JPH09211366A - Optical scanner - Google Patents
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- JPH09211366A JPH09211366A JP8017561A JP1756196A JPH09211366A JP H09211366 A JPH09211366 A JP H09211366A JP 8017561 A JP8017561 A JP 8017561A JP 1756196 A JP1756196 A JP 1756196A JP H09211366 A JPH09211366 A JP H09211366A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は光学走査装置に係
り、特に、偏向手段による偏向方向に沿った偏向手段の
反射面の幅よりも前記偏向方向に沿った幅の広い光ビー
ムが偏向手段に入射される光学走査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical scanning device, and more particularly to a deflecting means which is wider than a width of a reflecting surface of the deflecting means in the deflecting means and which is wider in the deflecting direction. It relates to an incident optical scanning device.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来より、良好な画質の画像を高速に記
録できる画像記録装置として、記録画像に応じて変調・
走査されて光ビーム走査装置から射出された光ビームを
感光体ドラムの周面上に照射することにより感光体ドラ
ムの周面上に潜像を形成し、この潜像を現像し、用紙に
転写することにより画像記録を行うレーザビームプリン
タが知られている。2. Description of the Related Art Conventionally, as an image recording apparatus capable of recording an image of good image quality at high speed, the
The latent image is formed on the peripheral surface of the photosensitive drum by irradiating the peripheral surface of the photosensitive drum with the light beam scanned and emitted from the light beam scanning device, and the latent image is developed and transferred to a sheet. There is known a laser beam printer that records an image by doing so.
【０００３】光ビーム走査装置は、光ビームを射出する
光源、光ビームを走査させるための回転多面鏡等の偏向
手段、走査された光ビームを結像させる走査レンズ等か
ら構成されている。光源としてはＨｅ−Ｎｅレーザやレ
ーザダイオード等が用いられることが一般的であり、こ
の光源からは画像信号に従って変調されたレーザビーム
が射出される。光源から射出されたレーザビームは、光
源と回転多面鏡との間に配置された光学系（プレポリゴ
ン光学系）を介して回転多面鏡に入射される。回転多面
鏡はモータにより３〜30ｋrpm 程度の速度で回転し、入
射されたレーザビームを偏向・走査させる。The light beam scanning device is composed of a light source for emitting a light beam, a deflecting means such as a rotating polygon mirror for scanning the light beam, a scanning lens for focusing the scanned light beam, and the like. A He-Ne laser, a laser diode or the like is generally used as a light source, and a laser beam modulated according to an image signal is emitted from this light source. The laser beam emitted from the light source is incident on the rotary polygon mirror via an optical system (pre-polygon optical system) arranged between the light source and the rotary polygon mirror. The rotating polygon mirror is rotated by a motor at a speed of about 3 to 30 krpm to deflect and scan the incident laser beam.
【０００４】また、光ビーム走査装置の光学系として
は、光源から射出された光ビームを、プレポリゴン光学
系により、回転多面鏡の反射面幅よりも幅の狭い（１／
３程度の）平行光として回転多面鏡に入射する構成、す
なわちアンダフィルド(UnderFilled) タイプが広く用い
られている。アンダフィルドタイプの光学走査装置は、
光源から射出された光ビームを有効に利用することがで
きると共に、回転多面鏡により走査された光ビームのビ
ーム径及び光量が回転多面鏡による光ビームの偏向角度
に拘らず略均一となる。As an optical system of the light beam scanning device, a light beam emitted from a light source is narrowed by a pre-polygon optical system to have a width smaller than that of the reflecting surface of the rotary polygon mirror (1 /
A configuration in which parallel light (about 3) is incident on the rotating polygon mirror, that is, an underfilled type is widely used. The under-filled type optical scanning device
The light beam emitted from the light source can be effectively used, and the beam diameter and the light amount of the light beam scanned by the rotating polygon mirror become substantially uniform regardless of the deflection angle of the light beam by the rotating polygon mirror.
【０００５】ところで、レーザビームプリンタ等の画像
記録装置では処理速度の向上、記録画像の高解像度化が
常に要求されているが、この処理速度の向上、記録画像
の高解像度化には、光ビーム走査装置の処理速度（単位
時間当りの光ビームの走査回数）の向上が必須である。By the way, an image recording apparatus such as a laser beam printer is always required to have an improved processing speed and a higher resolution of a recorded image. To improve the processing speed and a higher resolution of a recorded image, a light beam is used. It is essential to improve the processing speed of the scanning device (the number of scanning of the light beam per unit time).
【０００６】光ビーム走査装置の単位時間当りの光ビー
ムの走査回数を向上させるには、まず回転多面鏡の回転
速度を高速化することが考えられる。しかし、回転多面
鏡を駆動するモータの回転速度は、高コストであるので
使用しないことが望ましい空気軸受をモータの軸受とし
て用いたとしても限度があり、回転多面鏡の回転速度の
高速化による処理速度の向上には限界がある。また、回
転多面鏡の反射面の数を多くすることも考えられるが、
反射面の面幅を変えることなく反射面の数のみ増やした
とすると、回転多面鏡の大型化、重量の増大を招き、通
常のモータでは駆動が困難となる。In order to improve the number of scanning of the light beam per unit time of the light beam scanning device, it is conceivable to increase the rotation speed of the rotary polygon mirror first. However, since the rotation speed of the motor that drives the rotating polygon mirror is high, there is a limit even if an air bearing, which should not be used, is used as the bearing of the motor. There is a limit to the speed improvement. It is also possible to increase the number of reflecting surfaces of the rotating polygon mirror,
If only the number of reflecting surfaces is increased without changing the surface width of the reflecting surfaces, the rotary polygon mirror becomes large in size and weight, and it becomes difficult to drive with a normal motor.
【０００７】これに対し、光源から射出された光ビーム
を、プレポリゴン光学系により、回転多面鏡の反射面幅
よりも幅の広い（例えば４／３程度）平行光として回転
多面鏡に入射する構成、すなわちオーバフィルド(OverF
illed)タイプの光学走査装置では、アンダフィルドタイ
プの光学走査装置と比較して、回転多面鏡の大型化、重
量の増大を招くことなく回転多面鏡の反射面数を多くす
ることができるので、単位時間当りの光ビームの走査回
数の向上が容易であり、単位時間当りの走査回数を同じ
とした場合には回転多面鏡を駆動するモータのコストを
低減することができる。On the other hand, the light beam emitted from the light source is incident on the rotary polygon mirror as parallel light having a width (for example, about 4/3) wider than the reflection surface width of the rotary polygon mirror by the pre-polygon optical system. Composition, i.e. overfilled (OverF
illed) type optical scanning device, as compared with the underfilled type optical scanning device, since it is possible to increase the number of reflecting surfaces of the rotating polygon mirror without increasing the size and weight of the rotating polygon mirror, It is easy to improve the number of scanning of the light beam per unit time, and when the number of scanning per unit time is the same, the cost of the motor for driving the rotary polygon mirror can be reduced.
【０００８】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、オーバ
フィルドタイプの光学走査装置では、回転多面鏡等の偏
向手段による走査方向に沿った各位置における光ビーム
のビーム径が大幅に変動する、という問題がある。この
問題について図１０を参照して説明する。図１０に示す
光学走査装置は、光源８０から射出された光ビームが、
コリメータレンズ８２、エキスパンドレンズ８４を透過
することにより、回転多面鏡８６の反射面幅ＡＬよりも
幅の広い平行な光ビームとされて回転多面鏡８６に入射
され、図１０の矢印Ｂ方向に回転する回転多面鏡８６で
偏向・走査されて、ｆθレンズ８８（図１０ではｆθレ
ンズを構成する複数のレンズの一部のみ示す）を透過す
る、オーバフィルドタイプである。However, in the overfilled type optical scanning device, there is a problem that the beam diameter of the light beam at each position along the scanning direction by the deflecting means such as a rotary polygon mirror largely changes. is there. This problem will be described with reference to FIG. In the optical scanning device shown in FIG. 10, the light beam emitted from the light source 80 is
By passing through the collimator lens 82 and the expanding lens 84, a parallel light beam having a width wider than the reflection surface width AL of the rotating polygon mirror 86 is incident on the rotating polygon mirror 86, and is rotated in the direction of arrow B in FIG. It is an overfilled type that is deflected / scanned by the rotating polygon mirror 86 and passes through the fθ lens 88 (only a part of the plurality of lenses forming the fθ lens is shown in FIG. 10).
【０００９】この光学走査装置において、図１０（Ａ）
に示すように、光ビームが軸Ｙｓの方向に偏向される走
査開始位置(Start Of Scan、以下「ＳＯＳ」と称す）か
ら、図１０（Ｂ）に示すように、光ビームが軸Ｙｃの方
向に偏向される走査中央位置(Center Of Scan 、以下
「ＣＯＳ」と称す）を経て、図１０（Ｃ）に示すよう
に、光ビームが軸Ｙｅの方向に偏向される走査終了位置
(End Of Scan、以下「ＥＯＳ」と称す）に至る間、回転
多面鏡８６で偏向された光ビームのビーム幅Ｄは、図１
０（Ａ）乃至（Ｃ）にＤ1 、Ｄ2 、Ｄ3 として各々示す
ように、次第に小さくなる（Ｄ1 ＞Ｄ2 ＞Ｄ3 ）。In this optical scanning device, FIG.
As shown in FIG. 10, from the scanning start position (Start Of Scan, hereinafter referred to as “SOS”) where the light beam is deflected in the direction of the axis Ys, as shown in FIG. As shown in FIG. 10C, the scanning end position at which the light beam is deflected in the direction of the axis Ye through the center position of scanning (Center Of Scan, hereinafter referred to as “COS”)
The beam width D of the light beam deflected by the rotary polygon mirror 86 during the period (End Of Scan, hereinafter referred to as “EOS”) is as shown in FIG.
As shown by D 1 , D 2 , and D 3 in 0 (A) to (C), the values gradually decrease (D 1 > D 2 > D 3 ).
【００１０】より詳しくは、回転多面鏡８６の反射面数
をｎ、回転多面鏡８６に内接する円の直径をｄ、回転多
面鏡８６に入射される光ビームの光軸Ｌ1 とＣＯＳのと
きに回転多面鏡８６から射出される光ビームの光軸Ｌ2
との成す角度をφ、偏向角度をθ（但しＣＯＳではθ＝
０、ＳＯＳ側ではθ＜０、ＥＯＳ側ではθ＞０とする）
とすると、光ビームのビーム幅Ｄは、以下の（１）式で
表される。More specifically, when the number of reflecting surfaces of the rotary polygon mirror 86 is n, the diameter of the circle inscribed in the rotary polygon mirror 86 is d, and the optical axis L 1 of the light beam incident on the rotary polygon mirror 86 and the COS. The optical axis L 2 of the light beam emitted from the rotating polygon mirror 86
And the deflection angle is θ (where COS is θ =
0, θ <0 on the SOS side, θ> 0 on the EOS side)
Then, the beam width D of the light beam is expressed by the following equation (1).
【００１１】 Ｄ＝ｔａｎ(360°÷２ｎ) ×ｄ×ｃｏｓ（φ÷２＋θ） …（１） （１）式より、ビーム幅Ｄが偏向角度θに応じて変化す
ることが理解できる。D = tan (360 ° ÷ 2n) × d × cos (φ / 2 + θ) (1) From the equation (1), it can be understood that the beam width D changes according to the deflection angle θ.
【００１２】また、上述したビーム幅Ｄの変化に伴い、
光学系の焦点距離ｆをビーム幅Ｄで除算した値に相当す
るＦナンバーについては、ＳＯＳからＥＯＳに向かって
次第に大きくなるように変化する。被走査面上を走査さ
れる光ビームのビーム径は、光ビームの波長λとＦナン
バーとの積に略正比例するので、光ビームのビーム径に
ついてもＳＯＳからＥＯＳに向かって次第に大きくなる
ように変化することになり、１回の走査における光ビー
ムのビーム径の変動量が大きいという問題があった。Further, with the change in the beam width D described above,
The F number corresponding to the value obtained by dividing the focal length f of the optical system by the beam width D changes so as to gradually increase from SOS to EOS. Since the beam diameter of the light beam scanned on the surface to be scanned is approximately directly proportional to the product of the wavelength λ of the light beam and the F number, the beam diameter of the light beam also gradually increases from SOS to EOS. However, there is a problem in that the amount of change in the beam diameter of the light beam during one scan is large.
【００１３】上述したオーバフィルドタイプの光学走査
装置における光ビームのビーム径の変動を抑制するため
に、特開平 6-59209号公報には、回転多面鏡に対し、光
ビーム偏向範囲の中央（正面）から光ビームを入射する
ようにした光学走査装置が開示されている。しかし、こ
の光学走査装置では、回転多面鏡に入射される光ビーム
を透過しかつ回転多面鏡で反射・偏向された光ビームを
鉛直方向上方側へ反射する偏光ビームスプリッタを設け
る必要があるので、構成が複雑になりコストが嵩むと共
に、光学走査装置の小型化が困難であった。In order to suppress the variation of the beam diameter of the light beam in the above-mentioned overfilled type optical scanning device, Japanese Patent Laid-Open No. 6-59209 discloses a rotary polygon mirror with respect to the center (front surface) of the light beam deflection range. ), An optical scanning device in which a light beam is made incident is disclosed. However, in this optical scanning device, since it is necessary to provide a polarization beam splitter that transmits the light beam incident on the rotary polygon mirror and reflects the light beam reflected and deflected by the rotary polygon mirror upward in the vertical direction, In addition to the complicated structure and cost, it has been difficult to downsize the optical scanning device.
【００１４】本発明は上記事実を考慮して成されたもの
で、構造が簡単で、光ビームのビーム径の変動を抑制す
ることができる光学走査装置を得ることが目的である。The present invention has been made in consideration of the above facts, and an object thereof is to obtain an optical scanning device having a simple structure and capable of suppressing the variation of the beam diameter of a light beam.
【００１５】[0015]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項１記載の発明は、入射された光ビームを反射面
で反射して偏向すると共に、前記反射面の向きを所定方
向に沿って変化させることにより、入射された光ビーム
の偏向方向を前記所定方向に沿って変化させる偏向手段
を備え、前記偏向手段に対し、前記所定方向に沿った前
記反射面の幅よりも前記所定方向に沿った幅の広い光ビ
ームが、前記偏向手段により偏向された光ビームが通過
する偏向範囲の側方より入射される光学走査装置であっ
て、前記反射面が前記偏向範囲内の入射光ビームの光路
に近い側の端部又はその付近へ入射光ビームを偏向する
向きとなっているときには、前記所定方向に沿った前記
反射面の一部の範囲には入射光ビームが照射されず、少
なくとも前記反射面が前記偏向範囲内の入射光ビームの
光路と反対側の端部又はその付近へ入射光ビームを偏向
する向きとなっているときには、前記所定方向に沿った
前記反射面の全範囲に入射光ビームが照射されるよう
に、偏向手段に対する入射光ビームの照射範囲が調整さ
れていることを特徴としている。In order to achieve the above object, the invention according to claim 1 reflects an incident light beam by a reflecting surface and deflects it, and the direction of the reflecting surface is along a predetermined direction. The deflection means for changing the deflection direction of the incident light beam along the predetermined direction by changing the reflection direction with respect to the deflection means. An optical scanning device in which a light beam having a wide width along the direction of incidence enters from a side of a deflection range through which the light beam deflected by the deflection means passes, and the reflection surface has an incident light beam within the deflection range. When the orientation is such that the incident light beam is deflected to the end on the side closer to the optical path of or in the vicinity thereof, the incident light beam is not radiated to at least a part of the reflecting surface along the predetermined direction, and at least The reflection Is directed to deflect the incident light beam toward or near the end opposite to the optical path of the incident light beam within the deflection range, the incident light beam is incident on the entire range of the reflecting surface along the predetermined direction. The irradiation range of the incident light beam with respect to the deflecting means is adjusted so as to irradiate.
【００１６】偏向手段に対し、偏向手段による偏向方向
に沿った反射面の幅よりも偏向方向に沿った幅の広い光
ビームを入射する構成の従来の光学走査装置では、偏向
手段の偏向角度に拘らず、偏向手段による偏向方向に沿
った偏向手段の反射面の全範囲に光ビームを照射するの
で、偏向手段の反射面が、偏向範囲内の入射光ビームの
光路に近い側の端部又はその付近へ入射光ビームを偏向
する向きとなっているときに、図１０（Ａ）にも示すよ
うに、偏向手段から射出される光ビームのビーム幅は最
大又は最大に近い大きさとなる。In the conventional optical scanning device having a structure in which a light beam having a width wider in the deflection direction than the width of the reflecting surface along the deflection direction by the deflection means is incident on the deflection means, the deflection angle of the deflection means is set. Regardless, the light beam is applied to the entire range of the reflecting surface of the deflecting means along the direction of deflection by the deflecting means, so that the reflecting surface of the deflecting means has an end portion on the side close to the optical path of the incident light beam in the deflecting range or When the incident light beam is deflected to the vicinity thereof, as shown in FIG. 10A, the beam width of the light beam emitted from the deflecting means becomes the maximum or a size close to the maximum.
【００１７】これに対し、請求項１記載の発明では、偏
向手段の反射面が、偏向範囲内の入射光ビームの光路に
近い側の端部又はその付近へ入射光ビームを偏向する向
きとなっているときには、所定方向（偏向手段による偏
向方向）に沿った反射面の一部の範囲には入射光ビーム
が照射されないように、偏向手段に対する入射光ビーム
の照射範囲が調整されているので、従来と比較して、偏
向手段から射出される光ビームのビーム幅は小さくな
る。On the other hand, according to the first aspect of the invention, the reflecting surface of the deflecting means is oriented so as to deflect the incident light beam to the end portion near the optical path of the incident light beam in the deflection range or in the vicinity thereof. At this time, the irradiation range of the incident light beam with respect to the deflecting means is adjusted so that the incident light beam is not irradiated onto a part of the reflecting surface along the predetermined direction (deflection direction by the deflecting means). The beam width of the light beam emitted from the deflecting means becomes smaller than in the conventional case.
【００１８】また、少なくとも反射面が偏向範囲内の入
射光ビームの光路と反対側の端部又はその付近へ入射光
ビームを偏向する向きとなっているときには、所定方向
に沿った反射面の全範囲に入射光ビームが照射されるよ
うに、偏向手段に対する入射光ビームの照射範囲が調整
されているので、このときに偏向手段から射出される光
ビームのビーム幅は従来と同じく小さい。Further, at least when the reflecting surface is oriented so as to deflect the incident light beam to an end portion on the opposite side of the optical path of the incident light beam in the deflection range or in the vicinity thereof, the entire reflecting surface along the predetermined direction. Since the irradiation range of the incident light beam with respect to the deflecting means is adjusted so that the incident light beam is irradiated onto the range, the beam width of the light beam emitted from the deflecting means at this time is as small as the conventional one.
【００１９】従って、偏向手段の反射面の向き（光ビー
ムの偏向角度）の変化に伴う偏向手段から射出される光
ビームのビーム幅の変動幅が小さくなるので、光ビーム
のビーム径の変動を抑制することができる。また、ビー
ム径の変動の抑制を、偏向手段に対する入射光ビームの
照射範囲を調整することにより実現できるので、構成も
簡単で済む。Accordingly, since the fluctuation width of the beam width of the light beam emitted from the deflecting means due to the change of the direction of the reflecting surface (deflection angle of the light beam) of the deflecting means becomes small, the fluctuation of the beam diameter of the light beam is suppressed. Can be suppressed. Further, since the fluctuation of the beam diameter can be suppressed by adjusting the irradiation range of the incident light beam with respect to the deflecting means, the configuration is simple.
【００２０】ところで、偏向手段に対する入射光ビーム
の照射範囲の調整は、例えば光源から射出される光ビー
ムの向き、或いは光源と偏向手段との相対位置を変化さ
せることによって実現できるが、請求項２に記載したよ
うに、光源と偏向手段との間に、光源から射出された光
ビームの光軸と直交しかつ所定方向に対応する方向と直
交する軸に関して非対称な開口を有するアパーチャを配
置することにより、偏向手段に対する入射光ビームの照
射範囲を調整するようにしてもよい。The irradiation range of the incident light beam with respect to the deflecting means can be adjusted, for example, by changing the direction of the light beam emitted from the light source or the relative position between the light source and the deflecting means. As described in 1), arranging an aperture having an asymmetric opening with respect to an axis orthogonal to an optical axis of a light beam emitted from the light source and orthogonal to a direction corresponding to a predetermined direction, between the light source and the deflecting means. Thus, the irradiation range of the incident light beam with respect to the deflecting means may be adjusted.
【００２１】請求項２の発明によれば、既存の光ビーム
走査装置に対し、光源から射出される光ビームの向きや
光源と偏向手段との相対位置を変化させることなく、光
源と偏向手段との間にアパーチャを配置するのみで、偏
向手段に対する入射光ビームの照射範囲の調整を実現で
きるので、本発明に係る光ビーム走査装置の設計が容易
になる。According to the second aspect of the present invention, the light source and the deflecting means can be provided to the existing light beam scanning device without changing the direction of the light beam emitted from the light source or the relative position of the light source and the deflecting means. Since the adjustment of the irradiation range of the incident light beam with respect to the deflecting means can be realized only by arranging the aperture between them, the design of the light beam scanning device according to the present invention becomes easy.
【００２２】[0022]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態の一例を詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【００２３】〔第１実施形態〕図１には、本第１実施形
態に係る光学走査装置１０が示されている。光学走査装
置１０の筐体１０Ａの略中央には、本発明の偏向手段と
しての回転多面鏡１２が配置されている。[First Embodiment] FIG. 1 shows an optical scanning device 10 according to the first embodiment. A rotary polygon mirror 12 as a deflecting means of the present invention is arranged in the substantially central portion of a housing 10A of the optical scanning device 10.
【００２４】回転多面鏡１２は正多角柱状とされ、その
側面には複数の反射面が形成されている。回転多面鏡１
２は、回転軸Ｏを中心として図示しないモータ等の駆動
手段により所定の角速度で回転される。この回転多面鏡
１２の回転に伴い、回転多面鏡１２の反射面に入射され
た光ビームは、反射面で反射されると共に等角速度で偏
向・走査される。また回転多面鏡１２の光ビーム射出側
には、２個のレンズ１４Ａ、１４Ｂから成るｆθレンズ
１４が配置されており、回転多面鏡１２で偏向された光
ビームはｆθレンズ１４を透過する。The rotary polygon mirror 12 has a regular polygonal columnar shape, and a plurality of reflecting surfaces are formed on its side surface. Rotating polygon mirror 1
2 is rotated at a predetermined angular velocity about a rotation axis O by driving means such as a motor (not shown). As the rotary polygon mirror 12 rotates, the light beam incident on the reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 is reflected by the reflecting surface and is deflected / scanned at a constant angular velocity. An fθ lens 14 including two lenses 14A and 14B is arranged on the light beam emission side of the rotary polygon mirror 12, and the light beam deflected by the rotary polygon mirror 12 passes through the fθ lens 14.
【００２５】なお、以下では回転多面鏡１２による光ビ
ームの偏向方向を主走査方向、主走査方向に直交する方
向を副走査方向と称する。In the following, the direction of deflection of the light beam by the rotary polygon mirror 12 is called the main scanning direction, and the direction orthogonal to the main scanning direction is called the sub-scanning direction.
【００２６】また回転多面鏡１２による光ビームの偏向
範囲の側方には、光源としてのレーザダイオード（以
下、ＬＤという）１６が配設されている。ＬＤ１６は図
示しないドライバに接続されており、前記ドライバによ
り画像信号に応じてオンオフ制御される。ＬＤ１６の光
ビーム射出側には、コリメータレンズ１８、エキスパン
ドレンズ２０が順に配置されている。ＬＤ１６から射出
された光ビームは、コリメータレンズ１８、エキスパン
ドレンズ２０により、主走査方向に沿ったビーム幅が回
転多面鏡１２の反射面の面幅よりも広い平行な光ビーム
とされて回転多面鏡１２に入射される（オーバフィルド
タイプ）。A laser diode (hereinafter, referred to as LD) 16 as a light source is arranged on the side of the deflection range of the light beam by the rotary polygon mirror 12. The LD 16 is connected to a driver (not shown) and is on / off controlled by the driver according to an image signal. A collimator lens 18 and an expanding lens 20 are sequentially arranged on the light beam emission side of the LD 16. The light beam emitted from the LD 16 is made into a parallel light beam having a beam width along the main scanning direction wider than the surface width of the reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 by the collimator lens 18 and the expanding lens 20. It is incident on 12 (overfilled type).
【００２７】また図２には、回転多面鏡１２の反射面
（複数の反射面のうち入射光ビームをｆθレンズ１４へ
向けて反射する状態となっている反射面、以下「主反射
面」と称する）が、入射された光ビームを光ビームの偏
向範囲のうち入射光ビームの光路に近い側の端部（本実
施形態ではＳＯＳに相当）へ向けて反射する向きとなっ
ているときの状態が示されており、図３には、入射され
た光ビームを光ビームの偏向範囲の中央（ＣＯＳ）へ向
けて反射する向きとなっているときの状態が示されてお
り、図４には、入射された光ビームを光ビームの偏向範
囲のうち入射光ビームの光路に近い側と反対側の端部
（本実施形態ではＥＯＳに相当）へ向けて反射する向き
となっているときの状態が示されている。Further, in FIG. 2, the reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 (a reflecting surface in a state of reflecting the incident light beam toward the fθ lens 14 among a plurality of reflecting surfaces, hereinafter referred to as “main reflecting surface”). (Referred to as “SOS”) is a direction in which the incident light beam is reflected toward an end portion (corresponding to SOS in this embodiment) on the side closer to the optical path of the incident light beam in the deflection range of the light beam. 3 is shown, and FIG. 3 shows a state in which the incident light beam is reflected toward the center (COS) of the deflection range of the light beam, and FIG. A state in which the incident light beam is reflected toward an end portion (corresponding to EOS in the present embodiment) of the deflection range of the light beam on the side closer to the optical path of the incident light beam and on the opposite side. It is shown.
【００２８】図２に示すように、ＬＤ１６は、ＬＤ１６
から射出された光ビームの光軸Ｌ1（図２に一点鎖線で
示す）が、図２に二点鎖線で示す通常の場合の光軸Ｌ0
（図１０に示した光軸と同一の向き）に対し、ｆθレン
ズ１４に近づく側に若干傾くように向きが調整されてい
る。これにより、回転多面鏡１２の主反射面がＳＯＳに
相当する向きとなっているときには、図２に破線で示す
光ビームの照射範囲の境界が回転多面鏡１２の主反射面
上に位置する（図２に破線で囲んで示す部分）ことにな
り、主走査方向に沿った主反射面の一部の範囲には光ビ
ームが照射されないことになる。As shown in FIG. 2, the LD16 is
The optical axis L 1 of the light beam emitted from the optical axis (shown by the one-dot chain line in FIG. 2) is the optical axis L 0 in the normal case shown by the two-dot chain line in FIG.
The direction is adjusted so as to be slightly inclined toward the side closer to the fθ lens 14 with respect to (the same direction as the optical axis shown in FIG. 10). Thereby, when the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 is oriented in the direction corresponding to SOS, the boundary of the irradiation range of the light beam shown by the broken line in FIG. 2 is located on the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 ( (A portion surrounded by a broken line in FIG. 2), and the light beam is not irradiated onto a partial range of the main reflection surface along the main scanning direction.
【００２９】この主反射面上の光ビームが照射されない
範囲は、回転多面鏡１２が図２矢印Ａ方向に回転するの
に伴って徐々に狭くなり、回転多面鏡１２が所定量以上
以上回転すると主走査方向に沿った主反射面の全範囲に
光ビームが照射される。これにより、回転多面鏡１２の
主反射面がＣＯＳに相当する向きとなっているとき、及
び回転多面鏡１２の主反射面がＥＯＳに相当する向きと
なっているときには、図３及び図４にも示すように、回
転多面鏡１２に入射された光ビームは、主走査方向に沿
った主反射面の全範囲に照射される。The range where the light beam on the main reflecting surface is not irradiated becomes gradually narrower as the rotary polygon mirror 12 rotates in the direction of arrow A in FIG. 2, and when the rotary polygon mirror 12 rotates by a predetermined amount or more. The light beam is applied to the entire area of the main reflecting surface along the main scanning direction. Thus, when the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 is in the direction corresponding to COS, and when the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 is in the direction corresponding to EOS, FIGS. As also shown, the light beam incident on the rotary polygon mirror 12 is applied to the entire range of the main reflecting surface along the main scanning direction.
【００３０】また、ｆθレンズ１４の光ビーム射出側に
は平面ミラー２２が配置されており、平面ミラー２２の
光ビーム射出側には、副走査方向にのみパワーを有し回
転多面鏡１８の面倒れ補正を行うためのシリンダミラー
２４が配置されている。シリンダミラー２４の光ビーム
射出側には、筐体１０Ａに設けられた光ビームが通過す
るための開口が位置しており、この開口には筐体１０Ａ
内への塵埃の侵入を防止するためのウインドウ２６が取
付けられている。ｆθレンズ１４を透過した光ビーム
は、平面ミラー２２、シリンダミラー２４で順に反射さ
れ、ウインドウ２６を透過して筐体の外部へ射出され
る。Further, a plane mirror 22 is disposed on the light beam exit side of the fθ lens 14, and the plane mirror 22 has a power only in the sub-scanning direction on the light beam exit side of the plane mirror 22 so that the rotary polygon mirror 18 has a flat surface. A cylinder mirror 24 for performing the correction is arranged. On the light beam emission side of the cylinder mirror 24, an opening for passing a light beam provided in the housing 10A is located, and the housing 10A is provided in this opening.
A window 26 is attached to prevent dust from entering the inside. The light beam that has passed through the fθ lens 14 is sequentially reflected by the plane mirror 22 and the cylinder mirror 24, passes through the window 26, and is emitted to the outside of the housing.
【００３１】また、光学走査装置１０の下方側には感光
体ドラム２８が配置されており、ウインドウ２６を透過
した光ビームは、前述したｆθレンズ１４の作用によ
り、感光体ドラム２８の周面（被走査面）に光スポット
として結像されると共に、感光体ドラム２８の周面上を
一定速度で走査される。感光体ドラム２８は図示しない
モータの駆動力が伝達されて回転される。この感光体ド
ラム２８の回転により副走査が行われ、感光体ドラム３
４の周面上に画像（潜像）が形成される。A photoconductor drum 28 is disposed below the optical scanning device 10, and the light beam transmitted through the window 26 is acted on by the fθ lens 14 described above so that the peripheral surface of the photoconductor drum 28 ( An image is formed as a light spot on the surface to be scanned), and the peripheral surface of the photosensitive drum 28 is scanned at a constant speed. The photoconductor drum 28 is rotated by transmitting the driving force of a motor (not shown). Sub-scanning is performed by the rotation of the photosensitive drum 28, and the photosensitive drum 3
An image (latent image) is formed on the peripheral surface of No. 4.
【００３２】次に本第１実施形態の作用を説明する。図
１０（Ａ）に示すように、従来のオーバフィルドタイプ
の光学系では、回転多面鏡の主反射面が、入射された光
ビームを光ビームの偏向範囲のうち入射光ビームの光路
に近い側の端部へ向けて反射する向きとなっているとき
に、回転多面鏡で反射された光ビームのビーム幅が最大
となる。Next, the operation of the first embodiment will be described. As shown in FIG. 10 (A), in the conventional overfilled type optical system, the main reflection surface of the rotary polygon mirror is arranged so that the incident light beam is closer to the optical path of the incident light beam in the deflection range of the light beam. The beam width of the light beam reflected by the rotating polygon mirror is maximized when the light is reflected toward the end of the.
【００３３】これに対し本第１実施形態では、回転多面
鏡１２の主反射面が、入射された光ビームを光ビームの
偏向範囲のうち入射光ビームの光路に近い側の端部へ向
けて反射する向き（ＳＯＳに相当する向き）となってい
るときには、図２に示すように、主走査方向に沿った主
反射面の一部の範囲には入射光ビームが照射されないよ
うに、ＬＤ１６の向きが調整されて回転多面鏡１２に対
する入射光ビームの照射範囲が調整されているので、従
来と比較して、回転多面鏡１２から射出される光ビーム
のビーム幅は小さくなる。On the other hand, in the first embodiment, the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 directs the incident light beam toward the end of the deflection range of the light beam on the side closer to the optical path of the incident light beam. When the direction of reflection is the direction (corresponding to SOS), as shown in FIG. 2, the LD 16 of the LD 16 is arranged so that the incident light beam is not irradiated onto a part of the main reflection surface along the main scanning direction. Since the direction is adjusted and the irradiation range of the incident light beam on the rotating polygon mirror 12 is adjusted, the beam width of the light beam emitted from the rotating polygon mirror 12 is smaller than in the conventional case.
【００３４】また、回転多面鏡１２の主反射面上の光ビ
ームが照射されない範囲は、回転多面鏡１２が図２矢印
Ａ方向に回転するのに伴って徐々に狭くなり、図３及び
図４に示すように、回転多面鏡１２の主反射面が、入射
された光ビームを光ビームの偏向範囲の中央へ向けて反
射する向き（ＣＯＳに相当する向き）となっているとき
や、入射された光ビームを光ビームの偏向範囲のうち入
射光ビームの光路に近い側と反対側の端部へ向けて反射
する向き（ＥＯＳに相当する向き）となっているときに
は、主走査方向に沿った主反射面の全範囲に入射光ビー
ムが照射されるので、このときに回転多面鏡１２から射
出される光ビームのビーム幅は従来と同じく小さい。The range where the light beam on the main reflection surface of the rotary polygon mirror 12 is not irradiated gradually narrows as the rotary polygon mirror 12 rotates in the direction of arrow A in FIG. As shown in, when the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 is in a direction (direction corresponding to COS) for reflecting the incident light beam toward the center of the deflection range of the light beam, When the light beam is in the direction of reflecting the light beam toward the end portion on the side opposite to the optical path of the incident light beam in the deflection range of the light beam (the direction corresponding to EOS), it follows the main scanning direction. Since the incident light beam is applied to the entire area of the main reflection surface, the beam width of the light beam emitted from the rotary polygon mirror 12 at this time is as small as the conventional one.
【００３５】従って、回転多面鏡１２の主反射面の向き
（光ビームの偏向角度）の変化に伴う光ビームのビーム
幅の変動の幅が小さくなるので、主走査方向に沿った各
位置における光ビームのビーム径の変動を抑制すること
ができる。また、光ビームを回転多面鏡１２の正面から
入射させるために偏光ビームスプリッタ等の光学部品を
新たに設ける必要もないので、構成を簡単にすることが
できる。Therefore, since the fluctuation width of the beam width of the light beam due to the change of the direction of the main reflection surface (deflection angle of the light beam) of the rotary polygon mirror 12 becomes small, the light at each position along the main scanning direction is reduced. It is possible to suppress variations in the beam diameter of the beam. Further, since it is not necessary to additionally provide an optical component such as a polarization beam splitter in order to make the light beam enter from the front of the rotary polygon mirror 12, the configuration can be simplified.
【００３６】なお、上記ではＬＤ１６の向きを変えるこ
とにより、回転多面鏡１２に対する光ビームの照射範囲
を調整するようにした例を説明したが、ＬＤ１６の向き
を変えることなく、ＬＤ１６と回転多面鏡１２との相対
位置を変化させる（例えばＬＤ１６から射出される光ビ
ームの光軸がｆθレンズ１４に近づく側に平行移動する
ようにＬＤ１６の位置を変化させる）ことにより、光ビ
ームの照射範囲を調整するようにしてもよい。In the above description, the direction of the LD 16 is changed to adjust the irradiation range of the light beam to the rotary polygon mirror 12. However, the direction of the LD 16 is not changed, and the LD 16 and the rotary polygon mirror are not changed. By adjusting the relative position with respect to 12 (for example, changing the position of the LD 16 so that the optical axis of the light beam emitted from the LD 16 moves parallel to the side approaching the fθ lens 14), the irradiation range of the light beam is adjusted. You may do it.
【００３７】〔第２実施形態〕次に本発明の第２実施形
態について説明する。なお、第１実施形態と同一の部分
には同一の符号を付し、説明を省略する。[Second Embodiment] Next, a second embodiment of the present invention will be described. The same portions as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
【００３８】図５に示すように、本第２実施形態ではＬ
Ｄ１６から射出される光ビームの光軸を傾斜させておら
ず、回転多面鏡１２に対し、図２に光軸Ｌ0 として示す
光軸の向きと同一の向きで光ビームが入射される。また
本第２実施形態では、エキスパンドレンズ２０の光ビー
ム射出側に、光ビームの光軸と直交しかつ主走査方向に
対応する方向と直交する軸（図５の紙面に垂直な方向に
沿った軸）に関して非対称の開口を有するアパーチャ３
２（請求項２に記載のアパーチャに対応）が設けられて
いる。As shown in FIG. 5, in the second embodiment, L
The optical axis of the light beam emitted from D16 is not inclined, and the light beam is incident on the rotary polygon mirror 12 in the same direction as the direction of the optical axis shown as the optical axis L 0 in FIG. In the second embodiment, on the light beam exit side of the expander lens 20, an axis orthogonal to the optical axis of the light beam and orthogonal to the direction corresponding to the main scanning direction (along the direction perpendicular to the paper surface of FIG. 5). Aperture 3 with asymmetric opening about axis
2 (corresponding to the aperture according to claim 2) is provided.
【００３９】図６にはアパーチャ３２をＬＤ１６側から
見た正面図を示しているが、この図６からも明らかなよ
うに、アパーチャ３２の開口３２Ａは矩形状とされ、開
口３２Ａの主走査方向に対応する方向（図６の左右方
向）に沿った長さが、ＬＤ１６から射出された光ビーム
の全光束を通過させる長さに対して長さｍだけ短くされ
ており、かつ開口３２Ａの中心が、光軸Ｌ0 が通過する
位置から主走査方向に対応する方向に沿って長さｍだけ
図６の左方向にオフセットされている。なお、以下では
ｍを遮蔽量と称する。FIG. 6 shows a front view of the aperture 32 as seen from the LD 16 side. As is clear from FIG. 6, the aperture 32A of the aperture 32 has a rectangular shape, and the aperture 32A has a main scanning direction. The length along the direction corresponding to (the left-right direction in FIG. 6) is shortened by the length m with respect to the length of the entire light beam emitted from the LD 16 and the center of the opening 32A. 6 is offset to the left in FIG. 6 by a length m from the position where the optical axis L 0 passes along the direction corresponding to the main scanning direction. In the following, m is referred to as a shielding amount.
【００４０】次に本第２実施形態の作用を説明する。ア
パーチャ３２の開口３２Ａの図６右側の端部よりも外側
の部分は、ＬＤ１６から射出された光ビームのうち、回
転多面鏡１２の主反射面が、入射された光ビームを光ビ
ームの偏向範囲のうち入射光ビームの光路に近い側の端
部又はその近傍へ向けて反射する向きとなっているとき
に回転多面鏡の主反射面に入射する光束が通過する位置
であるので、図５からも明らかなように、回転多面鏡１
２の主反射面が、入射された光ビームを光ビームの偏向
範囲のうち入射光ビームの光路に近い側の端部へ向けて
反射する向き（ＳＯＳに相当する向き）となっていると
きには、主反射面に入射される光ビームの一部がアパー
チャ３２によってけられ、主走査方向に沿った主反射面
の一部の範囲には光ビームは照射されない。Next, the operation of the second embodiment will be described. In the portion of the aperture 32A outside the right side end portion of FIG. 6 of the aperture 32, the main reflection surface of the rotary polygon mirror 12 of the light beam emitted from the LD 16 reflects the incident light beam in the deflection range of the light beam. Since it is the position through which the light beam incident on the main reflection surface of the rotary polygon mirror passes when it is reflected toward the end of the incident light beam on the side closer to the optical path or in the vicinity thereof, from FIG. As is clear, the rotary polygon mirror 1
When the second main reflection surface is in a direction (direction corresponding to SOS) that reflects the incident light beam toward the end portion of the deflection range of the light beam on the side closer to the optical path of the incident light beam, A part of the light beam incident on the main reflection surface is blocked by the aperture 32, and the light beam is not applied to a part of the main reflection surface along the main scanning direction.
【００４１】また、回転多面鏡１２の主反射面上の光ビ
ームが照射されない範囲は、回転多面鏡１２が図５矢印
Ａ方向に回転するのに伴って徐々に狭くなり、図示は省
略するが、回転多面鏡１２の主反射面が、入射された光
ビームを光ビームの偏向範囲の中央へ向けて反射する向
き（ＣＯＳに相当する向き）となっているときや、入射
された光ビームを光ビームの偏向範囲のうち入射光ビー
ムの光路に近い側と反対側の端部へ向けて反射する向き
（ＥＯＳに相当する向き）となっているときには、主走
査方向に沿った主反射面の全範囲に入射光ビームが照射
されるので、このときに回転多面鏡１２から射出される
光ビームのビーム幅は従来と同じく小さい。The range where the light beam on the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 is not irradiated is gradually narrowed as the rotary polygon mirror 12 rotates in the direction of arrow A in FIG. , When the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 is oriented so as to reflect the incident light beam toward the center of the deflection range of the light beam (direction corresponding to COS), In the deflection range of the light beam, when the direction is a direction in which the light beam is reflected toward the end portion on the side opposite to the optical path of the incident light beam (direction corresponding to EOS), the main reflection surface along the main scanning direction Since the incident light beam is applied to the entire range, the beam width of the light beam emitted from the rotary polygon mirror 12 at this time is as small as the conventional one.
【００４２】なお、アパーチャ３２の遮蔽量ｍは、一例
として、回転多面鏡１２の反射面数をｎ、回転多面鏡１
２に内接する円の直径をｄ、回転多面鏡１２に入射され
る光ビームの光軸Ｌ1 とＣＯＳのときに回転多面鏡１２
から射出される光ビームの光軸Ｌ2 との成す角度をφ、
偏向角度をθ（但しＣＯＳではθ＝０、ＳＯＳ側ではθ
＜０、ＥＯＳ側ではθ＞０とする）としたときに、ＳＯ
Ｓのときの光ビームのビーム幅Ｄが、 Ｄ＝ｔａｎ(360°÷２ｎ) ×ｄ×ｃｏｓ（φ÷２−θ） …（２） 上記の（２）式を満足するように設定することが好まし
い。これにより、ＳＯＳのときのビーム幅Ｄが、（１）
式によって求まるＥＯＳのときのビーム幅Ｄと理論的に
等しくなる。The shielding amount m of the aperture 32 is, for example, the number of reflecting surfaces of the rotary polygon mirror 12 is n, and the rotary polygon mirror 1 is
The diameter of the circle inscribed in 2 is d, and when the optical axis L 1 of the light beam incident on the rotary polygon mirror 12 and the COS, the rotary polygon mirror 12
The angle formed by the optical axis L 2 of the light beam emitted from
Deflection angle is θ (however, θ = 0 for COS, θ for SOS side)
<0, θ> 0 on EOS side)
The beam width D of the light beam when S is D = tan (360 ° / 2n) × d × cos (φ ÷ 2-θ) (2) Set so as to satisfy the above equation (2). Is preferred. As a result, the beam width D at SOS becomes (1)
It is theoretically equal to the beam width D at EOS obtained by the formula.
【００４３】このように、本第２実施形態において
も、、回転多面鏡１２の主反射面の向き（光ビームの偏
向角度）の変化に伴う光ビームのビーム幅の変動の幅が
小さくなるので、主走査方向に沿った各位置における光
ビームのビーム径の変動を抑制することができる。ま
た、光ビームを回転多面１２の正面から入射させるため
に偏光ビームスプリッタ等の光学部品を新たに設ける必
要もないので、構成を簡単にすることができる。As described above, also in the second embodiment, the width of fluctuation of the beam width of the light beam due to the change of the direction of the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 (deflection angle of the light beam) becomes small. The fluctuation of the beam diameter of the light beam at each position along the main scanning direction can be suppressed. Further, since it is not necessary to newly provide an optical component such as a polarization beam splitter in order to make the light beam enter from the front surface of the rotating polyhedron 12, the configuration can be simplified.
【００４４】また本第２実施形態では、ＬＤ１６の向き
を変化させることなく、非対称の開口３２Ａを有するア
パーチャ３２を設けることにより回転多面鏡１２への光
ビームの照射範囲を調整しているので、光学走査装置１
０の設計が容易となる。In the second embodiment, the irradiation range of the light beam to the rotary polygon mirror 12 is adjusted by providing the aperture 32 having the asymmetric opening 32A without changing the direction of the LD 16. Optical scanning device 1
The design of 0 becomes easy.
【００４５】なお、上記では偏向手段として回転多面鏡
を例に説明したが、ガルバノメータミラー等の他の偏向
手段を適用することも可能である。In the above description, the rotary polygon mirror is taken as an example of the deflecting means, but other deflecting means such as a galvanometer mirror can be applied.
【００４６】また上記では、回転多面鏡１２の主反射面
が、入射された光ビームを光ビームの偏向範囲のうち入
射光ビームの光路に近い側の端部へ向けて反射する向き
から、入射された光ビームを光ビームの偏向範囲のうち
入射光ビームの光路に近いと反対側の端部へ向けて反射
する向きへ変化することにより光ビームの偏向を行う場
合を説明したが、本発明は、主反射面の向きが上記と逆
の方向に変化して光ビームの偏向を行う場合（回転多面
鏡から射出される光ビームのビーム幅が、ＳＯＳからＥ
ＯＳへ向けて次第に大きくなる場合）にも適用可能であ
ることは言うまでもない。Further, in the above, the main reflecting surface of the rotary polygon mirror 12 is incident from the direction in which the incident light beam is reflected toward the end of the deflection range of the light beam on the side closer to the optical path of the incident light beam. The case where the deflected light beam is deflected by changing the reflected light beam to a direction in which the reflected light beam is reflected toward the opposite end of the deflection range of the light beam when it is near the optical path of the incident light beam has been described. When the direction of the main reflecting surface changes to the opposite direction to deflect the light beam (the beam width of the light beam emitted from the rotary polygon mirror changes from SOS to E
It goes without saying that the present invention can also be applied to the case (when gradually increasing toward the OS).
【００４７】更に、第２実施形態ではアパーチャ３２を
エキスパンドレンズ２０の光ビーム射出側に配置した例
を説明したが、ＬＤ１６とコリメータレンズ１８の間に
配置しても、コリメータレンズ１８とエキスパンドレン
ズ２０との間に配置してもよい。但し、上記の実施形態
では、ＬＤ１６から射出された光ビームがエキスパンド
レンズ２０を透過することにより平行かつ幅広の光ビー
ムとされるので、アパーチャ３２をエキスパンドレンズ
２０の光ビーム射出側に配置した方が、光ビームの光軸
方向に沿ってアパーチャ３２の取付位置についての自由
度が向上するので好ましい。Furthermore, in the second embodiment, the example in which the aperture 32 is arranged on the light beam exit side of the expanding lens 20 has been described. It may be placed between and. However, in the above embodiment, the light beam emitted from the LD 16 is made into a parallel and wide light beam by passing through the expanding lens 20, so that the aperture 32 is arranged on the light beam emitting side of the expanding lens 20. However, it is preferable because the degree of freedom of the mounting position of the aperture 32 is improved along the optical axis direction of the light beam.
【００４８】また、上記では光源としてＬＤ１６を用い
た例を説明したが、これに限定されるものではなく、Ｈ
ｅ−Ｎｅレーザ等のガスレーザを適用してもよい。光源
としてガスレーザを適用した場合には、ビーム拡張装置
を用いれば、光ビームを回転多面鏡の反射面幅よりも幅
広とすることができる。また、ガスレーザから射出され
る光ビームは円偏光であるが、この円偏光の光ビームを
そのまま用いてもよいし、直線偏光の光ビームに変えて
用いてもよい。In the above description, the example using the LD 16 as the light source has been described, but the present invention is not limited to this.
A gas laser such as an e-Ne laser may be applied. When a gas laser is used as the light source, a beam expander can be used to make the light beam wider than the reflective surface width of the rotating polygon mirror. Although the light beam emitted from the gas laser is circularly polarized light, this circularly polarized light beam may be used as it is, or may be used by changing it to a linearly polarized light beam.
【００４９】更に、上述した光ビームの照射範囲の調整
に加え、更に光ビームのビームウエスト位置が感光体ド
ラム２８の周面上からずれるように光ビームをデフォー
カスするようにしてもよい。これにより、後述するよう
に、主走査方向に沿った各位置におけるビーム径は全体
的に大きくなるものの、主走査方向に沿った各位置にお
けるビーム径の変動幅を更に小さくすることができる。Further, in addition to the adjustment of the irradiation range of the light beam described above, the light beam may be defocused so that the beam waist position of the light beam deviates from the peripheral surface of the photosensitive drum 28. As a result, as will be described later, the beam diameter at each position along the main scanning direction becomes larger overall, but the fluctuation range of the beam diameter at each position along the main scanning direction can be further reduced.
【００５０】[0050]
【実施例】次に第２実施形態で説明した光学走査装置１
０に対し、主走査方向に沿った各位置における光ビーム
のビーム径及び光量のシミュレーションを行った結果に
ついて図７乃至図９を参照して説明する。EXAMPLE Next, the optical scanning device 1 described in the second embodiment
Results of simulation of the beam diameter and the light amount of the light beam at each position along the main scanning direction with respect to 0 will be described with reference to FIGS. 7 to 9.
【００５１】図７は、遮蔽量ｍを２段階に変化させ、感
光体ドラム２８の周面上に結像される光ビームのビーム
径を主走査方向に沿った各位置で測定した結果を示す。
図７からも明らかなように、アパーチャ３２を設けるこ
とにより、ＳＯＳ及びその付近においてのみ光ビームの
ビーム径が大きくなっており、ＥＯＳ又はその付近にお
ける光ビームのビーム径との差は小さくなっている。従
って、従来はＳＯＳからＥＯＳにかけて単調増加してい
たビーム径が、アパーチャ３２を設けることによりＣＯ
Ｓを中心として対称に近い変化となっている。FIG. 7 shows the results of measuring the beam diameter of the light beam imaged on the peripheral surface of the photosensitive drum 28 at each position along the main scanning direction by changing the shielding amount m in two steps. .
As is clear from FIG. 7, by providing the aperture 32, the beam diameter of the light beam is increased only in the SOS and its vicinity, and the difference from the beam diameter of the light beam in the EOS and its vicinity is reduced. There is. Therefore, the beam diameter, which has conventionally been monotonically increased from SOS to EOS, is reduced by the provision of the aperture 32.
The change is almost symmetrical with respect to S.
【００５２】図７において、遮蔽量ｍ：大とした場合で
は、ＳＯＳからＥＯＳに至る間の光ビームのビーム径の
変動幅が、アパーチャ３２を設けていない従来よりも大
きくなっているが、図７において、遮蔽量ｍ：小とした
場合では、ビーム径の変動幅は小さくなっており、遮蔽
量ｍとして適正な値を設定することにより、ビーム径の
変動を抑制できることが理解できる。In FIG. 7, when the shielding amount m is large, the fluctuation range of the beam diameter of the light beam from SOS to EOS is larger than that in the conventional case in which the aperture 32 is not provided. In Fig. 7, when the shielding amount m is small, the fluctuation width of the beam diameter is small, and it can be understood that the fluctuation of the beam diameter can be suppressed by setting an appropriate value as the shielding amount m.
【００５３】また図８は、遮蔽量ｍを２段階に変化さ
せ、感光体ドラム２８の周面上に照射される光ビームの
光量を主走査方向に沿った各位置で測定した結果を示
す。なお図８では、感光体ドラム２８の周面上に照射さ
れる光ビームの光量を、ＬＤ１６から射出される光ビー
ムの光量に対する比として示している。図８からも明ら
かなように、アパーチャ３２を設けることによりＳＯＳ
及びその付近においてのみ光ビームの光量が低下してお
り、ＥＯＳ又はその付近における光ビームの光量との差
は小さくなっている。従って、光量についても、アパー
チャ３２を設けることによりＣＯＳを中心としてより対
称に近い分布となる。FIG. 8 shows the result of measuring the light quantity of the light beam irradiated on the peripheral surface of the photosensitive drum 28 at each position along the main scanning direction by changing the shielding amount m in two steps. Note that, in FIG. 8, the light amount of the light beam irradiated on the peripheral surface of the photosensitive drum 28 is shown as a ratio to the light amount of the light beam emitted from the LD 16. As is clear from FIG. 8, by providing the aperture 32, the SOS
And the light amount of the light beam is reduced only in the vicinity thereof, and the difference from the light amount of the light beam in or near the EOS is small. Therefore, with respect to the light amount, the provision of the aperture 32 also makes the distribution more symmetrical with respect to COS.
【００５４】図９は、アパーチャ３２を設け、更に光ビ
ームをデフォーカスして（光ビームのビームウエスト位
置を感光体ドラム２８の周面上からずらす）、光ビーム
のビーム径を測定した結果を示す。光ビームをデフォー
カスした場合、図８からも明らかなように、主走査方向
に沿った各位置におけるビーム径は全体的に大きくなる
ものの、ＳＯＳ及びその付近における光ビームのビーム
径と、ＥＯＳ又はその付近における光ビームのビーム径
との差は更に小さくなっており、ビーム径の変動を更に
抑制することができる。FIG. 9 shows the result of measuring the beam diameter of the light beam by providing the aperture 32, defocusing the light beam (shifting the beam waist position of the light beam from the peripheral surface of the photosensitive drum 28), and measuring the beam diameter of the light beam. Show. When the light beam is defocused, as is clear from FIG. 8, the beam diameter at each position along the main scanning direction becomes large as a whole, but the beam diameter of the light beam at SOS and its vicinity and EOS or The difference with the beam diameter of the light beam in the vicinity thereof is further reduced, and the fluctuation of the beam diameter can be further suppressed.
【００５５】[0055]
【発明の効果】以上説明したように請求項１記載の発明
は、偏向手段の反射面が偏向範囲内の入射光ビームの光
路に近い側の端部又はその付近へ光ビームを偏向する向
きとなっているときには、所定方向に沿った反射面の一
部の範囲には入射光ビームが照射されず、少なくとも反
射面が偏向範囲内の入射光ビームの光路と反対側の端部
又はその付近へ光ビームを偏向する向きとなっていると
きには、所定方向に沿った反射面の全範囲に入射光ビー
ムが照射されるように、偏向手段に対する入射光ビーム
の照射範囲が調整するようにしたので、構造が簡単で、
光ビームのビーム径の変動を抑制することができる、と
いう優れた効果を有する。As described above, according to the first aspect of the present invention, the direction in which the reflecting surface of the deflecting means deflects the light beam to the end on the side close to the optical path of the incident light beam within the deflection range or in the vicinity thereof. In this case, the incident light beam is not irradiated onto a part of the reflecting surface along the predetermined direction, and at least the reflecting surface is at or near the end portion on the opposite side of the optical path of the incident light beam in the deflection range. When the direction of deflecting the light beam is adjusted, the irradiation range of the incident light beam with respect to the deflecting means is adjusted so that the entire range of the reflecting surface along the predetermined direction is irradiated with the incident light beam. Simple structure,
It has an excellent effect that the fluctuation of the beam diameter of the light beam can be suppressed.
【００５６】請求項２記載の発明は、光源と偏向手段と
の間に、光源から射出された光ビームの光軸と直交しか
つ所定方向に対応する方向と直交する軸に関して非対称
な開口を有するアパーチャを配置することにより、偏向
手段に対する入射光ビームの照射範囲を調整するので、
上記効果に加え、装置の設計が容易になる、という効果
を有する。According to a second aspect of the present invention, an opening is provided between the light source and the deflecting means, which is asymmetrical with respect to an axis orthogonal to the optical axis of the light beam emitted from the light source and orthogonal to the direction corresponding to the predetermined direction. By arranging the aperture, the irradiation range of the incident light beam with respect to the deflection means is adjusted,
In addition to the above effects, it has the effect of facilitating the design of the device.
【図１】本実施形態に係る光学走査装置の概略構成を示
す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing a schematic configuration of an optical scanning device according to the present embodiment.
【図２】第１実施形態において、回転多面鏡の反射面
が、偏向範囲内の入射光ビームの光路に近い側の端部
（ＳＯＳに相当する位置）へ入射光ビームを偏向する向
きとなっている状態を示す平面図である。FIG. 2 is a direction in which a reflecting surface of a rotary polygon mirror in the first embodiment deflects an incident light beam to an end (a position corresponding to SOS) near a light path of the incident light beam in a deflection range. It is a top view showing the state where it is.
【図３】第１実施形態において、回転多面鏡の反射面
が、偏向範囲内の中央（ＣＯＳに相当する位置）へ入射
光ビームを偏向する向きとなっている状態を示す平面図
である。FIG. 3 is a plan view showing a state in which a reflecting surface of a rotary polygon mirror is oriented to deflect an incident light beam to a center (a position corresponding to COS) within a deflection range in the first embodiment.
【図４】第１実施形態において、回転多面鏡の反射面
が、偏向範囲内の入射光ビームの光路に近い側と反対側
の端部（ＥＯＳに相当する位置）へ入射光ビームを偏向
する向きとなっている状態を示す平面図である。FIG. 4 is a perspective view of the rotating polygon mirror in the first embodiment, in which the incident light beam is deflected to an end (a position corresponding to EOS) on the side opposite to the optical path of the incident light beam in the deflection range. It is a top view which shows the state which has become the direction.
【図５】第２実施形態において、回転多面鏡の反射面
が、偏向範囲内の入射光ビームの光路に近い側の端部
（ＳＯＳに相当する位置）へ入射光ビームを偏向する向
きとなっている状態を示す平面図である。In the second embodiment, the reflecting surface of the rotary polygon mirror has a direction in which the incident light beam is deflected to an end portion (a position corresponding to SOS) near the optical path of the incident light beam in the deflection range. It is a top view showing the state where it is.
【図６】第２実施形態に係るアパーチャーをＬＤ側から
見た正面図である。FIG. 6 is a front view of the aperture according to the second embodiment as viewed from the LD side.
【図７】アパーチャによる光ビームの遮蔽量ｍを２段階
に変化させたときの、主走査方向に沿った各位置での光
ビームのビーム径をシミュレーションした結果を示す線
図である。FIG. 7 is a diagram showing a result of simulating the beam diameter of the light beam at each position along the main scanning direction when the light beam shielding amount m by the aperture is changed in two steps.
【図８】アパーチャによる光ビームの遮蔽量ｍを２段階
に変化させたときの、主走査方向に沿った各位置での光
ビームの光量をシミュレーションした結果を示す線図で
ある。FIG. 8 is a diagram showing a result of simulating the light amount of the light beam at each position along the main scanning direction when the shielding amount m of the light beam by the aperture is changed in two steps.
【図９】アパーチャを設けると共に光ビームをデフォー
カスしたときの、主走査方向に沿った各位置での光ビー
ムのビーム径をシミュレーションした結果を示す線図で
ある。FIG. 9 is a diagram showing a result of simulating the beam diameter of the light beam at each position along the main scanning direction when an aperture is provided and the light beam is defocused.
【図１０】従来のオーバフィルド光学系の問題点を説明
するための、（Ａ）は光ビームがＳＯＳへ偏向されてい
る状態、（Ｂ）は光ビームがＣＯＳへ偏向されている状
態、（Ｃ）は光ビームがＥＯＳへ偏向されている状態を
各々示す平面図である。10A and 10B are views for explaining a problem of a conventional overfilled optical system, where FIG. 10A is a state where a light beam is deflected to SOS, and FIG. 10B is a state where a light beam is deflected to COS. 6C is a plan view showing a state where the light beam is deflected to EOS. FIG.
１０ 光学走査装置 １２ 回転多面鏡 １６ ＬＤ（レーザダイオード） ３２ アパーチャ 10 Optical Scanning Device 12 Rotating Polyhedral Mirror 16 LD (Laser Diode) 32 Aperture
Claims (2)
偏向すると共に、前記反射面の向きを所定方向に沿って
変化させることにより、入射された光ビームの偏向方向
を前記所定方向に沿って変化させる偏向手段を備え、 前記偏向手段に対し、前記所定方向に沿った前記反射面
の幅よりも前記所定方向に沿った幅の広い光ビームが、
前記偏向手段により偏向された光ビームが通過する偏向
範囲の側方より入射される光学走査装置であって、 前記反射面が前記偏向範囲内の入射光ビームの光路に近
い側の端部又はその付近へ入射光ビームを偏向する向き
となっているときには、前記所定方向に沿った前記反射
面の一部の範囲には入射光ビームが照射されず、少なく
とも前記反射面が前記偏向範囲内の入射光ビームの光路
と反対側の端部又はその付近へ入射光ビームを偏向する
向きとなっているときには、前記所定方向に沿った前記
反射面の全範囲に入射光ビームが照射されるように、偏
向手段に対する入射光ビームの照射範囲が調整されてい
ることを特徴とする光学走査装置。1. The deflecting direction of the incident light beam is changed to the predetermined direction by reflecting the incident light beam on a reflecting surface and deflecting it and changing the direction of the reflecting surface along a predetermined direction. A deflection means for changing the light beam along the predetermined direction with respect to the deflection means, the light beam having a width wider than the width of the reflecting surface along the predetermined direction.
An optical scanning device in which a light beam deflected by the deflecting means is incident from a side of a deflection range through which the reflection surface is closer to an optical path of an incident light beam in the deflection range or an end thereof. When the direction is such that the incident light beam is deflected to the vicinity, the incident light beam is not irradiated to a part of the reflecting surface along the predetermined direction, and at least the reflecting surface is incident within the deflection range. When the direction is such that the incident light beam is deflected to the end opposite to the optical path of the light beam or in the vicinity thereof, so that the incident light beam is irradiated to the entire range of the reflecting surface along the predetermined direction, An optical scanning device characterized in that an irradiation range of an incident light beam with respect to a deflecting means is adjusted.
から射出された光ビームの光軸と直交しかつ前記所定方
向に対応する方向と直交する軸に関して非対称な開口を
有するアパーチャを配置することにより、前記偏向手段
に対する入射光ビームの照射範囲が調整されていること
を特徴とする請求項１記載の光学走査装置。2. An aperture having an opening asymmetrical with respect to an axis orthogonal to an optical axis of a light beam emitted from the light source and orthogonal to a direction corresponding to the predetermined direction is disposed between the light source and the deflecting means. The optical scanning device according to claim 1, wherein the irradiation range of the incident light beam with respect to the deflecting unit is adjusted by performing the above.
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Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6341030B1 (en) | 1999-07-14 | 2002-01-22 | Minolta Co., Ltd. | Light beam optical scanner and image forming apparatus |
| JP2002182147A (en) * | 2000-12-19 | 2002-06-26 | Canon Inc | Scanning optical device and image forming device using the same |
| JP4551559B2 (en) * | 2000-12-19 | 2010-09-29 | キヤノン株式会社 | Scanning optical device and image forming apparatus using the same |
| JP2006058523A (en) * | 2004-08-19 | 2006-03-02 | Fuji Xerox Co Ltd | Optical scanner and method of adjusting optical axis |
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