JPH09229680A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH09229680A JPH09229680A JP8032503A JP3250396A JPH09229680A JP H09229680 A JPH09229680 A JP H09229680A JP 8032503 A JP8032503 A JP 8032503A JP 3250396 A JP3250396 A JP 3250396A JP H09229680 A JPH09229680 A JP H09229680A
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- photoelectric conversion
- measuring device
- distance measuring
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
- G01C3/08—Use of electric radiation detectors
- G01C3/085—Use of electric radiation detectors with electronic parallax measurement
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Details Of Television Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ２つのセンサーアレイを用いるアクティブＡ
Ｆにおいて、２つのセンサーの感度、出力段のゲイン、
光学系の明るさ等のバラツキによる精度劣化を補正す
る。 【解決手段】 ２つのセンサーアレイ５、６の受光像３
１、３２に対応するセンサー出力信号波形上の受光像３
５、３６は上記のバラツキによってその最大値Ｓ R ，Ｓ
L と最小値が異なっている。そこで両者の最小値をゼロ
レベルに規格化すると共に、小さい方の最大値ＳR を大
きい方の最大値ＳL に規格化した後、両者の相関演算を
行って被測距物までの距離を求める。 【効果】 予め記憶手段に補正係数を記憶することな
く、補正を行うことができる。
Ｆにおいて、２つのセンサーの感度、出力段のゲイン、
光学系の明るさ等のバラツキによる精度劣化を補正す
る。 【解決手段】 ２つのセンサーアレイ５、６の受光像３
１、３２に対応するセンサー出力信号波形上の受光像３
５、３６は上記のバラツキによってその最大値Ｓ R ，Ｓ
L と最小値が異なっている。そこで両者の最小値をゼロ
レベルに規格化すると共に、小さい方の最大値ＳR を大
きい方の最大値ＳL に規格化した後、両者の相関演算を
行って被測距物までの距離を求める。 【効果】 予め記憶手段に補正係数を記憶することな
く、補正を行うことができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は測定対象までの距離
を測定対象の光学像を光電変換した信号に基づいて測定
する測距装置に関するものである。
を測定対象の光学像を光電変換した信号に基づいて測定
する測距装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より被測距物に対して発光素子から
スポット光を投光し、その反射光を位置検出手段（ＰＳ
Ｄ等）で受光し、その受光出力を用いて三角測量の原理
により距離を測定するものがある。また、発光素子を点
滅して投光されたスポット光を積分するためにＣＣＤ等
の電荷転送手段をリング状に構成して巡回動作させるこ
とを行い、スポット光以外の外光部分の電荷を一定量排
斥するスキム動作を備えた測距装置が、例えば、特公平
５−２２８４３号公報、特願平７−４０５４２号等で提
案されている。さらにこの装置を用い、２つの受光系を
持ち、２つの受光像の相関により距離を求める方式が特
願平７−２６３１８２号により提案されている。このよ
うな測距装置はカメラのＡＦ（自動焦点調節）等で用い
られている。
スポット光を投光し、その反射光を位置検出手段（ＰＳ
Ｄ等）で受光し、その受光出力を用いて三角測量の原理
により距離を測定するものがある。また、発光素子を点
滅して投光されたスポット光を積分するためにＣＣＤ等
の電荷転送手段をリング状に構成して巡回動作させるこ
とを行い、スポット光以外の外光部分の電荷を一定量排
斥するスキム動作を備えた測距装置が、例えば、特公平
５−２２８４３号公報、特願平７−４０５４２号等で提
案されている。さらにこの装置を用い、２つの受光系を
持ち、２つの受光像の相関により距離を求める方式が特
願平７−２６３１８２号により提案されている。このよ
うな測距装置はカメラのＡＦ（自動焦点調節）等で用い
られている。
【０００３】図６に上記特願平７−２６３１８２号によ
り提案され、かつ本発明を適用し得る上記スキム動作を
備えると共に２つの受光系を持ち２つの受光像の相関に
より距離を求める方式の測距装置を示す。
り提案され、かつ本発明を適用し得る上記スキム動作を
備えると共に２つの受光系を持ち２つの受光像の相関に
より距離を求める方式の測距装置を示す。
【０００４】図６において、１は第１の光路を形成する
第１の受光レンズ、２は第２の光路を形成する第２の受
光レンズ、３は被測距物にスポット投光を行う投光レン
ズ、４はオン・オフ動作してスポット投光を行う発光素
子である。５は多数のセンサがリニアに配列される第１
のセンサーアレイ、６は同じく第２のセンサーアレイ、
７は第１のセンサーアレイ５の各センサーで光電変換さ
れた電荷を捨てる電子シャッター機能であるところの第
１のクリアー部であり、ＩＣＧパルスによっで電荷が捨
てられる。８は第２のセンサーアレイ６の各センサーで
光電変換された電荷を捨てる電子シャッター機能である
ところの第２のクリアー部であり、ＩＣＧパルスによっ
て第１の電子シャッター部７と同様に電荷が捨てられ
る。
第１の受光レンズ、２は第２の光路を形成する第２の受
光レンズ、３は被測距物にスポット投光を行う投光レン
ズ、４はオン・オフ動作してスポット投光を行う発光素
子である。５は多数のセンサがリニアに配列される第１
のセンサーアレイ、６は同じく第２のセンサーアレイ、
７は第１のセンサーアレイ５の各センサーで光電変換さ
れた電荷を捨てる電子シャッター機能であるところの第
１のクリアー部であり、ＩＣＧパルスによっで電荷が捨
てられる。８は第２のセンサーアレイ６の各センサーで
光電変換された電荷を捨てる電子シャッター機能である
ところの第２のクリアー部であり、ＩＣＧパルスによっ
て第１の電子シャッター部７と同様に電荷が捨てられ
る。
【０００５】９は第１の電荷蓄積部であり、オン蓄積部
とオフ蓄積部とを含み第１のセンサーアレイ５から発光
素子４のオンとオフの期間の電荷をＳＴ１パルスとＳＴ
２パルスとによってそれぞれ各画素単位で蓄積する。１
０は第２の電荷蓄積部であり、第１の電荷蓄積部９と同
様に第２のセンサーアレイ６のオンとオフの期間の電荷
をＳＴ１パルスとＳＴ２パルスとによってそれぞれ各画
素単位で蓄積する。１１は第１の電荷転送ゲートであ
り、第１の電荷蓄積部９に蓄積されている電荷を後述す
る電荷転送手段、例えばＣＣＤにＳＨパルスによってパ
ラレルに転送する。１３は第１の電荷転送手段で、一部
又は全体がリング状の構成をなし、電荷が循環すること
により順次第１の電荷蓄積部９のオンとオフの期間の電
荷をそれぞれ加算していく。この循環部を形成するとこ
ろをリングＣＣＤとし、循環部を構成しない部分をリニ
アＣＣＤとする。１２は第２の電荷転送ゲートであり、
第１の電荷転送ゲート１１と同様である。１４は第２の
電荷転送手段であり、第１の電荷転送手段１３と同様で
ある。
とオフ蓄積部とを含み第１のセンサーアレイ５から発光
素子４のオンとオフの期間の電荷をＳＴ１パルスとＳＴ
２パルスとによってそれぞれ各画素単位で蓄積する。１
０は第２の電荷蓄積部であり、第１の電荷蓄積部９と同
様に第２のセンサーアレイ６のオンとオフの期間の電荷
をＳＴ１パルスとＳＴ２パルスとによってそれぞれ各画
素単位で蓄積する。１１は第１の電荷転送ゲートであ
り、第１の電荷蓄積部９に蓄積されている電荷を後述す
る電荷転送手段、例えばＣＣＤにＳＨパルスによってパ
ラレルに転送する。１３は第１の電荷転送手段で、一部
又は全体がリング状の構成をなし、電荷が循環すること
により順次第１の電荷蓄積部９のオンとオフの期間の電
荷をそれぞれ加算していく。この循環部を形成するとこ
ろをリングＣＣＤとし、循環部を構成しない部分をリニ
アＣＣＤとする。１２は第２の電荷転送ゲートであり、
第１の電荷転送ゲート１１と同様である。１４は第２の
電荷転送手段であり、第１の電荷転送手段１３と同様で
ある。
【０００６】１５は第１の初期化手段であり、ＣＣＤＣ
ＬＲパルスによって第１の電荷転送手段１３の電荷を排
斥して初期化を行う。１７は一定量の電荷排斥を行う第
１のスキム手段である。１８は同様な第２のスキム手段
である。１９は一定量の電荷の排斥を行うかどうかを判
別するためのＳＫＯＳ１信号の第１の出力手段であり、
第１の電荷転送手段１３内にある電荷量を被破壊で電荷
を残したまま読み出すものである。２０も同様なＳＫＯ
Ｓ２信号の第２の出力手段である。２１は第１の電荷転
送手段１３内の電荷を順次読み出しＯＳ１信号として出
力する出力手段である。２２も同様に第２の電荷転送手
段１４からＯＳ２信号を出力する出力手段である。２３
はＳＫＯＳ１信号からスキム動作を行うかどうかを判断
する第１のコンパレータである。２４は同様にＳＫＯＳ
２信号による第２のコンパレータである。また２５は全
体的な制御及び演算を行うマイコンを含む制御部であ
る。
ＬＲパルスによって第１の電荷転送手段１３の電荷を排
斥して初期化を行う。１７は一定量の電荷排斥を行う第
１のスキム手段である。１８は同様な第２のスキム手段
である。１９は一定量の電荷の排斥を行うかどうかを判
別するためのＳＫＯＳ１信号の第１の出力手段であり、
第１の電荷転送手段１３内にある電荷量を被破壊で電荷
を残したまま読み出すものである。２０も同様なＳＫＯ
Ｓ２信号の第２の出力手段である。２１は第１の電荷転
送手段１３内の電荷を順次読み出しＯＳ１信号として出
力する出力手段である。２２も同様に第２の電荷転送手
段１４からＯＳ２信号を出力する出力手段である。２３
はＳＫＯＳ１信号からスキム動作を行うかどうかを判断
する第１のコンパレータである。２４は同様にＳＫＯＳ
２信号による第２のコンパレータである。また２５は全
体的な制御及び演算を行うマイコンを含む制御部であ
る。
【０００７】図７は第１のセンサーアレイ５上の受光像
３１と第２のセンサーアレイ６上の受光像３２とそれに
対応した各センサー出力信号ＯＳ１、ＯＳ２におけるそ
れぞれの信号波形としての受光像３３、３４を示すもの
である。各々のセンサー出力信号で受光像の当たってい
ない部分の画素の信号レベルはＣＣＤのリセットレベル
ＲＤになっている。本装置では、この２つの像の相関を
とることにより距離を求めるようにしている。
３１と第２のセンサーアレイ６上の受光像３２とそれに
対応した各センサー出力信号ＯＳ１、ＯＳ２におけるそ
れぞれの信号波形としての受光像３３、３４を示すもの
である。各々のセンサー出力信号で受光像の当たってい
ない部分の画素の信号レベルはＣＣＤのリセットレベル
ＲＤになっている。本装置では、この２つの像の相関を
とることにより距離を求めるようにしている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら実際には
図８のように、２つのセンサー間のリセットレベルの違
いによるＲＤの差（ＲＤL 、ＲＤR ）やセンサーの感
度、出力手段２１、２２のゲイン及び光学系の明るさ等
の違いによる受光出力の差（ＳL 、ＳR ）が生じること
になり、２つの受光像３５、３６の形が違ってくる。Ｒ
とＬの像のどちらが大きいかの差の違いのは固体差で決
まる。このような図８に示す２像で相関をとると、図７
の２像が同じ形の理想的なセンサー出力の相関結果に比
較して相関の信頼度が悪くなり、測定精度が低下すると
いう問題があった。
図８のように、２つのセンサー間のリセットレベルの違
いによるＲＤの差（ＲＤL 、ＲＤR ）やセンサーの感
度、出力手段２１、２２のゲイン及び光学系の明るさ等
の違いによる受光出力の差（ＳL 、ＳR ）が生じること
になり、２つの受光像３５、３６の形が違ってくる。Ｒ
とＬの像のどちらが大きいかの差の違いのは固体差で決
まる。このような図８に示す２像で相関をとると、図７
の２像が同じ形の理想的なセンサー出力の相関結果に比
較して相関の信頼度が悪くなり、測定精度が低下すると
いう問題があった。
【０００９】本発明は上記のような問題を解決するため
になされたもので、相関演算の結果の信頼性を高めるこ
とのできる測距装置を得ることを目的とする。
になされたもので、相関演算の結果の信頼性を高めるこ
とのできる測距装置を得ることを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明においては、測定
対象に投光する投光手段と、それぞれ複数の光電変換セ
ンサが配列され上記測定対象からの反射光を受光するよ
うに成された第１、第２の光電変換手段と、上記第１、
第２の光電変換手段から電動雲台される第１、第２の信
号波形の最大値及び最小値を規格化し、規格化された第
１、第２の信号波形の相関演算を行うことにより上記測
定対象までの距離を求める演算手段とを設けている。
対象に投光する投光手段と、それぞれ複数の光電変換セ
ンサが配列され上記測定対象からの反射光を受光するよ
うに成された第１、第２の光電変換手段と、上記第１、
第２の光電変換手段から電動雲台される第１、第２の信
号波形の最大値及び最小値を規格化し、規格化された第
１、第２の信号波形の相関演算を行うことにより上記測
定対象までの距離を求める演算手段とを設けている。
【００１１】
【作用】本発明によれば、受光像はあらかじめ分かって
いるので、図８のＭａｘL とＭａｘR 、ＭｉｎL とＭｉ
ｎR 各々を規格化することで感度差の補正を行い相関結
果の信頼度の向上をはかることができる。
いるので、図８のＭａｘL とＭａｘR 、ＭｉｎL とＭｉ
ｎR 各々を規格化することで感度差の補正を行い相関結
果の信頼度の向上をはかることができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明による測距装置の実施の形
態は図６が用いられる。個々の説明は前述したので省略
する。図６の装置から出力された実際のセンサー出力は
図８について説明したように２つのセンサー間のリセッ
トレベルの違いによるＲＤの差（ＲＤL 、ＲＤR ）やセ
ンサーの感度、出力手段２１、２２のゲイン及び光学系
の明るさ等の違いによる受光出力の差（ＳL 、ＳR ）が
生じた形の違うＬ像とＲ像としての受光像３５、３６が
出力される。
態は図６が用いられる。個々の説明は前述したので省略
する。図６の装置から出力された実際のセンサー出力は
図８について説明したように２つのセンサー間のリセッ
トレベルの違いによるＲＤの差（ＲＤL 、ＲＤR ）やセ
ンサーの感度、出力手段２１、２２のゲイン及び光学系
の明るさ等の違いによる受光出力の差（ＳL 、ＳR ）が
生じた形の違うＬ像とＲ像としての受光像３５、３６が
出力される。
【００１３】まず図８の受光像の当たっていない画素の
出力部分（斜線の部分）は、相関をとる場合はＤＣ成分
のＲＤ（ＲＤL 、ＲＤR ）以下の部分だけで、受光信号
出力は０で相関結果に影響は及ぼすことはないので、Ｍ
ｉｎの規格化として図１のようにＭｉｎL とＭｉｎR と
を各々０になるようオフセット調整をする。この調整は
Ｌ像はＲＤL を、Ｒ像はＲＤR をセンサー出力の各画素
から引くことにより行われる。すなわち２像は受光像の
ある画素だけ出力されることとなるが、受光出力の差
（ＳL 、ＳR ）は生じている。これはセンサー、光学系
を含む２つの受光系の感度の差が原因となる。
出力部分（斜線の部分）は、相関をとる場合はＤＣ成分
のＲＤ（ＲＤL 、ＲＤR ）以下の部分だけで、受光信号
出力は０で相関結果に影響は及ぼすことはないので、Ｍ
ｉｎの規格化として図１のようにＭｉｎL とＭｉｎR と
を各々０になるようオフセット調整をする。この調整は
Ｌ像はＲＤL を、Ｒ像はＲＤR をセンサー出力の各画素
から引くことにより行われる。すなわち２像は受光像の
ある画素だけ出力されることとなるが、受光出力の差
（ＳL 、ＳR ）は生じている。これはセンサー、光学系
を含む２つの受光系の感度の差が原因となる。
【００１４】図２に補正方法の第１の実施の形態を示
す。図２では図１からＭａｘの規格化として２像のＭａ
ｘ値を高い方の値（この場合はＳL ）に規格化したもの
である。内容は Ｋ＝ＳL ／ＳR で求められる係数をＳR 側のセンサー出力の各画素に掛
けたものである。すなわち受光像の当たっていない画素
の出力にＫを掛けても０になり、感度の低いセンサー側
の受光像の当たっている画素だけ感度補正を行い、図１
のＳL 、ＳR を図１のようにＳL ＝ＳR にすることにな
る。
す。図２では図１からＭａｘの規格化として２像のＭａ
ｘ値を高い方の値（この場合はＳL ）に規格化したもの
である。内容は Ｋ＝ＳL ／ＳR で求められる係数をＳR 側のセンサー出力の各画素に掛
けたものである。すなわち受光像の当たっていない画素
の出力にＫを掛けても０になり、感度の低いセンサー側
の受光像の当たっている画素だけ感度補正を行い、図１
のＳL 、ＳR を図１のようにＳL ＝ＳR にすることにな
る。
【００１５】このようにＭｉｎとＭａｘの規格化を行う
ことにより、予め補正係数を持つことなく感度補正がで
き、２像の形を比較的同じにできるので、相関結果の信
頼度を向上させることができる。
ことにより、予め補正係数を持つことなく感度補正がで
き、２像の形を比較的同じにできるので、相関結果の信
頼度を向上させることができる。
【００１６】次に第２の実施の形態について説明する。
第１の実施の形態で説明したように、ＭｉｎとＭａｘの
規格化を行うことで感度補正ができ、２像の形を比較的
同じにできるので、相関結果の信頼度を向上させること
ができるが、さらに条件を付けることにより、誤ったＭ
ａｘの規格化を未然に防ぎ、相関結果の信頼度をさらに
向上させることができる。
第１の実施の形態で説明したように、ＭｉｎとＭａｘの
規格化を行うことで感度補正ができ、２像の形を比較的
同じにできるので、相関結果の信頼度を向上させること
ができるが、さらに条件を付けることにより、誤ったＭ
ａｘの規格化を未然に防ぎ、相関結果の信頼度をさらに
向上させることができる。
【００１７】被測距物が至近にあるときは、図６の近側
光線のように光軸に対して大きな角度を持った入射光線
となる。このため図３や図４のように一方の受光像３５
がセンサー上からはみ出してしまう。このときＭｉｎの
規格化は可能であるが、図３のように片側のセンサーの
Ｍａｘ値がセンサーからはみ出てしまいＭａｘ値が分か
らない場合は、Ｍａｘの規格化を行わない。また図４の
ように一応Ｍａｘ値は分かるがセンサーの端の方の画素
に位置している場合は、外乱光及びノイズの影響を受け
たときＭａｘ値であるかどうかの信頼性が薄く図３のよ
うな像であることも考えられるため、Ｍａｘの規格化を
行わない。
光線のように光軸に対して大きな角度を持った入射光線
となる。このため図３や図４のように一方の受光像３５
がセンサー上からはみ出してしまう。このときＭｉｎの
規格化は可能であるが、図３のように片側のセンサーの
Ｍａｘ値がセンサーからはみ出てしまいＭａｘ値が分か
らない場合は、Ｍａｘの規格化を行わない。また図４の
ように一応Ｍａｘ値は分かるがセンサーの端の方の画素
に位置している場合は、外乱光及びノイズの影響を受け
たときＭａｘ値であるかどうかの信頼性が薄く図３のよ
うな像であることも考えられるため、Ｍａｘの規格化を
行わない。
【００１８】次に第３の実施の形態について説明する。
第１、第２の実施の形態の場合の他に、正反射被写体に
より片側の受光系だけに正反射光が受光されたときや、
片側の受光経路を障害物で一部もしくは全部をふさがれ
た場合には、図５のように片側の受光出力がかなり低い
ことがある。すなわち明らかに距離が異常であるのにＭ
ａｘの規格化を行うと相関結果の信頼度が見かけ上向上
してしまい、あたかも正しい距離結果が得られたように
なることがある。そこで２像各々のＭａｘ値の差の絶対
値をとり、ある値以下ならＭａｘの規格化をしないよう
にする。 ｜ＳL −ＳR ｜≦Ｌ 上記のＬはＭａｘの規格化をしても誤測距とならないと
確認された実験値である。
第１、第２の実施の形態の場合の他に、正反射被写体に
より片側の受光系だけに正反射光が受光されたときや、
片側の受光経路を障害物で一部もしくは全部をふさがれ
た場合には、図５のように片側の受光出力がかなり低い
ことがある。すなわち明らかに距離が異常であるのにＭ
ａｘの規格化を行うと相関結果の信頼度が見かけ上向上
してしまい、あたかも正しい距離結果が得られたように
なることがある。そこで２像各々のＭａｘ値の差の絶対
値をとり、ある値以下ならＭａｘの規格化をしないよう
にする。 ｜ＳL −ＳR ｜≦Ｌ 上記のＬはＭａｘの規格化をしても誤測距とならないと
確認された実験値である。
【００１９】尚、上述した第１、第２、第３の実施の形
態による補正は図６における制御部２５において行われ
る。
態による補正は図６における制御部２５において行われ
る。
【００２０】また、以上は被測距物にスポット投光する
アクティブ測距方式の場合について説明したが、スポッ
ト投光を行わないパッシブ測距方式の場合は、２つの受
光系の感度差を補正するための係数を予め記憶手段に記
憶しておき、この補正係数を用いて補正を行うようにす
ればよい。
アクティブ測距方式の場合について説明したが、スポッ
ト投光を行わないパッシブ測距方式の場合は、２つの受
光系の感度差を補正するための係数を予め記憶手段に記
憶しておき、この補正係数を用いて補正を行うようにす
ればよい。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
２つのセンサー間の感度差の補正値をあらかじめ求めて
記憶すること無しに相関演算時に補正できるので、量産
時における補正値を求める工程の短縮及び補正値を記憶
するためのメモリを省略することができ、生産コストの
削減をはかることができる。
２つのセンサー間の感度差の補正値をあらかじめ求めて
記憶すること無しに相関演算時に補正できるので、量産
時における補正値を求める工程の短縮及び補正値を記憶
するためのメモリを省略することができ、生産コストの
削減をはかることができる。
【図１】２つの受光出力の規格化を説明するための受光
像及びセンサー出力信号波形を示す構成図である。
像及びセンサー出力信号波形を示す構成図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態による感度補正を説
明するための受光像及びセンサー出力信号波形を示す構
成図である。
明するための受光像及びセンサー出力信号波形を示す構
成図である。
【図３】本発明の第２の実施の形態による感度補正を説
明するための受光像及びセンサー出力信号波形を示す構
成図である。
明するための受光像及びセンサー出力信号波形を示す構
成図である。
【図４】本発明の第２の実施の形態による感度補正を説
明するための受光像及びセンサー出力信号波形を示す構
成図である。
明するための受光像及びセンサー出力信号波形を示す構
成図である。
【図５】本発明の第３の実施の形態による感度補正を説
明するための受光像及びセンサー出力信号波形を示す構
成図である。
明するための受光像及びセンサー出力信号波形を示す構
成図である。
【図６】従来及び本発明を適用し得る測距装置を示す構
成図である。
成図である。
【図７】測距の原理を説明するための受光像及びセンサ
ー出力信号波形を示す構成図である。
ー出力信号波形を示す構成図である。
【図８】従来の測距装置の問題点を説明するための受光
像及びセンサー出力信号波形を示す構成図である。
像及びセンサー出力信号波形を示す構成図である。
４ 発光素子 ５ 第１のセンサーアレイ ６ 第２のセンサーアレイ ２５ 制御部 ３１、３２ 受光像 ３５、３６ 信号波形上の受光像
Claims (5)
- 【請求項１】 測定対象に投光する投光手段と、 それぞれ複数の光電変換センサが配列され上記測定対象
からの反射光を受光するように成された第１、第２の光
電変換手段と、 上記第１、第２の光電変換手段から出力される第１、第
２の信号波形の最大値及び最小値を規格化し、規格化さ
れた第１、第２の信号波形の相関演算を行うことにより
上記測定対象までの距離を求める演算手段とを備えたこ
とを特徴とする測距装置。 - 【請求項２】 上記第１、第２の光電変換手段の少なく
とも一方から出力される信号波形上の受光像の少なくと
も一部がその光電変換手段の光電変換面上からはみ出し
ている場合は、上記最大値の規格化を行わないようにし
た請求項１記載の測距装置。 - 【請求項３】 上記第１、第２の光電変換手段の少なく
とも一方から出力される信号波形上の受光像がその光電
変換手段の光電変換面上の端の近くにあるときは上記最
大値の規格化を行わないようにした請求項１記載の測距
装置。 - 【請求項４】 上記第１、第２の光電変換手段から出力
される第１、第２の信号波形の最大値の差が所定量以上
あるときは上記最大値の規格化を行わないようにした請
求項１記載の測距装置。 - 【請求項５】 上記第１、第２の信号波形の各最大値の
うち大きい方の最大値に小さい方の最大値を規格化し、
上記第１、第２の信号波形の各最小値を所定の大きさに
規格化するようにした請求項１記載の測距装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8032503A JPH09229680A (ja) | 1996-02-20 | 1996-02-20 | 測距装置 |
| US08/808,970 US5864720A (en) | 1996-02-20 | 1997-02-19 | Distance measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8032503A JPH09229680A (ja) | 1996-02-20 | 1996-02-20 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09229680A true JPH09229680A (ja) | 1997-09-05 |
Family
ID=12360801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8032503A Pending JPH09229680A (ja) | 1996-02-20 | 1996-02-20 | 測距装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5864720A (ja) |
| JP (1) | JPH09229680A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006308377A (ja) * | 2005-04-27 | 2006-11-09 | Casio Comput Co Ltd | 距離測定装置及びその距離測定方法、及び距離測定装置を備えたプロジェクタ又はカメラ |
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Family Cites Families (2)
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| JP3518891B2 (ja) * | 1994-05-27 | 2004-04-12 | オリンパス株式会社 | カメラの測距装置、カメラの移動体検出方法及びカメラ |
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1996
- 1996-02-20 JP JP8032503A patent/JPH09229680A/ja active Pending
-
1997
- 1997-02-19 US US08/808,970 patent/US5864720A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
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|---|---|
| US5864720A (en) | 1999-01-26 |
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