膜が形成されてい
た。また、この被膜は金属微粒子の周囲及び微粒子間に
も形成されているようであった。
で測定したところ、レーザー照射を行った素子の結晶性
の方が単に活性化処理のみを施した素子よりも上昇して
いることがわかった。
択的にレーザーを照射することで、被膜している炭素膜
の結晶性を向上することができ、素子電流If、放出電
流Ieが安定し、かつ効率の良い電子放出素子が作製さ
れた。
子を単純マトリクス配置した図7に示したような電子源
を用いて、図8に示したような画像形成装置を作製した
例を説明する。
板1の一部の平面図を図13に示す。また、図13中の
A−A’断面図を図14に示す。但し、図7、図8、図
13及び図14において同じ符号は同じ部材を示す。
配線とも呼ぶ)、103はY方向配線(上配線とも呼
ぶ)、3は導電性膜、4,5は素子電極、401は層間
絶縁層、402は素子電極4と下配線102と電気的接
続のためのコンタクトホールである。
いて工程順に従って具体的に説明する。尚、以下の各工
程a〜hは図15の(a)〜(h)に対応するものであ
る。
ートルのシリコン酸化膜をスパッタ法で形成した基板1
上に、真空蒸着により、厚さ5ナノメートルのCr、厚
さ600ナノメートルのAuを順次積層した後、ホトレ
ジスト(AZ1370・ヘキスト社製)をスピンナーに
より回転塗布し、ベークした後、ホトマスク像を露光、
現像して、下配線102のレジストパターンを形成し、
Au/Cr堆積膜をウエットエッチングして、所望の形
状の下配線102を形成した。
らなる層間絶縁層401をRFスパッタ法により堆積し
た。
02を形成するためのホトレジストパターンを作り、こ
れをマスクとして層間絶縁層401をエッチングしてコ
ンタクトホール402を形成した。エッチングはCF4
とH2 ガスを用いたRIE(Reactive・Ion
・Etching)法によった。
00N−41・日立化成社製)で形成し、スパッタ法に
より、厚さ100ナノメートルのITOを堆積した。ホ
トレジストパターンを有機溶剤で溶解し、ITO膜をリ
フトオフし、素子電極間隔Lが3マイクロメートル、幅
Wが300マイクロメートルの素子電極4,5を形成し
た。
ーンを形成した後、厚さ5ナノメートルのTi、厚さ5
00ナノメートルのAuを順次真空蒸着により堆積し、
リフトオフにより不要の部分を除去して、所望の形状の
上配線103を形成した。
堆積・パターニングし、その上に有機Pd(ccp42
30・奥野製薬(株)製)をスピンナーにより回転塗布
し、300℃で10分間の加熱焼成処理をした。こうし
て形成された主元素がPdOの微粒子からなる導電性膜
3の膜厚は約10ナノメートル、シート抵抗値は3×1
04 Ω/□であった。尚、ここで述べる微粒子膜とは、
上述したように複数の微粒子が集合した膜であり、その
微細構造として微粒子が個々に分散配置した状態のみな
らず、微粒子が互いに隣接、あるいは、重なり合った状
態(島状も含む)の膜を指し、その粒径とは、前記状態
で粒子形状が認識可能な微粒子についての径をいう。
によりエッチングして所望のパターンを形成した。
パターンを形成し、真空蒸着により厚さ5ナノメートル
のTi、厚さ500ナノメートルのAuを順次堆積し
た。リフトオフにより不要の部分を除去することによ
り、コンタクトホール402を埋め込んだ。
2、層間絶縁層401、上配線103、素子電極4,
5、導電性膜3等を形成した。
電性膜3がマトリクス配線された基板1(図13)を用
いて画像形成装置を構成した例を、図8と図9を用いて
説明する。
リクス配線された基板1(図13)をリアプレート11
1上に固定した後、基板1の5mm上方に、フェースプ
レート116(ガラス基板113の内面に蛍光膜114
とメタルバック115が形成されて構成される)を支持
枠112を介して配置し、フェースプレート116、支
持枠112、リアプレート111の接合部にフリットガ
ラスを塗布し、大気中で430℃で10分以上焼成する
ことで封着した。またリアプレート111への基板1の
固定もフリットガラスで行った。
光体122のみからなるが、本実施例では蛍光体122
はストライプ形状(図9(a))を採用し、先にブラッ
クストライプを形成し、その間隙部に各色蛍光体122
を塗布して蛍光膜114を作製した。ブラックストライ
プの材料としては、通常よく用いられている黒鉛を主成
分とする材料を用いた。
る方法としてはスラリー法を用いた。また、蛍光膜11
4の内面側にはメタルバック115を設けた。メタルバ
ック115は、蛍光膜114の作製後、蛍光膜114の
内面側表面の平滑化処理(通常フィルミングと呼ばれ
る)を行い、その後、Alを真空蒸着することで作製し
た。
114の導電性を高めるため、蛍光膜114の外面側に
透明電極(不図示)が設けられる場合もあるが、本実施
例では、メタルバック115のみで十分な導電性が得ら
れたので省略した。
蛍光体122と表面伝導型電子放出素子104とを対応
させなくてはいけないため、十分な位置合わせを行っ
た。
の雰囲気を排気管(図示せず)を通じ真空ポンプにて1
0の−5乗torr程度の真空度まで排気した後、外部
端子Dx1ないしDxmとDy1ないしDynを通じ、
素子電極4,5間に電圧を印加し、導電性膜3をフォー
ミング処理することにより電子放出部2を作成した。フ
ォーミング処理の電圧波形は、先の実施例と同様とし
た。
ラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置された状
態となり、その微粒子の平均粒径は3ナノメートルであ
った。
理した。尚、この時、図5の外囲器118内の真空度
は、1.5×10-5torrとした。そして約40分で
活性化処理を終了した。
出部2を含む導電性膜3上に被覆された炭素を主成分と
する被膜上に、可視光Ar+レーザー(使用波長は51
4.5ナノメートル)を導入し、照射点のレーザーパワ
ーが20mWになるように調整しながら、掃引速度1m
m/分で基板1の裏面から電子放出部2、並びに導電性
膜3上にある炭素被膜に選択的に照射し、加熱した。こ
の時の使用レーザービーム径は、およそ1マイクロメー
ター程度であった。
を施した後、封止後の真空度を維持するために、高周波
加熱法でゲッター処理を行った。
て、外部端子Dx1ないしDxmとDy1ないしDyn
を通じ、走査信号及び変調信号を不図示の信号発生手段
より夫々表面伝導型電子放出素子104に印加すること
により電子放出させると共に、高圧端子Hvを通じてメ
タルバック114に数kV以上の高圧を印加して、電子
ビームを加速し、蛍光膜115に衝突させ、励起・発光
させることで画像を表示した。
電性膜の間隙(亀裂)部を含む領域に被覆された炭素被
膜に局所的な加熱処理を施すことにより、グラファイト
あるいはアモルファスカーボンあるいはそれらの混合物
からなる炭素を主成分とする該被膜の結晶性を向上する
ことができ、従来よりも電子放出効率が高く、かつ安定
性の高い電子放出素子が得られる。
備えた電子源においては、安定で制御された電子放出特
性が得られ、且つ歩留よく作製できるようになった。
置においても、安定で制御された電子放出特性が得ら
れ、例えば蛍光体を画像形成部材とする画像形成装置に
おいては、低電流で明るい高品位な画像形成装置、例え
ばカラーフラットテレビが実現された。
型の表面伝導型電子放出素子を模式的に示した平面図及
び縦断面図である。
型の表面伝導型電子放出素子を模式的に示した図であ
る。
製法を説明するための図である。
示す概略的構成図である。
電流−素子電圧特性(I−V特性)を示す図である。
ある。
装置に用いる表示パネルの概略的構成図である
る。
を示す図である。
いる表示パネルの概略的構成図である。
ある。
明するための図である。
る、W値とラマン分光法による結晶性評価を示す模式図
である。
Claims (23)
- 【請求項1】 電極間に、電子放出部を有する導電性膜
を備える電子放出素子の製造方法において、 一部に間隙を有し、少なくとも該間隙部に炭素を主成分
とする膜を有する導電性膜の、該炭素を主成分とする膜
に、局部加熱手段にて加熱を施す工程を有することを特
徴とする電子放出素子の製造方法。 - 【請求項2】 電極間に、電子放出部を有する導電性膜
を備える電子放出素子の製造方法において、 一部に間隙を有する導電性膜の少なくとも該間隙部に、
炭素を主成分とする膜を形成する工程と、 前記炭素を主成分とする膜に、局部加熱手段にて加熱を
施す工程とを有することを特徴とする電子放出素子の製
造方法。 - 【請求項3】 更に、導電性膜に間隙を形成する工程を
有する請求項2に記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項4】 前記導電性膜に間隙を形成する工程は、
該導電性膜に電圧を印加する工程を有する請求項3に記
載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項5】 前記炭素を主成分とする膜を形成する工
程と、前記局部加熱手段にて加熱を施す工程とを繰り返
し行う過程を有する請求項2〜4のいずれかに記載の電
子放出素子の製造方法。 - 【請求項6】 前記導電性膜の間隙部に炭素を主成分と
する膜を形成する工程は、炭素あるいは炭素化合物の雰
囲気下にて、該導電性膜に電圧を印加する工程を有する
請求項2〜5のいずれかに記載の電子放出素子の製造方
法。 - 【請求項7】 前記局部加熱手段にて加熱を施す工程
は、前記炭素を主成分とする膜の結晶性を向上させる工
程である請求項1〜6のいずれかに記載の電子放出素子
の製造方法。 - 【請求項8】 前記局部加熱手段は、レーザーである請
求項1〜7のいずれかに記載の電子放出素子の製造方
法。 - 【請求項9】 前記導電性膜は、微粒子からなる請求項
1〜8のいずれかに記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項10】 前記微粒子は、金属あるいは金属酸化
物である請求項9に記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項11】 前記炭素を主成分とする膜は、アモル
ファスカーボンあるいはグラファイトあるいはこれらの
混合物を主体としてなる請求項1〜10のいずれかに記
載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項12】 前記電子放出素子は、表面伝導型電子
放出素子である請求項1〜11のいずれかに記載の電子
放出素子の製造方法。 - 【請求項13】 電子放出素子と前記電子放出素子の駆
動手段とを有する電子源の製造方法において、前記電子
放出素子が、請求項1〜12のいずれかに記載の方法に
て製造されることを特徴とする電子源の製造方法。 - 【請求項14】 前記電子源は、複数の電子放出素子が
並列に結線された素子列を少なくとも1列以上有する電
子源である請求項13に記載の電子源の製造方法。 - 【請求項15】 前記電子源は、複数の電子放出素子が
結線された素子列の複数列がマトリクス配置されている
電子源である請求項13に記載の電子源の製造方法。 - 【請求項16】 電子放出素子と電子線の照射により画
像を形成する画像形成部材とを有する画像形成用パネル
の製造方法において、前記電子放出素子が、請求項1〜
12のいずれかに記載の方法にて製造されることを特徴
とする画像形成用パネルの製造方法。 - 【請求項17】 前記画像形成用パネルは、前記電子放
出素子の複数が並列に結線された素子列を少なくとも1
列以上有する画像形成用パネルである請求項16に記載
の画像形成用パネルの製造方法。 - 【請求項18】 前記画像形成用パネルは、前記電子放
出素子の複数が結線された素子列の複数列がマトリクス
配置されている画像形成用パネルである請求項16に記
載の画像形成用パネルの製造方法。 - 【請求項19】 前記画像形成部材が、蛍光体である請
求項16〜18のいずれかに記載の画像形成用パネルの
製造方法。 - 【請求項20】 電子放出素子と、画像形成部材と、前
記電子放出素子から放出される電子線の前記画像形成部
材への照射を情報信号に応じて制御する駆動手段とを有
する画像形成装置の製造方法において、前記電子放出素
子が請求項1〜12のいずれかに記載の方法にて製造さ
れることを特徴とする画像形成装置の製造方法。 - 【請求項21】 前記画像形成装置は、前記電子放出素
子の複数が並列に結線された素子列を少なくとも1列以
上有する画像形成装置である請求項20に記載の画像形
成装置の製造方法。 - 【請求項22】 前記画像形成装置は、前記電子放出素
子の複数が結線された素子列の複数列がマトリクス配置
されている画像形成装置である請求項20に記載の画像
形成装置の製造方法。 - 【請求項23】 前記画像形成部材が、蛍光体である請
求項20〜22のいずれかに記載の画像形成装置の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19796695A JP2850108B2 (ja) | 1995-07-12 | 1995-07-12 | 電子放出素子、電子源及び画像形成装置の製造方法 |
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JP19796695A JP2850108B2 (ja) | 1995-07-12 | 1995-07-12 | 電子放出素子、電子源及び画像形成装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0927272A true JPH0927272A (ja) | 1997-01-28 |
JP2850108B2 JP2850108B2 (ja) | 1999-01-27 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6900581B2 (en) | 1999-02-22 | 2005-05-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron-emitting device, electron source and image-forming apparatus, and manufacturing methods thereof |
-
1995
- 1995-07-12 JP JP19796695A patent/JP2850108B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6900581B2 (en) | 1999-02-22 | 2005-05-31 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron-emitting device, electron source and image-forming apparatus, and manufacturing methods thereof |
US7067336B1 (en) | 1999-02-22 | 2006-06-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron-emitting device, electron source and image-forming apparatus, and manufacturing methods thereof |
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