JPH09245342A - 磁気記録媒体の製造装置及び磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体の製造装置及び磁気記録媒体の製造方法

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JPH09245342A
JPH09245342A JP5061096A JP5061096A JPH09245342A JP H09245342 A JPH09245342 A JP H09245342A JP 5061096 A JP5061096 A JP 5061096A JP 5061096 A JP5061096 A JP 5061096A JP H09245342 A JPH09245342 A JP H09245342A
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JP
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recording medium
magnetic
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magnetic recording
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JP5061096A
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English (en)
Inventor
Noriyuki Kitaori
典之 北折
Osamu Yoshida
修 吉田
Katsumi Endo
克巳 遠藤
Akira Shiga
章 志賀
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Kao Corp
Original Assignee
Kao Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電磁変換特性の向上、耐久性の向上、あるい
は特性の均一性の向上が図られた磁気記録媒体の製造技
術を提供することである。 【解決手段】 真空槽と、支持体の走行手段と、磁性原
料を入れる容器と、この容器内の磁性原料を飛散させ、
前記走行手段で走行する支持体に斜め蒸着させる斜め蒸
着手段とを具備してなり、前記容器と支持体との間に電
子シャワー装置が設けられ、この電子シャワー装置は、
カソードと、このカソードを挟むように設けた前記容器
に近い側の第1のアノード及び前記支持体に近い側の第
2のアノードとからなる磁気記録媒体の製造装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、特に窒化鉄系ある
いは炭化鉄系磁性膜を有する金属薄膜型磁気記録媒体の
製造技術に関する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】磁気テープ等の磁気記
録媒体においては、高密度記録化の要請から、非磁性支
持体上に設けられる磁性膜として、バインダ樹脂を用い
た塗布型のものではなく、バインダ樹脂を用いない金属
薄膜型のものが提案されている。すなわち、無電解メッ
キ等の湿式メッキ手段、真空蒸着、スパッタリングある
いはイオンプレーティング等の乾式メッキ手段により磁
性膜を構成した磁気記録媒体が提案されている。この種
の磁気記録媒体は磁性体の充填密度が高いことから、高
密度記録に適したものである。この金属薄膜型磁気記録
媒体の磁性膜を構成する磁性材料としては、例えばF
e,Co,Niあるいはこれらの合金が考えられてい
る。特に、Feが用いられた場合には、Fe−N(Fe
x N)やFe−N−OあるいはFe−CやFe−C−O
で磁性膜を構成することが提案されている。
【0003】このようなFe−NやFe−N−O等の窒
化鉄系磁性膜、或いはFe−CやFe−C−O等の炭化
鉄系磁性膜、若しくはFe−N−C−O等の窒化炭化鉄
系磁性膜を構成する手段として、斜め蒸着手段が用いら
れる。しかし、これまでの手法で得られた窒化鉄系、炭
化鉄系あるいは窒化炭化鉄系磁性膜を有する磁気記録媒
体に更なる改善が求められた。例えば、電磁変換特性の
向上(ドロップアウトの減少)が求められた。又、特性
の均一性、例えば磁気テープにあっては長手方向におけ
る磁性膜の組成の均一性の向上が求められた。又、磁性
膜の耐剥離性の向上が求められた。
【0004】従って、本発明が解決しようとする課題
は、電磁変換特性の向上、耐久性の向上、あるいは特性
の均一性の向上が図られた磁気記録媒体の製造技術を提
供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記の課題は、真空槽
と、支持体の走行手段と、磁性原料を入れる容器と、こ
の容器内の磁性原料を飛散させ、前記走行手段で走行す
る支持体に斜め蒸着させる斜め蒸着手段とを具備してな
り、前記容器と支持体との間に電子シャワー装置が設け
られ、この電子シャワー装置は、カソードと、このカソ
ードを挟むように設けた前記容器に近い側の第1のアノ
ード及び前記支持体に近い側の第2のアノードとからな
ることを特徴とする磁気記録媒体の製造装置によって達
成される。
【0006】特に、真空槽と、反応ガス供給手段と、支
持体の走行手段と、磁性原料を入れる容器と、この容器
内の磁性原料を飛散させ、前記走行手段で走行する支持
体に斜め蒸着させる斜め蒸着手段とを具備してなり、前
記容器と支持体との間に電子シャワー装置が設けられ、
この電子シャワー装置は、カソードと、このカソードを
挟むように設けた前記容器に近い側の第1のアノード及
び前記支持体に近い側の第2のアノードとからなること
を特徴とする磁気記録媒体の製造装置によって達成され
る。
【0007】尚、上記の磁気記録媒体の製造装置におい
て、どのような電位関係であっても良いが、特に第1の
アノードが最高電位VA1である時期と第2のアノードが
最高電位VA2である時期とが交互に存するよう電圧が掛
かった構成のものが好ましい。又、(第1のアノードが
最高電位VA1である時間)≦(第2のアノードが最高電
位VA2である時間)を満たすよう電圧が掛かった構成の
ものが好ましい。又、第1のアノードの最高電位VA1≦
第2のアノードの最高電位VA2を満たすよう電圧が掛か
った構成のものが好ましい。特に、支持体の最高電位V
B ≦第1のアノードの最高電位VA1≦第2のアノードの
最高電位VA2を満たすよう電圧が掛かった構成のものが
好ましい。又、カソードの最高電位VC <支持体の最高
電位VBを満たすよう電圧が掛かった構成のものが好ま
しい。すなわち、電圧引加手段によって上記のような電
圧が掛かるものとするのが好ましい。これにより、電子
シャワー装置からの電子(プラズマ)が反応ガスに効率
良く作用し、反応ガスを活性化し、炭化や窒化が効率よ
く進み、又、支持体に蒸着する粒子(蒸着膜)にも作用
し、膜の結着性などが向上する。
【0008】又、電子シャワー装置で発生する電子に対
して磁場が作用するよう構成されているものが好まし
い。例えば、永久磁石や電磁石を設けることによって磁
場を作用させられる。これによって、電子シャワー装置
からの電子(プラズマ)が反応ガスに効率良く作用す
る。電子シャワー装置のカソードは、磁性原料を入れる
容器と飛散した磁性原料(粒子)が斜め蒸着する支持体
との間の距離の1/3〜11/12の距離だけ前記容器
から支持体側に離れて設けられているのが好ましい。例
えば、磁性原料を入れた容器、すなわち蒸発源にカソー
ドが近すぎると、蒸発源からの熱的影響を受けたり、
又、電子ビームを蒸発源に照射して加熱する場合には、
この影響も有り、逆に、支持体に近すぎると、電子シャ
ワーによる効果が小さくなるからである。
【0009】又、反応ガス供給手段、例えば窒素系化合
物あるいは炭素系化合物などの反応ガス供給手段のノズ
ル口は、支持体と第2のアノードとの間、第2のアノー
ドとカソードとの間、カソードと第1のアノードとの
間、あるいは第1のアノードと容器との間に対応して設
けられている。各々のセット位置によって、得られた磁
性膜の特性に差がある。例えば、ノズル口を支持体と第
2のアノードとの間に対応して設けていると、表面硬度
の高い蒸着膜が得られる。ノズル口を第2のアノードと
カソードとの間、又はカソードと第1のアノードとの間
に対応して設けていると、更に緻密な蒸着膜が得られ
る。ノズル口を第1のアノードと容器との間に対応して
設けていると、炭化度、窒化度、若しくは炭化窒化度の
高い蒸着膜が得られる。従って、特に目的とする特性の
向上に合わせてセット位置を設定すれば良い。
【0010】上記電子シャワー装置の第1のアノードや
第2のアノードとカソードとの距離は、例えば5〜50
mm程度、より好ましくは7〜10mm程度である。電
子シャワー装置のカソードと第1のアノードや第2のア
ノードは環形状(例えば、円形状)であって、両者は略
同芯状に設けられている。カソードの環の大きさとアノ
ードの環の大きさとは、第2のアノードの環の大きさ>
カソードの環の大きさ>第1のアノードの環の大きさ、
第2のアノードの環の大きさ>第1のアノードの環の大
きさ>カソードの環の大きさ、カソードの環の大きさ>
第2のアノードの環の大きさ>第1のアノードの環の大
きさ等の場合がある。各々の場合によって、得られた磁
性膜の特性に差がある。例えば、第2のアノードの環の
大きさ>カソードの環の大きさ>第1のアノードの環の
大きさの場合には、広い反応部が得られることから、大
面積の反応が可能になる。第2のアノードの環の大きさ
>第1のアノードの環の大きさ>カソードの環の大きさ
の場合には、反応面積がやや小さくなるものの、反応の
均一性が高い蒸着膜が得られる。カソードの環の大きさ
>第2のアノードの環の大きさ>第1のアノードの環の
大きさの場合には、反応面積が小さくなるが、反応性が
高い蒸着膜が得られる。従って、特に目的とする特性の
向上に合わせてアノードやカソードの環の大きさを決定
すれば良い。
【0011】斜め蒸着手段は、粒子の最小入射角が15
〜75°となるよう制御された斜め蒸着であるのが好ま
しい。特に、30〜65°の斜め蒸着であるのが好まし
い。又、斜め蒸着に際して、真空度は1.0×10-3
orr未満、特に1×10 -4〜1×10-5Torr(高
真空)となるよう制御されているのが好ましい。これに
より、例えば窒化度や炭化度の低い磁性膜が得られる。
【0012】あるいは、斜め蒸着に際して、真空度が
1.0×10-3Torr以上、特に5×10-2〜5To
rr(低真空)となるよう制御されているのが好まし
い。これにより、例えば窒化度や炭化度の高い磁性膜が
得られる。斜め蒸着に際して、支持体は300°K〜4
00°Kに保持(制御)されているのが好ましい。これ
により、例えば窒化度の高い磁性膜が得られる。
【0013】あるいは、斜め蒸着に際して、支持体が2
00°K〜300°Kに保持(制御)されているのが好
ましい。これにより、例えば窒化度の低い磁性膜が得ら
れる。又、前記の課題は、上記の磁気記録媒体の製造装
置を用い、かつ、前記装置の容器内の磁性原料としてF
e系金属材料を用いることによりFe系磁性膜を支持体
上に設ける磁気記録媒体の製造方法であって、前記斜め
蒸着に際して電子シャワーを作用させることを特徴とす
る磁気記録媒体の製造方法によって達成される。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の磁気記録媒体の製造装置
は、真空槽と、支持体の走行手段と、磁性原料を入れる
容器と、この容器内の磁性原料を飛散させ、前記走行手
段で走行する支持体に斜め蒸着させる斜め蒸着手段とを
具備し、前記容器と支持体との間に電子シャワー装置が
設けられ、この電子シャワー装置は、カソードと、この
カソードを挟むように設けた前記容器に近い側の第1の
アノード及び前記支持体に近い側の第2のアノードとか
らなる。特に、真空槽と、反応ガス供給手段と、支持体
の走行手段と、磁性原料を入れる容器と、この容器内の
磁性原料を飛散させ、前記走行手段で走行する支持体に
斜め蒸着させる斜め蒸着手段とを具備し、前記容器と支
持体との間に電子シャワー装置が設けられ、この電子シ
ャワー装置は、カソードと、このカソードを挟むように
設けた前記容器に近い側の第1のアノード及び前記支持
体に近い側の第2のアノードとからなる。
【0015】本発明の磁気記録媒体の製造方法は、本発
明の磁気記録媒体の製造装置を用い、かつ、装置の容器
内の磁性原料としてFe系金属材料を用いることにより
Fe系磁性膜を支持体上に設ける磁気記録媒体の製造方
法であって、前記斜め蒸着に際して電子シャワーを作用
させるものである。上記の磁気記録媒体の製造装置にお
いて、電圧引加手段によって、第1のアノードが最高電
位VA1である時期と第2のアノードが最高電位VA2であ
る時期とが交互に存するよう電圧が掛かっている。又、
(第1のアノードが最高電位VA1である時間)≦(第2
のアノードが最高電位VA2である時間)を満たすよう電
圧が掛かっている。又、第1のアノードの最高電位VA1
≦第2のアノードの最高電位VA2を満たすよう電圧が掛
かっている。特に、支持体の最高電位VB ≦第1のアノ
ードの最高電位VA1≦第2のアノードの最高電位VA2を
満たすよう電圧が掛かっている。又、カソードの最高電
位VC <支持体の最高電位VB を満たすよう電圧が掛か
っている。カソードは、例えばタングステン製であり、
アノードは、例えばタングステン製あるいはタンタル製
である。アノードとカソードとの距離は、例えば5〜5
0mm程度、より好ましくは7〜10mm程度である。
又、電子シャワー装置で発生する電子に対して磁場が作
用するよう構成されている。電子シャワー装置のカソー
ドは、磁性原料を入れる容器と飛散した磁性原料(粒
子)が斜め蒸着する支持体との間の距離の1/3〜11
/12の距離だけ前記容器から支持体側に離れて設けら
れている。反応ガス供給手段、例えば窒素系化合物ある
いは炭素系化合物などの反応ガス供給手段のノズル口
は、目的に応じ、支持体と第2のアノードとの間、第2
のアノードとカソードとの間、カソードと第1のアノー
ドとの間、あるいは第1のアノードと容器との間に対応
して設けられている。
【0016】カソードやアノードは環形状(例えば、円
形状)であって、両者は略同芯状に設けられている。カ
ソードの環の大きさとアノードの環の大きさとは、第2
のアノードの環の大きさ>カソードの環の大きさ>第1
のアノードの環の大きさ、第2のアノードの環の大きさ
>第1のアノードの環の大きさ>カソードの環の大き
さ、カソードの環の大きさ>第2のアノードの環の大き
さ>第1のアノードの環の大きさの場合がある。
【0017】斜め蒸着は、粒子の最小入射角が15〜7
5°、特に30〜65°の斜め蒸着である。斜め蒸着に
際して、真空度は1.0×10-3Torr未満、特に1
×10-4〜1×10-5Torrであったり、1.0×1
-3Torr以上、特に5×10-2〜5Torr(低真
空)である。又、斜め蒸着に際して、支持体は300°
K〜400°K、あるいは200°K〜300°Kに保
持されている。
【0018】本発明は、窒化鉄系あるいは炭化鉄系の磁
性膜を成膜するに際して、従来、高価なイオンガンを用
いていたのに対して、高価なイオンガンを用いずとも窒
化鉄系、炭化鉄系あるいは窒化炭化鉄系の磁性膜を成膜
できるようにした点に特長が有る。すなわち、低廉なコ
ストで窒化鉄、炭化鉄系あるいは窒化炭化鉄系の磁性膜
を成膜できるようにした点に特長が有る。しかも、本発
明で得られた窒化鉄系、炭化鉄系あるいは窒化炭化鉄系
の磁性膜を有する磁気記録媒体は、磁気特性の向上、電
磁変換特性の向上、耐久性の向上などが図られていた。
【0019】以下、より具体的に説明する。図1は、本
発明の磁気記録媒体の製造装置の要部の概略図である。
図1中、1は真空槽、2aは支持体3の供給側ロール、
2bは支持体3の巻取側ロール、4は冷却キャンロー
ル、5は遮蔽板、6は口径7cmのルツボ、7はルツボ
6に充填されたFe(Ni,Co,Cr,Si,Bi,
Nb,Sm,Dy等の元素が10at.%以下含まれて
いても良い)、8はルツボ6内のFeを溶融加熱する為
の電子銃である。尚、これらの点については、従来の斜
め蒸着装置と同様であるから、詳細は省略する。
【0020】10は、リング状(直径30cmの略円形
であって、ルツボ6の口径より大きい)のフィラメント
(直径0.3mmのタングステン線)である。このフィ
ラメント(カソード)10は、ルツボ6と冷却キャンロ
ール4に沿って走行する支持体3との間の位置であっ
て、かつ、ルツボ6と冷却キャンロール4に沿って走行
する支持体3に蒸発したFe粒子が堆積する堆積地点
(最小入射角θで堆積する堆積地点)との間の距離Lの
1/3〜11/12だけルツボ6から離れた位置に水平
方向に設けられている。尚、図2(要部の平面図)から
判る通り、フィラメント10とルツボ6とは同芯状に配
置されている。
【0021】11aは、フィラメント10の上側で、フ
ィラメント10から8mm離れた位置に水平方向に設け
られたアノード(直径0.1〜0.5mmのタングステ
ン線)である。11bは、フィラメント10の下側で、
フィラメント10から8mm離れた位置に水平方向に設
けられたアノード(直径0.1〜0.5mmのタングス
テン線)である。尚、このアノード11a,11bは、
直径15〜80cmの略円形である。又、アノード11
a,11bとフィラメント10とは同芯状に配置されて
いる。
【0022】12は磁石(永久磁石又は電磁石)であ
り、図1に示す如く、磁石12による磁界がアノード1
1a−フィラメント10−アノード11bによる空間に
矢印で示す如く加わるように構成されている。これによ
り、熱電子(プラズマ)は蒸発Fe粒子や反応ガスと効
率良く衝突し、不活性な反応ガスは効率良く活性化され
る。
【0023】13は酸素ガス供給用のノズル、14は窒
素ガス(又は炭化水素ガス)供給用のノズルである。そ
して、上記装置、すなわち電子シャワー装置を設けた斜
め蒸着装置を用い、所定の真空度、支持体を所定の温度
に保持して斜め蒸着させることにより、金属薄膜型の磁
気記録媒体が得られる。
【0024】このようにして得られた本発明になる磁気
記録媒体を図3に示す。図3中、3は支持体である。こ
の支持体3は磁性を有するものでも非磁性のものでも良
いが、一般的には、非磁性のものである。例えば、ポリ
エチレンテレフタレート等のポリエステル、ポリアミ
ド、ポリイミド、ポリスルフォン、ポリカーボネート、
ポリプロピレン等のオレフィン系の樹脂、セルロース系
の樹脂、塩化ビニル系の樹脂といった高分子材料、ガラ
スやセラミック等の無機系材料、アルミニウム合金など
の金属材料が用いられる。支持体3面上には磁性膜の密
着性を向上させる為のアンダーコート層が必要に応じて
設けられる。すなわち、表面の粗さを適度に粗すことに
より乾式メッキで構成される磁性膜の密着性を向上さ
せ、さらに磁気記録媒体表面の表面粗さを適度なものと
して走行性を改善する為、例えばSiO2 等の粒子を含
有させた厚さが0.01〜0.5μmの塗膜を設けるこ
とによってアンダーコート層が構成されている。
【0025】支持体3の上には、図1に示した電子シャ
ワー斜め蒸着装置によってFe−N−O系あるいはFe
−C−O系の金属薄膜型の磁性膜20が設けられる。例
えば、10-2〜10-6Torr程度の真空雰囲気下でF
eを抵抗加熱、高周波加熱、電子ビーム加熱などにより
蒸発させ、支持体3上に堆積(蒸着)させることによ
り、Fe−N−O系あるいはFe−C−O系磁性膜20
が500〜10000Å、特に1000〜4000Å厚
形成される。斜め蒸着の際の最小入射角は15°〜75
°、望ましくは約30°〜65°である。この時、蒸発
Fe粒子や窒素ガス(又は炭化水素ガス)には電子シャ
ワー(プラズマ)が作用し、不活性な窒素ガス(又は炭
化水素ガス)は活性化され、これによって窒化(又は炭
化)がなされる。尚、窒化鉄系磁性膜を構成する場合に
は、ノズル14から窒素ガス、二酸化窒素ガス、アンモ
ニア等の窒素系化合物が導入され、炭化鉄系磁性膜を構
成する場合には、ノズル14からメタン、エタン、エチ
レン、ベンゼン等の炭化水素(炭素系化合物)が導入さ
れる。
【0026】尚、図1に示した電子シャワー斜め蒸着装
置によってFe−N−O系磁性膜やFe−C−O系磁性
膜20が複数層設けられても良い。又、その他の種類の
磁性膜、例えばCo磁性膜、Co−Ni磁性膜、従来の
Fe−N−O系磁性膜やFe−C−O系磁性膜、軟性磁
性膜が下層側に設けられていても良い。21は、Fe−
N−O系あるいはFe−C−O系磁性膜20の上に設け
られた厚さが10〜200Å程度の保護膜である。この
保護膜21は、例えばダイヤモンドライクカーボン、グ
ラファイト等のカーボン膜、酸化珪素、炭化珪素、窒化
珪素などの含珪素膜、TiO2 膜、アルミナ膜、窒化ア
ルミニウム膜などで構成される。これらの中でも、ダイ
ヤモンドライクカーボンが好ましい。
【0027】22は、保護膜21の上に設けられた潤滑
剤層である。すなわち、炭化水素系の潤滑剤やパーフル
オロポリエーテル等のフッ素系潤滑剤、特にフッ素系潤
滑剤を含有させた塗料を所定の手段で塗布することによ
り、約5〜100Å、好ましくは約10〜30Å程度の
厚さの潤滑剤層22が設けられる。あるいは、フッ素含
有グラファイト膜によっても潤滑剤層22は構成され
る。
【0028】23は、支持体3の他面に設けられたカー
ボンブラック等を含有させた厚さが0.1〜1μm程度
のバックコート層である。尚、バックコート層23は、
Al−Cu合金等の金属を蒸着させて形成したものであ
っても良い。
【0029】
【実施例1】図1の電子シャワー斜め蒸着装置に6.3
μm厚で幅150mmのPETフィルム3を装着し、P
ETフィルム3を0.6m/分の走行速度で走行させ
た。開口部の口径が7cmのルツボ6にはFe7が入っ
ており、6kWの電子銃8を作動させてFeを蒸発させ
た。
【0030】ルツボ6と冷却キャンロール4に沿って走
行する支持体3に蒸発したFe粒子が堆積する堆積地点
(最小入射角θ(本例では55°)で堆積する堆積地
点)との間の距離Lの1/2だけルツボ6から上(真上
であって、ルツボ6の中心とフィラメント10の中心は
一致)に離れた位置に水平方向に設けられた直径30c
mのリング状のフィラメント10には25Aの電流が流
され、発熱させられた。
【0031】フィラメント10の8mm真上に平行して
設けられたアノード11aは、直径が29cmのリング
状である。フィラメント10の8mm真下に平行して設
けられたアノード11bは、直径が29cmのリング状
である。アノード11a,11bとフィラメント10と
の間には1000vの電位差があるよう電圧が掛かって
いる。すなわち、PETフィルム3の最高電位をVB 、
アノード11aの最高電位をVA2、アノード11bの最
高電位をVA1、フィラメント10の最高電位をVC とす
ると、VA2=VA1=VB =VC +1000vとなるよう
電圧が掛かっている。又、アノード11aとアノード1
1bとにパルス(矩形)状の電圧が掛かっている時間の
幅は同じであるが、アノード11aの電位がVA2である
時にはアノード11bの電位は0vであり、アノード1
1bの電位がVA1である時にはアノード11aの電位は
0vである。すなわち、交互に電圧が掛かっている。
【0032】遮蔽板5と冷却キャンロール4との間の位
置であって、ノズル口が水平方向に設けられたノズル1
3から3SCCMの酸素ガスが、アノード11bとフィ
ラメント10との間の位置であって、ノズル口が水平方
向に設けられたノズル14から35SCCMの窒素ガス
を供給した。尚、この時の窒素ガスの分圧は92%であ
り、真空度は2×10-3Torrであるよう排気されて
いる。
【0033】尚、本実施例では磁石12を取り外してい
る。従って、磁界は掛かっていない。冷却キャンロール
4は273°Kに冷却されている。従って、冷却キャン
ロール4に沿って走行するPETフィルム3も冷却キャ
ンロール4の温度と同じと考える。
【0034】上記の条件で斜め蒸着を行わせ、PETフ
ィルム3上に1600Å厚のFe−N−O系磁性膜を成
膜した。この後、ECR−CVD装置を用いてFe−N
−O系磁性膜の上にダイヤモンドライクカーボン膜(保
護膜)を90Å厚設けた。次いで、ダイヤモンドライク
カーボン膜の上に分子量3000でOH基を持つパーフ
ルオロポリエーテル膜(潤滑剤層)を15Å厚設けた。
【0035】そして、PETフィルム3の反対側の面に
は、粒子径が20nmのカーボン粒子及びバインダを含
むバックコート塗料をグラビア塗布により乾燥厚が0.
5μmとなるように塗布した。このようにして得られた
原反から通常の工程を経て磁気テープを得た。
【0036】
【実施例2】ルツボ6と冷却キャンロール4に沿って走
行する支持体3に蒸発したFe粒子が堆積する堆積地点
との間の距離Lの9/10だけルツボ6から上に離れた
位置にフィラメント10を水平方向に設けた(フィラメ
ント10の設置位置を変更。これに応じてアノード11
a,11bも8mm上側に移動した)以外は実施例1に
準じて行い、磁気テープを得た。
【0037】
【実施例3】直径が26cmのリング状のアノード11
aを用いた以外は実施例1に準じて行い、磁気テープを
得た。
【0038】
【実施例4】直径が26cmのリング状のアノード11
bを用いた以外は実施例1に準じて行い、磁気テープを
得た。
【0039】
【実施例5】VA2=VA1+200v=VB +300v=
VC +900vとなるよう電圧を掛けた以外は実施例1
に準じて行い、磁気テープを得た。
【0040】
【実施例6】アノード11aに電圧が掛かっている時間
とアノード11bに電圧が掛かっている時間との比が、
前者:後者=2:1となるようパルス状の電圧を掛けた
以外は実施例1に準じて行い、磁気テープを得た。
【0041】
【実施例7】支持体3とアノード11aとの間の位置で
あって、ノズル口を水平方向に設けた(ノズル14の設
置位置を変更した)ノズル14から50SCCMの窒素
ガスを供給した以外は実施例1に準じて行い、磁気テー
プを得た。
【0042】
【実施例8】アノード11aとフィラメント10との間
の位置であって、ノズル口を水平方向に設けた(ノズル
14の設置位置を変更した)ノズル14から50SCC
Mの窒素ガスを供給した以外は実施例1に準じて行い、
磁気テープを得た。
【0043】
【実施例9】アノード11bとルツボ6との間の位置で
あって、ノズル口を水平方向に設けた(ノズル14の設
置位置を変更した)ノズル14から50SCCMの窒素
ガスを供給した以外は実施例1に準じて行い、磁気テー
プを得た。
【0044】
【実施例10】真空度が5×10-2Torrとなるよう
にノズル13から酸素ガスを、ノズル14から窒素ガス
を1:5の割合で供給した以外は実施例1に準じて行
い、磁気テープを得た。
【0045】
【実施例11】冷却キャンロール4を253°Kに冷却
した以外は実施例1に準じて行い、磁気テープを得た。
【0046】
【実施例12】最小入射角θを30°とした以外は実施
例1に準じて行い、磁気テープを得た。
【0047】
【実施例13】ノズル14に供給したのをアンモニアガ
スとした以外は実施例1に準じて行い、磁気テープを得
た。
【0048】
【実施例14】磁石12としてサマリウム・コバルト磁
石(20MOeG)を用い、磁界を掛けた以外は実施例
1に準じて行い、磁気テープを得た。
【0049】
【実施例15】ルツボ6と冷却キャンロール4に沿って
走行する支持体3に蒸発したFe粒子が堆積する堆積地
点との間の距離Lの1/3だけルツボ6から上に離れた
位置にフィラメント10を水平方向に設け、これに応じ
てアノード11a,11bも8mm上側に移動し、VA2
=VA1+200v=VB +400v=VC +1000v
となるよう電圧を掛け、最小入射角θを40°、ノズル
14からNH3 とO2 との混合ガスを供給(NH3 は4
0SCCM、O2 は2SCCM)し、ノズル13からは
供給せず、真空度は3×10-3Torr(NH3 の分圧
は95%)とした以外は実施例1に準じて行い、磁気テ
ープを得た。
【0050】
【実施例16】ノズル14から45SCCMのメタンガ
スを供給(メタンガスの分圧は93%であり、真空度は
5×10-3Torr)した以外は実施例1に準じて行
い、磁気テープを得た。
【0051】
【実施例17】VA2=VA1+200v=VB +300v
=VC +900vとなるよう電圧を掛けた以外は実施例
16に準じて行い、磁気テープを得た。
【0052】
【実施例18】アノード11aに電圧が掛かっている時
間とアノード11bに電圧が掛かっている時間との比
が、前者:後者=2:1となるようパルス状の電圧を掛
けた以外は実施例16に準じて行い、磁気テープを得
た。
【0053】
【実施例19】支持体3とアノード11aとの間の位置
であって、ノズル口を水平方向に設けた(ノズル14の
設置位置を変更した)ノズル14から50SCCMのメ
タンガスを供給した以外は実施例16に準じて行い、磁
気テープを得た。
【0054】
【実施例20】アノード11aとフィラメント10との
間の位置であって、ノズル口を水平方向に設けた(ノズ
ル14の設置位置を変更した)ノズル14から50SC
CMのメタンガスを供給した以外は実施例16に準じて
行い、磁気テープを得た。
【0055】
【実施例21】アノード11bとルツボ6との間の位置
であって、ノズル口を水平方向に設けた(ノズル14の
設置位置を変更した)ノズル14から50SCCMのメ
タンガスを供給した以外は実施例16に準じて行い、磁
気テープを得た。
【0056】
【実施例22】ノズル14に供給したのをベンゼンガス
(25SCCM)とした以外は実施例16に準じて行
い、磁気テープを得た。
【0057】
【実施例23】磁石12としてサマリウム・コバルト磁
石(20MOeG)を用い、磁界を掛けた以外は実施例
16に準じて行い、磁気テープを得た。
【0058】
【比較例1】電子シャワー装置を作動させなかった以外
は実施例1に準じて行い、磁気テープを得た。
【0059】
【比較例2】電子シャワー装置を作動させなかった以外
は実施例16に準じて行い、磁気テープを得た。
【0060】
【比較例3】電子シャワー装置を用いず、カウフマン型
イオンガンを用いたイオンアシスト斜め蒸着法によりF
e−N−O系磁性膜を成膜し、磁気テープを得た。
【0061】
【比較例4】電子シャワー装置を用いず、カウフマン型
イオンガンを用いたイオンアシスト斜め蒸着法によりF
e−C−O系磁性膜を成膜し、磁気テープを得た。
【0062】
【特性】上記各例で得た磁気テープについて、100m
置きに磁性膜の組成(Fe,N(又はC),O)におけ
るN(又はC)量をオージェ電子分光法により求めたの
で、その結果を表−1に示す。尚、Fe+N(又はC)
+O=100at.%とした。
【0063】又、試料振動型磁力計(VSM)を用いて
磁気特性を調べたので、その結果も表−1に示す。 表−1 N(又はC)量(at.%) 磁気特性 100m 200m 300m 400m Hc(Oe) Bs(G) 実施例1 15 14 17 16 1420 6800 実施例2 15 15 16 17 1440 6900 実施例3 14 15 15 15 1450 6900 実施例4 13 14 14 15 1330 7300 実施例5 15 15 16 15 1440 6800 実施例6 14 15 15 15 1460 6750 実施例7 21 22 22 23 1230 6100 実施例8 20 21 23 21 1240 6200 実施例9 20 19 19 17 1250 6400 実施例10 13 14 15 13 1500 6600 実施例11 15 15 14 14 1460 6750 実施例12 17 17 18 17 1050 7200 実施例13 18 18 17 18 1330 6600 実施例14 16 16 17 16 1440 7000 実施例15 17 17 18 18 1380 6650 実施例16 16 17 19 17 1310 5800 実施例17 16 17 17 18 1300 5900 実施例18 17 17 18 18 1320 6100 実施例19 20 21 21 22 1260 5400 実施例20 20 20 19 18 1250 5300 実施例21 20 18 19 18 1220 5100 実施例22 28 30 30 29 1090 5000 実施例23 17 17 18 17 1330 6300 比較例1 0 0 0 0 180 13200 比較例2 0 0 0 0 190 13200 比較例3 14 18 15 20 1360 6250 比較例4 18 13 13 19 1150 5360 更に、市販のVTRにドロップアウトカウンタを接続し
て10分間かけてドロップアウトを測定したので、その
結果を表−2に示す。尚、16dB以上の出力低下が1
0μs以上起きた場合を1回のドロップアウトとした。
【0064】又、島津製作所製の走査形スクラッチテス
タ(SST−101)を用いて磁性膜の耐剥離性を調べ
たので、その結果を併せて表−2に示す。又、市販のV
TRを改造したデッキを用いて1〜20MHzの帯域で
正弦波を入力し、その再生出力を測定し、出力特性を調
べたので、その結果も表−2に示す。
【0065】 表−2 ドロップアウト 耐剥離性 出力特性(dB) (個/分) (mN) 1MHz 10MHz 20MHz 実施例1 8 35 +1.1 +0.9 +1.0 実施例2 8 35 +1.2 +0.9 +0.7 実施例3 7 37 +1.3 +0.9 +1.0 実施例4 7 36 +0.9 +0.9 +0.5 実施例5 5 41 +1.4 +1.3 +1.2 実施例6 6 40 +1.5 +1.2 +1.1 実施例7 9 37 +0.7 +0.7 +0.5 実施例8 8 35 +0.5 +0.5 +0.2 実施例9 10 34 +0.5 +0.4 +0.3 実施例10 7 36 +1.5 +1.6 +2.1 実施例11 6 37 +1.3 +1.6 +1.9 実施例12 6 36 +0.5 +0.3 0 実施例13 8 40 +1.0 +0.6 +0.4 実施例14 9 39 +1.1 +1.1 +0.6 実施例15 8 38 +0.9 +0.9 +0.8 実施例16 8 38 +0.7 +0.7 +0.9 実施例17 7 39 +1.0 +0.5 +0.8 実施例18 7 40 +1.0 +0.7 +0.4 実施例19 8 41 +0.7 +0.8 +0.6 実施例20 9 37 +0.5 +0.4 +0.3 実施例21 10 36 +0.5 +0.5 +0.2 実施例22 11 43 +0.2 +0.3 +0.2 実施例23 5 38 +0.9 +1.1 +1.0 比較例1 − 24 磁気テープとしての特性得られず。 比較例2 − 24 磁気テープとしての特性得られず。 比較例3 11 32 0 0 0 比較例4 12 35 0 0 0 *実施例1〜15の出力は比較例3を基準(0dB) *実施例16〜23の出力は比較例4を基準(0dB)
【0066】
【発明の効果】低廉なコストで優れた特性の磁気記録媒
体が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】磁気記録媒体製造装置の概略図
【図2】磁気記録媒体製造装置の要部の概略平面図
【図3】磁気記録媒体の概略図
【符号の説明】
1 真空槽 2a 供給側ロール 2b 巻取側ロール 3 支持体 4 冷却キャンロール 5 遮蔽板 6 ルツボ 7 Fe 8 電子銃 10 フィラメント(カソード) 11a,11b アノード 12 磁石 13 ノズル 14 ノズル
フロントページの続き (72)発明者 志賀 章 栃木県芳賀郡市貝町大字赤羽2606 花王株 式会社情報科学研究所内

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空槽と、支持体の走行手段と、磁性原
    料を入れる容器と、この容器内の磁性原料を飛散させ、
    前記走行手段で走行する支持体に斜め蒸着させる斜め蒸
    着手段とを具備してなり、 前記容器と支持体との間に電子シャワー装置が設けら
    れ、 この電子シャワー装置は、カソードと、このカソードを
    挟むように設けた前記容器に近い側の第1のアノード及
    び前記支持体に近い側の第2のアノードとからなること
    を特徴とする磁気記録媒体の製造装置。
  2. 【請求項2】 真空槽と、反応ガス供給手段と、支持体
    の走行手段と、磁性原料を入れる容器と、この容器内の
    磁性原料を飛散させ、前記走行手段で走行する支持体に
    斜め蒸着させる斜め蒸着手段とを具備してなり、 前記容器と支持体との間に電子シャワー装置が設けら
    れ、 この電子シャワー装置は、カソードと、このカソードを
    挟むように設けた前記容器に近い側の第1のアノード及
    び前記支持体に近い側の第2のアノードとからなること
    を特徴とする磁気記録媒体の製造装置。
  3. 【請求項3】 第1のアノードが最高電位VA1である時
    期と第2のアノードが最高電位VA2である時期とが交互
    に存するよう電圧が掛かっていることを特徴とする請求
    項1又は請求項2の磁気記録媒体の製造装置。
  4. 【請求項4】 (第1のアノードが最高電位VA1である
    時間)≦(第2のアノードが最高電位VA2である時間)
    を満たすよう電圧が掛かっていることを特徴とする請求
    項1〜請求項3いずれかの磁気記録媒体の製造装置。
  5. 【請求項5】 第1のアノードの最高電位VA1≦第2の
    アノードの最高電位VA2を満たすよう電圧が掛かってい
    ることを特徴とする請求項1〜請求項4いずれかの磁気
    記録媒体の製造装置。
  6. 【請求項6】 支持体の最高電位VB ≦第1のアノード
    の最高電位VA1≦第2のアノードの最高電位VA2を満た
    すよう電圧が掛かっていることを特徴とする請求項1〜
    請求項5いずれかの磁気記録媒体の製造装置。
  7. 【請求項7】 カソードの最高電位VC <支持体の最高
    電位VB を満たすよう電圧が掛かっていることを特徴と
    する請求項1〜請求項6いずれかの磁気記録媒体の製造
    装置。
  8. 【請求項8】 電子シャワー装置で発生する電子に対し
    て磁場が作用するよう構成されてなることを特徴とする
    請求項1〜請求項7いずれかの磁気記録媒体の製造装
    置。
  9. 【請求項9】 電子シャワー装置のカソードは、磁性原
    料を入れる容器と飛散した磁性原料が斜め蒸着する支持
    体との間の距離の1/3〜11/12の距離だけ前記容
    器から支持体側に離れて設けられていることを特徴とす
    る請求項1〜請求項8いずれかの磁気記録媒体の製造装
    置。
  10. 【請求項10】 反応ガス供給手段のノズル口が、支持
    体と第2のアノードとの間に対応して設けられているこ
    とを特徴とする請求項2の磁気記録媒体の製造装置。
  11. 【請求項11】 反応ガス供給手段のノズル口が、第2
    のアノードとカソードとの間に対応して設けられている
    ことを特徴とする請求項2の磁気記録媒体の製造装置。
  12. 【請求項12】 反応ガス供給手段のノズル口が、カソ
    ードと第1のアノードとの間に対応して設けられている
    ことを特徴とする請求項2の磁気記録媒体の製造装置。
  13. 【請求項13】 反応ガス供給手段のノズル口が、第1
    のアノードと容器との間に対応して設けられていること
    を特徴とする請求項2の磁気記録媒体の製造装置。
  14. 【請求項14】 請求項1〜請求項13いずれかの磁気
    記録媒体の製造装置を用い、かつ、前記装置の容器内の
    磁性原料としてFe系金属材料を用いることによりFe
    系磁性膜を支持体上に設ける磁気記録媒体の製造方法で
    あって、前記斜め蒸着に際して電子シャワーを作用させ
    ることを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。
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