JPH09265619A - 磁気記録媒体、その製造方法及び磁気記憶装置 - Google Patents

磁気記録媒体、その製造方法及び磁気記憶装置

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JPH09265619A
JPH09265619A JP7033896A JP7033896A JPH09265619A JP H09265619 A JPH09265619 A JP H09265619A JP 7033896 A JP7033896 A JP 7033896A JP 7033896 A JP7033896 A JP 7033896A JP H09265619 A JPH09265619 A JP H09265619A
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film
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magnetic recording
atomic
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JP7033896A
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English (en)
Inventor
Yuzuru Inagaki
譲 稲垣
Yoshifumi Matsuda
好文 松田
Shinan Yaku
四男 屋久
Akira Ishikawa
石川  晃
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】高密度な情報の記録再生が可能な、高保磁力、
低ノイズ、高S*かつ信頼性の高い磁気記録媒体を提供
すること。 【解決手段】基板11上に、少なくとも二層の非磁性下
地膜を介しCo基合金系の磁性膜からなる情報記録層1
5、15’が配置された磁気記録媒体であり、上記非磁
性下地膜の内に最も基板側に配置された第1の非磁性下
地膜13、13’が、Crを主成分とし、Zr、Si、
Al、Ti、V、Ta、Yからなる群の少なくとも一種
の元素と酸素とを含有する複合膜からなり、上記元素の
濃度を1原子%以上、20原子%以下、酸素の濃度を1
原子%以上、30原子%以下とするようにした磁気記録
媒体。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク等の
情報記録用磁気記録媒体、その製造方法及び磁気記憶装
置に係り、特に面記録が高密度の磁気記録媒体、その製
造方法及び磁気記憶装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁化を面内方向に反転させて記録
する面内磁気記録用の媒体は、Coのような強磁性金属
を主成分としたCo基合金系磁性薄膜を情報記録層とし
ている。1平方インチ当たり1ギガビット以上の高密度
の情報記録を可能とするためには、この記録層に対して
保磁力を高め、媒体ノイズを小さくすることが要求され
ている。
【0003】一般に、保磁力(Hc)を大きくするため
にCoCrPt合金磁性膜中のPt添加量を増し、これ
を体心立方構造(bcc)のCr又はCrを主成分とす
る合金系非磁性下地膜上にエピタキシャル成長させる方
法が、例えば、ジャーナル・オブ・アプライド・フイジ
ックス,73巻(1993年)第5569〜5571頁
(J.Appl.Phys.,vol.73,No.1
0,(1993)p.5569〜5571)に提案され
ている。
【0004】また、媒体ノイズ低減のための有効な方法
として、媒体をスパッタリングで形成する際、Ar圧を
10mTorr以上に増加することより記録層の結晶粒
を空間的に分離することにより、磁性結晶粒を磁気的に
孤立化させる方法(例えば、アイ・イー・イー・イー
トランザクション オン マグネチックス、26巻(1
990年)第1578〜1580頁(IEEE Tra
ns.on Magn.,Vol.26,No.5(1
990)p.1578〜1580))が知られている。
また、CoCrPt磁性膜中のCrの濃度を増してCr
を結晶粒界に偏析させる方法(例えば、アイ・イー・イ
ー・イー トランザクション オン マグネチックス、
29巻(1993年)第3667〜3669頁(IEE
E Trans.on Magn.,Vol.29,N
o.6(1993)p.3667〜3669))が知ら
れている。
【0005】さらに、媒体ノイズ低減のための手法とし
て、Crを主成分とする非磁性下地膜を2層化し、基板
側に配置された第1の下地膜として、X線回析において
体心立方構造の(110)配向を主体とする結晶構造を
有する非磁性下地膜を膜厚0.5〜8nm形成し、その
上に体心立方構造の(200)配向を主体とする第2の
非磁性下地膜を膜厚20〜300nm形成する方法が、
特開平7−57238号に記載されている。また、静磁
気特性や電磁変換特性を向上させる方法として、Crを
主成分とする非磁性下地膜に酸素を含有させて結晶配向
性を向上させる手法が特開平1−290118号に記載
されている。
【0006】さらに、高密度記録を実現するためには、
ビット境界の磁化からの反磁界に打ち勝って磁化を記録
方向に保持しておくために、保磁力を高くすると同時
に、上記記録層の膜厚tと残留磁束密度Brの積Br・
tを小さくして反磁界を小さくする必要がある(例え
ば、アイ・イー・イー・イー トランザクション オン
マグネチックス、29巻(1993年)第3670〜3
672頁(IEEE Trans.on Magn.,
Vol.29,No.6(1993)p.3670〜3
672))。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術、すなわ
ち、磁性膜中Pt濃度の増加による高保磁力化は、貴金
属であるPtが高価で、製造コストが上昇する問題があ
った。このため、他の方法により保磁力を向上する技術
が求められていた。また、磁性膜の結晶粒を分離した
り、Cr濃度を増して低ノイズ化する方法は、保磁力角
形比(S*)の値が低下し、その結果、再生出力が低下
する問題があった。さらに、上記方法により媒体ノイズ
を低減すると、保磁力の環境温度に対する変化率を室温
(25℃)の保磁力で規格化した値(以下、規格化保磁
力温度変化率という)が増加し、低温においては保磁力
が増加してオーバーライトが困難となり、高温において
は保磁力が低下して再生出力が低下する問題が生じた。
従来、低ノイズ化と保磁力温度変化率の低減を両立して
実現する手法は知られていなかった。
【0008】また、特開平7−57238号に記載の手
法では、基板側に配置された第1の下地膜を0.5〜8
nm、好ましくは0.5〜1.5nmという、他の膜に
比べて1/10以下の極めて薄い膜厚で形成する必要が
あり、ディスク面内での膜厚分布の制御や、量産プロセ
スで大量の磁気記録媒体を一定の品質で製造することが
困難であった。また、保磁力を向上したり保磁力温度変
化率を低減する効果については記述されていない。
【0009】また、特開平1−290118号に記載の
手法では、保磁力やS*を向上できるが、媒体ノイズを
低減させたり、保磁力温度変化率を低減する効果は記述
されていない。
【0010】以上述べたように、より高密度化を実現す
るためには、磁性膜中のPt濃度を増加することなく保
磁力を向上し、また、S*の値を下げず、規格化保磁力
温度変化率を増加することなく媒体ノイズを低減するこ
とが必要である。
【0011】さらに、磁気抵抗効果型素子を用いた記録
・再生分離型ヘッドと上記磁気記録媒体を、どのように
組み合わせることにより高い記録密度を持つ磁気ディス
ク装置を実現できるかについては、十分に検討されてい
なかった。前述の1平方インチ当たり1ギガビット以上
の記録密度を達成するためには、2.0kOeを超える
Hcが必要になることが分かっている。
【0012】本発明の第1の目的は、高密度な情報の記
録再生が可能な、高保磁力、高S*、低ノイズ、かつ信
頼性の高い磁気記録媒体を提供することにある。本発明
の第2の目的は、上記のような高保磁力、高S*、低ノ
イズの磁気記録媒体の製造方法を提供することである。
本発明の第3の目的は、上記のような高保磁力、高
*、低ノイズの磁気記録媒体を用いた信頼性の高い磁
気記憶装置を提供することである。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記第1の目的を達成す
るために、本発明の磁気記録媒体は、基板上に、少なく
とも二層の非磁性下地膜を介し、Co基合金系の磁性膜
からなる情報記録層を配置し、上記非磁性下地膜の内の
最も基板側に配置された第1の非磁性下地膜を、Crを
主成分とし、Zr、Si、Al、Ti、V、Ta及びY
からなる群から選ばれた少なくとも一種の元素並びに酸
素を含有する複合膜とし、上記元素の濃度が1原子%以
上、20原子%以下、酸素の濃度が1原子%以上、30
原子%以下となるようにしたものである。
【0014】上記非磁性下地膜の内の最も情報記録層側
に配置された第2の非磁性下地膜は、Crを主成分と
し、Ti、Mo、W及びVからなる群から選ばれた少な
くとも一種の元素を、5原子%以上、50原子%以下の
濃度で含有する合金からなり、X線回析において体心立
方構造の(110)配向を主体とする結晶構造を有する
ことが好ましい。
【0015】さらに、上記第1の非磁性下地膜をX線回
析において非晶質とし、膜厚を10nm以上、100n
m以下とし、上記第2の非磁性下地膜の膜厚を2nm以
上、15nm以下とし、上記磁性膜をX線回析において
六方細密充填構造の(10.0)配向の結晶構造とする
と、保磁力を向上したり温度変化率を低減する効果が現
われるので好ましい。特に、上記第1の非磁性下地膜の
平均粒径を2nm以上、30nm以下とすると、媒体ノ
イズを低く保つことができる。また、上記非磁性下地膜
の厚みが10nm以上であれば量産プロセスの制御が容
易となり、厚みが100nm以下であれば所望の粒径の
範囲に保つことができる。
【0016】上記Zr、Si、Al、Ti、V、Ta、
Yからなる群の元素はCrに比べて酸素と結合しやすい
性質を有し、複合膜中では主として酸化物の状態で存在
する。このように、非磁性下地膜をZr、Si、Al、
Ti、V、Ta、Yからなる群の元素の酸化物とCrと
の複合膜とすることにより、粒径が小さく、かつ均一化
し、X線回析において非晶質膜とすることができる。こ
れは、Zr、Si、Al、Ti、V、Ta、Yからなる
元素群の酸化物がCrの結晶粒の結晶成長を抑制する効
果があるためである。これらの酸化物は膜中で偏析して
存在すると保磁力の向上や保磁力温度変化率の低減が可
能となるので好ましい。
【0017】上記非磁性下地膜の、Zr、Si、Al、
Ti、V、Ta、Yからなる群の元素の酸化物の添加濃
度は、上記元素群の合計濃度を1原子%以上、20原子
%以下、酸素の濃度を1原子%以上、30原子%以下と
すると、X線回析において非晶質構造とすることができ
る。このような複合膜は、Zr、Si、Al、Ti、
V、Ta、Yからなる群の元素の酸化物とCrからなる
ターゲットを用いて、スパッタリングすることにより容
易に形成できる。また、上記元素の酸化物を2種類以上
添加した場合も同様の特性向上が図られる。
【0018】さらに、非磁性下地膜が少なくともに二層
以上で構成され、その内の最も基板側に配置された第1
の非磁性下地膜が上記複合膜からなり、非磁性下地膜の
内の最も情報記録層側に配置された第2の非磁性下地膜
を、体心立方構造(bcc)のCrを主成分とする合金
からなり、かつ、その(110)結晶格子の大きさが、
六方細密充填構造(hcp)のCo合金磁性膜の(1
0.1)結晶格子の大きさと実質的に整合するように形
成すると、Hcを2kOe以上、5kOe以下、S*
0.7以上、0.95以下と高く保つことができ、1G
b/in2以上の高い記録密度においても十分な再生出
力が得られるので好ましい。ここで、第2の非磁性下地
膜の結晶格子の大きさが、上記磁性膜の結晶格子の大き
さと実質的に整合するとは、それらの結晶格子の大きさ
の差が±5%程度の範囲にあればよいことを意味する。
特に、上記第2の非磁性下地膜をCr−Ti或はCr−
Mo系合金とし、Ti或はMoの添加濃度を10−20
原子%とすると、Co−Cr−Pt系合金磁性膜との結
晶格子の整合性が増すとともに、結晶粒径を小さくでき
るので、媒体ノイズを低減できて好ましい。
【0019】また、上記複合膜からなる非磁性下地膜を
形成すると、磁性膜の結晶粒中の、(10.0)面が基
板と平行となるように配向成長した結晶粒の比率を増す
ことができる。その結果、磁性膜の磁化容易軸であるc
軸が基板面と平行となり、保磁力や残留磁化角形比
(S)の値が向上する。その結果、1Gb/in2以上
の高い記録密度においても十分な再生出力が得られる。
【0020】以上述べたような、結晶構造、結晶配向
性、格子整合性の改良の結果、保磁力や保磁力温度変化
率を改良することができる。特に、上記第2の非磁性下
地膜の膜厚を5nm以上、15nm以下とすると、上記
保磁力温度変化率は顕著に低減する。その結果、5℃か
ら55℃の温度範囲で保磁力の変化が低減し、オーバー
ライトや再生出力の変動を低減できて好ましい。
【0021】さらに、上記磁気記録媒体において、総磁
性膜厚tを10nm、30nm以下とし、保磁力Hcを
2.0kOe以上とすると、磁化遷移領域の磁化の乱れ
が低減して磁化遷移領域の幅が減少し、高記録密度領域
においても高い出力が得られるので好ましい。特にBr
tを30Gμm以上、100Gμm以下とすると媒体ノ
イズが低減し、高い媒体S/Nが得られるので好まし
い。また、良好な重ね書き(オーバーライト)特性を保
証するためには保磁力Hcは4kOe以下とすることが
好ましい。
【0022】さらに、上記磁気記録媒体において、ヘッ
ド走行方向と垂直の方向に測定した媒体保護膜表面の中
心線平均粗さRaを0.3nm以上、3nm以下とする
と、ヘッド浮上量が0.02μm以上、0.1μm以下
でも安定に浮上するため好ましい。また、媒体表面のR
aを従来より小さい値とした場合に、CSS動作時の磁
気ヘッドの粘着を制御するには、磁性膜上に保護膜を形
成した後にマスクを用いてプラズマエッチングすること
で表面に高さ20nm以下の微細な凹凸を形成したり、
Al等の低融点金属化合物、混合物のターゲットを用い
て保護膜表面に微細な突起が生じるように形成したり、
或は熱処理によって表面に微細な凹凸を形成すると、C
SS動作時にヘッドと媒体の摩擦力が低減でき、ヘッド
が媒体に粘着する問題が回避されるので好ましい。
【0023】さらに、Cr、Mo、W、V、Ta、N
b、Zr、Ti、B、Be、C、Ni−P、Ni−Bの
少なくとも一つを主たる成分として、膜厚が0.5nm
以上、5nm以下である非磁性中間層により、磁性膜を
2層以上に多層化すると単層の磁性膜に比べて媒体ノイ
ズがさらに低下するので好ましい。
【0024】さらに、磁性膜の保護層としてカーボン、
水素添加カーボン又はカーボンを主たる成分とする非磁
性材料を膜厚5〜20nm形成し、さらに吸着性のパー
フルオロアルキルポリエーテル等の潤滑層を膜厚3〜1
0nm設けることにより信頼性が高く、高密度記録が可
能な磁気記録媒体が得られる。保護層にはWC、(W−
Mo)−C等の炭化物、(Zr−Nb)−N、Si34
等の窒化物、SiO2、ZrO2等の酸化物、或はB、B
4C、MoS2、Rh等を用いると耐摺動性、耐食性を向
上できるので好ましい。これらの保護膜はマスクを用い
て表面をエッチングし、面積比で1〜20%の突起を設
けるか、成膜条件、組成等を調節し、保護膜中に異なる
相からなる突起物を析出せしめることで、保護膜が磁性
膜表面に比べて大きな面粗さを有することがより好まし
い。
【0025】また、上記第2の目的を達成するために、
本発明の磁気記録媒体の製造方法は、基板上に、少なく
とも二層の非磁性下地膜を形成し、ついでCo基合金系
の磁性膜からなる情報記録層を形成するもので、非磁性
下地膜の内の最も基板側に配置された第1の非磁性下地
膜の形成を、Crと、Zr、Si、Al、Ti、V、T
a及びYからなる群から選ばれた少なくとも1種の元素
の酸化物との混合物からなり、上記元素の添加濃度が、
1原子%以上、20原子%以下であるターゲットを用
い、純Ar中で、酸素ガスを用いずにスパッタリングに
より行なうようにしたものである。
【0026】ここで、第1の非磁性下地膜は室温で形成
し、その後に基板を150℃以上、400℃以下に加熱
してから第2の非磁性下地膜を形成すると、保磁力が向
上し、温度変化率を低減するので好ましい。また、媒体
を形成するに当たっては、磁性膜を形成する際の基板温
度を200℃以上、400℃以下とすると、磁性膜中の
Crの偏析が促進されてHcが向上するので好ましい。
【0027】さらに、上記第3の目的を達成するため
に、本発明の磁気記憶装置は、上記いずれか一の磁気記
録媒体と、この磁気記録媒体に情報を記録・再生する磁
気ヘッドとを備えるようにしたものである。
【0028】なお、上記の磁気記憶媒体と組み合わせて
磁気記憶装置とするための磁気ヘッドとしては、再生素
子に磁気抵抗効果型素子を用いた記録・再生分離型ヘッ
ドであることが好ましい。上記の磁気記録媒体は、磁気
抵抗効果型素子の特徴である高い再生感度との組み合わ
せにより、例えば、1平方インチ当たり1ギガビット以
上の記録密度で記録・再生する場合にも十分なS/Nが
得られる。
【0029】さらに、この磁気ヘッドの再生部を、互い
の磁化方向が外部磁界によって相対的に変化することに
よって大きな抵抗変化を生じる複数の導電性磁性層とこ
の導電性磁性層の間に配置された導電性非磁性層を含む
磁気抵抗センサによって構成し、かつ、磁性層の厚さt
と、記録時における磁気記録媒体に対する磁気ヘッドの
相対的な走行方向に磁界を印加して測定したBrとの積
Br・tを30Gμm以上、80Gμm以下とし、上記
方向に磁界を印加して測定した上記磁気記録媒体の保磁
力Hcを、2.2キロエルステッド以上とすることによ
り、1平方インチ当たり2ギガビット以上の高密度な情
報の記録再生も可能となる。
【0030】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面を参照して詳細に説明する。図1は、本発明の面内
磁気記録媒体の断面構造の模式図である。同図におい
て、11はAl−Mg合金、化学強化ガラス、結晶化ガ
ラス、チタン、シリコン、カーボン又はセラミックス等
からなる基板、12及び12’は基板11の両面に形成
したNi−P、Ni−W−P等からなる非磁性メッキ層
である。Al−Mg合金を基板として用いた場合にはこ
のようなメッキ層を備えたものを基板として使用する。
なお、基板にSi単結晶、ガラス、カーボン等を用いた
場合は非磁性メッキ層を形成しなくてもよい。
【0031】また、13及び13’は、Crを主成分と
し、Zr、Si、Al、Ti、V、Ta、Yからなる群
の少なくとも一種の元素と酸素とを含有する複合膜から
なる第1の非磁性下地膜、14及び14’は、Cr、M
o、W、V、Nb、Ta、Cu、Ag、Mn、Zr、H
f若しくはSiからなる金属又はCr、Mo、W、V、
Nb、Ta、Cu、Ag、Mn、Zr、Hf若しくはS
iのいずれかを主成分とする合金からなる第2の非磁性
下地膜である。なお、非磁性下地膜を3層とするとき、
中間の層にも上記と同じ材質が用いられる。
【0032】さらに、15及び15’は、非磁性下地膜
の上に形成したCo−Sm、Co−Ni−Cr、Co−
Ni−Pt、Co−Ni−P、Co−Cr−Ta、Co
−Cr−Pt、Co−Cr−W、Co−Cr−Si、C
o−Cr−Ta−Pt等からなる合金磁性膜からなる情
報記録層、16及び16’は、情報記録層の上に形成し
たカーボン、ボロン、SiO2、ZrO2等からなる非磁
性保護膜である。
【0033】このような面内磁気記録媒体を次ぎのよう
にして作製した。強化ガラス基板、結晶化ガラス基板、
Ni−Pをメッキしてその表面を鏡面研磨したAl合金
基板等の種々の磁気ディスク用基板を用い、上記磁気記
録用媒体を構成する各膜をそれぞれ別々の成膜室で形成
する枚葉式スパッタ装置で、タクト時間10秒一定で一
枚ずつ順次送り、DCマグネトロンスパッタ法により各
膜を形成した。ここで成膜条件は、主真空槽の背圧:5
×10-8Torr以下、基板加熱温度:100〜300
℃、Arガス圧:5〜30mTorr、投入電力:ター
ゲットサイズが6インチに対して1〜4kWである。上
記種々の基板上に、Crを主成分とする一層以上の非磁
性下地膜を形成し、さらに、連続して膜厚10〜30n
mの種々の組成のCo、Cr及びTa又はCo、Cr及
びPtを主成分とする合金磁性膜を形成し、その上にカ
ーボン保護膜を形成した。そして、これらの膜の磁気特
性、結晶学的特性等を評価した。
【0034】また、図2(a)、(b)は、本発明の磁
気記憶装置の平面模式図及びそのAA’線断面模式図で
ある。この磁気記憶装置は、一枚又は複数枚の磁気ディ
スク21と、磁気ディスクの情報記録面に対応した磁気
ヘッド23と、磁気ディスクを回転駆動する駆動部22
と、磁気ヘッド駆動手段24と、信号処理部25とを有
する。前記磁気記録媒体に、磁気ヘッドとして電磁誘導
型記録磁気抵抗効果型素子再生の複合ヘッド(MRヘッ
ド)を組み合わせて用いることが好ましい。
【0035】
【実施例】
〈実施例1〉外径65mm、内径20mm、厚さ0.6
mmのガラスディスク基板に付着した研磨材等の汚れを
洗浄して乾燥させた。
【0036】この基板を枚葉式直流マグネトロンスパッ
タ装置の基板仕込み室に装填して真空に排気した後、当
該基板を加熱室、非磁性下地膜形成室、磁性膜形成室、
非磁性保護膜形成室及び取り出し室の順に、真空度5×
10-8Torr以下の主排気槽を介しながら搬送し、そ
れぞれの室でそれぞれの膜を形成した。
【0037】まず、8mTorrのアルゴン圧のもと
で、Zr添加濃度の異なるCr−ZrO2ターゲットに
1kWの電力を加えて、膜厚10〜100nmのCr−
Zr−O非磁性下地膜を第1の非磁性下地膜として形成
した。次いで加熱室で270℃に加熱し、8mTorr
のアルゴン圧のもとでCr−20原子%Tiターゲット
に4kWの電力を加えて、膜厚2〜15nmのCr−T
i下地膜を第2の非磁性下地膜として形成した。この下
地膜の上に、8mTorrのアルゴン圧のもとでターゲ
ットに1.5kWの電力を加えて、Co−20原子%C
r−6原子%Ptからなる膜厚20nmの合金磁性膜を
積層した。さらに、この磁性膜の上に10mTorrの
アルゴン圧のもとでターゲットに1.5kWの電力を加
えて、膜厚10nmのカーボン保護膜を形成した。そし
て、当該保護膜上に吸着性のパーフルオロアルキルポリ
エーテル等の潤滑層を形成して2.5インチ磁気ディス
クとした。
【0038】こうして形成した磁気ディスクの静磁気特
性(保磁力Hc、角形比S*)や記録再生特性を以下の
方法により評価した。静磁気特性は、上記磁気ディスク
を、その半径20mmの位置から8mm×8mmの略正
方形状に切り出し、片面の磁性膜を削り落とした試料を
作製し、振動試料型磁力計(VSM)を用いて最大印加
磁界を13kOeとして面内方向の静磁気特製を求め
た。また、記録再生特性の評価には、磁気ヘッドとし
て、記録用にギャップ長0.4μm、トラック幅3.5
μm、巻線数17回の薄膜型ヘッド、再生用にシールド
間隔0.25μm、トラック幅2.3μmのMRヘッド
を有する記録再生分離型ヘッドを用い、線記録密度18
0kBPIのときのS/Nの値を求めた。
【0039】ZrO2を添加した非磁性複合膜はX線回
析において回析ピークは検出されなかった。オージェ電
子分光分析により測定した、上記非磁複合下地膜中のZ
rの濃度と、磁性膜のHcとの関係を図3に示す。Zr
の濃度を1原子%以上、20原子%以下とすることによ
り、Hcを向上できた。また、同試料の媒体ノイズを、
Zrを添加しない試料の値で規格化した、規格化媒体ノ
イズと上記複合下地膜中のZr濃度との関係を図4に示
す。Zrの濃度を1原子%以上20原子%以下とするこ
とにより、媒体ノイズを低減できた。また、これらの試
料において、Brと磁性膜厚tとの積はBrtは80G
μm、S*はZr添加濃度によらず約0.8と一定であ
り、S*を減少せずに媒体ノイズを低減できることが確
認できた。また、このときの複合下地膜中のオージェ電
子分光分析により測定した酸素の濃度は、Zr濃度が増
すに従い増加して、1原子%以上、30原子%以下であ
ることが確認された。
【0040】さらに、周囲の温度を5℃から100℃ま
で変化させながら測定した、規格化保磁力温度変化率
(室温の保磁力で規格化)とZr添加濃度との関係を図
5に示す。Zrの濃度を1原子%以上、20原子%以下
とすることにより、規格化保磁力温度変化率が低減でき
た。一方、上記第2の非磁性下地膜であるCr−Ti合
金下地膜の膜厚を20nm以上にすると、上記保磁力温
度変化率の低減効果は減少した。
【0041】さらに、同試料の、線記録密度180kB
PIのときのS/Nの値と、上記複合下地膜中のZr濃
度との関係を図6に示した。Zrの濃度を1原子%以
上、20原子%以下とすることにより、S/Nを向上で
きた。上記方法により形成された磁気記録媒体をX線回
折分析した結果、上記非磁性複合下地膜にZrを添加す
るに従い、磁性膜の配向が六方晶構造の(10.1)配
向から、(10.0)配向に変化し、基板面内方向に磁
化容易軸(c軸)が配向するようになった。これに伴
い、残留磁化角形比(S)の値が0.8から0.9に向
上した。一方、Cr−Ti下地膜の(110)X線回析
強度はZr添加濃度が増すに従い減少した。これは、結
晶粒の微細化を表している。
【0042】〈実施例2〉実施例1におけるZrの代わ
りにSi、Al、Ti、V、Ta、Yをそれぞれ10原
子%添加した磁気ディスクを製造し、そのHc、規格化
ノイズ、線記録密度180kBPIのときのS/N、規
格化保磁力温度変化率を評価した。その値を表1に示
す。比較例には上記元素群を添加しない場合の特性を示
す。
【0043】
【表1】
【0044】いずれの場合も、無添加の試料に比べて特
性向上が図られることが確認された。また、各元素の添
加濃度を変化させた場合も、実施例1と同様、添加濃度
を1原子%以上、20原子%以上、酸素濃度を1原子%
以上、30原子%以下とすることにより特性向上が図ら
れた。さらに、上記元素を2種以上添加した場合も同様
の特性向上が図られることが確認できた。
【0045】さらに実施例1における第2の非磁性下地
膜として、Cr−Tiの代わりに、Cr−20原子%M
o、Cr−20原子%W、Cr−20原子%Vを用いた
磁気ディスクを製造し、その特性を評価した。この場合
も実施例1の磁気ディスクと略同様の結果が得られた。
【0046】〈実施例3〉実施例1、2と同等の特性を
有する磁気ディスクを使用し、CoTaZr合金を記録
用磁極材料とし、MRヘッドを用い、図2(a)及び図
2(b)に示した磁気記録装置を試作した。このよう
に、上記磁気記録媒体と、MRヘッド及び高精度のヘッ
ド位置決め装置とを組み合わせることにより、1平方イ
ンチ当たり1.5ギガビットの面記録密度で記録再生エ
ラー率が10-8の以下の特性が得られた。
【0047】本実施例では、CoTaZr合金を磁極材
とする複合型磁気ヘッドを用いた場合について説明した
が、NiFe、FeC合金等を記録用磁極材とする複合
型磁気ヘッドを用いた場合にも同様な効果が得られる。
さらに、上記磁気ヘッドの再生部を、従来の磁気抵抗効
果よりも格段に大きい巨大磁気抵抗効果を利用した磁気
抵抗センサによって構成することにより、1平方インチ
当たり2ギガビット以上の高い面記録密度で記録再生エ
ラー率が10-8以下の特性が得られた。
【0048】
【発明の効果】本発明によれば、保磁力温度変化率が小
さく、1平方インチ当たり1ギガビット以上と極めて高
い面記録密度で記録可能な面内磁気記録媒体が得られ
た。さらにこの磁気記録媒体と組み合わせた磁気記憶装
置は、1平方インチ当たり1ギガビット以上と極めて高
い面記録密度を有し、高い信頼性を示した。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の磁気記録媒体の縦断面構造
図。
【図2】本発明の一実施例の磁気記憶装置の平面模式図
及びそのA−A’線縦断面図。
【図3】本発明の一実施例の非磁性複合下地膜中のZr
の濃度と、磁性膜Hcとの関係を表す図。
【図4】本発明の一実施例の非磁性複合下地膜中のZr
の濃度と、規格化媒体ノイズとの関係を表す図。
【図5】本発明の一実施例の非磁性複合下地膜中のZr
の濃度と、規格化保磁力温度変化率の関係を表す図。
【図6】本発明の一実施例の非磁性複合下地膜中のZr
の濃度と、線記録密度180kBPIのときのS/Nと
の関係を表す図。
【符号の説明】
11…基板 12、12’…非磁性メッキ膜 13、13’…第1の非磁性下地膜 14、14’…第2の非磁性下地膜 15、15’…情報記録層 16、16’…非磁性保護膜 21…磁気ディスク 22…駆動部 23…磁気ヘッド 24…磁気ヘッド駆動手段 25…信号処理部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石川 晃 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所ストレージシステム事業部内

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に、少なくとも二層の非磁性下地膜
    を介し、Co基合金系の磁性膜からなる情報記録層が配
    置された磁気記録媒体において、上記非磁性下地膜の内
    の最も基板側に配置された第1の非磁性下地膜は、Cr
    を主成分とし、Zr、Si、Al、Ti、V、Ta及び
    Yからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素並びに
    酸素を含有する複合膜からなり、上記元素の濃度が1原
    子%以上、20原子%以下、酸素の濃度が1原子%以
    上、30原子%以下であることを特徴とする磁気記録媒
    体。
  2. 【請求項2】上記非磁性下地膜の内の最も情報記録層側
    に配置された第2の非磁性下地膜は、Crを主成分と
    し、Ti、Mo、W及びVからなる群から選ばれた少な
    くとも一種の元素を、5原子%以上、50原子%以下の
    濃度で含有する合金からなり、かつ、体心立方構造の
    (110)配向を主体とする結晶構造を有することを特
    徴とする請求項1記載の磁気記録媒体。
  3. 【請求項3】上記第1の非磁性下地膜は、非晶質であ
    り、その膜厚は、10nm以上、100nm以下である
    ことを特徴とする請求項1記載の磁気記録媒体。
  4. 【請求項4】上記第2の非磁性下地膜の膜厚は、2nm
    以上、15nm以下であることを特徴とする請求項2記
    載の磁気記録媒体
  5. 【請求項5】上記磁性膜は、六方細密充填構造の(1
    0.0)配向を主体とする結晶構造を有することを特徴
    とする請求項1から4のいずれか一に記載の磁気記録媒
    体。
  6. 【請求項6】上記第1の非磁性下地膜中の上記元素は酸
    素と結合し、かつ、偏析していることを特徴とする請求
    項1から5のいずれか一に記載の磁気記録媒体。
  7. 【請求項7】基板上に、少なくとも二層の非磁性下地膜
    を形成し、ついでCo基合金系の磁性膜からなる情報記
    録層を形成する請求項1から6のいずれか一に記載の磁
    気記録媒体の製造方法であって、上記第1の非磁性下地
    膜の形成は、Crと、Zr、Si、Al、Ti、V、T
    a及びYからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素
    の酸化物との混合物からなり、上記元素の添加濃度が1
    原子%以上、20原子%以下であるターゲットを用い、
    純Ar中で、酸素ガスを用いずにスパッタリングにより
    行なうことを特徴とする磁気記録媒体の形成方法。
  8. 【請求項8】上記第1の非磁性下地膜を室温で形成し、
    その後に基板を150℃以上、400℃以下に加熱して
    から上記第2の非磁性下地膜を形成することを特徴とす
    る請求項7記載の磁気記録媒体の形成方法。
  9. 【請求項9】請求項1から6のいずれか一に記載の磁気
    記録媒体と、該磁気記録媒体に情報を記録・再生する磁
    気ヘッドとを備えたことを特徴とする磁気記憶装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999031656A1 (fr) * 1997-12-12 1999-06-24 Hitachi, Ltd. Support d'enregistrement magnetique et memoire magnetique
US6544667B1 (en) 1999-03-11 2003-04-08 Hitachi, Ltd. Magnetic recording medium, producing method of the same and magnetic recording system
US6623873B1 (en) 1998-11-20 2003-09-23 Hitachi, Ltd. Magnetic recording medium and magnetic disk apparatus using the same
US6740383B2 (en) 1998-05-27 2004-05-25 Fujitsu Limited Magnetic recording medium possessing a ratio of Hc(perpendicular) to Hc(horizontal) that is not more than 0.22 and magnetic recording disk device

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