JPH09236521A - Microtome - Google Patents
MicrotomeInfo
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- JPH09236521A JPH09236521A JP6902796A JP6902796A JPH09236521A JP H09236521 A JPH09236521 A JP H09236521A JP 6902796 A JP6902796 A JP 6902796A JP 6902796 A JP6902796 A JP 6902796A JP H09236521 A JPH09236521 A JP H09236521A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- fulcrum
- cutter
- holding means
- arm member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば電子顕微鏡
用の超薄切片の試料作成に用いて好適なミクロトームに
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microtome suitable for use in preparing a sample of an ultrathin section for an electron microscope, for example.
【０００２】[0002]
【従来の技術】一般に、透過型電子顕微鏡（以下、ＴＥ
Ｍという）を用いて試料の微細な形態を観察するために
は、超薄切片法、レプリカ法、ネガティブ染色法、シャ
ドウイング法等の試料作成法があり、前記超薄切片法は
ＴＥＭ観察の標準的技法として多く用いられている。2. Description of the Related Art Generally, a transmission electron microscope (hereinafter referred to as TE
M), there are sample preparation methods such as ultra-thin section method, replica method, negative staining method, shadowing method, etc., and the ultra-thin section method is used for TEM observation. It is often used as a standard technique.
【０００３】また、ＴＥＭで微細な形態を透過像として
検察するためには、電子線が試料を透過しなくてはなら
ず、このため、試料の切削厚さを５０〜７０ｎｍの超薄
切片に作成することが要求され、ＴＥＭ研究部門におい
て試料作成に用いられる必要不可欠な装置がミクロトー
ムである。In order to inspect a fine form as a transmission image with a TEM, an electron beam must penetrate the sample. Therefore, the cut thickness of the sample is reduced to an ultrathin section of 50 to 70 nm. A microtome is an indispensable device that is required to be prepared and used for sample preparation in the TEM research department.
【０００４】ここで、従来技術によるミクロトームは、
基台と、試料を切削するカッタを保持するために該基台
に配設されたカッタ保持手段と、切削対象となる試料を
保持するために該カッタ保持手段と対向して配設された
試料保持手段と、該試料保持手段と基台との間に設けら
れ試料保持手段とカッタ保持手段との距離を微小距離ず
つ近づけるように送り動作する微動送り手段とから構成
されている。Here, the microtome according to the prior art is
A base, a cutter holding means provided on the base for holding a cutter for cutting the sample, and a sample provided opposite to the cutter holding means for holding a sample to be cut; It comprises a holding means, and a fine movement feeding means provided between the sample holding means and the base, and which performs a feeding operation to make the distance between the sample holding means and the cutter holding means close by a small distance.
【０００５】また、前記微動送り手段としては、ねじと
てこ等を組合せた機械送り方式と、電球等による熱膨張
を利用する熱膨張送り方式とがある。As the fine movement feeding means, there are a mechanical feeding method in which a screw and a lever are combined, and a thermal expansion feeding method utilizing thermal expansion by a light bulb or the like.
【０００６】[0006]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来技術によるミクロトームでは、微動送り手段に機械送
り方式を用いた場合でも、熱膨張送り方式を用いた場合
でも、その送り量に限界がある。However, in the microtome according to the prior art described above, there is a limit to the feed amount whether the mechanical feed system or the thermal expansion feed system is used as the fine feed unit.
【０００７】また、送り量の限界をなくすために、前記
機械送り方式のねじをステッピングモータを用いて回転
させるものでは、回転運動を直線運動に変えるためのボ
ールねじ等を使用している。このため、該ボールねじ等
のガタやバックラッシュの発生により、高精度な送り出
しを行うことができず位置決め精度が劣っている。Further, in order to eliminate the limit of the feed amount, the above-mentioned mechanical feed type screw is rotated using a stepping motor, and a ball screw or the like for changing the rotary motion into a linear motion is used. For this reason, due to occurrence of backlash or backlash of the ball screw or the like, high-precision feeding cannot be performed, and positioning accuracy is inferior.
【０００８】本発明は上述した従来技術の問題に鑑みな
されたもので、本発明は試料の切削厚さを薄い切片とし
て作成することのできるミクロトームを提供することを
目的としている。The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and an object of the present invention is to provide a microtome that can be prepared as a thin section with a cut thickness of a sample.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項１の発明によるミクロトームは、基台
と、試料を切削するカッタを保持するために該基台に設
けられたカッタ保持手段と、切削対象となる試料を保持
するために該カッタ保持手段と対向して配設された試料
保持手段と、該試料保持手段と基台との間に設けられ試
料保持手段とカッタ保持手段との距離を微小距離ずつ近
づけるように送り動作する微動送り手段とから構成す
る。According to a first aspect of the present invention, there is provided a microtome comprising: a base; and a cutter holder provided on the base for holding a cutter for cutting a sample. Means, sample holding means arranged to face the cutter holding means for holding a sample to be cut, sample holding means and cutter holding means provided between the sample holding means and the base And fine movement feeding means for performing a feeding operation so as to make the distance between them smaller by a small distance.
【００１０】そして、本発明が採用する構成の特徴は、
前記微動送り手段を、前記基台に設けられ回動支点を上
下方向に移動させる支点上下動機構と、基端側が該支点
上下動機構の回動支点に回動可能に支持され、先端側に
前記試料保持手段が設けられたアーム部材と、前記試料
保持手段の回動動作によって試料を切削するために該ア
ーム部材の基端側を回動支点として該アーム部材を上下
方向に回動させるアーム回動手段とから構成したことに
ある。[0010] The features of the configuration adopted by the present invention are as follows.
The fine movement feed means, a fulcrum vertical movement mechanism provided on the base for moving a rotation fulcrum in the vertical direction, and a base end side is rotatably supported by a rotation fulcrum of the fulcrum vertical movement mechanism, and a tip end side. An arm member provided with the sample holding means, and an arm for rotating the arm member in a vertical direction with a base end side of the arm member as a fulcrum for cutting a sample by the rotation operation of the sample holding means And rotating means.
【００１１】上記構成により、アーム部材の回動支点か
ら先端側に設けられた試料までの寸法は一定であるか
ら、例えば、試料保持手段に保持された試料の高さ位置
がカッタ保持手段に保持されたカッタの高さ位置よりも
高いときには、アーム部材の回動支点が高い状態にある
変位前位置の回動支点からカッタまでの寸法と、アーム
部材の回動支点が低い状態にある変位後位置の回動支点
からカッタまでの寸法とを比較すると、回動支点が上側
にある場合の寸法の方が長くなり、回動支点が下側位置
となった場合とで寸法差が生じる。ここで、支点上下動
機構により回動支点を上側位置にし、アーム回動手段に
よってアーム部材を下降方向に回動させ、カッタによっ
て試料を切削する。次に、支点上下動機構により回動支
点をある寸法だけ下げた位置でアーム部材を下降方向に
回動させ、カッタによって試料を切削するという動作を
繰返すことにより、前記寸法差に対応した切削厚さの試
料を作成することができる。また、アーム部材の回動支
点から試料までの寸法に対し、支点上下動機構によって
回動支点を変位させる寸法を微小寸法に設定することに
よって、試料の切削厚さを極めて薄くすることができ
る。According to the above configuration, since the dimension from the rotation fulcrum of the arm member to the sample provided on the tip side is constant, for example, the height position of the sample held by the sample holding means is held by the cutter holding means. When the height is higher than the set height of the cutter, the dimensions from the rotation fulcrum at the pre-displacement position where the rotation fulcrum of the arm member is high to the cutter when the rotation fulcrum of the arm member is high, and after the displacement when the rotation fulcrum of the arm member is low. Comparing the dimension from the rotation fulcrum of the position to the cutter, the dimension when the rotation fulcrum is on the upper side is longer, and a dimensional difference occurs when the rotation fulcrum is on the lower side. Here, the rotation fulcrum is set to the upper position by the fulcrum vertical movement mechanism, the arm member is rotated in the descending direction by the arm rotation means, and the sample is cut by the cutter. Next, by repeating the operation of rotating the arm member in a downward direction at a position where the rotation fulcrum is lowered by a certain distance by the fulcrum vertical movement mechanism and cutting the sample by the cutter, the cutting thickness corresponding to the dimensional difference is repeated. Sample can be prepared. Further, by setting the dimension for displacing the rotation fulcrum by the fulcrum vertical movement mechanism to a very small dimension with respect to the dimension from the rotation fulcrum of the arm member to the sample, the cut thickness of the sample can be made extremely thin.
【００１２】また、請求項２の発明によるミクロトーム
は、基台と、切削対象となる試料を保持するために該基
台上に設けられた試料保持手段と、前記試料を切削する
カッタを保持するために該試料保持手段と対向して配設
されたカッタ保持手段と、前記カッタ保持手段と基台と
の間に設けられ試料保持手段とカッタ保持手段との距離
を微小距離ずつ近づけるように送り動作する微動送り手
段とから構成する。A microtome according to a second aspect of the present invention holds a base, a sample holding means provided on the base for holding a sample to be cut, and a cutter for cutting the sample. A cutter holding means disposed opposite to the sample holding means, and a feeder provided between the cutter holding means and the base so that the distance between the sample holding means and the cutter holding means is reduced by a small distance. And fine movement feed means that operates.
【００１３】そして、本発明が採用する構成の特徴は、
前記微動送り手段を、前記基台に設けられ回動支点を上
下方向に移動させる支点上下動機構と、基端側が該支点
上下動機構の回動支点に回動可能に支持され、先端側に
前記カッタ保持手段が設けられたアーム部材と、前記カ
ッタ保持手段の回動動作によって試料を切削するために
該アーム部材の基端側を回動支点として該アーム部材を
上下方向に回動させるアーム回動手段とから構成したこ
とにある。The features of the configuration adopted by the present invention are as follows:
The fine movement feed means, a fulcrum vertical movement mechanism provided on the base for moving a rotation fulcrum in the vertical direction, and a base end side is rotatably supported by a rotation fulcrum of the fulcrum vertical movement mechanism, and a tip end side. An arm member provided with the cutter holding means, and an arm for rotating the arm member in a vertical direction with a base end side of the arm member as a fulcrum for cutting a sample by rotating the cutter holding means. And rotating means.
【００１４】上記構成により、アーム部材の回動支点か
ら先端側に設けられたカッタまでの寸法は一定であるか
ら、例えば、カッタ保持手段に保持されたカッタの高さ
位置が試料保持手段に保持された試料の高さ位置よりも
高いときには、アーム部材の回動支点が高い状態にある
変位前位置の回動支点から試料までの寸法と、アーム部
材の回動支点が低い状態にある変位後位置の回動支点か
ら試料までの寸法とを比較すると、回動支点が上側にあ
る場合の寸法の方が長くなり、回動支点が下側位置とな
った場合とで寸法差が生じる。ここで、支点上下動機構
により回動支点を上側位置にし、アーム回動手段によっ
てアーム部材を下降方向に回動させ、試料をカッタによ
って切削する。次に、支点上下動機構により回動支点を
ある寸法だけ下げた位置でアーム部材を下降方向に回動
させ、試料をカッタによって切削するという動作を繰返
すことにより、前記寸法差に対応した切削厚さの試料を
作成することができる。また、アーム部材の回動支点か
らカッタまでの寸法に対し、支点上下動機構によって回
動支点を変位させる寸法を微小寸法に設定することによ
って、試料の切削厚さを極めて薄くすることができる。According to the above construction, since the dimension from the pivot point of the arm member to the cutter provided on the tip side is constant, for example, the height position of the cutter held by the cutter holding means is held by the sample holding means. When the height is higher than the sampled height position, the dimension from the rotation fulcrum at the pre-displacement position where the rotation fulcrum of the arm member is high to the sample, and after the displacement when the rotation fulcrum of the arm member is low. Comparing the dimension from the rotation fulcrum to the sample, the dimension when the rotation fulcrum is on the upper side is longer, and a dimensional difference occurs when the rotation fulcrum is on the lower side. Here, the rotation fulcrum is set to the upper position by the fulcrum vertical movement mechanism, the arm member is rotated in the downward direction by the arm rotation means, and the sample is cut by the cutter. Next, by repeating the operation of rotating the arm member in the downward direction at a position where the rotation fulcrum is lowered by a certain distance by the fulcrum vertical movement mechanism and cutting the sample by the cutter, the cutting thickness corresponding to the dimensional difference is repeated. Sample can be prepared. Further, by setting the dimension for displacing the rotation fulcrum by the fulcrum vertical movement mechanism to a very small dimension with respect to the dimension from the rotation fulcrum to the cutter of the arm member, the cut thickness of the sample can be made extremely thin.
【００１５】請求項３の発明は、前記支点上下動機構に
よりアーム部材を下方に向け微小寸法ずつ変位させ、こ
の間に前記アーム回動手段によって該アーム部材を繰返
し回動させる動作をすることにより、前記試料保持手段
で保持された試料を順次切削する構成としたことにあ
る。According to a third aspect of the present invention, the arm member is displaced minutely downward by the fulcrum vertical movement mechanism, and the arm member is repeatedly rotated by the arm rotating means during this time. The present invention is configured to sequentially cut the sample held by the sample holding means.
【００１６】上記構成により、支点上下動機構によって
アーム部材の回動支点を下方に向けて微小寸法ずつ繰返
して変位させることによって、試料の微小送り量が設定
され、この送り量をカッタの刃先で順次切削することに
より、薄切片の試料を連続して作成することができる。According to the above construction, the fulcrum vertical movement mechanism repeatedly displaces the rotation fulcrum of the arm member downward by a small dimension to set a minute feed amount of the sample, and the feed amount is set by the cutting edge of the cutter. By cutting sequentially, samples of thin sections can be continuously formed.
【００１７】請求項４の発明は、前記支点上下動機構に
よって回動支点が変位前位置から変位後位置に変位する
変位寸法をａ、前記支点上下動機構による回動支点の変
位前位置とカッタ保持手段に保持されるカッタの刃先と
の間の上下方向寸法をｂ、前記支点上下動機構の回動支
点が変位前位置にあるときのアーム部材の回動支点から
カッタの刃先までの寸法をＲとしたときに、前記支点上
下動機構により回動支点を変位寸法ａだけ変位させた状
態で、前記アーム回動手段によってアーム部材を回動す
るときの試料の切削厚さｄは、ｄ＝ａｂ／Ｒである構成
としたことにある。According to a fourth aspect of the present invention, the displacement dimension at which the pivoting fulcrum is displaced from the pre-displacement position to the post-displacement position by the fulcrum vertical movement mechanism is defined by: The vertical dimension between the cutting edge of the cutter held by the holding means is b, and the dimension from the turning fulcrum of the arm member to the cutting edge of the cutter when the turning fulcrum of the fulcrum vertical movement mechanism is at the pre-displacement position. When R is set, the cutting thickness d of the sample when the arm member is rotated by the arm rotation means in a state where the rotation fulcrum is displaced by the displacement dimension a by the fulcrum vertical movement mechanism is d = ab / R.
【００１８】ここで、請求項４の発明について、図１に
基づいてその原理を説明するに、便宜上横軸をＸ軸、縦
軸をＺ軸とし、アーム部材の先端には試料保持手段が設
けられると共に、該試料保持手段に設けられた試料の高
さ位置がカッタの高さ位置よりも高い位置にあるものと
する。The principle of the invention of claim 4 will be described with reference to FIG. 1. For convenience, the horizontal axis is the X axis, the vertical axis is the Z axis, and a sample holding means is provided at the tip of the arm member. And the height of the sample provided in the sample holding means is higher than the height of the cutter.
【００１９】まず、図１中でＯ点は回動支点の変位前位
置となる上側位置、Ａ点は回動支点の変位後位置となる
下側位置、Ｂ点は回動支点が移動する垂直軸（Ｚ軸）と
カッタの刃先の水平位置となるＹ軸に平行な水平軸との
交点、Ｃ点はカッタの刃先となり、前記変位寸法ａは線
分ＯＡ、高さ寸法ｂは線分ＯＢ、寸法Ｒは線分ＯＣとな
り、さらに、寸法Ｒ，ａ，ｂの関係は、Ｒ≫ａ，Ｒ≫
ｂ，ｂ＞ａとなる。First, in FIG. 1, point O is an upper position where the rotation fulcrum is before the displacement, point A is a lower position where the rotation fulcrum is after the displacement, and point B is a vertical position where the rotation fulcrum moves. The point of intersection between the axis (Z axis) and the horizontal axis parallel to the Y axis, which is the horizontal position of the blade edge of the cutter, point C is the blade edge of the cutter, the displacement dimension a is a line segment OA, and the height dimension b is a line segment OB. , The dimension R becomes a line segment OC, and the relation between the dimensions R, a, b is R {a, R}
b, b> a.
【００２０】ここで、支点上下動機構によって、アーム
部材の回動支点を変位前位置となるＯ点に位置させて
のようにアーム部材を下降方向に回動させてＣ点にある
カッタの刃先でアーム部材の先端に位置した試料を切削
する。次に、に示すように、支点上下動機構により回
動支点を上方の回避位置となるＤ点まで上昇させた後に
アーム部材を上昇方向に回動させる。次に、支点上下動
機構により回動支点を変位後位置となるＢ点に下げた位
置とし、アーム部材を再びのように下降方向に回動さ
せ、Ｃ点にあるカッタによって試料を切削する。これに
より、その切削厚さｄ分を試料の切削厚さとして作成す
る。Here, the fulcrum vertical movement mechanism rotates the arm member in the downward direction as if the rotation fulcrum of the arm member was located at point O, which is the pre-displacement position. Cuts the sample located at the tip of the arm member. Next, as shown in (1), the fulcrum vertical movement mechanism raises the rotation fulcrum to point D, which is the upper avoidance position, and then rotates the arm member in the ascending direction. Next, the pivoting fulcrum is set to a position lowered to the post-displacement point B by the fulcrum vertical movement mechanism, the arm member is pivoted in the downward direction again, and the sample at the point C is cut by the cutter. Thus, the cut thickness d is created as the cut thickness of the sample.
【００２１】このとき、支点上下動機構で下側に移動し
たＢ点とカッタ刃先のＣ点までの寸法をｃとすると共
に、線分ＢＣの寸法を寸法Ｌとすると、この寸法Ｌは、
数１のようになる。At this time, if the dimension between the point B moved downward by the fulcrum vertical movement mechanism and the point C of the cutter blade is c and the dimension of the line segment BC is L, this dimension L is
Equation 1 is obtained.
【００２２】[0022]
【数１】 [Equation 1]
【００２３】また、前記寸法ｃは数１から数２のように
なる。Further, the dimension c is as shown by the following equation (1) or (2).
【００２４】[0024]
【数２】 [Equation 2]
【００２５】そして、各寸法の関係は、（２ａｂ／Ｒ）
≫（ａ2 ／Ｒ）となるから、寸法ｃは数３のように近似
的に表される。The relationship between the dimensions is (2ab / R)
Since ≫ (a 2 / R), the dimension c is approximately expressed as in Equation 3.
【００２６】[0026]
【数３】ｃ≒Ｒ−ａｂ／Ｒ## EQU3 ## c ≒ R-ab / R
【００２７】従って、試料の切削厚さｄは、数２，３か
ら、下記の数４のようになる。Therefore, the cutting thickness d of the sample is as shown in the following Expression 4 from Expressions 2 and 3.
【００２８】[0028]
【数４】 (Equation 4)
【００２９】このように、寸法Ｒ，ａ，ｂを決定するこ
とにより試料の切削厚さｄを近似的に設定することがで
きる。As described above, by determining the dimensions R, a, and b, the cut thickness d of the sample can be approximately set.
【００３０】[0030]
【発明の実施の形態】以下、本発明による実施の形態を
図２ないし図６に従って詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment according to the present invention will be described below in detail with reference to FIGS.
【００３１】図中、１は実施例によるミクロトームを示
す。２は該ミクロトーム１の本体をなす矩形状に形成さ
れた基台を示し、該基台２は鋳物等の金属材料によって
形成されている。なお、便宜上、図２に示すように、紙
面と平行な２方向をＸ軸，Ｙ軸とし、紙面と直行する方
向をＺ軸方向（図２参照）とする。In the figure, reference numeral 1 denotes a microtome according to the embodiment. Reference numeral 2 denotes a rectangular base that forms the main body of the microtome 1, and the base 2 is made of a metal material such as casting. For convenience, as shown in FIG. 2, two directions parallel to the plane of the paper are defined as an X-axis and a Y-axis, and a direction perpendicular to the plane of the paper is defined as a Z-axis direction (see FIG. 2).
【００３２】３は基台２の右側に位置して固着されたＸ
・Ｙ軸ステージを示し、該Ｘ・Ｙ軸ステージ３は固定台
３Ａと，該固定台３Ａ上に設けられ、Ｘ軸方向に移動可
能に設けられた第１の移動台３Ｂと、該第１の移動台３
Ｂ上に設けられ、Ｙ軸方向に移動可能に設けられた第２
の移動台３Ｃとからなる。そして、前記第１の移動台３
Ｂは調整つまみ３Ｂ1 によってＸ軸方向位置が調整さ
れ、第２の移動台３Ｃは調整つまみ３Ｃ1 によってＹ軸
方向位置が調整されるようになっている。Reference numeral 3 denotes a fixed X located on the right side of the base 2.
A Y-axis stage, wherein the XY-axis stage 3 includes a fixed base 3A, a first movable base 3B provided on the fixed base 3A and provided to be movable in the X-axis direction, Mobile platform 3
B, which is provided on B and is movably provided in the Y-axis direction.
And a moving table 3C. Then, the first moving table 3
The position of B is adjusted by the adjustment knob 3B1 in the X-axis direction, and the position of the second moving table 3C is adjusted by the adjustment knob 3C1 in the Y-axis direction.
【００３３】４は傾斜ステージで、該傾斜ステージ４
は、Ｘ・Ｙ軸ステージ３の第２の移動台３Ｃ上に固着さ
れた固定台４Ａと、該固定台４Ａ上をＸ軸の傾斜軸方向
に微動させる傾斜台４Ｂとからなり、調整用つまみ４Ｃ
によって傾斜台４Ｂの傾斜角度を調整している。Reference numeral 4 denotes a tilt stage.
Consists of a fixed base 4A fixed on a second movable base 3C of the XY axis stage 3 and an inclined base 4B for finely moving the fixed base 4A in the X-axis inclined axis direction. 4C
Thereby, the inclination angle of the inclination table 4B is adjusted.
【００３４】５は傾斜ステージ４の傾斜台４Ｂ上に固着
されたカッタ保持台を示し、該カッタ保持台５にはカッ
タ６が固定ねじ５Ａによって保持されている。Reference numeral 5 denotes a cutter holder fixed on the tilt table 4B of the tilt stage 4, and a cutter 6 is held on the cutter holder 5 by fixing screws 5A.
【００３５】ここで、前記カッタ６はガラス，ダイヤモ
ンドまたはサファイア等によって三角柱状に形成され、
上側が割断角度（４０°〜６０°）を有する刃先６Ａと
なるようにカッタ保持台５に設置されている。また、カ
ッタ６には試料回収槽６Ｂが形成され、該試料回収槽６
Ｂ内に蒸留水を溜め、切削された後の試料を蒸留水上に
浮かせることで回収するようになっている。Here, the cutter 6 is formed in a triangular prism shape using glass, diamond, sapphire, or the like.
It is installed on the cutter holder 5 so that the upper side becomes a cutting edge 6A having a cutting angle (40 ° to 60 °). The cutter 6 is provided with a sample collection tank 6B.
Distilled water is stored in B, and the cut sample is collected by floating on the distilled water.
【００３６】また、前記Ｘ・Ｙ軸ステージ３はカッタ６
の後述の試料１４に対する位置決めを行うと共に、前記
傾斜ステージ４はカッタ６の角度設定を行うものであ
る。そして、前記Ｘ・Ｙ軸ステージ３、傾斜ステージ
４、カッタ保持台５等によりカッタ保持手段を構成して
いる。The XY stage 3 is provided with a cutter 6.
And the tilt stage 4 sets the angle of the cutter 6. The X / Y axis stage 3, the tilt stage 4, the cutter holder 5, etc. constitute a cutter holding means.
【００３７】７は基台２の左側に位置して設けられた支
点上下動機構を示し、該支点上下動機構７は、基台２に
立設されたスタンド部７Ａと、該スタンド部７Ａの状態
側に設けれたＺ軸方向駆動モータ７Ｂと、該Ｚ軸方向駆
動モータ７ＢによってＺ軸方向に上下動する移動台７Ｃ
とから構成されている。Reference numeral 7 denotes a fulcrum vertical movement mechanism provided on the left side of the base 2. The fulcrum vertical movement mechanism 7 includes a stand 7 A erected on the base 2 and a stand 7 A of the stand 7 A. A Z-axis direction drive motor 7B provided on the state side, and a moving table 7C that moves up and down in the Z-axis direction by the Z-axis direction drive motor 7B
It is composed of
【００３８】８は支点機構を示し、該支点機構８は支点
上下動機構７の移動台７Ｃ上に固着され、段部９Ａを有
する固定部９と、該固定部９の段部９Ａに固着された保
持筒１０と、前記固定部９の先端側端面に形成されたこ
ろ保持溝９Ｂと後述する試料取付腕１２の基端側端面に
形成されたころ保持溝１２Ｂ間に保持された回動支点と
なる円筒状のころ１１とから構成されている。そして、
該支点機構８は試料取付腕１２の基端側を回動支点とし
て回動可能に支持している。なお、前記ころ１１は複数
の鋼球で構成してもよい。Reference numeral 8 denotes a fulcrum mechanism. The fulcrum mechanism 8 is fixed on a moving table 7C of a fulcrum vertical movement mechanism 7, and is fixed to a fixed portion 9 having a step 9A and to a step 9A of the fixed portion 9. The rotating fulcrum held between the holding cylinder 10, the roller holding groove 9 </ b> B formed on the distal end face of the fixing part 9 and the roller holding groove 12 </ b> B formed on the base end face of the sample mounting arm 12 described later. And a cylindrical roller 11 to be used. And
The fulcrum mechanism 8 is rotatably supported on the base end side of the sample mounting arm 12 as a fulcrum. The rollers 11 may be composed of a plurality of steel balls.
【００３９】１２はＸ軸方向に延びるアーム部材となる
試料取付腕を示し、該試料取付腕１２は基端側が支点機
構８に回動可能に軸支された回動支点となり、先端側に
は傾斜ステージ１３を介して試料１４が保持された試料
ホルダ１５が固着されている。また、前記試料取付腕１
２の基端側は、支点上下動機構７の移動台７Ｃに固着さ
れた支点機構８に保持され、試料取付腕１２の長手方向
の中間部には、後述するＺ軸ステージ駆動機構１６の伝
達棒１６Ｃが挿入されるＸ軸方向に長い長円の挿入穴１
２Ａが形成されている。一方、試料取付腕１２の基端側
端面には回動支点となるころ１１を保持するころ保持溝
１２Ｂが形成されている。Reference numeral 12 denotes a sample mounting arm which is an arm member extending in the X-axis direction. The sample mounting arm 12 has a base end side pivotally supported by the fulcrum mechanism 8 so as to be rotatable. A sample holder 15 holding a sample 14 is fixed via an inclined stage 13. The sample mounting arm 1
2 is held by a fulcrum mechanism 8 fixed to a moving table 7C of a fulcrum vertical movement mechanism 7, and a transmission portion of a Z-axis stage drive mechanism 16, which will be described later, is provided at a longitudinally intermediate portion of the sample mounting arm 12. Oval insertion hole 1 long in the X-axis direction into which rod 16C is inserted
2A is formed. On the other hand, a roller holding groove 12B for holding the roller 11 serving as a rotation fulcrum is formed on the base end side end surface of the sample mounting arm 12.
【００４０】さらに、前記試料１４の傾きは傾斜ステー
ジ１３の調整つまみ１３Ａによって調整される。また、
前記傾斜ステージ１３および試料ホルダ１５等により試
料保持手段を構成している。Further, the tilt of the sample 14 is adjusted by an adjustment knob 13A of the tilt stage 13. Also,
The tilt stage 13 and the sample holder 15 constitute a sample holding means.
【００４１】１６はアーム回動手段となるＺ軸ステージ
駆動機構を示し、該Ｚ軸ステージ駆動機構１６は基台２
に立設されたスタンド部１６Ａと、該スタンド部１６Ａ
の上端側に設けられたＺ軸ステージ駆動モータ１６Ｂ
と、該Ｚ軸ステージ駆動モータ１６ＢによってＺ軸方向
に上下動する伝達棒１６Ｃとからなり、該伝達棒１６Ｃ
の先端は前記試料取付腕１２の挿入穴１２Ａに挿入され
ている。そして、前記Ｚ軸ステージ駆動モータ１６Ｂを
駆動することにより、伝達棒１６Ｃが上下動し、これに
伴って試料取付腕１２の回動支点を中心とした上昇方向
の回動、下降方向の回動を行うようになっている。Reference numeral 16 denotes a Z-axis stage driving mechanism serving as arm rotating means.
And a stand portion 16A standing upright
Z-axis stage drive motor 16B provided on the upper end side of the
And a transmission rod 16C that moves up and down in the Z-axis direction by the Z-axis stage drive motor 16B.
Is inserted into the insertion hole 12A of the sample mounting arm 12. Then, by driving the Z-axis stage drive motor 16B, the transmission rod 16C moves up and down, and accordingly, the ascending and descending pivots around the pivot of the sample mounting arm 12. It is supposed to do.
【００４２】なお、前記支点上下動機構７、試料取付腕
１２およびＺ軸ステージ駆動機構１６によって本発明に
よる微動送り手段を構成している。Incidentally, the fulcrum vertical movement mechanism 7, the sample mounting arm 12, and the Z-axis stage driving mechanism 16 constitute a fine movement feeding means according to the present invention.
【００４３】さらに、１９，１９はばね部材で、該各ば
ね部材１９は支点機構８の保持筒１０外側と試料取付腕
１２外側との間にそれぞれ配設され、該試料取付腕１２
を支点機構８側に引張るようになっている。Further, reference numerals 19, 19 denote spring members, each spring member 19 being disposed between the outside of the holding cylinder 10 of the fulcrum mechanism 8 and the outside of the sample mounting arm 12, respectively.
Is pulled toward the fulcrum mechanism 8 side.
【００４４】次に、図４において、１７はコントローラ
を示し、該コントローラ１７は図５に示すような動作プ
ログラムが内蔵されたマイクロコンピュータとして構成
され、その記憶エリア１７Ａ内には、図１に示すよう
に、回動支点の上側位置（Ｏ点）からカッタ６の刃先６
Ａ（Ｂ点）までの高さ寸法ｂ、回動支点が上側位置（Ｏ
点）にあるときのアーム部材の回動支点（Ｏ点）からカ
ッタ６（Ｃ点）までの寸法Ｒを予め記憶すると共に、作
成される試料の切削厚さｄを設定記憶するようになって
いる。また、コントローラ１７の入力側には、キーボー
ド１８および図示しない各種センサ，スイッチ等が接続
され、出力側には、支点上下動機構７およびＺ軸ステー
ジ駆動機構１６等が接続されている。Next, in FIG. 4, reference numeral 17 denotes a controller. The controller 17 is configured as a microcomputer in which an operation program as shown in FIG. 5 is built. Thus, the cutting edge 6 of the cutter 6 is moved from the upper position (point O) of the rotation fulcrum.
Height dimension b up to A (point B), rotation fulcrum at upper position (O
), The dimension R from the rotation fulcrum (point O) of the arm member to the cutter 6 (point C) is stored in advance, and the cutting thickness d of the sample to be created is set and stored. I have. The input side of the controller 17 is connected with a keyboard 18 and various sensors and switches (not shown), and the output side is connected with the fulcrum vertical movement mechanism 7, the Z-axis stage drive mechanism 16, and the like.
【００４５】本実施例によるミクロトーム１は上述の如
き構成を有するもので、その基本的作動について、図１
による原理図と図５によるフローチャートを参照しつつ
説明する。The microtome 1 according to this embodiment has the structure as described above, and its basic operation is shown in FIG.
Will be described with reference to a principle diagram according to FIG.
【００４６】まず、ミクロトーム１を動作させる前に、
初期設定として、カッタ６と試料１４のセッティングを
行う。即ち、カッタ６においてはＸ・Ｙ軸ステージ３に
よって試料１４に対するＸ軸，Ｙ軸方向の位置決めを行
い、傾斜ステージ４の傾き調整によってカッタ６の逃げ
角度を調整する。一方、試料１４においては、傾斜ステ
ージ１３によって試料１４の傾きを調整する。First, before operating the microtome 1,
As an initial setting, setting of the cutter 6 and the sample 14 is performed. That is, in the cutter 6, the X / Y-axis stage 3 positions the sample 14 in the X-axis and Y-axis directions, and the inclination angle of the tilt stage 4 adjusts the clearance angle of the cutter 6. On the other hand, for the sample 14, the tilt of the sample 14 is adjusted by the tilt stage 13.
【００４７】なお、初期位置として、試料１４とカッタ
６とはＸ軸方向に離間し、試料取付腕１２（試料１４）
はカッタ６に対して上方に位置している。As an initial position, the sample 14 and the cutter 6 are separated in the X-axis direction, and the sample mounting arm 12 (sample 14)
Is located above the cutter 6.
【００４８】次に、コントローラ１７による処理を開始
する。まず、初期の動作としてステップＳ１では、Ｚ軸
ステージ駆動モータ１６Ｂを作動させ、試料取付腕１２
を図１中ののように、変位前位置となる回動支点Ｏを
中心としてゆっくりと下降方向に回動させる。このと
き、試料１４の先端をカッタ６の刃先６Ａに当てて該試
料１４に第１の切削を行う。このとき、切削された試料
は試料回収槽６Ｂの水面に浮かぶ。しかし、第１の切削
で形成された試料は切削厚さが正確に設定されていない
薄切片の試料となるため、試料としては使用することは
できない。Next, the processing by the controller 17 is started. First, as an initial operation, in step S1, the Z-axis stage drive motor 16B is operated to
1 is slowly rotated in a downward direction about a rotation fulcrum O which is a pre-displacement position as shown in FIG. At this time, the tip of the sample 14 is brought into contact with the cutting edge 6A of the cutter 6 to perform the first cutting on the sample 14. At this time, the cut sample floats on the water surface of the sample recovery tank 6B. However, since the sample formed by the first cutting is a thin section sample whose cutting thickness is not accurately set, it cannot be used as a sample.
【００４９】次に、ステップＳ２では、支点上下動機構
７により回動支点を回避位置Ｄに上昇させ、ステップＳ
３では、Ｚ軸ステージ駆動モータ１６Ｂを作動させて、
試料取付腕１２を図１中ののように、回動支点Ｄを中
心として上昇方向に回動させる。このとき、試料取付腕
１２の先端に取付られた試料１４がカッタ６に接触する
のを回避することにより、カッタ６と試料１４の先端面
との保護を図るようになっている。Next, in step S2, the fulcrum is moved up to the avoidance position D by the fulcrum vertical movement mechanism 7, and the flow proceeds to step S2.
In 3, the Z-axis stage drive motor 16B is operated,
The sample mounting arm 12 is rotated in the ascending direction about the rotation fulcrum D as shown in FIG. At this time, the sample 14 attached to the distal end of the sample mounting arm 12 is prevented from contacting the cutter 6, thereby protecting the cutter 6 and the distal end surface of the sample 14.
【００５０】さらに、ステップＳ４では、作成される試
料の切削厚さｄをキーボード１８によって入力し、ステ
ップＳ５では、入力された試料の切削厚さｄから支点上
下動機構７の変位量ａを上記数４を変形した数５によっ
て演算する。Further, in step S4, the cut thickness d of the sample to be prepared is input by the keyboard 18, and in step S5, the displacement amount a of the fulcrum vertical movement mechanism 7 is calculated from the input cut thickness d of the sample. The calculation is performed by using Expression 5 obtained by transforming Expression 4.
【００５１】[0051]
【数５】 (Equation 5)
【００５２】ステップＳ６では、前記数５によって演算
された変位量ａに累積変位量ａ0 を加えてａ0 に置換す
る。このとき、最初のときはａをａ0 に置き換える。In step S6, the cumulative displacement amount a0 is added to the displacement amount a calculated by the above equation 5 to replace it with a0. At this time, a is replaced with a0 at the beginning.
【００５３】ステップＳ７では、支点上下動機構７によ
り回動支点を前記ステップＳ６で設定された累積変位量
ａ0 だけ下降させる（図１中では変位後位置となるＡ点
に移動させる）。このとき、試料１４の先端をカッタ６
に対して切削厚さｄを送出し量として微動送りしたこと
になる。In step S7, the fulcrum vertical movement mechanism 7 lowers the rotation fulcrum by the cumulative displacement a0 set in step S6 (moves to the point A which is the post-displacement position in FIG. 1). At this time, attach the tip of the sample 14 to the cutter 6
This means that the workpiece was finely fed with the cutting thickness d as the sending amount.
【００５４】ステップＳ８では、Ｚ軸ステージ駆動機構
１６を作動させ、試料取付腕１２を図１中ののよう
に、回動支点Ａを中心としてゆっくりと下降方向に回動
させる。このとき、試料１４の先端をカッタ６の刃先６
Ａに当てて該試料１４に第２の切削を行い、切削された
試料は切削厚さｄの試料として試料回収槽６Ｂの水面に
回収される。In step S8, the Z-axis stage drive mechanism 16 is operated to slowly rotate the sample mounting arm 12 about the rotation fulcrum A in the downward direction as shown in FIG. At this time, the tip of the sample 14 is
The sample 14 is subjected to a second cutting in contact with A, and the cut sample is collected on the water surface of the sample collection tank 6B as a sample having a cutting thickness d.
【００５５】また、作成される試料は厳密には半径Ｒの
円弧状に形成されているが、ｄ≪Ｒの関係にあるから、
見掛け上は平坦な試料として扱うことができる。Although the sample to be formed is strictly formed in an arc shape with a radius R, since d≪R,
It can be treated as an apparently flat sample.
【００５６】さらに、ステップＳ９，Ｓ１０では前述し
たステップＳ２，Ｓ３と同様に、支点上下動機構７によ
り回動支点を回避位置Ｄに上昇させた上で、Ｚ軸ステー
ジ駆動機構１６を作動させて、試料取付腕１２を図１中
ののように、回動支点Ｄを中心として上昇方向に回動
させる。Further, in steps S9 and S10, as in steps S2 and S3, the fulcrum vertical movement mechanism 7 raises the rotation fulcrum to the avoidance position D, and then operates the Z-axis stage drive mechanism 16. Then, the sample mounting arm 12 is rotated in the ascending direction about the rotation fulcrum D as shown in FIG.
【００５７】ステップＳ１１では、図中の寸法ｂをｂ−
ａ（線分ＡＢ）に設定し、ステップＳ１２で、この再設
定された寸法ｂがステップＳ５で演算された変位量ａ以
下になっているか否かを判定し、「ＹＥＳ」と判定した
場合には、試料１４が切削限界となっているから、本動
作を終了し、「ＮＯ」と判定した場合には、微動送りが
可能であるから、ステップＳ５に移り、ステップＳ６以
降の処理を繰り返す。このとき、２回目以降の処理で
は、ステップＳ６では累積変位量ａ0 をａ＋ａ0に置換
して上側位置Ｏ点からの変位量を相対的に設定する。In step S11, the dimension b in the drawing is changed to b-
a (line segment AB), and in step S12, it is determined whether or not the reset dimension b is equal to or smaller than the displacement amount a calculated in step S5. If "YES" is determined, Since the sample 14 has reached the cutting limit, this operation ends, and if it is determined to be "NO", fine movement can be performed, so the process proceeds to step S5, and the processes after step S6 are repeated. At this time, in the second and subsequent processes, in step S6, the displacement amount from the upper position O is relatively set by replacing the accumulated displacement amount a0 with a + a0.
【００５８】なお、回動支点から試料１４の先端までの
試料取付腕１２の長さとなる寸法Ｒも切削動作に準じて
徐々に短くなるものの、ｄ≪Ｒであるから、寸法Ｒの変
化はないものとして演算できる。Although the dimension R, which is the length of the sample mounting arm 12 from the pivot point to the tip of the sample 14, gradually decreases in accordance with the cutting operation, the dimension R does not change since d≪R. Can be calculated.
【００５９】然るに、本実施例による微動送り手段は、
支点上下動機構７によって試料取付腕１２の回動支点を
上下動させ、カッタ６との距離を微小距離近づける毎に
Ｚ軸ステージ駆動機構１６により試料取付腕１２を回動
させて試料１４をカッタ６によって切削する構成とした
から、従来移動手段として使用していたボールねじ等を
排除することで、慣性質量の低減、バックラッシュの発
生を防止して、試料１４を薄切片として作成することが
できる。However, the fine movement feed means according to the present embodiment
The fulcrum vertical movement mechanism 7 moves the rotation fulcrum of the sample mounting arm 12 up and down, and the Z-axis stage drive mechanism 16 rotates the sample mounting arm 12 every time the distance between the sample mounting arm 12 and the cutter 6 is reduced by a small distance, thereby cutting the sample 14. 6, so that the sample 14 can be prepared as a thin slice by eliminating the ball screw and the like which have been conventionally used as moving means, thereby reducing the inertial mass and preventing the occurrence of backlash. it can.
【００６０】また、本実施例による数４に、具体的な数
値を代入してみると、作成される試料の切削厚さｄは表
１のようになる。Further, by substituting a specific numerical value into the equation 4 according to the present embodiment, the cutting thickness d of the prepared sample is as shown in Table 1.
【００６１】[0061]
【表１】 [Table 1]
【００６２】このように、従来の機械方式の駆動系に比
べて試料の微動送りを可能にし、この結果、従来作成す
ることのできなかった超薄切片の試料を容易に作成する
ことができる。また、Ｚ軸ステージ駆動機構１６の精度
を高めることにより、試料の切削厚さｄはより薄く作成
することも可能である。As described above, it is possible to finely feed the sample as compared with the conventional mechanical drive system, and as a result, it is possible to easily prepare a sample of an ultra-thin section which could not be prepared conventionally. In addition, by increasing the accuracy of the Z-axis stage drive mechanism 16, it is possible to make the cut thickness d of the sample thinner.
【００６３】さらに、Ｚ軸ステージ駆動機構１６による
試料取付腕１２のＺ軸方向への回動伝達は、Ｚ軸ステー
ジ駆動機構１６側の伝達棒１６Ｃを試料取付腕１２側の
挿入穴１２Ａに挿入し、伝達棒１６ＣのＺ軸方向の移動
によって試料取付腕１２を上下に回動させるようにして
いるから、Ｚ軸ステージ駆動機構１６のＺ軸ステージ駆
動モータ１６Ｂの振動が直接伝わるのを防止し、試料取
付腕１２の先端部に設けられた試料１４が切削時に振動
しつつ下降方向に回動するのを防止できる。この結果、
薄切片の試料の切削表面が波打つことなく、試料の切削
面を平坦面として奇麗に仕上げることができる。Further, the rotation of the sample mounting arm 12 in the Z-axis direction by the Z-axis stage driving mechanism 16 is transmitted by inserting the transmission rod 16C of the Z-axis stage driving mechanism 16 into the insertion hole 12A of the sample mounting arm 12. Since the sample mounting arm 12 is rotated up and down by the movement of the transmission rod 16C in the Z-axis direction, the vibration of the Z-axis stage drive motor 16B of the Z-axis stage drive mechanism 16 is prevented from being directly transmitted. In addition, it is possible to prevent the sample 14 provided at the tip of the sample mounting arm 12 from rotating in the downward direction while vibrating during cutting. As a result,
The cut surface of the sample of the thin section can be neatly finished as a flat surface without waving.
【００６４】かくして、本実施例によるミクロトーム１
では、支点上下動機構７によって、試料取付腕１２の回
動支点となるころ１１を有する支点機構８を上下動でき
るようにし、該回動支点の上側位置と下側位置とではカ
ッタ６までの寸法差が生じることを利用して、この寸法
差が試料の切削厚さｄとなるように設定したから、支点
上下動機構７によって回動支点を数５によって演算され
た変位量ａずつ下降させる度に、試料１４をカッタ６に
対して微小距離ずつ近づけることができ、その都度カッ
タ６で試料１４を切削することにより超薄切片の試料を
作成することができる。Thus, the microtome 1 according to the present embodiment
The fulcrum vertical movement mechanism 7 allows the fulcrum mechanism 8 having the rollers 11 serving as the rotation fulcrum of the sample mounting arm 12 to be able to move up and down. Utilizing the occurrence of the dimensional difference, the dimensional difference is set so as to be the cut thickness d of the sample, so that the fulcrum vertical movement mechanism 7 lowers the rotation fulcrum by the displacement amount a calculated by the equation (5). Each time, the sample 14 can be brought closer to the cutter 6 by a minute distance, and each time the sample 14 is cut by the cutter 6, a sample of an ultrathin section can be created.
【００６５】しかも、カッタ６による試料１４の切削時
には、Ｚ軸ステージ駆動機構１６の駆動モータ１６Ｂの
みが駆動しているものの、該駆動モータ１６Ｂの試料取
付腕１２への移動伝達は、伝達棒１６Ｃと挿入穴１２Ａ
によって行っているから、振動の伝達を低減することが
でき、作成された試料の表面を奇麗に仕上げることがで
きる。Further, when cutting the sample 14 by the cutter 6, only the drive motor 16B of the Z-axis stage drive mechanism 16 is driven, but the movement of the drive motor 16B to the sample mounting arm 12 is transmitted by the transmission rod 16C. And insertion hole 12A
Therefore, the transmission of vibration can be reduced, and the surface of the prepared sample can be beautifully finished.
【００６６】なお、前記実施例では、試料保持手段とな
る傾斜ステージ１３および試料ホルダ１５を試料取付腕
１２の先端側に設けたが、本発明はこれに限らず、図６
に示すように、試料取付腕１２の先端にカッタ保持手段
となるカッタ保持台５を設け、該カッタ保持台５と対向
する基台２上に試料保持手段となる試料ホルダ１５を設
けるようにしてもよい。In the above embodiment, the tilt stage 13 and the sample holder 15 serving as the sample holding means are provided on the tip side of the sample mounting arm 12, but the present invention is not limited to this.
As shown in (1), a cutter holder 5 serving as a cutter holding means is provided at the tip of the sample mounting arm 12, and a sample holder 15 serving as a sample holding means is provided on the base 2 opposed to the cutter holder 5. Is also good.
【００６７】また、前記実施例では、回動支点から試料
１４の先端までの試料取付腕１２の長さ寸法Ｒを、切削
動作に対しても不変として演算を行ったが、図５中のス
テップＳ１１にＲ＝Ｒ−ｄを加え、寸法Ｒも順次補正し
て演算してもよい。In the above embodiment, the length R of the sample mounting arm 12 from the rotation fulcrum to the tip of the sample 14 was calculated as invariant to the cutting operation. R = R−d may be added to S11, and the dimension R may be sequentially corrected and calculated.
【００６８】[0068]
【発明の効果】以上詳述した如く、請求項１の本発明で
は、カッタ保持手段に対して試料保持手段を微小寸法ず
つ近づけるように送り動作する微動送り手段を、回動支
点を上下方向に移動させる支点上下動機構と、基端側が
該支点上下動機構の回動支点に回動可能に支持され、先
端側に試料保持手段が設けられたアーム部材と、該アー
ム部材の基端側を回動支点として該アーム部材を上下方
向に回動させるアーム回動手段とから構成したから、前
記支点上下動手段によって回動支点を微小寸法ずつ変位
させ、アーム回動手段によってアーム部材を回動させる
間に試料保持手段に保持された試料を、基台側にカッタ
保持手段を介して設けられたカッタによって順次切削す
ることができる。この際、回動支点の変位を微小寸法と
することによって、カッタ保持手段で保持されたカッタ
に対してアーム部材の先端側の試料を微小寸法ずつ近づ
けることができ、切削厚さを超薄切片に設定できる。ま
た、アーム回動手段によってアーム部材を回動支点を介
して回動動作するようにしたから、この回動動作によっ
て切削される試料の切削面を平坦面として奇麗に仕上げ
ることができる。As described above in detail, according to the first aspect of the present invention, the fine movement feeding means for feeding the sample holding means so as to be closer to the cutter holding means by a very small distance is provided with a rotation fulcrum in the vertical direction. A fulcrum vertical movement mechanism to be moved, a base end side is rotatably supported by a rotation fulcrum of the fulcrum vertical movement mechanism, and an arm member provided with a sample holding means at a distal end side, and a base end side of the arm member. The fulcrum vertical movement means displaces the fulcrum by a small dimension by the fulcrum vertical movement means, and the arm member is rotated by the arm rotation means. The sample held by the sample holding means during cutting can be sequentially cut by a cutter provided on the base side via the cutter holding means. At this time, the sample on the tip side of the arm member can be brought close to the cutter held by the cutter holding means by a small size by setting the displacement of the rotation fulcrum to a small size, and the cutting thickness can be reduced to an ultrathin section. Can be set to. In addition, since the arm member is turned by the arm turning means via the turning fulcrum, the cut surface of the sample cut by this turning operation can be neatly finished as a flat surface.
【００６９】請求項２の本発明では、試料保持手段に対
してカッタ保持手段を微小寸法ずつ近づけるように送り
動作する微動送り手段を、回動支点を上下方向に移動さ
せる支点上下動機構と、基端側が該支点上下動機構の回
動支点に回動可能に支持され、先端側にカッタ保持手段
が設けれたアーム部材と、該アーム部材の基端側を回動
支点として該アーム部材を上下方向に回動させるアーム
回動手段とから構成したから、支点上下動手段によって
回動支点を微小寸法ずつ変位させ、アーム回動手段によ
ってアーム部材を回動させる間にアーム部材の先端側に
カッタ保持手段を介して保持されたカッタによって、基
台側に試料保持手段を介して保持された試料を順次切削
することができる。この際、回動支点の変位を微小寸法
とすることによって、試料保持手段で保持された試料に
対してアーム部材の先端側のカッタを微小寸法ずつ近づ
けることができ、切削厚さを超薄切片に設定できる。ま
た、アーム回動手段によってアーム部材を回動支点を介
して回動動作するようにしたから、この回動動作によっ
て切削される試料の切削面を平坦面として奇麗に仕上げ
ることができる。According to the second aspect of the present invention, the fine movement feed means for feeding the cutter holding means so as to be closer to the sample holding means by a minute size is provided with a fulcrum vertical movement mechanism for moving the rotation fulcrum up and down, An arm member having a base end side rotatably supported by a rotation fulcrum of the fulcrum vertical movement mechanism and a cutter holding means provided on a distal end side, and the arm member having the base end side of the arm member as a rotation fulcrum. The arm fulcrum is configured so that the fulcrum is vertically displaced by a small amount by the fulcrum vertical movement means and the arm member is rotated by the arm slewing means. The sample held on the base side via the sample holding means can be sequentially cut by the cutter held via the cutter holding means. At this time, by setting the displacement of the rotation fulcrum to a very small size, the cutter on the distal end side of the arm member can be made closer to the sample held by the sample holding means by a very small size, and the cutting thickness can be reduced to an ultrathin section. Can be set to In addition, since the arm member is turned by the arm turning means via the turning fulcrum, the cut surface of the sample cut by this turning operation can be neatly finished as a flat surface.
【００７０】請求項３の発明では、支点上下動機構によ
りアーム部材を下方に向け微小寸法ずつ変位させ、この
間に前記アーム回動手段によって該アーム部材を繰返し
回動させる動作をすることにより、前記試料保持手段で
保持された試料を順次切削する構成としたから、支点上
下動機構によってアーム部材の回動支点を下方に向けて
微小寸法ずつ繰返して変位させることによって、試料の
微小送り量が設定され、この送り量をカッタの刃先で順
次切削することにより、薄切片の試料を連続して作成す
ることができる。According to the third aspect of the present invention, the arm member is displaced by a minute dimension downward by the fulcrum vertical movement mechanism, and the arm member is repeatedly rotated by the arm rotating means during this time, whereby the arm member is rotated. Since the sample held by the sample holding means is sequentially cut, the fulcrum vertical movement mechanism repeatedly displaces the rotation fulcrum of the arm member downward by a small dimension to set the minute feed amount of the sample. Then, by sequentially cutting the feed amount with the cutting edge of the cutter, a thin section sample can be continuously formed.
【００７１】請求項４の発明は、回動支点上下手段によ
って回動支点が変位前位置から変位後位置に変位する変
位寸法をａ、支点上下動機構による回動支点の変位前位
置とカッタ保持手段に保持されるカッタの刃先との間の
上下方向寸法をｂ、支点上下動機構の回動支点が上側位
置にあるときのアーム部材の回動支点からカッタまでの
寸法をＲとしたときに、切削して作成される試料の切削
厚さｄは、近似的にｄ＝ａｂ／Ｒとなり、この式に基づ
いて薄切片の切削厚さを設定できる。According to a fourth aspect of the present invention, the displacement dimension at which the pivoting fulcrum is displaced from the pre-displacement position to the post-displacement position by the pivoting fulcrum raising / lowering means is a, B is the vertical dimension between the blade edge of the cutter held by the means and R is the dimension from the pivot point of the arm member to the cutter when the pivot point of the fulcrum vertical movement mechanism is at the upper position. The cutting thickness d of a sample created by cutting is approximately d = ab / R, and the cutting thickness of a thin section can be set based on this equation.
【図１】本願によるミクロトームの試料切削動作を示す
原理図である。FIG. 1 is a principle view showing a sample cutting operation of a microtome according to the present application.
【図２】本発明の実施例によるミクロトームを示す正面
図である。FIG. 2 is a front view showing a microtome according to the embodiment of the present invention.
【図３】図２のミクロトームを上側からみた平面図であ
る。FIG. 3 is a plan view of the microtome of FIG. 2 as viewed from above.
【図４】ミクロトームのブロック図である。FIG. 4 is a block diagram of a microtome.
【図５】ミクロトームの動作を示す流れ図である。FIG. 5 is a flowchart showing the operation of the microtome.
【図６】本発明の実施例の変形例によるミクロトームを
示す正面図である。FIG. 6 is a front view showing a microtome according to a modification of the embodiment of the present invention.
１ ミクロトーム ２ 基台 ５ カッタ保持台 ６ カッタ ６Ａ 刃先 ７ 支点上下動機構 ８ 支点機構 １１ ころ（回動支点） １２ 試料取付腕（アーム部材） １４ 試料 １５ 試料ホルダ １６ Ｚ軸ステージ駆動機構（アーム回動手段） Reference Signs List 1 microtome 2 base 5 cutter holder 6 cutter 6A blade tip 7 fulcrum vertical movement mechanism 8 fulcrum mechanism 11 roller (rotation fulcrum) 12 sample mounting arm (arm member) 14 sample 15 sample holder 16 Z axis stage drive mechanism (arm rotation) Moving means)
Claims (4)
るために該基台に設けられたカッタ保持手段と、切削対
象となる試料を保持するために該カッタ保持手段と対向
して配設された試料保持手段と、該試料保持手段と基台
との間に設けられ試料保持手段とカッタ保持手段との距
離を微小距離ずつ近づけるように送り動作する微動送り
手段とからなるミクロトームにおいて、 前記微動送り手段を、前記基台に設けられ回動支点を上
下方向に移動させる支点上下動機構と、基端側が該支点
上下動機構の回動支点に回動可能に支持され、先端側に
前記試料保持手段が設けられたアーム部材と、前記試料
保持手段の回動動作によって試料を切削するために該ア
ーム部材の基端側を回動支点として該アーム部材を上下
方向に回動させるアーム回動手段とから構成したことを
特徴とするミクロトーム。1. A base, cutter holding means provided on the base for holding a cutter for cutting a sample, and opposed to the cutter holding means for holding a sample to be cut. Provided sample holding means, a microtome comprising fine movement feeding means which is provided between the sample holding means and the base and which performs a feeding operation so as to make the distance between the sample holding means and the cutter holding means closer by a small distance, The fine movement feed means, a fulcrum vertical movement mechanism provided on the base for moving a rotation fulcrum in the vertical direction, and a base end side is rotatably supported by a rotation fulcrum of the fulcrum vertical movement mechanism, and a tip end side. An arm member provided with the sample holding means, and an arm for rotating the arm member in a vertical direction with a base end side of the arm member as a fulcrum for cutting a sample by the rotation operation of the sample holding means Rotating means Microtome, characterized by being configured from.
ために該基台上に設けられた試料保持手段と、前記試料
を切削するカッタを保持するために該試料保持手段と対
向して配設されたカッタ保持手段と、前記カッタ保持手
段と基台との間に設けられ試料保持手段とカッタ保持手
段との距離を微小距離ずつ近づけるように送り動作する
微動送り手段とからなるミクロトームにおいて、 前記微動送り手段を、前記基台に設けられ回動支点を上
下方向に移動させる支点上下動機構と、基端側が該支点
上下動機構の回動支点に回動可能に支持され、先端側に
前記カッタ保持手段が設けられたアーム部材と、前記カ
ッタ保持手段の回動動作によって試料を切削するために
該アーム部材の基端側を回動支点として該アーム部材を
上下方向に回動させるアーム回動手段とから構成したこ
とを特徴とするミクロトーム。2. A base, sample holding means provided on the base for holding a sample to be cut, and facing the sample holding means for holding a cutter for cutting the sample. A microtome comprising: a cutter holding means disposed between the cutter holding means and the base; and a fine movement feeding means which is provided between the cutter holding means and the base and performs a feeding operation so as to make a distance between the sample holding means and the cutter holding means closer by a small distance. In the above, the fine movement feed means, a fulcrum vertical movement mechanism provided on the base to move a rotation fulcrum in the vertical direction, the base end side is rotatably supported by the rotation fulcrum of the fulcrum vertical movement mechanism, the tip Arm member provided with the cutter holding means on the side thereof, and the arm member is turned up and down around a base end side of the arm member as a fulcrum for cutting a sample by the turning operation of the cutter holding means. Let me Microtome, characterized by being configured and a beam rotating means.
下方に向け微小寸法ずつ変位させ、この間に前記アーム
回動手段によって該アーム部材を繰返し回動させる動作
をすることにより、前記試料保持手段で保持された試料
を順次切削する構成としてなる請求項１または２記載の
ミクロトーム。3. An arm member is downwardly displaced by a minute dimension by the fulcrum vertical movement mechanism, and the arm member is repeatedly rotated by the arm rotating means during this time. The microtome according to claim 1 or 2, wherein the held sample is sequentially cut.
変位前位置から変位後位置に変位する変位寸法をａ、前
記支点上下動機構による回動支点の変位前位置とカッタ
保持手段に保持されるカッタの刃先との間の上下方向寸
法をｂ、前記支点上下動機構の回動支点が変位前位置に
あるときのアーム部材の回動支点からカッタの刃先まで
の寸法をＲとしたときに、前記支点上下動機構により回
動支点を変位寸法ａだけ変位させた状態で、前記アーム
回動手段によってアーム部材を回動するときの試料の切
削厚さｄは、ｄ＝ａｂ／Ｒである請求項１，２または３
記載のミクロトーム。4. A displacement dimension at which the pivoting fulcrum is displaced from the pre-displacement position to the post-displacement position by the fulcrum vertical movement mechanism is held by the pre-displacement position of the rotation fulcrum by the fulcrum vertical movement mechanism and the cutter holding means. B is the vertical dimension between the cutting edge of the cutter and the cutting edge of the cutter from the turning fulcrum of the arm member when the turning fulcrum of the fulcrum vertical movement mechanism is at the pre-displacement position is R. The cutting thickness d of the sample when the arm member is turned by the arm turning means in a state where the turning fulcrum is displaced by the displacement dimension a by the fulcrum moving mechanism is d = ab / R. Claim 1, 2, or 3
Microtome as described.
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| JP (1) | JP2787292B2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007212387A (en) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Seiko Instruments Inc | Device and method for producing thin section |
| CN109884059A (en) * | 2019-03-19 | 2019-06-14 | 中国农业科学院兰州畜牧与兽药研究所 | A kind of traditional Chinese medicine quality slice detection enlarging instrument |
| CN110520709A (en) * | 2017-04-17 | 2019-11-29 | 吉野石膏株式会社 | Sampling apparatus, the manufacturing device of board member, gypsum building materials manufacturing equipment |
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