JPH09145543A - Ｍｔｆ測定方法 - Google Patents
Ｍｔｆ測定方法Info
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- JPH09145543A JPH09145543A JP30157695A JP30157695A JPH09145543A JP H09145543 A JPH09145543 A JP H09145543A JP 30157695 A JP30157695 A JP 30157695A JP 30157695 A JP30157695 A JP 30157695A JP H09145543 A JPH09145543 A JP H09145543A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】この発明は、高速、高精度なＭＴＦ演算が困難
であるという課題を解決しようとするものである。 【解決手段】 この発明は、チャートの有効部に対する
固体走査素子１２の出力データを最大値検出回路１６及
び最小値検出回路１７に送り、これらの最大値検出回路
１６及び最小値検出回路１７に対してクロックカウント
部１４により一定時間毎に前記出力データの最大値及び
最小値を出力させ、この最大値及び最小値をＭＴＦ変換
部２２にてＭＴＦに変換することによって、ハードウェ
アによりリアルタイムで被検物のＭＴＦを求める。
であるという課題を解決しようとするものである。 【解決手段】 この発明は、チャートの有効部に対する
固体走査素子１２の出力データを最大値検出回路１６及
び最小値検出回路１７に送り、これらの最大値検出回路
１６及び最小値検出回路１７に対してクロックカウント
部１４により一定時間毎に前記出力データの最大値及び
最小値を出力させ、この最大値及び最小値をＭＴＦ変換
部２２にてＭＴＦに変換することによって、ハードウェ
アによりリアルタイムで被検物のＭＴＦを求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は所定空間周波数のパ
ターンを有するチャートを使用して被検物のＭＴＦを求
めるＭＴＦ測定方法に関する。
ターンを有するチャートを使用して被検物のＭＴＦを求
めるＭＴＦ測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＭＴＦ測定方法は、０空間周波数を使用
するＭＴＦ測定方法と、０空間周波数を使用しないＭＴ
Ｆ測定方法がある。０空間周波数を使用しないＭＴＦ測
定方法は、所定空間周波数のパターンを有するチャート
の像を被検物を通してＣＣＤ（電荷結合素子）に結像し
て光電変換し、このＣＣＤの出力データの最大値ＭＡ
Ｘ、最小値ＭＩＮ及びダミービットデータＤから ＭＴＦ＝（ＭＡＸ−ＭＩＮ）／（ＭＡＸ＋ＭＩＮ−２×
Ｄ） で定義される被検物のＭＴＦを求めている。
するＭＴＦ測定方法と、０空間周波数を使用しないＭＴ
Ｆ測定方法がある。０空間周波数を使用しないＭＴＦ測
定方法は、所定空間周波数のパターンを有するチャート
の像を被検物を通してＣＣＤ（電荷結合素子）に結像し
て光電変換し、このＣＣＤの出力データの最大値ＭＡ
Ｘ、最小値ＭＩＮ及びダミービットデータＤから ＭＴＦ＝（ＭＡＸ−ＭＩＮ）／（ＭＡＸ＋ＭＩＮ−２×
Ｄ） で定義される被検物のＭＴＦを求めている。
【０００３】また、特開昭５６ー２５１６号公報には、
０空間周波数の白レベル及び黒レベルを使用するＭＴＦ
測定方法が記載されている。このＭＴＦ測定方法では、
所定空間周波数のパターンを有するチャートの像を被検
物を通してＣＣＤに結像して光電変換し、このＣＣＤか
らの時系列的信号を図５に示すようにＡ／Ｄコンバータ
１でデジタル化して入出力ポート２を介してＲＡＭ３に
格納する。マイクロＣＰＵ４は、ＲＡＭ３内のデータに
よりデジタル計算を行って必要チャート部の白レベルａ
と黒レベルｂ、つまり、白レベル領域の最大値数ビット
の信号の平均値ａと黒レベルの最小値近辺数ビットの信
号の平均値ｂ、０空間周波数に近い白レベルＡと黒レベ
ルＢを求め、 ＭＴＦ＝｛（ａ−ｂ）／（ａ＋ｂ）÷（Ａ−Ｂ）／（Ａ
＋Ｂ）｝×１００％ の演算で被検物のＭＴＦを求める。ａ、ｂ、Ａ、Ｂをそ
れぞれ複数ビット検出してそれらの各平均値を上記式に
代入すればＭＴＦの計算精度が向上する。
０空間周波数の白レベル及び黒レベルを使用するＭＴＦ
測定方法が記載されている。このＭＴＦ測定方法では、
所定空間周波数のパターンを有するチャートの像を被検
物を通してＣＣＤに結像して光電変換し、このＣＣＤか
らの時系列的信号を図５に示すようにＡ／Ｄコンバータ
１でデジタル化して入出力ポート２を介してＲＡＭ３に
格納する。マイクロＣＰＵ４は、ＲＡＭ３内のデータに
よりデジタル計算を行って必要チャート部の白レベルａ
と黒レベルｂ、つまり、白レベル領域の最大値数ビット
の信号の平均値ａと黒レベルの最小値近辺数ビットの信
号の平均値ｂ、０空間周波数に近い白レベルＡと黒レベ
ルＢを求め、 ＭＴＦ＝｛（ａ−ｂ）／（ａ＋ｂ）÷（Ａ−Ｂ）／（Ａ
＋Ｂ）｝×１００％ の演算で被検物のＭＴＦを求める。ａ、ｂ、Ａ、Ｂをそ
れぞれ複数ビット検出してそれらの各平均値を上記式に
代入すればＭＴＦの計算精度が向上する。
【０００４】また、０空間周波数の白レベル及び黒レベ
ルを使用するＭＴＦ測定方法では、全像高のＭＴＦ測定
を行う場合には、チャートとして０空間周波数の白レベ
ル及び黒レベル、ＭＴＦ測定用所定周波数のチャートの
３種類が必要であり、これらのチャートは切り換えて用
いられる。
ルを使用するＭＴＦ測定方法では、全像高のＭＴＦ測定
を行う場合には、チャートとして０空間周波数の白レベ
ル及び黒レベル、ＭＴＦ測定用所定周波数のチャートの
３種類が必要であり、これらのチャートは切り換えて用
いられる。
【０００５】また、被検物の３色、例えば赤（以下Ｒと
いう）、青（以下Ｂという）、緑（以下Ｇという）のＭ
ＴＦを測定する場合には、上記ＭＴＦ測定方法におい
て、ＣＣＤとしてチャート像の各色成分を光電変換する
３ラインＣＣＤを用い、この３ラインＣＣＤの各色の出
力データについて別々にＭＴＦを求めている。
いう）、青（以下Ｂという）、緑（以下Ｇという）のＭ
ＴＦを測定する場合には、上記ＭＴＦ測定方法におい
て、ＣＣＤとしてチャート像の各色成分を光電変換する
３ラインＣＣＤを用い、この３ラインＣＣＤの各色の出
力データについて別々にＭＴＦを求めている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】所定空間周波数のパタ
ーンを有するチャートを使用したＭＴＦ測定方法は、上
記特開昭５６ー２５１６号公報記載のＭＴＦ測定方法の
ようにハードウェアで構成されていてもＭＴＦ演算に関
してはソフトウェアで行っている。このため、ＭＴＦ演
算を高速で行うことが困難であり、ＭＴＦを高速で測定
する際のネックになっていた。
ーンを有するチャートを使用したＭＴＦ測定方法は、上
記特開昭５６ー２５１６号公報記載のＭＴＦ測定方法の
ようにハードウェアで構成されていてもＭＴＦ演算に関
してはソフトウェアで行っている。このため、ＭＴＦ演
算を高速で行うことが困難であり、ＭＴＦを高速で測定
する際のネックになっていた。
【０００７】また、所定空間周波数のパターンを有する
チャートを使用したＭＴＦ測定方法は、０空間周波数の
白レベル及び黒レベルを使用しないので、３ラインＣＣ
Ｄを用いるＭＴＦ測定では高精度なＭＴＦ測定ができな
い。また、０空間周波数の白レベル及び黒レベルを使用
するＭＴＦ測定方法では、チャートを切り換えたり全像
高のＭＴＦをとれなかったりする問題があった。本発明
は、高速かつ高精度なＭＴＦ測定を実現できるＭＴＦ測
定方法を提供することを目的とする。
チャートを使用したＭＴＦ測定方法は、０空間周波数の
白レベル及び黒レベルを使用しないので、３ラインＣＣ
Ｄを用いるＭＴＦ測定では高精度なＭＴＦ測定ができな
い。また、０空間周波数の白レベル及び黒レベルを使用
するＭＴＦ測定方法では、チャートを切り換えたり全像
高のＭＴＦをとれなかったりする問題があった。本発明
は、高速かつ高精度なＭＴＦ測定を実現できるＭＴＦ測
定方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の発明は、所定空間周波数のパターン
を有するチャートの像を被検物を通して固体走査素子に
結像して光電変換し、この固体走査素子の出力データか
ら被検物のＭＴＦを求めるＭＴＦ測定方法において、前
記チャートの有効部に対する固体走査素子の出力データ
を最大値検出回路及び最小値検出回路に送り、これらの
最大値検出回路及び最小値検出回路に対してクロックカ
ウント部により一定時間毎に前記出力データの最大値及
び最小値を出力させ、この最大値及び最小値をＭＴＦ変
換部にてＭＴＦに変換することによって、ハードウェア
によりリアルタイムで被検物のＭＴＦを求める。
め、請求項１記載の発明は、所定空間周波数のパターン
を有するチャートの像を被検物を通して固体走査素子に
結像して光電変換し、この固体走査素子の出力データか
ら被検物のＭＴＦを求めるＭＴＦ測定方法において、前
記チャートの有効部に対する固体走査素子の出力データ
を最大値検出回路及び最小値検出回路に送り、これらの
最大値検出回路及び最小値検出回路に対してクロックカ
ウント部により一定時間毎に前記出力データの最大値及
び最小値を出力させ、この最大値及び最小値をＭＴＦ変
換部にてＭＴＦに変換することによって、ハードウェア
によりリアルタイムで被検物のＭＴＦを求める。
【０００９】請求項２記載の発明は、請求項１記載のＭ
ＴＦ測定方法において、前記固体走査素子として前記チ
ャートの有効部に対して３つの色の光電変換を行う３色
分の固体走査素子を用い、これらの３色分の固体走査素
子の出力データから各色毎に最大値検出回路及び最小値
検出回路、クロックカウント部により一定時間毎に前記
出力データの最大値及び最小値を求め、この３色分の最
大値及び最小値をＭＴＦ変換部にて色毎に別々に設定し
た変換係数でＭＴＦに変換する。
ＴＦ測定方法において、前記固体走査素子として前記チ
ャートの有効部に対して３つの色の光電変換を行う３色
分の固体走査素子を用い、これらの３色分の固体走査素
子の出力データから各色毎に最大値検出回路及び最小値
検出回路、クロックカウント部により一定時間毎に前記
出力データの最大値及び最小値を求め、この３色分の最
大値及び最小値をＭＴＦ変換部にて色毎に別々に設定し
た変換係数でＭＴＦに変換する。
【００１０】
【発明の実施の形態】図１は請求項１記載の発明を適用
したＭＴＦ測定装置の一実施形態例を示し、図２はその
具体的な構成を示し、図４は全体的なハードウェア処理
フローを示す。図３に示すような０空間周波数の白レベ
ル及び黒レベルを持たない、所定空間周波数だけのパタ
ーンを有するチャート１１は光源により照明され、チャ
ート１１の像が被検レンズ等の光学系からなる被検物を
通してＣＣＤからなる固体走査素子１２上に結像され
る。ＣＣＤ１２は、チャート１１の像を繰り返してスキ
ャン（走査）して光電変換して時系列で出力する。
したＭＴＦ測定装置の一実施形態例を示し、図２はその
具体的な構成を示し、図４は全体的なハードウェア処理
フローを示す。図３に示すような０空間周波数の白レベ
ル及び黒レベルを持たない、所定空間周波数だけのパタ
ーンを有するチャート１１は光源により照明され、チャ
ート１１の像が被検レンズ等の光学系からなる被検物を
通してＣＣＤからなる固体走査素子１２上に結像され
る。ＣＣＤ１２は、チャート１１の像を繰り返してスキ
ャン（走査）して光電変換して時系列で出力する。
【００１１】ところで、０空間周波数の白レベル及び黒
レベルを使用したＭＴＦ測定方法には、所定空間周波数
のパターンを有するチャートに対するＣＣＤ出力データ
における必要チャート部の最大値及び最小値と０空間周
波数の白レベル及び黒レベルから ＭＴＦ＝（最大値−最小値）／｛（０空間周波数の白レベル−０空間周波数の 黒レベル）｝・・・（１） で定義される被検物のＭＴＦを求める方法がある。
レベルを使用したＭＴＦ測定方法には、所定空間周波数
のパターンを有するチャートに対するＣＣＤ出力データ
における必要チャート部の最大値及び最小値と０空間周
波数の白レベル及び黒レベルから ＭＴＦ＝（最大値−最小値）／｛（０空間周波数の白レベル−０空間周波数の 黒レベル）｝・・・（１） で定義される被検物のＭＴＦを求める方法がある。
【００１２】ここで、０空間周波数の白レベルのデータ
と（最大値＋最小値）／２＜幅の中央値＞のデータとは
相関があり、０空間周波数の黒レベルのデータは絶対値
が非常に小さくて（１）式への寄与率が低いことから、
（１）式は ＭＴＦ＝（最大値−最小値）／｛（最大値＋最小値）／２｝・・・（２） に置き換えることが可能である。
と（最大値＋最小値）／２＜幅の中央値＞のデータとは
相関があり、０空間周波数の黒レベルのデータは絶対値
が非常に小さくて（１）式への寄与率が低いことから、
（１）式は ＭＴＦ＝（最大値−最小値）／｛（最大値＋最小値）／２｝・・・（２） に置き換えることが可能である。
【００１３】そこで、この実施形態例は、０空間周波数
の白レベル及び黒レベルを持たない、所定空間周波数だ
けのパターンを有するチャート１１を使用し、チャート
１１の有効部に対するＣＣＤ１２の出力データの最大値
と最小値から（２）式のＭＴＦ演算で被検物のＭＴＦを
求める。すなわち、ＣＣＤ１２は設定された取り込み時
間にクロック発生部（Ｃｌｏｃｋ）１３からのクロック
により駆動され、チャート１１の像を取り込んで光電変
換する。クロック（Ｃｌｏｃｋ）カウント部１４はクロ
ック発生部１３からのクロックをカウントして出力タイ
ミング用ゲート信号を発生する。
の白レベル及び黒レベルを持たない、所定空間周波数だ
けのパターンを有するチャート１１を使用し、チャート
１１の有効部に対するＣＣＤ１２の出力データの最大値
と最小値から（２）式のＭＴＦ演算で被検物のＭＴＦを
求める。すなわち、ＣＣＤ１２は設定された取り込み時
間にクロック発生部（Ｃｌｏｃｋ）１３からのクロック
により駆動され、チャート１１の像を取り込んで光電変
換する。クロック（Ｃｌｏｃｋ）カウント部１４はクロ
ック発生部１３からのクロックをカウントして出力タイ
ミング用ゲート信号を発生する。
【００１４】このクロックカウント部１４はカウンタ用
ＩＣからなるカウンタ回路１５が用いられ、このカウン
タ用ＩＣ１５は例えばＴＴＬＩＣが用いられる。カウン
タ用ＩＣ１５はＴＴＬであればＦタイプ等の高速のもの
を使用した方がより有効である。最大値検出回路１６及
び最小値検出回路１７はコンパレータＩＣからなる最大
値検出用コンパレータ回路１８及び最小値検出用コンパ
レータ回路１９と、最大値ラッチ用フリップフロップ回
路２０及び最小値ラッチ用フリップフロップ回路２１が
用いられる。
ＩＣからなるカウンタ回路１５が用いられ、このカウン
タ用ＩＣ１５は例えばＴＴＬＩＣが用いられる。カウン
タ用ＩＣ１５はＴＴＬであればＦタイプ等の高速のもの
を使用した方がより有効である。最大値検出回路１６及
び最小値検出回路１７はコンパレータＩＣからなる最大
値検出用コンパレータ回路１８及び最小値検出用コンパ
レータ回路１９と、最大値ラッチ用フリップフロップ回
路２０及び最小値ラッチ用フリップフロップ回路２１が
用いられる。
【００１５】最大値検出用コンパレータ回路１８及び最
小値検出用コンパレータ回路１９はコンパレータＩＣの
代りにＲＯＭ、ＲＡＭ等を用いることも有効である。最
大値ラッチ用フリップフロップ回路２０及び最小値ラッ
チ用フリップフロップ回路２１はＴＴＬであればＦタイ
プ等の高速のものを使用した方がより有効である。チャ
ート１１の有効部に対するＣＣＤ１２の出力データは図
示しないＡ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換され、最大値検
出回路１６及び最小値検出回路１７はクロックカウント
部１４からの出力タイミング用ゲート信号によりクロッ
クカウント部１４にて設定した設定時間（任意に設定可
能な時間）内における上記Ａ／Ｄ変換器の出力データの
最大値及び最小値を検出する。
小値検出用コンパレータ回路１９はコンパレータＩＣの
代りにＲＯＭ、ＲＡＭ等を用いることも有効である。最
大値ラッチ用フリップフロップ回路２０及び最小値ラッ
チ用フリップフロップ回路２１はＴＴＬであればＦタイ
プ等の高速のものを使用した方がより有効である。チャ
ート１１の有効部に対するＣＣＤ１２の出力データは図
示しないＡ／Ｄ変換器によりＡ／Ｄ変換され、最大値検
出回路１６及び最小値検出回路１７はクロックカウント
部１４からの出力タイミング用ゲート信号によりクロッ
クカウント部１４にて設定した設定時間（任意に設定可
能な時間）内における上記Ａ／Ｄ変換器の出力データの
最大値及び最小値を検出する。
【００１６】最大値ラッチ用フリップフロップ回路２０
及び最小値ラッチ用フリップフロップ回路２１は、最大
値検出回路１６及び最小値検出回路１７により検出した
設定時間内の最大値及び最小値をクロックカウント部１
４からの出力タイミング用ゲート信号により次の設定時
間が終了するまで保持する。この最大値ラッチ用フリッ
プフロップ回路２０及び最小値ラッチ用フリップフロッ
プ回路２１により保持された最大値及び最小値はＭＴＦ
変換部２２に送られる。
及び最小値ラッチ用フリップフロップ回路２１は、最大
値検出回路１６及び最小値検出回路１７により検出した
設定時間内の最大値及び最小値をクロックカウント部１
４からの出力タイミング用ゲート信号により次の設定時
間が終了するまで保持する。この最大値ラッチ用フリッ
プフロップ回路２０及び最小値ラッチ用フリップフロッ
プ回路２１により保持された最大値及び最小値はＭＴＦ
変換部２２に送られる。
【００１７】このＭＴＦ変換部２２は、上記（２）式の
ＭＴＦ算定式が格納されたテーブルを有するＭＴＦ変換
用ＲＯＭ２３が用いられるが、ＲＯＭ以外にＲＡＭ等も
有効である。ＭＴＦ変換用ＲＯＭ２３は最大値ラッチ用
フリップフロップ回路２０及び最小値ラッチ用フリップ
フロップ回路２１により保持された最大値及び最小値を
上記テーブルによりハード的に即座にＭＴＦに変換す
る。このような動作がクロックカウント部１４による設
定時間の周期で繰り返して行われ、これがＣＣＤ１２の
１回のスキャン毎に繰り返して行われて被検物のＭＴＦ
が求められる。
ＭＴＦ算定式が格納されたテーブルを有するＭＴＦ変換
用ＲＯＭ２３が用いられるが、ＲＯＭ以外にＲＡＭ等も
有効である。ＭＴＦ変換用ＲＯＭ２３は最大値ラッチ用
フリップフロップ回路２０及び最小値ラッチ用フリップ
フロップ回路２１により保持された最大値及び最小値を
上記テーブルによりハード的に即座にＭＴＦに変換す
る。このような動作がクロックカウント部１４による設
定時間の周期で繰り返して行われ、これがＣＣＤ１２の
１回のスキャン毎に繰り返して行われて被検物のＭＴＦ
が求められる。
【００１８】したがって、ＣＣＤ１２の出力データを全
てハード的に処理するので、１スキャン毎にリアルタイ
ムでＭＴＦ測定を行うことが可能となる。また、チャー
ト１１が０空間周波数の白レベル及び黒レベルを持たな
いこと、時間設定用のクロックカウント部１４を設けた
ことにより、全像高の任意の像高におけるＭＴＦ測定が
可能となる。
てハード的に処理するので、１スキャン毎にリアルタイ
ムでＭＴＦ測定を行うことが可能となる。また、チャー
ト１１が０空間周波数の白レベル及び黒レベルを持たな
いこと、時間設定用のクロックカウント部１４を設けた
ことにより、全像高の任意の像高におけるＭＴＦ測定が
可能となる。
【００１９】このように、この実施形態例は、請求項１
記載の発明を適用したＭＴＦ測定装置の実施形態例であ
って、所定空間周波数のパターンを有するチャート１１
の像を被検物を通して固体走査素子としてのＣＣＤ１２
に結像して光電変換し、この固体走査素子１２の出力デ
ータから被検物のＭＴＦを求めるＭＴＦ測定装置におい
て、チャート１１の有効部に対する固体走査素子１２の
出力データを最大値検出回路１６及び最小値検出回路１
７に送り、これらの最大値検出回路１６及び最小値検出
回路１７に対してクロックカウント部１４により一定時
間毎に前記出力データの最大値及び最小値を出力させ、
この最大値及び最小値をＭＴＦ変換部２２にてＭＴＦに
変換することによって、ハードウェアによりリアルタイ
ムで被検物のＭＴＦを求めるので、高速なＭＴＦ測定を
実現できる。また、ＭＴＦ測定をリアルタイムで行える
ことにより、ＭＴＦ測定と同期した高速な調整が可能と
なる。
記載の発明を適用したＭＴＦ測定装置の実施形態例であ
って、所定空間周波数のパターンを有するチャート１１
の像を被検物を通して固体走査素子としてのＣＣＤ１２
に結像して光電変換し、この固体走査素子１２の出力デ
ータから被検物のＭＴＦを求めるＭＴＦ測定装置におい
て、チャート１１の有効部に対する固体走査素子１２の
出力データを最大値検出回路１６及び最小値検出回路１
７に送り、これらの最大値検出回路１６及び最小値検出
回路１７に対してクロックカウント部１４により一定時
間毎に前記出力データの最大値及び最小値を出力させ、
この最大値及び最小値をＭＴＦ変換部２２にてＭＴＦに
変換することによって、ハードウェアによりリアルタイ
ムで被検物のＭＴＦを求めるので、高速なＭＴＦ測定を
実現できる。また、ＭＴＦ測定をリアルタイムで行える
ことにより、ＭＴＦ測定と同期した高速な調整が可能と
なる。
【００２０】請求項２記載の発明を適用したＭＴＦ測定
装置の一実施形態例では、上記実施形態例において、被
検物の３色、例えばＲ、Ｂ、ＧのＭＴＦを測定するよう
にした例であり、チャート１１が光源により照明されて
チャート１１の像が被検レンズ等の光学系からなる被検
物を通して３ラインＣＣＤからなる固体走査素子上に結
像される。
装置の一実施形態例では、上記実施形態例において、被
検物の３色、例えばＲ、Ｂ、ＧのＭＴＦを測定するよう
にした例であり、チャート１１が光源により照明されて
チャート１１の像が被検レンズ等の光学系からなる被検
物を通して３ラインＣＣＤからなる固体走査素子上に結
像される。
【００２１】この３ラインＣＣＤはクロック発生部１３
からのクロックにより駆動されてチャート１１の像の各
色成分をそれぞれ光電変換し、この３ラインＣＣＤの各
色の出力データからその各色毎の最大値及び最小値が別
々に上述の最大値検出回路１６及び最小値検出回路１７
と同様な３組の最大値検出回路及び最小値検出回路とク
ロックカウント部１４により上述と同様に検出されて３
個のＭＴＦ変換部にそれぞれ入力される。
からのクロックにより駆動されてチャート１１の像の各
色成分をそれぞれ光電変換し、この３ラインＣＣＤの各
色の出力データからその各色毎の最大値及び最小値が別
々に上述の最大値検出回路１６及び最小値検出回路１７
と同様な３組の最大値検出回路及び最小値検出回路とク
ロックカウント部１４により上述と同様に検出されて３
個のＭＴＦ変換部にそれぞれ入力される。
【００２２】この３個のＭＴＦ変換部は、０空間周波数
の白レベル及び黒レベルを使用しないことによるＲ、
Ｂ、Ｇの各ＭＴＦの間の誤差を防いでより高精度なＭＴ
Ｆ測定を行うために、上記（２）式のＭＴＦ算定式に
Ｒ、Ｂ、Ｇの各色で互いに異なる補正係数をかけたもの
がそれぞれ格納されたテーブルを有し、上記３組の最大
値検出回路及び最小値検出回路からそれぞれ入力された
最大値及び最小値をＭＴＦに変換して補正する。
の白レベル及び黒レベルを使用しないことによるＲ、
Ｂ、Ｇの各ＭＴＦの間の誤差を防いでより高精度なＭＴ
Ｆ測定を行うために、上記（２）式のＭＴＦ算定式に
Ｒ、Ｂ、Ｇの各色で互いに異なる補正係数をかけたもの
がそれぞれ格納されたテーブルを有し、上記３組の最大
値検出回路及び最小値検出回路からそれぞれ入力された
最大値及び最小値をＭＴＦに変換して補正する。
【００２３】すなわち、０空間周波数の白レベルのデー
タと（最大値＋最小値）／２＜幅の中央値＞のデータと
間の傾きがＲ、Ｂ、Ｇの各色の間で若干異なるので、予
め実験にてその傾きを求めて補正係数を決定し、上記
（２）式のＭＴＦ算定式の代りに ＭＴＦ＝（最大値−最小値）／｛（最大値＋最小値）／２｝×補正係数・・・ ・・（３） なるＭＴＦ算定式を格納したテーブルを上記３個のＭＴ
Ｆ変換部に持たせておく。これらのＭＴＦ変換部は、そ
れぞれ入力された最大値及び最小値を（３）式で被検物
のＭＴＦに変換する。
タと（最大値＋最小値）／２＜幅の中央値＞のデータと
間の傾きがＲ、Ｂ、Ｇの各色の間で若干異なるので、予
め実験にてその傾きを求めて補正係数を決定し、上記
（２）式のＭＴＦ算定式の代りに ＭＴＦ＝（最大値−最小値）／｛（最大値＋最小値）／２｝×補正係数・・・ ・・（３） なるＭＴＦ算定式を格納したテーブルを上記３個のＭＴ
Ｆ変換部に持たせておく。これらのＭＴＦ変換部は、そ
れぞれ入力された最大値及び最小値を（３）式で被検物
のＭＴＦに変換する。
【００２４】このように、請求項２記載の発明を適用し
たＭＴＦ測定装置の実施形態例では、上記実施形態例に
おいて、固体走査素子としてチャート１１の有効部に対
して３つの色の光電変換を行う固体走査素子としての３
ラインＣＣＤを用い、この固体走査素子の出力データか
ら各色毎に最大値検出回路及び最小値検出回路、クロッ
クカウント部により一定時間毎に前記出力データの最大
値及び最小値を求め、この３色分の最大値及び最小値を
ＭＴＦ変換部にて色毎に別々に設定した変換係数でＭＴ
Ｆに変換するので、被検物の３色のＭＴＦ測定で各色の
間で補正を行うことにより、０空間周波数の白レベル及
び黒レベルを使用する際のチャートの切り換えが不要に
なり、全像高のＭＴＦ測定を高精度で行うことができ
る。
たＭＴＦ測定装置の実施形態例では、上記実施形態例に
おいて、固体走査素子としてチャート１１の有効部に対
して３つの色の光電変換を行う固体走査素子としての３
ラインＣＣＤを用い、この固体走査素子の出力データか
ら各色毎に最大値検出回路及び最小値検出回路、クロッ
クカウント部により一定時間毎に前記出力データの最大
値及び最小値を求め、この３色分の最大値及び最小値を
ＭＴＦ変換部にて色毎に別々に設定した変換係数でＭＴ
Ｆに変換するので、被検物の３色のＭＴＦ測定で各色の
間で補正を行うことにより、０空間周波数の白レベル及
び黒レベルを使用する際のチャートの切り換えが不要に
なり、全像高のＭＴＦ測定を高精度で行うことができ
る。
【００２５】なお、本発明は、上記実施形態例に限定さ
れるものではなく、例えば上記実施形態例ではＣＣＤの
出力データをＡ／Ｄ変換して処理するデジタル方式の例
であるが、ＣＣＤの出力データをアナログ値のまま処理
するアナログ方式としてもよい。
れるものではなく、例えば上記実施形態例ではＣＣＤの
出力データをＡ／Ｄ変換して処理するデジタル方式の例
であるが、ＣＣＤの出力データをアナログ値のまま処理
するアナログ方式としてもよい。
【００２６】
【発明の効果】以上のように請求項１記載の発明によれ
ば、所定空間周波数のパターンを有するチャートの像を
被検物を通して固体走査素子に結像して光電変換し、こ
の固体走査素子の出力データから被検物のＭＴＦを求め
るＭＴＦ測定方法において、前記チャートの有効部に対
する固体走査素子の出力データを最大値検出回路及び最
小値検出回路に送り、これらの最大値検出回路及び最小
値検出回路に対してクロックカウント部により一定時間
毎に前記出力データの最大値及び最小値を出力させ、こ
の最大値及び最小値をＭＴＦ変換部にてＭＴＦに変換す
ることによって、ハードウェアによりリアルタイムで被
検物のＭＴＦを求めるので、高速なＭＴＦ測定を実現で
き、ＭＴＦ測定と同期した高速な調整が可能となる。
ば、所定空間周波数のパターンを有するチャートの像を
被検物を通して固体走査素子に結像して光電変換し、こ
の固体走査素子の出力データから被検物のＭＴＦを求め
るＭＴＦ測定方法において、前記チャートの有効部に対
する固体走査素子の出力データを最大値検出回路及び最
小値検出回路に送り、これらの最大値検出回路及び最小
値検出回路に対してクロックカウント部により一定時間
毎に前記出力データの最大値及び最小値を出力させ、こ
の最大値及び最小値をＭＴＦ変換部にてＭＴＦに変換す
ることによって、ハードウェアによりリアルタイムで被
検物のＭＴＦを求めるので、高速なＭＴＦ測定を実現で
き、ＭＴＦ測定と同期した高速な調整が可能となる。
【００２７】請求項２記載の発明によれば、請求項１記
載のＭＴＦ測定方法において、前記固体走査素子として
前記チャートの有効部に対して３つの色の光電変換を行
う固体走査素子を用い、この固体走査素子の出力データ
から各色毎に最大値検出回路及び最小値検出回路、クロ
ックカウント部により一定時間毎に前記出力データの最
大値及び最小値を求め、この３色分の最大値及び最小値
をＭＴＦ変換部にて色毎に別々に設定した変換係数でＭ
ＴＦに変換するので、被検物の３色のＭＴＦ測定で各色
の間で補正を行うことにより、０空間周波数の白レベル
及び黒レベルを使用する際のチャートの切り換えが不要
になり、全像高のＭＴＦ測定を高精度で行うことができ
る。
載のＭＴＦ測定方法において、前記固体走査素子として
前記チャートの有効部に対して３つの色の光電変換を行
う固体走査素子を用い、この固体走査素子の出力データ
から各色毎に最大値検出回路及び最小値検出回路、クロ
ックカウント部により一定時間毎に前記出力データの最
大値及び最小値を求め、この３色分の最大値及び最小値
をＭＴＦ変換部にて色毎に別々に設定した変換係数でＭ
ＴＦに変換するので、被検物の３色のＭＴＦ測定で各色
の間で補正を行うことにより、０空間周波数の白レベル
及び黒レベルを使用する際のチャートの切り換えが不要
になり、全像高のＭＴＦ測定を高精度で行うことができ
る。
【図１】請求項１記載の発明を適用したＭＴＦ測定装置
の一実施形態例を示すブロック図である。
の一実施形態例を示すブロック図である。
【図２】同実施形態例の具体的な構成を示すブロック図
である。
である。
【図３】同実施形態例のチャートとＣＣＤ出力データを
示す図である。
示す図である。
【図４】同実施形態例の全体的なハードウェア処理フロ
ーを示すフローチャートである。
ーを示すフローチャートである。
【図５】従来のＭＴＦ測定装置の一例を示すブロック図
である。
である。
１１ チャート １２ ＣＣＤ １３ クロック発生部 １４ クロッカウント部 １６ 最大値検出回路 １７ 最小値検出回路 ２２ ＭＴＦ変換部
Claims (2)
- 【請求項１】所定空間周波数のパターンを有するチャー
トの像を被検物を通して固体走査素子に結像して光電変
換し、この固体走査素子の出力データから被検物のＭＴ
Ｆを求めるＭＴＦ測定方法において、前記チャートの有
効部に対する固体走査素子の出力データを最大値検出回
路及び最小値検出回路に送り、これらの最大値検出回路
及び最小値検出回路に対してクロックカウント部により
一定時間毎に前記出力データの最大値及び最小値を出力
させ、この最大値及び最小値をＭＴＦ変換部にてＭＴＦ
に変換することによって、ハードウェアによりリアルタ
イムで被検物のＭＴＦを求めることを特徴とするＭＴＦ
測定方法。 - 【請求項２】請求項１記載のＭＴＦ測定方法において、
前記固体走査素子として前記チャートの有効部に対して
３つの色の光電変換を行う固体走査素子を用い、この固
体走査素子の出力データから各色毎に最大値検出回路及
び最小値検出回路、クロックカウント部により一定時間
毎に前記出力データの最大値及び最小値を求め、この３
色分の最大値及び最小値をＭＴＦ変換部にて色毎に別々
に設定した変換係数でＭＴＦに変換することを特徴とす
るＭＴＦ測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30157695A JPH09145543A (ja) | 1995-11-20 | 1995-11-20 | Ｍｔｆ測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30157695A JPH09145543A (ja) | 1995-11-20 | 1995-11-20 | Ｍｔｆ測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09145543A true JPH09145543A (ja) | 1997-06-06 |
Family
ID=17898615
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30157695A Pending JPH09145543A (ja) | 1995-11-20 | 1995-11-20 | Ｍｔｆ測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09145543A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2006054648A1 (ja) * | 2004-11-19 | 2008-05-29 | コニカミノルタオプト株式会社 | プリズムユニットの評価方法、評価装置及びプリズムユニットの製造方法 |
| JP2008197087A (ja) * | 2006-12-31 | 2008-08-28 | General Electric Co <Ge> | 撮影システムにより生成された画像の画質を定量的に評価するシステム及び方法 |
| CN104296968A (zh) * | 2014-10-10 | 2015-01-21 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 多通道ccd的调制传递函数测试方法 |
-
1995
- 1995-11-20 JP JP30157695A patent/JPH09145543A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2006054648A1 (ja) * | 2004-11-19 | 2008-05-29 | コニカミノルタオプト株式会社 | プリズムユニットの評価方法、評価装置及びプリズムユニットの製造方法 |
| JP4572898B2 (ja) * | 2004-11-19 | 2010-11-04 | コニカミノルタオプト株式会社 | プリズムユニットの評価方法及びプリズムユニットの製造方法 |
| JP2008197087A (ja) * | 2006-12-31 | 2008-08-28 | General Electric Co <Ge> | 撮影システムにより生成された画像の画質を定量的に評価するシステム及び方法 |
| CN104296968A (zh) * | 2014-10-10 | 2015-01-21 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 多通道ccd的调制传递函数测试方法 |
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