JPH09264810A - Detection apparatus for degradation of laser element - Google Patents
Detection apparatus for degradation of laser elementInfo
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- JPH09264810A JPH09264810A JP7493496A JP7493496A JPH09264810A JP H09264810 A JPH09264810 A JP H09264810A JP 7493496 A JP7493496 A JP 7493496A JP 7493496 A JP7493496 A JP 7493496A JP H09264810 A JPH09264810 A JP H09264810A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気記録再生装
置などにあって、レーザダイオードの劣化を検出するレ
ーザ素子劣化検出装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a laser element deterioration detecting device for detecting deterioration of a laser diode in a magneto-optical recording / reproducing device or the like.
【０００２】従来、光磁気記録再生装置では、記録又は
再生を行うためにレーザを発光するレーザダイオードが
長期間の使用で劣化するため、この劣化を検出してい
る。このレーザダイオードの検出を行う従来例として特
開平３−３３６３４号公報の「レーザ素子劣化検出回
路」を挙げることが出来る。Conventionally, in a magneto-optical recording / reproducing apparatus, a laser diode which emits a laser for recording or reproducing is deteriorated due to long-term use, and this deterioration is detected. As a conventional example for detecting the laser diode, there is a "laser element deterioration detecting circuit" disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 3-33634.
【０００３】図２は、このような従来例のレーザ素子劣
化検出回路の構成を示す回路図である。図２の回路で
は、発光量制御信号Ｓ７１を電圧電流変換回路７０でレ
ーザダイオード（ＬＤ）５１が発光するための電流に変
換する。この電流によるＬＤ５１の発光が、フォトディ
テクタ（ＰＤ）５２で受光され光電変換される。この出
力電流が電流電圧変換回路５３で電圧に変換される。さ
らに、基準電圧源６１、抵抗器Ｒ５５，Ｒ５６、演算器
５７及び調整器（可変抵抗器）５８を通じて、基準電圧
と比較し、この比較値によってＬＤ５１が所定の一定発
光量になるように閉ループ制御が行われる。すなわち、
自動発光量制御（ＡＰＣ）が行われる。FIG. 2 is a circuit diagram showing the structure of such a conventional laser element deterioration detection circuit. In the circuit of FIG. 2, the voltage-current conversion circuit 70 converts the light emission amount control signal S71 into a current for causing the laser diode (LD) 51 to emit light. The light emitted from the LD 51 due to this current is received by the photodetector (PD) 52 and photoelectrically converted. This output current is converted into a voltage by the current-voltage conversion circuit 53. Further, the voltage is compared with a reference voltage through a reference voltage source 61, resistors R55 and R56, a calculator 57 and a regulator (variable resistor) 58, and a closed loop control is performed so that the LD 51 has a predetermined constant light emission amount by this comparison value. Is done. That is,
Automatic light emission amount control (APC) is performed.
【０００４】このように、ＬＤ５１が劣化した際の駆動
電流が初期電流よりも増加するため、発光量制御信号Ｓ
７１の電流値から、このＬＤ５１の劣化検出が可能であ
るが、このＬＤ５１は、図３に示すように周囲温度によ
って駆動電流が変化する。As described above, since the drive current when the LD 51 is deteriorated is larger than the initial current, the light emission amount control signal S
It is possible to detect deterioration of the LD 51 from the current value of 71, but the driving current of the LD 51 changes depending on the ambient temperature as shown in FIG.
【０００５】すなわち、周囲温度の上昇によって発光量
制御信号Ｓ７１の電流が大きくなる。このため、発光量
制御信号Ｓ７１の電流増加を監視するのみでは、ＬＤ５
１の正確な劣化判断が困難である。このため発光量制御
信号Ｓ７１の電圧変動を周囲温度で補正することによっ
て、ＬＤ５１の、より正確な劣化判断を行っている。こ
の場合、発光量制御信号Ｓ７１の電流値と基準値とを比
較する際のしきい値を、温度変化で可変し、ＬＤ５１の
温度変化を補正して正確な劣化を判断している。That is, the current of the light emission amount control signal S71 increases as the ambient temperature rises. For this reason, if only the current increase of the light emission amount control signal S71 is monitored, the LD5
It is difficult to accurately determine 1 for deterioration. Therefore, the voltage variation of the light emission amount control signal S71 is corrected by the ambient temperature to make a more accurate deterioration determination of the LD 51. In this case, the threshold value at the time of comparing the current value of the light emission amount control signal S71 and the reference value is changed by the temperature change, and the temperature change of the LD 51 is corrected to judge the accurate deterioration.
【０００６】図２に示す回路では、基準電圧源６１、抵
抗器Ｒ６２，Ｒ６７及びトランジスタＱ６４で基準電圧
値を決定し、温度変化の補正をサーミスタ６０、抵抗器
Ｒ６３及びトランジスタＱ６５で行っている。さらに、
初期電流値を調整器（可変抵抗器）５９及びトランジス
タＱ６６を通じて調整している。In the circuit shown in FIG. 2, the reference voltage value is determined by the reference voltage source 61, the resistors R62, R67 and the transistor Q64, and the temperature change is corrected by the thermistor 60, the resistor R63 and the transistor Q65. further,
The initial current value is adjusted through the adjuster (variable resistor) 59 and the transistor Q66.
【０００７】そして、温度変化の補正電流と初期電流が
加算された電流が、電流電圧変換回路６８で電圧に変換
され、この電圧と発光量制御信号Ｓ７１の電圧とを演算
器（比較器）６９で比較して、ＬＤ５１の劣化を示す劣
化アラーム信号Ｓ７２を出力している。Then, the current obtained by adding the correction current for temperature change and the initial current is converted into a voltage by the current-voltage conversion circuit 68, and this voltage and the voltage of the light emission amount control signal S71 are arithmetically operated (comparator) 69. In comparison, the deterioration alarm signal S72 indicating the deterioration of the LD 51 is output.
【０００８】[0008]
【発明が解決しようとする課題】このような上記従来例
のレーザ素子劣化検出装置では、ＬＤ５１での温度変化
の補正がサーミスタ６０、抵抗器Ｒ６３及びトランジス
タＱ６５で行われるが、ＬＤ５１の初期電流は調整器５
９がトランジスタＱ６６のエミッタに接続されているた
め、調整器５９と抵抗器Ｒ６２と同一の抵抗値であれ
ば、トランジスタＱ６４のコレクタ電流が温度補正され
て一定化される。In the above-described conventional laser element deterioration detecting device, the temperature change in the LD 51 is corrected by the thermistor 60, the resistor R63 and the transistor Q65, but the initial current of the LD 51 is Adjuster 5
Since 9 is connected to the emitter of the transistor Q66, if the regulator 59 and the resistor R62 have the same resistance value, the collector current of the transistor Q64 is temperature-corrected and becomes constant.
【０００９】しかしながら調整器５９での可変抵抗値が
抵抗器Ｒ６２の抵抗値と異なるため、トランジスタＱ６
４のコレクタ電流の温度特性とトランジスタＱ６６のコ
レクタ電流の温度特性が一致しなくなる。すなわち、一
定値を保持しなければならない初期電流値の設定が温度
で変化してしまい、正確なＬＤ５１の劣化検出が出来な
いという欠点がある。However, since the variable resistance value of the regulator 59 is different from the resistance value of the resistor R62, the transistor Q6
4 does not match the temperature characteristic of the collector current of transistor Q66. That is, there is a drawback that the setting of the initial current value that must hold a constant value changes depending on the temperature, and the deterioration of the LD 51 cannot be accurately detected.
【００１０】本発明は、このような従来の技術における
課題を解決するものであり、レーザダイオードの劣化を
温度補正して検出する際に、一定値を保持すべき駆動電
流の初期設定値が温度変化せずに、より正確なレーザダ
イオードの劣化検出が可能になるレーザ素子劣化検出装
置を提供する。The present invention solves the problems in the prior art as described above, and when the deterioration of the laser diode is temperature-corrected and detected, the initial set value of the drive current which should hold a constant value is the temperature. Provided is a laser element deterioration detecting device which enables more accurate deterioration detection of a laser diode without change.
【００１１】[0011]
【課題を解決するための手段】上記課題を達成するため
に、請求項１記載の発明のレーザ素子劣化検出装置は、
レーザダイオードの発光をフォトディテクタで受光して
一定発光量に閉ループ制御する自動発光量制御手段と、
基準電圧を出力する基準電圧出力回路と、周囲温度を検
出した温度検出電圧を自動発光量制御手段でのレーザダ
イオードへの発光量制御電圧の温度変化量と同一の変化
量に補正する補正手段と、基準電圧出力回路からの直流
基準電圧に、補正手段での補正した基準電圧を可変調整
して加えるための可変調整手段と、補正手段が出力する
補正した基準電圧と自動発光量制御手段でのレーザダイ
オードへの発光量制御電圧とを比較してレーザダイオー
ドの劣化を示すアラーム信号を出力する比較手段とを備
える構成としてある。In order to achieve the above object, a laser element deterioration detecting apparatus according to the first aspect of the present invention comprises:
An automatic light emission amount control means for receiving the light emission of the laser diode with a photodetector and performing a closed loop control to a constant light emission amount,
A reference voltage output circuit that outputs a reference voltage, and a correction unit that corrects the temperature detection voltage that detects the ambient temperature to the same change amount as the temperature change amount of the light emission amount control voltage to the laser diode in the automatic light emission amount control unit. A variable adjusting means for variably adjusting and adding the reference voltage corrected by the correcting means to the DC reference voltage from the reference voltage output circuit, and the corrected reference voltage output by the correcting means and the automatic light emission control means. And a comparison means for comparing an emission amount control voltage to the laser diode and outputting an alarm signal indicating deterioration of the laser diode.
【００１２】請求項２記載のレーザ素子劣化検出装置
は、自動発光量制御手段として、フォトディテクタから
の出力電流を電圧に変換する電流電圧変換回路と、発光
量制御電圧をレーザダイオードに出力するための電圧電
流変換回路と、電流電圧変換回路からの電圧を所定電圧
値と比較した比較電圧を発光量制御電圧として電圧電流
変換回路に出力するための演算回路とを備える構成とし
てある。According to another aspect of the laser element deterioration detecting apparatus of the present invention, the automatic light emission amount control means includes a current-voltage conversion circuit for converting an output current from the photodetector into a voltage, and a light emission amount control voltage for outputting to the laser diode. The voltage-current conversion circuit and an arithmetic circuit for outputting a comparison voltage obtained by comparing the voltage from the current-voltage conversion circuit with a predetermined voltage value to the voltage-current conversion circuit as a light emission amount control voltage are configured.
【００１３】請求項３記載のレーザ素子劣化検出装置
は、補正手段として、ツェナーダイオードに流れる電流
の降下電圧を周囲温度を検出した温度検出電圧として送
出するための抵抗器からなる回路を用いる構成としてあ
る。According to a third aspect of the present invention, there is provided a laser element deterioration detecting device, wherein as a correcting means, a circuit composed of a resistor is used for sending a voltage drop of a current flowing through a Zener diode as a temperature detection voltage for detecting an ambient temperature. is there.
【００１４】請求項４記載のレーザ素子劣化検出装置
は、基準電圧出力回路として、カレントミラー回路を用
いる構成としてある。In the laser element deterioration detecting device according to the fourth aspect, a current mirror circuit is used as the reference voltage output circuit.
【００１５】請求項５記載のレーザ素子劣化検出装置
は、可変調整手段として、抵抗器の両端を開閉するスイ
ッチ及び可変抵抗器の直列接続回路を用いる構成として
ある。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a laser element deterioration detecting device in which a variable opening and closing switch and a series connection circuit of variable resistors are used as variable adjusting means.
【００１６】このような構成のレーザ素子劣化検出装置
は、レーザダイオードの劣化を検出する際に、温度上昇
によって駆動電流が初期設定値よりも増加するため、周
囲温度を検出した温度検出電圧をレーザダイオードの発
光量制御電圧の温度変化量と同一の変化量に補正する。
この補正した基準電圧と発光量制御電圧とを比較してレ
ーザダイオードの劣化を示すアラーム信号を出力してい
る。In the laser element deterioration detecting device having such a configuration, when the deterioration of the laser diode is detected, the driving current increases more than the initial set value due to the temperature rise. The amount of change in the light emission amount control voltage of the diode is corrected to be the same as the amount of change in temperature.
The corrected reference voltage is compared with the emission control voltage to output an alarm signal indicating deterioration of the laser diode.
【００１７】この結果、レーザダイオードの劣化を温度
補正して検出する際に、一定値を保持すべき初期設定値
（駆動電流）を従来例のように電流源の変化に基づいて
設定していないため、より正確なレーザダイオードの劣
化検出が行われる。As a result, when the deterioration of the laser diode is temperature-corrected and detected, the initial setting value (driving current) for holding a constant value is not set based on the change of the current source unlike the conventional example. Therefore, the deterioration of the laser diode can be detected more accurately.
【００１８】また、温度検出電圧を可変調整して補正し
た基準電圧に加える可変調整手段として、抵抗器の両端
を開閉するスイッチ及び可変抵抗器の直列接続回路を用
いているため、レーザダイオードの劣化点の設定、及
び、初期設定が容易に行われ、かつ、その調整が迅速に
行われる。Further, since the switch for opening and closing both ends of the resistor and the series connection circuit of the variable resistor are used as the variable adjusting means for variably adjusting the temperature detection voltage and adding it to the corrected reference voltage, deterioration of the laser diode is caused. Point setting and initial setting are easily performed, and the adjustment is performed quickly.
【００１９】[0019]
【発明の実施の形態】次に、本発明のレーザ素子劣化検
出装置の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図１は本発明のレーザ素子劣化検出装置の実施形態にお
ける構成を示す回路図である。図１のレーザ素子劣化検
出装置は、自動発光量制御（ＡＰＣ）を構成する、レー
ザダイオード（ＬＤ）１と、発光量制御信号Ｓ２２の電
圧をＬＤ１が発光するための電流に変換する電圧電流変
換回路２１とを有している。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Next, an embodiment of a laser element deterioration detecting device of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration in an embodiment of a laser element deterioration detecting device of the present invention. The laser element deterioration detection device of FIG. 1 is a voltage-current converter that converts the voltage of a laser diode (LD) 1 and a light emission amount control signal S22 into a current for the LD 1 to emit light, which constitutes automatic light emission amount control (APC). And a circuit 21.
【００２０】さらに、ＬＤ１の発光を受光するフォトデ
ィテクタ（ＰＤ）２と、このＰＤ２からの出力電流を電
圧に変換する電流電圧変換回路３と、電圧源４、抵抗器
Ｒ５，Ｒ６、演算器７及び調整器（可変抵抗器）８から
なり、電流電圧変換回路３からの電圧を、初期設定した
基準電圧値と比較した発光量制御信号Ｓ２２を出力する
比較回路とを有している。Further, a photodetector (PD) 2 that receives the light emitted from the LD 1, a current-voltage conversion circuit 3 that converts the output current from the PD 2 into a voltage, a voltage source 4, resistors R5 and R6, a calculator 7 and It comprises an adjuster (variable resistor) 8, and has a comparison circuit which outputs a light emission amount control signal S22 in which the voltage from the current-voltage conversion circuit 3 is compared with an initially set reference voltage value.
【００２１】さらに、発光量制御信号Ｓ２２に対して温
度変化の補正を行うために、その温度検出を行うツェナ
ーダイオード２０と、このツェナーダイオード２０での
電流を決定する電圧源１９、抵抗器Ｒ１８とを有してい
る。また、ツェナーダイオード２０の電圧の温度変化を
変換して温度変化の補正を行うための補正手段を構成す
る抵抗器Ｒ１４，Ｒ１６，Ｒ１７、演算器１５とを有し
ている。さらに、カレントミラー回路を構成する電圧源
２３、抵抗器Ｒ２４，Ｒ２８、トランジスタＱ２６、抵
抗器Ｒ２５、トランジスタＱ２７とを有している。Further, in order to correct the temperature change in the light emission amount control signal S22, a Zener diode 20 for detecting the temperature, a voltage source 19 for determining a current in the Zener diode 20, and a resistor R18 are provided. have. Further, it has resistors R14, R16, R17 and an arithmetic unit 15 which constitute a correction means for converting the temperature change of the voltage of the Zener diode 20 and correcting the temperature change. Further, it has a voltage source 23, resistors R24 and R28, a transistor Q26, a resistor R25, and a transistor Q27 which form a current mirror circuit.
【００２２】また、初期電流値と駆動電流が温度変化し
た値を加算したものと、発光量制御信号Ｓ２２とを比較
してＬＤ１の劣化を検出した劣化アラーム信号Ｓ２７を
出力する比較器１０と、初期電流の調整を行う可変調整
手段を構成するスイッチ１１、調整器（可変抵抗器）１
３及び抵抗器Ｒ１２とを有している。Further, a comparator 10 which compares the sum of the initial current value and the value of the drive current changed by temperature with the light emission amount control signal S22 and outputs a deterioration alarm signal S27 for detecting the deterioration of the LD1, A switch 11 and a regulator (variable resistor) 1 which constitute a variable adjustment means for adjusting the initial current.
3 and a resistor R12.
【００２３】次に、この実施形態の動作について説明す
る。図１において、発光量制御信号Ｓ２２を電圧電流変
換回路２１で、ＬＤ１を発光させるための電流に変換す
る。ＬＤ１の発光をＰＤ２で受光して光電変換する。こ
の出力電流が電流電圧変換回路３で電圧に変換され、電
圧源４、抵抗器Ｒ５，Ｒ６、演算器７及び調整器（可変
抵抗器）８からなる比較回路によって、電流電圧変換回
路３が出力する電圧を、電圧源４を調整器８で初期設定
した基準電圧と比較し、この比較値である発光量制御信
号Ｓ２２を出力する。この閉ループ回路によって、ＬＤ
１が所定の一定発光量に制御される。すなわち、周知の
自動発光量制御（ＡＰＣ）が行われる。Next, the operation of this embodiment will be described. In FIG. 1, the light emission amount control signal S22 is converted into a current for causing the LD1 to emit light by the voltage-current conversion circuit 21. The light emitted from the LD1 is received by the PD2 and photoelectrically converted. This output current is converted into a voltage by the current-voltage conversion circuit 3, and the current-voltage conversion circuit 3 outputs it by a comparison circuit including a voltage source 4, resistors R5 and R6, a calculator 7 and a regulator (variable resistor) 8. The voltage to be controlled is compared with a reference voltage which is initially set by the regulator 8 by the voltage source 4, and the light emission amount control signal S22 which is the comparison value is output. By this closed loop circuit, LD
1 is controlled to a predetermined constant light emission amount. That is, the known automatic light emission amount control (APC) is performed.
【００２４】このように動作するＬＤ１は、長期間使用
して劣化した場合、駆動電流が初期設定値よりも増加す
るため、発光量制御信号Ｓ２２に基づいて、その検出が
可能であるが、ＬＤ１は図３に示すように周囲温度によ
って、その駆動電流が変化する。この周囲温度の上昇に
よって発光量制御信号Ｓ２２の電流が変化するため、発
光量制御信号Ｓ２２の電流変化を監視するのみでは、Ｌ
Ｄ１の正確な劣化判断が困難である。When the LD1 operating as described above is deteriorated after being used for a long period of time, the drive current increases more than the initial set value, and therefore the detection is possible based on the light emission amount control signal S22. As shown in FIG. 3, the drive current changes depending on the ambient temperature. Since the current of the light emission amount control signal S22 changes due to the increase of the ambient temperature, it is possible to obtain L by only monitoring the current change of the light emission amount control signal S22.
It is difficult to accurately determine the deterioration of D1.
【００２５】ここでは発光量制御信号Ｓ２２を周囲温度
で補正して、ＬＤ１の、より正確な劣化判断を行う。こ
の場合、発光量制御信号Ｓ２２の電圧と、基準値と比較
する際のしきい値を、温度変化で可変してＬＤ１の駆動
電流の変動を補正している。Here, the light emission amount control signal S22 is corrected by the ambient temperature to make a more accurate deterioration judgment of the LD1. In this case, the voltage of the light emission amount control signal S22 and the threshold value for comparison with the reference value are changed by the temperature change to correct the fluctuation of the drive current of the LD1.
【００２６】発光量制御信号Ｓ２２の電圧変動の補正
は、温度上昇によって電圧が降下するツェナーダイオー
ド２０を用いており、このツェナーダイオード２０での
電流を電圧源１９、抵抗器Ｒ１８で決定する。このツェ
ナーダイオード２０の電圧変化を抵抗器Ｒ１４，Ｒ１
６，Ｒ１７及び演算器１５を通じて取り出して、以下に
説明するように発光量制御信号Ｓ２２の電圧変動を補正
する。The voltage variation of the light emission amount control signal S22 is corrected by using the Zener diode 20 whose voltage drops due to temperature rise, and the current in this Zener diode 20 is determined by the voltage source 19 and the resistor R18. The voltage change of the Zener diode 20 is controlled by resistors R14 and R1.
6, R17 and the arithmetic unit 15 to correct the voltage variation of the light emission amount control signal S22 as described below.
【００２７】また、電圧源２３、抵抗器Ｒ２４，Ｒ２
８、トランジスタＱ２６、抵抗器Ｒ２５及びトランジス
タＱ２７でカレントミラー回路を構成しており、ＬＤ１
の駆動電流の初期値が、抵抗器Ｒ２４，Ｒ２５を同一値
に設定することによって、トランジスタＱ２７のコレク
タ電流が温度補正され、その一定化が図られる。この一
定化された電流を調整器１３を調整して温度変化に影響
されない一定の基準電圧値に設定する。Further, the voltage source 23 and the resistors R24 and R2
8, a transistor Q26, a resistor R25 and a transistor Q27 form a current mirror circuit, and LD1
By setting the resistors R24 and R25 to have the same initial value of the drive current of, the collector current of the transistor Q27 is temperature-corrected and its value is stabilized. This constant current is adjusted by the adjuster 13 and set to a constant reference voltage value that is not affected by temperature changes.
【００２８】そして、初期電流値と駆動電流の温度変化
値とを加算して得られた基準電圧を発光量制御信号Ｓ２
２の電圧と比較器１０で比較する。この比較で発光量制
御信号Ｓ２２の電圧が高い場合、すなわち、ＬＤ１の駆
動電流が増加した際に、このＬＤ１の劣化を示す劣化ア
ラーム信号Ｓ２７を出力する。Then, the reference voltage obtained by adding the initial current value and the temperature change value of the driving current is used as the light emission amount control signal S2.
The voltage of 2 is compared with the comparator 10. In this comparison, when the voltage of the light emission amount control signal S22 is high, that is, when the drive current of the LD1 increases, the deterioration alarm signal S27 indicating the deterioration of the LD1 is output.
【００２９】前記の初期電流値の調整は、スイッチ１１
をオンに設定して調整器１３で比較器１０の比較動作が
反転する限界に設定する。その後、スイッチ１１をオフ
にすると抵抗器Ｒ１２を通じた電圧が比較器１０に入力
される電圧に加算される。すなわち、発光量制御信号Ｓ
２２の増加分として加算される。したがって、ＬＤ１の
劣化検出点に、容易に設定が出来るようになる。なお、
ＬＤ１の劣化検出点は抵抗器Ｒ１２の抵抗値によって自
由に設定できる。The above-mentioned initial current value is adjusted by the switch 11
Is set to ON and the adjuster 13 is set to the limit at which the comparison operation of the comparator 10 is reversed. After that, when the switch 11 is turned off, the voltage through the resistor R12 is added to the voltage input to the comparator 10. That is, the light emission amount control signal S
It is added as an increment of 22. Therefore, it becomes possible to easily set the deterioration detection point of the LD1. In addition,
The deterioration detection point of LD1 can be freely set by the resistance value of the resistor R12.
【００３０】[0030]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のレーザ素子劣化検出装置によれば、周囲温度を検出し
た温度検出電圧をレーザダイオードの発光量制御電圧の
温度変化量と同一の変化量に補正し、この補正した基準
電圧と発光量制御電圧とを比較してレーザダイオードの
劣化を示すアラーム信号を出力しているため、レーザダ
イオードの劣化を温度補正して検出する際に、一定値を
保持すべき駆動電流の初期設定値が温度変化せずに、よ
り正確なレーザダイオードの劣化検出が出来るようにな
る。As is apparent from the above description, according to the laser element deterioration detecting apparatus of the present invention, the temperature detection voltage for detecting the ambient temperature is changed by the same amount as the temperature change amount of the light emitting amount control voltage of the laser diode. Since the alarm signal indicating the deterioration of the laser diode is output by comparing the corrected reference voltage with the light emission amount control voltage, a constant value is set when detecting the temperature deterioration of the laser diode. It becomes possible to detect the deterioration of the laser diode more accurately without the temperature of the initial setting value of the drive current that should hold the value changing.
【００３１】また、温度検出電圧を可変調整して補正し
た基準電圧に加える可変調整手段として、抵抗器の両端
を開閉するスイッチ及び可変抵抗器の直列接続回路を用
いているため、レーザダイオードの劣化点の設定、及
び、駆動電流の初期設定が容易に行われ、かつ、その調
整が迅速に出来るようになる。Further, since the switch for opening and closing both ends of the resistor and the series connection circuit of the variable resistor are used as the variable adjusting means for variably adjusting the temperature detection voltage and adding it to the corrected reference voltage, the deterioration of the laser diode is used. The setting of the points and the initial setting of the drive current can be easily performed, and the adjustment can be performed quickly.
【図１】本発明のレーザ素子劣化検出装置の実施形態に
おける構成を示す回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration in an embodiment of a laser element deterioration detection device of the present invention.
【図２】従来のレーザ素子劣化検出回路の構成を示す回
路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration of a conventional laser element deterioration detection circuit.
【図３】従来例にあって温度変化に対するＬＤの電流対
光出力量を示す特性図である。FIG. 3 is a characteristic diagram showing a current vs. light output amount of an LD with respect to a temperature change in a conventional example.
１ レーザダイオード（ＬＤ） ２ フォトディテクタ（ＰＤ） ３ 電流電圧変換回路 ４，１９，２３ 電圧源 ７，１５ 演算器 ８，１３ 調整器（可変抵抗器） １０ 比較器 １１ スイッチ ２０ ツェナーダイオード ２１ 電圧電流変換回路 Ｑ２６，Ｑ２７ トランジスタ Ｒ５〜Ｒ２８ 抵抗器 Ｓ２２ 発光量制御信号 Ｓ２７ 劣化アラーム信号 1 Laser diode (LD) 2 Photodetector (PD) 3 Current-voltage conversion circuit 4,19,23 Voltage source 7,15 Operator 8,13 Regulator (variable resistor) 10 Comparator 11 Switch 20 Zener diode 21 Voltage-current conversion Circuit Q26, Q27 Transistor R5-R28 Resistor S22 Light emission amount control signal S27 Deterioration alarm signal
Claims (5)
クタで受光して一定発光量に閉ループ制御する自動発光
量制御手段と、 基準電圧を出力する基準電圧出力回路と、 周囲温度を検出した温度検出電圧を前記自動発光量制御
手段でのレーザダイオードへの発光量制御電圧の温度変
化量と同一の変化量に補正する補正手段と、 前記基準電圧出力回路からの基準電圧に、前記補正手段
で補正した基準電圧を可変調整して加えるための可変調
整手段と、 前記補正手段が出力する補正した基準電圧と前記自動発
光量制御手段でのレーザダイオードへの発光量制御電圧
とを比較して前記レーザダイオードの劣化を示すアラー
ム信号を出力する比較手段と、 を備えることを特徴とするレーザ素子劣化検出装置。1. An automatic light emission amount control means for receiving a light emission of a laser diode by a photodetector and performing a closed loop control to a constant light emission amount, a reference voltage output circuit for outputting a reference voltage, and a temperature detection voltage for detecting an ambient temperature. Correction means for correcting the same amount of change as the temperature change amount of the light emission amount control voltage to the laser diode in the automatic light emission amount control means, and the reference voltage from the reference voltage output circuit to the reference voltage corrected by the correction means. Of the laser diode by comparing the corrected reference voltage output from the correction unit with the light emission amount control voltage to the laser diode in the automatic light emission amount control unit. And a comparison means for outputting an alarm signal indicating that the laser element deterioration detection device.
として、 フォトディテクタからの出力電流を電圧に変換する電流
電圧変換回路と、 発光量制御電圧をレーザダイオードに出力するための電
圧電流変換回路と、 前記電流電圧変換回路からの電圧を所定電圧値と比較し
た比較電圧を発光量制御電圧として前記電圧電流変換回
路に出力するための演算回路と、 を備えることを特徴とするレーザ素子劣化検出装置。2. The automatic light emission control means according to claim 1, wherein a current-voltage conversion circuit for converting an output current from the photodetector into a voltage, and a voltage-current conversion circuit for outputting the light emission control voltage to a laser diode. And a calculation circuit for outputting a comparison voltage obtained by comparing the voltage from the current-voltage conversion circuit with a predetermined voltage value to the voltage-current conversion circuit as a light emission amount control voltage. apparatus.
ェナーダイオードに流れる電流の降下電圧を周囲温度を
検出した温度検出電圧として送出するための抵抗器から
なる回路を用いることを特徴とするレーザ素子劣化検出
装置。3. The laser according to claim 1, wherein a circuit including a resistor is used for sending a voltage drop of a current flowing through a Zener diode as a temperature detection voltage for detecting an ambient temperature. Element deterioration detection device.
して、カレントミラー回路を用いることを特徴とするレ
ーザ素子劣化検出装置。4. A laser element deterioration detecting device using a current mirror circuit as the reference voltage output circuit according to claim 1.
て、抵抗器の両端を開閉するスイッチ及び可変抵抗器の
直列接続回路を用いることを特徴とするレーザ素子劣化
検出装置。5. A laser element deterioration detecting device, wherein as the variable adjusting means according to claim 1, a switch for opening and closing both ends of a resistor and a series connection circuit of a variable resistor are used.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7493496A JPH09264810A (en) | 1996-03-28 | 1996-03-28 | Detection apparatus for degradation of laser element |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7493496A JPH09264810A (en) | 1996-03-28 | 1996-03-28 | Detection apparatus for degradation of laser element |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09264810A true JPH09264810A (en) | 1997-10-07 |
Family
ID=13561687
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7493496A Pending JPH09264810A (en) | 1996-03-28 | 1996-03-28 | Detection apparatus for degradation of laser element |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09264810A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001006484A1 (en) * | 1999-07-14 | 2001-01-25 | Sony Corporation | Current drive circuit and display comprising the same, pixel circuit, and drive method |
| US8167799B2 (en) | 2004-05-25 | 2012-05-01 | Andrew J Ronchi | Apparatus and method for monitoring strain and/or load applied to a mammal |
-
1996
- 1996-03-28 JP JP7493496A patent/JPH09264810A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2001006484A1 (en) * | 1999-07-14 | 2001-01-25 | Sony Corporation | Current drive circuit and display comprising the same, pixel circuit, and drive method |
| US8167799B2 (en) | 2004-05-25 | 2012-05-01 | Andrew J Ronchi | Apparatus and method for monitoring strain and/or load applied to a mammal |
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